JP2004063547A - Aligner under vacuum atmosphere - Google Patents

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JP2004063547A
JP2004063547A JP2002216361A JP2002216361A JP2004063547A JP 2004063547 A JP2004063547 A JP 2004063547A JP 2002216361 A JP2002216361 A JP 2002216361A JP 2002216361 A JP2002216361 A JP 2002216361A JP 2004063547 A JP2004063547 A JP 2004063547A
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Japan
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exposure apparatus
cooling jacket
vacuum
vacuum atmosphere
heat
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JP2002216361A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuo Ishikawa
石川 光男
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Nikon Corp
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Nikon Corp
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  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an aligner under a vacuum atmosphere with capability to utilize a vacuum associated equipment annexed to the aligner to cool a heat dissipating portion. <P>SOLUTION: A cooling jacket 31 is arranged in a circumference of the heat dissipating portion H in the aligner and peripheral equipments. An inside of the cooling jacket 31 is compartmentalized into inner and outer spaces 34, 36 by an inner wall 33, where there is provided automatic switching valves 38a, 38b. First, both the inner and the outer spaces 34, 36 are evacuated by the cooling jacket 31 to close the automatic switching valves 38a, 38b. Then, a gas is introduced only into the outer space 36 to open the automatic switching valves 38a, 38b and immediately after that, both the inner and outer spaces 34, 36 are re-evacuated, thus constituting one cycle so that the heat dissipating portion can be cooled. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、真空雰囲気下で感応基板(ウェハ等)上にエネルギビームを照射してパターン形成する露光装置に関する。特には、露光装置に付設されている真空関連機器(真空ポンプ等)を利用して発熱部(鏡筒の一部やアクチュエータ等)の冷却を行なうことができる真空雰囲気下露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
EB(電子ビーム)露光装置、あるいは、イオンビームや軟X線を用いる露光装置は、真空雰囲気下でレチクル等の原版パターンをウェハ等の感応基板上に転写する。この種の露光装置は、レチクル真空チャンバやウェハ真空チャンバ内を真空排気するための真空関連機器(真空ポンプや真空バルブ、排気系統等)を備えている。
【0003】
ところで、従来の光露光装置は、熱の悪影響(光路における気体のゆらぎ等)を低減するため、光路をカバーで覆ったり、熱を外部に逃がす温空調機器を備えているものが多い。これに対し、現状のEB露光装置は、真空チャンバ内に干渉計光路を配置することで前記のゆらぎ等を低減している。しかしながら、真空チャンバ内外の発熱部(電子鏡筒の一部やアクチュエータ等)からの熱が周囲に伝達すると、真空チャンバを始めとする装置構成要素が熱変形して露光精度に悪影響を与えるおそれがある。一方、熱変形を防ぐために発熱部の冷却システム等を追設すると、装置の複雑化やコスト高を招くためにあまり好ましくない。
【0004】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであって、露光装置に付設されている真空関連機器(真空ポンプ等)を利用して発熱部(鏡筒の一部やアクチュエータ等)の冷却を行なうことができる真空雰囲気下露光装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
前記の課題を解決するため、本発明の第1の真空雰囲気下露光装置は、真空雰囲気下で感応基板上にエネルギビームを照射してパターン形成する露光装置であって、 該露光装置及び周辺設備の発熱部の周囲に配置された冷却ジャケットを備え、 該冷却ジャケットの内部スペースに気体を導入・排出し、該気体の断熱膨張作用を利用して前記発熱部を冷却することを特徴とする。
【0006】
この露光装置では、露光装置内を真空雰囲気とするための手段(例えば真空ポンプ等の関連機器)を利用して発熱部を冷却することができる。そのため、発熱部からの熱によるゆらぎ等を低減できる。さらに、発熱部の冷却システム等を別個に追設しなくて済むので、装置の複雑化やコスト高を回避できる。
【0007】
本発明の第1の真空雰囲気下露光装置においては、前記冷却ジャケットの内部スペースが内外2室に仕切られており、 前記内外2室の仕切り部に開閉弁が設けられており、 前記内外室の両方を真空排気して前記開閉弁を閉じ、次いで前記外室にのみ気体を導入してから前記開閉弁を開き、その直後に前記内外室の両方を再び真空排気するサイクルにより、前記発熱部を冷却することができる。
この場合、まず内外室の両方を真空排気することで温度低下が起こり、内部スペース内の発熱体が冷却される。次いで、開閉弁を閉じて内外室を遮断し、外室にのみ気体を導入することで、外室内の圧力が上昇する。そして、開閉弁を開いた直後に内外室の両方を再び真空排気することで温度低下が起こり、内部スペース内の発熱体が冷却される。このとき、室内の温度低下を生じさせる最初の真空排気と2度目の真空排気とが等価となって冷却サイクルを構成する。
【0008】
本発明の第2の真空雰囲気下露光装置は、真空雰囲気下で感応基板上にエネルギビームを照射してパターン形成する露光装置であって、 該露光装置及び周辺設備の発熱部の周囲に配置された、前記発熱部からの熱が周囲に伝達しないよう断熱する断熱ジャケットと真空空間とを備えることを特徴とする。
【0009】
この露光装置では、断熱ジャケットにより発熱部からの伝熱が遮断されて周囲に伝わらないので、露光装置の熱変形を低減できる。これにより、露光のゆらぎ等が起こる可能性も低減できる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ説明する。
まず、図4を参照しつつ、電子線露光装置全体の構成と結像関係の概要について説明する。
図4は、電子線露光装置(分割転写方式の例)の構成を模式的に示す図である。
光学系の最上流に配置されている電子銃1は、下方に向けて電子線を放射する。電子銃1の下方には、コンデンサレンズ2及び照明レンズ3が備えられており、電子線は、これらのレンズ2、3を通って、レチクル10を照明する。
【0011】
これらのレンズ2、3を主な構成要素とする照明光学系中には、図示されていないが、照明ビーム成形開口やブランキング偏向器、ブランキング開口、照明ビーム偏向器等が配置されている。照明光学系において成形された照明ビームIBは、レチクル10上で順次走査され、照明光学系の視野内にあるレチクル10の各サブフィールドの照明を行う。
【0012】
レチクル10は多数のサブフィールドを有し、移動可能なレチクルステージ11に載置されている。レチクルステージ11を光軸垂直面内で移動させることにより、照明光学系の視野よりも広い範囲に広がるレチクル上の各サブフィールドを照明する。
【0013】
レチクル10の下方には第1投影レンズ15、第2投影レンズ19、及び、収差補正や像位置調整に用いられる偏向器16(16−1〜16−6)が設けられている。レチクル10の一つのサブフィールドを通過した電子線は、投影レンズ15、19、偏向器16によってウェハ(感応基板)23上の所定の位置に結像される。ウェハ23上には適当なレジストが塗布されており、レジスト上に電子線のドーズが与えられ、レチクル10上のパターンが縮小(一例で1/4)されてウェハ23上に転写される。
【0014】
レチクル10とウェハ23の間を縮小率比で内分する点にクロスオーバーC.O.が形成され、同クロスオーバー位置にはコントラスト開口18が設けられている。同開口18は、レチクル10の非パターン部で散乱された電子線がウェハ23に達しないように遮断する。
【0015】
ウェハ23は、静電チャックを介してXY方向に移動可能なウェハステージ24上に載置されている。レチクルステージ11とウェハステージ24とを互いに逆方向に同期走査することにより、投影光学系の視野を越えて広がるデバイスパターンの各部を順次露光することができる。
【0016】
次に、本発明に係る露光装置の冷却ジャケット関連の構成について説明する。
図1は、本発明に係る露光装置に付設された冷却ジャケットの構成を模式的に示す平面図である。
図2(A)〜(D)は、図1の冷却ジャケットを用いた冷却サイクルを説明するための図である。
図3は、本発明に係る露光装置の全体構成を示す概念図である。
【0017】
図3に示す露光装置の上部には、照明光学系鏡筒30が示されている。この照明光学系鏡筒30内には、前述の電子銃1やコンデンサレンズ2、照明レンズ3(図4参照)等が配置されている。同鏡筒30内は、図示せぬ真空ポンプで真空排気されている。照明光学系鏡筒30の周囲には、冷却ジャケット(圧力容器等)31が配置されている。この冷却ジャケット31により、電子銃1等が冷却される。
【0018】
ここで、図1を参照しつつ、冷却ジャケット31について説明する。
図1に示すように、冷却ジャケット31は、内壁部33及びその外側の外壁部35を有する断面四角形の2重構造をしている。本実施例では断面四角形としたが、他の形状であっても構わない。内外壁部33、35及び後述する区画部37は、例えばセラミックス等の断熱性に富む材料から形成されている。内壁部33の内側には、内スペース34が形成されている。内壁部33は、冷却ジャケット31内部を内外2室に仕切る役割を果たすとともに、内部の発熱体H(いまの場合は照明光学系鏡筒30)の熱を周囲に伝達させない断熱ジャケットの役割も果たす。内外壁部33、35間には、外スペース36が形成されている。内外壁部33、35間には、外スペース36をさらに2室(36A、36B)に区画する2つの区画部37が設けられている。
【0019】
内壁部33には、外スペース36A、36Bのそれぞれに対応して、2つの自動開閉弁38a、38bが組み込まれている。一方、2つの区画部37のそれぞれにも、自動開閉弁39a、39bが組み込まれている。さらに、外壁部35の外スペース36A側には、給排気管41が接続されている(図3も併せて参照)。この給排気管41には、自動開閉弁42が組み込まれている。給排気管41は、光学系鏡筒内を真空排気する真空ポンプや、後述する真空チャンバ内を真空排気する真空ポンプ等の、露光装置内を真空雰囲気とするための関連機器に繋がれている。この真空関連機器の作動により、冷却ジャケット31の内外スペース34、36に気体を導入・排出することができる。
【0020】
冷却ジャケット31の内スペース34内には、発熱体H(いまの場合は照明光学系鏡筒30)が配置される。発熱体Hの外周には、例えば鋼等の高熱伝導率材料からなる壁部32が設けられている。この壁部32により、発熱体Hの熱が冷却ジャケット31に伝わり易くなっている。
【0021】
減圧時(真空排気時)の冷却ジャケット31内の温度変化について述べる。
冷却ジャケット31の内外スペース34、36内に導入する気体を大気とする。この場合に、空気の断熱変化を考えると次式が成立する:
T2=(P2/P1)(n−1)/n×T1、
但し、T1:冷却ジャケット内の初期温度(絶対温度)、
T2:冷却ジャケット内の減圧後温度(絶対温度)、
P1:冷却ジャケット内の初期圧力(絶対圧力)、
P2:冷却ジャケット内の減圧後圧力(絶対圧力)、
n:ポリトロープ指数(空気の場合n=1.4)
である。
【0022】
この式を用いて、冷却ジャケット内の温度変化を求める。
まず、冷却ジャケットの内圧を大気圧(0.1013MPa)から低真空領域圧(10kPa)まで減圧した場合は、
冷却ジャケット内の温度が大気圧で23℃のときは減圧時−120℃、
冷却ジャケット内の温度が大気圧で50℃のときは減圧時−106℃、
のような温度低下が起こる。
【0023】
次に、冷却ジャケット内に圧縮空気を導入して内圧を0.3MPaまで高めておき(初期圧力)、この初期圧力から低真空領域圧(10kPa)まで減圧した場合は、
冷却ジャケット内の温度が初期圧力時23℃のときは減圧時−161℃、
冷却ジャケット内の温度が初期圧力時50℃のときは減圧時−150℃、
のような温度低下が起こる。
【0024】
図3に示すように、冷却ジャケット31には、前述の給排気管41及び自動開閉弁42に加えて、エア配管43及び自動開閉弁44が接続されている。エア配管43は、露光装置の機構系(例えばステージ駆動機構等)で用いられる圧縮空気を冷却ジャケット31内に導入するための配管である。なお、このエア配管43を省き、冷却ジャケット31内に大気を導入するよう構成してもよい。エア配管43から圧縮空気を導入するよう構成した場合は、大気を導入するよりも差圧が大きいため、冷却ジャケット31の冷却能力が高まる利点がある。
【0025】
図3に示すように、照明光学系鏡筒30の下には、レチクル真空チャンバ50が配置されている。このレチクル真空チャンバ50内には、前述のレチクル10を載置するレチクルステージ11等が配置されている。同真空チャンバ50には、チャンバ排気系統51を介して真空ポンプ53が接続されている。これらチャンバ排気系統51及び真空ポンプ53は、前述の冷却ジャケット31を真空排気するために用いることができる。なお、図3には図示しないが、レチクル真空チャンバ50には、レチクルローダー室及びレチクルロードロック室等も接続されている。
【0026】
レチクル真空チャンバ50及びレチクルステージ11は、メインボディ45上に載っている。このメインボディ45の中央部には、投影光学系鏡筒60が支持されている。投影光学系鏡筒60内には、前述の第1投影レンズ15や第2投影レンズ19(図4参照)が配置されている。同鏡筒60内は、図示せぬ真空ポンプで真空排気されている。
【0027】
メインボディ45の下側には、ウェハ真空チャンバ70が吊り下げられている。このウェハ真空チャンバ70内には、前述のウェハ23を載置するウェハステージ24等が配置されている。ウェハ真空チャンバ70にも、前述のレチクル真空チャンバ50と同様に、チャンバ排気系統及び真空ポンプ(図示されず)が接続されている。これらチャンバ排気系統及び真空ポンプは、前述の冷却ジャケット31を真空排気するための真空関連機器として用いることができる。なお、図3には図示しないが、ウェハ真空チャンバ70には、ウェハローダー室及びウェハロードロック室等も接続されている。
【0028】
メインボディ45は、エアマウント75を介して、ベースプレート77を基台とする防振台78上に載っている。この防振台78には、エアマウント75と協調駆動するアクチュエータ79が内蔵されている。そして、このアクチュエータ79の内蔵箇所において、防振台78の周囲には、前述の冷却ジャケット31(図1参照)と同様の冷却ジャケット31´が配置されている(図3では左側にのみ示されている)。この冷却ジャケット31´により、アクチュエータ79が冷却される。すなわち、図1における発熱体Hは、この場合はアクチュエータ79である。
【0029】
次に、図2を参照しつつ、冷却ジャケット31の作用(冷却サイクル)について説明する。
なお、図2においては、図1を用いて前述した自動開閉弁38a、38b、39a、39b及び42について、“開”の状態にある弁を白抜きで示し、“閉”の状態にある弁を黒塗りで示す。また、内外スペース34、36に気体が導入されている部分を点々で示し、気体が排出されている(真空引きされている)部分を白抜きで示す。
なお、図2中の発熱体Hは、前述の照明光学系鏡筒30やアクチュエータ79等である。
【0030】
冷却ジャケット31を用いた発熱体Hの冷却は、次の通りに行う。
まず、図2(A)に示すように、内壁部33、外壁部35及び給排気管41の全ての自動開閉弁38a、38b、39a、39b及び42を開とし、給排気管41から冷却ジャケット31内に大気を導入する。自動開閉弁は全て開となっているので、冷却ジャケット31の内外スペース34、36は連通しており、これら双方に大気が導入される。このときの内圧は、100kPa程度である。
なお、前述のエア配管43及び自動開閉弁44を設けた場合は、大気の代わりに圧縮空気を導入することができる。
【0031】
次いで、図2(B)に示すように、冷却ジャケット31内を50kPa程度に真空排気し、給排気管41の自動開閉弁42のみを閉とする。冷却ジャケット31内の真空排気は、前述の通り、露光装置の真空関連機器の作動によって行われる。この真空排気によって、冷却ジャケット31の内外スペース34、36内に温度低下が起こり、内スペース34内の発熱体Hが壁部32を介して冷却される。
【0032】
次いで、図2(C)に示すように、給排気管41の自動開閉弁42を閉としたままの状態で、内壁部33の自動開閉弁38a、38bを閉とする。これで、冷却ジャケット31内の内スペース34と外スペース36とが遮断され、それぞれ独立した空間となる。
【0033】
次いで、図2(D)に示すように、内壁部33の自動開閉弁38a、38bを閉としたままの状態で、給排気管41の自動開閉弁42を開とする。すると、冷却ジャケット31内において、外スペース36のみが大気開放されて内圧が上昇する。このとき、内スペース34の内圧は50kPa程度で、外スペース36の内圧は100kPa程度となり、差圧によって外スペース36内の温度が上昇する。しかし、内外スペース34、36は、セラミックス等の断熱材からなる内壁部33で仕切られているため、上昇した温度の発熱体Hへの熱移動は小さい。
【0034】
次いで、この操作の直後に内壁部33の自動開閉弁38a、38bを開とし、内外スペース34、36を連通させて内外スペースを50kPa程度に真空排気した後、給排気管41の自動開閉弁42を閉とする。この状態は、前述した図2(B)の状態である。この際の真空排気によって、冷却ジャケット31の内外スペース34、36内に温度低下が起こり、内スペース34内の発熱体Hが壁部32を介して冷却される。そして、前述の最初の真空排気と、今回の2度目の真空排気とが等価となって、発熱体Hの冷却サイクルを構成する。
【0035】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、露光装置に付設されている真空関連機器(真空ポンプ等)を利用して発熱部(鏡筒の一部やアクチュエータ等)の冷却を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る露光装置に付設された冷却ジャケットの構成を模式的に示す平面図である。
【図2】図1の冷却ジャケットを用いた冷却サイクルを説明するための図である。
【図3】本発明に係る露光装置の全体構成を示す概念図である。
【図4】電子線露光装置(分割転写方式の例)の構成を模式的に示す図である。
【符号の説明】
10 レチクル            23 ウェハ
30 照明光学系鏡筒         31、31´ 冷却ジャケット
32 壁部              33 内壁部
34 内スペース           35 外壁部
36(36A、36B) 外スペース  37 区画部
38a、38b、39a、39b、42、44 自動開閉弁
41 給排気管            43 エア配管
45 メインボディ          50 レチクル真空チャンバ
51 チャンバ排気系統        53 真空ポンプ
60 投影光学系鏡筒         70 ウェハ真空チャンバ
75 エアマウント          77 ベースプレート
78 防振台             79 アクチュエータ
H 発熱体
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an exposure apparatus that forms a pattern by irradiating an energy beam on a sensitive substrate (such as a wafer) in a vacuum atmosphere. In particular, the present invention relates to an exposure apparatus under a vacuum atmosphere in which a heating unit (a part of a lens barrel, an actuator, or the like) can be cooled using a vacuum-related device (a vacuum pump or the like) attached to the exposure apparatus.
[0002]
Problems to be solved by the prior art and the invention
An EB (electron beam) exposure apparatus or an exposure apparatus using an ion beam or soft X-ray transfers an original pattern such as a reticle onto a sensitive substrate such as a wafer in a vacuum atmosphere. This type of exposure apparatus is provided with vacuum-related equipment (vacuum pump, vacuum valve, exhaust system, etc.) for evacuating the reticle vacuum chamber or the wafer vacuum chamber.
[0003]
By the way, in order to reduce the adverse effect of heat (such as the fluctuation of gas in the optical path), the conventional light exposure apparatus often includes a thermal air conditioner that covers the optical path with a cover or releases heat to the outside. On the other hand, in the current EB exposure apparatus, the above-mentioned fluctuation and the like are reduced by arranging the optical path of the interferometer in the vacuum chamber. However, when heat from a heat generating portion inside or outside the vacuum chamber (a part of the electron lens barrel, an actuator, or the like) is transmitted to the surroundings, device components such as the vacuum chamber may be thermally deformed and adversely affect exposure accuracy. is there. On the other hand, if a cooling system or the like for the heat-generating portion is additionally provided to prevent thermal deformation, it is not preferable because the device becomes complicated and the cost increases.
[0004]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such problems, and uses a vacuum-related device (such as a vacuum pump) attached to an exposure apparatus to generate a heat-generating portion (a part of a lens barrel or an actuator). An object of the present invention is to provide an exposure apparatus under a vacuum atmosphere capable of performing cooling.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, a first exposure apparatus under vacuum atmosphere of the present invention is an exposure apparatus that irradiates an energy beam on a sensitive substrate in a vacuum atmosphere to form a pattern, and the exposure apparatus and peripheral equipment A cooling jacket disposed around the heat-generating portion, wherein a gas is introduced into and exhausted from the internal space of the cooling jacket, and the heat-generating portion is cooled by utilizing the adiabatic expansion action of the gas.
[0006]
In this exposure apparatus, the heating section can be cooled by using a means for making the inside of the exposure apparatus a vacuum atmosphere (for example, related equipment such as a vacuum pump). Therefore, it is possible to reduce fluctuations and the like due to heat from the heat generating portion. Further, since it is not necessary to separately provide a cooling system for the heat-generating portion, it is possible to avoid complication of the device and an increase in cost.
[0007]
In the first exposure apparatus under a vacuum atmosphere of the present invention, the internal space of the cooling jacket is partitioned into two inner and outer chambers, and an on-off valve is provided at a partition between the two inner and outer chambers. By evacuating both, closing the on-off valve, then introducing gas only into the outer chamber, opening the on-off valve, and immediately thereafter, evacuating both the inner and outer chambers again, the heat generating unit is turned off. Can be cooled.
In this case, first, both the inner and outer chambers are evacuated to lower the temperature, and the heating element in the inner space is cooled. Next, by closing the on-off valve to shut off the inner and outer chambers and introducing gas only to the outer chamber, the pressure in the outer chamber increases. Then, immediately after opening the on-off valve, the inside and outside chambers are evacuated again to lower the temperature, and the heating element in the internal space is cooled. At this time, the first evacuation and the second evacuation that cause a temperature drop in the room are equivalent to constitute a cooling cycle.
[0008]
A second exposure apparatus under a vacuum atmosphere of the present invention is an exposure apparatus that irradiates an energy beam onto a sensitive substrate in a vacuum atmosphere to form a pattern, and is arranged around a heating unit of the exposure apparatus and peripheral equipment. Further, a heat insulating jacket and a vacuum space are provided to insulate the heat from the heat generating portion from transmitting to the surroundings.
[0009]
In this exposure apparatus, heat transfer from the heat generating portion is blocked by the heat insulating jacket and is not transmitted to the surroundings, so that thermal deformation of the exposure apparatus can be reduced. As a result, the possibility of fluctuation of exposure or the like can be reduced.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, description will be made with reference to the drawings.
First, an outline of the configuration of the entire electron beam exposure apparatus and the image forming relationship will be described with reference to FIG.
FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration of an electron beam exposure apparatus (an example of a division transfer system).
The electron gun 1 arranged at the uppermost stream of the optical system emits an electron beam downward. A condenser lens 2 and an illumination lens 3 are provided below the electron gun 1, and an electron beam illuminates the reticle 10 through these lenses 2 and 3.
[0011]
Although not shown, an illumination beam shaping aperture, a blanking deflector, a blanking aperture, an illumination beam deflector, and the like are arranged in the illumination optical system having these lenses 2 and 3 as main components. . The illumination beam IB formed in the illumination optical system is sequentially scanned on the reticle 10 to illuminate each subfield of the reticle 10 within the field of view of the illumination optical system.
[0012]
The reticle 10 has many subfields and is mounted on a movable reticle stage 11. By moving the reticle stage 11 in a plane perpendicular to the optical axis, each subfield on the reticle extending over a wider range than the field of view of the illumination optical system is illuminated.
[0013]
Below the reticle 10, a first projection lens 15, a second projection lens 19, and a deflector 16 (16-1 to 16-6) used for aberration correction and image position adjustment are provided. The electron beam passing through one subfield of the reticle 10 is imaged at a predetermined position on a wafer (sensitive substrate) 23 by the projection lenses 15 and 19 and the deflector 16. An appropriate resist is applied on the wafer 23, a dose of an electron beam is given to the resist, and the pattern on the reticle 10 is reduced (for example, 1 /) and transferred onto the wafer 23.
[0014]
The point at which the reticle 10 and the wafer 23 are internally divided at the reduction ratio is crossover C. O. Are formed, and a contrast opening 18 is provided at the crossover position. The opening 18 blocks the electron beam scattered by the non-pattern portion of the reticle 10 from reaching the wafer 23.
[0015]
The wafer 23 is placed on a wafer stage 24 that can move in the X and Y directions via an electrostatic chuck. By synchronously scanning the reticle stage 11 and the wafer stage 24 in directions opposite to each other, each part of the device pattern extending beyond the field of view of the projection optical system can be sequentially exposed.
[0016]
Next, a configuration related to a cooling jacket of the exposure apparatus according to the present invention will be described.
FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a cooling jacket attached to an exposure apparatus according to the present invention.
FIGS. 2A to 2D are views for explaining a cooling cycle using the cooling jacket of FIG.
FIG. 3 is a conceptual diagram showing the entire configuration of the exposure apparatus according to the present invention.
[0017]
An illumination optical system barrel 30 is shown above the exposure apparatus shown in FIG. The electron gun 1, the condenser lens 2, the illumination lens 3 (see FIG. 4) and the like are arranged in the illumination optical system barrel 30. The inside of the lens barrel 30 is evacuated by a vacuum pump (not shown). A cooling jacket (pressure vessel or the like) 31 is arranged around the illumination optical system lens barrel 30. The electron gun 1 and the like are cooled by the cooling jacket 31.
[0018]
Here, the cooling jacket 31 will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 1, the cooling jacket 31 has a double structure with a rectangular cross section having an inner wall portion 33 and an outer wall portion 35 outside the inner wall portion 33. In this embodiment, the cross section is square, but another shape may be used. The inner and outer wall portions 33 and 35 and a partition portion 37 described later are formed of a material having a high heat insulating property such as ceramics, for example. An inner space 34 is formed inside the inner wall portion 33. The inner wall portion 33 serves to partition the inside of the cooling jacket 31 into two inner and outer chambers, and also serves as a heat insulating jacket that does not transmit the heat of the internal heating element H (in this case, the illumination optical system barrel 30) to the surroundings. . An outer space 36 is formed between the inner and outer wall portions 33 and 35. Between the inner and outer wall portions 33 and 35, there are provided two partition portions 37 that further partition the outer space 36 into two chambers (36A and 36B).
[0019]
Two automatic opening / closing valves 38a and 38b are incorporated in the inner wall portion 33 so as to correspond to the outer spaces 36A and 36B, respectively. On the other hand, automatic opening / closing valves 39a and 39b are also incorporated in each of the two partition portions 37. Further, a supply / exhaust pipe 41 is connected to the outer space 36A side of the outer wall 35 (see also FIG. 3). An automatic open / close valve 42 is incorporated in the supply / exhaust pipe 41. The supply / exhaust pipe 41 is connected to related devices for setting the inside of the exposure apparatus to a vacuum atmosphere, such as a vacuum pump for evacuating the optical system barrel and a vacuum pump for evacuating the vacuum chamber described later. . By the operation of the vacuum-related equipment, gas can be introduced and discharged into the inner and outer spaces 34 and 36 of the cooling jacket 31.
[0020]
A heating element H (in this case, the illumination optical system barrel 30) is arranged in the inner space 34 of the cooling jacket 31. On the outer periphery of the heating element H, a wall portion 32 made of a material having a high thermal conductivity such as steel is provided. Due to the wall portion 32, the heat of the heating element H is easily transmitted to the cooling jacket 31.
[0021]
A description will be given of a temperature change in the cooling jacket 31 during depressurization (during evacuation).
The gas introduced into the inner and outer spaces 34, 36 of the cooling jacket 31 is assumed to be the atmosphere. In this case, considering the adiabatic change of air, the following equation holds:
T2 = (P2 / P1) (n-1) / n × T1,
Here, T1: initial temperature (absolute temperature) in the cooling jacket,
T2: temperature after pressure reduction in the cooling jacket (absolute temperature),
P1: initial pressure (absolute pressure) in the cooling jacket,
P2: pressure after decompression in the cooling jacket (absolute pressure),
n: polytropic index (n = 1.4 in the case of air)
It is.
[0022]
Using this equation, the temperature change in the cooling jacket is determined.
First, when the internal pressure of the cooling jacket is reduced from the atmospheric pressure (0.1013 MPa) to the low vacuum region pressure (10 kPa),
When the temperature in the cooling jacket is 23 ° C. at atmospheric pressure, the pressure is reduced at −120 ° C.,
When the temperature in the cooling jacket is 50 ° C. at atmospheric pressure, the pressure is reduced at −106 ° C.,
The temperature drops as follows.
[0023]
Next, compressed air is introduced into the cooling jacket to increase the internal pressure to 0.3 MPa (initial pressure), and when the initial pressure is reduced to a low vacuum region pressure (10 kPa),
When the temperature in the cooling jacket is 23 ° C. at the initial pressure, the pressure is reduced at −161 ° C.,
When the temperature in the cooling jacket is 50 ° C at the initial pressure, -150 ° C at the time of decompression,
The temperature drops as follows.
[0024]
As shown in FIG. 3, an air pipe 43 and an automatic open / close valve 44 are connected to the cooling jacket 31 in addition to the above-described supply / exhaust pipe 41 and the automatic open / close valve 42. The air pipe 43 is a pipe for introducing compressed air used in a mechanism system (for example, a stage driving mechanism) of the exposure apparatus into the cooling jacket 31. The air pipe 43 may be omitted, and the atmosphere may be introduced into the cooling jacket 31. In the case where the compressed air is introduced from the air pipe 43, there is an advantage that the cooling capacity of the cooling jacket 31 is increased because the differential pressure is larger than that when the air is introduced.
[0025]
As shown in FIG. 3, a reticle vacuum chamber 50 is arranged below the illumination optical system barrel 30. In the reticle vacuum chamber 50, a reticle stage 11 on which the above-described reticle 10 is mounted is arranged. A vacuum pump 53 is connected to the vacuum chamber 50 via a chamber exhaust system 51. The chamber exhaust system 51 and the vacuum pump 53 can be used to evacuate the cooling jacket 31 described above. Although not shown in FIG. 3, the reticle vacuum chamber 50 is also connected to a reticle loader chamber and a reticle load lock chamber.
[0026]
The reticle vacuum chamber 50 and the reticle stage 11 are mounted on the main body 45. At the center of the main body 45, a projection optical system barrel 60 is supported. The above-described first projection lens 15 and second projection lens 19 (see FIG. 4) are arranged in the projection optical system barrel 60. The inside of the lens barrel 60 is evacuated by a vacuum pump (not shown).
[0027]
Below the main body 45, a wafer vacuum chamber 70 is suspended. In the wafer vacuum chamber 70, a wafer stage 24 on which the above-described wafer 23 is mounted is arranged. A wafer exhaust system and a vacuum pump (not shown) are also connected to the wafer vacuum chamber 70, similarly to the reticle vacuum chamber 50 described above. These chamber exhaust system and vacuum pump can be used as vacuum-related equipment for evacuating the cooling jacket 31 described above. Although not shown in FIG. 3, the wafer vacuum chamber 70 is also connected to a wafer loader chamber, a wafer load lock chamber, and the like.
[0028]
The main body 45 is mounted on an anti-vibration table 78 based on a base plate 77 via an air mount 75. The anti-vibration table 78 includes an actuator 79 that is driven in cooperation with the air mount 75. At the location where the actuator 79 is built in, a cooling jacket 31 ′ similar to the above-described cooling jacket 31 (see FIG. 1) is arranged around the vibration isolating table 78 (only the left side is shown in FIG. 3). ing). The actuator 79 is cooled by the cooling jacket 31 '. That is, the heating element H in FIG. 1 is the actuator 79 in this case.
[0029]
Next, the operation (cooling cycle) of the cooling jacket 31 will be described with reference to FIG.
In FIG. 2, the valves in the “open” state are shown in white for the automatic on-off valves 38 a, 38 b, 39 a, 39 b and 42 described above with reference to FIG. 1, and the valves in the “closed” state Is shown in black. In addition, a portion where gas is introduced into the inner and outer spaces 34 and 36 is indicated by dots, and a portion where gas is discharged (evacuated) is indicated by white.
The heating element H in FIG. 2 is the illumination optical system barrel 30 and the actuator 79 described above.
[0030]
The cooling of the heating element H using the cooling jacket 31 is performed as follows.
First, as shown in FIG. 2A, all the automatic opening / closing valves 38a, 38b, 39a, 39b and 42 of the inner wall 33, the outer wall 35 and the supply / exhaust pipe 41 are opened, and the cooling jacket is connected to the supply / exhaust pipe 41. Atmosphere is introduced into 31. Since the automatic on-off valves are all open, the inner and outer spaces 34 and 36 of the cooling jacket 31 communicate with each other, and the atmosphere is introduced into both of them. The internal pressure at this time is about 100 kPa.
When the air pipe 43 and the automatic opening / closing valve 44 are provided, compressed air can be introduced instead of the atmosphere.
[0031]
Next, as shown in FIG. 2B, the inside of the cooling jacket 31 is evacuated to about 50 kPa, and only the automatic opening / closing valve 42 of the supply / exhaust pipe 41 is closed. As described above, the evacuation of the cooling jacket 31 is performed by the operation of the vacuum-related equipment of the exposure apparatus. Due to this evacuation, a temperature drop occurs in the inner and outer spaces 34 and 36 of the cooling jacket 31, and the heating element H in the inner space 34 is cooled through the wall 32.
[0032]
Next, as shown in FIG. 2 (C), the automatic open / close valves 38a and 38b of the inner wall 33 are closed while the automatic open / close valve 42 of the supply / exhaust pipe 41 is kept closed. Thus, the inner space 34 and the outer space 36 in the cooling jacket 31 are shut off, and become independent spaces.
[0033]
Next, as shown in FIG. 2D, the automatic opening / closing valve 42 of the supply / exhaust pipe 41 is opened while the automatic opening / closing valves 38a, 38b of the inner wall portion 33 are kept closed. Then, in the cooling jacket 31, only the outer space 36 is opened to the atmosphere, and the internal pressure rises. At this time, the internal pressure of the internal space 34 is about 50 kPa, and the internal pressure of the external space 36 is about 100 kPa, and the temperature inside the external space 36 increases due to the differential pressure. However, since the inner and outer spaces 34 and 36 are partitioned by the inner wall 33 made of a heat insulating material such as ceramics, heat transfer to the heating element H at an increased temperature is small.
[0034]
Then, immediately after this operation, the automatic opening / closing valves 38a and 38b of the inner wall portion 33 are opened, and the internal and external spaces 34 and 36 are communicated to evacuate the internal and external spaces to about 50 kPa. Is closed. This state is the state of FIG. 2B described above. The evacuation at this time causes a temperature drop in the inner and outer spaces 34 and 36 of the cooling jacket 31, and the heating element H in the inner space 34 is cooled via the wall 32. The first evacuation described above and the second evacuation this time are equivalent to constitute a cooling cycle of the heating element H.
[0035]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the present invention, the heat-generating portion (a part of the lens barrel, the actuator, etc.) is cooled using the vacuum-related equipment (vacuum pump, etc.) attached to the exposure apparatus. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view schematically showing a configuration of a cooling jacket attached to an exposure apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram for explaining a cooling cycle using the cooling jacket of FIG.
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an overall configuration of an exposure apparatus according to the present invention.
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a configuration of an electron beam exposure apparatus (an example of a division transfer method).
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Reticle 23 Wafer 30 Illumination optical system lens barrel 31, 31 'Cooling jacket 32 Wall part 33 Inner wall part 34 Inner space 35 Outer wall part 36 (36A, 36B) Outer space 37 Partition part 38a, 38b, 39a, 39b, 42, 44 Automatic open / close valve 41 Supply / exhaust pipe 43 Air pipe 45 Main body 50 Reticle vacuum chamber 51 Chamber exhaust system 53 Vacuum pump 60 Projection optical system barrel 70 Wafer vacuum chamber 75 Air mount 77 Base plate 78 Vibration isolator 79 Actuator H Heating element

Claims (3)

真空雰囲気下で感応基板上にエネルギビームを照射してパターン形成する露光装置であって、
該露光装置及び周辺設備の発熱部の周囲に配置された冷却ジャケットを備え、
該冷却ジャケットの内部スペースに気体を導入・排出し、該気体の断熱膨張作用を利用して前記発熱部を冷却することを特徴とする真空雰囲気下露光装置。
An exposure apparatus that forms a pattern by irradiating an energy beam on a sensitive substrate in a vacuum atmosphere,
Comprising a cooling jacket arranged around a heating unit of the exposure apparatus and peripheral equipment,
An exposure apparatus under a vacuum atmosphere, characterized in that a gas is introduced into and discharged from an internal space of the cooling jacket, and the heat generating portion is cooled by utilizing adiabatic expansion action of the gas.
前記冷却ジャケットの内部スペースが内外2室に仕切られており、
前記内外2室の仕切り部に開閉弁が設けられており、
前記内外室の両方を真空排気して前記開閉弁を閉じ、次いで前記外室にのみ気体を導入してから前記開閉弁を開き、その直後に前記内外室の両方を再び真空排気するサイクルにより、前記発熱部を冷却することを特徴とする請求項1記載の真空雰囲気下露光装置。
The internal space of the cooling jacket is partitioned into two inner and outer chambers,
An on-off valve is provided in the partition between the inner and outer chambers,
A cycle in which both the inner and outer chambers are evacuated and the on / off valve is closed, then gas is introduced only into the outer chamber, and then the on / off valve is opened, and immediately thereafter, both the inner and outer chambers are again evacuated, 2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the heating unit is cooled.
真空雰囲気下で感応基板上にエネルギビームを照射してパターン形成する露光装置であって、
該露光装置及び周辺設備の発熱部の周囲に配置された、前記発熱部からの熱が周囲に伝達しないよう断熱する断熱ジャケットと真空空間とを備えることを特徴とする真空雰囲気下露光装置。
An exposure apparatus that forms a pattern by irradiating an energy beam on a sensitive substrate in a vacuum atmosphere,
An exposure apparatus under a vacuum atmosphere, comprising: a heat insulating jacket disposed around a heating section of the exposure apparatus and peripheral equipment for heat insulation so that heat from the heating section is not transmitted to the surroundings; and a vacuum space.
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