JP2004177307A - Optical measuring device using photoelectron multiplier for photo acceptance unit, confocal microscope system and computer program - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料からの光をピンホールを通して光電子増倍管で受光し、光電子増倍管から出力される受光量に応じた電気信号に基づいて試料の観察又は測定を行う光学測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
このような光学測定装置として共焦点顕微鏡がある。共焦点顕微鏡は、レーザ等の光源から発せられる単色光で試料を走査し、試料からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光量に基づいて試料の超焦点深度画像や高さ分布等の情報を取得する。例えば、ステージに載置された試料と対物レンズとの距離を光軸方向に変化させると、共焦点光学系を介して受光素子に入射する光の量、すなわち受光量が変化し、試料の表面にピントが合ったときに受光量が最大となる。したがって、最大受光量が得られるときの試料と対物レンズとの相対距離から試料の表面の高さ情報を算出し、試料の表面を光で走査することによって試料の表面の高さ分布を取得することができる。
【0003】
取得された高さ分布は、例えば三次元表示によって表示装置の画面上に表示される。あるいは、高さ分布を輝度分布や色分布に置き換えたものが画面上に表示される。表示装置としてCRT(陰極線管)やLCD(液晶表示装置)が使用され、共焦点顕微鏡に制御用のコントローラ、表示装置、コンソール等が接続されて共焦点顕微鏡システムが構成される。
【0004】
また、試料表面の各点(画素)でピントが合ったときの受光量の情報(すなわち各画素の最大輝度情報)をつなぎ合わせることにより、焦点深度の非常に深い試料表面の白黒画像を得ることができる。この画像がいわゆる超深度画像である。
【0005】
上記のような共焦点顕微鏡システムにおいて、受光素子として光電子増倍管(フォトマルチプライヤチューブ)を用いることが多い。光電子増倍管は、光電面、二次電子増倍機構、陽極からなる真空管であり、光が光電面に入射したときに放出される光電子が増倍されて陽極に捕集され、出力電流として外部に取り出される。多段の二次電子放出面を用いることにより、大きな増倍度(高い受光感度)が得られる。
【0006】
このような光電子増倍管を受光素子として用いた光学測定装置、特に共焦点顕微鏡において、例えば鏡面のように光反射率が非常に高い試料を測定(観察)したときに過大な光量が光電子増倍管に入射し、最大定格を超える光電流が流れて光電子増倍管が破壊に至ることがある。
【0007】
この現象を防ぐために、光源から発せられる光(例えばレーザ光)の出力を下げ、あるいは投光側の光路中に光透過量を制限するNDフィルタを挿入することにより、試料に照射される光の強さ(光量)を制限することが従来の共焦点顕微鏡で行われている。また、光電子増倍管そのものの光電変換効率(ゲイン)を下げて、最大定格を超える電流が光電子増倍管に流れないように調節することが可能な光学測定装置もある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、光源から発せられる光(例えばレーザ光)の出力を下げる方法は、例えば光量モニター用の受光素子を別途備えた構成の場合に、そのS/N比が悪くなる一因となる。また、光源が半導体レーザである場合は、その静電破壊状態や寿命劣化を動作電流から判定することが可能であるが、出力を下げるために動作電流を下げると、静電破壊や寿命劣化の進み具合を的確に判定することが難しくなる。しかも、環境温度のような外的要因のために、一定の出力を維持することが困難になる。半導体レーザのような光源の出力を安定させるには、その駆動回路をできるだけ簡素な構成で安定するように設計することが望ましい。
【0009】
また、投光側の光路中にNDフィルタを挿入して光量を制限する方法は、NDフィルタの固定に関して高い精度が要求される。つまり、光軸に対してNDフィルタを正確に直角に固定しないと光軸がシフトし、予期しない光軸ずれに起因して光学性能が悪くなるおそれがある。特に、光透過量(光透過率)の異なる複数のNDフィルタを切り替えて使用する場合は、すべてのNDフィルタが正確に光軸に直角である必要があるので、製造時の位置決めや調整に手間が掛かり、製造コストの上昇要因となる。
【0010】
また、光電子増倍管そのものの光電変換効率(ゲイン)を下げて、最大定格を超える電流が光電子増倍管に流れないように調節する方法は、次のような問題がある。つまり、光電子増倍管の受光面に入射する光が強すぎると、受光面自体に飽和現象(受光量に比例して光電流が増加しなくなる現象)が発生する。光電子増倍管は瞬間的な大光量には追従して光電流を出力できるが、大光量が連続して入射すると飽和して出力電流が低下する特性を有する。この結果、出力電流にリンギングが発生する。
【0011】
試料表面をレーザ光で走査することによって試料表面の画像を取得する場合に、試料表面の光反射率の低い部分から高い部分に切り替わる画像のエッジ部において走査方向に白い尾を引くような現象が発生することがある。これは、光反射率の低い暗部から光反射率の高い明部に移る部分では、周囲の明部より更に明るく表示されるためである。このような現象は、得られた画像の見映えを悪くするだけでなく、測定精度や信頼性にも悪影響を及ぼす場合がある。
【0012】
本発明は上記のような課題に鑑み、投光側の光路を含む光学系や光源駆動回路に悪影響を与えないで、光電子増倍管の飽和を防止して適切な受光量に調整し、信頼性の高い画像を得ることができる光学測定装置、共焦点顕微鏡システム及びコンピュータプログラムを提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明による光学測定装置は、試料からの光をピンホールを通して光電子増倍管で受光し、光電子増倍管から出力される受光量に応じた電気信号に基づいて試料の観察又は測定を行う光学測定装置であって、ピンホールと光電子増倍管との間に光透過量を制限するNDフィルタが配置され、NDフィルタによる光透過量を変更する手段が設けられていることを特徴とする。
【0014】
このような構成によれば、投光側の光路を含む光学系や光量モニター用の受光素子に悪影響を与えないで、光電子増倍管の飽和を防止することができる。つまり、ピンホールを通過した後の光学系は、ピンホールを通過する前の光学系に比べて光学素子の配置精度がさほどきびしくない。また、光電子増倍管の性能を十分に生かすためにはピンホールと光電子増倍管との距離をある程度確保する必要がある。このピンホールと光電子増倍管との間のスペースを活かしてNDフィルタを配置することにより、光電子増倍管の飽和を効果的に防止することができる。
【0015】
また、本発明による光学測定装置は、好ましくは共焦点顕微鏡システムである。つまり、本発明による共焦点顕微鏡システムは、共焦点光学系を介して試料からの光を受光素子で受光し、その受光情報に基づいて試料の表面の高さ情報及び光量情報を取得し、試料の表面の画像を画面表示する共焦点顕微鏡システムであって、受光素子として光電子増倍管が使用され、共焦点光学系を構成するピンホールと光電子増倍管との間に光透過量を制限するNDフィルタが配置され、NDフィルタによる光透過量を変更する手段が設けられていることを特徴とする。
【0016】
このような構成により、投光側の光路を含む光学系や光量モニター用の受光素子に悪影響を与えないで、光電子増倍管の飽和を防止して適切な受光量に調整し、信頼性の高い画像(超深度画像等)を得ることができる。
【0017】
また、本発明によるコンピュータプログラムは、上記の共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータに実行させるプログラムであって、受光素子の受光面が飽和する限界より僅かに小さい所定光量の光によって画面表示の明るさが飽和するように受光ゲインを調整するステップと、調整後の受光ゲインを下限値として記憶するステップと、ユーザによる画面表示の明るさ調整に際して、受光ゲインが下限値より下がることを制限し、画面表示の明るさを更に下げるにはNDフィルタによる光透過量を減少する必要があることをユーザに知らせるステップとを備えていることを特徴とする。
【0018】
共焦点顕微鏡システムに接続されたコンピュータを用いて共焦点顕微鏡システムの測定条件の設定や調整を行う際に、上記のようなコンピュータプログラムによって受光素子(光電子増倍管)へ入射する光の強さがNDフィルタで適切に調整される。その結果、光電子増倍管の飽和が防止されて信頼性の高い画像を得ることができる。
【0019】
このようなコンピュータプログラムは、例えばCD−ROMのようなコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に記憶された状態で供給され、記憶媒体からコンピュータにインストールされて実行される。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0021】
図1は、本発明の実施形態に係る光学測定装置である共焦点顕微鏡システムの概略構成を示している。この共焦点顕微鏡システム1は、共焦点光学系2及び非共焦点光学系3を有する共焦点顕微鏡と、共焦点顕微鏡の光源駆動回路44、第1AD変換器41、CCD駆動回路43、第2AD変換器42、対物レンズ移動機構40、マイクロコンピュータを用いた制御部46等を含むコントローラと、コントローラに接続された表示装置47及び入力装置(コンソール)48とを備えている。
【0022】
まず、共焦点顕微鏡の共焦点光学系2とその信号処理について説明する。共焦点光学系2は、試料wkに単色光(例えばレーザ光)を照射するための光源10、コリメートレンズ11、偏光ビームスプリッタ12、1/4波長板13、水平垂直偏向装置14、ハーフミラー15、対物レンズ17、PHレンズ18、ピンホール板9、受光素子19等を含んでいる。
【0023】
光源10には、例えば半導体レーザが用いられる。但し光源10はレーザに限るわけではなく、単色光源であればよい。また、水銀ランプのように単色光源でなくても、バンドフィルタと組み合わせることによって単色光源として使用することができる。光源駆動回路44によって駆動される光源10から出たレーザ光は、コリメートレンズ11を通り、偏光ビームスプリッタ12で光路を曲げられ、1/4波長板13を通過する。この後、水平垂直偏向装置14によって水平(横)方向及び垂直(縦)方向に偏向された後、ハーフミラー15で反射して光路を曲げられ、対物レンズ17によって試料ステージ30上に置かれた試料wkの表面に集光される。
【0024】
水平垂直偏向装置14は水平偏向用のレゾナント(共振型)スキャナーと垂直偏向用のガルバノ(電磁型)スキャナーで構成されている。両者でレーザ光を水平及び垂直方向に偏向させることにより、試料wkの表面をレーザ光で走査する。説明の便宜上、水平方向をX方向、垂直方向をY方向ということにする。対物レンズ17は、対物レンズ移動機構40によりZ方向(光軸方向)に駆動される。これにより、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向(すなわち試料wkの高さ方向)での距離を変化させることができる。
【0025】
ただし、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での距離は、他の方法で変化させることもできる。例えば、対物レンズ17をZ方向に駆動する代わりに試料ステージ30をZ方向に駆動してもよい。あるいは、対物レンズ17と試料wkとの間に屈折率が変化するレンズを挿入することにより、対物レンズ17の焦点をZ方向に移動させる構成も可能である。
【0026】
本実施形態の共焦点顕微鏡では、制御部46からの制御信号によって対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17がZ軸方向に電動で移動可能であると共に、試料ステージ30は、ステージ手動操作機構31を介して手動操作によってX方向、Y方向及びZ方向に変位可能である。また、入力装置48のキー操作(例えばアップ/ダウンキーの操作)によって制御部46及び対物レンズ移動機構40を介して対物レンズ17を上下動することも可能である。
【0027】
試料wkで反射されたレーザ光は、上記の光路を逆にたどるように、対物レンズ17を通ってハーフミラー15で反射し、水平垂直偏向装置14を介して1/4波長板13を再び通る。この結果、レーザ光は偏光ビームスプリッタ12を透過し、PHレンズ18によって集光される。集光されたレーザ光は、PHレンズ18の焦点位置に配置されたピンホール板9のピンホールを通過し、NDフィルタ49を通過して受光素子19に入射する。受光素子19は光電子増倍管(フォトマルチプライヤチューブ)で構成され、受光量を電気信号に変換する。受光量に相当する電気信号は、出力アンプ及びゲイン制御回路(図示せず)を介して第1AD変換器41に与えられ、ディジタル値に変換される。
【0028】
上記のような構成の共焦点光学系2により、試料wkの高さ(深さ)情報を取得することができる。以下に、その原理を簡単に説明する。
【0029】
上述のように、対物レンズ17が対物レンズ移動機構40によってZ方向(光軸方向)に駆動されると、対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での相対距離が変化する。そして、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面に結ばれたときに、試料wkの表面で反射されたレーザ光は上記の光路を経てPHレンズ18で集光され、ほとんどすべてのレーザ光がピンホール板9のピンホールを通過する。したがって、このときに、受光素子19の受光量が最大になる。逆に、対物レンズ17の焦点が試料wkの表面からずれている状態では、PHレンズ18によって集光されたレーザ光はピンホール板9からずれた位置に焦点を結ぶので、一部のレーザ光しかピンホールを通過することができない。その結果、受光素子19の受光量は著しく低下する。
【0030】
したがって、試料wkの表面の任意の点について、対物レンズ17をZ方向(光軸方向)に駆動しながら受光素子19の受光量を検出すれば、その受光量が最大になるときの対物レンズ17のZ方向位置(対物レンズ17の焦点と試料wkとの光軸方向での距離)を高さ情報として一義的に求めることができる。
【0031】
実際には、対物レンズ17を1ステップ(1ピッチ)移動するたびに水平垂直偏向装置14によって試料wkの表面を走査して受光素子19の受光量を得る。対物レンズ17をZ方向での測定範囲の下端から上端までZ方向に移動させたとき、走査範囲内の各点(画素)について、Z方向位置に応じて変化する受光量データが得られる。
【0032】
図2は、対物レンズ17のZ方向位置に応じて変化する受光量の例を示すグラフである。このような受光量データに基づいて、最大受光量とそのときのZ方向位置が各点(画素)ごとに得られる。したがって、試料wkの表面高さのXY平面での分布が得られる。この処理は、マイクロコンピュータを用いた制御部46によって実行される。
【0033】
得られた表面高さの分布情報は、いくつかの方法で表示装置47のモニター画面に表示することができる。例えば3次元表示によって試料の高さ分布(表面形状)を立体的に表示することができる。あるいは、高さデータを輝度データに変換することにより、明るさの二次元分布として表示できる。高さデータを色差データに変換することにより、高さの分布を色の分布として表示することもできる。
【0034】
また、XY走査範囲内の各点(画素)について得られた受光量を輝度データとする輝度信号から、試料wkの表面画像(白黒画像)が得られる。各画素における最大受光量を輝度データとして輝度信号を生成すれば、表面高さの異なる各点でピントの合った焦点深度の非常に深い超深度画像が得られる。また、任意の注目画素で最大受光量が得られた高さ(Z方向位置)に固定した場合は、注目画素の部分と高低差が大きい部分の画素の受光量は著しく小さくなり、注目画素と同じ高さの部分のみが明るい画像(すなわちスライス画像)が得られる。
【0035】
図1において、受光素子(光電子増倍管)19の前に設けられたNDフィルタ49は、光透過量(透過率)を制限するフィルタであり、受光素子(光電子増倍管)19に入射する光の強さ(光量)を制限する働きを有する。また、光透過率の異なる複数のNDフィルタ49が円板70上に円環状に配置され、この円板70を回転させるモータ71が設けられている。制御部46は、駆動回路72を介してモータ71の駆動制御を行い、複数のNDフィルタ49を切り替えることができる。つまり、NDフィルタ49による光透過量を変更する手段が円板70、モータ71、駆動回路72等によって構成されている。
【0036】
なお、ピンホール板9のピンホールを通過した後の光学系は、ピンホールを通過する前の光学系に比べて光学素子の配置精度がさほどきびしくない。したがって、光学系の設計後にNDフィルタ49を追加しても問題ない。また、NDフィルタ49の表面仕上げや減反射コート処理の必要もないので、低コストに抑えることができる。
【0037】
また、受光素子19である光電子増倍管の性能を十分に生かすためには、ピンホール板9と受光素子19との距離をある程度確保する必要がある。このピンホール板9と受光素子19との間のスペースを有効活用してNDフィルタ49を配置することにより、受光素子19の飽和を効果的に防止することができる。また、受光素子19の受光量の調整のために光源10の出力を調整する必要がないので、光源駆動回路44の構成を簡素化できる。受光素子19の受光量の調整方法(画面表示の明るさ調整方法)については後述する。
【0038】
次に、非共焦点光学系3とその信号処理について説明する。非共焦点光学系3は、試料wkに白色光(カラー画像撮影用の照明光)を照射するための白色光源20、コレクタレンズ21、コンデンサレンズ22、フィルタハーフミラー16、ハーフミラー15、対物レンズ17、結像レンズ23及びカラーCCD(カラー撮像素子)24を含んでいる。ハーフミラー15及び対物レンズ17は共焦点光学系2及び非共焦点光学系3に共用されており、対物レンズ17の光軸は共焦点光学系2及び非共焦点光学系3に共通である。
【0039】
白色光源20には例えば白色ランプが用いられるが、特に専用の光源を設けないで自然光又は室内光を利用してもよい。白色光源20から出た白色光は、コレクタレンズ21及びコンデンサレンズ22を通り、フィルタハーフミラー16で反射して光路を曲げられ、ハーフミラー15を通過して対物レンズ17によって試料ステージ30上の試料wkの表面に集光される。
【0040】
試料wkで反射された白色光は、上記の光路を逆にたどるように、対物レンズ17及びハーフミラー15を通過する。そして、フィルタハーフミラー16を通過した光が結像レンズ23を通りカラーCCD24に入射して結像する。カラーCCD24は、共焦点光学系2のピンホール板9のピンホールと共役又は共役に近い位置に設けられている。カラーCCD24で撮像されたカラー画像は、CCD駆動回路43によって読み出され、そのアナログ出力信号は第2AD変換器42に与えられ、ディジタル値に変換される。
【0041】
フィルタハーフミラー16は、光源(半導体レーザ)10からの単色光を通過させないで白色光源20からの白色光のほとんどの成分を通過させるように不純物が混ぜられたフィルタガラスに金属膜や誘電体膜を蒸着して反射面16aを形成したものである。したがって、フィルタハーフミラー16を通過して結像レンズ23でカラーCCD24に結像される光には半導体レーザ10からの単色光はほとんど含まれていない。その結果、エネルギー密度の高いレーザスポットでカラーCCD24(特にカラーフィルタ)がダメージを受けるおそれが解消される。 上記のようにして得られたカラー画像は、試料wkの観察用の拡大カラー画像として表示装置47のモニター画面に表示される。このカラー画像は、共焦点光学系による超深度画像等の測定を行いたい試料表面の場所を見つけるのにも役立つ。また、共焦点光学系2で得られた超深度画像と非共焦点光学系3で得られた通常のカラー画像とを組み合わせて、すべての画素で略ピントの合った焦点深度の深いカラー超深度画像を生成し、表示することもできる。
【0042】
上記のようなカラー画像に関する処理についても、制御部46を含むコントローラが司る。コントローラにはコンソール(操作卓)のような入力装置48やCRT(陰極線管)又はLCD(液晶表示装置)のような表示装置47が接続されている。
【0043】
ユーザは、表示装置47の画面上に表示されるガイダンスにしたがって入力装置48を用いて種々の測定用パラメータを設定することができる。例えば、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)や移動ピッチを設定する。あるいは、試料wkの表面の光反射率等に応じて受光素子19の受光感度(受光ゲイン)やNDフィルタ49による光透過率(減衰量)の設定を行うことにより、画面に表示された超深度画像やスライス画像が適当な明るさ(輝度)になるように調整する。また、カラーCCD24によるカラー画像の取得のためのシャッタースピードやゲイン及びホワイトバランスの設定を行う。
【0044】
また、本実施形態の共焦点顕微鏡システム1(のコントローラ)には、パーソナルコンピュータのような外部コンピュータシステムを接続するための通信インターフェイスも備えられている。共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアをインストールした外部コンピュータシステムを共焦点顕微鏡システム1に接続することにより、取得された試料wkの画像情報や高さ分布情報等の加工をシームレスに行うことが可能になる。
【0045】
図3は、共焦点顕微鏡システム1のコントローラに外部コンピュータシステム50を接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。外部コンピュータシステム50は、CRT又はLCD等の表示装置51、キーボード52、マウス(他のポインティングデバイスでもよい)53、RS232C、USB(ユニバーサルシリアルバス)、IEEE1394等の通信インターフェイス54、処理装置(CPU)55、半導体記憶媒体である主メモリ56、補助記憶装置である固定ディスク装置57及びリムーバブルディスク装置58を備えている。
【0046】
共焦点顕微鏡システム1の制御を行うための専用ソフトウェアは、CD−ROMのような記憶媒体59に記憶された状態で供給され、CD−ROMドライブ装置のようなリムーバブルディスク装置58によって記憶媒体59から読み出され、固定ディスク装置57にインストールされる。固定ディスク装置57にインストールされた専用ソフトウェアは、主メモリ56にロードされ、処理装置55によって実行される。このような専用ソフトウェアによって実行される処理には、共焦点顕微鏡システム1の測定条件の設定を行うための処理や測定の結果得られた画像の処理等が含まれている。
【0047】
図4は、専用ソフトウェアによる表示装置51の画面表示の例を示す図である。表示装置51に表示される画面表示60において、左側の画像表示領域61は共焦点顕微鏡システム1から得られたカラー画像、超深度画像、スライス画像、高さ分布画像等の測定結果を表示するための領域であり、その右側に測定条件の設定のための縦長の操作部領域62が表示されている。
【0048】
図5は、図4の画面表示60における操作部領域62の拡大図である。操作部領域62のプッシュボタンやスライドバーの操作及び各プルダウンメニューの選択等をマウス53を用いて行うことにより、各測定パラメータのマニュアル設定を行うことができる。例えば、ゲイン調整用スライドレバー63をマウス53のドラッグ操作によって上下移動すれば、受光素子19の受光感度(受光ゲイン)が変化し、画像の明るさ(輝度)を調整することができる。また、その隣のNDフィルタ調整用スライドレバー64を上下移動して光透過量を変化させることによっても画像の明るさ(輝度)を調整することができる。
【0049】
あるいは、ディスタンスの右側の三角マーク65をマウス53でクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、対物レンズ17のZ方向移動範囲(測定範囲)を設定することができる。その下のピッチについても同様に、三角マーク66をクリックしたときに現れるプルダウンメニューから適切な数値を選択することにより、適切なZ方向移動ピッチを設定することができる。
【0050】
その他、測定モードや走査モードの設定等を含む各種の設定を適切に行った後に測定ボタン67を押下すれば自動測定が始まり、所定の測定時間経過後に超深度画像(又はカラー超深度画像)や高さ分布画像が画面表示60の画像表示領域61に現れる。
【0051】
図6及び図7は、受光ゲインの調整とNDフィルタの光透過率の調整による画像の明るさの調整方法に関するフローチャートである。これらのフローチャートには外部コンピュータシステム50の処理装置55が専用ソフトウェア(コンピュータプログラム)にしたがって処理するステップとユーザの操作ステップとが含まれているが、以下の説明の中で明らかにする。
【0052】
まず、受光ゲインの下限値を設定するための処理を図6にしたがって説明する。ステップ#101においてユーザは、受光素子19である光電子増倍管(PMTと略記することがある)の受光面が飽和する限界より僅かに小さい所定光量の光を光電子増倍管に入射させる。続くステップ#102でユーザは、画面表示の明るさが飽和するように受光ゲイン(PMTゲイン)を調整する。そして、ステップ#103で処理装置55は、調整後の受光ゲインを下限値として記憶する。後述するように、ユーザによる明るさ調整の際に、処理装置55はこの記憶された下限値を用いて適切な調整が行われるようにユーザに報知する。
【0053】
受光素子19である光電子増倍管の受光面の飽和は、受光面に入射する光の強さ(入射光量)が一定の値を超えないようにすれば防ぐことができる。受光素子19の出力信号から生成される画像の明るさが強すぎる場合にユーザは明るさを下げるための操作を行う。つまり、図5で示した操作部領域62において、受光ゲインを下げるかNDフィルタ49の光透過量を下げる(減衰量を上げる)。
【0054】
このとき、NDフィルタ49の光透過量を下げた場合は受光素子19への入射光量が下がるが、受光ゲインを下げた場合は受光素子19への入射光量はそのままである。すなわち、入射光量が一定の値を超えている場合に受光ゲインを下げても受光面の飽和状態は解消されない。そこで、上記のステップ#101〜103のようにして、受光素子19の受光面が飽和する限界より僅かに小さい光量の光が入射しているときに画面表示の明るさが飽和するように受光ゲインを調整し、調整後の受光ゲインを記憶しておく。
【0055】
次に、図7のフローチャートに従ってユーザによる明るさ調整が行われる。ユーザは、ステップ#201で画面表示の明るさが飽和していると判断すると、次のステップ#202で受光ゲイン(PMTゲイン)を下げる。その結果、飽和状態が解消した場合(ステップ#203のYes)は調整処理を終了するが、飽和状態がまだ解消していない場合(ステップ#203のNo)にユーザはさらに受光ゲインを下げようとする。このとき、処理装置55は、前述の記憶した受光ゲインの下限値を読み出し、ステップ#204で現在の受光ゲインと比較する。現在の受光ゲインが下限値より大きい場合はステップ#202に戻って受光ゲインを更に下げる調整を可能とするが、現在の受光ゲインが下限値に達した場合(ステップ#204のNo)は、次のステップ#205でユーザはNDフィルタ49の透過量を下げる調整を行うことになる。
【0056】
このとき、処理装置55は、受光ゲインが下限値より下がることを制限し、画面表示の明るさを更に下げるにはNDフィルタ49による光透過量を減少する必要があることをユーザに知らせる。例えば、図5で示した操作部領域62において、受光ゲインを下げるためのゲイン調整用スライドレバー63の下方への移動を禁止し、NDフィルタ49による光透過量を下げることを促す内容のメッセージを表示する。
【0057】
次のステップ#206で飽和状態が解消したと判断した場合は調整処理を終了し、飽和状態がまだ解消していないと判断した場合はステップ#205に戻って更にNDフィルタ49の透過量を下げる調整を行うことになる。
【0058】
上記のような明るさ調整方法によれば、ユーザは画面の明るさを下げる調整を行う場合に、受光ゲインを下げる調整のみで所望の明るさまで下げることができずにNDフィルタ49による透過量を下げる調整を行うことになるので、受光素子への入射光量が常に飽和光量以下に抑えられる。こうして、信頼性の高い画像を得ることができる。
【0059】
以上、本発明の実施形態を適宜変形例を含めながら説明したが、本発明は上記の実施形態に限らず、種々の形態で実施することが可能である。例えば、上記の実施形態の光学測定装置は反射型のカラー共焦点顕微鏡であるが、透過型のカラー共焦点顕微鏡にも本発明を適用することができる。透過型のカラー共焦点顕微鏡の場合は、試料の裏面から共焦点光学系のレーザ光及び非共焦点光学系の白色光が照射される。共焦点光学系に用いる単色光源はレーザ光源に限らず、水銀ランプのような複数波長を含む光源とバンドフィルタとの組合せで単色光源を構成してもよい。非共焦点光学系の光源は自然光又は室内光で代用することもできる。また、本発明は共焦点顕微鏡に限らず、受光素子に光電子増倍管を用いた光学測定装置に広く適用することが可能である。
【0060】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明の光学測定装置、共焦点顕微鏡システム及びコンピュータプログラムによれば、ピンホールと受光素子である光電子増倍管との間にNDフィルタを設けて、その光透過量を調整できるようにしたことにより、投光側の光路を含む光学系や光源の駆動回路等を複雑化しないで光電子増倍管の飽和を効果的に防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る光学測定装置である共焦点顕微鏡システムの概略構成を示す図である。
【図2】対物レンズのZ方向位置に応じて変化する受光量の例を示すグラフである。
【図3】共焦点顕微鏡システムのコントローラに外部コンピュータシステムを接続したハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図4】専用ソフトウェアによる表示装置の画面表示の例を示す図である。
【図5】図4の画面表示における操作部領域の拡大図である。
【図6】受光ゲインの調整とNDフィルタの光透過率の調整による画像の明るさの調整方法に関するフローチャートである。
【図7】受光ゲインの調整とNDフィルタの光透過率の調整による画像の明るさの調整方法に関するフローチャートである。
【符号の説明】
2 共焦点光学系
9 ピンホール板
17 対物レンズ
19 受光素子(光電子増倍管)
24 カラー撮像素子(カラーCCD)
49 NDフィルタ
70,71,72 NDフィルタによる光透過量を変更する手段
wk 試料[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical measurement device that receives light from a sample through a pinhole with a photomultiplier tube, and observes or measures the sample based on an electric signal corresponding to the amount of light received from the photomultiplier tube.
[0002]
[Prior art]
There is a confocal microscope as such an optical measuring device. A confocal microscope scans a sample with monochromatic light emitted from a light source such as a laser, receives light from the sample with a light-receiving element via a confocal optical system, and based on the amount of received light, a super-focus depth image of the sample. Information such as height and height distribution. For example, when the distance between the sample placed on the stage and the objective lens is changed in the optical axis direction, the amount of light incident on the light receiving element via the confocal optical system, that is, the amount of received light changes, and the surface of the sample changes. The amount of received light is maximized when the object is in focus. Therefore, height information of the surface of the sample is calculated from the relative distance between the sample and the objective lens when the maximum amount of received light is obtained, and the height distribution of the surface of the sample is obtained by scanning the surface of the sample with light. be able to.
[0003]
The acquired height distribution is displayed on the screen of the display device by, for example, three-dimensional display. Alternatively, the height distribution replaced with a luminance distribution or a color distribution is displayed on the screen. A CRT (cathode ray tube) or an LCD (liquid crystal display) is used as a display device, and a controller for control, a display device, a console, and the like are connected to the confocal microscope to form a confocal microscope system.
[0004]
In addition, by connecting information on the amount of light received when each point (pixel) on the sample surface is focused (that is, information on the maximum luminance of each pixel), a monochrome image of the sample surface with a very deep depth of focus can be obtained. Can be. This image is a so-called super-depth image.
[0005]
In the above confocal microscope system, a photomultiplier tube (photomultiplier tube) is often used as a light receiving element. A photomultiplier is a vacuum tube composed of a photocathode, a secondary electron multiplying mechanism, and an anode.Photoelectrons emitted when light enters the photocathode are multiplied and collected by the anode. It is taken out. By using a multistage secondary electron emission surface, a large multiplication factor (high light receiving sensitivity) can be obtained.
[0006]
In an optical measuring device using such a photomultiplier tube as a light receiving element, particularly in a confocal microscope, when a sample having a very high light reflectance such as a mirror surface is measured (observed), an excessive amount of light increases. A photocurrent exceeding the maximum rating flows into the multiplier and the photomultiplier may be destroyed.
[0007]
In order to prevent this phenomenon, the output of light (for example, laser light) emitted from the light source is reduced, or an ND filter that restricts the amount of transmitted light is inserted into the optical path on the light projecting side, thereby reducing the amount of light applied to the sample. Limiting the intensity (light quantity) is performed by a conventional confocal microscope. In addition, there is an optical measuring device capable of adjusting the photoelectric conversion efficiency (gain) of the photomultiplier tube itself so that a current exceeding the maximum rating does not flow through the photomultiplier tube.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
However, the method of lowering the output of light (for example, laser light) emitted from the light source may cause a deterioration in the S / N ratio in the case of, for example, a configuration in which a light receiving element for monitoring the amount of light is separately provided. When the light source is a semiconductor laser, its electrostatic breakdown state and life degradation can be determined from the operating current. However, if the operating current is reduced to reduce the output, electrostatic breakdown and life degradation may occur. It is difficult to accurately determine the progress. In addition, it is difficult to maintain a constant output due to external factors such as environmental temperature. To stabilize the output of a light source such as a semiconductor laser, it is desirable to design the drive circuit so as to be stable with a configuration as simple as possible.
[0009]
Further, the method of inserting an ND filter into the light path on the light projecting side to limit the amount of light requires high accuracy in fixing the ND filter. That is, unless the ND filter is fixed exactly at right angles to the optical axis, the optical axis shifts, and the optical performance may deteriorate due to an unexpected optical axis shift. In particular, when a plurality of ND filters having different light transmission amounts (light transmittances) are switched and used, all the ND filters need to be accurately perpendicular to the optical axis. , Which increases manufacturing costs.
[0010]
In addition, the method of adjusting the photoelectric conversion efficiency (gain) of the photomultiplier tube itself so that a current exceeding the maximum rating does not flow through the photomultiplier tube has the following problem. That is, if the light incident on the light receiving surface of the photomultiplier tube is too strong, a saturation phenomenon (a phenomenon in which the photocurrent does not increase in proportion to the amount of received light) occurs on the light receiving surface itself. A photomultiplier tube can output a photocurrent following an instantaneous large amount of light, but has a characteristic that when a large amount of light continuously enters, the output is reduced due to saturation. As a result, ringing occurs in the output current.
[0011]
When an image of the sample surface is acquired by scanning the sample surface with laser light, a phenomenon such as a white tail in the scanning direction occurs at the edge of the image where the light reflectance of the sample surface switches from low to high. May occur. This is because, in a portion where a dark portion having a low light reflectance changes to a bright portion having a high light reflectance, a brighter portion is displayed than a surrounding bright portion. Such a phenomenon may not only deteriorate the appearance of the obtained image, but also adversely affect measurement accuracy and reliability.
[0012]
In view of the above problems, the present invention prevents saturation of a photomultiplier tube, adjusts an appropriate amount of received light, without affecting optical systems including a light path on a light emitting side and a light source driving circuit. It is an object of the present invention to provide an optical measurement device, a confocal microscope system, and a computer program capable of obtaining an image with high reliability.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
An optical measurement apparatus according to the present invention is an optical measurement apparatus that receives light from a sample through a pinhole with a photomultiplier tube, and performs observation or measurement of the sample based on an electric signal corresponding to an amount of light received from the photomultiplier tube. The measuring device is characterized in that an ND filter for limiting the amount of light transmission is arranged between the pinhole and the photomultiplier tube, and means for changing the amount of light transmission by the ND filter is provided.
[0014]
According to such a configuration, saturation of the photomultiplier can be prevented without adversely affecting the optical system including the light path on the light projecting side and the light receiving element for monitoring the amount of light. That is, the arrangement accuracy of the optical element in the optical system after passing through the pinhole is not so severe compared to the optical system before passing through the pinhole. Further, in order to make full use of the performance of the photomultiplier, it is necessary to secure a certain distance between the pinhole and the photomultiplier. By arranging the ND filter by utilizing the space between the pinhole and the photomultiplier, saturation of the photomultiplier can be effectively prevented.
[0015]
The optical measuring device according to the present invention is preferably a confocal microscope system. That is, the confocal microscope system according to the present invention receives light from the sample via the confocal optical system with the light receiving element, acquires height information and light amount information on the surface of the sample based on the received light information, Is a confocal microscope system that displays an image of the surface of the screen on a screen. A photomultiplier tube is used as a light receiving element, and the amount of light transmission between the pinhole and the photomultiplier tube that constitute the confocal optical system is limited. An ND filter is provided, and means for changing the amount of light transmitted by the ND filter is provided.
[0016]
With such a configuration, it is possible to prevent saturation of the photomultiplier tube and adjust the amount of received light to an appropriate level without adversely affecting the optical system including the light path on the light emitting side and the light receiving element for monitoring the amount of light. A high image (such as a super-depth image) can be obtained.
[0017]
Further, a computer program according to the present invention is a program to be executed by a computer connected to the confocal microscope system, wherein the brightness of a screen display is increased by a predetermined amount of light slightly smaller than a limit at which a light receiving surface of a light receiving element is saturated. Adjusting the light-receiving gain so that the light-receiving gain is saturated, storing the adjusted light-receiving gain as a lower limit, and limiting the light-receiving gain to be lower than the lower limit when adjusting the brightness of the screen display by the user. Informing the user that it is necessary to reduce the amount of light transmitted by the ND filter to further reduce the brightness of the screen display.
[0018]
When setting and adjusting the measurement conditions of the confocal microscope system using a computer connected to the confocal microscope system, the intensity of light incident on the light receiving element (photomultiplier tube) by the computer program as described above. Is appropriately adjusted by the ND filter. As a result, saturation of the photomultiplier is prevented, and a highly reliable image can be obtained.
[0019]
Such a computer program is supplied in a state of being stored in a computer-readable storage medium such as a CD-ROM, and is installed in a computer from the storage medium and executed.
[0020]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0021]
FIG. 1 shows a schematic configuration of a confocal microscope system which is an optical measurement device according to an embodiment of the present invention. The confocal microscope system 1 includes a confocal microscope having a confocal optical system 2 and a non-confocal
[0022]
First, the confocal optical system 2 of the confocal microscope and its signal processing will be described. The confocal optical system 2 includes a
[0023]
As the
[0024]
The horizontal /
[0025]
However, the distance in the optical axis direction between the focal point of the objective lens 17 and the sample wk can be changed by another method. For example, instead of driving the objective lens 17 in the Z direction, the
[0026]
In the confocal microscope of the present embodiment, the objective lens 17 can be electrically moved in the Z-axis direction via the objective
[0027]
The laser beam reflected by the sample wk is reflected by the
[0028]
The height (depth) information of the sample wk can be acquired by the confocal optical system 2 configured as described above. The principle will be briefly described below.
[0029]
As described above, when the objective lens 17 is driven in the Z direction (optical axis direction) by the objective
[0030]
Therefore, if the amount of light received by the
[0031]
In practice, each time the objective lens 17 is moved by one step (one pitch), the surface of the sample wk is scanned by the horizontal /
[0032]
FIG. 2 is a graph illustrating an example of the amount of received light that changes according to the position of the objective lens 17 in the Z direction. Based on such received light amount data, the maximum received light amount and the Z-direction position at that time are obtained for each point (pixel). Therefore, the distribution of the surface height of the sample wk on the XY plane is obtained. This process is executed by the
[0033]
The obtained surface height distribution information can be displayed on the monitor screen of the
[0034]
Further, a surface image (monochrome image) of the sample wk can be obtained from a luminance signal using the received light amount obtained for each point (pixel) in the XY scanning range as luminance data. If a luminance signal is generated using the maximum amount of received light in each pixel as luminance data, an ultra-deep image with an extremely deep focal depth focused at each point having a different surface height can be obtained. When the height (Z-direction position) at which the maximum amount of received light is obtained at an arbitrary pixel of interest is fixed, the amount of received light of a pixel having a large height difference from the pixel of interest is significantly small, and An image in which only portions having the same height are bright (ie, a slice image) is obtained.
[0035]
In FIG. 1, an
[0036]
It should be noted that the optical system after passing through the pinhole of the pinhole plate 9 is not so severe in the arrangement accuracy of the optical elements as compared with the optical system before passing through the pinhole. Therefore, there is no problem even if the
[0037]
In order to make full use of the performance of the photomultiplier tube as the
[0038]
Next, the non-confocal
[0039]
For example, a white lamp is used as the
[0040]
The white light reflected by the sample wk passes through the objective lens 17 and the
[0041]
The
[0042]
The controller including the
[0043]
The user can set various measurement parameters using the
[0044]
The confocal microscope system 1 (controller) of the present embodiment is also provided with a communication interface for connecting an external computer system such as a personal computer. By connecting an external computer system in which dedicated software for controlling the confocal microscope system 1 is installed to the confocal microscope system 1, processing of acquired image information and height distribution information of the sample wk can be performed seamlessly. It is possible to do.
[0045]
FIG. 3 is a block diagram illustrating an example of a hardware configuration in which an
[0046]
The dedicated software for controlling the confocal microscope system 1 is supplied in a state stored in a
[0047]
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a screen display of the display device 51 by the dedicated software. In a
[0048]
FIG. 5 is an enlarged view of the
[0049]
Alternatively, by selecting an appropriate numerical value from a pull-down menu that appears when the
[0050]
In addition, if the
[0051]
FIGS. 6 and 7 are flowcharts relating to a method of adjusting the brightness of an image by adjusting the light receiving gain and adjusting the light transmittance of the ND filter. These flowcharts include a step in which the
[0052]
First, a process for setting the lower limit of the light receiving gain will be described with reference to FIG. In
[0053]
Saturation of the light receiving surface of the photomultiplier tube, which is the light receiving
[0054]
At this time, when the amount of light transmitted through the
[0055]
Next, brightness adjustment by the user is performed according to the flowchart of FIG. If the user determines in
[0056]
At this time, the
[0057]
If it is determined in the
[0058]
According to the brightness adjustment method as described above, when the user performs the adjustment to reduce the brightness of the screen, the user cannot reduce the transmission amount by the
[0059]
As described above, the embodiments of the present invention have been described including the modified examples as appropriate. However, the present invention is not limited to the above embodiments, and can be implemented in various forms. For example, the optical measuring device of the above embodiment is a reflection type color confocal microscope, but the present invention can be applied to a transmission type color confocal microscope. In the case of a transmission type color confocal microscope, laser light of a confocal optical system and white light of a non-confocal optical system are emitted from the back surface of the sample. The monochromatic light source used in the confocal optical system is not limited to the laser light source, and the monochromatic light source may be configured by a combination of a light source including a plurality of wavelengths such as a mercury lamp and a band filter. The light source of the non-confocal optical system can be replaced by natural light or room light. Further, the present invention is not limited to a confocal microscope, but can be widely applied to an optical measuring device using a photomultiplier tube as a light receiving element.
[0060]
【The invention's effect】
As described above, according to the optical measurement device, the confocal microscope system, and the computer program of the present invention, the ND filter is provided between the pinhole and the photomultiplier tube as the light receiving element, and the light transmission amount is provided. , The saturation of the photomultiplier can be effectively prevented without complicating the optical system including the light path on the light projecting side, the driving circuit of the light source, and the like.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a confocal microscope system which is an optical measurement device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a graph illustrating an example of a light receiving amount that changes according to a Z-direction position of an objective lens.
FIG. 3 is a block diagram illustrating a hardware configuration example in which an external computer system is connected to a controller of the confocal microscope system.
FIG. 4 is a diagram showing an example of a screen display of a display device using dedicated software.
FIG. 5 is an enlarged view of an operation unit area in the screen display of FIG. 4;
FIG. 6 is a flowchart illustrating a method of adjusting the brightness of an image by adjusting the light receiving gain and adjusting the light transmittance of the ND filter.
FIG. 7 is a flowchart illustrating a method of adjusting the brightness of an image by adjusting the light receiving gain and adjusting the light transmittance of the ND filter.
[Explanation of symbols]
2 confocal optical system 9 pinhole plate 17
24 color imaging device (color CCD)
49 ND filters 70, 71, 72 Means wk for changing light transmission amount by ND filter Sample
Claims (4)
前記ピンホールと前記光電子増倍管との間に光透過量を制限するNDフィルタが配置され、前記NDフィルタによる光透過量を変更する手段が設けられていることを特徴とする光学測定装置。An optical measurement device that receives light from a sample through a pinhole with a photomultiplier tube and performs observation or measurement of the sample based on an electric signal corresponding to a received light amount output from the photomultiplier tube,
An optical measurement device, comprising: an ND filter that restricts an amount of light transmitted between the pinhole and the photomultiplier tube; and a unit that changes an amount of light transmitted by the ND filter.
前記受光素子として光電子増倍管が使用され、前記共焦点光学系を構成するピンホールと前記光電子増倍管との間に光透過量を制限するNDフィルタが配置され、前記NDフィルタによる光透過量を変更する手段が設けられていることを特徴とする共焦点顕微鏡システム。Light from a sample is received by a light receiving element via a confocal optical system, height information and light amount information of the surface of the sample are acquired based on the received light information, and an image of the surface of the sample is displayed on a screen. A focus microscope system,
A photomultiplier tube is used as the light receiving element, and an ND filter for limiting an amount of light transmission is arranged between a pinhole constituting the confocal optical system and the photomultiplier tube. A confocal microscope system comprising means for changing the amount.
前記受光素子の受光面が飽和する限界より僅かに小さい所定光量の光によって前記画面表示の明るさが飽和するように受光ゲインを調整するステップと、
前記調整後の受光ゲインを下限値として記憶するステップと、
ユーザによる画面表示の明るさ調整に際して、前記受光ゲインが前記下限値より下がることを制限し、画面表示の明るさを更に下げるには前記NDフィルタによる光透過量を減少する必要があることをユーザに知らせるステップと
を備えていることを特徴とするコンピュータプログラム。A program to be executed by a computer connected to the confocal microscope system,
Adjusting the light receiving gain so that the brightness of the screen display is saturated by a predetermined amount of light slightly smaller than the limit at which the light receiving surface of the light receiving element is saturated;
Storing the light reception gain after the adjustment as a lower limit value,
When adjusting the brightness of the screen display by the user, the user is required to limit the light reception gain from falling below the lower limit value and to reduce the amount of light transmitted by the ND filter in order to further reduce the brightness of the screen display. A computer program.
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JP2007275220A (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Pentax Corp | Confocal endoscope system |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007275220A (en) * | 2006-04-05 | 2007-10-25 | Pentax Corp | Confocal endoscope system |
EP2065745A2 (en) | 2007-11-26 | 2009-06-03 | Olympus Corporation | Microscope observation system |
US8102418B2 (en) | 2007-11-26 | 2012-01-24 | Olympus Corporation | Microscope observation system |
US8860163B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-10-14 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Optical structure of semiconductor photomultiplier and fabrication method thereof |
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