JP2004064213A - Differential amplifier circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
【0002】
本発明は、差動増幅回路に関するものである。
【0003】
【従来の技術】
【0004】
図2は、従来の差動増幅回路の一例を示す回路図である。
【0005】
この差動増幅回路は、差動的な入力信号INP,INNがそれぞれ入力されるNチャネルMOSトランジスタ(以下、MOSトランジスタを単に「MOS」、NチャネルMOSトランジスタを「NMOS」という)11,12を有している。NMOS11,12のドレインは、それぞれノードNN,NPに接続され、ソースは共通の定電流源15を介して接地電圧GNDに接続されている。
【0006】
ノードNNにはダイオード接続されたNMOS13のソースが接続され、このNMOS13のドレインとゲートが電源電圧VDDに接続されている。また、ノードNPにはダイオード接続されたNMOS14のソースが接続され、このNMOS14のドレインとゲートが電源電圧VDDに接続されている。そして、ノードNN,NPから、増幅された差動的な出力信号OUTN,OUTPがそれぞれ出力されるようになっている。
【0007】
次に、この差動増幅回路の電圧利得について説明する。
【0008】
一般的に、MOSの飽和領域(ドレイン・ソース電圧Vdsを増加してもドレイン電流Idが変化しない領域)におけるドレイン電流Idは、ゲート・ソース電圧Vgs、閾値電圧Vt、及びトランスコンダクタンス係数Kによって、次の(1)式で表される。
Id=K(Vgs−Vt)2 ・・・(1)
【0009】
ここで、トランスコンダクタンス係数Kは、製造プロセスによって決定される定数P、チャネル幅W、及びチャネル長Lによって、次の(2)式で表される値である。
K=P×W/L ・・・(2)
【0010】
また、MOSの相互コンダクタンスgmは、(1)式のドレイン電流Idをゲート・ソース電圧Vgsで微分することにより、次の(3)式のようになる。
gm=δId/δVgs=2K(Vgs−Vt) ・・・(3)
【0011】
いま、図2の入力用のNMOS11と負荷用のNMOS13からなる増幅回路に着目し、NMOS11,13の相互コンダクタンスをそれぞれgm11,gm13、トランスコンダクタンス係数をそれぞれK11,K13、ゲート・ソース電圧をそれぞれVgs11,Vgs13、ドレイン電流をそれぞれI11,I13とする。
【0012】
NMOS11,13の相互コンダクタンスgm11,gm13は、(3)式を用いて、次の(4)式のようになる。
gm11=δI11/δVgs11=2K11(Vgs11−Vt)
gm13=δI13/δVgs13=2K13(Vgs13−Vt) ・・・(4)
【0013】
ここで、NMOS11,13による電圧利得GAPは、入力信号INPの変化(δVgs11)に対する出力信号OUTNの変化(δVgs13)の割合であるから、次の(5)式のようになる。
【0014】
(1)式に示すように、Vgs11−Vt=√(I11/K11),Vgs13−Vt=√(I13/K13)であるから、電圧利得GAPは次の(6)式のように表される。
【0015】
同様に、入力用のNMOS12と負荷用のNMOS14からなる増幅回路の電圧利得GANは、次の(7)式で表される。
GAN=√{(K12×I12)/(K14×I14)} ・・・(7)
【0016】
従って、図2の差動増幅回路全体の電圧利得GA2は、次の(8)式のようになる。
【0017】
ここで、一般的に、I11=I13=I12=I14,K11=K12,K13=K14であるから、(8)式の電圧利得GA2は、次の(9)式のようになる。
GA2=2√(K11/K13) ・・・(9)
【0018】
製造プロセスによる定数Pが一定であるとすると、電圧利得GA2は、(2)式で示されるように、入力用のNMOS11,12と負荷用のNMOS13,14のゲート幅/ゲート長(=W/L)の比で決定されることになる。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】
【0020】
しかしながら、従来の差動増幅回路では、次のような課題があった。
【0021】
電圧利得GA2が、入力用のNMOS11,12と負荷用のNMOS13,14のサイズ(ゲート幅)比に依存するため、電圧利得の高い差動増幅回路を実現するには、負荷用のNMOS13,14に比べて、入力用のNMOS11,12のサイズを大きくする必要がある。このため、半導体集積回路におけるレイアウト面積が増大し、集積度が低下するという問題があった。
【0022】
また、入力用のNMOS11,12のサイズを大きくすると、ドレイン・ソース電圧Vdsが減少するが、ゲート・ソース電圧Vgsが大きい場合には、入力信号INP,INNに対するダイナミックレンジが小さくなる。このため、NMOS11,12が非飽和領域で動作し、出力信号OUTP,OUTNに波形歪みが発生するという問題があった。
【0023】
更に、入力用のNMOS11,12のサイズが大きいと、入力キャパシタンスが増大し、周波数特性が劣化するという問題があった。
【0024】
本発明は、前記従来技術が持っていた課題を解決し、大きなレイアウト面積を必要とせずに高い電圧利得が得られ、波形歪みや周波数特性の劣化がない差動増幅回路を提供するものである。
【0025】
【課題を解決するための手段】
【0026】
前記課題を解決するために、本発明の内の第1の発明は、差動増幅回路において、差動入力信号によってそれぞれ導通状態が制御される第1及び第2の入力トランジスタと、前記第1及び第2の入力トランジスタと同一の導電型で、該第1及び第2の入力トランジスタにそれぞれ直列にダイオード接続された第1及び第2の負荷トランジスタと、前記第1及び第2の入力トランジスタにそれぞれ一定の電流を供給する第1及び第2の定電流源と、前記第1及び第2の入力トランジスタに流れる電流の和を一定値に制御する第3の定電流源とを備えている。
【0027】
第2の発明は、第1の発明における第1の負荷トランジスタを、ドレインとゲートを電源電位に接続し、ソースを第1の出力ノードに接続した第1導電型のMOSで構成し、第2の負荷トランジスタを、ドレインとゲートを前記電源電位に接続し、ソースを第2の出力ノードに接続した第1導電型のMOSで構成している。
【0028】
また、第1の定電流源を、ソース及びドレインをそれぞれ前記電源電位及び第1の出力ノードに接続し、ゲートに第1のバイアス電圧が与えられる第2導電型のMOSで構成し、記第2の定電流源を、ソース及びドレインをそれぞれ前記電源電位及び第2の出力ノードに接続し、ゲートに第2のバイアス電圧が与えられる第2導電型のMOSで構成している。
【0029】
更に、第1の入力トランジスタを、ドレイン及びソースをそれぞれ前記第1の出力ノード及び第3の定電流源に接続し、ゲートに前記差動入力信号の一方が与えられる第1導電型のMOSで構成し、第2の入力トランジスタを、ドレイン及びソースをそれぞれ前記第2の出力ノード及び第3の定電流源に接続し、ゲートに前記差動入力信号の他方が与えられる第1導電型のMOSで構成している。
【0030】
本発明によれば、以上のように差動増幅回路を構成したので、次のような作用が行われる。
【0031】
第1の入力トランジスタには、第1の負荷トランジスタの電流に加えて、第1の定電流源からの電流が流れる。また、第2の入力トランジスタには、第2の負荷トランジスタの電流に加えて、第2の定電流源からの電流が流れる。そして、これらの第1及び第2の入力トランジスタに流れる電流の和は、第3の定電流源によって一定値に制御される。これにより、差動入力信号は、第1及び第2の入力トランジスタで増幅され、第1及び第2の負荷トランジスタから出力される。
一方、第1及び第2の入力トランジスタに流れる電流は、第1及び第2の負荷トランジスタに流れる電流よりも大きくなるので、これらの入力トランジスタのサイズを大きくしなくても高い電圧利得を得ることができる。
【0032】
【発明の実施の形態】
【0033】
図1は、本発明の実施形態を示す差動増幅回路の回路図である。
【0034】
この差動増幅回路は、入力用のNMOS1,2、負荷用のNMOS3,4、定電流供給用のPチャネルMOS(以下、「PMOS」という)5,6、及び定電流源7を備えている。
【0035】
NMOS1,2のゲートには、差動的な入力信号INP,INNがそれぞれ入力されるようになっており、これらのNMOS1,2のドレインは、それぞれノードNN,NPに接続され、ソースは共通の定電流源7を介して接地電圧GNDに接続されている。
【0036】
ノードNNにはダイオード接続されたNMOS3のソースが接続され、このNMOS3のドレインとゲートが電源電圧VDDに接続されている。また、ノードNPにはダイオード接続されたNMOS4のソースが接続され、このNMOS4のドレインとゲートが電源電圧VDDに接続されている。
【0037】
更に、ノードNNには、PMOS5のドレインが接続され、このPMOS5のソースが電源電圧VDDに接続されている。ノードNPには、PMOS6のドレインが接続され、このPMOS6のソースが電源電圧VDDに接続されている。PMOS5,6のゲートには、それぞれ所定のバイアス電圧VB5,VB6が与えられ、これらのPMOS5,6を通してノードNN,NPに、一定電流I5,I6が供給されるようになっている。
【0038】
そして、ノードNN,NPから、増幅された差動的な出力信号OUTN,OUTPがそれぞれ出力されるようになっている。
【0039】
次に、動作を説明する。
【0040】
図1において、NMOS1〜4に流れるドレイン電流をそれぞれI1〜I4とすると、PMOS5,6からノードNN,NPに、それぞれ一定電流I5,I6が供給されるので、次の(10)式の関係が成り立つ。
I1=I3+I5, I2=I4+I6 ・・・(10)
【0041】
また、この差動増幅回路全体の電圧利得GA1は、NMOS1〜4のトランスコンダクタンス係数をそれぞれK1〜K4とすると、(8)式に準じて次の(11)式のようになる。
【0042】
これに、(10)式の関係を代入すると、次の(12)式が得られる。
【0043】
ここで、I1=I2=I3=I4,I5=I6,K1=K2,K3=K4とすると、(12)式の電圧利得GA1は、次の(13)式のようになる。
GA1=2√{K1(I3+I5)/(K3×I3)} ・・・(13)
【0044】
次に、図1中のNMOS3,4と図2中のNMOS13,14を同一サイズに設定した場合に、図1と図2の差動増幅回路の電圧利得GA1,GA2を等しくする条件として、(9)式と(13)式から、次の(14)式が導かれる。
K1=K11×I3/(I3+I5) ・・・(14)
【0045】
(14)式に示すように、図1中のNMOS1,2のトランスコンダクタンス係数K1は、図2中のNMOS11,12のトランスコンダクタンス係数K11よりも小さくなる。これによるNMOS1,2の面積の縮小は、次の(15)式のようになる。
K11−K1=K11×I5/(I3+I5) ・・・(15)
【0046】
一方、図1における一定電流I5,I6は、それぞれPMOS5,6によって供給され、このPMOS5では(1)式に準じて次の(16)式が成り立っている。なお、PMOS6も同様である。
K5=I5/(Vgs−Vt)2 ・・・(16)
【0047】
従って、NMOS1の面積の縮小量(K11−K1)が、一定電流I5の電流源であるPMOS5の面積(K5)よりも大きければ、全体としてレイアウト面積を縮小することができるといえる。その条件は、(15),(16)式に基づいて、次の(17)式のように求められる。
K11×I5/(I3+I5)>I5/(Vgs−Vt)2
(Vgs−Vt)2>(I3+I5)/K11 ・・・(17)
【0048】
即ち、(17)式を満足するように、PMOS5,6のゲート・ソース電圧Vgs(即ち、バイアス電圧VB5,VB6)を印加すれば良い。
【0049】
このように、本実施形態の差動増幅回路では、入力用のNMOS1,2に、それぞれ一定電流I5,I6を供給するPMOS5,6を有している。これにより、NMOS1,2の面積を大きくせずに電圧利得GA1を増加させることができるという利点がある。
【0050】
また、NMOS1,2の面積が大きくならないので、これらのNMOS1,2のドレイン・ソース電圧Vdsが減少せず、入力信号INP,INNに対するダイナミックレンジが小さくならない。このため、NMOS11,12が非飽和領域で動作して出力信号OUTP,OUTNに波形歪みが生ずる、という問題が発生しない。
【0051】
更に、NMOS11,12の入力キャパシタンスは増大せず、周波数特性の劣化のおそれがないという利点がある。
【0052】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば、次のようなものがある。
【0053】
(a) 定電流供給用のPMOS5,6には、固定のバイアス電圧VB5,6を印加しているが、このバイアス電圧VB5,6を可変にして、差動増幅回路の電圧利得GA1を任意に制御できるように構成しても良い。
【0054】
(b) 定電流供給用のPMOS5,6に代えて、他の回路構成の定電流源を用いても良い。
【0055】
(c) 入力用と負荷用のトランジスタ1〜4をすべてNMOSで構成しているが、すべてPMOSで構成しても良い。その場合、定電流供給用のトランジスタ5,6はNMOSで構成すると共に、電源の極性を逆にする必要がある。
【0056】
(d) 接地電圧GND側に定電流源7を設けているが、電源電圧VDD側に定電流源7を設けても良い。
【0057】
【発明の効果】
【0058】
以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、第1及び第2の入力トランジスタにそれぞれ一定電流を供給するための、第1及び第2の定電流源を有している。従って、入力トランジスタに流れる電流は負荷トランジスタに流れる電流よりも大きくなり、入力トランジスタのサイズを大きくしなくても高い電圧利得を得ることが可能になる。これにより、レイアウト面積の増加、波形歪み、及び周波数特性の劣化のない差動増幅回路が得られる。
【0059】
第2の発明によれば、第1及び第2の負荷トランジスタをダイオード接続した第1導電型のMOS(例えば、NMOS)で構成し、第1及び第2の入力トランジスタをこれらの負荷トランジスタと同じNMOSで構成し、第1及び第2の定電流源をPMOSで構成している。これにより、簡単な回路構成で第1と同様の効果を有する差動増幅回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示す差動増幅回路の回路図である。
【図2】従来の差動増幅回路の一例を示す回路図である。
【符号の説明】
1〜4 NMOS
5,6 PMOS
7 定電流源[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
[0002]
The present invention relates to a differential amplifier circuit.
[0003]
[Prior art]
[0004]
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a conventional differential amplifier circuit.
[0005]
This differential amplifier circuit includes N-channel MOS transistors (hereinafter, simply referred to as “MOS” and N-channel MOS transistors as “NMOS”) 11 and 12 to which differential input signals INP and INN are input, respectively. Have. The drains of the
[0006]
The source of the diode-connected
[0007]
Next, the voltage gain of the differential amplifier circuit will be described.
[0008]
Generally, a drain current Id in a MOS saturation region (a region where the drain current Id does not change even when the drain-source voltage Vds is increased) is determined by a gate-source voltage Vgs, a threshold voltage Vt, and a transconductance coefficient K. It is expressed by the following equation (1).
Id = K (Vgs−Vt) 2 (1)
[0009]
Here, the transconductance coefficient K is a value represented by the following equation (2) based on a constant P, a channel width W, and a channel length L determined by a manufacturing process.
K = P × W / L (2)
[0010]
The MOS transconductance gm is obtained by differentiating the drain current Id in the expression (1) with the gate-source voltage Vgs, as shown in the following expression (3).
gm = δId / δVgs = 2K (Vgs−Vt) (3)
[0011]
Now, paying attention to the amplifier circuit composed of the
[0012]
The mutual conductances gm11 and gm13 of the
gm11 = δI11 / δVgs11 = 2K11 (Vgs11−Vt)
gm13 = δI13 / δVgs13 = 2K13 (Vgs13−Vt) (4)
[0013]
Here, the voltage gain GAP by the
[0014]
As shown in the equation (1), since Vgs11−Vt = √ (I11 / K11) and Vgs13−Vt = √ (I13 / K13), the voltage gain GAP is expressed by the following equation (6). .
[0015]
Similarly, the voltage gain GAN of the amplifier circuit including the
GAN = {(K12 × I12) / (K14 × I14)} (7)
[0016]
Accordingly, the voltage gain GA2 of the entire differential amplifier circuit of FIG. 2 is expressed by the following equation (8).
[0017]
Here, since I11 = I13 = I12 = I14, K11 = K12, and K13 = K14, generally, the voltage gain GA2 in the equation (8) is as shown in the following equation (9).
GA2 = 2√ (K11 / K13) (9)
[0018]
Assuming that the constant P due to the manufacturing process is constant, the voltage gain GA2 is, as shown by the equation (2), the gate width / gate length (= W / W) of the
[0019]
[Problems to be solved by the invention]
[0020]
However, the conventional differential amplifier circuit has the following problems.
[0021]
Since the voltage gain GA2 depends on the size (gate width) ratio between the
[0022]
Also, when the size of the
[0023]
Further, when the size of the
[0024]
An object of the present invention is to provide a differential amplifier circuit which solves the problems of the prior art and provides a high voltage gain without requiring a large layout area, and has no waveform distortion or deterioration of frequency characteristics. .
[0025]
[Means for Solving the Problems]
[0026]
According to a first aspect of the present invention, there is provided a differential amplifier circuit comprising: first and second input transistors, each of which has a conduction state controlled by a differential input signal; And first and second load transistors of the same conductivity type as the first and second input transistors and diode-connected in series with the first and second input transistors, respectively. There are first and second constant current sources that supply a constant current, respectively, and a third constant current source that controls the sum of the currents flowing through the first and second input transistors to a constant value.
[0027]
According to a second invention, the first load transistor in the first invention is constituted by a first conductivity type MOS having a drain and a gate connected to a power supply potential and a source connected to a first output node. Is constituted by a first conductivity type MOS having a drain and a gate connected to the power supply potential and a source connected to the second output node.
[0028]
Further, the first constant current source is constituted by a second conductivity type MOS having a source and a drain connected to the power supply potential and the first output node, respectively, and a gate to which a first bias voltage is applied, and The second constant current source comprises a second conductivity type MOS having a source and a drain connected to the power supply potential and the second output node, respectively, and a gate to which a second bias voltage is applied.
[0029]
Further, the first input transistor is a first conductivity type MOS having a drain and a source connected to the first output node and a third constant current source, respectively, and a gate supplied with one of the differential input signals. A first conductivity type MOS having a second input transistor, a drain and a source connected to the second output node and a third constant current source, respectively, and a gate supplied with the other of the differential input signals. It consists of.
[0030]
According to the present invention, since the differential amplifier circuit is configured as described above, the following operation is performed.
[0031]
The current from the first constant current source flows through the first input transistor in addition to the current of the first load transistor. Further, a current from the second constant current source flows through the second input transistor in addition to the current of the second load transistor. Then, the sum of the currents flowing through the first and second input transistors is controlled to a constant value by the third constant current source. As a result, the differential input signal is amplified by the first and second input transistors and output from the first and second load transistors.
On the other hand, since the current flowing through the first and second input transistors is larger than the current flowing through the first and second load transistors, a high voltage gain can be obtained without increasing the size of these input transistors. Can be.
[0032]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
[0033]
FIG. 1 is a circuit diagram of a differential amplifier circuit according to an embodiment of the present invention.
[0034]
This differential amplifier circuit includes input NMOSs 1 and 2, load NMOSs 3 and 4, P-channel MOSs (hereinafter referred to as “PMOS”) 5 and 6 for supplying a constant current, and a constant current source 7. .
[0035]
Differential input signals INP and INN are input to the gates of the NMOSs 1 and 2, respectively. The drains of the NMOSs 1 and 2 are connected to the nodes NN and NP, respectively, and the sources are common. It is connected to the ground voltage GND via the constant current source 7.
[0036]
The source of the diode-connected NMOS 3 is connected to the node NN, and the drain and gate of the NMOS 3 are connected to the power supply voltage VDD. The source of the diode-connected NMOS 4 is connected to the node NP, and the drain and gate of the NMOS 4 are connected to the power supply voltage VDD.
[0037]
Further, the drain of the
[0038]
Then, amplified differential output signals OUTN and OUTP are output from the nodes NN and NP, respectively.
[0039]
Next, the operation will be described.
[0040]
In FIG. 1, assuming that drain currents flowing through NMOSs 1 to 4 are I1 to I4, respectively, constant currents I5 and I6 are supplied from
I1 = I3 + I5, I2 = I4 + I6 (10)
[0041]
Further, when the transconductance coefficients of the NMOSs 1 to 4 are respectively K1 to K4, the voltage gain GA1 of the entire differential amplifier circuit is expressed by the following equation (11) according to the equation (8).
[0042]
By substituting the relationship of equation (10) into this, the following equation (12) is obtained.
[0043]
Here, assuming that I1 = I2 = I3 = I4, I5 = I6, K1 = K2, and K3 = K4, the voltage gain GA1 of the equation (12) becomes the following equation (13).
GA1 = 2 {K1 (I3 + I5) / (K3 × I3)} (13)
[0044]
Next, when the NMOSs 3 and 4 in FIG. 1 and the NMOSs 13 and 14 in FIG. 2 are set to the same size, the conditions for equalizing the voltage gains GA1 and GA2 of the differential amplifier circuits in FIGS. The following expression (14) is derived from the expressions 9) and (13).
K1 = K11 × I3 / (I3 + I5) (14)
[0045]
As shown in the equation (14), the transconductance coefficient K1 of the NMOSs 1 and 2 in FIG. 1 is smaller than the transconductance coefficient K11 of the
K11−K1 = K11 × I5 / (I3 + I5) (15)
[0046]
On the other hand, the constant currents I5 and I6 in FIG. 1 are supplied by
K5 = I5 / (Vgs-Vt) 2 (16)
[0047]
Therefore, if the reduction amount (K11−K1) of the area of the NMOS 1 is larger than the area (K5) of the
K11 × I5 / (I3 + I5)> I5 / (Vgs−Vt) 2
(Vgs−Vt) 2 > (I3 + I5) / K11 (17)
[0048]
That is, the gate-source voltages Vgs of the
[0049]
As described above, the differential amplifier circuit of the present embodiment has the
[0050]
Further, since the areas of the NMOSs 1 and 2 do not increase, the drain-source voltages Vds of the NMOSs 1 and 2 do not decrease, and the dynamic range for the input signals INP and INN does not decrease. Therefore, there is no problem that the
[0051]
Further, there is an advantage that the input capacitance of the
[0052]
Note that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, there are the following modifications.
[0053]
(A) The fixed bias voltages VB5, 6 are applied to the
[0054]
(B) A constant current source having another circuit configuration may be used instead of the
[0055]
(C) Although the input and load transistors 1 to 4 are all configured by NMOS, they may be all configured by PMOS. In this case, the
[0056]
(D) Although the constant current source 7 is provided on the ground voltage GND side, the constant current source 7 may be provided on the power supply voltage VDD side.
[0057]
【The invention's effect】
[0058]
As described in detail above, according to the first invention, the first and second constant current sources for supplying a constant current to the first and second input transistors, respectively, are provided. Therefore, the current flowing through the input transistor becomes larger than the current flowing through the load transistor, and a high voltage gain can be obtained without increasing the size of the input transistor. As a result, a differential amplifier circuit without an increase in layout area, waveform distortion, and deterioration in frequency characteristics can be obtained.
[0059]
According to the second invention, the first and second load transistors are constituted by diode-connected first conductivity type MOS (for example, NMOS), and the first and second input transistors are the same as these load transistors. The first and second constant current sources are constituted by NMOS, and the first and second constant current sources are constituted by PMOS. As a result, a differential amplifier circuit having the same effects as the first embodiment can be obtained with a simple circuit configuration.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram of a differential amplifier circuit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an example of a conventional differential amplifier circuit.
[Explanation of symbols]
1-4 NMOS
5,6 PMOS
7 Constant current source
Claims (2)
前記第1及び第2の入力トランジスタと同一の導電型で、該第1及び第2の入力トランジスタにそれぞれ直列にダイオード接続された第1及び第2の負荷トランジスタと、
前記第1及び第2の入力トランジスタにそれぞれ一定の電流を供給する第1及び第2の定電流源と、
前記第1及び第2の入力トランジスタに流れる電流の和を一定値に制御する第3の定電流源とを、
備えたことを特徴とする差動増幅回路。First and second input transistors, each of which is controlled to be conductive by a differential input signal;
First and second load transistors of the same conductivity type as the first and second input transistors and diode-connected in series to the first and second input transistors, respectively;
First and second constant current sources for supplying a constant current to the first and second input transistors, respectively;
A third constant current source for controlling a sum of currents flowing through the first and second input transistors to a constant value;
A differential amplifier circuit comprising:
前記第2の負荷トランジスタは、ドレインとゲートを前記電源電位に接続し、ソースを第2の出力ノードに接続した第1導電型のMOSトランジスタで構成し、
前記第1の定電流源は、ソース及びドレインをそれぞれ前記電源電位及び第1の出力ノードに接続し、ゲートに第1のバイアス電圧が与えられる第2導電型のMOSトランジスタで構成し、
前記第2の定電流源は、ソース及びドレインをそれぞれ前記電源電位及び第2の出力ノードに接続し、ゲートに第2のバイアス電圧が与えられる第2導電型のMOSトランジスタで構成し、
前記第1の入力トランジスタは、ドレイン及びソースをそれぞれ前記第1の出力ノード及び第3の定電流源に接続し、ゲートに前記差動入力信号の一方が与えられる第1導電型のMOSトランジスタで構成し、
前記第2の入力トランジスタは、ドレイン及びソースをそれぞれ前記第2の出力ノード及び第3の定電流源に接続し、ゲートに前記差動入力信号の他方が与えられる第1導電型のMOSトランジスタで構成した、
ことを特徴とする請求項1記載の差動増幅回路。The first load transistor includes a first conductivity type MOS transistor having a drain and a gate connected to a power supply potential and a source connected to a first output node.
The second load transistor comprises a first conductivity type MOS transistor having a drain and a gate connected to the power supply potential and a source connected to a second output node.
The first constant current source includes a second conductivity type MOS transistor having a source and a drain connected to the power supply potential and a first output node, respectively, and a gate to which a first bias voltage is applied,
The second constant current source includes a second conductivity type MOS transistor having a source and a drain connected to the power supply potential and a second output node, respectively, and a second bias voltage applied to a gate.
The first input transistor is a first conductivity type MOS transistor having a drain and a source connected to the first output node and a third constant current source, respectively, and a gate to which one of the differential input signals is supplied. Make up,
The second input transistor is a first conductivity type MOS transistor having a drain and a source connected to the second output node and a third constant current source, respectively, and a gate supplied with the other of the differential input signals. Configured
The differential amplifier circuit according to claim 1, wherein:
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