JP2004077308A - Three-dimensional shape measuring instrument - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、非球面、球面、あるいは自由曲面からなるレンズ、金型、あるいは成型品等の測定対象物の三次元形状を高精度に測定する三次元形状測定装置に関し、とくに半導体製造装置に用いる結像レンズ等の高精度な面形状を要求する測定対象物の面形状を測定する三次元形状測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、高精度な三次元面形状測定を行う測定装置の温度制御方法として、特開2001−88512が開示されている。図6に従来の三次元形状測定装置を示す。図6でフィゾー面と被検面が恒温チャンバー1015内に配置されている。干渉計1011より射出した光は参照面1012aと被検面1013aに照射され、反射された光が互いに干渉し、干渉縞を生じさせる。この縞を計測し、演算装置1021によって解析することによって被検物1013の面形状が計測される。この時の計測に必要な被検物の移動、即ち光軸方向への移動、光軸に垂直な方向への移動、光軸に対する傾き補正は全て恒温チャンバーの外より自動的に行われる。図6中、1101は回転軸を有し、その軸方向に移動可能なチャックであり、未計測被検物を収納する被検物スタンド1017より計測すべき被検物体をチャックして、測定位置にセットする役割を有している。これによってチャンバーの外部より被検物のセットが可能になる。尚、1041a〜1041nはチャンバー内の温度及びその分布を測定する温度センサーであり、その出力はコントローラ1042に与えられ、コントローラ42はチャンバー内温度を均一な一定温度になるように制御する。また、被検物スタンドの被検物が計測され終わると、次の被検物スタンド1018に収納された被検物と扉1031の開閉によって取り替えられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
図6の従来例は測定機本体と複数個の未測定物を温度制御されたチャンバー内に設置することによって温度変化の少ない高精度な測定が可能なように考案されたものである。しかし、この方法では本体及び複数個の未測定物を同一の温度制御されたチャンバー、すなわち恒温チャンバー内に設置するために、前記恒温チャンバーが大型化してしまうことになる。恒温チャンバーが大きくなると、恒温チャンバー内の温度を一定に保つことや、恒温チャンバー内の各部分で同じ温度に制御することが大変困難になることや、温度制御のための設備も大型化してしまうといった問題が発生する。
【0004】
本発明はこうした問題を解決するために考案され、測定装置本体と複数個の未測定物を恒温チャンバー内に設置することで大型化した恒温チャンバーであっても、高精度な温度制御を可能とし、温度変化の非常に少ない雰囲気中で三次元形状測定を高精度に実行することを目的とした三次元形状測定装置である。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため本発明の三次元形状測定装置は、接触式又は非接触式のプローブを搭載し、前記プローブで被測定物の表面を走査することによって三次元形状を測定する三次元形状測定装置において、前記プローブの位置を計測する為のレーザ干渉計と参照ミラー及び被測定物部分を部分空調することを特徴とする。
【0006】
また、Z軸方向に移動可能なステージに接触式又は非接触式のプローブを搭載し、前記Z軸はY軸方向に移動可能なY軸スライドに搭載し、前記Y軸スライドはX軸方向に移動可能なX軸スライドに搭載し、前記Z軸スライド、Y軸スライド、X軸スライドは互いに直交するように配置された移動軸を持ち、前記プローブの位置を検出するための測定手段として、前記プローブのZ軸方向位置を検出するためのZ軸参照ミラーと、前記プローブのY軸方向位置を検出するためのY軸参照ミラーと、前記プローブのX軸方向位置を検出するためのX軸参照ミラーを具備し、前記Z軸参照ミラーと前記Y軸参照ミラーと前記X軸参照ミラーを内面に配置した箱状構造体を持ち、前記プローブで被測定物の表面を走査することによって三次元形状を測定する三次元形状測定装置において、前記箱状構造体の内部のみを部分空調することを特徴とする。
【0007】
また、本発明の三次元形状測定装置は前記被測定物を複数個ストックしておくストッカーを具備し、自動で被測定物を前記三次元測定装置の測定台に搭載する自動搭載機構と、前記ストッカーの一つあるいは複数個を覆うカバーを持ち、前記ストッカーの前記カバー内部のみを部分空調することを特徴とする。
【0008】
また、前記部分空調を行うために温調エアーを流す空調ダクトが二重構造になっていることを特徴とする。
【0009】
また、本発明の三次元形状測定装置は前記接触式プローブを2組具備し、前記2組のプローブは互いに対向して配置され、独立にZ軸方向に移動可能なZ軸ステージに搭載され、前記2組のプローブの間に配置された被測定物の互いに対向する表面を個々にトレースすることによって、前記被測定物の互いに対向する表面形状を同時に測定することを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0011】
(実施例)
図1は本発明による三次元形状測定装置であって、三次元形状測定装置の一部分を高精度に空調する機能を備えた高精度三次元形状測定装置の平面図、図2は同じく側面図で、図1をAA方向から見た図、図3は同じく側面図で、図1をBB方向から見た図である。
【0012】
図1及び図2及び図3において101は測定本体を支える架台である。104a、104b、104cは除振台で架台101は除振台104a、104b、104cの上に搭載されている。108aは被測定物109の上面測定用プローブユニット203aを搭載した上側プローブアームである。107aは上側プローブアーム108aをZ方向に移動させる上側Z軸であり本発明ではZ軸のガイドにリニアエアーベアリングを、駆動にはリニアモータを採用している。108bは被測定物109の下面測定用プローブユニット203bを搭載した下側プローブアームである。107bは下側プローブアーム108bをZ方向に移動させる下側Z軸であり本発明ではZ軸のガイドにリニアエアーベアリングを、駆動にはリニアモータを採用している。上面測定用プローブユニット203a並びに下面測定用プローブユニット203bの先端には鋼球が真空吸着によって吸着されている。前記鋼球は一般に真球度の良い鋼球か又はルビー球などを用いる。106は上側Z軸107a及び下側Z軸107bを水平方向すなわちY方向に移動させる本体Y軸であり、本発明では本体Y軸のガイドにリニアエアーベアリングを、駆動にはリニアモータを採用している。
【0013】
105は本体Y軸106をY軸とは直交する方向すなわちX軸方向に移動させる本体X軸であり、本発明では本体X軸のガイドに転がり軸受けを、駆動にはサーボモータによるボールネジ送りを採用している。前記のような上側Z軸107a、下側Z軸107b及び本体Y軸106及び本体X軸105を駆動することによって上側プローブアーム108a及び下側プローブアーム108bに搭載した上面測定用プローブユニット203a及び下面測定用プローブユニット203bの接触プローブ先端球を被測定物109の上面及び下面表面に両面同時にあるいは片面毎に倣って走査することが可能である。103は上側プローブアーム108a並びに下側プローブアーム108bに搭載したプローブユニットの位置を計測するためのレーザ測長器(図不記載)の基準となる参照ミラー202a、202b、202c、202d、202e、202fを取り付けたミラーボックスである。ミラーボックス103は架台101にコラム201とワーク搭載台119を介して取り付けられ、ミラーボックス103はワーク搭載台119に対してキネマティック支持によって3点で受けており、架台101及びコラム201及びワーク搭載台119の変形によってミラーボックス103が変形しないように支持されている。ミラーボックス103並びにコラム201を搭載した架台101とZ軸107a、107b並びに本体Y軸106並びに本体X軸105とは切り離されており、本体X軸105並びに本体Y軸106の移動による振動あるいは変形が架台101を通してミラーボックス103に直接伝わらない構造になっている。
【0014】
110はワークストッカーで測定前の被測定物を複数個準備しておくことができ、測定の順番がくるまでに温調される。125はワークストッカー110に搭載された未測定のワークの1つあるいは複数個をカバーし部分空調するためのワークストッカー用空調ダクトである。
【0015】
本発明では恒温チャンバー111は仕切113で2室に分かれており、126はワークストッカー110などが設置されているワークストッカー室、127は測定装置本体が設定されている測定装置本体室である。117は測定前の被測定物である。被測定物はワークストッカー110によって測定装置本体側に順送りされ、ワークストッカー用空調ダクト125にカバーされた部分である117bの位置に被測定物が移送されるとさらに高精度な温調が測定前の被測定物に施される。そして測定前の被測定物は切り替え装置122によって123の位置に送られる。この間高精度な温調が連続して被測定物に施され続ける。従ってこの高精度な温調領域は測定タクトと温調に必要な時間から大きさが決まり、必要最小限の領域を確保すればよい。その後オートハンド120によって測定装置本体内に送られ、引き込み装置121によって被測定物109の位置に位置決めされる。その際、引き込み装置121によって位置決め時の衝撃が被測定物109に加わらないように行われる。測定が終了するとオートハンド120によって測定装置本体から引き出され、ワークストッカー110によって測定終了位置118に送られる。この間被測定物の移動はコンピュータあるいはNCコントローラ(図不記載)からの指令によって自動で行われる。したがって、被測定物を交換する度に人が測定装置に近づく必要がない。111は恒温チャンバー、112は恒温チャンバー制御室である。113は恒温チャンバー111を測定装置本体側とワークストッカー側に分ける仕切で、測定本体側の恒温チャンバー容積を少なくしてより精密な温度制御が行うこと目的としている。このようにワークストッカー110に複数個の被測定物を搭載した後は全て自動的に測定が行えるので人は恒温チャンバー111に入る必要が無く、より温度変化の少ない状態で高精度な測定を行うことが出来る。
【0016】
114は架台101とコラム201の間に挿入されたダンパーでコラム201の架台114に対する振動を吸収する。102は上面測定用プローブユニット203a及び下面測定用プローブユニット203bの先端に吸着させている先端球を自動交換するためのユニットである。124はミラーボックス103の中を部分空調するためのミラーボックス用空調ダクトである。124bはミラーボックス用ダクト124のうち上面測定用プローブユニット203aが移動する空間に空調したエアーを送り込む上側ミラーボックス用空調ダクト、124aは上側ミラーボックス用空調ダクト124bの外側に配置された上側ミラーボックス用カバー空調ダクトである。すなわち上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aとで、二重構造のダクトを形成している。124dはミラーボックス用ダクト124のうち下面測定用プローブユニット203bが移動する空間に空調したエアーを送り込む下側ミラーボックス用空調ダクト、124cは下側ミラーボックス用空調ダクト124dの外側に配置された下側ミラーボックス用カバー空調ダクトである。すなわち下側ミラーボックス用空調ダクト124dと下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cとで、二重構造のダクトを形成している。
【0017】
301はミラーボックス103のうち、上側の参照ミラー202aと202bと202e及び被測定物109あるいはワーク搭載台119の上側で囲まれた空間、302はミラーボックス103のうち、下側の参照ミラー202cと202dと202f及び被測定物109あるいはワーク搭載台119の下側で囲まれた空間を示す。303はミラーボックス301のうち上側ミラーボックス用空調ダクト124bを挿入するための上側ダクト口、304はミラーボックス301のうち下側ミラーボックス用空調ダクト124dを挿入するための下側ダクト口である。
【0018】
次に図3において部分空調の機能を説明する。図示しないコンピュータまたはNCコントローラの指示に従って本体X軸105及び本体Y軸106及び上側Z軸107aを駆動し、上面測定用プローブユニット203aの先端に付いている先端球で被測定物109の上面表面を倣い走査する。この時、上面測定用プローブユニット203aあるいは、上面測定用プローブユニットを搭載している上側プローブアーム108aに装着されたレーザ干渉計(図不記載)によって、上側の空間301における上側の参照ミラー202a、202b、202eからの距離を計測する。こうして上面測定用プローブユニット203aの先端球位置が被測定物109の上面を倣い走査したときの軌跡座標が得られる。すなわち、被測定物109の上面形状が計測されることになる。
【0019】
このとき外乱などの影響による温度変化で上側の空間301の空気で揺らぎが発生したり、被測定物109の形状が変化したり、あるいは上面測定用プローブユニットが伸縮したりすると、測定結果に誤差が生じることになる。本発明では上面測定用プローブユニット203aあるいは、上面測定用プローブユニットを搭載している上側プローブアーム108aに装着されたレーザ干渉計(図不記載)が、上側の空間301、すなわち、ミラーボックス103の上側参照ミラー202a、202b、202e及び被測定物109の比較的閉ざされた狭い空間であることに着目し、この上側の空間301を、高精度に制御された一定温度のエアーを上側ミラーボックス用空調ダクト124bによって送り込むことによって一定温度に制御するものである。このとき、単純に上側の空間301に温調したエアーを送り込むだけならば上側ダクト口303と上側ミラーボックス用空調ダクト124bを隙間無く接続すればよいが、一般にエアーを通すダクトは振動していることが多いので、上側ミラーボックス用空調ダクト124bを上側ダクト口303に接続すると上側ミラーボックス用空調ダクト124bの振動がミラーボックス103へ伝わり、測定基準である上側参照ミラー202a、202b、202eが振動して測定に誤差が生じてしまう。従って、上側ミラーボックス用空調ダクト124bを上側ダクト口303に接続しない方が良い。しかし、上側ミラーボックス用空調ダクト124bを上側ダクト口303に接続しないと上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ダクト303に隙間が出来、この状態で上側ミラーボックス用空調ダクト124bから上側の空間301へ温調されたエアーを送り込むと、上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ダクト口303の隙間からミラーボックス103の外の空気が巻き込まれて上側の空間301に流れ込んでしまう。
【0020】
図5にミラーボックス103の外の空気が巻き込まれて上側の空間301に流れ込んでしまう様子を示す。図5の501がミラーボックス103の外からの空気の流れ、402が上側ミラーボックス用空調ダクト124bからの温調エアーの流れである。
【0021】
そこで本発明では、上側ミラーボックス用空調ダクト124bの外側に上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aを配置し、空調ダクトを二重構造とした。このとき、上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aは上側ダクト口303から上側の空間301の中に入れず、ミラーボックス103の外に解放するように配置する。前記のように配置された上側ミラーボックス用空調ダクト124b及び上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aに高精度に温調されたエアーを通せば、上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ダクト口303の隙間には上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aからのエアー圧がかかるので上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ダクト口303の隙間からミラーボックス103の外の空気が巻き込まれて上側の空間301に流れ込んでしまうことが無くなる。よって、ミラーボックス103の上側の空間301を高精度に温調することが可能となる。
【0022】
図4に上側ミラーボックス用空調ダクト124b及び上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aからの温調エアーの流れる様子を示す。図4の401が上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aからの温調エアーの流れ、402が上側ミラーボックス用空調ダクト124bからの温調エアーの流れである。図4に示すように上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ダクト口303の隙間からミラーボックス103の外の空気が巻き込まれて上側の空間301に流れ込んでしまうことが無い。
【0023】
また同様に、下側ミラーボックス用空調ダクト124dの外側に下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cを配置し、空調ダクトを二重構造とした。このとき、下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cは下側ダクト口304から下側の空間302の中に入れず、ミラーボックス103の外に解放するように配置する。前記のように配置された下側ミラーボックス用空調ダクト124d及び下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cに高精度に温調されたエアーを通せば、下側ミラーボックス用空調ダクト124dと下側ダクト口304の隙間には下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cからのエアー圧がかかるので下側ミラーボックス用空調ダクト124dと下側ダクト口304の隙間からミラーボックス103の外の空気が巻き込まれて下側の空間302に流れ込んでしまうことが無くなる。よって、ミラーボックス103の下側の空間302を高精度に温調することが可能となる。
【0024】
本発明ではワークストッカー室126を±0.03℃、測定装置本体室を±0.02℃、ワークストッカー用空調ダクト125によって117bの位置の被測定物を±0.01℃に、そして上側ミラーボックス用空調ダクト124bと上側ミラーボックス用カバー空調ダクト124aからの温調エアーによってミラーボックス103の上側の空間301内を±0.01℃に、そして下側ミラーボックス用空調ダクト124dと下側ミラーボックス用カバー空調ダクト124cからの温調エアーによってミラーボックス103の下側の空間302内を±0.01℃にそれぞれ温調するように設定している。
【0025】
このように測定装置本体におけるミラーボックス103内の上側の空間301および下側の空間302、そしてワークストッカー110の高精度温調部分117bをワークストッカー室126や測定装置本体室127よりも精度良く温調するのが望ましい。
【0026】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ステッパーなどに用いる高精度な結像レンズのレンズ面形状を非接触、あるいは接触プローブにて走査することによって測定する三次元形状測定装置において、前記プローブの位置を計測する為のレーザ干渉計と参照ミラー及び被測定物部分を高精度に部分空調すること、また、前記被測定物を複数個ストックしておくストッカーを具備し、自動で被測定物を前記三次元測定装置の測定台に搭載する自動搭載機構と、前記ストッカーの一つあるいは複数個を覆うカバーを持ち、前記ストッカーの前記カバー内部のみを高精度に部分空調することによって、測定精度を安定させるために必要な部分を温調することが出来るので、測定装置本体全体を高精度に温調する必要がなくなる。したがって、広い範囲を高精度に温調する必要がないので温調設備が小型化でき、温調の精度も向上する。
【0027】
また部分温調のための空調ダクトを二重構造とすることで、外側の空気を巻き込むことなく高精度に温調されたエアーを目的の空間に送り込むことが可能となり、さらに温調の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施した接触式三次元形状測定装置の平面図
【図2】本発明を実施した接触式三次元形状測定装置の側面図
【図3】本発明を実施した接触式三次元形状測定装置のミラーボックス部の側面図
【図4】部分温調用空調ダクトを二重構造としたときの作用説明図
【図5】部分温調用空調ダクトが単層構造の時の説明図
【図6】従来の測定装置の平面図
【符号の説明】
101 架台
104a、104b、104c 除振台
108a 上側プローブアーム
107a 上側Z軸[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a three-dimensional shape measuring apparatus for measuring the three-dimensional shape of a measurement object such as an aspherical surface, a spherical surface, or a lens having a free-form surface, a mold, or a molded product with high accuracy, and is particularly used for a semiconductor manufacturing apparatus. The present invention relates to a three-dimensional shape measuring apparatus that measures a surface shape of a measurement object that requires a highly accurate surface shape such as an imaging lens.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-88512 has been disclosed as a temperature control method of a measuring device for performing highly accurate three-dimensional surface shape measurement. FIG. 6 shows a conventional three-dimensional shape measuring apparatus. In FIG. 6, the Fizeau surface and the surface to be measured are arranged in a
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
The conventional example shown in FIG. 6 has been devised so that a high-precision measurement with little temperature change can be performed by installing a measuring instrument main body and a plurality of unmeasured objects in a temperature-controlled chamber. However, in this method, since the main body and a plurality of unmeasured objects are placed in the same temperature-controlled chamber, that is, in a constant temperature chamber, the size of the constant temperature chamber increases. When the constant temperature chamber becomes large, it becomes very difficult to keep the temperature inside the constant temperature chamber constant, it is very difficult to control the same temperature in each part in the constant temperature chamber, and the equipment for temperature control also becomes large. Such a problem occurs.
[0004]
The present invention has been devised to solve such a problem, and enables high-precision temperature control even in a large-sized constant-temperature chamber by installing a measuring apparatus main body and a plurality of unmeasured objects in the constant-temperature chamber. This is a three-dimensional shape measuring apparatus for performing a three-dimensional shape measurement with high accuracy in an atmosphere having a very small temperature change.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention is equipped with a contact-type or non-contact-type probe, and measures the three-dimensional shape by scanning the surface of an object to be measured with the probe. In the measuring apparatus, a laser interferometer for measuring the position of the probe, a reference mirror, and a part to be measured are partially air-conditioned.
[0006]
A contact or non-contact probe is mounted on a stage movable in the Z-axis direction, the Z-axis is mounted on a Y-axis slide movable in the Y-axis direction, and the Y-axis slide is mounted on the X-axis direction. Mounted on a movable X-axis slide, the Z-axis slide, the Y-axis slide, and the X-axis slide have moving axes arranged so as to be orthogonal to each other, and as a measurement unit for detecting the position of the probe, A Z-axis reference mirror for detecting the Z-axis position of the probe, a Y-axis reference mirror for detecting the Y-axis position of the probe, and an X-axis reference for detecting the X-axis position of the probe A box-shaped structure having a mirror, the Z-axis reference mirror, the Y-axis reference mirror, and the X-axis reference mirror arranged on an inner surface, and scanning the surface of the object by the probe to form a three-dimensional shape. To In the three-dimensional shape measuring device for constant, characterized by partial air-conditioning the inside only of the box-like structure.
[0007]
Further, the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention includes a stocker for stocking a plurality of the object to be measured, an automatic mounting mechanism for automatically mounting the object to be measured on a measuring table of the three-dimensional measuring apparatus, It has a cover that covers one or more of the stockers, and only the inside of the cover of the stocker is partially air-conditioned.
[0008]
Further, the air conditioning duct through which the temperature control air flows for performing the partial air conditioning has a double structure.
[0009]
Further, the three-dimensional shape measuring apparatus of the present invention includes two sets of the contact-type probes, the two sets of probes are arranged to face each other, and are mounted on a Z-axis stage movable independently in the Z-axis direction. By individually tracing opposing surfaces of an object to be measured disposed between the two sets of probes, mutually opposing surface shapes of the object to be measured are simultaneously measured.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0011]
(Example)
FIG. 1 is a plan view of a high-precision three-dimensional shape measuring apparatus according to the present invention, which has a function of air-conditioning a part of the three-dimensional shape measuring apparatus with high accuracy, and FIG. , FIG. 1 as viewed from the AA direction, and FIG. 3 is a side view of the same, and FIG. 1 as viewed from the BB direction.
[0012]
In FIGS. 1, 2 and 3,
[0013]
[0014]
[0015]
In the present invention, the
[0016]
[0017]
[0018]
Next, the function of the partial air conditioning will be described with reference to FIG. The
[0019]
At this time, if the temperature in the
[0020]
FIG. 5 shows a state in which air outside the
[0021]
Thus, in the present invention, the upper mirror box cover
[0022]
FIG. 4 shows how the temperature-controlled air flows from the upper mirror box
[0023]
Similarly, a lower mirror box cover
[0024]
In the present invention, the
[0025]
As described above, the
[0026]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in a three-dimensional shape measuring apparatus that measures a lens surface shape of a high-precision imaging lens used for a stepper or the like by non-contact or by scanning with a contact probe, The laser interferometer and the reference mirror for measuring the position of the object and the part of the object to be measured are partially air-conditioned with high accuracy, and a stocker for storing a plurality of the objects to be measured is provided automatically. Has an automatic mounting mechanism for mounting on the measuring table of the three-dimensional measuring device, and a cover that covers one or more of the stockers, and partially air-conditions only the inside of the cover of the stocker with a high degree of accuracy in measuring accuracy. Since the temperature of a portion necessary for stabilizing the temperature can be controlled, it is not necessary to control the temperature of the entire measuring device body with high accuracy. Therefore, there is no need to precisely control the temperature over a wide range, so that the temperature control equipment can be downsized and the accuracy of the temperature control can be improved.
[0027]
In addition, the air conditioning duct for partial temperature control has a double structure, so that air whose temperature has been precisely controlled can be sent into the target space without entraining outside air. improves.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view of a contact type three-dimensional shape measuring device embodying the present invention. FIG. 2 is a side view of a contact type three-dimensional shape measuring device embodying the present invention. FIG. Side view of the mirror box part of the original shape measuring device [Fig. 4] Description of operation when the air conditioning duct for partial temperature adjustment has a double structure [Fig. 5] Illustration of the air conditioning duct for partial temperature adjustment having a single-layer structure [ FIG. 6 is a plan view of a conventional measuring device.
101
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002238692A JP2004077308A (en) | 2002-08-20 | 2002-08-20 | Three-dimensional shape measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002238692A JP2004077308A (en) | 2002-08-20 | 2002-08-20 | Three-dimensional shape measuring instrument |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004077308A true JP2004077308A (en) | 2004-03-11 |
Family
ID=32021999
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002238692A Pending JP2004077308A (en) | 2002-08-20 | 2002-08-20 | Three-dimensional shape measuring instrument |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004077308A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009128322A (en) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | Thickness measuring device |
JP2019152530A (en) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
JP2019152531A (en) * | 2018-03-02 | 2019-09-12 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
JP2022066416A (en) * | 2018-03-02 | 2022-04-28 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
-
2002
- 2002-08-20 JP JP2002238692A patent/JP2004077308A/en active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009128322A (en) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | Thickness measuring device |
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JP7038304B2 (en) | 2018-03-02 | 2022-03-18 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
JP7038303B2 (en) | 2018-03-02 | 2022-03-18 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
JP2022066416A (en) * | 2018-03-02 | 2022-04-28 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
JP7255074B2 (en) | 2018-03-02 | 2023-04-11 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20040608 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050915 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051018 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20051215 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20060327 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
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