JP2004125622A - End face inspecting apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光コネクタ、光素子、電気コネクタ、これらの複合体などにおいて、接続用や位置決め用の端面の検査を行う端面検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
光コネクタ、光素子、電気コネクタ、これらの複合体などでは、接続用や位置決め用の端面(接合端面等)に損傷があったり、汚れやゴミが付着していると、損失増大や、接合時の損傷などの問題が起きるおそれがある。
このため、損傷などの有無を確認することを目的として、端面の検査が行われている。
端面検査装置としては、顕微鏡などの観察手段を用いて、光ファイバなどの端面を観察するものがある(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開2000−221105号公報
【0004】
例えばバックプレーンコネクタのプラグインユニット等の筐体奥部に配置された光コネクタのような、手の届き難い場所にある検査対象部材を検査する場合には、棒状のプローブの先端に、検査対象部材に接続可能なアタッチメントを有する検査装置が用いられている。
プローブとしては、検査対象となる光コネクタの端面からの反射光に基づいて、端面の状態を観察可能であるものが用いられる。
この検査装置を用いて端面検査を行うには、プローブを手で把持し、アタッチメントを光コネクタに接続した状態で、光コネクタの端面を観察し、損傷などの有無を判定する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上記検査装置では、プローブを把持した状態で端面の検査を行うため、手ぶれによりプローブの位置が変動しやすい。このため、焦点ずれが生じやすく、検査の精度が低下することがあった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、端面検査を精度よく行うことができる端面検査装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の端面検査装置は、観察手段を支持する支持体を備え、この支持体は、検査対象部材に対し位置決めされたガイド部材に沿って移動可能とされていることを特徴とする。
本発明において、検査対象部材は、光コネクタとすることができる。
本発明の端面検査装置では、ガイド部材がケース状に形成され、検査対象部材が、ガイド部材の奥側に形成された構成とすることができる。
本発明の端面検査装置では、ガイド部材が、ガイド溝を有するプラグインユニットであり、支持体が、ガイド溝に挿入されてこのガイド溝に沿って移動可能な板状に形成された構成を採用することができる。
本発明の端面検査装置では、支持体に、目的の検査対象部材が観察可能となる位置に観察手段を移動させる移動機構を設けた構成とすることができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
図1および図2は、本発明の端面検査装置の第1の実施形態を示すものであり、ここに示す端面検査装置1は、光コネクタの接合端面を観察するプローブ2(観察手段)と、このプローブ2を支持する支持体3とを備えている。
プローブ2は、検査対象部材である光コネクタ18のフェルール19の接合端面19aからの反射光に基づいて、接合端面19aの状態(例えば接合端面19aの損傷や汚れの有無)を観察可能とされている。
【0008】
図2に示すように、プローブ2は、プローブ本体4と、検査光を導入する検査光導入部5と、接合端面19aからの反射光を受光する撮像カメラ6とを備えている。
プローブ本体4は、筒状体7内に、対物レンズ8を備えている。対物レンズ8は、接合端面19aに対し接近および離間する方向に移動可能とされており、接合端面19aを観察する際に焦点調整ができるようになっている。対物レンズ8は、自動焦点式の移動機構を採用してもよいし、手動で移動可能に構成してもよい。
なお、フェルール19の接合端面19aは、光コネクタ18の端面に相当する。
【0009】
検査光導入部5は、図示せぬ光源からの検査光を、ライトガイド9を通してプローブ本体4に入射させ、プローブ本体4の先端から接合端面19aに向けて出射させることができるようになっている。
撮像カメラ6としては、CCDカメラが好適である。
なお、プローブ(観察手段)は、図示例に限定されず、光学顕微鏡やファイバスコープを用いることもできる。
【0010】
プローブ2は、固定部材10を介して支持体3に固定されている。
支持体3は、矩形板状に形成されており、後述するプラグインユニット21のガイド溝28a、28bに上下縁部3a、3bが挿入されることにより、これらガイド溝28a、28bに沿って移動することができるようになっている。
【0011】
次に、検査装置1の検査対象となる光コネクタについて詳しく説明する。
図1および図3に示す光コネクタ20は、バックプレーンコネクタである。
図3に示すように、光コネクタ20では、ケース状のプラグインユニット21(ガイド部材)の開口部22から、奥側に位置するバックプレーン23に向けて、プリントボード24(プリントサーキットボード)を挿入できるようになっている。
プリントボード24をプラグインユニット21に挿入することによって、このプリントボード24に取り付けられているプリントボードハウジング25(PHハウジング)が、バックプレーン23に取り付けられたバックプレーンハウジング26(BHハウジング)に嵌合し、PHハウジング25に接続されている光コネクタプラグ27と、BHハウジング26に接続された光コネクタ18(光コネクタプラグ)とが接続されるようになっている。
光コネクタ18は、プラグインユニット21のバックプレーン23に取り付けられたBHハウジング26に接続されているため、プラグインユニット21に対し位置決めされていることになる。
【0012】
図3中、符号23aはバックプレーン23に開口された窓であり、符号29はBHハウジング26をバックプレーン23に取り付けるクリップである。
BHハウジング26は、クリップ29によってバックプレーン23に対して若干の揺動を許容して取り付けられている。
また、BHハウジング26は、バックプレーン23の窓23aに対応して、プラグインユニット21の内部空間Sに臨むバックプレーン23内面側に取り付けられている。
BHハウジング26には、窓23aを介して複数(本例では4個)の光コネクタ18が着脱可能に取り付けられている。
バックプレーン23には複数の窓23aが横並びに形成されており、したがってこのバックプレーン23にはそれぞれの窓23aにBHハウジング26を取り付けることができるようになっている。
【0013】
プリントボード24は、プラグインユニット21の上壁部21aおよび下壁部21bのそれぞれ内部空間S側に臨む内面側に形成されているガイド溝28a、28bに挿入されることにより、これらガイド溝28a、28bに沿って移動することができるようになっている。
図1に示すように、ガイド溝28a、28bは、バックプレーン23付近とプラグインユニット21の開口部22との間に真っ直ぐに延在して開口部22に開口する形状になっており、バックプレーン23に横並びに複数配列させて取り付けられているBHハウジング26に対応して、プラグインユニット21の上壁部21aおよび下壁部21bに横並びに複数本並列して形成されたものである。
【0014】
このような構成のもとに、PHハウジング25の接続対象のBHハウジング26に対応する上下一対のガイド溝28a、28bにプリントボード24を挿入することで、PHハウジング25は接続対象のBHハウジング26に位置決めされ、かつBHハウジング26に対して進退可能となる。
図3に示すように、開口部22からプラグインユニット21に挿入したプリントボード24を、ガイド溝28a、28bに沿わせてバックプレーン23に向けて押し込んでいくことで、PHハウジング25をBHハウジング26に嵌合させることができる。
また、プリントボード24をプラグインユニット21の開口部22側に引き出すことで、PHハウジング25がBHハウジング26から離脱して、光コネクタ18、27同士の接続を解除することができる。
【0015】
なお、プラグインユニット21は、検査装置1の支持体3をガイドするガイド部材として機能する。
【0016】
次に、検査装置1を用いて、光コネクタ18を検査する方法について説明する。
図1に示すように、プラグインユニット21の開口部22から内部空間S(上壁部21aと下壁部21bとの間の領域)に、検査装置1を挿入する。
このとき、支持体3の上縁部3aを上壁部21a側のガイド溝28aに挿入し、支持体3の下縁部3bを下壁部21b側のガイド溝28bに挿入した状態で、支持体3をガイド溝28a、28bに沿って移動させる。
これにより、支持体3は、プローブ2が端面19aを観察できる位置に位置決めされる。
プローブ2が支持体3に固定されているため、プローブ2は、その先端がBHハウジング26に対面する姿勢を維持する。
【0017】
この状態で、図示せぬ光源からの検査光を、ライトガイド9を通して検査光導入部5からプローブ本体4に入射させ、プローブ本体4の先端から接合端面19aに向けて出射させる。
出射光は、検査対象となるフェルール19の接合端面19aに照射される。
接合端面19aで反射した反射光は、プローブ本体4に入射し、対物レンズ8により収束され、撮像カメラ6で結像する。
得られた接合端面19aの映像に基づいて、接合端面19aにおける損傷や汚れの有無を判定することができる。
【0018】
この検査装置1は、プローブ2と、プローブ2を支持する支持体3とを有し、支持体3が、プラグインユニット21のガイド溝28a、28bに沿って移動可能とされているので、プローブ2によって接合端面19aの観察を行う際に、支持体3をプラグインユニット21に対し位置決めし、プローブ2の姿勢を一定に維持することができる。
このため、プローブ2の変位に起因する焦点ずれを防ぎ、明瞭な観察像を得ることができる。従って、検査の精度を高めることができる。
【0019】
なお、検査装置1は、検査光をプローブ本体4から光コネクタ18に照射するようになっているが、本発明では、プローブ2の外部から直接光コネクタ18に検査光を照射してもよい。
【0020】
次に、本発明の端面検査装置の第2の実施形態を説明する。
図4は、本実施形態の端面検査装置を示すもので、(a)は平面図であり、(b)は正面図であり、(c)は側面図である。
ここに示す端面検査装置31は、支持体3に、目的の光コネクタが観察可能となる位置にプローブ2を移動させる移動機構30が設けられている点で、図1に示す検査装置1と異なる。
移動機構30は、プローブ2を昇降させる昇降機構32と、プローブ2をほぼ水平方向に移動させる水平移動機構33とを備えている。
【0021】
昇降機構32は、支持体3に設けられた昇降ガイドレール34と、この昇降レール34に沿って移動する昇降ガイド体35とを備えている。
昇降ガイドレール34は、鉛直方向(BHハウジング26内の光コネクタ18の配列方向)に沿って形成されている。
昇降機構32は、昇降ガイド体35を手動で移動させることができるように構成してもよいし、小型モータ(図示略)などの駆動装置を用いて昇降ガイド体35を移動させることができるように構成してもよい。
【0022】
水平移動機構33は、水平方向(BHハウジング26の配列方向)に沿って延在する棒状の水平ガイド体36と、水平ガイド体36に沿って移動する水平移動体37とを備えている。
水平ガイド体36は、昇降ガイド体35に取り付けられている。
水平移動体37には、プローブ2が固定されている。
水平移動機構33は、水平移動体37を手動で移動させることができるように構成してもよいし、小型モータ(図示略)などの駆動装置を用いて水平移動体37を移動させることができるように構成してもよい。
【0023】
次に、端面検査装置31の使用方法について説明する。
検査装置31を、プラグインユニット21の内部空間Sに挿入し、検査光を、所定の光コネクタ18の接合端面19aに向けて照射し、得られた接合端面19aの映像に基づいて、接合端面19aにおける損傷や汚れの有無を判定する。
【0024】
次いで、以下に示すように、移動機構30を用いて、検査済みの光コネクタ18以外の光コネクタ18が観察可能となる位置にプローブ2を移動させる。
1つのBHハウジング26に取り付けられた光コネクタ18のうち、他の光コネクタ18(例えば検査済みの光コネクタ18の上または下に隣接する光コネクタ18)を検査する場合には、次の操作を行う。
図4(b)に示すように、昇降機構32の昇降ガイド体35を昇降ガイドレール34に沿って上方または下方に移動させることによって、プローブ2を、目的とする光コネクタ18に対応する高さ位置に配置する。
この状態で、この光コネクタ18の接合端面19aに検査光を照射し、接合端面19aの観察を行う。
BHハウジング26に取り付けられた複数の光コネクタ18に対し、プローブ2の高さ位置を調節しつつこの操作を繰り返すことによって、これら光コネクタ18について、順次、接合端面19aの検査を行うことができる。
【0025】
図4(a)に示すように、光コネクタ20に設けられたBHハウジング26のうち、他のBHハウジング26(例えば検査済みのBHハウジング26Aに隣接するBHハウジング26B)の光コネクタ18を検査する場合には、次の操作を行う。
図4(a)および図4(c)に2点鎖線で示すように、水平移動機構33の水平移動体37を水平ガイド体36に沿って水平方向に移動させることによって、プローブ2を、目的とする光コネクタ18を有するBHハウジング26Bに対応する位置に配置する。
この状態で、この光コネクタ18の接合端面19aに検査光を照射し、接合端面19aの観察を行う。
これによって、複数のBHハウジング26に対して、光コネクタ18の端面検査を行うことができる。
【0026】
光コネクタ18が多心コネクタである場合には、移動機構30を用いてプローブ2の位置を調整することによって、光コネクタ18内のフェルール19の接合端面19aに露出している複数の光ファイバに、順次、端面検査を行うことができる。
【0027】
本実施形態の端面検査装置31では、移動機構30を備えているので、支持体3を移動させることなく、複数の光コネクタ18の検査を行うことができる。
従って、検査作業を効率よく行うことができる。
【0028】
次に、本発明の端面検査装置の第3の実施形態を説明する。
図5は、本実施形態の端面検査装置を示すもので、ここに示す端面検査装置41は、プローブ2と、プローブ2を支持する支持体43とを備えている。
支持体43は、プローブ2の側面に、前後方向の位置の異なる複数箇所に設けられている。本例では、支持体43はプローブ2の長手方向位置が異なる2箇所に設けられている。
【0029】
支持体43は、プローブ2の側部に上下に延在するように取り付けられた筒状の支持体本体44と、この支持体本体44の上部44aに昇降可能に挿入された上ガイド片45と、支持体本体44の下部44bに昇降可能に挿入された下ガイド片46と、支持体本体44内に設けられたスプリング受け部47(弾性部材受け部)と、上ガイド片45を上方に付勢する上スプリング48(上弾性部材)と、下ガイド片46を下方に付勢する下スプリング49(下弾性部材)とを備えている。
【0030】
上ガイド片45の上端は、プラグインユニット21の上壁部21aに形成されたガイド溝28aに挿入されてガイド溝28aに沿って移動できる形状とされている。下ガイド片46の下端は、下壁部21bに形成されたガイド溝28bに挿入されてガイド溝28bに沿って移動できる形状とされている。
プラグインユニット21に挿入していないときの上ガイド片45上端と下ガイド片46下端との間の距離は、プラグインユニット21のガイド溝28a底面(上面)とガイド溝28b底面との間の距離よりも若干大きく設定するのが好ましい。
【0031】
次に、端面検査装置41の使用方法について説明する。
ガイド溝28aに上ガイド片45を挿入し、ガイド溝28bに下ガイド片46を挿入した状態で、検査装置41をプラグインユニット21内に挿入する。
この際、上ガイド片45と下ガイド片46によって押し縮められたスプリング48、49の付勢力により、上ガイド片45および下ガイド片46が、それぞれ上壁部21aおよび下壁部21bに押し付けられる。
これにより、支持体43が位置決めされ、プローブ2は、端面19aを観察できる姿勢を維持する。
この状態で、検査光を、所定の光コネクタ18の接合端面19aに向けて照射し、得られた接合端面19aの映像に基づいて、接合端面19aにおける損傷や汚れの有無を判定する。
【0032】
この検査装置41では、支持体43が、支持体本体44と、支持体本体44に対し昇降可能なガイド片45、46と、これらガイド片45、46をそれぞれ上方および下方に付勢するスプリング48、49とを備えている。
このため、プラグインユニットの上下のガイド溝間の距離にかかわらず、ガイド片45、46を確実に上下壁部21a、21bに到達させ、プラグインユニット21に対する支持体43の姿勢を安定させることができる。
従って、光コネクタ18に対するプローブ2の姿勢を安定させ、精度の高い端面検査を行うことができる。
【0033】
図6は、本発明の端面検査装置の第4の実施形態を示すもので、ここに示す端面検査装置51は、プローブ2と、プローブ2を支持する支持体3と、プローブ2を支持体3に着脱可能に固定する固定具52とを備えている。
この固定具52は、プローブ2に取り付けられたL字状の基端側保持具53と、この保持具53よりもプローブ先端側に取り付けられたL字状の先端側保持具54とを備えている。
これら保持具53、54は、それぞれ支持体3の前縁部3cおよび後縁部3dを保持することができるようになっている。
先端側保持具54は、プローブ2の先端方向および基端方向に移動可能とされている。
【0034】
この検査装置51では、保持具53、54によって、支持体3の前縁部3cおよび後縁部3dを保持させ、これによってプローブ2を支持体3に固定する。
この際、先端側保持具54の位置を調整することにより、保持具53、54が前縁部3cおよび後縁部3dを確実に保持するようにする。
この状態で、接合端面19aの検査を行う。
【0035】
この検査装置51では、先端側保持具54が、プローブ2の先端方向および基端方向に移動可能とされているので、支持体3の大きさ(前縁部3cから後縁部3d間での距離)にかかわらず、プローブ2を支持体3に確実に固定することができる。
従って、既存のプリントボード部品などを支持体3としてそのまま使用することができ、コスト面で有利である。
また、固定具52が支持体3を保持する位置を適宜調整することによって、プローブ2の高さ位置を簡単に調節することができる。
従って、高さ位置が異なる複数の光コネクタ18の検査を効率よく行うことができる。
【0036】
なお、本発明では、プローブ(観察手段)の先端部に、検査対象の光コネクタ(例えばBHハウジング26)に対し接続可能なアタッチメントを設けてもよい。
【0037】
本発明で検査対象となる光コネクタとしては、JIS C 5973等に規定されたSC形光コネクタ(Single fiber Coupling optical fiber connector)などの光コネクタプラグを挙げることができる。
光コネクタは、単心に限らず、多心であってもよい。多心光コネクタとしては、JIS C 5982に規定されたMPO形光コネクタ(Multifiber Push On)等を挙げることができる。
また、上記実施形態では、検査対象として、バックプレーンコネクタである光コネクタ20を例示したが、本発明の端面検査装置の検査対象は、パネルなどに取り付けられた光コネクタアダプタに接続された光コネクタプラグ端面(詳細にはフェルール端面)であってもよく、各種構成が可能である。
例えばSC形光コネクタに接続された光コネクタプラグ、MPO型光コネクタアダプタに接続された光コネクタプラグ等であってもよい。
【0038】
なお、本発明において検査対象は、損傷がないこと、清浄であることなどが要求される部材であれば、光コネクタに限定されず、光素子、電気コネクタなどであってもよい。また、光コネクタ、光素子、電気コネクタのうち2以上を複合した複合体であってもよい。
本発明の端面検査装置は、例えばバックプレーンコネクタのプラグインユニット等のケース状の筐体(ガイド部材)の奥側に形成された光コネクタのように、手の届き難い場所にある検査対象部材に対し好適に適用することができる。
【0039】
【発明の効果】
本発明の端面検査装置は、観察手段を支持する支持体を備え、この支持体が、検査対象部材に対し位置決めされたガイド部材に沿って移動可能とされているので、観察手段によって端面の観察を行う際に、観察手段の姿勢を一定に維持することができる。
このため、観察手段の変位に起因する焦点ずれを防ぎ、明瞭な観察像を得ることができる。
従って、検査の精度を高めることができる。
【0040】
また、支持体に、目的の検査対象部材が観察可能となる位置に観察手段を移動させる移動機構を設けることによって、支持体を移動させることなく、複数の検査対象部材の検査を行うことができる。
従って、検査作業を効率よく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の端面検査装置の第1の実施形態を示す斜視図である。
【図2】図1に示す端面検査装置を示す正面図である。
【図3】図1に示す端面検査装置を適用可能な光コネクタの構造を示す側面図である。
【図4】本発明の端面検査装置の第2の実施形態を示すもので、(a)は平面図であり、(b)は正面図であり、(c)は側面図である。
【図5】本発明の端面検査装置の第3の実施形態を示す側面図である。
【図6】本発明の端面検査装置の第4の実施形態を示す平面図である。
【符号の説明】
1、31、41、51・・・端面検査装置、2・・・プローブ(観察手段)、3、43・・・支持体、18・・・光コネクタ、19・・・フェルール、19a・・・接合端面、20・・・光コネクタ、21・・・プラグインユニット(ガイド部材)、28a、28b・・・ガイド溝、30・・・移動機構[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an end face inspection device for inspecting an end face for connection or positioning in an optical connector, an optical element, an electrical connector, a composite thereof, and the like.
[0002]
[Prior art]
In optical connectors, optical elements, electrical connectors, and composites of these, if the connection or positioning end faces (joining end faces, etc.) are damaged, or if dirt or dust is attached, the loss increases, There is a risk of problems such as damage to the device.
For this reason, the end face is inspected for the purpose of confirming whether or not there is damage.
As an end face inspection apparatus, there is an apparatus for observing an end face of an optical fiber or the like using an observation means such as a microscope (for example, see Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
JP 2000-221105 A
For example, when inspecting a member to be inspected in a hard-to-reach place, such as an optical connector arranged at the back of a housing such as a plug-in unit of a backplane connector, the inspection target is attached to the tip of a rod-shaped probe. An inspection apparatus having an attachment connectable to a member is used.
As the probe, a probe that can observe the state of the end face based on the reflected light from the end face of the optical connector to be inspected is used.
To perform an end face inspection using this inspection apparatus, the probe is grasped by hand, and the end face of the optical connector is observed while the attachment is connected to the optical connector to determine whether there is damage or the like.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In the above-described inspection apparatus, since the end surface is inspected while the probe is held, the position of the probe is likely to fluctuate due to camera shake. For this reason, defocus may easily occur, and the accuracy of the inspection may decrease.
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an end face inspection apparatus capable of performing an end face inspection with high accuracy.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The end face inspection apparatus according to the present invention includes a support for supporting the observation unit, and the support is movable along a guide member positioned with respect to the inspection target member.
In the present invention, the inspection target member may be an optical connector.
In the end face inspection device of the present invention, the guide member may be formed in a case shape, and the inspection target member may be formed on the back side of the guide member.
In the end face inspection device of the present invention, the guide member is a plug-in unit having a guide groove, and the support is formed in a plate shape which is inserted into the guide groove and is movable along the guide groove. can do.
In the end face inspection apparatus of the present invention, a configuration may be employed in which the support is provided with a moving mechanism that moves the observation unit to a position where the target inspection target member can be observed.
[0007]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
1 and 2 show a first embodiment of an end face inspection apparatus of the present invention. An end face inspection apparatus 1 shown here includes a probe 2 (observation means) for observing a joint end face of an optical connector, And a
The
[0008]
As shown in FIG. 2, the
The probe main body 4 includes an
Note that the
[0009]
The inspection light introducing unit 5 is configured to allow inspection light from a light source (not shown) to be incident on the probe main body 4 through the
As the imaging camera 6, a CCD camera is preferable.
The probe (observing means) is not limited to the illustrated example, and an optical microscope or a fiberscope can be used.
[0010]
The
The
[0011]
Next, an optical connector to be inspected by the inspection apparatus 1 will be described in detail.
The
As shown in FIG. 3, in the
By inserting the
Since the
[0012]
In FIG. 3,
The BH
The
A plurality (four in this example) of
A plurality of
[0013]
The
As shown in FIG. 1, the guide grooves 28 a and 28 b extend straight between the vicinity of the
[0014]
Under such a configuration, the
As shown in FIG. 3, the
Further, by pulling out the
[0015]
The plug-in
[0016]
Next, a method of inspecting the
As shown in FIG. 1, the inspection device 1 is inserted from the
At this time, the
Thus, the
Since the
[0017]
In this state, inspection light from a light source (not shown) is made to enter the probe main body 4 from the inspection light introduction unit 5 through the
The emitted light is applied to the
The light reflected by the
Based on the obtained image of the
[0018]
The inspection device 1 has a
For this reason, defocus caused by the displacement of the
[0019]
Although the inspection apparatus 1 irradiates the inspection light from the probe main body 4 to the
[0020]
Next, a second embodiment of the end face inspection apparatus of the present invention will be described.
4A and 4B show the end face inspection apparatus of the present embodiment, wherein FIG. 4A is a plan view, FIG. 4B is a front view, and FIG. 4C is a side view.
The end
The moving
[0021]
The
The elevating
The elevating
[0022]
The
The
The
The
[0023]
Next, a method of using the end
The
[0024]
Next, as shown below, the
When inspecting another optical connector 18 (for example, an
As shown in FIG. 4B, the
In this state, the
By repeating this operation while adjusting the height position of the
[0025]
As shown in FIG. 4A, the
By moving the horizontal moving
In this state, the
Thus, the end face inspection of the
[0026]
When the
[0027]
In the end
Therefore, the inspection work can be performed efficiently.
[0028]
Next, a third embodiment of the end face inspection apparatus of the present invention will be described.
FIG. 5 shows an end face inspection apparatus of the present embodiment. The end
The supports 43 are provided on the side surface of the
[0029]
The
[0030]
The upper end of the
The distance between the upper end of the
[0031]
Next, a method of using the end
The
At this time, the
As a result, the
In this state, the inspection light is irradiated toward the
[0032]
In the
For this reason, regardless of the distance between the upper and lower guide grooves of the plug-in unit, the
Therefore, the posture of the
[0033]
FIG. 6 shows a fourth embodiment of the end face inspection apparatus according to the present invention. The end
The
These
The
[0034]
In the
At this time, by adjusting the position of the distal end
In this state, the
[0035]
In the
Therefore, an existing printed board component or the like can be used as the
In addition, the height position of the
Therefore, the inspection of the plurality of
[0036]
In the present invention, an attachment that can be connected to the optical connector to be inspected (for example, the BH housing 26) may be provided at the tip of the probe (observing means).
[0037]
Examples of the optical connector to be inspected in the present invention include an optical connector plug such as an SC type optical connector (Single fiber Coupling optical fiber connector) specified in JIS C 5973 or the like.
The optical connector is not limited to a single core, but may be a multicore. Examples of the multi-core optical connector include an MPO type optical connector (Multifiber Push On) defined in JIS C5982.
Further, in the above embodiment, the
For example, an optical connector plug connected to an SC type optical connector, an optical connector plug connected to an MPO type optical connector adapter, or the like may be used.
[0038]
In the present invention, the inspection object is not limited to the optical connector, and may be an optical element, an electrical connector, or the like, as long as it is a member that requires no damage, cleanliness, and the like. Further, it may be a composite of two or more of the optical connector, the optical element, and the electrical connector.
The end face inspection apparatus according to the present invention is a member to be inspected in a hard-to-reach place, such as an optical connector formed on the back side of a case-shaped housing (guide member) such as a plug-in unit of a backplane connector. Can be suitably applied.
[0039]
【The invention's effect】
The end face inspection apparatus of the present invention includes a support for supporting the observation means, and the support can be moved along the guide member positioned with respect to the inspection target member. , The posture of the observation means can be kept constant.
For this reason, it is possible to prevent a defocus due to the displacement of the observation unit, and to obtain a clear observation image.
Therefore, the accuracy of the inspection can be improved.
[0040]
Further, by providing the support with a moving mechanism for moving the observation unit to a position where the target inspection target member can be observed, it is possible to inspect a plurality of inspection target members without moving the support. .
Therefore, the inspection work can be performed efficiently.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing a first embodiment of an end face inspection apparatus of the present invention.
FIG. 2 is a front view showing the end face inspection apparatus shown in FIG.
FIG. 3 is a side view showing a structure of an optical connector to which the end face inspection device shown in FIG. 1 can be applied.
4A and 4B show a second embodiment of the end face inspection apparatus of the present invention, wherein FIG. 4A is a plan view, FIG. 4B is a front view, and FIG. 4C is a side view.
FIG. 5 is a side view showing a third embodiment of the end face inspection apparatus of the present invention.
FIG. 6 is a plan view showing a fourth embodiment of the end face inspection apparatus of the present invention.
[Explanation of symbols]
1, 31, 41, 51 ... end surface inspection device, 2 ... probe (observation means), 3, 43 ... support, 18 ... optical connector, 19 ... ferrule, 19a ... Joining end face, 20 optical connector, 21 plug-in unit (guide member), 28a, 28b guide groove, 30 moving mechanism
Claims (5)
観察手段を支持する支持体を備え、この支持体は、検査対象部材に対し位置決めされたガイド部材に沿って移動可能とされていることを特徴とする端面検査装置。An end face inspection apparatus for observing and inspecting an end face of a member to be inspected by an observation means,
An end face inspection apparatus comprising a support for supporting the observation means, wherein the support is movable along a guide member positioned with respect to the inspection target member.
支持体が、ガイド溝に挿入されてこのガイド溝に沿って移動可能な板状に形成されていることを特徴とする請求項1〜3のうちいずれか1項記載の端面検査装置。The guide member is a plug-in unit having a guide groove,
The end face inspection device according to any one of claims 1 to 3, wherein the support is formed in a plate shape that is inserted into the guide groove and is movable along the guide groove.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002290233A JP2004125622A (en) | 2002-10-02 | 2002-10-02 | End face inspecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2002290233A JP2004125622A (en) | 2002-10-02 | 2002-10-02 | End face inspecting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2004125622A true JP2004125622A (en) | 2004-04-22 |
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Family Applications (1)
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JP2002290233A Pending JP2004125622A (en) | 2002-10-02 | 2002-10-02 | End face inspecting apparatus |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2004125622A (en) |
-
2002
- 2002-10-02 JP JP2002290233A patent/JP2004125622A/en active Pending
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