JP2004028762A - Method and device for ultrasonic flaw detection - Google Patents
Method and device for ultrasonic flaw detection Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004028762A JP2004028762A JP2002184585A JP2002184585A JP2004028762A JP 2004028762 A JP2004028762 A JP 2004028762A JP 2002184585 A JP2002184585 A JP 2002184585A JP 2002184585 A JP2002184585 A JP 2002184585A JP 2004028762 A JP2004028762 A JP 2004028762A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- couplant
- ultrasonic
- ultrasonic probe
- temperature
- flaw detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被検査体の表面に接触媒質を塗布し、超音波を送受する超音波探触子を前記接触媒質に押しつけて、前記被検査体の探傷を実行する超音波探傷方法と、その方法を実施するのに使用する超音波探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
超音波探触子による探傷において、超音波探触子の感度は、接触媒質の粘性と関係が深いのであるが、従来、接触媒質の粘性に関しては、特別な考慮が払われていなかったのが実情である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
すなわち、超音波探触子は、接触媒質の粘性が高いほど高感度となり、また、接触媒質の膜厚が薄いほど高感度となることが知られている。しかし、接触媒質の粘性が高くなると、超音波探触子を接触媒質に押しつけて膜厚を薄くするのがむずかしく、逆に、膜厚を薄くするために粘性を低くすると、超音波探触子の感度が低下するという矛盾がある。
しかし、従来、この点に関して特別な考慮が払われておらず、接触媒質の粘性は、探傷時の雰囲気温度に依存されていたので、超音波探触子の感度が一定せず、常に正確な探傷結果を得ることができないという欠点があった。
特に、超音波のうちでも、一般に「SH波」と称される横波は、被検査体の面に平行な横波で、SH波を送受するSH波用超音波探触子では、一般に使用されるマシン油、水、グリセリンなどを接触媒質として使用できず、より高い粘性の接触媒質が必要となるため、上述した欠点が顕著であった。
【0004】
本発明は、このような従来の問題点に着目したもので、その目的は、探傷時の雰囲気温度に支配されることなく、常に高感度で正確な探傷結果を得ることのできる超音波探傷方法と超音波探傷装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明の特徴構成は、被検査体の表面に接触媒質を塗布し、超音波を送受する超音波探触子を前記接触媒質に押しつけて、前記被検査体の探傷を実行する超音波探傷方法であって、前記接触媒質の温度が探傷実行時より高い状態において、その温度の高い接触媒質を前記被検査体の表面に塗布し、かつ、その温度の高い接触媒質に対して前記超音波探触子を押しつけ、前記接触媒質の温度が前記被検査体への塗布時および前記超音波探触子の押しつけ時より低い状態において、前記超音波探触子により前記被検査体の探傷を実行するところにある。
【0006】
請求項1の発明の特徴構成によれば、超音波探触子を接触媒質に押しつけて被検査体の探傷を実行する超音波探傷方法であって、接触媒質の温度が探傷実行時より高い状態において、つまり、接触媒質の粘性が低い状態において、その粘性の低い接触媒質を被検査体の表面に塗布するので、被検査体表面に対する接触媒質の馴染みがよく、かつ、粘性の低い接触媒質に対して超音波探触子を押しつけるので、接触媒質の膜厚を所望どおりに薄くすることができる。
そして、接触媒質の温度が被検査体への塗布時および超音波探触子の押しつけ時より低い状態において、つまり、接触媒質の粘性が高い状態において、超音波探触子により被検査体の探傷を実行するので、高感度での探傷が可能となる。
その結果、周囲の雰囲気温度に支配されることがなく、たとえ超音波探触子がSH波用の超音波探触子であっても、常に高感度で正確な探傷結果を得ることができる。
【0007】
請求項2の発明の特徴構成は、上記の超音波探傷方法であって、前記接触媒質の温度が前記被検査体への塗布時および前記超音波探触子の押しつけ時より低い状態において、前記超音波探触子を走査しながら前記被検査体の探傷を実行するところにある。
【0008】
請求項2の発明の特徴構成によれば、上記の超音波探傷方法であって、接触媒質の温度が被検査体への塗布時および超音波探触子の押しつけ時より低い状態において、超音波探触子を走査しながら被検査体の探傷を実行するので、効率のよい探傷が可能となる。
すなわち、接触媒質の粘性が高い状態で超音波探触子を走査することになるが、上述したように接触媒質の膜厚を薄くした後に走査することになるので、比較的容易にその薄い膜厚を維持しながら走査することができ、したがって、高感度で正確な探傷を維持しながら効率のよい探傷が可能となる。
【0009】
請求項3の発明の特徴構成は、超音波を送受する超音波探触子と、接触媒質を収納する接触媒質収納部と、その接触媒質収納部内の接触媒質を前記超音波探触子と被検査体との間に供給する供給手段を有する超音波探傷装置であって、前記接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えているところにある。
【0010】
請求項3の発明の特徴構成によれば、超音波を送受する超音波探触子と、接触媒質を収納する接触媒質収納部と、その接触媒質収納部内の接触媒質を超音波探触子と被検査体との間に供給する供給手段を有する超音波探傷装置であって、接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えているので、必要な場合には、その温度調整手段によって接触媒質の温度を高くし粘性を低くして、被検査体の表面に塗布し、あるいは、超音波探触子を押しつけることができ、被検査体表面に対して馴染みのよい状態で接触媒質の膜厚を所望どおりに薄くすることができる。そして、必要な場合には、その温度調整手段によって接触媒質の温度を低くし粘性を高くして、超音波探触子により被検査体の探傷を実行することができ、高感度での探傷が可能となり、たとえSH波用超音波探触子による探傷であっても、周囲の雰囲気温度に支配されることなく、常に高感度で正確な探傷結果を得ることができる。
【0011】
請求項4の発明の特徴構成は、上記の超音波探傷装置であって、前記温度調整手段が、前記超音波探触子に設けられているところにある。
【0012】
請求項4の発明の特徴構成によれば、上記の超音波探傷装置であって、温度調整手段が、超音波探触子に設けられているので、必要な場合には、超音波探触子部分において接触媒質の粘性を高くしたり低くしたりして所望どおりに調整することができる。
【0013】
請求項5の発明の特徴構成は、上記の超音波探傷装置であって、前記温度調整手段が、前記接触媒質収納部に設けられているところにある。
【0014】
請求項5の発明の特徴構成によれば、上記の超音波探傷装置であって、温度調整手段が、接触媒質収納部に設けられているので、必要な場合には、接触媒質収納部において接触媒質の粘性を調整して、その接触媒質を超音波探触子と被検査体との間へ供給することができるとともに、接触媒質の粘性を低くした場合には、超音波探触子への接触媒質の供給を円滑に行うことができる。
特に、上述したように温度調整手段を超音波探触子に設け、それに加えて、接触媒質収納部にも設ける場合には、超音波探触子への接触媒質の供給を円滑に行いながら、その超音波探触子部分において接触媒質の粘性を所望どおりに調整することが可能となる。
【0015】
請求項6の発明の特徴構成は、超音波を送受する超音波探触子を有する超音波探傷装置であって、前記超音波探触子が、その超音波探触子と被検査体との間に介在される接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えているところにある。
【0016】
請求項6の発明の特徴構成によれば、超音波を送受する超音波探触子を有する超音波探傷装置であって、超音波探触子が、その超音波探触子と被検査体との間に介在される接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えているので、この場合にも、必要に応じて温度調整手段により接触媒質の温度を調整することによって、接触媒質の粘性を調整することができ、したがって、たとえSH波用超音波探触子による探傷であっても、周囲の雰囲気温度に支配されることなく、常に高感度で正確な探傷結果を得ることができる。
【0017】
請求項7の発明の特徴構成は、上記の超音波探傷装置であって、前記温度調整手段が、ペルチェ素子であるところにある。
【0018】
請求項7の発明の特徴構成によれば、上記の超音波探傷装置であって、温度調整手段が、ペルチェ素子であるから、接触媒質収納部や超音波探触子への組み付けが容易で、しかも、ペルチェ素子への供給電流の向きを変えるだけで、接触媒質の温度を高くしたり低くしたり自由に調整することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】
本発明による超音波探傷方法および装置につき、その実施の形態を図面に基づいて説明する。
本発明による探傷方法および装置では、超音波のうちでも、一般に「SH波」と称される横波、つまり、被検査体の面に平行な横波を送受するSH波用の超音波探触子が使用され、そのSH波用超音波探触子1は、図1および図2に示すように、SH波を発信し、かつ、その反射波を受信する振動子2を内装する探触子本体4を備え、探触子本体4の被検査体への探触面は、被検査体としてのステンレス管Aの周面に沿う円弧状に形成されている。
【0020】
探触子本体4の探触面側には、厚みtが10μm程度の空間を置いてステンレス管Aの周面に沿う円弧状のアクリル樹脂層5が配設され、それによって、アクリル樹脂層5の探触面側には、厚みtが10μm程度の接触媒質用の収納空間6が形成されて、その収納空間6には、供給手段としての可撓性チューブ7を介して、例えば、ソニコートSHN−B25(日合アセチレン株式会社製)のような高粘性の接触媒質8を収納する接触媒質収納部としての接触媒質容器9が接続されている。
探触子本体4の探触面側には、さらに、接触媒質用収納空間6の周囲に隣接する状態で、その収納空間6内に供給収納された接触媒質8の温度を調整する温度調整手段としての探触子側ペルチェ素子10が配設され、そのペルチェ素子10には、電源供給用のリード線11が接続され、さらに、接触媒質8の温度を検出する温度センサ用のリード線12も設けられている。
【0021】
前記接触媒質容器9は、図3に示すように、一端側に開閉機構13付きの出口14を有するアルミニウム製の筒状体で構成され、他端側には押圧板15とスプリング16が配設されて、スプリング16の弾性力により押圧板15を介して接触媒質8を出口14側へ押し出し、かつ、可撓性チューブ7を介して、接触媒質容器9内の接触媒質8をSH波用超音波探触子1の収納空間6内に供給するように構成されている。
その接触媒質容器9の外周部には、容器9内に収納された接触媒質8の温度を調整する温度調整手段としての容器側ペルチェ素子17が配設され、さらに、その容器側ペルチェ素子17の外周部は、断熱材18により被覆されている。
そして、容器側ペルチェ素子17にも、電源供給用のリード線19が接続されるとともに、接触媒質8の温度を検出する温度センサ用のリード線20が設けられて、この接触媒質容器9側の各リード線19,20とSH波用超音波探触子1側のリード線11,12とが、装置全体を制御する制御装置21に接続されている。
【0022】
つぎに、この装置を使用してステンレス管Aを探傷する探傷方法について説明する。
制御装置をONすると、接触媒質容器9側に接続された温度センサ用リード線20からの信号に基づいて接触媒質容器9内の接触媒質8の温度が測定されると同時に、電源供給用リード線19を介して容器側ペルチェ素子17に電流が供給され、例えば、その容器側ペルチェ素子17により接触媒質8が加熱されて適正温度、つまり、比較的低い粘性に維持される。
その後、人為操作によって、SH波用超音波探触子1を被検査体であるステンレス管Aの周面に接触させて接触媒質容器9の開閉機構13を開くことにより、接触媒質容器9内の接触媒質8が、可撓性チューブ7を介してSH波用超音波探触子1の収納空間6に供給されて、ステンレス管Aの表面に塗布される。
【0023】
このSH波用超音波探触子1側においても、温度センサ用リード線12からの信号に基づいて接触媒質8の温度が測定されると同時に、電源供給用リード線11を介して探触子側ペルチェ素子10に電流が供給されて、SH波用超音波探触子1の収納空間6内の接触媒質8が比較的高い温度に維持される。
この接触媒質8の温度が比較的高い状態において、SH波用超音波探触子1をステンレス管Aの表面に人為的に押しつけることにより、探触子本体4の探触面がステンレス管Aの表面に接触して、アクリル樹脂層5の表面とステンレス管Aの表面との間に厚みtが10μm程度の接触媒質8の層が介在される。
【0024】
その後、探触子側ペルチェ素子10によって収納空間6内の接触媒質8が冷却されて、ステンレス管Aへの塗布時およびSH波用超音波探触子1の押しつけ時よりも比較的低い温度、つまり、高い粘性に維持され、収納空間6内の接触媒質8が高い粘性に維持された状態で、振動子2が振動されて超音波を発信するとともに、その反射波を振動子2が受信することにより、ステンレス管Aの探傷が実行され、その探傷結果が制御装置21に記憶されるとともに、必要に応じてディスプレイに表示される。
そして、ステンレス管Aの複数個所において、この動作を何度か繰り返すことによって必要な探傷を実行するか、可能な場合には、収納空間6内の接触媒質8の温度が比較的低い状態において、SH波用超音波探触子1を人為的に走査して必要な探傷を実行するのであり、その走査中に収納空間6内の接触媒質8の量が不足すると、可撓性チューブ7を介して接触媒質容器9から接触媒質8が自動的に補充される。
【0025】
〔別実施形態〕
(1)先の実施形態では、本発明による探傷方法に関し、SH波用超音波探触子1の収納空間6に接触媒質8を供給してステンレス管Aの表面に自動的に塗布する方法を示したが、ステンレス管Aの表面に比較的温度の高い接触媒質8を人為的に塗布し、かつ、その温度の高い接触媒質8にSH波用超音波探触子1を押しつけ、その後、SH波用超音波探触子1に設けた探触子側ペルチェ素子10により接触媒質8を冷却するか、あるいは、自然冷却を待って探傷を実行することもできる。
【0026】
(2)先の実施形態では、本発明による探傷装置に関し、SH波用超音波探触子1として、発信用と受信用を兼用するひとつの振動子2を備えた探触子を示したが、発信用振動子と受信用振動子を各別に備えた探触子にも適用することができ、さらに、発信振動子のみを備えたSH波用超音波探触子と受信振動子のみを備えたSH波用超音波探触子に適用することもできる。
また、SH波用超音波探触子1と接触媒質容器9を別体に構成して可撓性チューブ7により接続した例を示したが、SH波用超音波探触子1に接触媒質容器9を一体的に組み付けて実施することもでき、さらに、温度調整手段の一例としてペルチェ素子10,17を示したが、他の温度調整装置に置き換えて実施することもできる。
【0027】
(3)先の実施形態では、被検査体の一例としてステンレス管Aを示したが、本発明による探傷方法および探傷装置が対象とする被検査体は、ステンレス製の管Aに限るものではなく、各種金属の管は勿論のこと、金属製の板材や棒材などの各種の物品に対して適用可能であり、さらに、送受する超音波についても、特に「SH波」のみに限るものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】超音波探傷装置の全体を示す斜視図
【図2】SH波用超音波探触子の断面図
【図3】接触媒質容器の断面図
【符号の説明】
1 超音波探触子
7 供給手段
8 接触媒質
9 接触媒質収納部
10,17 温度調整手段としてのペルチェ素子
A 被検査体[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention provides an ultrasonic flaw detection method for applying a couplant to the surface of a test object, pressing an ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves against the couplant, and performing flaw detection on the test object, and The invention relates to an ultrasonic flaw detector used to carry out the method.
[0002]
[Prior art]
In flaw detection using an ultrasonic probe, the sensitivity of the ultrasonic probe is closely related to the viscosity of the couplant, but conventionally, no special consideration was given to the viscosity of the couplant. It is a fact.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
That is, it is known that the ultrasonic probe has higher sensitivity as the viscosity of the couplant is higher, and has higher sensitivity as the thickness of the couplant is thinner. However, when the viscosity of the couplant increases, it is difficult to reduce the film thickness by pressing the ultrasonic probe against the couplant, and conversely, when the viscosity is reduced to reduce the film thickness, the ultrasonic probe There is a contradiction that the sensitivity of the device decreases.
However, conventionally, no special consideration has been given to this point, and the viscosity of the couplant has been dependent on the ambient temperature at the time of flaw detection. There is a drawback that a flaw detection result cannot be obtained.
In particular, among ultrasonic waves, a transverse wave generally referred to as “SH wave” is a transverse wave parallel to the surface of the object to be inspected, and is generally used in an SH wave ultrasonic probe that transmits and receives SH waves. Since the machine oil, water, glycerin and the like cannot be used as a couplant, and a couplant having a higher viscosity is required, the above-mentioned disadvantages are remarkable.
[0004]
The present invention focuses on such a conventional problem, and its object is to provide an ultrasonic flaw detection method capable of always obtaining highly sensitive and accurate flaw detection results without being affected by the ambient temperature at the time of flaw detection. And an ultrasonic flaw detector.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
A feature of the invention according to claim 1 is that a couplant is applied to the surface of the object to be inspected, and an ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves is pressed against the couplant to perform flaw detection of the object to be inspected. An ultrasonic flaw detection method, wherein in a state where the temperature of the couplant is higher than that at the time of flaw detection execution, a couplant having a higher temperature is applied to the surface of the test object, and When an ultrasonic probe is pressed, and the temperature of the couplant is lower than when applied to the object to be inspected and when the ultrasonic probe is pressed, the ultrasonic probe detects the flaw of the object to be inspected. Where to run.
[0006]
According to the characteristic configuration of the first aspect of the present invention, there is provided an ultrasonic flaw detection method in which an ultrasonic probe is pressed against a couplant to perform flaw detection on an object to be inspected. In other words, in the state where the viscosity of the couplant is low, the low-viscosity couplant is applied to the surface of the test object, so that the couplant is familiar with the surface of the test object and has a low viscosity. Since the ultrasonic probe is pressed against this, the thickness of the couplant can be reduced as desired.
Then, in a state where the temperature of the couplant is lower than the time of application to the test object and the time of pressing the ultrasonic probe, that is, in a state where the viscosity of the couplant is high, the ultrasonic probe detects the flaw of the test object. Is performed, flaw detection with high sensitivity becomes possible.
As a result, the flaw detection result can always be obtained with high sensitivity without being influenced by the ambient atmosphere temperature, even if the ultrasonic probe is an ultrasonic probe for SH waves.
[0007]
The characteristic configuration of the invention according to
[0008]
According to the characteristic configuration of the invention of
That is, the ultrasonic probe is scanned in a state where the viscosity of the couplant is high. However, since the scanning is performed after the thickness of the couplant is reduced as described above, the thin film is relatively easily formed. Scanning can be performed while maintaining the thickness, and thus efficient inspection can be performed while maintaining high sensitivity and accurate inspection.
[0009]
The characteristic configuration of the invention according to claim 3 is that the ultrasonic probe that transmits and receives ultrasonic waves, the couplant storage unit that stores the couplant, and the couplant in the couplant storage unit are covered with the ultrasonic probe. An ultrasonic flaw detector having a supply means for supplying a gas to an inspection object, the apparatus having a temperature adjusting means for adjusting the temperature of the couplant.
[0010]
According to the characteristic configuration of the invention of claim 3, the ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves, the couplant storage portion for storing the couplant, and the ultrasonic probe for the couplant in the couplant storage portion. An ultrasonic flaw detector having a supply unit for supplying a material to be inspected and an object to be inspected, which is provided with a temperature adjusting unit for adjusting the temperature of the couplant, and if necessary, the couplant is provided by the temperature adjusting unit. Can be applied to the surface of the object to be inspected, or the ultrasonic probe can be pressed against the surface of the object to be inspected. Can be made as thin as desired. Then, if necessary, the temperature of the couplant can be lowered and its viscosity increased by its temperature adjusting means, and the ultrasonic probe can perform flaw detection on the object to be inspected. This makes it possible to always obtain a highly sensitive and accurate flaw detection result without being influenced by the ambient temperature, even if the flaw detection is performed by the SH wave ultrasonic probe.
[0011]
According to a fourth aspect of the present invention, in the ultrasonic flaw detector, the temperature adjusting means is provided on the ultrasonic probe.
[0012]
According to the characteristic configuration of the invention of claim 4, in the ultrasonic flaw detector, since the temperature adjusting means is provided in the ultrasonic probe, if necessary, the ultrasonic probe The viscosity of the couplant can be increased or decreased in the part to adjust as desired.
[0013]
According to a fifth aspect of the present invention, in the ultrasonic flaw detector, the temperature adjusting means is provided in the couplant storage portion.
[0014]
According to the fifth aspect of the present invention, in the above ultrasonic flaw detector, since the temperature adjusting means is provided in the couplant storage part, if necessary, the contact in the couplant storage part is provided. By adjusting the viscosity of the medium, the contact medium can be supplied between the ultrasonic probe and the test object, and when the viscosity of the contact medium is reduced, the ultrasonic probe The supply of the couplant can be performed smoothly.
In particular, as described above, the temperature adjusting means is provided in the ultrasonic probe, and in addition, in the case where the temperature adjusting means is also provided in the couplant storage section, while smoothly supplying the couplant to the ultrasonic probe, It becomes possible to adjust the viscosity of the couplant at the ultrasonic probe portion as desired.
[0015]
A feature configuration of the invention according to
[0016]
According to the characteristic configuration of the invention of
[0017]
A feature of the invention according to
[0018]
According to the characteristic configuration of the invention of
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of an ultrasonic flaw detection method and apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
In the flaw detection method and device according to the present invention, among the ultrasonic waves, a transverse wave generally called “SH wave”, that is, an ultrasonic probe for SH wave that transmits and receives a transverse wave parallel to the surface of the test object is used. As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the ultrasonic probe for SH wave 1 is a probe main body 4 having a
[0020]
An arc-shaped acrylic resin layer 5 along the peripheral surface of the stainless steel tube A is disposed on the probe surface side of the probe main body 4 with a space having a thickness t of about 10 μm. A
Temperature adjustment means for adjusting the temperature of the
[0021]
As shown in FIG. 3, the
A container-
A
[0022]
Next, a flaw detection method for flaw detection of the stainless steel tube A using this apparatus will be described.
When the control device is turned on, the temperature of the
Thereafter, the SH probe 1 is brought into contact with the peripheral surface of the stainless steel tube A as an object to be inspected by an artificial operation to open and close the opening /
[0023]
Also on the side of the SH wave ultrasonic probe 1, the temperature of the
In a state where the temperature of the
[0024]
Thereafter, the
Then, in a plurality of places of the stainless steel tube A, the necessary flaw detection is performed by repeating this operation several times, or, if possible, in a state where the temperature of the
[0025]
[Another embodiment]
(1) In the above embodiment, the flaw detection method according to the present invention relates to a method for supplying the
[0026]
(2) In the above embodiment, the flaw detector according to the present invention has been described as a probe having one
Further, the example in which the SH wave ultrasonic probe 1 and the
[0027]
(3) In the above embodiment, the stainless steel tube A is shown as an example of the inspected object. However, the inspected object targeted by the flaw detection method and the flaw detection apparatus according to the present invention is not limited to the stainless steel tube A. The present invention can be applied to various articles such as metal plates and rods as well as various metal tubes, and the transmitted and received ultrasonic waves are not limited to the “SH wave”. .
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing the entire ultrasonic flaw detector. FIG. 2 is a cross-sectional view of an SH wave ultrasonic probe. FIG. 3 is a cross-sectional view of a couplant container.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (7)
前記接触媒質の温度が探傷実行時より高い状態において、その温度の高い接触媒質を前記被検査体の表面に塗布し、かつ、その温度の高い接触媒質に対して前記超音波探触子を押しつけ、
前記接触媒質の温度が前記被検査体への塗布時および前記超音波探触子の押しつけ時より低い状態において、前記超音波探触子により前記被検査体の探傷を実行する超音波探傷方法。An ultrasonic flaw detection method for applying a couplant to the surface of a test object, pressing an ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves against the couplant, and performing flaw detection of the test object,
In a state where the temperature of the couplant is higher than that at the time of the flaw detection, the couplant having the higher temperature is applied to the surface of the test object, and the ultrasonic probe is pressed against the couplant having the higher temperature. ,
An ultrasonic flaw detection method in which the ultrasonic probe performs flaw detection on the object under test when the temperature of the couplant is lower than when applied to the object to be tested and when the ultrasonic probe is pressed.
前記接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えている超音波探傷装置。An ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves, a couplant storage section for storing the couplant, and a supply unit for supplying the couplant in the couplant storage section between the ultrasonic probe and the test object An ultrasonic flaw detector having:
An ultrasonic flaw detector comprising a temperature adjusting means for adjusting the temperature of the couplant.
前記超音波探触子が、その超音波探触子と被検査体との間に介在される接触媒質の温度を調整する温度調整手段を備えている超音波探傷装置。An ultrasonic flaw detector having an ultrasonic probe for transmitting and receiving ultrasonic waves,
An ultrasonic flaw detector wherein the ultrasonic probe includes a temperature adjusting means for adjusting a temperature of a couplant interposed between the ultrasonic probe and the test object.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002184585A JP2004028762A (en) | 2002-06-25 | 2002-06-25 | Method and device for ultrasonic flaw detection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002184585A JP2004028762A (en) | 2002-06-25 | 2002-06-25 | Method and device for ultrasonic flaw detection |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004028762A true JP2004028762A (en) | 2004-01-29 |
Family
ID=31180467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002184585A Pending JP2004028762A (en) | 2002-06-25 | 2002-06-25 | Method and device for ultrasonic flaw detection |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004028762A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011232133A (en) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd | Inspection method by using guide wave using coagulation of liquid layer |
JP2013029492A (en) * | 2011-05-20 | 2013-02-07 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Multi-part mounting device for ultrasonic transducer |
KR101248444B1 (en) * | 2011-08-09 | 2013-03-28 | (재) 한국건설품질연구원 | Supporting device for concrete ultrasonic tester |
CN103675109A (en) * | 2013-12-18 | 2014-03-26 | 武汉大学 | Coupled system used for contact type detection of variable curvature component and based on ultrasonic phased array technology |
JP2019015652A (en) * | 2017-07-10 | 2019-01-31 | 神鋼検査サービス株式会社 | Flaw detection system and application device |
CN114113318A (en) * | 2021-11-04 | 2022-03-01 | 北京强度环境研究所 | Ultrasonic detection device for weld quality in low-temperature environment |
-
2002
- 2002-06-25 JP JP2002184585A patent/JP2004028762A/en active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011232133A (en) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Ihi Inspection & Instrumentation Co Ltd | Inspection method by using guide wave using coagulation of liquid layer |
JP2013029492A (en) * | 2011-05-20 | 2013-02-07 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Multi-part mounting device for ultrasonic transducer |
KR101248444B1 (en) * | 2011-08-09 | 2013-03-28 | (재) 한국건설품질연구원 | Supporting device for concrete ultrasonic tester |
CN103675109A (en) * | 2013-12-18 | 2014-03-26 | 武汉大学 | Coupled system used for contact type detection of variable curvature component and based on ultrasonic phased array technology |
CN103675109B (en) * | 2013-12-18 | 2015-11-18 | 武汉大学 | Based on the variable curvature member contact formula detection coupled system of ultrasonic phased array technology |
JP2019015652A (en) * | 2017-07-10 | 2019-01-31 | 神鋼検査サービス株式会社 | Flaw detection system and application device |
JP7042043B2 (en) | 2017-07-10 | 2022-03-25 | 神鋼検査サービス株式会社 | Flaw detection system and coating equipment |
CN114113318A (en) * | 2021-11-04 | 2022-03-01 | 北京强度环境研究所 | Ultrasonic detection device for weld quality in low-temperature environment |
CN114113318B (en) * | 2021-11-04 | 2023-05-23 | 北京强度环境研究所 | Ultrasonic welding seam quality detection device for low-temperature environment |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4392420B2 (en) | System and method for multi-mode flexible excitation in sonic infrared imaging | |
US9625273B2 (en) | Thickness measurement apparatus and method thereof | |
EP0840110A2 (en) | Nondestructive testing:transient depth thermography | |
DK1051700T3 (en) | Multiple element ultrasonic contact transducers | |
JPH07318336A (en) | Method and equipment to check pipeline with ultrasonic wave | |
US3315520A (en) | Ultrasonic measurement apparatus | |
JP2004028762A (en) | Method and device for ultrasonic flaw detection | |
JP2005077320A (en) | Ultrasonic probe, flaw detection device for turbine blade and its flaw detection method | |
Fay et al. | Thermoacoustic sensor for ultrasound power measurements and ultrasonic equipment calibration | |
JP2007248394A (en) | Nondestructive inspection method and device therefor | |
JP2004191143A (en) | Ultrasonic sensor operation jig and ultrasonic inspection system | |
JP3709559B2 (en) | Dry contact high frequency ultrasonic transmission method and apparatus therefor, and dry contact high frequency ultrasonic inspection method and apparatus therefor | |
JP2002277448A (en) | Scale thickness measuring apparatus and method | |
JP2008261889A (en) | Imaging method of internal defect by ultrasonic wave, and its device | |
JP3571473B2 (en) | Angle beam ultrasonic inspection method and apparatus | |
JP4014979B2 (en) | Ultrasonic inspection equipment | |
JP7180494B2 (en) | Ultrasonic flaw detector and ultrasonic flaw detection method | |
JP2004020335A (en) | Ultrasonic flaw detecting apparatus | |
JP2002214205A (en) | Ultrasonic flaw detector | |
JP2004212308A (en) | Method and apparatus for inspecting weld | |
JP2611084B2 (en) | How to select an ultrasonic probe | |
Titov et al. | Measurements of velocity and attenuation of leaky waves using an ultrasonic array | |
JP2008107101A (en) | Nondestructive inspection method | |
JP3754555B2 (en) | Method and apparatus for detecting flaws on the surface and inside of the leading edge of a turbine blade | |
JP2005098842A (en) | Method for measuring pouring depth of repairing material to crack |