JP2003315691A - Image display element and method of manufacturing the same - Google Patents

Image display element and method of manufacturing the same

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JP2003315691A
JP2003315691A JP2002124536A JP2002124536A JP2003315691A JP 2003315691 A JP2003315691 A JP 2003315691A JP 2002124536 A JP2002124536 A JP 2002124536A JP 2002124536 A JP2002124536 A JP 2002124536A JP 2003315691 A JP2003315691 A JP 2003315691A
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Japan
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image display
electrode layer
display device
layer
silicon substrate
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Application number
JP2002124536A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Murayama
任 村山
Koichi Kimura
宏一 木村
Shintaro Washisu
信太郎 鷲巣
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image display element which is small in size, high in density of integration, low in manufacturing cost and functions as an MEM (mechanical electromodulator) element of a transmission type by using a facility for manufacturing a semiconductor. <P>SOLUTION: The MEM element has an Si (silicon) substrate 1 having a thickness to transmit visible rays, an insulating layer 2 formed in contact with the top surface of the Si substrate 1, a lower electrode layer 3 formed in contact with the top surface of the insulating layer 2, a sacrificial gap 4 of the space formed in the partial region atop the layer 3, a movable film 5 formed to cove the gap 4 atop the layer 3, an upper electrode 6 formed in contact with the upper part of the movable film 5, a contact hole 7 pepetrating from the surface of the movable film 5 down to the surface of the layer 3, and a lower electrode 8 formed up to the surface of the layer 3 through the contact hole 7 from the circumference in the upper part of the contact hole 7. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像表示素子及び
その製造方法に関し、特に、透過型のMEM(Mechanic
al Electro Modulator:機械電気光変調)素子として機
能する画像表示素子及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image display device and a method for manufacturing the same, and more particularly to a transmissive MEM (Mechanic).
al Electro Modulator: An image display element that functions as a mechanical electro-optical modulator and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来は、画像表示素子として、種々のも
のが提案されており、その代表的なものを用いた装置と
しては、CRT(陰極線管)表示装置、LCD(液晶)
表示装置、LED(発光ダイオード)表示装置、プラズ
マ表示装置等が実用化されている。特に、反射型の画像
表示装置としては、LCOS(Liquid Crystal on Si)
がよく知られており、反射型の液晶プロジェクタ、小型
画像表示素子として使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, various types of image display devices have been proposed, and examples of devices using typical ones include CRT (cathode ray tube) display devices and LCD (liquid crystal) devices.
Display devices, LED (light emitting diode) display devices, plasma display devices, and the like have been put into practical use. In particular, as a reflective image display device, LCOS (Liquid Crystal on Si) is used.
Is well known and is used as a reflection type liquid crystal projector and a small image display device.

【0003】また、画像表示素子として、近年では、M
EM素子が提案されており、これは、ガラス基板または
プラスチックフィルム上にマイクロマシニング技術によ
り作製された可撓薄膜を、静電気力により機械的に動作
させることで光変調を行う電気機械的な光変調素子であ
り、従来は透過型の表示素子として知られている。さら
に詳述すると、光変調素子としては、例えば、透明な電
極とダイヤフラムからなる可撓薄膜を、支持部を介して
光源上の固定電極に架設したものがある。この光変調素
子では、両電極間に所定の電圧を印加することで電極間
に静電気力を発生させ、可撓薄膜を固定電極に向かって
撓ませる。これに伴って素子自体の光学的特性が変化し
て、光変調素子に光が透過する。一方、印加電圧をゼロ
にすることで可撓薄膜が弾性復帰し、光変調素子は光を
遮光する。このようにして光変調が行われる。図5は、
従来のMEM素子の一つである干渉を利用するタイプの
内部構成を示す断面図である。図5に示すMEM素子で
は、ガラス基板91の上面に上下2枚の透明電極94が
間隔を置いて形成されており、上記下側の透明電極94
の上部には上下2枚のハーフミラー92が2つのスペー
サ95を介して配置されている。上記2枚のハーフミラ
ー92と、2つのスペーサ95とに挟まれた空間には、
下側のハーフミラー92に接して絶縁体から成る透明ス
ペーサ93が形成されている。なお、上側のハーフミラ
ー92の上部には上記した上側の透明電極94が形成さ
れている。
In recent years, as an image display device, M
An EM device has been proposed, which is an electromechanical optical modulation in which a flexible thin film manufactured by a micromachining technique on a glass substrate or a plastic film is mechanically operated by electrostatic force to perform optical modulation. The element is conventionally known as a transmissive display element. More specifically, as the light modulation element, there is, for example, one in which a flexible thin film composed of a transparent electrode and a diaphragm is provided on a fixed electrode on a light source via a support portion. In this light modulation element, by applying a predetermined voltage between both electrodes, an electrostatic force is generated between the electrodes, and the flexible thin film is bent toward the fixed electrode. Along with this, the optical characteristics of the element itself change, and light passes through the light modulation element. On the other hand, when the applied voltage is set to zero, the flexible thin film elastically recovers, and the light modulation element blocks light. Light modulation is performed in this way. Figure 5
It is sectional drawing which shows the internal structure of the type which utilizes the interference which is one of the conventional MEM elements. In the MEM element shown in FIG. 5, two upper and lower transparent electrodes 94 are formed at intervals on the upper surface of a glass substrate 91, and the lower transparent electrode 94 is formed.
Two upper and lower half mirrors 92 are arranged on the upper part of the above through two spacers 95. In the space between the two half mirrors 92 and the two spacers 95,
A transparent spacer 93 made of an insulating material is formed in contact with the lower half mirror 92. The upper transparent electrode 94 described above is formed on the upper half mirror 92.

【0004】図5に示すMEM素子には、上下2枚の透
明電極94間には電圧が印加されていないので、上記の
上側のハーフミラー92は、透明スペーサ93に密着さ
れず、形成された状態のままにあり、その結果、ガラス
基板91の下方側に配置されたコリメート平面光源96
から発せられた光97は、下側のハーフミラー92で反
射されて、このMEM素子本体を透過することがない。
Since no voltage is applied between the upper and lower transparent electrodes 94 in the MEM device shown in FIG. 5, the upper half mirror 92 is formed without being adhered to the transparent spacer 93. State, and as a result, the collimated planar light source 96 disposed below the glass substrate 91.
The light 97 emitted from is reflected by the lower half mirror 92 and does not pass through the MEM element body.

【0005】図6は、図5に示すMEM素子において、
上下2枚の透明電極間に電圧を印加した場合の内部状態
を示す断面図である。図6に示すMEM素子では、図5
に示すMEM素子の上下2枚の透明電極94間に電圧が
印加された結果、この透明電極94間には、印加した電
圧による静電気力が作用し、上側の透明電極94及びそ
の下の上側のハーフミラー92は下方に押されて、上側
のハーフミラー92が透明スペーサ93に密着し、この
上下2枚のハーフミラー92に直交する光路の光の透過
率が増加し、その結果、コリメート平面光源96から発
せられた光97は、このMEM素子本体を透過して、M
EM素子本体の上方側に配置されたガラス基板98によ
って適当な散乱を得る。
FIG. 6 shows the MEM element shown in FIG.
It is sectional drawing which shows an internal state at the time of applying a voltage between two transparent electrodes of upper and lower sides. In the MEM element shown in FIG.
As a result of the voltage being applied between the upper and lower two transparent electrodes 94 of the MEM element shown in FIG. 5, an electrostatic force due to the applied voltage acts between the transparent electrodes 94, and the upper transparent electrode 94 and the upper transparent electrode below the transparent electrode 94. The half mirror 92 is pushed downward, and the upper half mirror 92 is brought into close contact with the transparent spacer 93, and the transmittance of light in the optical path orthogonal to the upper and lower half mirrors 92 is increased. As a result, the collimated planar light source is obtained. Light 97 emitted from 96 passes through the MEM element body and
Appropriate scattering is obtained by the glass substrate 98 arranged on the upper side of the EM element body.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
画像表示素子を使用した表示装置は、それぞれ問題点を
有している。例えば、CRT表示装置は、装置の小型化
が困難であり、微小化したものでは、寿命や信頼性を均
一に高めることが困難であり、消費電力も大きくなると
いった問題点を有している。また、LCD表示装置は、
バックライト光を必要とするものについては、その光の
使用効率が問題となり、さらに、高コストのTFT(薄
膜トランジスタ)を必要とするといった問題点を有して
いる。また、LED表示装置は、発光ダイオード、特に
青色発光ダイオードの価格と寿命、さらにはLEDの2
次元配列の製造コストとが問題点となる。さらに、プラ
ズマ表示装置は、本質的な問題点として、画像信号の制
御系と蛍光発光に必要な電源の制御系とを一体化した回
路とする必要があるので、画像信号の制御系が巨大とな
り、かつ動作速度も高めることができないといった問題
点を有している。
The display devices using the above-mentioned conventional image display elements have their respective problems. For example, a CRT display device has a problem that it is difficult to miniaturize the device, and if it is miniaturized, it is difficult to uniformly improve the life and reliability, and the power consumption increases. Also, the LCD display device
With respect to those requiring backlight light, there is a problem in that the use efficiency of the light becomes a problem, and further, a high-cost TFT (thin film transistor) is required. In addition, the LED display device includes a light emitting diode, particularly a blue light emitting diode, which has a price and lifespan.
The problem is the manufacturing cost of the dimensional array. Further, as the plasma display device, as an essential problem, it is necessary to form a circuit in which the control system of the image signal and the control system of the power supply necessary for the fluorescence emission are integrated, so that the control system of the image signal becomes huge. In addition, there is a problem that the operation speed cannot be increased.

【0007】なお、従来の画像表示素子の1つであるM
EM素子は、ガラス基板やプラスチックフィルム上に形
成されるので、特殊なマシニング技術を導入する必要が
あり、また、集積度を向上させることができないといっ
た問題点を有していた。さらに、画像信号をMEM素子
に適した信号形態に変換・処理したり、駆動したりする
ための半導体回路をMEM素子とは別個の装置として配
置し、接続する必要があり、これらを一体化できないと
いった問題点を有していた。
Incidentally, M, which is one of the conventional image display elements,
Since the EM element is formed on a glass substrate or a plastic film, there is a problem that it is necessary to introduce a special machining technique and the degree of integration cannot be improved. Further, it is necessary to arrange and connect a semiconductor circuit for converting / processing an image signal into a signal form suitable for the MEM element and driving the same as a device separate from the MEM element, and these cannot be integrated. There was a problem such as.

【0008】本発明は、上記したような従来の画像表示
素子及びその製造方法における問題点に鑑みてなされた
ものであり、半導体の製造設備を使用して小型で集積密
度が高く、かつ製造コストの安い、透過型のMEM素子
として機能する画像表示素子を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems in the conventional image display device and the manufacturing method thereof, and is small in size and high in the integration density by using the semiconductor manufacturing equipment, and the manufacturing cost is high. It is an object of the present invention to provide an image display device that functions as a transmissive MEM device at low cost.

【0009】また、本発明の他の目的は、半導体の製造
設備を使用して小型で集積密度が高く、かつ製造コスト
の安い、透過型のMEM素子として機能する画像表示素
子の製造方法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing an image display device which functions as a transmissive MEM device using a semiconductor manufacturing facility, which is small in size, has a high integration density, and is low in manufacturing cost. To do.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明では上記の課題を
解決するために、請求項1記載の画像表示素子として、
間隔を隔てて形成された上下2層の電極層を有し、前記
2層の電極層間に電圧を印加することにより本体の水平
方向に直交する方向から照射された光の透過率を変化さ
せる透過型の機械電気光変調素子において、前記2層の
電極を構成要素に含む前記本体が、可視光線に対して所
定の透過率を有するシリコン基板上に形成されているこ
とを特徴とする機械電気光変調素子が提供される。
In order to solve the above problems, the present invention provides an image display device according to claim 1, wherein
Transmission that has upper and lower two electrode layers formed at intervals and changes the transmittance of light emitted from a direction orthogonal to the horizontal direction of the main body by applying a voltage between the two electrode layers. Type electromechanical optical modulator, wherein the main body including the two-layer electrodes as constituent elements is formed on a silicon substrate having a predetermined transmittance for visible light. A modulator element is provided.

【0011】また、請求項2記載の画像表示素子とし
て、請求項1記載の画像表示素子において、前記シリコ
ン基板は、波長400〜650nmの範囲の可視光線の
少なくとも一部に対して所定の透過率を有することを特
徴とする機械電気光変調素子が提供される。
The image display device according to claim 2 is the image display device according to claim 1, wherein the silicon substrate has a predetermined transmittance for at least a part of visible light in a wavelength range of 400 to 650 nm. A mechanical-electro-optical modulator is provided.

【0012】また、請求項3記載の画像表示素子とし
て、請求項2記載の画像表示素子において、前記シリコ
ン基板と前記2層の電極層の下側の電極層との間に絶縁
層を有し、かつ前記2層の電極層間に可動膜を有し、か
つ前記2層の電極層の下側の電極層の上部に、前記可動
膜により覆われた空隙部分を有することを特徴とする機
械電気光変調素子が提供される。
An image display device according to a third aspect is the image display device according to the second aspect, further comprising an insulating layer between the silicon substrate and an electrode layer below the two electrode layers. And a movable film between the two electrode layers, and a void portion covered with the movable film above the electrode layer below the two electrode layers. A light modulation element is provided.

【0013】また、請求項4記載の画像表示素子とし
て、請求項3記載の画像表示素子において、前記可動膜
の前記空隙部分の上部から外れた端部の表面に、前記表
面から前記2層の電極層の下側の電極層の表面に達する
まで貫通するコンタクトホールを有することを特徴とす
る機械電気光変調素子が提供される。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the image display element according to the third aspect, in which the surface of the end portion of the movable film which is separated from the upper portion of the void portion includes the two layers from the surface. There is provided a mechanical-electro-optical modulation device having a contact hole penetrating to a surface of the electrode layer below the electrode layer.

【0014】また、請求項5記載の画像表示素子とし
て、請求項4記載の画像表示素子において、前記コンタ
クトホールの内部を潜って前記2層の電極層の下側の電
極層の表面まで到達すると共に前記電極層との電気的接
触を有する下部電極を具備したことを特徴とする機械電
気光変調素子が提供される。
According to a fifth aspect of the present invention, in the image display element according to the fourth aspect, the inner surface of the electrode layer below the two electrode layers is penetrated under the contact hole. There is also provided a mechanical-electro-optical modulator comprising a lower electrode having electrical contact with the electrode layer.

【0015】また、請求項6記載の画像表示素子とし
て、請求項1乃至5記載のいずれか1項に記載の画像表
示素子において、前記シリコン基板上に、前記2層の電
極間に印加される駆動電圧を供給する半導体回路が形成
されていることを特徴とする機械電気光変調素子が提供
される。
An image display device according to claim 6 is the image display device according to any one of claims 1 to 5, wherein the voltage is applied between the two layers of electrodes on the silicon substrate. Provided is a mechanical-electro-optical modulator, wherein a semiconductor circuit for supplying a driving voltage is formed.

【0016】さらに、請求項7記載の画像表示素子とし
て、請求項6記載の画像表示素子において、前記シリコ
ン基板上に、前記駆動電圧を制御するための画像信号処
理半導体回路が形成されていることを特徴とする機械電
気光変調素子が提供される。
Further, as the image display element according to claim 7, in the image display element according to claim 6, an image signal processing semiconductor circuit for controlling the drive voltage is formed on the silicon substrate. A mechanical electro-optical modulator is provided.

【0017】また、請求項8乃至12に記載の画像表示
素子の製造方法として、前記請求項1乃至5記載の機械
電気光変調素子を製造するための機械電気光変調素子の
製造方法が開示される。
Further, as a method of manufacturing an image display element according to any one of claims 8 to 12, a method of manufacturing a mechanical-electro-optical modulator for manufacturing the mechanical-electro-optical modulator according to any one of claims 1 to 5 is disclosed. It

【0018】即ち、本発明では、MEM素子の主要部が
形成される従来のガラス基板またはプラスチックフィル
ムに代えてシリコン基板を使用し、シリコン基板上にM
EM素子の主要部を形成した後、シリコン基板の底面
を、シリコン基板が可視光線を所定の透過率で透過させ
るまで削り取ることにより、半導体装置の製造方法を用
いて透過型のMEM素子を製造できるようにし、これに
より、マイクロマシニング技術等の特殊な技術を使用す
ることなく、集積度を高め得る微細化された透過型のM
EM素子を安いコストで製造できるようにしている。ま
た、シリコン基板上に、製造されたMEM素子と関係す
る他の半導体回路を同時、かつ一体的に形成できるよう
にしている。
That is, in the present invention, a silicon substrate is used in place of the conventional glass substrate or plastic film on which the main part of the MEM element is formed, and M is formed on the silicon substrate.
After forming the main part of the EM element, the bottom surface of the silicon substrate is scraped off until the silicon substrate transmits visible light with a predetermined transmittance, whereby a transmissive MEM element can be manufactured using the method for manufacturing a semiconductor device. As a result, the miniaturized transmissive M that can increase the integration degree without using a special technique such as a micromachining technique.
The EM element can be manufactured at a low cost. Further, another semiconductor circuit related to the manufactured MEM element can be simultaneously and integrally formed on the silicon substrate.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の一実施の
形態に係る画像表示素子の内部構成を示す断面図であ
る。図1に示す本実施の形態に係る画像表示素子は、可
視光線を透過させる厚みを有するSi(シリコン)基板
1と、Si基板1の上面に接して形成された絶縁層2
と、絶縁層2の上面に接して形成された下部電極層3
と、下部電極層3の上面の部分領域に形成された空間の
犠牲層空隙4と、下部電極層3の上面に犠牲層空隙4を
覆って形成された可動膜5と、可動膜5の上部に接して
形成された上部電極層6と、犠牲層空隙4を外れた可動
膜5の表面から下部電極層3の表面に達するまで貫通す
るコンタクトホール7と、コンタクトホール7の上部の
周囲からコンタクトホール7を通じて下部電極層3の表
面までに形成された下部電極8とを具備する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an internal configuration of an image display device according to an embodiment of the present invention. The image display element according to the present embodiment shown in FIG. 1 has a Si (silicon) substrate 1 having a thickness that allows visible light to pass therethrough, and an insulating layer 2 formed in contact with the upper surface of the Si substrate 1.
And the lower electrode layer 3 formed in contact with the upper surface of the insulating layer 2.
A sacrificial layer void 4 in a space formed in a partial region of the upper surface of the lower electrode layer 3, a movable film 5 formed on the upper surface of the lower electrode layer 3 so as to cover the sacrificial layer void 4, and an upper portion of the movable film 5. An upper electrode layer 6 formed in contact with the contact hole 7, a contact hole 7 penetrating from the surface of the movable film 5 outside the sacrificial layer void 4 to the surface of the lower electrode layer 3, and a contact from around the upper portion of the contact hole 7. The lower electrode 8 is formed to the surface of the lower electrode layer 3 through the hole 7.

【0020】図2は、本発明の実施の形態に係る画像表
示素子の構成要素を形成する代表的な材料組成の組合せ
を示すテーブルである。図2に示すテーブルでは、可能
な材料の組合せとして、例えば、組合せ番号1の組合せ
例では、絶縁層2として二酸化シリコン(SiO2)、
下部電極層3としてポリシリコン(PolySi)、犠
牲層41としてアルミニウム(Al)、可動膜5として
窒化シリコン(SiN)、上部電極層6としてITO
(Indiumtin Oxide)が示されている。下部電極8につ
いては、上部電極層6と同じ材料組成とすることができ
る。なお、図2に示すテーブルで、Wはタングステン、
metalは任意の金属、PIはポリイミド(Poly-imi
d)を意味する。なお、これら構成要素の各々は、可視
光線を所定の透過率で透過できるような厚みのものを使
用するものとする。この所定の透過率については、技術
的に可能な限りの高い透過率とすることが好ましい。
FIG. 2 is a table showing a combination of typical material compositions forming the constituent elements of the image display device according to the embodiment of the present invention. In the table shown in FIG. 2, as possible material combinations, for example, in the combination example of combination number 1, silicon dioxide (SiO 2) as the insulating layer 2,
Polysilicon (PolySi) as the lower electrode layer 3, aluminum (Al) as the sacrificial layer 41, silicon nitride (SiN) as the movable film 5, and ITO as the upper electrode layer 6.
(Indiumtin Oxide) is shown. The lower electrode 8 can have the same material composition as the upper electrode layer 6. In the table shown in FIG. 2, W is tungsten,
metal is any metal, PI is Poly-imi
means d). It should be noted that each of these components has a thickness such that visible light can be transmitted with a predetermined transmittance. It is preferable that the predetermined transmittance is as high as technically possible.

【0021】また、図2に示すテーブルにおいて、絶縁
層2及び可動膜5として、SiO2に代えてリン珪酸ガ
ラス(PSG)、ホウ素珪酸ガラス(BSG)、ホウ素
リン珪酸ガラス(BPSG)、あるいはそれらの複合物
を用いることもできる。同様に、下部電極層3として、
タングステンの外に、モリブデン(Mo)、金(A
u)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、あるいはそ
れらの合金を用いることもできる。また、任意の金属と
しては、例えばAl、Mo、Wを挙げることができる。
但し、下部電極層3とは異種材料を選択する必要があ
る。さらに、上部電極層6は、ITOの外に、酸化すず
(SnO2)とすることもできる。
Further, in the table shown in FIG. 2, as the insulating layer 2 and the movable film 5, instead of SiO2, phosphosilicate glass (PSG), borosilicate glass (BSG), borophosphosilicate glass (BPSG), or a combination thereof is used. Composites can also be used. Similarly, as the lower electrode layer 3,
In addition to tungsten, molybdenum (Mo), gold (A
u), palladium (Pd), platinum (Pt), or alloys thereof can also be used. In addition, examples of the arbitrary metal include Al, Mo, and W.
However, it is necessary to select a different material for the lower electrode layer 3. Further, the upper electrode layer 6 may be tin oxide (SnO 2) in addition to ITO.

【0022】次に、本実施の形態に係る画像表示素子の
製造工程を説明する。図3は、本発明の実施の形態に係
る画像表示素子の工程別の内部構成を示す工程別断面図
である。まず、図3(a)に示す工程では、半導体装置
の製造に使用されるのと同様のSi基板10の上面に絶
縁層2を形成する。半導体製造工程で一般的な熱酸化法
やCVD法、あるいはICPプラズマCVD等の高密度
プラズマCVD法を使用して、絶縁層2を、Si基板1
0の上面に成膜させることができる。また、絶縁層2を
単純な塗布法により形成することも可能である。
Next, the manufacturing process of the image display device according to this embodiment will be described. FIG. 3 is a cross-sectional view of each step showing the internal structure of each step of the image display device according to the embodiment of the present invention. First, in the step shown in FIG. 3A, the insulating layer 2 is formed on the upper surface of the Si substrate 10 similar to that used for manufacturing a semiconductor device. The insulating layer 2 is formed on the Si substrate 1 by using a thermal oxidation method, a CVD method or a high-density plasma CVD method such as ICP plasma CVD which is generally used in a semiconductor manufacturing process.
It is possible to form a film on the upper surface of 0. It is also possible to form the insulating layer 2 by a simple coating method.

【0023】次に、下部電極層3を絶縁層2の表面に形
成する。この時、スパッタ法を使用して下部電極層3を
絶縁層2の表面に形成することが可能である。Poly
Siを下部電極層として形成する場合は、半導体製造工
程にて一般的な手法であるCVD法等が使用できる。ま
た、下部電極層3の表面を特定の形状の平面図形とする
必要がある場合には、半導体製造技術におけるフォトリ
ソグラフィーとエッチングによりパターニング可能であ
る。その後、下部電極層3の所定の表面領域に、後の工
程で除去される犠牲層41を形成する。この時、犠牲層
41の平面パターンはフォトリソグラフィーおよびエッ
チングにより形成可能であるが、予め平面形状に合わせ
たマスクを使用してのマスク蒸着により形成しても良
い。このようにして、任意の図形の犠牲層41を、下部
電極層3の所定の表面領域に形成することが可能であ
る。
Next, the lower electrode layer 3 is formed on the surface of the insulating layer 2. At this time, the lower electrode layer 3 can be formed on the surface of the insulating layer 2 by using the sputtering method. Poly
When Si is formed as the lower electrode layer, a CVD method or the like which is a general method in the semiconductor manufacturing process can be used. Further, when the surface of the lower electrode layer 3 needs to be a plane figure having a specific shape, it can be patterned by photolithography and etching in the semiconductor manufacturing technology. After that, a sacrifice layer 41 that will be removed in a later step is formed on a predetermined surface region of the lower electrode layer 3. At this time, the plane pattern of the sacrificial layer 41 can be formed by photolithography and etching, but it may be formed by mask vapor deposition using a mask that is matched to the plane shape in advance. In this way, the sacrificial layer 41 having an arbitrary pattern can be formed on the predetermined surface region of the lower electrode layer 3.

【0024】次に、図3(b)に示す工程では、図3
(a)に示す工程で形成された下部電極層3及び犠牲層
41を覆う可動膜5を形成する。この時、CVD法等の
製膜法を使用して、下部電極層3及び犠牲層41を覆う
可動膜5を成膜させることができる。また、可動膜5を
単純な塗布法により形成することも可能である。
Next, in the step shown in FIG.
The movable film 5 that covers the lower electrode layer 3 and the sacrificial layer 41 formed in the step shown in (a) is formed. At this time, the movable film 5 that covers the lower electrode layer 3 and the sacrificial layer 41 can be formed by using a film forming method such as a CVD method. Further, the movable film 5 can be formed by a simple coating method.

【0025】図3(c)に示す工程では、まず、図3
(a)にて形成した下部電極層3と外部との電気的接続
を確保するために、図3(b)にて形成した可動膜5の
中で、犠牲層41の領域外にて、コンタクトホール7を
形成する。コンタクトホール7の形成は、フォトリソグ
ラフィーならびにエッチングにて可能である。示す工程
で形成された可動膜5の表面上部に、犠牲層41と重な
らない図示の右端部分の領域を外して上部電極層6を形
成する。この時、上記の右端部分をマスクし、スパッタ
法等を使用して上部電極層6を可動膜5の表面に形成す
ることが可能である。
In the step shown in FIG. 3C, first, as shown in FIG.
In order to secure electrical connection between the lower electrode layer 3 formed in (a) and the outside, a contact is made outside the region of the sacrificial layer 41 in the movable film 5 formed in FIG. 3 (b). Hole 7 is formed. The contact hole 7 can be formed by photolithography and etching. The upper electrode layer 6 is formed on the upper surface of the movable film 5 formed in the step shown by removing the right end portion (not shown) that does not overlap the sacrificial layer 41. At this time, the right end portion can be masked and the upper electrode layer 6 can be formed on the surface of the movable film 5 by using a sputtering method or the like.

【0026】かかる後に、可動膜5の表面にITOある
いはSnO2を上部電極層6として形成する。ここで、
上部電極層6は前面にスパッタ法、塗布法等にて形成す
ることができる。このように形成された上部電極層6
は、形成後にフォトリソグラフィーならびにエッチング
工程によりパターニングされる。パターニングでは犠牲
層41および可動膜5を下部電極層3と上部電極層6と
で挟んで画素を形成するようにパターニングする。同時
に、上部電極層6は外部との電気的接続ができるよう
に、配線パターンも形成する。さらに、この上部電極層
6のパターニング時には、同時に上記形成されたコンタ
クトホール7から外部に電気的接続を可能にするように
下部電極8を形成し、さらに配線領域を残す。なお、下
部電極8の形成ならびにこの下部電極8から外部への配
線に使用する導電層は上部電極層6と異なる層を使用す
ることも可能である。
After that, ITO or SnO 2 is formed as the upper electrode layer 6 on the surface of the movable film 5. here,
The upper electrode layer 6 can be formed on the front surface by a sputtering method, a coating method, or the like. The upper electrode layer 6 formed in this way
Is patterned by photolithography and etching processes after formation. In the patterning, the sacrificial layer 41 and the movable film 5 are sandwiched between the lower electrode layer 3 and the upper electrode layer 6 and patterned so as to form pixels. At the same time, the upper electrode layer 6 is also formed with a wiring pattern so that it can be electrically connected to the outside. Further, at the time of patterning the upper electrode layer 6, at the same time, a lower electrode 8 is formed so as to enable electrical connection from the contact hole 7 formed above to the outside, and a wiring region is left. The conductive layer used for forming the lower electrode 8 and wiring from the lower electrode 8 to the outside may be a layer different from the upper electrode layer 6.

【0027】次に、図3(a)に示す工程で形成された
可動膜5下の犠牲層41を除去することにより、犠牲層
空隙4を形成し、図1に示すような可動部を装備した画
像表示素子に仕上げる。この時、犠牲層41を除去する
ためにエッチング等を使用することが可能である。
Next, the sacrificial layer 41 under the movable film 5 formed in the step shown in FIG. 3A is removed to form the sacrificial layer void 4, and the movable portion as shown in FIG. 1 is provided. The finished image display device. At this time, etching or the like can be used to remove the sacrificial layer 41.

【0028】最後に、Si基板10の底面をエッチング
して、可視光線に対して所定の透過率を有する薄板状の
Si基板1に仕上げる。なお、このSi基板1の厚み
は、可視光線の青色光(約100Å)を透過させること
が可能な厚みで、かつ技術的に可能な限りの厚みとし、
具体的には50〔μm)以下とすることが好ましい。ま
た、上記のエッチングの代わりにCMP(Chemical Mec
hanical Polishing)を使用してもよい。
Finally, the bottom surface of the Si substrate 10 is etched to finish the thin Si substrate 1 having a predetermined transmittance for visible light. The thickness of the Si substrate 1 is a thickness capable of transmitting blue light (about 100 Å) of visible light and is as thick as technically possible,
Specifically, it is preferably 50 [μm] or less. Further, instead of the above etching, CMP (Chemical Mec
hanical Polishing) may be used.

【0029】図4は、本発明の実施の形態に係る画像表
示素子の具体的な使用例を示す説明図である。図4に示
す使用例では、本発明の実施の形態に係る画像表示素子
である画像素子22が、画像を拡大するためのレンズ2
1、散乱光を得るための拡散層23、及び光源系となる
R(赤)、G(緑)、及びB(青)の3色のLED24
(液晶素子)と共に、中心点を光軸20に合わせて設置
されている。
FIG. 4 is an explanatory view showing a concrete example of use of the image display device according to the embodiment of the present invention. In the example of use shown in FIG. 4, the image element 22 which is the image display element according to the embodiment of the present invention uses the lens 2 for magnifying an image.
1, a diffusion layer 23 for obtaining scattered light, and an LED 24 of three colors of R (red), G (green), and B (blue) that serves as a light source system.
Along with the (liquid crystal element), the center point is set to match the optical axis 20.

【0030】次に、本実施の形態に係る画像表示素子の
動作を説明する。図1に示す本実施の形態に係る画像表
示素子は、上部電極層6と下部電極8との間に電圧を印
加していない状態(図1に示す状態)と、上部電極層6
と下部電極8との間に電圧を印加した状態(図示は省
略)とを比較すると、上記電極間に電圧が印加された後
者の状態では、上記電極間に静電気力の作用による吸引
力が生じて可動膜5が下部電極層3に密着して、垂直方
向から照射される光の透過率を変化させることができ
る。その結果、先の図4に示した画像素子22にあって
は、電極間に電圧が印加され、かつ画像素子22の背面
側に配置したLED24が点灯すると、LED24の光
が拡散層23で拡散した後、Si基板1を通って表示側
に投影される。したがって、画像素子22の駆動制御に
伴ってLED24の3色を順次点灯すると、R/G/B
面順次によりカラー化した表示画像を得ることができ
る。
Next, the operation of the image display device according to this embodiment will be described. The image display element according to the present embodiment shown in FIG. 1 has a state in which no voltage is applied between the upper electrode layer 6 and the lower electrode 8 (state shown in FIG. 1) and an upper electrode layer 6
When a voltage is applied between the lower electrode 8 and the lower electrode 8 (not shown), in the latter state where a voltage is applied between the electrodes, an attractive force is generated between the electrodes due to the action of electrostatic force. As a result, the movable film 5 is brought into close contact with the lower electrode layer 3 to change the transmittance of light emitted in the vertical direction. As a result, in the image element 22 shown in FIG. 4, when the voltage is applied between the electrodes and the LED 24 arranged on the back side of the image element 22 is turned on, the light of the LED 24 is diffused in the diffusion layer 23. After that, it is projected on the display side through the Si substrate 1. Therefore, when the three colors of the LED 24 are sequentially turned on in accordance with the drive control of the image element 22, R / G / B
It is possible to obtain a color-displayed image by frame sequential printing.

【0031】なお、図4に示した構成で、表示画像が目
視可能なサイズであれば、画像素子22をレンズ21な
しで直接見ることができる。従って、画像表示素子にお
いてレンズは必須の構成ではない。また、上記構成で
は、カラー画像を表示する構成としたが、白色光源を使
用してモノクロ画像を得ることも勿論できる。これまで
の説明は、単一画素について述べてきたが、本発明は単
一画素に限定されるものではない。1次元(ライン上)
配列、2次元(平面)配列している場合も同様である。
In the structure shown in FIG. 4, the image element 22 can be directly seen without the lens 21 as long as the display image has a size that allows visual observation. Therefore, the lens is not an essential component in the image display device. Further, in the above configuration, a color image is displayed, but it is of course possible to obtain a monochrome image using a white light source. Although the above description has described a single pixel, the present invention is not limited to a single pixel. One-dimensional (on line)
The same applies to the case where the two-dimensional (planar) arrangement is performed.

【0032】以上のように、本実施の形態によれば、マ
イクロマシニング技術等の特殊な技術を使用することな
く、FET(電界制御トランジスタ)等の半導体素子を
製造するのと同じ工程を使用して透過型のMEM素子を
製造することができる。また、本実施の形態によれば、
図1に示す本実施の形態に係る画像表示素子を駆動する
ための半導体回路、及び画像表示素子に供給する信号を
変換したり伝達したりするための半導体回路を、画像表
示素子の構成要素であるSi基板と同一の基板上に、画
像表示素子の延長回路、または付帯回路として同時に、
かつ一体的に形成することができる。
As described above, according to the present embodiment, the same process as that for manufacturing a semiconductor element such as FET (electric field control transistor) is used without using a special technique such as a micromachining technique. Thus, a transmissive MEM element can be manufactured. Further, according to the present embodiment,
A semiconductor circuit for driving the image display element according to the present embodiment shown in FIG. 1 and a semiconductor circuit for converting or transmitting a signal supplied to the image display element are constituent elements of the image display element. On the same substrate as a certain Si substrate, at the same time as an extension circuit or an auxiliary circuit of the image display element,
And it can be integrally formed.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上に説明したとおり、本発明では、F
ET等の半導体素子を製造するのと同じ工程を使用し
て、集積度を高め得る微細化された透過型のMEM素子
を、安価なコストで確実に製造することができる。ま
た、この画像表示素子の駆動に必要な半導体回路や、画
像表示素子に信号を供給するための半導体回路を、画像
表示素子が形成されている基板と同一の基板上に形成
し、これらを画像表示素子と一体化して製造することが
できる。
As described above, according to the present invention, F
By using the same process as manufacturing a semiconductor device such as ET, a miniaturized transmissive MEM device capable of increasing the degree of integration can be reliably manufactured at low cost. Further, a semiconductor circuit necessary for driving the image display element and a semiconductor circuit for supplying a signal to the image display element are formed on the same substrate as the substrate on which the image display element is formed, and these are imaged. It can be manufactured integrally with the display element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係る画像表示素子の内部
構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an internal configuration of an image display element according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態に係る画像表示素子の構成
要素を形成する代表的な材料組成の組合せを示すテーブ
ルである。
FIG. 2 is a table showing a combination of typical material compositions forming constituent elements of the image display device according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態に係る画像表示素子の工程
別の内部構成を示す工程別断面図である。
FIG. 3 is a sectional view for each step showing an internal configuration for each step of the image display element according to the embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態に係る画像表示素子の具体
的な使用例を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a specific usage example of the image display element according to the embodiment of the present invention.

【図5】従来のMEM素子の内部構成を示す断面図であ
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing the internal structure of a conventional MEM element.

【図6】図5に示すMEM素子において、上下2枚の透
明電極間に電圧を印加した場合の内部状態を示す断面図
である。
6 is a cross-sectional view showing an internal state when a voltage is applied between two upper and lower transparent electrodes in the MEM element shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、10 Si基板 2 絶縁層 3 下部電極層 4 犠牲層空隙 5 可動膜 6 上部電極層 7 コンタクトホール 8 下部電極 20 光軸 21 レンズ 22 画像表示素子 23 拡散層 24 LED 41 犠牲層 1, 10 Si substrate 2 insulating layers 3 Lower electrode layer 4 Sacrificial layer void 5 movable membrane 6 Upper electrode layer 7 contact holes 8 Lower electrode 20 optical axis 21 lens 22 Image display device 23 Diffusion layer 24 LED 41 Sacrificial layer

フロントページの続き (72)発明者 鷲巣 信太郎 静岡県富士宮市大中里200番地 富士写真 フイルム株式会社内 Fターム(参考) 2H041 AA02 AA05 AB16 AB40 AC06 AZ02 AZ08 Continued front page    (72) Inventor Shintaro Washisu             200, Onakazato, Fujinomiya City, Shizuoka Prefecture Fuji Photo             Within Film Co., Ltd. F-term (reference) 2H041 AA02 AA05 AB16 AB40 AC06                       AZ02 AZ08

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 間隔を隔てて形成された上下2層の電極
層を有し、前記2層の電極層間に電圧を印加することに
より本体の水平方向に直交する方向から照射された光の
透過率を変化させる透過型の機械電気光変調素子におい
て、 前記2層の電極を構成要素に含む前記本体が、可視光線
に対して所定の透過率を有するシリコン基板上に形成さ
れていることを特徴とする機械電気光変調素子として機
能する画像表示素子。
1. A transmission of light emitted from a direction orthogonal to the horizontal direction of the main body by having two upper and lower electrode layers formed at intervals and applying a voltage between the two electrode layers. In a transmissive electromechanical modulator that changes the transmittance, the main body including the two-layer electrodes as constituent elements is formed on a silicon substrate having a predetermined transmittance for visible light. An image display device that functions as a mechanical electro-optical modulator.
【請求項2】 前記シリコン基板は、波長400〜65
0nmの範囲の可視光線の少なくとも一部に対して所定
の透過率を有することを特徴とする請求項1記載の画像
表示素子。
2. The silicon substrate has a wavelength of 400 to 65.
The image display device according to claim 1, wherein the image display device has a predetermined transmittance for at least a part of visible light in the range of 0 nm.
【請求項3】 前記シリコン基板と前記2層の電極層の
下側の電極層との間に絶縁層を有し、かつ前記2層の電
極層間に可動膜を有し、かつ前記2層の電極層の下側の
電極層の上部に、前記可動膜により覆われた空隙部分を
有することを特徴とする請求項1または請求項2記載の
画像表示素子。
3. An insulating layer is provided between the silicon substrate and an electrode layer below the two electrode layers, and a movable film is provided between the two electrode layers. The image display device according to claim 1, further comprising a void portion covered with the movable film, above the electrode layer below the electrode layer.
【請求項4】 前記可動膜の前記空隙部分の上部から外
れた端部の表面に、前記表面から前記2層の電極層の下
側の電極層の表面に達するまで貫通するコンタクトホー
ルを有することを特徴とする請求項3記載の画像表示素
子。
4. A contact hole penetrating from the surface to the surface of the electrode layer below the two-layer electrode layer on the surface of the end portion of the movable film which is separated from the upper portion of the void portion. The image display device according to claim 3, wherein
【請求項5】 前記コンタクトホールの内部を潜って前
記2層の電極層の下側の電極層の表面まで到達すると共
に前記電極層との電気的接触を有する下部電極を具備し
たことを特徴とする請求項4記載の画像表示素子。。
5. A lower electrode that penetrates through the inside of the contact hole to reach the surface of the electrode layer below the two electrode layers and has an electrical contact with the electrode layer. The image display device according to claim 4. .
【請求項6】 前記シリコン基板上に、前記2層の電極
間に印加される駆動電圧を供給する半導体回路が形成さ
れていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1
項に記載の画像表示素子。
6. The semiconductor circuit according to claim 1, wherein a semiconductor circuit for supplying a driving voltage applied between the electrodes of the two layers is formed on the silicon substrate.
An image display device according to item.
【請求項7】 前記シリコン基板上に、前記駆動電圧を
制御するための画像信号処理半導体回路が形成されてい
ることを特徴とする請求項6記載の画像表示素子。
7. The image display device according to claim 6, wherein an image signal processing semiconductor circuit for controlling the drive voltage is formed on the silicon substrate.
【請求項8】 間隔を隔てて形成された上下2層の電極
層を有し、前記2層の電極層間に電圧を印加することに
より本体の水平方向に直交する方向から照射された光の
透過率を変化させる透過型の機械電気光変調素子の製造
方法であって、 前記2層の電極を構成要素に含む前記本体をシリコン基
板上に形成する工程と、前記本体の形成後に前記シリコ
ン基板の底面を前記シリコン基板が可視光線に対して所
定の透過率を有するまで削り取る工程とを有することを
特徴とする機械電気光変調素子として機能する画像表示
素子の製造方法。
8. A transmission of light emitted from a direction orthogonal to the horizontal direction of the main body by having two upper and lower electrode layers formed at intervals and applying a voltage between the two electrode layers. A method of manufacturing a transmissive electromechanical modulator that changes a rate, comprising: forming the main body including the two-layer electrodes as constituent elements on a silicon substrate; and forming the main body on the silicon substrate after forming the main body. And a step of scraping the bottom surface of the silicon substrate until the silicon substrate has a predetermined transmittance for visible light, and a method for manufacturing an image display element functioning as a mechanical-electro-optical modulator.
【請求項9】 前記本体の形成後に前記シリコン基板の
底面を前記シリコン基板が波長10Å近辺の可視光線に
対して所定の透過率を有するまで削り取る工程を有する
ことを特徴とする請求項8記載の画像表示素子の製造方
法。
9. The method according to claim 8, further comprising a step of scraping the bottom surface of the silicon substrate after forming the main body until the silicon substrate has a predetermined transmittance for visible light having a wavelength of about 10Å. Image display device manufacturing method.
【請求項10】 前記シリコン基板と前記2層の電極層
の下側の電極層との間に絶縁層を形成する工程と、前記
2層の電極層間に可動膜を形成する工程と、前記2層の
電極層の下側の電極層の上部に、前記可動膜により覆わ
れた空隙部分を形成する工程とを有することを特徴とす
る請求項8または請求項9記載の画像表示素子の製造方
法。
10. A step of forming an insulating layer between the silicon substrate and an electrode layer below the two-layer electrode layer, a step of forming a movable film between the two-layer electrode layers, 10. The method of manufacturing an image display element according to claim 8 or 9, further comprising: forming a void portion covered with the movable film on an upper portion of the electrode layer below the electrode layer of the layer. .
【請求項11】 前記可動膜の前記空隙部分の上部から
外れた端部の表面に、前記表面から前記2層の電極層の
下側の電極層の表面に達するまで貫通するコンタクトホ
ールを形成する工程を有することを特徴とする請求項1
0記載の画像表示素子の製造方法。
11. A contact hole penetrating from the surface to the surface of the electrode layer below the two electrode layers is formed on the surface of the end portion of the movable film, which is separated from the upper portion of the void portion. The method according to claim 1, further comprising a step.
0. A method for manufacturing an image display device according to 0.
【請求項12】 前記コンタクトホールの内部を潜って
前記2層の電極層の下側の電極層の表面まで到達すると
共に前記電極層との電気的接触を有する下部電極を形成
する工程を有することを特徴とする請求項11記載の画
像表示素子の製造方法。
12. A step of forming a lower electrode that penetrates through the inside of the contact hole to reach the surface of the electrode layer below the two-layer electrode layer and has electrical contact with the electrode layer. The method for manufacturing an image display device according to claim 11, wherein:
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