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質量分析計を用いて質量スペクトルデータを得る工程と、
前記質量スペクトルデータにおいて認められるn種のイオンの質量/電荷数を測定する工程と、
測定された前記n種のイオンの各々の質量/電荷数について、個々のエラーバーを算出する工程とを含み、
イオン種の真正の、正確な、実際の、または許容できる質量/電荷数が、算出された個々のエラーバーの範囲内となる確率または信頼性が、x%に等しいか、またはそれよりも大きく、x≧50である質量分析方法。
Obtaining mass spectral data using a mass spectrometer;
Measuring the mass / charge number of the n ions found in the mass spectral data;
Calculating individual error bars for the measured mass / charge number of each of the n types of ions,
The probability or reliability that the true / accurate / actual / acceptable mass / charge number of the ionic species is within the calculated individual error bars is equal to or greater than x%. And x ≧ 50 mass spectrometry method.
nが、(i)1、(ii)2〜5、(iii)5〜10、(iv)10〜15、(v)15〜20、(vi)20〜25、(vii)25〜30、(viii)30〜35、(ix)35〜40、(x)40〜45、(xi)45〜50、(xii)≧50、(xiii)≧60、(xiv)≧70、 (xv)≧80、(xvi)≧90および(xvii)≧100からなる群より選択される範囲内である請求項1記載の方法。   n is (i) 1, (ii) 2-5, (iii) 5-10, (iv) 10-15, (v) 15-20, (vi) 20-25, (vii) 25-30, (Viii) 30-35, (ix) 35-40, (x) 40-45, (xi) 45-50, (xii) ≧ 50, (xiii) ≧ 60, (xiv) ≧ 70, (xv) ≧ The method of claim 1, wherein the method is within a range selected from the group consisting of 80, (xvi) ≧ 90 and (xvii) ≧ 100. xが、50〜55、55〜60、60〜65、65〜70、70〜75、75〜80、80〜85、85〜90、90〜91、91〜92、92〜93、93〜94、94〜95、95〜96、96〜97、97〜98、98〜99、99〜99.5、99.5〜99.95、99.95〜99.99および99.99〜100からなる群より選択される範囲内である請求項1または2に記載の方法。   x is 50 to 55, 55 to 60, 60 to 65, 65 to 70, 70 to 75, 75 to 80, 80 to 85, 85 to 90, 90 to 91, 91 to 92, 92 to 93, 93 to 94. , 94-95, 95-96, 96-97, 97-98, 98-99, 99-99.5, 99.5-99.95, 99.95-99.99 and 99.99-100. The method according to claim 1 or 2, which is within a range selected from the group. 更に、前記n種のイオンの少なくとも一部の質量/電荷数を、各質量/電荷数について算出された個々のエラーバーとともに記録することを含む請求項1〜3のいずれかに記載の方法。   The method according to claim 1, further comprising recording the mass / charge number of at least a part of the n kinds of ions together with individual error bars calculated for each mass / charge number. 個々のエラーバーを算出する工程が、前記イオンの質量/電荷数の測定における系統誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating systematic errors in the measurement of the mass / charge number of the ions. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正において用いられる数学モデルの正確度を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein calculating the individual error bars comprises estimating the accuracy of a mathematical model used in mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating an error due to mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、1以上の内部基準または検量体の使用による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating an error due to the use of one or more internal standards or calibrators. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計の安定性または不安定性を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein calculating the individual error bars comprises estimating the stability or instability of the mass spectrometer after mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計における外乱の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating the effects of disturbances in the mass spectrometer after mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の前記質量分析計における温度変化の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating the effect of temperature changes in the mass spectrometer after mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後の干渉変化の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating the effects of interference changes after mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量分析計が最後に校正されてからの経過時間を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating an elapsed time since the mass spectrometer was last calibrated. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正後における前記質量分析計の1以上の部品の熱膨張の影響を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating the effects of thermal expansion of one or more parts of the mass spectrometer after mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量分析計内の空間電荷反発作用による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating errors due to space charge repulsion in the mass spectrometer. 個々のエラーバーを算出する工程が、質量校正の間に記録される誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating an error recorded during mass calibration. 個々のエラーバーを算出する工程が、前記イオンの質量/電荷数の測定における統計誤差または偶然誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating a statistical error or a chance error in the measurement of the mass / charge number of the ions. 個々のエラーバーを算出する工程が、1以上のイオン種の検出時間の不確定性または標準偏差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein calculating the individual error bars comprises estimating the detection time uncertainty or standard deviation of one or more ion species. 個々のエラーバーを算出する工程が、1以上のイオン種の検出頻度の不確定性または標準偏差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The method according to any of the preceding claims, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating uncertainty or standard deviation of the detection frequency of one or more ion species. 個々のエラーバーを算出する工程が、イオン検出統計による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating an error due to ion detection statistics. 個々のエラーバーを算出する工程が、不十分なサンプリングによる誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating errors due to insufficient sampling. 個々のエラーバーを算出する工程が、前記質量スペクトルデータ内の1以上のイオン種が、前記イオンの算出された個々のエラーバーが記録されないという障害を被るか、または十分に改悪されるという記録除外状況における誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The step of calculating individual error bars is a record that one or more ion species in the mass spectral data suffers from failure or is sufficiently corrupted that the calculated individual error bars of the ions are not recorded. A method according to any preceding claim comprising estimating an error in an exclusion situation. 個々のエラーバーを算出する工程が、分析物イオンと実質的に同一の質量/電荷数を有するバックグラウンドイオンまたは干渉イオンが、前記バックグラウンドイオンまたは干渉イオンから分析物イオンを分解する能力に影響を及ぼす、質量干渉による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   The process of calculating individual error bars affects the ability of background ions or interference ions having substantially the same mass / charge number as the analyte ions to resolve analyte ions from the background ions or interference ions. A method according to any of the preceding claims comprising estimating an error due to mass interference. 個々のエラーバーを算出する工程が、検出器の飽和による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises estimating errors due to detector saturation. 個々のエラーバーを算出する工程が、イオン検出器の応答による誤差を推定することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating the individual error bars comprises estimating an error due to the response of the ion detector. 個々のエラーバーを算出する工程が、異なる誤差の複数の推定値を併合することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, wherein the step of calculating individual error bars comprises merging a plurality of estimates of different errors. 更に、測定された1以上のイオン種の質量/電荷数と、測定された質量/電荷数について算出された個々のエラーバーとに関連する範囲内に、質量/電荷数を有することが知られている1以上のイオン種を探すために、データベースを検索する工程を含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   It is further known to have a mass / charge number within a range related to the measured mass / charge number of one or more ionic species and the individual error bars calculated for the measured mass / charge number. A method according to any preceding claim, comprising the step of searching a database to look for one or more ion species. 前記データベースが、バイオポリマー、タンパク質、ペプチド、ポリペプチド、オリゴヌクレオチド、オリゴヌクレオシド、アミノ酸、炭水化物、糖、脂質、脂肪酸、ビタミン、ホルモン、DNAの部分またはフラグメント、cDNAの部分またはフラグメント、RNAの部分またはフラグメント、mRNAの部分またはフラグメント、tRNAの部分またはフラグメント、ポリクローナル抗体、モノクローナル抗体、リボ核酸、酵素、メタボライト、多糖類、加リン酸分解ペプチド、加リン酸分解タンパク質、糖ペプチド、糖タンパク質またはステロイドの詳細を含む請求項27記載の方法。   The database includes biopolymers, proteins, peptides, polypeptides, oligonucleotides, oligonucleosides, amino acids, carbohydrates, sugars, lipids, fatty acids, vitamins, hormones, DNA parts or fragments, cDNA parts or fragments, RNA parts or Fragment, mRNA part or fragment, tRNA part or fragment, polyclonal antibody, monoclonal antibody, ribonucleic acid, enzyme, metabolite, polysaccharide, phospholytic peptide, phospholytic protein, glycopeptide, glycoprotein or steroid 28. The method of claim 27, comprising details of: 前記データベースが、化合物の電子衝撃質量スペクトルの詳細を含む請求項27記載の方法。   28. The method of claim 27, wherein the database includes details of electron impact mass spectra of compounds. 更に、1以上のイオン種の測定された質量/電荷数の算出されたエラーバー内の範囲に質量/電荷数を有する元素組成を算出することを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。   A method according to any preceding claim, further comprising calculating an elemental composition having a mass / charge number in a range within the calculated error bar of the measured mass / charge number of one or more ionic species. . 前記元素組成が、原子若しくは原子群および/またはそれらの同位体の既知の質量または質量/電荷数を用いて算出される請求項30記載の方法。   31. The method of claim 30, wherein the elemental composition is calculated using a known mass or mass / charge number of an atom or group of atoms and / or their isotopes. 更に、1以上の関心対象の質量/電荷数を限定する工程と
前記1以上の関心対象の質量/電荷数が、前記異種のイオンの少なくとも一部のエラーバーの範囲内に入るか否かを知るために、前記質量スペクトルデータにおいて認められた前記異種のイオンの少なくとも一部の測定された質量/電荷数および算出された個々のエラーバーの少なくとも一部を調べる工程とを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
Further, the step of limiting the mass / charge number of the one or more objects of interest and whether the mass / charge number of the one or more objects of interest falls within the error bars of at least some of the different ions. And prior to the step comprising examining at least a portion of the measured mass / charge number and at least a portion of the calculated individual error bar of at least a portion of the heterogeneous ions found in the mass spectral data to know. The method in any one of.
更に、1以上の関心対象の質量/電荷数を限定する工程と、
前記1以上の関心対象の質量/電荷数が、前記複数の質量スペクトルから認められた前記異種のイオンの少なくとも一部のエラーバーの範囲内に入るか否かを知るために、期間中に得られた前記複数の質量スペクトルから認められた前記異種のイオンの測定された質量/電荷数および算出された個々のエラーバーを調べる工程とを含む先行する請求項のいずれかに記載の方法。
Further, limiting the mass / charge number of the one or more objects of interest;
In order to know whether the one or more mass / charge numbers of interest falls within the error bars of at least some of the heterogeneous ions found from the plurality of mass spectra. Examining the measured mass / charge number and the calculated individual error bars of the heterogeneous ions found from the plurality of mass spectra obtained.
質量分析装置および処理システムを含み、
前記処理システムが、質量スペクトルデータを得て、前記質量スペクトルデータにおいて認められたn種のイオンの質量/電荷数を測定し、測定された前記n種のイオンのそれぞれの質量/電荷数について、個々のエラーバーを算出するように構成されており、
イオン種の真正の、正確な、実際の、または許容できる質量/電荷数が、算出された個々のエラーバーの範囲内となる確率または信頼性が、x%に等しいか、またはそれよりも大きく、x≧50である質量分析計。
Including a mass spectrometer and a processing system,
The processing system obtains mass spectral data, measures the mass / charge number of the n ions recognized in the mass spectral data, and for each mass / charge number of the measured n ions, It is configured to calculate individual error bars,
The probability or reliability that the true / accurate / actual / acceptable mass / charge number of the ionic species is within the calculated individual error bars is equal to or greater than x%. X = 50 mass spectrometer.
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