JP2004335030A

JP2004335030A - Optical disk device

Info

Publication number: JP2004335030A
Application number: JP2003132082A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Hori; 武司堀
Original assignee: Funai Electric Co Ltd
Current assignee: Funai Electric Co Ltd
Priority date: 2003-05-09
Filing date: 2003-05-09
Publication date: 2004-11-25
Anticipated expiration: 2023-05-09
Also published as: JP3763145B2

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To predict the lifetime of a semiconductor laser and to decide whether to use for reproducing only or not after reaching the predicted lifetime, in an optical disk device performing recording and reproducing of data on an optical disk. <P>SOLUTION: When data are recorded or reproduced on the optical disk (S1), the temperature and the operation time of the semiconductor laser are measured (S2), the operation time is corrected with a temperature correction coefficient corresponding to the temperature of the time as necessary (S3), (S4), the operation time or the operation time after correction is counted accumulatively (S5), the counted accumulated operation time is compared with the prescribed threshold value (S6), when the accumulated operation time exceeds the threshold value, such a message is displayed that the laser is made for reproduction only or not after that (S7), the laser is used for reproduction only or for recording /reproducing depending on the decision of a user (S8, S9, S10). <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクに対してデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置に関し、特に、半導体レーザの劣化を予測し、半導体レーザの寿命が突然尽きることによるデータの記録失敗を防止することが可能な光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に、半導体レーザは、時間の経過に伴い劣化し、同じパワーの光を出力するために、電流量を徐々に増加させなければならないことが知られている。また、半導体レーザの寿命は、使用時の温度と密接な関係があり、温度が高くなると、劣化速度（単位時間当たりの駆動電流の上昇）が指数関数的に上昇することも知られている。従って、半導体レーザを連続して長時間使用しないことが好ましい。
【０００３】
一方、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量のデータの記録が可能な光ディスクの登場に伴い、ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭにＴＶ番組などを録画するＤＶＤビデオレコーダなども実用化されている。このようにＴＶ番組などを録画する場合、半導体レーザを長時間連続して使用しなければならず、特に、光ディスクにデータを記録するときは、光ディスクのデータ記録面の状態を変化させる必要があるため、データを再生するときに比べてはるかにパワーの強いレーザビームを出力するので、半導体レーザの温度上昇速度が速く、かつ高温になる。従って、ＤＶＤビデオレコーダなどのデータの記録及び再生が可能な光ディスク装置では、半導体レーザの寿命が問題となる。
【０００４】
半導体レーザの寿命を予測するために、例えば特許文献１では、半導体レーザに所定のパワーの光を出力させ、その時の温度と電流値を測定し、測定した電流値を温度係数で補正し、補正した電流が所定の劣化閾値を超えたときに、半導体レーザの寿命が尽きたものと判断している。また、特許文献２も同様に、一定のパワーの光を出力するときの温度と電流値を測定し、測定した電流値をその温度における正常な電流値と比較して、半導体レーザの劣化を検出している。
【０００５】
【特許文献１】
特開平８−２７９６４２号公報
【特許文献２】
特開昭６３−１４２８７７号公報
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献１又は２に記載された従来の方法によれば、半導体レーザの実際の温度及び電流値を測定しているので、個々の半導体レーザの個体差にかかわらず、その寿命が尽きるまで使用することができる。一方、半導体レーザの劣化が急激に進み、突然その寿命が尽きる可能性もあるため、データの記録が中断する虞がある。特に、ＤＶＤビデオレコーダでは、ユーザが長期間にわたって複数のＴＶ番組の録画予約を行うこともあるため、上記従来の方法をＤＶＤビデオレコーダに適用すると、予約期間中に半導体レーザの寿命が尽きると、それ以後の番組が録画されず、データの記録失敗となる。
【０００７】
本発明は、上記従来例の問題点を解決するためになされたものであり、ＤＶＤビデオレコーダのように長時間にわたって連続的にデータの記録が行われる可能性のある光ディスク装置において、半導体レーザの劣化を予測し、データの記録中に半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部と、前記表示部に表示されたメッセージに対する応答を入力するための入力部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、前記入力部を介して入力された結果が肯定的である場合に、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行い、前記入力部を介して入力された結果が否定的である場合に、データの記録又は再生を行う。
【０００９】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間は、比較的精度良く半導体レーザの寿命を反映している。従って、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。なお、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、データの再生用としては十分なパワーを出力することができる。
【００１０】
また、請求項２の発明は、レーザビームを出力する半導体レーザを含み、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ピックアップと、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサと、前記半導体レーザの発光を制御する制御部と、所定のメッセージを表示する表示部を備えた光ディスク装置において、前記制御部は、前記半導体レーザの動作保証温度範囲を所定数の温度範囲に分割し、分割された各温度範囲に対応して予め設定されている温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部をさらに備え、前記半導体レーザによりデータの記録又は再生が行われたときに、前記半導体レーザの動作時間を測定し、前記半導体レーザの動作中に、前記温度センサを用いて前記半導体レーザの温度を測定し、測定された温度が所定値以下のときは、前記動作時間を補正せず、また測定された温度が所定値を超えているときは、前記測定された温度に基づいて、前記補正係数記憶部に記憶されているテーブルから、当該前記半導体レーザの温度に対応する温度補正係数を読み出し、読み出した温度補正係数を用いて、測定された動作時間を補正し、光ディスク装置が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を予め設定されている閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、前記表示部に対してデータの記録不能のメッセージを表示させるための信号を出力し、前記表示部に前記メッセージを表示させた後、以後データの記録を禁止し、光ディスクからのデータの再生のみを行う。
【００１１】
このような構成によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００１２】
また、請求項３の発明は、回転する光ディスクに対してレーザビームを照射することによりデータの記録及び再生を行う光ディスク装置において、データの記録の際に、前記レーザビームを照射する半導体レーザの温度及び動作時間を測定し、動作時間をその時の温度に対応する温度補正係数で補正し、補正後の動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を所定の閾値と比較し、前記累積動作時間が前記閾値を超えているときに、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断する。
【００１３】
このような構成によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００１４】
また、請求項４の発明は、請求項３の光ディスク装置において、データの記録のための前記半導体レーザの寿命が尽きたものと判断した後、データの記録を禁止し、データの再生のみを行うことを特徴とする。
【００１５】
このような構成によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、この光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置について、図面を参照しつつ説明する。本実施の形態に係る光ディスク装置１の構成を図１に示す。光ディスク装置１は、例えば、光ディスク２に向かって所定波長のレーザビームを照射し、光ディスクに記録されているデータを再生すると共に、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどのデータの記録が可能な光ディスクに対してデータ再生時よりも強度（パワー）の大きいレーザビームを照射してデータを記録するものである。
【００１７】
図１に示すように、光ディスク装置１は、光ディスク２を保持するテーブル３と、テーブル３及びその上に保持された光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ４と、光ディスク２に対して光ビームを照射してデータの記録及び／又は再生を行う光ピックアップ５と、光ピックアップ５を光ディスク２の半径方向に移動させるトラッキングサーボ機構６と、スピンドルモータ４、光ピックアップ５及びトラッキングサーボ機構６などを制御する制御部７と、光ピックアップ５から出力されるＲＦ信号を処理するためのＲＦ信号処理部８と、処理されたＲＦ信号をパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力するためのインタフェース（Ｉ／Ｆ）９と、光ディスク装置１の動作状況やユーザへのメッセージなどを表示するためのＬＣＤなどの表示部１０と、光ディスク装置１の動作選択などを行うためのプッシュボタンスイッチ又はリモコン装置などの入力部１１で構成されている。
【００１８】
次に、３ビーム方式の光ピックアップ５の構成を図２に示す。光ピックアップ５は、所定の波長のレーザビームを光ディスク２に向けて出力する半導体レーザ２１と、半導体レーザ２１から出力されたレーザビームを３本のビームに分光する回折格子（ＧＲ）２２と、回折格子２２により分光されたビームを透過させると共に、光ディスク２からの反射光を反射させる偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２３と、ビームの偏光状態を変換する１／４波長板（λ／４）２４と、ビームの光路を光ディスク２側に９０度曲げるためのミラー２５と、ミラー２５により光路を曲げられたビームを平行光束にするコリメータレンズ２６と、平行光束化されたビームを光ディスク２上に集光するための対物レンズ２７と、光ディスク２からの反射光を受光し、光の強度に応じた電気信号に変換し出力する受光素子（ＰＤＩＣ）２８と、偏光ビームスプリッタ２３により反射された光を受光素子２８上に集光する集光レンズ２９と、半導体レーザ２１の近傍に設けられた温度センサ３０などで構成されている。
【００１９】
半導体レーザ２１から出力されたレーザビームは回折格子２２により回折され、０次回折光、±１次回折光、±２次回折光・・・に分光される。これらの回折光のうち、０次回折光は最も強度が高く、光ディスク２に対するデータの記録及び再生に用いられる。また、次に強度の高い１次回折光は、光ディスク２上でのトラッキング制御に用いられる。受光素子２８は、０次回折光及び±１次回折光に対応した３つの受光部を有し、それぞれ独立して信号を出力する。
【００２０】
ＲＦ信号処理部８は、光ピックアップ５の受光素子２８から出力されるアナログの信号を増幅し、Ａ／Ｄ変換して、所定のトラッキングエラー信号、フォーカシングエラー信号及び光ディスク２から読み出したデータに相当するＲＦ信号として出力する。トラッキングエラー信号及びフォーカシングエラー信号は制御部７に出力され、トラッキングサーボ制御及びフォーカシングサーボ制御に利用される。また、データ再生動作では、ＲＦ信号はインタフェース（Ｉ／Ｆ）９に出力され、光ディスク２のデータとしてパーソナルコンピュータやモニタディスプレイ装置に出力される。
【００２１】
制御部７は、所定の制御プログラムを記憶したＲＯＭ、制御プログラムを実行するＣＰＵ及びデータを一時的に記憶するＲＡＭなどで構成され、スピンドルモータ４の回転のオン／オフ、光ピックアップ５の半導体レーザ２１の発光のオン／オフ、データの記録時及び再生時における半導体レーザ２１の強度の切り換え、トラッキングサーボ機構６による光ピックアップ５のトラッキング、図示しないフォーカシングサーボ機構による光ピックアップ５の対物レンズ２７のフォーカシングなどを制御する。
【００２２】
光ディスク装置１では、半導体レーザ２１を連続して使用すると、半導体レーザ２１が発熱し、その熱が光ピックアップ５の全体に伝わり、温度が上昇する。光ピックアップ５は、微小なベース部材上に上記構成要素が搭載されているため、半導体レーザ２１の発熱により各部品が膨張し、レーザビームのフォーカシングエラーやトラッキングエラーが生ずる。また、半導体レーザ２１は温度が高くなると劣化が激しくなり、寿命が短くなる。光ディスク装置１では、光ピックアップ５の温度が０℃〜６０℃の範囲で動作を保証するため、半導体レーザ２１の近傍に温度センサ２０が設けられている。制御部７は、例えば光ピックアップ５の温度が７０℃以上になると、半導体レーザ２１の発振を停止するように制御する。さらに、制御部７は、半導体レーザ２１の寿命を予測するために、半導体レーザ２１の動作時間を測定すると共に、温度センサ３０を用いて、そのときの半導体レーザ３０の温度を測定する。
【００２３】
半導体レーザ２１は、その動作温度が高ければ高いほど指数関数的に劣化速度が速くなるため、半導体レーザ２１の寿命を予測するに当たって、動作時間だけでなく、動作時の温度も考慮する必要がある。本実施の形態では、上記半導体レーザの動作保証温度範囲０℃〜６０℃を複数の温度範囲に分割し、各温度範囲ごとに動作時間を補正するための温度補正係数を設定している。一例として、０℃〜２０℃の範囲では、温度補正係数を「１」に設定、すなわち補正を行わない。２０℃〜４０℃の範囲では、温度補正係数を「２」に設定する。４０℃〜６０℃の範囲では、温度補正係数を「４」に設定する。この温度範囲の区分及び温度補正係数は例示であって、実際に光ディスク装置に使用する半導体レーザを用いて劣化試験を行い、半導体レーザの劣化特性に応じて設定する。
【００２４】
制御部７は、前述のようにＲＯＭ、ＣＰＵ、ＲＡＭ等で構成され、様々な機能を行う。図４に制御部７の機能ブロックを示す。制御部７は、上記温度範囲と温度補正係数のテーブルを記憶した補正係数記憶部７１と、累積動作時間を記憶する累積動作時間記憶部７２と、累積動作時間と比較される閾値を記憶した閾値記憶７３を有する。これらの各記憶部７１、７２及び７３は、ＲＯＭ又はＲＡＭにより構成されている。
【００２５】
また、制御部７は、データの記録又は再生が行われたときに、半導体レーザ２１の動作時間を測定する動作時間測定部７４と、半導体レーザ２１の動作中に、温度センサ３０を用いて半導体レーザ２１の温度を測定する温度測定部７５を有する。これら各測定部７４及び７５の機能は、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。
【００２６】
さらに、制御部７は、温度測定部７５により測定した半導体レーザ２１の動作時の温度に基づいて、補正係数記憶部７１から温度補正係数を読み出す補正係数読み出し部７６と、読み出した温度補正係数を用いて半導体レーザ２１の動作時間を補正する動作時間補正部７７と、光ディスク装置１が最初に起動されてからの動作時間又は補正された動作時間を累積的にカウントする累積動作時間カウント部７８と、カウントした累積動作時間を閾値記憶部７３に記憶されている閾値と比較する累積動作時間比較部７９とを有する。閾値は、例えば１０，０００時間など、各半導体レーザの種類に応じた固有の時間であり、量産される半導体レーザの個体差を考慮した値を設定する。これら各部７５〜７９の機能は、所定のプログラムに従い、ＣＰＵの演算機能及び比較機能により実行される。
【００２７】
さらに、制御部７は、累積動作時間が閾値を超えたときに、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示するためのメッセージ表示部８０と、表示部１０にメッセージを表示した後、入力部１１を介してユーザにより入力された結果が肯定的であるか否定的であるか、すなわち再生専用が選択されたか否かを判別する入力判別部８１と、入力結果が肯定的である場合に、以後光ディスクからのデータの再生のみを行うために、データの記録を禁止する動作制限部８２と、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して受信した他の装置からの動作命令及び動作制限部８２からの動作制限命令に従って、光ディスク２に対するデータの記録及び／又は再生を制御するデータ記録／再生部８３を備える。これら各部の機能も、ＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより達成される。なお、入力結果が否定的である場合は、動作制限部８２によるデータ記録禁止は行わず、そのまま動作命令に従ってデータの記録又は再生を行う。
【００２８】
次に、上記光ディスク装置１における半導体レーザ２１の寿命予測及び予測された寿命時間に達したときの動作について、図４に示すフローチャートを参照しつつ説明する。なお、以下の説明においては、制御部７を図３に示す各部の名称で呼ぶものとする。
【００２９】
まず、インタフェース（Ｉ／Ｆ）９を介して動作命令が入力されると、データ記録再生部８３はその動作命令に従って光ピックアップ５を制御し、光ディスク２に対してデータの記録又は再生を行う（Ｓ１）。データの記録又は再生動作と並行して、動作時間測定部７４及び温度測定部７５は、それぞれ半導体レーザ２１の動作時間及び動作時の温度を測定する（Ｓ２）。データの記録又は再生が完了すると、補正係数読み出し部７６は、測定した半導体レーザ２１の動作温度（測定温度）と所定の設定温度（例えば２０℃）とを比較する（Ｓ３）。なお、半導体レーザ２１の動作中に測定温度が変化したときは、例えば変化した温度の平均値又は最高値を測定温度とする。
【００３０】
測定温度が設定温度を超えているときは（Ｓ３でＹＥＳ）、補正係数読み出し部７６は、測定温度に基づいて補正係数記憶部７１に記憶されているテーブルの中からその測定温度に対応する温度補正係数を読み出し、動作時間補正部７７は、測定した動作時間を補正する（Ｓ４）。また、測定温度が設定温度以下であるときは（Ｓ３でＮＯ）、測定温度の補正は行わない。そして、累積動作時間カウント部７８は、その時点までの累積動作時間を累積時間記憶部７２から読み出し、読み出した累積動作時間に新たに測定した動作時間又は補正した動作時間を加算して新たな累積動作時間とする（Ｓ５）。なお、累積動作時間記憶部７２に記憶されている累積動作時間は、新たな累積動作時間に更新される。
【００３１】
次に、累積動作時間比較部７９は、閾値記憶部７３から閾値を読み出し、新たな累積動作時間と閾値とを比較する（Ｓ６）。閾値は、一般ユーザの使用に対しては非常に大きな値であるので、通常の使用では短期間に累積動作時間が閾値を超えることはなく（Ｓ６でＮＯ）、ステップＳ１に戻って次の使用に備える。一方、光ディスク装置１が長期間使用された結果、累積動作時間が閾値を超えているときは（Ｓ６でＹＥＳ）、メッセージ表示部８０は、表示部１０に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させるための信号を出力する（Ｓ７）。表示部１０は、メッセージ表示部８０からの信号に応じて、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示する。その後、ユーザが入力部１１を操作して何らかの選択を入力すると、入力判別部８１は入力された結果が肯定的であるか否定的であるかを判別する（Ｓ８）。入力結果が肯定的である場合は（Ｓ８でＹＥＳ）、動作制限部８２は、光ディスク２からのデータの再生のみを行うために、以後データの記録を禁止する。また、入力結果が否定的である場合は（Ｓ８でＮＯ）、データ記録を禁止することなくステップＳ１に戻り、次のデータの記録又は再生に備える。
【００３２】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、様々な変形が可能である。例えば、半導体レーザ２１の累積動作時間が閾値を超え、データ記録のための寿命が尽きていると考えられる場合であっても、半導体レーザの個体差により、若干の使用が可能な場合もありうる。そのような場合に、ステップＳ８においてユーザによりデータの再生専用が選択された場合であっても、ステップＳ１でデータの記録命令が入力されると、ステップＳ９でのデータ記録禁止を解除して、データの記録を行うようにしてもよい。あるいは、ステップＳ７にジャンプして、表示部１０に再生専用とするか否かのメッセージを再表示させるようにしてもよい。
【００３３】
また、上記実施の形態では、ステップＳ８において、ユーザに再生専用とするか否かの選択をさせたが、ステップＳ８を省略して強制的に再生専用とするように構成してもよい。さらに、ステップＳ８〜Ｓ１０を省略して、単に表示部１０に半導体レーザの寿命が近いことを表示するだけであってもよい。
【００３４】
なお、上記実施の形態において、光ディスク２の具体例として、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭを例示したが、本発明はこれらの光ディスクに限定されず、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷなど従来から用いられている光ディスク及びより高密度な記録が可能な次世代光ディスクにも適用されうることは言うまでもない。
【００３５】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１の発明によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。また、累積動作時間をデータの記録のための半導体レーザの寿命に相当する閾値と比較し、累積動作時間が閾値を超えているときに、データの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示して、ユーザに再生専用を選択させることにより、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。また、ユーザがデータの記録又は再生を続行することを選択したときでも、突然半導体レーザの寿命が尽きる虞があるものの、半導体レーザの個体差によっては長時間データの記録及び再生ができる可能性があり、光ディスク装置をその寿命が尽きるまで有効に使用することができる。
【００３６】
また、請求項２によれば、上記請求項１の場合と異なり、累積動作時間が閾値を超えているときに、自動的にデータの記録を禁止して再生専用とするので、突然半導体レーザの寿命が尽きることによるデータの記録失敗を防止することができる。
【００３７】
また、請求項３によれば、半導体レーザの動作時の温度を考慮して半導体レーザの動作時間を補正し、補正した動作時間を累積的にカウントしているので、カウントした累積動作時間により、比較的精度良く半導体レーザの寿命を予測することができる。
【００３８】
また、請求項４によれば、データ記録のための半導体レーザの寿命が尽きたときでも、データを再生するときは、データを記録するときに比べて必要なレーザビームのパワーが相当小さいので、半導体レーザが劣化してデータの記録に必要なパワーが出力できなくても、光ディスク装置をデータの再生用として使用し続けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】３ビーム方式の光ピックアップの構成を示す図である。
【図３】上記光ディスク装置における制御部の機能を示すブロック図である。
【図４】上記実施形態に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１光ディスク装置
２光ディスク
５光ピックアップ
７制御部
１０表示部
１１入力部
２１半導体レーザ
３０温度センサ
７１補正係数記憶部
７２累積動作時間記憶部
７３閾値記憶部
７４動作時間測定部
７５温度測定部
７６補正係数読み出し部
７７動作時間補正部
７８累積動作時間カウント部
７９累積動作時間比較部
８０メッセージ表示部
８１入力判別部
８２動作制限部
８３データ記録／再生部[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical disk device capable of recording and reproducing data on and from an optical disk, and in particular, it is possible to predict deterioration of a semiconductor laser and prevent data recording failure due to sudden expiration of the life of the semiconductor laser. The present invention relates to an optical disk device.
[0002]
[Prior art]
In general, it is known that a semiconductor laser deteriorates with time, and the amount of current must be gradually increased in order to output light of the same power. It is also known that the lifetime of a semiconductor laser is closely related to the temperature during use, and that the degradation rate (the increase in drive current per unit time) increases exponentially as the temperature increases. Therefore, it is preferable not to use the semiconductor laser continuously for a long time.
[0003]
On the other hand, with the advent of optical disks capable of recording large-capacity data, such as DVD-RW and DVD-RAM, DVD video recorders for recording TV programs and the like on DVD-RW and DVD-RAM have been put into practical use. . As described above, when recording a TV program or the like, the semiconductor laser must be used continuously for a long time. In particular, when data is recorded on the optical disk, it is necessary to change the state of the data recording surface of the optical disk. Therefore, a laser beam having much higher power is output as compared with the case of reproducing data, so that the temperature of the semiconductor laser rises faster and becomes higher. Therefore, in an optical disk device such as a DVD video recorder capable of recording and reproducing data, the lifetime of the semiconductor laser becomes a problem.
[0004]
In order to predict the life of a semiconductor laser, for example, in Patent Document 1, a semiconductor laser outputs light of a predetermined power, a temperature and a current value at that time are measured, and the measured current value is corrected by a temperature coefficient. When the applied current exceeds a predetermined deterioration threshold, it is determined that the life of the semiconductor laser has expired. Similarly, Patent Document 2 measures the temperature and current value when outputting light of a constant power, compares the measured current value with a normal current value at that temperature, and detects deterioration of the semiconductor laser. are doing.
[0005]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-279624 [Patent Document 2]
JP-A-63-142877
[Problems to be solved by the invention]
According to the conventional method described in Patent Document 1 or 2, since the actual temperature and current value of the semiconductor laser are measured, the semiconductor laser is used until the end of its life regardless of individual differences between the semiconductor lasers. can do. On the other hand, there is a possibility that the semiconductor laser rapidly deteriorates and its life is suddenly exhausted, so that data recording may be interrupted. In particular, in the case of a DVD video recorder, a user may make a reservation for recording a plurality of TV programs over a long period of time. Therefore, if the above-described conventional method is applied to a DVD video recorder, if the life of the semiconductor laser is exhausted during the reservation period, The subsequent program is not recorded, and data recording fails.
[0007]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems of the conventional example, and has been developed in an optical disk device such as a DVD video recorder in which data can be continuously recorded for a long time. An object of the present invention is to predict deterioration and prevent data recording failure due to expiration of the life of a semiconductor laser during data recording.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
To achieve the above object, an invention according to claim 1 includes an optical pickup that includes a semiconductor laser that outputs a laser beam, and that records and reproduces data by irradiating a rotating optical disc with the laser beam. A temperature sensor for measuring the temperature of the laser, a control unit for controlling light emission of the semiconductor laser, a display unit for displaying a predetermined message, and an input unit for inputting a response to the message displayed on the display unit. In the optical disk device provided, the control unit divides the operation-guaranteed temperature range of the semiconductor laser into a predetermined number of temperature ranges, and stores a table of a temperature correction coefficient set in advance corresponding to each of the divided temperature ranges. A correction coefficient storage unit storing the correction coefficient, wherein the data is recorded or reproduced by the semiconductor laser; Measuring the operating time of the semiconductor laser during the operation of the semiconductor laser, measuring the temperature of the semiconductor laser using the temperature sensor, when the measured temperature is less than a predetermined value, without correcting the operating time, When the measured temperature exceeds a predetermined value, a temperature correction coefficient corresponding to the temperature of the semiconductor laser is obtained from a table stored in the correction coefficient storage unit based on the measured temperature. Using the read temperature correction coefficient, the measured operating time is corrected, and the operating time since the optical disk device was first started or the corrected operating time is cumulatively counted, and the counted cumulative operating time is calculated. Is compared with a preset threshold value, and when the cumulative operation time exceeds the threshold value, a method of prohibiting recording of data on the display unit and making the display unit exclusively for reproduction. After outputting a signal for displaying a message and displaying the message on the display unit, if the result input through the input unit is affirmative, the recording of data thereafter is prohibited, and the Only when the result input through the input unit is negative, the data is recorded or reproduced.
[0009]
According to such a configuration, the operation time of the semiconductor laser is corrected in consideration of the temperature at the time of operation of the semiconductor laser, and the corrected operation time is cumulatively counted. It accurately reflects the life of the semiconductor laser. Therefore, the cumulative operation time is compared with a threshold value corresponding to the life of the semiconductor laser for recording data, and when the cumulative operation time exceeds the threshold value, whether to prohibit the data recording and make the data read-only is determined. Is displayed and the user selects reproduction only, it is possible to prevent data recording failure due to sudden end of the life of the semiconductor laser. Further, even when the user selects to continue the recording or reproduction of data, although the life of the semiconductor laser may end suddenly, there is a possibility that the recording and reproduction of data for a long time may be possible depending on individual differences of the semiconductor laser. Yes, the optical disk device can be used effectively until the end of its life. When data is reproduced, the required laser beam power is considerably smaller than when recording data. Therefore, even if the semiconductor laser is deteriorated and the power required for data recording cannot be output, the data can be reproduced. Sufficient power can be output for reproduction.
[0010]
Further, the invention of claim 2 includes an optical pickup that includes a semiconductor laser that outputs a laser beam, and records and reproduces data by irradiating the rotating optical disk with the laser beam, and measures the temperature of the semiconductor laser. A temperature sensor, a control unit for controlling light emission of the semiconductor laser, and a display unit for displaying a predetermined message, wherein the control unit sets the operation assurance temperature range of the semiconductor laser to a predetermined number of temperatures. Further comprising a correction coefficient storage unit storing a table of temperature correction coefficients set in advance corresponding to each of the divided temperature ranges, when data is recorded or reproduced by the semiconductor laser. Measuring the operating time of the semiconductor laser, and using the temperature sensor during the operation of the semiconductor laser; Measure the temperature, when the measured temperature is less than a predetermined value, do not correct the operation time, and when the measured temperature exceeds a predetermined value, based on the measured temperature, A temperature correction coefficient corresponding to the temperature of the semiconductor laser is read from the table stored in the correction coefficient storage unit, and the measured operation time is corrected using the read temperature correction coefficient. Cumulatively counts the operating time or the corrected operating time since being started, compares the counted cumulative operating time with a preset threshold, and when the cumulative operating time exceeds the threshold, A signal for displaying a message indicating that data cannot be recorded is output to the display unit. After the message is displayed on the display unit, data recording is prohibited thereafter, and the optical To reproduce only the data from the click.
[0011]
According to such a configuration, unlike the case of the first aspect, when the cumulative operation time exceeds the threshold value, the data recording is automatically inhibited and the data is exclusively used for reproduction. Running out of data can prevent data recording failure.
[0012]
According to a third aspect of the present invention, there is provided an optical disc apparatus for recording and reproducing data by irradiating a rotating optical disc with a laser beam. Measuring the operating time, correcting the operating time with a temperature correction coefficient corresponding to the temperature at that time, cumulatively counting the corrected operating time, comparing the counted cumulative operating time with a predetermined threshold value, When the operation time exceeds the threshold, it is determined that the life of the semiconductor laser for recording data has expired.
[0013]
According to such a configuration, the operation time of the semiconductor laser is corrected in consideration of the temperature during operation of the semiconductor laser, and the corrected operation time is cumulatively counted. The lifetime of a semiconductor laser can be predicted with high precision.
[0014]
According to a fourth aspect of the present invention, in the optical disk device of the third aspect, after determining that the life of the semiconductor laser for recording data has expired, the recording of the data is prohibited, and only the reproduction of the data is performed. It is characterized by the following.
[0015]
According to such a configuration, even when the life of the semiconductor laser for data recording has expired, the required power of the laser beam is considerably smaller when reproducing data than when recording data. Even if the laser deteriorates and the power required for data recording cannot be output, the optical disk device can be continuously used for data reproduction.
[0016]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An optical disk device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of an optical disk device 1 according to the present embodiment. The optical disc device 1 irradiates a laser beam of a predetermined wavelength toward the optical disc 2 to reproduce data recorded on the optical disc and to record data such as DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, etc. In this method, data is recorded by irradiating a laser beam having a higher intensity (power) than that at the time of data reproduction to an optical disc capable of reproducing the data.
[0017]
As shown in FIG. 1, an optical disk apparatus 1 includes a table 3 for holding an optical disk 2, a spindle motor 4 for rotating the table 3 and the optical disk 2 held thereon, and irradiating the optical disk 2 with a light beam. An optical pickup 5 for recording and / or reproducing data, a tracking servo mechanism 6 for moving the optical pickup 5 in a radial direction of the optical disk 2, a spindle motor 4, an optical pickup 5, a tracking servo mechanism 6, and the like. A control unit 7, an RF signal processing unit 8 for processing an RF signal output from the optical pickup 5, and an interface (I / F) 9 for outputting the processed RF signal to a personal computer or a monitor display device. To display the operation status of the optical disc device 1 and a message to the user. A display section 10 such as LCD, and an input unit 11 such as a push button switch or the remote control device for performing such operation selection of the optical disc apparatus 1.
[0018]
Next, the configuration of the optical pickup 5 of the three-beam system is shown in FIG. The optical pickup 5 includes a semiconductor laser 21 that outputs a laser beam of a predetermined wavelength toward the optical disk 2, a diffraction grating (GR) 22 that splits the laser beam output from the semiconductor laser 21 into three beams, A polarizing beam splitter (PBS) 23 for transmitting the beam split by the grating 22 and reflecting the reflected light from the optical disc 2; a quarter-wave plate (λ / 4) 24 for converting the polarization state of the beam; A mirror 25 for bending the optical path of the beam toward the optical disk 2 by 90 degrees, a collimator lens 26 for converting the beam whose optical path is bent by the mirror 25 to a parallel light beam, and condensing the parallelized light beam on the optical disk 2 Lens 27 for receiving the reflected light from the optical disc 2 and converting it into an electric signal corresponding to the intensity of the light and outputting the electric signal (P) And IC) 28, a condenser lens 29 for condensing the light reflected by the polarization beam splitter 23 on the light receiving element 28 is constituted by a temperature sensor 30 provided in the vicinity of the semiconductor laser 21.
[0019]
The laser beam output from the semiconductor laser 21 is diffracted by the diffraction grating 22 and split into zero-order diffracted light, ± first-order diffracted light, ± second-order diffracted light, and so on. Of these diffracted lights, the zero-order diffracted light has the highest intensity and is used for recording and reproducing data on and from the optical disc 2. The first-order diffracted light having the next highest intensity is used for tracking control on the optical disc 2. The light receiving element 28 has three light receiving sections corresponding to the 0th-order diffracted light and ± 1st-order diffracted light, and outputs signals independently.
[0020]
The RF signal processing unit 8 amplifies an analog signal output from the light receiving element 28 of the optical pickup 5, performs A / D conversion, and corresponds to a predetermined tracking error signal, a focusing error signal, and data read from the optical disc 2. Output as an RF signal. The tracking error signal and the focusing error signal are output to the control unit 7 and used for tracking servo control and focusing servo control. In the data reproducing operation, the RF signal is output to the interface (I / F) 9 and output as data of the optical disk 2 to a personal computer or a monitor display device.
[0021]
The control unit 7 includes a ROM that stores a predetermined control program, a CPU that executes the control program, a RAM that temporarily stores data, and the like, and turns on / off the rotation of the spindle motor 4 and the semiconductor laser of the optical pickup 5. 21, turning on / off of light emission, switching of the intensity of the semiconductor laser 21 during data recording and reproduction, tracking of the optical pickup 5 by the tracking servo mechanism 6, and focusing of the objective lens 27 of the optical pickup 5 by a focusing servo mechanism (not shown). Control and so on.
[0022]
In the optical disk device 1, when the semiconductor laser 21 is continuously used, the semiconductor laser 21 generates heat, and the heat is transmitted to the entire optical pickup 5 to increase the temperature. In the optical pickup 5, since the above components are mounted on a minute base member, each component expands due to heat generated by the semiconductor laser 21, and a focusing error or a tracking error of a laser beam occurs. In addition, the semiconductor laser 21 is greatly deteriorated when the temperature is increased, and the life is shortened. In the optical disk device 1, a temperature sensor 20 is provided near the semiconductor laser 21 in order to guarantee the operation when the temperature of the optical pickup 5 is in the range of 0 ° C. to 60 ° C. The controller 7 controls the semiconductor laser 21 to stop oscillating when the temperature of the optical pickup 5 becomes 70 ° C. or higher, for example. Further, the control unit 7 measures the operating time of the semiconductor laser 21 and measures the temperature of the semiconductor laser 30 at that time using the temperature sensor 30 in order to predict the life of the semiconductor laser 21.
[0023]
As the operating temperature of the semiconductor laser 21 is higher, the deterioration rate becomes exponentially faster. Therefore, in estimating the life of the semiconductor laser 21, it is necessary to consider not only the operating time but also the operating temperature. . In the present embodiment, the operating temperature range of 0 ° C. to 60 ° C. for the semiconductor laser is divided into a plurality of temperature ranges, and a temperature correction coefficient for correcting the operation time is set for each temperature range. As an example, in the range of 0 ° C. to 20 ° C., the temperature correction coefficient is set to “1”, that is, no correction is performed. In the range of 20 ° C. to 40 ° C., the temperature correction coefficient is set to “2”. In the range of 40 ° C. to 60 ° C., the temperature correction coefficient is set to “4”. The division of the temperature range and the temperature correction coefficient are merely examples, and a deterioration test is performed using a semiconductor laser actually used in an optical disk device, and is set according to the deterioration characteristics of the semiconductor laser.
[0024]
The control unit 7 includes a ROM, a CPU, a RAM, and the like as described above, and performs various functions. FIG. 4 shows functional blocks of the control unit 7. The control unit 7 includes a correction coefficient storage unit 71 that stores a table of the temperature range and the temperature correction coefficient, a cumulative operation time storage unit 72 that stores the cumulative operation time, and a threshold value that stores a threshold value to be compared with the cumulative operation time. It has a memory 73. Each of these storage units 71, 72 and 73 is constituted by a ROM or a RAM.
[0025]
Further, the control unit 7 includes an operation time measurement unit 74 that measures the operation time of the semiconductor laser 21 when data is recorded or reproduced, and a semiconductor sensor using the temperature sensor 30 during the operation of the semiconductor laser 21. It has a temperature measuring section 75 for measuring the temperature of the laser 21. The functions of these measuring units 74 and 75 are achieved by the CPU executing a predetermined program.
[0026]
The control unit 7 further includes a correction coefficient reading unit 76 that reads a temperature correction coefficient from the correction coefficient storage unit 71 based on the operating temperature of the semiconductor laser 21 measured by the temperature measurement unit 75, and a read-out temperature correction coefficient. An operation time correction unit 77 that corrects the operation time of the semiconductor laser 21 using the operation time; a cumulative operation time count unit 78 that cumulatively counts the operation time since the optical disk device 1 was first started or the corrected operation time. And a cumulative operation time comparison unit 79 that compares the counted cumulative operation time with a threshold value stored in the threshold value storage unit 73. The threshold value is a unique time corresponding to the type of each semiconductor laser, for example, 10,000 hours, and is set to a value in consideration of the individual difference of the mass-produced semiconductor lasers. The functions of these units 75 to 79 are executed by an arithmetic function and a comparison function of the CPU according to a predetermined program.
[0027]
Further, the control unit 7 includes a message display unit 80 for displaying a message as to whether or not data recording is prohibited on the display unit 10 and is set to reproduction only when the accumulated operation time exceeds the threshold value. , An input determining unit that determines whether the result input by the user via the input unit 11 after displaying the message on the display unit 10 is positive or negative, that is, whether the reproduction only is selected or not. 81, when the input result is affirmative, the data is received via the interface (I / F) 9 and the operation restricting unit 82 for prohibiting data recording in order to reproduce only the data from the optical disc thereafter. A data recording / reproducing unit 83 that controls recording and / or reproduction of data on the optical disc 2 in accordance with an operation command from another device and an operation restriction command from the operation restriction unit 82 is provided. The functions of these units are also achieved by the CPU executing a predetermined program. If the input result is negative, the data recording or reproduction is performed in accordance with the operation command without performing the data recording prohibition by the operation restricting unit 82.
[0028]
Next, the life expectancy of the semiconductor laser 21 in the optical disc apparatus 1 and the operation when the predicted life time has been reached will be described with reference to the flowchart shown in FIG. In the following description, the control unit 7 is referred to by the name of each unit shown in FIG.
[0029]
First, when an operation command is input via the interface (I / F) 9, the data recording / reproducing unit 83 controls the optical pickup 5 according to the operation command, and records or reproduces data on the optical disc 2 ( S1). In parallel with the data recording or reproducing operation, the operating time measuring unit 74 and the temperature measuring unit 75 measure the operating time and the operating temperature of the semiconductor laser 21, respectively (S2). When the data recording or reproduction is completed, the correction coefficient reading unit 76 compares the measured operating temperature (measured temperature) of the semiconductor laser 21 with a predetermined set temperature (for example, 20 ° C.) (S3). When the measured temperature changes during operation of the semiconductor laser 21, for example, an average value or a maximum value of the changed temperatures is set as the measured temperature.
[0030]
When the measured temperature exceeds the set temperature (YES in S3), the correction coefficient reading unit 76 determines the temperature corresponding to the measured temperature from the table stored in the correction coefficient storage unit 71 based on the measured temperature. The correction coefficient is read, and the operation time correction unit 77 corrects the measured operation time (S4). When the measured temperature is equal to or lower than the set temperature (NO in S3), the measured temperature is not corrected. Then, the cumulative operation time counting unit 78 reads the cumulative operation time up to that point from the cumulative time storage unit 72, and adds the newly measured operation time or the corrected operation time to the read cumulative operation time to obtain a new cumulative operation time. The operation time is set (S5). Note that the cumulative operation time stored in the cumulative operation time storage unit 72 is updated to a new cumulative operation time.
[0031]
Next, the cumulative operation time comparison unit 79 reads the threshold from the threshold storage unit 73, and compares the new cumulative operation time with the threshold (S6). Since the threshold value is a very large value for use by general users, the accumulated operation time does not exceed the threshold value in a short time in normal use (NO in S6), and the process returns to step S1 to return to the next use. Prepare for. On the other hand, if the accumulated operation time exceeds the threshold as a result of using the optical disc apparatus 1 for a long period of time (YES in S6), the message display unit 80 prohibits data recording on the display unit 10 and reproduces the data. A signal for displaying a message as to whether or not it is dedicated is output (S7). The display unit 10 displays a message as to whether data recording is prohibited and the data is exclusively used for reproduction in response to a signal from the message display unit 80. Thereafter, when the user operates the input unit 11 to input some selection, the input determination unit 81 determines whether the input result is positive or negative (S8). If the input result is affirmative (YES in S8), the operation restricting unit 82 prohibits the recording of data thereafter, in order to only reproduce the data from the optical disc 2. If the input result is negative (NO in S8), the process returns to step S1 without prohibiting data recording, and prepares for recording or reproduction of the next data.
[0032]
Note that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, even when it is considered that the accumulated operation time of the semiconductor laser 21 exceeds the threshold value and the life for data recording is considered to be expired, a slight use may be possible due to individual differences of the semiconductor laser. . In such a case, even if the user selects data reproduction only in step S8, if a data recording instruction is input in step S1, the data recording prohibition in step S9 is released, and Data recording may be performed. Alternatively, the process may jump to step S7 and cause the display unit 10 to re-display a message as to whether or not the reproduction is to be performed only.
[0033]
Further, in the above-described embodiment, in step S8, the user is made to select whether or not to use only for reproduction. However, step S8 may be omitted to forcibly make only for reproduction. Further, steps S8 to S10 may be omitted, and the display unit 10 may simply indicate that the life of the semiconductor laser is near.
[0034]
In the above embodiment, DVD-R, DVD-RW, and DVD-RAM are illustrated as specific examples of the optical disk 2. However, the present invention is not limited to these optical disks, and may be a CD-R, a CD-RW, or the like. It goes without saying that the present invention can be applied to an optical disk used conventionally and a next-generation optical disk capable of recording at higher density.
[0035]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect of the invention, the operation time of the semiconductor laser is corrected in consideration of the temperature at the time of operation of the semiconductor laser, and the corrected operation time is cumulatively counted. The life of the semiconductor laser can be predicted relatively accurately from the accumulated operation time. In addition, the cumulative operation time is compared with a threshold value corresponding to the life of the semiconductor laser for recording data, and when the cumulative operation time exceeds the threshold value, whether to prohibit data recording and perform read-only operation is determined. Is displayed and the user selects reproduction only, it is possible to prevent data recording failure due to sudden end of the life of the semiconductor laser. Further, even when the user selects to continue the recording or reproduction of data, although the life of the semiconductor laser may end suddenly, there is a possibility that the recording and reproduction of data for a long time may be possible depending on individual differences of the semiconductor laser. Yes, the optical disk device can be used effectively until the end of its life.
[0036]
According to the second aspect, unlike the case of the first aspect, when the cumulative operation time exceeds the threshold value, the recording of data is automatically prohibited and the data is exclusively used for reproduction. Data recording failure due to the expiration of the life can be prevented.
[0037]
According to the third aspect, the operation time of the semiconductor laser is corrected in consideration of the temperature during operation of the semiconductor laser, and the corrected operation time is counted cumulatively. The life of the semiconductor laser can be predicted relatively accurately.
[0038]
According to the fourth aspect, even when the life of the semiconductor laser for data recording has expired, the required power of the laser beam is considerably smaller when reproducing data than when recording data. Even if the power required for data recording cannot be output due to deterioration of the semiconductor laser, the optical disk device can be continuously used for data reproduction.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical disk device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of a three-beam optical pickup.
FIG. 3 is a block diagram showing functions of a control unit in the optical disc device.
FIG. 4 is a flowchart showing an operation of the optical disc device according to the embodiment.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 1 optical disk device 2 optical disk 5 optical pickup 7 control unit 10 display unit 11 input unit 21 semiconductor laser 30 temperature sensor 71 correction coefficient storage unit 72 cumulative operation time storage unit 73 threshold storage unit 74 operation time measurement unit 75 temperature measurement unit 76 correction coefficient Readout unit 77 Operation time correction unit 78 Cumulative operation time count unit 79 Cumulative operation time comparison unit 80 Message display unit 81 Input determination unit 82 Operation restriction unit 83 Data recording / reproduction unit

Claims

An optical pickup that includes a semiconductor laser that outputs a laser beam and records and reproduces data by irradiating the rotating optical disk with the laser beam; a temperature sensor that measures the temperature of the semiconductor laser; A control unit for controlling light emission, a display unit for displaying a predetermined message, and an optical disc device including an input unit for inputting a response to the message displayed on the display unit,
The control unit includes:
The semiconductor laser further includes a correction coefficient storage unit that divides the operation assurance temperature range into a predetermined number of temperature ranges, and stores a table of a temperature correction coefficient that is set in advance corresponding to each of the divided temperature ranges.
When data is recorded or reproduced by the semiconductor laser, the operation time of the semiconductor laser is measured,
During the operation of the semiconductor laser, measure the temperature of the semiconductor laser using the temperature sensor,
When the measured temperature is equal to or less than a predetermined value, the operation time is not corrected, and when the measured temperature exceeds a predetermined value, based on the measured temperature, the correction coefficient storage unit From the stored table, read a temperature correction coefficient corresponding to the temperature of the semiconductor laser, using the read temperature correction coefficient, to correct the measured operating time,
Cumulatively counts the operation time or the corrected operation time since the optical disk device was first started,
Compare the counted cumulative operation time with a preset threshold,
When the cumulative operation time exceeds the threshold, a signal for displaying a message as to whether or not to inhibit data recording on the display unit and to set it for reproduction only is output.
After displaying the message on the display unit, if the result input through the input unit is positive, the recording of data is prohibited thereafter, only the reproduction of data from the optical disc is performed, and the input An optical disc device for recording or reproducing data when a result input via a section is negative.

An optical pickup that includes a semiconductor laser that outputs a laser beam and records and reproduces data by irradiating the rotating optical disk with the laser beam; a temperature sensor that measures the temperature of the semiconductor laser; In an optical disk device including a control unit that controls light emission and a display unit that displays a predetermined message,
The control unit includes:
The semiconductor laser further includes a correction coefficient storage unit that divides the operation assurance temperature range into a predetermined number of temperature ranges, and stores a table of a temperature correction coefficient that is set in advance corresponding to each of the divided temperature ranges.
When data is recorded or reproduced by the semiconductor laser, the operation time of the semiconductor laser is measured,
During the operation of the semiconductor laser, measure the temperature of the semiconductor laser using the temperature sensor,
When the measured temperature is equal to or less than a predetermined value, the operation time is not corrected, and when the measured temperature exceeds a predetermined value, based on the measured temperature, the correction coefficient storage unit From the stored table, read a temperature correction coefficient corresponding to the temperature of the semiconductor laser, using the read temperature correction coefficient, to correct the measured operating time,
Cumulatively counts the operation time or the corrected operation time since the optical disk device was first started,
Compare the counted cumulative operation time with a preset threshold,
When the cumulative operation time exceeds the threshold, a signal for displaying a message that data cannot be recorded on the display unit is output,
An optical disc device, wherein after displaying the message on the display unit, data recording is prohibited thereafter, and only reproduction of data from the optical disc is performed.

In an optical disc device for recording and reproducing data by irradiating a rotating optical disc with a laser beam,
When recording or reproducing data, the temperature and operation time of the semiconductor laser irradiated with the laser beam are measured, and the operation time is corrected by a temperature correction coefficient corresponding to the temperature at that time, and the corrected operation time is accumulated. The accumulated operation time is compared with a predetermined threshold value, and when the accumulated operation time exceeds the threshold value, it is determined that the life of the semiconductor laser for recording data has expired. An optical disc device characterized by the above-mentioned.

4. The optical disk device according to claim 3, wherein after determining that the life of the semiconductor laser for data recording has expired, data recording is prohibited and only data reproduction is performed.