JP2004241457A - Polishing and cleaning composite apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明が属する技術分野】
この発明は、磁気ディスク用基板、半導体ウェハー、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板などの薄板円盤状の被処理体の表面を研磨し、洗浄する研磨洗浄複合装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
特許文献1は、複数の被研磨物を保持する孔を有するキャリアを上下定盤間で保持して公転及び正逆方向に交互に自転させて複数の被研磨物の両面を研磨する研磨装置を開示する。
【0003】
特許文献2は、研磨装置において、例えば、ウェハーの表面を研磨する工程を、粗い研磨工程、精密な研磨工程、仕上げの研磨工程といった複数の研磨工程で複数段階で行うことを開示し、研磨ステーション間でウェハーを移動させる場合に、ウェハーに付着したスラリーを十分に除去することを課題としている。このため、洗浄装置において、ウェハーには、保持ヘッドに保持された状態での洗浄及び保持台座上に載置された状態での洗浄がなされ、そして保持ヘッドも単独で洗浄されることが開示されている。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−254301号公報
【特許文献2】
特開2001−144057号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
現在において、ウェハー等の薄板円盤状の被処理体を多量に研磨することが要求されており、従来では、特許文献1で開示されるように、複数の被処理体を受容可能な複数のキャリアを、自転する研磨面を有し、スラリーが供給される上定盤と下定盤の間で自転及び公転させることによって、一度の多数の被処理体を研磨していた。この場合、研磨終了後に被処理体を取り出すときに、被処理体に付着したスラリーにより研磨面が変化するため、できる限り早急に取り出す必要があり、取り出す順番によって品質に変化が生じるという不具合が生じる。
【0006】
また、特許文献2で開示されるように、研磨工程毎に洗浄によってスラリーの除去を行うことが望ましいが、工程が複雑になるという不具合が生じる。さらに、研磨工程と洗浄工程の間の間隙によって、研磨布が固くなるという不具合が生じ、これによって、研磨品質が低下するという問題が生じる。
【0007】
このため、この発明は、研磨の終了と同時に洗浄を行うことのできる研磨洗浄複合装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
したがって、この発明は、薄板円盤状の被処理体を搬送する搬送手段と、該搬送手段によって搬送された被処理体の研磨を行う研磨治具と、該研磨治具を前記被処理体に対して駆動させる駆動手段とを少なくとも具備し、前記駆動手段によって前記研磨治具を前記被処理体に対して駆動すると共に、研磨剤を前記研磨治具に注入する研磨工程と、洗浄水を前記研磨治具に注入する洗浄工程とが連続して実行されることにある。これによって、研磨工程から、洗浄工程への時間の間隙をなくすことができるため、上記課題を達成することができるものである。
【0009】
また、前記研磨工程と前記洗浄工程とは、所定時間重複して実行されることことが望ましい。これによって、研磨工程から洗浄工程への移行が円滑に実行される。
【0010】
さらに、前記研磨治具は、研磨布が配された一対の円筒状研磨治具であり、前記搬送手段によって搬送された前記被処理体を鉛直方向に挟持固定すると共に自転させ、前記一対の円筒状研磨治具を前記被処理体を引上げるように回転運動させると共に、前記1対の円筒状研磨治具に研磨剤を注入することによって研磨工程が実行され、洗浄水が注水されることによって洗浄工程が実行されることが望ましい。
【0011】
さらにまた、前記搬送手段は、被処理体が収納されるコンテナから、順次被処理体を取り出して搬送し、研磨洗浄された被処理体を次なる工程に順次搬送することが望ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について、図面により説明する。
【0013】
本願発明の実施の形態に係る研磨洗浄複合システム1は、研磨洗浄複合装置2と、洗浄専用装置3、搬送装置(6,7,8,9,10)とによって少なくとも構成されている。
【0014】
コンテナ4に搭載された、例えば、磁気ディスク用基板、半導体ウェハー、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板などの薄板円盤状の被処理体5は、搬送装置を構成するリフト機構6のグリップ6aによってグリップされ、コンテナ4から上方に持ち上げられる。そして、搬送装置を構成するキャリア7が移動して、キャリア7の一次ホルダ7aが下方位置に到達したときに、グリップ6aが下降してキャリア7の一次ホルダ7aに被処理体5が載置される。
【0015】
前記一次ホルダ7aに被処理体5が載置されると、キャリア7は、前記一次ホルダ7aが、研磨洗浄複合装置2を構成する研磨/洗浄機構20の下方に位置する場所まで横方向に移動し、ここから、上方に移動する。前記研磨/洗浄機構20は、上方に移動してきた被処理体5を保持する。
【0016】
前記研磨/洗浄機構20は、前記被処理体5の上方位置を制限し、且つ前記被処理体5を自転させる一対の自転用ローラ21と、前記被処理体5を挟持して保持すると共に、前記被処理体5を上方へ付勢する方向に回転する一対の円筒状研磨治具22とによって少なくとも構成される。前記円筒状研磨治具22は、円筒形状をしており、その外周側面には研磨布が装着される。また、円筒状研磨治具22は、前記被処理体5の両側で接触する。
【0017】
以上の構成によって、前記円筒状研磨治具22が、前記被処理体5を挟持して、前記被処理体5を上方へ付勢する方向に回転すると共に、前記自転用ローラ21が前記被処理体5を自転させることによって、前記被処理体5の両面を研磨/洗浄することができるものである。
【0018】
この研磨/洗浄機構20には、研磨剤収納タンク23及び開閉弁24、洗浄水タンク25及び開閉弁26が設けられ、前記円筒状研磨治具22の側面に装着された研磨布に、所定の特性を有する研磨剤が開閉弁24の開放によって供給される場合に研磨工程が実行され、開閉弁26の開放によって洗浄水が供給される場合には洗浄工程が実行されるものである。
【0019】
研磨/洗浄機構20による工程が終了すると、前記キャリア7が図面左方向に移動し、一次ホルダ7aが新しい被処理体5を載置すると同時に、キャリア7の二次ホルダ7bが研磨/洗浄機構20から被処理体5を受け取り、キャリア7が図面右方向に移動する。そして、被処理体5は、キャリア7の二次ホルダ7bから搬送機構8のグリップ8aによって洗浄装置部3に搬送される。
【0020】
前記洗浄専用装置3は、周縁上に所定の間隔で配された複数の保持機構30を有する前記搬送装置を構成する環状搬送機構10と、該環状搬送機構10の所定の位置に設けられた少なくとも一つ(この実施の形態では、2つ)設けられた洗浄機構40とを具備する。また、前記環状搬送機構10は、略観覧車状に構成されるもので、前記保持機構30にグリップされた被処理体5を、所定の角度(この実施の形態では、45°)毎に回動させて、洗浄機構40に搬送し、開閉弁42,43の開放によって供給される洗浄水によって洗浄した後、乾燥させながら、搬送装置を構成する搬送機構9まで、順次移動させるものである。
【0021】
そして、前記環状搬送機構10が回動して、所定の位置まで搬送された研磨され且つ洗浄された被処理体5は、搬送機構9のグリップ9aによって保持機構30から搬出され、コンテナ4に収納される。
【0022】
以上の構成の研磨洗浄複合システム1において、前記研磨/洗浄機構20は、例えば図2のフローチャートに示される制御が実行される。この制御は、図示されないメインスイッチ等が入れられることによって開始される。
【0023】
先ず、ステップ110において前記円筒状研磨治具22が低速回転で運転され、ステップ120において搬送装置6,7が駆動され、被処理体5が低速回転で回転する円筒状研磨治具22の間に装着保持される。このステップ110及びステップ120は、準備工程100を構成する。
【0024】
被処理体5が装着保持された後、ステップ210において円筒状研磨治具22を高速回転し、ステップ220において前記開閉弁24を開いて研磨剤を前記円筒状研磨治具22の研磨布上に注入し、前記被処理体5の研磨工程200が実行される。この研磨工程200は、ステップ230において前記開閉弁24が閉じられ、研磨剤の注入が停止されることで終了し、同時にステップ310において開閉弁26が開かれて洗浄水が注水されることで、洗浄工程300が開始される。また、この洗浄工程300は、ステップ320において開閉弁26が閉じられ、洗浄水の供給が停止されることによって終了する。
【0025】
このように、本願発明は、筒状研磨治具22が回転する間、研磨剤の注入によって研磨工程が実行され、洗浄水が注水されることによって洗浄工程が実行されること、言い換えると、研磨工程の終了と同時に洗浄工程が開始されることを特徴としている。このため、従来のように、研磨工程終了から洗浄工程が開始されるまでの間、時間的間隙が存在することから生じる不具合、例えば被処理体に付着した研磨剤により研磨面が変化することを防止することができるため、品質を向上させることができるものである。
【0026】
この後、ステップ410において、作業の継続が判定され、作業が継続される場合には、ステップ110に戻ってステップ110からステップ320の作業が繰り返され、被処理体5の研磨が連続して実行される。また、ステップ410の判定において、次なる被処理体5の研磨作業を継続しないと判定された場合(N)には、ステップ420において、前記円筒状研磨治具22が低速回転で運転され、ステップ430において搬送装置6,7が駆動して、最後の被処理体5が次の工程に搬出されると共に、ステップ440において円筒状研磨治具22を停止させて研磨/洗浄機構20の作業を終了するものである。
【0027】
図3は、上述した作業のタイミングチャート図を示したものである。この図において、(a)は搬送装置6,7の駆動状態を示したもの、(b)は前記円筒状研磨治具22の回転状態を示したもの、(c)は開閉弁24による研磨剤の注入状況、(d)は開閉弁26による洗浄水の注水状況を示したものである。
【0028】
この図3において、t0において円筒状研磨治具22が低速運転(LOW)を開始し、t1,t5,t9において搬送装置6,7が駆動して、被処理体5を搬送し、前記研磨/洗浄機構20へ被処理体5が装着される。被処理体5の装着の後、t2,t6,t10において、前記円筒状研磨治具22が高速運転(HIGH)で回転すると同時に、研磨剤の注入が開始され、所定時間後、t3,t7において研磨剤の注入が停止されると同時に洗浄水が注水され、t5,t9において注水が停止され、搬送装置6,7の駆動が開始する。この図3に示される実施の形態においては、研磨工程は、t2,t6からt4,t8までであり、洗浄工程はt3,t7からt5,t9までであることから、研磨工程と洗浄工程は、t3,t7からt4,t8までの間、オーバーラップしている状態となっている。これは、研磨剤の注入が開閉弁24の閉弁後も残留分が所定時間滴下することを示すものであるが、研磨工程から洗浄工程へ円滑に工程が移行するために有効な時間的重複であるといえるため、洗浄水を注水するための開閉弁26の開弁は、前記開閉弁24の閉弁と同時であることが望ましい。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、研磨工程の作業から機械を止めることなく、研磨剤の注入を洗浄水の注水に切り替えて洗浄工程とすることから、研磨作業の終了と同時に洗浄工程を実行できるので、研磨剤が研磨表面に残留することがなくなるので、研磨剤の付着による不具合を回避できるものである。また、洗浄水を注水することによって研磨布のドレッシングも同時に行うことができるため、研磨布の表面を良好な状態に保つことができ、連続した被処理体の研磨において、研磨の品質を長時間維持することが可能となるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の実施の形態に係る研磨洗浄複合装置の概略構成図である。
【図2】本願発明の実施の形態に係る研磨/洗浄機構の制御を示したフローチャート図である。
【図3】本願発明の実施の形態に係る研磨/洗浄機構の制御を示したタイミングチャート図である。
【符号の説明】
1 研磨洗浄複合システム
2 研磨洗浄複合装置
3 洗浄専用装置
4 コンテナ
5 被処理体
10 環状搬送機構
20 研磨/洗浄機構
21 自転用ローラ
22 円筒状研磨治具
23 研磨剤収納タンク
24 開閉弁
25 洗浄水タンク
26 開閉弁[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a combined polishing and cleaning apparatus for polishing and cleaning the surface of a thin disk-shaped object to be processed such as a magnetic disk substrate, a semiconductor wafer, a liquid crystal display glass substrate, and a photomask glass substrate.
[0002]
[Prior art]
[0003]
[0004]
[Patent Document 1]
JP 2002-254301 A [Patent Document 2]
JP 2001-144057 A
[Problems to be solved by the invention]
At present, it is required to polish a large amount of a thin disk-shaped workpiece such as a wafer, and conventionally, as disclosed in
[0006]
Further, as disclosed in
[0007]
Therefore, an object of the present invention is to provide a combined polishing and cleaning apparatus capable of performing cleaning at the same time as the completion of polishing.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, the present invention provides a transporting means for transporting a thin disk-shaped workpiece, a polishing jig for polishing the workpiece transported by the transporting means, and a polishing jig for the workpiece. A polishing step of driving the polishing jig with respect to the object to be processed by the driving means and injecting an abrasive into the polishing jig; The cleaning step of injecting into the jig is performed continuously. This can eliminate the time gap from the polishing step to the cleaning step, so that the above problem can be achieved.
[0009]
In addition, it is preferable that the polishing step and the cleaning step are performed repeatedly for a predetermined time. Thereby, the transition from the polishing step to the cleaning step is smoothly performed.
[0010]
Further, the polishing jig is a pair of cylindrical polishing jigs on which a polishing cloth is arranged, and holds and fixes the object to be processed conveyed by the conveying means in a vertical direction, and rotates the pair of cylindrical jigs. The polishing process is performed by rotating the polishing jig so as to pull up the object to be processed, and pouring the abrasive into the pair of cylindrical polishing jigs. Preferably, a cleaning step is performed.
[0011]
Further, it is preferable that the transporting unit sequentially removes and transports the workpiece from the container in which the workpiece is stored, and transports the workpiece that has been polished and cleaned to the next step.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0013]
The combined polishing and
[0014]
A thin disk-
[0015]
When the
[0016]
The polishing /
[0017]
With the above-described configuration, the cylindrical polishing jig 22 rotates in a direction to sandwich the
[0018]
The polishing /
[0019]
When the process by the polishing /
[0020]
The cleaning-dedicated
[0021]
The polished and washed
[0022]
In the polishing / cleaning combined
[0023]
First, in step 110, the cylindrical polishing jig 22 is operated at low speed rotation, and in step 120, the transporting
[0024]
After the
[0025]
As described above, according to the present invention, while the cylindrical polishing jig 22 rotates, the polishing process is performed by injecting the abrasive, and the cleaning process is performed by injecting the cleaning water. In other words, the polishing process is performed. The cleaning step is started simultaneously with the end of the step. For this reason, as in the prior art, a problem caused by the existence of a time gap from the end of the polishing step to the start of the cleaning step, for example, a change in the polished surface due to the abrasive attached to the object to be processed. Since it can be prevented, the quality can be improved.
[0026]
Thereafter, in step 410, the continuation of the work is determined. If the work is continued, the process returns to step 110, and the work from step 110 to step 320 is repeated, whereby the polishing of the
[0027]
FIG. 3 shows a timing chart of the above operation. In this figure, (a) shows the driving state of the conveying
[0028]
In FIG. 3, at t0, the cylindrical polishing jig 22 starts low-speed operation (LOW), and at t1, t5, and t9, the
[0029]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, without stopping the machine from the operation of the polishing step, the injection of the polishing agent is switched to the injection of the cleaning water to perform the cleaning step. Can be performed, so that the abrasive does not remain on the polished surface, so that problems caused by the adhesion of the abrasive can be avoided. In addition, since the polishing cloth can be dressed at the same time by pouring the cleaning water, the surface of the polishing cloth can be kept in a good state, and the polishing quality can be maintained for a long time in polishing the object to be processed continuously. It is possible to maintain.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a combined polishing and cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart illustrating control of a polishing / cleaning mechanism according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a timing chart showing control of a polishing / cleaning mechanism according to the embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記駆動手段によって前記研磨治具を前記被処理体に対して駆動すると共に、
研磨剤を前記研磨治具に注入する研磨工程と、
洗浄水を前記研磨治具に注入する洗浄工程とが連続して実行されることを特徴とする研磨洗浄複合装置。Transport means for transporting the thin disk-shaped workpiece, a polishing jig for polishing the workpiece transported by the transport means, and a driving means for driving the polishing jig with respect to the workpiece At least
Driving the polishing jig with respect to the object by the driving means,
A polishing step of injecting an abrasive into the polishing jig,
And a cleaning step of injecting cleaning water into the polishing jig is performed continuously.
Priority Applications (2)
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Applications Claiming Priority (1)
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Cited By (1)
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-
2003
- 2003-02-04 JP JP2003026759A patent/JP2004241457A/en active Pending
Cited By (5)
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WO2008133286A1 (en) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and program for the same |
JPWO2008133286A1 (en) * | 2007-04-20 | 2010-07-29 | 株式会社荏原製作所 | Polishing apparatus and program thereof |
US8206197B2 (en) | 2007-04-20 | 2012-06-26 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and program thereof |
JP5023146B2 (en) * | 2007-04-20 | 2012-09-12 | 株式会社荏原製作所 | Polishing apparatus and program thereof |
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A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
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