JP2005055008A - 廃棄物溶融炉内の廃棄物層高レベル測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】廃棄物溶融炉において、マイクロ波による廃棄物の層高レベルをノイズの影響をなくして正確に測定することができるマイクロ波送受信装置を備えた層高レベル測定装置を提供する。
【解決手段】廃棄物溶融炉１の頂部に、炉本体の中心線６からずれた位置にマイクロ波の反射波により廃棄物の層高レベルを測定するマイクロ波送受信装置５を有する廃棄物層高レベル測定装置４が設けられ、マイクロ波送受信装置５のマイクロ波の照射角度が炉本体の中心線に対して３〜１０°傾けられている廃棄物層高レベル測定装置。
【選択図】 図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、廃棄物を溶融処理する廃棄物溶融炉内の炉内廃棄物の層高レベルをマイクロ波により測定する廃棄物溶融炉内の廃棄物の層高レベル測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
廃棄物には、一般廃棄物である都市ごみ、各種産業廃棄物、又はそれらを乾燥、焼却、破砕処理等によって得られた中間処理物、焼却灰やそれを一度埋め立て処理後、再度掘り起こした土砂分を含む埋め立てごみ、あるいは汚泥があり、これらの一般廃棄物や各種産業廃棄物等の廃棄物の処理方法として、廃棄物をシャフト炉式熱分解溶融炉内で、乾燥・予熱、熱分解、燃焼・溶融し、スラグ及びメタルとして取り出す廃棄物溶融処理方法がある。
【０００３】
前記廃棄物溶融処理において、炉内の廃棄物の層高レベルを測定し、炉内の廃棄物の層高状況を把握し、層高状況に応じて溶融炉操業を行っている。
【０００４】
炉内の廃棄物の表面高さを測定する手段として特許文献１及び特許文献２に、マイクロ波送受信装置により発信されるマイクロ波の反射波により廃棄物の層高レベルを測定する層高レベル測定装置が記載されている。図２（ａ）に示す従来のマイクロ波送受信装置のように、特許文献２に記載された廃棄物溶融炉内の廃棄物層高レベル測定装置は、廃棄物溶融炉上部の開口部に固定される層高レベル測定装置の筒状体の上部にマイクロ波の反射波により廃棄物の層高レベルを測定するマイクロ波送受信装置が設けられている。
【０００５】
【特許文献１】
特開平９−８９６３２号公報
【０００６】
【特許文献２】
特開２０００−３０４２３３号公報
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
従来のマイクロ波送受信装置は、溶融炉の炉本体の中心線上に設置されている。図２（ｂ）は従来のマイクロ波の反射強度と層高レベルとの関係を示すグラフである。マイクロ波送受信装置５を備えた層高レベル測定装置４は、廃棄物溶融炉１の頂部に炉本体の中心線６上に設置されているので、マイクロ波が内筒３の壁に当たって反射強度が一定の固定反射波のピーク７として表れ、その近くに廃棄物レベルの反射波のピーク８が表れる。ところが、廃棄物表面のレベルが変動すると、廃棄物レベルの反射波のピーク８が固定反射波のピーク７の近くのノイズの影響を受けて廃棄物レベルの反射波のピーク８が明瞭に表れずに、廃棄物レベルを測定できなくなる場合があった。
【０００８】
そこで、本発明は、廃棄物溶融炉において、マイクロ波による廃棄物の層高レベルをノイズの影響をなくして正確に測定することができるマイクロ波送受信装置を備えた層高レベル測定装置を提供するものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明の廃棄物層高レベル測定装置は、廃棄物溶融炉の頂部に、炉本体の中心線からずれた位置にマイクロ波の反射波により廃棄物の層高レベルを測定するマイクロ波送受信装置を有する廃棄物層高レベル測定装置が設けられ、マイクロ波送受信装置のマイクロ波の照射角度が炉本体の中心線に対して３〜１０°傾けられていることを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図１（ａ）は本発明のマイクロ波送受信装置の配置を示す側面図、（ｂ）は同平面図、（ｃ）は距離と反射強度の関係を示すグラフである。
【００１１】
図１（ａ）及び（ｂ）において、廃棄物溶融炉１の頂部内には頂部から装入された廃棄物、コークス、副原料等の装入物２を炉内に案内する内筒３が配置されている。
【００１２】
廃棄物溶融炉１の頂部にはマイクロ波送受信装置５を備えた層高レベル測定装置４が配置されている。層高レベル測定装置４はマイクロ波送受信装置５が炉本体の中心線６から外れた位置に配置される。
【００１３】
マイクロ波送受信装置５は、角（θ）が炉本体の中心線６に対してマイクロ波の照射角度（θ）が３〜１０°となるように層高レベル測定装置４の設置場所を決めることにより、層高レベルの反射強度のピークが明確に表れることが判明した。
【００１４】
図１（ａ）において、炉本体の中心線６からずれた距離をＸとし、内筒３の下端をＬとすると、
Ｘ／Ｌ＝ｔａｎθから、
Ｘ＝Ｌ×ｔａｎθとなり、
θ＝３〜１０°であるから、
ｔａｎθ＝０．０５２４〜０．１７６となり、炉本体の中心線６からずれた距離Ｘを設定して層高レベル測定装置４を配置する。
【００１５】
炉本体の中心線６からずれた距離Ｘに層高レベル測定装置４を配置することにより、円筒３の壁から反射するマイクロ波が分散されて、固定反射強度７のピークが低くなるとともに、層高レベルの反射強度のピーク８が固定反射強度７より大きく明確に表れて、層高レベルを正確に把握することができる。
【００１６】
本発明が対象とする内筒の直径は、マイクロ波が内筒壁に反射する直径の内筒を備えた溶融炉である。すなわち、図１（ａ）において、内筒３の直径をａとすると、
ｔａｎθ＝（ａ／２）／Ｌより、
ａ／２＝Ｌ×ｔａｎθとなり、
ａ＝２Ｌ×ｔａｎθとなる。
【００１７】
したがって、照射角θの２倍以上の口径を有する内筒の場合は対象外となる。
【００１８】
【実施例】
Ｌ＝６０００ｍｍ、ａ＝２１００ｍｍ、Ｘ＝６５０ｍｍ、θ＝７°で層高レベルを測定した結果、図１（ｃ）の反射強度のグラフに表されるように、円筒３の壁から反射するマイクロ波の固定反射強度７のピークが低くなるとともに、層高レベルの反射強度のピーク８が固定反射強度７より大きく明確に表れて、層高レベルを正確に測定できた。
【００１９】
【発明の効果】
本発明は、層高レベル測定装置を炉本体の中心線からずれた位置に配置するとともに、マイクロ波送受信装置のマイクロ波の照射角度を炉本体の中心線に対して３〜１０°傾けることにより、固定波の反射強度が層高レベの反射強度のピークより低くなって層高レベルの反射強度のピークを明確にすることができるので、層高レベルを正確に把握して層高状況に応じて溶融炉操業を安定して行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）は本発明のマイクロ波送受信装置の配置を示す側面図、（ｂ）は同平面図、（ｃ）は距離と反射強度の関係を示すグラフである。
【図２】（ａ）は従来のマイクロ波送受信装置の配置を示す図、（ｂ）は従来のマイクロ波の反射強度と層高レベルとの関係を示すグラフグラフである。
【符号の説明】
１：廃棄物溶融炉
２：装入物
３：内筒
４：層高レベル測定装置
５：マイクロ波送受信装置
６：炉本体の中心線
７：固定反射強度
８：層高レベルの反射強度のピーク

Claims (1)

1. 廃棄物溶融炉の頂部に、炉本体の中心線からずれた位置にマイクロ波の反射波により廃棄物の層高レベルを測定するマイクロ波送受信装置を有する廃棄物層高レベル測定装置が設けられ、マイクロ波送受信装置のマイクロ波の照射角度が炉本体の中心線に対して３〜１０°傾けられていることを特徴とする廃棄物溶融炉内の廃棄物層高レベル測定装置。

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