JP2004288034A - Test plan creation support device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、機器のソフトウエアのテスト計画の作成を支援するテスト計画作成支援装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、多くの機器がコンピュータ・ソフトウエアにより制御されるようになるとともに、機器の高機能化が進み、機器の動作を制御する設定ファクターとしての設定パラメータも数多くなってきている。こうしたソフトウエアは、機能ごとにモジュールとして作成されるため、個々の機能に係る設定ファクターについて、その設定値をテストすることは、ソフトウエアの作成工程で容易に為し得る。しかし、機能間の互換性、すなわち設定ファクター同士の互換性のテストは、ソフトウエアの作成工程の後で、各ソフトウエアを組み合わせて初めて行い得るものである。
【0003】
この設定ファクターの組み合わせの数は一般に膨大になることが知られている。例えばプリンタ等のドライバ・ソフトウエアにおいて各設定値の組み合わせを数えると、その組み合わせの数は1億のオーダーになるものもある。このため、人手によって設定値の組み合わせを検討することは現実的でない。そこで、これらの設定値の組み合わせをコンピュータによって生成し、ソフトウエアのテスト計画の作成を支援する装置が開発されている。
【0004】
その一例として、実験計画法を利用した装置では、直交表と呼ばれるテーブルを用いてテスト計画を作成する。この直交表は、行うべきテストの一覧を縦軸に配列し、設定値の一覧を横軸に配列して、それぞれの設定値が2水準(ON又はOFFの2つの状態のうちいずれかの状態のみとなり得るとするもの)としたときは、n個の設定値について2のn乗個の組み合わせを作成する。そしてこの作成した組み合わせを参照しながら、各テストについてのそれぞれの設定値を設定させて、処理を行わせるプログラム(テストスクリプト)を作成する。
【0005】
また別の例では、組み合わせ理論を用いて、各テストにおける設定値の組み合わせを作成するというものもある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の実験計画法を利用した装置は、すべての設定値の組み合わせを直交表に含めてしまう。そのため機器の仕様として、禁止される組み合わせ、例えば仮にカラー原稿の印刷時は、両面印刷ができない、といった仕様においては、カラー/白黒の設定ファクターについてカラーの設定値を選択し、片面/両面印刷の設定ファクターについて両面の設定値を選択したような組み合わせはテストの必要がないにもかかわらず、上記従来の実験計画法を利用した装置では、この組み合わせもテストに含められてしまう。
【0007】
組み合わせ理論を用いる装置では、こうした、共に設定することができない設定値同士(禁則設定)を避けたテストを作成することは可能であるが、この場合、常に、禁則設定以外のすべての設定値の組み合わせを列挙して、テストの対象としてしまう。これによると、テストの品質としては望ましいものの、禁則設定を避ける処理のためにテスト計画の作成に係る処理負荷が高くなるといった問題点がある。さらに、組み合わせ理論を採用して禁則設定を避けるため、共に設定できないとする設定値同士を規定する情報(禁則情報)の設定を、組み合わせ理論に沿って、論理式で行わなければならない。このため、テスト担当者が論理式を作成しなければならず、操作が煩雑であるといった問題点もある。
【0008】
本発明は上記実情に鑑みて為されたもので、低い処理負荷で、かつ簡便な操作により禁則情報に対応したテスト計画の作成を支援できるテスト計画作成支援装置を提供することを、その目的の一つとする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する装置であって、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手段と、前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類手段と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当手段と、を含むことを特徴としている。
【0010】
また、前記分類手段は、前記禁則情報を、(a)前記第1注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は前記第2から第n注目設定ファクターがそれぞれ特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる第1禁則パターンと、(b)前記第1注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第1注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる前記第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は前記第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる前記第1注目設定ファクターの設定値、のいずれか一方が存在する、第2禁則パターンと、(c)前記第1禁則パターンと、第2禁則パターンとのいずれでもない、第3禁則パターンと、のいずれかに分類し、前記割当手段は少なくとも、第1禁則パターンと、第2禁則パターンとのいずれかに分類された禁則情報について、(a)第1禁則パターンとして分類された2つの第1、第2注目設定ファクターについては、それぞれの共に設定可能となる設定値を組とした、設定値を有する仮想設定ファクターを生成する処理を行い、当該仮想設定ファクターを前記作成されたテスト計画テーブルのテスト条件の一つに割り当てる処理を行い、(b)第2禁則パターンとして分類されたn個の注目設定ファクターについては、前記第1注目設定ファクターの特定の設定値と、それと共に設定可能な第2から第n注目設定ファクターの設定値とをテスト条件として割り当てた副テスト計画テーブルを作成し、前記テスト計画テーブルに、前記第1注目設定ファクターの各設定値をテスト条件として割り当ててから、当該テスト計画テーブルに、前記副テスト計画テーブルを合成する処理を行うこととしてもよい。
【0011】
さらに、前記割当手段によって設定値の割当が行われた後のテスト計画テーブルに従って行われるテストの数を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算する手段をさらに含み、当該演算した網羅率を所定の処理に供することとしてもよい。
【0012】
ここで、前記網羅率が予め定められた値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する、こととするのも好ましい。この場合は、前記テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うこととするのも好ましい。
【0013】
また、上記従来例の問題点を解決するための本発明は、複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援する方法であって、コンピュータを用いたテスト計画作成支援方法であって、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する工程と、前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類工程と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当工程と、を実行することを特徴としている。
【0014】
さらに、本発明の別の態様に係る複数の設定ファクター同士の互換性をテストする計画の作成を支援するプログラムは、コンピュータに、複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手順と、前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する手順と、前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる手順と、を実行させる。
【0015】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。本発明の実施の形態に係るテスト計画作成支援装置は、図1に示すように、制御部11と、記憶部12と、操作部13と、表示部14とを含むコンピュータによって実現される。この制御部11は、記憶部12に格納されているプログラムに従って動作し、テスト計画テーブルを作成して、設定ファクターの設定値を割り当てる、直交表の作成を行う。また、この制御部11は、予め規定されている禁則情報を参照し、禁則情報に基づく所定の処理を行って、直交表を作成する。これら制御部11の処理の具体的内容については、後に詳しく述べる。
【0016】
記憶部12は、制御部11が実行するプログラムを保持するハードディスク等のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含んでなり、また、制御部11がその処理の過程で作成する情報を保持するワークメモリとしても動作する。操作部13は、キーボードやマウス等であり、ユーザの操作内容を制御部11に出力する。表示部14は、制御部11から入力される指示に従って情報を表示するディスプレイ等である。
【0017】
ここで制御部11による処理の内容について説明する。この制御部11の処理は、具体的に、情報の入力受付、テスト計画テーブルの作成、禁則情報の分類、禁則に係る設定ファクターに対する処理、テスト計画テーブルへの各設定値の割当、といったものであり、まずこれらをそれぞれ説明する。なお、以下の例ではプリンタドライバのソフトウエアをテストする場合を例として説明する。
【0018】
[情報の入力受付]
本実施の形態においては、ユーザは、各設定ファクター(因子)を特定する情報と、各設定ファクターに係る設定値(水準)と、禁則情報と、及び要求品質情報としての網羅率しきい値とをそれぞれ入力する。各設定ファクターを特定する情報とは、設定パラメータの名称等であり、例えば「用紙サイズ」、「出力トレイ」といったものである。各設定ファクターに係る設定値は、設定ファクターごとに設定可能な値のリストであり、例えば「用紙サイズ」の設定ファクターについて「A4」、「B4」等の値である。
【0019】
禁則情報は、本実施の形態においては、図2に示すような案内表示を用いて入力する。制御部11は、設定ファクターを特定する情報と、それぞれの設定ファクターに対する設定値の入力を受けると、これらを記憶部12に保持させ、次に設定ファクターを特定する情報の一覧を表示部14に表示する。ユーザは、この表示から禁則情報の設定対象となる設定ファクターを複数選択する。具体的にユーザは、設定ファクターの一つを禁則設定ファクターとして選択し、少なくとも一つの設定ファクターを禁則条件ファクターとして選択する。制御部11は、禁則条件ファクターに係る設定値の組み合わせを縦軸に配列し、禁則設定ファクターに係る設定値を横軸に配列する(図2)。図2(a)の例では、用紙サイズを禁則条件ファクターとし、両面印刷の設定ファクターを禁則設定ファクターとして選択した例を表しており、図2(b)の例では、原稿の向きと、両面印刷との各設定ファクターを条件ファクターとし、とじしろ位置の設定ファクターを禁則設定ファクターとして選択した例を表している。図2(b)に示すように、複数の禁則条件ファクターを選択したときには、それぞれの値の全部の組み合わせを列挙する。
【0020】
ユーザは、この図2(a),(b)のマトリクス表示のうち、共に設定できない組み合わせ(禁則関係にある組み合わせ)に係るマトリクス部分をマウスでクリックする等する。このとき、制御部11は、当該クリックされたマトリクス部分の色を変更したり、「×」等の記号を表示するなど、禁則情報が規定されたことを示す表示を行うことが好ましい。ここでユーザが入力を完了した旨を指示すると、制御部11は、表示しているマトリクスの情報を、禁則情報として記憶部12に格納する。禁則情報が複数ある場合は、制御部11は、それぞれを記憶部12に格納する。
【0021】
また、ユーザは、要求品質情報としての網羅率しきい値を入力してもよい。このしきい値は、0から100%の値であり、数値として入力することができ、制御部11は、当該入力された値を記憶部12に格納して保持する。
【0022】
[テスト計画テーブルの作成]
制御部11は、ユーザから入力されている設定ファクターのうち、禁則設定ファクターとして選択されたものを除く各設定ファクターについて、それらの設定ファクターの各設定値のすべての組み合わせを配列可能なサイズのテスト計画テーブル(直交表)を作成し、記憶部12に格納する。この時点では具体的な設定値を割り当てておく必要はなく、設定値の代わりに識別子に対する直交表を作成すればよい(図3)。この直交表の作成は、従来の実験計画法を用いる装置と同様の処理であるので、その詳細な説明を省略する。以下、この直交表を主テスト計画テーブルと呼ぶ。
【0023】
この直交表の各行が、各テストに対応し、各欄にそれぞれ各設定ファクターの設定値が割り当てられて、当該割り当てられた設定値の組み合わせからなるテスト条件となる。
【0024】
[禁則情報の分類]
制御部11は、次に、ユーザから入力された各禁則情報を参照し、それらを予め定められた禁則パターンに分類する。具体的に、ユーザが禁則設定ファクターとして選択した設定ファクター(以下、第1注目設定ファクターと呼ぶ)と、禁則条件ファクターとして選択した複数(以下、第2から第n注目設定ファクターとそれぞれ呼ぶ)と、を参照し、まず、第1注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は第2から第n注目設定ファクターが特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる、というパターンでないかを調べる。
【0025】
このパターンは、具体的には図4(a)に示すように、図2で入力されたマトリクスにおいて、共に設定できる設定値の組が、1列分あるか、又は1行分あるか、の少なくとも一方であるか否かを調べることで検出できる。図4(a)の例では、拡大縮小の設定ファクターと、複数枚の原稿をまとめて一枚の用紙に印刷する設定ファクター(便宜的にNアップ設定ファクターと呼ぶ)との間の禁則情報を規定しているが、この場合、拡大縮小を「しない」という設定値であれば、Nアップ設定ファクターの設定値がいかなるものであっても設定できる。同様に、Nアップ設定ファクターが「しない」の設定値であれば、拡大縮小の設定値がいかなる設定値であっても構わない。このため、双方の「しない」の行及び列に、共に設定できる設定値の組が現れる。
【0026】
このようなパターンが検出されると、制御部11は、当該禁則情報を「第1禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部12に格納する。具体的には、記憶部12内の各禁則情報に識別子を割り振り、当該識別子に禁則パターンの分類結果を関連づけたテーブルを作成して格納すればよい。
【0027】
また、制御部11は、第1注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第1注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は、第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる第1注目設定ファクターの設定値、のいずれか一方が存在するか否かを調べる。
【0028】
これは例えば、図4(b)に示すように、用紙サイズの設定ファクターと両面の設定ファクターとについて、用紙サイズが「A6」又は「B4」であるときに、両面の設定ファクターがいかなる設定値であっても禁則でないと規定されているといったように、複数行分又は複数列分、共に設定できる設定値の組み合わせが存在するか否かを調べることによって行うことができる。制御部11は、このような禁則情報を「第2禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部12に格納する。
【0029】
さらに制御部11は、これらのいずれにも当てはまらない禁則パターンを「第3禁則パターン」と分類して、その分類結果を記憶部12に格納する。
【0030】
要するに制御部11は、図5に示すように、記憶部12に格納されている禁則情報のうち、分類が完了していないものについて、そのうち一つの禁則情報を選択し(S1)、当該選択した禁則情報が第1禁則パターンであるか否かを調べ(S2)、第1禁則パターンであれば、当該選択した禁則情報を特定する情報と、「第1禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部12に格納し(S3)、さらに分類が完了していない禁則情報があるか否かを調べ(S4)、そのような禁則情報があれば、処理S1に戻って処理を続ける。
【0031】
また、処理S4においてそのような禁則情報がなければ処理を終了する。さらに、処理S2において、選択した禁則情報が第1禁則パターンでなければ、第2禁則パターンであるか否かを調べ(S5)、第2禁則パターンであれば、選択した禁則情報を特定する情報と、「第2禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部12に格納して(S6)、処理S4に移行する。また、処理S5において、第2禁則パターンでなければ、選択した禁則情報を特定する情報と、「第3禁則パターン」であることを表す情報とを関連づけて記憶部12に格納して(S7)、処理S4に移行する。
【0032】
[禁則に係る設定ファクターに対する処理]
次に制御部11は、各禁則情報について、それぞれの分類の結果に基づき、次のような処理を行う。以下、各分類の結果に対応する処理を分説する。
【0033】
[第1禁則パターンに対する処理]
第1禁則パターンとして分類された禁則情報については、その禁則情報を参照して、共に設定可能な設定値の組を抽出し、当該抽出した設定値の組のそれぞれを、仮想的な設定値とする、仮想的な設定ファクターを作成する。
【0034】
具体的に、図4(a)に示した例を用いて説明すると、拡大縮小・まとめて一枚の設定ファクターの組について、拡大縮小が「しない」で、かつ、まとめて一枚も「しない」とする、「しない・しない」の組をはじめ、以下同様に、「25%・しない」、「70%・しない」、「400%・しない」、「しない・2アップ」、「しない・4アップ」、「しない・8アップ」の7通りの仮想的設定値のいずれかを採る、「拡大縮小」の設定ファクターと、「まとめて一枚」の設定ファクターを融合した、仮想的な設定ファクターを作成する。
【0035】
そしてこの仮想的な設定ファクターを主テスト計画テーブルに線点図を用いて割り当てる。この割り当ての結果は、図6(a)に示すようなものとなる。線点図については、実験計画法において広く知られた割り当て補助法であるので、その詳細な説明を省略する。なお、線点図の数が、割り当ての対象となった仮想的な設定ファクターの仮想的設定値の数より大きい場合は、ダミーを割り当てる。図6(a)では、ダミーとして「DMY_しない・2アップ」を割り当てている。
【0036】
次に、割り当てた後の主テスト計画テーブルについて、仮想的設定ファクターから、元の(融合前の)設定ファクターを分離する(図6(b))。これにより、割り当てが完了する。
【0037】
[第2禁則パターンに対する処理]
また制御部11は、第2禁則パターンとして分類された禁則情報については、次のように処理する。以下、説明のため、処理の対象となる第2禁則パターンの禁則情報を「注目禁則情報」と呼ぶ。
【0038】
まず、注目禁則情報の禁則条件ファクターと禁則設定ファクターとに係る設定値の組み合わせのうち、禁則設定ファクターのすべての設定値が禁則関係にないようになる、禁則条件ファクターの特定の設定値のすべてを配列可能なサイズのテスト計画テーブル(直交表)を、副テスト計画テーブルとして作成して記憶部12に格納する(図7(a))。そして、当該副テスト計画テーブルに禁則条件ファクターに係る設定値を割り当てる。ここで、作成した副テスト計画テーブルに配列可能な数よりも、設定値の数が少なければ、ダミーの設定値を作成して副テスト計画テーブルに割り当てる。
【0039】
具体的な処理内容を、図4(b)に示した例を参照しながら説明すると、次のようになる。この例では、禁則条件ファクター「用紙サイズ」の7つの設定値のうち、禁則設定ファクターのすべての設定値と禁則関係のない、特定の設定値は「A4」と「B4」との2つであり、禁則設定ファクター「両面」に3つの設定値があるので、これを配列可能な数、例えば禁則条件ファクターについて4種類のテスト計画を含む副テスト計画テーブルを作成し、余剰の2つ分についてはダミーの用紙サイズ「DMY_A4」及び「DMY_B4」を割り当てることとする。
【0040】
禁則設定ファクターについても同様の処理を行うと、副テスト計画テーブルが図7(b)のように作成される。
【0041】
一方、主テスト計画テーブル上には、禁則条件ファクターに係るすべての設定値を割り当てる。そして、この主テスト計画テーブル上の禁則条件ファクターの設定値のうち、副テスト計画テーブル上の設定値と同じ設定値となっている行に、副テスト計画テーブルの行を含める(この処理をテスト計画テーブルの合成処理と呼ぶ)。このとき、主テスト計画テーブル上に、禁則設定ファクターの欄が追加される。
【0042】
なお、副テスト計画テーブルにない設定値に係る行、ここの例でいえば、「用紙サイズ」が「はがき」等となっている行については、追加した禁則設定ファクターの欄を既定の値(デフォルト値)とする。もし、予め当該禁則設定ファクターである設定ファクターにデフォルト値が定められておらず、記憶部12に当該デフォルト値の情報がなければ、当該欄にNULL(ヌル)値を割り当てておく。こうして、図7(c)に示すように、主テスト計画テーブルへの割り当てが完了する。
【0043】
さらに、この副テスト計画テーブル上の禁則設定ファクターに係る設定ファクターを、禁則条件ファクターとする別の禁則情報が記憶部12に設定されている場合もある。すなわち、この例において、禁則設定ファクターに係る設定ファクターは「両面」であるが、この設定ファクター「両面」を禁則条件ファクターとする別の禁則情報(図8)が含まれる場合がある。この場合は、さらにこの禁則情報について、上記副テスト計画テーブル(第1副テスト計画テーブル)の副テスト計画テーブル(第2副テスト計画テーブル)を作成し、当該第2副テスト計画テーブルを第1副テスト計画テーブルに対して合成処理し、さらに合成処理後の第1副テスト計画テーブルを主テスト計画テーブルに合成処理するようにすればよい。
【0044】
同様に、第2副テスト計画テーブル上の禁則設定ファクターに係る設定ファクターを、禁則条件ファクターとするさらに別の禁則情報が含まれている場合も同様に処理することができる。
【0045】
なお、記憶部12に格納されている禁則情報のうち、現在処理している禁則情報と、その禁則条件ファクターを共通にし、かつ、それに対する禁則関係が共通する禁則情報が他にあれば、現在処理している禁則情報と、当該他の禁則情報とを同じ副テスト計画テーブルに割り当ててもよい。例えば、図9に示すように、禁則条件ファクター「用紙サイズ」に対して禁則設定ファクター「給紙トレイ」を設定する禁則情報があり、これにおける禁則の関係が、用紙サイズ「A4」又は「B4」の場合に、給紙トレイの各設定値が設定可能となるとする、「用紙サイズ」に対する「両面」との場合と同一の関係にある。この場合は、3つの設定ファクター(禁則条件ファクター1つと、禁則設定ファクター2つ)について、それぞれ、禁則条件ファクターの設定値のうち、禁則設定ファクターのどの設定値とも禁則関係のない設定値(特定設定値)に係るものを配列した副テスト計画テーブルを作成して、主テスト計画テーブルに合成すればよい。
【0046】
また、ここまでの説明では、禁則条件ファクターが特定の設定値であるときに禁則関係がなくなる例(禁則関係のない行が複数ある例)について説明したが、禁則設定ファクターが特定の値であるときに禁則関係がなくなる例(禁則関係のない列が複数ある例)でも同様の処理を行うことができる。
【0047】
[第3禁則パターンに対する処理]
第3禁則パターンは、第1、第2の禁則パターンのいずれにも属さないもので、いわば禁則関係がランダムに配列されているかに見えるものである。例えば、2つの設定ファクター「原稿の向き」及び「両面」に対して、ステープラー等によるとじしろを設定する位置の設定ファクターは、図10(a)に示されるように、「原稿の向き」と「両面」との設定値が特定の設定値の組み合わせになっているときに、とじしろ位置に係るすべての設定値が共に設定可能となるといった関係にはない。
【0048】
制御部11は、こうした第3禁則パターンとして分類された禁則情報については、(1)禁則情報を無視して、各設定値について総当たりのテスト計画を作成するか、(2)直交性を犠牲にして禁則情報に示された禁則関係を避けながら割り当てを行うか、のいずれかを選択的に実行する。この選択は、ユーザにより設定された内容に基づいて行うこととしてもよい。このようにすることで、(1)のように処理する場合は、第3禁則パターンの禁則関係の設定値の組み合わせはテストに含まれてしまうが、第1、第2禁則パターンの禁則関係にある設定値の組み合わせのテストが省略されるので、テストの効率の向上は見込まれる。また、(2)のようにすれば、テスト計画の作成に係る処理負荷は高まるが、テストの効率をより向上できる。
【0049】
以下、この第3禁則パターンに関し、直交性を犠牲にして禁則情報に示された禁則関係を避けながら割り当てを行う場合の制御部11の処理について説明する。この処理においては、制御部11は、パターン分析、仮想設定値の生成、仮想設定値の選択、仮想設定値の割り当ての4段階の処理を行う。
【0050】
まず、パターン分析では、各禁則条件ファクターに対する禁則設定ファクターの禁則関係を参照し、禁則関係が共通する禁則条件ファクター側の設定値同士をまとめた仮想設定値を作成する。具体的に図10(a)の例では、「原稿の向き」、「両面」の2つの設定ファクターからなる禁則条件ファクターについて、「たて・短辺とじ」、「よこ・なし」、「よこ・短辺とじ」の3つの設定値の禁則関係が共通しているので、これらをまとめて、図10(b)に示す分析パターンを生成する。
【0051】
次に、この分析パターンの各行について、禁則関係のないものをセットとして抽出する。すると、図10(b)に示した例からは、禁則設定ファクター「とじしろ位置」について、その第1行目からは「しない・短辺上・長辺左・長辺右」のセットが抽出され、第2行目からは「しない・長辺左・長辺右」のセットが抽出され、第3行目からは「しない・短辺左・短辺右」のセットが抽出され、第4行目からは「しない・長辺上」のセットが抽出される。制御部11は、これらの抽出したセットのそれぞれを仮想設定ファクターとし、仮想設定ファクターのそれぞれに含まれる各値を仮想設定値として、記憶部12に格納する。
【0052】
制御部11は、次に、各仮想設定ファクターについて、それぞれの仮想設定値のすべてを割り当て可能な2のn乗個(nは2以上)のエントリーからなるテーブルを作成する。すなわち、ここでの例の場合は、最大でも4つの仮想設定値が含まれるだけであるので、4つのエントリーからなるテーブルを作成することになる。そして、それぞれのエントリーについて、主テスト計画テーブルへの割り当てのための線点図を関連付ける。線点図については、実験計画法において広く知られた割り当て補助法であるので、その詳細な説明を省略する。
【0053】
この例で、仮想設定ファクターは4種類あるが、線点図の割り当ての際に使用する線点図は同じものを使用する。制御部11は、主テスト計画テーブル上に「とじしろ位置」に係る線点図を割り当てておき(図11)、次に禁則情報において、禁則条件ファクター側の各設定値が、どの仮想設定ファクターに対応するかを表す対応テーブルを作成する(図12)。
【0054】
制御部11は、この対応テーブルを参照しながら、主テスト計画テーブル上の各行における、上記禁則条件ファクターの各設定値の組を調べ、その組に対応する仮想設定ファクターを特定する。そして、当該特定した仮想設定ファクターにおける、当該行における線点図に対応する「とじしろ位置」の設定値を割り当てる(図13)。
【0055】
図13の例でより詳細に説明すれば、その第1行目では禁則条件ファクターの設定値の組は、「たて・なし」であり、これは対応テーブル上の仮想設定ファクターの「1」に対応する。そして、その第1行目の「とじしろ位置」の線点図は「0」であるので、仮想設定ファクター「1」における線点図「0」の設定値、「しない」が当該行の「とじしろ位置」に割り当てられる。
【0056】
また第2行目は、同様に「たて・長辺とじ」の禁則条件ファクターの設定値の組に対応し、これは仮想設定ファクターの「2」に対応する。そして、その第2行目の「とじしろ位置」の線点図は「11」であるので、仮想設定ファクター「2」における線点図「11」の設定値、「長辺左」が当該行の「とじしろ位置」に割り当てられる。
【0057】
このようにして行われた第3禁則パターンに係る設定値の割り当てによっては、各仮想設定ファクター上の設定値(水準)のすべてが主テスト計画テーブルに割り当てられるとは限らず、その直交性は確実なものとはならない。
【0058】
[禁則情報に係らない設定ファクターの設定値の割り当て]
なお、禁則情報に係らない設定ファクターの設定値の割り当てにおいては、従来の実験計画法を用いた装置における設定値の割り当てと変わらない処理が行われるので、その詳細な説明を省略する。
【0059】
[主テスト計画テーブルの利用]
こうして各設定値の割り当てが行われた主テスト計画テーブルを用いて、制御部11は、その各行の設定値をテスト条件として設定し、実際のテストを行わせるためのテストスクリプトを作成する。この場合において、いずれかの設定値がダミーである場合は、その行に対応するテストスクリプトの作成を行わない。また、いずれかの設定値がNULL(ヌル)である場合は、その設定値の設定を省いたテストスクリプトを作成する。
【0060】
具体的に、設定ファクターAからCについて、それぞれ「1」、「2」、「3」をテスト条件として設定する場合、制御部11は、「A=1.B=2.C=3」と設定させる指示を出力し、次にテスト開始の指示を出力するというテストスクリプトを作成するのであるが、設定ファクターAからCについて、それぞれ「1」、「NULL」、「3」をテスト条件として設定する場合、制御部11は、Bに係る設定を省略し、「A=1.C=3」と設定させる指示を出力し、次にテスト開始の指示を出力するというテストスクリプトを作成する。
【0061】
このテストスクリプトに基づくテストがテストの対象となったソフトウエアに対して行われ、そのテスト結果の一覧が記憶部12に格納され、ユーザの指示に応じて、表示部14に、主テスト計画テーブル上の各テストに関連付けて、当該テスト結果が表示される。この表示により、ユーザは、各設定ファクターの互換性に関する情報を取得する。例えば、各テストを順次行いながら、それらの結果を順次表示していくときに、設定ファクターAについて「1」、Cについて「3」である組み合わせにおいて、常にテストが失敗する場合、これらの設定値間の互換性が疑われる。
【0062】
[網羅率の計算]
また、制御部11は、割り当てが行われた主テスト計画テーブルについて、そこから得られるテストの数(作成されたテストスクリプトの数)を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての設定値の組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算し、表示部14に表示出力してもよい。
【0063】
この場合、制御部11は、ユーザにより予め網羅率しきい値が入力され、記憶部12に保持されているときには、上記演算した網羅率と、当該網羅率しきい値とを比較し、網羅率が網羅率しきい値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する。
【0064】
これは具体的には、第3禁則パターンとして分類された禁則情報に、禁則設定ファクターとして含まれている設定ファクターの設定値のうち、出現していない設定値があれば、当該出現していない設定値を含む、各設定ファクターの設定値の組(主テスト計画テーブル上の行)をユーザが個別に入力して作成し、追加するようにしてもよい。
【0065】
制御部11は、このようにして追加された後の主テスト計画テーブルの網羅率を再計算し、網羅率しきい値を超えるまで、当該追加の処理を繰り返して行う。
【0066】
この場合に、テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うこととするのも好ましい。すなわち、第3禁則パターンとして分類された禁則情報が複数ある場合、それらの禁則情報の各々における禁則設定ファクターのうち、予め設定ファクターのうち、より優先的にテストを行う順として定められた優先順位の高いものについて、その設定ファクターの設定値のうち、出現していない設定値を含むテストを作成するようにする。
【0067】
[動作]
このように本実施の形態のテスト計画作成支援装置によると、マトリクスの関係によって禁則情報の設定がされ、当該禁則情報がそれぞれ禁則パターンに分類される。そして、その分類の結果に従って、禁則関係のある設定値の組を低減した(又はそうした設定値の組を含まない)テスト計画テーブル(主テスト計画テーブル)が作成され、当該テスト計画テーブルに基づいてテストスクリプトが作成される。
【0068】
また、網羅率の計算が行われ、作成したテスト計画テーブルの品質が客観的に演算される。このとき、要求された品質が達成されない場合は、テストが追加され、品質が担保される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るテスト計画作成支援装置の構成ブロック図である。
【図2】禁則情報の入力インタフェースの例を表す説明図である。
【図3】割り当て前の直交表の例を表す説明図である。
【図4】禁則情報の例を表す説明図である。
【図5】禁則情報の分類処理の例を表すフローチャート図である。
【図6】第1禁則パターンに関する処理の過程を表す説明図である。
【図7】第2禁則パターンに関する処理の過程で作成される副テスト計画テーブルと、それらの主テスト計画テーブルへの割り当ての例を表す説明図である。
【図8】第2禁則パターンに関する処理の際に参照される他の禁則情報の例を表す説明図である。
【図9】第2禁則パターンに関する処理の際に参照される他の禁則情報の例を表す説明図である。
【図10】第3禁則パターンに関する処理のパターン分析の状況を表す説明図である。
【図11】第3禁則パターンに係る設定ファクターを割り当てるための主テスト計画テーブル上の設定例を表す説明図である。
【図12】第3禁則パターンに係る仮想設定値の選択のための対応テーブルの例を表す説明図である。
【図13】第3禁則パターンに係る設定ファクターを主テスト計画テーブルに割り当てた例を表す説明図である。
【符号の説明】
11 制御部、12 記憶部、13 操作部、14 表示部。[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a test plan creation support device that supports creation of a test plan for equipment software.
[0002]
[Prior art]
In recent years, many devices have been controlled by computer software, and the functions of the devices have advanced, and the number of setting parameters as setting factors for controlling the operation of the devices has also increased. Since such software is created as a module for each function, it is easy to test the set values of the setting factors related to the individual functions in the software creation process. However, testing for compatibility between functions, that is, compatibility between setting factors, can be performed only by combining each software after the software creation process.
[0003]
It is known that the number of combinations of the setting factors is generally enormous. For example, when the combination of each set value is counted in driver software such as a printer, the number of combinations may be on the order of 100 million. Therefore, it is not realistic to manually examine the combination of the set values. Accordingly, an apparatus has been developed which generates a combination of these set values by a computer and supports creation of a software test plan.
[0004]
As an example, an apparatus using an experiment design method creates a test plan using a table called an orthogonal table. In this orthogonal table, a list of tests to be performed is arranged on the vertical axis, a list of set values is arranged on the horizontal axis, and each set value has two levels (one of two states of ON or OFF). Only), 2 n combinations are created for the n set values. Then, while referring to the created combination, a set value for each test is set, and a program (test script) for performing the process is created.
[0005]
In another example, a combination of set values in each test is created using combination theory.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, an apparatus using the above-described conventional design of experiment includes all combinations of set values in an orthogonal table. Therefore, as a specification of the device, in a prohibited combination, for example, in a specification that two-sided printing cannot be performed when a color original is printed, a color setting value is selected for a color / monochrome setting factor, and a one-sided / two-sided printing is selected. Although a combination in which the setting values of both sides are selected for the setting factor does not require a test, the apparatus using the above-described conventional experiment design method also includes this combination in the test.
[0007]
In an apparatus using the combination theory, it is possible to create a test that avoids such set values that cannot be set together (prohibition setting). However, in this case, it is always necessary to set all the setting values other than the prohibition setting. List the combinations and target them for testing. According to this, although the quality of the test is desirable, there is a problem that the processing load for creating the test plan increases due to the processing for avoiding the setting of the prohibition. Furthermore, in order to avoid the setting of prohibition by adopting the combination theory, the information (prohibition information) defining the set values that cannot be set together must be set by a logical expression in accordance with the combination theory. For this reason, a tester must create a logical expression, and there is a problem that the operation is complicated.
[0008]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a test plan creation support device that can support creation of a test plan corresponding to prohibition information with low processing load and simple operation. One.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The present invention for solving the problems of the above conventional example is an apparatus for supporting creation of a plan for testing compatibility between a plurality of setting factors, wherein at least one of a plurality of test conditions is different from each other. Means for creating a test plan table listing a plurality of test plans defined in advance, and n setting factors among the plurality of setting factors as first, second,. A classification in which, for the n target setting factors, prohibition information that specifies setting values that cannot be set together among the setting values is referred to, and the prohibition information is classified into a predetermined prohibition pattern. Means, for a set factor related to the prohibition information, execute a process determined for each prohibition pattern obtained as a result of the classification. The test conditions of the test plan table is characterized in that it comprises, an assignment means for assigning each set value of the setting factor.
[0010]
In addition, the classification unit may be configured to set the prohibition information such that (a) the first attention setting factor is a specific setting value, or the second to n-th attention setting factors are each a combination of specific setting values. A first prohibition pattern that can be set only when the second attention mode is set, and (b) the second to n-th settings that can be set together with the set value of the first attention setting factor regardless of the setting value of the first attention setting factor. Regardless of the combination of the setting values of the attention setting factors or the combination of the setting values of the second to n-th attention setting factors, the first setting can be performed together with the combination of the setting values of the second to n-th attention setting factors. (C) any one of the first prohibition pattern and the second prohibition pattern, in which one of the set value of the attention setting factor exists. And the third prohibition pattern, and the allocating means performs at least the first prohibition pattern on the prohibition information classified as either the first prohibition pattern or the second prohibition pattern. For the two first and second attention setting factors classified as, a process of generating a virtual setting factor having a set value, which is a set of set values that can be set together, is performed. A process of allocating to one of the test conditions in the created test plan table is performed. (B) For the n attention setting factors classified as the second prohibition pattern, specific setting values of the first attention setting factor A sub-test plan table is created in which the test conditions are assigned with the setting values of the second to n-th attention setting factors that can be set together therewith. , The test plan table, assign each setting value of the first target set factor as a test condition, in the test plan table, the may perform the processing for combining the sub-test plan table.
[0011]
Furthermore, a value obtained by dividing the number of tests performed in accordance with the test plan table after the assignment of the set values by the assigning means by the number of patterns of all combinations except for the combinations of the settings related to the prohibition information is a coverage ratio. May be further provided, and the calculated coverage may be subjected to a predetermined process.
[0012]
Here, when the coverage is lower than a predetermined value, for each of the setting factors related to the prohibition information, a combination that is not specified by the prohibition information among combinations of the set values, and a test plan table It is also preferable to selectively add at least one combination not included in the test plan table to the test plan table. In this case, in selecting a combination of set values to be added to the test plan table, reference is made to a predetermined priority for each set factor, and selection is performed in order from the set value relating to the set factor with the highest priority. It is also preferable to use it.
[0013]
Further, the present invention for solving the problems of the above-mentioned conventional example is a method for supporting creation of a plan for testing compatibility between a plurality of setting factors, and is a test plan creation support method using a computer. Creating a test plan table listing a plurality of test plans defined in advance such that at least one of the plurality of test conditions is different from each other; and n sets out of the plurality of setting factors, As the first, second,..., N-th attention setting factors, for each of the n attention setting factors, reference is made to prohibition information that defines setting values that cannot be set together among the respective setting values. A classification step of classifying the prohibition information into a predetermined prohibition pattern, and a setting factor related to the prohibition information, Executes processing specified to each prohibition pattern obtained as a result, the test conditions of the test plan table, is characterized by performing a assignment step of assigning each set value of the setting factor.
[0014]
Further, a program for supporting the creation of a plan for testing compatibility between a plurality of setting factors according to another aspect of the present invention has a computer in which at least one of a plurality of test conditions is predefined so as to be different from each other. A procedure for creating a test plan table listing a plurality of test plans; and setting the n set factors among the plurality of set factors as first, second,. Referring to the prohibition information that specifies setting values that cannot be set together among the respective setting values, and classifying the prohibition information into a predetermined prohibition pattern; For the setting factor according to the information, execute a process determined for each prohibition pattern obtained as a result of the classification, A serial test plan table test conditions, to execute a procedure for assigning each set value of the setting factor.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The test plan creation support device according to the embodiment of the present invention is realized by a computer including a
[0016]
The
[0017]
Here, the content of the processing by the
[0018]
[Reception of information input]
In the present embodiment, the user specifies information specifying each set factor (factor), set values (levels) related to each set factor, prohibition information, and a coverage threshold as required quality information. Enter each. The information for specifying each setting factor is, for example, the name of a setting parameter, such as “paper size” and “output tray”. The set value related to each set factor is a list of values that can be set for each set factor, and is, for example, a value such as “A4” or “B4” for the set factor of “paper size”.
[0019]
In this embodiment, the prohibition information is input using a guidance display as shown in FIG. When the
[0020]
The user clicks with the mouse on a matrix portion related to a combination that cannot be set together (a combination having a prohibited relationship) in the matrix displays of FIGS. 2A and 2B. At this time, it is preferable that the
[0021]
Further, the user may input a coverage threshold as the required quality information. The threshold value is a value from 0 to 100%, and can be input as a numerical value. The
[0022]
[Create Test Plan Table]
The
[0023]
Each row of the orthogonal table corresponds to each test, and the setting value of each setting factor is assigned to each column, and the test condition is formed by a combination of the assigned setting values.
[0024]
[Classification of prohibited information]
Next, the
[0025]
This pattern is, as shown in FIG. 4 (a), specifically, whether the set of set values that can be set together is one column or one row in the matrix input in FIG. It can be detected by checking whether at least one of them is present. In the example of FIG. 4A, prohibition information between a setting factor for enlargement / reduction and a setting factor for printing a plurality of original documents together on one sheet (referred to as an N-up setting factor for convenience) is shown. However, in this case, any setting value of the N-up setting factor can be set as long as the setting value indicates that the enlargement / reduction is not performed. Similarly, if the N-up setting factor is a setting value of “no”, the setting value of the enlargement / reduction may be any setting value. For this reason, a set of set values that can be set together appears in both “no” rows and columns.
[0026]
When such a pattern is detected, the
[0027]
Further, the
[0028]
For example, as shown in FIG. 4 (b), when the paper size is “A6” or “B4”, the set factor of the duplex In this case, it can be performed by checking whether there is a combination of set values that can be set for a plurality of rows or a plurality of columns, as defined as not being prohibited. The
[0029]
Further, the
[0030]
In short, as shown in FIG. 5, the
[0031]
If there is no such prohibition information in the process S4, the process ends. Further, in the processing S2, if the selected prohibition information is not the first prohibition pattern, it is checked whether or not it is the second prohibition pattern (S5). If the prohibition information is the second prohibition pattern, the information for specifying the selected prohibition information is determined. And the information indicating that the pattern is a “second prohibition pattern” are stored in the
[0032]
[Process for setting factor related to prohibition]
Next, the
[0033]
[Process on First Prohibition Pattern]
For the prohibition information classified as the first prohibition pattern, a set of set values that can be set together is extracted with reference to the prohibition information, and each of the extracted set of set values is replaced with a virtual set value. Create a virtual configuration factor.
[0034]
To be more specific, using the example shown in FIG. 4A, enlargement / reduction and enlargement / reduction are not performed for a set of one set factor, and none of the set factors are collectively set to “none”. , "No / No", and similarly, "25% / No", "70% / No", "400% / No", "No / 2-up", "No / 4" A virtual setting factor that takes one of seven virtual setting values of "up" and "8 up" and fuses a setting factor of "enlargement / reduction" and a setting factor of "one piece at a time". Create
[0035]
Then, this virtual setting factor is assigned to the main test plan table using a dotted line diagram. The result of this assignment is as shown in FIG. Since the dotted line diagram is an assignment assisting method that is widely known in the experimental design method, a detailed description thereof will be omitted. If the number of the dotted diagrams is larger than the number of virtual setting values of the virtual setting factors to be allocated, a dummy is allocated. In FIG. 6A, “DMY_No. 2 up” is assigned as a dummy.
[0036]
Next, for the main test plan table after the assignment, the original (before fusion) setting factors are separated from the virtual setting factors (FIG. 6B). Thus, the assignment is completed.
[0037]
[Processing for Second Prohibition Pattern]
The
[0038]
First, among the set values related to the prohibition condition factor and the prohibition setting factor of the prohibition information of interest, all of the specific setting values of the prohibition condition factor are such that all the setting values of the prohibition setting factor do not have a prohibition relation. A test plan table (orthogonal table) having a size that can be arranged is created as a sub test plan table and stored in the storage unit 12 (FIG. 7A). Then, the setting value relating to the prohibition condition factor is assigned to the subtest plan table. Here, if the number of set values is smaller than the number that can be arranged in the created sub test plan table, a dummy set value is created and assigned to the sub test plan table.
[0039]
The specific processing contents will be described below with reference to the example shown in FIG. In this example, of the seven setting values of the prohibition condition factor “paper size”, there are two specific setting values “A4” and “B4” that are not prohibitively related to all the setting values of the prohibition setting factor. Yes, there are three set values for the prohibition setting factor "double-sided", so create a sub-test plan table containing four types of test plans for the number that can be arranged, for example, prohibition condition factors, and for the surplus two Assigns dummy paper sizes “DMY_A4” and “DMY_B4”.
[0040]
When the same processing is performed for the prohibition setting factor, a sub test plan table is created as shown in FIG. 7B.
[0041]
On the other hand, on the main test plan table, all set values related to the prohibition condition factors are assigned. Then, among the set values of the prohibition condition factors on the main test plan table, the rows having the same set values as the set values on the sub test plan table include the row of the sub test plan table. This is called a plan table combining process). At this time, a column of prohibition setting factor is added to the main test plan table.
[0042]
For the rows related to the setting values not in the sub-test plan table, in this example, for the rows in which the “paper size” is “postcard”, the column of the added prohibition setting factor is set to the default value ( Default value). If a default value is not defined in advance for the setting factor that is the prohibition setting factor and there is no information on the default value in the
[0043]
Further, another prohibition information may be set in the
[0044]
Similarly, the processing can be performed in the same manner when the set factor relating to the prohibition setting factor on the second sub-test plan table includes another prohibition information that is a prohibition condition factor.
[0045]
In addition, among the prohibition information stored in the
[0046]
In addition, in the description so far, an example has been described in which the prohibition relation disappears when the prohibition condition factor has a specific setting value (an example in which there are a plurality of rows having no prohibition relation), but the prohibition setting factor has a specific value. The same processing can be performed in an example where the prohibition relation is sometimes lost (an example in which there are a plurality of columns having no prohibition relation).
[0047]
[Process on Third Prohibition Pattern]
The third prohibition pattern does not belong to any of the first and second prohibition patterns, and it looks as if the prohibition relations are randomly arranged. For example, for two setting factors “document orientation” and “double-sided”, a setting factor of a position for setting a margin by a stapler or the like is “document orientation” as shown in FIG. When the set value of “double-sided” is a combination of specific set values, there is no relation that all the set values related to the binding position can be set together.
[0048]
For the prohibition information classified as the third prohibition pattern, the
[0049]
In the following, a description will be given of the processing of the
[0050]
First, in the pattern analysis, a virtual setting value in which setting values on the prohibition condition factor side having a common prohibition relationship are created with reference to the prohibition relationship of the prohibition setting factor for each prohibition condition factor. More specifically, in the example of FIG. 10A, the prohibition condition factors including the two setting factors of “orientation of the original” and “both sides” are “vertical / short side binding”, “horizontal / none”, and “horizontal / none”. Since the three setting values “short side binding” have a common prohibition relationship, they are put together to generate an analysis pattern shown in FIG. 10B.
[0051]
Next, for each line of the analysis pattern, a line having no prohibition relation is extracted as a set. Then, from the example shown in FIG. 10 (b), a set of “no / short side / long side left / long side right” is extracted from the first line for the prohibition setting factor “margin position”. From the second row, a set of “No / Long side left / Long side right” is extracted. From the third row, a set of “No / Short side left / Short side right” is extracted. From the line, a set of "No / long side" is extracted. The
[0052]
Next, for each virtual setting factor, the
[0053]
In this example, there are four types of virtual setting factors, but the same diagram is used when assigning the diagram. The
[0054]
The
[0055]
In more detail with reference to the example of FIG. 13, in the first line, the set of the set values of the prohibition condition factors is “vertical / none”, which is “1” of the virtual setting factor on the correspondence table. Corresponding to Then, since the line diagram of the “margin position” in the first line is “0”, the set value of the line diagram “0” in the virtual setting factor “1” and “not performed” are “0” in the line. Is assigned to the "margin position".
[0056]
The second line similarly corresponds to a set of set values of the prohibition condition factor of “vertical / long side binding”, which corresponds to the virtual set factor “2”. Then, since the line diagram of the "margin position" on the second line is "11", the set value of the line diagram "11" in the virtual setting factor "2" and the "long side left" are Is assigned to the "margin position".
[0057]
Depending on the assignment of the setting values related to the third prohibition pattern performed in this way, not all of the setting values (levels) on each virtual setting factor are necessarily assigned to the main test plan table, and the orthogonality is not guaranteed. It is not certain.
[0058]
[Assignment of setting value of setting factor regardless of prohibition information]
Note that the assignment of the setting value of the setting factor irrespective of the prohibition information is performed in the same manner as the assignment of the setting value in the apparatus using the conventional experiment design method, and thus the detailed description is omitted.
[0059]
[Use Main Test Plan Table]
Using the main test plan table to which the setting values have been assigned in this way, the
[0060]
Specifically, when “1”, “2”, and “3” are set as test conditions for the setting factors A to C, respectively, the
[0061]
A test based on the test script is performed on the software to be tested, a list of the test results is stored in the
[0062]
[Calculation of coverage rate]
In addition, the
[0063]
In this case, the
[0064]
Specifically, if there is a setting value that does not appear among the setting values of the setting factors included as the prohibition setting factor in the prohibition information classified as the third prohibition pattern, the prohibition does not appear. A set of set values of each set factor including the set values (rows on the main test plan table) may be individually input and created by the user, and may be added.
[0065]
The
[0066]
In this case, in selecting a combination of setting values to be added to the test plan table, reference is made to a predetermined priority order for each setting factor, and selection is performed in order from the setting value relating to the setting factor having a higher priority order. Is also preferable. That is, when there are a plurality of prohibition information classified as the third prohibition pattern, of the prohibition setting factors in each of the prohibition information, a priority determined in advance as an order of performing a test with higher priority among the set factors in advance. A test including a setting value that does not appear among the setting values of the setting factor is created for the setting factor with a high value.
[0067]
[motion]
As described above, according to the test plan creation support device of the present embodiment, the prohibition information is set according to the relationship of the matrix, and the prohibition information is classified into the prohibition patterns. Then, according to the classification result, a test plan table (main test plan table) in which the set of setting values having a prohibition relationship is reduced (or does not include such a set of set values) is created, and based on the test plan table. A test script is created.
[0068]
Further, the coverage is calculated, and the quality of the created test plan table is objectively calculated. At this time, if the required quality is not achieved, a test is added to ensure the quality.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration block diagram of a test plan creation support device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating an example of an input interface for prohibition information.
FIG. 3 is an explanatory diagram illustrating an example of an orthogonal table before assignment.
FIG. 4 is an explanatory diagram illustrating an example of prohibition information.
FIG. 5 is a flowchart illustrating an example of a prohibition information classification process.
FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating a process of a process regarding a first prohibition pattern.
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of sub-test plan tables created in the process of a process related to a second prohibition pattern, and an example of assigning them to a main test plan table.
FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating an example of other prohibition information referred to in a process regarding a second prohibition pattern.
FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating an example of other prohibition information referred to in a process regarding a second prohibition pattern.
FIG. 10 is an explanatory diagram illustrating a state of a pattern analysis of a process regarding a third prohibited pattern.
FIG. 11 is an explanatory diagram illustrating a setting example on a main test plan table for assigning a setting factor according to a third prohibition pattern.
FIG. 12 is an explanatory diagram illustrating an example of a correspondence table for selecting a virtual setting value according to a third prohibition pattern.
FIG. 13 is an explanatory diagram illustrating an example in which a setting factor according to a third prohibition pattern is assigned to a main test plan table.
[Explanation of symbols]
11 control unit, 12 storage unit, 13 operation unit, 14 display unit.
Claims (7)
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手段と、
前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類手段と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当手段と、
を含むことを特徴とするテスト計画作成支援装置。A device that assists in creating a plan for testing compatibility between multiple configuration factors,
Means for creating a test plan table, listing a plurality of test plans that are defined in advance such that at least one of the plurality of test conditions is different from each other,
.., N-th attention setting factor among the plurality of setting factors, respectively, and the n attention setting factors are set together among the respective setting values. Classifying means for classifying the prohibition information into a predetermined prohibition pattern by referring to prohibition information that specifies setting values that cannot be performed;
Allocating means for executing a process determined for each of the prohibition patterns obtained as a result of the classification, and assigning each set value of the set factor to a test condition of the test plan table for the set factor relating to the prohibition information; When,
A test plan creation support device characterized by including:
前記分類手段は、前記禁則情報を、
(a)前記第1注目設定ファクターが特定の設定値であるか、又は前記第2から第n注目設定ファクターがそれぞれ特定の設定値の組み合わせであるときにのみ共に設定可能となる第1禁則パターンと、
(b)前記第1注目設定ファクターの設定値に関わらず、当該第1注目設定ファクターの設定値と共に設定可能となる前記第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせ、又は
前記第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせに関わらず、当該第2から第n注目設定ファクターの設定値の組み合わせと共に設定可能となる前記第1注目設定ファクターの設定値、
のいずれか一方が存在する、第2禁則パターンと、
(c)前記第1禁則パターンと、第2禁則パターンとのいずれでもない、第3禁則パターンと、
のいずれかに分類し、
前記割当手段は少なくとも、第1禁則パターンと、第2禁則パターンとのいずれかに分類された禁則情報について、
(a)第1禁則パターンとして分類された2つの第1、第2注目設定ファクターについては、それぞれの共に設定可能となる設定値を組とした、設定値を有する仮想設定ファクターを生成する処理を行い、当該仮想設定ファクターを前記作成されたテスト計画テーブルのテスト条件の一つに割り当てる処理を行い、
(b)第2禁則パターンとして分類されたn個の注目設定ファクターについては、前記第1注目設定ファクターの特定の設定値と、それと共に設定可能な第2から第n注目設定ファクターの設定値とをテスト条件として割り当てた副テスト計画テーブルを作成し、前記テスト計画テーブルに、前記第1注目設定ファクターの各設定値をテスト条件として割り当ててから、当該テスト計画テーブルに、前記副テスト計画テーブルを合成する処理を行うことを特徴とするテスト計画作成支援装置。The test plan creation support device according to claim 1, wherein
The categorizing means may include the prohibition information,
(A) A first prohibition pattern that can be set only when the first attention setting factor is a specific setting value or when the second to n-th attention setting factors are each a combination of specific setting values. When,
(B) Regardless of the setting value of the first attention setting factor, a combination of the setting values of the second to n-th attention setting factors that can be set together with the setting value of the first attention setting factor, or the second to the n-th attention setting factors. Irrespective of the combination of the setting values of the n-th attention setting factor, the setting value of the first attention setting factor which can be set together with the combination of the setting values of the second to n-th attention setting factors;
A second forbidden pattern in which any one of
(C) a third prohibited pattern, which is neither the first prohibited pattern nor the second prohibited pattern;
Classified into one of
The allocating means may include at least the prohibition information classified into one of the first prohibition pattern and the second prohibition pattern,
(A) For the two first and second attention setting factors classified as the first prohibition pattern, a process of generating a virtual setting factor having a set value, which is a set of set values that can be set together. Performing the process of assigning the virtual setting factor to one of the test conditions of the created test plan table,
(B) For the n attention setting factors classified as the second prohibition pattern, the specific setting value of the first attention setting factor and the setting values of the second to n-th attention setting factors that can be set together therewith. Is created as a test condition, and each set value of the first attention setting factor is assigned as a test condition to the test plan table, and then the sub test plan table is assigned to the test plan table. A test plan creation support device that performs a combining process.
前記割当手段によって設定値の割当が行われた後のテスト計画テーブルに従って行われるテストの数を、禁則情報に係る設定の組み合わせを除くすべての組み合わせのパターンの数で除した値を網羅率として演算する手段をさらに含み、
当該演算した網羅率を所定の処理に供することを特徴とするテスト計画作成支援装置。The test plan creation support device according to claim 1 or 2,
The value obtained by dividing the number of tests performed in accordance with the test plan table after the assignment of the set values by the assigning means by the number of patterns of all combinations except for the combination of settings related to the prohibition information is calculated as the coverage. Further comprising means for:
A test plan creation support device characterized in that the calculated coverage is provided for a predetermined process.
前記網羅率が予め定められた値より低い場合に、禁則情報に係る各設定ファクターについて、それらの設定値の組み合わせのうち、禁則情報により規定されない組み合わせであって、かつ、テスト計画テーブルに含まれない組み合わせを、少なくとも一つ選択的にテスト計画テーブルに追加する、ことを特徴とするテスト計画作成支援装置。The test plan creation support device according to claim 3, wherein
When the coverage is lower than a predetermined value, each set factor related to the prohibition information is a combination that is not defined by the prohibition information among combinations of the set values, and is included in the test plan table. A test plan creation supporting device, wherein at least one combination that does not exist is selectively added to a test plan table.
前記テスト計画テーブルに追加される設定値の組み合わせの選択においては、各設定ファクターについて予め定められた優先順位を参照し、優先順位の高い設定ファクターに係る設定値から順に選択を行うことを特徴とするテスト計画作成支援装置。The test plan creation support device according to claim 4,
In selecting a combination of setting values to be added to the test plan table, a predetermined priority is referred to for each setting factor, and selection is sequentially performed from setting values related to setting factors having higher priority. Test plan creation support device.
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する工程と、
前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する分類工程と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる割当工程と、
を実行することを特徴とするテスト計画作成支援方法。A method that assists in developing a plan for testing the compatibility of multiple configuration factors, using a computer,
A step of creating a test plan table, listing a plurality of test plans defined in advance such that at least one of the plurality of test conditions is different from each other,
.., N-th attention setting factor among the plurality of setting factors, respectively, and the n attention setting factors are set together among the respective setting values. Referring to the prohibition information defining the set values that cannot be performed, and classifying the prohibition information into a predetermined prohibition pattern;
An assigning step of executing a process determined for each of the prohibition patterns obtained as a result of the classification for the set factors related to the prohibition information, and assigning each set value of the set factors to a test condition of the test plan table; When,
A test plan creation support method, characterized by executing the following.
複数のテスト条件のうち少なくとも一つが互いに異なるように予め規定された複数のテスト計画を列挙した、テスト計画テーブルを作成する手順と、
前記複数の設定ファクターのうち、n個の設定ファクターをそれぞれ第1,第2,…,第n注目設定ファクターとして、当該n個の注目設定ファクターについて、それぞれの設定値のうち、共に設定することができない設定値同士を規定した禁則情報を参照し、当該禁則情報を、予め定められた禁則パターンに分類する手順と、
前記禁則情報に係る設定ファクターについては、前記分類の結果として得られた禁則パターンごとに定められた処理を実行し、前記テスト計画テーブルのテスト条件に、前記設定ファクターの各設定値を割り当てる手順と、
を実行させることを特徴とするテスト計画作成支援プログラム。A program that helps you create a plan for testing the compatibility of multiple configuration factors,
A procedure for creating a test plan table that enumerates a plurality of test plans defined in advance such that at least one of the plurality of test conditions is different from each other,
.., N-th attention setting factor among the plurality of setting factors, respectively, and the n attention setting factors are set together among the respective setting values. A procedure for referring to prohibition information that defines setting values that cannot be performed, and classifying the prohibition information into a predetermined prohibition pattern;
For a setting factor related to the prohibition information, executing a process determined for each prohibition pattern obtained as a result of the classification, and allocating each set value of the setting factor to a test condition of the test plan table. ,
A test plan creation support program characterized by executing
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003081300A JP2004288034A (en) | 2003-03-24 | 2003-03-24 | Test plan creation support device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003081300A JP2004288034A (en) | 2003-03-24 | 2003-03-24 | Test plan creation support device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004288034A true JP2004288034A (en) | 2004-10-14 |
Family
ID=33294909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003081300A Pending JP2004288034A (en) | 2003-03-24 | 2003-03-24 | Test plan creation support device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004288034A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006252316A (en) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Omron Corp | Method for forming test schedule |
JP2009288831A (en) * | 2008-05-27 | 2009-12-10 | Fujitsu Ltd | Verification data creation method, device and program |
JP2010113551A (en) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Kyushu Hitachi Maxell Ltd | Test plan table creation device and program therefor |
US9898394B2 (en) | 2013-03-14 | 2018-02-20 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Test design assistance device, test design assistance method, program and computer-readable medium |
-
2003
- 2003-03-24 JP JP2003081300A patent/JP2004288034A/en active Pending
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