JP2004045675A - 液晶パネル検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を提供する。
【解決手段】検査対象の液晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルに所定の検査画像を形成するパターン発生部と、前記液晶パネルで光学的な変調を施された光をスクリーンに投射する投射光学部と、前記スクリーン上の画像を検出する第1のカメラとを具備する液晶パネル検査装置において、
前記スクリーン上の画像の少なくとも一部を撮像し前記第1のカメラよりフレームレートが高い第2のカメラと、この第2のカメラからの信号に基づき前記投射光学部の焦点調整を行う焦点調整部とを具備したことを特徴とする液晶パネル検査装置である。
【選択図】 図1
【解決手段】検査対象の液晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルに所定の検査画像を形成するパターン発生部と、前記液晶パネルで光学的な変調を施された光をスクリーンに投射する投射光学部と、前記スクリーン上の画像を検出する第1のカメラとを具備する液晶パネル検査装置において、
前記スクリーン上の画像の少なくとも一部を撮像し前記第1のカメラよりフレームレートが高い第2のカメラと、この第2のカメラからの信号に基づき前記投射光学部の焦点調整を行う焦点調整部とを具備したことを特徴とする液晶パネル検査装置である。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は、従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、例えば、特開平11−174398に示されている。
図において、2は検査対象である液晶パネル1に光を照射するランプである。
【0003】
4は液晶パネル1の透過光を所定位置に設置されたスクリーン3上に投射する投射光学部である。
投射光学部4は、レンズ401単独または複数枚のレンズの組合せよりなり、液晶パネル1を透過(変調)した透過光をスクリーン3上に投射させるように構成されている。
【0004】
5はスクリーン3上の像の輝度分布を検出する視野角∂のCCDカメラである。6は液晶パネル1を所定の検査パターンて駆動する検査パターン発生部である。
7は、検査パターンとCCDカメラ5による検出結果とを参照して、液晶パネル1の点欠陥の存在の有無を判定する欠陥判定部である。
【0005】
以上の構成において、ランプ2からの光が照射されている検査対象である液晶パネル1は、検査パターン発生部6からの制御信号に基づいて、所定の検査パターン(画素毎のオン・オフパターン)になるように、ランプ2からの光を変調する。
【0006】
この制御信号に基づいて駆動された液晶パネル1にて形成されたオン・オフパターンは、レンズ401(投射光学部4)によってスクリーン3上に投射される。
CCDカメラ5は、このスクリーン3上の投射像を、輝度情報として取り込んで欠陥判定部7に与える。
【0007】
欠陥判定部7は、与えられた輝度情報と検査パターンとを比較して、液品パネル1が所定のパターンを形成するように構成されているか否かを判定し所定のパターンをスクリーン7に投射している場合には正常と判定する。
【0008】
一方、所定のパターンをスクリーン7に投射していない場含には異常、即ち、欠陥画素が存在するとして検査対象である液晶パネル1の検査を行う。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような装置においては、以下の間題点がある。
(1)被検査素子の像をスクリーン面に正確に結像させる必要がある。例えば、投射レンズと被検査素子の距離は基準値±5μm程度にあわせる必要がある。
【0010】
(2)被検査素子を検査装置の中に挿入する機構が必要であるが、挿入機構は機械的に上記の精度、再現性を保つのは困難である。
(3)液晶パネル1のガラスの厚さのばらつきにより、液晶パネル部分の光軸方向の位置がずれる。
【0011】
(4)従って、投射レンズの焦点合わせの機構が必要である。
(5)一方、単一の画素欠陥まで検出するためには、画質検査用のCCDカメラ5の解像度は、被検査液晶パネルの解像度の4倍(縦横2倍)以上必要である。
例えば、XGA(横1024×768画素)の液晶パネルの検査には、400万画素のCCDカメラを用いる必要がある。
【0012】
CCDカメラ5から欠陥判定部(コンピュータ)7に取り込むのに、必要な時間は画素数に比例する。
400万画素のカメラの場合には、露光とデータ取り込みで約1秒程度の時間が必要である。
【0013】
(6)通常、焦点合わせには10枚程度の画像を撮像する必要があるため、焦点合わせの時間は10秒程度必要になる。
(7)生産ラインにおいては検査の高速化が大変重要であり、上記の時間は少しでも減らしたいという要求がある。
【0014】
本発明の目的は、上記の課題を解決するもので、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を提供することにある。
即ち、焦点調整用に画像取り込みが高速なカメラを用いることによって焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明では、請求項1記載の液晶パネル検査装置においては、
検査対象の液晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルに所定の検査画像を形成するパターン発生部と、前記液晶パネルで光学的な変調を施された光をスクリーンに投射する投射光学部と、前記スクリーン上の画像を検出する第1のカメラとを具備する液晶パネル検査装置において、
前記スクリーン上の画像の少なくとも一部を撮像し前記第1のカメラよりフレームレートが高い第2のカメラと、この第2のカメラからの信号に基づき前記投射光学部の焦点調整を行う焦点調整部とを具備したことを特徴とする。
【0016】
本発明の請求項2においては、請求項1記載の液晶パネル検査装置において、前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の前記スクリーン面内での回転ずれを前記第1のカメラを回転して調整する回転調整部を具備したことを特徴とする。
【0017】
本発明の請求項3においては、請求項1又は請求項2記載の液晶パネル検査装置において、
前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の大きさを調整するズーム調整部を具備したことを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図1は本発明の一実施例の要部構成説明図である。
図において、図2と同一記号の構成は同一機能を表す。
以下、図2と相違部分のみ説明する。
【0019】
11は、スクリーン3上の画像の少なくとも一部を撮像し、第1のカメラ5よりフレームレートが高い第2のカメラである。
この場合は、NTSCカメラが使用されている。
【0020】
12は、この第2のカメラ11からの信号に基づき、投射光学部4の焦点調整を行う焦点調整部である。
13は、第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の、スクリーン面内での回転ずれを、第1のカメラ5を回転して調整する回転調整部である。
【0021】
14は、第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の大きさを調整するズーム調整部である。
【0022】
以上の構成において、検査用の高解像度カメラ5ではなく、別のフレームレートの高い第2のカメラ11で投射映像を取り込みながらフォーカス調整を行う。
【0023】
第2のカメラ11としては、例えば、NTSCカメラなどが使用される。NTSCカメラの画像取り込みにかかる時間は約1/30秒である。
NTSCカメラは、投射画像の一部または全体を撮像できるように設置し、あらかじめスクリーン3に焦点が合うように調整しておく。
【0024】
被検査素子(液晶パネル)に、検査パターン発生部6から信号を与えて、コントラストの高い画像(黒バックに白い輝点を表示等)をスクリーン3に投射する。
回転調整部13により、投射レンズ401のフォーカスリングを少しづつ動かしながら、NTSCカメラの撮影画像のコントラストが最大となる位置を見つけて、その位置に投射レンズ401を固定する。
【0025】
投射レンズ401のズームや像のスクリーン上での位置、回転等を調整することもできる。
ズームの調整時には、例えば四隅に点を表示し、撮影画像上でのそれぞれの点の距離が規定の値になるようにズーム調整部を回転させる。
【0026】
投射された像がスクリーン3面内で回転している場合に、高解像度カメラ5で入力した画像に画像処理で数値的に回転処理を施すこともできるが、400万画素等の高解像度画像の回転処理には、計算に数秒〜数10秒の処理時間が必要になる。その時間を短縮するために、高解像度カメラ5を、回転調整部13によりモータ等で回転させて、高解像度カメラ5自体の回転により調整する。
【0027】
この結果、
(1)画像検査用カメラ5で焦点合わせを行う場合には、例えば、調整に10秒以上かかっていたが、本発明によると焦点合わせが1秒以内で可能な液晶パネル検査装置が得られる。
従って、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0028】
(2)第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の、スクリーン3面内での回転ずれを、第1のカメラ5を回転して調整する回転調整部13が設けられたので、回転調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0029】
(3)第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の大きさを調整するズーム調整部14が設けられたので、ズーム調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0030】
なお、前述の実施例においては、被検査素子として、液晶パネルに付いて、説明したが、これに限ることはなく、投射型の表示素子の検査装置、あるいは、投射型の表示素子を用いたプロジェクタ装置の検査にも適用できることは勿論である。
更に、デジタルミラーデバイス、CRTプロジェクタ装置にも適用できることは勿論である。
【0031】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【0032】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の請求項1によれば、次のような効果がある。
焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0033】
本発明の請求項2によれば、次のような効果がある。
第1のカメラに設けられ、スクリーン上の画像の、スクリーン面内での回転ずれを、第1のカメラを回転して調整する回転調整部が設けられたので、回転調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0034】
本発明の請求項3によれば、次のような効果がある。
第1のカメラに設けられ、スクリーン上の画像の大きさを調整するズーム調整部が設けられたので、ズーム調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0035】
従って、本発明によれば、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】従来より一般に使用されている従来例の要部構成説明図である。
【符号の説明】
1 液晶パネル
2 ランプ
3 スクリーン
4 投射光学部
401 レンズ
5 CCDカメラ
6 検査パターン発生部
7 欠陥判定部
11 第2のカメラ
12 焦点調整部
13 回転調整部
14 ズーム調整部
【発明の属する技術分野】
本発明は、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は、従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、例えば、特開平11−174398に示されている。
図において、2は検査対象である液晶パネル1に光を照射するランプである。
【0003】
4は液晶パネル1の透過光を所定位置に設置されたスクリーン3上に投射する投射光学部である。
投射光学部4は、レンズ401単独または複数枚のレンズの組合せよりなり、液晶パネル1を透過(変調)した透過光をスクリーン3上に投射させるように構成されている。
【0004】
5はスクリーン3上の像の輝度分布を検出する視野角∂のCCDカメラである。6は液晶パネル1を所定の検査パターンて駆動する検査パターン発生部である。
7は、検査パターンとCCDカメラ5による検出結果とを参照して、液晶パネル1の点欠陥の存在の有無を判定する欠陥判定部である。
【0005】
以上の構成において、ランプ2からの光が照射されている検査対象である液晶パネル1は、検査パターン発生部6からの制御信号に基づいて、所定の検査パターン(画素毎のオン・オフパターン)になるように、ランプ2からの光を変調する。
【0006】
この制御信号に基づいて駆動された液晶パネル1にて形成されたオン・オフパターンは、レンズ401(投射光学部4)によってスクリーン3上に投射される。
CCDカメラ5は、このスクリーン3上の投射像を、輝度情報として取り込んで欠陥判定部7に与える。
【0007】
欠陥判定部7は、与えられた輝度情報と検査パターンとを比較して、液品パネル1が所定のパターンを形成するように構成されているか否かを判定し所定のパターンをスクリーン7に投射している場合には正常と判定する。
【0008】
一方、所定のパターンをスクリーン7に投射していない場含には異常、即ち、欠陥画素が存在するとして検査対象である液晶パネル1の検査を行う。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような装置においては、以下の間題点がある。
(1)被検査素子の像をスクリーン面に正確に結像させる必要がある。例えば、投射レンズと被検査素子の距離は基準値±5μm程度にあわせる必要がある。
【0010】
(2)被検査素子を検査装置の中に挿入する機構が必要であるが、挿入機構は機械的に上記の精度、再現性を保つのは困難である。
(3)液晶パネル1のガラスの厚さのばらつきにより、液晶パネル部分の光軸方向の位置がずれる。
【0011】
(4)従って、投射レンズの焦点合わせの機構が必要である。
(5)一方、単一の画素欠陥まで検出するためには、画質検査用のCCDカメラ5の解像度は、被検査液晶パネルの解像度の4倍(縦横2倍)以上必要である。
例えば、XGA(横1024×768画素)の液晶パネルの検査には、400万画素のCCDカメラを用いる必要がある。
【0012】
CCDカメラ5から欠陥判定部(コンピュータ)7に取り込むのに、必要な時間は画素数に比例する。
400万画素のカメラの場合には、露光とデータ取り込みで約1秒程度の時間が必要である。
【0013】
(6)通常、焦点合わせには10枚程度の画像を撮像する必要があるため、焦点合わせの時間は10秒程度必要になる。
(7)生産ラインにおいては検査の高速化が大変重要であり、上記の時間は少しでも減らしたいという要求がある。
【0014】
本発明の目的は、上記の課題を解決するもので、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を提供することにある。
即ち、焦点調整用に画像取り込みが高速なカメラを用いることによって焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために、本発明では、請求項1記載の液晶パネル検査装置においては、
検査対象の液晶パネルに光を照射する光源と、前記液晶パネルに所定の検査画像を形成するパターン発生部と、前記液晶パネルで光学的な変調を施された光をスクリーンに投射する投射光学部と、前記スクリーン上の画像を検出する第1のカメラとを具備する液晶パネル検査装置において、
前記スクリーン上の画像の少なくとも一部を撮像し前記第1のカメラよりフレームレートが高い第2のカメラと、この第2のカメラからの信号に基づき前記投射光学部の焦点調整を行う焦点調整部とを具備したことを特徴とする。
【0016】
本発明の請求項2においては、請求項1記載の液晶パネル検査装置において、前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の前記スクリーン面内での回転ずれを前記第1のカメラを回転して調整する回転調整部を具備したことを特徴とする。
【0017】
本発明の請求項3においては、請求項1又は請求項2記載の液晶パネル検査装置において、
前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の大きさを調整するズーム調整部を具備したことを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。
図1は本発明の一実施例の要部構成説明図である。
図において、図2と同一記号の構成は同一機能を表す。
以下、図2と相違部分のみ説明する。
【0019】
11は、スクリーン3上の画像の少なくとも一部を撮像し、第1のカメラ5よりフレームレートが高い第2のカメラである。
この場合は、NTSCカメラが使用されている。
【0020】
12は、この第2のカメラ11からの信号に基づき、投射光学部4の焦点調整を行う焦点調整部である。
13は、第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の、スクリーン面内での回転ずれを、第1のカメラ5を回転して調整する回転調整部である。
【0021】
14は、第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の大きさを調整するズーム調整部である。
【0022】
以上の構成において、検査用の高解像度カメラ5ではなく、別のフレームレートの高い第2のカメラ11で投射映像を取り込みながらフォーカス調整を行う。
【0023】
第2のカメラ11としては、例えば、NTSCカメラなどが使用される。NTSCカメラの画像取り込みにかかる時間は約1/30秒である。
NTSCカメラは、投射画像の一部または全体を撮像できるように設置し、あらかじめスクリーン3に焦点が合うように調整しておく。
【0024】
被検査素子(液晶パネル)に、検査パターン発生部6から信号を与えて、コントラストの高い画像(黒バックに白い輝点を表示等)をスクリーン3に投射する。
回転調整部13により、投射レンズ401のフォーカスリングを少しづつ動かしながら、NTSCカメラの撮影画像のコントラストが最大となる位置を見つけて、その位置に投射レンズ401を固定する。
【0025】
投射レンズ401のズームや像のスクリーン上での位置、回転等を調整することもできる。
ズームの調整時には、例えば四隅に点を表示し、撮影画像上でのそれぞれの点の距離が規定の値になるようにズーム調整部を回転させる。
【0026】
投射された像がスクリーン3面内で回転している場合に、高解像度カメラ5で入力した画像に画像処理で数値的に回転処理を施すこともできるが、400万画素等の高解像度画像の回転処理には、計算に数秒〜数10秒の処理時間が必要になる。その時間を短縮するために、高解像度カメラ5を、回転調整部13によりモータ等で回転させて、高解像度カメラ5自体の回転により調整する。
【0027】
この結果、
(1)画像検査用カメラ5で焦点合わせを行う場合には、例えば、調整に10秒以上かかっていたが、本発明によると焦点合わせが1秒以内で可能な液晶パネル検査装置が得られる。
従って、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0028】
(2)第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の、スクリーン3面内での回転ずれを、第1のカメラ5を回転して調整する回転調整部13が設けられたので、回転調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0029】
(3)第1のカメラ5に設けられ、スクリーン3上の画像の大きさを調整するズーム調整部14が設けられたので、ズーム調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0030】
なお、前述の実施例においては、被検査素子として、液晶パネルに付いて、説明したが、これに限ることはなく、投射型の表示素子の検査装置、あるいは、投射型の表示素子を用いたプロジェクタ装置の検査にも適用できることは勿論である。
更に、デジタルミラーデバイス、CRTプロジェクタ装置にも適用できることは勿論である。
【0031】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【0032】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の請求項1によれば、次のような効果がある。
焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0033】
本発明の請求項2によれば、次のような効果がある。
第1のカメラに設けられ、スクリーン上の画像の、スクリーン面内での回転ずれを、第1のカメラを回転して調整する回転調整部が設けられたので、回転調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0034】
本発明の請求項3によれば、次のような効果がある。
第1のカメラに設けられ、スクリーン上の画像の大きさを調整するズーム調整部が設けられたので、ズーム調整を高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置が得られる。
【0035】
従って、本発明によれば、焦点合わせを高速に行うことが出来る液晶パネル検査装置を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】従来より一般に使用されている従来例の要部構成説明図である。
【符号の説明】
1 液晶パネル
2 ランプ
3 スクリーン
4 投射光学部
401 レンズ
5 CCDカメラ
6 検査パターン発生部
7 欠陥判定部
11 第2のカメラ
12 焦点調整部
13 回転調整部
14 ズーム調整部
Claims (3)
- 検査対象の液晶パネルに光を照射する光源と、
前記液晶パネルに所定の検査画像を形成するパターン発生部と、
前記液晶パネルで光学的な変調を施された光をスクリーンに投射する投射光学部と、
前記スクリーン上の画像を検出する第1のカメラと
を具備する液晶パネル検査装置において、
前記スクリーン上の画像の少なくとも一部を撮像し前記第1のカメラよりフレームレートが高い第2のカメラと、
この第2のカメラからの信号に基づき前記投射光学部の焦点調整を行う焦点調整部と
を具備したことを特徴とする液晶パネル検査装置。 - 前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の前記スクリーン面内での回転ずれを前記第1のカメラを回転して調整する回転調整部
を具備したことを特徴とする請求項1記載の液晶パネル検査装置。 - 前記第1のカメラに設けられ前記スクリーン上の画像の大きさを調整するズーム調整部
を具備したことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の液晶パネル検査装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002202102A JP3932115B2 (ja) | 2002-07-11 | 2002-07-11 | 液晶パネル検査装置 |
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JP3932115B2 JP3932115B2 (ja) | 2007-06-20 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101566734B (zh) * | 2008-04-25 | 2011-03-16 | 郭上鲲 | 固定lcd面板的检测机具 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0735645A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Sony Corp | 液晶パネルの検査装置 |
JPH0829361A (ja) * | 1994-07-14 | 1996-02-02 | Advantest Corp | Lcdパネル画質検査装置 |
JPH09101236A (ja) * | 1995-10-04 | 1997-04-15 | Hitachi Ltd | 表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法 |
JPH11132720A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 点欠陥検出装置及び方法 |
JPH11132750A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 点欠陥検出装置及び方法 |
JPH11174398A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-07-02 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法、並びに投射型表示装置 |
JP2001228049A (ja) * | 2000-02-15 | 2001-08-24 | Seiko Epson Corp | 点欠陥検出装置及びその方法 |
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2002
- 2002-07-11 JP JP2002202102A patent/JP3932115B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0735645A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Sony Corp | 液晶パネルの検査装置 |
JPH0829361A (ja) * | 1994-07-14 | 1996-02-02 | Advantest Corp | Lcdパネル画質検査装置 |
JPH09101236A (ja) * | 1995-10-04 | 1997-04-15 | Hitachi Ltd | 表示欠陥検査装置および表示欠陥検査方法 |
JPH11132720A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 点欠陥検出装置及び方法 |
JPH11132750A (ja) * | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 点欠陥検出装置及び方法 |
JPH11174398A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-07-02 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの検査装置及び液晶パネルの検査方法、並びに投射型表示装置 |
JP2001228049A (ja) * | 2000-02-15 | 2001-08-24 | Seiko Epson Corp | 点欠陥検出装置及びその方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101566734B (zh) * | 2008-04-25 | 2011-03-16 | 郭上鲲 | 固定lcd面板的检测机具 |
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JP3932115B2 (ja) | 2007-06-20 |
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