JP2004170284A - Permeability measuring device - Google Patents

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JP2004170284A
JP2004170284A JP2002337427A JP2002337427A JP2004170284A JP 2004170284 A JP2004170284 A JP 2004170284A JP 2002337427 A JP2002337427 A JP 2002337427A JP 2002337427 A JP2002337427 A JP 2002337427A JP 2004170284 A JP2004170284 A JP 2004170284A
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英治 鈴木
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain accurate relative permeability by accurately obtaining magnetic field information over from a low-frequency band to a high-frequency band. <P>SOLUTION: A magnetic field generating coil 14 generates a nearly uniform alternating current magnetic field with the alternating current from a high-frequency power source 18. A printed board 20 having an annular conductive pattern 22 is arranged in the magnetic field generating coil 14. A through hole 26 is provided in a part of the printed board 20 inside the conductive pattern 22, and a gap 24 is provided on the way to the conductive pattern 22. An electro-optical element 28 formed into a rectangular parallelopiped is inserted into the gap 24 of the conductive pattern 22. After the laser beam from a laser beam source passes the electro-optical element 28, a photo-receiver detects the laser beam. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、低周波数帯域から高周波数帯域まで高精度に磁界情報を取得して磁性材料の透磁率を正確に測定する透磁率測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、磁性材料の透磁率の測定にはインダクタンス法やヨーク法等が利用されている他、下記の特許文献1、2に開示された透磁率測定装置も高周波透磁率測定用としてそれぞれ知られている。この内の例えば特許文献1には、図5に示すように磁性試料Mを挿入する貫通穴を有した測定用コイル116が、磁界発生用コイル112内に設置された構造となる透磁率測定装置が開示されている。
【0003】
この透磁率測定装置では、高周波電源114からの電圧によりこの磁界発生用コイル112に交流磁界を発生させ、測定用コイル116でこの交流磁界を検出すると共に、得た磁界情報を電気信号として金属伝送路である信号引出し部118及びアース導体120を介して図示しない測定機側に伝送するような、磁界センサとして機能するようになっていた。
【0004】
そして、測定用コイル116の貫通穴に磁性試料Mを挿入していない場合の測定用コイル116の出力となる電気信号と、測定用コイル116の貫通穴に磁性試料Mを挿入した場合の出力となる電気信号が、信号引出し部118及びアース導体120を介して伝送された測定機においてそれぞれ計測され、これら各場合の出力からこの磁性試料Mの比透磁率を求めていた。
【0005】
【特許文献1】
特開平7−104044号公報
【特許文献2】
特開昭61−57871号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、特許文献1にて開示された透磁率測定装置により、高周波透磁率を測定しようとした場合、測定用コイル116と信号引出し部118等の金属伝送路との接続部におけるインピーダンス整合が不十分な為に反射が生じることや、測定用コイル116や信号引出し部118等の金属伝送路が受信する電界による信号が重畳されることにより、測定精度が低下してしまう虞を有していた。つまり、この結果として、100MHz程度までしか比透磁率の測定ができず、GHz帯での高精度な比透磁率の測定は出来なかった。
【0007】
以上より、従来の透磁率測定装置によっては、GHz帯のような高周波数帯域における比透磁率の高精度な測定は困難であった。
本発明は上記事実を考慮し、低周波数帯域から高周波数帯域まで高精度に磁界情報を取得して正確な比透磁率を得る透磁率測定装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
請求項1による透磁率測定装置は、光を発生する光源と、
交流磁界を発生し得る磁界発生用コイルと、
磁界発生用コイル内に配置され且つ、ギャップを有しつつ導電性材料により環状に形成された磁界検出用コイルと、
磁界検出用コイルのギャップに挿入され且つ、光源からの光が通過され得る電気光学結晶と、
電気光学結晶を通過した光の状態を検出する光検出部材と、
を有したことを特徴とする。
【0009】
請求項1に係る透磁率測定装置によれば、ギャップを有しつつ導電性材料により環状に形成された磁界検出用コイルが、交流磁界を発生し得る磁界発生用コイル内に配置され、この磁界検出用コイルのギャップに電気光学結晶が挿入された構成を有している。さらに、光を発生する光源からの光がこの電気光学結晶を通過し、この通過した光の状態を光検出部材が検出するようになる。
【0010】
従って、本請求項に係る透磁率測定装置は、磁界発生用コイル内に配置された磁界検出用コイルにギャップが形成され、このギャップに電気光学結晶が挿入される構成とされている。そして、この電気光学結晶に光源からの例えばレーザー光等の光を通過させることで、この磁界検出用コイルが検出して取得した磁界情報を電気光学結晶の電気光学効果を利用して光信号に変換することができる。
【0011】
具体的には、磁界検出用コイル内に磁性試料を挿入していない場合の出力及び、この磁界検出用コイル内に磁性試料を挿入した場合の出力が、電気光学結晶を通過した光の状態を光検出部材により検出することでそれぞれ得られ、これら各場合の出力を基に、この磁性試料の比透磁率を得ていた。
【0012】
これに伴い本請求項に係る透磁率測定装置のセンサ部分は、磁界検出用コイル及び電気光学結晶によって磁界を光信号に変換しこの光信号を伝送するような簡易な構成であり、この電気光学結晶を通過した光源からの光の状態を光検出部材が検出するようになっているので、電気信号を金属伝送路により伝送する従来の磁界センサと異なって、金属伝送路を使用していないことになる。
【0013】
この為、電界の影響が少ない状態での磁界測定が可能であり、また磁界検出用コイルと金属伝送路との接続部におけるインピーダンス整合が不十分なことによる反射を無くすこともできる。つまり、光を用いていることから、低周波数帯域だけでなく特にGHz帯等の高周波数帯域においても、高精度に高周波透磁率の測定が可能になる。
【0014】
以上の結果として、本請求項に係る透磁率測定装置によれば、低周波数帯域から高周波数帯域まで高精度な磁界の測定が可能となると共に高精度なままでの磁界情報の伝送が可能となるのに伴って、高精度に磁界情報を取得して正確な比透磁率を得ることができる。
【0015】
請求項2に係る透磁率測定装置によれば、請求項1の透磁率測定装置と同様の構成の他に、基板上に配置された導体パターンにより磁界検出用コイルが形成され、この基板の磁界検出用コイル内の部分に貫通穴が設けられるという構成を有している。
【0016】
つまり、本請求項によれば請求項1の作用効果だけでなく、基板上に配置された導体パターンにより磁界検出用コイルが形成されることで、磁界検出用コイルの形状が安定し、これに伴って測定データも安定化するという作用効果をも有する。また、基板上に磁界検出用コイルが配置されているので、この磁界検出用コイルのギャップ内への電気光学結晶の取り付けも容易になる。
【0017】
請求項3に係る透磁率測定装置によれば、請求項1及び請求項2の透磁率測定装置と同様の構成の他に、電気光学結晶が、ニオブ酸リチウム又はタンタル酸リチウムにより形成されるという構成を有している。つまり、ニオブ酸リチウム又はタンタル酸リチウムを電気光学結晶として採用することで、請求項1の作用効果をより確実に達成可能となる。
【0018】
請求項4に係る透磁率測定装置によれば、請求項1から請求項3の透磁率測定装置と同様の構成の他に、磁界検出用コイルのギャップ周辺部分に支持部を設け、この支持部間で電気光学結晶を挟持することで、電気光学結晶がギャップに挿入されるという構成を有している。
【0019】
つまり、磁界検出用コイルを請求項2のように基板上に配置された導体パターンとすれば、ギャップに電気光学結晶を単に挿入しただけでは、電気光学結晶の広い範囲で均一に電界を印加できないが、例えば金属製の支持部をギャップ周辺部分に設けた場合には、この支持部間で電気光学結晶を挟持する形となるので、支持部が電極となって電気光学結晶の広い範囲で電界を均一に印加できるようになる。この結果として、電気光学結晶の電気光学効果をより確実に利用できるのに伴って、請求項1の作用効果をより一層確実に達成可能となる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る透磁率測定装置の一実施の形態を図面に基づき説明する。本実施の形態に係る透磁率測定装置10は、図1から図4に示すように、被測定対象とする電磁界中に配置される光磁界センサであるセンサ本体12及び、レーザー光Lを送受光し得る光学系等により、構成されている。
【0021】
図1及び図2に示すように、このセンサ本体12の外枠となる磁界発生用コイル14が、金属板を屈曲した四角形の筒状であって一端が開放された形に形成されている。この開放された磁界発生用コイル14の両側の端部に配線16がそれぞれ接続されており、高周波数の交流電流を発生する高周波電源18が、この配線16を介して磁界発生用コイル14の端部にそれぞれ接続されている。この為、高周波電源18からの交流電流によって、磁界発生用コイル14がほぼ一様な交流磁界を発生することになる。
【0022】
この磁界発生用コイル14内には、図1から図3に示すようなガラスエポキシ製のプリント基板20が、磁界発生用コイル14の貫通方向に対して面を直交する形で配置されており、このプリント基板20上には、環状の内の例えば長方形に形成された磁界検出用コイルである導体パターン22が、金属等の導電性材料で平面的に設けられている。そして、このプリント基板20の導体パターン22内の部分には、導体パターン22の内周側に沿った内周面を有する貫通穴26が、設けられており、また、この導体パターン22の途中の部分には、隙間であるギャップ24がプリント基板20を切り欠きつつ、設けられている。
【0023】
一方、特に本実施の形態の要部を詳細に表す図3に示すように、このギャップ24を形成する導体パターン22の端部には、支持部である一対の平行平板電極25A、25Bが相互に平行になるようにそれぞれ配置されている。つまり、導体パターン22のギャップ24の周辺部分には、L字形に銅等で形成された一対の平行平板電極25A、25Bが、半田づけによってそれぞれ接続されている。
【0024】
また、導体パターン22のギャップ24内には、直方体状に形成された電気光学素子28が、これら一対の平行平板電極25A、25Bの相互に対向する側にそれぞれ当接されると共に例えば図示しない導電性接着剤で接着される形で、挿入されて配置されている。この電気光学素子28は、電気光学結晶により形成されているが、この電気光学結晶としては、加わる電圧の変化により屈折率が変化する例えばニオブ酸リチウム(LiNbO)の結晶が、用いられている。
【0025】
従って、本実施の形態に係るセンサ本体12は、磁界発生用コイル14、高周波電源18、プリント基板20、導体パターン22、平行平板電極25A、25B及び電気光学素子28等により、製作できることになり、また、本実施の形態では、磁界情報を確実に抽出できるように光学軸方向が所定の方向に向く形で、この電気光学素子28は配置されている。
【0026】
次に、本実施の形態に係る透磁率測定装置10の光学系全体について、図4に基づき説明する。
図4に示すように本実施の形態では、レーザー光Lを発生するレーザー光源30を有しており、このレーザー光源30に接続された光ファイバ32の端部に設けられた発光部となるレンズ32Aがレーザー光源30から送られたレーザー光Lを射出するようになっている。
【0027】
一方、光の強度の変化を電流量の変化に変換する光検出部材であるフォトレシーバ42に光ファイバ40が繋がれており、この光ファイバ40の端部に設けられて受光部となるレンズ40Aが、レーザー光Lを受光するようになっている。この為、レンズ40Aが受光したレーザー光Lが光ファイバ40内を通過し、フォトレシーバ42がこのレーザー光Lの状態を検出し得るようになっている。そして、このフォトレシーバ42には、フォトレシーバ42で変換された電流量の変化を表示し得るネットワークアナライザ44が接続されており、またこのネットワークアナライザ44が磁界発生用コイル14にも接続されている。
【0028】
さらに、前述のレンズ32Aから射出されたレーザー光Lを受光し得る位置にこのレンズ40Aは配置されており、これらのレンズ32Aとレンズ40Aとの間には、レンズ32A側から順に、レーザー光Lを偏光する偏光子34、電気光学素子28、波長板36及び、偏光状態の変化を光の強度変化に変換する検光子38が、直線上に並んで配置されている。つまり、本実施の形態はレーザー光Lが直進する直進系となっている。
【0029】
以上より、レーザー光源30がレーザー光Lを発生すると、この光ファイバ32内を通過すると共にレンズ32Aから射出されて、上記の順でレーザー光Lが通過し、光ファイバ40のレンズ40Aで受光するようになる。そして、レンズ40Aから光ファイバ40内に入ったこのレーザー光Lの状態をフォトレシーバ42が検出することになる。
【0030】
他方、導電性のループである図1から図3に示す導体パターン22の貫通穴26内を例えば磁束が貫通した場合には、この導体パターン22に電流が流れる。これに伴って、この導体パターン22のギャップ24周辺に電圧が生じると共に、このギャップ24内に配置された電気光学素子28にこの電圧が加わって電界が生じる結果として、この電気光学素子28の屈折率が変化する。つまり、導体パターン22内を貫通した磁束は、センサ本体12により検出された磁界情報となり、この磁界情報が、電気光学素子28の屈折率の変化に変換される。
【0031】
さらに、本実施の形態に係る透磁率測定装置10は、図4に示す構造より電気光学素子28の屈折率の変化をこの電気光学素子28に打ち込まれたレーザー光Lの偏光状態の変化として一旦捉えることができる。そして、検光子38を通過させることによって、偏光状態の変化をレーザー光Lの強度変化に変換し、最後にフォトレシーバ42によって電流量の変化に変換されることになる。この結果として、このフォトレシーバ42に接続されるネットワークアナライザ44がこの電流量の変化を表示でき、このネットワークアナライザ44の表示に基づいて比透磁率を算出することで、比透磁率が得られるようになる。
【0032】
以上のことから、本実施の形態に係る透磁率測定装置10の光学系は、レーザー光源30及びフォトレシーバ42、さらにはこれらレーザー光源30とフォトレシーバ42との間に配置された光ファイバ32、偏光子34、波長板36、検光子38及び光ファイバ40等で、構成されていることになる。
【0033】
次に、上記のフォトレシーバ42の出力から比透磁率を算出する手順を説明する。
具体的には、以上の透磁率測定装置10において磁界発生用コイル14により交流磁界を発生させ、図1に示すプリント基板20の貫通穴26に磁性試料Mを挿入していない場合のフォトレシーバ42の出力と、図2に示すこの貫通穴26に磁性試料Mを挿入した場合のフォトレシーバ42の出力とをそれぞれ求め、以下の数式によってこの磁性試料Mの比透磁率を得るようにする。
【0034】
先ず、図1に示す状態での出力をVOUT0とし、図2に示す状態での出力をVOUTMとして、下記の式1、式2からプリント基板20の貫通穴26に磁性試料Mを挿入していない場合の磁界による誘導起電圧V及び、この貫通穴26に磁性試料Mを挿入した場合の磁界による誘導起電圧Vをそれぞれ算出する。
【0035】
=α・VOUT0…式1
=α・VOUTM…式2
つまり、これら式1、式2から誘導起電圧V、Vは、フォトレシーバ42の出力VOUT0、VOUTMとそれぞれ線形関係にある。ここで、αはセンサ本体12と光学系により定まる定数である。
【0036】
さらに、これら誘導起電圧V、Vから磁性試料Mの比透磁率であるμは、次の式3により算出される。
μ=S/(t・d)・(V/V−1)+1…式3
ここで、図1に示すように、Sは貫通穴26の開口面積、tは磁性試料Mの厚さ、dは磁性試料Mの幅である。
【0037】
次に、本実施の形態に係る透磁率測定装置10の作用を説明する。
本実施の形態に係る透磁率測定装置10によれば、図1から図4に示すように、ほぼ一様な交流磁界を発生し得る磁界発生用コイル14内にプリント基板20が配置されており、このプリント基板20上に導電性材料により環状に形成された導体パターン22が配置され、またこのプリント基板20の導体パターン22内の部分に貫通穴26が設けられている。さらに、この導体パターン22にはギャップ24が形成されており、このギャップ24に光学軸方向が調整された状態で電気光学素子28が挿入されている。
【0038】
さらに、レーザー光源30からのレーザー光Lが、図4に示すようにレーザー光源30とフォトレシーバ42との間に配置されている光ファイバ32、偏光子34、電気光学素子28、波長板36、検光子38及び光ファイバ40を通過し、これらを通過したレーザー光Lの状態をフォトレシーバ42が最終的に検出するようになる。
【0039】
従って、本実施の形態に係る透磁率測定装置10は、磁界発生用コイル14内に配置された導体パターン22にギャップ24が形成され、このギャップ24に電気光学素子28が挿入される構成とされている。そして、この電気光学素子28にレーザー光源30からのレーザー光Lを通過させることで、この導体パターン22が検出して取得した磁界情報を電気光学素子28の電気光学効果を利用して前述のように光信号に変換していた。
【0040】
さらに本実施の形態では、レーザー光源30とフォトレシーバ42との間に配置された偏光子34、波長板36及び検光子38がレーザー光Lの状態を調整し、この最適に調整されたレーザー光Lの状態をフォトレシーバ42が検出し、ネットワークアナライザ44が、このフォトレシーバ42で検出された磁界情報を表示していた。そして、最終的にこの表示された磁界情報から比透磁率を算出していた。
【0041】
具体的には、図1に示す導体パターン22内の貫通穴26に磁性試料Mを挿入していない場合の出力VOUT0及び、図2に示すこの貫通穴26に磁性試料Mを挿入した場合の出力VOUTMが、電気光学素子28を通過したレーザー光Lの状態をフォトレシーバ42でそれぞれ検出することで得られ、これら各場合の出力を基に、前述の数式によってこの磁性試料Mの比透磁率μを得ていた。
【0042】
これに伴い本実施の形態に係る透磁率測定装置10のセンサ部分は、導体パターン22及び電気光学素子28によって磁界を光信号に変換しこの光信号を伝送するような簡易な構成であり、この電気光学素子28を通過したレーザー光源30からのレーザー光Lの状態をフォトレシーバ42が検出するようになっているので、電気信号を金属伝送路により伝送する従来の磁界センサと異なって、金属伝送路を使用していないことになる。
【0043】
この為、電界の影響が少ない状態での磁界測定が可能であり、導体パターンと金属伝送路との接続部におけるインピーダンス整合が不十分なことによる反射を無くすこともでき、レーザー光Lを用いていることから、低周波数帯域だけでなく特にGHz帯等の高周波数帯域においても、高精度に透磁率の測定が可能になる。
【0044】
以上の結果として、本実施の形態に係る透磁率測定装置10によれば、低周波数帯域から高周波数帯域まで高精度な磁界の測定が可能となると共に高精度なままでの磁界情報の伝送が可能となるのに伴って、高精度に磁界情報を取得して比透磁率を高精度に得ることができるようになる。
【0045】
一方、本実施の形態では、プリント基板20上に配置された導体パターン22により磁界検出用コイルが形成され、このプリント基板20の導体パターン22内の部分に貫通穴26が設けられているので、導体パターン22の形状が安定し、これに伴って測定データも安定化する。また、プリント基板20上に導体パターン22が配置されているので、この導体パターン22のギャップ24内への電気光学素子28の取り付けも容易になる。
【0046】
他方、本実施の形態では、図3に示すように、導体パターン22のギャップ24周辺部分に一対の平行平板電極25A、25Bを設け、これら一対の平行平板電極25A、25Bで電気光学素子28を挟持することで、電気光学素子28がギャップ24に挿入された構造になっている。
【0047】
つまり、導体パターン22のギャップ24に電気光学素子28を単に挿入しただけでは、電気光学素子28の広い範囲で均一に電界を印加できないものの、金属製の平行平板電極25A、25Bをギャップ24周辺部分に設け、これら平行平板電極25A、25B間で電気光学素子28を挟持する形とすれば、平行平板電極25A、25Bによって電気光学素子28の広い範囲で電界を均一に印加できるようになる。この結果として、電気光学素子28の電気光学効果をより確実に利用できるのに伴って、上記の高精度に磁界情報を取得して比透磁率を高精度に得るという作用効果をより一層確実に達成できるようになる。
【0048】
尚、本実施の形態では、電気光学素子28を一対の平行平板電極25A、25B間に配置する際に導電性接着剤を用いたが、電気光学素子28に導電性接着剤を塗布せずに、一対の平行平板電極25A、25Bで単に挟持するようにしても良い。また、一対の平行平板電極25A、25Bの少なくとも電気光学素子28と対向する部分の厚さは、例えば150μm程度とすることが考えられる。
【0049】
さらに、上記実施の形態では、導体パターン22を長方形としたが、正方形や円形等の他の形状に導体パターン22を形成しても良く、また、導体パターン22は本実施の形態のような薄い金属性の導電性材料に限らず、ワイヤー等の部材であっても良い。一方、上記実施の形態では、電気光学結晶として、ニオブ酸リチウム(LiNbO)を採用したが、タンタル酸リチウム(LiTaO)等の他の電気光学結晶を採用しても良い。さらに、上記実施の形態では、電気光学結晶を1つ使用したが、2つ使用した形にしても良い。
【0050】
【発明の効果】
本発明によれば、低周波数帯域から高周波数帯域まで高精度に磁界情報を取得して正確な比透磁率が得られる透磁率測定装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係るセンサ本体の一部破断した斜視図であって、貫通穴に磁性試料が挿入されていない状態を示す図である。
【図2】本発明の一実施の形態に係るセンサ本体の一部破断した斜視図であって、貫通穴に磁性試料が挿入された状態を示す図である。
【図3】本発明の一実施の形態に適用されるプリント基板を示す図であって、(A)は正面図であり、(B)は(A)の3B−3B矢視線図である。
【図4】本発明の一実施の形態に係る透磁率測定装置を示す全体図である。
【図5】従来例の透磁率測定装置を示す全体図である。
【符号の説明】
10 透磁率測定装置
14 磁界発生用コイル
20 プリント基板(基板)
22 導体パターン(磁界検出用コイル)
24 ギャップ
25A 平行平板電極(支持部)
25B 平行平板電極(支持部)
26 貫通穴
28 電気光学素子(電気光学結晶)
30 レーザー光源(光源)
42 フォトレシーバ(光検出部材)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a magnetic permeability measuring device that acquires magnetic field information with high accuracy from a low frequency band to a high frequency band and accurately measures the magnetic permeability of a magnetic material.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in order to measure the magnetic permeability of a magnetic material, an inductance method, a yoke method, and the like are used. In addition, magnetic permeability measuring devices disclosed in Patent Documents 1 and 2 below are also known for measuring high-frequency magnetic permeability. I have. Among them, for example, Patent Literature 1 discloses a magnetic permeability measuring apparatus having a structure in which a measurement coil 116 having a through hole into which a magnetic sample M is inserted as shown in FIG. Is disclosed.
[0003]
In this magnetic permeability measuring device, an AC magnetic field is generated in the magnetic field generating coil 112 by a voltage from the high frequency power supply 114, the AC magnetic field is detected by the measuring coil 116, and the obtained magnetic field information is transmitted as a metal signal as an electric signal. It functions as a magnetic field sensor that transmits the signal to a measuring device (not shown) via a signal extraction portion 118 and a ground conductor 120 which are paths.
[0004]
Then, an electric signal which is an output of the measurement coil 116 when the magnetic sample M is not inserted into the through hole of the measurement coil 116, and an output when the magnetic sample M is inserted into the through hole of the measurement coil 116. This electrical signal was measured by a measuring machine transmitted through the signal extraction unit 118 and the ground conductor 120, and the relative magnetic permeability of the magnetic sample M was determined from the output in each case.
[0005]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-104044 [Patent Document 2]
JP-A-61-58771
[Problems to be solved by the invention]
However, when the high-frequency magnetic permeability is measured by the magnetic permeability measuring device disclosed in Patent Document 1, the impedance matching at the connection between the measurement coil 116 and the metal transmission line such as the signal extraction unit 118 is insufficient. For this reason, there is a possibility that measurement accuracy may be reduced due to reflection or superimposition of a signal due to an electric field received by a metal transmission line such as the measurement coil 116 and the signal extraction unit 118. That is, as a result, the relative magnetic permeability could be measured only up to about 100 MHz, and the relative magnetic permeability could not be measured with high accuracy in the GHz band.
[0007]
As described above, it has been difficult to measure the relative magnetic permeability with high accuracy in a high frequency band such as the GHz band by the conventional magnetic permeability measuring device.
The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and has as its object to provide a magnetic permeability measuring device that obtains magnetic field information with high accuracy from a low frequency band to a high frequency band and obtains an accurate relative magnetic permeability.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A magnetic permeability measuring apparatus according to claim 1 includes a light source that generates light,
A magnetic field generating coil capable of generating an alternating magnetic field,
A magnetic field detecting coil disposed in the magnetic field generating coil and formed in an annular shape from a conductive material while having a gap,
An electro-optic crystal that is inserted into the gap of the magnetic field detection coil and through which light from the light source can pass;
A light detection member for detecting a state of light passing through the electro-optic crystal,
It is characterized by having.
[0009]
According to the magnetic permeability measuring apparatus of the first aspect, the magnetic field detecting coil formed annularly of a conductive material while having a gap is disposed in the magnetic field generating coil capable of generating an AC magnetic field. It has a configuration in which an electro-optic crystal is inserted into the gap of the detection coil. Further, light from a light source that generates light passes through the electro-optic crystal, and the state of the passed light is detected by the light detection member.
[0010]
Therefore, the magnetic permeability measuring device according to the present invention is configured such that a gap is formed in the magnetic field detecting coil disposed in the magnetic field generating coil, and the electro-optic crystal is inserted into the gap. Then, by passing light such as laser light from a light source through the electro-optical crystal, the magnetic field information detected and obtained by the magnetic field detecting coil is converted into an optical signal using the electro-optical effect of the electro-optical crystal. Can be converted.
[0011]
Specifically, the output when the magnetic sample is not inserted into the magnetic field detection coil and the output when the magnetic sample is inserted into the magnetic field detection coil indicate the state of light passing through the electro-optic crystal. The relative permeability of the magnetic sample was obtained based on the output in each case obtained by detection by the light detection member.
[0012]
Accordingly, the sensor portion of the magnetic permeability measuring apparatus according to the present invention has a simple configuration in which a magnetic field is converted into an optical signal by a magnetic field detecting coil and an electro-optic crystal and the optical signal is transmitted. Since the light detection member detects the state of the light from the light source that has passed through the crystal, unlike a conventional magnetic field sensor that transmits an electric signal through a metal transmission line, a metal transmission line must not be used. become.
[0013]
For this reason, the magnetic field can be measured in a state where the influence of the electric field is small, and reflection due to insufficient impedance matching at the connection between the magnetic field detection coil and the metal transmission line can be eliminated. That is, since light is used, high-frequency magnetic permeability can be measured with high accuracy not only in a low frequency band but also in a high frequency band such as a GHz band.
[0014]
As a result, according to the magnetic permeability measuring apparatus according to the present invention, it is possible to measure a magnetic field with high accuracy from a low frequency band to a high frequency band, and to transmit magnetic field information with high accuracy. Accordingly, magnetic field information can be acquired with high accuracy, and an accurate relative magnetic permeability can be obtained.
[0015]
According to the magnetic permeability measuring apparatus of the second aspect, in addition to the same configuration as the magnetic permeability measuring apparatus of the first aspect, a magnetic field detecting coil is formed by a conductor pattern disposed on the substrate, and the magnetic field of the substrate is It has a configuration in which a through hole is provided in a portion inside the detection coil.
[0016]
In other words, according to the present invention, not only the function and effect of claim 1 but also the magnetic field detecting coil is formed by the conductor pattern arranged on the substrate, so that the shape of the magnetic field detecting coil is stabilized. This also has the effect of stabilizing the measurement data. In addition, since the magnetic field detecting coil is disposed on the substrate, it is easy to mount the electro-optic crystal in the gap of the magnetic field detecting coil.
[0017]
According to the magnetic permeability measuring apparatus of the third aspect, in addition to the same configuration as the magnetic permeability measuring apparatus of the first and second aspects, the electro-optic crystal is formed of lithium niobate or lithium tantalate. It has a configuration. That is, by adopting lithium niobate or lithium tantalate as the electro-optic crystal, the operation and effect of claim 1 can be more reliably achieved.
[0018]
According to the magnetic permeability measuring apparatus of the fourth aspect, in addition to the same configuration as the magnetic permeability measuring apparatus of the first to third aspects, a supporting portion is provided around a gap of the magnetic field detecting coil, and the supporting portion is provided. By sandwiching the electro-optic crystal between them, the electro-optic crystal is inserted into the gap.
[0019]
In other words, if the magnetic field detecting coil is a conductor pattern arranged on the substrate as in claim 2, simply inserting the electro-optic crystal in the gap cannot apply an electric field uniformly over a wide range of the electro-optic crystal. However, for example, when a metal support is provided around the gap, the electro-optic crystal is sandwiched between the supports, so that the support serves as an electrode and an electric field is applied over a wide range of the electro-optic crystal. Can be applied uniformly. As a result, the effect of the first aspect can be more reliably achieved with the more reliable use of the electro-optic effect of the electro-optic crystal.
[0020]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of a magnetic permeability measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 to 4, the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment transmits a sensor body 12 which is an optical magnetic field sensor disposed in an electromagnetic field to be measured and a laser beam L. It is composed of an optical system capable of receiving light and the like.
[0021]
As shown in FIGS. 1 and 2, a magnetic field generating coil 14 which is an outer frame of the sensor main body 12 is formed in a rectangular tubular shape obtained by bending a metal plate and one end is opened. Wirings 16 are connected to both ends of the open magnetic field generating coil 14, respectively, and a high frequency power supply 18 for generating a high frequency alternating current is connected to the end of the magnetic field generating coil 14 through the wiring 16. Connected to each other. Thus, the alternating current from the high frequency power supply 18 causes the magnetic field generating coil 14 to generate a substantially uniform alternating magnetic field.
[0022]
A printed circuit board 20 made of glass epoxy as shown in FIGS. 1 to 3 is disposed in the magnetic field generating coil 14 so that its surface is orthogonal to the direction in which the magnetic field generating coil 14 penetrates. On the printed circuit board 20, a conductor pattern 22, which is a magnetic field detecting coil formed in, for example, a rectangular shape in a ring shape, is provided in a planar manner with a conductive material such as a metal. A through hole 26 having an inner peripheral surface along the inner peripheral side of the conductive pattern 22 is provided in a portion of the printed circuit board 20 in the conductive pattern 22. A gap 24, which is a gap, is provided in the portion while notching the printed circuit board 20.
[0023]
On the other hand, a pair of parallel plate electrodes 25A and 25B, which are support portions, are provided at the ends of the conductor pattern 22 forming the gap 24, as shown in FIG. Are arranged in parallel with each other. That is, a pair of parallel plate electrodes 25A and 25B formed of copper or the like in an L-shape are connected to the peripheral portion of the gap 24 of the conductor pattern 22 by soldering.
[0024]
In the gap 24 of the conductor pattern 22, an electro-optical element 28 formed in a rectangular parallelepiped shape is brought into contact with each of the pair of parallel plate electrodes 25A and 25B facing each other, and for example, a conductive (not shown). It is inserted and arranged so that it is adhered with a conductive adhesive. The electro-optical element 28 is formed of an electro-optical crystal. As the electro-optical crystal, for example, a crystal of lithium niobate (LiNbO 3 ) whose refractive index changes with a change in applied voltage is used. .
[0025]
Therefore, the sensor main body 12 according to the present embodiment can be manufactured by the magnetic field generating coil 14, the high frequency power supply 18, the printed circuit board 20, the conductor pattern 22, the parallel plate electrodes 25A and 25B, the electro-optical element 28, and the like. Further, in the present embodiment, the electro-optical element 28 is arranged such that the optical axis direction is directed to a predetermined direction so that magnetic field information can be reliably extracted.
[0026]
Next, the entire optical system of the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 4, the present embodiment has a laser light source 30 that generates a laser beam L, and a lens serving as a light emitting unit provided at an end of an optical fiber 32 connected to the laser light source 30. 32A emits the laser light L sent from the laser light source 30.
[0027]
On the other hand, an optical fiber 40 is connected to a photo receiver 42 which is a light detecting member for converting a change in light intensity into a change in current amount, and a lens 40A provided at an end of the optical fiber 40 and serving as a light receiving unit. Receive the laser beam L. Therefore, the laser light L received by the lens 40A passes through the optical fiber 40, and the photo receiver 42 can detect the state of the laser light L. The photo receiver 42 is connected to a network analyzer 44 capable of displaying a change in the amount of current converted by the photo receiver 42, and the network analyzer 44 is also connected to the magnetic field generating coil 14. .
[0028]
Further, the lens 40A is arranged at a position where the laser light L emitted from the lens 32A can be received, and between the lens 32A and the lens 40A, the laser light L is sequentially arranged from the lens 32A side. A polarizer 34, an electro-optical element 28, a wave plate 36, and an analyzer 38 for converting a change in the polarization state into a change in the intensity of light are arranged in a straight line. That is, the present embodiment is of a straight traveling system in which the laser light L travels straight.
[0029]
As described above, when the laser light source 30 generates the laser light L, the laser light L passes through the optical fiber 32 and is emitted from the lens 32A, passes through the laser light L in the above order, and is received by the lens 40A of the optical fiber 40. Become like Then, the photo receiver 42 detects the state of the laser light L entering the optical fiber 40 from the lens 40A.
[0030]
On the other hand, when, for example, a magnetic flux passes through the through hole 26 of the conductive pattern 22 shown in FIGS. 1 to 3 which is a conductive loop, a current flows through the conductive pattern 22. Along with this, a voltage is generated around the gap 24 of the conductor pattern 22, and the voltage is applied to the electro-optical element 28 disposed in the gap 24 to generate an electric field. The rate changes. That is, the magnetic flux penetrating through the conductor pattern 22 becomes magnetic field information detected by the sensor main body 12, and this magnetic field information is converted into a change in the refractive index of the electro-optical element 28.
[0031]
Further, the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment uses the structure shown in FIG. 4 to temporarily change the change in the refractive index of the electro-optical element 28 as the change in the polarization state of the laser light L injected into the electro-optical element 28. Can be caught. Then, by passing the light through the analyzer 38, the change in the polarization state is converted into a change in the intensity of the laser light L, and finally, the change in the amount of current is converted by the photo receiver 42. As a result, the network analyzer 44 connected to the photo receiver 42 can display the change in the amount of current, and calculate the relative magnetic permeability based on the display of the network analyzer 44 so that the relative magnetic permeability can be obtained. become.
[0032]
From the above, the optical system of the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment includes the laser light source 30 and the photo receiver 42, and further, the optical fiber 32 disposed between the laser light source 30 and the photo receiver 42, It consists of a polarizer 34, a wave plate 36, an analyzer 38, an optical fiber 40 and the like.
[0033]
Next, a procedure for calculating the relative magnetic permeability from the output of the photo receiver 42 will be described.
Specifically, in the magnetic permeability measuring apparatus 10 described above, an AC magnetic field is generated by the magnetic field generating coil 14, and the photo-receiver 42 when the magnetic sample M is not inserted into the through hole 26 of the printed circuit board 20 shown in FIG. And the output of the photoreceiver 42 when the magnetic sample M is inserted into the through hole 26 shown in FIG. 2, respectively, and the relative magnetic permeability of the magnetic sample M is obtained by the following equation.
[0034]
First, assuming that the output in the state shown in FIG. 1 is V OUT0 and the output in the state shown in FIG. 2 is V OUTM , the magnetic sample M is inserted into the through hole 26 of the printed circuit board 20 according to the following equations 1 and 2. an induced electromotive voltage V 0 and by the magnetic field if not, to calculate the induced electromotive voltage V M by the magnetic field in the case of inserting the magnetic sample M in the through hole 26, respectively.
[0035]
V 0 = α · V OUT0 Equation 1
V M = α · V OUTM Equation 2
That is, it equation 1, 0 induced electromotive voltage V from equation 2, V M is the output V OUT0 of the photoreceiver 42, V OUTM respectively a linear relationship. Here, α is a constant determined by the sensor body 12 and the optical system.
[0036]
Further, mu r is a relative permeability of these induced electromotive voltage V 0, V M of a magnetic sample M is calculated by the following equation 3.
μ r = S / (t · d) · (V M / V 0 -1) + 1 ... Equation 3
Here, as shown in FIG. 1, S is the opening area of the through hole 26, t is the thickness of the magnetic sample M, and d is the width of the magnetic sample M.
[0037]
Next, the operation of the magnetic permeability measuring device 10 according to the present embodiment will be described.
According to the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment, as shown in FIGS. 1 to 4, the printed circuit board 20 is disposed in the magnetic field generating coil 14 capable of generating a substantially uniform AC magnetic field. A conductor pattern 22 formed of a conductive material in an annular shape is disposed on the printed board 20, and a through hole 26 is provided in a portion of the printed board 20 in the conductor pattern 22. Further, a gap 24 is formed in the conductor pattern 22, and the electro-optical element 28 is inserted into the gap 24 with the optical axis direction adjusted.
[0038]
Further, the laser light L from the laser light source 30 is applied to an optical fiber 32, a polarizer 34, an electro-optical element 28, a wave plate 36, which is disposed between the laser light source 30 and the photo receiver 42 as shown in FIG. The photoreceiver 42 finally detects the state of the laser light L passing through the analyzer 38 and the optical fiber 40 and passing through the analyzer 38 and the optical fiber 40.
[0039]
Therefore, the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment is configured such that the gap 24 is formed in the conductor pattern 22 disposed in the magnetic field generating coil 14 and the electro-optical element 28 is inserted into the gap 24. ing. Then, by passing the laser light L from the laser light source 30 through the electro-optical element 28, the magnetic field information detected and obtained by the conductor pattern 22 is utilized by utilizing the electro-optical effect of the electro-optical element 28 as described above. Was converted to an optical signal.
[0040]
Further, in the present embodiment, the polarizer 34, the wave plate 36, and the analyzer 38 disposed between the laser light source 30 and the photo receiver 42 adjust the state of the laser light L, and the optimally adjusted laser light L The state of L was detected by the photo receiver 42, and the network analyzer 44 displayed the magnetic field information detected by the photo receiver 42. Finally, the relative magnetic permeability was calculated from the displayed magnetic field information.
[0041]
Specifically, the output V OUT0 when the magnetic sample M is not inserted into the through hole 26 in the conductor pattern 22 shown in FIG. 1 and the output V OUT0 when the magnetic sample M is inserted into the through hole 26 shown in FIG. The output V OUTM is obtained by detecting the state of the laser beam L that has passed through the electro-optical element 28 with the photoreceiver 42. Based on the output in each case, the relative permeability of the magnetic sample M is calculated by the above-described equation. The magnetic susceptibility μr was obtained.
[0042]
Accordingly, the sensor portion of the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment has a simple configuration in which a magnetic field is converted into an optical signal by the conductor pattern 22 and the electro-optical element 28 and the optical signal is transmitted. Since the photo receiver 42 detects the state of the laser light L from the laser light source 30 that has passed through the electro-optical element 28, unlike a conventional magnetic field sensor that transmits an electric signal through a metal transmission path, the metal transmission You are not using the road.
[0043]
Therefore, the magnetic field can be measured in a state where the influence of the electric field is small, the reflection caused by insufficient impedance matching at the connection between the conductor pattern and the metal transmission line can be eliminated. Therefore, the permeability can be measured with high accuracy not only in a low frequency band but also in a high frequency band such as a GHz band.
[0044]
As a result of the above, according to the magnetic permeability measuring apparatus 10 according to the present embodiment, it is possible to measure a magnetic field with high accuracy from a low frequency band to a high frequency band, and to transmit magnetic field information with high accuracy. As it becomes possible, it becomes possible to acquire magnetic field information with high accuracy and obtain relative magnetic permeability with high accuracy.
[0045]
On the other hand, in the present embodiment, a magnetic field detecting coil is formed by the conductor pattern 22 disposed on the printed board 20, and the through hole 26 is provided in a portion of the printed board 20 in the conductor pattern 22. The shape of the conductor pattern 22 is stabilized, and accordingly, the measurement data is also stabilized. In addition, since the conductor pattern 22 is disposed on the printed circuit board 20, the mounting of the electro-optical element 28 in the gap 24 of the conductor pattern 22 is facilitated.
[0046]
On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIG. 3, a pair of parallel plate electrodes 25A and 25B is provided around the gap 24 of the conductor pattern 22, and the electro-optical element 28 is formed by the pair of parallel plate electrodes 25A and 25B. The sandwiching has a structure in which the electro-optical element 28 is inserted into the gap 24.
[0047]
That is, although the electric field cannot be applied uniformly over a wide range of the electro-optical element 28 by simply inserting the electro-optical element 28 into the gap 24 of the conductor pattern 22, the metal parallel plate electrodes 25A and 25B are formed around the gap 24. When the electro-optical element 28 is sandwiched between the parallel plate electrodes 25A, 25B, the electric field can be uniformly applied over a wide range of the electro-optical element 28 by the parallel plate electrodes 25A, 25B. As a result, with the more reliable use of the electro-optical effect of the electro-optical element 28, the above-described effect of acquiring the magnetic field information with high accuracy and obtaining the relative magnetic permeability with high accuracy is more reliably achieved. Will be able to achieve.
[0048]
In the present embodiment, when the electro-optical element 28 is disposed between the pair of parallel plate electrodes 25A and 25B, a conductive adhesive is used. However, the electro-optical element 28 is not coated with the conductive adhesive. Alternatively, the pair of parallel plate electrodes 25A and 25B may be simply sandwiched. The thickness of at least the portion of the pair of parallel plate electrodes 25A and 25B opposed to the electro-optical element 28 may be, for example, about 150 μm.
[0049]
Further, in the above-described embodiment, the conductor pattern 22 is rectangular, but the conductor pattern 22 may be formed in another shape such as a square or a circle, and the conductor pattern 22 is thin as in this embodiment. The material is not limited to a metallic conductive material, and may be a member such as a wire. On the other hand, although lithium niobate (LiNbO 3 ) is used as the electro-optic crystal in the above embodiment, another electro-optic crystal such as lithium tantalate (LiTaO 3 ) may be used. Further, in the above-described embodiment, one electro-optic crystal is used, but two electro-optic crystals may be used.
[0050]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the magnetic permeability measuring apparatus which acquires magnetic field information from low frequency band to high frequency band with high precision, and can obtain exact relative magnetic permeability.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a partially cutaway perspective view of a sensor main body according to an embodiment of the present invention, showing a state where a magnetic sample is not inserted into a through hole.
FIG. 2 is a partially cutaway perspective view of a sensor main body according to one embodiment of the present invention, showing a state where a magnetic sample is inserted into a through hole.
FIGS. 3A and 3B are diagrams showing a printed circuit board applied to one embodiment of the present invention, wherein FIG. 3A is a front view, and FIG. 3B is a view taken along line 3B-3B of FIG.
FIG. 4 is an overall view showing a magnetic permeability measuring apparatus according to one embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an overall view showing a conventional magnetic permeability measuring apparatus.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 10 Permeability measuring device 14 Magnetic field generating coil 20 Printed circuit board (board)
22 Conductor pattern (magnetic field detection coil)
24 gap 25A parallel plate electrode (support)
25B parallel plate electrode (support)
26 Through-hole 28 Electro-optical element (electro-optical crystal)
30 Laser light source (light source)
42 Photo Receiver (Light Detector)

Claims (4)

光を発生する光源と、
交流磁界を発生し得る磁界発生用コイルと、
磁界発生用コイル内に配置され且つ、ギャップを有しつつ導電性材料により環状に形成された磁界検出用コイルと、
磁界検出用コイルのギャップに挿入され且つ、光源からの光が通過され得る電気光学結晶と、
電気光学結晶を通過した光の状態を検出する光検出部材と、
を有したことを特徴とする透磁率測定装置。
A light source for generating light,
A magnetic field generating coil capable of generating an alternating magnetic field,
A magnetic field detecting coil disposed in the magnetic field generating coil and formed in an annular shape from a conductive material while having a gap,
An electro-optic crystal that is inserted into the gap of the magnetic field detection coil and through which light from the light source can pass;
A light detection member for detecting a state of light passing through the electro-optic crystal,
A magnetic permeability measuring device characterized by having:
基板上に配置された導体パターンにより磁界検出用コイルが形成され、この基板の磁界検出用コイル内の部分に貫通穴が設けられることを特徴とする請求項1記載の透磁率測定装置。2. The magnetic permeability measuring apparatus according to claim 1, wherein a magnetic field detecting coil is formed by a conductor pattern disposed on the substrate, and a through hole is provided in a portion of the substrate within the magnetic field detecting coil. 電気光学結晶が、ニオブ酸リチウム又はタンタル酸リチウムにより形成されたことを特徴とする請求項1或いは請求項2記載の透磁率測定装置。3. The magnetic permeability measuring device according to claim 1, wherein the electro-optic crystal is formed of lithium niobate or lithium tantalate. 磁界検出用コイルのギャップ周辺部分に支持部を設け、この支持部間で電気光学結晶を挟持することで、電気光学結晶がギャップに挿入されることを特徴とする請求項1から請求項3の何れかに記載の透磁率測定装置。The electro-optic crystal is inserted into the gap by providing a support portion around a gap of the magnetic field detecting coil and sandwiching the electro-optic crystal between the support portions. The magnetic permeability measuring device according to any one of the above.
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