JP2004241457A - Polishing and cleaning composite apparatus - Google Patents

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JP2004241457A
JP2004241457A JP2003026759A JP2003026759A JP2004241457A JP 2004241457 A JP2004241457 A JP 2004241457A JP 2003026759 A JP2003026759 A JP 2003026759A JP 2003026759 A JP2003026759 A JP 2003026759A JP 2004241457 A JP2004241457 A JP 2004241457A
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polishing
cleaning
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jig
abrasive
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Toshio Nagashima
利男 長島
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TSC KK
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polishing and cleaning composite apparatus which can clean simultaneously upon finishing of polishing. <P>SOLUTION: The polishing and cleaning composite apparatus includes at least a conveying means for conveying a thin plate disc-like material to be treated, a polishing tool for polishing the material to be treated, conveyed by the conveying means, and a drive means for driving the polishing tool to the material to be treated. The polishing and cleaning composite apparatus continuously performs a step of driving the polishing tool by the drive means to the material to be treated and pouring an abrasive to the polishing tool, and a step of pouring cleaning water to the polishing tool. Thus, the gap of time from the polishing step to the cleaning step can be eliminated. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
この発明は、磁気ディスク用基板、半導体ウェハー、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板などの薄板円盤状の被処理体の表面を研磨し、洗浄する研磨洗浄複合装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
特許文献1は、複数の被研磨物を保持する孔を有するキャリアを上下定盤間で保持して公転及び正逆方向に交互に自転させて複数の被研磨物の両面を研磨する研磨装置を開示する。
【0003】
特許文献2は、研磨装置において、例えば、ウェハーの表面を研磨する工程を、粗い研磨工程、精密な研磨工程、仕上げの研磨工程といった複数の研磨工程で複数段階で行うことを開示し、研磨ステーション間でウェハーを移動させる場合に、ウェハーに付着したスラリーを十分に除去することを課題としている。このため、洗浄装置において、ウェハーには、保持ヘッドに保持された状態での洗浄及び保持台座上に載置された状態での洗浄がなされ、そして保持ヘッドも単独で洗浄されることが開示されている。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−254301号公報
【特許文献2】
特開2001−144057号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
現在において、ウェハー等の薄板円盤状の被処理体を多量に研磨することが要求されており、従来では、特許文献1で開示されるように、複数の被処理体を受容可能な複数のキャリアを、自転する研磨面を有し、スラリーが供給される上定盤と下定盤の間で自転及び公転させることによって、一度の多数の被処理体を研磨していた。この場合、研磨終了後に被処理体を取り出すときに、被処理体に付着したスラリーにより研磨面が変化するため、できる限り早急に取り出す必要があり、取り出す順番によって品質に変化が生じるという不具合が生じる。
【0006】
また、特許文献2で開示されるように、研磨工程毎に洗浄によってスラリーの除去を行うことが望ましいが、工程が複雑になるという不具合が生じる。さらに、研磨工程と洗浄工程の間の間隙によって、研磨布が固くなるという不具合が生じ、これによって、研磨品質が低下するという問題が生じる。
【0007】
このため、この発明は、研磨の終了と同時に洗浄を行うことのできる研磨洗浄複合装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
したがって、この発明は、薄板円盤状の被処理体を搬送する搬送手段と、該搬送手段によって搬送された被処理体の研磨を行う研磨治具と、該研磨治具を前記被処理体に対して駆動させる駆動手段とを少なくとも具備し、前記駆動手段によって前記研磨治具を前記被処理体に対して駆動すると共に、研磨剤を前記研磨治具に注入する研磨工程と、洗浄水を前記研磨治具に注入する洗浄工程とが連続して実行されることにある。これによって、研磨工程から、洗浄工程への時間の間隙をなくすことができるため、上記課題を達成することができるものである。
【0009】
また、前記研磨工程と前記洗浄工程とは、所定時間重複して実行されることことが望ましい。これによって、研磨工程から洗浄工程への移行が円滑に実行される。
【0010】
さらに、前記研磨治具は、研磨布が配された一対の円筒状研磨治具であり、前記搬送手段によって搬送された前記被処理体を鉛直方向に挟持固定すると共に自転させ、前記一対の円筒状研磨治具を前記被処理体を引上げるように回転運動させると共に、前記1対の円筒状研磨治具に研磨剤を注入することによって研磨工程が実行され、洗浄水が注水されることによって洗浄工程が実行されることが望ましい。
【0011】
さらにまた、前記搬送手段は、被処理体が収納されるコンテナから、順次被処理体を取り出して搬送し、研磨洗浄された被処理体を次なる工程に順次搬送することが望ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について、図面により説明する。
【0013】
本願発明の実施の形態に係る研磨洗浄複合システム1は、研磨洗浄複合装置2と、洗浄専用装置3、搬送装置(6,7,8,9,10)とによって少なくとも構成されている。
【0014】
コンテナ4に搭載された、例えば、磁気ディスク用基板、半導体ウェハー、液晶表示用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板などの薄板円盤状の被処理体5は、搬送装置を構成するリフト機構6のグリップ6aによってグリップされ、コンテナ4から上方に持ち上げられる。そして、搬送装置を構成するキャリア7が移動して、キャリア7の一次ホルダ7aが下方位置に到達したときに、グリップ6aが下降してキャリア7の一次ホルダ7aに被処理体5が載置される。
【0015】
前記一次ホルダ7aに被処理体5が載置されると、キャリア7は、前記一次ホルダ7aが、研磨洗浄複合装置2を構成する研磨/洗浄機構20の下方に位置する場所まで横方向に移動し、ここから、上方に移動する。前記研磨/洗浄機構20は、上方に移動してきた被処理体5を保持する。
【0016】
前記研磨/洗浄機構20は、前記被処理体5の上方位置を制限し、且つ前記被処理体5を自転させる一対の自転用ローラ21と、前記被処理体5を挟持して保持すると共に、前記被処理体5を上方へ付勢する方向に回転する一対の円筒状研磨治具22とによって少なくとも構成される。前記円筒状研磨治具22は、円筒形状をしており、その外周側面には研磨布が装着される。また、円筒状研磨治具22は、前記被処理体5の両側で接触する。
【0017】
以上の構成によって、前記円筒状研磨治具22が、前記被処理体5を挟持して、前記被処理体5を上方へ付勢する方向に回転すると共に、前記自転用ローラ21が前記被処理体5を自転させることによって、前記被処理体5の両面を研磨/洗浄することができるものである。
【0018】
この研磨/洗浄機構20には、研磨剤収納タンク23及び開閉弁24、洗浄水タンク25及び開閉弁26が設けられ、前記円筒状研磨治具22の側面に装着された研磨布に、所定の特性を有する研磨剤が開閉弁24の開放によって供給される場合に研磨工程が実行され、開閉弁26の開放によって洗浄水が供給される場合には洗浄工程が実行されるものである。
【0019】
研磨/洗浄機構20による工程が終了すると、前記キャリア7が図面左方向に移動し、一次ホルダ7aが新しい被処理体5を載置すると同時に、キャリア7の二次ホルダ7bが研磨/洗浄機構20から被処理体5を受け取り、キャリア7が図面右方向に移動する。そして、被処理体5は、キャリア7の二次ホルダ7bから搬送機構8のグリップ8aによって洗浄装置部3に搬送される。
【0020】
前記洗浄専用装置3は、周縁上に所定の間隔で配された複数の保持機構30を有する前記搬送装置を構成する環状搬送機構10と、該環状搬送機構10の所定の位置に設けられた少なくとも一つ(この実施の形態では、2つ)設けられた洗浄機構40とを具備する。また、前記環状搬送機構10は、略観覧車状に構成されるもので、前記保持機構30にグリップされた被処理体5を、所定の角度(この実施の形態では、45°)毎に回動させて、洗浄機構40に搬送し、開閉弁42,43の開放によって供給される洗浄水によって洗浄した後、乾燥させながら、搬送装置を構成する搬送機構9まで、順次移動させるものである。
【0021】
そして、前記環状搬送機構10が回動して、所定の位置まで搬送された研磨され且つ洗浄された被処理体5は、搬送機構9のグリップ9aによって保持機構30から搬出され、コンテナ4に収納される。
【0022】
以上の構成の研磨洗浄複合システム1において、前記研磨/洗浄機構20は、例えば図2のフローチャートに示される制御が実行される。この制御は、図示されないメインスイッチ等が入れられることによって開始される。
【0023】
先ず、ステップ110において前記円筒状研磨治具22が低速回転で運転され、ステップ120において搬送装置6,7が駆動され、被処理体5が低速回転で回転する円筒状研磨治具22の間に装着保持される。このステップ110及びステップ120は、準備工程100を構成する。
【0024】
被処理体5が装着保持された後、ステップ210において円筒状研磨治具22を高速回転し、ステップ220において前記開閉弁24を開いて研磨剤を前記円筒状研磨治具22の研磨布上に注入し、前記被処理体5の研磨工程200が実行される。この研磨工程200は、ステップ230において前記開閉弁24が閉じられ、研磨剤の注入が停止されることで終了し、同時にステップ310において開閉弁26が開かれて洗浄水が注水されることで、洗浄工程300が開始される。また、この洗浄工程300は、ステップ320において開閉弁26が閉じられ、洗浄水の供給が停止されることによって終了する。
【0025】
このように、本願発明は、筒状研磨治具22が回転する間、研磨剤の注入によって研磨工程が実行され、洗浄水が注水されることによって洗浄工程が実行されること、言い換えると、研磨工程の終了と同時に洗浄工程が開始されることを特徴としている。このため、従来のように、研磨工程終了から洗浄工程が開始されるまでの間、時間的間隙が存在することから生じる不具合、例えば被処理体に付着した研磨剤により研磨面が変化することを防止することができるため、品質を向上させることができるものである。
【0026】
この後、ステップ410において、作業の継続が判定され、作業が継続される場合には、ステップ110に戻ってステップ110からステップ320の作業が繰り返され、被処理体5の研磨が連続して実行される。また、ステップ410の判定において、次なる被処理体5の研磨作業を継続しないと判定された場合(N)には、ステップ420において、前記円筒状研磨治具22が低速回転で運転され、ステップ430において搬送装置6,7が駆動して、最後の被処理体5が次の工程に搬出されると共に、ステップ440において円筒状研磨治具22を停止させて研磨/洗浄機構20の作業を終了するものである。
【0027】
図3は、上述した作業のタイミングチャート図を示したものである。この図において、(a)は搬送装置6,7の駆動状態を示したもの、(b)は前記円筒状研磨治具22の回転状態を示したもの、(c)は開閉弁24による研磨剤の注入状況、(d)は開閉弁26による洗浄水の注水状況を示したものである。
【0028】
この図3において、t0において円筒状研磨治具22が低速運転(LOW)を開始し、t1,t5,t9において搬送装置6,7が駆動して、被処理体5を搬送し、前記研磨/洗浄機構20へ被処理体5が装着される。被処理体5の装着の後、t2,t6,t10において、前記円筒状研磨治具22が高速運転(HIGH)で回転すると同時に、研磨剤の注入が開始され、所定時間後、t3,t7において研磨剤の注入が停止されると同時に洗浄水が注水され、t5,t9において注水が停止され、搬送装置6,7の駆動が開始する。この図3に示される実施の形態においては、研磨工程は、t2,t6からt4,t8までであり、洗浄工程はt3,t7からt5,t9までであることから、研磨工程と洗浄工程は、t3,t7からt4,t8までの間、オーバーラップしている状態となっている。これは、研磨剤の注入が開閉弁24の閉弁後も残留分が所定時間滴下することを示すものであるが、研磨工程から洗浄工程へ円滑に工程が移行するために有効な時間的重複であるといえるため、洗浄水を注水するための開閉弁26の開弁は、前記開閉弁24の閉弁と同時であることが望ましい。
【0029】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、研磨工程の作業から機械を止めることなく、研磨剤の注入を洗浄水の注水に切り替えて洗浄工程とすることから、研磨作業の終了と同時に洗浄工程を実行できるので、研磨剤が研磨表面に残留することがなくなるので、研磨剤の付着による不具合を回避できるものである。また、洗浄水を注水することによって研磨布のドレッシングも同時に行うことができるため、研磨布の表面を良好な状態に保つことができ、連続した被処理体の研磨において、研磨の品質を長時間維持することが可能となるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の実施の形態に係る研磨洗浄複合装置の概略構成図である。
【図2】本願発明の実施の形態に係る研磨/洗浄機構の制御を示したフローチャート図である。
【図3】本願発明の実施の形態に係る研磨/洗浄機構の制御を示したタイミングチャート図である。
【符号の説明】
1 研磨洗浄複合システム
2 研磨洗浄複合装置
3 洗浄専用装置
4 コンテナ
5 被処理体
10 環状搬送機構
20 研磨/洗浄機構
21 自転用ローラ
22 円筒状研磨治具
23 研磨剤収納タンク
24 開閉弁
25 洗浄水タンク
26 開閉弁
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a combined polishing and cleaning apparatus for polishing and cleaning the surface of a thin disk-shaped object to be processed such as a magnetic disk substrate, a semiconductor wafer, a liquid crystal display glass substrate, and a photomask glass substrate.
[0002]
[Prior art]
Patent Literature 1 discloses a polishing apparatus that holds a carrier having holes for holding a plurality of objects to be polished between upper and lower platens and alternately rotates in revolving and forward and reverse directions to polish both surfaces of the plurality of objects to be polished. Disclose.
[0003]
Patent Document 2 discloses that in a polishing apparatus, for example, a step of polishing a surface of a wafer is performed in a plurality of polishing steps such as a rough polishing step, a precise polishing step, and a finishing polishing step in a plurality of steps. It is an object of the present invention to sufficiently remove slurry attached to a wafer when the wafer is moved between the wafers. For this reason, in the cleaning apparatus, it is disclosed that the wafer is cleaned while being held by the holding head and cleaning while being mounted on the holding pedestal, and the holding head is also independently cleaned. ing.
[0004]
[Patent Document 1]
JP 2002-254301 A [Patent Document 2]
JP 2001-144057 A
[Problems to be solved by the invention]
At present, it is required to polish a large amount of a thin disk-shaped workpiece such as a wafer, and conventionally, as disclosed in Patent Document 1, a plurality of carriers capable of receiving a plurality of workpieces. Has a polishing surface that rotates, and is rotated and revolved between an upper surface plate and a lower surface plate to which the slurry is supplied, thereby polishing a large number of workpieces at one time. In this case, when the object to be processed is taken out after the polishing is completed, the polishing surface changes due to the slurry attached to the object to be processed. Therefore, it is necessary to take out the object as soon as possible, and there is a problem that the quality changes depending on the order of taking out. .
[0006]
Further, as disclosed in Patent Document 2, it is desirable to remove the slurry by washing for each polishing step, but there is a disadvantage that the process becomes complicated. Further, a gap between the polishing step and the cleaning step causes a problem that the polishing cloth becomes hard, thereby causing a problem that polishing quality is deteriorated.
[0007]
Therefore, an object of the present invention is to provide a combined polishing and cleaning apparatus capable of performing cleaning at the same time as the completion of polishing.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
Therefore, the present invention provides a transporting means for transporting a thin disk-shaped workpiece, a polishing jig for polishing the workpiece transported by the transporting means, and a polishing jig for the workpiece. A polishing step of driving the polishing jig with respect to the object to be processed by the driving means and injecting an abrasive into the polishing jig; The cleaning step of injecting into the jig is performed continuously. This can eliminate the time gap from the polishing step to the cleaning step, so that the above problem can be achieved.
[0009]
In addition, it is preferable that the polishing step and the cleaning step are performed repeatedly for a predetermined time. Thereby, the transition from the polishing step to the cleaning step is smoothly performed.
[0010]
Further, the polishing jig is a pair of cylindrical polishing jigs on which a polishing cloth is arranged, and holds and fixes the object to be processed conveyed by the conveying means in a vertical direction, and rotates the pair of cylindrical jigs. The polishing process is performed by rotating the polishing jig so as to pull up the object to be processed, and pouring the abrasive into the pair of cylindrical polishing jigs. Preferably, a cleaning step is performed.
[0011]
Further, it is preferable that the transporting unit sequentially removes and transports the workpiece from the container in which the workpiece is stored, and transports the workpiece that has been polished and cleaned to the next step.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0013]
The combined polishing and cleaning system 1 according to the embodiment of the present invention includes at least a combined polishing and cleaning device 2, a cleaning dedicated device 3, and a transport device (6, 7, 8, 9, 10).
[0014]
A thin disk-shaped object 5 such as a magnetic disk substrate, a semiconductor wafer, a liquid crystal display glass substrate, or a photomask glass substrate mounted on the container 4 is gripped by a lift mechanism 6 constituting a transfer device. It is gripped by 6a and lifted upward from the container 4. Then, when the carrier 7 constituting the transfer device moves and the primary holder 7a of the carrier 7 reaches the lower position, the grip 6a descends and the workpiece 5 is placed on the primary holder 7a of the carrier 7. You.
[0015]
When the object 5 is placed on the primary holder 7a, the carrier 7 moves laterally to a position where the primary holder 7a is located below the polishing / cleaning mechanism 20 constituting the combined polishing and cleaning apparatus 2. Then, move up from here. The polishing / cleaning mechanism 20 holds the workpiece 5 that has moved upward.
[0016]
The polishing / cleaning mechanism 20 restricts an upper position of the processing target 5, and holds and holds a pair of rotation rollers 21 for rotating the processing target 5, and the processing target 5, It is constituted at least by a pair of cylindrical polishing jigs 22 rotating in a direction for urging the object 5 upward. The cylindrical polishing jig 22 has a cylindrical shape, and a polishing cloth is mounted on an outer peripheral side surface thereof. The cylindrical polishing jigs 22 are in contact with both sides of the object 5 to be processed.
[0017]
With the above-described configuration, the cylindrical polishing jig 22 rotates in a direction to sandwich the workpiece 5 and urge the workpiece 5 upward, and the rotation roller 21 By rotating the body 5, both surfaces of the object 5 can be polished / cleaned.
[0018]
The polishing / cleaning mechanism 20 is provided with an abrasive storage tank 23 and an opening / closing valve 24, a cleaning water tank 25 and an opening / closing valve 26, and a predetermined polishing cloth attached to the side surface of the cylindrical polishing jig 22. The polishing step is performed when an abrasive having characteristics is supplied by opening the on-off valve 24, and the cleaning step is executed when cleaning water is supplied by opening the on-off valve 26.
[0019]
When the process by the polishing / cleaning mechanism 20 is completed, the carrier 7 moves to the left in the drawing, and the primary holder 7a places a new workpiece 5 and at the same time, the secondary holder 7b of the carrier 7 moves to the polishing / cleaning mechanism 20. , And the carrier 7 moves rightward in the drawing. Then, the workpiece 5 is transported from the secondary holder 7b of the carrier 7 to the cleaning device unit 3 by the grip 8a of the transport mechanism 8.
[0020]
The cleaning-dedicated device 3 includes an annular transport mechanism 10 that constitutes the transport device having a plurality of holding mechanisms 30 arranged at predetermined intervals on a peripheral edge, and at least a predetermined position provided at a predetermined position of the annular transport mechanism 10. One (two in this embodiment) cleaning mechanism 40 is provided. The annular transport mechanism 10 is configured in a substantially ferris wheel shape, and rotates the workpiece 5 gripped by the holding mechanism 30 every predetermined angle (45 ° in this embodiment). After being transported to the cleaning mechanism 40 and washed with the cleaning water supplied by opening the on-off valves 42 and 43, the drying mechanism is sequentially moved to the transport mechanism 9 constituting the transport device while drying.
[0021]
The polished and washed workpiece 5 transported to a predetermined position by rotating the annular transport mechanism 10 is carried out of the holding mechanism 30 by the grip 9 a of the transport mechanism 9 and stored in the container 4. Is done.
[0022]
In the polishing / cleaning combined system 1 having the above-described configuration, the polishing / cleaning mechanism 20 performs, for example, the control shown in the flowchart of FIG. This control is started when a main switch (not shown) is turned on.
[0023]
First, in step 110, the cylindrical polishing jig 22 is operated at low speed rotation, and in step 120, the transporting devices 6, 7 are driven, and the cylindrical polishing jig 22 in which the object 5 rotates at low speed. Mounted and held. The steps 110 and 120 constitute the preparation process 100.
[0024]
After the object 5 is mounted and held, the cylindrical polishing jig 22 is rotated at a high speed in step 210, and the open / close valve 24 is opened in step 220 to apply the abrasive onto the polishing cloth of the cylindrical polishing jig 22. Then, a polishing step 200 of the object 5 is performed. The polishing process 200 is completed by closing the on-off valve 24 and stopping the injection of the abrasive in step 230, and simultaneously opening and closing the on-off valve 26 in step 310 to inject the cleaning water. The cleaning process 300 starts. In addition, the cleaning process 300 ends when the on-off valve 26 is closed in step 320 and the supply of the cleaning water is stopped.
[0025]
As described above, according to the present invention, while the cylindrical polishing jig 22 rotates, the polishing process is performed by injecting the abrasive, and the cleaning process is performed by injecting the cleaning water. In other words, the polishing process is performed. The cleaning step is started simultaneously with the end of the step. For this reason, as in the prior art, a problem caused by the existence of a time gap from the end of the polishing step to the start of the cleaning step, for example, a change in the polished surface due to the abrasive attached to the object to be processed. Since it can be prevented, the quality can be improved.
[0026]
Thereafter, in step 410, the continuation of the work is determined. If the work is continued, the process returns to step 110, and the work from step 110 to step 320 is repeated, whereby the polishing of the object 5 is continuously performed. Is done. If it is determined in step 410 that the next polishing operation on the object 5 is not to be continued (N), the cylindrical polishing jig 22 is operated at low speed in step 420. At 430, the transporting devices 6 and 7 are driven to carry out the last workpiece 5 to the next step, and at step 440, the cylindrical polishing jig 22 is stopped to end the operation of the polishing / cleaning mechanism 20. Is what you do.
[0027]
FIG. 3 shows a timing chart of the above operation. In this figure, (a) shows the driving state of the conveying devices 6 and 7, (b) shows the rotating state of the cylindrical polishing jig 22, and (c) shows the polishing agent by the open / close valve 24. (D) shows the state of injection of washing water by the open / close valve 26.
[0028]
In FIG. 3, at t0, the cylindrical polishing jig 22 starts low-speed operation (LOW), and at t1, t5, and t9, the transport devices 6 and 7 are driven to transport the workpiece 5 and perform the polishing / polishing. The workpiece 5 is mounted on the cleaning mechanism 20. At time t2, t6, and t10, after the mounting of the workpiece 5, the cylindrical polishing jig 22 is rotated at a high speed (HIGH), and at the same time, the injection of the abrasive is started. At the same time as the injection of the abrasive is stopped, the cleaning water is injected. At times t5 and t9, the injection is stopped, and the driving of the transfer devices 6 and 7 is started. In the embodiment shown in FIG. 3, the polishing step is from t2 and t6 to t4 and t8, and the cleaning step is from t3 and t7 to t5 and t9. It is in an overlapping state from t3, t7 to t4, t8. This indicates that the remaining amount of the abrasive drops for a predetermined time even after the opening and closing of the on-off valve 24. However, a time overlap that is effective for smoothly shifting the process from the polishing process to the cleaning process is effective. Therefore, it is desirable that the opening of the on-off valve 26 for injecting the washing water be performed at the same time as the closing of the on-off valve 24.
[0029]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, without stopping the machine from the operation of the polishing step, the injection of the polishing agent is switched to the injection of the cleaning water to perform the cleaning step. Can be performed, so that the abrasive does not remain on the polished surface, so that problems caused by the adhesion of the abrasive can be avoided. In addition, since the polishing cloth can be dressed at the same time by pouring the cleaning water, the surface of the polishing cloth can be kept in a good state, and the polishing quality can be maintained for a long time in polishing the object to be processed continuously. It is possible to maintain.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a combined polishing and cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart illustrating control of a polishing / cleaning mechanism according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a timing chart showing control of a polishing / cleaning mechanism according to the embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Combined polishing and cleaning system 2 Combined polishing and cleaning device 3 Combined polishing and cleaning device 4 Container 5 Workpiece 10 Annular transport mechanism 20 Polishing / cleaning mechanism 21 Roller for rotation 22 Cylindrical polishing jig 23 Abrasive storage tank 24 Open / close valve 25 Cleaning water Tank 26 On-off valve

Claims (4)

薄板円盤状の被処理体を搬送する搬送手段と、該搬送手段によって搬送された被処理体の研磨を行う研磨治具と、該研磨治具を前記被処理体に対して駆動させる駆動手段とを少なくとも具備し、
前記駆動手段によって前記研磨治具を前記被処理体に対して駆動すると共に、
研磨剤を前記研磨治具に注入する研磨工程と、
洗浄水を前記研磨治具に注入する洗浄工程とが連続して実行されることを特徴とする研磨洗浄複合装置。
Transport means for transporting the thin disk-shaped workpiece, a polishing jig for polishing the workpiece transported by the transport means, and a driving means for driving the polishing jig with respect to the workpiece At least
Driving the polishing jig with respect to the object by the driving means,
A polishing step of injecting an abrasive into the polishing jig,
And a cleaning step of injecting cleaning water into the polishing jig is performed continuously.
前記研磨工程と前記洗浄工程とは、所定時間重複して実行されることを特徴とする請求項1記載の研磨洗浄複合装置。The apparatus according to claim 1, wherein the polishing step and the cleaning step are performed for a predetermined period of time. 前記研磨治具は、研磨布が配された一対の円筒状研磨治具であり、前記搬送手段によって搬送された前記被処理体を鉛直方向に挟持固定すると共に自転させ、前記一対の円筒状研磨治具を前記被処理体を引上げるように回転運動させると共に、前記1対の円筒状研磨治具に研磨剤を注入することによって研磨工程が実行され、洗浄水が注水されることによって洗浄工程が実行されることを特徴とする請求項1又は2記載の研磨洗浄複合装置。The polishing jig is a pair of cylindrical polishing jigs on which a polishing cloth is disposed, and holds and fixes the object to be processed conveyed by the conveying means in the vertical direction and rotates the object to be processed. The polishing process is performed by rotating the jig so as to pull up the object to be processed and injecting an abrasive into the pair of cylindrical polishing jigs. 3. The polishing and cleaning combined apparatus according to claim 1, wherein the polishing is performed. 前記搬送手段は、被処理体が収納されるコンテナから、順次被処理体を取り出して搬送し、研磨洗浄された被処理体を次なる工程に順次搬送することを特徴とする請求項1,2又は3記載の研磨洗浄複合装置。4. The method according to claim 1, wherein the transporting unit sequentially removes and transports the workpiece from a container in which the workpiece is stored, and transports the workpiece that has been polished and cleaned to the next step. Or the combined polishing and washing apparatus according to 3.
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