JP2003317845A - Contact pin, forming method of contact pin, socket for electric component, and manufacturing method of electric component - Google Patents

Contact pin, forming method of contact pin, socket for electric component, and manufacturing method of electric component

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JP2003317845A
JP2003317845A JP2002119697A JP2002119697A JP2003317845A JP 2003317845 A JP2003317845 A JP 2003317845A JP 2002119697 A JP2002119697 A JP 2002119697A JP 2002119697 A JP2002119697 A JP 2002119697A JP 2003317845 A JP2003317845 A JP 2003317845A
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JP
Japan
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contact
contact pin
socket
electric component
plate
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Application number
JP2002119697A
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Japanese (ja)
Inventor
Masami Fukunaga
正美 福永
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Enplas Corp
Original Assignee
Enplas Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a socket for electric component with widened contact area of contact pins contact part for an electric component, capable of increasing wiping amount. <P>SOLUTION: The plate-shaped contact pin 15 arranged to a socket body 13 comprises a contact part 15a contacting with a solder ball 12b of an IC package 12 housed in the socket body 13, a lead part to be connected to a printed board, and a spring part 15c formed between the lead part and the contact part 15a. The spring part 15c is elastic transformation capably formed by bending in the direction vertical to the plate surface, and a contact surface part 15e of the contact part 15a contacting with a solder ball 12b is formed by rectangularly bending the plate surface. The contact surface part 15e is formed so as to move in the direction perpendicular to the plate surface, and the thickness of bending part 15f of the contact surface part 15e is made thinner than that of another part. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置(以
下「ICパッケージ」という)等の電気部品を着脱自在
に保持する電気部品用ソケットに用いられるコンタクト
ピン、コンタクトピンの成形方法、電気部品用ソケット
及び電気部品用ソケットの製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contact pin used in a socket for an electric component that detachably holds an electric component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as "IC package"), a method for molding the contact pin, and an electric component. The present invention relates to a method for manufacturing a socket and a socket for electric parts.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、この種の「電気部品用ソケッ
ト」としては、「電気部品」であるICパッケージを着
脱自在に保持するICソケットがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as this type of "electrical component socket", there is an IC socket that detachably holds an "electrical component" IC package.

【0003】そのICパッケージには、BGA(Ball Gr
id Array)タイプと称されるものがあり、これは方形の
パッケージ本体の下面に端子としての多数の半田ボール
が設けられている。
The IC package has a BGA (Ball Gr
id array) type, which has a large number of solder balls as terminals on the lower surface of a rectangular package body.

【0004】また、ICソケットには、ソケット本体に
コンタクトピンが配設され、このコンタクトピンには、
先端部にICパッケージの半田ボールに離接される接触
部が形成されている。さらに、このソケット本体の上側
には、フローティングプレートが配設され、このフロー
ティングプレート上にICパッケージを収容し、このI
Cパッケージを、ソケット本体に回動自在に設けられた
カバーを閉じて押圧することにより、このICパッケー
ジの半田ボールと、コンタクトピン接触部とを所定の接
圧で接触させるようにしている。
Further, the IC socket is provided with a contact pin on the socket body.
A contact portion is formed on the tip portion so as to be brought into contact with and separated from the solder ball of the IC package. Further, a floating plate is disposed on the upper side of the socket body, and the IC package is accommodated on the floating plate.
The C package is pressed by closing the cover rotatably provided on the socket body, so that the solder ball of the IC package and the contact pin contact portion are brought into contact with each other with a predetermined contact pressure.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のものにあっては、半田ボールの挟ピッチ化に
より、コンタクトピンの各接触部のピッチも狭くなって
おり、半田ボールの接触部に対する接触面積を確保する
と共に、ワイピング量を増加させるのが難しい、という
問題があった。
However, in such a conventional one, the pitch of each contact portion of the contact pin is narrowed due to the narrow pitch of the solder ball, and the contact portion with respect to the contact portion of the solder ball is narrowed. There is a problem that it is difficult to secure the contact area and increase the wiping amount.

【0006】そこで、この発明は、電気部品端子に対す
るコンタクトピン接触部の接触面積を広くすると共に、
ワイピング量を増加させることができる電気部品用ソケ
ットを提供することを課題としている。
Therefore, the present invention widens the contact area of the contact pin contact portion with respect to the electric component terminal, and
An object of the present invention is to provide an electrical component socket that can increase the wiping amount.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項1に記載の発明は、ソケット本体に配設さ
れ、該ソケット本体に収容される電気部品の端子に接触
される接触部と、プリント基板に接続されるリード部
と、該リード部及び前記接触部の間に形成されたばね部
とを有する板状のコンタクトピンにおいて、前記ばね部
は、板面と直交する方向に湾曲して弾性変形可能に形成
され、前記接触部は、前記電気部品端子に接触される接
触面部が前記板面と略直角に折曲げ加工により形成され
ると共に、該接触面部が前記板面と直交する方向に変位
するように形成され、前記接触面部の曲げ部が他の部分
の板厚より薄く形成されたコンタクトピンとしたことを
特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention as set forth in claim 1, is a contact portion which is disposed in a socket main body and which contacts a terminal of an electric component housed in the socket main body. A plate-shaped contact pin having a lead portion connected to the printed circuit board and a spring portion formed between the lead portion and the contact portion, the spring portion being curved in a direction orthogonal to the plate surface. Is formed so as to be elastically deformable, and the contact portion is formed by bending a contact surface portion that comes into contact with the electric component terminal at a substantially right angle to the plate surface, and the contact surface portion is orthogonal to the plate surface. It is characterized in that the contact pin is formed so as to be displaced in the direction, and the bent portion of the contact surface portion is formed thinner than the plate thickness of other portions.

【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
のコンタクトピンを成形する方法であって、板材の前記
曲げ部に相当する部分に圧力を加えて他の部分より板厚
を薄く形成し、その後、曲げ加工を施して前記曲げ部を
折り曲げて、前記接触面部を形成するようにしたコンタ
クトピンの成形方法としたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of molding the contact pin according to the first aspect, wherein pressure is applied to a portion of the plate material corresponding to the bent portion to make the plate thickness thinner than other portions. The contact pin is formed and then bent to bend the bent portion to form the contact surface portion.

【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の構成に加え、前記曲げ部を折り曲げると共に、該曲げ
部に圧力を加えて、該曲げ部の外面側を直角としてエッ
ジを形成したことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in addition to the structure of the second aspect, the bending portion is bent, and pressure is applied to the bending portion to form an edge with the outer surface side of the bending portion as a right angle. It is characterized by having done.

【0010】請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3
の何れか一つに記載のコンタクトピンが設けられた電気
部品用ソケットにおいて、前記コンタクトピンの接触部
は、前記ソケット本体のフローティングプレートの貫通
孔に挿入され、前記接触部の接触面部が変位したとき
に、該接触面部の先端部が、前記各貫通孔の間の隔壁部
上を覆うように構成された電気部品用ソケットとしたこ
とを特徴とする。
The invention according to a fourth aspect is the first to the third aspects.
In the socket for electrical parts provided with the contact pin according to any one of the above, the contact portion of the contact pin is inserted into the through hole of the floating plate of the socket body, and the contact surface portion of the contact portion is displaced. At this time, the tip of the contact surface portion is a socket for electric parts configured so as to cover the partition wall portion between the through holes.

【0011】請求項5に記載の発明は、請求項1乃至3
の何れか一つに記載のコンタクトピンが設けられた電気
部品用ソケットにおいて、前記コンタクトピンが複数互
いに隣接された状態で、絶縁プレート部材に嵌合されて
取り付けられることにより、コンタクトピン群組立体が
構成され、該コンタクトピン群組立体が複数重ね合わさ
れた電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。
The invention described in claim 5 is the invention as claimed in claims 1 to 3.
In the socket for electric parts provided with the contact pin according to any one of the above items, the contact pin group assembly is fitted and fitted to the insulating plate member in a state where the plurality of contact pins are adjacent to each other. And the contact pin group assembly is a plurality of stacked electrical component sockets.

【0012】請求項6に記載の発明は、請求項5に記載
の構成に加え、前記コンタクトピンには、前記ばね部と
前記リード部との間に、保持部が折り曲げられて形成さ
れ、該保持部が、前記絶縁プレート部材の嵌合溝に嵌合
された状態で、前記リード部及び前記接触部に作用する
外力を前記保持部を介して前記絶縁プレート部材で負担
するように構成されたことを特徴とする。
According to a sixth aspect of the invention, in addition to the structure of the fifth aspect, a holding portion is formed by bending the contact pin between the spring portion and the lead portion. The holding portion is configured to bear the external force acting on the lead portion and the contact portion by the insulating plate member via the holding portion while being fitted in the fitting groove of the insulating plate member. It is characterized by

【0013】請求項7に記載の発明は、請求項5又は6
に記載の電気部品用ソケットの製造方法において、前記
複数のコンタクトピンが連結部により連結されて互いに
隣接された状態でコンタクトピン群を形成し、該コンタ
クトピン群を、ソケット本体の絶縁プレート部材に保持
した後、該コンタクトピン群が嵌合された絶縁プレート
部材を複数重ね合わせ、次いで、前記連結部を切断した
電気部品用ソケットの製造方法としたことを特徴とす
る。
The invention according to claim 7 is the invention according to claim 5 or 6.
In the method for manufacturing an electrical component socket according to claim 1, a contact pin group is formed in a state where the plurality of contact pins are connected by a connecting portion and are adjacent to each other, and the contact pin group is formed on an insulating plate member of the socket body. After holding, a plurality of insulating plate members to which the contact pin group is fitted are stacked, and then the socket for electrical component is manufactured by cutting the connecting portion.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below.

【0015】[発明の実施の形態1]図1乃至図12に
は、この発明の実施の形態1を示す。
[First Embodiment of the Invention] FIGS. 1 to 12 show a first embodiment of the present invention.

【0016】まず構成を説明すると、図中符号11は、
いわゆるクラムシェルタイプと称される「電気部品用ソ
ケット」としてのICソケットで、このICソケット1
1は、「電気部品」であるICパッケージ12の性能試
験を行うために、このICパッケージ12の端子である
半田ボール12bと、測定器(テスター)のプリント配
線板(図示省略)との電気的接続を図るものである。
First, the structure will be described.
This IC socket 1 is an IC socket as a "socket for electric parts" called a clamshell type.
In order to perform a performance test of the IC package 12 which is an "electrical component", 1 is an electrical connection between a solder ball 12b which is a terminal of the IC package 12 and a printed wiring board (not shown) of a measuring instrument (tester). It is for connection.

【0017】このICパッケージ12は、例えば図11
にその一部を示すように、いわゆるBGA(Ball Grid
Array)タイプと称されるもので、方形のパッケージ本
体12aの下面に多数の略球状の半田ボール12bが突
出してマトリックス状に配列されている。
This IC package 12 is shown in FIG.
The so-called BGA (Ball Grid)
Array type, in which a large number of substantially spherical solder balls 12b are arranged in a matrix form on the lower surface of a rectangular package body 12a.

【0018】このICソケット11は、図2に示すよう
に大略すると、プリント配線板上に装着されるソケット
本体13を有し、このソケット本体13には、各半田ボ
ール12bに離接されるコンタクトピン15が配設され
ると共に、このソケット本体13の上側にICパッケー
ジ12が収容されるフローティングプレート16が配設
され、更に、このソケット本体13にカバー17が回動
自在に配設されている。
As shown in FIG. 2, the IC socket 11 generally has a socket body 13 mounted on a printed wiring board, and the socket body 13 has contacts for contacting with and separating from the solder balls 12b. A pin 15 is arranged, a floating plate 16 for accommodating the IC package 12 is arranged on the upper side of the socket body 13, and a cover 17 is rotatably arranged on the socket body 13. .

【0019】そのコンタクトピン15は、図5に示すよ
うに、一枚の導電性を有する板材がプレス加工により多
数同時に、略同一平面上に一列に形成され、各コンタク
トピン15は、上端部にICパッケージ12の半田ボー
ル12bに接触される接触部15aが形成されると共
に、下端部にプリント配線板に挿通されて半田付けされ
るリード部15bが形成され、更に、この接触部15a
の下側でリード部15bとの間には、弾性変形可能なば
ね部15cが形成されている。この一列に並んだ多数の
コンタクトピン15をコンタクトピン群20と称する。
As shown in FIG. 5, the contact pins 15 are formed by pressing a large number of conductive plate materials at the same time in a line on substantially the same plane. Each contact pin 15 has an upper end portion. A contact portion 15a that comes into contact with the solder balls 12b of the IC package 12 is formed, and a lead portion 15b that is inserted into the printed wiring board and soldered is formed at the lower end portion of the contact portion 15a.
An elastically deformable spring portion 15c is formed between the lower portion and the lead portion 15b. The large number of contact pins 15 arranged in a line are referred to as a contact pin group 20.

【0020】より詳しくは、そのばね部15cは、板面
と直交する方向に略S字状に湾曲して弾性変形可能に形
成されると共に、接触部15a側が、略コ字状にプレス
加工され、ICパッケージ12の半田ボール12bに接
触される接触面部15eが板面と略直角に折曲げ加工に
より形成されている。
More specifically, the spring portion 15c is formed so as to be elastically deformable by curving in a substantially S shape in a direction orthogonal to the plate surface, and the contact portion 15a side is pressed into a substantially U shape. The contact surface portion 15e that comes into contact with the solder balls 12b of the IC package 12 is formed by bending at a substantially right angle to the plate surface.

【0021】この接触面部15eは、ばね部15cが弾
性変形されることにより、板面と直交する方向Xに変位
するように形成され、接触面部15eの曲げ部15f
が、他の部分の板厚より薄く形成されている。また、こ
の曲げ部15fは、外面側が直角とされてエッジが形成
されている。
The contact surface portion 15e is formed so as to be displaced in the direction X orthogonal to the plate surface by elastic deformation of the spring portion 15c, and the bent portion 15f of the contact surface portion 15e is formed.
However, it is formed thinner than the plate thickness of other portions. Further, the bent portion 15f is formed with an edge with the outer surface side being a right angle.

【0022】このコンタクトピン群20の各コンタクト
ピン15は、ばね部15cの下側で略直角に折り曲げら
れた保持部15dが形成されることにより、隣接する接
触部15a同士のピッチより、隣接するリード部15b
同士のピッチの方が広く形成されている。
The contact pins 15 of the contact pin group 20 are adjacent to each other at a pitch between adjacent contact portions 15a by forming a holding portion 15d which is bent at a right angle below the spring portion 15c. Lead part 15b
The pitch between them is wider.

【0023】そして、このコンタクトピン群20が絶縁
プレート部材18に嵌合され、これらが多数重ね合わさ
れて、図4に示すコンタクトピン群組立体21が構成さ
れている。
The contact pin group 20 is fitted to the insulating plate member 18, and a large number of these are stacked to form a contact pin group assembly 21 shown in FIG.

【0024】詳しくは、その絶縁プレート部材18は、
図5に示すように板状を呈し、両端部に貫通孔18aが
形成されると共に、コンタクトピン群20の保持部15
d及び連結部15gと適合した形状で、これらが嵌合さ
れる嵌合溝18bが形成されている。
More specifically, the insulating plate member 18 is
As shown in FIG. 5, it has a plate-like shape, has through holes 18 a formed at both ends, and holds the contact pin group 20.
A fitting groove 18b into which these are fitted is formed in a shape that matches the d and the connecting portion 15g.

【0025】そして、コンタクトピン群20が絶縁プレ
ート部材18に嵌合された状態で、図4に示すように、
これらが複数重ね合わされると共に、中央部に中間絶縁
板22が、又、両側に側板23が配設されている。そし
て、絶縁プレート部材18、中間絶縁板22及び側板2
3の貫通孔18a,22a,23aに金属チューブの中
空スペーサ24が挿入されると共に、この中空スペーサ
24にボルト25が挿通されてナット26に螺合される
ことにより、コンタクトピン群組立体21が構成されて
いる。
Then, with the contact pin group 20 fitted in the insulating plate member 18, as shown in FIG.
A plurality of these are superposed on each other, and an intermediate insulating plate 22 is arranged at the center and side plates 23 are arranged on both sides. Then, the insulating plate member 18, the intermediate insulating plate 22, and the side plate 2
The hollow spacer 24 of the metal tube is inserted into the through holes 18a, 22a, and 23a of No. 3, and the bolt 25 is inserted into the hollow spacer 24 and screwed into the nut 26. It is configured.

【0026】このコンタクトピン群組立体21は、図4
に示すように、中間絶縁板22を中心として、両側のコ
ンタクトピン15が互いに向かい合うように対称形状に
形成されている。
This contact pin group assembly 21 is shown in FIG.
As shown in, the contact pins 15 on both sides are formed symmetrically with the intermediate insulating plate 22 as the center so as to face each other.

【0027】そして、このコンタクトピン群組立体21
が枠形状のベース部材29及びボディ部材30に保持さ
れると共に、図3に示すように、フローティングプレー
ト16がスプリング32により上方に付勢されている。
そして、このフローティングプレート16は、ボディ部
材30に係止されることにより、上昇が規制されるよう
に構成されている。
Then, this contact pin group assembly 21
Is held by the frame-shaped base member 29 and the body member 30, and the floating plate 16 is biased upward by the spring 32 as shown in FIG.
The floating plate 16 is configured to be restrained from rising by being locked to the body member 30.

【0028】また、このフローティングプレート16に
は、図1,図2及び図10に示すように、周縁部にIC
パッケージ本体12aの周縁部が載置される載置面部1
6aが形成されると共に、コンタクトピン15の接触部
15aが挿入される貫通孔16bがマトリックス状に形
成されている。さらに、このフローティングプレート1
6には、上面部に貫通孔16bが形成された範囲の周囲
に、ICパッケージ12の収容時の案内を行うガイド部
16cが形成されている。
In addition, as shown in FIGS. 1, 2 and 10, the floating plate 16 has an IC on the periphery thereof.
Mounting surface 1 on which the peripheral edge of the package body 12a is mounted
6a is formed, and through holes 16b into which the contact portions 15a of the contact pins 15 are inserted are formed in a matrix. Furthermore, this floating plate 1
A guide portion 16c for guiding the IC package 12 when the IC package 12 is housed is formed around the area where the through hole 16b is formed in the upper surface of the IC card 6.

【0029】このベース部材29及びボディ部材30
は、上下方向に沿うボルト33及び図示省略のナットに
より取り付けられている。
The base member 29 and the body member 30
Are attached by bolts 33 along the vertical direction and nuts (not shown).

【0030】さらに、そのボディ部材30には、図1及
び図2に示すように、軸36を介してカバー17が回動
自在に設けられ、そのカバー17によりフローティング
プレート16上に収容されたICパッケージ12が押圧
されるようになっている。
Further, as shown in FIGS. 1 and 2, a cover 17 is rotatably provided on the body member 30 via a shaft 36, and the IC accommodated on the floating plate 16 by the cover 17. The package 12 is pressed.

【0031】そのカバー17は、スプリング37により
開く方向に付勢され、このカバー17の先端部には、ラ
ッチ部材38が回動自在に設けられ、このラッチ部材3
8がボディ部材30に係脱されるようになっている。こ
のラッチ部材38は、図示省略のスプリングにより、閉
じる方向に付勢されている。
The cover 17 is urged in the opening direction by a spring 37, and a latch member 38 is rotatably provided at the tip of the cover 17 and the latch member 3 is provided.
8 is engaged with and disengaged from the body member 30. The latch member 38 is biased in the closing direction by a spring (not shown).

【0032】次に、コンタクトピン群組立体21の成形
について説明する。
Next, the molding of the contact pin group assembly 21 will be described.

【0033】まず、コンタクトピン群20をプレス加工
により成形する。コンタクトピン15の接触部15aの
成形は、図12(a)に示す状態から図12(b)に示
すようにプレス加工により、平板材の曲げ部15fに相
当する部分に圧力を加えて他の部分より板厚を薄く形成
する。次いで、図12(c)に示すように、その曲げ部
15fから接触面部15eを折り曲げ、その後、図12
(d)に示すように、曲げ部15fに圧力を加えて塑性
変形させることにより、この曲げ部15fの外面側を直
角としてエッジを形成した。
First, the contact pin group 20 is formed by pressing. The contact portion 15a of the contact pin 15 is formed by pressing from the state shown in FIG. 12 (a) to a portion corresponding to the bent portion 15f of the flat plate material by pressing as shown in FIG. 12 (b). The plate thickness is made thinner than the part. Next, as shown in FIG. 12C, the contact surface portion 15e is bent from the bent portion 15f, and thereafter, the contact surface portion 15e is bent.
As shown in (d), pressure was applied to the bent portion 15f to cause plastic deformation, thereby forming an edge with the outer surface side of the bent portion 15f as a right angle.

【0034】このように各コンタクトピン15が形成さ
れ、連結部15gで連結されたコンタクトピン群20を
絶縁プレート部材18の嵌合溝18bに嵌合させる(図
6参照)。
Each contact pin 15 is formed in this manner, and the contact pin group 20 connected by the connecting portion 15g is fitted into the fitting groove 18b of the insulating plate member 18 (see FIG. 6).

【0035】そして、コンタクトピン群20が嵌合され
た絶縁プレート部材18を複数重ね合わせることで脱落
を防止し、積層された絶縁プレート部材18の両側面に
側板23を配置した上で、全てをボルト25・ナット2
6により締め付けて固定する(図4参照)。
Then, a plurality of insulating plate members 18 to which the contact pin group 20 is fitted are stacked to prevent the insulating plate members 18 from falling off, and the side plates 23 are arranged on both side surfaces of the stacked insulating plate members 18, and then all of them are arranged. Bolt 25 / Nut 2
Tighten and fix with 6 (see Figure 4).

【0036】次いで、その状態(図7に示す状態)から
ファインカッタにより、絶縁プレート部材18等と共
に、コンタクトピン群20の連結部15gを切断する
(図8参照)。これにより、各コンタクトピン15は単
独で接触部材としての役割を持つ。
Then, from that state (the state shown in FIG. 7), the connection part 15g of the contact pin group 20 is cut together with the insulating plate member 18 and the like by the fine cutter (see FIG. 8). As a result, each contact pin 15 independently serves as a contact member.

【0037】その後、このようにして形成されたコンタ
クトピン群組立体21をベース部材29及びボディ部材
30等で組み立てる。
Thereafter, the contact pin group assembly 21 thus formed is assembled with the base member 29, the body member 30 and the like.

【0038】次に、作用について説明する。Next, the operation will be described.

【0039】ICパッケージ12を収容する場合には、
カバー17を開いた状態で、自動機によりICパッケー
ジ12を搬送して、フローティングプレート16上に乗
せる。この際には、ICパッケージ12は、ガイド部1
6cにガイドされて所定の位置に載置される。
When accommodating the IC package 12,
With the cover 17 open, the IC package 12 is conveyed by an automatic machine and placed on the floating plate 16. At this time, the IC package 12 has the guide portion 1
6c is guided and placed in a predetermined position.

【0040】この状態から、カバー17を閉じて行く
と、ラッチ部材38がボディ部材30に係止されること
により、カバー17が完全に閉じられることとなる。
When the cover 17 is closed from this state, the latch member 38 is locked to the body member 30, and the cover 17 is completely closed.

【0041】この際には、カバー17のカバー押圧部1
7aにより、ICパッケージ12が押圧され、フローテ
ィングプレート16がスプリング32の付勢力に抗して
下降され、コンタクトピン15の接触面部15eがIC
パッケージ12の半田ボール12bに接触される。
At this time, the cover pressing portion 1 of the cover 17
The IC package 12 is pressed by the 7a, the floating plate 16 is lowered against the urging force of the spring 32, and the contact surface portion 15e of the contact pin 15 becomes IC.
The solder balls 12b of the package 12 are contacted.

【0042】フローティングプレート16が下降される
と、コンタクトピン15の接触面部15eが、フローテ
ィングプレート16の貫通孔16bより上方に突出す
る。そして、図11に示すように、コンタクトピン接触
面部15eに半田ボール12bが当接し、この半田ボー
ル12bにより、コンタクトピン接触面部15eが押圧
され、コンタクトピン15のばね部15cが弾性変形し
て、コンタクトピン15が図10に示す状態から図11
に示す状態まで前傾する。
When the floating plate 16 is lowered, the contact surface portion 15e of the contact pin 15 projects above the through hole 16b of the floating plate 16. Then, as shown in FIG. 11, the solder ball 12b comes into contact with the contact pin contact surface portion 15e, the contact pin contact surface portion 15e is pressed by the solder ball 12b, and the spring portion 15c of the contact pin 15 is elastically deformed, From the state shown in FIG. 10 of the contact pin 15 to FIG.
Lean forward to the state shown in.

【0043】これにより、半田ボール12bとコンタク
トピン接触面部15eとが相対移動して、ワイピングさ
れることとなる。
As a result, the solder ball 12b and the contact pin contact surface portion 15e move relative to each other to be wiped.

【0044】この場合には、コンタクトピン曲げ部15
fの板厚が他の部分より薄く形成されることにより、曲
げ部15fの外面側の曲率半径が小さくなるため、コン
タクトピン接触面部15eの平面部分の面積が広くな
り、半田ボール12bが接触する面積を拡大させること
ができる。ちなみに、板厚が同じであると、曲率半径が
大きくなり、それだけ平面部分の面積が狭くなる。しか
も、その曲げ部15fの外面側を直角としてエッジを形
成することにより、R形状部分をなくすことで、接触面
部15eの平面部分の面積をより広げることができるた
め、半田ボール12bに対する接触面積もより広げるこ
とができる。そして、コンタクトピン15が前傾するこ
とにより、ワイピング量を増加させることができる。ま
た、コンタクトピン15の曲げ部15f以外の板厚を確
保でき、ばね部15cの弾性力や他の部分の強度を確保
することができる。
In this case, the contact pin bent portion 15
Since the plate thickness of f is thinner than other portions, the radius of curvature on the outer surface side of the bent portion 15f becomes smaller, so that the area of the plane portion of the contact pin contact surface portion 15e becomes wider and the solder ball 12b contacts. The area can be expanded. By the way, if the plate thickness is the same, the radius of curvature increases, and the area of the plane portion decreases accordingly. Moreover, since the R-shaped portion is eliminated by forming an edge with the outer surface side of the bent portion 15f as a right angle, the area of the flat surface portion of the contact surface portion 15e can be further widened, so that the contact area with the solder ball 12b is also increased. Can be expanded more. The contact pin 15 tilts forward to increase the wiping amount. Further, the plate thickness of the contact pin 15 other than the bent portion 15f can be secured, and the elastic force of the spring portion 15c and the strength of other portions can be secured.

【0045】しかも、コンタクトピン15の前傾時に、
接触面部15eの先端部が図11に示すように、フロー
ティングプレート16の隔壁部16dの上側に被さるよ
うに構成されているため、ワイピング量を長くすること
ができると共に、隔壁部16dの厚みを確保でき、フロ
ーティングプレート16の強度を確保することができ
る。
Moreover, when the contact pin 15 is tilted forward,
As shown in FIG. 11, the tip of the contact surface portion 15e is configured to cover the upper side of the partition wall portion 16d of the floating plate 16, so that the wiping amount can be increased and the thickness of the partition wall portion 16d can be secured. Therefore, the strength of the floating plate 16 can be secured.

【0046】これで、コンタクトピン15のばね部15
cが弾性変形されることにより、コンタクトピン15の
接触部15aとICパッケージ12の半田ボール12b
と所定の接圧で接触されることとなる。
Now, the spring portion 15 of the contact pin 15 is
By elastically deforming c, the contact portion 15a of the contact pin 15 and the solder ball 12b of the IC package 12
And a predetermined contact pressure.

【0047】これにより、ICパッケージ12がコンタ
クトピン15を介してプリント配線板と電気的に接続さ
れて、バーンイン試験が行われることとなる。
As a result, the IC package 12 is electrically connected to the printed wiring board through the contact pins 15, and the burn-in test is performed.

【0048】また、このようなものにあっては、同一平
面上に複数のコンタクトピン15が所定のピッチで一列
に配設されてコンタクトピン群20が構成され、これら
コンタクトピン群20が絶縁プレート部材18に嵌合さ
れ、これらが重ね合わされて配設されて、接触部15a
がマトリクス状に配列されている。してみれば、各コン
タクトピン15をそれぞれソケット本体13に圧入する
必要が無く、コンタクトピン15の配設作業を簡単に行
うことができる。
Further, in such a structure, a plurality of contact pins 15 are arranged in a line at a predetermined pitch on the same plane to form a contact pin group 20, and the contact pin group 20 is an insulating plate. The member 18 is fitted and arranged so as to be overlapped with each other, and the contact portion 15a
Are arranged in a matrix. Therefore, it is not necessary to press-fit each contact pin 15 into the socket body 13, and the work of disposing the contact pin 15 can be easily performed.

【0049】さらに、コンタクトピン群20は、隣接す
るコンタクトピン15の接触部15a同士のピッチよ
り、下端部側のリード部15b同士のピッチの間隔を広
げたため、ICパッケージ12の半田ボール12bが挟
ピッチ化されているものでも、コンタクトピン15のプ
リント配線板への配設を容易に行うことができる。
Further, in the contact pin group 20, since the pitch interval between the lead portions 15b on the lower end side is wider than the pitch between the contact portions 15a of the adjacent contact pins 15, the solder balls 12b of the IC package 12 are sandwiched. Even with a pitched structure, the contact pins 15 can be easily arranged on the printed wiring board.

【0050】しかも、このようにリード部15bのピッ
チを接触部15a側より広げるために、保持部15dを
略直角に折り曲げ、この保持部15dを絶縁プレート部
材18に嵌合させるようにしているため、コンタクトピ
ン接触部15a側からの入力、コンタクトピンリード部
15b側からの入力をその保持部15dを介して絶縁プ
レート部材18で負担でき、ソケット本体13に単に圧
入したものと比較すると、コンタクトピン15が抜ける
ことなく、コンタクトピン15の保持を確実に行うこと
ができる。
Moreover, in order to widen the pitch of the lead portions 15b from the contact portion 15a side, the holding portion 15d is bent at a substantially right angle, and the holding portion 15d is fitted to the insulating plate member 18. , The input from the contact pin contact portion 15a side and the input from the contact pin lead portion 15b side can be borne by the insulating plate member 18 through the holding portion 15d, and compared with the one simply press-fitted into the socket body 13, the contact pin It is possible to reliably hold the contact pin 15 without the 15 coming off.

【0051】さらに、複数のコンタクトピン15を連結
部15gで連結した状態で、絶縁プレート部材18に嵌
合させ、これらを重ね合わせた後、連結部15gを切断
するようにしているため、コンタクトピン15を一本ず
つ組み付けるものと比較すると、コンタクトピン15の
配設作業性を向上させることができる。
Further, since the plurality of contact pins 15 are connected to the insulating plate member 18 in a state where they are connected by the connecting portion 15g, and these are stacked, the connecting portion 15g is cut off. The workability of disposing the contact pins 15 can be improved as compared with the case of assembling the contact pins 15 one by one.

【0052】[発明の実施の形態2]図13及び図14
には、この発明の実施の形態2を示す。
[Second Embodiment of the Invention] FIGS. 13 and 14
2 shows Embodiment 2 of the present invention.

【0053】この実施の形態2は、コンタクトピン群2
0が左右に2分割されている点で、実施の形態1と相違
している。
The second embodiment is a contact pin group 2
This is different from the first embodiment in that 0 is divided into two right and left.

【0054】左右それぞれ3本ずつのコンタクトピン1
5を有し、それら3本ずつがそれぞれ連結部15gで連
結されている。
Three contact pins 1 each on the left and right
5 are connected to each other by connecting portions 15g.

【0055】他の構成及び作用は実施の形態1と同様で
あるので説明を省略する。
The other structure and operation are the same as those of the first embodiment, and therefore the description thereof is omitted.

【0056】なお、上記実施の形態では、「電気部品用
ソケット」としてICソケット11に、この発明を適用
したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは
勿論である。また、上記実施の形態では、クラムシェル
タイプのICソケットに、この発明を適用したが、これ
に限らず、いわゆるオープントップタイプのICソケッ
トにも適用することができる。
Although the present invention is applied to the IC socket 11 as the "electrical component socket" in the above-described embodiment, it is needless to say that the present invention can be applied to other devices as well. Further, in the above-described embodiment, the present invention is applied to the clamshell type IC socket, but the present invention is not limited to this, and may be applied to a so-called open top type IC socket.

【0057】[0057]

【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1に記
載の発明によれば、コンタクトピンの接触部は、電気部
品端子に接触される接触面部が板面と略直角に折曲げ加
工により形成されると共に、この接触面部が板面と直交
する方向に変位するように形成され、この接触面部の曲
げ部が、他の部分の板厚より薄く形成されたため、この
曲げ部の外面側の曲率半径を小さくでき、接触面部の面
積を極力広くでき、ワイピング量を長くすることができ
る。また、曲げ部以外の板厚を確保できるため、ばね部
の弾性力や他の部分の強度を確保することができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the contact portion of the contact pin is formed by bending the contact surface portion contacting the electric component terminal at a substantially right angle to the plate surface. At the same time as being formed, this contact surface portion is formed so as to be displaced in the direction orthogonal to the plate surface, and since the bent portion of this contact surface portion is formed thinner than the plate thickness of other portions, the outer surface side of this bent portion The radius of curvature can be reduced, the area of the contact surface portion can be maximized, and the wiping amount can be increased. Further, since the plate thickness other than the bent portion can be secured, the elastic force of the spring portion and the strength of other portions can be secured.

【0058】請求項2に記載の発明によれば、上記効果
を有するコンタクトピンを成形するのに、曲げ部を切削
することなく容易に薄く成形できる。
According to the second aspect of the present invention, the contact pin having the above effect can be easily formed thin without cutting the bent portion.

【0059】請求項3に記載の発明によれば、曲げ部を
折り曲げると共に、この曲げ部に圧力を加えて、曲げ部
の外面側を直角としてエッジを形成したため、より接触
面部の面積を広げることができる。
According to the third aspect of the present invention, since the bending portion is bent and pressure is applied to the bending portion to form an edge with the outer surface side of the bending portion as a right angle, the area of the contact surface portion can be further expanded. You can

【0060】請求項4に記載の発明によれば、コンタク
トピンの接触部は、ソケット本体のフローティングプレ
ートの貫通孔に挿入され、接触部の接触面部が変位した
ときに、接触面部の先端部が、各貫通孔の間の隔壁部上
を覆うように構成されたため、接触面部の変位量を大き
くでき、ワイピング量を増加できると共に、隣接する貫
通孔の間の隔壁部の板厚を厚くでき、フローティングプ
レートの強度を確保できる。
According to the fourth aspect of the invention, the contact portion of the contact pin is inserted into the through hole of the floating plate of the socket body, and when the contact surface portion of the contact portion is displaced, the tip portion of the contact surface portion is Since it is configured to cover the partition wall portion between each through hole, the displacement amount of the contact surface portion can be increased, the wiping amount can be increased, and the plate thickness of the partition wall portion between adjacent through holes can be increased. The strength of the floating plate can be secured.

【0061】請求項5に記載の発明によれば、コンタク
トピンが複数互いに隣接された状態で、絶縁プレート部
材に嵌合されて取り付けられ、これらが複数重ね合わせ
て配設するようにしたため、コンタクトピンの配設作業
性を向上させることができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the plurality of contact pins are fitted and attached to the insulating plate member in a state where the contact pins are adjacent to each other, and the plurality of contact pins are arranged so as to overlap each other. The workability of arranging the pins can be improved.

【0062】請求項6に記載の発明によれば、コンタク
トピンには、ばね部とリード部との間に、保持部が折り
曲げられて形成され、保持部が、絶縁プレート部材の嵌
合溝に嵌合された状態で、リード部及び接触部に作用す
る外力を保持部を介して絶縁プレート部材で負担するよ
うに構成されたため、ソケット本体に単に圧入したもの
と比較すると、コンタクトピンが抜けることなく、コン
タクトピンの保持を確実に行うことができる。
According to the sixth aspect of the present invention, the contact pin is formed by bending the holding portion between the spring portion and the lead portion, and the holding portion is formed in the fitting groove of the insulating plate member. In the fitted state, the external force acting on the lead and the contact part is borne by the insulating plate member via the holding part, so the contact pin will come off when compared with the one simply press-fitted into the socket body. Therefore, the contact pin can be securely held.

【0063】請求項7に記載の発明によれば、複数のコ
ンタクトピンが連結部により連結されて互いに隣接され
た状態でコンタクトピン群を形成し、このコンタクトピ
ン群を、ソケット本体の絶縁プレート部材に保持した
後、コンタクトピン群が嵌合された絶縁プレート部材を
複数重ね合わせ、次いで、連結部を切断したため、多数
のコンタクトピンを容易に、且つ、確実に配設すること
ができる。
According to the invention described in claim 7, a contact pin group is formed in a state where a plurality of contact pins are connected to each other by a connecting portion so as to be adjacent to each other, and the contact pin group is formed by the insulating plate member of the socket body. After that, a plurality of insulating plate members to which the contact pin group is fitted are overlapped with each other, and then the connecting portion is cut, so that a large number of contact pins can be easily and surely arranged.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施の形態1に係るICソケットの
平面図で、カバーの半分を省略した状態の平面図であ
る。
FIG. 1 is a plan view of an IC socket according to a first embodiment of the present invention in which a half of a cover is omitted.

【図2】同実施の形態1に係るICソケットの断面図で
ある。
FIG. 2 is a sectional view of the IC socket according to the first embodiment.

【図3】同実施の形態1に係るICソケットの図2と直
交する方向に沿う断面図である。
FIG. 3 is a sectional view of the IC socket according to the first embodiment taken along a direction orthogonal to FIG.

【図4】同実施の形態1に係るコンタクトピン群等の配
設状態を示すコンタクトピン群組立体の一部断面図であ
る。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of a contact pin group assembly showing an arrangement state of the contact pin group and the like according to the first embodiment.

【図5】同実施の形態1に係るコンタクトピン群と絶縁
プレート部材とを示す分解斜視図である。
FIG. 5 is an exploded perspective view showing a contact pin group and an insulating plate member according to the first embodiment.

【図6】同実施の形態1に係るコンタクトピン群を絶縁
プレート部材に嵌合させた状態を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a state in which the contact pin group according to the first embodiment is fitted to the insulating plate member.

【図7】同実施の形態1に係るコンタクトピンの連結部
を切断する前の状態を示す、コンタクトピン群組立体の
正面図である。
FIG. 7 is a front view of the contact pin group assembly showing a state before cutting the connecting portion of the contact pin according to the first embodiment.

【図8】同実施の形態1に係る連結部を切断した後の状
態を示す、コンタクトピン群組立体の正面図である。
FIG. 8 is a front view of the contact pin group assembly showing a state after cutting the connecting portion according to the first embodiment.

【図9】同実施の形態1に係るコンタクトピンの側面図
である。
FIG. 9 is a side view of the contact pin according to the first embodiment.

【図10】同実施の形態1に係るコンタクトピンの接触
部がフローティングプレートの貫通孔に挿入された状態
の断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state where the contact portion of the contact pin according to the first embodiment is inserted into the through hole of the floating plate.

【図11】同実施の形態1に係るコンタクトピンの接触
部がフローティングプレートの貫通孔に挿入され、IC
パッケージが収容された状態の断面図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a contact portion of a contact pin according to the first embodiment inserted into a through hole of a floating plate,
It is a sectional view of a state where a package was stored.

【図12】同実施の形態1に係るコンタクトピンの接触
部の成形工程を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a step of molding a contact portion of the contact pin according to the first embodiment.

【図13】この発明の実施の形態2に係るコンタクトピ
ン群を示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view showing a contact pin group according to the second embodiment of the present invention.

【図14】同実施の形態2に係るコンタクトピン群を示
す正面図である。
FIG. 14 is a front view showing a contact pin group according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 ICソケット(電気部品用ソケット) 12 ICパッケージ(電気部品) 12a パッケージ本体 12b 半田ボール(端子) 13 ソケット本体 15 コンタクトピン 15a 接触部 15b リード部 15c ばね部 15d 保持部 15e 接触面部 15f 曲げ部 15g 連結部 16 フローティングプレート 16a 載置面部 16b 貫通孔 16c ガイド部 16d 隔壁部 18 絶縁プレート部材 18a 貫通孔 18b 嵌合溝 20 コンタクトピン群 21 コンタクトピン群組立体 11 IC socket (socket for electric parts) 12 IC package (electrical parts) 12a package body 12b Solder ball (terminal) 13 Socket body 15 contact pins 15a contact part 15b Lead part 15c Spring part 15d holding part 15e Contact surface part 15f bending part 15g connection 16 floating plate 16a Mounting surface 16b through hole 16c guide section 16d bulkhead 18 Insulation plate member 18a through hole 18b Mating groove 20 Contact pin group 21 Contact pin group assembly

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01R 43/00 H01R 43/00 B 43/16 43/16 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01R 43/00 H01R 43/00 B 43/16 43/16

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ソケット本体に配設され、該ソケット本
体に収容される電気部品の端子に接触される接触部と、
プリント基板に接続されるリード部と、該リード部及び
前記接触部の間に形成されたばね部とを有する板状のコ
ンタクトピンにおいて、 前記ばね部は、板面と直交する方向に湾曲して弾性変形
可能に形成され、 前記接触部は、前記電気部品端子に接触される接触面部
が前記板面と略直角に折曲げ加工により形成されると共
に、該接触面部が前記板面と直交する方向に変位するよ
うに形成され、 前記接触面部の曲げ部が他の部分の板厚より薄く形成さ
れたことを特徴とするコンタクトピン。
1. A contact portion which is disposed in a socket body and which comes into contact with a terminal of an electric component housed in the socket body,
In a plate-shaped contact pin having a lead part connected to a printed circuit board and a spring part formed between the lead part and the contact part, the spring part bends in a direction orthogonal to the plate surface and is elastic. The contact portion is formed so as to be deformable, and the contact surface portion that contacts the electric component terminal is formed by bending at a substantially right angle to the plate surface, and the contact surface portion is formed in a direction orthogonal to the plate surface. A contact pin, wherein the contact pin is formed so as to be displaced, and the bent portion of the contact surface portion is formed thinner than the plate thickness of other portions.
【請求項2】 請求項1に記載のコンタクトピンを成形
する方法であって、 板材の前記曲げ部に相当する部分に圧力を加えて他の部
分より板厚を薄く形成し、その後、曲げ加工を施して前
記曲げ部を折り曲げて、前記接触面部を形成するように
したことを特徴とするコンタクトピンの成形方法。
2. The method for forming a contact pin according to claim 1, wherein a portion of the plate material corresponding to the bent portion is pressed to form a plate thickness thinner than other portions, and then bending is performed. The contact pin is formed by bending the bent portion to form the contact surface portion.
【請求項3】 前記曲げ部を折り曲げると共に、該曲げ
部に圧力を加えて、該曲げ部の外面側を直角としてエッ
ジを形成したことを特徴とする請求項2に記載のコンタ
クトピンの成形方法。
3. The method for molding a contact pin according to claim 2, wherein the bent portion is bent and pressure is applied to the bent portion to form an edge with the outer surface side of the bent portion as a right angle. .
【請求項4】 請求項1乃至3の何れか一つに記載のコ
ンタクトピンが設けられた電気部品用ソケットにおい
て、 前記コンタクトピンの接触部は、前記ソケット本体のフ
ローティングプレートの貫通孔に挿入され、前記接触部
の接触面部が変位したときに、該接触面部の先端部が、
前記各貫通孔の間の隔壁部上を覆うように構成されたこ
とを特徴とする電気部品用ソケット。
4. A socket for an electric component provided with the contact pin according to claim 1, wherein the contact portion of the contact pin is inserted into a through hole of a floating plate of the socket body. , When the contact surface portion of the contact portion is displaced, the tip of the contact surface portion,
An electrical component socket, which is configured to cover a partition wall portion between the through holes.
【請求項5】 請求項1乃至3の何れか一つに記載のコ
ンタクトピンが設けられた電気部品用ソケットにおい
て、 前記コンタクトピンが複数互いに隣接された状態で、絶
縁プレート部材に嵌合されて取り付けられることによ
り、コンタクトピン群組立体が構成され、該コンタクト
ピン群組立体が複数重ね合わされたことを特徴とする電
気部品用ソケット。
5. An electric component socket provided with the contact pin according to claim 1, wherein a plurality of the contact pins are adjacent to each other and are fitted to the insulating plate member. A socket for electrical parts, characterized in that a contact pin group assembly is formed by being attached, and a plurality of the contact pin group assemblies are superposed.
【請求項6】 前記コンタクトピンには、前記ばね部と
前記リード部との間に、保持部が折り曲げられて形成さ
れ、該保持部が、前記絶縁プレート部材の嵌合溝に嵌合
された状態で、前記リード部及び前記接触部に作用する
外力を前記保持部を介して前記絶縁プレート部材で負担
するように構成されたことを特徴とする請求項5に記載
の電気部品用ソケット。
6. The contact pin is formed by bending a holding portion between the spring portion and the lead portion, and the holding portion is fitted in a fitting groove of the insulating plate member. The socket for electrical parts according to claim 5, wherein, in this state, an external force acting on the lead portion and the contact portion is configured to be borne by the insulating plate member via the holding portion.
【請求項7】 請求項5又は6に記載の電気部品用ソケ
ットの製造方法において、 前記複数のコンタクトピンが連結部により連結されて互
いに隣接された状態でコンタクトピン群を形成し、該コ
ンタクトピン群を、ソケット本体の絶縁プレート部材に
保持した後、該コンタクトピン群が嵌合された絶縁プレ
ート部材を複数重ね合わせ、次いで、前記連結部を切断
したことを特徴とする電気部品用ソケットの製造方法。
7. The method for manufacturing an electrical component socket according to claim 5, wherein the plurality of contact pins are connected by a connecting portion to form a contact pin group in a state of being adjacent to each other, and the contact pin is formed. After holding the group on the insulating plate member of the socket body, a plurality of insulating plate members to which the contact pin group is fitted are stacked, and then the connecting portion is cut off, to manufacture a socket for an electric component. Method.
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