JP2005069980A - Surface plasmon resonance system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、金属薄層に照射する偏光光束の照度ムラが少ないために、シグナルのばらつきの低減された表面プラズモン共鳴装置に関する。 The present invention relates to a surface plasmon resonance apparatus in which variation in signal is reduced because there is little unevenness in illuminance of a polarized light beam applied to a thin metal layer.
近年、生理活性物質間の相互作用を評価する試みが数多くなされている。その多くは一方の分子を固相に固定化し、その分子と相互作用するであろう物質を与えることで、相互作用を観察する。相互作用するであろう物質には蛍光やラジオアイソトープなどのラベル物質を結合させ、ラベル物質を検出することで生体分子あるいは分子集合体間の相互作用を評価する。一般的なDNAチップは蛍光などのラベル物質を用いて相互作用をスクリーニングする。しかし、ラベル操作は非常に煩雑であるとともに定量性に欠ける。また、相互作用をリアルタイムで観察するのは非常に困難である。 In recent years, many attempts have been made to evaluate the interaction between physiologically active substances. Many observe the interaction by immobilizing one molecule on a solid phase and providing a substance that will interact with that molecule. Labeling substances such as fluorescence and radioisotopes are bound to substances that will interact, and the label substances are detected to evaluate interactions between biomolecules or molecular assemblies. A general DNA chip screens an interaction using a label substance such as fluorescence. However, label operations are very complicated and lack quantitativeness. Also, it is very difficult to observe the interaction in real time.
そこで、ラベルが不要でかつ定量性があり、リアルタイムで評価可能な分析方法として、表面プラズモン共鳴(SPR)センサーが注目を集めている。SPRは分析体を固定化した金属薄膜に光を照射して反射光をモニターし、サンプルとの相互作用を、共鳴角もしくは反射光強度の変化で測定する方法である。 Therefore, a surface plasmon resonance (SPR) sensor has attracted attention as an analysis method that does not require a label, has quantitativeness, and can be evaluated in real time. SPR is a method in which reflected light is monitored by irradiating a metal thin film on which an analyte is fixed, and the interaction with a sample is measured by a change in resonance angle or reflected light intensity.
一般的なSPRセンサーにおいては単一波長であるレーザー光を光源として用いる(例えば、特許文献1参照)。レーザー光は直進性に優れており、光学研究には非常に使い易い光源である。しかし、光は一点に集中したビームであり、光の当たる部分の面積は非常に小さい。よって、相互作用を評価できる物質は基本的に一つであり、DNAチップのように複数の物質をスクリーニングすることは非常に難しい。 In a general SPR sensor, laser light having a single wavelength is used as a light source (see, for example, Patent Document 1). Laser light is excellent in straightness, and is a very easy light source for optical research. However, light is a concentrated beam, and the area of the light hit is very small. Therefore, there is basically one substance that can evaluate the interaction, and it is very difficult to screen a plurality of substances such as a DNA chip.
この問題を解決する手段としてレーザー光をスキャニングデバイスで反射させてスキャンし、スライドの面にレーザー光を逐次照射していく方法(例えば、特許文献2参照)を応用することが考えられるが、装置が煩雑になるとともに、レーザー光がスキャンしている間はリアルタイム評価ができない問題点がある。 As a means for solving this problem, it is conceivable to apply a method (for example, see Patent Document 2) in which laser light is reflected and scanned by a scanning device and laser light is sequentially irradiated onto the surface of the slide. However, there is a problem that real-time evaluation cannot be performed while the laser beam is scanned.
そこでNelsonらはSPRの光源として、35Wのハロゲンランプを選択した。光を平行光としてから直径300μmのピンホールに集め、カメラレンズによって再度、平行光とした。得られた平行光を偏光板に通し、SPRに適当な角度で入射させて、18×18mmの金蒸着スライドの照射し、反射光を波長フィルターに通してからCCDカメラで撮影した(例えば、非特許文献1参照)。 Accordingly, Nelson et al. Selected a 35 W halogen lamp as the SPR light source. The light was collimated and then collected in a pin hole having a diameter of 300 μm, and was again collimated by the camera lens. The obtained parallel light is passed through a polarizing plate, incident on the SPR at an appropriate angle, irradiated with a gold-deposited slide of 18 × 18 mm, and the reflected light is passed through a wavelength filter before being photographed with a CCD camera (for example, non- Patent Document 1).
ここで示されているデータは、センサー表面上の6mm×4mm=24mm2の領域に24個のスポットに関してのみである。24個のデータに関しては、ほとんどばらつきがないことが示されているものの、それ以上の広い範囲にわたってスポットを設けても均一なシグナルを得るのは困難であるのが現状である。 The data shown here is only for 24 spots in a 6 mm × 4 mm = 24 mm 2 area on the sensor surface. Although it has been shown that there is almost no variation with respect to the 24 data, it is difficult to obtain a uniform signal even if spots are provided over a wider range than that.
広い範囲にわたって均一なシグナルを得る手段としては、均一な照度を得るのが必要である。照度の均一性を高める手段として、ピンホールの穴を小さくする方法があるものの、十分な照度が得られず、逆にシグナルの均一性が低下することもある上、検出に高価な高感度CCDカメラが必要となる問題点があった。 As a means for obtaining a uniform signal over a wide range, it is necessary to obtain uniform illuminance. Although there is a method to reduce the pinhole hole as a means to increase the illuminance uniformity, sufficient illuminance cannot be obtained, and the signal uniformity may be reduced. There was a problem that required a camera.
本発明の課題は、照度ムラの低減された光束を得ることで多数のサンプルを再現性良く、また、バラツキが少なく測定できる性能が高いSPRを提供する。 An object of the present invention is to provide an SPR having a high performance in which a large number of samples can be measured with good reproducibility and with little variation by obtaining a light flux with reduced illuminance unevenness.
本発明者らは鋭意検討した結果、以下に示す手段により、上記課題を解決できることを見出した。 As a result of intensive studies, the present inventors have found that the above problems can be solved by the following means.
1.表面プラズモン共鳴装置のセンサー表面部分内にアスペクト比0.5以上の長方形もしくは正方形の測定領域を取り、該測定領域を均等に縦10個×横10個の分割測定領域に分け、該分割測定領域の中心に分割領域の短辺の40%に相当する直径を持つ円形の注目領域を設けた際に、水をベースラインとして、1%エタノール水溶液をセンサー表面と接触させて測定した場合、該100個の注目領域から得られるシグナルのばらつき(CV)を15%以下とすることができる測定領域の面積が70mm2以上であることを特徴とする表面プラズモン共鳴装置。
2.光源の均一化に用いるピンホールの穴の径が50μm以上300μm未満である1記載の装置
3.正方形フィラメント型ハロゲンランプを用いることを特徴とする1または2記載の装置
1. A rectangular or square measurement area having an aspect ratio of 0.5 or more is taken in the sensor surface portion of the surface plasmon resonance apparatus, and the measurement area is equally divided into 10 vertical measurement areas and 10 horizontal measurement area areas. When a circular region of interest having a diameter corresponding to 40% of the short side of the divided region is provided at the center of the substrate, water is used as a baseline and measurement is performed with a 1% ethanol aqueous solution in contact with the sensor surface. A surface plasmon resonance apparatus characterized in that an area of a measurement region in which variation (CV) of a signal obtained from each region of interest can be 15% or less is 70 mm 2 or more.
2. 2. The apparatus according to 1, wherein the diameter of the pinhole used for homogenizing the light source is 50 μm or more and less than 300 μm. 3. The apparatus according to 1 or 2, wherein a square filament type halogen lamp is used.
照度の高く、照度のムラがない偏光光束を得ることで、安価でかつ、シグナルのばらつきの少ないSPR装置を実現した。今後、生体分子の相互作用のスクリーニングに広く用いられていくと期待する。 By obtaining a polarized light flux with high illuminance and no illuminance unevenness, an inexpensive SPR device with little signal variation was realized. In the future, it is expected to be widely used for screening biomolecule interactions.
以下に本発明を詳細に説明する。本発明のSPR機器では広い範囲のSPRシグナル変化を解析するために、チップの広い範囲に、十分な照度を有し照度ムラのない偏光光束を照射できることが特徴である。 The present invention is described in detail below. The SPR device of the present invention is characterized in that it can irradiate polarized light flux having sufficient illuminance and no illuminance unevenness over a wide area of the chip in order to analyze a wide range of SPR signal changes.
ここで言う広い範囲とはチップ表面上の領域で70mm2以上である。すなわち、レーザー光を狭い領域に照射する手段や、光源を集光してセンサー上の点、もしくは線に照射する手段は含まれない。70mm2未満であると面積が十分でなく、スクリーニングテストのn数の確保、モルホロジー観察が困難となる The wide range referred to here is an area on the chip surface of 70 mm 2 or more. That is, means for irradiating a narrow area with laser light or means for condensing the light source and irradiating a point or line on the sensor are not included. If it is less than 70 mm 2 , the area is not sufficient, and it becomes difficult to secure the n number of screening tests and observe the morphology.
本発明のSPR装置のシグナルムラを定量的に測定する方法として、テストチップを装置にセットして、屈折率の異なる二種類の液を順番に流し、観察領域を分割した各部位のシグナル変化のばらつきを定量する方法が好ましい。偏光光束の照度ムラを直接的に測定するのはSPRの性能を反映しているとは言えず好ましくない。ただ単に反射像の照度のばらつきを計測する方法は、チップの微小な汚れなどを照度ばらつきと区別できないため好ましくない。 As a method for quantitatively measuring the signal unevenness of the SPR device of the present invention, a test chip is set on the device, two kinds of liquids having different refractive indexes are sequentially flowed, and the signal change of each part obtained by dividing the observation region is measured. A method of quantifying variation is preferred. It is not preferable to directly measure the illuminance unevenness of the polarized light flux because it does not reflect the SPR performance. However, it is not preferable to simply measure the variation in the illuminance of the reflected image because minute dirt on the chip cannot be distinguished from the variation in illuminance.
屈折率の異なる二種類の液としては水と1%エタノール水溶液が容易に入手できるため好ましい。測定領域としてはテストチップの表面に換算して70mm2以上の広い領域であることが好ましく、より好ましくは80mm2である。
測定領域としてはアスペクト比0.5以上の長方形もしくは正方形であることが好ましい。アスペクト比としては、より好ましくは0.6以上、さらに好ましくは0.7以上である。アスペクト比が0.5より低くなると、測定領域が細長くなりすぎ、実質的に使いにくくなる。なお、ここでアスペクト比が○○以上とは、数値が○○より大きいことを言う。
70mm2未満の場合は、多くのサンプルを一度に正確に評価することが困難となる。狭い領域のばらつきが少なくても、広い領域でばらつきがあれば意味がないからである。
As two types of liquids having different refractive indexes, water and a 1% ethanol aqueous solution are preferable because they are easily available. The measurement area is preferably a wide area of 70 mm 2 or more, more preferably 80 mm 2 in terms of the surface of the test chip.
The measurement area is preferably a rectangle or square having an aspect ratio of 0.5 or more. As an aspect-ratio, More preferably, it is 0.6 or more, More preferably, it is 0.7 or more. If the aspect ratio is lower than 0.5, the measurement area becomes too long and becomes substantially difficult to use. Here, the aspect ratio of OO or more means that the numerical value is larger than OO.
When it is less than 70 mm 2, it is difficult to accurately evaluate many samples at once. This is because even if there is little variation in a narrow region, it is meaningless if there is variation in a wide region.
測定領域のシグナルの変化のバラツキは以下の通り測定する。
該測定領域を縦10個、横10個に均等に分割し、それぞれを分割領域とする。さらに分割測定領域の中心に測定を行う円形の測定点(注目領域)を設け、この領域のシグナルをSPRで測定する。注目領域の直径は、分割測定領域の縦、横の辺の短い方の辺の長さの40%に相当するものとする。それぞれの注目領域でシグナルを検出し、水と1%エタノール水溶液とでそのシグナルの差を求め、さらに、この100箇所の注目領域でのシグナルの変化の平均値及び標準偏差を求める。
The variation in signal change in the measurement area is measured as follows.
The measurement area is equally divided into 10 vertical areas and 10 horizontal areas, and each area is defined as a divided area. Further, a circular measurement point (region of interest) for measurement is provided at the center of the divided measurement region, and the signal in this region is measured by SPR. The diameter of the attention area corresponds to 40% of the length of the shorter side of the vertical and horizontal sides of the divided measurement area. A signal is detected in each region of interest, the difference between the signals of water and a 1% aqueous ethanol solution is determined, and the average value and standard deviation of the signal change in these 100 regions of interest are determined.
こうして、水と1%エタノール水溶液によって得られるシグナルの変化のばらつきはCVで示される。CVとは標準偏差を平均値で割った値であり、CV値は15%以下であることが好ましく、10%以下であるとさらに好ましい。
このようなCV値の測定領域がセンサー表面上に70mm2以上存在するSPR測定機を用いることにより、多くのサンプルを同時に、また、正確に測定することができる。
Thus, the variation in the change in signal obtained with water and 1% aqueous ethanol is indicated by CV. CV is a value obtained by dividing the standard deviation by the average value. The CV value is preferably 15% or less, and more preferably 10% or less.
By using an SPR measuring instrument in which such a CV value measurement region is 70 mm 2 or more on the sensor surface, many samples can be measured simultaneously and accurately.
テストチップとしては透明基板に金がコーティングされたものが好ましい。金の厚みは30から100nmが好ましく、特に40から60nmが好ましい。金の剥離を防ぐため、金と透明基板の間にクロムまたはチタンが1から10nmコーティングされていてもよい。金属のコーティング方法としては特に限定されるものではなく、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンコーティング法などが挙げられる。実際に用いる場合は、金表面にアルカンチオールを単分子でコーティングすると、チップ表面が汚れないため好ましい。アルカンチオールとしてはOH基をもつ11−メルカプトウンデカノールや、COOH基をもつ11−メルカプトウンデカン酸などを選択すると好ましい。 The test chip is preferably a transparent substrate coated with gold. The thickness of gold is preferably 30 to 100 nm, and particularly preferably 40 to 60 nm. In order to prevent gold peeling, chromium or titanium may be coated with 1 to 10 nm between gold and the transparent substrate. The metal coating method is not particularly limited, and examples thereof include a vacuum deposition method, a sputtering method, and an ion coating method. In actual use, it is preferable to coat alkanethiol with a single molecule on the gold surface because the chip surface is not soiled. As the alkanethiol, it is preferable to select 11-mercaptoundecanol having an OH group, 11-mercaptoundecanoic acid having a COOH group, or the like.
透明基板としては特に限定されるものではなく、ガラスやプラスチック類などが挙げられる。平面基板もしくは回折格子基板なども含まれる。 The transparent substrate is not particularly limited, and examples thereof include glass and plastics. A flat substrate or a diffraction grating substrate is also included.
一般的な安価な光源はフィラメント部を有しており、光の明暗ムラが存在する。光源の光をそのまま照射すれば、反射して得られる像に明暗ムラが生じ、スクリーニングやモルホロジー変化を評価するのが困難となる。チップに均一に照射する手段として、光をピンホールに通してから平行光にする方法が好ましい。 A general inexpensive light source has a filament portion, and there is unevenness in light brightness. If the light from the light source is irradiated as it is, bright and dark unevenness occurs in the image obtained by reflection, making it difficult to evaluate screening and morphological changes. As a means for uniformly irradiating the chip, a method in which light passes through a pinhole and then becomes parallel light is preferable.
ピンホールを通す手段は、明るさの均一な光束を得る手段としては好ましいが、そのままピンホールに光を通すと照度が低下する欠点がある。そこで、十分な照度を確保する手段として、ピンホールと光源の間に凸レンズを設置し、集光してピンホールを通す方法を用いることが好ましい。 The means for passing a pinhole is preferable as a means for obtaining a light beam having a uniform brightness, but there is a drawback that the illuminance decreases when light is passed through the pinhole as it is. Therefore, as a means for ensuring sufficient illuminance, it is preferable to use a method in which a convex lens is installed between the pinhole and the light source, and condensed to pass through the pinhole.
ピンホールの形状は円、楕円、四角形やそれ以上の多角形、不定形等、形状にこだわるものではないが、円形が好ましい。 The shape of the pinhole is not particularly limited to a shape such as a circle, an ellipse, a quadrangle, a polygon more than that, or an indefinite shape, but a circle is preferable.
ピンホールの穴の大きさは径が50μm以上300μm未満が好ましい。さらには100μ以上が好ましい。50μm未満であると照度を十分に確保できないため好ましくない。300μm以上のピンホールを用いる、もしくはピンホールを用いない場合は、光束の照度ムラが生じ、SPR機器としては正確なイメージング解析ができない場合があり好ましくない。なお、ここで径とはピンホールが円形の場合は直径を表し、楕円の場合は長軸の直径、多角形の場合は対角線で最長の値をとるものである。 The size of the pinhole is preferably 50 μm or more and less than 300 μm in diameter. Furthermore, 100 micrometers or more are preferable. If it is less than 50 μm, it is not preferable because sufficient illuminance cannot be secured. When a pinhole of 300 μm or more is used, or when a pinhole is not used, the illuminance unevenness of the light beam occurs, and an accurate imaging analysis may not be possible as an SPR device. Here, the diameter means the diameter when the pinhole is circular, the diameter of the long axis when it is an ellipse, and the longest value on a diagonal line when it is a polygon.
ピンホール内で交差し、通過した光は集光レンズ(凸レンズ)を用いて再度平行光とし、偏光板を透過させた後に、センサー表面に照射されることが好ましい。 The light that intersects and passes through the pinhole is preferably converted into parallel light by using a condensing lens (convex lens), transmitted through the polarizing plate, and then irradiated onto the sensor surface.
本発明で用いる光源は安価なハロゲンランプが好ましい。中でも、正方形フィラメントを有するハロゲンランプは照度ムラが低減されており、非常に好ましい。ランプの寿命は1500時間以上の寿命であることが好ましく、ランプの明るさを表す全光束は300ルーメン以上であることが好ましい。光を導く方法として、光ファイバーを用いる方法も可能である。 The light source used in the present invention is preferably an inexpensive halogen lamp. Among them, a halogen lamp having a square filament is very preferable because unevenness in illuminance is reduced. The lamp life is preferably 1500 hours or more, and the total luminous flux representing the brightness of the lamp is preferably 300 lumens or more. As a method for guiding light, a method using an optical fiber is also possible.
このように、例えば小さな直径のピンホールを用い、フィラメント形状が正方形であるハロゲンランプを用いることで照度のばらつきを低減させた表面プラズモン共鳴装置を実現することができる。 In this way, for example, a surface plasmon resonance device in which variations in illuminance are reduced by using a halogen lamp having a pinhole with a small diameter and a square filament shape can be realized.
その結果得られる偏光光束の照度は20ルクス以上が好ましい。20ルクス以上であると、SPRの反射像が波長フィルターを透過した後でも、市販の一般的なCCDカメラで撮影可能である。しかし、光源として装置が簡易でかつ安価な白色光源を用いることと、均一に偏光光束を照射するために光をピンホールに通すため、照度を高くすることは高価であり、500ルクス以下が好ましい。 The illuminance of the polarized light beam obtained as a result is preferably 20 lux or more. If it is 20 lux or more, even after the SPR reflection image passes through the wavelength filter, it can be taken with a commercially available general CCD camera. However, a simple and inexpensive white light source is used as a light source, and light is passed through a pinhole in order to uniformly irradiate a polarized light beam. Therefore, it is expensive to increase the illuminance, and 500 lux or less is preferable. .
チップからの反射光は波長フィルターに通した後にCCDカメラで撮影され、特定の波長近辺の光のみが観察される。波長フィルターの中心波長は特に限定されるものではないが、SPRの感度が高い650nm−1000nmが選択される。中心波長750−950nmが選択されると、さらに感度の高いSPRとなる。波長フィルターの透過率が極大時の半分になる波長の波長幅を半値巾と呼ぶが、半値巾は小さいほうが波長の分布がシャープとなり好ましい。具体的には半値巾50nm以下が好ましく、半値巾15nm以下が特に好ましい。 The reflected light from the chip passes through a wavelength filter and is photographed by a CCD camera, and only light in the vicinity of a specific wavelength is observed. The center wavelength of the wavelength filter is not particularly limited, but 650 nm to 1000 nm having high SPR sensitivity is selected. When the center wavelength of 750 to 950 nm is selected, the SPR becomes more sensitive. The wavelength width of the wavelength at which the transmittance of the wavelength filter is half that at the maximum is called a half-value width. A smaller half-value width is preferable because the wavelength distribution is sharper. Specifically, a half-value width of 50 nm or less is preferable, and a half-value width of 15 nm or less is particularly preferable.
CCDカメラで撮影された像はコンピュータに取り込まれ、ある部分の明るさの変化をリアルタイムで評価することや、画像処理により全体像の評価が可能である。こうして複数の物質を固定化したチップをスクリーニングすることや、表面に吸着する物体のモルホロジーを高感度に観察することができる。 An image photographed by the CCD camera is taken into a computer, and a change in brightness of a certain part can be evaluated in real time, or an entire image can be evaluated by image processing. Thus, it is possible to screen a chip on which a plurality of substances are immobilized, and to observe the morphology of an object adsorbed on the surface with high sensitivity.
本発明における表面プラズモン共鳴機器は、照度ムラの少なく、非常に性能の高いセンサーであり、各種の解析に好適に用いられる。 The surface plasmon resonance apparatus according to the present invention is a sensor having very high performance with little illuminance unevenness, and is suitably used for various analyses.
以下に実施例を示して本発明を具体的に説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to the examples.
[実施例1]
光源には正方形フィラメント型ハロゲンランプ(細渕電球社製)を用いた。このランプは30W、全光束は440ルーメンと高輝度であるにもかかわらず、平均寿命は2000時間であり、分析機器にも用いることが可能である。
[Example 1]
A square filament type halogen lamp (manufactured by Hosobu Inc.) was used as the light source. Although this lamp has a high brightness of 30 W and a total luminous flux of 440 lumens, it has an average life of 2000 hours and can be used for analytical instruments.
光源から50mmの位置に直径30mmφ、焦点距離50mmの球面平凸レンズ(シグマ光機社製SLSQ30−50P)をレンズの平面側をランプに向けて設置し、光源からの光を平行光とした。前記球面平凸レンズからさらに35mm離して、さらにもう一つ直径30mmφ、焦点距離50mmの球面平凸レンズ(シグマ光機社製SLSQ30−50P)の球面側を光源に向けて設置した。この球面平凸レンズによってレンズから50mmの位置に集光され、その位置に直径200μmのピンホール(シグマ光機社製PA−200)を置いて光束をピンホールに通し、球面アロマティックレンズ(シグマ光機製DLB−30−50PM)によって平行光とした後、有効径24mmφの近赤外偏光フィルター(シグマ光機社製SPFN−30C−26)によって24mmφの偏光平行光束を得た。この偏光平行光束の断面面積は452mm2であり、広範囲の領域を照射可能である。その明るさは感光部10mmφであるアズワン株式会社デジタル照度計LM−331で測定した場合、60ルクスと本発明に必要な明るさを示していた。 A spherical plano-convex lens (SLSQ30-50P manufactured by Sigma Koki Co., Ltd.) having a diameter of 30 mmφ and a focal length of 50 mm was placed at a position 50 mm from the light source with the plane side of the lens facing the lamp, and the light from the light source was made parallel light. A further 35 mm away from the spherical plano-convex lens, another spherical plano-convex lens (SLSQ30-50P manufactured by Sigma Koki Co., Ltd.) having a diameter of 30 mmφ and a focal length of 50 mm was placed facing the light source. The spherical plano-convex lens collects light at a position of 50 mm from the lens. A pin hole (PA-200 manufactured by Sigma Kogyo Co., Ltd.) having a diameter of 200 μm is placed at that position, and the light beam is passed through the pin hole to obtain a spherical aromatic lens (Sigma light). Machined DLB-30-50PM), and a parallel light beam having a diameter of 24 mm was obtained with a near-infrared polarizing filter (SPFN-30C-26 made by Sigma Koki Co., Ltd.) having an effective diameter of 24 mm. The cross-sectional area of this polarized parallel light beam is 452 mm 2 and can irradiate a wide area. The brightness was 60 lux and the brightness required for the present invention when measured with a digital illuminometer LM-331 having a photosensitive area of 10 mmφ.
18mm四方で厚さ1mmのLak10スライド(nD=1.720、松浪硝子工業社製)に3nmクロムと45nmの金が蒸着されている金表面に、11−メルカプトウンデカノールの自己組織化単分子層(SAMs)を形成したスライドをテスト用チップとして用いた。テスト用チップのガラス面にマッチングオイル(カーギル社製Mシリーズ、nD=1.720)をつけ、一辺25mmの60°分散プリズム(Oriel社製46106)と接触させ、本発明のSPR装置の偏光平行光束を導入した。テスト用チップのSAMs面には水を接触させた。 Self-assembled 11-mercaptoundecanol on a gold surface on which 3 nm chromium and 45 nm gold are deposited on a Lak10 slide (n D = 1.720, manufactured by Matsunami Glass Industrial Co., Ltd.) 18 mm square and 1 mm thick Slides on which molecular layers (SAMs) were formed were used as test chips. Matching oil (Cargill M series, nD = 1.720) is applied to the glass surface of the test chip and brought into contact with a 25 ° side 60 ° dispersive prism (Oriel 46106), and the parallel polarization of the SPR device of the present invention. Introduced luminous flux. Water was brought into contact with the SAMs surface of the test chip.
金からの反射光束を830nmの光干渉フィルター(シグマ光機社製VPF−25C−10−45−83000)によって830nm近傍の波長光を取り出し、CCTVレンズ(モリテックス社製MTE−55)により、完全な平行光のみを取り出してから、白黒CCDカメラ(東京電子工業社製CS8330B)で撮影した。装置の概要は図1に示す。このCCDカメラは比較的安価であり、最低被写体照度は0.3ルクスである。SPR測定にて像を検出することが可能であった。 The reflected light beam from gold is extracted at a wavelength near 830 nm by an optical interference filter of 830 nm (VPF-25C-10-45-83000 manufactured by Sigma Kogyo Co., Ltd.). After taking out only parallel light, it was photographed with a black and white CCD camera (CS8330B manufactured by Tokyo Electronics Industry Co., Ltd.). The outline of the apparatus is shown in FIG. This CCD camera is relatively inexpensive and the minimum subject illumination is 0.3 lux. It was possible to detect an image by SPR measurement.
シグナルのばらつきを評価するために、テストチップのSAMs面に水を100μl/minの速度で流し、約5秒おきに画像を撮影した。撮影を継続したまま、1%エタノール水溶液をSAMs表面に導入し、再度水を流した場合の屈折率変化によるSPRシグナル変化を観察した。観察はSAMs面のほぼ中心付近10mm四方(=100mm2)の領域に相当する部分(測定領域)に関して行った。領域を100等分(10×10)し、分割した各分割測定領域の中心に約直径400μmに相当する注目領域を100個作成し、シグナルの変化を計測した。各点における1%エタノールによるシグナル変化を図2に示す。 In order to evaluate the variation of the signal, water was allowed to flow through the SAMs surface of the test chip at a rate of 100 μl / min, and images were taken about every 5 seconds. While photographing was continued, a 1% ethanol aqueous solution was introduced onto the surface of the SAMs, and a change in SPR signal due to a change in refractive index when water was again flowed was observed. The observation was performed on a portion (measurement region) corresponding to a region of 10 mm square (= 100 mm 2 ) near the center of the SAMs surface. The area was divided into 100 equal parts (10 × 10), and 100 attention areas corresponding to a diameter of about 400 μm were created at the center of each divided measurement area, and the change in signal was measured. The signal change by 1% ethanol at each point is shown in FIG.
100個の注目領域における水と1%エタノールによるシグナルの平均は16.9、標準偏差は1.26であり、CVは7.5%であった。シグナルばらつきが低減されたSPR装置を得ることができた。 The average signal of water and 1% ethanol in 100 regions of interest was 16.9, the standard deviation was 1.26, and the CV was 7.5%. An SPR device with reduced signal variation could be obtained.
[比較例]
光源には汎用ハロゲンランプ(フィリップス社製13078)を用いた。このランプは20Wである。このランプを用い、上記実施例の装置のピンホールを直径300μm(シグマ光機社製PA−300)に交換して同様の測定を行った。測定の結果を図3に示す。100個の注目領域のシグナル平均は15.8であり、実施例と同等であったが、標準偏差は2.95であり、CVは18.7%と非常に悪い結果であった。さらに測定領域を狭めたが、CV値が15%以下とできる領域を70mm2以上で確保することはできなかった。
[Comparative example]
A general-purpose halogen lamp (Philips 13078) was used as the light source. This lamp is 20W. Using this lamp, the pinhole of the apparatus of the above example was exchanged for a diameter of 300 μm (PA-300 manufactured by Sigma Koki Co., Ltd.), and the same measurement was performed. The measurement results are shown in FIG. The signal average of 100 regions of interest was 15.8, which was the same as that of the example, but the standard deviation was 2.95, and the CV was 18.7%, which was a very bad result. Further, although the measurement area was narrowed, an area where the CV value could be 15% or less could not be secured at 70 mm 2 or more.
照度の高く、照度のムラがない偏光光束を得ることで、安価でかつ、シグナルのばらつきの少ないSPR装置を実現した。今後、生体分子の相互作用のスクリーニングに広く用いられていくと期待され産業界に寄与すること大である。 By obtaining a polarized light flux with high illuminance and no illuminance unevenness, an inexpensive SPR device with little signal variation was realized. In the future, it is expected to be widely used for screening biomolecular interactions, and it will greatly contribute to the industry.
1 正方形フィラメント型ハロゲンランプ
2 CCDカメラ
3 CCTVレンズ
4 フローセル
5 ピンホール
6 近赤外偏光フィルター
7 干渉フィルター(830nm)
8 60度プリズム
9 平凸レンズ
10 平凸レンズ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Square filament type halogen lamp 2 CCD camera 3 CCTV lens 4 Flow cell 5 Pinhole 6 Near-infrared polarizing filter 7 Interference filter (830 nm)
8 60 degree prism 9 Plano-convex lens 10 Plano-convex lens
Claims (3)
3. The apparatus according to claim 1, wherein a square filament type halogen lamp is used.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003303244A JP3902167B2 (en) | 2003-08-27 | 2003-08-27 | Surface plasmon resonance device |
PCT/JP2004/012337 WO2005022131A1 (en) | 2003-08-27 | 2004-08-20 | Surface plasmon resonance device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003303244A JP3902167B2 (en) | 2003-08-27 | 2003-08-27 | Surface plasmon resonance device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005069980A true JP2005069980A (en) | 2005-03-17 |
JP3902167B2 JP3902167B2 (en) | 2007-04-04 |
Family
ID=34407297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003303244A Expired - Fee Related JP3902167B2 (en) | 2003-08-27 | 2003-08-27 | Surface plasmon resonance device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011501124A (en) * | 2007-10-12 | 2011-01-06 | コーニング インコーポレイテッド | System and method for microplate image analysis |
CN102735636A (en) * | 2012-06-29 | 2012-10-17 | 北京利德曼生化股份有限公司 | Optical device for biochemical analyzer |
-
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3902167B2 (en) | 2007-04-04 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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|
A521 | Written amendment |
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