JP2001037726A - Slit-lamp microscope - Google Patents

Slit-lamp microscope

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JP2001037726A
JP2001037726A JP11216418A JP21641899A JP2001037726A JP 2001037726 A JP2001037726 A JP 2001037726A JP 11216418 A JP11216418 A JP 11216418A JP 21641899 A JP21641899 A JP 21641899A JP 2001037726 A JP2001037726 A JP 2001037726A
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JP
Japan
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eye
slit
lamp microscope
subject
observation
Prior art date
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Japanese (ja)
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Inventor
Kazuhiro Yoshimura
一裕 芳村
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Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slit-lamp microscope which enables a testee to easily carry out work without assuming a too much undue posture from the alignment of the testee to the end of observation and inspection. SOLUTION: The slit-lamp microscope, which has a supporting means for supporting the testee's head and stabilizing the position of the eye to be examined, an illumination optical system for slit-illumination of the eye to be examined and condition setting means for setting the observation conditions of the eye to be examined has an image pickup means which picks up the image of the eye to be examined subjected to the slit-illumination to a photoelectric image pickup element, a bed which is placed movably on a fixing base by operation of an operation means and is mounted with the illumination optical system and the image pickup section rotatably with each other around the same axis and a display means which has a display 30 mounted at the bed and displays the eye to be examined subjected to the image pickup by the image pickup means on the display 30.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被検眼を観察する
細隙灯顕微鏡に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a slit lamp microscope for observing an eye to be examined.

【0002】[0002]

【従来技術】従来より、細隙灯顕微鏡による被検眼(患
者眼)への観察、検査は眼科の一般検査として普及して
おり、様々な手法を用いて検査を行っている。細隙灯顕
微鏡を使用する場合には、顎載せ台、額当てを持つヘッ
ドレストに被検者の顔を動かないように支持した後、ヘ
ッドレストに設けられたノブを操作することにより顎載
せ台を上下移動させて、被検眼の位置を所定位置に合わ
せていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, observation and inspection of a subject's eye (patient's eye) with a slit lamp microscope have been widely used as general examinations in ophthalmology, and examinations are performed using various techniques. When using a slit lamp microscope, support the subject's face on a headrest with a chin rest and a forehead rest so that the subject's face does not move, and then operate the knob provided on the headrest to move the chin rest. The eye was moved up and down to adjust the position of the eye to be examined to a predetermined position.

【0003】その後、スリット照明光を被検眼に照射す
る照明部と観察部とを持つ細隙灯顕微鏡本体を移動して
被検眼を観察する。眼断面像を観察、検査する場合は、
スリットの幅を狭くしておき、照明部からの照明光の光
軸と観察部の観察軸との軸角度を調節することにより被
検眼の角膜、前房、水晶体、硝子体等の断面像を得てい
た。
[0003] Thereafter, the subject's eye is observed by moving a slit lamp microscope main body having an illuminating part for irradiating slit illumination light to the subject's eye and an observation part. When observing and examining the cross-sectional image of the eye,
By narrowing the width of the slit and adjusting the axis angle between the optical axis of the illumination light from the illumination unit and the observation axis of the observation unit, a cross-sectional image of the cornea, anterior chamber, lens, vitreous body, etc. of the eye to be examined can be obtained. I was getting it.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、被検眼
の位置を合せる場合、顎載せ台を上下させるノブは顎載
せ台付近にあり、検者(術者)はその都度手を伸ばして
操作しなければならなかったため非常に扱い難い。
However, when aligning the position of the eye to be examined, a knob for raising and lowering the chin rest is located near the chin rest, and the examiner (operator) must reach out and operate each time. Very cumbersome because it had to be.

【0005】また、被検眼の検査においても眼の断面像
を観察するためには観察部の観察角度を被検眼の正面で
はなく、ある程度左右に振る必要がある。このため、検
者は無理な姿勢にて被検眼を観察、検査を行うことにな
る。
In order to observe a cross-sectional image of an eye even when examining the eye to be inspected, it is necessary to swing the observation angle of the observation section to the right and left rather than in front of the eye to be inspected. Therefore, the examiner observes and examines the subject's eye in an impossible posture.

【0006】本発明は、上記従来技術に鑑み、被検者の
位置合わせから観察、検査終了までの間、検者があまり
無理な姿勢をすること無く、容易に作業を行うことがで
きる細隙灯顕微鏡を提供することを技術課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above prior art, the present invention provides a slit in which the examiner can easily perform the work from the position of the examinee to the observation and the end of the examination without taking an excessively difficult posture. A technical problem is to provide a light microscope.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とす
る。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention is characterized by having the following configuration.

【0008】(1) 被検者の頭部を支持し被検眼の位
置を安定させる支持手段と被検眼をスリット照明する照
明光学系と被検眼の観察条件を設定する条件設定手段と
を持つ細隙灯顕微鏡において、スリット照明された被検
眼を光電撮像素子に撮像する撮像手段と、固定台上を操
作手段の操作により移動可能に載置されると共に、前記
照明光学系と撮像部とが同一軸を中心にして互いに回転
可能に取り付けられた基台と、該基台に取り付けられた
ディスプレイを持ち前記撮像手段によって撮像された被
検眼を該ディスプレイ上に表示する表示手段を備えたこ
とを特徴とする。
(1) A thin section having a support means for supporting the head of the subject and stabilizing the position of the subject's eye, an illumination optical system for slit-illuminating the subject's eye, and condition setting means for setting observation conditions for the subject's eye. In the slit lamp microscope, an imaging unit for imaging the slit-illuminated eye to be inspected on the photoelectric imaging element, and the illumination optical system and the imaging unit are mounted movably on a fixed base by operating an operation unit. A base mounted so as to be rotatable with respect to an axis, and display means having a display mounted on the base and displaying an eye to be inspected imaged by the imaging means on the display. And

【0009】(2) (1)の細隙灯顕微鏡は、さらに
前記条件設定手段により設定される観察条件を検知する
検知手段を備え、観察条件を前記ディスプレイ上に表示
された被検眼像と同一視野内に表示することを特徴とす
る。
(2) The slit lamp microscope of (1) further comprises a detecting means for detecting the observation condition set by the condition setting means, and the observation condition is the same as that of the eye image displayed on the display. It is characterized in that it is displayed in the field of view.

【0010】(3) (2)の細隙灯顕微鏡は、前記観
察条件は被検眼像と重畳して表示されることを特徴とす
る。
(3) The slit lamp microscope of (2) is characterized in that the observation conditions are displayed so as to be superimposed on the image of the eye to be examined.

【0011】(4) (2)の観察条件は、少なくとも
照明光学系による照明光の光量またはスリット幅を含む
ことを特徴とする。
(4) The observation condition (2) is characterized in that it includes at least the amount of illumination light or the slit width by the illumination optical system.

【0012】(5) (1)の細隙灯顕微鏡において、
前記支持手段は顎載せ台を電動で上下動させる移動手段
と前記顎載せ台の移動を指令する信号を入力する信号入
力手段とを備え、該信号入力手段は前記ディスプレイ上
に表示された被検眼像と同一視野内に配置されたことを
特徴とする。
(5) In the slit lamp microscope of (1),
The support means includes moving means for moving the chin rest up and down electrically, and signal input means for inputting a signal for commanding movement of the chin rest, and the signal input means is provided with an eye to be inspected displayed on the display. It is characterized by being arranged in the same field of view as the image.

【0013】(6) (5)の細隙灯顕微鏡において、
前記信号入力手段は前記支持手段側に設けられた第2の
入力手段を備えることを特徴とする。
(6) In the slit lamp microscope of (5),
The signal input means includes a second input means provided on the support means side.

【0014】(7) 被検者の顔を支持するための顎載
せ台を持ち被検眼の位置を安定させる支持手段と被検眼
をスリット照明する照明光学系と被検眼の観察条件を設
定する条件設定手段とを持つ細隙灯顕微鏡において、ス
リット照明された被検眼を観察する観察手段と、固定台
上を操作手段の操作により移動可能に載置されると共
に、前記照明光学系と撮像部とが同一軸を中心にして互
いに回転可能に取り付けられた基台と、前記顎載せ台を
電動で上下動させる移動手段と、該移動手段の移動を指
令する信号を入力する信号入力手段とを備え、該信号入
力手段は検査者が被検眼像を観察する姿勢を維持した状
態で操作できる位置に配置されたことを特徴とする。
(7) Support means for holding a chin rest for supporting the face of the examinee, stabilizing the position of the examinee's eye, an illumination optical system for slit illumination of the examinee's eye, and conditions for setting the observation conditions of the examinee's eye In a slit lamp microscope having setting means, an observation means for observing an eye to be inspected slit-illuminated, and movably mounted on a fixed base by operation of operation means, the illumination optical system and the imaging unit A base mounted rotatably with respect to the same axis, moving means for vertically moving the chin rest, and signal input means for inputting a signal for commanding movement of the moving means. The signal input means is arranged at a position where the examiner can operate it while maintaining a posture for observing the eye image to be inspected.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参考にしつつ説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】<全体構成>図1(a)は本実施形態で使
用する細隙灯顕微鏡を側面から見た図であり、図1
(b)は検者(術者)側から見た図である。
<Overall Configuration> FIG. 1A is a side view of a slit lamp microscope used in the present embodiment.
(B) is the figure seen from the examiner (operator) side.

【0017】細隙灯顕微鏡本体1は下部に基台2を有し
ており、基台2はテーブル3上に取り付けられていると
ともに、基台2に取り付けられている周知のジョイステ
ィック移動機構により、テーブル3上を水平方向に移動
可能となっている。ジョイスティック4を操作すること
により基台2をテーブル3の面上で粗動及び微動させる
ことができる。テーブル3には被検者(患者)の顔を固
定するためのヘッドレスト40が取り付けられている。
The slit lamp microscope main body 1 has a base 2 at a lower portion. The base 2 is mounted on a table 3 and a well-known joystick moving mechanism mounted on the base 2. The table 3 can be moved in the horizontal direction. By operating the joystick 4, the base 2 can be coarsely and finely moved on the surface of the table 3. The table 3 is provided with a headrest 40 for fixing the face of the subject (patient).

【0018】10は被検眼(患者眼)へスリット照明光
を照射するための照明部であり、内部には後述する各種
光学部材が備わっている。照明部10は基台2に対して
軸Lを中心に回転可能となっており、検者が必要に応じ
て、照明光の照明角度を任意に変えることができるよう
になっている。20は被検眼を観察するための顕微鏡部
で、その内部には後述するCCDカメラ58等を持つ観
察光学系が配置されている。顕微鏡部20もまた照明部
10と同様に基台2に対して軸Lを中心に回転可能とな
っており、検者が必要に応じて、顕微鏡部20の観察角
度を任意に変えることができるようになっている。照明
部10と顕微鏡部20は、固定ツマミ24を操作するこ
とで両者の相対的な開き具合(角度)を固定させること
ができ、その開き角度は軸角度目盛り23で知ることが
できる。また、固定ツマミ22を使用することで、基台
4に対する顕微鏡部20の位置を固定することができ
る。
Reference numeral 10 denotes an illumination unit for irradiating slit illumination light to the eye to be inspected (patient's eye), and includes various optical members described later. The illumination unit 10 is rotatable about the axis L with respect to the base 2, so that the examiner can arbitrarily change the illumination angle of the illumination light as needed. Reference numeral 20 denotes a microscope unit for observing the subject's eye, in which an observation optical system having a CCD camera 58 and the like to be described later is arranged. The microscope unit 20 is also rotatable about the axis L with respect to the base 2 similarly to the illumination unit 10, and the examiner can arbitrarily change the observation angle of the microscope unit 20 as necessary. It has become. The relative opening degree (angle) of the illumination unit 10 and the microscope unit 20 can be fixed by operating the fixing knob 24, and the opening angle can be known from the axis angle scale 23. In addition, by using the fixing knob 22, the position of the microscope unit 20 with respect to the base 4 can be fixed.

【0019】30は顕微鏡部20が持つCCDカメラ5
8によって捉えられた映像を表示するためのディスプレ
イであり、支持軸31を介して基台2に固定されてい
る。本実施の形態で使用される細隙灯顕微鏡1には接眼
レンズを備える観察部はなく、代わりにディスプレイ3
0に映し出される被検者眼Eを観察することとなる。ま
た、ディスプレイ30には被検眼の観察像の他、図1
(b)に示すように各種の条件設定を行う際のパラメー
タ等の情報が表示される。
Reference numeral 30 denotes a CCD camera 5 of the microscope unit 20.
8 is a display for displaying an image captured by 8, and is fixed to the base 2 via a support shaft 31. The slit lamp microscope 1 used in the present embodiment does not have an observation unit having an eyepiece, and instead has a display 3.
The examinee's eye E projected on 0 is observed. In addition to the observation image of the subject's eye,
Information such as parameters for setting various conditions is displayed as shown in FIG.

【0020】8は制御ボックスであり、電源スイッチ8
aを備える。また、制御ボックス8にはスリット幅に応
じた照明光量を設定するためのスリット用光量設定スイ
ッチ6aと、照明部10に配置される後述の各種フィル
ターに応じた照明光量を設定するためのフィルター用光
量設定スイッチ6bも取り付けられており、必要に応じ
て照明光の光量設定をすることが可能である。また、基
台2上のジョイスティック4の近傍には、スリット照明
光の光量を調節するための調光用ノブ5が設けられてい
る。
Reference numeral 8 denotes a control box, and a power switch 8
a. The control box 8 includes a slit light amount setting switch 6a for setting an illumination light amount according to the slit width, and a filter light amount setting switch for setting an illumination light amount according to various filters to be described later disposed in the illumination unit 10. A light amount setting switch 6b is also attached, and the light amount of the illumination light can be set as needed. A dimming knob 5 for adjusting the amount of slit illumination light is provided near the joystick 4 on the base 2.

【0021】<主要な各部の構成>次に、各部の構成を
照明部10、顕微鏡部20、ヘッドレスト40に分け、
図1〜図4を基に説明する。図2は細隙灯顕微鏡1内部
の光学系と制御系を示すブロック図、図3は照明部10
に配置されるフィルターディスクの構成を説明する図、
図4はヘッドレスト40における顎載せ台43の上下動
機構の概略断面図を示した図である。
<Structure of Main Parts> Next, the structure of each part is divided into an illumination unit 10, a microscope unit 20, and a headrest 40.
This will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a block diagram showing an optical system and a control system inside the slit lamp microscope 1, and FIG.
Diagram illustrating the configuration of the filter disk arranged in the
FIG. 4 is a schematic sectional view of a vertical movement mechanism of the chin rest 43 in the headrest 40.

【0022】(イ)照明部 図2において、照明部10内部には照明光源50が備え
られ、照明光源50より出射した可視光束はコンデンサ
レンズ51を透過した後、アパーチャ52により高さ
を、可変スリット板53により幅を決定され、スリット
状の光束に形成される。その後、可変スリット板53を
通過したスリット照明光はフィルターディスク14、投
影レンズ54を介した後、分割ミラー55a、55bで
反射されて被検者眼Eを照明する。なお眼底を観察する
場合にはコンタクトレンズを介して照明、観察を行う。
(A) Illumination Unit In FIG. 2, an illumination light source 50 is provided inside the illumination unit 10, and a visible light beam emitted from the illumination light source 50 passes through a condenser lens 51, and the height thereof is changed by an aperture 52. The width is determined by the slit plate 53 and is formed into a slit-like light beam. After that, the slit illumination light passing through the variable slit plate 53 passes through the filter disk 14 and the projection lens 54 and is reflected by the split mirrors 55a and 55b to illuminate the eye E of the subject. When observing the fundus, illumination and observation are performed via a contact lens.

【0023】アパーチャ52は円板の円周上にφ0.2
〜φ14mmまでの径の異なる開口部を複数設けたもの
であり、絞り切替ノブ13を使用してアパーチャ52を
回転させ、照明光が通過する開口径を段階的に切り替え
ることが可能である。
The aperture 52 has a diameter of φ0.2 on the circumference of the disk.
A plurality of openings with different diameters of up to φ14 mm are provided, and the aperture 52 through which the aperture 52 is rotated using the aperture switching knob 13 can be switched in a stepwise manner.

【0024】可変スリット板53は2枚の刃によって構
成されており、刃は図示無き複数のカム等を介してスリ
ット幅コントロールノブ11と連結しており、スリット
幅コントロールノブ11を回転させることで、刃が開い
たり閉じたりするようになっている。スリットの幅は0
〜14mmまで連続的に調節できるようになっている。
The variable slit plate 53 is constituted by two blades, and the blades are connected to the slit width control knob 11 via a plurality of cams (not shown). , The blades open and close. Slit width is 0
It can be continuously adjusted up to 14 mm.

【0025】また、スリット幅コントロールノブ11に
はポテンショメータ61が取り付けられており、スリッ
ト幅コントロールノブ11の回転量に対応した可変スリ
ット板53の開き具合(スリット幅)がポテンショメー
タ61により検出され、これを制御部60が認識できる
ようになっている。
A potentiometer 61 is attached to the slit width control knob 11, and the degree of opening (slit width) of the variable slit plate 53 corresponding to the amount of rotation of the slit width control knob 11 is detected by the potentiometer 61. Can be recognized by the control unit 60.

【0026】フィルターディスク14は、図3に示すよ
うに、照明部10の筐体からその一部分が露出する構成
となっており、この露出した部分を回転させることにっ
て所望するフィルターを照明光軸上(光路中)に切換え
配置することができる。また、フィルターディスク14
を回転させると図示無きクリック機構により、約90度
毎にクリック感が得られるようになっており、フィルタ
ーが照明光の光軸上に完全に入ったことが判るようにな
っている。
As shown in FIG. 3, the filter disk 14 has a structure in which a part of the filter disk 14 is exposed from the housing of the illumination unit 10. By rotating the exposed part, a desired filter is irradiated with illumination light. It can be switched on the axis (in the optical path). In addition, the filter disk 14
When the is rotated, a click feeling (not shown) can be obtained every 90 degrees by a click mechanism (not shown), so that it can be seen that the filter has completely entered the optical axis of the illumination light.

【0027】フィルターディスク14には、素通し部1
4aの他、防眩、防熱効果を有する熱線吸収フィルター
14bと、視神経繊維の異常を検査する際等に使用する
無赤色フィルター14cと、蛍光、染色反応観察時等に
使用するブルーフィルター14dが90度間隔で設けら
れている。この各フィルター14b〜14d及び素通し
部14aの近傍にはそれぞれフィルターの種類を認識す
るための識別板15a〜15d、フィルターの挿入検知
に使用される識別板18が付与されている。識別板15
a〜15dは光を反射する反射板と反射しない板の2種
類の組み合わせからなり、この2種類の組み合わせを変
えることで、照明光軸上に配置される素通し部14a、
フィルター14b〜14dの識別を可能にする。各識別
板15a〜15dの識別はフォトインタラプタ16によ
り行われ、フォトインタラプタ16からの出力信号によ
り、制御部60は照明光軸上にどの種類のフィルターが
挿入されているかを検知する。また、識別板18は反射
板のみからなり、素通し部14a、フィルター14b〜
14dが挿入されたことを検知するために使用される。
識別板18の検知には同じようにフォトインタラプタ1
6にて行う。
The filter disk 14 is provided with
4a, a heat ray absorbing filter 14b having an anti-glare and heat-insulating effect, a non-red filter 14c used for examining abnormalities of the optic nerve fiber and the like, and a blue filter 14d used for observing fluorescence and staining reactions are 90%. It is provided at intervals of degrees. In the vicinity of each of the filters 14b to 14d and the transparent portion 14a, identification plates 15a to 15d for recognizing the type of the filter and an identification plate 18 used for detecting insertion of the filter are provided. Identification plate 15
a to 15d are composed of two types of combinations of a reflection plate that reflects light and a plate that does not reflect the light, and by changing these two types of combinations, the transparent portions 14a arranged on the illumination optical axis,
Filters 14b to 14d can be identified. The identification boards 15a to 15d are identified by the photo interrupter 16, and the control unit 60 detects which type of filter is inserted on the illumination optical axis based on an output signal from the photo interrupter 16. The discrimination plate 18 is made of only a reflection plate, and has a transparent portion 14a, a filter 14b,
Used to detect that 14d has been inserted.
Similarly, the photo interrupter 1 is used to detect the identification plate 18.
Perform at 6.

【0028】17a〜17dは照明光の光軸上に挿入さ
れたフィルターの種類を表すためのマークであり、それ
ぞれのフィルターに対してその種類が分かるように色分
けされている。素通し部14aに対してはマーク17a
(白色)が、フィルター14bに対してはマーク17b
(赤色)が、フィルター14cに対してはマーク17c
(緑色)が、フィルター14dに対してはマーク17d
(青色)が、それぞれ対応している。これらのマーク1
7a〜17dは対応するフィルターとは反対側に位置す
るフィルター側に付けられており、例えば光軸上に素通
し部14aが挿入されている時には、マーク17aは照
明部10の外部に表れて、使用する検者に一目で判るよ
うになっている。
Marks 17a to 17d indicate the types of filters inserted on the optical axis of the illuminating light, and each of the filters is color-coded so that the type can be recognized. Mark 17a for the transparent portion 14a
(White), but mark 17b for filter 14b
(Red), but mark 17c for filter 14c
(Green) but mark 17d for filter 14d
(Blue) correspond to each other. These marks 1
7a to 17d are provided on the filter side located on the opposite side to the corresponding filter. For example, when the transparent portion 14a is inserted on the optical axis, the mark 17a appears outside the illumination unit 10 and is used. The inspector can understand at a glance.

【0029】(ロ)顕微鏡部 顕微鏡部20の内部には対物レンズ56、変倍レンズ5
7、CCDカメラ58が備えられている。照明部10か
らの照明光は分割ミラー55a、55bにて分割されて
いるため、対物レンズ56の光軸上には撮影の邪魔にな
るものはなく、被検者眼Eからの反射をCCD58カメ
ラによって捉えることができる。CCDカメラ58によ
って捉えられた映像は、制御部60を通じてディスプレ
イ30に表示される。図1において、21は倍率切替ノ
ブ21であり、変倍レンズ57を切り替えてディスプレ
イ30での観察倍率を変えるために使用される。
(B) Microscope section The objective lens 56 and the variable power lens 5 are provided inside the microscope section 20.
7. A CCD camera 58 is provided. Since the illumination light from the illumination unit 10 is split by the split mirrors 55a and 55b, there is no obstacle on the optical axis of the objective lens 56, and the reflection from the subject's eye E is reflected by the CCD 58 camera. Can be captured by The image captured by the CCD camera 58 is displayed on the display 30 through the control unit 60. In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a magnification switching knob 21 which is used to switch the magnification lens 57 to change the observation magnification on the display 30.

【0030】(ハ)ヘッドレスト 図1において、テーブル3に固設された2本の支柱44
R,44Lの間には、額当て41、顎載せ台43が設け
られており、被検者の顔をしっかりと保持できるように
なっている。支柱44Rの下部は支柱カバー44aに覆
われ、支柱カバー44aの内部には顎載せ台43を電動
で上下動する機構が備えられている。顎載せ台43の上
下動は、支柱カバー44aの側面に設けられたスイッチ
7aと、基台2に設けられたスイッチ7bにより行うこ
とができる。42は被検者の眼の高さを合せるためのア
イレベルマーカーであり、2本の支柱44R,44Lに
それぞれ設けられている。
(C) Headrest In FIG. 1, two columns 44 fixed to the table 3
A forehead support 41 and a chin rest 43 are provided between R and 44L so that the face of the subject can be held firmly. The lower portion of the column 44R is covered with a column cover 44a, and a mechanism for electrically moving the chin rest 43 up and down is provided inside the column cover 44a. The vertical movement of the chin rest 43 can be performed by a switch 7a provided on the side surface of the column cover 44a and a switch 7b provided on the base 2. Reference numeral 42 denotes an eye level marker for adjusting the eye height of the subject, and is provided on each of the two columns 44R and 44L.

【0031】ヘッドレスト40における顎載せ台43の
上下動機構を図4により説明する。図4は支柱44R側
の概略断面図である。支柱44Rと支柱カバー44aと
の間には送りネジ部46が挿通されており、送りネジ部
46はベアリング47によって支柱44Rに回転可能に
保持されている。また、送りネジ部46はストッパー4
8によって上下方向に動かないように固定されていると
ともに、下端部に形成されたギア部はモーター62側の
ギアと噛み合っている。
The vertical movement mechanism of the chin rest 43 in the headrest 40 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic sectional view of the support 44R side. A feed screw 46 is inserted between the support 44R and the support cover 44a, and the feed screw 46 is rotatably held on the support 44R by a bearing 47. Further, the feed screw portion 46 is provided with the stopper 4
8 and is fixed so as not to move in the vertical direction, and a gear formed at the lower end is engaged with the gear on the motor 62 side.

【0032】49は支柱44Rが挿通され、送りネジ部
46と螺合している上下ナット部であり、上端には顎載
せ台41が固定されている。このような構成により、モ
ーター62が回転すると、送りネジ部46が回転運動を
始める。送りネジ部46に螺合している上下ナット部4
9はこの回転運動により、上下方向へ送り出されるため
顎載せ台41が上下方向に無段階的に移動することが可
能となる。
Numeral 49 denotes an upper and lower nut portion through which the support 44R is inserted and which is screwed with the feed screw portion 46. The chin rest 41 is fixed to the upper end. With such a configuration, when the motor 62 rotates, the feed screw portion 46 starts rotating. Upper and lower nut portions 4 screwed to the feed screw portion 46
9 is sent out in the vertical direction by this rotational movement, so that the chin rest 41 can move steplessly in the vertical direction.

【0033】以上のような構成を持つ細隙灯顕微鏡の動
作について説明する。初めに、照明部10のスリット幅
及びフィルターに対して光量調節を行う方法について説
明する。
The operation of the slit lamp microscope having the above configuration will be described. First, a method of adjusting the light amount for the slit width and the filter of the illumination unit 10 will be described.

【0034】電源スイッチ8aにて電源を入れると、制
御部60はディスプレイ30にCCDカメラ58に受光
されている映像を映し出す。スリット幅に応じて照明光
量が自動的に変化するように設定する場合は(なお、標
準的な設定は出荷時に行っておいてもよい)、予めスイ
ッチ6a等を操作してこの設定を行う。スイッチ6aが
押されると、制御部60はスイッチ6a上部にあるLE
Dを点灯させ、検者にスリット幅による光量調節の準備
ができたことを知らせるとともに、ディスプレイ30の
画面上に現在のスリット幅と照明光の光量情報を表示す
る。検者はディスプレイ30に表示されているスリット
幅情報を見ながらスリット幅コントロールノブ11を回
して、可変スリット板53によるスリット幅を光量調節
が必要と思われる幅に合せる(例えば、断面観察に適す
るように、0.3mm程度としておく)。次に調光用ノ
ブ5を使用して必要と思われる照明光量が得られるまで
同じようにディスプレイ30を見ながら調光する(スリ
ット幅を狭くした場合は、光量が最大となるようにす
る)。
When the power is turned on by the power switch 8a, the control unit 60 displays the image received by the CCD camera 58 on the display 30. When setting so that the amount of illumination light automatically changes in accordance with the slit width (standard settings may be made at the time of shipment), the switches 6a and the like are operated in advance to make this setting. When the switch 6a is pressed, the control unit 60 controls the LE 6 above the switch 6a.
D is turned on to inform the examiner that preparation for light amount adjustment by the slit width is completed, and the current slit width and the light amount information of the illumination light are displayed on the screen of the display 30. The examiner turns the slit width control knob 11 while watching the slit width information displayed on the display 30, and adjusts the slit width by the variable slit plate 53 to a width for which light amount adjustment is considered necessary (for example, suitable for cross-sectional observation). 0.3 mm). Next, dimming is performed by using the dimming knob 5 while looking at the display 30 in the same manner until a necessary illumination light amount is obtained (when the slit width is reduced, the light amount is maximized). .

【0035】所定のスリット幅に対する光量が決定した
ら、もう一度スイッチ6aを押して設定を完了させる。
スイッチ6aが再び押されると制御部60はLEDを消
灯させ、その時のスリット幅、照明光の光量状態をメモ
リー63に記憶すると共に、ディスプレイ30に表示し
てあったスリット幅、照明光の光量情報を消し、元の観
察画面に戻す。スリット幅に対する光量調整は、設定し
たスリット幅以下のときに設定した光量にて照明される
ように制御部60によって制御される。
When the light amount for a predetermined slit width is determined, the switch 6a is pressed again to complete the setting.
When the switch 6a is pressed again, the control unit 60 turns off the LED, stores the slit width at that time, the light amount state of the illumination light in the memory 63, the slit width displayed on the display 30, and the light amount information of the illumination light. To return to the original observation screen. The light amount adjustment for the slit width is controlled by the control unit 60 so that the light is illuminated with the set light amount when the slit width is equal to or smaller than the set slit width.

【0036】フィルターディスク14が持つ各種フィル
タに応じて照明光量が自動的に調節されるように設定す
る場合は、スイッチ6b等を操作してこの設定を行う。
スイッチ6bが押されると、前述同様に制御部60はス
イッチ6bの上に設けられたLEDを点灯させ光量調節
の準備ができたことを知らせるとともに、ディスプレイ
30上に現在挿入されているフィルターの種類、照明光
の光量情報を表示する。検者はディスプレイ30に表示
されているフィルターの種類、照明光の光量情報を見な
がらフィルターディスク14を回転させ、予め光量を決
めておきたいフィルターに合せる。その後、調光用ノブ
5により所望する照明光が得られるように調光作業を行
う。例えば、ブルーフィルター14dを選択したとき
は、照明光量が減衰されるので光量設定を最大とする。
When setting so that the amount of illumination light is automatically adjusted according to various filters of the filter disk 14, this setting is performed by operating the switch 6b and the like.
When the switch 6b is pressed, the control unit 60 illuminates the LED provided on the switch 6b to notify that the light quantity adjustment is ready, as described above, and determines the type of the filter currently inserted on the display 30. , And displays light amount information of the illumination light. The examiner rotates the filter disk 14 while watching the information on the type of the filter and the light amount of the illumination light displayed on the display 30, and adjusts the filter to a filter whose light amount is to be determined in advance. After that, a dimming operation is performed so that a desired illumination light is obtained by the dimming knob 5. For example, when the blue filter 14d is selected, the illumination light amount is attenuated, so that the light amount setting is maximized.

【0037】選択したフィルターに対する光量が決定し
たら、もう一度スイッチ6bを押して設定を完了させ
る。スイッチ6bが押されると制御部60は選択された
フィルター、照明光の光量状態をメモリー63に記憶さ
せ、ディスプレイ30の表示を元に戻す。また、別のフ
ィルターに対して同じように照明光量が自動的に調節さ
れるようにする場合には、今の動作を繰返し行えばよ
い。
When the amount of light for the selected filter is determined, the switch 6b is pressed again to complete the setting. When the switch 6b is pressed, the control unit 60 stores the selected filter and the amount of illumination light in the memory 63, and returns the display on the display 30 to the original state. When the amount of illumination light is automatically adjusted in the same manner for another filter, the current operation may be repeated.

【0038】以上のような設定により、スリット幅や各
フィルターに対して検者が最適と思われる照明光の光量
を予め設定し、これを記憶させておくことができる。
With the above-described settings, the examiner can preliminarily set the amount of illumination light which is considered to be optimal for the slit width and each filter, and can store them.

【0039】なお、これらの光量の設定においては、モ
デル眼を観察しながら行うと良いが、光量設定時にはデ
ィスプレイ30にスリットの幅、フィルターの種類、光
量レベルが表示されるため、検者が経験に基づいて設定
することも可能である。
It is preferable to set the light amount while observing the model eye. However, when setting the light amount, the width of the slit, the type of the filter, and the light amount level are displayed on the display 30. It is also possible to set based on.

【0040】次に、光量調節が完了した細隙灯顕微鏡1
を用いて被検者眼Eを観察する動作について説明する。
初めに被検者の顔をヘッドレスト40に固定する。被検
者には額当て41に額を当接すると共に、顎載せ台43
に顎を載せるように指示する。その後、アイレベルマー
カー42の位置に被検者眼Eが来るように、顎載せ台4
3を上下移動させその位置を調節する。顎載せ台43の
上下移動はスイッチ7a、7bの何れによっても可能で
あるが、被検者と正対する検者自身がこの調節を行う時
は、基台2に設けられた上下動スイッチ7bを使用して
行うことができる。スイッチ7bは検者の手元付近に有
るため、いちいちヘッドレスト40側に手を伸ばす必要
はなく効率よく行える。
Next, the slit lamp microscope 1 whose light quantity adjustment is completed
The operation of observing the subject's eye E by using will be described.
First, the subject's face is fixed to the headrest 40. The subject abuts the forehead against the forehead rest 41 and the chin rest 43
Instruct the chin to put on the chin. Thereafter, the chin rest 4 is moved so that the subject's eye E comes to the position of the eye level marker 42.
3 is moved up and down to adjust its position. The up and down movement of the chin rest 43 can be performed by any of the switches 7a and 7b. However, when the examiner facing the subject performs this adjustment, the up and down movement switch 7b provided on the base 2 is operated. Can be done using Since the switch 7b is near the examiner's hand, it is not necessary to reach the headrest 40 side each time, and the switch 7b can be efficiently operated.

【0041】一方、検者の代わりに看護士等の補助者が
顎載せ台43の位置調節を行う場合には、スイッチ7a
を使用して調節を行うことができる。補助者も基台2に
設けられたスイッチ7bを使用することができるが、こ
の場合、細隙灯顕微鏡1を不用意に動かしてしまう可能
性もある。これに対して、ヘッドレスト40側に設けら
れたスイッチ7aを使用すればこれを確実に回避するこ
とができる。また、通常、補助者は被検者側に付き添っ
ていることが多いため、スイッチ7aの方が操作し易
い。
On the other hand, when an assistant such as a nurse adjusts the position of the chin rest 43 instead of the examiner, the switch 7a is used.
The adjustment can be made using. The assistant can also use the switch 7b provided on the base 2, but in this case, the slit lamp microscope 1 may be inadvertently moved. On the other hand, if the switch 7a provided on the headrest 40 side is used, this can be reliably avoided. In addition, the switch 7a is usually easier to operate because the assistant often accompanies the subject.

【0042】被検者の位置が決定したら、検者は被検者
眼Eに照明光を当て、観察を行う。被検眼Eの観察には
眼断面観察、前眼部観察、眼底観察等あるが、以下では
断面観察と前眼部観察の場合を簡単に説明する。
When the position of the subject has been determined, the examiner illuminates the subject's eye E with illumination light and performs observation. The observation of the subject's eye E includes cross-sectional observation of the eye, observation of the anterior eye, observation of the fundus, and the like.

【0043】断面観察の場合、照明部10からのスリッ
ト照明光により光切断された前眼部断面を顕微鏡部20
により観察できるようにする。検者は被検者に図示無き
固視灯を凝視するように指示した後、軸角度目盛り23
を見ながら照明部10と顕微鏡部20とがなす角度を所
望する角度(例えば、約25度程度)となるように、照
明部10と顕微鏡部20とを回転軸Lを中心にして相対
的に回転させる。両者の角度は固定ツマミ24にて固定
させることができる。
In the case of cross-sectional observation, the cross-section of the anterior ocular segment, which has been light-cut by the slit illumination light from the illumination unit 10, is
To allow observation. The examiner instructs the subject to stare at a fixation lamp (not shown), and then sets the axis angle scale 23.
The illumination unit 10 and the microscope unit 20 are relatively positioned about the rotation axis L so that the angle formed by the illumination unit 10 and the microscope unit 20 becomes a desired angle (for example, about 25 degrees) while watching the image. Rotate. Both angles can be fixed by the fixing knob 24.

【0044】また、断面観察の場合には、コントロール
ノブ11によりスリット幅を狭く設定する。スリット幅
の調節状態はポテンショメータ61により検知され、ス
リット幅がメモリ63に記憶された設定値以下(0.3
mm以下)になったことが制御部60にて確認される
と、制御部60は照明光源50からの照明光が先に設定
した光量となるように制御する。これにより、検者は調
光用ノブ5を操作することなく、コントロールノブ11
によるスリット幅の調整のみで自動的に希望する光量が
得られるようになるため、検者は手間が掛からずに次の
手順に移ることができる。なお、制御部60による自動
調光が検者の意にそぐわない時は、調光用ノブ5を操作
することにより、従来通り照明光量を手動で調節でき
る。調光用ノブ5を操作すると、その操作信号は制御部
60に入力され、制御部60は自動調光の設定を一時的
に解除する。
In the case of cross-section observation, the slit width is set to be small by the control knob 11. The adjustment state of the slit width is detected by the potentiometer 61, and the slit width is set to a value less than or equal to the set value stored in the memory 63 (0.3
(mm or less), the control unit 60 controls the illumination light from the illumination light source 50 to have the previously set light amount. This allows the examiner to operate the control knob 11 without operating the light control knob 5.
The desired light quantity can be obtained automatically only by adjusting the slit width by the operator, so that the examiner can proceed to the next procedure without any trouble. When the automatic light control by the control unit 60 does not meet the wishes of the examiner, the light amount can be manually adjusted by operating the light control knob 5 as before. When the light control knob 5 is operated, the operation signal is input to the control unit 60, and the control unit 60 temporarily cancels the automatic light control setting.

【0045】また、被検者眼Eの断面観察では、照明部
10と顕微鏡部20の成す角度を固定ツマミ24にて固
定させておけば、顕微鏡部20を軸L中心に振ることに
よって所望の断面角度にすることができ、検者はディス
プレイ30にてその断面像の観察を行う。
In the cross-sectional observation of the subject's eye E, if the angle formed between the illumination unit 10 and the microscope unit 20 is fixed by the fixing knob 24, the microscope unit 20 can be swung about the axis L to obtain a desired angle. The cross-sectional angle can be set, and the examiner observes the cross-sectional image on the display 30.

【0046】ここで、顕微鏡部に接眼レンズ部を備えた
従来の細隙灯顕微鏡の場合には、顕微鏡部を軸L中心に
振るとそれに合せて接眼レンズ部も一緒に振られてしま
うため、検者は無理な体勢で観察したり、見易い体勢に
するためにわざわざ移動して観察しなければならなかっ
た。しかしながら、本実施形態では顕微鏡部20が備え
るCCDカメラ58によって受光された映像が検者正面
に位置するディスプレイ30に表示されるため、いちい
ち検者が動く必要が無く、正面に座ったままであらゆる
角度からの映像を観察することができる。
Here, in the case of a conventional slit lamp microscope having an eyepiece section in the microscope section, if the microscope section is swung about the axis L, the eyepiece section is swung together with it. The examiner had to observe in an unreasonable position, or move and observe in order to make the position easy to see. However, in the present embodiment, since the image received by the CCD camera 58 included in the microscope unit 20 is displayed on the display 30 located in front of the examiner, the examiner does not need to move each time, and can sit at any angle while sitting in front of the examiner. You can observe the video from

【0047】次に、前眼部観察を行う場合について説明
する。ここでは、蛍光観察をする場合を例にとって説明
する。検者は予め被検眼Eの角膜表面にフルオレスセイ
ンを点眼させておき前眼部の観察を始める。この観察で
はスリット幅は広く開けておき、照明光が角膜全体を照
らすようにする。次にフィルターディスク14を回転さ
せて、ブルーフィルター14dを照明光の光軸上に挿入
する。ブルーフィルター14dが光軸上に位置すると、
フォトインタラプタ16によりブルーファイルター14
dが挿入されたことが検知され、その検知信号は制御部
60に入力される。制御部60はこの検知信号が入力さ
れると、照明光源50から照射される照明光の光量を予
め設定したレベル(最大)となるように制御する。一般
にブルーフィルター14dを挿入した場合、前眼部を照
らす光量が著しく減少してしまうため、検者がいちいち
光量を上げるように調光用ノブ5を操作する必要があっ
たが、このように自動的に光量調節が行われるため検者
の手を煩わせることが無く、検者は観察に集中してスム
ーズに検査を行うことができる。
Next, the case of observing the anterior eye will be described. Here, a case where fluorescence observation is performed will be described as an example. The examiner injects fluorescein on the corneal surface of the eye E in advance, and starts observing the anterior segment. In this observation, the slit width is widened so that the illumination light illuminates the entire cornea. Next, the filter disk 14 is rotated to insert the blue filter 14d on the optical axis of the illumination light. When the blue filter 14d is located on the optical axis,
Blue filter 14 by photo interrupter 16
It is detected that d has been inserted, and the detection signal is input to the control unit 60. When the detection signal is input, the control unit 60 controls the light amount of the illumination light emitted from the illumination light source 50 to a predetermined level (maximum). Generally, when the blue filter 14d is inserted, the amount of light illuminating the anterior segment is significantly reduced. Therefore, it is necessary for the examiner to operate the light control knob 5 so as to increase the amount of light. Since the light amount adjustment is performed in a specific manner, the examiner can perform the examination smoothly and concentrate on the observation without bothering the examiner.

【0048】照明光源50からの照明光はブルーフィル
ター14dにより青色光となって角膜全体を照らし、角
膜表面は蛍光反応を示して特有の発色光を示す。検者は
このような状態の角膜表面を観察し、涙液層破壊時間等
を計測する。
The illuminating light from the illuminating light source 50 becomes blue light by the blue filter 14d and illuminates the entire cornea, and the corneal surface shows a fluorescent reaction and shows specific color light. The examiner observes the corneal surface in such a state and measures the tear film destruction time and the like.

【0049】また、フィルターはそのままでスリット幅
を変化させて検査、観察を行う場合がある。コントロー
ルノブ11の操作によりスリット幅が変えられ、スリッ
ト幅がメモリ63に記憶された設定値以下とされた場合
には、制御部60はその設定値を優先するように照明光
の光量の制御を行う。これは、検者がスリット幅を変化
させて観察を行うことが重要であると考えている状態で
あるためである。さらにフィルター又はスリット幅によ
って光量が決定されていても、調光用ノブ5を使用する
ことで、任意の光量に調節することが可能である。制御
部60は調光用ノブ5による操作信号を優先し、その操
作信号に応じた光量とする。
In some cases, inspection and observation may be performed while changing the slit width without changing the filter. When the slit width is changed by operating the control knob 11 and the slit width is set to be equal to or less than the set value stored in the memory 63, the control unit 60 controls the light amount of the illumination light so that the set value is prioritized. Do. This is because the examiner thinks that it is important to change the slit width for observation. Further, even if the light amount is determined by the filter or slit width, the light amount can be adjusted to an arbitrary light amount by using the light control knob 5. The control unit 60 gives priority to the operation signal from the light control knob 5, and sets the light amount according to the operation signal.

【0050】以上説明した実施形態ではスリット幅、フ
ィルターに対する光量設定は各々の条件において、それ
ぞれ1つの光量設定を記憶させておくようにしている
が、一通りのみの条件設定ではなく、このような条件設
定を複数記憶させておくことも考えられる。このように
しておけば、複数の検者がそれぞれに応じた光量設定を
行うことができ、必要に応じて検者毎の光量設定にて検
査、観察を行える。
In the embodiment described above, the slit width and the light amount setting for the filter are stored in a single light amount setting under each condition. It is also conceivable to store a plurality of condition settings. By doing so, a plurality of examiners can set the light amount according to each, and the inspection and observation can be performed by setting the light amount for each examiner as needed.

【0051】また、フィルターディスク14の切り替え
検知には、フォトインタラプラ16を使用したが、これ
に限ることはなく、例えばポテンショメータやエンコー
ダー等を使用して、フィルターディスク14の回転量を
検知することによりフィルターの切り換えを検知しても
よい。さらに、各フィルターを選択する選択スイッチ等
を設け、この選択スイッチを使用することにより、フィ
ルターディスク14を電動にて回転制御させる機構を用
いる場合には、選択スイッチから発信される信号を検知
することによってフィルターの切り換えを検知すること
が可能である。
The switching of the filter disk 14 is detected by using the photo interrupter 16. However, the present invention is not limited to this. For example, the rotation amount of the filter disk 14 may be detected by using a potentiometer or an encoder. May be used to detect the switching of the filter. Further, a selection switch for selecting each filter is provided, and by using this selection switch, when a mechanism for electrically controlling the rotation of the filter disk 14 is used, a signal transmitted from the selection switch is detected. Thus, it is possible to detect the switching of the filter.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
検者(術者)は無理な姿勢をすること無く、容易に作業
を行うことができる。すなわち、顕微鏡部を左右に振っ
た場合であっても、検者は移動することなく、正対した
まま楽な姿勢で被検眼(患者眼)を観察できる。また、
顎載せ台の移動を検者及び補助者が容易に行える。
As described above, according to the present invention,
The examiner (operator) can easily perform the work without taking an unreasonable posture. That is, even when the microscope unit is swung right and left, the examiner can observe the subject's eye (patient's eye) in a comfortable posture without moving, while facing directly. Also,
The examiner and assistant can easily move the chin rest.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】細隙灯顕微鏡の外観を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an appearance of a slit lamp microscope.

【図2】光学系及び制御系を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an optical system and a control system.

【図3】フィルターディスクの構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a filter disk.

【図4】顎載せ台の上下駆動機構を示す概略断面図であ
る。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing a vertical drive mechanism of the chin rest.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 細隙灯顕微鏡本体 5 調光用ノブ 6a スリット用光量設定スイッチ 6b フィルター用光量設定スイッチ 7a 上下動用スイッチ 7b 上下動用スイッチ 10 照明部 20 顕微鏡部 30 ディスプレイ 40 ヘッドレスト 43 顎載せ台 50 照明光源 60 制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Slit lamp microscope body 5 Dimming knob 6a Slit light quantity setting switch 6b Filter light quantity setting switch 7a Vertical movement switch 7b Vertical movement switch 10 Illumination unit 20 Microscope unit 30 Display 40 Headrest 43 Jaw rest 50 Illumination light source 60 Control Department

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検者の頭部を支持し被検眼の位置を安
定させる支持手段と被検眼をスリット照明する照明光学
系と被検眼の観察条件を設定する条件設定手段とを持つ
細隙灯顕微鏡において、スリット照明された被検眼を光
電撮像素子に撮像する撮像手段と、固定台上を操作手段
の操作により移動可能に載置されると共に、前記照明光
学系と撮像部とが同一軸を中心にして互いに回転可能に
取り付けられた基台と、該基台に取り付けられたディス
プレイを持ち前記撮像手段によって撮像された被検眼を
該ディスプレイ上に表示する表示手段を備えたことを特
徴とする細隙灯顕微鏡。
1. A slit having support means for supporting the head of a subject and stabilizing the position of the subject's eye, an illumination optical system for slit-illuminating the subject's eye, and condition setting means for setting observation conditions for the subject's eye. In a light microscope, an imaging unit that images a slit-illuminated eye to be examined on a photoelectric imaging element, and a movable base mounted on a fixed base by operation of an operation unit, and the illumination optical system and the imaging unit are coaxial. A base mounted rotatably with respect to the base, and display means having a display mounted on the base and displaying an eye to be inspected imaged by the imaging means on the display. Slit lamp microscope.
【請求項2】 請求項1の細隙灯顕微鏡は、さらに前記
条件設定手段により設定される観察条件を検知する検知
手段を備え、観察条件を前記ディスプレイ上に表示され
た被検眼像と同一視野内に表示することを特徴とする細
隙灯顕微鏡。
2. The slit lamp microscope according to claim 1, further comprising detection means for detecting an observation condition set by said condition setting means, wherein the observation condition is in the same field of view as the image of the eye to be inspected displayed on the display. A slit lamp microscope characterized by being displayed inside.
【請求項3】 請求項2の細隙灯顕微鏡は、前記観察条
件は被検眼像と重畳して表示されることを特徴とする細
隙灯顕微鏡。
3. The slit lamp microscope according to claim 2, wherein the observation conditions are displayed so as to be superimposed on an image of the eye to be inspected.
【請求項4】 請求項2の観察条件は、少なくとも照明
光学系による照明光の光量またはスリット幅を含むこと
を特徴とする細隙灯顕微鏡。
4. The slit lamp microscope according to claim 2, wherein the observation condition includes at least an amount of illumination light or a slit width by the illumination optical system.
【請求項5】 請求項1の細隙灯顕微鏡において、前記
支持手段は顎載せ台を電動で上下動させる移動手段と前
記顎載せ台の移動を指令する信号を入力する信号入力手
段とを備え、該信号入力手段は前記ディスプレイ上に表
示された被検眼像と同一視野内に配置されたことを特徴
とする細隙灯顕微鏡。
5. The slit lamp microscope according to claim 1, wherein said support means includes a moving means for vertically moving the chin rest and a signal input means for inputting a signal for commanding the movement of said chin rest. The slit lamp microscope, wherein the signal input means is arranged in the same field of view as the eye image displayed on the display.
【請求項6】 請求項5の細隙灯顕微鏡において、前記
信号入力手段は前記支持手段側に設けられた第2の入力
手段を備えることを特徴とする細隙灯顕微鏡。
6. The slit lamp microscope according to claim 5, wherein said signal input means includes second input means provided on said support means side.
【請求項7】 被検者の顔を支持するための顎載せ台を
持ち被検眼の位置を安定させる支持手段と被検眼をスリ
ット照明する照明光学系と被検眼の観察条件を設定する
条件設定手段とを持つ細隙灯顕微鏡において、スリット
照明された被検眼を観察する観察手段と、固定台上を操
作手段の操作により移動可能に載置されると共に、前記
照明光学系と撮像部とが同一軸を中心にして互いに回転
可能に取り付けられた基台と、前記顎載せ台を電動で上
下動させる移動手段と、該移動手段の移動を指令する信
号を入力する信号入力手段とを備え、該信号入力手段は
検査者が被検眼像を観察する姿勢を維持した状態で操作
できる位置に配置されたことを特徴とする細隙灯顕微
鏡。
7. A means for holding a chin rest for supporting the face of the subject, supporting means for stabilizing the position of the subject's eye, an illumination optical system for slit-illuminating the subject's eye, and condition setting for setting observation conditions for the subject's eye. In the slit lamp microscope having the means, the observation means for observing the eye to be examined which is illuminated by the slit, and movably mounted on the fixed base by the operation of the operation means, the illumination optical system and the imaging unit A base mounted rotatably with respect to the same axis, moving means for vertically moving the chin rest, and signal input means for inputting a signal for commanding movement of the moving means, The slit lamp microscope, wherein the signal input means is arranged at a position where the examiner can operate while maintaining a posture for observing the image of the eye to be inspected.
JP11216418A 1999-07-30 1999-07-30 Slit-lamp microscope Pending JP2001037726A (en)

Priority Applications (3)

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