JP2004317754A - 1,2-naphthoquinone-2-diazide sulfonate photosensitive agent and photoresist composition - Google Patents

1,2-naphthoquinone-2-diazide sulfonate photosensitive agent and photoresist composition Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a 1,2-naphthoquinone-2-diazide sulfonate photosensitive agent which has high solubility, which can be manufactured at a low cost, which satisfies both of the sensitivity and the residual film rate and which is useful as a photosensitive agent of a photoresist for the manufacture of a semiconductor integrated circuit, a liquid crystal display, an EL (electroluminescence) display or the like, in particular, a liquid crystal display, and to provide a photoresist composition. <P>SOLUTION: The 1,2-naphthoquinone-2-diazide sulfonate photosensitive agent is expressed by general formula (I). In formula (I), each of R<SB>1</SB>, R<SB>2</SB>, R<SB>3</SB>and R<SB>4</SB>independently represents a 2-9C alkyl group, each of D<SB>1</SB>to D<SB>8</SB>is independent from others and at least two of them are 1,2-naphthoquinone-2-diazide sulfonyl groups, at least one of the rest is an aryl sulfonyl group and the rest represents a hydrogen atom. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤及びホトレジスト組成物に関し、より詳しくは半導体集積回路や液晶ディスプレイ等の製造に用いられるホトレジストの感光剤として有用な、溶媒に溶解性が良く、感度及び残膜率が良好な1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤及びホトレジスト組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】
1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は、一般にノボラック樹脂等のアルカリ可溶性樹脂結合剤との組み合わせでポジ型ホトレジストの感光成分として使用されている。これらのポジ型ホトレジストは解像性が高いため、半導体集積回路や液晶ディスプレイ、ELディスプレイ等の製造に用いられている。
【0003】
このようなポジ型ホトレジストの感光成分としての1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は、通常多価フェノール化合物と1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルクロリドを酸中和剤の存在下反応させることにより製造されている。ここで用いられる多価フェノール化合物としてはポリヒドロキシベンゾフェノン類(例えば、非特許特許文献1及び特許文献1参照)、ポリヒドロキシトリフェニルメタン類(例えば、特許文献2参照)、フェノール類の3、4或いは5分子をメチレンで結合させた形の多価フェノール化合物(例えば、特許文献3、特許文献4及び特許文献5参照)などが知られている。ポリヒドロキシベンゾフェノン、特に、トリヒドロキシベンゾフェノンやテトラヒドロキシベンゾフェノンからの1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステルは安価に製造出来るため、半導体集積回路や液晶ディスプレイの製造用ホトレジストの感光成分として使用されている。
【0004】
ここで、ポリヒドロキシベンゾフェノンはi線(365nm)に吸収を有し、これを用いたレジストはi線露光ではパターン形状が悪くなるため、g線(436nm)の露光用として使用される。i線露光用としては、ポリヒドロキシトリフェニルメタン類やフェノール類の3、4或いは5分子をメチレンで結合させた形の多価フェノール化合物を用いたレジストが使用されている。しかしながら、これらの多価フェノール化合物は製造が煩雑であり、またこれらの多価フェノールの1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステルはレジスト溶剤への溶解性が十分でなく、これを用いたホトレジスト組成物は十分感光剤が溶解しなかったり、経時で異物が析出してくる、或いは感度が遅いなどの問題点を有する。
【0005】
また、i線に吸収が無く、容易に製造できる多価フェノール化合物として環状ポリヒドロキシ化合物を用いた1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステルが開示されている(例えば、特許文献6参照)。しかしながら、環状ポリヒドロキシ化合物を用いた1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステルも溶剤への溶解性が十分でなく、これを用いたホトレジスト組成物は十分感光剤が溶解しなかったり、経時で異物が析出してくる。或いは、感度が遅いなどという問題点を有する。感度を速くすると、残膜率が低くなり、感度と残膜率が両立しないという問題点を有する。
【0006】
【特許文献1】特開昭62−153950号公報(第2頁右下欄〜第4頁右上欄等)
【特許文献2】特開平1−189644号公報(第5頁右上欄〜第6頁左上欄等)
【特許文献3】特表平4−502519号公報(第5頁等)
【特許文献4】特開平6−167805号公報(第5頁〜第9頁等)
【特許文献5】特開平7−120917号公報(第7頁等)
【特許文献6】特開平3−279957号公報(請求項等)
【特許文献7】特願2002−381849号(請求項等)
【特許文献8】特願2002−381850号(請求項等)
【非特許文献1】W. S. Deforest著、「Photoresist」、McGrow−Hill Book Company、1975年、p.48−55.
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上述したような多価フェノール化合物及びその1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は多く開示されているが、i線に吸収が無く、容易に製造できる多価フェノールを用いたレジスト溶媒に溶解性の良い1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は知られていない。また、感度と残膜率とが両立するホトレジスト組成物は知られていない。
【0008】
最近、液晶ディスプレイの大画面化、ガラス基板上に低温多結晶Si−TFTを用いた駆動回路内臓の液晶ディスプレイの開発、更には、ガラス基板上にCPU、メモリなどを内蔵したシステム・オン・パネルの開発が行われており、レジストにはi線露光で高感度、高残膜率で、且つ安価であることが要求されてきている。
【0009】
そこで、本発明者らはi線に吸収が無く製造容易な多価フェノールである特許文献6に開示されている環状ポリヒドロキシ化合物を用いる1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤について詳細に検討した結果、レゾルシノールと炭素数3〜10のアルデヒドから選択される少なくとも1種のアルデヒドの縮合により得られる環状ポリヒドロキシ化合物であって高分子量成分が一定量以下である多価フェノールから得られる特定の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤がレジスト溶媒等に溶解性が良好であり、これを感光剤とするホトレジスト組成物が十分に満足しうる程度の感度を有し、保存安定性にも優れた実用性の極めて高いものであることを見出し、先に出願した(特許文献7,8)。しかしながら、高残膜率を得るためには、まだ十分な高感度が得られないという問題点が残っていた。
【0010】
本発明は先に出願した発明を改良する発明に係り、溶解性が良く、安価に製造できるのは勿論のこと、感度と残膜率を両立させた、半導体集積回路や液晶ディスプレイ、ELディスプレイ等、特に、液晶ディスプレイの製造用ホトレジストの感光剤として有用な1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤及びホトレジスト組成物を提供することを課題とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
前述したように先に出願した1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤についてさらに研究を重ねた結果、多価フェノールである環状ポリヒドロキシ化合物のヒドロキシ基の一部を1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル基とすると同時に一部をアリールスルホニル基とすることにより、感度がさらに向上すると共に残膜率が良好になるということを見出し、本発明を完成するに至った。
【0012】
かかる本発明の第1の態様は、下記一般式(I)で表されることを特徴とする1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤にある。
【0013】
【化2】

Figure 2004317754
【0014】
但し、一般式(I)中、R、R、R及びRは互いに独立に、炭素数2から9までのアルキル基を表わし、D〜Dは互いに独立で、少なくとも2個は1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル基であると共に残りの少なくとも1個はアリールスルホニル基であり、他の残りは水素原子を表す。
【0015】
本発明の第2の態様は、第1の態様の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤と、アルカリ可溶性樹脂とを含有することを特徴とするホトレジスト組成物にある。
【0016】
かかる本発明の一般式(I)で示される1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は、製造が容易で、尚且つ安価で大量に製造が可能であると同時に、アリールスルホニル基を有しないものと比較して感度がさらに向上したものである。また、この感光剤を含有する本発明のホトレジスト組成物は、液晶ディスプレイの製造における微細加工に有用な、十分に満足しうる程度の感度を有し、アリールスルホニル基を有しないものと比較して感度及び残膜率がさらに向上したものであり、保存安定性にも優れた実用性の極めて高いものであり、特に、i線露光用として有用である。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明をさらに詳細に説明する。
【0018】
本発明の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は、レゾルシノールと炭素数3〜10のアルデヒドから選択される少なくとも1種のアルデヒドとの縮合反応によって得られる下記一般式(II)で示される化合物を主体とする多価フェノールに、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドを酸中和剤の存在下に反応させることにより製造することができる。ここで、本発明において、多価フェノールは、一般式(II)示される化合物(異性体を含む場合がある)と、その他の化合物を含む混合物である。本発明では、GPC測定における一般式(II)で示される化合物より保持時間が短い成分の含有量が10%以下である多価フェノールを用いるのが好ましい。高分子量成分が多いものを用いると、製造された感光剤の溶解性が低下するからである。
【0019】
ここで、本発明の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤を製造する際には、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドは同時に反応させてもよいが、2段階で反応させてもよいことはいうまでもない。
【0020】
また、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドを反応させるに際して、両者のモル比は、3:1〜1:1、すなわち、アリールスルホニルハライドが、モル比率で1/4〜1/2であるのが好ましい。
【0021】
【化3】
Figure 2004317754
【0022】
ただし、一般式(II)でR、R、R及びRは互いに独立に炭素数2〜9のアルキル基を表わす。
【0023】
一般式(II)で表わされる化合物は4モルのレゾルシノールと4モルのアルデヒドが環状に縮合した化合物である。なお、この化合物の合成法についてはA. G. Sverker Hobergの報告(J. Org. Chem., vol.45, 4498(1980))やY. Aoyama等の報告(J. Am. Chem. Soc., vol.111, 5397(1989))などに詳しく記載されているので、容易に合成できるが、レゾルシノールとアルデヒドの反応後、更にフェノールの誘導体を作り精製してからフェノール化合物に戻すなどの工程を含み、非常に煩雑で実際的でない。
【0024】
以下に好ましい合成例を示す。
【0025】
レゾルシノールとアルデヒドを、水あるいはメタノールやエタノールのようなアルコール溶媒、好ましくはアルコール溶媒、特に好ましくはメタノール溶媒中で、酸触媒、好ましくは塩酸触媒を用いて反応させる。レゾルシノールとアルデヒドのモル比は通常1:0.6〜1.5が好ましい。反応後はゆっくり結晶を析出させる。例えば反応溶媒にメタノールを用いた場合は、反応後水を加え結晶を析出させるが、水を加えた後、加熱してから再びゆっくり冷却して高分子量成分を形成しないようにゆっくり結晶を成長させ、更に水を加えて結晶を析出させるようにすると、得られる結晶はGPCで高分子量成分(一般式(II)で示される化合物より保持時間が短い成分)が10%以下の多価フェノールが容易に得られる。また、必要により再結晶する事もできる。
【0026】
一般式(II)で示される化合物を主体とする多価フェノールはGPC(gelpermeation chromatography)で測定して一般式(II)で示される化合物より保持時間が短い成分(高分子量成分)が10%以下であり、低分子量成分は実質的に含まないのが好ましいので、一般式(I)で示される化合物を主体とする多価フェノールは、純度が90%以上が好ましい。純度が90%未満では、得られた1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤の有機溶媒に対する溶解度が低く、溶媒に溶けなかったり、溶けても経時的に析出して、ノボラック等のアルカリ可溶性樹脂と組み合わせるホトレジストの感光剤としては使用できない。反応後析出させた結晶の純度が90%未満の場合は、再結晶などの手段により純度を90%以上にする事ができる。
【0027】
ここで、GPCの測定条件は以下の通りである。
カラム:Shodex GPC KF−802×1本+KF−801×3本
カラム温度:40℃
検出波長:254nm
移動層:THF
移動層の流量:1.0ml/min.
【0028】
一般式(II)で示される化合物を主体とする多価フェノールはi線(365nm)における吸収がほとんどなく、i線露光用ホトレジストの感光剤の原料多価フェノールとして特に好適である。
【0029】
ここで使用される1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライドとしては、1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−4−スルホニルクロリド、1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリドおよび1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−6−スルホニルクロリドから選択される少なくとも1種であるが、価格的な面で1,2−ナフトキノン−2−ジアジド−5−スルホニルクロリドが有利に用いられる。
【0030】
また、アリールスルホニルハライドとしては、ベンゼンスルホニルクロリド、ベンゼンスルホニルブロミド、トルエンスルホニルクロリド、トルエンスルホニルブロミド、メシチレンスルホニルクロリドなどを挙げることができる。
【0031】
一般式(II)で示される化合物を主体とする多価フェノールと1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドとの反応は、一般的に、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、ジオキサン、テトラヒドロフラン、1,3−ジオキソラン、γ−ブチロラクトン、炭酸プロピレン、N−メチルピロリドン等から選択される少なくとも1種の有機溶媒中、酸中和剤の存在下で行われる。かかる酸中和剤としては、好ましくは有機アミン、例えばエチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジイソプロピルアミン、トリプロピルアミン、トリイソブチルアミン、トリエタノールアミン、モノメチルジシクロヘキシルアミン、N−メチルピペリジン、N−メチルモルホリン、N−メチルピロリジン、1,4−ジメチルピペラジン、ピリジン、N,N−ジメチルアニリン、N,N−ジメチルアミノピリジン等を挙げることが出来る。
【0032】
反応は通常、(1)多価フェノールと1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドを有機溶媒に溶解後、これに有機アミンあるいは有機アミンを溶媒に溶解させた溶液を添加するか、(2)多価フェノールと1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライドを有機溶媒に溶解後、これに使用ハライド相当の有機アミンあるいは有機アミンを溶媒に溶解させた溶液を添加し、次にアリールスルホニルハライドを添加し、更に相当する有機アミンを添加する。ここで、加えるハライドの順番は逆でも良い。或いは、(3)多価フェノールと有機アミンとを溶媒に溶解後、これに1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライド、或いはこれらのハライドを溶媒に溶解させたものを順次、或いは同時に添加するなどし、次いで10分〜5時間程度攪拌し縮合反応を行なわせる。添加およびその後の縮合反応は、−10℃〜50℃、好ましくは10℃〜40℃の温度で、10分〜3時間程度をかけて行なう。
【0033】
多価フェノールに対する1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライドの使用量は、多価フェノール1モルに対して2〜6モルが好ましく、さらに好ましくは2.5〜4モルである。2モル未満ではアルカリ可溶性樹脂と組み合わせたホトレジストの残膜率が低く、6モルより多いと低感度となり好ましくない。なお、アリールスルホニルハライドは、使用する1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライドに対して必要量用いればよく、好ましくは、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド及びアリールスルホニルハライドのモル比が3:1〜1:1であるのが望ましい。
【0034】
また、酸中和剤の使用量は、(1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル−ジアジドスルホニルハライド+アリールスルホニルハライド)1モルに対し、通常、1.0〜1.5モル、好ましくは、1.05〜1.2モルである。1.0モル未満では1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル−ジアジドスルホニルハライド及び/或いはアリールハライドが残り易く、1.5モルより多いと過剰の酸中和剤により1,2−キノンジアジド基が分解し易い。使用溶媒量は(1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライド+アリールスルホニルハライド+多価フェノール化合物)の重量にして2〜10重量倍、好ましくは3〜5重量倍である。2重量倍未満では、反応成分が溶解しなかったり、本発明の目的である保存安定性が悪くなったりし、10重量倍より多いと、再沈させるための水も多量に用いなければならなく、経済的でなくなる。
【0035】
反応混合物を純水、メタノールのような生成した感光剤の貧溶媒の中に注ぐことにより1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤が析出する。析出した1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は濾過し、純水または希薄な酸水溶液或いはこれにメタノール等を加えた溶媒で洗浄、乾燥することにより目的とする1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤を得る事が出来る。しかしながら、酸中和剤のハロゲン化水素塩などの不純物を取り除くためには、洗浄を繰り返さなければならないので、好ましくは、反応中析出した酸中和剤のハロゲン化水素塩を濾過した後、純水等に注ぐ。更に好ましくは、反応後、反応液に酸を加え酸性にした後、酸中和剤のハロゲン化水素塩を濾過した後、純水に注ぐ。反応後に加える酸は、(1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルハライドの使用モル+アリールスルホニルハライド+加える酸のモル)/(使用した酸中和剤のモル)が1.01〜1.3となるような量が好ましい。1.01未満では効果が薄く、1.3より多いと析出させた感光剤中に不純物が多くなり、洗浄が大変となる。酸としては、無機酸、有機酸いずれも使用できる。濾過後、通常は純水に注ぎ、再沈後濾過するが、純水を用いた場合は、濾過が困難になる場合があるので、希酸性水に注ぐのが好ましい。これにより濾過が容易になる。希酸性にする酸としては揮発性の酸、好ましくは、ハロゲン化水素酸、酢酸等が好ましい。希酸性水の酸濃度は0.02規定〜0.5規定程度である。再沈に用いる純水或いは希酸性水の量は用いた溶媒に対して2〜10重量倍、好ましくは、3〜6重量倍である。
【0036】
再沈された感光剤は濾過し、純水または希薄な酸水溶液で洗浄した後、乾燥させることにより目的とする1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤を得ることができる。
【0037】
或いは、例えば、特開平9−77736号公報や特開2002−207291号公報等に開示されているように、水と分液する性質を有する有機溶媒中で反応させて、反応後水洗して1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤を有機溶媒に溶解した形で得ることも出来る。
【0038】
本発明の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤及びアルカリ可溶性樹脂を含有させると好適なホトレジスト組成物とすることができる。
【0039】
この本発明のホトレジスト組成物には、上記本発明の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤は単独で用いても良く、2種以上を組み合わせても良い。
【0040】
更に、所望に応じ本発明の目的を損なわない範囲で、他の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤を併用することができる。
【0041】
本発明において用いられるアルカリ可溶性樹脂としては、例えばノボラック樹脂、ポリビニルフェノールまたはその誘導体、スチレン−無水マレイン酸共重合体、ポリビニルヒドロキシベンゾエート、カルボキシル基含有メタアクリル酸系樹脂等を挙げることができる。
【0042】
好ましい樹脂(A)としては、ノボラック樹脂を挙げることができる。このようなノボラック樹脂は、モノ−、ジ−或いはトリ−アルキルフェノール類とモノアルデヒド化合物やビスアルデヒド化合物で示されるアルデヒド類とを重縮合することによって得られる。
【0043】
上記フェノール類としては、例えばo−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−トリメチルフェノール、3,4,5−トリメチルフェノール等を挙げることができる。特にo−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−キシレノール、3,5−キシレノールおよび2,3,5−トリメチルフェノールが好ましい。これらのフェノール類は、単独でまたは2種以上組み合わせて用いられる。
【0044】
また、上記フェノール類と重縮合させるアルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒド、トリオキサン、パラホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピルアルデヒド、フェニルアセトアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズアルデヒド、o−メチルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール等を挙げることができる。これらのうち、ホルムアルデヒドを特に好適に用いることができる。
【0045】
フェノール類とアルデヒド類との重縮合反応には、通常、酸性触媒が使用される。この酸性触媒としては、例えば塩酸、硝酸、硫酸、ギ酸、シュウ酸、酢酸、トルエンスルホン酸等を挙げることができる。
【0046】
本発明において、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤の配合量は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対し該感光剤5〜100重量部、好ましくは20〜70重量部である。この使用比率が5重量部未満では残膜率が著しく低下し、また100重量部を越えると感度が低下する。
【0047】
本発明の組成物には、必要に応じ、増感剤、界面活性剤等の各種配合剤を配合することができる。
【0048】
さらに本発明の組成物には、レジストの放射線照射部の潜像を可視化させ、放射線照射時のハレーションの影響を少なくするために、染料や顔料を配合することができ、また接着性を改善するために、接着助剤を配合することもできる。さらに必要に応じて保存安定剤、消泡剤等も配合することができる。
【0049】
本発明の組成物は、前述した1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤およびアルカリ可溶性樹脂並びに必要に応じて用いられる前述した各種配合剤を、例えば固形分濃度が20〜40重量%となるように溶剤に溶解し、孔径0.2μm程度のフィルターで濾過することによって調製される。
【0050】
この際に用いられる溶剤としては、例えばエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテート、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、2−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシ−2−メチルプロピオン酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル等を挙げることができる。さらに、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、フェニルセロソルブアセテート等の高沸点溶剤を添加することもできる。これらの溶剤は、単独でまたは2種以上を組み合わせて使用される。
【0051】
本発明の組成物からレジストパターンを形成する際には、前述したようにして調製された組成物溶液を、回転塗布、流延塗布、ロール塗布等の適宜の塗布手段によって、例えばシリコンウエハー、アルミニウムで被覆されたウエハー、ガラス、プラスチック等の基板上に塗布することにより、レジスト被膜を形成し、場合により予め加熱処理(プレベーク)を行ったのち、所定のマスクパターンを介して露光する。その際に使用される光としては、例えば紫外線、特にi線(波長:365nm)が好適に用いられる。露光されたレジスト被膜をアルカリ現像液でアルカリ現像することにより、所定のレジストパターンを形成する。
【0052】
【実施例】
次に実施例により本発明を更に詳細に説明する。
【0053】
(多価フェノールの合成例1)R=R=R=R=Cの一般式(II)を主体とする多価フェノールaの合成
攪拌機、温度計、滴下ロート、逆流冷却管および窒素導入管をつけた五つ口フラスコに、132.13グラムのレゾルシノールと58.08グラムのプロピオンアルデヒドおよび190mlのメタノールを入れ、窒素を通じながら、攪拌下に、52.09グラムの濃塩酸を約15分間で滴下した。その後、加熱して還流させ、還流状態で3時間攪拌し、95mlの純水を滴下し、30℃以下まで冷却し、更に285mlの純水を加えた。冷却後、析出した結晶を濾別し、純水で洗浄後、真空乾燥し、105.12グラムの結晶を得た。GPCで純度を測定したところ、目的とする環状多価フェノール(一般式(II):R=R=R=R=C)の純度95.8%、高分子量物質(目的物質より保持時間が短い成分):3.6%、低分子量物質(目的物質より保持時間が長い成分):0.6%であった。
【0054】
(多価フェノールの合成例2)R=R=R=R=n−Cの一般式(II)を主体とする多価フェノールbの合成
合成例1と同様な装置に、132.13グラムのレゾルシノールと86.13グラムのn−バレルアルデヒドおよび250mlのメタノールを入れ、窒素を通じながら、攪拌下に、52.09グラムの濃塩酸を約15分間で滴下した。その後、加熱して還流させ、還流状態で3時間攪拌し、200mlの純水を滴下し、30℃以下まで冷却し、更に285mlの純水を加えた。冷却後、析出した結晶を濾別し、純水で洗浄後、真空乾燥し、142.58グラムの結晶を得た。GPCで純度を測定したところ、目的とする環状多価フェノール(一般式(II):R=R=R=R=n−C)の純度96.1%、高分子量物質(目的物質より保持時間が短い物質):2.9%、低分子量物質(目的物質より保持時間が長い物質):1.0%であった。
【0055】
(実施例1)感光剤Aの合成例
多価フェノールa12.01グラム(0.02モル)、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド13.43グラム(0.05モル)、p−トルエンスルホニルクロリド5.72グラム(0.03モル)及びアセトン150グラムを3つ口フラスコに仕込み均一に溶解した。次いでトリエチルアミン/アセトン=8.90グラム/8.90グラムの混合物を30〜35℃、60分間で滴下した。同温度で40分間攪拌後、濃塩酸1.7グラムを加えて中和した。析出したトリエチルアミン塩酸塩を濾別し、この反応混合物を純水710グラムに注ぎ、生じた沈殿物を濾別、水洗、乾燥して、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤A25.0グラムを得た。
【0056】
(実施例2〜7)感光剤B〜Gの合成例
実施例1と全く同様にして、下記表1の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤B〜Gを合成した。
【0057】
【表1】
Figure 2004317754
【0058】
(比較例1)感光剤Hの合成例
多価フェノールa12.01グラム(0.02モル)、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド26.87グラム(0.10モル)、γ―ブチロラクトン40グラム及びアセトン150グラムを3つ口フラスコに仕込み均一に溶解した。次いでトリエチルアミン/アセトン=11.4グラム/11.4グラムの混合物を30〜35℃、60分間で滴下した。同温度で40分間攪拌後、濃塩酸2.1グラムを加えて中和した。析出したトリエチルアミン塩酸塩を濾別し、この反応混合物を純水720グラムに注ぎ、生じた沈殿物を濾別、水洗、乾燥して、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤H35.3グラムを得た。
【0059】
(比較例2)感光剤Iの合成例
多価フェノールa1モルに対して、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニルクロリド3モルを用いた以外は比較例1と同様にして、1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤Iを得た。
【0060】
(ノボラック樹脂の合成)
m−クレゾール45g、p−クレゾール33g、2,5−キシレノール26g、37%ホルマリン水溶液53g及びシュウ酸0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を200℃まで上げ、徐々に減圧して、水、未反応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去した。次いでこのノボラック樹脂をメタノール/水から分別して、得られたノボラック樹脂を加熱し、減圧下で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂を得た。得られたノボラック樹脂は、重量平均分子量7800(ポリスチレン換算)であった。
【0061】
(実施例8〜15及び比較例3,4)上記感光剤を使用したホトレジスト組成物の調製
表2に示す重量部の感光剤A〜Iを、合成例で得たノボラック樹脂100重量部に対して配合し、これを乳酸エチル500重量部に溶解し、更に、界面活性剤としてフロラードFC−430(3M社製)0.35重量部を加え、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過し、実施例8〜15及び比較例3,4のレジスト溶液とした。
【0062】
上記レジスト溶液をヘキサメチルジシラザンで処理したシリコンウエハーにスピンコートで乾燥膜厚が1.05μmになるように塗布し、ホットプレートで110℃、90秒乾燥した。このレジスト膜にi線露光し、2.38%水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液で現像し(温度:23℃、時間:60秒)、感度曲線を作成し、感度、残膜率を求めた。結果を表2に示す。
【0063】
【表2】
Figure 2004317754
【0064】
表2の結果から、本発明の感光剤を使用したレジスト組成物は比較例と比較して高感度で残膜率も高いことが分かった。また、アリールスルホニルクロリドの使用量が少ない感光剤Fを用いた実施例14では感度向上の効果が十分ではなかった。
【0065】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によると、先に出願した1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤に関して、多価フェノールである環状ポリヒドロキシ化合物のヒドロキシ基の一部を1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル基とすると同時に一部をアリールスルホニル基とすることにより、感度がさらに向上すると共に残膜率が良好になり、半導体集積回路や液晶ディスプレイ、ELディスプレイ等の製造用ホトレジストの感光剤として有用で、感度及び残膜率が著しく向上した1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤及びホトレジスト組成物を提供することができる。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer and a photoresist composition, and more specifically, a solvent useful as a photosensitizer for a photoresist used in the production of semiconductor integrated circuits, liquid crystal displays, and the like. A 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer and a photoresist composition having good solubility in water and excellent sensitivity and residual film ratio.
[0002]
[Prior art]
A 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitive agent is generally used as a photosensitive component of a positive photoresist in combination with an alkali-soluble resin binder such as a novolak resin. Since these positive photoresists have high resolution, they are used for manufacturing semiconductor integrated circuits, liquid crystal displays, EL displays, and the like.
[0003]
Such a 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer as a photosensitive component of a positive type photoresist usually comprises a polyhydric phenol compound and 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl chloride in an acid. It is produced by reacting in the presence of a wetting agent. Examples of the polyhydric phenol compound used herein include polyhydroxybenzophenones (for example, see Non-patent Document 1 and Patent Document 1), polyhydroxytriphenylmethanes (for example, see Patent Document 2), and phenols 3, 4 Alternatively, polyhydric phenol compounds in which five molecules are bonded with methylene (for example, see Patent Documents 3, 4, and 5) are known. Polyhydroxybenzophenone, especially 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester from trihydroxybenzophenone and tetrahydroxybenzophenone, can be manufactured at low cost, and is used as a photosensitive component in photoresists for manufacturing semiconductor integrated circuits and liquid crystal displays. Have been.
[0004]
Here, polyhydroxybenzophenone has absorption at the i-line (365 nm), and a resist using the same is used for exposure to the g-line (436 nm) because the pattern shape becomes poor in the i-line exposure. For i-line exposure, a resist using a polyhydric phenol compound in which 3, 4, or 5 molecules of polyhydroxytriphenylmethanes or phenols are bonded by methylene is used. However, the production of these polyhydric phenol compounds is complicated, and 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester of these polyhydric phenols is not sufficiently soluble in a resist solvent. The photoresist composition used has problems such as insufficient dissolution of the photosensitizer, deposition of foreign substances over time, and low sensitivity.
[0005]
Further, a 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester using a cyclic polyhydroxy compound as a polyphenol compound which does not absorb the i-line and can be easily produced is disclosed (for example, see Patent Document 6). ). However, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester using a cyclic polyhydroxy compound also has insufficient solubility in a solvent, and a photoresist composition using the same does not sufficiently dissolve a photosensitive agent, Foreign substances are deposited over time. Alternatively, there is a problem that the sensitivity is slow. When the sensitivity is increased, the remaining film ratio decreases, and there is a problem that the sensitivity and the remaining film ratio are not compatible.
[0006]
[Patent Document 1] JP-A-62-153950 (lower right column of page 2 to upper right column of page 4)
[Patent Document 2] JP-A-1-189644 (page 5, upper right column to page 6, upper left column, etc.)
[Patent Document 3] Japanese Patent Publication No. 4-502519 (Page 5 etc.)
[Patent Document 4] JP-A-6-167805 (Pages 5 to 9 etc.)
[Patent Document 5] JP-A-7-120917 (page 7 etc.)
[Patent Document 6] JP-A-3-279957 (claims, etc.)
[Patent Document 7] Japanese Patent Application No. 2002-381849 (claims, etc.)
[Patent Document 8] Japanese Patent Application No. 2002-381850 (claims, etc.)
[Non-Patent Document 1] S. Deforest, "Photoresist", McGrow-Hill Book Company, 1975, p. 48-55.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
Many polyhydric phenol compounds and 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizers as described above have been disclosed. However, polyhydric phenols which do not absorb i-ray and can be easily produced are used. There is no known 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer having good solubility in the resist solvent used. Further, there is no known photoresist composition having both sensitivity and residual film ratio.
[0008]
Recently, large-screen liquid crystal displays, development of liquid crystal displays with built-in drive circuits using low-temperature polycrystalline Si-TFTs on glass substrates, and system-on-panels with built-in CPU, memory, etc. on glass substrates Are being developed, and resists are required to have high sensitivity by i-line exposure, a high residual film ratio, and low cost.
[0009]
Therefore, the present inventors have found that 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitization using a cyclic polyhydroxy compound disclosed in Patent Document 6 which is a polyhydric phenol which does not absorb i-ray and is easy to produce. As a result of a detailed study of the agent, a polyhydric phenol obtained by condensation of resorcinol and at least one aldehyde selected from aldehydes having 3 to 10 carbon atoms and having a high molecular weight component of a certain amount or less is obtained. The specific 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer obtained from the above has good solubility in a resist solvent or the like, and a photoresist composition using the same as a photosensitizer can be sufficiently satisfied. It was found that it had high sensitivity and excellent storage stability and was extremely high in practicality, and was filed earlier (Patent Document 7, ). However, there still remains a problem that a sufficiently high sensitivity cannot be obtained in order to obtain a high residual film ratio.
[0010]
The present invention relates to an invention that improves the invention previously filed, and has good solubility, can be manufactured at a low cost, and has a balance between sensitivity and residual film ratio, such as a semiconductor integrated circuit, a liquid crystal display, and an EL display. In particular, an object of the present invention is to provide a 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer and a photoresist composition useful as a photosensitizer for a photoresist for producing a liquid crystal display.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
As described above, as a result of further study on the 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer previously filed, a part of the hydroxy group of the cyclic polyhydroxy compound which is a polyhydric phenol was changed to 1,1. The inventors have found that the sensitivity is further improved and the residual film ratio is improved by using a 2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl group and a part thereof as an arylsulfonyl group, thereby completing the present invention. .
[0012]
A first aspect of the present invention is a 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer represented by the following general formula (I).
[0013]
Embedded image
Figure 2004317754
[0014]
However, in the general formula (I), R 1 , R 2 , R 3 And R 4 Each independently represents an alkyl group having 2 to 9 carbon atoms; 1 ~ D 8 Are independent of each other, at least two are 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl groups, the remaining at least one is an arylsulfonyl group, and the others represent hydrogen atoms.
[0015]
According to a second aspect of the present invention, there is provided a photoresist composition comprising the 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer of the first aspect and an alkali-soluble resin.
[0016]
The 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer represented by the general formula (I) of the present invention can be easily produced, is inexpensive, can be mass-produced, and is aryl. The sensitivity is further improved as compared with those having no sulfonyl group. In addition, the photoresist composition of the present invention containing this photosensitizer is useful for fine processing in the production of liquid crystal displays, has a sufficiently satisfactory sensitivity, and has no arylsulfonyl group. It has further improved sensitivity and residual film ratio, and has excellent storage stability and extremely high practicality, and is particularly useful for i-line exposure.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.
[0018]
The 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer of the present invention has the following general formula (I) obtained by a condensation reaction of resorcinol with at least one aldehyde selected from aldehydes having 3 to 10 carbon atoms. It can be produced by reacting a polyhydric phenol mainly composed of the compound represented by II) with 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide in the presence of an acid neutralizing agent. Here, in the present invention, the polyhydric phenol is a mixture containing a compound represented by the general formula (II) (which may include an isomer) and another compound. In the present invention, it is preferable to use a polyhydric phenol in which the content of a component having a shorter retention time than the compound represented by the general formula (II) in GPC measurement is 10% or less. This is because the use of a compound having a high molecular weight component lowers the solubility of the produced photosensitive agent.
[0019]
Here, when producing the 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer of the present invention, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide are simultaneously reacted. However, it goes without saying that the reaction may be performed in two stages.
[0020]
When reacting 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide, the molar ratio of the two is 3: 1 to 1: 1, that is, the arylsulfonyl halide has a molar ratio of 1/4. It is preferably 1 /.
[0021]
Embedded image
Figure 2004317754
[0022]
However, R in the general formula (II) 1 , R 2 , R 3 And R 4 Each independently represents an alkyl group having 2 to 9 carbon atoms.
[0023]
The compound represented by the general formula (II) is a compound obtained by cyclically condensing 4 mol of resorcinol and 4 mol of aldehyde. The method for synthesizing this compound is described in A.S. G. FIG. Severker Hoberg (J. Org. Chem., Vol. 45, 4498 (1980)) and Y. It can be easily synthesized as described in detail by Aoyama et al. (J. Am. Chem. Soc., Vol. 111, 5397 (1989)). However, after the reaction of resorcinol and aldehyde, a phenol derivative is further added. It involves a process of making and refining and then returning to a phenol compound, and is very complicated and impractical.
[0024]
Preferred synthesis examples are shown below.
[0025]
The resorcinol and the aldehyde are reacted in water or an alcohol solvent such as methanol or ethanol, preferably an alcohol solvent, particularly preferably a methanol solvent, using an acid catalyst, preferably a hydrochloric acid catalyst. The molar ratio of resorcinol to aldehyde is usually preferably 1: 0.6 to 1.5. After the reaction, crystals are slowly precipitated. For example, when methanol is used as a reaction solvent, water is added after the reaction to precipitate crystals, but after adding water, the crystals are heated and then slowly cooled again to grow crystals slowly so as not to form a high molecular weight component. When water is further added to precipitate crystals, the resulting crystals are easily converted into polyhydric phenol having a high molecular weight component (a component having a shorter retention time than the compound represented by the general formula (II)) of 10% or less by GPC. Is obtained. In addition, recrystallization can be performed if necessary.
[0026]
The polyhydric phenol mainly composed of the compound represented by the general formula (II) has a component (high molecular weight component) having a shorter retention time than the compound represented by the general formula (II) by 10% or less as measured by GPC (gel permeation chromatography). It is preferable that the polyhydric phenol mainly composed of the compound represented by the general formula (I) has a purity of 90% or more. When the purity is less than 90%, the obtained 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer has low solubility in an organic solvent, does not dissolve in the solvent, or precipitates with time even if dissolved. It cannot be used as a photosensitive agent for a photoresist combined with an alkali-soluble resin such as novolak. If the purity of the crystals precipitated after the reaction is less than 90%, the purity can be increased to 90% or more by means such as recrystallization.
[0027]
Here, the measurement conditions of GPC are as follows.
Column: Shodex GPC KF-802 x 1 + KF-801 x 3
Column temperature: 40 ° C
Detection wavelength: 254 nm
Moving bed: THF
Flow rate of moving bed: 1.0 ml / min.
[0028]
Polyhydric phenols mainly composed of the compound represented by the general formula (II) hardly absorb at i-line (365 nm), and are particularly suitable as a raw material polyhydric phenol of a photosensitive agent for a photoresist for i-line exposure.
[0029]
The 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide used herein includes 1,2-naphthoquinone-2-diazide-4-sulfonyl chloride, 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl chloride and At least one selected from 1,2-naphthoquinone-2-diazide-6-sulfonyl chloride, but 1,2-naphthoquinone-2-diazide-5-sulfonyl chloride is advantageously used in terms of cost.
[0030]
Examples of the arylsulfonyl halide include benzenesulfonyl chloride, benzenesulfonyl bromide, toluenesulfonyl chloride, toluenesulfonyl bromide, and mesitylenesulfonyl chloride.
[0031]
The reaction of a polyhydric phenol mainly composed of the compound represented by the general formula (II) with 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide is generally carried out by, for example, acetone, methyl ethyl ketone, dioxane, The reaction is performed in at least one organic solvent selected from tetrahydrofuran, 1,3-dioxolane, γ-butyrolactone, propylene carbonate, N-methylpyrrolidone and the like in the presence of an acid neutralizing agent. Such acid neutralizing agents are preferably organic amines such as ethylamine, diethylamine, triethylamine, diisopropylamine, tripropylamine, triisobutylamine, triethanolamine, monomethyldicyclohexylamine, N-methylpiperidine, N-methylmorpholine, -Methylpyrrolidine, 1,4-dimethylpiperazine, pyridine, N, N-dimethylaniline, N, N-dimethylaminopyridine and the like.
[0032]
The reaction is usually carried out by dissolving (1) polyhydric phenol, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide in an organic solvent, and then adding an organic amine or a solution in which the organic amine is dissolved in the solvent. Alternatively, (2) a polyhydric phenol and 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide are dissolved in an organic solvent, and an organic amine corresponding to the used halide or a solution obtained by dissolving the organic amine in the solvent is added thereto. The arylsulfonyl halide is then added, followed by the corresponding organic amine. Here, the order of the added halides may be reversed. Alternatively, (3) a polyhydric phenol and an organic amine are dissolved in a solvent, and 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide, or those obtained by dissolving these halides in a solvent are successively added. Or at the same time, followed by stirring for about 10 minutes to 5 hours to cause a condensation reaction. The addition and the subsequent condensation reaction are carried out at a temperature of -10C to 50C, preferably 10C to 40C, for about 10 minutes to 3 hours.
[0033]
The amount of 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide used relative to the polyhydric phenol is preferably 2 to 6 mol, more preferably 2.5 to 4 mol, per mol of the polyhydric phenol. If the amount is less than 2 mol, the residual film ratio of the photoresist combined with the alkali-soluble resin is low, and if it is more than 6 mol, the sensitivity becomes low, which is not preferable. The arylsulfonyl halide may be used in a necessary amount based on the 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide to be used, and preferably, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide and arylsulfonyl halide are used. Preferably, the molar ratio is between 3: 1 and 1: 1.
[0034]
The amount of the acid neutralizer used is usually 1.0 to 1.5 mol, preferably 1.0 mol to 1 mol of (1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl-diazidosulfonyl halide + arylsulfonyl halide). Is 1.05 to 1.2 mol. If the amount is less than 1.0 mol, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl-diazidosulfonyl halide and / or aryl halide tends to remain, and if it is more than 1.5 mol, 1,2-quinonediazide due to excess acid neutralizing agent. The group is easily decomposed. The amount of the solvent used is 2 to 10 times by weight, preferably 3 to 5 times by weight of (1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide + arylsulfonyl halide + polyhydric phenol compound). If the amount is less than 2 times by weight, the reaction components do not dissolve or the storage stability, which is the object of the present invention, becomes poor. If the amount is more than 10 times by weight, a large amount of water for reprecipitation must be used. Will not be economical.
[0035]
The reaction mixture is poured into a poor solvent for the resulting photosensitizer, such as pure water or methanol, to precipitate a 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer. The precipitated 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer is filtered, washed with pure water or a dilute acid aqueous solution or a solvent obtained by adding methanol or the like thereto, and dried to obtain the target 1,1,2. A 2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer can be obtained. However, in order to remove impurities such as a hydrogen halide salt of the acid neutralizing agent, washing must be repeated. Therefore, it is preferable that the hydrogen halide salt of the acid neutralizing agent precipitated during the reaction is filtered and then purified. Pour into water etc. More preferably, after the reaction, an acid is added to the reaction solution to make it acidic, and then a hydrogen halide salt of an acid neutralizing agent is filtered and then poured into pure water. The acid added after the reaction is (mol of 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl halide + mol of arylsulfonyl halide + mol of acid to be added) / (mol of acid neutralizer used) of 1.01 to 1. An amount such as to be 3 is preferred. If it is less than 1.01, the effect is small, and if it is more than 1.3, impurities are increased in the deposited photosensitive agent, and cleaning becomes difficult. As the acid, either an inorganic acid or an organic acid can be used. After the filtration, the mixture is usually poured into pure water and filtered after reprecipitation. However, when pure water is used, it may be difficult to perform filtration. This facilitates filtration. The acid to be made dilute is preferably a volatile acid, preferably a hydrohalic acid, acetic acid or the like. The acid concentration of the dilute acidic water is about 0.02 to 0.5 normal. The amount of pure water or dilute acid water used for reprecipitation is 2 to 10 times by weight, preferably 3 to 6 times by weight of the solvent used.
[0036]
The reprecipitated photosensitizer is filtered, washed with pure water or a dilute aqueous acid solution, and then dried to obtain the desired 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester photosensitizer. .
[0037]
Alternatively, for example, as disclosed in JP-A-9-77736 and JP-A-2002-207291, the reaction is carried out in an organic solvent having a property of separating from water, and after the reaction, water washing is performed. , 2-Naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizers can be obtained by dissolving them in an organic solvent.
[0038]
When the 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer of the present invention and an alkali-soluble resin are contained, a suitable photoresist composition can be obtained.
[0039]
In the photoresist composition of the present invention, the 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer of the present invention may be used alone or in combination of two or more.
[0040]
Further, if desired, other 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizers can be used in a range not to impair the object of the present invention.
[0041]
Examples of the alkali-soluble resin used in the present invention include a novolak resin, polyvinylphenol or a derivative thereof, a styrene-maleic anhydride copolymer, polyvinylhydroxybenzoate, and a carboxyl group-containing methacrylic acid-based resin.
[0042]
Preferred resins (A) include novolak resins. Such a novolak resin is obtained by polycondensing a mono-, di- or tri-alkylphenol with an aldehyde represented by a monoaldehyde compound or a bisaldehyde compound.
[0043]
Examples of the phenols include o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-xylenol, 2,5-xylenol, 3,4-xylenol, 3,5-xylenol, 2,3,5-trimethyl Phenol, 3,4,5-trimethylphenol and the like can be mentioned. Particularly preferred are o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-xylenol, 2,5-xylenol, 3,4-xylenol, 3,5-xylenol and 2,3,5-trimethylphenol. These phenols are used alone or in combination of two or more.
[0044]
Examples of the aldehyde to be polycondensed with the phenols include formaldehyde, trioxane, paraformaldehyde, benzaldehyde, acetaldehyde, propylaldehyde, phenylacetaldehyde, α-phenylpropylaldehyde, β-phenylpropylaldehyde, o-hydroxybenzaldehyde, -Hydroxybenzaldehyde, p-hydroxybenzaldehyde, o-methylbenzaldehyde, m-methylbenzaldehyde, p-methylbenzaldehyde, p-ethylbenzaldehyde, pn-butylbenzaldehyde, furfural and the like. Of these, formaldehyde can be particularly preferably used.
[0045]
An acidic catalyst is usually used for the polycondensation reaction between phenols and aldehydes. Examples of the acidic catalyst include hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, formic acid, oxalic acid, acetic acid, and toluenesulfonic acid.
[0046]
In the present invention, the compounding amount of the 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer is 5 to 100 parts by weight, preferably 20 to 70 parts by weight, based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. is there. If the use ratio is less than 5 parts by weight, the residual film ratio is remarkably reduced, and if it exceeds 100 parts by weight, the sensitivity is reduced.
[0047]
Various additives such as a sensitizer and a surfactant can be added to the composition of the present invention, if necessary.
[0048]
Furthermore, in the composition of the present invention, a dye or a pigment can be blended in order to visualize the latent image of the radiation-irradiated portion of the resist and to reduce the influence of halation upon irradiation, and improve the adhesiveness. For this purpose, an adhesion aid can be blended. Further, if necessary, a storage stabilizer, an antifoaming agent and the like can be added.
[0049]
The composition of the present invention comprises the aforementioned 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer and alkali-soluble resin and the above-mentioned various compounding agents used as needed, for example, having a solid content of 20 to It is prepared by dissolving in a solvent so as to have a concentration of 40% by weight and filtering through a filter having a pore size of about 0.2 μm.
[0050]
As the solvent used at this time, for example, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monomethyl ether acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, propylene glycol methyl ether acetate, propylene Glycol propyl ether acetate, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, ethyl 2-hydroxypropionate, ethyl 2-hydroxy-2-methylpropionate, ethyl ethoxyacetate, ethyl hydroxyacetate, methyl 2-hydroxy-3-methylbutanoate, -Methyl methoxypropionate, ethyl 3-ethoxypropionate , 3-methoxypropionate, ethyl 3-methoxy-2-methylpropionic acid methyl, ethyl acetate, butyl acetate, and ethyl lactate. Furthermore, N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylformanilide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, dimethylsulfoxide, benzylethyl ether, dihexyl ether, acetonylacetone , Isophorone, caproic acid, caprylic acid, 1-octanol, 1-nonanol, benzyl alcohol, benzyl acetate, ethyl benzoate, diethyl oxalate, diethyl maleate, γ-butyrolactone, ethylene carbonate, propylene carbonate, phenyl cellosolve acetate, etc. High boiling solvents can also be added. These solvents are used alone or in combination of two or more.
[0051]
When forming a resist pattern from the composition of the present invention, the composition solution prepared as described above, by a suitable coating means such as spin coating, casting coating, roll coating, for example, silicon wafer, aluminum A resist film is formed by coating on a substrate such as a wafer, glass, plastic, or the like, which has been coated with, and if necessary, heat treatment (pre-bake) is performed, and then exposure is performed through a predetermined mask pattern. As the light used at that time, for example, ultraviolet light, particularly i-ray (wavelength: 365 nm) is suitably used. A predetermined resist pattern is formed by subjecting the exposed resist film to alkali development with an alkali developer.
[0052]
【Example】
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples.
[0053]
(Synthesis example 1 of polyhydric phenol) R 1 = R 2 = R 3 = R 4 = C 2 H 5 Of polyhydric phenol a based on the general formula (II)
132.13 g of resorcinol, 58.08 g of propionaldehyde and 190 ml of methanol were put into a five-necked flask equipped with a stirrer, a thermometer, a dropping funnel, a reflux condenser and a nitrogen inlet tube, and stirred while passing nitrogen. Below, 52.09 grams of concentrated hydrochloric acid were added dropwise over about 15 minutes. Thereafter, the mixture was heated to reflux, stirred under reflux for 3 hours, 95 ml of pure water was added dropwise, cooled to 30 ° C. or lower, and 285 ml of pure water was further added. After cooling, the precipitated crystals were separated by filtration, washed with pure water, and dried under vacuum to obtain 105.12 g of crystals. When the purity was measured by GPC, the target cyclic polyphenol (general formula (II): R 1 = R 2 = R 3 = R 4 = C 2 H 5 ), A high molecular weight substance (a component having a shorter retention time than the target substance): 3.6%, and a low molecular weight substance (a component having a longer retention time than the target substance): 0.6%.
[0054]
(Synthesis example 2 of polyhydric phenol) R 1 = R 2 = R 3 = R 4 = N-C 4 H 9 Of polyhydric phenol b based on general formula (II)
In a device similar to that of Synthesis Example 1, 132.13 g of resorcinol, 86.13 g of n-valeraldehyde and 250 ml of methanol were placed, and 52.09 g of concentrated hydrochloric acid was added to about 15 In minutes. Thereafter, the mixture was heated to reflux, stirred for 3 hours in a reflux state, 200 ml of pure water was added dropwise, cooled to 30 ° C. or lower, and 285 ml of pure water was further added. After cooling, the precipitated crystals were separated by filtration, washed with pure water, and dried under vacuum to obtain 142.58 g of crystals. When the purity was measured by GPC, the target cyclic polyphenol (general formula (II): R 1 = R 2 = R 3 = R 4 = N-C 4 H 9 ), The high molecular weight substance (substance having a shorter retention time than the target substance): 2.9%, and the low molecular weight substance (substance having a longer retention time than the target substance): 1.0%.
[0055]
(Example 1) Synthesis example of photosensitive agent A
12.01 g (0.02 mol) of polyhydric phenol a, 13.43 g (0.05 mol) of 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl chloride, 5.72 g (0.03 mol) of p-toluenesulfonyl chloride ) And 150 g of acetone were charged into a three-necked flask and uniformly dissolved. Then, a mixture of triethylamine / acetone = 8.90 g / 8.90 g was dropped at 30 to 35 ° C. for 60 minutes. After stirring at the same temperature for 40 minutes, the mixture was neutralized by adding 1.7 g of concentrated hydrochloric acid. The precipitated triethylamine hydrochloride was separated by filtration, the reaction mixture was poured into 710 g of pure water, and the resulting precipitate was separated by filtration, washed with water and dried to obtain 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitive material. 25.0 grams of Agent A were obtained.
[0056]
(Examples 2 to 7) Synthesis Examples of Photosensitive Agents BG
In the same manner as in Example 1, 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizers B to G shown in Table 1 below were synthesized.
[0057]
[Table 1]
Figure 2004317754
[0058]
Comparative Example 1 Synthesis Example of Photosensitive Agent H
A three-neck flask containing 12.01 g (0.02 mol) of polyhydric phenol a, 26.87 g (0.10 mol) of 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl chloride, 40 g of γ-butyrolactone and 150 g of acetone And uniformly dissolved. Then, a mixture of triethylamine / acetone = 11.4 g / 11.4 g was added dropwise at 30 to 35 ° C. for 60 minutes. After stirring at the same temperature for 40 minutes, 2.1 g of concentrated hydrochloric acid was added for neutralization. The precipitated triethylamine hydrochloride was separated by filtration, the reaction mixture was poured into 720 g of pure water, and the resulting precipitate was separated by filtration, washed with water and dried to obtain 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitive material. 35.3 grams of Agent H were obtained.
[0059]
Comparative Example 2 Synthesis Example of Photosensitive Agent I
1,2-Naphthoquinone-2-diazide sulfonic acid ester was prepared in the same manner as in Comparative Example 1 except that 3 mol of 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl chloride was used for 1 mol of polyhydric phenol. Photosensitive agent I was obtained.
[0060]
(Synthesis of novolak resin)
45 g of m-cresol, 33 g of p-cresol, 26 g of 2,5-xylenol, 53 g of a 37% aqueous formalin solution and 0.15 g of oxalic acid were charged into a three-necked flask, heated to 100 ° C. with stirring, and reacted for 14 hours. . Thereafter, the temperature was raised to 200 ° C., and the pressure was gradually reduced to distill off water, unreacted monomers, formaldehyde, oxalic acid and the like. Next, the novolak resin was separated from methanol / water, and the obtained novolak resin was heated and dried under reduced pressure for 24 hours to obtain an alkali-soluble novolak resin. The obtained novolak resin had a weight average molecular weight of 7,800 (in terms of polystyrene).
[0061]
(Examples 8 to 15 and Comparative Examples 3 and 4) Preparation of photoresist composition using the above photosensitive agent
The photosensitive agents A to I in parts by weight shown in Table 2 were mixed with 100 parts by weight of the novolak resin obtained in the synthesis example, and this was dissolved in 500 parts by weight of ethyl lactate. 430 (manufactured by 3M) was added, and the solution was filtered through a 0.2 μm membrane filter to obtain resist solutions of Examples 8 to 15 and Comparative Examples 3 and 4.
[0062]
The resist solution was applied to a silicon wafer treated with hexamethyldisilazane by spin coating so that a dry film thickness became 1.05 μm, and dried on a hot plate at 110 ° C. for 90 seconds. The resist film was exposed to i-rays and developed with a 2.38% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (temperature: 23 ° C., time: 60 seconds) to create a sensitivity curve, and the sensitivity and residual film ratio were determined. Table 2 shows the results.
[0063]
[Table 2]
Figure 2004317754
[0064]
From the results in Table 2, it was found that the resist composition using the photosensitive agent of the present invention had higher sensitivity and a higher residual film ratio than the comparative example. Further, in Example 14 using the photosensitive agent F in which the amount of the arylsulfonyl chloride used was small, the effect of improving the sensitivity was not sufficient.
[0065]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in the 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer previously applied, a part of the hydroxy group of the cyclic polyhydroxy compound as a polyhydric phenol is changed to 1 , 2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl group and partly an arylsulfonyl group to further improve the sensitivity and the residual film ratio, thereby improving the performance of the semiconductor integrated circuit, liquid crystal display, EL display, etc. A 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitive agent which is useful as a photosensitive agent for a photoresist for production and has remarkably improved sensitivity and residual film ratio, and a photoresist composition can be provided.

Claims (2)

下記一般式(I)で表されることを特徴とする1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤。
Figure 2004317754
但し、一般式(I)中、R、R、R及びRは互いに独立に、炭素数2から9までのアルキル基を表わし、D〜Dは互いに独立で、少なくとも2個は1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホニル基であると共に残りの少なくとも1個はアリールスルホニル基であり、他の残りは水素原子を表す。
A 1,2-naphthoquinone-2-diazidesulfonic acid ester-based photosensitizer represented by the following general formula (I).
Figure 2004317754
However, in the general formula (I), R 1 , R 2 , R 3 and R 4 each independently represent an alkyl group having 2 to 9 carbon atoms, and D 1 to D 8 each independently represent at least 2 Is a 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonyl group, at least one of which is an arylsulfonyl group, and the other represents a hydrogen atom.
請求項1の1,2−ナフトキノン−2−ジアジドスルホン酸エステル系感光剤と、アルカリ可溶性樹脂とを含有することを特徴とするホトレジスト組成物。A photoresist composition comprising the 1,2-naphthoquinone-2-diazidosulfonic acid ester-based photosensitizer according to claim 1 and an alkali-soluble resin.
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