JP2004096261A - Sfq / latching converting circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、SFQ(Single Flux Quantum:単一磁束量子)パルスを電圧に変換するSFQ/ラッチング変換回路に関する。
【0002】
超電導回路のうち、SFQ回路は、超高速・低エネルギーという特徴を持っており、将来の高速情報処理システムの構成要素として期待されているが、実際の情報処理システムを構成するためには、SFQ回路の信号を何らかの手段で取り出して、室温の半導体機器に接続する必要がある。
【0003】
しかし、SFQ回路は、動作電圧が数百μV程度であり、半導体機器を直接駆動することができない。そこで、両者の間に超電導 /半導体インタフェース回路を挟み、SFQ回路の信号を半導体機器を駆動することができる数mVまで増幅する必要がある。
【0004】
超電導/半導体インタフェース回路を構成する増幅手段には、大きく分けて、ラッチング回路とノンラッチング回路の2種類がある。ノンラッチング回路は高速であるが、5mV以上の出力振幅を得るには100個単位のジョセフソン接合が必要となり複雑な回路を必要とする。
【0005】
これに対して、ラッチング回路は、数mVの出力を数個のジョセフソン接合で出すことができるが、高温超電導体を用いた回路でSFQパルスを電圧に変換する方法は未だ確立されていない。
【0006】
【従来の技術】
図10は従来のSFQ/ラッチング変換回路の一例の一部分を示す回路図である。図10中、1はラッチング用のジョセフソン接合、2はSFQパルスの伝送路をなすJTL(ジョセフソン・トランスミッション・ライン)との間に配置されたジョセフソン接合であり、ともに電流電圧特性にヒステリシスのあるものである。IBはバイアス電流である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
図10に示す従来のSFQ/ラッチング変換回路は、ヒステリシスの大きな電流電圧特性を持つNb超電導体からなるジョセフソン接合を用いる回路には有効な構成であるが、元来、殆どヒステリシスのない電流電圧特性を持つ高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合には、ヒステリシスを持たせるためにはキャパシタンスを付加する必要があり、それでもなお、回路動作を安定させるに十分なヒステリシスを持たせることは困難であった。
【0008】
本発明は、かかる点に鑑み、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、SFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができるようにしたSFQ/ラッチング変換回路を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明のSFQ/ラッチング変換回路は、SFQパルスの伝送路をなすJTLとラッチング用のジョセフソン接合との間を抵抗素子で接続するか、又は、抵抗素子と電流電圧特性にヒステリシスのないジョセフソン接合との直列回路で接続するというものである。
【0010】
本発明によれば、SFQパルスの伝送路をなすJTLとラッチング用のジョセフソン接合との間を抵抗素子で接続するか、又は、抵抗素子と電流電圧特性にヒステリシスのないジョセフソン接合との直列回路で接続するとしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、SFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、図1〜図9を参照して、本発明の第1実施形態〜第4実施形態について説明する。
【0012】
(第1実施形態・・図1〜図3)
図1は本発明の第1実施形態をDC−SFQ回路及びJTLと共に示す回路図である。図1中、3はSFQパルスを出力するDC−SFQ回路(SFQ発生回路)、4はDC−SFQ回路3から出力されるSFQパルスの伝送路をなすJTL、5はJTL4を伝送されてくるSFQパルスをラッチして電圧に変換する本発明の第1実施形態(SFQ/ラッチング変換回路)である。
【0013】
DC−SFQ回路3において、6はSFQパルス発生源、7は抵抗、8はジョセフソン接合、9はJTLであり、10はジョセフソン接合、11、12はインダクタンス、13はバイアス電流源である。
【0014】
JTL4において、14、15はジョセフソン接合、16〜20はインダクタンス、21、22はバイアス電流源である。
【0015】
本発明の第1実施形態5において、23はJTLであり、24はジョセフソン接合、25、26はインダクタンス、27はバイアス電流源である。また、28はラッチング部であり、29はジョセフソン接合、30、31はインダクタンス、32はキャパシタンス、33、34は抵抗、35はバイアス電流源、36は出力端子である。
【0016】
なお、本発明の第1実施形態5では、JTL23のジョセフソン接合24の臨界電流は、JTL4のジョセフソン接合14、15の臨界電流よりも大きく、前段の超電導ループ(ジョセフソン接合15、24及びインダクタンス17〜19からなる超電導ループ)に磁束がトラップされない大きさ(例えば、1.1倍以上)とされる。このようにすることにより、ラッチング部28のスイッチ動作により不要なパルスが生成されることを防ぎ、誤動作を防止することができる。
【0017】
図2は本発明の第1実施形態5の動作条件を説明するための図であり、SFQパルスの電流値をIs、抵抗33の抵抗値をR、抵抗33に流れる電流をi1、バイアス電流源35によるバイアス電流をIB、ジョセフソン接合29の臨界電流をIc2、ラッチ状態から超電導状態に戻ったときのジョセフソン接合29の臨界電流をIc3、ジョセフソン接合29に流れる電流をi2、ジョセフソン接合29の常電導抵抗をRnとする。
【0018】
ここで、▲1▼SFQパルスの入力でスイッチする条件(スイッチ前の状態)は、IB+Is>Ic2、▲2▼SFQパルスの入力までラッチしない条件(スイッチ前の状態)は、IB<Ic2、▲3▼SFQパルスをラッチする条件(スイッチ後の状態)は、i2>Ic3、i1+i2=IB、Rn×i2=R×i1、すなわち、IB>Ic3(R+Rn)/Rである。したがって、本発明の第1実施形態5の動作条件は、Ic2−Is、Ic3(R+Rn)/R<IB<Ic2となる。
【0019】
図3は本発明の第1実施形態5のバイアスマージンを示す図であり、本発明の第1実施形態5は、高温超電導体からなるジョセフソン接合29において、臨界電流密度Jcが1.5×104A/cm2以下の場合に有効であることが分かる。
【0020】
以上のように、本発明の第1実施形態5によれば、ラッチング部28の入力部に抵抗33を用いるようにしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、DC−SFQ回路3から出力されてJTL4を伝送されてくるSFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができる。
【0021】
(第2実施形態・・図4〜図6)
図4は本発明の第2実施形態をDC−SFQ回路及びJTLと共に示す回路図である。本発明の第2実施形態37は、本発明の第1実施形態5が設けるラッチング部28と回路構成の異なるラッチング部38を設け、その他については、本発明の第1実施形態と同様に構成したものである。
【0022】
ラッチング部38は、抵抗33の後段に、電流電圧特性にヒステリシス特性のないジョセフソン接合39とインダクタンス40を直列に接続し、その他については、本発明の第1実施形態5と同様に構成したものである。
【0023】
図5は本発明の第2実施形態37の動作条件を説明するための図であり、図2に示すと同様に、SFQパルスの電流値をIs、抵抗33の抵抗値をR、抵抗33に流れる電流をi1、バイアス電流源35によるバイアス電流をIB、ジョセフソン接合29の臨界電流をIc2、ラッチ状態から超電導状態に戻ったときのジョセフソン接合29の臨界電流をIc3、ジョセフソン接合29に流れる電流をi2、ジョセフソン接合29の常電導抵抗をRnとし、更に、ジョセフソン接合39の臨界電流をIc1、ジョセフソン接合39の常電導抵抗をR1とする。
【0024】
ここで、▲4▼SFQパルスの入力でスイッチする条件(スイッチ前の状態)は、IB+Is>Ic2、▲5▼SFQパルスの入力までラッチしない条件(スイッチ前の状態)は、IB<Ic2、▲6▼SFQパルスをラッチする条件(スイッチ後の状態)は、i2>Ic3、i1+i2=IB、Rn×i2=(R+R1)×i1、すなわち、IB>Ic3(R+R1+Rn)/(R+R1)である。したがって、本発明の第2実施形態37の動作条件は、Ic2−Is、Ic3(R+R1+Rn)/(R+R1)<IB<Ic2となる。
【0025】
図6は本発明の第1実施形態5及び第2実施形態37のバイアスマージンを示す図であり、P1は本発明の第1実施形態5のバイアスマージン、P2は本発明の第2実施形態37のバイアスマージンを示している。ここで、本発明の第2実施形態37のバイアスマージンが本発明の第1実施形態5のバイアスマージンよりも大きくなるのは、▲7▼Ic2−Is<Ic3(R+R1+Rn)/(R+R1)のときである。この条件▲7▼が実際に満たされるのは、ジョセフソン接合29の臨界電流密度Jcが1.5×104A/cm2を超える場合である。高温超電導体で作成されたジョセフソン接合のIcRn積は臨界電流密度の1/2乗に比例する傾向にあり、この結果、この程度の電流密度の時のIcとRnが条件▲7▼を満たすことになる。
【0026】
以上のように、本発明の第2実施形態37によれば、ラッチング部38の入力部に抵抗33及びジョセフソン接合40の直列回路を用いるようにしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、DC−SFQ回路3から出力されてJTL4を伝送されてくるSFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができる。
【0027】
(第3実施形態・・図7)
図7は本発明の第3実施形態をDC−SFQ回路及びJTLと共に示す回路図である。本発明の第3実施形態41は、本発明の第1実施形態5が設けるラッチング回路28と回路構成の異なるラッチング部42を設け、その他については、本発明の第1実施形態5と同様に構成したものである。
【0028】
ラッチング部42において、43は抵抗、44〜49はジョセフソン接合、50〜63はインダクタンス、64〜69はキャパシタンス、70、71は抵抗、72はバイアス電流源、73は出力端子である。
【0029】
本発明の第3実施形態41によれば、ラッチング部42の入力部に抵抗43を用いるようにしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、DC−SFQ回路3から出力されてJTL4を伝送されてくるSFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができ、しかも、ラッチング部42は、ジョセフソン接合44〜49を2列3段構成としているので、大きな出力電圧を得ることができる。
【0030】
(第4実施形態・・図8、図9)
図8は本発明の第4実施形態をDC−SFQ回路及びJTLと共に示す回路図である。本発明の第4実施形態74は、本発明の第3実施形態41が設けるラッチング部42と回路構成の異なるラッチング部75を設け、その他については、本発明の第3実施形態41と同様に構成したものである。
【0031】
ラッチング部75は、抵抗43の後段に、電流電圧特性にヒステリシス特性のないジョセフソン接合76とインダクタンス77とを直列に接続し、その他については、本発明の第3実施形態41が設けるラッチング部42と同様に構成したものである。
【0032】
本発明の第4実施形態74によれば、ラッチング部75の入力部に抵抗43及びジョセフソン接合76の直列回路を用いるようにしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、DC−SFQ回路3から出力されてJTL4を伝送されてくるSFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができ、しかも、ラッチング部75は、ジョセフソン接合44〜49を2列3段構成としているので、大きな出力電圧を得ることができる。
【0033】
なお、図9は本発明の第3実施形態41及び第4実施形態74のスタック段数を変えた場合のバイアスマージンの変化と出力電圧の変化を示す図であり、P3は本発明の第3実施形態41(ジョセフソン接合44〜49の臨界電流密度=5×103A/cm2)のスタック段数を変えた場合のバイアスマージンの変化、P4は本発明の第4実施形態74(ジョセフソン接合44〜49の臨界電流密度=2×104A/cm2)のスタック段数を変えた場合のバイアスマージンの変化、P5は出力電圧の変化を示している。
【0034】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、SFQパルスの伝送路をなすJTLとジョセフソン接合との間を抵抗素子で接続するか、又は、抵抗素子と電流電圧特性にヒステリシスのないジョセフソン接合との直列回路で接続するとしているので、高温超電導体からなるジョセフソン接合を用いて回路を構成する場合であっても、SFQパルスの電圧への変換を安定的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態をDC−SFQ回路及びJTL(ジョセフソン・トランスミッション・ライン)と共に示す回路図である。
【図2】本発明の第1実施形態の動作条件を説明するための図である。
【図3】本発明の第1実施形態のバイアスマージンを示す図である。
【図4】本発明の第2実施形態をDC−SFQ回路及びJTL(ジョセフソン・トランスミッション・ライン)と共に示す回路図である。
【図5】本発明の第2実施形態の動作条件を説明するための図である。
【図6】本発明の第1実施形態及び第2実施形態のバイアスマージンを示す図である。
【図7】本発明の第3実施形態をDC−SFQ回路及びJTL(ジョセフソン・トランスミッション・ライン)と共に示す回路図である。
【図8】本発明の第4実施形態をDC−SFQ回路及びJTL(ジョセフソン・トランスミッション・ライン)と共に示す回路図である。
【図9】本発明の第3実施形態及び第4実施形態のスタック段数を変えた場合のバイアスマージンの変化と出力電圧の変化を示す図である。
【図10】従来のSFQ/ラッチング変換回路の一例の一部分を示す回路図である。
【符号の説明】
3…DC−SFQ回路(SFQ発生回路)
4…JTL
5…本発明の第1実施形態(SFQ/ラッチング変換回路)
6…SFQパルス発生源
28…ラッチング部
37…本発明の第2実施形態
38…ラッチング部
41…本発明の第3実施形態
42…ラッチング部
74…本発明の第4実施形態
75…ラッチング部[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a SFQ (Single Flux Quantum) pulse-to-voltage (SFQ) / latching conversion circuit that converts a pulse into a voltage.
[0002]
Among superconducting circuits, the SFQ circuit has features of ultra-high speed and low energy, and is expected as a component of a future high-speed information processing system. It is necessary to take out the signal of the circuit by some means and connect it to the semiconductor device at room temperature.
[0003]
However, the SFQ circuit has an operating voltage of about several hundred μV and cannot directly drive a semiconductor device. Therefore, it is necessary to sandwich a superconducting / semiconductor interface circuit between the two and amplify the signal of the SFQ circuit to several mV that can drive the semiconductor device.
[0004]
Amplifying means constituting a superconducting / semiconductor interface circuit are roughly classified into two types, a latching circuit and a non-latching circuit. The non-latching circuit is high-speed, but to obtain an output amplitude of 5 mV or more, a Josephson junction in units of 100 is required, and a complicated circuit is required.
[0005]
On the other hand, the latching circuit can output several mV with several Josephson junctions, but a method using a high-temperature superconductor to convert an SFQ pulse into a voltage has not yet been established.
[0006]
[Prior art]
FIG. 10 is a circuit diagram showing a part of an example of a conventional SFQ / latching conversion circuit. In FIG. 10,
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
The conventional SFQ / latching conversion circuit shown in FIG. 10 is effective for a circuit using a Josephson junction made of an Nb superconductor having a large current-voltage characteristic with a large hysteresis. When a circuit is formed using a Josephson junction made of a high-temperature superconductor having characteristics, it is necessary to add capacitance in order to provide hysteresis. Nevertheless, sufficient hysteresis is required to stabilize circuit operation. It was difficult to have.
[0008]
In view of the above, the present invention provides a SFQ / SFQ / FQ / FQF which can stably convert an SFQ pulse to a voltage even when a circuit is configured using a Josephson junction made of a high-temperature superconductor. An object of the present invention is to provide a latching conversion circuit.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The SFQ / latching conversion circuit according to the present invention connects the JTL forming the transmission path of the SFQ pulse and the Josephson junction for latching with a resistance element, or a Josephson having no hysteresis in the resistance element and the current-voltage characteristic. The connection is made by a series circuit with the junction.
[0010]
According to the present invention, the JTL forming the transmission path of the SFQ pulse and the Josephson junction for latching are connected by a resistance element, or the resistance element and the Josephson junction having no hysteresis in current-voltage characteristics are connected in series. Since the connection is made by a circuit, even when a circuit is configured using a Josephson junction made of a high-temperature superconductor, the conversion of the SFQ pulse to a voltage can be performed stably.
[0011]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a first embodiment to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
[0012]
(1st Embodiment ... FIGS. 1-3)
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL. In FIG. 1,
[0013]
In the DC-
[0014]
In JTL4, 14 and 15 are Josephson junctions, 16 to 20 are inductances, and 21 and 22 are bias current sources.
[0015]
In the
[0016]
In the fifth embodiment of the present invention, the critical current of the Josephson
[0017]
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation conditions of the
[0018]
Here, (1) the condition for switching by the input of the SFQ pulse (the state before the switch) is IB + Is> Ic2, and (2) the condition for not latching until the input of the SFQ pulse (the state before the switch) is IB <Ic2. 3) The conditions for latching the SFQ pulse (the state after the switch) are i2> Ic3, i1 + i2 = IB, Rn × i2 = R × i1, that is, IB> Ic3 (R + Rn) / R. Therefore, the operating conditions of the
[0019]
FIG. 3 is a view showing a bias margin of the
[0020]
As described above, according to the
[0021]
(Second embodiment: FIGS. 4 to 6)
FIG. 4 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL. The second embodiment 37 of the present invention is provided with a latching
[0022]
The latching
[0023]
FIG. 5 is a diagram for explaining the operation conditions of the second embodiment 37 of the present invention. As shown in FIG. 2, the current value of the SFQ pulse is Is, the resistance value of the
[0024]
Here, (4) the condition for switching by the input of the SFQ pulse (the state before the switch) is IB + Is> Ic2, and (5) the condition for not latching until the input of the SFQ pulse (the state before the switch) is IB <Ic2. 6 The conditions for latching the SFQ pulse (the state after the switch) are i2> Ic3, i1 + i2 = IB, Rn × i2 = (R + R1) × i1, that is, IB> Ic3 (R + R1 + Rn) / (R + R1). Accordingly, the operating conditions of the second embodiment 37 of the present invention are Ic2-Is, Ic3 (R + R1 + Rn) / (R + R1) <IB <Ic2.
[0025]
FIG. 6 is a diagram showing bias margins of the
[0026]
As described above, according to the second embodiment 37 of the present invention, since the series circuit of the
[0027]
(Third embodiment: FIG. 7)
FIG. 7 is a circuit diagram showing a third embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL. In the
[0028]
In the
[0029]
According to the
[0030]
(Fourth embodiment: FIGS. 8, 9)
FIG. 8 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL. The
[0031]
The latching
[0032]
According to the
[0033]
FIG. 9 is a diagram showing a change in bias margin and a change in output voltage when the number of stack stages is changed in the
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the connection between the JTL forming the transmission path of the SFQ pulse and the Josephson junction is made by the resistance element, or the connection between the resistance element and the Josephson junction having no hysteresis in the current-voltage characteristics. Therefore, even when a circuit is configured using a Josephson junction made of a high-temperature superconductor, it is possible to stably convert the SFQ pulse to a voltage.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL (Josephson Transmission Line).
FIG. 2 is a diagram for explaining operating conditions of the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating a bias margin according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL (Josephson Transmission Line).
FIG. 5 is a diagram illustrating operating conditions according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating bias margins according to the first and second embodiments of the present invention.
FIG. 7 is a circuit diagram showing a third embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL (Josephson Transmission Line).
FIG. 8 is a circuit diagram showing a fourth embodiment of the present invention together with a DC-SFQ circuit and a JTL (Josephson Transmission Line).
FIG. 9 is a diagram illustrating a change in a bias margin and a change in an output voltage when the number of stack stages is changed according to the third and fourth embodiments of the present invention.
FIG. 10 is a circuit diagram showing a part of an example of a conventional SFQ / latching conversion circuit.
[Explanation of symbols]
3. DC-SFQ circuit (SFQ generation circuit)
4… JTL
5. First Embodiment of the Present Invention (SFQ / Latching Conversion Circuit)
6 SFQ
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