JP2004069604A - Position detector, driving device, and optical apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、位置検出装置に関し、特に、カメラの撮影レンズ等の位置を検出する位置検出装置、その位置検出装置を用いる駆動装置及びその位置検出装置を用いる光学機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、撮影レンズ等が取り付けられた移動部材を棒状の駆動部材に所定の摩擦力を有するように結合させると共に、その駆動部材の一方端に圧電素子を固着して構成されたインパクト型圧電アクチュエータからなる駆動装置が知られている。この構成の圧電アクチュエータをフォーカスレンズ、ズームレンズ、手ぶれ補正用レンズ等に用いる場合には、ピント合わせ、倍率合わせ、手ぶれ補正等を正確に行うために、移動部材の位置を制御する必要がある。そこで、このような駆動装置には、撮影レンズの位置を検出するために位置センサが設けられており、特に、移動部材が駆動部材の一端から他端までのロングストロークを移動する際に、高分解能、かつ処理が簡単な位置センサが望まれている。
【0003】
一方、位置センサに用いられる検出素子として半導体位置検出素子(PSD)が提案されている。
【0004】
例えば、特開平5−18784号公報では、1つの半導体位置検出素子を用いて移動体の位置を検出する方法が開示されている。この方法では、所定のピッチで形成されたスリットを有する移動体を挟んで投光素子とPSDとが対向状態となるように配置される。そして、移動体の移動に伴ってPSDにはスリットを透過した投光素子の光が入射する。この入射位置により、移動体がスリットの1ピッチ分移動する間の位置に相当する信号が検出される。
【0005】
また、特開平5−87591号公報では、位相が異なる2つの半導体位置検出素子と、パルス間隔が異なる半導体位置検出素子とを用いて移動体の位置を検出する方法が開示されている。この方法では、一周期内にN個の第1のスリットが形成された第1のスリット体を経由した光を該第1のスリットに対する位相の異なる各位置に配置された第1及び第2のPSDで受光する。さらに、一周期内にN+1個もしくはN−1個の第2のスリットが形成された第2のスリット体を経由した光を第3のPSDで受光し、第1及び第2のスリット体の上記一周期内の絶対位置を求める。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
前者の方法では、1つのPSDで移動体の位置を検出しているため、スリットの幅の分だけ不感帯となってしまう場合がある。スリットの幅を狭くすることでこの不感帯をなくすことは可能ではあるが、装置の小型化を実現しようとすると、スリットの幅を狭くすることは困難であるという問題を有している。
【0007】
また、後者の方法では、3つのPSDを用いているため、処理する信号の数が多くなり、高い製造精度が求められ、製造コストも高くなるという問題を有している。また、演算処理に除算を用いているため、演算処理に時間がかかり、高速で位置検出を行うには不適であるという問題を有している。
【0008】
本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので、移動部のロングストロークの移動にも対応可能であり、且つ高分解能の位置検出が可能な位置検出装置、駆動装置及び光学機器を提供することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る位置検出装置は、複数のスリットが所定の間隔をおいて設けられた移動部と、前記移動部に光を照射する投光部と、スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第1受光部と、前記第1受光部に対して前記移動部の移動方向にずれた位置に設けられ、スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第2受光部と、前記第1受光部及び前記第2受光部から出力された光電流に基づいて、前記光が前記移動部上に投光する投光位置を第1精度で検出した後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で前記第1精度よりも高い第2精度でさらに前記投光位置を検出する位置検出処理部とを備える。
【0010】
この構成によれば、移動部が移動することによってスリットの位置が相対的に移動し、第1受光部及び第2受光部によって、スリットを透過した光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流が出力されるため、移動部の一端から他端までのロングストロークの移動にも対応することができる。さらに、位置検出処理部によって、第1受光部及び第2受光部から出力された光電流に基づいて、光が移動部上に投光する投光位置が第1精度で検出された後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で第1精度よりも高い第2精度でさらに投光位置が検出されるため、高分解能の位置検出が可能となる。
【0011】
また、上記の位置検出装置において、前記位置検出処理部は、前記第1受光部及び前記第2受光部から出力された光電流に基づいて、前記光が透過したスリットを検出した後に前記受光面における受光位置を検出することによって、前記光が前記移動部上に投光する投光位置を検出することが好ましい。この構成によれば、位置検出処理部によって、第1受光部及び第2受光部から出力された光電流に基づいて、光が透過したスリットが検出された後に受光面における受光位置が検出されることによって、光が前記移動部上に投光する投光位置が検出されるため、高分解能の位置検出が可能となる。
【0012】
さらに、上記の位置検出装置において、前記所定の間隔は、前記第1受光部及び前記第2受光部のうちの少なくとも一方が前記光を受光可能とする間隔であることが好ましい。この構成によれば、移動部に設けられたスリットの間隔を第1受光部及び第2受光部のうちの少なくとも一方が受光位置となるように設けることで、第1受光部及び第2受光部のうちの少なくとも一方の受光面の受光位置が簡単な演算処理で求めることができるので演算処理にかかる時間を短縮することができ、移動部の相対位置を得ることができる。
【0013】
さらにまた、本発明に係る駆動装置は、1次元的に移動部材を駆動するアクチュエータと、前記移動部材の位置を検出する上記の位置検出装置とを備える。この構成によれば、上記の位置検出装置を駆動装置に用いることができ、駆動装置の小型化を実現することができる。
【0014】
さらにまた、本発明に係る光学機器は、1次元的に移動部材を駆動するアクチュエータと、前記移動部材の位置を検出する上記の位置検出装置と、前記移動部材に配設されるレンズとを備える。この構成によれば、上記の位置検出装置を光学機器に用いることができ、光学機器の小型化を実現することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の構成については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0016】
本実施の形態における駆動装置の構成について説明する。
【0017】
図1は、本実施の形態における駆動装置の構成を概略的に示すブロック図である。図2は、駆動装置に用いたインパクト型圧電アクチュエータの構成を示す斜視図である。
【0018】
図1及び図2において、駆動装置10は、電気機械変換素子21、支持部材22、駆動部材23、移動部材24、駆動回路25、電圧制御部26、制御回路27、部材センサ28、位置検出回路29、基端センサ30及び先端センサ31を備えて構成される。インパクト型圧電アクチュエータ11は、電気機械変換素子21、支持部材22、駆動部材23及び移動部材24を備えて構成される。
【0019】
支持部材22は、電気機械変換素子21と駆動部材23とを保持する部品であり、円柱体の軸方向両端部221、222と略中央に位置する仕切壁223とを残して内部を刳り貫くことにより形成された第1収容空間224及び第2収容空間225を有している。この第1収容空間224には、電気機械変換素子21がその分極方向である伸縮方向を支持部材22の軸方向と一致させた状態で収容されている。第2収容空間225には、移動部材24の一部と駆動部材23とが収容されている。
【0020】
電気機械変換素子21は、例えば、所定の厚みを有する複数枚の圧電基板を各圧電基板間に電極を介して積層した圧電素子であり、積層方向に伸縮する。このような積層型圧電素子は、バイモルフと比較すると弾性スチフネスが大きいために共振周波数が高く、そのため応答速度が速いという有利な効果がある。さらに、積層型圧電素子は、バイモルフと比較すると発生力も桁違いに大きいという有利な効果がある。圧電基板の厚みは、仕様から必要とされる伸縮量、積層数及び印加電圧などにより決定される。
【0021】
電気機械変換素子21は、その伸縮方向である長手方向の一方端面が第1収容空間224の一方端面(端部221側端面)に固着されている。支持部材22の他方端部222及び仕切壁223には、中心位置に駆動部材23の断面形状に合わせた形状の孔が穿設されると共に、この両孔を貫通して棒状の駆動部材23が第2収容空間225に軸方向に沿って移動可能に収容されている。電気機械変換素子21の他方端面は、駆動部材23の第1収容空間224内に突出した端部が固着される。
【0022】
第2収容空間225の外部に突出した駆動部材23の端部は、板ばね32により所定のばね圧で電気機械変換素子21側に付勢されている。この板ばね32の付勢は、電気機械変換素子21の伸縮動作に基づく駆動部材23の軸方向変位を安定化させるためである。
【0023】
駆動部材23は、電気機械変換素子21の伸縮を移動部材24の移動に変換すると共に、移動部材24を支えるガイドである。駆動部材23の断面形状は、円形、楕円及び矩形などの形状を適用することができるが、移動部材24を安定的に支えスムーズに移動させることができるようにする観点から本実施の形態では、円形である。
【0024】
移動部材24は、駆動部材23の軸方向の両側に取付部241を有する基部242と、両取付部241の間に着装される挟込み部材243とを備える。基部242は、駆動部材23に遊嵌される。挟込み部材243は、両取付部241に取り付けられた板ばね244によって駆動部材23の方向に押圧され、駆動部材23に接触する。この接触によって、移動部材24は、所定の摩擦力で駆動部材23と結合される。また、駆動対象物33は、この移動部材24の取付部241を用いて取り付けられる。駆動対象物33が取付部241に取り付けられている部分と対向する部分に、駆動対象物33を支持する補助支持部材34が取り付けられる。この補助支持部材34によって駆動対象物33は、駆動部材23の軸方向と略垂直な方向の回転を防止可能とする。
【0025】
駆動対象物33は、本実施の形態における駆動装置が搭載される光学機器によって異なる。例えば、光学機器がカメラの場合にはフォーカスレンズ、ズームレンズ、手ぶれ補正用レンズなどが駆動対象物33となり、オーバヘッドプロジェクタの場合には投影レンズが駆動対象物33となり、双眼鏡の場合にはフォーカスレンズが駆動対象物33となる。なお、手ぶれ補正用レンズなどのようにXYの2方向に移動させることが必要な場合には、方向ごとに駆動装置が配置される。本実施の形態における駆動装置が搭載される光学機器は、これらに限定されないが、駆動装置10の特性から、駆動対象物33の正確な位置制御が必要な場合に好適である。
【0026】
駆動回路25は、電気機械変換素子21に印加される駆動電圧を生成する回路であり、電圧制御部26の制御によって駆動電圧の振幅、周波数及び駆動電圧が矩形波である場合にはデューティー比Dが調整される。
【0027】
部材センサ28は、移動部材24の移動可能範囲内に配設されており、半導体位置検出素子、いわゆるPSD(Position Sensitive Devices)素子などのセンサにより構成されている。移動部材24の位置が部材センサ28により検出されることで移動部材24を所定位置に移動させる制御が可能となる。基端センサ30及び先端センサ31は、フォトインタラプタなどのセンサにより構成され、移動部材24が移動可能範囲内を越えて移動することを防止可能な位置に配設される。なお、部材センサ28については後述する。
【0028】
位置検出回路29は、部材センサ28から出力される光電流を電圧に変換し、制御回路27が備える後述の2相カウンタ及び位置検出部に出力する電気信号を生成する。
【0029】
制御回路27は、駆動装置10の全体の制御を行う回路であり、演算処理を行う中央処理装置(Central Processing Unit、以下、「CPU」と略記する。)、処理プログラムとデータとが格納されたROM(Read−Only Memory)及びデータを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)等を備えて構成される。特に、ROMには、駆動電圧の基本駆動周波数及び移動部材24の移動速度と駆動電圧を特定する物理量のうち操作量となる操作物理量との関係を示すルックアップテーブル等が記憶される。
【0030】
制御回路27は、移動部材24を所望の速度状態で所望の位置に移動させるために駆動回路25の動作を指示する外部信号、部材センサ28、基端センサ30及び先端センサ31の検出出力が入力され、これら入力に基づいてルックアップテーブルを参照して移動速度を決定し、移動部材24が決定された移動速度で指示された移動位置となるように、駆動回路25の波形発生器(図示省略)に制御信号を出力する。
【0031】
図3は、駆動装置の駆動原理を説明するための図である。図3(A)は、移動部材24を正方向に移動させる場合において、駆動回路25から電気機械変換素子21に出力される駆動電圧の電圧波形を示す図であり、図3(B)は、これに対応する電気機械変換素子21の伸縮による変位を示す図である。また、図3(C)は、移動部材24を逆方向に移動させる場合において、駆動回路25から電気機械変換素子21に出力される駆動電圧の電圧波形を示す図であり、図3(D)は、これに対応する電気機械変換素子21の伸縮による変位を示す図である。
【0032】
ここで、正方向とは、移動部材24が電気機械変換素子21から駆動部材23の先端部(板ばね32によって付勢される端部)に向う方向であり、逆方向とは、移動部材24が駆動部材23のこの先端部から電気機械変換素子21に向う方向である。また、電気機械変換素子21の伸縮による変位は、レーザドップラー振動計により測定した。
【0033】
図3(A)に示すようなデューティー比D3:7の矩形波状の駆動電圧が電気機械変換素子21に印加された場合には、電気機械変換素子21の変位は、図3(B)に示すように緩慢な立ち上がり部Taと急峻な立下り部Tbとを有する鋸歯形状となることが確認された。一方、図3(C)に示すようなデューティー比D7:3の矩形波状の駆動電圧が電気機械変換素子21に印加された場合には、図3(D)に示すような電気機械変換素子21の変位は、急峻な立ち上がり部Tcと緩慢な立下り部Tdとを有する鋸歯形状となることが確認された。
【0034】
すなわち、電気機械変換素子21の変位が図3(B)に示すような緩慢な立ち上がり部Taでは、電気機械変換素子21が緩やかに伸長し、移動部材24が駆動部材23と共に正方向に移動する。そして、電気機械変換素子21の変位が図3(B)に示すような急峻な立ち下がり部Tbでは、電気機械変換素子21が急激に縮小し、駆動部材23が逆方向に移動しても移動部材24は、駆動部材23上をスリップして略同位置に留まることになる。その結果、移動部材24は、正方向に移動したことになる。したがって、図3(A)に示す矩形波の駆動電圧が電気機械変換素子21に繰り返し印加されることで、移動部材24は、正方向に間欠的に移動することになる。逆方向の移動原理も同様である。
【0035】
ここで、緩慢な立ち上がり部Taにおいても移動部材24と駆動部材23とが必ずスリップしない状態である必要はなく、緩慢な立ち上がり部Taにおいて移動部材24が正方向に移動する正移動量から、急峻な立ち下がり部Tbにおいて移動部材24が逆方向に移動する逆移動量を差し引いた値が0より大きければ結果的に正方向に移動する。駆動電圧のデューティー比Dの変化に従って緩慢な立ち上がり部Taの傾きと急峻な立ち下がり部Tbの傾きとは変化するので、正移動量と逆移動量とは、駆動電圧のデューティー比Dの変化に因ることになる。したがって、移動部材24を正方向に移動させるためには、駆動電圧のデューティー比Dは、(正移動量)−(逆移動量)>0となるように設定すればよいことになる。また、駆動電圧が矩形波である場合だけでなく、正弦波である場合でも上述した鋸歯形状を実現できることが確認されている。
【0036】
なお、デューティー比Dは、矩形波のハイレベルの時間をT1、ローレベルの時間をT2とすると、T1:T2である。
【0037】
なお、共振周波数と駆動周波数との関係及び移動方向の関係は、実験によって確認された事項であり、駆動装置10の駆動原理と共に、本特許出願の出願人と同一の出願人である特開2001−211669号公報に開示した。
【0038】
図4は、インパクト型圧電アクチュエータ11及び部材センサ28の主な構成を示す図である。部材センサ28は、移動部41、第1の赤外発光ダイオード(Infrared Emitting Diodes、以下、「第1のIRED」と略記する。)42、第2の赤外発光ダイオード(以下、「第2のIRED」と略記する。)43及びPSDパッケージ44を備えて構成される。
【0039】
図5は部材センサ28の構成を示す図であり、図5(A)は、部材センサ28をインパクト型圧電アクチュエータ11側から見た図であり、図5(B)は、図5(A)の部材センサ28を移動方向に垂直な方向から見た図であり、図5(C)は、図5(A)の部材センサ28を移動方向に平行な方向から見た図である。図5(A)に示すように、移動部41は、スリット板51、スリット52、スリット板保持部53及びスリット板支持部54により構成される。
【0040】
図4及び図5において、移動部41は、複数のスリットが所定の間隔をおいて設けられており、移動部材24とスリット板支持部54を介して一体に取り付けられている。第1のIRED42は、移動部41に設けられたスリット52を介して後述する第1のPSDに光を照射する。第2のIRED43は、移動部41に設けられたスリット52を介して後述する第2のPSDに光を照射する。PSDパッケージ44は、第1のPSD及び第2のPSDから構成される。
【0041】
スリット板51には、長尺状の薄い板に複数のスリット52が移動方向(図5(A)中の矢印の方向)に所定の間隔Xをおいて設けられている。スリット52は、長方形状であり、長辺が移動方向に対して垂直であり、短辺が移動方向に対して平行である。また、隣り合うスリット52の間隔Xは、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bのうちの少なくとも一方が受光可能となる間隔である。このように、移動部41に設けられたスリット52の間隔Xを第1のPSD55A及び第2のPSD55Bのうちの少なくとも一方が受光可能となるように設けることで、PSDの原理より、PSDの受光面上の受光位置が簡単な演算処理で求めることができるので演算処理にかかる時間を短縮することができ、移動部41のPSDの受光面上の位置を得ることができる。
【0042】
スリット板51の短手方向の両側には、スリット板51を保持するためのスリット板保持部53が設けられている。スリット板保持部53は、スリット板51が高速移動した場合に変形を起こさないようにスリット板51の平面性を保つものである。スリット板保持部53にはスリット板51を移動部材24と一体に移動させるためのスリット板支持部54が設けられている。スリット板支持部54は、スリット板51を移動部材24に固定するものであり、所定の方法でスリット板保持部53と移動部材24とに固着されている。スリット板支持部54によってスリット板51と移動部材24とが固定されることによって、移動部材24の移動に伴ってスリット板51が移動することとなる。
【0043】
スリット板51の上方には投光部である第1のIRED42及び第2のIRED43が設けられている。第1のIRED42は、第1のPSD55Aに光を照射するものであり、第2のIRED43は、第2のPSD55Bに光を照射するものである。第1のIRED42及び第2のIRED43の短手方向の間隔は、第1のPSD55Aと第2のPSD55Bとの間隔Yと同じであり、第1のIRED42及び第2のIRED43の長手方向の間隔は、スリット52の間隔Xと同じ間隔で設けられている。
【0044】
スリット板51の下方には第1受光部である第1のPSD55A及び第2の受光部である第2のPSD55Bが設けられている。
【0045】
図5(B)に示すように、第1のPSD55Aと第2のPSD55Bとの間には、遮光版56が設けられている。遮光板56を設けることによって、第1のIRED42からの光が第2のPSD55Bに影響を及ぼさないようになっており、第2のIRED43からの光が第1のPSD55Aに影響を及ぼさないようになっている。
【0046】
図5(C)に示すように、第1のIRED42及び第2のIRED43とスリット板51との間には、マスク板57が設けられている。マスク板57は第1のPSD55A及び第2のPSD55Bに到達する光を絞るためのものである。
【0047】
ここで、PSDについて説明する。図6はPSDの構造を示す模式図である。なお、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bでは同じPSDが用いられる。図6に示すように、PSDは、シリコンの表面にP層、裏面にN層、P層とN層との中間にあるI層から構成されるPIN構造となっている。P層の両端に電極a,bが設けられ、P層におけるこの両電極a,b間が受光面となっている。PSDの受光面に入射した光は、光電変換され、光電流としてP層に付けられた電極a,bから分割出力される。PSDにスポット光が入射すると、入射位置には光エネルギーに比例した電荷が発生する。発生した電荷は光電流として抵抗層(P層)を通り、電極a,bより出力される。抵抗層は、受光面に均一な抵抗値をもつように作られているため、光電流は電極a,bまでの距離(抵抗値)に逆比例して分割され、取り出される。ここで、PSDの電極a,b間の距離をLとし、光電流をI0とし、電極a,bから取り出される電流をI1,I2とし、PSDの中心から入射光の入射位置までの距離をxAとすると、下記の(1)式が得られる。
(I2−I1)/(I1+I2)=2xA/L・・・・(1)
上記(1)式に示すように、光電流I0の総電流(I1+I2)を一定にすることで、I2−I1を検出すれば、xAを算出することができる。
【0048】
このように、半導体位置検出素子(PSD)を用いることによって、演算処理を簡略化することができる。
【0049】
図7は、本実施の形態における駆動装置の構成を機能的に示すブロック図である。本実施の形態における駆動装置は、電気機械変換素子21、駆動回路25、電圧制御部26、制御回路27、位置検出回路29及びPSDパッケージ44とを備えて構成される。位置検出回路29は第1の位置検出回路29A及び第2の位置検出回路29Bから構成され、PSDパッケージ44は第1のPSD55A及び第2のPSD55Bを備え、上述のように構成される。第1のPSD55Aで光電変換された光電流IA1及びIA2が第1の位置検出回路29Aに出力され、第2のPSD55Bで光電変換された光電流IB1及びIB2が第2の位置検出回路29Bに出力される。
【0050】
図8は第1の位置検出回路29Aの回路構成の一例を示す図である。まず、第1のPSD55Aにより光の重心位置が検出される。第1のPSD55Aの電極aより電流IA1(以下I1とする。)が出力され、電極bより電流IA2(以下I2とする。)が出力される。電極aから出力された電流I1はI/V変換アンプ302に出力され、電極bから出力された電流I2はI/V変換アンプ303に出力される。I/V変換アンプ302は、第1のPSD55Aの電極aより出力された電流I1を検出容易な電圧値に変換し、電流I1から変換された電圧VI1を減算回路304及び加算回路305に出力する。I/V変換アンプ303は、第1のPSD55Aの電極bより出力された電流I2を検出容易な電圧値に変換し、電流I2から変換された電圧VI2を減算回路304及び加算回路305に出力する。減算回路304は、電圧VI2から電圧VI1を減算した電圧VDIFをゲインアンプ306に出力する。加算回路305は、電圧VI1と電圧VI2とを加算した電圧VANDを受光電流一定化回路307に出力する。
【0051】
ゲインアンプ306は、減算回路304より出力された電圧VDIF(=VI2−VI1)を制御回路27のADCレンジに最適なように所定倍αだけ増幅するとともに、不要な高周波ノイズを除去する(LPF)。所定の倍数αだけ増幅された電圧VDIF(=VI2−VI1)は、PnA信号として制御回路27に出力されるとともに、比較回路308に出力される。受光電流一定化回路307は、IREDの固体ばらつき、経時変化が生じた場合でもPSDより出力される和電流値(I1+I2)が一定値となるように第1のIRED42に流す電流を制御する。本実施の形態では、基準電圧値ICVREFに対して0.9Vだけ高い制御電圧値IRVREFになるように制御する。電圧VAND(=VI1+VI2)が制御電圧IRVREF(=ICVREF+0.9)よりも高い電圧値となった場合は、コンパレータの出力はLレベルとなり、制御用トランジスタをOFFにする。一方、電圧VANDが制御電圧IRVREFよりも低い電圧値となった場合は、コンパレータの出力はHレベル(略電圧値)となり、制御用トランジスタをONにして第1のIRED42に電流を流す。この処理を高速にフィードバックすることで電圧VANDの出力が制御電圧IRVREFと同等となり安定することとなる。
【0052】
比較回路308は、第1のIRED42に流している電流量を所定の値VREFCAと比較して制御回路27の2相カウンタ404に入力される信号VCOUNTAとして出力する。なお、所定の値VREFCAは、スリット光がPSDのセンター付近にあるレベルの電圧値であり、PSDの差からアナログ的に位置を検出する信号α(VI2−VI1)と比較される。信号VCOUNTAは、所定の値VREFCAより高い場合、Hレベルの信号となり、所定の値VREFCAより低い場合、Lレベルの信号となる。
【0053】
比較回路309は、第1のIRED42に流している電流量を所定の値VREFTと比較して制御回路27に入力される信号VTRUEAとして出力する。なお、所定の値VREFTは、スリットを介した第1のIRED42からの光が略100%当たっているレベルを表す。この信号VTRUEAがHレベルの場合には、第1のPSD55Aに略完全にスリット光が当たっているので、この相の値をアナログ値として使用して位置検出を行っても性能が保証される。
【0054】
図9は、第2の位置検出回路29Bの回路構成の一例を示す図である。図9に示す第2のPSD55B、I/V変換アンプ402、I/V変換アンプ403、減算回路404、加算回路405、ゲインアンプ406、受光電流一定化回路407、比較回路408及び比較回路409は、それぞれ図8に示す第1のPSD55A、I/V変換アンプ302、I/V変換アンプ303、減算回路304、加算回路305、ゲインアンプ306、受光電流一定化回路307、比較回路308及び比較回路309と同様の機能を有しており、ここでは異なる機能のみを説明する。
【0055】
比較回路408は、第2のIRED43に流している電流量を所定の値VREFCBと比較して制御回路27の2相カウンタ404に入力される信号VCOUNTB’としてAND回路410に出力する。なお、所定の値VREFCBは、スリットを介した第2のIRED43からの光がPSD受光幅に対して25%程度の位置に来たレベルの電圧値である。信号VCOUNTB’は、所定の値VREFCBより高い場合、Hレベルの信号となり、所定の値VREFCBより低い場合、Lレベルの信号となる。
【0056】
比較回路409は、第2のIRED43に流している電流量を所定の値VREFTと比較して制御回路27に入力される信号VTRUEBとして出力する。また、信号VTRUEBは、制御回路27に出力されるとともに、AND回路410に出力される。なお、所定の値VREFTは、スリットを介した第2のIRED43からの光が略100%当たっているレベルを表す。この信号VTRUEBがHレベルの場合には、第2のPSD55Bに略完全にスリット光が当たっているので、この相の値をアナログ値として使用して位置検出を行っても性能が保証される。
【0057】
AND回路410は、比較回路408から出力されるVCOUNTB’信号と比較回路409から出力されるVTRUEB信号との論理積を求めて、VCOUNTB信号として2相カウンタ404に出力する。
【0058】
図10は、第1の位置検出回路29A及び第2の位置検出回路29Bから出力される信号の一例を示す波形図である。なお、図10(A)では、説明の便宜上、スリット板51を固定し、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bが右方向に相対移動しているように示すが、実際にはスリット板51が左方向に移動している。図10(B)は、第1の位置検出回路29Aから出力されるPnA信号の波形を表し、図10(C)は、第2の位置検出回路29Bから出力されるPnB信号の波形を表す。図10(D)は、第1の位置検出回路29Aから出力されるVIREDA信号の波形を表し、図10(E)は、第2の位置検出回路29Bから出力されるVIREDB信号の波形を表す。図10(F)は、第1の位置検出回路29Aから出力されるVTRUEA信号の波形を表し、図10(G)は、第2の位置検出回路29Bから出力されるVTRUEB信号の波形を表す。図10(H)は、第1の位置検出回路29Aから出力されるVCOUNTA信号の波形を表し、図10(I)は、第2の位置検出回路29Bの比較回路408から出力されるVCOUNTB’信号の波形を表し、図10(J)は、第2の位置検出回路29Bから出力されるVCOUNTB信号の波形を表す。
【0059】
図10(B)に示す第1の位置検出回路29Aから出力されるPnA信号の波形は、スリット52を介した光束が完全に当たっている部分(D1−E1)では、直線的に値が増加しており、スリット52によって光束がけられている部分(A1−B1,C1’−D1)では、傾きが緩やかになっている。また、スリット52を介した光束が完全に当たっていない部分(B1’−C1)では、PnA信号の出力の変化がなく、ほぼ中心値となっている。
【0060】
図10(B)の傾きが緩やかな部分(A1−B1,C1’−D1)及びスリット52を介した光束が完全に当たっていない部分(B1’−C1)は、図10(C)に示す第2の位置検出回路29Bから出力されるPnB信号では、直線的に値が増加している部分(A2−D2)である。この直線的に値が増加している部分は、スリット52を介した光束が完全に当たっている部分であり、アナログ的にPSDの受光面における受光位置を検出可能な部分である。つまり、第1のPSD55Aでアナログ的に受光位置を検出することができない場合、第2のPSD55Bでアナログ的に受光位置を検出することができる。
【0061】
図10(D)に示すように、電圧値VIREDAは、スリット52によって光束がけられていない場合には、第1のIRED42に流れる電流が小さく、ほぼ一定であるので電圧値は小さくなっている。つまり、スリット52によって光束がけられている部分(A3−B3,C3−D3)では、電圧値VIREDAが高くなっている。また、スリット52を介した光束が完全に当たっていない部分(B3−C3)では、電圧値VIREDAが最も高くなっている。スリット52を介した光束が完全に当たっている部分(D3−E3)では、電圧値VIREDAが最も低くなっており、一定している。
【0062】
電圧値VIREDBについても電圧値VIREDAと同様に、図10(E)に示すように、スリット52によって光束がけられていない場合には、第2のIRED43に流れる電流が小さく、ほぼ一定であるので電圧値は小さくなっている。
【0063】
図10(F)に示すVTRUEA信号は、Hレベルの状態ではPSDにほぼ充分な光束が当たっているため、この期間のPnAのアナログ値を使用して高分解能な位置検出が可能である。VTRUEA信号は、電圧値VIREDAが最も低い電圧値付近の電圧の場合にHレベルとなる。
【0064】
図10(G)に示すVTRUEB信号は、VTRUEA信号と同様に、Hレベルの状態ではPSDにほぼ充分な光束が当たっているため、この期間のPnBのアナログ値を使用して高分解能な位置検出が可能である。VTRUEB信号は、電圧値VIREDBが最も低い電圧値付近の電圧の場合にHレベルとなる。
【0065】
図10(H)に示すVCOUNTA信号は、PnAと所定の電圧値VREFCAとを比較して、PnAが所定の電圧値VREFCAよりも大きい場合にHレベルとなり、PnAが所定の電圧値VREFCAよりも小さい場合にLレベルとなる。
【0066】
図10(I)に示すVCOUNTB’信号は、PnBと所定の電圧値VREFCBとを比較して、PnBが所定の電圧値VREFCBよりも大きい場合にHレベルとなり、PnBが所定の電圧値VREFCBよりも小さい場合にLレベルとなる。
【0067】
図10(J)に示すVCOUNTB信号は、VTRUEB信号とVCOUNTB’信号との論理積を求めることによって得られる信号であり、VCOUNTA信号とは位相が90°異なる信号となっている。
【0068】
図7に戻って、制御回路27について説明する。制御回路27は、目標位置受信部501、駆動制御部502、位置検出部503、2相カウンタ504、第1のADC505、第2のADC506、第1のルックアップテーブル(以下、「第1のLUT」と略記する。)507、第2のルックアップテーブル(以下、「第2のLUT」と略記する。)508、第1のI/O509及び第2のI/O510から構成される。
【0069】
目標位置受信部501は、外部信号として入力される移動部材24の目標位置を外部から受信し、駆動制御部502に送る。駆動制御部502は、目標位置受信部501によって受信された目標位置と、位置検出部503から送られる移動部材24の現在位置とに基づいて目標位置に到達するように電気機械変換素子21を駆動する。電気機械変換素子21を駆動するために駆動制御部502は、駆動回路25に印加される電圧を制御する信号を電圧制御部26に送り、第1のPWM(以下PWM1とする。)信号及び第2のPWM(以下PWM2とする。)信号を駆動回路25に送る。PWM2信号は、PWM1信号とは逆位相であるとともに位相がずらしてあり、この逆位相の信号でHブリッジ回路からの印加電圧を制御する。PWM2信号の位相とPWM1信号の位相とをずらすことによって駆動回路25のMOSトランジスタの貫通電流を防止するとともに圧電素子で消費される電力も抑えることが可能となる。
【0070】
2相カウンタ504は、位相の異なる2相の信号をカウントすることでパルス分解能相当の絶対値を算出する。位相の異なる2相の信号とは、第1の位置検出回路29Aから出力されるVCOUNTA信号と第2の位置検出回路29Bから出力されるVCOUNTB信号とを表し、VCOUNTA信号及びVCOUNTB信号をカウントする。
【0071】
図11は、2相カウンタの原理を説明するための図である。図11(A)は位相の異なるA相及びB相の波形とカウント値を表し、図11(B)はカウント値のアップ/ダウンカウント条件を表す。2相カウンタでは、A相及びB相の立ち上がり(L→H)、立下り(H→L)の両エッジでカウントされる。つまり、図11(B)に示すように、A相がL→HでB相がLの場合、A相がHでB相がL→Hの場合、A相がH→LでB相がHの場合及びA相がLでB相がH→Lの場合に、アップカウントとなり、A相がHでB相がH→Lの場合、A相がH→LでB相がLの場合、A相がLでB相がL→Hの場合及びA相がL→HでB相がHの場合に、ダウンカウントとなる。
【0072】
また、駆動制御部502は、基端センサ30又は先端センサ31において移動部材24が移動可能範囲内を超えると検出された場合、移動部材24の位置を所定の初期位置にリセットし、2相カウンタ504は、カウンタを0にリセットし、リセットされた所定の初期位置から移動部41の絶対値を算出する。
【0073】
このように、駆動制御部502によって移動部41の位置を所定の初期位置にリセットすることができ、リセットされた所定の初期位置からの移動部材24と一体の移動部41の絶対位置を算出することができる。
【0074】
図7に戻って、第1のADC505は、第1の位置検出回路29Aから出力されるPnA信号をAD変換し、第1のLUT507に出力する。第2のADC506は、第2の位置検出回路29Bから出力されるPnB信号をAD変換し、第2のLUT508に出力する。
【0075】
第1のLUT507は、第1の位置検出回路29Aから出力されたアナログ信号を位置信号に変換するルックアップテーブルであり、スリットの位置と移動部材24の位置との関係を示す。第1のLUT507は、第1の位置検出回路29Aから出力されたPnA信号から移動部材24の細かい位置を検出する。
【0076】
第2のLUT508は、第2の位置検出回路29Bから出力されたアナログ信号を位置信号に変換するルックアップテーブルであり、スリットの位置と移動部材24の位置との関係を示す。第2のLUT508は、第2の位置検出回路29Bから出力されたPnB信号から移動部材24の細かい位置を検出する。
【0077】
なお、第1のLUT507及び第2のLUT508は、制御回路27が備えるROMに記憶されている。
【0078】
第1のI/O509は、第1の位置検出回路29Aから出力されたVTRUEA信号のデジタル値を入力し、位置検出部503に出力する。第2のI/O510は、第2の位置検出回路29Bから出力されたVTRUEB信号のデジタル値を入力し、位置検出部503に出力する。
【0079】
次に、本実施の形態における位置検出装置の動作について説明する。
【0080】
移動部材24が移動することによって移動部材24に固定されている移動部41が移動し、第1のIRED42及び第2のIRED43から照射された光がスリット52を介して第1のPSD55A及び第2のPSD55Bの受光面にそれぞれ受光される。第1のPSD55A及び第2のPSD55Bにおいて受光された光は、光電流に変換され、それぞれ第1の位置検出回路29A及び第2の位置検出回路29Bに出力される。第1の位置検出回路29A及び第2の位置検出回路29Bにおいて生成されたVCOUNTA信号及びVCOUNTB信号が制御回路27の2相カウンタ504に出力される。制御回路27の2相カウンタ504は、VCOUNTA信号及びVCOUNTB信号から第1の精度で大まかな移動部材24の位置を検出する。つまり、第1のIRED42及び第2のIRED43から照射された光が透過したスリットの位置が2相カウンタ504でカウントされることによって検出される。
【0081】
そして、第1の位置検出回路29Aにおいて生成されたPnA信号が第1のLUT507に出力され、第2の位置検出回路29Bにおいて生成されたPnB信号が第2のLUT508に出力される。第1の位置検出回路29A及び第2の位置検出回路29Bにおいて生成されたVTRUEA信号及びVTRUEB信号が制御回路27に出力され、制御回路27の位置検出部503は、VTRUEA信号及びVTRUEB信号からPnA信号及びPnB信号のうちのどちらの信号を用いて位置検出するかを判断する。ここで、VTRUEA信号がHレベルの場合、第1のPSD55Aの受光面に光束が略完全に受光されているためPnA信号を用い、VTRUEB信号がHレベルの場合、第2のPSD55Bの受光面に光束が略完全に受光されているためPnB信号を用いる。そして、PnA信号を用いる場合、第1のLUT507を参照して第1の精度より高い第2の精度で第1のPSD55Aの受光面における受光位置が検出される。PnB信号を用いる場合、第2のLUT508を参照して第1の精度より高い第2の精度で第2のPSD55Bの受光面における受光位置が検出される。つまり、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bの受光面における受光位置を検出することによって、第1のIRED42及び第2のIRED43から照射された光が移動部41上に投光する投光位置が検出される。
【0082】
このように、移動部材24とともに移動部41が移動することによってスリット52の位置が相対的に移動し、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bによって、スリット52を透過した光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流が出力されるため、移動部41の一端から他端までのロングストロークの移動にも対応することができる。さらに、第1のPSD55A及び第2のPSD55Bから出力された光電流に基づいて、光が移動部41上に投光する投光位置が第1精度で検出された後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で第1精度よりも高い第2精度でさらに投光位置が検出されるため、高分解能の位置検出が可能となる。
【0083】
また、本発明にかかる位置検出装置を光学機器に用いることによって、カメラ等の光学機器に用いることができ、特にカメラのレンズの駆動に用いることで、レンズの正確な位置制御を実現することができ、且つカメラの小型化を実現することができる。
【0084】
また、本実施の形態では、基端センサ30又は先端センサ31において移動部材24が移動可能範囲内を超えると検出された場合、移動部材24の位置を所定の初期位置にリセットするとしたが、本発明は特にこれに限定されず、本体の電源がOFFされたことを検出して移動部材24の位置を所定の初期位置にリセットしてもよい。さらに、本体の電源がONされたことを検出して移動部材24の位置を所定の初期位置にリセットしてもよい。
【0085】
ここで、主な発明を以下にまとめる。
【0086】
(付記1)
複数のスリットが所定の間隔をおいて設けられた移動部と、
前記移動部に光を照射する投光部と、
スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第1受光部と、
前記第1受光部に対して前記移動部の移動方向にずれた位置に設けられ、スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第2受光部と、
前記第1受光部及び前記第2受光部から出力された光電流に基づいて、前記光が前記移動部上に投光する投光位置を第1精度で検出した後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で前記第1精度よりも高い第2精度でさらに前記投光位置を検出する位置検出処理部とを備えることを特徴とする位置検出装置。
【0087】
(付記2)
前記位置検出処理部は、前記第1受光部及び前記第2受光部から出力された光電流に基づいて、前記光が透過したスリットを検出した後に前記受光面における受光位置を検出することによって、前記光が前記移動部上に投光する投光位置を検出することを特徴とする付記1記載の位置検出装置。
【0088】
(付記3)
前記所定の間隔は、前記第1受光部及び前記第2受光部のうちの少なくとも一方が前記光を受光可能とする間隔であることを特徴とする付記1記載の位置検出装置。
【0089】
(付記4)
前記移動部の位置を所定の初期位置にリセットするリセット手段をさらに備え、
前記位置検出処理部は、前記投光位置を前記所定の初期位置からの絶対位置で算出することを特徴とする付記1記載の位置検出装置。
【0090】
(付記5)
前記第1受光部及び前記第2受光部は、半導体位置検出素子であることを特徴とする付記1記載の位置検出装置。
【0091】
(付記6)
1次元的に移動部材を駆動するアクチュエータと、
前記移動部材の位置を検出する付記1に記載の位置検出装置とを備えることを特徴とする駆動装置。
【0092】
(付記7)
1次元的に移動部材を駆動するアクチュエータと、
前記移動部材の位置を検出する付記1に記載の位置検出装置と、
前記移動部材に配設されるレンズとを備えることを特徴とする光学機器。
【0093】
【発明の効果】
以上のように、本発明に係る位置検出装置によれば、移動部が移動することによってスリットの位置が相対的に移動し、第1受光部及び第2受光部によって、スリットを透過した光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流が出力されるため、移動部の一端から他端までのロングストロークの移動にも対応することができる。さらに、位置検出処理部によって、第1受光部及び第2受光部から出力された光電流に基づいて、光が移動部上に投光する投光位置が第1精度で検出された後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で第1精度よりも高い第2精度でさらに投光位置が検出されるため、高分解能の位置検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態における駆動装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【図2】駆動装置に用いたインパクト型圧電アクチュエータの構成を示す斜視図である。
【図3】駆動装置の駆動原理を説明するための図である。
【図4】インパクト型圧電アクチュエータ及び部材センサの構成を示す図である。
【図5】部材センサの構成を示す図である。
【図6】PSDの構造を示す模式図である。
【図7】本実施の形態における駆動装置の構成を機能的に示すブロック図である。
【図8】第1の位置検出回路29Aの回路構成の一例を示す図である。
【図9】第2の位置検出回路29Bの回路構成の一例を示す図である。
【図10】第1の位置検出回路及び第2の位置検出回路から出力される信号の一例を示す波形図である。
【図11】2相カウンタの原理を説明するための図である。
【符号の説明】
10 駆動装置
11 インパクト型圧電アクチュエータ
21 電気機械変換素子
24 移動部材
25 駆動回路
26 電圧制御部
27 制御回路
28 部材センサ
29A 第1の位置検出回路
29B 第2の位置検出回路
30 基端センサ
31 先端センサ
41 移動部
42 第1のIRED
43 第2のIRED
44 PSDパッケージ
55A 第1のPSD
55B 第2のPSD
501 目標位置受信部
502 駆動制御部
503 位置検出部
504 2相カウンタ[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a position detecting device, and particularly to a position detecting device for detecting a position of a photographic lens or the like of a camera, a driving device using the position detecting device, and an optical apparatus using the position detecting device.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, a moving member having a photographing lens or the like is coupled to a rod-shaped driving member so as to have a predetermined frictional force, and an impact-type piezoelectric actuator formed by fixing a piezoelectric element to one end of the driving member. The following drive devices are known. When the piezoelectric actuator having this configuration is used for a focus lens, a zoom lens, a camera shake correction lens, and the like, it is necessary to control the position of the moving member in order to accurately perform focus adjustment, magnification adjustment, camera shake correction, and the like. Therefore, such a driving device is provided with a position sensor for detecting the position of the taking lens. In particular, when the moving member moves a long stroke from one end to the other end of the driving member, the position sensor is high. There is a need for a position sensor that has high resolution and simple processing.
[0003]
On the other hand, a semiconductor position detecting element (PSD) has been proposed as a detecting element used for a position sensor.
[0004]
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-18784 discloses a method of detecting the position of a moving body using one semiconductor position detecting element. In this method, the light emitting element and the PSD are arranged so as to face each other with a moving body having slits formed at a predetermined pitch therebetween. Then, the light of the light projecting element transmitted through the slit enters the PSD as the moving body moves. From the incident position, a signal corresponding to a position during which the moving body moves by one pitch of the slit is detected.
[0005]
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-87591 discloses a method of detecting the position of a moving body using two semiconductor position detecting elements having different phases and semiconductor position detecting elements having different pulse intervals. In this method, the light passing through the first slit body in which N first slits are formed in one cycle is transmitted to the first and second positions arranged at different positions with respect to the first slit. Light is received by the PSD. Further, light passing through a second slit body in which N + 1 or N-1 second slits are formed in one cycle is received by a third PSD, and the light of the first and second slit bodies is received by the third PSD. Find the absolute position within one cycle.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In the former method, since the position of the moving body is detected by one PSD, the dead zone may be formed by the width of the slit. Although it is possible to eliminate this dead zone by reducing the width of the slit, there is a problem that it is difficult to reduce the width of the slit in order to reduce the size of the apparatus.
[0007]
In the latter method, since three PSDs are used, there are problems that the number of signals to be processed is increased, high manufacturing accuracy is required, and manufacturing cost is increased. Further, since division is used in the arithmetic processing, the arithmetic processing takes a long time, which is not suitable for high-speed position detection.
[0008]
The present invention has been made in order to solve the above-described problem, and has been made to address a long-stroke movement of a moving unit, and to provide a position detecting device, a driving device, and an optical device capable of detecting a position with high resolution. It is intended to provide.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The position detecting device according to the present invention includes a moving unit in which a plurality of slits are provided at predetermined intervals, a light projecting unit that irradiates the moving unit with light, and receives and receives the light transmitted through the slit. A first light receiving unit that outputs a photocurrent according to a light receiving position on a surface, and a light receiving unit that is provided at a position shifted in a moving direction of the moving unit with respect to the first light receiving unit and receives the light transmitted through a slit. A second light receiving unit that outputs a photocurrent according to a light receiving position on a light receiving surface; and the light is projected onto the moving unit based on the photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit. A position detection processing unit that detects the light projecting position to be detected with the first accuracy, and further detects the light projecting position with a second accuracy higher than the first accuracy within the range of the light projecting position detected with the first accuracy. And
[0010]
According to this configuration, the position of the slit relatively moves by moving the moving unit, and the first light receiving unit and the second light receiving unit receive the light transmitted through the slit and correspond to the light receiving position on the light receiving surface. Since the photocurrent is output, it is possible to cope with a long stroke movement from one end to the other end of the moving unit. Furthermore, based on the photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, the position detection processing unit detects, with a first accuracy, a light projecting position at which light is projected onto the moving unit, and Since the light projecting position is further detected with the second accuracy higher than the first accuracy within the range of the light projecting position detected with the first accuracy, high-resolution position detection becomes possible.
[0011]
Further, in the above-described position detection device, the position detection processing unit detects the slit through which the light passes based on a photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, and then detects the light receiving surface. It is preferable to detect a light-projecting position at which the light is projected onto the moving unit by detecting a light-receiving position at. According to this configuration, based on the photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, the position detection processing unit detects the light transmitting position on the light receiving surface after detecting the slit through which the light has passed. Thus, the light projection position at which the light is projected onto the moving unit is detected, so that high-resolution position detection becomes possible.
[0012]
Furthermore, in the above-described position detection device, it is preferable that the predetermined interval is an interval at which at least one of the first light receiving unit and the second light receiving unit can receive the light. According to this configuration, the distance between the slits provided in the moving unit is provided such that at least one of the first light receiving unit and the second light receiving unit is located at the light receiving position, whereby the first light receiving unit and the second light receiving unit are provided. Since the light receiving position of at least one of the light receiving surfaces can be obtained by a simple calculation process, the time required for the calculation process can be reduced, and the relative position of the moving section can be obtained.
[0013]
Furthermore, a driving device according to the present invention includes an actuator that drives a moving member one-dimensionally, and the above-described position detection device that detects a position of the moving member. According to this configuration, the above-described position detection device can be used as a driving device, and the size of the driving device can be reduced.
[0014]
Furthermore, an optical apparatus according to the present invention includes an actuator that drives a moving member in one dimension, the above-described position detection device that detects a position of the moving member, and a lens that is disposed on the moving member. . According to this configuration, the above-described position detection device can be used for an optical device, and the size of the optical device can be reduced.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same components are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
[0016]
The configuration of the driving device according to the present embodiment will be described.
[0017]
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a configuration of a driving device according to the present embodiment. FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of the impact type piezoelectric actuator used in the driving device.
[0018]
1 and 2, the driving
[0019]
The
[0020]
The
[0021]
The
[0022]
The end of the driving
[0023]
The driving
[0024]
The moving
[0025]
The
[0026]
The
[0027]
The
[0028]
The
[0029]
The
[0030]
The
[0031]
FIG. 3 is a diagram for explaining the driving principle of the driving device. FIG. 3A is a diagram showing a voltage waveform of a drive voltage output from the
[0032]
Here, the forward direction is a direction in which the moving
[0033]
When a rectangular waveform drive voltage having a duty ratio D3: 7 as shown in FIG. 3A is applied to the
[0034]
That is, at a slow rising portion Ta in which the displacement of the
[0035]
Here, the moving
[0036]
It should be noted that the duty ratio D is obtained by calculating the high-level time of the rectangular wave as T 1 , Low level time T 2 Then T 1 : T 2 It is.
[0037]
Note that the relationship between the resonance frequency and the driving frequency and the relationship between the moving directions have been confirmed by experiments, and together with the driving principle of the driving
[0038]
FIG. 4 is a diagram showing a main configuration of the impact
[0039]
5A and 5B are diagrams showing the configuration of the
[0040]
4 and 5, the moving
[0041]
In the
[0042]
On both sides of the
[0043]
Above the
[0044]
Below the
[0045]
As shown in FIG. 5B, a
[0046]
As shown in FIG. 5C, a
[0047]
Here, the PSD will be described. FIG. 6 is a schematic diagram showing the structure of the PSD. Note that the same PSD is used for the
(I 2 -I 1 ) / (I 1 + I 2 ) = 2x A /L...(1)
As shown in the above equation (1), the photocurrent I 0 Total current (I 1 + I 2 ) Is constant so that I 2 -I 1 Is detected, x A Can be calculated.
[0048]
As described above, by using the semiconductor position detecting element (PSD), the arithmetic processing can be simplified.
[0049]
FIG. 7 is a block diagram functionally showing the configuration of the driving device according to the present embodiment. The drive device according to the present embodiment includes an
[0050]
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of the first
[0051]
The
[0052]
The
[0053]
The
[0054]
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of the second
[0055]
The
[0056]
The
[0057]
The AND
[0058]
FIG. 10 is a waveform diagram illustrating an example of signals output from the first
[0059]
The waveform of the PnA signal output from the first
[0060]
The portion (A1-B1, C1'-D1) having a gentle inclination in FIG. 10B and the portion (B1'-C1) where the light beam through the
[0061]
As shown in FIG. 10D, when the light flux is not blocked by the
[0062]
Similarly to the voltage value VIREDA, as shown in FIG. 10E, when the light flux is not blocked by the
[0063]
In the VTRUEA signal shown in FIG. 10 (F), almost sufficient light flux irradiates the PSD in the state of H level, so that high-resolution position detection can be performed using the analog value of PnA during this period. The VTRUE signal goes high when the voltage value VIREDA is near the lowest voltage value.
[0064]
In the VTRUE signal shown in FIG. 10 (G), similar to the VTRUE signal, almost sufficient light flux is applied to the PSD in the state of the H level. Therefore, high-resolution position detection is performed using the analog value of PnB during this period. Is possible. The VTRUEB signal goes high when the voltage value VIREDB is a voltage near the lowest voltage value.
[0065]
The VCOUNTA signal shown in FIG. 10 (H) compares PnA with a predetermined voltage value VREFCA, and when PnA is larger than the predetermined voltage value VREFCA, the signal becomes H level, and PnA is smaller than the predetermined voltage value VREFCA. In this case, it becomes L level.
[0066]
The VCOUNTB 'signal shown in FIG. 10 (I) compares the PnB with a predetermined voltage value VREFCB, and when the PnB is higher than the predetermined voltage value VREFCB, it goes to the H level, and the PnB becomes higher than the predetermined voltage value VREFCB. When it is smaller, it becomes L level.
[0067]
The VCOUNTB signal shown in FIG. 10 (J) is a signal obtained by calculating the logical product of the VTRUEB signal and the VCOUNTB ′ signal, and is a signal having a 90 ° phase difference from the VCOUNTA signal.
[0068]
Returning to FIG. 7, the
[0069]
The target
[0070]
The two-phase counter 504 calculates an absolute value corresponding to the pulse resolution by counting two-phase signals having different phases. The two-phase signals having different phases represent the VCOUNTA signal output from the first
[0071]
FIG. 11 is a diagram for explaining the principle of the two-phase counter. FIG. 11A shows the waveforms of the A phase and the B phase having different phases and the count value, and FIG. 11B shows the up / down count condition of the count value. The two-phase counter counts at both the rising (L → H) and falling (H → L) edges of the A and B phases. That is, as shown in FIG. 11B, when the A phase is L → H and the B phase is L, when the A phase is H and the B phase is L → H, the A phase is H → L and the B phase is In the case of H, and when the A phase is L and the B phase is H → L, the count is up. When the A phase is H and the B phase is H → L, when the A phase is H → L and the B phase is L , When the A phase is L and the B phase is L → H, and when the A phase is L → H and the B phase is H, the down count is performed.
[0072]
When the
[0073]
As described above, the position of the moving
[0074]
Returning to FIG. 7, the
[0075]
The
[0076]
The
[0077]
Note that the
[0078]
The first I /
[0079]
Next, the operation of the position detecting device according to the present embodiment will be described.
[0080]
When the moving
[0081]
Then, the PnA signal generated in the first
[0082]
As described above, the position of the
[0083]
In addition, by using the position detection device according to the present invention for an optical device, it can be used for an optical device such as a camera. In particular, when used for driving a lens of a camera, accurate position control of the lens can be realized. And the camera can be downsized.
[0084]
Further, in the present embodiment, when the
[0085]
Here, the main inventions are summarized below.
[0086]
(Appendix 1)
A moving unit in which a plurality of slits are provided at predetermined intervals,
A light projecting unit for irradiating the moving unit with light,
A first light receiving unit that receives the light transmitted through the slit and outputs a photocurrent according to a light receiving position on a light receiving surface;
A second light receiving unit that is provided at a position shifted in the moving direction of the moving unit with respect to the first light receiving unit, receives the light transmitted through the slit, and outputs a photocurrent corresponding to a light receiving position on a light receiving surface; ,
Based on a photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, a light emitting position at which the light is projected onto the moving unit is detected with a first accuracy, and then detected with the first accuracy. A position detection processing unit that further detects the light projection position with a second accuracy higher than the first accuracy within the range of the light projection position.
[0087]
(Appendix 2)
The position detection processing unit, based on the photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, by detecting the slit through which the light has been transmitted, by detecting the light receiving position on the light receiving surface, The position detecting device according to
[0088]
(Appendix 3)
The position detecting device according to
[0089]
(Appendix 4)
A reset unit configured to reset a position of the moving unit to a predetermined initial position,
The position detection device according to
[0090]
(Appendix 5)
The position detecting device according to
[0091]
(Appendix 6)
An actuator for driving the moving member in one dimension,
A drive device comprising: the position detection device according to
[0092]
(Appendix 7)
An actuator for driving the moving member in one dimension,
A position detecting device according to
An optical device comprising: a lens disposed on the moving member.
[0093]
【The invention's effect】
As described above, according to the position detection device of the present invention, the position of the slit relatively moves by moving the moving unit, and the light transmitted through the slit is transmitted by the first light receiving unit and the second light receiving unit. Since light is received and a photocurrent corresponding to the light receiving position on the light receiving surface is output, it is possible to cope with a long stroke movement from one end to the other end of the moving unit. Furthermore, based on the photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, the position detection processing unit detects, with a first accuracy, a light projecting position at which light is projected onto the moving unit, and Since the light projecting position is further detected with the second accuracy higher than the first accuracy within the range of the light projecting position detected with the first accuracy, high-resolution position detection becomes possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a configuration of a driving device according to the present embodiment.
FIG. 2 is a perspective view illustrating a configuration of an impact-type piezoelectric actuator used in a driving device.
FIG. 3 is a diagram for explaining a driving principle of a driving device.
FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an impact type piezoelectric actuator and a member sensor.
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a member sensor.
FIG. 6 is a schematic diagram showing the structure of a PSD.
FIG. 7 is a block diagram functionally showing a configuration of a driving device according to the present embodiment.
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of a first
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a circuit configuration of a second
FIG. 10 is a waveform diagram illustrating an example of signals output from a first position detection circuit and a second position detection circuit.
FIG. 11 is a diagram for explaining the principle of a two-phase counter.
[Explanation of symbols]
10 Drive
11 Impact type piezoelectric actuator
21 Electromechanical transducer
24 Moving members
25 Drive circuit
26 Voltage controller
27 Control circuit
28 Member sensor
29A first position detection circuit
29B second position detection circuit
30 Base sensor
31 Advanced Sensor
41 Moving part
42 First IRED
43 Second IRED
44 PSD package
55A First PSD
55B Second PSD
501 Target position receiving unit
502 Drive control unit
503 Position detector
504 two-phase counter
Claims (5)
前記移動部に光を照射する投光部と、
スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第1受光部と、
前記第1受光部に対して前記移動部の移動方向にずれた位置に設けられ、スリットを透過した前記光を受光して受光面の受光位置に応じた光電流を出力する第2受光部と、
前記第1受光部及び前記第2受光部から出力された光電流に基づいて、前記光が前記移動部上に投光する投光位置を第1精度で検出した後に、当該第1精度で検出した投光位置の範囲内で前記第1精度よりも高い第2精度でさらに前記投光位置を検出する位置検出処理部とを備えることを特徴とする位置検出装置。A moving unit in which a plurality of slits are provided at predetermined intervals,
A light projecting unit for irradiating the moving unit with light,
A first light receiving unit that receives the light transmitted through the slit and outputs a photocurrent according to a light receiving position on a light receiving surface;
A second light receiving unit that is provided at a position shifted in the moving direction of the moving unit with respect to the first light receiving unit, receives the light transmitted through the slit, and outputs a photocurrent corresponding to a light receiving position on a light receiving surface; ,
Based on a photocurrent output from the first light receiving unit and the second light receiving unit, a light emitting position at which the light is projected onto the moving unit is detected with a first accuracy, and then detected with the first accuracy. A position detection processing unit that further detects the light projection position with a second accuracy higher than the first accuracy within the range of the light projection position.
前記移動部材の位置を検出する請求項1に記載の位置検出装置とを備えることを特徴とする駆動装置。An actuator for driving the moving member in one dimension,
A drive device comprising: the position detection device according to claim 1, which detects a position of the moving member.
前記移動部材の位置を検出する請求項1に記載の位置検出装置と、
前記移動部材に配設されるレンズとを備えることを特徴とする光学機器。An actuator for driving the moving member in one dimension,
The position detection device according to claim 1, which detects a position of the moving member,
An optical device comprising: a lens disposed on the moving member.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002231506A JP2004069604A (en) | 2002-08-08 | 2002-08-08 | Position detector, driving device, and optical apparatus |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ID=32017259
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008035645A (en) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Harmonic Drive Syst Ind Co Ltd | Linear actuator |
-
2002
- 2002-08-08 JP JP2002231506A patent/JP2004069604A/en active Pending
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