JP2004207645A - Method and device for reflow soldering - Google Patents
Method and device for reflow soldering Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004207645A JP2004207645A JP2002377710A JP2002377710A JP2004207645A JP 2004207645 A JP2004207645 A JP 2004207645A JP 2002377710 A JP2002377710 A JP 2002377710A JP 2002377710 A JP2002377710 A JP 2002377710A JP 2004207645 A JP2004207645 A JP 2004207645A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- heating
- unit
- temperature
- vacuum drying
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント回路基板に電子部品をはんだ付けするためのリフローはんだ付け方法およびはんだ付け装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、プリント回路基板に電子部品をはんだ付けするためのリフローはんだ付け方法としては、熱風や赤外線を熱源とし、プリント回路基板を予熱からリフロー本加熱にかけて全体に均一加熱する方法や、予熱の代わりに室温で真空乾燥処理した後、リフロー本加熱で回路基板全体を均一加熱する方法がある。
【0003】
図3は、室温で真空乾燥処理した後、リフロー本加熱で基板全体を均一加熱する従来の方法である(特許文献1参照)。図3において、はんだ付け装置は、プリント回路基板100、基板搬送部101、真空乾燥部102、真空ポンプ部103、リフロー加熱炉体部104、冷却部105から構成されている。
【0004】
このような構成において、真空乾燥部102内にプリント回路基板100全体を搬入した状態で密閉された容器内の空気が真空ポンプ部103で吸引され、真空状態に保持される。この間、室温状態で基板100上のクリームはんだは、均一に乾燥する。乾燥処理後、真空を破壊し、プリント回路基板100が取り出され、同プリント回路基板100は、リフロー加熱炉体部104に搬入される。前記リフロー加熱炉体部104では、プリント回路基板100全体をはんだ溶融温度以上まで均一に加熱し、図3(b)におけるAに示す温度プロファイル工程を経て、プリント回路基板100に電子部品がリフローはんだ付けされる。
【0005】
【特許文献1】
特開平3−207573号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来のリフローはんだ付け方法では、以下に示す問題を有している。
【0007】
まず、第1に、真空乾燥処理時間に60秒以上、リフロー加熱時間に60秒以上かけて処理するため、生産性が悪いという問題を有している。
【0008】
第2に、リフロー加熱部では、回路基板全体を均一に加熱するため、加熱温度に制約を受ける部品、例えば、CCDイメージセンサ、カメラモジュール、水晶発振子、光実装部品等の耐熱温度がはんだ融点温度以下である弱耐熱部品を同時に一括リフロー実装出来ないという問題を有している。
【0009】
第3に、真空乾燥工程とリフロー加熱工程を短時間で処理しようとすると、乾燥が不十分な状態で終了するため、クリームはんだ中に残留した溶剤、水分、気泡がリフロー加熱時の急激な加熱昇温によって突沸してしまい、はんだボールやチップ立ち等のはんだ付け不良が発生するという問題を有している。
【0010】
そこで本発明は、上記問題点に鑑み、クリームはんだ上に電子部品を搭載したプリント回路基板を、先ず事前に加熱真空処理でクリームはんだ中に残留した溶剤、水分、気泡を十分乾燥・脱泡することで、短時間にリフロー加熱接合処理する場合の急激な昇温に対しても、クリームはんだ中の溶剤、水分、気泡の突沸が抑制できる。このように、はんだボールやチップ立ちの発生原因を抑止、高品質を維持したまま、短時間でリフローはんだ付けが可能な、高生産性を実現できるはんだ付け方法および装置を提供するものである。更に、短時間で局所リフロー加熱接合処理を行うことにより、温度の制約を受ける部品の弱耐熱箇所を保護しつつ、リフローはんだ付けが出来るはんだ付け方法および装置を提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明リフローはんだ付け方法は、回路基板に対して、クリームはんだ中に含まれる気泡、溶剤成分、水分等を脱泡、乾燥する真空乾燥工程と、前記回路基板のはんだ付け部を部分的に、短時間、はんだ融点温度以上に加熱する加熱工程とを有し、前記加熱工程の前に、回路基板内の温度制限を受ける弱耐熱部品の耐熱温度以下の温度で前記真空乾燥工程を実行することを特徴とする。
【0012】
また、本発明リフローはんだ付け装置は、電子部品が搭載された回路基板を閉空間に閉じ込め、真空雰囲気で、かつ回路基板内の温度制限を受ける弱耐熱部品の耐熱温度以下の温度で、回路基板のクリームはんだ中に含まれる気泡、溶剤成分、水分等を脱泡、乾燥する真空乾燥部と、前記真空乾燥した回路基板を部分的に、クリームはんだの融点温度以上の温度で、短時間、加熱する加熱部と、前記回路基板を前記真空乾燥部に搬送する第1基板搬送部と、前記回路基板を前記真空乾燥部から前記加熱部に搬送する第2基板搬送部とを有することを特徴とする。
【0013】
本発明のリフローはんだ付け方法およびはんだ付け装置によれば、加熱状態で真空乾燥処理を行うことで、クリームはんだに含まれる溶剤、水分の飽和蒸気圧が高まり、乾燥が促進されて数十秒で必要な乾燥が完了する。また、乾燥工程では、一定の真空度を一定時間維持するので、クリームはんだが十分乾燥すると共に、ペーストに含まれる気泡も十分脱泡処理出来る。これにより、クリームはんだ中に残留した溶剤、水分、気泡がリフロー加熱時の急激な加熱昇温によって、突沸することに起因するはんだボールやチップ立ち等のはんだ付け不良の発生という問題を起すこと無く、十数秒以下という短時間で急激にリフロー加熱することができる。従って、真空乾燥工程もリフロー加熱工程も短時間で処理することが出来、高い生産性が実現できる。
【0014】
更に、リフロー加熱部では、部品はんだ付け部を急激に加熱することが出来るので、加熱温度に制約を受ける部品、例えば、CCDイメージセンサ、カメラモジュール、水晶発振子、光実装部品等の耐熱温度がはんだ融点温度以下である弱耐熱部品の弱耐熱部分を制約温度以下に抑えた状態でプリント回路基板内のはんだ付け部を同時にリフローはんだ付け可能にすることが出来る。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の代表的な一実施形態について説明する。
【0016】
(実施の形態1)
図1において、1は、プリント配線回路基板(以下、回路基板という。)、2は、回路基板1を搬送する第1基板搬送部、3は、回路基板1を加熱真空乾燥部4に搬送する第2基板搬送部、5は、回路基板1を局所リフロー加熱部6に搬送する第3基板搬送部、7は、局所リフロー加熱部6で加熱された回路基板1を冷却する冷却部である。前記加熱真空乾燥部4は、入口シャッター4a、出口シャッター4b、位置決めストッパー4c、真空回路部4d、真空吸引部4e、真空破壊部4f、赤外線ヒーター4gから構成されている。前記局所リフロー加熱部6は、レーザー発振部6a、ミラー部6bから構成されている。
【0017】
以上の様に構成されたリフローはんだ付け装置について、図1により説明する。電子部品を構成する一部分のパーツの耐熱温度がはんだ融点より低い部品で形成される弱耐熱部品を実装した回路基板1が、第1基板搬送部2に待機している。加熱真空乾燥部4の入口シャッター4aが基板搬入口を開けると、第1搬送部2に待機していた回路基板1が第2基板搬送部3に送られ、位置決めストッパー4cに回路基板1が到達すると、入口シャッター4aと出口シャッター4bが閉じ、加熱真空乾燥部4を密閉状態にする。密閉されたことを真空回路部4dが察知し、加熱真空乾燥部4内の空気を真空吸引部4eから吸い出す。この間赤外線ヒーター4gによって回路基板1が加熱される。所定の真空度到達と必要処理時間が経過したことを真空回路部4dで検出し、真空破壊部4fから加熱真空乾燥部4内に空気あるいは不活性ガスを注入して真空を破壊する。略大気圧にまで戻ったことを真空回路部4dで検出した後、出口シャッター4bが開き、回路基板1が、加熱真空乾燥部4から搬出され、第3基板搬送部5に受け渡される。回路基板1は、第3基板搬送部5により、局所リフロー加熱部6内の所定の位置に停止する。そして停止した回路基板1上の所定のはんだ付け位置をめがけて、レーザー発振部6aの発振器から所定時間、レーザー発振され、ミラー部6bによって所定の位置に照射される。
【0018】
例えば半導体レーザーを用いる場合、はんだ付け箇所1箇所に対し4Wのエネルギーを60ms照射し、はんだを溶融させれば、10秒間で166箇所のはんだ付け部を局所リフロー加熱できることになる。
【0019】
上記の様に、本実施の形態によれば、電子部品を構成する一部分のパーツの耐熱温度がはんだ融点より低い部品で形成される弱耐熱部品を実装した回路基板1を、先ずパーツの耐熱温度以下まで赤外線ヒーター4gで加熱しつつ、真空処理をすることで、クリームはんだに含まれる溶剤や水分の飽和蒸気圧が高くなり、より短時間に乾燥することになる。
【0020】
また、クリームはんだ中に含まれる気体も脱泡が促進される。こうして短時間の間にクリームはんだの十分な乾燥処理が終了できるので、レーザーによる局所リフロー加熱処理をした場合の急激な昇温に対しても、クリームはんだ中の溶剤、水分、気泡の突沸が防止でき、はんだボール、チップ立ちの発生を抑止し、高品質を維持したまま、数十秒という短時間で回路基板のリフローはんだ付けを終了することが可能となる。また、非常に短時間に局所加熱することで、弱耐熱部品の耐熱温度を守りつつ、リフローはんだ付けすることが可能となる。
【0021】
(実施の形態2)
上記実施の形態1では、局所リフロー加熱部にレーザーを加熱媒体とした構成を示したが、加熱媒体に光ビームを用いてもかまわない。図2にその一例を示す。なお、実施の形態1と同一の機能のものについては、同一の符号を用いて説明する。
【0022】
図2において、1は、回路基板、2は、第1基板搬送部、3は、第2基板搬送部、5は、第3基板搬送部、4は、加熱真空乾燥部、6は、局所リフロー加熱部、7は、冷却部である。前記加熱真空乾燥部4は、入口シャッター4a、出口シャッター4b、位置決めストッパー4c、真空回路部4d、真空吸引部4e、真空破壊部4f、赤外線ヒーター4gから構成されている。局所リフロー加熱部6は、光ビーム照射部6cから構成されている。
【0023】
以上の様に構成されたリフローはんだ付け装置について、図2により説明する。電子部品を構成する一部分のパーツの耐熱温度がはんだ融点より低い部品で形成される弱耐熱部品を実装した回路基板1が、第1基板搬送部2に待機している。加熱真空乾燥部4の入口シャッター4aが基板搬入口を開けると、第1搬送部2に待機していた回路基板1が第2基板搬送部3に送られ、位置決めストッパー4cに回路基板1が到達すると、入口シャッター4aと出口シャッター4bが閉じ、加熱真空乾燥部4を密閉状態にする。密閉されたことを真空回路部4dが察知し、加熱真空乾燥部4内の空気を真空吸引部4eから吸い出す。この間赤外線ヒーター4gによって回路基板1が加熱される。所定の真空度到達と必要処理時間が経過したことを真空回路部4dで検出し、真空破壊部4fから加熱真空乾燥部4内に空気あるいは不活性ガスを注入して真空を破壊する。略大気圧にまで戻ったことを真空回路部4dで検出した後、出口シャッター4bが開き、回路基板1が、加熱真空乾燥部4から搬出され、第3基板搬送部5に受け渡される。回路基板1は、第3基板搬送部5により局所リフロー加熱部6内の所定の位置に停止する。そして停止した回路基板1上の所定のはんだ付け位置をめがけて、光ビーム照射部6cから所定の時間、所定の位置に照射される。
【0024】
例えば、キセノンランプの集光による光ビームを用いる場合、直径略20mmのエリヤに存在するはんだ付け箇所をまとめて一括に局所照射し、はんだを溶融させれば、約10秒間ではんだ付け部を局所リフロー加熱できることになる。この照射エリア内に昇温させたくない部品が存在する時は、光ビームの直進性により照射エリア内であっても光を遮るマスクをかけることで部分的に温度上昇を抑えることが出来る。
【0025】
上記の様に、本実施の形態によれば、電子部品を構成する一部分のパーツの耐熱温度がはんだ融点より低い部品で形成される弱耐熱部品を実装した回路基板1を、先ずパーツの耐熱温度以下まで赤外線ヒーター4gで加熱しつつ、真空処理をすることで、クリームはんだに含まれる溶剤や水分の飽和蒸気圧が高くなり、より短時間に乾燥することになる。また、クリームはんだ中に含まれる気体も脱泡が促進される。こうして短時間の間にクリームはんだの十分な乾燥処理が終了できるので、光ビームで局所リフロー加熱処理した場合の急激な昇温に対しても、クリームはんだ中の溶剤、水分、気泡の突沸が防止でき、はんだボール、チップ立ちの発生を抑止し、高品質を維持したまま、数十秒という短時間で回路基板のリフローはんだ付けを終了することが可能となる。また、非常に短時間に局所加熱することで、弱耐熱部品の耐熱温度を守りつつ、リフローはんだ付けすることが可能となる。
【0026】
なお、上記実施の形態では、局所リフロー加熱部にレーザーや光ビームを加熱媒体として用いる構成を示したが、加熱媒体にノズルからの熱風を用いても同様の効果を発揮する。
【0027】
【発明の効果】
以上の様に、本発明のリフローはんだ付け方法およびはんだ付け装置によれば、クリームはんだ上に電子部品を搭載したプリント回路基板を、まず温度制約を受ける弱耐熱部品の耐熱温度以下で加熱真空処理し、乾燥・脱泡することで、はんだ融点温度以上で、短時間、加熱接合処理する場合の急激な昇温に対しても、クリームはんだ内の溶剤、水分の突沸を防止でき、はんだボール、チップ立ちの発生が抑止できる。更に、高品質を維持したまま、短時間でのリフローはんだ付けが可能となることで、弱耐熱部品への熱影響を極力少なくできると共に、生産性も向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施形態におけるリフローはんだ付け装置の概要説明図で、(a)は、その構成の上面説明図、(b)は、その構成の側面説明図、(c)は、同装置の温度プロファイル説明図である。
【図2】本発明の第二の実施形態におけるリフローはんだ付け装置の概要説明図で、(a)は、その構成の上面説明図、(b)は、その構成の側面説明図、(c)は、同装置の温度プロファイル説明図である。
【図3】従来のリフローはんだ付け装置の概要説明図で、(a)は、その構成の説明図、(b)は、同装置の温度プロファイル説明図である。
【符号の説明】
1 回路基板
2 第1基板搬送部
3 第2基板搬送部
4 真空乾燥部(加熱真空乾燥部)
4g 赤外線ヒーター
6 加熱部(局所リフロー加熱部)
6c 光ビーム照射部[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a reflow soldering method and a soldering apparatus for soldering electronic components to a printed circuit board.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as a reflow soldering method for soldering electronic components to a printed circuit board, hot air or infrared light is used as a heat source, and the printed circuit board is heated uniformly from preheating to reflow heating. After vacuum drying at room temperature, there is a method of uniformly heating the entire circuit board by reflow main heating.
[0003]
FIG. 3 shows a conventional method of uniformly heating the entire substrate by reflow main heating after vacuum drying at room temperature (see Patent Document 1). 3, the soldering apparatus includes a printed
[0004]
In such a configuration, the air in the sealed container is sucked by the
[0005]
[Patent Document 1]
JP-A-3-207573
[Problems to be solved by the invention]
However, the above-mentioned conventional reflow soldering method has the following problems.
[0007]
First, there is a problem that productivity is poor because the processing is performed over 60 seconds or more for the vacuum drying processing time and 60 seconds or more for the reflow heating time.
[0008]
Second, in the reflow heating section, the heat-resistant temperature of components that are limited by the heating temperature, such as CCD image sensors, camera modules, crystal oscillators, and optically mounted components, is determined by the solder melting point in order to uniformly heat the entire circuit board. There is a problem that weak heat-resistant components having a temperature lower than the temperature cannot be simultaneously packaged by reflow mounting.
[0009]
Third, if the vacuum drying step and the reflow heating step are performed in a short time, the solvent, moisture, and air bubbles remaining in the cream solder are rapidly heated during the reflow heating because the drying is completed in an insufficient state. There is a problem that bumping occurs due to an increase in temperature, and soldering defects such as solder balls and chip standing occur.
[0010]
In view of the above problems, the present invention sufficiently dries and defoams the solvent, moisture, and air bubbles remaining in the cream solder in advance by heating and vacuuming the printed circuit board on which the electronic components are mounted on the cream solder. Accordingly, even when the temperature is rapidly increased in the case of performing the reflow heating bonding process in a short time, bumping of the solvent, moisture, and bubbles in the cream solder can be suppressed. As described above, an object of the present invention is to provide a soldering method and apparatus capable of suppressing the cause of the occurrence of standing of a solder ball or a chip, performing reflow soldering in a short time while maintaining high quality, and realizing high productivity. It is another object of the present invention to provide a soldering method and apparatus capable of performing reflow soldering by performing local reflow heating and joining in a short time while protecting weak heat-resistant parts of a component that is restricted by temperature.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the reflow soldering method of the present invention, a circuit board, air bubbles contained in cream solder, solvent component, defoaming, etc., a vacuum drying step of drying, drying the circuit board, A heating step of heating the soldered portion partially, for a short time, to a temperature equal to or higher than the melting point of the solder; The method is characterized in that the vacuum drying step is performed.
[0012]
Further, the reflow soldering apparatus of the present invention encloses the circuit board on which the electronic components are mounted in a closed space, in a vacuum atmosphere, and at a temperature equal to or lower than the heat-resistant temperature of the weak heat-resistant component subjected to the temperature limitation in the circuit board. A vacuum drying unit for defoaming and drying air bubbles, solvent components, moisture, etc. contained in the cream solder, and partially heating the vacuum-dried circuit board at a temperature equal to or higher than the melting point of the cream solder for a short time. A heating unit, a first substrate transport unit that transports the circuit board to the vacuum drying unit, and a second substrate transport unit that transports the circuit board from the vacuum drying unit to the heating unit. I do.
[0013]
According to the reflow soldering method and the soldering apparatus of the present invention, by performing the vacuum drying process in a heated state, the solvent contained in the cream solder, the saturated vapor pressure of moisture is increased, and drying is promoted, and in several tens of seconds. The necessary drying is completed. In the drying step, a constant degree of vacuum is maintained for a predetermined time, so that the cream solder is sufficiently dried and bubbles contained in the paste can be sufficiently defoamed. This eliminates the problem of soldering defects such as solder balls and chip standing caused by bumping of the solvent, moisture, and bubbles remaining in the cream solder due to sudden heating by reflow heating. Rapid reflow heating can be performed in a short time of not more than ten seconds. Therefore, both the vacuum drying step and the reflow heating step can be performed in a short time, and high productivity can be realized.
[0014]
Furthermore, in the reflow heating section, the component soldering section can be heated rapidly, so that the parts that are limited by the heating temperature, such as CCD image sensors, camera modules, crystal oscillators, optical mounting parts, etc. The soldered portion in the printed circuit board can be simultaneously reflow-soldered while the weakly heat-resistant part of the weakly heat-resistant component having a temperature equal to or lower than the melting point of the solder is suppressed to a temperature equal to or lower than the restriction temperature.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a representative embodiment of the present invention will be described.
[0016]
(Embodiment 1)
In FIG. 1, 1 is a printed circuit board (hereinafter, referred to as a circuit board), 2 is a first board transfer section for transferring the
[0017]
The reflow soldering apparatus configured as described above will be described with reference to FIG. A
[0018]
For example, when a semiconductor laser is used, 4 W of energy is irradiated to one soldering location for 60 ms to melt the solder, and local reflow heating of 166 soldering locations can be performed in 10 seconds.
[0019]
As described above, according to the present embodiment, the
[0020]
In addition, degassing of gas contained in the cream solder is also promoted. In this way, the cream solder can be completely dried in a short period of time, preventing the solvent, moisture, and bubbles in the cream solder from bumping even if the temperature rises sharply due to local reflow heating by laser. It is possible to suppress the occurrence of standing of solder balls and chips, and to finish reflow soldering of the circuit board in a short time of several tens of seconds while maintaining high quality. Further, by performing local heating in a very short time, reflow soldering can be performed while maintaining the heat resistant temperature of the weak heat resistant component.
[0021]
(Embodiment 2)
In the first embodiment, the configuration is described in which the laser is used as the heating medium in the local reflow heating unit, but a light beam may be used as the heating medium. FIG. 2 shows an example. The components having the same functions as those of the first embodiment will be described using the same reference numerals.
[0022]
In FIG. 2, 1 is a circuit board, 2 is a first board transfer section, 3 is a second board transfer section, 5 is a third board transfer section, 4 is a heating vacuum drying section, and 6 is local reflow. The heating unit 7 is a cooling unit. The heating vacuum drying unit 4 includes an
[0023]
The reflow soldering apparatus configured as described above will be described with reference to FIG. A
[0024]
For example, when using a light beam condensed by a xenon lamp, the soldering points existing in the area having a diameter of about 20 mm are collectively locally irradiated, and if the solder is melted, the soldered part is locally irradiated in about 10 seconds. Reflow heating can be performed. When there is a component that the user does not want to raise the temperature in the irradiation area, the temperature rise can be partially suppressed by applying a mask that blocks light even in the irradiation area due to the straightness of the light beam.
[0025]
As described above, according to the present embodiment, the
[0026]
In the above-described embodiment, a configuration is described in which a laser or a light beam is used as a heating medium in the local reflow heating unit. However, the same effect is exerted by using hot air from a nozzle as the heating medium.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, according to the reflow soldering method and the soldering apparatus of the present invention, a printed circuit board on which electronic components are mounted on cream solder is first heated and vacuum-processed at a temperature not higher than the heat-resistant temperature of a weak heat-resistant component subject to temperature restrictions. By drying and defoaming, it is possible to prevent bumping of the solvent and moisture in the cream solder, even if the temperature rises sharply when heating and joining at a temperature equal to or higher than the melting point of the solder. The occurrence of chip standing can be suppressed. Furthermore, since reflow soldering can be performed in a short time while maintaining high quality, the thermal influence on weak heat-resistant parts can be reduced as much as possible, and productivity is improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic explanatory view of a reflow soldering apparatus according to a first embodiment of the present invention, in which (a) is a top explanatory view of the configuration, (b) is a side explanatory view of the configuration, and (c). FIG. 3 is an explanatory diagram of a temperature profile of the same device.
FIGS. 2A and 2B are schematic explanatory diagrams of a reflow soldering apparatus according to a second embodiment of the present invention, wherein FIG. 2A is a top explanatory diagram of the configuration, FIG. 2B is a lateral explanatory diagram of the configuration, and FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram of a temperature profile of the same device.
3A and 3B are schematic explanatory views of a conventional reflow soldering apparatus, in which FIG. 3A is an explanatory view of the configuration, and FIG. 3B is an explanatory view of a temperature profile of the same apparatus.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
4g
6c Light beam irradiation unit
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002377710A JP4200000B2 (en) | 2002-12-26 | 2002-12-26 | Reflow soldering method and soldering apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002377710A JP4200000B2 (en) | 2002-12-26 | 2002-12-26 | Reflow soldering method and soldering apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004207645A true JP2004207645A (en) | 2004-07-22 |
JP4200000B2 JP4200000B2 (en) | 2008-12-24 |
Family
ID=32814803
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002377710A Expired - Fee Related JP4200000B2 (en) | 2002-12-26 | 2002-12-26 | Reflow soldering method and soldering apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4200000B2 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012164776A1 (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | 有限会社ヨコタテクニカ | Soldering device |
WO2018124411A1 (en) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 크루셜머신즈 주식회사 | Laser reflow method |
CN115255538A (en) * | 2021-04-30 | 2022-11-01 | 特豪科技股份有限公司 | Vacuum type reflow soldering method and device |
US20220369473A1 (en) * | 2021-04-26 | 2022-11-17 | Pac Tech - Packaging Technologies Gmbh | Method for Soldering an Electronic Component to a Circuit Board by Jetting Liquefied Solder into a Through Hole |
US12028987B2 (en) * | 2022-04-30 | 2024-07-02 | PAC Tech—Packaging Technologies GmbH | Method for soldering an electronic component to a circuit board by jetting liquefied solder into a through hole |
-
2002
- 2002-12-26 JP JP2002377710A patent/JP4200000B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012164776A1 (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-06 | 有限会社ヨコタテクニカ | Soldering device |
JP2012245553A (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Yokota Technica:Kk | Soldering device |
WO2018124411A1 (en) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 크루셜머신즈 주식회사 | Laser reflow method |
US20220369473A1 (en) * | 2021-04-26 | 2022-11-17 | Pac Tech - Packaging Technologies Gmbh | Method for Soldering an Electronic Component to a Circuit Board by Jetting Liquefied Solder into a Through Hole |
CN115255538A (en) * | 2021-04-30 | 2022-11-01 | 特豪科技股份有限公司 | Vacuum type reflow soldering method and device |
US12028987B2 (en) * | 2022-04-30 | 2024-07-02 | PAC Tech—Packaging Technologies GmbH | Method for soldering an electronic component to a circuit board by jetting liquefied solder into a through hole |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4200000B2 (en) | 2008-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101187940B1 (en) | Repair apparatus and method for electronic component and heat-transfer cap | |
WO2010018680A1 (en) | Surface-mounting machine using optical beam | |
US20070170227A1 (en) | Soldering method | |
EP1148968B1 (en) | Method and apparatus for removal of mold flash | |
JP4200000B2 (en) | Reflow soldering method and soldering apparatus | |
JP3735069B2 (en) | Method and apparatus for removing soldered electronic components | |
JP3043435B2 (en) | Reflow soldering apparatus and reflow soldering method | |
JPH10200251A (en) | Manufacture of circuit module | |
JP2002204060A (en) | Soldering method and flow soldering apparatus | |
JPH05245624A (en) | Device and method for reflowing solder | |
JP3294460B2 (en) | Circuit board manufacturing method | |
KR101144487B1 (en) | Apparatus for removing solder ball | |
JP5254653B2 (en) | Protective film coating equipment | |
JP2003260586A (en) | Reduction-type solder joining apparatus | |
KR102652950B1 (en) | solder soldering method using laser | |
JP2001320163A (en) | Reflow device and its board heating method | |
JP4253093B2 (en) | Solder ball mounting method and apparatus | |
JPH10190210A (en) | Manufacture of circuit module | |
JP2004249301A (en) | Soldering method and soldering device | |
JP2001196736A (en) | Reflow system | |
JP2786146B2 (en) | Soldering method and equipment | |
JPH0797701B2 (en) | Reflow soldering method | |
JP2001223464A (en) | Soldering method | |
JP3783471B2 (en) | Electronic circuit component repair method and apparatus | |
KR20200125205A (en) | Heating module of laser debonding device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051129 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20080522 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20080610 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080731 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20080909 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081006 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111010 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |