JP2003299619A - Slit-lamp microscope - Google Patents
Slit-lamp microscopeInfo
- Publication number
- JP2003299619A JP2003299619A JP2002109372A JP2002109372A JP2003299619A JP 2003299619 A JP2003299619 A JP 2003299619A JP 2002109372 A JP2002109372 A JP 2002109372A JP 2002109372 A JP2002109372 A JP 2002109372A JP 2003299619 A JP2003299619 A JP 2003299619A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- prism
- eye
- lamp microscope
- irradiation unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、細隙灯顕微鏡に関
し、より詳しくは、被検眼に局所的(スリット状)照明
光を照射することに加えて、背景照明系に工夫をこら
し、被検眼の特定の観察部位の周辺部をも明瞭に観察可
能とした細隙灯顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a slit lamp microscope, and more specifically, in addition to irradiating an eye to be examined with local (slit-like) illumination light, a background illumination system has been devised so that the eye to be examined is improved. The present invention relates to a slit lamp microscope capable of clearly observing the peripheral part of a specific observation site of.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、眼科分野で使用される顕微鏡の一
種として、細隙灯顕微鏡がある。これは眼科医の日常の
診察において必ず使用されるもので、照明方法を工夫す
ることで被検眼の色々な病変部を観察することができ
る。2. Description of the Related Art Conventionally, there is a slit lamp microscope as a type of microscope used in the field of ophthalmology. This is always used in the daily examination of an ophthalmologist, and it is possible to observe various lesions of the eye to be examined by devising a lighting method.
【0003】このような細隙灯顕微鏡では、照明系によ
り被検眼に照射するスリット状の照明光、即ち細隙光と
は別に、被検眼全体を照明する別の照明光を照射する背
景照明手段を設け、細隙光と同時に背景照明光により被
検眼を照明し、観察光学系に取り付けたビデオカメラ等
を用いて被検眼の細隙像(例えば角膜断面像)及び全体
像を画像化することが行われている。In such a slit lamp microscope, background illumination means for irradiating the slit-shaped illumination light with which the illumination system irradiates the subject's eye, that is, other illumination light for illuminating the entire subject's eye, in addition to the slit light. By illuminating the eye to be inspected with the background illumination light at the same time as the slit light, and using a video camera attached to the observation optical system to image the slit image (for example, corneal cross-sectional image) and the whole image of the eye. Is being done.
【0004】図18は従来の細隙灯顕微鏡における照明
系101及び背景照明手段102の概略構成を示すもの
である。FIG. 18 shows a schematic structure of an illumination system 101 and background illumination means 102 in a conventional slit lamp microscope.
【0005】この背景照明手段102は、照明系101
内に設けた光源からの背景照明光を、光ファイバ103
及び前記照明系101に固定配置した照射ユニット10
4によって照明系101を構成するプリズム105の斜
め上方からその反射点Rに照射し、被検眼Eに照明系1
01による細隙光ととともに背景照明光を同時に照射す
るように構成している。The background illumination means 102 is an illumination system 101.
The background illumination light from the light source provided inside the optical fiber 103
And an irradiation unit 10 fixedly arranged on the illumination system 101.
4 irradiates the reflection point R from diagonally above the prism 105 that constitutes the illumination system 101, and the illumination system 1 is applied to the eye E to be inspected.
The background illumination light is emitted together with the slit light of 01.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の背景照明手段102を備えた細隙灯顕微鏡の場合、
背景照明手段102の照射ユニット104が固定配置で
あるため、背景照明光は常にプリズム105の一定の反
射点Rを介して被検眼Eに照射される。However, in the case of the slit lamp microscope provided with such a conventional background illumination means 102,
Since the irradiation unit 104 of the background illuminating unit 102 is fixedly arranged, the background illuminating light is always applied to the eye E through the constant reflection point R of the prism 105.
【0007】一方、観察系はプリズム105に対して一
定位置ではなくプリズム105に対して左右に回動操作
され、被検眼Eを種々の方向から観察するように構成さ
れている。On the other hand, the observation system is configured to rotate the prism 105 to the left and right instead of at a fixed position and observe the eye E from various directions.
【0008】この結果、上述した観察系の観察野から背
景照明手段102による背景照明光の照射野が外れてし
まい、被検眼Eの全体像、例えば角膜断面周辺の組織
(強膜、虹彩)等の像の観察、撮影等が困難となってし
まうという問題があった。As a result, the irradiation field of the background illumination light by the background lighting means 102 deviates from the observation field of the above-mentioned observation system, and the whole image of the eye E to be examined, for example, the tissue around the cross section of the cornea (sclera, iris), etc. There is a problem that it becomes difficult to observe and photograph the image of.
【0009】そこで、本発明は、観察系の被検眼に対す
る種々の観察位置において、被検眼の局所的な病変部を
明瞭に観察できることはもちろん、その周辺を含む全体
像についても同時に明瞭に観察可能な細隙灯顕微鏡を提
供することを目的とする。Therefore, according to the present invention, it is possible not only to clearly observe a local lesion of the eye to be examined at various observation positions of the eye to be inspected in the observation system, but also to observe the entire image including the periphery thereof at the same time. An object of the present invention is to provide a slit lamp microscope.
【0010】更に、撮影像中の背景照明光による角膜上
で生じる反射輝点を移動させることができる細隙灯顕微
鏡を提供することを目的とする。It is another object of the present invention to provide a slit lamp microscope capable of moving a reflection bright spot generated on a cornea due to background illumination light in a photographed image.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、被検眼にプリズムを介して
細隙光を照射し被検眼の観察部位の断面像を観察可能と
する照明系と、前記照明系による被検眼の照射野の周辺
部を照明して前記観察部位の周辺部を観察可能とする背
景照明系と、前記被検眼の観察部位及びその周辺部を観
察する観察系とを有する細隙灯顕微鏡において、前記照
明系のプリズム近傍に着脱可能に配置した固定ガイド体
と、前記照明系に設けた光源から背景照明光を導く導光
部材を保持するとともに、固定ガイド体に対して前記プ
リズムの反射点又はその近傍点を中心とする回動軌跡を
描くように配置され、プリズムに向けて異なる方向から
導光部材が出射する背景照明光を照射し被検眼に対する
照射野を変える照射ユニットとを備えることを特徴とす
るものである。In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is capable of observing a cross-sectional image of an observation site of the eye to be examined by irradiating the eye to be examined with slit light through a prism. The illumination system, the background illumination system that illuminates the peripheral part of the irradiation field of the eye to be inspected by the illumination system, and makes it possible to observe the peripheral part of the observation site, and observes the observation site of the eye and its peripheral part In a slit lamp microscope having an observation system, a fixed guide body detachably arranged near the prism of the illumination system and a light guide member for guiding background illumination light from a light source provided in the illumination system are held and fixed. The guide body is arranged so as to draw a rotation locus around the reflection point of the prism or a point in the vicinity thereof, and the background illumination light emitted from the light guide member is emitted toward the prism from different directions to the subject's eye. Lighting that changes the irradiation field It is characterized in further comprising a unit.
【0012】請求項2記載の発明は、請求項1記載の細
隙灯顕微鏡において、前記照射ユニットは、固定ガイド
体に対して基準位置に位置決めするクリック機構を備え
るとともに、回動位置の両端を規制する両端回動位置規
制機構を備えることを特徴とするものである。According to a second aspect of the invention, in the slit lamp microscope according to the first aspect, the irradiation unit includes a click mechanism for positioning the irradiation guide unit at a reference position with respect to the fixed guide body, and both ends of the rotation position are provided. It is characterized in that it is provided with a both-ends rotational position regulating mechanism for regulating.
【0013】請求項3記載の発明は、請求項1又は請求
項2記載の細隙灯顕微鏡において、前記照射ユニット
は、スライド操作により導光部材が出射する背景照明光
の光束径を大、小に切り替える光束切替板を備えること
を特徴とするものである。According to a third aspect of the present invention, in the slit lamp microscope according to the first or second aspect, the irradiation unit causes the luminous flux diameter of the background illumination light emitted from the light guide member to be large or small by a sliding operation. It is characterized by comprising a light flux switching plate for switching to.
【0014】請求項4記載の発明は、請求項1乃至請求
項3のいずれかに記載の細隙灯顕微鏡において、前記照
射ユニットは、固定ガイド体に対して前記プリズムの反
射点よりも下側の点を中心とする回動軌跡を描くように
配置され、プリズムに向けて異なる方向から導光部材が
出射する背景照明光により角膜上で生じる反射輝点を移
動させることができるように構成されていることを特徴
とするものである。According to a fourth aspect of the invention, in the slit lamp microscope according to any one of the first to third aspects, the irradiation unit is below the reflection point of the prism with respect to the fixed guide body. Is arranged so as to draw a rotation locus around the point of, and is configured to be able to move the reflection bright point generated on the cornea by the background illumination light emitted from the light guide member from different directions toward the prism. It is characterized by that.
【0015】本発明によれば、観察系の被検眼に対する
種々の観察位置に応じて、照射ユニットをプリズムの反
射点を中心として回動させることにより、背景照明光の
被検眼に対する照射野を変えることができ、これにより
被検眼の局所的な病変部はもちろん、その周辺を含む全
体像についても同時に明瞭に観察することが可能とな
る。According to the present invention, the irradiation unit of the background illumination light to the eye to be inspected is changed by rotating the irradiation unit around the reflection point of the prism in accordance with various observation positions of the eye to be inspected in the observation system. This makes it possible to clearly observe not only the local lesion of the eye to be inspected but also the entire image including the periphery thereof.
【0016】また、本発明によれば、照射ユニットを固
定ガイド体に対して基準位置に位置決めするクリック機
構及び回動位置の両端を規制する両端回動位置規制機構
を備えているので、操作性よく照射ユニットの回動位置
を変更できる。Further, according to the present invention, since the click mechanism for positioning the irradiation unit at the reference position with respect to the fixed guide body and the both-end rotation position regulation mechanism for regulating both ends of the rotation position are provided, the operability is improved. You can often change the rotation position of the irradiation unit.
【0017】さらに、本発明によれば、スライド操作に
より導光部材が出射する背景照明光の光束径を大、小に
切り替える光束切替板を備えているので、被検眼の局所
的な病変部の観察時に光束切替板を操作して背景照明光
の光量を適宜変更することで被検眼の周辺を含む全体像
を最適の明るさで観察することが可能となる。Further, according to the present invention, since the light flux switching plate for switching the light flux diameter of the background illumination light emitted from the light guide member to the large or small by the slide operation is provided, the local lesion area of the eye to be inspected. By operating the light flux switching plate during observation and appropriately changing the light amount of the background illumination light, it is possible to observe the entire image including the periphery of the subject's eye with optimum brightness.
【0018】また、本発明によれば、背景照明光により
角膜上で生じる反射輝点を移動させることができるの
で、背景照明光の被検眼に対する照射野をより広範に変
えることができる。Further, according to the present invention, since the reflected bright spot generated on the cornea can be moved by the background illumination light, the irradiation field of the background illumination light on the eye to be examined can be changed in a wider range.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を説
明する。図1に示す本実施の形態の細隙灯顕微鏡1は、
テーブル2上に移動機構部3を介して水平横方向及び水
平縦方向に移動可能に支持された基台4と、傾倒操作に
より基台4を水平横方向及び水平縦方向に変位させる操
作ハンドル5と、前記基台4により各々支持された観察
系6、光源や細隙を有する照明系8と、観察系6の対物
レンズを収納した鏡筒本体9に対峙させた被検者用の顎
受部10a、額当て10bを有する顎受け台10とを具
備している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below. The slit lamp microscope 1 of the present embodiment shown in FIG.
A base 4, which is supported on the table 2 so as to be movable in the horizontal and vertical directions through a moving mechanism 3, and an operation handle 5 for displacing the base 4 in the horizontal and vertical directions by tilting operation. And an observation system 6 supported by the base 4, an illumination system 8 having a light source and a slit, and a jaw holder for a subject facing a lens barrel body 9 accommodating an objective lens of the observation system 6. The chin rest 10 has a portion 10a and a forehead rest 10b.
【0020】前記鏡筒本体9の側面には、観察倍率変倍
用の回転軸を突設し、この回転軸に対して外周に観察系
6の観察倍率を示す6,10,16,25,40等の数
字を付した操作ノブ11を装着するようになっている。On the side surface of the lens barrel body 9, a rotation shaft for changing the magnification of the observation is provided so as to project, and the outer periphery of the rotation shaft indicates the observation magnification of the observation system 6, 6, 10, 16 and 25. The operation knob 11 with a numeral such as 40 is attached.
【0021】図2は、本実施の形態の細隙灯顕微鏡1の
光学構成の概略を示すものであり、この細隙灯顕微鏡1
は、観察系6を構成する鏡筒本体9と、この鏡筒本体9
に取り付けた撮像装置20と、前記観察系6に対し被検
眼Eに対峙させるプリズム12に関して直交配置とした
前記照明系8を構成する照明光学系21と、前記プリズ
ム12の近傍に配置した背景照明系22とを有してい
る。FIG. 2 shows an outline of an optical configuration of the slit lamp microscope 1 of the present embodiment. The slit lamp microscope 1 is shown in FIG.
Is a lens barrel body 9 that constitutes the observation system 6, and this lens barrel body 9
The imaging device 20 attached to the observation system 6, an illumination optical system 21 that constitutes the illumination system 8 that is orthogonally arranged with respect to the prism 12 facing the eye E to be examined, and background illumination arranged near the prism 12. And the system 22.
【0022】観察系6は、プリズム12と、対物レンズ
31と、変倍光学系32と、集光レンズ33と、ビーム
スプリッタ34と、リレーレンズ35と、光路を接眼鏡
筒9a側に変更するプリズム36と、接眼鏡筒9aに配
置した接眼レンズ37とを具備し、被検眼Eの像を図2
に示す結像点Pに結像し検者眼Eoにより観察可能とす
るようになっている。The observation system 6 changes the prism 12, the objective lens 31, the variable magnification optical system 32, the condenser lens 33, the beam splitter 34, the relay lens 35, and the optical path to the side of the eyepiece tube 9a. The prism 36 and the eyepiece lens 37 arranged on the eyepiece tube 9a are provided, and an image of the eye E is shown in FIG.
An image is formed at the image forming point P shown in (4) so that it can be observed by the examiner's eye Eo.
【0023】前記撮像装置20は、前記ビームスプリッ
タ34により分岐される光束を集光する集光レンズ41
と、この集光レンズ41からの光束を90度直角に曲げ
るミラー42と、撮像カメラ43とを具備している。The image pickup device 20 has a condenser lens 41 for condensing the light beam split by the beam splitter 34.
And a mirror 42 that bends the light beam from the condenser lens 41 at a right angle of 90 degrees, and an imaging camera 43.
【0024】前記照明系8を構成する照明光学系21
は、ハロゲンランプ等の光源51と、この光源51から
の光を集光する集光レンズ52及び53と、この集光レ
ンズ52及び53を通過した光の一部のみを通過させる
細隙(スリット)54と、細隙54を通過した光を集光
する集光レンズ55と、前記光源51と集光レンズ52
との間に配置したキセノンランプ等のストロボ光源56
とを有し、更に背景照明系70を付加している。Illumination optical system 21 constituting the illumination system 8
Is a light source 51 such as a halogen lamp, condenser lenses 52 and 53 for condensing light from the light source 51, and slits (slits) for passing only a part of the light passing through the condenser lenses 52 and 53. ) 54, a condenser lens 55 for condensing the light passing through the slit 54, the light source 51 and the condenser lens 52.
Strobe light source 56 such as a xenon lamp placed between
And a background illumination system 70 is added.
【0025】前記背景照明系70は、照明系8の筺体部
8aに対してプリズム12の近傍、即ち、プリズム12
の斜め上方に位置する配置で着脱可能に配置した固定ガ
イド体73と、前記光源51の近傍から導出した導光部
材である光ファイバを用いたライトガイド71及びライ
トガイド71を保持するとともに、前記固定ガイド体7
3に対して前記プリズム12の反射点Rを中心とする回
動軌跡を描くように取り付けられ、プリズム12に向け
て異なる方向から背景照明光を照射し、被検眼Eに対す
る照射野を変える照射ユニット74とを具備している。The background illumination system 70 is in the vicinity of the prism 12 with respect to the housing portion 8a of the illumination system 8, that is, the prism 12
In addition to holding the fixed guide body 73 that is detachably arranged at an obliquely upper position, and the light guide 71 and the light guide 71 that use an optical fiber that is a light guide member derived from the vicinity of the light source 51, Fixed guide body 7
An irradiation unit which is attached to the prism 3 so as to draw a rotation locus around the reflection point R of the prism 12 and irradiates the prism 12 with background illumination light from different directions to change the irradiation field for the eye E to be inspected. And 74.
【0026】前記細隙54と被検眼Eとは、集光レンズ
55に対して共役の位置になるように配置され、これに
より、前記プリズム12を介して被検眼Eの例えば角膜
に対し、細隙光(局所的な照明光)を照射することによ
って、被検眼Eの角膜断面像を観察可能としている。The slit 54 and the eye E to be inspected are arranged so as to be in a conjugate position with respect to the condenser lens 55, and as a result, through the prism 12, for example, to the cornea of the eye E to be inspected. By irradiating a gap light (local illumination light), a corneal cross-sectional image of the eye E can be observed.
【0027】次に、図3乃至図10を参照して前記背景
照明系70について詳述する。Next, the background illumination system 70 will be described in detail with reference to FIGS.
【0028】この背景照明系70の固定ガイド体73
は、図3、図8、図10に示すように、照明系8の筺体
部8aに設けた一対の受穴8bに対して着脱可能に装着
される一対の装着ピン82を備えた弧状ガイド板81を
具備している。A fixed guide body 73 of the background illumination system 70.
As shown in FIGS. 3, 8 and 10, the arc-shaped guide plate includes a pair of mounting pins 82 that are detachably mounted in a pair of receiving holes 8b provided in the housing portion 8a of the illumination system 8. 81.
【0029】前記弧状ガイド板81の上辺81a、下辺
81bは、筺体部8aに装着された状態で前記プリズム
12の反射点Rを中心とする円弧を描く形状に形成され
ている。The upper side 81a and the lower side 81b of the arc-shaped guide plate 81 are formed in a shape that draws an arc centered on the reflection point R of the prism 12 when mounted on the housing portion 8a.
【0030】照射ユニット74は、ライトガイド71の
光出射端71aを収容孔部84内に保持するとともに、
弧状ガイド板81にスライド可能に嵌着されたスライド
箱体83を備えている。収容孔部84の下部には光透過
用の開孔84aが形成されている。The irradiation unit 74 holds the light emitting end 71a of the light guide 71 in the accommodation hole 84, and
A slide box body 83 slidably fitted on the arc-shaped guide plate 81 is provided. An opening 84a for transmitting light is formed in the lower portion of the accommodation hole portion 84.
【0031】スライド箱体83は、図4に拡大して示す
ように、前記弧状ガイド板81の上辺81aに弧状上辺
85aを嵌合させるとともに、前記収容孔部84を有し
下部には開孔85bが形成された箱体部85と、前記収
容孔部84の外壁部にねじ89を用いて取り付けられ、
弧状上辺86aを前記弧状ガイド板81の下辺81bに
嵌合させたスライド嵌合板86と、前記開孔85bの下
側にスライド可能に配置した光束切替板87と、前記光
束切替板87を下側から覆いつつ箱体部85及びスライ
ド嵌合板86の下側にねじ89を用いて取り付けられる
下蓋板88とを具備している。下蓋板88にも図4、図
6、図7に示すように光透過用の開孔88cが形成され
ている。As shown in the enlarged view of FIG. 4, the slide box body 83 has an arc-shaped upper side 85a fitted to the arc-shaped guide plate 81 and has the accommodating hole portion 84 and an opening at the bottom. A box body portion 85 formed with 85b and an outer wall portion of the accommodation hole portion 84 are attached with screws 89,
The slide fitting plate 86 in which the arc-shaped upper side 86a is fitted to the lower side 81b of the arc-shaped guide plate 81, the light flux switching plate 87 slidably arranged below the opening 85b, and the light flux switching plate 87 on the lower side. It is provided with a lower lid plate 88 which is attached to the lower side of the box body portion 85 and the slide fitting plate 86 by using screws 89 while covering from above. The lower lid plate 88 also has an opening 88c for transmitting light as shown in FIGS. 4, 6 and 7.
【0032】前記光束切替板87には、図10に示すよ
うに大、小2個の透過孔87a、87bが設けられてい
る。また、光束切替板87は、前記箱体部85と下蓋板
88との間において、前記装着ピン82と反対側に突出
する操作突片87dを備えている。操作突片87dをス
ライド操作することにより、前記ライトガイド71の光
出射端71aに、透過孔87a、87bのうちのいずれ
かを臨ませ、背景照明光の光量を変えるように構成して
いる。As shown in FIG. 10, the light flux switching plate 87 is provided with two large and small transmission holes 87a and 87b. Further, the light flux switching plate 87 includes an operation projection piece 87 d that projects between the box body portion 85 and the lower lid plate 88 on the side opposite to the mounting pin 82. By sliding the operation protrusion 87d, either of the transmission holes 87a and 87b is made to face the light emission end 71a of the light guide 71, and the light amount of the background illumination light is changed.
【0033】さらに、図6に示すように、前記光束切替
板87の一部に設けた凹部87eに、箱体部85底部に
設けた窪部内に収容したバネ91により付勢される小球
92を係合させ、これにより光束切替板87のクリック
感を伴う位置決めを行うようになっている。この光束切
替板87の操作突片87dのスライド操作により、被検
眼Eの局所的な病変部の観察時に、背景照明光の光量を
適宜変更することで被検眼Eの周辺を含む全体像を最適
の明るさで観察することが可能となる。Further, as shown in FIG. 6, a small ball 92 urged by a spring 91 housed in a recess provided in the bottom of the box body 85 in a recess 87e provided in a part of the light flux switching plate 87. Are engaged with each other, whereby the light flux switching plate 87 is positioned with a click feeling. By sliding the operation projection 87d of the light flux switching plate 87, the entire image including the periphery of the eye E can be optimized by appropriately changing the amount of background illumination light when observing a local lesion of the eye E. It becomes possible to observe with the brightness of.
【0034】次に、前記弧状ガイド板81に対する照射
ユニット74の基準位値及び左右両端回動位置における
位置決め機構について説明する。Next, a description will be given of the positioning mechanism for the reference position of the irradiation unit 74 with respect to the arc-shaped guide plate 81 and the left and right rotating positions.
【0035】照射ユニット74の基準位値における位置
決めは、図5に示すように、前記弧状ガイド板81に設
けた凹部81eに、前記箱体部85の底部に設けた窪部
内に収容したバネ93により付勢される小球94を係合
させる構成のクリック機構により行うようになってい
る。As shown in FIG. 5, the positioning of the irradiation unit 74 at the standard value is performed by a spring 93 housed in a recess 81e provided in the arc-shaped guide plate 81 and a recess provided in the bottom of the box body 85. The click mechanism is configured to engage the small balls 94 that are urged by.
【0036】また、照射ユニット74の左右両端回動位
置における位置決めは、図9に示すように、弧状ガイド
板81の下辺中央部に略台形状でかつ下辺側が円弧形状
のストッパ突辺81fを突設し、照射ユニット74の弧
状ガイド板81に対する回動時に、図11に拡大して示
すように、前記ストッパ突辺81fの両側の端部81
c、81dを、前記スライド嵌合板86の上辺に沿って
スライドさせつつ下蓋板88の上面隅部88a、88b
に各々当接させる両端回動位置規制機構により行うよう
になっている。これらクリック機構、両端回動位置規制
機構により照射ユニット74の基準位置を中心とする左
右両端回動位置への変更を、クリック感を伴いつつかつ
操作性よく行うことができる。Further, as shown in FIG. 9, the irradiation unit 74 is positioned at both left and right rotational positions by projecting a stopper projection 81f having a substantially trapezoidal shape and an arc shape on the lower side at the center of the lower side of the arc-shaped guide plate 81. When the irradiation unit 74 is rotated with respect to the arc-shaped guide plate 81, the end portions 81 on both sides of the stopper protrusion 81f are extended as shown in FIG.
While sliding c and 81d along the upper side of the slide fitting plate 86, the upper surface corners 88a and 88b of the lower lid plate 88 are formed.
It is designed to be carried out by a both-ends rotational position regulating mechanism which is brought into contact with each other. The click mechanism and the both-end rotation position regulation mechanism can change the left and right end rotation positions around the reference position of the irradiation unit 74 with a click feeling and good operability.
【0037】即ち、照射ユニット74は、弧状ガイド板
81に対して、図9に示す基準位値を中心として、前記
ストッパ突辺81fの端部81cが下蓋板88の上面隅
部88aに当接する右端位置と、前記ストッパ突辺81
fの端部81dが下蓋板88の上面隅部88bに当接す
る左端位置とに亙って回動し得るように構成され、これ
により、照射ユニット74は、前記固定ガイド体73に
対して前記プリズム12の反射点Rを中心とする回動軌
跡を描き、ライトガイド71の光出射端71aからプリ
ズム12に向けて異なる方向から背景照明光を照射し、
被検眼Eに対する照射野を変更するようになっている。That is, in the irradiation unit 74, with respect to the arc-shaped guide plate 81, the end portion 81c of the stopper projection 81f contacts the upper surface corner portion 88a of the lower lid plate 88 with the reference position shown in FIG. 9 as the center. The right end position in contact with the stopper protrusion 81
The end 81d of f is configured to be rotatable over the left end position where it abuts on the upper surface corner 88b of the lower lid plate 88, whereby the irradiation unit 74 moves relative to the fixed guide body 73. Drawing a rotation locus about the reflection point R of the prism 12 and irradiating background illumination light from different directions from the light emitting end 71a of the light guide 71 toward the prism 12,
The irradiation field for the eye E to be inspected is changed.
【0038】次に、上述した細隙灯顕微鏡1の動作を、
照射ユニット74の回動操作による背景照明光の照射野
変更状態を主にし、かつ、図12乃至図15を参照して
説明する。Next, the operation of the slit lamp microscope 1 described above will be described.
The state of changing the irradiation field of the background illumination light by the rotating operation of the irradiation unit 74 will be mainly described and will be described with reference to FIGS. 12 to 15.
【0039】前記光源51から発光した光は、集光レン
ズ52を介して細隙54を照射する。細隙54と被検眼
Eとは共役に配置されているので、細隙54を通過して
形成された細隙光は集光レンズ55、プリズム12を経
て例えば図15に示すように被検眼Eの角膜断面Edに
照射される。The light emitted from the light source 51 illuminates the slit 54 through the condenser lens 52. Since the slit 54 and the subject's eye E are arranged conjugate with each other, the slit light formed by passing through the slit 54 passes through the condenser lens 55 and the prism 12 and, for example, as shown in FIG. The cornea cross-section Ed is irradiated.
【0040】一方、前記照射ユニット74のライトガイ
ド71の光出射端71aからプリズム12に向けて照射
される背景照明光は、プリズム12にて反射し被検眼E
の角膜断面Edの周辺の虹彩や角膜に照射され反射す
る。On the other hand, the background illumination light emitted from the light emitting end 71a of the light guide 71 of the irradiation unit 74 toward the prism 12 is reflected by the prism 12 and the eye E to be inspected.
The iris and the cornea around the corneal cross section Ed are irradiated and reflected.
【0041】このようにして、被検眼Eに照射され、被
検眼Eの角膜断面Edで反射した光及び被検眼Eの例え
ば虹彩や角膜に照射された背景照明光の反射光は、前記
プリズム12、観察系6の対物レンズ31に入射し、さ
らに、ビームスプリッタ34を経てその一部が図2に示
す結像点pに結像し、検者眼Eoにより観察されること
になる。In this way, the light radiated to the eye E to be examined and reflected by the corneal cross section Ed of the eye E and the reflected light of the background illumination light radiated to the iris or cornea of the eye E are the prism 12 described above. Then, the light enters the objective lens 31 of the observation system 6, and further, through the beam splitter 34, a part thereof forms an image at the image forming point p shown in FIG. 2 and is observed by the examiner's eye Eo.
【0042】また、ビームスプリッタ34によりにより
分岐される光束は、前記ミラー42を経て撮像カメラ4
3に入射し、これにより、検者眼Eoの角膜断面Edの
観察像と同一の観察像が撮像カメラ43により撮像され
ることになる。The light beam split by the beam splitter 34 passes through the mirror 42 and the image pickup camera 4
3, the observation image that is the same as the observation image of the corneal cross section Ed of the examiner's eye Eo is captured by the imaging camera 43.
【0043】このような観察像は、良好なコントラスト
を維持した状態で観察でき、被検眼Eの角膜断面Edの
像と同時に被検眼Eにおける虹彩等を含む全体像をも明
瞭に観察できるので、被検眼Eの全体像を把握しながら
病変部の観察、撮像を行うことが可能となる。Such an observation image can be observed in a state where good contrast is maintained, and the entire image including the iris and the like in the eye E can be clearly observed at the same time as the image of the corneal cross-section Ed of the eye E to be observed. It is possible to observe and image a lesion while grasping the entire image of the eye E to be inspected.
【0044】このような細隙灯顕微鏡1の動作におい
て、例えば観察系6の前記プリズム12に対する相対位
置を変えて被検眼Eに対する観察系6の観察方向を変更
する場合には、照射ユニット74が図12に示すような
基準位置のままでは背景照明光が被検眼Eの例えば虹彩
や角膜に到達しない場合が生じる。In such an operation of the slit lamp microscope 1, when changing the relative position of the observation system 6 with respect to the prism 12 to change the observation direction of the observation system 6 with respect to the eye E, the irradiation unit 74 When the reference position as shown in FIG. 12 is left as it is, the background illumination light may not reach the eye E such as the iris or cornea.
【0045】このような場合には、前記照射ユニット7
4を弧状ガイド板81に対して、図12に示す基準位値
から図13に示す前記プリズム12の反射点Rを中心と
して回動した右端位置(被検眼E側から見て)や、図1
4に示す左端位置(被検眼E側から見て)に回動させ、
ライトガイド71の光出射端71aからプリズム12に
向けて異なる方向から背景照明光を照射し、被検眼Eに
対する照射野を変更する。In such a case, the irradiation unit 7
4 is rotated with respect to the arc-shaped guide plate 81 around the reflection point R of the prism 12 shown in FIG. 13 from the reference position shown in FIG. 12 (as viewed from the eye E side), and FIG.
4 to the left end position (as viewed from the eye E side),
Background illumination light is emitted from the light emitting end 71a of the light guide 71 toward the prism 12 from different directions to change the irradiation field with respect to the eye E to be inspected.
【0046】これにより、観察系6を左右に回動操作
し、プリズム12に対する相対位置、即ち被検眼Eに対
する観察位置を変更した場合においても、被検眼Eの角
膜断面Edの像とともに被検眼Eにおける虹彩等を含む
全体像を明瞭に観察することができる。As a result, even when the observation system 6 is rotated left and right to change the relative position with respect to the prism 12, that is, the observation position with respect to the eye E, the eye E with the image of the corneal cross-section Ed of the eye E is examined. It is possible to clearly observe the entire image including the iris and the like.
【0047】図16は前記照射ユニット74の不使用時
における鏡筒本体9に対する収容状態を示すものであ
り、鏡筒本体9の上部側壁に設けた前記受穴84と同様
な一対の受穴に、照射ユニット74の一対の装着ピン8
2を装着することで鏡筒本体9に着脱可能に収容するも
のである。FIG. 16 shows a state in which the irradiation unit 74 is accommodated in the lens barrel main body 9 when it is not used. A pair of receiving holes similar to the receiving holes 84 provided in the upper side wall of the lens barrel main body 9 are shown in FIG. , A pair of mounting pins 8 of the irradiation unit 74
2 is attached to the lens barrel body 9 so as to be detachably accommodated.
【0048】図17は前記照射ユニット74の変形例を
示すものであり、上述した実施の形態では照射ユニット
74は固定ガイド体81に対してプリズム12の反射点
Rを回動中心とする構成を説明したが、図17に示すよ
うに、照射ユニット74を固定ガイド体81に対してプ
リズム12の反射点Rよりも下側の点R1を回動中心と
する構成することもできる。この構成によれば背景照明
光により被検眼の角膜上で生じる反射輝点を上述した実
施の形態の構成の場合と異なる位置に移動させることが
でき、より広範な背景照明野を得ることが可能となる。FIG. 17 shows a modified example of the irradiation unit 74. In the above-described embodiment, the irradiation unit 74 has a structure in which the reflection point R of the prism 12 is the rotation center with respect to the fixed guide body 81. As described above, as shown in FIG. 17, the irradiation unit 74 may be configured such that the point R1 below the reflection point R of the prism 12 with respect to the fixed guide body 81 is the center of rotation. With this configuration, it is possible to move the reflected bright spots generated on the cornea of the eye to be inspected by the background illumination light to a position different from the case of the configuration of the above-described embodiment, and it is possible to obtain a wider background illumination field. Becomes
【0049】[0049]
【発明の効果】本発明によれば、観察系の被検眼に対す
る観察位置を変更した場合においても、被検眼の局所的
な病変部はもちろん、その周辺を含む全体像についても
同時に明瞭に観察することが可能な細隙灯顕微鏡を提供
することができる。According to the present invention, even when the observation position of the observation system with respect to the eye to be inspected is changed, not only the local lesion of the eye to be inspected but also the entire image including the periphery thereof is clearly observed at the same time. It is possible to provide a slit lamp microscope capable of doing so.
【0050】さらに、本発明によれば、操作性よく照射
ユニットの回動位置を変更でき、また被検眼の周辺を含
む全体像を最適の明るさで観察することが可能な細隙灯
顕微鏡を提供することができる。Further, according to the present invention, there is provided a slit lamp microscope capable of changing the rotational position of the irradiation unit with good operability and observing the whole image including the periphery of the eye to be examined with optimum brightness. Can be provided.
【0051】本発明によれば、背景照明光により角膜上
で生じる反射輝点を移動させることができ、より広範な
背景照明野を得ることが可能な細隙灯顕微鏡を提供する
ことができる。According to the present invention, it is possible to provide a slit lamp microscope capable of moving the reflection bright spots generated on the cornea by the background illumination light and obtaining a wider background illumination field.
【図1】本発明の実施の形態の細隙灯顕微鏡の概略側面
図である。FIG. 1 is a schematic side view of a slit lamp microscope according to an embodiment of the present invention.
【図2】本実施の形態の細隙灯顕微鏡の光学系を示す概
略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an optical system of the slit lamp microscope of the present embodiment.
【図3】本実施の形態の背景照明系が出射する背景照明
光のプリズムから被検眼に至る光路を示す概略図であ
る。FIG. 3 is a schematic diagram showing an optical path from a prism of background illumination light emitted by the background illumination system of the present embodiment to a subject's eye.
【図4】本実施の形態の背景照明系における固定ガイド
体、照射ユニットの拡大断面である。FIG. 4 is an enlarged cross section of a fixed guide body and an irradiation unit in the background illumination system of the present embodiment.
【図5】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニットの
上方から見た部分切欠断面図である。FIG. 5 is a partial cutaway sectional view of the fixed guide body and the irradiation unit according to the present embodiment as seen from above.
【図6】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニットの
背面側から見た部分切欠断面図である。FIG. 6 is a partial cutaway sectional view of the fixed guide body and the irradiation unit according to the present embodiment as viewed from the back side.
【図7】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニットの
底面図である。FIG. 7 is a bottom view of the fixed guide body and the irradiation unit of the present embodiment.
【図8】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニットの
照明系への上方から見た取り付け状態を示す概略図であ
る。FIG. 8 is a schematic view showing a mounting state of the fixed guide body and the irradiation unit of the present embodiment when viewed from above to the illumination system.
【図9】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニットの
背面側から見た概略図である。FIG. 9 is a schematic view of the fixed guide body and the irradiation unit according to the present embodiment as viewed from the back side.
【図10】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニット
の照明系への底面側から見た取り付け状態を示す概略図
である。FIG. 10 is a schematic diagram showing a mounting state of the fixed guide body and the irradiation unit of the present embodiment when viewed from the bottom side of the illumination system.
【図11】本実施の形態の固定ガイド体、照射ユニット
の部分拡大図である。FIG. 11 is a partially enlarged view of the fixed guide body and the irradiation unit of the present embodiment.
【図12】本実施の形態の固定ガイド体に体する照射ユ
ニットの基準位置での背景照明光の出射状態を示す概略
図である。FIG. 12 is a schematic diagram showing the emission state of background illumination light at the reference position of the irradiation unit that is mounted on the fixed guide body according to the present embodiment.
【図13】本実施の形態の固定ガイド体に体する照射ユ
ニットの右端位置での背景照明光の出射状態を示す概略
図である。FIG. 13 is a schematic diagram showing the emission state of background illumination light at the right end position of the irradiation unit that is mounted on the fixed guide body according to the present embodiment.
【図14】本実施の形態の固定ガイド体に体する照射ユ
ニットの左端位置での背景照明光の出射状態を示す概略
図である。FIG. 14 is a schematic diagram showing the state of emission of background illumination light at the left end position of the irradiation unit that is mounted on the fixed guide body according to the present embodiment.
【図15】本実施の形態の照射ユニットからの背景照明
光の被検眼への照射状態を示す説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram showing a state where the background illumination light from the irradiation unit according to the present embodiment is applied to the subject's eye.
【図16】本実施の形態の照射ユニットの不使用時にお
ける鏡筒本体に対する収容状態を示す概略斜視図であ
る。FIG. 16 is a schematic perspective view showing a state in which the irradiation unit of the present embodiment is accommodated in the lens barrel body when not in use.
【図17】本実施の形態の照射ユニットの変形例を示す
概略説明図である。FIG. 17 is a schematic explanatory diagram showing a modified example of the irradiation unit of the present embodiment.
【図18】従来の細隙灯顕微鏡における照明系及び背景
照明手段の概略構成を示す説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of an illumination system and a background illumination means in a conventional slit lamp microscope.
1 細隙灯顕微鏡 2 テーブル 4 基台 6 観察系 8 照明系 8a 筺体部 8b 受穴 9 鏡筒本体 9a 接眼鏡筒 10 顎受け台 12 プリズム 20 撮像装置 21 照明光学系 22 背景照明系 31 対物レンズ 43 撮像カメラ 51 光源 54 細隙 70 背景照明系 71 ライトガイド 71a 光出射端 73 固定ガイド体 74 照射ユニット 81 弧状ガイド板 81a 上辺 81b 下辺 81c 端部 81d 端部 81e 凹部 81f ストッパ突辺 82 装着ピン 83 スライド箱体 84 受穴 84 収容孔部 84a 開孔 85 箱体部 85a 弧状上辺 85b 開孔 86 スライド嵌合板 86a 弧状上辺 87 光束切替板 87d 操作突片 87e 凹部 88 下蓋板 88a 上面隅部 88b 上面隅部 E 被検眼 Eo 検者眼 Ed 角膜断面 R 反射点 1 Slit lamp microscope 2 tables 4 bases 6 Observation system 8 Lighting system 8a housing part 8b Receiving hole 9 barrel body 9a Eyepiece tube 10 jaw rest 12 prism 20 Imaging device 21 Illumination optical system 22 Background lighting system 31 Objective lens 43 Imaging camera 51 light source 54 Slit 70 Background lighting system 71 Light Guide 71a light emitting end 73 Fixed guide body 74 irradiation unit 81 arc guide plate 81a Upper side 81b lower side 81c end 81d end 81e recess 81f Stopper protrusion 82 mounting pin 83 Slide box 84 receiving hole 84 accommodation hole 84a Open hole 85 Box 85a arc upper side 85b Open hole 86 slide fitting plate 86a arc top 87 Light flux switching plate 87d operation protrusion 87e recess 88 Lower lid plate 88a Top corner 88b Top corner E eye to be examined Eo examiner's eye Ed cornea cross section R reflection point
Claims (4)
し被検眼の観察部位の断面像を観察可能とする照明系
と、 前記照明系による被検眼の照射野の周辺部を照明して前
記観察部位の周辺部を観察可能とする背景照明系と、 前記被検眼の観察部位及びその周辺部を観察する観察系
とを有する細隙灯顕微鏡において、 前記照明系のプリズム近傍に着脱可能に配置した固定ガ
イド体と、 前記照明系に設けた光源から背景照明光を導く導光部材
を保持するとともに、固定ガイド体に対して前記プリズ
ムの反射点又はその近傍点を中心とする回動軌跡を描く
ように配置され、プリズムに向けて異なる方向から導光
部材が出射する 背景照明光を照射し被検眼に対する照射野を変える照射
ユニットと、を有することを特徴とする細隙灯顕微鏡。1. An illumination system that irradiates slit light to a subject's eye through a prism so that a cross-sectional image of an observation site of the subject's eye can be observed, and a peripheral portion of an irradiation field of the subject's eye is illuminated by the illumination system. In a slit lamp microscope having a background illumination system for observing the peripheral portion of the observation region and an observation system for observing the observation region of the eye to be examined and the peripheral portion thereof, the slit lamp microscope is attachable / detachable in the vicinity of the prism of the illumination system. And a fixed guide body arranged in the same direction, and a light guide member for guiding the background illumination light from a light source provided in the illumination system, and rotation around the reflection point of the prism or a point near the reflection point of the prism with respect to the fixed guide body. A slit lamp microscope, which is arranged so as to draw a locus, and which has an irradiation unit that irradiates the background illumination light emitted from the light guide member toward the prism from different directions to change the irradiation field for the subject's eye.
して基準位置に位置決めするクリック機構を備えるとと
もに、回動位置の両端を規制する両端回動位置規制機構
を備えることを特徴とする請求項1記載の細隙灯顕微
鏡。2. The irradiation unit includes a click mechanism for positioning the fixed guide member at a reference position and a both-end rotation position regulation mechanism for regulating both ends of the rotation position. The slit lamp microscope according to 1.
り導光部材が出射する背景照明光の光束径を大、小に切
り替える光束切替板を備えることを特徴とする請求項1
又は請求項2記載の細隙灯顕微鏡。3. The irradiation unit includes a light flux switching plate that switches a light flux diameter of the background illumination light emitted from the light guide member between a large light flux and a small light flux by a slide operation.
Alternatively, the slit lamp microscope according to claim 2.
して前記プリズムの反射点よりも下側の点を中心とする
回動軌跡を描くように配置され、プリズムに向けて異な
る方向から導光部材が出射する背景照明光により角膜上
で生じる反射輝点を移動させることができるように構成
されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のい
ずれかに記載の細隙灯顕微鏡。4. The irradiation unit is arranged so as to draw a rotation locus around a point below the reflection point of the prism with respect to the fixed guide body, and guides light from a different direction toward the prism. The slit lamp microscope according to any one of claims 1 to 3, wherein the background illumination light emitted by the member is configured to move a reflection bright spot generated on the cornea.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002109372A JP2003299619A (en) | 2002-04-11 | 2002-04-11 | Slit-lamp microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002109372A JP2003299619A (en) | 2002-04-11 | 2002-04-11 | Slit-lamp microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003299619A true JP2003299619A (en) | 2003-10-21 |
Family
ID=29392861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002109372A Pending JP2003299619A (en) | 2002-04-11 | 2002-04-11 | Slit-lamp microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003299619A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1563785A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-17 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Slit lamp microscope |
JP2008110202A (en) * | 2006-10-04 | 2008-05-15 | Yukinori Takibatake | Method and apparatus for infrared photography of ocular fundus |
JP2009189467A (en) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Topcon Corp | Slit lamp |
JP2014147476A (en) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Takagi Seiko Corp | Slit lamp microscope |
WO2014156900A1 (en) | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 株式会社トプコン | Slit lamp microscope |
CN110418597A (en) * | 2017-04-13 | 2019-11-05 | 株式会社来易特制作所 | Slit-lamp microscope |
-
2002
- 2002-04-11 JP JP2002109372A patent/JP2003299619A/en active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1563785A1 (en) * | 2004-02-10 | 2005-08-17 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Slit lamp microscope |
US7410257B2 (en) | 2004-02-10 | 2008-08-12 | Kabushiki Kaisha Topcon | Slit lamp microscope |
CN100444780C (en) * | 2004-02-10 | 2008-12-24 | 株式会社拓普康 | Slit lamp microscope |
JP2008110202A (en) * | 2006-10-04 | 2008-05-15 | Yukinori Takibatake | Method and apparatus for infrared photography of ocular fundus |
JP2009189467A (en) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Topcon Corp | Slit lamp |
JP2014147476A (en) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Takagi Seiko Corp | Slit lamp microscope |
WO2014156900A1 (en) | 2013-03-28 | 2014-10-02 | 株式会社トプコン | Slit lamp microscope |
US9642524B2 (en) | 2013-03-28 | 2017-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Slit lamp microscope |
US10039449B2 (en) | 2013-03-28 | 2018-08-07 | Kabushiki Kaisha Topcon | Slit lamp microscope |
CN110418597A (en) * | 2017-04-13 | 2019-11-05 | 株式会社来易特制作所 | Slit-lamp microscope |
US11234593B2 (en) | 2017-04-13 | 2022-02-01 | Right Mfg. Co., Ltd. | Slit lamp microscope |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8205988B2 (en) | Stereomicroscope | |
JP2003062003A (en) | Microscope for surgery | |
JP2966992B2 (en) | Corneal endothelial cell observation and imaging device | |
JP2003047595A (en) | Ophthalmic imaging system | |
JP4417036B2 (en) | Ophthalmic surgery microscope | |
JP2006296806A (en) | Microscope apparatus for surgery | |
JPH08275921A (en) | Fundus oculi camera | |
US6072623A (en) | Slit lamp microscope | |
JP2004154581A (en) | Optometer | |
EP0225699A1 (en) | Laser coagulation system | |
JP2003299619A (en) | Slit-lamp microscope | |
JPH05146410A (en) | Apparatus for observing and photographing endothelial cell of cornea | |
JP2001037725A (en) | Slit-lamp microscope | |
JP2005065813A (en) | Slit lamp | |
JP4592905B2 (en) | Slit lamp microscope | |
JP2580500B2 (en) | Corneal endothelial cell imaging system | |
JP3324935B2 (en) | Eye chart display device | |
JPH0788086A (en) | Device to photograph cornea cell | |
JP3708669B2 (en) | Fundus photographing device | |
JP7195627B2 (en) | Optometry adapter | |
JP2001037726A (en) | Slit-lamp microscope | |
JP2002224036A (en) | Slit lamp | |
JPH11206711A (en) | Ophthalmometer | |
JPS6317453Y2 (en) | ||
JP2942311B2 (en) | Ophthalmic measurement device |