JP2005033100A - 表面波励起プラズマ処理装置 - Google Patents

表面波励起プラズマ処理装置 Download PDF

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【課題】 誘電体の全領域にわたって均一なプラズマを生成することができる表面波励起プラズマ処理装置
【解決手段】 プラズマが生成されるチャンバ内にマイクロ波を導入する誘電体板32上には、複数のスロット導波管31b、31cが配設される。スロット導波管31b、31cはT型分岐導波管31aに接続されており、T型分岐導波管31aに導入されたマイクロ波は3つに分岐されて、各のスロット導波管31b、31cにそれぞれ伝搬される。T型分岐導波管31aの分岐点Oからスロット導波管31bの終端Bまでの長さ、分岐点Oからスロット導波管31cの終端Cまでの長さ、および分岐点Oからスロットアンテナ300aまでの長さは、それぞれマイクロ波の管内波長λgの整数倍に設定される。
【選択図】 図4


Description

本発明は、表面波励起プラズマ(SWP:Surface Wave Plasma)を利用してCVDやエッチング等を行う表面波励起プラズマ処理装置に関する。
近年、半導体製造プロセスでは、エッチング処理や成膜処理やアッシング処理などにプラズマを利用して各処理を行うプラズマ処理装置が用いられている。そのようなプラズマ処理装置としては、従来から平行平板プラズマ処理装置やECR(Electron Cyclotron Resonance:電子サイクロトロン共鳴)プラズマ処理装置などが使用されている。さらに、近年では、より大面積のプラズマを容易に発生させることができる表面波励起(SWP)プラズマ処理装置が利用されるようになってきている(例えば、特許文献1参照)。
SWPプラズマ処理装置では、マイクロ波導波管に設けられたスロットアンテナからチャンバ壁に設けられた誘電体を介してマイクロ波電力がチャンバ内に供給され、チャンバ内にプラズマが形成される。マイクロ波は誘電体とプラズマとの境界を誘電体の面方向へと拡がるので、面積の大きなプラズマを得やすい。
特開2000−348898号公報
しかしながら、導波管の延在方向と直交する方向の誘電体の幅が約25cm以上になると、その幅方向にプラズマが拡がり難くなるという現象が見られる。特にプロセスガスとして窒素ガスや酸素ガスやその他の活性ガス種を使用した場合には、その傾向が顕著である。そのため、誘電体全域に拡がった均一なプラズマを得ることが難しかった。
請求項1の発明による表面波励起プラズマ処理装置は、プラズマを生成するチャンバ内にマイクロ波を導入するための誘電体と、誘電体上に配設され、スロットアンテナを有する複数のスロット導波管と、マイクロ波を発生するマイクロ波発生部と、複数のスロット導波管を並列接続し、マイクロ波発生部からのマイクロ波を分岐して複数のスロット導波管の各々に伝搬する分岐導波管とを備え、分岐導波管の分岐点から複数のスロット導波管の各終端までの長さを、それぞれマイクロ波の管内波長の整数倍に設定したことを特徴とする。
請求項2の発明による表面波励起プラズマ処理装置は、(a)プラズマ生成用チャンバの外壁部に隙間を設けて並設された複数の誘電体と、(b)複数の誘電体の各々に設けられ、スロットアンテナを有する複数のスロット導波管を分岐導波管により並列接続して成る導波管ユニットとを具備するプラズマソース部と、複数の導波管ユニット毎に独立して設けられ、分岐導波管にマイクロ波を送出する複数のマイクロ波発生部と、並設された複数の誘電体の各隙間に着脱可能に設けられた表面波反射板とを備えたことを特徴とする。
請求項3の発明は、請求項1または2に記載の表面波励起プラズマ処理装置において、複数のスロット導波管の各終端に終端整合器をそれぞれ設けた。
本発明によれば、誘電体の全領域にわたって均一なプラズマを生成することができ、大面積の基板を均一にプラズマ処理することができる。
以下、図を参照して本発明を実施するための最良の形態を説明する。図1〜3は表面波励起プラズマ処理装置の概略構成を説明するための模式図であり、図1は装置の平面図、図2は図1のII−II断面図、図3はIII−III断面図である。図1〜3に示す表面波励起プラズマ処理装置は、SWP−CVDによりSiNx膜(シリコン窒化膜)等を形成するSWP−CVD装置を構成している。
1はCVDプロセスが行われるチャンバであり、図2に示すようにチャンバ1内には被成膜対象である基板2が装填される。図示していないが、基板2は基板ホルダ等によって保持されている。チャンバ1の基板2と対向する位置にはプラズマソース部3が設けられている。図1に示すように、プラズマソース部3には導波管4を介してマイクロ波発生部5が接続されている。
マイクロ波発生部5には、マイクロ波電源50、マイクロ波発振器51、アイソレータ52、方向性結合器53および整合器54が設けられている。マイクロ波電源50からマイクロ波発振器51に電力が供給されると、マイクロ波発振器51から2.45GHzのマイクロ波が出力される。マイクロ波発振器51と導波管4との間にはアイソレータ52、方向性結合器53および整合器54が設けられており、マイクロ波発振器51で発生したマイクロ波はこれらを介してプラズマソース部3に送出される。
図2に示すように、プラズマソース部3は導波管ユニット31と誘電体板32を備えている。誘電体板32には石英やジルコニアなどが用いられる。図4は誘電体板32上に配設される導波管ユニット31の外観形状を示す射視図である。導波管ユニット31は、マイクロ波が導入されるT型分岐導波管31aと、T型分岐導波管31aに接続された2つのスロット導波管31b,31cとを有している。一対のスロット導波管31b,31cは誘電体板32のy方向に並列して配置されており、各スロット導波管31b,31cは誘電体板32のx方向に沿って延在している。図1,2に示すようにスロット導波管31b,31cの終端には、終端整合器34がそれぞれ設けられている。
T型分岐導波管31aに導入されたマイクロ波は、T型分岐導波管31aによって2つに分岐し、分岐した一方はスロット導波管31bへと伝搬し、他方はスロット導波管31cへと伝搬する。図3に示すように誘電体板32は上壁1aの内面側に設けられており、導波管ユニット31は誘電体板32上に載置されている。誘電体板32の周囲にはマイクロ波を反射するための反射板33が配設されている。各スロット導波管31b,31cのH面と呼ばれる底面には、マイクロ波を誘電体板32側へと放射するためのスロットアンテナ300がスロット導波管31b,31cの延在方向に沿って所定間隔で複数形成されている(図2,図3参照)。
図2に示すように、SiNx膜をCVD成膜する場合には、窒素ガス(N2)、水素ガス(H2)、アルゴンガス(Ar)およびシランガス(SiH4)がガス供給装置6からチャンバ1内に供給される。61は窒素ガス(N2)、水素ガス(H2)、アルゴンガス(Ar)の供給源であり、62はシランガス(SiH4)の供給源である。成膜時には、成膜用のガスを供給しつつチャンバ1内を排気口1bから真空排気することによって、チャンバ1内の圧力を成膜プロセスにとって最適な圧力範囲に保持する。
スロット導波管31b,31cのスロットアンテナ300から放射されるマイクロ波を、誘電体板32を介してチャンバ1内に導入すると、チャンバ1内のガスがマイクロ波によって電離・解離されてプラズマが生成される。そして、プラズマの電子密度がマイクロ波カットオフ密度を越えると、マイクロ波は表面波となってプラズマと誘電体板32との境界面に沿って伝搬して誘電体板32の全域に拡がる。
誘電体板32の周辺まで伝搬した表面波は反射板33によって反射され、定在波が形成される。その結果、誘電体板32の直下の全域にわたって、密度の高いプラズマが形成される。ガス供給装置6から供給されたN2ガス、H2ガスおよびArガスはプラズマにより分解・励起され、ラジカルが形成される。SiH4ガスはこれらのラジカルにより分解・励起され、SiとNとが結合してシリコン窒化膜(SiNx膜)が基板2上に形成される。
次に、スロット導波管31b、31cの長さ寸法の設定方法について説明する。以下では、導波管内のマイクロ波の波長をλgと表し、図4に示すT型分岐導波管31aの分岐点をOと表す。図4において、一点鎖線は各導波管31a〜31cの中心線を示している。スロット導波管31bに関しては、分岐点Oからスロット導波管31bの終端Bまでの寸法を波長λgの整数倍とする。スロット導波管31cに関しては、分岐点Oからスロット導波管31cの終端Cまでの寸法を波長λgの整数倍とする。
このようにスロット導波管31b,31cの長さを波長λgの整数倍とすることによって、T型分岐導波管31a以降の全てのスロット導波管31b,31c内での定在波の位相が等しくなる。その結果、一つの整合器54(図1参照)で全ての系(スロット導波管31b,31c)の整合をとることが可能になる。なお、図4に示す例ではスロット導波管31b,31cのx方向長さを等しくしているが、「波長λgの整数倍」という条件を満たしていれば等しくなくても良い。
また、各スロットアンテナ300は定在波の強度がピークとなる位置に配置される。例えば、図4に示すように各スロット導波管31b、31cに5個のスロットアンテナ300a〜300eを設ける場合、分岐点Oに最も近いスロットアンテナ300aを分岐点Oからの経路長OE,OFが波長λgの整数倍である位置に形成する。この場合、スロット導波管31b、31cに形成された一対のスロットアンテナ300aのx位置が等しくなるように、それぞれ波長λgの整数倍に設定するのが好ましい。
残りのスロットアンテナ300b〜300dは、スロットアンテナ間の間隔がλgとなるように形成する。スロットアンテナ300a〜300eをこのような配置とすることにより、定在波の強度がピークとなる位置とスロットアンテナ300a〜300eの位置とが一致してマイクロ波の放射が効果的に行われる。なお、各スロット導波管31b、31cの終端に設けられている終端整合器34を調整することによって、各スロット導波管31b、31c内での定在波の微妙な位置ずれを修正することができる。
また、スロット導波管31b、31cの配列間隔dについては、例えば、図5に示すように誘電体のy方向寸法Dyが60cmであった場合にはd=30cmのように設定する。このように配設するとプラズマ中の電子密度は図5に示すような分布となり、誘電体板32の全面に拡がった均一なプラズマを形成することができる。図6は、従来のようにスロット導波管を一つだけ配設した場合の電子密度を定性的に示したものであり、前述したようにスロット導波管を中心としたy方向の幅が25cmを超えると電子密度が急激に小さくなる。
誘電体板32の大きさがさらに大きな場合には、図7に示す導波管ユニット70のようにスロット導波管の配列数を3以上に増加させれば良い。図7は図4と同様の図であり、プラズマソース部を構成する導波管ユニット70と誘電体板32とを示したものである。図7の導波管ユニット70では、4つのスロット導波管70b,70c,70d,70eが一つのT型分岐導波管70aに接続されている。なお、図示していないが、各スロット導波管70b,70c,70d,70eの終端には終端整合器34が設けられている。
この場合にも、分岐点Oを基準とする各スロット導波管70b,70c,70d,70eの長さは、それぞれ管内波長λgの整数倍に設定される。また、各スロット導波管70b,70c,70d,70eに形成されるスロットアンテナ300(不図示)の配設位置も、図4の場合と全く同様は方法で設定される。
図8に示す例は、図4と同様の導波管と誘電体板とのセットを4組用いて、より大面積のプラズマを形成する場合を示したものである。4組の導波管ユニット71〜74には、図1に示したマイクロ波発生部5がそれぞれ独立に接続される。図8では、導波管ユニット71〜74と4つの誘電体板32A〜32Dとで一つのプラズマソース部が構成されている。なお、図示していないが、各導波管ユニット71〜74に設けられたスロット導波管の終端には、終端整合器34がそれぞれ設けられている。
このように4つの誘電体板32A〜32Dを配設した場合にも、例えば、図7に示した導波管ユニット70の各スロット導波管の長さを延長して、4つの誘電体板32A〜32Dの上に配設するような構成も可能である。この場合、能力の大きな一つのマイクロ波発生部5から各スロット導波管にマイクロ波を送出することになる。
しかしながら、図8に示すように4つの誘電体板32A〜32Dを使用して大面積のプラズマを生成する場合には、プラズマの面積が大きくなる分だけ大きなマイクロ波電力を供給する必要がある。そのため、大電力のマイクロ波電源50を専用に製作するよりも、図8のように構成して汎用のマイクロ波電源50を使用した方がコスト低減を図ることができる。
さらに、一つのマイクロ波電源50を用いた場合、8つのスロット導波管に関して一括して一つの整合器54(図1参照)で整合を取るのは、図8の場合に比べて難しい。図8の場合には、4組の導波管ユニット71〜74に関してそれぞれ独立に整合を取ればよいので、より簡単に整合調整を行うことができる。
図8の装置において、4組の導波管ユニット71〜74の全てを使用せずに、その内の1〜3組の導波管を用いてプラズマ成膜を行うことも可能である。例えば、導波管ユニット71だけを使用する場合には、他の導波管ユニット72〜74の動作を停止して成膜を行う。そうすることによって、基板2(図1参照)の大きさに応じた面積のプラズマを形成して成膜を行うことができる。
その場合、図9に示すように誘電体板32A〜32Dの間の隙間に、金属製の反射板75を着脱可能に設けるようにしても良い。誘電体板32Aの表面を図示左方向に伝搬した表面波は反射板75によって反射され、隣接する誘電体板32Bに拡がらない。その結果、誘電体板32Aに対向する空間にプラズマが形成され、マイクロ波エネルギーが効率的に利用される。また、導波管ユニット72も動作させる場合には、反射板75を外せば良い。
反射板75は、図4に示すような導波管ユニット31にも適用することができる。すなわち、誘電体板32をスロット導波管31b、31cの間で2つに分割し、その分割した隙間部分に反射板75を着脱可能に設ける。そして、一方のスロット導波管だけを用いる場合には、他方の導波管の入り口を塞いだり、終端整合器34を調整して定在波が形成されなくなるようにすれば良い。
上述したように、本発明では誘電体板32上にT型分岐導波管31aで接続した複数のスロット導波管31b,31cを設けたことにより、誘電体板32の全域にわたる均一なプラズマを形成することができる。その結果、大面積基板の全域にわたって均一にプラズマ処理、例えば、プラズマ成膜を行うことができる。その場合、T型分岐導波管の分岐点を基準としたスロット導波管の長さをマイクロ波の管内波長λgの整数倍とし、図4で説明したようにスロットアンテナ300を配設することによって、プラズマ密度の均一化を図ることができる。
上述した実施の形態において、スロット導波管を平行に並べて配設したが平行でなくても良い。さらに、各スロット導波管の長さについても、管内波長λgの整数倍という条件を満たしていれば互いに異なっていても良い。また、本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではない。
本発明による表面波励起プラズマ処理装置の概略構成を示す平面図である。 図1のII−II断面図である。 図1のIII−III断面図である。 スロット導波管31b、31cの長さ寸法の設定方法について説明する図であり、スロット導波管31b、31cと誘電体板32の斜視図である。 図4のスロット導波管31b、31cを用いた場合の、プラズマの電子密度分布を定性的に示す図である。 ロット導波管を一つしか使用しない場合の、プラズマの電子密度分布を定性的に示す図である。 スロット導波管が4つ並列接続された導波管70を示す斜視図である。 導波管と誘電体板のセットを4組用いる場合のプラズマソース部を示す斜視図である。 反射板75を用いた場合のプラズマソース部を示す断面図である。
符号の説明
1 チャンバ
2 基板
3 プラズマソース部
4,31,70〜74 導波管
5 マイクロ波発生部
6 ガス供給装置
31,70〜74 導波管ユニット
31a,70a T型分岐導波管
31b,31c,70a〜70e スロット導波管
32,32A〜32D 誘電体板
34 終端整合器
33,75 反射板
300,300a〜300e スロットアンテナ
O 分岐点

Claims (3)

  1. プラズマを生成するチャンバ内にマイクロ波を導入するための誘電体と、
    前記誘電体上に配設され、スロットアンテナを有する複数のスロット導波管と、
    マイクロ波を発生するマイクロ波発生部と、
    前記複数のスロット導波管を並列接続し、前記マイクロ波発生部からのマイクロ波を分岐して前記複数のスロット導波管の各々に伝搬する分岐導波管とを備え、
    前記分岐導波管の分岐点から前記複数のスロット導波管の各終端までの長さを、それぞれマイクロ波の管内波長の整数倍に設定したことを特徴とする表面波励起プラズマ処理装置。
  2. (a)プラズマ生成用チャンバの外壁部に隙間を設けて並設された複数の誘電体と、(b)前記複数の誘電体の各々に設けられ、スロットアンテナを有する複数のスロット導波管を分岐導波管により並列接続して成る導波管ユニットとを具備するプラズマソース部と、
    前記複数の導波管ユニット毎に独立して設けられ、前記分岐導波管にマイクロ波を送出する複数のマイクロ波発生部と、
    前記並設された複数の誘電体の各隙間に着脱可能に設けられた表面波反射板とを備えたことを特徴とする表面波励起プラズマ処理装置。
  3. 請求項1または2に記載の表面波励起プラズマ処理装置において、
    前記複数のスロット導波管の各終端に終端整合器をそれぞれ設けたことを特徴とする表面波励起プラズマ処理装置。
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