JP2004235959A - Multiple optical axis photoelectric switch - Google Patents

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JP2004235959A JP2003021961A JP2003021961A JP2004235959A JP 2004235959 A JP2004235959 A JP 2004235959A JP 2003021961 A JP2003021961 A JP 2003021961A JP 2003021961 A JP2003021961 A JP 2003021961A JP 2004235959 A JP2004235959 A JP 2004235959A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multiple optical axis photoelectric switch capable of more favorably eliminating a state in which an excessive quantity of light is incident at an optical receiver side. <P>SOLUTION: After optical projection timing of each of LEDs 2a to 2e, an optical reception control circuit 17 that is arranged in an optical receiver 5 of the multiple optical axis photoelectric switch detects that undershooting has occurred in a corresponding optical reception signal that is output from a preamplifier circuit 9 and corresponds to each of the LEDs. Specifically, an optical reception signal level that is output from the preamplifier circuit 9 is compared with reference data and is detected after a predetermined time has elapsed from the light projection timing of the corresponding LED 2. Then, based on the detected state, a regulating means 21 varies gain of the preamplifier circuit 9 so as to reduce an undershooting level occurring in the optical reception signal. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の投光手段及び受光手段に順次投受光動作を行なわせ、各投光手段及び受光手段において形成される光軸をスキャンすることで被検出物の検出を行なう多光軸光電スイッチに関する。
【0002】
【従来の技術】
多光軸光電スイッチにおいては、一般に、受光器側の受光感度を向上させるため、受光信号を増幅するアンプ(増幅器)を備えることが多い。その場合、投光器と受光器との設置間隔が例えば仕様において想定した距離よりも短くなると、受光信号レベルが高くなりすぎる過入光状態に陥ることがある。
【0003】
受光器側が過入光状態になると、受光アンプの内部に配置されているカップリングコンデンサが過充電になり、増幅器で増幅された受光信号が正極性で出力される場合には、その受光信号の出力に伴って信号レベルが負極正側に現われるアンダーシュートが発生する。アンダーシュートが発生すると、投光器,受光器間における平行移動特性や角度特性に穴ができたり、各光軸間の干渉防止性能が低下したり、スキャン周期の制約から光軸数の最大値を低下させる必要が生じたりする。
【0004】
特許文献1は、斯様な問題を解決するために、受光器側が過入光状態になったことを検出すると、受光アンプの増幅率を低下させるように調整する構成を採用したものである。
【0005】
【特許文献1】
特許第3353016号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、特許文献1では、受光アンプの出力信号の波高値に基づいて過入光状態を検出しているため、検出感度が敏感になり過ぎる傾向があり、以下のような問題が発生する場合があった。例えば、振動等により投光器または受光器が僅かに変位しただけでも過入光状態を検出することがあり、本来は正常な受光状態であるにもかかわらず受光アンプの増幅率を過剰に低下させ、投光信号が受光不能となり遮光状態を検出してしまう。
【0007】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、受光器側の過入光状態の解消を、より良好に行なうことができる多光軸光電スイッチを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1記載の多光軸光電スイッチは、複数の投光手段を備えてなる投光器と、
この投光器に対向して配置され、前記複数の投光手段によって投光された光を夫々受光する複数の受光手段と、これら複数の受光手段に対応して設けられ、各受光手段より出力される受光信号を増幅する増幅手段とを備えてなる受光器と、
前記複数の投光手段及び受光手段に順次投受光動作を行なわせ、各投光手段及び受光手段において形成される光軸をスキャンするように制御する投受光制御手段とを備えて構成されるものにおいて、
前記受光器は、
各投光素子の投光タイミング後に、前記増幅手段より出力される対応する受光信号のレベルが逆極性側に変化したことを検出する過入光検出手段と、
この過入光検出手段による検出状態に基づいて、受光信号が逆極性側で示す信号レベルが小さくなるように、前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を変化させることで調整動作を行なう調整手段とを備えることを特徴とする。
【0009】
即ち、受光信号レベルが過剰に高くなることで増幅手段より出力される増幅信号の極性が正規の出力状態の逆方向に現われる場合、過入光検出手段は、その波形状態を直接検出する。従って、従来のように受光信号が正規の極性を示す期間のレベルに基づいて過入光状態を検出するものとは異なり、受光信号における逆極性レベルの発生を確実且つ安定的に検出することが可能となる。そして、調整手段は、受光信号の逆極性レベルが小さくなるように調整動作を行なうので、受光レベル調整を良好に行なうことができる。
【0010】
この場合、請求項2に記載したように、前記調整手段を、受光信号のレベルが逆極性側に変化している時間を計測し、その計測時間に基づいて調整動作を行なうように構成すると良い。即ち、前記計測時間の長さは、受光信号の逆極性レベルの大きさとの相関性があるので、計測時間の長さに応じて調整動作における調整量を設定すれば、受光レベル調整をより良好に行なうことができる。
【0011】
また、以上の場合において、請求項3に記載したように、前記過入光検出手段を、前記増幅手段より出力される受光信号のレベルを、対応する投光素子の投光タイミングから所定時間の経過後に基準レベルと比較することで過入光状態の検出を行なうように構成し、
前記調整手段を、前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を記憶させる記憶手段を備え、当該記憶手段に記憶されているデータに基づいて前記増幅率または投光出力レベルの少なくとも一方を変化させることで調整動作を行ない、前記調整動作の終了後に、前記記憶手段に記憶されているデータを更新するように構成すると良い。
【0012】
斯様に構成すれば、過入光検出手段は、増幅手段より出力される受光信号のレベルに基づいて過入光状態の検出を確実に行なうことができる。そして、調整手段は、調整周期毎に、記憶手段に記憶されているデータに基づいて調整動作を行なうので、受光信号に発生するオーバーシュートまたはアンダーシュートが極力小さくなるように、増幅手段の増幅率または投光出力レベルを調整することができる。
【0013】
更に、請求項4に記載したように、前記調整手段を、前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を、全受光素子または全投光素子につき一括して可変可能に構成するのが好ましい。斯様に構成すれば、各光軸毎に調整を行なうものに比較して、構成をより簡単にすることができると共に、調整に要する時間を短縮することも可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】
(第1実施例)
以下、本発明の第1の実施例について図1乃至図5を参照して説明する。多光軸光電スイッチの電気的構成の概略を示す図1において、投光器1は、複数の投光素子としての5個のLED2a乃至2eを備え、マイクロコンピュータなどからなる投光制御回路(投受光制御手段)3からの投光信号Spに基いて投光回路4により順次LED2a乃至2eを発光させる。これに対して、受光器5には、投光器1のLED2a乃至2eに対応するように5個の受光部6a乃至6eが設けられている。
【0015】
各受光部6a乃至6eは、直流電源端子VCとアースとの間に接続された受光素子としてのフォトダイオード7及びバイアス抵抗8の直列回路と、それらの共通接続端子に入力端子を接続した前置増幅回路(増幅手段)9とからなり、フォトダイオード7は入射される光を光電変換し、変換された微弱な電気信号を前置増幅回路9により増幅して受光信号として出力するようになっている。
【0016】
FET10a乃至10eは、各受光部6a乃至6eに対応して設けられ、そのドレイン・ソース端子間は抵抗8に並列に接続されており、ゲートは積分回路11a乃至11eの出力端子に接続されている。各積分回路11a乃至11eの入力端子は夫々AND回路12a乃至12eの出力端子に接続されている。
【0017】
積分回路11a乃至11eは、AND回路12a乃至12eを介して与えられる制御パルス信号Sxを積分してその積分値としての積分電圧を夫々に接続されたFET10a乃至10eのゲートに与えるようになっている。そして、FET10a乃至10eは、ゲートに与えられた積分電圧の値に応じてドレイン・ソース間の導通状態を変化させ、これにより並列に接続されたバイアス抵抗8との合成抵抗値を変化させるようになっている。
【0018】
選択回路13は、各受光部6a乃至6eに対応して設けられた5個のアナログスイッチ14a乃至14eと5個のDタイプのフリップフロップ(以下、DFFと称す)15a乃至15eから構成される。また、受光回路(投受光制御手段)16は、受光制御回路17,主増幅回路18,比較器19及び出力回路21から構成される。受光制御回路(過入光検出手段)17はCPU,ROM,RAMなどを有するマイクロコンピュータで構成され、後述する検出プログラムが予め記憶されている。
【0019】
そして、前記受光部6a乃至6eにおける前置増幅回路9の出力端子は、夫々アナログスイッチ14a乃至14eを介して主増幅回路18の入力端子に接続され、主増幅回路18の出力端子は比較器19の入力端子及び受光制御回路17の入力端子Bに接続されている。その入力端子Bは、受光制御回路17の内部に配置されているA/D変換器20の入力端子に接続されている。
【0020】
この場合、比較器19には比較基準電圧として検出レベルに相当する電圧V1が設定されている。そして、比較器19は、与えられた増幅出力Voが電圧V1を超えるときに、「H」レベルの検出信号Saを受光制御回路17の入力端子Aに与える。また、A/D変換器20は、入力されるアナログ信号を両極性で受け入れて、デジタル信号を例えば反転オフセット2進形式で出力する。
【0021】
AND回路12a乃至12eの各一方の入力端子は、夫々アナログスイッチ14a乃至14eのゲートに接続されると共に、DFF15a乃至15eの出力端子Q1乃至Q5に接続されており、各他方の入力端子は受光制御回路17の出力端子Cに接続されている。DFF15aのデータ入力端子Dは受光制御回路17の出力端子Dに接続されており、DFF15b乃至15eのデータ入力端子Dは夫々DFF15a乃至15dの出力端子Q1乃至Q4に接続されている。また、DFF15a乃至15eのクロック入力端子CKは受光制御回路17の出力端子Eに接続されており、クロック信号Sckが与えられる。
【0022】
受光制御回路17の入力端子Fは外部入力端子P1に接続されており、その端子P1には投光制御回路3の出力端子から同期信号線を介して同期信号としての投光信号Spが与えられる。また、受光制御回路17の出力端子Gは出力回路21を介して端子Rに接続されており、この端子Rを介して図示しない負荷回路側に検出信号Szを与える。
尚、FET10,積分回路11,AND回路12,選択回路13,受光制御回路17は、調整手段21を構成している。
【0023】
次に、本実施例の作用について、図2乃至図5をも参照して説明する。まず、(1)検出動作について説明するが、基本的な動作で特許文献1と同様のものについてはその明細書中の段落番号を明示して説明を簡略化し、異なる部分のみを詳細に説明する。尚、図2は、受光制御回路17によって行なわれる検出動作及び感度調整動作(検出プログラム)の内容を示すフローチャートであり、図3は、図2のステップS3である検出ルーチンの内容を示すフローチャートである。
【0024】
また、図4は、受光制御回路17の入力端子Fに投光制御回路3より投光信号Sp(スタートパルスSp0とこれに続く5個の同期パルスSp1乃至Sp5とからなる)が与えられた場合に、受光制御回路17が出力する信号のタイミング、並びにそれに伴うDFF15の信号出力タイミングを示すタイミングチャートである。受光制御回路17は、投光信号Spが与えられると検出プログラムの実行を開始すると共に、出力端子D,EよりデータパルスSd,クロックパルスSckを出力する。
【0025】
まず、特許文献1の段落
【0033】〜
【0037】までの動作は同様であるから、その概略を説明する。投光器1は、投光信号Spに基いて投光制御回路3によりLED2a乃至2eを順次発光させる。受光器5は、5個のLED2a乃至2eの夫々に対応する受光部6a乃至6eにより順次受光し、フォトダイオード7により光電変換した信号を前置増幅回路9に入力する。前置増幅回路9はその電気信号を増幅し受光信号として出力する。
【0026】
受光制御回路17は、スタートパルスSp0が与えられて検出プログラムをスタートすると、出力端子DからデータパルスSdを1個出力する。続いて、出力端子Eから1個目のクロックパルスSck1を出力し、DFF15a乃至15e夫々のクロック入力端子CKに与える。すると、DFF15aのみが出力端子Q1から「H」レベルの信号を出力し、アナログスイッチ14aは、受光部6aからの受光信号を有効化して主増幅回路18に出力する。
【0027】
受光制御回路17は、以上のように受光部6aの1チャンネル目の光軸の選択を行い(ステップS1)、その受光信号を主増幅回路18に入力する(ステップS2)。そして、受光制御回路17は、入力端子Fに与えられる同期パルスSp1乃至Sp5に応じて出力端子EからクロックパルスSck2乃至Sck6を順次出力し、2チャンネル目以降の光軸に対応する受光部6b乃至6eの選択動作を行う。
【0028】
そして、主増幅回路18は、受光部6aから入力された受光信号を増幅し、その増幅出力Voを比較器19及び受光制御回路17の入力端子Bに与える。前述のように、比較器19には検出レベルに相当する基準電圧V1が設定されている。そして、増幅出力Voのレベルがそれらの基準電圧V1を超えるときに比較器19は「H」レベルの受光検出信号Saを出力する。
【0029】
また、受光制御回路17は、受光信号の検出タイミングに続くアンダーシュート検出期間において、A/D変換器20の出力データを参照して基準データと比較する。そして、その出力データが基準データを負側に超えているか否かによって受光信号波形にアンダーシュート(即ち、過入光状態)が発生しているか否かを判断する(図5(b)参照)。尚、図5は、(a)のような波形の投光信号が出力された場合に過入光状態となり、(b)受光信号波形にアンダーシュートが発生した場合を示す。
【0030】
即ち、受光信号の振幅レベルは正極性で現われるのが正規の出力状態であるのに対して、その振幅レベルが負極正側に振れることでアンダーシュートが発生することになる。
ここで、特許文献1の記述に整合させるのであれば、アンダーシュートが発生している場合は「過入光検出信号Sb出力あり」に対応する。
【0031】
以降の動作も、基本的には特許文献1の段落
【0039】〜
【0051】と同様である。即ち、受光制御回路17は検出ルーチンS3に移行し、図3に示す検出ルーチンのプログラムを実行する。受光制御回路17は、ステップR1にて比較器19から受光検出信号Saが入力されているか否かを判断し、入力されていればステップR2に移行する。受光制御回路17は、5光軸分に相当する1スキャンにわたり受光検出信号Saが入力されていれば(「YES」)ステップR3に移行し、受光判定信号を出力する。一方、受光制御回路17は、ステップR1或いはR2で「NO」と判断すると、ステップR4に移行して受光判定信号の出力を停止する。
【0032】
そして、受光制御回路17は、検出ルーチンS3が終了すると、再び図2に示す検出プログラムのステップS4に移行し、過入光検出信号Sbが入力されているか判断する。適切な入光状態であれば(「NO」)ステップS5に移行する。ステップS5で検出動作を行った光軸が最終チャンネルでなければ(「NO」)ステップS6に進み、次のチャンネルに相当する光軸の受光部6bを選択する。
【0033】
この場合、受光制御回路17は、クロックパルスSck2を出力する。すると、DFF15aは出力端子Q1に「L」レベルの信号を出力し、DFF15bは出力端子Q2に「H」レベルの信号を出力する。この結果、アナログスイッチ14bのゲートに「H」レベルの信号が与えられ、受光部6bから出力される受光信号が有効化されて主増幅回路18に入力される。受光制御回路17は、前述同様検出プログラムに従い検出動作を行う。そして、受光部6eからの受光信号が主増幅回路18に入力されてそのレベルを判定した後ステップS5で「YES」と判断すると、1スキャンの検出動作が終了する。
【0034】
(2)検出動作中における自動感度調整動作
次に、選択回路13により有効化した各受光部6a乃至6eから出力される受光信号のレベルが高く、各受光部6a乃至6eに対する入光量が過大である場合(過入光状態)の感度調整動作について説明する。この場合、A/D変換器20より出力されるデータが負側のしきい値を超えるので、受光制御回路17は、前述の検出動作を行った後ステップS4にて「YES」と判断し、ステップS7に移行する。
【0035】
すると、受光制御回路17は、直ちに出力端子Cから制御パルス信号Sxを出力する。この時、DFF15aの出力端子Q1からはまだ「H」レベルの信号が出力されており、積分回路11aの入力端子にはAND回路12aを介して「H」レベルの制御パルス信号Sxが入力される。積分回路11aは、制御パルス信号Sxに応じた積分電圧をFET10aのゲートに与える。オフ状態であったFET10aは、ゲートにバイアスが与えられることでドレイン・ソース端子間の導通状態を変化させる。
【0036】
すると、FET10aは、導通状態が変化して等価抵抗値が小さくなるので、バイアス抵抗8との並列回路における合成抵抗値も小さくなる。これにより、フォトダイオード7に対するバイアス電圧が低下し、受光感度が低下する。
【0037】
以下同様にして、受光制御回路17は、上述の動作を繰り返すことで、受光部6aからの受光信号のレベルがオーバーシュートを発生させる過入光レベルを越えないように、略一定の出力頻度で制御パルス信号Sxを出力する定常状態になる。これにより、受光制御回路17は、例えば、受光部6a乃至6eの夫々に対応した出力頻度で制御パルス信号Sxを出力するようになり、その受光感度を過入光レベル未満の略一定のレベルに自動的に制御する。
【0038】
即ち、本実施例では、受光信号に伴うアンダーシュートの発生を検出する方式のみが相違しており、その発生に伴って受光側の感度、前置増幅回路9の増幅率を調整する動作は特許文献1と同様に行なわれる。
【0039】
以上のように本実施例によれば、多光軸光電スイッチの受光器5に配置された受光制御回路17は、各LED2a乃至2eの投光タイミング後に、前置増幅回路9より出力される対応する受光信号にアンダーシュートが発生したことを検出する。具体的には、前置増幅回路9より出力される受光信号のレベルを、対応するLED2の投光タイミングから所定時間の経過後に基準データと比較して検出を行なう。そして、調整手段21は、その検出状態に基づいて、受光信号に発生するアンダーシュートのレベルが小さくなるように、前置増幅回路9の増幅率を変化させることで調整動作を行なうようにした。
【0040】
従って、従来のように受光信号が正規の極性を示す期間のレベルに基づいて過入光状態を検出するものとは異なり、受光信号における逆極性レベルの発生を確実且つ安定的に検出することが可能となる。そして、調整手段21は、受光信号の逆極性レベルが小さくなるように調整動作を行なうので、受光レベル調整を良好に行なって過入光状態を解消することができる。
【0041】
また、このようにアンダーシュートの発生を所定のタイミングで直接検出する方式によれば、従来のように受光信号が正規の極性を示す期間のレベルに基づいて過入光状態を検出する方式に比較して、前置増幅回路9に増幅可能範囲が狭い、増幅率が小さい安価なオペアンプを用いても容易に検出を行なうことが可能となる。
【0042】
(第2実施例)
図6及び図7は本発明の第2実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。図6は、第1実施例における図1相当図の要部のみを示すものである。第2実施例では、前置増幅回路9とアナログスイッチ14との間に、受光信号検出用の比較器31とアンダーシュート検出用の比較器(過入光検出手段)32との2つが配置されており、その段階で信号は二系統に分かれている。
【0043】
そして、比較器31の出力信号DS1は、アナログスイッチ14(及び主増幅回路18)を介して受光制御回路17の入力端子Aに与えられる。従って、第1実施例の比較器19は削除されている。また、比較器32の出力信号DS2は、アナログスイッチ33(及び主増幅回路18と同等の図示しない増幅回路)を介して受光制御回路17の入力端子Bに与えられる。アナログスイッチ14,アナログスイッチ33(過入光検出手段)は、第1実施例と同様にDFF15の出力信号で開閉制御される。
【0044】
尚、比較器32はアンダーシュート検出用であるから、入力信号レベルが負側のしきい値を超えると、ハイレベルの信号が出力されるように入出力電圧範囲が調整されている。
また、具体的には図示しないが、第1実施例において、受光制御回路17の入力端子B側に配置されていたA/D変換器20も削除されている。
【0045】
次に、第2実施例の作用について図7をも参照して説明する。図7(a),(b)は、第1実施例における図5(a),(b)と同様である。受光制御回路17は、各光軸に対応するアナログスイッチ14,33が開くタイミングにおいて、比較器31からの出力信号DS1の出力状態により受光検出を行なうと共に、比較器32からの出力信号DS2の出力状態によってアンダーシュート検出を行なう。即ち、受光制御回路17は、入力端子Bの信号レベルが「H」であるか否かによってアンダーシュートを検出する。
以上のように構成された第2実施例による場合も、第1実施例と同様の効果が得られる。
【0046】
(第3実施例)
図8及び図9は本発明の第3実施例を示すものであり、第2実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。電気的構成の要部を示す図8において、第3実施例では、第2実施例の構成からアナログスイッチ33が削除されている。そして、2つの比較器31,32の出力端子は、OR回路34の入力端子に夫々接続されており、そのOR回路34の出力端子は、アナログスイッチ14の入力側に接続されている。その他の構成は第1実施例などと同様である。
【0047】
次に、第3実施例の作用について図9をも参照して説明する。OR回路34は、比較器31,32より出力される受光信号とアンダーシュート検出信号との何れか一方が「H」レベルになると、出力端子が「H」レベルになる。従って、図9(c)に示すように、受光信号にアンダーシュートが発生している場合は、正規の受光信号の出力期間とアンダーシュートの発生期間とを合わせた期間だけ「H」レベルを示す信号が出力される。
【0048】
即ち、比較器31,32より出力される受光信号とアンダーシュート検出信号とはOR回路34により共通化され、信号DS1として受光制御回路17の入力端子Aに出力される。そして、受光制御回路17は、入力端子Aを参照し、信号DS1について受光検出期間とアンダーシュート検出期間との夫々の期間において夫々の検出を行なうようになっている。
以上のように構成された第3実施例による場合も、第1又は第2実施例と同様の効果が得られる。
【0049】
(第4実施例)
図10及び図11は本発明の第4実施例を示すものであり、第2実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。電気的構成の要部を示す図10において、第4実施例では、第2実施例における比較器32が比較器(過入光検出手段)35に置き換わっている。
【0050】
そして、第4実施例では、通常動作時とは異なる調整動作モードにおいて、図11(a)に示すように、投光器1側からは、各光軸につき、物体検出等のために出力される主投光信号に続いて、アンダーシュート検出用に副投光信号が出力されるように構成されている。その副投光信号のレベルは主投光信号よりも低いレベルに設定されている。
【0051】
比較器35の比較用基準値は、副投光信号を検出するために比較器31よりも低いレベルに設定されている(図11(b)参照)。この場合、受光信号にアンダーシュートが発生していない場合、またはアンダーシュートが発生していてもその振幅が小さければ、図11(b)に示すように、受光器側で比較器35により副投光信号の成分が検出される。
【0052】
これに対して、図11(c)に示すように、アンダーシュートの発生レベルが大きくなると、レベルが小さい副投光信号成分はアンダーシュートによって吸収されてしまい、比較器35によっては検出されなくなる。
そこで、受光制御回路17は、調整動作モードにおいて、受光信号中に副投光信号成分が観測される状態になるように感度調整を行なう。
【0053】
以上のように構成された第4実施例によれば、投光器1は、各光軸につき主投光信号に続いて副投光信号を出力し、受光制御回路17は、受光信号中に副投光信号成分が観測される状態になるように感度調整を行なうようにしたので、アンダーシュートの影響を低減するように調整を行なうことができる。
【0054】
(第5実施例)
図12は本発明の第5実施例を示すものであり、第4実施例と異なる部分についてのみ説明する。第5実施例では、第4実施例とは異なり、副投光信号としてパルス幅が主投光信号よりも狭いものを用いる。斯様な場合でも、受光器側においてアンダーシュートの影響を受けた場合の受光信号波形における副投光信号成分の現れ方は第4実施例と同様となるから、同様の方式で副投光信号成分を検出して調整を行なうことができる。
【0055】
(第6実施例)
図13乃至図15は本発明の第6実施例を示すものであり、第1実施例と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ説明する。電気的構成の要部を示す図13において、第6実施例では、第1実施例の構成からFET10,積分回路11,AND回路12が削除されている。そして、受光制御回路41は、出力端子Cより制御パルス信号Sxに代えて制御データDxを出力するようになっており、その制御データDxは、投光器42の投光回路43に与えられている。また、受光制御回路41は内部にメモリ(記憶手段)44を備えており、投光回路43はD/A変換器45を内蔵している。
【0056】
図14は、投光回路43の内部構成を示すものである。LED2のアノードは駆動電源VCCに接続されており、カソードは、LED駆動用のNPNトランジスタ46のコレクタに接続されている。そして、各トランジスタ46のベースは、トランジスタ46を駆動するシフトレジスタ47の各出力端子に夫々接続されており、エミッタは、NチャネルMOSFET48のドレインに共通に接続されている。そして、FET48のソースはNチャネルMOSFET49のドレインに接続されており、FET49のソースはグランドに接続されている。
【0057】
上段のFET48のゲートには投光パルス信号が与えられ、FET48は、各LED2が発光するタイミングに応じてONするようになっている。そして、下段のFET49のゲートには、D/A変換器45によって変換出力されるアナログ信号が与えられている。
即ち、第1実施例では、アンダーシュートの発生を検出すると受光側の受光感度(前置増幅器9の増幅率)を調整したが、第6実施例では、FET49のオン抵抗を変化させることで投光回路43による投光出力レベルを調整するようになっている。尚、受光制御回路41,D/A変換器45,FET49は、調整手段50を構成している。
【0058】
次に、第6実施例の作用について図15をも参照して説明する。図15は、第1実施例における図2相当図である。受光制御回路41は、第1実施例とは異なり、A/D変換器20の出力データによりアンダーシュートを検出すると、その出力データに応じた値の制御データDxを投光回路43に出力するようになっている。
【0059】
即ち、ステップS1の実行後は、メモリ44より読み出した制御データDxを投光回路43に出力する(ステップS10)。メモリ44には、予め初期データが記憶されている。この時、その制御データDxはD/A変換器45によってD/A変換され、そのアナログ信号電圧がFET49のゲートに与えられる。すると、FET49はそのゲート電圧に応じたオン抵抗を示すようになるので、投光タイミングにおいて上段のFET48がオンすると共に、何れかのトランジスタ46がオンして対応するLED2が発光する際にそのLED2に流れる電流は、FET49のオン抵抗に応じて設定される。
【0060】
そして、ステップS4に代わるステップS11において、受光制御回路41は、A/D変換器20の出力データが過入光レベル(アンダーシュート発生レベル)か否かよりを判断し、過入光レベルであれば(「YES」)、ステップS10でメモリ44より読み出した制御データDxを、その過入光レベルの度合い(判定しきい値との差)に応じて減少させ、投光回路43に出力する(ステップS12)。
【0061】
すると、投光回路43においてはFET49のゲート電圧が低下するので、オン抵抗は上昇し、LED2が駆動される場合に流れる電流値は低下して、投光出力レベルは低下する。従って、アンダーシュートの発生は抑制される方向に調整される。
【0062】
それから、受光制御回路41は変更した制御データDxをメモリ44に書き込んで更新すると(ステップS13)、ステップS5に移行する。また、ステップS11において、過入光レベルでない場合も(「NO」) ステップS5に移行する。
【0063】
以上のように第6実施例によれば、調整手段50は、メモリ44に記憶されている制御データDxに基づいて投光回路42の投光出力レベルを一括して変化させることで調整動作を行ない、前記調整動作の終了後に、メモリ44に記憶されている制御データDxを更新するようにした。
【0064】
従って、調整周期毎に、メモリ44に記憶されているデータに基づいて調整動作が行われるので、受光信号に発生するアンダーシュートが極力小さくなるように、より短い時間で投光出力レベルを調整することができる。そして、各光軸毎に調整を行なうものに比較して構成をより簡単にすることができると共に、調整に要する時間を短縮することも可能となる。
【0065】
(第7実施例)
図16は本発明の第7実施例を示すものであり、第6実施例と異なる部分についてのみ説明する。第7実施例では、第6実施例におけるNPNトランジスタ46がPNPトランジスタ51に置き換わっている。そして、LED2のカソードは、トランジスタ51のエミッタに接続されており、トランジスタ51のコレクタはグランドに接続されている。
【0066】
また、FET49は削除されており、FET48に代えて、PチャネルMOSFET52が配置されている。そのFET52のドレインには各LED2のアノードが共通に接続されており、ソースにはD/A変換器45によって変換出力されるアナログ信号が与えられている。そして、FET52のゲートには、投光パルス信号がNOT回路53を介して与えられている。尚、受光制御回路41,D/A変換器45,FET52は、調整手段54を構成している。
【0067】
以上のように構成された第7実施例によれば、各投光タイミングにおいてFET52がオンする場合に、そのFET52を介してLEDのアノードに印加される電圧は、D/A変換器45を介して出力されるアナログ電圧となる。従って、第7実施例では、第6実施例におけるLED2の駆動電流に代わって、LED2の駆動電圧を変化させることになり、第6実施例と同様の効果が得られる。
【0068】
本発明は上記し且つ図面に記載した実施例にのみ限定されるものではなく、次のような変形又は拡張が可能である。
正規の受光信号極性が負である場合は、オーバーシュートを検出するように構成すれば良い。
第1実施例の構成において、第6実施例のように前置増幅回路9の増幅率をデジタル制御するように構成しても良い。
調整手段を、受光信号のレベルが逆極性側に変化している時間、即ちアンダーシュート発生時間を計測し、その計測時間に基づいて調整動作を行なうように構成しても良い。即ち、前記計測時間の長さは受光信号の逆極性レベルの大きさとの相関性があるので、計測時間の長さに応じて調整動作における調整量を設定すれば、受光レベル調整を良好に行なうことができる。
受光信号のレベルが逆極性側に変化していることを検出するには、その他、例えば、前置増幅回路9の出力信号レベルのゼロクロス点通過を検出することで、行っても良い。
第4又は第5実施例において副投光信号を用いたが、副投光信号を主投光信号と同程度の振幅レベルとパルス幅とを有する信号としても良い。その場合、受光側は、比較器31のみを設け、1つの光軸に付きそれら2つの信号が連続して受光される場合に正常と判定し、アンダーシュートの発生により副投光信号の受光レベルが低下して、最初の主投光信号のみが受光された場合に過入光状態の発生を判定するように構成すれば良い。
【0069】
【発明の効果】
請求項1記載の多光軸光電スイッチによれば、過入光検出手段は、各投光素子の投光タイミング後に、増幅手段より出力される対応する受光信号のレベルが逆極性側に変化したことを検出し、調整手段は、過入光検出手段による検出状態に基づいて、受光信号が逆極性側で示す信号レベルが小さくなるように、増幅手段の増幅率と投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を変化させることで調整動作を行なう。
【0070】
従って、従来のように受光信号が正規の極性を示す期間のレベルに基づいて過入光状態を検出するものとは異なり、受光信号における逆極性レベルの発生を確実且つ安定的に検出することが可能となる。そして、調整手段は、受光信号の逆極性レベルが小さくなるように調整動作を行なうので、受光レベル調整を良好に行なって過入光状態を解消することができる。
【0071】
請求項2記載の多光軸光電スイッチによれば、調整手段は、受光信号のレベルが逆極性側に変化している時間を計測し、その計測時間に基づいて調整動作を行なうので受光レベル調整をより良好に行なうことができる。
【0072】
請求項3記載の多光軸光電スイッチによれば、過入光検出手段は、受光信号のレベルを、対応する投光素子の投光タイミングから所定時間の経過後に基準レベルと比較して過入光状態の検出を行なう。そして、調整手段は、記憶手段に記憶されているデータに基づいて増幅率または投光出力レベルの少なくとも一方を変化させて調整動作を行ない、調整動作の終了後に記憶手段に記憶されているデータを更新する。従って、増幅手段より出力される受光信号のレベルに基づいて過入光状態の検出を確実に行なうことができる。また、調整周期毎に、受光信号に発生するオーバーシュートまたはアンダーシュートが極力小さくなるように、増幅手段の増幅率または投光出力レベルを調整することができる。
【0073】
請求項4記載の多光軸光電スイッチによれば、調整手段は、増幅手段の増幅率と、投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を、全受光素子または全投光素子につき一括して可変可能とするので、各光軸毎に調整を行なうものに比較して、構成をより簡単にすることができると共に、調整に要する時間を短縮することも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例であり、多光軸光電スイッチの電気的構成の概略を示す図
【図2】受光制御回路によって行なわれる検出動作及び感度調整動作(検出プログラム)の内容を示すフローチャート
【図3】図2のステップS3である検出ルーチンの内容を示すフローチャート
【図4】受光制御回路の入力端子Fに投光信号Spが与えられた場合における各信号のタイミングチャート
【図5】(b)は、(a)のような波形の投光信号が出力された場合に過入光状態となり、受光信号波形にアンダーシュートが発生した場合の波形を示す図
【図6】本発明の第2実施例であり、図1相当図の要部のみを示す図
【図7】各信号のタイミングチャート
【図8】本発明の第3実施例を示す図6相当図
【図9】図7相当図
【図10】本発明の第4実施例を示す図6相当図
【図11】図7相当図
【図12】本発明の第5実施例を示す図11相当図
【図13】本発明の第6実施例を示す図1相当図
【図14】投光回路内部の電気的構成を示す図
【図15】図2相当図
【図16】本発明の第7実施例を示す図14相当図
【符号の説明】
1は投光器、2はLED(投光素子)、3は投光制御回路(投受光制御手段)、5は受光器、7はフォトダイオード(受光素子)、9は前置増幅回路(増幅手段)、16は受光回路(投受光制御手段)、17は受光制御回路(過入光検出手段)、21は調整手段、32は比較器(過入光検出手段)、33はアナログスイッチ(過入光検出手段)、35は比較器(過入光検出手段)、44はメモリ(記憶手段)、50,54は調整手段を示す。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a multi-optical axis photoelectric converter which causes a plurality of light emitting means and light receiving means to sequentially perform light emitting and receiving operations, and detects an object by scanning an optical axis formed by each light emitting means and light receiving means. About the switch.
[0002]
[Prior art]
In general, a multi-optical axis photoelectric switch is often provided with an amplifier (amplifier) for amplifying a light receiving signal in order to improve light receiving sensitivity on the light receiving side. In that case, if the installation interval between the light emitter and the light receiver becomes shorter than the distance assumed in the specification, for example, the light receiving signal level may become too high, resulting in an excessively incident light state.
[0003]
When the light receiving side becomes over-illuminated, the coupling capacitor disposed inside the light receiving amplifier becomes overcharged, and when the light receiving signal amplified by the amplifier is output with a positive polarity, the light receiving signal An undershoot in which the signal level appears on the negative positive side with the output occurs. When an undershoot occurs, holes are created in the parallel movement characteristics and angle characteristics between the projector and the receiver, the interference prevention performance between each optical axis is reduced, and the maximum number of optical axes is reduced due to the limitation of the scan cycle. Or need to be done.
[0004]
In order to solve such a problem, Patent Literature 1 employs a configuration in which, when it is detected that the light receiving side is in an excessive light incident state, the gain is adjusted so as to reduce the amplification factor of the light receiving amplifier.
[0005]
[Patent Document 1]
Japanese Patent No. 3353016
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, in Patent Document 1, since the excessively incident light state is detected based on the peak value of the output signal of the light receiving amplifier, the detection sensitivity tends to be too sensitive, and the following problem may occur. there were. For example, even if the light emitter or light receiver is slightly displaced due to vibration or the like, an over-light state may be detected, and the amplification factor of the light-receiving amplifier is excessively reduced despite the originally normal light-receiving state, The light emission signal cannot be received and the light blocking state is detected.
[0007]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a multi-optical axis photoelectric switch capable of better eliminating the excessive light incident state on the light receiving device side.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a multi-optical axis photoelectric switch according to claim 1 includes: a light projector including a plurality of light projecting means;
A plurality of light receiving means arranged to face the light projector and respectively receiving the light emitted by the plurality of light emitting means; provided in correspondence with the plurality of light receiving means; output from each light receiving means; A light receiver comprising amplification means for amplifying a light reception signal,
A plurality of light projecting means and light receiving means for sequentially performing light emitting and receiving operations, and a light emitting and receiving control means for controlling to scan an optical axis formed by each light emitting means and light receiving means. At
The light receiver,
Excessive light detecting means for detecting that the level of the corresponding light receiving signal output from the amplifying means has changed to the opposite polarity side after the light emitting timing of each light emitting element,
Based on the detection state of the excessively incident light detecting means, at least one of the amplification factor of the amplifying means and the light emitting output level of the light projecting device side is adjusted so that the signal level of the light receiving signal on the opposite polarity side is reduced. An adjusting means for performing an adjusting operation by changing the adjusting means.
[0009]
That is, when the polarity of the amplified signal output from the amplifying unit appears in the opposite direction to the normal output state due to the excessively high light receiving signal level, the excessively incident light detecting unit directly detects the waveform state. Therefore, unlike the conventional method in which the over-light state is detected based on the level of the period during which the received light signal has the normal polarity, it is possible to reliably and stably detect the occurrence of the reverse polarity level in the received light signal. It becomes possible. Then, since the adjusting means performs the adjusting operation so that the reverse polarity level of the light receiving signal is reduced, the light receiving level can be adjusted favorably.
[0010]
In this case, it is preferable that the adjusting unit measures the time during which the level of the received light signal changes to the opposite polarity side and performs the adjusting operation based on the measured time. . That is, since the length of the measurement time has a correlation with the magnitude of the reverse polarity level of the received light signal, if the adjustment amount in the adjustment operation is set in accordance with the length of the measurement time, the light reception level adjustment can be improved. Can be performed.
[0011]
Further, in the above case, as described in claim 3, the excessive light detecting means is configured to change the level of the light receiving signal output from the amplifying means for a predetermined time from the light emitting timing of the corresponding light emitting element. Configured to detect an excessive light incident state by comparing with a reference level after elapse,
The adjustment means includes a storage means for storing at least one of an amplification factor of the amplification means and a light emission output level on the side of the projector, and the amplification factor or the projection rate is determined based on data stored in the storage means. Preferably, the adjustment operation is performed by changing at least one of the light output levels, and after the adjustment operation is completed, the data stored in the storage unit is updated.
[0012]
According to this structure, the excessively incident light detecting means can reliably detect the excessively incident light state based on the level of the light receiving signal output from the amplifying means. Since the adjusting means performs the adjusting operation based on the data stored in the storing means at each adjusting cycle, the amplification factor of the amplifying means is set so that the overshoot or undershoot generated in the light receiving signal is minimized. Alternatively, the light output level can be adjusted.
[0013]
Further, as set forth in claim 4, the adjusting means adjusts at least one of the amplification factor of the amplifying means and the light emission output level on the light emitter side in a lump for all light receiving elements or all light emitting elements. It is preferable to make it variable. With such a configuration, the configuration can be simplified and the time required for the adjustment can be reduced as compared with a configuration in which adjustment is performed for each optical axis.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 1 schematically showing an electrical configuration of a multi-optical axis photoelectric switch, a light projector 1 includes five LEDs 2a to 2e as a plurality of light emitting elements, and a light emitting control circuit (a light emitting / receiving control) including a microcomputer or the like. (Means) The light emitting circuit 4 causes the LEDs 2a to 2e to emit light sequentially based on the light emitting signal Sp from 3). On the other hand, the light receiver 5 is provided with five light receivers 6 a to 6 e corresponding to the LEDs 2 a to 2 e of the light projector 1.
[0015]
Each of the light receiving units 6a to 6e includes a series circuit of a photodiode 7 and a bias resistor 8 serving as a light receiving element connected between a DC power supply terminal VC and the ground, and a front end having an input terminal connected to a common connection terminal thereof. An amplifier circuit (amplifying means) 9 is provided. The photodiode 7 photoelectrically converts incident light, amplifies the converted weak electric signal by the preamplifier circuit 9, and outputs the amplified light signal as a light receiving signal. I have.
[0016]
The FETs 10a to 10e are provided corresponding to the respective light receiving units 6a to 6e, and the drain and source terminals thereof are connected in parallel with the resistor 8, and the gates are connected to the output terminals of the integration circuits 11a to 11e. . The input terminals of the integration circuits 11a to 11e are connected to the output terminals of the AND circuits 12a to 12e, respectively.
[0017]
The integration circuits 11a to 11e integrate the control pulse signal Sx supplied via the AND circuits 12a to 12e, and apply an integration voltage as an integrated value to the gates of the FETs 10a to 10e connected to the integration circuits. . Then, the FETs 10a to 10e change the conduction state between the drain and the source according to the value of the integrated voltage given to the gate, thereby changing the combined resistance value with the bias resistor 8 connected in parallel. Has become.
[0018]
The selection circuit 13 includes five analog switches 14a to 14e provided corresponding to the light receiving units 6a to 6e and five D-type flip-flops (hereinafter, referred to as DFFs) 15a to 15e. The light receiving circuit (light emitting / receiving control means) 16 includes a light receiving control circuit 17, a main amplifier circuit 18, a comparator 19, and an output circuit 21. The light receiving control circuit (excessive light detecting means) 17 is constituted by a microcomputer having a CPU, a ROM, a RAM, and the like, and stores a detection program described later in advance.
[0019]
Output terminals of the preamplifier circuit 9 in the light receiving units 6a to 6e are connected to input terminals of a main amplifier circuit 18 via analog switches 14a to 14e, respectively, and an output terminal of the main amplifier circuit 18 is connected to a comparator 19a. And the input terminal B of the light receiving control circuit 17. The input terminal B is connected to the input terminal of the A / D converter 20 arranged inside the light receiving control circuit 17.
[0020]
In this case, a voltage V1 corresponding to the detection level is set in the comparator 19 as a comparison reference voltage. Then, the comparator 19 supplies the “H” level detection signal Sa to the input terminal A of the light receiving control circuit 17 when the applied amplified output Vo exceeds the voltage V1. Also, the A / D converter 20 receives an input analog signal in both polarities and outputs a digital signal in, for example, an inverted offset binary format.
[0021]
One input terminal of each of the AND circuits 12a to 12e is connected to the gates of the analog switches 14a to 14e and connected to the output terminals Q1 to Q5 of the DFFs 15a to 15e, respectively. It is connected to the output terminal C of the circuit 17. The data input terminal D of the DFF 15a is connected to the output terminal D of the light receiving control circuit 17, and the data input terminals D of the DFFs 15b to 15e are connected to the output terminals Q1 to Q4 of the DFFs 15a to 15d, respectively. The clock input terminals CK of the DFFs 15a to 15e are connected to the output terminal E of the light receiving control circuit 17, and are supplied with the clock signal Sck.
[0022]
An input terminal F of the light receiving control circuit 17 is connected to an external input terminal P1, and a light emitting signal Sp as a synchronizing signal is given to the terminal P1 from an output terminal of the light emitting control circuit 3 via a synchronizing signal line. . The output terminal G of the light receiving control circuit 17 is connected to a terminal R via an output circuit 21 and supplies a detection signal Sz to a load circuit (not shown) via the terminal R.
Note that the FET 10, the integrating circuit 11, the AND circuit 12, the selecting circuit 13, and the light receiving control circuit 17 constitute an adjusting unit 21.
[0023]
Next, the operation of the present embodiment will be described with reference to FIGS. First, (1) the detection operation will be described. For the basic operation similar to that of Patent Document 1, the description will be simplified by clearly indicating the paragraph numbers in the specification, and only different parts will be described in detail. . FIG. 2 is a flowchart showing the contents of the detection operation and the sensitivity adjustment operation (detection program) performed by the light receiving control circuit 17, and FIG. 3 is a flowchart showing the contents of the detection routine which is step S3 in FIG. is there.
[0024]
FIG. 4 shows a case in which a light projection signal Sp (consisting of a start pulse Sp0 and five subsequent synchronization pulses Sp1 to Sp5) is supplied to the input terminal F of the light reception control circuit 17 from the light projection control circuit 3. 3 is a timing chart showing the timing of the signal output from the light receiving control circuit 17 and the accompanying signal output timing of the DFF 15. The light receiving control circuit 17 starts execution of the detection program when the light emitting signal Sp is given, and outputs a data pulse Sd and a clock pulse Sck from the output terminals D and E.
[0025]
First, the paragraph of Patent Document 1
[0033] ~
Since the operations up to this point are the same, an outline thereof will be described. The light projector 1 causes the light emission control circuit 3 to sequentially emit the LEDs 2a to 2e based on the light emission signal Sp. The light receiver 5 sequentially receives light by the light receiving units 6a to 6e corresponding to the five LEDs 2a to 2e, and inputs a signal photoelectrically converted by the photodiode 7 to the preamplifier circuit 9. The preamplifier circuit 9 amplifies the electric signal and outputs it as a light receiving signal.
[0026]
When receiving the start pulse Sp0 and starting the detection program, the light receiving control circuit 17 outputs one data pulse Sd from the output terminal D. Subsequently, the first clock pulse Sck1 is output from the output terminal E and supplied to the clock input terminals CK of the DFFs 15a to 15e. Then, only the DFF 15a outputs an “H” level signal from the output terminal Q1, and the analog switch 14a validates the light receiving signal from the light receiving section 6a and outputs it to the main amplifier circuit 18.
[0027]
The light receiving control circuit 17 selects the optical axis of the first channel of the light receiving section 6a as described above (step S1), and inputs the received light signal to the main amplifier circuit 18 (step S2). The light receiving control circuit 17 sequentially outputs the clock pulses Sck2 to Sck6 from the output terminal E in response to the synchronization pulses Sp1 to Sp5 given to the input terminal F, and receives the light receiving sections 6b to 6c corresponding to the optical axes of the second and subsequent channels. The selection operation of 6e is performed.
[0028]
Then, the main amplifier circuit 18 amplifies the light receiving signal input from the light receiving unit 6a and supplies the amplified output Vo to the comparator 19 and the input terminal B of the light receiving control circuit 17. As described above, the reference voltage V1 corresponding to the detection level is set in the comparator 19. When the level of the amplified output Vo exceeds the reference voltage V1, the comparator 19 outputs an "H" level light reception detection signal Sa.
[0029]
Further, the light receiving control circuit 17 refers to the output data of the A / D converter 20 and compares it with the reference data in an undershoot detection period following the detection timing of the light receiving signal. Then, it is determined whether an undershoot (that is, an excessive light incident state) has occurred in the light receiving signal waveform based on whether the output data exceeds the reference data on the negative side (see FIG. 5B). . Note that FIG. 5 shows a case where an excessive light incident state occurs when a light emission signal having a waveform as shown in FIG. 5A is output, and an undershoot occurs in a light reception signal waveform.
[0030]
In other words, while the amplitude level of the light receiving signal appears to have a positive polarity in the normal output state, the amplitude level swings to the positive side of the negative electrode, thereby causing an undershoot.
Here, in order to match the description of Patent Document 1, when an undershoot has occurred, it corresponds to "excessive light detection signal Sb is output".
[0031]
Subsequent operations are also basically the same as in the paragraph of Patent Document 1.
[0039]
The operation is the same as described above. That is, the light receiving control circuit 17 proceeds to the detection routine S3, and executes the detection routine program shown in FIG. The light receiving control circuit 17 determines whether or not the light receiving detection signal Sa is input from the comparator 19 in step R1, and if it is input, the process proceeds to step R2. If the light reception detection signal Sa has been input over one scan corresponding to five optical axes ("YES"), the light reception control circuit 17 proceeds to step R3 and outputs a light reception determination signal. On the other hand, when the light receiving control circuit 17 determines “NO” in step R1 or R2, the process proceeds to step R4 and stops outputting the light receiving determination signal.
[0032]
When the detection routine S3 ends, the light reception control circuit 17 proceeds to step S4 of the detection program shown in FIG. 2 again, and determines whether the excessive light detection signal Sb is input. If the light is properly input ("NO"), the process proceeds to step S5. If the optical axis for which the detection operation was performed in step S5 is not the last channel ("NO"), the process proceeds to step S6, and the light receiving unit 6b of the optical axis corresponding to the next channel is selected.
[0033]
In this case, the light receiving control circuit 17 outputs the clock pulse Sck2. Then, the DFF 15a outputs an “L” level signal to the output terminal Q1, and the DFF 15b outputs an “H” level signal to the output terminal Q2. As a result, an “H” level signal is given to the gate of the analog switch 14b, the light receiving signal output from the light receiving section 6b is validated and input to the main amplifier circuit 18. The light receiving control circuit 17 performs a detection operation in accordance with a detection program as described above. After the light receiving signal from the light receiving unit 6e is input to the main amplifier circuit 18 and its level is determined, if "YES" is determined in step S5, the detection operation for one scan is completed.
[0034]
(2) Automatic sensitivity adjustment operation during detection operation
Next, the sensitivity adjustment in the case where the level of the light receiving signal output from each of the light receiving sections 6a to 6e activated by the selection circuit 13 is high and the amount of light incident on each of the light receiving sections 6a to 6e is excessive (excessive light state). The operation will be described. In this case, since the data output from the A / D converter 20 exceeds the threshold value on the negative side, the light receiving control circuit 17 determines “YES” in step S4 after performing the above-described detection operation, Move to step S7.
[0035]
Then, the light receiving control circuit 17 immediately outputs the control pulse signal Sx from the output terminal C. At this time, the "H" level signal is still output from the output terminal Q1 of the DFF 15a, and the "H" level control pulse signal Sx is input to the input terminal of the integration circuit 11a via the AND circuit 12a. . The integration circuit 11a supplies an integration voltage according to the control pulse signal Sx to the gate of the FET 10a. The FET 10a in the off state changes the conduction state between the drain and source terminals by applying a bias to the gate.
[0036]
Then, since the conduction state of the FET 10a changes and the equivalent resistance value decreases, the combined resistance value in the parallel circuit with the bias resistor 8 also decreases. As a result, the bias voltage for the photodiode 7 decreases, and the light receiving sensitivity decreases.
[0037]
In the same manner, the light receiving control circuit 17 repeats the above-described operation at a substantially constant output frequency so that the level of the light receiving signal from the light receiving unit 6a does not exceed the excessively incident light level that causes overshoot. It becomes a steady state in which the control pulse signal Sx is output. Thereby, the light receiving control circuit 17 outputs the control pulse signal Sx at an output frequency corresponding to each of the light receiving units 6a to 6e, for example, and reduces the light receiving sensitivity to a substantially constant level less than the excessively incident light level. Control automatically.
[0038]
That is, the present embodiment differs from the first embodiment only in the method of detecting the occurrence of undershoot due to the received light signal. This is performed in the same manner as in Reference 1.
[0039]
As described above, according to the present embodiment, the light receiving control circuit 17 disposed in the light receiver 5 of the multi-optical axis photoelectric switch is configured to control the light output from the preamplifier circuit 9 after the light emission timing of each LED 2a to 2e. An undershoot is detected in the received light signal. Specifically, the level of the light receiving signal output from the preamplifier circuit 9 is detected by comparing it with reference data after a lapse of a predetermined time from the light emission timing of the corresponding LED 2. Then, the adjusting means 21 performs the adjusting operation by changing the amplification factor of the preamplifier circuit 9 based on the detection state so as to reduce the level of the undershoot generated in the light receiving signal.
[0040]
Therefore, unlike the conventional method in which the over-light state is detected based on the level of the period during which the received light signal has the normal polarity, it is possible to reliably and stably detect the occurrence of the reverse polarity level in the received light signal. It becomes possible. Since the adjusting means 21 performs the adjusting operation so that the reverse polarity level of the light receiving signal is reduced, the light receiving level can be satisfactorily adjusted to eliminate the excessive light incident state.
[0041]
Further, according to the method of directly detecting the occurrence of undershoot at a predetermined timing as described above, compared with the conventional method of detecting an excessively incident light state based on the level of a period in which a received light signal has a normal polarity. Thus, even if an inexpensive operational amplifier having a narrow amplification range and a small amplification factor is used as the preamplifier circuit 9, detection can be easily performed.
[0042]
(Second embodiment)
FIGS. 6 and 7 show a second embodiment of the present invention. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Only the different parts will be described below. FIG. 6 shows only a main part of the first embodiment corresponding to FIG. In the second embodiment, a comparator 31 for detecting a received light signal and a comparator (excess light detection means) 32 for detecting an undershoot are arranged between the preamplifier circuit 9 and the analog switch 14. At this stage, the signal is split into two systems.
[0043]
Then, the output signal DS1 of the comparator 31 is supplied to the input terminal A of the light receiving control circuit 17 via the analog switch 14 (and the main amplifier circuit 18). Therefore, the comparator 19 of the first embodiment is omitted. The output signal DS2 of the comparator 32 is supplied to the input terminal B of the light receiving control circuit 17 via the analog switch 33 (and an amplifier circuit (not shown) equivalent to the main amplifier circuit 18). The opening and closing of the analog switch 14 and the analog switch 33 (excess light detection means) are controlled by the output signal of the DFF 15 as in the first embodiment.
[0044]
Since the comparator 32 is for undershoot detection, the input / output voltage range is adjusted so that a high-level signal is output when the input signal level exceeds a negative threshold value.
Although not specifically shown, the A / D converter 20 arranged on the input terminal B side of the light receiving control circuit 17 in the first embodiment is also omitted.
[0045]
Next, the operation of the second embodiment will be described with reference to FIG. FIGS. 7A and 7B are the same as FIGS. 5A and 5B in the first embodiment. The light reception control circuit 17 detects light reception based on the output state of the output signal DS1 from the comparator 31 and outputs the output signal DS2 from the comparator 32 when the analog switches 14 and 33 corresponding to each optical axis open. Undershoot detection is performed depending on the state. That is, the light receiving control circuit 17 detects an undershoot based on whether the signal level of the input terminal B is “H”.
According to the second embodiment configured as described above, the same effects as in the first embodiment can be obtained.
[0046]
(Third embodiment)
FIGS. 8 and 9 show a third embodiment of the present invention. The same parts as those in the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Hereinafter, only different parts will be described. In FIG. 8 showing a main part of the electrical configuration, in the third embodiment, the analog switch 33 is deleted from the configuration of the second embodiment. The output terminals of the two comparators 31 and 32 are respectively connected to the input terminals of the OR circuit 34, and the output terminal of the OR circuit 34 is connected to the input side of the analog switch 14. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0047]
Next, the operation of the third embodiment will be described with reference to FIG. When one of the light receiving signal output from the comparators 31 and 32 and the undershoot detection signal goes to the “H” level, the output terminal of the OR circuit goes to the “H” level. Therefore, as shown in FIG. 9C, when an undershoot occurs in the received light signal, the “H” level is indicated only for a period obtained by combining the output period of the normal received light signal and the undershoot occurrence period. A signal is output.
[0048]
That is, the light receiving signal output from the comparators 31 and 32 and the undershoot detection signal are shared by the OR circuit 34 and output to the input terminal A of the light receiving control circuit 17 as the signal DS1. Then, the light reception control circuit 17 refers to the input terminal A, and performs each detection of the signal DS1 in each of the light reception detection period and the undershoot detection period.
Also in the case of the third embodiment configured as described above, the same effects as in the first or second embodiment can be obtained.
[0049]
(Fourth embodiment)
FIGS. 10 and 11 show a fourth embodiment of the present invention. The same parts as those of the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Only different parts will be described below. In FIG. 10 showing the main part of the electrical configuration, in the fourth embodiment, the comparator 32 in the second embodiment is replaced by a comparator (excessive light detection means) 35.
[0050]
In the fourth embodiment, in the adjustment operation mode different from that during the normal operation, as shown in FIG. 11A, the main light output from the projector 1 for each optical axis for object detection and the like is provided. Following the light emission signal, a sub light emission signal is output for undershoot detection. The level of the sub light emission signal is set to a level lower than that of the main light emission signal.
[0051]
The reference value for comparison of the comparator 35 is set to a lower level than that of the comparator 31 to detect the sub-light emission signal (see FIG. 11B). In this case, if undershoot does not occur in the received light signal, or if the undershoot occurs but its amplitude is small, as shown in FIG. A component of the optical signal is detected.
[0052]
On the other hand, as shown in FIG. 11C, when the level of occurrence of undershoot increases, the sub-light emission signal component having a low level is absorbed by the undershoot and is not detected by the comparator 35.
Therefore, in the adjustment operation mode, the light reception control circuit 17 performs sensitivity adjustment so that a sub-light emission signal component is observed in the light reception signal.
[0053]
According to the fourth embodiment configured as described above, the light projector 1 outputs a sub-light emission signal following a main light emission signal for each optical axis, and the light reception control circuit 17 outputs a sub-light emission signal in the light reception signal. Since the sensitivity is adjusted so that the optical signal component can be observed, the adjustment can be performed so as to reduce the influence of the undershoot.
[0054]
(Fifth embodiment)
FIG. 12 shows a fifth embodiment of the present invention, and only parts different from the fourth embodiment will be described. In the fifth embodiment, unlike the fourth embodiment, a sub-light emission signal having a pulse width narrower than that of the main light emission signal is used. Even in such a case, the appearance of the sub-light emission signal component in the light-receiving signal waveform when the light-receiving device is affected by the undershoot is the same as in the fourth embodiment. Adjustments can be made by detecting the components.
[0055]
(Sixth embodiment)
13 to 15 show a sixth embodiment of the present invention. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Only different parts will be described below. In FIG. 13 showing a main part of the electrical configuration, in the sixth embodiment, the FET 10, the integration circuit 11, and the AND circuit 12 are deleted from the configuration of the first embodiment. The light receiving control circuit 41 outputs control data Dx instead of the control pulse signal Sx from the output terminal C, and the control data Dx is given to the light projecting circuit 43 of the light projector 42. The light receiving control circuit 41 has a memory (storage means) 44 therein, and the light projecting circuit 43 has a D / A converter 45 built therein.
[0056]
FIG. 14 shows the internal configuration of the light emitting circuit 43. The anode of the LED 2 is connected to the drive power supply VCC, and the cathode is connected to the collector of the NPN transistor 46 for driving the LED. The base of each transistor 46 is connected to each output terminal of a shift register 47 that drives the transistor 46, and the emitter is commonly connected to the drain of an N-channel MOSFET 48. The source of the FET 48 is connected to the drain of the N-channel MOSFET 49, and the source of the FET 49 is connected to the ground.
[0057]
A light emission pulse signal is given to the gate of the upper FET 48, and the FET 48 is turned on in accordance with the timing at which each LED 2 emits light. An analog signal converted and output by the D / A converter 45 is provided to the gate of the lower FET 49.
That is, in the first embodiment, when the occurrence of undershoot is detected, the light-receiving sensitivity (amplification factor of the preamplifier 9) on the light-receiving side is adjusted. In the sixth embodiment, the light-receiving sensitivity is changed by changing the on-resistance of the FET 49. The light output level of the optical circuit 43 is adjusted. The light receiving control circuit 41, the D / A converter 45, and the FET 49 constitute an adjusting unit 50.
[0058]
Next, the operation of the sixth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 15 is a diagram corresponding to FIG. 2 in the first embodiment. Unlike the first embodiment, the light receiving control circuit 41 outputs control data Dx of a value corresponding to the output data to the light projecting circuit 43 when detecting an undershoot based on the output data of the A / D converter 20. It has become.
[0059]
That is, after execution of step S1, the control data Dx read from the memory 44 is output to the light emitting circuit 43 (step S10). Initial data is stored in the memory 44 in advance. At this time, the control data Dx is D / A converted by the D / A converter 45, and the analog signal voltage is given to the gate of the FET 49. Then, since the FET 49 exhibits an on-resistance corresponding to the gate voltage, the upper FET 48 is turned on at the light projection timing, and when one of the transistors 46 is turned on and the corresponding LED 2 emits light, the LED 2 is turned on. Is set according to the on-resistance of the FET 49.
[0060]
Then, in step S11 instead of step S4, the light receiving control circuit 41 determines whether or not the output data of the A / D converter 20 is the excessive light level (undershoot occurrence level). If it is ("YES"), the control data Dx read from the memory 44 in step S10 is reduced according to the degree of the excessive light level (difference from the determination threshold value) and output to the light emitting circuit 43 ( Step S12).
[0061]
Then, in the light emitting circuit 43, the gate voltage of the FET 49 decreases, so that the on-resistance increases, the current value flowing when the LED 2 is driven decreases, and the light emitting output level decreases. Therefore, the occurrence of undershoot is adjusted in a direction to be suppressed.
[0062]
Then, the light receiving control circuit 41 writes the updated control data Dx in the memory 44 and updates it (step S13), and then proceeds to step S5. Also, in step S11, if the light level is not excessive (“NO”), the process proceeds to step S5.
[0063]
As described above, according to the sixth embodiment, the adjusting unit 50 performs the adjusting operation by changing the light emitting output level of the light emitting circuit 42 collectively based on the control data Dx stored in the memory 44. The control data Dx stored in the memory 44 is updated after the adjustment operation is completed.
[0064]
Therefore, the adjustment operation is performed based on the data stored in the memory 44 in each adjustment cycle, so that the light emission output level is adjusted in a shorter time so that the undershoot generated in the light receiving signal is minimized. be able to. In addition, the configuration can be made simpler than that in which adjustment is performed for each optical axis, and the time required for adjustment can be shortened.
[0065]
(Seventh embodiment)
FIG. 16 shows a seventh embodiment of the present invention. Only parts different from the sixth embodiment will be described. In the seventh embodiment, the NPN transistor 46 in the sixth embodiment is replaced with a PNP transistor 51. The cathode of the LED 2 is connected to the emitter of the transistor 51, and the collector of the transistor 51 is connected to the ground.
[0066]
Further, the FET 49 is omitted, and a P-channel MOSFET 52 is provided instead of the FET 48. The anode of each LED 2 is commonly connected to the drain of the FET 52, and the analog signal converted and output by the D / A converter 45 is given to the source. The light emission pulse signal is supplied to the gate of the FET 52 via the NOT circuit 53. The light receiving control circuit 41, the D / A converter 45, and the FET 52 constitute an adjusting unit 54.
[0067]
According to the seventh embodiment configured as described above, when the FET 52 is turned on at each light projection timing, the voltage applied to the anode of the LED via the FET 52 is transmitted via the D / A converter 45. And output analog voltage. Therefore, in the seventh embodiment, the driving voltage of the LED 2 is changed instead of the driving current of the LED 2 in the sixth embodiment, and the same effect as in the sixth embodiment can be obtained.
[0068]
The present invention is not limited to the embodiment described above and shown in the drawings, and the following modifications or extensions are possible.
When the normal light receiving signal polarity is negative, it may be configured to detect overshoot.
In the configuration of the first embodiment, the amplification factor of the preamplifier circuit 9 may be digitally controlled as in the sixth embodiment.
The adjusting means may be configured to measure a time during which the level of the light receiving signal changes to the opposite polarity side, that is, an undershoot occurrence time, and to perform the adjusting operation based on the measured time. That is, since the length of the measurement time has a correlation with the magnitude of the reverse polarity level of the received light signal, if the adjustment amount in the adjustment operation is set according to the length of the measurement time, the light reception level can be adjusted well. be able to.
To detect that the level of the light receiving signal has changed to the opposite polarity side, for example, the detection may be performed by detecting the passage of the output signal level of the preamplifier circuit 9 through the zero cross point.
Although the sub-projection signal is used in the fourth or fifth embodiment, the sub-projection signal may be a signal having the same amplitude level and pulse width as the main projection signal. In this case, on the light receiving side, only the comparator 31 is provided, and it is determined that the signal is normal when the two signals are continuously received on one optical axis. Is reduced, and when only the first main light emission signal is received, the occurrence of the excessive light incident state may be determined.
[0069]
【The invention's effect】
According to the multi-optical axis photoelectric switch of the first aspect, the excess light detection means changes the level of the corresponding light reception signal output from the amplification means to the opposite polarity side after the light emission timing of each light emission element. The adjusting means detects the amplification factor of the amplifying means and the light emitting output level on the light emitting side based on the detection state of the excessive light detecting means so that the signal level of the received light signal on the opposite polarity side becomes small. The adjustment operation is performed by changing at least one of the above.
[0070]
Therefore, unlike the conventional method in which the over-light state is detected based on the level of the period during which the received light signal has the normal polarity, it is possible to reliably and stably detect the occurrence of the reverse polarity level in the received light signal. It becomes possible. Then, since the adjusting means performs the adjusting operation so that the reverse polarity level of the light receiving signal becomes small, the light receiving level can be satisfactorily adjusted to eliminate the excessive light incident state.
[0071]
According to the multi-optical axis photoelectric switch of the second aspect, the adjusting means measures the time during which the level of the light receiving signal changes to the opposite polarity side, and performs the adjusting operation based on the measured time. Can be performed more favorably.
[0072]
According to the multi-optical axis photoelectric switch of the third aspect, the excessive light detecting means compares the level of the light receiving signal with the reference level after a predetermined time has elapsed from the light emitting timing of the corresponding light emitting element. The light state is detected. Then, the adjusting means performs the adjusting operation by changing at least one of the amplification factor or the light emission output level based on the data stored in the storing means, and after the adjusting operation is completed, the data stored in the storing means is changed. Update. Therefore, it is possible to reliably detect the excessive light incident state based on the level of the light receiving signal output from the amplifying unit. Further, the amplification factor or the light output level of the amplifying means can be adjusted so that the overshoot or undershoot generated in the light receiving signal is minimized in each adjustment cycle.
[0073]
According to the multi-optical axis photoelectric switch of the fourth aspect, the adjusting means collectively sets at least one of the amplification factor of the amplifying means and the light emitting output level of the light emitting device side for all light receiving elements or all light emitting elements. Since it is variable, the configuration can be made simpler and the time required for the adjustment can be shortened as compared with the case where the adjustment is performed for each optical axis.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an outline of an electric configuration of a multi-optical axis photoelectric switch according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing the contents of a detection operation and a sensitivity adjustment operation (detection program) performed by a light receiving control circuit.
FIG. 3 is a flowchart showing the contents of a detection routine which is step S3 in FIG. 2;
FIG. 4 is a timing chart of each signal when a light projection signal Sp is given to an input terminal F of a light receiving control circuit.
FIG. 5B is a diagram showing a waveform when an incident light state occurs when a light emission signal having a waveform as shown in FIG.
FIG. 6 is a second embodiment of the present invention, showing only essential parts of FIG.
FIG. 7 is a timing chart of each signal.
FIG. 8 is a view corresponding to FIG. 6, showing a third embodiment of the present invention.
FIG. 9 is a diagram corresponding to FIG. 7;
FIG. 10 is a view corresponding to FIG. 6, showing a fourth embodiment of the present invention;
FIG. 11 is a diagram corresponding to FIG. 7;
FIG. 12 is a view corresponding to FIG. 11, showing a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 13 is a view corresponding to FIG. 1, showing a sixth embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a diagram showing an electrical configuration inside a light emitting circuit;
FIG. 15 is a diagram corresponding to FIG. 2;
FIG. 16 is a view corresponding to FIG. 14, showing a seventh embodiment of the present invention;
[Explanation of symbols]
1 is a light emitter, 2 is an LED (light emitting element), 3 is a light emitting control circuit (light emitting and receiving control means), 5 is a light receiver, 7 is a photodiode (light receiving element), 9 is a preamplifier circuit (amplifying means). , 16 is a light receiving circuit (light emitting / receiving control means), 17 is a light receiving control circuit (excessive light detecting means), 21 is an adjusting means, 32 is a comparator (excessive light detecting means), 33 is an analog switch (excessive light detecting means). Detecting means), 35 is a comparator (excessive light detecting means), 44 is a memory (storage means), and 50 and 54 are adjusting means.

Claims (4)

複数の投光手段を備えてなる投光器と、
この投光器に対向して配置され、前記複数の投光手段によって投光された光を夫々受光する複数の受光手段と、これら複数の受光手段に対応して設けられ、各受光手段より出力される受光信号を増幅する増幅手段とを備えてなる受光器と、
前記複数の投光手段及び受光手段に順次投受光動作を行なわせ、各投光手段及び受光手段において形成される光軸をスキャンするように制御する投受光制御手段とを備えて構成される多光軸光電スイッチにおいて、
前記受光器は、
各投光素子の投光タイミング後に、前記増幅手段より出力される対応する受光信号のレベルが逆極性側に変化したことを検出する過入光検出手段と、
この過入光検出手段による検出状態に基づいて、受光信号が逆極性側で示す信号レベルが小さくなるように、前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を変化させることで調整動作を行なう調整手段とを備えることを特徴とする多光軸光電スイッチ。
A floodlight comprising a plurality of floodlighting means,
A plurality of light receiving means arranged to face the light projector and respectively receiving the light emitted by the plurality of light emitting means; provided in correspondence with the plurality of light receiving means; output from each light receiving means; A light receiver comprising amplification means for amplifying a light reception signal,
A plurality of light emitting / receiving control means for controlling the plurality of light emitting means and the light receiving means to sequentially perform light emitting / receiving operations and scanning an optical axis formed by each light emitting means and the light receiving means. In the optical axis photoelectric switch,
The light receiver,
Excessive light detecting means for detecting that the level of the corresponding light receiving signal output from the amplifying means has changed to the opposite polarity side after the light emitting timing of each light emitting element,
Based on the detection state of the excessively incident light detecting means, at least one of the amplification factor of the amplifying means and the light emitting output level of the light projecting device side is adjusted so that the signal level of the light receiving signal on the opposite polarity side is reduced. A multi-optical axis photoelectric switch, comprising: adjusting means for performing an adjusting operation by changing the optical axis.
前記調整手段は、受光信号のレベルが逆極性側に変化している時間を計測し、その計測時間に基づいて調整動作を行なうことを特徴とする請求項1記載の多光軸光電スイッチ。2. The multi-optical axis photoelectric switch according to claim 1, wherein said adjusting means measures a time when the level of the light receiving signal changes to the opposite polarity side, and performs an adjusting operation based on the measured time. 前記過入光検出手段は、前記増幅手段より出力される受光信号のレベルを、対応する投光素子の投光タイミングから所定時間の経過後に基準レベルと比較することで過入光状態の検出を行なうように構成され、
前記調整手段は、
前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を記憶させる記憶手段を備え、
当該記憶手段に記憶されているデータに基づいて前記増幅率または投光出力レベルの少なくとも一方を変化させることで調整動作を行ない、
前記調整動作の終了後に、前記記憶手段に記憶されているデータを更新することを特徴とする請求項1または2記載の多光軸光電スイッチ。
The excess light detection means detects the excessive light state by comparing the level of the light reception signal output from the amplifying means with a reference level after a lapse of a predetermined time from the light emission timing of the corresponding light emitting element. Configured to do,
The adjusting means,
A storage unit for storing at least one of an amplification factor of the amplification unit and a light emission output level on the light emitter side,
Performing an adjustment operation by changing at least one of the amplification factor or the light emission output level based on the data stored in the storage means;
3. The multi-optical axis photoelectric switch according to claim 1, wherein data stored in said storage means is updated after the adjustment operation is completed.
前記調整手段は、前記増幅手段の増幅率と、前記投光器側の投光出力レベルとの少なくとも一方を、全受光素子または全投光素子につき一括して可変可能に構成されていることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の多光軸光電スイッチ。The adjustment unit is characterized in that at least one of an amplification factor of the amplification unit and a light emission output level on the light emitter side is configured to be collectively variable for all light receiving elements or all light emission elements. The multi-optical axis photoelectric switch according to claim 1.
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