JP2004205416A - 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 - Google Patents

電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2004205416A
JP2004205416A JP2002376878A JP2002376878A JP2004205416A JP 2004205416 A JP2004205416 A JP 2004205416A JP 2002376878 A JP2002376878 A JP 2002376878A JP 2002376878 A JP2002376878 A JP 2002376878A JP 2004205416 A JP2004205416 A JP 2004205416A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electric field
probe
axis
measured
detection probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002376878A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3752541B2 (ja
Inventor
Takashi Hyodo
行志 兵藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2002376878A priority Critical patent/JP3752541B2/ja
Publication of JP2004205416A publication Critical patent/JP2004205416A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3752541B2 publication Critical patent/JP3752541B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)

Abstract

【課題】プローブの回転操作だけで3次元電界計測を可能にする。
【解決手段】同軸ケーブルの内部導体、外部導体の先端部を中心軸に対して傾斜した先端面から露出させて配置する。又、且つこれらの先端部分を回転可能にする係合部材を設けて、電界検出用プローブを回転可能にする。電界検出プローブは、被計測体へ1方向からの挿入のみで、軸を90度、180度回転した位置の電界を検出することによって、直交3軸方向の電界計測が可能となる。また、プローブの細径化をはかることにより、より微小領域の電界計測も可能とすることができる。プローブの回転操作は被測定領域を乱し、場合によっては破壊する可能性をなくした。
【選択図】 図3

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電界検出プローブの改良、及び該プローブを使用した三次元電界計測方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、例えば液体中の電界計測法としては、同軸ケーブルの先端部を垂直に曲げ、先端部においてその内部導体と外部導体の先端部を一定の間隔で露出させ、その間の電界を計測するプローブが用いられていた。
【0003】
図1(a)及び図2は従来のプローブを示す(非特許文献1、非特許文献2参照)。図1(b)は図1(a)のプローブを拡大した説明図である。図中、1はプローブ,1Aは軸部、1Bは軸部1Aに対してL字状に垂直に曲げた水平部、2は内部導体の先端露出部、3は外部導体の先端露出部、4、5はそれぞれ内部導体、外部導体に接続されたプローブ出力端子を表す。又、15は生理食塩水、16は容器、17は容器16を載せる台、18は生理食塩水15に電位を発生する電界発生用コイル、19はプローブ固定枠を示す。なお、本明細書及び図面の参照符号が同じものは同じ機能を示すので説明を省略する。
【0004】
図1、図2の両プローブとも、内部導体2と外部導体3を約1cmの間隔で露出させている。そして、外部導体と内部導体の先端露出部間の電位差(V)をオシロスコープ等で測定することにより、外部導体と内部導体方向の電界(V/m)を算出している。電界発生用コイル19は生理食塩水16に電界を発生して、プローブ1の機能試験するためのものである。
【0005】
更に、円偏波及び直線偏波共用一次放射器において、電磁波の水平偏波、垂直偏波の電界検出の希望する方の電磁波の電界方向に結合するように回転して電界を検出するL字型プローブがある(例えば特許文献1参照)。
【0006】
【非特許文献1】
P.J. Maccabee, V.E. Amassian, R.Q. Cracco, J.B. Cracco, L. Eberle and A. Rudell, Stimulation of the Human Nervous System Using the Magnetic Coil, Journal of Clinical Neurophysiology, Vol. 8, No. 1 (1991) p 38-55
【非特許文献2】
Makoto Kobayashi, Shoogo Ueno, Takahide Kurokawa, Importance of soft tissue inhomogeneity in magnetic peripheral nerve stimulation, Elecrtroecnephalography and clinical Neurophysiology, 105 (1997) ,p406-413
【特許文献1】
特開平5−83004号公報
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のプローブには、二つの問題点があった。その一つは、電界は図1のZ軸周りの回転により一平面内(XY平面)の電界しか計測できないこと、二つめは、プローブを回転するには、L字水平部の長さ(図1(b)のa)を半径とする円領域等が被計測側に不可欠である点である。プローブのこの回転操作は被測定領域を乱し、場合によっては破壊する可能性もある。特に、生体内の電界を計測する際には細胞を切断するので使用できない。
【0008】
【問題を解決するための手段】
本発明の電界検出用プローブは、上記課題を解決するために、同軸ケーブルの内部導体、外部導体の先端露出部を中心軸に対して傾斜した先端面から露出させたことを特徴とする。
【0009】
更に、本発明の三次元計測方法は、同軸ケーブルの内部導体、外部導体の先端部分を中心軸に対する傾斜面から露出させ、且つこれらの先端部分を回転可能にする係合部材を設けた電界検出用プローブを、初期位置と90度回転、180度回転した位置において電界を検出して、三次元電界を計測することを特徴とする。
【0010】
プローブのL字水平部の構造をなくしたので、被計測領域には1方向から挿入でき、被測定領域を乱すことなく、プローブ軸の回転によって微小領域における直交3軸方向の電界検出が可能となる。本発明の計測電界の演算は、検出電位差の四則演算のみで、それぞれの三次元直交成分を求めることが可能となる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図3〜図5の実施例を参照して説明する。
図3は本発明の電界検出プローブ1A(断面)の概念図を示す。図中、1Aはプローブ、6は内部導体、7は外部導体(網目状)、8は絶縁材、9は絶縁被覆を表し、これらの構成は同軸ケーブルを構成している。10はプローブ先端の導体露出部以外固定、絶縁する絶縁・接着・固定材(接着剤)、11はプローブケーシングを表す。
【0012】
同軸ケーブルの内部導体の先端露出部2と外部導体の先端露出部3は中心軸に対して傾斜した先端面11Bから所定距離露出している。プローブの先端の先端露出部以外は、10の絶縁・接着・固定材(接着剤)により外部と絶縁され、プローブケーシング11に埋入されている。11Aはプローブ1Aを同軸ケーブルの中心軸周りに回転させるための回転機構に係合される係合部材である。
【0013】
外部導体(網目状導体)7はその一部分のみが線状に加工されて先端露出部を構成する。図3の例では、先端露出部2,3間の距離を長くとるため、同軸ケーブル径周囲の位置に先端露出部2,3は配置されている。内部導体、外部導体をそのまま延長して先端露出部2,3を構成しても良い。
【0014】
図4は、本発明の電界検出プローブ1Aを使用した電界計測装置構成例の模式図を示す。20は被測定域、21はプローブ固定枠、22は同軸ケーブル、23はオシロスコープ等電位計測器、24は演算記録装置、25はプローブ1を支持し、プローブ垂直軸周りに回転させる回転・支持装置を表す。なお、電位計測器(オシロスコープ)23に表示された図の波形は、電界発生用コイル18に流れるパルス電流によって被測定域に誘起された電界を計測した場合の波形である。
プローブの同軸ケーブルの末端同軸ケーブル22は電位計測器23に結線されている。
【0015】
図5は、本発明の電界検出プローブによる電界計測方法の原理を説明する図である。図5(a)は定義されたプローブ座標系を示す。プローブの中心軸方向をZ軸、プローブの先端露出部2,3間を結ぶ直線とZ軸との交点Oをとおり該直線とZ軸を含む平面上でZ軸に垂直な軸をX軸とし、該交点をとおりZ軸,X軸に垂直な軸をY軸とする(図では、Y軸方向は紙面に対して向こう側方向である。)。該交点が座標系原点である。傾斜した先端面11BはY軸に平行な面である。被測定域の求める電界のX軸方向、Y軸方向、Z軸方向の成分をそれぞれEx、Ey、Ezで表す。
【0016】
図5(b)はプローブの初期位置、同(c)は初期位置からZ軸回りに90度回転させたプローブの位置、同(d)は、Z軸回りに180度回転させたプローブの位置での状態を示す。初期位置、90度回転させた位置、180度回転した位置での先端露出部2,3間における電位差を、それぞれV,V,Vで表す。電位差V、V、Vは、X軸成分Vx、Y軸成分Vy、Z軸成分Vzにより、次の(1)式〜(3)式で表せる。
【0017】
=Vx+Vz (1)
=Vy+Vz (2)
=−Vx+Vz (3)
【0018】
(1)式〜(3)式をもとに、Vx、Vy、Vzは次の(4)式〜(6)式により求まる。
Vx=(V−V)/2 (4)
Vy=V−(V+V)/2 (5)
Vz=(V+V)/2 (6)
【0019】
(4)式〜(6)式をもとに、目的とする電界のX軸成分Ex、Y軸成分Ey、Z軸成分Ezは次の(7)式〜(9)式により求まる。ここでbは先端露出部間距離(m)、θはプローブ中心軸(Z軸)と、先端露出部を結ぶ直線がなす角度(度)である。
Ex=Vx/(b・sinθ) (7)
Ey=Vy/(b・sinθ) (8)
Ez=Vz/(b・cosθ) (9)
【0020】
先ず、プローブの初期位置(図5(b))において先端露出部間の電位差を検出する。得られた値がVである。同様に90度回転位置(図5(c))、180度回転位置(図5(d))で先端露出部間の電位差V、Vが検出され、(4)式〜(6)式により軸方向の電位Vx、Vy、Vzが演算される。(7)式〜(9)式により電界のX軸、Y軸、Z軸成分Ex(V/m)、Ey(V/m)、Ez(V/m)が演算される。この電界は、座標系原点の電界である。
【0021】
図5の装置において、本発明のプローブ1Aは、必要な場合設けられる係合部材11Aで回転機構に係合されている。回転指示装置によりプローブは90度、180度とZ軸回りに駆動される。プローブの初期位置、90度回転、180度回転位置において、検出された電位差は、演算・記録装置24において電界の3次元直交成分が演算記憶される。
【0022】
図6は、従来型プローブで計測した一方向(Ex方向)の電界をレファレンスとし、本発明によるプローブとの結果を比較した例を示す。外径1.3mmの細径同軸ケーブル(SUMITOMO SS753201)を使用し、従来型プローブの外部導体と内部導体の先端露出部間の距離は9mmで、本発明のプローブの外部導体と内部導体の先端露出部間の距離(b)は約2.4mm、傾斜角(θ)約60度、プローブケーシング外径約2.4mmである。
【0023】
横軸は従来型プローブを用いて計測した一方向(X軸)での電界Exを示し、縦軸は本発明のプローブを用いて計測した電界である。両者の関係はほぼ線形であり、回帰分析係数は1.05であった。これらは、校正により、より正確な電位検出が可能となる。これは、他の方向での電位Vy、Vzに関しても同様である。
【0024】
【発明の効果】
上述したように、本発明の電界検出プローブは、被計測体へ1方向からの挿入のみで、軸を180度回転することによって、直交3軸方向の電界計測を可能とした。更に、プローブを細径化する(直径0.6mm等)ことにより、より微小領域での計測も可能となる。プローブの回転操作による被測定領域の乱れ、場合によっては破壊の可能性はより少なくなる。例えば、マウスの脳の電界計測に際して、脳細胞を切断することなく電界を有効に測定できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の電界検出プローブ例(その1)を示す。
【図2】従来の電界検出プローブ例(その2)を示す。
【図3】本発明の一実施例を示す断面図の概念図を示す。
【図4】本発明による三次元計測装置例を示す。
【図5】本発明による三次元電界計測方法の原理を説明する図である。
【図6】検出電界の比較例を示す。
【符号の説明】
1 プローブ(従来型)
1A プローブ
2 同軸ケーブル内部導体の先端露出部
3 同軸ケーブル外部導体の先端露出部
6 同軸ケーブル内部導体
7 同軸ケーブル外部導体
11 プローブケーシング
11A 係合部材
11B 傾斜した先端面
24 演算・記録装置
25 回転・支持装置

Claims (2)

  1. 同軸ケーブルの内部導体、外部導体の先端部分を中心軸に対して傾斜した先端面から露出させたことを特徴とする電界検出用プローブ。
  2. 同軸ケーブルの内部導体、外部導体の先端部分を中心軸に対して傾斜した先端面から露出させた電界検出用プローブにより、初期位置、90度回転、180度回転位置における電界検出により、三次元電界を計測することを特徴とする三次元電界計測方法。
JP2002376878A 2002-12-26 2002-12-26 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 Expired - Lifetime JP3752541B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002376878A JP3752541B2 (ja) 2002-12-26 2002-12-26 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002376878A JP3752541B2 (ja) 2002-12-26 2002-12-26 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004205416A true JP2004205416A (ja) 2004-07-22
JP3752541B2 JP3752541B2 (ja) 2006-03-08

Family

ID=32814210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002376878A Expired - Lifetime JP3752541B2 (ja) 2002-12-26 2002-12-26 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3752541B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006098158A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Hitachi Ltd 電界分布測定方法及び電界分布測定装置
JP2010014703A (ja) * 2008-06-03 2010-01-21 Canon Inc 電磁界計測装置および方法
CN102879653A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 兰州大学 一种基于三维探头的智能风沙电场测量系统及三维探头
CN102879650A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 兰州大学 一种基于屏蔽探头的量程可调式智能风沙电场测量系统
US8410805B2 (en) 2009-02-27 2013-04-02 Fujitsu Limited Electric field detection probe, method thereof, and manufacturing method of circuit board
US9168333B2 (en) 2003-11-05 2015-10-27 Baxter International Inc. Dialysis system including disposable cassette
CN110082611A (zh) * 2019-04-19 2019-08-02 中国人民解放军海军工程大学 一种电场测量装置的定位方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104833861B (zh) * 2015-04-30 2018-03-20 江汉大学 一种三维电场强度测量装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9168333B2 (en) 2003-11-05 2015-10-27 Baxter International Inc. Dialysis system including disposable cassette
JP2006098158A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Hitachi Ltd 電界分布測定方法及び電界分布測定装置
JP4635544B2 (ja) * 2004-09-29 2011-02-23 株式会社日立製作所 電界分布測定方法及び電界分布測定装置
JP2010014703A (ja) * 2008-06-03 2010-01-21 Canon Inc 電磁界計測装置および方法
US8410805B2 (en) 2009-02-27 2013-04-02 Fujitsu Limited Electric field detection probe, method thereof, and manufacturing method of circuit board
CN102879653A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 兰州大学 一种基于三维探头的智能风沙电场测量系统及三维探头
CN102879650A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 兰州大学 一种基于屏蔽探头的量程可调式智能风沙电场测量系统
CN110082611A (zh) * 2019-04-19 2019-08-02 中国人民解放军海军工程大学 一种电场测量装置的定位方法
CN110082611B (zh) * 2019-04-19 2021-03-09 中国人民解放军海军工程大学 一种电场测量装置的定位方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3752541B2 (ja) 2006-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6971296B2 (ja) 超音波装置のための仮想画像形成方法
US5711299A (en) Surgical guidance method and system for approaching a target within a body
US8249689B2 (en) Coil arrangement for electromagnetic tracking method and system
US20080086145A1 (en) Method and apparatus for distal targeting of locking screws in intramedullary nails
US8391952B2 (en) Coil arrangement for an electromagnetic tracking system
EP1926426B1 (en) Magnetic tracking system for an imaging system
US20070252586A1 (en) Instrument and Method for Measuring Three-Dimensional Motion
US20080238413A1 (en) Electromagnetic tracking method and system
JPH03267054A (ja) 定位的脳手術支援装置
JP3752541B2 (ja) 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法
US20080174304A1 (en) Coil arrangement for electromagnetic tracker method and system
JP2019080934A (ja) 位置追跡システム
MXPA06011505A (es) Ensamble de detector magnetico.
US11513168B2 (en) Magnetic field probe for determining a disposition of an implantable magnetic marker
JP2008286723A (ja) 磁気測定装置と磁気測定方法
US20220323160A1 (en) Magnetic field probe for determining a disposition of an implantable marker using two or more detection zones
JP2019181279A (ja) 磁気プローブシステム及びその使用方法
JPH11128192A (ja) 磁場計測装置
EP2494927A1 (en) Magnetic-field measurement jig, magnetic-field measurement program, and inspection device provided with magnetic position detector
Hoole et al. Electromagnetic articulography in coarticulation research
WO2016204684A1 (en) Implant stability measuring device and method
CN108519563A (zh) 一种基于非晶丝的高分辨率正交磁通门三轴磁强计及其制造技术
KR200205063Y1 (ko) 클리노메터의 보조측정기구
JP4635944B2 (ja) 計測装置
US20220110538A1 (en) Probe for determining magnetic marker locations

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040818

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050914

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051115

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3752541

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term