JP2003294594A - Tissue sample formation method, tissue sample formation device, and jig for forming electron microscopic sample - Google Patents

Tissue sample formation method, tissue sample formation device, and jig for forming electron microscopic sample

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JP2003294594A
JP2003294594A JP2002097948A JP2002097948A JP2003294594A JP 2003294594 A JP2003294594 A JP 2003294594A JP 2002097948 A JP2002097948 A JP 2002097948A JP 2002097948 A JP2002097948 A JP 2002097948A JP 2003294594 A JP2003294594 A JP 2003294594A
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佳則 藤川
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and the like for forming a tissue sample by a simple method while increasing packing density of powder particles. <P>SOLUTION: This tissue sample formation method comprises a mixing process (step S101) for producing a mixture of powder and resin and a pressurizing process (step S102) for applying a pressure to the mixture to turn it into a thin piece. In the mixing process, when a ratio (volume ratio) of the resin to the powder is set to 2 or more, density of the powder can be increased. In the pressurizing process (step S102), the mixture can have an area with a film thickness of 20 μm or less. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、粉体を観察するた
めの薄片試料を作製する方法等に関し、より詳細には、
粉体粒子の内部を透過型電子顕微鏡で観察する際に好適
な薄片試料の作製方法等に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for producing a thin sample for observing powder, and more specifically,
The present invention relates to a method for producing a thin sample suitable for observing the inside of powder particles with a transmission electron microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、粉末状の試料を対象とした透過型
電子顕微鏡(TEM)用試料の作製方法としては、有機
薄膜を有するシートメッシュ上に粉末を分散固定する方
法が開示されている(特開昭52−89372号公報、
特開平2−262226号公報参照)。また、近年、G
aイオンの照射により対象物の任意の部分の薄膜化が可
能な収束イオンビーム(FIB:Focused Ion Beam) 加
工観察装置(以下、「FIB装置」という)が開発さ
れ、FIB装置による粉末粒子の薄膜化による電子顕微
鏡観察用試料の作製が行われるようになっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a method for preparing a sample for a transmission electron microscope (TEM) for a powdery sample, a method of dispersing and fixing the powder on a sheet mesh having an organic thin film has been disclosed ( JP-A-52-89372,
See Japanese Patent Laid-Open No. 2-262226). In recent years, G
A focused ion beam (FIB) processing observation device (hereinafter referred to as "FIB device") that can thin a desired part of an object by a-ion irradiation was developed, and a thin film of powder particles by the FIB device was developed. Samples for electron microscope observation have been produced by crystallization.

【0003】しかしながら、特開昭52−89372号
公報、特開平2−262226号公報等に記載の方法で
は、分散固定された粉末をそのまま観察するため、粉末
試料の粒径が100nm程度以下と極微小であるか、あ
るいは電子線が透過可能な粉末粒子端部の極薄い部分に
限り、構造解析が可能であった。これは、粉末試料の大
きさが100nm程度以下でなければ、一般に用いられ
ているTEMでは電子線の透過が不十分なためである。
また、FIB装置によって粉末粒子の薄膜化を行う場合
には、薄膜化の制御が困難であること、粉末試料が損傷
する場合があること、その加工領域が10μm×10μ
m程度に限られること、等の問題がある。しかも、FI
B装置は非常に高価である。そこで、特開平7−209
155号公報等に記載の方法、つまり、樹脂に粉体を埋
め込み、この樹脂と粉体の混合体に対して機械研磨とイ
オン研磨を施すことによって粉体の薄切り断面を作製す
る方法が、粉末試料を作製する方法として広く用いられ
つつある。ここで、機械研磨とイオン研磨を施して薄膜
化された粉末試料をTEM観察する場合における試料の
作製手順を図9に示す。
However, in the methods described in JP-A-52-89372, JP-A-2-262226, etc., since the powder which is dispersed and fixed is observed as it is, the particle size of the powder sample is as small as about 100 nm or less. Structural analysis was possible only in the very thin part of the end of the powder particle, which was either small or permeable to electron beams. This is because the electron beam is not sufficiently transmitted by a commonly used TEM unless the size of the powder sample is about 100 nm or less.
Further, when thinning the powder particles by the FIB device, it is difficult to control the thinning, the powder sample may be damaged, and the processing area is 10 μm × 10 μm.
There are problems such as being limited to about m. Moreover, FI
The B device is very expensive. Therefore, Japanese Patent Laid-Open No. 7-209
No. 155, etc., that is, a method in which a powder is embedded in a resin and a mixture of the resin and the powder is subjected to mechanical polishing and ion polishing to produce a thin section of the powder is a powder. It is being widely used as a method for producing a sample. Here, FIG. 9 shows a sample preparation procedure in the case of TEM observation of a powder sample thinned by mechanical polishing and ion polishing.

【0004】図9に示すように、まず、粉体を樹脂と混
合し(ステップS201)、このバルク状混合体を固化
乾燥させる(ステップS202)。そして、このバルク
状材料を、精密低速切断機等を用いて例えば50μm〜
100μm程度の適当な厚さに切り出し(ステップS2
03)、次いで、この切り出した試料の機械研磨(ステ
ップS204)を行う。続いて、機械研磨が施された試
料に対して、ミリング装置によるイオン研磨(ステップ
S205)を行って試料の厚さを100nm以下にした
後、TEM観察が実施される。
As shown in FIG. 9, first, powder is mixed with resin (step S201), and the bulk mixture is solidified and dried (step S202). Then, this bulk material is, for example, 50 μm
Cut out to an appropriate thickness of about 100 μm (step S2
03), and then mechanically polishing the cut-out sample (step S204). Subsequently, the sample that has been mechanically polished is subjected to ion polishing by a milling device (step S205) to reduce the thickness of the sample to 100 nm or less, and then TEM observation is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した特開平7−2
09155号公報等に記載の方法によってTEM試料を
作製するには、イオン研磨(ステップS205)に先立
ち、試料の厚さが10μm〜20μm程度の部位を作製
しておくことが望ましい。このため、上述したステップ
S204における機械研磨は、複数の工程から構成され
ており、通常は、50μm〜100μm程度に切り出し
た試料をまず粗研磨した後、それをディスクパンチや超
音波ディスクカッタで3mmφに打ち抜き、そしてさら
に精密研磨、ディンプルグラインダーによる研磨を行っ
ている。このように、切り出した試料の機械研磨(ステ
ップS204)を行う際には、多くの手間がかかるた
め、通常、切り出し(ステップS203)から切り出し
た試料の機械研磨(ステップS204)が完了するまで
には、約5時間もの時間を要していた。また、粉体と樹
脂のバルク状混合体を機械研磨する場合には、粉体に過
剰の応力がかかり、この応力によって粉体に加工変質が
生じることもある。つまり、従来法では、加工変質が生
じた状態の粉体観察を行わざるを得ない場合が多いた
め、粉体構造の精密な観察に支障をきたすこともあっ
た。さらに、粉体と樹脂のバルク状混合体中には気泡が
残ることが多く、機械研磨やイオン研磨時の支障となる
ことがあるため、別途、脱泡処理を行う必要があった。
さらにまた、従来法によって形成されたバルク状混合体
において、観察しようとする粉体の密度を高めるために
は、必要とされる粉体試料の絶対量が多くなってしま
う。そこで、本発明は、より簡易な方法で薄片試料を作
製する方法等を提供することを課題とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
In order to manufacture a TEM sample by the method described in Japanese Patent Publication No. 09155, it is desirable to prepare a site having a sample thickness of about 10 μm to 20 μm before ion polishing (step S205). Therefore, the mechanical polishing in step S204 described above is composed of a plurality of steps. Usually, a sample cut out to a size of about 50 μm to 100 μm is first rough-polished, and then it is 3 mmφ with a disc punch or an ultrasonic disc cutter. It is punched out, then further precision polished and polished with a dimple grinder. As described above, since it takes a lot of time and effort to perform mechanical polishing (step S204) of the sample cut out, it is usual to complete mechanical polishing (step S204) of the sample cut out from the cut out (step S203). Took about 5 hours. Further, when mechanically polishing a bulk mixture of powder and resin, excessive stress is applied to the powder, and this stress may cause process deterioration of the powder. That is, in the conventional method, it is often necessary to observe the powder in a state in which the work is deteriorated, which sometimes hinders precise observation of the powder structure. Further, bubbles often remain in the bulk mixture of the powder and the resin, which may hinder mechanical polishing or ion polishing. Therefore, it is necessary to separately perform defoaming treatment.
Furthermore, in the bulk mixture formed by the conventional method, in order to increase the density of the powder to be observed, the absolute amount of the powder sample required increases. Therefore, it is an object of the present invention to provide a method for producing a thin sample by a simpler method and the like.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】従来は、イオン研磨に先
立ち、機械研磨を行うことを前提としていたため、混合
体をバルク状または厚板状に形成していた。本発明者
は、この機械研磨を省略もしくは軽減するためには、予
め薄片状の混合体を作製することが極めて有効であるこ
とに着目した。そして、混合体に圧力を付与するという
簡易な方法により、薄片状の試料を得ることができるこ
とを知見した。すなわち、本発明は、粉体を観察するた
めの薄片試料の作製方法であって、粉体と樹脂との混合
体を得る混合工程と、この混合体に圧力を付与して薄片
化する加圧工程とを備えることを特徴とする薄片試料作
製方法である。混合工程において、樹脂に対する粉体の
比率(体積比)を2以上にすることにより、粉体の密度
を高めることができる。そして、本発明に係る薄片試料
作製方法によれば、粉体試料が微量しか得られない場合
においても、観察に適するような薄片試料を作製するこ
とが可能となる。
Conventionally, since it was premised that mechanical polishing was performed prior to ion polishing, the mixture was formed in a bulk shape or a thick plate shape. The present inventor has noticed that it is extremely effective to prepare a flaky mixture in advance in order to omit or reduce this mechanical polishing. Then, they found that a flaky sample can be obtained by a simple method of applying pressure to the mixture. That is, the present invention is a method for producing a thin sample for observing powder, which comprises a mixing step of obtaining a mixture of powder and a resin, and a pressurization for applying pressure to the mixture to form a thin piece. And a step for preparing a thin sample. In the mixing step, the density of the powder can be increased by setting the ratio (volume ratio) of the powder to the resin to 2 or more. Further, according to the thin sample preparation method of the present invention, it is possible to prepare a thin sample suitable for observation even when only a small amount of powder sample is obtained.

【0007】また、本発明に係る薄片試料作製方法よれ
ば、上述した加圧工程において、混合体を任意の形状、
例えば、試料表面に任意のパターンを形成したり、膜厚
を任意の範囲に制御することが可能となる。具体的に
は、加圧工程において、混合体が膜厚20μm以下の領
域を有するようにすることができる。本発明に係る薄片
試料の作製方法において、加圧工程で得られた状態のま
まの薄片試料に対し、イオン研磨を施すイオン研磨工程
をさらに備えることができる。このイオン研磨は、膜厚
が20μm以下の領域に対して行うことが有効である。
薄片試料全体にイオン研磨を施すことは効率が悪く、現
実的でないからである。本発明に係る薄片試料作製方法
によれば、加圧工程で予め膜厚が20μm以下の領域を
有する部位を作製しているため、イオン研磨の前に従来
行われていた予備研磨としての機械研磨を省略すること
ができる。
Further, according to the thin sample preparation method of the present invention, the mixture is formed into an arbitrary shape in the above-mentioned pressing step.
For example, it becomes possible to form an arbitrary pattern on the sample surface and control the film thickness within an arbitrary range. Specifically, in the pressing step, the mixture can have a region with a film thickness of 20 μm or less. The method for producing a thin sample according to the present invention may further include an ion polishing step of performing ion polishing on the thin sample in the state obtained in the pressing step. It is effective to perform this ion polishing on a region having a film thickness of 20 μm or less.
This is because it is inefficient and unrealistic to perform ion polishing on the entire thin sample. According to the thin sample preparation method of the present invention, since a site having a region having a film thickness of 20 μm or less is prepared in advance in the pressurizing step, mechanical polishing as preliminary polishing that has been conventionally performed before ion polishing. Can be omitted.

【0008】また、本発明は、以下の構成を有する新規
な薄片試料作製装置を提供する。すなわち、本発明に係
る薄片試料作製装置は、粉体と樹脂との混合体を硬化し
て薄片試料を作製する装置であって、混合体を挟持し、
混合体を薄片化する薄片化手段と、混合体を加圧した状
態で樹脂を硬化する樹脂硬化手段とを備えることを特徴
とする。ここで、薄片化手段としては、例えばガラス等
で構成される板状部材を用いることができる。また、本
発明に係る薄片試料作製装置において、薄片化手段と混
合体との接触領域に難接着層を備えることによって、硬
化後の薄片試料が薄片化手段に付着することを効果的に
防止することができる。難接着層は、樹脂が接着しにく
いポリテトラフルオロエチレン(商品名:テフロン(商
標))等を用いて形成することができる。なお、上述し
た樹脂を熱硬化性樹脂とする場合には、樹脂硬化手段は
この熱硬化性樹脂が硬化する温度以上に加熱保持される
加熱体とすることができる。また、本発明は、電子顕微
鏡用試料を構成する粉体および樹脂を挟持する少なくと
も一方が透明な加圧板と、この加圧板の表面の一部また
は全部に設けられた難接着層とを備えたことを特徴とす
る電子顕微鏡用試料作製治具を提供する。加圧板として
は、例えばガラス板を用いることができる。また、難接
着層は、加圧板にテフロンコートを施して形成してもよ
いし、テフロンシートを加圧板に接着することによって
形成してもよい。
The present invention also provides a novel thin sample preparation device having the following constitution. That is, the thin sample preparation device according to the present invention is a device for preparing a thin sample by curing a mixture of powder and resin, and sandwiching the mixture,
It is characterized by comprising a thinning means for thinning the mixture and a resin curing means for curing the resin in a state where the mixture is pressurized. Here, as the thinning means, for example, a plate-shaped member made of glass or the like can be used. Further, in the thin sample preparation apparatus according to the present invention, by providing the difficult-to-adhere layer in the contact area between the thinning means and the mixture, it is possible to effectively prevent the thin sample after curing from adhering to the thinning means. be able to. The difficult-to-adhere layer can be formed using polytetrafluoroethylene (trade name: Teflon (trademark)) or the like, which makes it difficult for the resin to adhere. When the above-mentioned resin is a thermosetting resin, the resin curing means can be a heating body that is heated and held at a temperature higher than the temperature at which the thermosetting resin cures. Further, the present invention is provided with a pressure plate having at least one of transparent powder and resin sandwiching the electron microscope sample, and a difficult adhesion layer provided on a part or all of the surface of the pressure plate. A sample preparation jig for an electron microscope is provided. As the pressing plate, for example, a glass plate can be used. The difficult-to-adhere layer may be formed by applying a Teflon coat to the pressure plate, or may be formed by adhering a Teflon sheet to the pressure plate.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】上述の通り、本発明は、薄片試料
作製方法であって、樹脂と粉体との混合体を得た後、こ
の混合体に圧力を付与して薄片化する、という簡易な方
法で薄片試料を作製することを特徴とする。以下、図面
を参照して本発明の一実施形態を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION As described above, the present invention is a method for preparing a thin sample, in which a mixture of resin and powder is obtained, and then pressure is applied to the mixture to form a thin piece. A feature is that a thin sample is prepared by a simple method. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0010】はじめに、試料を構成する粉体および樹脂
について説明する。粉体は、その内部を観察したいもの
を適宜選択すればよい。例えば、BaTiO3等のセラ
ミクス粒子、Sn−Ag等のはんだ粒子、Ni粉体、ガ
ラス粒子など、種々様々なものを選択することができ
る。粉体のサイズは、その直径がミクロンサイズもしく
はそれ以下のものを用いることが好ましい。この場合、
従来、イオン研磨に先立ち必要とされていた機械研磨を
省略することが可能となるからである。
First, the powder and resin constituting the sample will be described. As the powder, one whose inside is desired to be observed may be appropriately selected. For example, it is possible to select ceramics particles such as BaTiO 3, solder particles, such as Sn-Ag, Ni powder, such as glass particles, a wide variety of things. It is preferable to use a powder having a diameter of micron size or smaller. in this case,
This is because it becomes possible to omit the mechanical polishing that was conventionally required before the ion polishing.

【0011】粉体と混合される樹脂としては、熱硬化性
樹脂、光硬化性樹脂等を用いる。なかでも、熱硬化性樹
脂は、100℃程度に加熱することにより粘度が低下す
るため、硬化が始まるまでの間に粉体と樹脂とを容易に
混合することができ、しかも気泡が残りにくい。このた
め、樹脂に対する粉体の比率を高くすることができるた
め好適である。ここで、熱硬化性樹脂としては、エポキ
シ系樹脂,フェノール系樹脂,メラミン系樹脂等が挙げ
られるが、短時間で硬化し、電子線に対して比較的強い
という特徴をもつエポキシ系樹脂が特に好ましい。ま
た、光硬化性樹脂は、一般にモノマー,オリゴマー,光
重合開始剤,各種添加剤(安定剤,フィラー,顔料など)
から構成される組成物である。
As the resin mixed with the powder, a thermosetting resin, a photocurable resin or the like is used. Among them, the thermosetting resin has a reduced viscosity when heated to about 100 ° C., so that the powder and the resin can be easily mixed by the time curing begins, and bubbles are unlikely to remain. Therefore, the ratio of the powder to the resin can be increased, which is preferable. Here, examples of the thermosetting resin include epoxy resins, phenol resins, melamine resins, etc. Epoxy resins, which are characterized by being relatively fast against electron beams, are particularly preferable. preferable. In addition, photocurable resins are generally monomers, oligomers, photopolymerization initiators, various additives (stabilizers, fillers, pigments, etc.)
The composition is composed of

【0012】本実施の形態によれば、微量の粉体しか観
察に供することができない場合でも、樹脂に対する粉体
の比率(体積比)を2以上に設定できることを一つの特
徴としている。そして、樹脂に対する粉体の比率(体積
比)を2以上に設定することにより、試料中の粉体密度
を従来よりも大幅に高めることができ、TEMでの観察
でも、観察面積あたりの粉体粒子数を増大させることが
可能となる。よって、粉体粒子の情報を十分に得ること
が可能となる。樹脂に対する粉体の比率(体積比)は、
樹脂の種類、粉体のサイズ等により変動するが、樹脂に
対する粉体の比率(体積比)を2以上8以下、さらには
3以上8以下、より望ましくは5以上8以下とすること
が有効である。試料中の粉体密度を高めるためには、樹
脂に対する粉体の比率(体積比)をできるだけ高めるこ
とが好ましいため、樹脂に対する粉体の比率(体積比)
を2以上とする。一方、樹脂に対する粉体の比率(体積
比)が8を超えると、粉体を固定する包埋剤として機能
する樹脂量が少なくなるため、薄片試料を作成すること
が困難となる。よって、樹脂に対する粉体の比率(体積
比)は8以下とする。なお、以下、粉体と混合される樹
脂として、熱硬化性樹脂を用いる場合を例にして本実施
の形態の説明を行うこととする。
One feature of the present embodiment is that the ratio of powder to resin (volume ratio) can be set to 2 or more even when only a small amount of powder can be used for observation. By setting the ratio (volume ratio) of the powder to the resin to 2 or more, the powder density in the sample can be significantly increased as compared with the conventional one, and the powder per observation area can be observed even by TEM. It is possible to increase the number of particles. Therefore, it becomes possible to obtain sufficient information on the powder particles. The ratio of powder to resin (volume ratio) is
Although it varies depending on the type of resin, the size of powder, etc., it is effective to set the ratio of powder to resin (volume ratio) to 2 or more and 8 or less, further 3 or more and 8 or less, and more desirably 5 or more and 8 or less. is there. In order to increase the powder density in the sample, it is preferable to increase the ratio of powder to resin (volume ratio) as much as possible. Therefore, the ratio of powder to resin (volume ratio)
Is 2 or more. On the other hand, when the ratio of the powder to the resin (volume ratio) exceeds 8, the amount of the resin functioning as an embedding agent for fixing the powder decreases, so that it becomes difficult to prepare a thin sample. Therefore, the ratio of powder to resin (volume ratio) is 8 or less. In the following, the present embodiment will be described by taking a case where a thermosetting resin is used as the resin mixed with the powder.

【0013】図1は、本実施の形態に係る試料作製装置
の構成の一例を示す図である。図2は本実施の形態に係
る試料作製装置の構成を模式的に示す図であり、また透
明部材に形成された難接着層を説明するための図であ
る。図3は、樹脂と粉体の混合体が、2枚の透明部材の
間に挟持された状態で加圧され、薄片化された状態を示
す図である。図1〜図3に示すように、本実施の形態に
係る試料作製装置100は、粉体と熱硬化性樹脂との混
合体10を挟持し、この混合体10を薄片化する透明部
材(薄片化手段、加圧板)1a,透明部材(薄片化手
段、加圧板)1bと、樹脂を硬化するためのテーブルヒ
ータ(樹脂硬化手段、加熱体)2とで構成される。
FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a sample preparation apparatus according to this embodiment. FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the sample preparation device according to the present embodiment, and is also a diagram for explaining the hardly-adhesive layer formed on the transparent member. FIG. 3 is a view showing a state in which a mixture of resin and powder is pressed into a state of being sandwiched between two transparent members and made into a thin piece. As shown in FIGS. 1 to 3, the sample preparation device 100 according to the present embodiment holds a mixture 10 of powder and a thermosetting resin and thins the mixture 10. It is composed of a charging means, a pressing plate) 1a, a transparent member (thinning means, a pressing plate) 1b, and a table heater (resin hardening means, heating body) 2 for hardening the resin.

【0014】透明部材1a,透明部材1bとしては、例
えば平板状のスライドガラスを用いることができる。上
述したように、混合体10は、透明部材1aおよび透明
部材1bの間に挟持された状態で加圧されると、図3に
示すように薄く引き延ばされて薄片化される。この状態
から、薄片化された試料を容易に取り出すことができる
よう、図2に模式的に示すように、透明部材1aおよび
透明部材1bの片面には、難接着層3が備えられてい
る。
As the transparent members 1a and 1b, for example, flat glass slides can be used. As described above, when the mixture 10 is pressed while being sandwiched between the transparent member 1a and the transparent member 1b, the mixture 10 is thinly stretched and thinned as shown in FIG. In order to easily take out the thinned sample from this state, as shown schematically in FIG. 2, the transparent member 1a and the transparent member 1b are provided with the difficult-to-adhere layer 3 on one surface thereof.

【0015】この難接着層3は、加圧により薄片化され
た試料を剥がれやすくするために設けられているもので
あり、ポリテトラフルオロエチレン(商品名:テフロ
ン)等、樹脂が接着しにくい材料を用いて形成される。
具体的には、透明部材1aおよび透明部材1bの片面、
具体的には、混合体10が接触する領域に、ポリテトラ
フルオロエチレンからなるシートを接着する、もしくは
ポリテトラフルオロエチレンを用いたコーティングを行
うことにより、難接着層3を形成することができる。
The difficult-to-adhere layer 3 is provided to make it easy to peel off the sample thinned by pressure, and is made of a material such as polytetrafluoroethylene (trade name: Teflon) which is hard to adhere to the resin. Is formed by using.
Specifically, one side of the transparent member 1a and the transparent member 1b,
Specifically, the difficult-to-adhere layer 3 can be formed by adhering a sheet made of polytetrafluoroethylene or coating it with polytetrafluoroethylene in a region where the mixture 10 contacts.

【0016】薄片化手段として透明の部材を用いること
により、加圧中の混合体10の状態を目視で容易に確認
することができる。つまり、透明部材1aを介して観察
される混合体10の色合いから、混合体10の膜厚を判
断することができるとともに、混合体10中に気泡が存
在するか否か等を容易に確認することができる。
By using a transparent member as the thinning means, it is possible to easily visually confirm the state of the mixture 10 under pressure. That is, the film thickness of the mixture 10 can be determined from the hue of the mixture 10 observed through the transparent member 1a, and it can be easily confirmed whether or not bubbles are present in the mixture 10. be able to.

【0017】なお、本実施の形態では、薄片化手段とし
て透明部材1aおよび透明部材1bを用いているが、テ
ーブルヒータ2上に載置される透明部材1bについては
透明ではなく、有色のものを用いてもよい。加圧中の混
合体10の状態を目視で確認する等の上記の目的のため
には、少なくとも透明部材1aが透明であればよいから
である。
In this embodiment, the transparent member 1a and the transparent member 1b are used as the thinning means, but the transparent member 1b placed on the table heater 2 is not transparent but colored. You may use. This is because it is sufficient that at least the transparent member 1a is transparent for the above purpose such as visually confirming the state of the mixture 10 under pressure.

【0018】テーブルヒータ2は、樹脂、具体的には熱
硬化性樹脂が硬化する程度の温度に保たれる。例えば、
樹脂としてエポキシ系熱硬化性樹脂を用いる場合には、
テーブルヒータ2の温度を100℃〜200℃程度にし
ておけばよい。なお、本実施の形態に係る試料作製装置
100を用いて試料を作製する際には、特に真空脱気を
行う必要はない。
The table heater 2 is kept at a temperature at which a resin, specifically, a thermosetting resin is cured. For example,
When using an epoxy thermosetting resin as the resin,
The temperature of the table heater 2 may be set to about 100 ° C to 200 ° C. Note that when a sample is manufactured using the sample manufacturing apparatus 100 according to this embodiment, it is not necessary to perform vacuum deaeration.

【0019】次に、本実施の形態に係る試料作製方法に
ついて図4および図5を用いて説明する。図4は、本実
施の形態に係る試料作製方法の製造工程を示すフローチ
ャートである。また、図5(a)、(c)は、混合工程
(ステップS101)で得られる混合体10の側断面を
模式的に示した図、図5(b)、(d)は、加圧工程
(ステップS102)で得られる薄片試料20の側断面
を模式的に示した図である。
Next, a method of preparing a sample according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a flowchart showing manufacturing steps of the sample manufacturing method according to the present embodiment. 5 (a) and 5 (c) are diagrams schematically showing a side cross section of the mixture 10 obtained in the mixing step (step S101), and FIGS. 5 (b) and 5 (d) are pressurizing steps. It is the figure which showed typically the side cross section of the thin sample 20 obtained by (step S102).

【0020】図4に示すように、本実施の形態に係る試
料作製方法は、混合工程(ステップS101)、加圧工
程(ステップS102)、試料切り出し工程(ステップ
S103)、イオン研磨工程(ステップS104)を備
える。但し、薄片試料20を得るために必須の工程は混
合工程(ステップS101)および加圧工程(ステップ
S102)であり、加圧工程(ステップS102)後の
試料切り出し工程(ステップS103)およびイオン研
磨工程(ステップS104)は任意の工程である。つま
り、薄片試料20をTEM試料とする場合には、試料切
り出し工程(ステップS103)およびイオン研磨工程
(ステップS104)を行う必要があるが、薄片試料2
0をTEM試料ではなく、光学顕微鏡用試料等する場合
には、試料切り出し工程(ステップS103)およびイ
オン研磨工程(ステップS104)を省略することがで
きる。以下、各工程について詳述する。
As shown in FIG. 4, in the sample manufacturing method according to the present embodiment, a mixing step (step S101), a pressurizing step (step S102), a sample cutting step (step S103), and an ion polishing step (step S104). ) Is provided. However, the essential steps for obtaining the thin sample 20 are the mixing step (step S101) and the pressurizing step (step S102), and the sample cutting step (step S103) and the ion polishing step after the pressurizing step (step S102). (Step S104) is an arbitrary process. That is, when the thin piece sample 20 is used as a TEM sample, it is necessary to perform the sample cutting step (step S103) and the ion polishing step (step S104).
When 0 is not a TEM sample but an optical microscope sample or the like, the sample cutting step (step S103) and the ion polishing step (step S104) can be omitted. Hereinafter, each step will be described in detail.

【0021】<混合工程(ステップS101)>混合工
程(ステップS101)では、樹脂に粉体を練り込むよ
うにして混合し、混合体10を得る。この際の粉体と樹
脂の混合比率は、上述の通り、樹脂に対する粉体の比率
(体積比)を2以上8以下、好ましくは5以上8以下と
する。ここで、混合工程(ステップS101)で得られ
る混合体10の状態を図5(a)に模式的に示す。
<Mixing Step (Step S101)> In the mixing step (step S101), the powder is kneaded into the resin and mixed to obtain a mixture 10. The mixing ratio of the powder and the resin at this time is, as described above, the ratio of the powder to the resin (volume ratio) is 2 or more and 8 or less, preferably 5 or more and 8 or less. Here, the state of the mixture 10 obtained in the mixing step (step S101) is schematically shown in FIG.

【0022】図5(a)に示すように、樹脂に対する粉
体の量が多いため、樹脂は粉体の間を埋めるように、所
々存在している。また、混合の際に大気が樹脂中に包含
されるため、混合体10の一部には気泡が存在してい
る。
As shown in FIG. 5A, since the amount of the powder with respect to the resin is large, the resin is present in some places so as to fill the space between the powders. Further, since air is contained in the resin during mixing, air bubbles are present in part of the mixture 10.

【0023】<加圧工程(ステップS102)>続く加
圧工程(ステップS102)では、適当な圧力を付与し
て混合体10を薄片状に延ばす。具体的には、図2およ
び図3に示したように、透明部材1bをテーブルヒータ
2上に載置し、透明部材1bに形成された難接着層3上
にスパチラ等を用いてステップS101で得られた混合
体10を塗布する。なお、この際、テーブルヒータ2
を、熱硬化性樹脂がさらに軟化する温度、例えば100
℃〜120℃程度に保持しておくことが望ましい。そし
て、その後さらに加熱状態を保持することにより、粉体
と混合された熱硬化性樹脂を固化させる。このための温
度や保持時間は、使用する熱硬化性樹脂に応じて適宜選
択すればよい。次いで、透明部材1aを、難接着層3が
備えられている面を下にして透明部材1bの上に重ね、
2枚の透明部材1a,透明部材1b間で混合体10が薄
く延ばされるようにして上下方向から圧力を付与して図
5(b)に示すような薄片試料20を得る。なお、加圧
方法は特に限定されるものでなく、人間の手等で圧力を
付与してもよい。加圧力の目安は、混合体10が薄く延
び、かつ混合体10中に気泡がほとんど残らない程度と
する。また、混合体10の膜厚が所望の厚さ、例えば2
0μm以下となるように、加圧力を適宜調整する。な
お、混合体10の膜厚は必ずとも均一である必要はな
く、その一部に膜厚が20μm以下の領域が存在すれば
よい。
<Pressurizing Step (Step S102)> In the subsequent pressing step (step S102), an appropriate pressure is applied to spread the mixture 10 into a thin piece. Specifically, as shown in FIGS. 2 and 3, the transparent member 1b is placed on the table heater 2 and a spatula or the like is used on the difficult-to-bond layer 3 formed on the transparent member 1b in step S101. The resulting mixture 10 is applied. At this time, the table heater 2
At a temperature at which the thermosetting resin is further softened, for example 100
It is desirable to keep the temperature at about 120 to 120 ° C. Then, by further maintaining the heated state, the thermosetting resin mixed with the powder is solidified. The temperature and the holding time for this purpose may be appropriately selected according to the thermosetting resin used. Next, the transparent member 1a is placed on the transparent member 1b with the surface provided with the difficult-to-adhere layer 3 facing downward,
The mixture 10 is thinly stretched between the two transparent members 1a and 1b, and pressure is applied from above and below to obtain a thin sample 20 as shown in FIG. 5B. The pressing method is not particularly limited, and the pressure may be applied by human hands or the like. The standard of the pressing force is such that the mixture 10 extends thinly and almost no bubbles remain in the mixture 10. Further, the film thickness of the mixture 10 is a desired thickness, for example, 2
The pressing force is appropriately adjusted so as to be 0 μm or less. In addition, the film thickness of the mixture 10 does not necessarily need to be uniform, and it is sufficient that a part thereof has a film thickness of 20 μm or less.

【0024】また、本実施の形態に係る加圧工程によれ
ば、図5(b)に示したように厚さが略均一な薄片試料
20のみならず、図6(a)に示すように厚さを連続的
に変化させた薄片試料20を作製することも可能であ
る。この場合は、透明部材1aの下面と透明部材1bの
上面との間にギャップを制御するためのスペーサ(図示
せず)をおき、ギャップに傾斜をつけるようにして加圧
を行えばよい。これにより、薄片試料20において、得
たい厚さの箇所を確実に得ることができる。
Further, according to the pressurizing step according to the present embodiment, not only the thin piece sample 20 having a substantially uniform thickness as shown in FIG. 5B, but also as shown in FIG. It is also possible to produce a thin sample 20 having a thickness that is continuously changed. In this case, a spacer (not shown) for controlling the gap may be provided between the lower surface of the transparent member 1a and the upper surface of the transparent member 1b, and the pressure may be applied so that the gap is inclined. This makes it possible to reliably obtain the desired thickness of the thin sample 20.

【0025】また、図6(b)に示すように、透明部材
1a,透明部材1b間で混合体10を挟持する際に、透
明部材1aのたわみを利用することにより、薄片試料2
0において、得たい厚さの箇所を確実に得るようにする
こともできる。さらに、図6(c)に示すように、透明
部材1aの下面と透明部材1bの上面とのギャップを例
えばスペーサを用いて任意に設定することによって、所
望の厚さを有する薄片試料20を容易に作製することも
可能である。
Further, as shown in FIG. 6 (b), when the mixture 10 is sandwiched between the transparent members 1a and 1b, the thin sample 2 is used by utilizing the bending of the transparent member 1a.
At 0, it is possible to surely obtain a portion having a desired thickness. Further, as shown in FIG. 6C, the gap between the lower surface of the transparent member 1a and the upper surface of the transparent member 1b is arbitrarily set by using, for example, a spacer, thereby facilitating the thin sample 20 having a desired thickness. It is also possible to fabricate.

【0026】他の応用例としては、図7(a)に示すよ
うに、透明部材1aの下面に溝を形成し、任意の厚さ、
任意の形状の薄片試料20を作製するようにしてもよ
い。なお、図7(a)では、透明部材1aの下面に溝を
形成する場合を例示しているが、透明部材1bの上面に
溝を形成してもよく、もしくは透明部材1aの下面およ
び透明部材1bの上面の両方に溝を形成することももち
ろん可能である。
As another application example, as shown in FIG. 7 (a), a groove is formed on the lower surface of the transparent member 1a to have an arbitrary thickness,
You may make it produce the thin sample 20 of arbitrary shapes. Although FIG. 7A illustrates the case where the groove is formed on the lower surface of the transparent member 1a, the groove may be formed on the upper surface of the transparent member 1b, or the lower surface of the transparent member 1a and the transparent member 1a. Of course, it is also possible to form grooves on both upper surfaces of 1b.

【0027】さらには、図7(b)に示すように、透明
部材1aまたは透明部材1bの片面に凸状の突起を設け
ることによって、薄片試料20側に凹状の溝が転写され
るようにしてもよい。こうした溝を設けることによっ
て、後述する試料切り出し工程(ステップS103)に
おいて薄片試料20の切り出しを容易にすることができ
る。また、図7(c)に示すように、透明部材1aまた
は透明部材1bの片面に設けた凸状の突起の高さと薄片
試料20の厚さによっては、後述するTEMメッシュ
(直径3mmφ)に貼り付けやすい形状とすることがで
きる。つまり、薄片試料20に形成された溝の部分に対
応する厚さが極小となるように、透明部材1aまたは透
明部材1bの片面に設けた凸状の突起の高さと薄片試料
20の厚さを設定し、薄片試料20に手で簡単に破断可
能な切り取り線を形成するようにしてもよい。
Further, as shown in FIG. 7B, by providing a convex projection on one surface of the transparent member 1a or the transparent member 1b, a concave groove is transferred to the thin sample 20 side. Good. By providing such a groove, it is possible to easily cut out the thin sample 20 in a sample cutting step (step S103) described later. In addition, as shown in FIG. 7C, depending on the height of the convex protrusion provided on one surface of the transparent member 1a or the transparent member 1b and the thickness of the thin piece sample 20, it is attached to a TEM mesh (diameter 3 mmφ) described later. The shape can be easily attached. That is, the height of the convex protrusions provided on one surface of the transparent member 1a or the transparent member 1b and the thickness of the thin sample 20 are set so that the thickness corresponding to the groove portion formed in the thin sample 20 is minimized. It may be set so that a tear line that can be easily broken by hand may be formed on the thin sample 20.

【0028】本実施の形態における加圧方法によれば、
図5(c)に示すように粒子形状がある結晶方向に選択
的に延びたような異方性粒子の場合において、樹脂に粉
体が埋め込まれる方向をある程度制御することも可能で
ある。例えば、図5(c)に示した混合体10を本実施
の形態における加圧方法で加圧すると、図5(d)に示
すような状態で粉体を樹脂中に埋め込むことができる。
According to the pressurizing method in this embodiment,
In the case of anisotropic particles in which the particle shape is selectively extended in a certain crystal direction as shown in FIG. 5C, the direction in which the powder is embedded in the resin can be controlled to some extent. For example, when the mixture 10 shown in FIG. 5C is pressed by the pressing method according to the present embodiment, the powder can be embedded in the resin in the state shown in FIG. 5D.

【0029】さて、テーブルヒータ2からの熱により、
混合体10を構成する熱硬化性樹脂を1〜10分程度で
硬化させることができるが、硬化した混合体10をさら
に10分程度加熱することが望ましい。この加熱を行う
ことによって、強度が高く、ハンドリングしやすい薄片
試料20を得ることができる。なお、熱硬化性樹脂が硬
化した後の加熱は150℃〜200℃程度で行えばよ
い。
By the heat from the table heater 2,
The thermosetting resin forming the mixture 10 can be cured in about 1 to 10 minutes, but it is preferable to heat the cured mixture 10 for about 10 minutes. By performing this heating, it is possible to obtain the thin sample 20 having high strength and easy to handle. The heating after the thermosetting resin is cured may be performed at about 150 ° C to 200 ° C.

【0030】なお、上述したように、加圧中の混合体1
0の膜厚および気泡の存在の有無は、透明部材1aを介
して目視で観察できる。よって、加圧工程(ステップS
102)において、透明部材1aを介して混合体10の
状態を観察しつつ、気泡が抜けるまで混合体10を加圧
すれば、加圧工程(ステップS102)中に合わせて脱
泡処理を行うことができる。よって、従来、樹脂と粉体
のバルク状混合体中の気泡を抜くために行っていた脱泡
工程を省略することができる。
Incidentally, as described above, the mixture 1 under pressure.
The film thickness of 0 and the presence or absence of bubbles can be visually observed through the transparent member 1a. Therefore, the pressurizing step (step S
In 102), while observing the state of the mixture 10 through the transparent member 1a, if the mixture 10 is pressed until the bubbles are removed, the defoaming process should be performed during the pressurizing step (step S102). You can Therefore, it is possible to omit the defoaming step which has conventionally been performed for removing bubbles in the bulk mixture of resin and powder.

【0031】上述したように、混合工程(ステップS1
01)およびこれに続く加圧工程(ステップS102)
のみを経ることによって、膜厚が20μm以下、さらに
は10μm以下の領域が存在する薄片試料20を容易に
得ることができる。こうして得られた薄片試料20は、
図5(b)に示したように、イオン研磨に際して支障と
なる気泡があまり存在せず、粉体密度が高い。具体的に
は、粒子と粒子が接触する程度の粉体の高密度化が達成
される。また、板状の透明部材1a,透明部材1b間で
挟持しながら混合体10を薄片化することによって、得
られる薄片試料20の平坦度を従来よりも大幅に改善す
ることが可能となる。
As described above, the mixing step (step S1
01) and the subsequent pressurizing step (step S102)
It is possible to easily obtain the thin sample 20 in which a region having a film thickness of 20 μm or less, further 10 μm or less is present by passing through only the above. The thin sample 20 thus obtained is
As shown in FIG. 5B, there are few bubbles that hinder the ion polishing, and the powder density is high. Specifically, the densification of the powder is achieved to the extent that the particles come into contact with each other. Further, by thinning the mixture 10 while sandwiching it between the plate-shaped transparent member 1a and the transparent member 1b, it is possible to greatly improve the flatness of the obtained thin sample 20 as compared with the conventional case.

【0032】<試料切り出し工程(ステップS103)
>薄片試料20をTEM観察用試料とする場合には、試
料切り出し工程(ステップS103)に進む。この試料
切り出し工程(ステップS103)では、ステップS1
02で得られた薄片試料20をTEM試料用サイズに切
り出す。この切り出しの作業は、例えばナイフを用いて
行うことができる。試料切り出し工程(ステップS10
3)の内容を図8に模式的に示す。
<Sample cutting step (step S103)
> When the thin sample 20 is used as a TEM observation sample, the process proceeds to the sample cutting step (step S103). In this sample cutting step (step S103), step S1
The thin sample 20 obtained in No. 02 is cut into a size for TEM sample. This cutting operation can be performed using, for example, a knife. Sample cutting process (step S10
The contents of 3) are schematically shown in FIG.

【0033】まず、図8(a)に示すように、薄片試料
20において使用したい部位を選択する。上述したよう
に、本実施の形態では、透明部材1aおよび透明部材1
b間に混合体10を挟持して加圧するという手法を採用
するため、薄片試料20を任意の厚さ、形状とすること
ができるため、薄片試料20中の所望の厚さを有する部
分を、使用したい部位として任意に選択することができ
る。次いで、図8(b)に示すように使用したい部位を
含むようにして薄片試料20を破断し、図8(c)に示
すように所望の大きさにさらに切り出す。なお、薄片試
料20の面積がFIB装置を用いて一度に加工できる面
積よりも大面積であることから、1つの薄片試料20の
中から、複数の部分を使用したい部位として選択すると
ともに、1つの薄片試料20から複数のTEM試料を切
り出すことも可能となる。
First, as shown in FIG. 8A, a portion of the thin sample 20 to be used is selected. As described above, in the present embodiment, the transparent member 1a and the transparent member 1
Since the technique of sandwiching and pressing the mixture 10 between b is adopted, the thin sample 20 can have any thickness and shape. Therefore, a portion having a desired thickness in the thin sample 20 is The site to be used can be arbitrarily selected. Next, as shown in FIG. 8B, the thin piece sample 20 is cut so as to include a portion to be used, and further cut into a desired size as shown in FIG. 8C. Since the area of the thin piece sample 20 is larger than the area that can be processed at one time by using the FIB device, a plurality of portions is selected from one thin piece sample 20 as a portion to be used and one portion is selected. It is also possible to cut out a plurality of TEM samples from the thin sample 20.

【0034】ここで、TEM試料としては通常、その径
が3mmφのものが用いられる。よって、薄片試料20
を、直接3mmφに切り出してTEM試料としてもよ
く、もしくは図8(d)に示すようなその外径が3mm
φの単孔メッシュ(いわゆるTEM用メッシュ)の単孔
部分に、図8(c)のように切り出した、例えば2mm
×2mm程度の矩形状の試料を樹脂等で単孔メッシュの
孔部分に接着してTEM試料としてもよい。
Here, a TEM sample having a diameter of 3 mmφ is usually used. Therefore, the thin sample 20
May be directly cut into 3 mmφ to be used as a TEM sample, or its outer diameter is 3 mm as shown in FIG. 8 (d).
A single-hole portion of a φ single-hole mesh (so-called TEM mesh) is cut out as shown in FIG. 8C, for example, 2 mm.
A rectangular sample of about × 2 mm may be bonded to the hole portion of the single-hole mesh with a resin or the like to be used as a TEM sample.

【0035】<イオン研磨工程(ステップS104)>
続くイオン研磨工程(ステップS104)では、公知の
ミリング装置を用いて、薄片試料20に対してイオン研
磨が行われる。このイオン研磨加工に要する時間は、切
り出した試料の大きさによっても異なるが、1〜2時間
程度である。なお、イオン研磨には、通常、Arイオン
等を用いることができる。このイオン研磨工程(ステッ
プS104)を経ることにより、薄片試料20の厚さは
100nm以下となり、TEM観察用試料として用いる
ことが可能となる。
<Ion Polishing Step (Step S104)>
In the subsequent ion polishing step (step S104), ion polishing is performed on the thin sample 20 using a known milling device. The time required for this ion polishing process is about 1 to 2 hours, although it depends on the size of the sample cut out. For ion polishing, Ar ions or the like can be usually used. Through the ion polishing step (step S104), the thin sample 20 has a thickness of 100 nm or less, and can be used as a TEM observation sample.

【0036】以上のステップS104の工程を経ること
により、TEM試料に好適な薄片試料20を容易に作製
することができる。従来方法と異なり、加圧工程(ステ
ップS102)において混合体10を薄片化するため、
本実施の形態による試料作製方法によれば、ミクロンオ
ーダーの粉体を処理する場合には機械研磨工程を省略す
ることができ、結果的にはTEM試料作製に要する時間
を5時間程度削減することが可能となる。このように、
比較的短時間でTEM試料を作製することができるのみ
ならず、機械研磨工程を省略することによって、機械研
磨によって生じていた粉体への歪みや変質、つまり、い
わゆる加工変質が軽減される。したがって、従来法より
加工変質が大幅に少ない状態の粉体試料の内部を観察す
ることができるため、観察精度が向上することとなる。
さらには、粉体と樹脂との混合比率を変えて、粉体の量
を樹脂の2倍以上とすることにより、粉体の高密度化が
達成され、観察面積あたりの粉体粒子数を増大すること
が可能となる。また、粉体試料が微量しか得られない場
合においても、観察に適するような薄片試料20を作製
することができる。
By passing through the above step S104, the thin sample 20 suitable for the TEM sample can be easily manufactured. Unlike the conventional method, in order to thin the mixture 10 in the pressing step (step S102),
According to the sample preparation method of this embodiment, the mechanical polishing step can be omitted when processing micron-order powder, and as a result, the time required for TEM sample preparation can be reduced by about 5 hours. Is possible. in this way,
Not only the TEM sample can be produced in a relatively short time, but also by omitting the mechanical polishing step, distortion and alteration of the powder, which is caused by mechanical polishing, that is, so-called process alteration, is reduced. Therefore, it is possible to observe the inside of the powder sample in a state in which the processing deterioration is significantly smaller than that in the conventional method, and thus the observation accuracy is improved.
Furthermore, by changing the mixing ratio of the powder and the resin so that the amount of the powder is at least twice that of the resin, the density of the powder is increased and the number of powder particles per observation area is increased. It becomes possible to do. Further, even when only a small amount of powder sample can be obtained, the thin sample 20 suitable for observation can be manufactured.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
粉体粒子の充填密度を増加させるとともに、より簡易な
方法で薄片の試料を作製することができる。
As described in detail above, according to the present invention,
It is possible to increase the packing density of the powder particles and to prepare a thin sample by a simpler method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本実施の形態に係る試料作製装置の構成の一
例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing an example of a configuration of a sample preparation device according to the present embodiment.

【図2】 本実施の形態に係る試料作製装置の構成を模
式的に示す図であり、また透明部材に形成された難接着
層を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration of a sample preparation device according to the present embodiment, and is a diagram for explaining a difficult-to-adhere layer formed on a transparent member.

【図3】 混合体が、2枚の透明部材の間に挟持された
状態で加圧され、薄片化された状態を示す図である。
FIG. 3 is a view showing a state in which the mixture is pressed into a state of being sandwiched between two transparent members and made into a thin piece.

【図4】 本実施の形態における試料作製方法の製造工
程を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing manufacturing steps of the sample manufacturing method according to the present embodiment.

【図5】 図5(a)、(c)は、混合工程(ステップ
S101)で得られる混合体の側断面図、図5(b)、
(d)は、加圧工程(ステップS102)で得られる薄
片試料の側断面図である。
5 (a) and 5 (c) are side sectional views of the mixture obtained in the mixing step (step S101), FIG. 5 (b),
(D) is a side sectional view of a thin sample obtained in the pressing step (step S102).

【図6】 加圧工程(ステップS102)で任意の厚さ
・形状の薄片試料を作製する場合の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram in the case of manufacturing a thin piece sample having an arbitrary thickness and shape in a pressing step (step S102).

【図7】 加圧工程(ステップS102)で任意の形状
の薄片試料を作製する場合の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a case where a thin piece sample having an arbitrary shape is produced in a pressing step (step S102).

【図8】 試料切り出し工程(ステップS103)の内
容を模式的に示す図である。
FIG. 8 is a diagram schematically showing the content of a sample cutting step (step S103).

【図9】 従来の試料作製方法の製造工程を示すフロー
チャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing manufacturing steps of a conventional sample manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a,1b…透明部材(薄片化手段、加圧板)、2…テ
ーブルヒータ(樹脂硬化手段、加熱体)、3…難接着
層、10…混合体、20…薄片試料、100…試料作製
装置
1a, 1b ... Transparent member (thinning means, pressure plate), 2 ... Table heater (resin curing means, heating body), 3 ... Difficult adhesive layer, 10 ... Mixture, 20 ... Thin sample, 100 ... Sample preparation device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G052 AA11 AA14 AA18 AD35 AD52 EB11 EC14 EC18 FB05 FD00 GA33 JA03 JA04 5C001 CC01    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2G052 AA11 AA14 AA18 AD35 AD52                       EB11 EC14 EC18 FB05 FD00                       GA33 JA03 JA04                 5C001 CC01

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 粉体を観察するための薄片試料の作製方
法であって、 前記粉体と樹脂との混合体を得る混合工程と、 前記混合体に圧力を付与して薄片化する加圧工程と、を
備えることを特徴とする薄片試料作製方法。
1. A method for producing a thin sample for observing a powder, comprising a mixing step of obtaining a mixture of the powder and a resin, and a pressurization for applying a pressure to the mixture to form a thin piece. A method for preparing a thin sample, comprising:
【請求項2】 前記混合工程において、前記樹脂に対す
る前記粉体の比率(体積比)を2以上にすることを特徴
とする請求項1に記載の薄片試料作製方法。
2. The method for preparing a thin sample according to claim 1, wherein in the mixing step, the ratio (volume ratio) of the powder to the resin is 2 or more.
【請求項3】 前記加圧工程において、前記混合体を任
意の形状にすることを特徴とする請求項1に記載の薄片
試料作製方法。
3. The method for preparing a thin sample according to claim 1, wherein the mixture is formed into an arbitrary shape in the pressing step.
【請求項4】 前記加圧工程において、前記混合体が膜
厚20μm以下の領域を有することを特徴とする請求項
1に記載の薄片試料作製方法。
4. The method of preparing a thin sample according to claim 1, wherein, in the pressing step, the mixture has a region having a film thickness of 20 μm or less.
【請求項5】 前記加圧工程で得られた状態のままの薄
片試料に対し、イオン研磨を施すイオン研磨工程をさら
に備えることを特徴とする請求項1に記載の薄片試料作
製方法。
5. The method for producing a thin piece sample according to claim 1, further comprising an ion polishing step of performing ion polishing on the thin piece sample in the state obtained in the pressing step.
【請求項6】 粉体と樹脂との混合体を硬化して薄片試
料を作製する装置であって、 前記混合体を挟持し、前記混合体を薄片化する薄片化手
段と、 前記混合体を加圧した状態で前記樹脂を硬化する樹脂硬
化手段と、を備えたことを特徴とする薄片試料作製装
置。
6. An apparatus for producing a thin sample by curing a mixture of powder and resin, comprising a thinning means for sandwiching the mixture and thinning the mixture, and the mixture. And a resin curing unit that cures the resin in a pressurized state.
【請求項7】 前記薄片化手段と前記混合体との接触領
域には難接着層が備えられていることを特徴とする請求
項6に記載の薄片試料作製装置。
7. The thin sample preparation apparatus according to claim 6, wherein a difficult-to-adhere layer is provided in a contact region between the thinning means and the mixture.
【請求項8】 前記樹脂は熱硬化性樹脂であり、前記樹
脂硬化手段は前記樹脂が硬化する温度以上に加熱保持さ
れる加熱体であることを特徴とする請求項6に記載の薄
片試料作製装置。
8. The thin sample preparation according to claim 6, wherein the resin is a thermosetting resin, and the resin curing means is a heating body which is heated and held at a temperature higher than a temperature at which the resin is cured. apparatus.
【請求項9】 電子顕微鏡用試料を構成する粉体および
樹脂を挟持する、少なくとも一方が透明な加圧板と、 前記加圧板の表面の一部または全部に設けられた難接着
層と、を備えたことを特徴とする電子顕微鏡用試料作製
治具。
9. A pressure plate, at least one of which is transparent and which holds a powder and a resin constituting a sample for an electron microscope, and a hardly-adhesive layer provided on a part or all of the surface of the pressure plate. A sample preparation jig for an electron microscope.
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