JP2004055939A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device Download PDF

Info

Publication number
JP2004055939A
JP2004055939A JP2002213272A JP2002213272A JP2004055939A JP 2004055939 A JP2004055939 A JP 2004055939A JP 2002213272 A JP2002213272 A JP 2002213272A JP 2002213272 A JP2002213272 A JP 2002213272A JP 2004055939 A JP2004055939 A JP 2004055939A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
input signal
circuit
level
logic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002213272A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukinobu Notomi
納富 志信
Kazuo Daimon
大門 一夫
Kazuhisa Higuchi
樋口 和久
Yasushi Nagata
永田 寧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp, Hitachi Device Engineering Co Ltd, Hitachi Consumer Electronics Co Ltd filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2002213272A priority Critical patent/JP2004055939A/en
Publication of JP2004055939A publication Critical patent/JP2004055939A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor integrated circuit device equipped with a unit logic circuit of simple constitution for multiple purposes. <P>SOLUTION: A first input signal is supplied to the source or drain of a first MOSFET and, when a second input signal supplied to the gate is at one level, a signal of the other level of the 1st input signal is outputted from the other drain or source. The first input signal is supplied to the source or drain of a second MOSFET and, when the second input signal supplied to the gate is at the other level, a signal of one level of the first input signal is outputted from the other drain or source. A fixed potential corresponding to one level of the first input signal supplied to the source or drain of a 3rd MOSFET is outputted from the other drain or source when the second input signal supplied to the gate is at the other level. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体集積回路装置に関し、例えばアドレス信号に従ってメモリセルの選択や、表示データに従って階調電圧を選択する等のデコーダ回路を内蔵するものに利用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図18には、この発明に先立って検討されたデコーダ回路の回路図が示されている。このデコーダ回路は、ナンド(NAND)ゲート回路を用いて、アドレス信号A0〜A3からなる4ビットの入力信号を受けて0ないしFのような16通りのデコード出力信号を形成する。各ゲート回路NANDは、同図に1つが代表として例示的に示されているように、入力端子IN1〜IN4にゲートが接続された4対のPチャネルMOSFETとNチャネルMOSFETからなる。上記PチャネルMOSFETは、互いに並列形成に接続され、上記NチャネルMOSFETは互いに直列形態に接続される。また、液晶駆動装置に用いられるデコーダ回路の例として、特開平10−3285号公報、米国特許第5,719, 591号公報がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記論理ゲート回路を用いたデコード回路では、アドレス信号のビット数がNビットのときには、2N ×N×2のトランジスタが必要であり、アドレス信号のビット数が増えるとそれに応じて指数関数でトランジスタ数が増加してしまう。また、TFT(薄膜トランジスタ)液晶表示用のコントロールドライバでは、液晶電源生成回路で生成された階調電圧を表示データに従って階調選択信号により選択し、液晶駆動電圧として液晶パネルに供給する構成となっている。
【0004】
上記階調電圧を選択する階調セレクタとして、回路素子数の削減のために図19に示したようなトーナメント型のスイッチトリーを検討した。この回路では、選択信号により上記各スイッチトリーを制御して例えば64通りの階調レベルの中から1つを選択して液晶駆動電圧を形成するので、MOSトランジスタの数を減らすことができる。しかしながら、MOSトランジスタは抑えることができるが、液晶駆動電圧端子を所望の電圧にする為には階調レベル電圧生成アンプから端子まで、スイッチのON抵抗が選択ビット数分直列に見えることになる。つまり、この例のように選択信号が6ビットからなるときには、6対のCMOSスイッチを介して1つの階調電圧が選ばれる。
【0005】
図20には、図19の階調セレクタにより選択された液晶駆動信号の波形図が示されている。図に示した通り、実際の液晶パネルでは、LSI内の前述のスイッチトリーでのON抵抗及び液晶パネル抵抗の影響により立ちあがり波形が鈍る。また、液晶表示サイズが大画面化されると1フレームの周期が短くなり、立ち上がりの波形の鈍りが画質に影響を及ぼしてくる。したがって、液晶パネルの大画面化対応LSIには出力のON抵抗の低減が必須条件となる。
【0006】
この発明の目的は、簡単な構成で多用途に向けた単位論理回路を備えた半導体集積回路装置を提供することにある。この発明の他の目的は、高表示品質と高集積化の液晶駆動装置に向けた半導体集積回路装置を提供することにある。この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下記の通りである。第1MOSFETのソース又はドレインの一方に第1入力信号を供給し、第1MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が一方のレベルにあるときに第1入力信号の他方のレベルの信号を第1MOSFETのソース又はドレインの他方から出力させ、第2MOSFETのソース又はドレインの一方に第1入力信号を供給し、第2MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が他方のレベルにあるときに第1入力信号の一方のレベルの信号を第2MOSFETのソース又はドレインの他方から出力させ、第3MOSFETのソース又はドレインの一方に与えられた第1入力信号の一方のレベルに対応した所定電位を、第3MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が他方のレベルにあるときに第3MOSFETのソース又はドレインの他方から出力させて単位論理回路を構成する。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1には、この発明に係る単位論理回路の一実施例の回路図が示されている。この実施例では、アンド(AND)ゲート回路に向けられている。つまり、2つの入力信号が共に論理1(ハイレベル)ときに論理1の出力信号を形成し、いずれか一方の入力信号が論理0(ロウレベル)のとには、論理0の出力信号を形成する。この実施例の論理回路は、特に制限されないが、後述するようなトーナメントロジック型デコーダ回路に向けられており、それに対応して2つの入力信号は、上位ノードと相補の選択信号(ポジ,ネガ)とされ、出力端子は下位ノードとされる。
【0009】
上記のようにハイレベルを論理1とするような正論理を採る場合、一方の入力端子である上位ノードと、出力端子に対応した出力ノードとの間には、Pチャネルの選択信号伝達PMOSQ1と、Nチャネルの非選択信号伝達用NMOSQ2とが並列形態に設けられる。そして、論理0(非選択レベル)に対応した回路の接地電位と出力ノードとの間には、Nチャネルの非選択時下位ノード固定NMOSQ3が設けられる。上記PチャネルMOSFETQ1とNチャネルMOSFETQ3のゲートは、共通接続されて他方の入力端子とされ、選択ネガ信号が供給される。また、上記NチャネルMOSFETQ2のゲートは、他方の入力端子とされ、選択ポジ信号が供給される。ここで、選択ネガ信号は、選択時にロウレベルにされる相補信号のうちのネガティブ信号であり、選択ポジ信号は、選択時にハイレベルにされる相補信号のうちのポジティブ信号である。
【0010】
同図において、上記MOSFETQ1〜Q3からなる単位論理回路は、以下の図6、図7、図13、図14及び図16図に示したトーナメントロジック型デコーダ回路におていは、簡略回路記号で示したように、スイッチと、その両端に設けられた上位ノードと回路ノード及び、スイッチの選択信号P(ポジ)とN(ネガ)によって表されているものである。
【0011】
図1において、上位ノードに供給される一方の入力信号が論理1のハイレベルとき、他方の入力信号である選択ポジ信号が論理1のハイレベルで、選択ネガ信号が論理0のロウレベルとき、選択ネガ信号のロウレベルによりPチャネルMOSFETQ1がオン状態となり、上位ノードに供給される一方の入力信号の論理1のハイレベルを出力ノードに出力させる。このとき、選択ポジ信号の論理1のハイレベルによりNチャネルMOSFETQ2もオン状態であるが、上位ノードのハイレベルは、MOSFETQ2の有するしきい値電圧Vth分だけレベルシフトされて出力ノードに伝えられる。したがって、上記上位ノードのハイレベルを下位ノードに伝えるのは、上記PチャネルMOSFETQ1によるものと見做される。
【0012】
図1において、上位ノードに供給される一方の入力信号が論理1のハイレベルとき、他方の入力信号である選択ポジ信号が論理1のロウレベルで、選択ネガ信号が論理0のハイレベルとき、選択ネガ信号のハイレベルによりPチャネルMOSFETQ1がオフ状態となり、選択ポジ信号のロウレベルによりNチャネルMOSFETQ2もオフ状態となる。このときには、選択ネガ信号のハイレベルによりNチャネルMOSFETQ3がオン状態となり、ロウレベルを下位ノードに伝える。つまり、上位ノードと下位ノードとの間が、上記MOSFETQ1とQ2が共にオフ状態により切断されることによる出力ノードのフローティング状態を防止しつつ、論理0に対応した出力信号を形成する。
【0013】
図1において、上位ノードに供給される一方の入力信号が論理0のロウレベルとき、他方の入力信号である選択ポジ信号が論理1のハイレベルで、選択ネガ信号が論理0のロウレベルとき、選択ポジ信号のハイレベルによりNチャネルMOSFETQ2がオン状態となり、上位ノードに供給される一方の入力信号の論理0のロウレベルを出力ノードに出力させる。このとき、選択ネガ信号の論理0のロウレベルによりPチャネルMOSFETQ1もオン状態であるが、上位ノードのロウレベルは、MOSFETQ1の有するしきい値電圧Vth分だけレベルシフトされて出力ノードに伝えられる。したがって、上記上位ノードのロウレベルを下位ノードに伝えるのは、上記PチャネルMOSFETQ2によるものと見做される。
【0014】
図1において、上位ノードに供給される一方の入力信号が論理0のロウレベルとき、他方の入力信号である選択ポジ信号が論理1のロウレベルで、選択ネガ信号が論理0のハイレベルとき、選択ネガ信号のハイレベルによりPチャネルMOSFETQ1がオフ状態となり、選択ポジ信号のロウレベルによりNチャネルMOSFETQ2もオフ状態となる。このときには、選択ネガ信号のハイレベルによりNチャネルMOSFETQ3がオン状態となり、ロウレベルを下位ノードに伝える。つまり、上位ノードと下位ノードとの間が、上記MOSFETQ1とQ2が共にオフ状態により切断されることによる出力ノードのフローティング状態を防止しつつ、論理0に対応した出力信号を形成する。
【0015】
このようにして、3つのMOSFETの組み合わせにより、アンド(AND)論理回路を実現することができる。MOSFETによりANDゲート回路を構成する場合には、ナンドゲート回路とインバータ回路の組み合わせによるものであるので、2入力の回路では、4+2の合計6個のMOSFETが必要になるものである。しかも、ナンドゲート回路とインバータ回路の2段の論理段で信号が伝達されるものであるので、信号伝搬遅延時間が長くなってしまう。これに対して、この実施例のANDゲート回路では、上記3つのMOSFETにより回路が構成でき、しかも、MOSFETのゲート,ソース間での信号伝搬遅延時間によって信号伝達が行われるので高速動作も可能となる。
【0016】
厳密には、選択ネガ信号と選択ポジ信号を形成するためにインバータ回路が必要となるので、合計5個のMOSFETが必要になるものである。しかしながら、後述するようなトーナメントロジック型デコーダ回路では、選択ポジ信号と選択ネガ信号を複数の論理段に共通に用いることができるので、かかるトーナメントロジック型デコーダ回路では、実質的には1つの論理回路が3個で構成されると見做すことができるものである。
【0017】
図2には、この発明に係る論理回路の他の一実施例の回路図が示されている。この実施例では、オア(OR)ゲート回路に向けられている。つまり、2つの入力信号が共に論理0(ロウレベル)ときに論理0の出力信号を形成し、いずれか一方の入力信号が論理1(ハイレベル)のとには、論理1の出力信号を形成する。前記図1と同様に2つの入力信号は、上位ノードと相補の選択信号(ポジ,ネガ)とされ、出力端子は下位ノードとされる。
【0018】
この実施例回路では、一方の入力端子である上位ノードと、出力端子に対応した出力ノードとの間には、Pチャネルの非選択信号用伝達PMOSQ4と、Nチャネルの選択信号伝達用NMOSQ5とが並列形態に設けられる。そして、論理1(非選択レベル)に対応した電源電圧VDDと出力ノードとの間には、Pチャネルの非選択時下位ノード固定用PMOSQ6が設けられる。上記NチャネルMOSFETQ5とPチャネルMOSFETQ6のゲートは、共通接続されて他方の入力端子とされ、選択ポジ信号が供給される。また、上記PチャネルMOSFETQ4のゲートは、他方の入力端子とされ、選択ネガ信号が供給される。
【0019】
この実施例は、論理レベルとMOSFETの導電型が前記図1の実施例とは逆となり、上位ノードの一方の入力信号が論理0で、他方の入力信号が論理0、つまり選択ポジ信号がハイレベルで、選択ネガ信号がロウレベルのときには、MOSFETQ5を通して上位ノードの論理0が出力ノードに伝えられる。それ以外の組み合わせは、入力ノードの論理1がPチャネルMOSFETQ1を通して出力である下位ノード伝えられ、あるいは電源電圧VDDの論理1がNチャネルMOSFETQ6を通して出力である下位ノードに伝えられる。
【0020】
図2の実施例回路は、ロウレベルを論理1とする負論理を採る場合には、ANDゲート回路として動作する。逆に、前記図1の実施例回路は、ロウレベルを論理1とする負論理を採る場合には、ORゲート回路として動作する。
【0021】
図3には、図1の実施例回路の一実施例の素子レイアウト図が示されている。第1導電型とされるP型ウェル領域PWELに2つのNチャネルMOSFET(Q2,Q3)が形成される。つまり、下位ノードに対応したソース,ドレイン領域が共通化され、かかるソース,ドレイン領域の2つのゲート電極が配置され、上記2つのゲート電極をそれぞれ挟むように他方のソース,ドレイン領域が形成されて、非選択信号伝達用NMO(Q2)と、非選択時下位ノード固定用NMOS(Q3)が構成される。上記非選択信号伝達用NMOS(Q2)に対応した右側のゲート電極は、選択信号(ポジ信号)が供給され、非選択時下位ノード固定用NMOS(Q3)に対応した左側のゲート電極には選択信号(ネガ信号)が供給される。この非選択時下位ノード固定用NMOS(Q3)の他方のソース,ドレイン領域には基板電位(下位の接地電位)が与えられる。
【0022】
上記P型ウェル領域PWELに形成されたNチャネルMOSFET(Q2,Q3)のゲート電極の延長方向に隣接して第2導電型とされるN型ウェル領域NWELが設けられる。このN型ウェル領域NWELには、P型の一対のソース,ドレイン領域と、それらに挟まるようにゲート電極が形成されて、選択信号伝達用PMOS(Q1)が構成される。この選択信号伝達用PMOS(Q1)と、上記非選択信号伝達用NMOS(Q2)とは、そのゲート及びソース,ドレイン領域が上記ゲート電極の延長方向に並ぶように配置される。そして、一方の入力端子としての上位ノードと、出力端子としての下位ノードを構成する配線は、上記ゲート電極の延長方向に配置される直線的な配線により最短距離をもって接続される。
【0023】
上記選択信号(ネガ信号)が伝えられる、上記非選択時下位ノード固定用NMOS(Q3)のゲート電極と上記選択信号伝達用PMOS(Q1)のゲート電極と一体的に形成される。つまり、上記のようにソース,ドレインが配置される結果、選択信号伝達用PMOS(Q1)のゲート電極と非選択信号伝達用NMOS(Q2)のゲート電極とが一直線上に並ぶように配置されるので、上記選択信号伝達用PMOS(Q1)のゲート電極と非選択時下位ノード固定用NMOS(Q3)のゲート電極とはウェル領域PWELとNWELとの接合部分に沿って折れ曲がるように一体的に形成される。
【0024】
この実施例のように、2つのNチャネルMOSFET(Q2とQ3)の下位ノードに対応したソース,ドレイン領域が共通化されること、及びそのためのコンタクト領域が共通化できることにより、3つのMOSFETで単位論理回路が構成されるにもかかわらず、効率よく回路素子を配置させることができる。
【0025】
図4には、図1の実施例回路を2個組み合わせてトーナメントロジック型デコーダ回路に向けた一実施例の素子レイアウト図が示されている。この実施例では、1つの入力ノードに対して2つの下位ノードが設けられる1つのトーナメント分岐(山)に向けられている。この実施例では、上位ノードが2個の単位論理回路に対して共通化される。つまり、この上位ノードに対応した接続配線を中心にして鏡像関係(ミラー)となるようにゲート電極、ソース,ドレイン領域が配置される。これにより、合計6個ものMOSFETを効率よく配置させることができる。
【0026】
図5には、図4のトーナメント分岐(山)を3個組み合わせたトーナメントロジック型デコーダ回路に向けた一実施例の素子レイアウト図が示されている。この実施例では、上記3個のトーナメント分岐(山)を組み合わせて2ビットのデコーダ回路が構成される。最上位ノードに対応した2つの単位論他回路は、前記図4の実施例と同様である。この2つの単位論理回路の出力ノードを入力ノードとする次位ビットの2つのトーナメント分岐(山)が上記同様に設けられる。この構成においても、単位論理回路が鏡像関係となるように配置されることによって、効率よく素子配置を行うようにすることができる。
【0027】
図6には、この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の一実施例の回路図が示されている。この実施例のトーナメントロジック型デコーダ回路では、4ビットのアドレス信号A0〜A3を解読して0ないしFの16通りのデコード信号を形成する。
【0028】
この実施例では、最上位ビットのアドレス信号A3は、直列接続された2つのインバータ回路N7,N8により反転信号(ネガ信号)と非反転信号(ポジ信号)としてそのまま出力される。このネガ信号とポジ信号とは、アドレス信号A2により形成される選択信号(ポジ信号,ネガ信号)を受ける単位論理回路UL21〜UL24の入力ノードの信号としてそのまま用いられる。つまり、アドレス信号A3に対応した上記ネガ信号は、2つの単位論理回路UL21とUL22からなるトーナメント分岐単位論理回路の入力ノードに伝えられる。アドレス信号A3に対応した上記ポジ信号は、2つの単位論理回路UL23とUL24からなるトーナメント分岐単位論理回路の入力ノードに伝えられる。
【0029】
上記アドレス信号A2を選択信号とする単位論理回路UL21の出力ノードは、下位のアドレス信号A1を選択信号とする2つの単位論理回路UL11とUL12からなるトーナメント分岐単位論理回路の入力ノードに伝えられる。同様に、単位論理回路UL22〜24の出力ノードも、下位のアドレス信号A1を選択信号とする2個ずつの単位論理回路UL13とUL14、UL15とUL16及びUL17とUL18からなる3個のトーナメント分岐単位論理回路の入力ノードにそれぞれ伝えられる。上記アドレス信号A0〜A2は、それぞれインバータ回路N1,N2〜N5,N6により選択信号(ネガ信号,ポジ信号)が形成される。
【0030】
そして、上記アドレス信号A1を選択信号とする単位論理回路UL11の出力ノードは、最下位のアドレス信号A0を選択信号とする2つの単位論理回路UL01とUL02からなるトーナメント分岐単位論理回路の入力ノードに伝えられる。残り7個の単位論理回路UL12ないしUL18の出力ノードにも、それぞれ2個ずつの単位論理回路が設けられる。この結果、最下位ビットのアドレス信号A0を選択信号とする単位論理回路は、UL01ないしUL0Fのように16個から構成され、それぞれから0ないしFのような16通りのデコード信号が出力される。
【0031】
この実施例のトーナメントロジック型デコーダ回路方式は、大まかにいうならば、最上位アドレスを入力信号とし、以下のアドレス信号を制御信号とした図1の単位論理回路をトーナメント型に配置し、最下位アドレスで制御する単位論理回路の下位ノードをデコード出力とするものである。
【0032】
図7には、図6のトーナメントロジック型デコーダ回路の動作の一例を説明するための説明図が示されている。この実施例では、アドレス信号A3〜A0として、(0110)が入力された場合の各ノードの状態が示されている。同図より、選択されたアドレスのみ黒太い実線で示したようにポジ信号が出力され、他の信号はそれぞれの段数が異なるもののハッチングで示したような何らかの形でネガ信号に固定されている。
【0033】
この実施例では、選択信号はアドレス信号A3の論理0による反転信号のハイレベルが、前記太い実線で示したようにアドレス信号A2の論理1による単位論理回路の選択伝達経路、アドレス信号A1の論理1による単位論理回路の選択信号伝達経路及びアドレス信号A0の論理0による単位論理回路の選択信号伝達経路を通してデコード出力6からハイレベルの選択信号が出力される。
【0034】
これに対して、デコード出力0は、アドレス信号A1で形成された非選択時回路ノード固定NMOSで形成されたロウレベルが、アドレス信号A0の論理0による単位論理回路の選択信号伝達経路を通して出力される。このような信号経路は、デコード出力4、8、Cも同様である。デコード出力1は、アドレス信号A0で形成された非選択時回路ノード固定NMOSで形成されたロウレベルが出力される。このような信号経路は、デコード出力3、5、9、C、Fも同様である。デコード出力2は、アドレス信号A2で形成された非選択時回路ノード固定NMOSで形成されたロウレベルが、アドレス信号A1の論理1による単位論理回路の選択信号伝達経路及びアドレス信号A0の論理0による単位論理回路の選択信号伝達経路を通して出力される。このような信号経路は、デコード出力Aも同様である。
【0035】
そして、デコード出力Eは、選択信号はアドレス信号A3の論理0による非反転信号のロウレベルが、アドレス信号A2の論理1による単位論理回路の選択伝達経路、アドレス信号A1の論理1による単位論理回路の選択信号伝達経路及びアドレス信号A0の論理0による単位論理回路の選択信号伝達経路を通してデコード出力6からロウレベルの非選択信号として出力される。
【0036】
本回路の基本動作は、アドレス信号のビット数の増加には関係無く、ビット数を増やす場合も、トーナメントの最下位ビットの単位論理回路を追加するだけでデコーダ回路を実現できる。この場合のNビットデコーダ回路のトランジスタ数は入力バッファを除いた場合、図8に示したように、NAND型を採用した場合より、5ビットで約56%、6ビットで約48%、7ビットで約42%、8ビットで約37%のようにビット数が増加すればするほど効果が現れる。つまり、素子の削減効果が大きくなる。また、デコーダの選択速度であるが、選択、非選択アドレス共にNAND回路を用いた場合よりも伝達速度が速くなるので、デコーダ回路としては同等かそれ以上の能力を有する。
【0037】
図9には、この発明が適用される液晶表示システムの一実施例の主要部のブロック図が示されている。この実施例の表示システムでは、表示データを生成する図示しないマイクロプロセッサと、TFTドレインドライバLSI及びGATE(ゲート)ドライバト及び液晶パネルから構成される。
【0038】
上記TFTドレインドライバLSIは、特に制限されないが、1つの半導体集積回路装置により構成されており、液晶パネルの駆動に使用される電圧(表示電圧)を供給するための液晶駆動電圧発生回路(表示電圧発生回路)と、この液晶駆動電圧に基づいて液晶パネルを駆動するための液晶ドライバ(DRAINドライバ)と、出力電圧制御チッチ及びコントローラ、メモリを含んでいる。上記コントローラは、上記ドレインドライバ及び液晶駆動電圧発生回路の動作を制御する。
【0039】
上記液晶パネルの走査線電極(ゲート電極)は、GATEドライバにより順次に選択される。液晶パネルの信号線電極(ドレイン線)は、表示データに対応した液晶駆動電圧を出力するDRAINドライバにより駆動される。液晶パネルの上記走査線電極と信号線電極の交点に設けれられた1つの画素(ピクセル)により階調表示に対応した液晶駆動電圧が入力されて1フレーム期間保持することにより、アクティブマトリックス表示動作を行う。
【0040】
つまり、液晶パネルは、アクティブTFT(薄膜トランジスタ)構成の液晶表示パネルからなり、複数の走査線電極(コモン電極)及び複数の信号線電極(セグメンド電極)の交点にTFTトランジスタにより表示電圧が加えられる液晶画素から構成される。図示しないマイクロプロセッサは、表示データを形成するものであり、所定のデータ処理を行って、その結果を上記液晶パネルに表示させるための表示データ等を生成する。
【0041】
図10には、液晶表示駆動回路の一実施例のブロック図が示されている。この液晶表示駆動回路は、前記図9の上記DRAINドライバ部に対応している。マイコンから入力された表示データは、コントローラ又は図示しないメモリ回路あるいは出力電圧制御ラッチにおいて少なくとも1走査線分の複数からなる表示データが保持されており、この発明に係るトーナメントロジック型デコーダ回路にパラレルに入力される。
【0042】
上記トーナメントロジック型デコーダ回路は、上記複数からなる表示データに対応した複数個が設けられており、表示データを解読して階調選択信号を形成する。液晶表示パネルの信号線電極(ドレイン線)に対応して設けられた階調セレクタは、階調電圧生成回路で形成された複数通りの階調電圧の中から、上記表示データに対応した階調選択信号に従って1つの階調電圧を選択し、液晶表示パネルの信号線電極(ドレイン線)に上記階調電圧を出力する。
【0043】
図11には、図10の複数の階調セレタクの内の1つの階調セレタクの一実施例の回路図が示されている。トーナメントロジック型デコーダ回路で形成された選択信号は、PチャネルMOSFETとNチャネルMOSFETからなるCMOSスイッチの相補制御信号を形成するインバータ回路N10,N11等を通して出力される。この階調セレクタを通して階調入力に対して図12に示したような電圧が出力される。このような出力階調レベルに対して、前記トーナメントロジック型デコーダ回路で形成された信号が低い場合には、上記CMOSスイッチを通して上記階調電圧が出力できないために、上記インバータ回路N10,N11等にレベル変換機能が設けられ、階調電圧に対してCMOSスイッチの選択信号のレベルが十分高くなるようにされる。
【0044】
複数の階調レベルに対して、上記NチャネルMOSFETとPチャネルMOSFETからなるCMOSスイッチが設けられ、出力側が共通接続されて液晶駆動電圧として出力される。この構成では、階調レベルを出力させる信号経路においては、上記CMOSスイッチが1個設けられる。このため、スイッチON抵抗をRとすると、表示ドライバでの出力抵抗はRのように小さくできる。このため、前記説明したようにトーナメント型のスイッチトリーで複数の階調電圧の中から1つのを選択して出力させる構成に比べて、図20の理想波形に近い液晶パネル充電電圧を得ることができ高い表示品質を得ることができる。
【0045】
図13には、この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の他の一実施例の回路図が示されている。この実施例のトーナメントロジック型デコーダ回路も、前記図6と同様に4ビットのアドレス信号A0〜A3を解読して0ないしFの16通りのデコード信号を形成する。
【0046】
この実施例では、最上ビットのアドレス信号A3は、ノアゲート回路G7,G8により選択信号(ネガ信号,ポジ信号)が形成される。上記ノアゲート回路G7,G8にはアドレス選択信号ASが供給される。この信号ASをハイレベル(論理1)とすることにより、上記ゲート回路G7とG8の信号レベルをアドレス信号A3とは無関係にロウレベル(論理0)に設定することができる。この構成は、アドレス選択信号ASをハイレベルにすることにより、全デコーダ出力0〜Fを非選択レベル(ロウレベル)にすることができる。
【0047】
この実施例では、前記図6のインバータ回路N7,N8をゲート回路G7,G8に変更するだけの簡単な構成により、デコーダ出力0〜Fを同時に全非選択状態にすることができる。この構成は、例えばメモリ回路や液晶パネルに対して全非選択状態を作り出すときに有益なものとなる。
【0048】
図14には、この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の更に他の一実施例の回路図が示されている。この実施例のトーナメントロジック型デコーダ回路も、前記図6と同様に4ビットのアドレス信号A0〜A3を解読して0ないしFの16通りのデコード信号を形成する。
【0049】
この実施例では、前記図6のアドレス信号A0〜A2に対応したインバータ回路N1〜N6をオアゲート回路G1〜G6に置き換えられ、アドレス信号A3に対応したインバータ回路N7,N8がナンドゲート回路G7,G8に置き換えられる。そして、アドレス選択信号ASは、上記ゲート回路G1〜G6に伝えられ、インバータ回路N9を介して反転されて上記ゲート回路G7とG8に伝えられる。
【0050】
この構成は、アドレス選択信号ASをハイレベル(論理1)にすると、アドレス信号A3に無関係に上記最上ビットに対応した入力ノードがハイレベル(論理1)となり、アドレス信号A0〜A2には無関係にネガ信号(N)とポジ信号(P)ともにロウレベル(論理0)となり、各単位論理回路では選択伝達PMOSがオン状態(つまり、スイッチが接続された状態)となる。そして、上記最上位ビットA3に対応した入力ノードが共にハイレベル(論理1)となるので、デコード出力信号0〜Fは全選択状態のハイレベルになる。
【0051】
この実施例では、インバータ回路をノアゲート回路とナンドゲート回路に変更するだけの簡単な構成により、デコーダ出力0〜Fを同時に全選択状態にすることができる。この構成は、例えばメモリ回路や液晶パネルに対して全選択状態を作り出すときに有益なものとなる。
【0052】
図15には、この発明が適用されるスタティック型RAMの一実施例の回路図が示されている。メモリセルは、CMOSインバータ回路の入力と出力とが交差接続されてなるラッチ回路と、かかるラッチ回路の一対の入出力ノードと相補のデータ線との間に設けられたNチャネルのアドレス選択MOSFETとから構成される。上記アドレス選択MOSFETのゲートはワード線に接続される。
【0053】
上記メモリセルは、複数の相補のデータ線対と複数のワード線との交点に設けられる。ワード線選択回路は、上記複数のワード線の中から1つのワード線の選択信号を形成する。データ線選択回路は、上記複数対のデータ線の中から一対のデータ線を選択し、図示しないセンスアンプ等の増幅回路の入力端子にデータ線の読み出し信号を伝える。あるいは、図示しない書き込みアンプで形成された書き込み信号を上記一対のデータ線に伝え、ワード線が選択されたメモリセルに上記書き込み信号を書き込む。
【0054】
図16には、図15のワード線選択回路の一実施例の回路図が示されている。この実施例は、前記図13に示した全非選択機能を持つトーナメントロジック型デコーダ回路が用いられる。図13に示したトーナメントロジック型デコーダ回路の出力部にインバータ回路からなるワードドライバが設けられて、ワード線WL0〜WL15等のようなワード駆動信号が形成される。
【0055】
この実施例では、スタティック型RAMに書き込みや読み出しも行わないデータ保持状態(スタンバイ状態)ときに、信号ASのハイレベルにより全ワード線WL0〜WL15等を非選択状態のロウレベルにすることができる。この構成は、前記図15に示したようなスタティック型RAMにおいて、メモリセルのアドレス選択MOSFETを全てオフ状態にすることができる。これにより、データ線に設けられた図示しない負荷MOSFET等から上記メモリセルを通して流れる直流電流の発生が防止でき、低消費電力化を図ることができる。
【0056】
このようなメモリ回路に含まれるすべてのデコーダ回路部に本実施例のトーナメントロジック型デコーダ回路の適用が可能であり、その結果、前記のような全非選択機能を簡単に設けることの他、素子数が削減されることの結果レイアウト面積の縮小が可能である。
【0057】
図17には、この発明が適用された携帯電話装置の一実施例のブロック図が示されている。マイク(送話器)、スピーカ(受話器)に対応して音声インターフェイスが設けられる。アンテナに対応して送信電波を出力し、受信電波を入力する高周波インターフェイスが設けられる。信号処理(ベースバンド)を行うマイクロプロセッサ、DSP(デジタル・シグナル・プロセッサ)及びASIC(論理回路)及びデータを記憶するメモリ回路が設けられる。メモリ回路は、スタティック型RAMや不揮発性メモリ(フラッシュメモリ)が用いられる。
【0058】
前記説明した液晶コントローラ(LSI)と液晶パネルが設けられて必要な表示動作が行われる。なお、ダイヤル入力や文字入力のためのスイッチ(ボタンや動作モードの切り替えを行うスイッチ(ボタン)は、ベースバンド部に含まれる。このような携帯電話装置に搭載される液晶コントローラは、液晶ドライバあるいは表示RAMにおいて、前記のようなトーナメントロジック型デコーダ回路を利用することにより、そのレイアウト面積の縮小効果が得られる。
【0059】
TFT液晶用のドレインドライバLSIでは、それぞれに選択された液晶レベルを各出力端子よりパネルに出力する為に、出力端子ごとにデコーダ回路を内蔵している。この出力端子に接続する回路は液晶駆動電圧を出力するロジックであるので、高い電圧でも動作できる素子(高耐圧素子)で構成しなければならず、通常の単位素子よりも面積が大きい。
【0060】
この発明に係るトーナメントロジック型デコーダ回路を採用することにより、この発明に先立って検討された図18に示されたようなデコーダ回路を採用した場合に比べ、出力端子部の面積を約半分に削減できる。つまり、前記図11に示した階調セレクタを用いた場合、出力のON抵抗の低減は実現されるが、デコーダ部も高耐圧で構成しなければならず、LSIのチップサイズがトーナメント方式の3倍となってしまう。通常の液晶駆動LSIでは階調セレクタ部はチップの約30%であるのでチップ全体では60%大きくなる。以上のことより、今後の液晶コントローラドライバLSIの階調セレクタには、より少数の高耐圧CMOS構造で構成できるこの発明に係るトーナメントロジック型デコーダ回路デコーダ回路が有益なものとなる。
【0061】
以上本発明者よりなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、単位論理回路の素子レアウイトは、その回路構成に応じて種々の実施形態を採ることができる。この発明は、液晶駆動LSIやスタティック型RAMのようなメモリ回路に用いられるトーナメントロジック型デコーダ回路の他、アンドゲート回路又はオアゲート回路からなるタランダム論理回路にも広く利用することができる。
【0062】
【発明の効果】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである。第1MOSFETのソース,ドレインの一方に第1入力信号を供給し、第1MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が一方のレベルにあるときに第1入力信号の他方のレベルの信号を第1MOSFETのソース,ドレインの他方から出力させ、第2MOSFETのソース,ドレインの一方に第1入力信号を供給し、第2MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が他方のレベルにあるときに第1入力信号の一方のレベルの信号を第2MOSFETのソース,ドレインの他方から出力させ、第3MOSFETのソース,ドレインの一方に与えられた第1入力信号の一方のレベルに対応した固定電位を、第3MOSFETのゲートに供給された第2入力信号が他方のレベルにあるときに第3MOSFETのソース,ドレインの他方から出力させることにより、簡単な構成で多用途に向けた単位論理回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る論理回路の一実施例を示す回路図である。
【図2】この発明に係る論理回路の他の一実施例を示す回路図である。
【図3】図1の論理回路の一実施例の素子レイアウト図である。
【図4】図1の論理回路を2個組み合わせたトーナメントロジック型デコーダ回路の一実施例の素子レイアウト図である。
【図5】図4のトーナメント分岐を3個組み合わせたトーナメントロジック型デコーダ回路の一実施例の素子レイアウト図である。
【図6】この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の一実施例を示す回路図である。
【図7】図6のトーナメントロジック型デコーダ回路の動作の一例を説明するための説明図である。
【図8】この発明に係るトーナメントロジック型とNAND型のデコーダ回路との必要なトランジスタ数の比較説明図である。
【図9】この発明が適用される液晶表示システムの一実施例を示す主要部のブロック図である。
【図10】液晶表示駆動回路の一実施例を示すブロック図である。
【図11】図10の階調セレタクの一実施例を示す回路図である。
【図12】階調と電圧との関係を説明するための特性図である。
【図13】この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の他の一実施例を示す回路図である。
【図14】この発明に係る単位論理回路を用いたトーナメントロジック型デコーダ回路の更に他の一実施例を示す回路図である。
【図15】この発明が適用されるスタティック型RAMの一実施例を示す回路図である。
【図16】図15のワード線選択回路の一実施例を示す回路図である。
【図17】この発明が適用された携帯電話装置の一実施例を示すブロック図である。
【図18】この発明に先立って検討されたデコーダ回路の回路図である。
【図19】この発明に先立って検討された階調セレタクの回路図である。
【図20】図19の階調セレクタにより選択された液晶駆動信号の波形図である。
【符号の説明】
Q1〜Q6…MOSFET、UL01〜UL24…単位論理回路、N1〜N11…インバータ回路、G1〜G8…ゲート回路。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and more particularly to a technology effective when used in a device having a built-in decoder circuit for selecting a memory cell according to an address signal or selecting a gray scale voltage according to display data.
[0002]
[Prior art]
FIG. 18 is a circuit diagram of a decoder circuit studied prior to the present invention. This decoder circuit uses a NAND (NAND) gate circuit to receive a 4-bit input signal consisting of address signals A0 to A3 and form 16 kinds of decoded output signals such as 0 to F. Each gate circuit NAND includes four pairs of P-channel MOSFETs and N-channel MOSFETs whose gates are connected to the input terminals IN1 to IN4, one of which is exemplarily shown in FIG. The P-channel MOSFETs are connected in parallel with each other, and the N-channel MOSFETs are connected in series with each other. Further, as examples of a decoder circuit used in a liquid crystal driving device, there are JP-A-10-3285 and US Pat. No. 5,719,591.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In the decoding circuit using the logic gate circuit, when the number of bits of the address signal is N bits, N × N × 2 transistors are required, and as the number of bits of the address signal increases, the number of transistors increases exponentially accordingly. In a control driver for a TFT (thin film transistor) liquid crystal display, a gray scale voltage generated by a liquid crystal power generation circuit is selected by a gray scale selection signal according to display data, and is supplied to a liquid crystal panel as a liquid crystal drive voltage. I have.
[0004]
As a gradation selector for selecting the gradation voltage, a tournament type switch tree as shown in FIG. 19 was studied in order to reduce the number of circuit elements. In this circuit, since each switch tree is controlled by a selection signal to select one of, for example, 64 gradation levels to form a liquid crystal drive voltage, the number of MOS transistors can be reduced. However, although the MOS transistor can be suppressed, in order to set the liquid crystal driving voltage terminal to a desired voltage, the ON resistance of the switch from the gradation level voltage generation amplifier to the terminal appears in series for the number of selected bits. That is, when the selection signal consists of 6 bits as in this example, one gradation voltage is selected via six pairs of CMOS switches.
[0005]
FIG. 20 shows a waveform diagram of the liquid crystal drive signal selected by the gradation selector of FIG. As shown in the figure, in the actual liquid crystal panel, the rising waveform becomes dull due to the influence of the ON resistance and the liquid crystal panel resistance in the above-mentioned switch tree in the LSI. In addition, when the size of the liquid crystal display is increased, the period of one frame is shortened, and the blunt rising waveform affects the image quality. Therefore, a reduction in output ON resistance is an essential condition for an LSI capable of increasing the screen size of a liquid crystal panel.
[0006]
An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device provided with a unit logic circuit for a versatile use with a simple configuration. Another object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device for a liquid crystal driving device having high display quality and high integration. The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The outline of a representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. A first input signal is supplied to one of a source and a drain of the first MOSFET, and when the second input signal supplied to the gate of the first MOSFET is at one level, the signal of the other level of the first input signal is supplied to the first MOSFET. And a first input signal is supplied to one of the source and the drain of the second MOSFET, and the first input signal is supplied when the second input signal supplied to the gate of the second MOSFET is at the other level. A signal of one level of the signal is output from the other of the source and the drain of the second MOSFET, and a predetermined potential corresponding to one level of the first input signal applied to one of the source and the drain of the third MOSFET is supplied to the third MOSFET. When the second input signal supplied to the gate is at the other level, the source or drain of the third MOSFET is Is output from the in the other constituting the unit logic circuits.
[0008]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of a unit logic circuit according to the present invention. This embodiment is directed to an AND gate circuit. That is, an output signal of logic 1 is formed when both input signals are logic 1 (high level), and an output signal of logic 0 is formed when one of the input signals is logic 0 (low level). . Although the logic circuit of this embodiment is not particularly limited, it is directed to a tournament logic type decoder circuit to be described later, and two input signals corresponding to the selection signal (positive or negative) complementary to the upper node. , And the output terminal is a lower node.
[0009]
In the case of adopting the positive logic in which the high level is set to logic 1 as described above, a P-channel selection signal transmission PMOS Q1 is connected between an upper node as one input terminal and an output node corresponding to the output terminal. , N-channel non-selection signal transmission NMOS Q2 are provided in parallel. An N-channel non-selected lower node fixed NMOS Q3 is provided between the ground potential of the circuit corresponding to logic 0 (non-selection level) and the output node. The gates of the P-channel MOSFET Q1 and the N-channel MOSFET Q3 are commonly connected and used as the other input terminal, to which a selection negative signal is supplied. The gate of the N-channel MOSFET Q2 is used as the other input terminal, and is supplied with a selection positive signal. Here, the selection negative signal is a negative signal among the complementary signals that are set to a low level at the time of selection, and the selection positive signal is a positive signal among the complementary signals that are set to a high level at the time of selection.
[0010]
In the figure, the unit logic circuit composed of the MOSFETs Q1 to Q3 is indicated by a simplified circuit symbol in the tournament logic type decoder circuits shown in FIGS. 6, 7, 13, 14, and 16 below. As described above, a switch, upper nodes and circuit nodes provided at both ends thereof, and switch selection signals P (positive) and N (negative) are represented.
[0011]
In FIG. 1, when one input signal supplied to the upper node is a logic 1 high level, the other input signal, the selection positive signal is a logic 1 high level and the selection negative signal is a logic 0 low level, the selection is made. The P-channel MOSFET Q1 is turned on by the low level of the negative signal, and the high level of logic 1 of one input signal supplied to the upper node is output to the output node. At this time, the N-channel MOSFET Q2 is also in the ON state due to the high level of the logic 1 of the selection positive signal, but the high level of the upper node is shifted to the output node by the threshold voltage Vth of the MOSFET Q2 and transmitted to the output node. Therefore, it is considered that the transmission of the high level of the upper node to the lower node is performed by the P-channel MOSFET Q1.
[0012]
In FIG. 1, when one input signal supplied to the upper node is a logic 1 high level, the other input signal, the selection positive signal is a logic 1 low level and the selection negative signal is a logic 0 high level, the selection is made. The high level of the negative signal turns off the P-channel MOSFET Q1, and the low level of the selected positive signal turns off the N-channel MOSFET Q2. At this time, the N-channel MOSFET Q3 is turned on by the high level of the selection negative signal, and the low level is transmitted to the lower node. That is, an output signal corresponding to logic 0 is formed between the upper node and the lower node while preventing the floating state of the output node due to the disconnection of both the MOSFETs Q1 and Q2 due to the OFF state.
[0013]
In FIG. 1, when one input signal supplied to the upper node is a logic 0 low level, the other input signal, a selection positive signal is a logic 1 high level and a selection negative signal is a logic 0 low level, The high level of the signal turns on the N-channel MOSFET Q2, and outputs a low level of logic 0 of one input signal supplied to the upper node to the output node. At this time, the P-channel MOSFET Q1 is also in the ON state due to the logic 0 low level of the selection negative signal, but the low level of the upper node is shifted by the threshold voltage Vth of the MOSFET Q1 and transmitted to the output node. Therefore, it is considered that the low level of the upper node is transmitted to the lower node by the P-channel MOSFET Q2.
[0014]
In FIG. 1, when one input signal supplied to the upper node is a logic 0 low level, the other input signal, the selection positive signal is a logic 1 low level, and the selection negative signal is a logic 0 high level, the selection negative signal is low. The high level of the signal turns off the P-channel MOSFET Q1, and the low level of the selection positive signal turns off the N-channel MOSFET Q2. At this time, the N-channel MOSFET Q3 is turned on by the high level of the selection negative signal, and the low level is transmitted to the lower node. That is, an output signal corresponding to logic 0 is formed between the upper node and the lower node while preventing the floating state of the output node due to the disconnection of both the MOSFETs Q1 and Q2 due to the OFF state.
[0015]
Thus, an AND logic circuit can be realized by combining three MOSFETs. When an AND gate circuit is formed by MOSFETs, a combination of a NAND gate circuit and an inverter circuit is used. Therefore, a 2-input circuit requires a total of 4 + 2 MOSFETs. In addition, since the signal is transmitted by the two logic stages of the NAND gate circuit and the inverter circuit, the signal propagation delay time becomes long. On the other hand, in the AND gate circuit of this embodiment, the circuit can be constituted by the three MOSFETs, and furthermore, the signal transmission is performed by the signal propagation delay time between the gate and the source of the MOSFET, so that the high speed operation is possible. Become.
[0016]
Strictly speaking, since an inverter circuit is required to generate the selection negative signal and the selection positive signal, a total of five MOSFETs are required. However, in the tournament logic type decoder circuit described later, the selection positive signal and the selection negative signal can be used in common for a plurality of logic stages, and therefore, in such a tournament logic type decoder circuit, substantially one logic circuit is used. Can be regarded as being composed of three.
[0017]
FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the logic circuit according to the present invention. This embodiment is directed to an OR gate circuit. That is, an output signal of logic 0 is formed when both input signals are logic 0 (low level), and an output signal of logic 1 is formed when one of the input signals is logic 1 (high level). . As in FIG. 1, the two input signals are selection signals (positive and negative) complementary to the upper node, and the output terminal is the lower node.
[0018]
In the circuit of this embodiment, a P-channel non-selection signal transmission PMOS Q4 and an N-channel selection signal transmission NMOS Q5 are provided between an upper node as one input terminal and an output node corresponding to the output terminal. Provided in a side-by-side configuration. Further, a PMOS Q6 for fixing the lower node when the P channel is not selected is provided between the power supply voltage VDD corresponding to logic 1 (non-selection level) and the output node. The gates of the N-channel MOSFET Q5 and the P-channel MOSFET Q6 are commonly connected and used as the other input terminal, to which a selection positive signal is supplied. The gate of the P-channel MOSFET Q4 is used as the other input terminal, and is supplied with a selection negative signal.
[0019]
In this embodiment, the logic level and the conductivity type of the MOSFET are opposite to those of the embodiment of FIG. 1, and one input signal of the upper node is logic 0 and the other input signal is logic 0, that is, the selected positive signal is high. When the selection negative signal is at the low level, logic 0 of the upper node is transmitted to the output node through MOSFET Q5. In other combinations, the logic 1 of the input node is transmitted through the P-channel MOSFET Q1 to the lower node that is the output, or the logic 1 of the power supply voltage VDD is transmitted through the N-channel MOSFET Q6 to the lower node that is the output.
[0020]
The circuit of the embodiment in FIG. 2 operates as an AND gate circuit when adopting negative logic in which the low level is logic 1. Conversely, the circuit of the embodiment of FIG. 1 operates as an OR gate circuit when adopting negative logic in which the low level is logic 1.
[0021]
FIG. 3 shows an element layout diagram of one embodiment of the circuit of the embodiment of FIG. Two N-channel MOSFETs (Q2, Q3) are formed in the P-type well region PWEL of the first conductivity type. That is, the source and drain regions corresponding to the lower node are shared, two gate electrodes of the source and drain regions are arranged, and the other source and drain regions are formed so as to sandwich the two gate electrodes, respectively. , A non-selection signal transmission NMO (Q2) and a non-selection lower node fixing NMOS (Q3). A selection signal (positive signal) is supplied to a right gate electrode corresponding to the non-selection signal transmission NMOS (Q2), and a left gate electrode corresponding to the lower node fixing NMOS (Q3) at the time of non-selection is selected. A signal (negative signal) is supplied. The substrate potential (lower ground potential) is applied to the other source and drain regions of the lower node fixing NMOS (Q3) at the time of non-selection.
[0022]
An N-type well region NWEL of the second conductivity type is provided adjacent to the N-channel MOSFET (Q2, Q3) formed in the P-type well region PWEL in the direction in which the gate electrodes extend. In the N-type well region NWEL, a pair of P-type source and drain regions and a gate electrode are formed so as to be sandwiched between the pair of source and drain regions, thereby forming a selection signal transmitting PMOS (Q1). The selection signal transmitting PMOS (Q1) and the non-selection signal transmitting NMOS (Q2) are arranged such that their gate, source, and drain regions are arranged in the extending direction of the gate electrode. The wiring forming the upper node as one input terminal and the wiring forming the lower node as the output terminal are connected with the shortest distance by a linear wiring arranged in the extending direction of the gate electrode.
[0023]
The gate electrode of the non-selected lower node fixing NMOS (Q3) to which the selection signal (negative signal) is transmitted and the gate electrode of the selection signal transmitting PMOS (Q1) are integrally formed. That is, as a result of the arrangement of the source and the drain as described above, the gate electrode of the selection signal transmission PMOS (Q1) and the gate electrode of the non-selection signal transmission NMOS (Q2) are arranged in a straight line. Therefore, the gate electrode of the selection signal transmitting PMOS (Q1) and the gate electrode of the non-selected lower node fixing NMOS (Q3) are integrally formed so as to be bent along the junction between the well regions PWEL and NWEL. Is done.
[0024]
As in this embodiment, the source and drain regions corresponding to the lower nodes of the two N-channel MOSFETs (Q2 and Q3) are shared, and the contact region therefor can be shared. Although the logic circuit is configured, the circuit elements can be efficiently arranged.
[0025]
FIG. 4 shows an element layout diagram of an embodiment directed to a tournament logic type decoder circuit by combining two embodiments of the embodiment of FIG. This embodiment is directed to one tournament branch (mountain) in which two lower nodes are provided for one input node. In this embodiment, the upper node is shared by the two unit logic circuits. That is, the gate electrode, the source, and the drain region are arranged in a mirror image relationship (mirror) with the connection wiring corresponding to the upper node as a center. As a result, a total of six MOSFETs can be efficiently arranged.
[0026]
FIG. 5 shows an element layout diagram of one embodiment directed to a tournament logic type decoder circuit in which three tournament branches (mountains) in FIG. 4 are combined. In this embodiment, a 2-bit decoder circuit is configured by combining the three tournament branches (mountains). The two unit theory and other circuits corresponding to the highest node are the same as those in the embodiment of FIG. Two tournament branches (mountains) of the next bit having the output nodes of these two unit logic circuits as input nodes are provided in the same manner as described above. Also in this configuration, since the unit logic circuits are arranged so as to have a mirror image relationship, element arrangement can be performed efficiently.
[0027]
FIG. 6 is a circuit diagram showing one embodiment of a tournament logic type decoder circuit using a unit logic circuit according to the present invention. In the tournament logic type decoder circuit of this embodiment, 16-bit decode signals 0 to F are formed by decoding 4-bit address signals A0 to A3.
[0028]
In this embodiment, the address signal A3 of the most significant bit is directly output as an inverted signal (negative signal) and a non-inverted signal (positive signal) by the two inverter circuits N7 and N8 connected in series. The negative signal and the positive signal are used as they are as the signals of the input nodes of the unit logic circuits UL21 to UL24 that receive the selection signal (positive signal, negative signal) formed by the address signal A2. That is, the negative signal corresponding to the address signal A3 is transmitted to the input node of the tournament branch unit logic circuit including the two unit logic circuits UL21 and UL22. The positive signal corresponding to the address signal A3 is transmitted to the input node of the tournament branch unit logic circuit including the two unit logic circuits UL23 and UL24.
[0029]
An output node of the unit logic circuit UL21 using the address signal A2 as a selection signal is transmitted to an input node of a tournament branch unit logic circuit including two unit logic circuits UL11 and UL12 using the lower address signal A1 as a selection signal. Similarly, the output nodes of the unit logic circuits UL22 to UL24 also include three tournament branch units each including two unit logic circuits UL13 and UL14, UL15 and UL16, and UL17 and UL18 each using the lower address signal A1 as a selection signal. It is transmitted to each input node of the logic circuit. As for the address signals A0 to A2, selection signals (negative signal and positive signal) are formed by inverter circuits N1, N2 to N5 and N6, respectively.
[0030]
The output node of the unit logic circuit UL11 using the address signal A1 as a selection signal is connected to the input node of a tournament branch unit logic circuit including two unit logic circuits UL01 and UL02 using the lowest address signal A0 as a selection signal. Reportedly. The output nodes of the remaining seven unit logic circuits UL12 to UL18 are also provided with two unit logic circuits, respectively. As a result, the unit logic circuit using the address signal A0 of the least significant bit as the selection signal is composed of 16 units such as UL01 to UL0F, and outputs 16 kinds of decode signals such as 0 to F from each.
[0031]
In the tournament logic type decoder circuit system of this embodiment, the unit logic circuit shown in FIG. 1 in which the highest address is an input signal and the following address signal is a control signal is arranged in a tournament type. A lower node of a unit logic circuit controlled by an address is used as a decode output.
[0032]
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining an example of the operation of the tournament logic type decoder circuit of FIG. In this embodiment, the state of each node when (0110) is input as the address signals A3 to A0 is shown. As shown in the figure, only the selected address outputs a positive signal as indicated by a solid black line, and the other signals are fixed to negative signals in some form as indicated by hatching, although the number of stages is different.
[0033]
In this embodiment, as the selection signal, the high level of the inverted signal of the address signal A3 due to the logic 0 is the selection transmission path of the unit logic circuit according to the logic 1 of the address signal A2 as indicated by the thick solid line, and the logic of the address signal A1. A high-level selection signal is output from the decode output 6 through a selection signal transmission path of the unit logic circuit based on 1 and a selection signal transmission path of the unit logic circuit based on the logic 0 of the address signal A0.
[0034]
On the other hand, in the decode output 0, the low level formed by the non-selected circuit node fixed NMOS formed by the address signal A1 is output through the selection signal transmission path of the unit logic circuit based on the logic 0 of the address signal A0. . Such a signal path is the same for the decode outputs 4, 8, and C. As the decode output 1, a low level formed by the non-selected circuit node fixed NMOS formed by the address signal A0 is output. In such a signal path, the decode outputs 3, 5, 9, C, and F are similar. The decode output 2 has a low level formed by the non-selected circuit node fixed NMOS formed by the address signal A2, the unit signal transmission path of the unit logic circuit based on the logic 1 of the address signal A1, and the unit based on the logic 0 of the address signal A0. It is output through the selection signal transmission path of the logic circuit. Such a signal path is the same for the decode output A.
[0035]
The decode output E is a selection signal that has a low level of a non-inverted signal based on logic 0 of the address signal A3, a selection transmission path of the unit logic circuit based on logic 1 of the address signal A2, and a selection transmission path of the unit logic circuit based on logic 1 of the address signal A1. The decode output 6 is output as a low-level non-selection signal through the selection signal transmission path and the selection signal transmission path of the unit logic circuit based on the logic 0 of the address signal A0.
[0036]
The basic operation of this circuit is that regardless of the increase in the number of bits of the address signal, even when the number of bits is increased, a decoder circuit can be realized only by adding a unit logic circuit of the least significant bit of the tournament. In this case, the number of transistors of the N-bit decoder circuit is about 56% for 5 bits, about 48% for 6 bits, and 7 bits when the NAND type is adopted as shown in FIG. The effect increases as the number of bits increases, for example, about 42% for 8 bits and about 37% for 8 bits. That is, the effect of reducing the number of elements increases. In addition, the decoder selection speed is higher than that in the case where a NAND circuit is used for both the selected and unselected addresses, so that the decoder circuit has equal or higher performance.
[0037]
FIG. 9 is a block diagram of a main part of one embodiment of a liquid crystal display system to which the present invention is applied. The display system of this embodiment includes a microprocessor (not shown) for generating display data, a TFT drain driver LSI, a GATE (gate) driver, and a liquid crystal panel.
[0038]
Although not particularly limited, the TFT drain driver LSI is constituted by one semiconductor integrated circuit device, and a liquid crystal driving voltage generating circuit (display voltage) for supplying a voltage (display voltage) used for driving a liquid crystal panel. Generating circuit), a liquid crystal driver (DRAIN driver) for driving a liquid crystal panel based on the liquid crystal driving voltage, an output voltage control switch, a controller, and a memory. The controller controls operations of the drain driver and the liquid crystal drive voltage generation circuit.
[0039]
The scanning line electrodes (gate electrodes) of the liquid crystal panel are sequentially selected by a GATE driver. A signal line electrode (drain line) of the liquid crystal panel is driven by a DRAIN driver that outputs a liquid crystal driving voltage corresponding to display data. An active matrix display operation is performed by inputting a liquid crystal driving voltage corresponding to gray scale display by one pixel provided at the intersection of the scanning line electrode and the signal line electrode of the liquid crystal panel and holding it for one frame period. I do.
[0040]
That is, the liquid crystal panel is composed of a liquid crystal display panel having an active TFT (thin film transistor) configuration, and a display voltage is applied by a TFT transistor to an intersection of a plurality of scanning line electrodes (common electrodes) and a plurality of signal line electrodes (segment electrodes). It is composed of pixels. A microprocessor (not shown) forms display data, performs predetermined data processing, and generates display data and the like for displaying the result on the liquid crystal panel.
[0041]
FIG. 10 is a block diagram showing one embodiment of the liquid crystal display drive circuit. This liquid crystal display driving circuit corresponds to the DRAIN driver section shown in FIG. In the display data input from the microcomputer, a plurality of display data for at least one scanning line is held in a controller or a memory circuit (not shown) or an output voltage control latch, and the display data is supplied in parallel to the tournament logic type decoder circuit according to the present invention. Is entered.
[0042]
A plurality of the tournament logic type decoder circuits are provided corresponding to the plurality of display data, and decode the display data to form a gradation selection signal. The gray scale selector provided corresponding to the signal line electrode (drain line) of the liquid crystal display panel selects a gray scale corresponding to the display data from a plurality of gray scale voltages formed by the gray scale voltage generation circuit. One gradation voltage is selected according to the selection signal, and the gradation voltage is output to the signal line electrode (drain line) of the liquid crystal display panel.
[0043]
FIG. 11 shows a circuit diagram of one embodiment of one of the plurality of gradation selectors of FIG. The selection signal formed by the tournament logic type decoder circuit is output through inverter circuits N10, N11, etc., which form complementary control signals for a CMOS switch composed of a P-channel MOSFET and an N-channel MOSFET. A voltage as shown in FIG. 12 is output to the gradation input through this gradation selector. If the signal generated by the tournament logic type decoder circuit is lower than such an output gray level, the gray scale voltage cannot be output through the CMOS switch, so that the inverter circuits N10, N11, etc. A level conversion function is provided so that the level of the selection signal of the CMOS switch is sufficiently higher than the gradation voltage.
[0044]
A CMOS switch composed of the N-channel MOSFET and the P-channel MOSFET is provided for a plurality of gradation levels, and the output side is connected in common and output as a liquid crystal drive voltage. In this configuration, one CMOS switch is provided in the signal path for outputting the gradation level. For this reason, if the switch ON resistance is R, the output resistance of the display driver can be reduced to R. Therefore, it is possible to obtain a liquid crystal panel charging voltage close to the ideal waveform in FIG. 20 as compared with the configuration in which one of a plurality of gray scale voltages is selected and output by the tournament type switch tree as described above. High display quality can be obtained.
[0045]
FIG. 13 is a circuit diagram of another embodiment of a tournament logic type decoder circuit using a unit logic circuit according to the present invention. The tournament logic type decoder circuit of this embodiment also decodes the 4-bit address signals A0 to A3 in the same manner as in FIG. 6 to form 16 decode signals 0 to F.
[0046]
In this embodiment, the NOR gate circuits G7 and G8 form selection signals (negative signal and positive signal) for the address signal A3 of the most significant bit. An address selection signal AS is supplied to the NOR gate circuits G7 and G8. By setting the signal AS to a high level (logic 1), the signal levels of the gate circuits G7 and G8 can be set to a low level (logic 0) independently of the address signal A3. In this configuration, by setting the address selection signal AS to a high level, all the decoder outputs 0 to F can be set to a non-selection level (low level).
[0047]
In this embodiment, the decoder outputs 0 to F can be simultaneously all unselected by a simple configuration in which the inverter circuits N7 and N8 in FIG. 6 are changed to the gate circuits G7 and G8. This configuration is useful, for example, when creating a completely unselected state for a memory circuit or a liquid crystal panel.
[0048]
FIG. 14 is a circuit diagram of still another embodiment of the tournament logic type decoder circuit using the unit logic circuit according to the present invention. The tournament logic type decoder circuit of this embodiment also decodes the 4-bit address signals A0 to A3 in the same manner as in FIG. 6 to form 16 decode signals 0 to F.
[0049]
In this embodiment, the inverter circuits N1 to N6 corresponding to the address signals A0 to A2 in FIG. 6 are replaced with OR gate circuits G1 to G6, and the inverter circuits N7 and N8 corresponding to the address signal A3 are connected to the NAND gate circuits G7 and G8. Be replaced. Then, the address selection signal AS is transmitted to the gate circuits G1 to G6, inverted by the inverter circuit N9, and transmitted to the gate circuits G7 and G8.
[0050]
In this configuration, when the address selection signal AS is set to a high level (logic 1), the input node corresponding to the most significant bit is set to a high level (logic 1) regardless of the address signal A3, and regardless of the address signals A0 to A2. Both the negative signal (N) and the positive signal (P) become low level (logic 0), and the selection transmission PMOS is turned on (ie, the switch is connected) in each unit logic circuit. Since the input nodes corresponding to the most significant bit A3 are both at the high level (logic 1), the decode output signals 0 to F are at the high level in the all-selected state.
[0051]
In this embodiment, the decoder outputs 0 to F can be all selected at the same time by a simple configuration in which the inverter circuit is changed to the NOR gate circuit and the NAND gate circuit. This configuration is useful, for example, when creating an all-selected state for a memory circuit or a liquid crystal panel.
[0052]
FIG. 15 is a circuit diagram showing one embodiment of a static RAM to which the present invention is applied. The memory cell includes a latch circuit in which an input and an output of a CMOS inverter circuit are cross-connected, an N-channel address selection MOSFET provided between a pair of input / output nodes of the latch circuit and a complementary data line. Consists of The gate of the address selection MOSFET is connected to a word line.
[0053]
The memory cell is provided at an intersection between a plurality of complementary data line pairs and a plurality of word lines. The word line selection circuit forms a selection signal for one of the plurality of word lines. The data line selection circuit selects a pair of data lines from the plurality of pairs of data lines and transmits a read signal of the data line to an input terminal of an amplifier circuit such as a sense amplifier (not shown). Alternatively, a write signal formed by a write amplifier (not shown) is transmitted to the pair of data lines, and the write signal is written to a memory cell whose word line is selected.
[0054]
FIG. 16 is a circuit diagram of one embodiment of the word line selection circuit of FIG. In this embodiment, the tournament logic type decoder circuit having all non-selection functions shown in FIG. 13 is used. A word driver composed of an inverter circuit is provided at an output portion of the tournament logic type decoder circuit shown in FIG. 13, and word drive signals such as word lines WL0 to WL15 are formed.
[0055]
In this embodiment, in the data holding state (standby state) in which neither writing nor reading is performed in the static RAM, all the word lines WL0 to WL15 can be set to the non-selected low level by the high level of the signal AS. With this configuration, in the static RAM as shown in FIG. 15, all the address selection MOSFETs of the memory cells can be turned off. As a result, it is possible to prevent the generation of a direct current flowing through the memory cell from a load MOSFET or the like (not shown) provided on the data line, thereby achieving low power consumption.
[0056]
The tournament logic type decoder circuit of the present embodiment can be applied to all decoder circuit portions included in such a memory circuit. As a result, in addition to the simple provision of the above all non-selection function, the element As a result, the layout area can be reduced.
[0057]
FIG. 17 is a block diagram showing one embodiment of a mobile phone device to which the present invention is applied. A voice interface is provided corresponding to a microphone (transmitter) and a speaker (receiver). A high-frequency interface for outputting a transmission radio wave and inputting a reception radio wave is provided corresponding to the antenna. A microprocessor for performing signal processing (baseband), a DSP (digital signal processor) and an ASIC (logic circuit) and a memory circuit for storing data are provided. As the memory circuit, a static RAM or a nonvolatile memory (flash memory) is used.
[0058]
The above-described liquid crystal controller (LSI) and the liquid crystal panel are provided to perform necessary display operations. Note that a switch (button or a switch (button) for switching an operation mode) for dial input or character input is included in the baseband unit. A liquid crystal controller mounted on such a mobile phone device includes a liquid crystal driver or By using the tournament logic type decoder circuit in the display RAM, the layout area can be reduced.
[0059]
The drain driver LSI for the TFT liquid crystal has a built-in decoder circuit for each output terminal in order to output the liquid crystal level selected respectively to the panel from each output terminal. Since the circuit connected to this output terminal is a logic for outputting a liquid crystal drive voltage, it must be configured with an element (high breakdown voltage element) that can operate even at a high voltage, and has a larger area than a normal unit element.
[0060]
By employing the tournament logic type decoder circuit according to the present invention, the area of the output terminal portion is reduced to about half of the case where the decoder circuit as shown in FIG. 18 studied prior to the present invention is employed. it can. That is, when the gradation selector shown in FIG. 11 is used, the ON resistance of the output can be reduced, but the decoder must also be configured with a high withstand voltage. It will be doubled. In a normal liquid crystal driving LSI, the gradation selector section is about 30% of the chip, so that the entire chip is 60% larger. As described above, the tournament logic type decoder circuit according to the present invention, which can be configured with a smaller number of high-withstand-voltage CMOS structures, will be useful for the gradation selector of the future liquid crystal controller driver LSI.
[0061]
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiment, the invention of the present application is not limited to the embodiment, and it is needless to say that various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Nor. For example, the element rare widget of the unit logic circuit can adopt various embodiments according to the circuit configuration. The present invention can be widely used not only for a tournament logic type decoder circuit used for a memory circuit such as a liquid crystal driving LSI or a static RAM, but also for a tarrandom logic circuit including an AND gate circuit or an OR gate circuit.
[0062]
【The invention's effect】
The following is a brief description of an effect obtained by a representative one of the inventions disclosed in the present application. A first input signal is supplied to one of a source and a drain of the first MOSFET. When the second input signal supplied to the gate of the first MOSFET is at one level, a signal of the other level of the first input signal is supplied to the first MOSFET. , And a first input signal is supplied to one of the source and the drain of the second MOSFET, and the first input signal is supplied when the second input signal supplied to the gate of the second MOSFET is at the other level. A signal of one level of the signal is output from the other of the source and the drain of the second MOSFET, and a fixed potential corresponding to one level of the first input signal applied to one of the source and the drain of the third MOSFET is applied to the third MOSFET. When the second input signal supplied to the gate is at the other level, the other of the source and drain of the third MOSFET By et output, it is possible to obtain a unit logic circuits for the versatile with a simple structure.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of a logic circuit according to the present invention.
FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the logic circuit according to the present invention.
FIG. 3 is an element layout diagram of one embodiment of the logic circuit of FIG. 1;
4 is an element layout diagram of one embodiment of a tournament logic type decoder circuit in which two logic circuits of FIG. 1 are combined.
5 is an element layout diagram of one embodiment of a tournament logic type decoder circuit in which three tournament branches in FIG. 4 are combined.
FIG. 6 is a circuit diagram showing one embodiment of a tournament logic type decoder circuit using a unit logic circuit according to the present invention.
FIG. 7 is an explanatory diagram for explaining an example of the operation of the tournament logic type decoder circuit of FIG. 6;
FIG. 8 is a comparative explanatory diagram of the required number of transistors in the tournament logic type and NAND type decoder circuits according to the present invention.
FIG. 9 is a block diagram of a main part showing an embodiment of a liquid crystal display system to which the present invention is applied.
FIG. 10 is a block diagram showing one embodiment of a liquid crystal display drive circuit.
FIG. 11 is a circuit diagram showing one embodiment of a gradation selector of FIG. 10;
FIG. 12 is a characteristic diagram for explaining the relationship between gradation and voltage.
FIG. 13 is a circuit diagram showing another embodiment of the tournament logic type decoder circuit using the unit logic circuit according to the present invention.
FIG. 14 is a circuit diagram showing still another embodiment of the tournament logic type decoder circuit using the unit logic circuit according to the present invention.
FIG. 15 is a circuit diagram showing one embodiment of a static RAM to which the present invention is applied.
FIG. 16 is a circuit diagram showing one embodiment of the word line selection circuit of FIG. 15;
FIG. 17 is a block diagram showing one embodiment of a mobile phone device to which the present invention is applied.
FIG. 18 is a circuit diagram of a decoder circuit studied prior to the present invention.
FIG. 19 is a circuit diagram of a gradation selector that has been studied prior to the present invention.
20 is a waveform diagram of a liquid crystal drive signal selected by the gradation selector of FIG.
[Explanation of symbols]
Q1 to Q6: MOSFET, UL01 to UL24: Unit logic circuit, N1 to N11: Inverter circuit, G1 to G8: Gate circuit.

Claims (9)

ソース又はドレインの一方に第1入力信号が供給され、ゲートに第2入力信号が供給され、第2入力信号が一方のレベルにあるときに上記第1入力信号の他方のレベルの信号を上記ソース又はドレインの他方から出力ノードに出力させる第1導電型の第1MOSFETと、
ソース又はドレインの一方に上記第1入力信号が供給され、ゲートに上記第2入力信号の反転信号が供給され、上記第2入力信号が他方のレベルにあるときに上記第1入力信号の一方のレベルの信号を上記ソース又はドレインの他方から上記出力ノードに出力させる第2導電型の第2MOSFETと、
ソース又はドレインの一方に上記第1入力信号の一方のレベルの信号に対応した所定電位が与えられ、ゲートに上記第2入力信号が供給され、かかる第2入力信号が他方のレベルにあるときに上記所定電位を上記出力ノードに伝る第2導電型の第3MOSFETとかなる単位論理回路を備えてなることを特徴とする半導体集積回路装置。
A first input signal is supplied to one of a source and a drain, a second input signal is supplied to a gate, and when the second input signal is at one level, a signal at the other level of the first input signal is supplied to the source. Or a first MOSFET of a first conductivity type for outputting to the output node from the other of the drains;
One of the source and the drain is supplied with the first input signal, the gate is supplied with an inverted signal of the second input signal, and the other of the first input signal when the second input signal is at the other level. A second MOSFET of a second conductivity type for outputting a level signal from the other of the source or the drain to the output node;
When a predetermined potential corresponding to a signal of one level of the first input signal is applied to one of a source and a drain, and the second input signal is supplied to a gate, and the second input signal is at the other level, A semiconductor integrated circuit device comprising a unit logic circuit such as a third MOSFET of a second conductivity type that transmits the predetermined potential to the output node.
請求項1において、
上記第1MOSFETはPチャネル型であり、上記第1入力信号の他方のレベルは正の電源電圧であり、
上記第2MOSFETと第3MOSFETはNチャネル型であり、上記第1入力信号の一方のレベルは回路の接地電位であることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 1,
The first MOSFET is a P-channel type, the other level of the first input signal is a positive power supply voltage,
2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the second MOSFET and the third MOSFET are N-channel type, and one level of the first input signal is a circuit ground potential.
請求項1において、
上記第1MOSFETはNチャネル型であり、上記第1入力信号の他方のレベルは回路の接地電位であり、
上記第2MOSFETと第3MOSFETはPチャネル型であり、上記第1入力信号の一方のレベルは正の電源電圧であることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 1,
The first MOSFET is an N-channel type, the other level of the first input signal is a circuit ground potential,
2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the second MOSFET and the third MOSFET are P-channel type, and one level of the first input signal is a positive power supply voltage.
請求項1において、
上記第2入力信号は、2進の重みを持つ相補信号であり、
2個の上記単位論理回路を1組として上記第2入力信号が相補的に供給され、
上記2個の単位論理回路の入力ノードには、上記第1入力信号が共通に供給され、それぞれの単位論理回路の出力ノードは、下位ビットの第2入力信号に対応した2個の上記単位論理回路の入力ノードと接続されるものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 1,
The second input signal is a complementary signal having a binary weight,
The second input signal is supplied complementarily as a set of two unit logic circuits,
The input nodes of the two unit logic circuits are supplied with the first input signal in common, and the output nodes of each unit logic circuit are connected to the two unit logic circuits corresponding to the second input signal of lower bits. A semiconductor integrated circuit device connected to an input node of a circuit.
請求項4において、
複数ビットからなる上記第2入力信号のうち最上位ビットの信号は、相補信号のうちの一方の信号が2個の上記単位論理回路に第1入力信号として伝えられ、他方の信号が2個の上記単位論理回路に第1入力信号として伝えられ、
かかる4個の単位論理回路に対して、上記最上位ビットの次位ビットの2進信号が上記第2入力信号として供給されるものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 4,
As for the signal of the most significant bit of the second input signal composed of a plurality of bits, one of the complementary signals is transmitted to the two unit logic circuits as the first input signal, and the other signal is the two input signals. Transmitted to the unit logic circuit as a first input signal,
A semiconductor integrated circuit device, wherein a binary signal of a bit next to the most significant bit is supplied as the second input signal to the four unit logic circuits.
請求項5において、
上記再上位ビットの信号は、制御信号により上記相補信号が強制的に同相信号に設定されるものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 5,
The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the signal of the upper-order bit is a signal in which the complementary signal is forcibly set to an in-phase signal by a control signal.
請求項5において
複数ビットからなる上記第2入力信号は、制御信号により上記相補信号が強制的に同相信号に設定されるものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
6. The semiconductor integrated circuit device according to claim 5, wherein in the second input signal having a plurality of bits, the complementary signal is forcibly set to an in-phase signal by a control signal.
請求項6において、
上記単位論理回路は、メモリ回路に供給されるアドレス信号を解読してワード線又はビット線の選択信号を形成するデコーダ回路を構成するものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 6,
A semiconductor integrated circuit device, wherein the unit logic circuit constitutes a decoder circuit that decodes an address signal supplied to a memory circuit to form a word line or bit line selection signal.
請求項7において、
上記単位論理回路は、表示データに対応して複数の階調電圧中の1つを選択する選択スイッチの選択信号を形成するデコーダ回路を構成するものであることを特徴とする半導体集積回路装置。
In claim 7,
A semiconductor integrated circuit device, wherein the unit logic circuit constitutes a decoder circuit for forming a selection signal of a selection switch for selecting one of a plurality of gray scale voltages in accordance with display data.
JP2002213272A 2002-07-23 2002-07-23 Semiconductor integrated circuit device Pending JP2004055939A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002213272A JP2004055939A (en) 2002-07-23 2002-07-23 Semiconductor integrated circuit device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002213272A JP2004055939A (en) 2002-07-23 2002-07-23 Semiconductor integrated circuit device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004055939A true JP2004055939A (en) 2004-02-19

Family

ID=31935912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002213272A Pending JP2004055939A (en) 2002-07-23 2002-07-23 Semiconductor integrated circuit device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004055939A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008023402A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Fujitsu Limited Decode circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008023402A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Fujitsu Limited Decode circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102043222B1 (en) Apparatuses, memories, and methods for address decoding and selecting an access line
US6643173B2 (en) Semiconductor memory device operating in low power supply voltage and low power consumption
JP2501993B2 (en) Semiconductor memory device
KR19980021468A (en) Semiconductor memory device
TW200832441A (en) Dynamic word line drivers and decoders for memory arrays
JP3904970B2 (en) Semiconductor memory device
TWI415137B (en) Local word line driver
JP2008191442A (en) Display driver ic
US5311479A (en) Semiconductor memory device having a CMOS decoding circuit
US20060132227A1 (en) MOS type semiconductor integrated circuit device
KR970051299A (en) Word Driver Circuit and Memory Circuit Using the Same
JP4007823B2 (en) Semiconductor memory device
US6369617B1 (en) Semiconductor integrated circuit and semiconductor logic circuit used in the integrated circuit
US6741493B1 (en) Split local and continuous bitline requiring fewer wires
JP2004055939A (en) Semiconductor integrated circuit device
KR970016535A (en) Address decoder
US7378879B1 (en) Decoding systems and methods
JP3265291B2 (en) Output buffer circuit and semiconductor integrated circuit
JP2005149694A (en) Data input/output buffer and semiconductor memory device using the buffer
JPH09270197A (en) Semiconductor memory and layout/circuit information generating device
JP2015057872A (en) Reconfigurable logic device
US6570811B1 (en) Writing operation control circuit and semiconductor memory using the same
JP3550168B2 (en) Semiconductor storage device
US6125074A (en) Semiconductor memory device having a small memory cell driving circuit
JPH09284122A (en) Semiconductor integrated circuit device

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20040310

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050701

A977 Report on retrieval

Effective date: 20080218

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20080221

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Effective date: 20080625

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02