JP2003286278A - Methylenedioxolane compound, actinic ray composition by using the same and method for forming pattern - Google Patents

Methylenedioxolane compound, actinic ray composition by using the same and method for forming pattern

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JP2003286278A
JP2003286278A JP2002090120A JP2002090120A JP2003286278A JP 2003286278 A JP2003286278 A JP 2003286278A JP 2002090120 A JP2002090120 A JP 2002090120A JP 2002090120 A JP2002090120 A JP 2002090120A JP 2003286278 A JP2003286278 A JP 2003286278A
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智明 岩島
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a composition capable of forming a resist film excellent in actinic ray sensitivity. <P>SOLUTION: This actinic ray composition is characterized by containing (A) a methylenedioxolane compound or its derivative and (B) at least 1 kind of a polymer selected from (a) a polymer containing 0.1-10 equivalent hydroxyphenyl group/1 kg of the polymer, and having 3,000-100,000 range number-average molecular weight and ≥0°C glass transition point, (b) a polymer containing 1-10 equivalent hydroxyphenyl group/1 kg of the polymer, and having 500-100,000 range number-average molecular weight and ≥0°C glass transition point and (c) a polymer containing 0.1-20 equivalent hydroxyphenyl and carboxyl group/1 kg of the polymer, and having 500-100,000 range number-average molecular weight and ≥0°C glass transition point, as indispensable components. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】 本発明は、新規なメチレン
ジオキソラン化合物、それを用いた活性エネルギー線性
組成物及びその組成物を使用して得られるパターン形成
方法に係わる。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a novel methylenedioxolane compound, an active energy ray composition using the same, and a pattern forming method obtained by using the composition.

【0002】[0002]

【従来の技術及びその課題】 現在、電子デバイス等の
回路パターンの形成にはポジ型フォトレジストが広く使
用されている。これらの用途に使用されるポジ型レジス
ト組成物としての多くはアルカリ可溶性ノボラック樹脂
と感光剤としてキノンジアジド化合物を組み合わせたも
のが使用されている。この組成物は紫外線の照射により
キノンジアジド基が光分解しケテンを経由してインデン
カルボン酸を形成する反応を利用している。
2. Description of the Related Art At present, positive photoresists are widely used for forming circuit patterns of electronic devices and the like. Many of positive resist compositions used for these purposes use a combination of an alkali-soluble novolac resin and a quinonediazide compound as a photosensitizer. This composition utilizes a reaction in which a quinonediazide group is photolyzed by irradiation of ultraviolet rays to form an indenecarboxylic acid via ketene.

【0003】しかし、このキノンジアジド化合物を使用
したレジストは非常に細密なパターンを形成する必要が
ある場合、解像度が不足することがある。一方、特開平
6−295064号にはカルボキシル基を含有する重合
体、1分子中に2個以上のビニルエーテル基を含有する
化合物、及び活性エネルギー線照射により酸を発生する
化合物からなる感光性組成物が開示されている。この組
成物から形成された塗膜は加熱(1次加熱)することに
よってカルボキシル基とビニルエーテル基との付加反応
によりポリカルボン酸樹脂が架橋して溶剤やアルカリ水
溶液に対して不溶となり、さらに活性エネルギー線照射
した後加熱(2次加熱)すると活性エネルギー線照射に
より発生した酸の触媒作用で架橋構造が切断されて照射
部分が溶剤やアルカリ水溶液に対して再び可溶性にな
り、この照射部分を現像によって除去することでレジス
トパターンが形成される。
However, the resist using the quinonediazide compound may have insufficient resolution when it is necessary to form a very fine pattern. On the other hand, in JP-A-6-295064, a photosensitive composition comprising a polymer containing a carboxyl group, a compound containing two or more vinyl ether groups in one molecule, and a compound generating an acid upon irradiation with active energy rays. Is disclosed. When a coating film formed from this composition is heated (primary heating), the polycarboxylic acid resin is crosslinked due to the addition reaction between the carboxyl group and the vinyl ether group and becomes insoluble in the solvent or the alkaline aqueous solution. When irradiation is performed after irradiation with radiation (secondary heating), the cross-linking structure is cleaved by the catalytic action of the acid generated by irradiation with active energy rays, and the irradiated area becomes soluble again in the solvent or alkaline aqueous solution. A resist pattern is formed by removing.

【0004】前記したようなポリカルボン酸樹脂、多官
能ビニルエーテル化合物及び活性エネルギー線照射によ
り酸を発生させ、加熱によって回路パターンを形成する
方法は基本的には最近の非常に微細な回路パターン形成
要望に応え得るものといえる。しかしながら、加熱によ
って起こる反応中にアセトアルデヒド等の副生成物(ア
ウトガス)が発生し露光機の汚れ、フォトマスクの汚
れ、作業環境の悪化等の問題が発生する。よって、副生
成物としてアセトアルデヒド等のアウトガスを発生する
ことのない反応系が望まれている。
The above-mentioned method of forming a circuit pattern by heating by generating an acid by irradiation of an active energy ray with a polycarboxylic acid resin, a polyfunctional vinyl ether compound and a polyfunctional vinyl ether compound is basically required in recent years to form a very fine circuit pattern. Can be said to be able to meet. However, by-products (outgas) such as acetaldehyde are generated during the reaction caused by heating, which causes problems such as contamination of the exposure device, contamination of the photomask, and deterioration of the working environment. Therefore, a reaction system that does not generate outgas such as acetaldehyde as a by-product is desired.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】 本発明者らは、上記し
た課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、特に上
記したビニルジオキソラン骨格基含有化合物を含有する
組成物が、活性エネルギー照射後の反応にてアセトアル
デヒドを発生することなく、感度・解像度に優れ、安定
したポジ型レジストパターンを形成しうることを見出
し、本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies for solving the above-mentioned problems, the present inventors have found that the composition containing the above-mentioned vinyldioxolane skeleton group-containing compound is particularly effective after irradiation with active energy. The inventors have found that a stable positive resist pattern having excellent sensitivity and resolution and capable of forming a stable positive resist pattern can be formed without generating acetaldehyde in the reaction of, and thus completed the present invention.

【0006】即ち、本発明は、 1、式(1)That is, the present invention is 1, formula (1)

【0007】[0007]

【化5】 [Chemical 5]

【0008】及び式(2)And equation (2)

【0009】[0009]

【化6】 [Chemical 6]

【0010】及び式(3)And equation (3)

【0011】[0011]

【化7】 [Chemical 7]

【0012】及び式4And equation 4

【0013】[0013]

【化8】 [Chemical 8]

【0014】(上記式(1)〜(4)において、R
R 、R10 又はR18は同一もしくは異なって、炭素
環状構造、芳香族、へテロ環状構造を有してもよい炭素
数1〜24個の1価の炭化水素基を示し、R 〜R
R11 〜R16 R20 〜R 、R30 〜R32 R
34 〜R36 又はR38 〜R40 は同一もしくは異な
って、炭素環状構造、芳香族、へテロ環状構造を有して
もよい1価の炭素数1〜24個の炭化水素結合又は水素
原子を示し、R19 、R33 又はR37 は2価の炭素数
1〜24個の炭化水素基を示し、R 、R17 又はR
29 は炭素数1〜24個の炭化水素基を示す。)から
選ばれる少なくとも1種のメチレンジオキソラン化合物
又はその誘導体(以下、まとめて「メチレンジオキソラ
ン系化合物(A)」と略すことがある。)、 2、 上記のメチレンジオキソラン系化合物(A)、重
合体1kgあたり0.1〜10当量のカルボキシル基を
含有し、そして3000〜100000の範囲内である
数平均分子量及び0℃以上のガラス転移温度を有する重
合体(a)、 重合体1kgあたり少なくとも1〜10
当量のヒドロキシフェニル基を含有し、そして500〜
100000の範囲内である数平均分子量及び0℃以上
のガラス転移温度を有する重合体(b)及び重合体1k
gあたり少なくとも0.1〜20当量のヒドロキシフェ
ニル基及びカルボキシル基を含有し、そして500〜1
00000の範囲内である数平均分子量及び0℃以上の
ガラス転移温度を有する重合体(c)から選ばれる少な
くとも1種の重合体(B)を必須成分として含有するこ
とを特徴とする活性エネルギー線性組成物、 3、上記活性エネルギー線性組成物として、光酸発生剤
化合物(C)を含むことを特徴とする上記の活性エネル
ギー線性組成物、 4、上記の活性エネルギー線性組成物を基板に塗布する
工程、該基板を加熱する工程、活性エネルギー線をパタ
ーンが形成できるように活性エネルギー線を照射する工
程、照射後加熱を行わないか、もしくは140℃未満の
条件にて加熱処理を行う工程、塩基性現像液で現像する
工程を順次行うことを特徴とするパターン形成方法、 5、上記の活性エネルギー線性組成物を活性エネルギー
線を透過しうる透明な支持フィルム上に塗布し、乾燥し
て活性エネルギー線性組成物の被膜層を形成せしめ活性
エネルギー線性ドライフィルムレジストをつくる工程、
該ドライフィルムレジストの活性エネルギー線性被膜層
をレジストパターンを形成させる基板に圧着する工程、
該基板を加熱する工程、活性エネルギー線を支持フィル
ムを通して活性エネルギー線を照射する工程、該支持フ
ィルムを剥離し、照射後加熱を行わないか、もしくは1
40℃未満の条件にて加熱処理を行う工程を行い、次い
で、塩基性現像液で現像する工程を順次行うことを特徴
とするパターン形成方法、 6、上記の活性エネルギー線性組成物を転写フィルム上
に塗布し乾燥して活性エネルギー線性被膜層を形成せし
め転写フィルムレジストをつくる工程、該転写フィルム
レジストの感光活性エネルギー線性層を基板に圧着する
工程、該基板を加熱する工程、支持フィルムを剥離し、
目的とするパターンが形成されるように活性エネルギー
線を照射する工程、照射後加熱を行わないか、もしくは
140℃未満の条件にて加熱処理を行う工程、塩基性現
像液で現像する工程を順次行うことを特徴とするパター
ン形成方法に係る。
(In the above formulas (1) to (4), R 1 ,
R 9 , R 10 and R 18 are the same or different and each represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms, which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring or a heterocyclic structure, and R 2 to R 7 ,
R 11 ~R 16, R 20 ~R 2 8, R 30 ~R 32, R
34 to R 36 or R 38 to R 40 are the same or different and each represents a monovalent hydrocarbon bond having 1 to 24 carbon atoms or a hydrogen atom which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring or a heterocyclic structure. shown, R 19, R 33 or R 37 is a divalent carbon atoms 1 to 24 or a hydrocarbon group, R 8, R 17 or R
29 represents a hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms. At least one methylenedioxolane compound or a derivative thereof (hereinafter, may be collectively abbreviated as “methylenedioxolane compound (A)”), 2, the above methylenedioxolane compound (A), polymer Polymer (a) containing 0.1 to 10 equivalents of carboxyl group per kg and having a number average molecular weight in the range of 3000 to 100000 and a glass transition temperature of 0 ° C. or higher, and at least 1 to 1 kg of the polymer. 10
Contains an equivalent amount of hydroxyphenyl groups, and
Polymer (b) and polymer 1k having a number average molecular weight in the range of 100,000 and a glass transition temperature of 0 ° C. or higher
contains at least 0.1 to 20 equivalents of hydroxyphenyl and carboxyl groups per gram, and 500 to 1
Active energy ray characteristic, containing at least one polymer (B) selected from polymers (c) having a number average molecular weight in the range of 00000 and a glass transition temperature of 0 ° C. or higher as an essential component. Composition, 3. The active energy ray composition, wherein the active energy ray composition comprises a photoacid generator compound (C), 4. The substrate is coated with the active energy ray composition. Step, step of heating the substrate, step of irradiating active energy rays so that a pattern can be formed with active energy rays, step of performing no heating after irradiation, or performing heat treatment at a temperature lower than 140 ° C., base Pattern forming method, characterized in that the steps of developing with a positive developing solution are sequentially carried out. 5. The active energy ray-permeable composition is transmitted through the active energy ray. That was coated on a transparent support film, making formation allowed active energy ray dry film resist coating layer of dried active energy ray composition step,
A step of pressing the active energy ray coating layer of the dry film resist onto a substrate on which a resist pattern is formed,
The step of heating the substrate, the step of irradiating the active energy ray through the supporting film with the active energy ray, the supporting film is peeled off, and heating is not performed after the irradiation, or 1
A pattern forming method, which comprises sequentially performing a heat treatment step at a temperature of less than 40 ° C., and then performing a developing step with a basic developing solution. 6. The above active energy ray composition on a transfer film And then dried to form an active energy ray coating layer to form a transfer film resist, a step of pressure-bonding the photosensitive active energy ray layer of the transfer film resist to a substrate, a step of heating the substrate, and peeling off the support film. ,
A step of irradiating with an active energy ray so that a desired pattern is formed, a step of performing no heat treatment after irradiation, or a step of performing heat treatment under the condition of less than 140 ° C., and a step of developing with a basic developing solution The present invention relates to a pattern forming method characterized by being performed.

【0015】[0015]

【発明の実施態様】 以下、本発明についてさらに詳
細に説明する。 まず、本発明のメチレンジオキソラン
系化合物(A)について説明する。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail. First, the methylenedioxolane compound (A) of the present invention will be described.

【0016】メチレンジオキソラン系化合物(A):
発明のビニルジオキソラン系化合物(A)は、1分子中
に1〜4個のビニル基、下記式で表されるオキソラン基
式(5)
Methylenedioxolane compound (A): The vinyldioxolane compound (A) of the present invention contains 1 to 4 vinyl groups in one molecule, and an oxolane group formula (5) represented by the following formula.

【0017】[0017]

【化9】 [Chemical 9]

【0018】を1分子中に1〜4個有する化合物であ
る。
It is a compound having 1 to 4 units in one molecule.

【0019】ビニルジオキソラン系化合物(A)として
は、下記式(1)〜(4)で表される化合物である。式
(1)
The vinyldioxolane compound (A) is a compound represented by the following formulas (1) to (4). Formula (1)

【0020】[0020]

【化10】 [Chemical 10]

【0021】及び式(2)And equation (2)

【0022】[0022]

【化11】 [Chemical 11]

【0023】及び式(3)And equation (3)

【0024】[0024]

【化12】 [Chemical 12]

【0025】及び式4And equation 4

【0026】[0026]

【化13】 [Chemical 13]

【0027】(上記式(1)〜(4)において、R
R 、R10 又はR18は同一もしくは異なって、炭素
環状構造、芳香族、へテロ環状構造を有してもよい炭素
数1〜24個の1価の炭化水素基を示し、R 〜R
R11 〜R16 R20 〜R 、R30 〜R32 R
34 〜R36 又はR38 〜R40 は同一もしくは異な
って、炭素環状構造、芳香族、へテロ環状構造を有して
もよい1価の炭素数1〜24個の炭化水素結合又は水素
原子を示し、R19 、R33 又はR37 は2価の炭素数
1〜24個の炭化水素基を示し、R 、R17 又はR
29 は炭素数1〜24個の炭化水素基を示す。) 式(1)〜(4)において、炭素数1〜24個の1価の
炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プ
ロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘプチル基、オクチ
ル基、デカニル基、ドデカニル基などが挙げられる。こ
れらの基は直鎖状であっても分岐していても構わない。
式(1)〜(4)において、炭素環状構造としては、シ
クロヘキシル基、フェニル基などが包含される。へテロ
環状構造としては、例えば ピラン類、ピロン類、ピロ
ール類、ピロリン類、ピロリジン類、イミダゾリン類、
イミダゾリジン類ピラゾリジン類、ピペリジン類、ピペ
ラジン類、モルフォリン類、インドリン類、クロマン類
などが包含される。
(In the above formulas (1) to (4), R 1 ,
R 9 , R 10 and R 18 are the same or different and each represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms, which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring or a heterocyclic structure, and R 2 to R 7 ,
R 11 ~R 16, R 20 ~R 2 8, R 30 ~R 32, R
34 to R 36 or R 38 to R 40 are the same or different and each represents a monovalent hydrocarbon bond having 1 to 24 carbon atoms or a hydrogen atom which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring or a heterocyclic structure. shown, R 19, R 33 or R 37 is a divalent carbon atoms 1 to 24 or a hydrocarbon group, R 8, R 17 or R
29 represents a hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms. In the formulas (1) to (4), examples of the monovalent hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a heptyl group, an octyl group, Examples thereof include a decanyl group and a dodecanyl group. These groups may be linear or branched.
In the formulas (1) to (4), the carbocyclic structure includes a cyclohexyl group, a phenyl group and the like. The heterocyclic structure includes, for example, pyrans, pyrones, pyrroles, pyrrolines, pyrrolidines, imidazolines,
Imidazolidines Pyrazolidines, piperidines, piperazines, morpholines, indolines, chromans and the like are included.

【0028】式(1)〜(4)で表されるメチレンジオ
キソラン系化合物としては、例えば下記の化合物が挙げ
られる。
Examples of the methylenedioxolane compounds represented by the formulas (1) to (4) include the following compounds.

【0029】[0029]

【化14】 [Chemical 14]

【0030】[0030]

【化15】 [Chemical 15]

【0031】[0031]

【化16】 [Chemical 16]

【0032】[0032]

【化17】 [Chemical 17]

【0033】[0033]

【化18】 [Chemical 18]

【0034】重合体(B): カルボキシル基を含有する重合体(a): 一分子中に少
なくとも1つのカルボキシル基を含む被膜形成性の重合
体であり、例えば、カルボキシル基を含有する重合性不
飽和単量体の単独重合体;該カルボキシル基含有単量体
と他の共重合可能な単量体との共重合体;分子鎖中又は
分子末端にカルボキシル基を有するポリエステル系、ポ
リウレタン系、ポリアミド系などの樹脂等が挙げられ
る。
Polymer (B): Polymer containing a carboxyl group (a): A film-forming polymer containing at least one carboxyl group in one molecule, for example, a polymerizable group containing a carboxyl group. Homopolymer of saturated monomer; Copolymer of the carboxyl group-containing monomer and other copolymerizable monomer; Polyester type, polyurethane type, polyamide having a carboxyl group in the molecular chain or at the molecular end Examples of such resins include resins.

【0035】上記カルボキシル基を含有する重合性不飽
和単量体としては、例えば、アクリル酸、メタクリル
酸、クロトン酸、イタコン酸等が挙げられ、また、これ
らカルボキシル基含有単量体と共重合可能な他の単量体
としては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メ
タ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、
(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ヘキシ
ル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸
2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メ
タ)アクリル酸デシル等の(メタ)アクリル酸のC
12アルキルエステル;(メタ)アクリル酸ヒドロキ
シエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピ
ル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル、(メ
タ)アクリル酸ヒドロキシブチル等の(メタ)アクリル
酸のC2〜C6ヒドロキシアルキルエステル;スチレン、
α−メチルスチレン、p−tert−ブチルスチレン等
のビニル芳香族化合物;酢酸ビニル、(メタ)アクリロ
ニトリル、(メタ)アクリルアミド、ビニルピロリドン
等が挙げられ、これら単量体はそれぞれ単独で用いても
よく又は2種以上組合わせて使用することができる。殊
に、該他の単量体としてスチレン、α−メチルスチレ
ン、C〜Cアルキル置換されたスチレン(例えばp
−tert−ブチルスチレン)などのビニル芳香族化合
物を使用することが、形成される画像パターンの精度、
耐エッチング性等の点で好適である。
Examples of the above-mentioned polymerizable unsaturated monomer containing a carboxyl group include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid and the like, and are copolymerizable with these carboxyl group-containing monomers. Examples of the other monomers include, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate,
(Meth) acrylic acid such as butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, and decyl (meth) acrylate. C 1 ~
C 12 alkyl ester; (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 3-hydroxypropyl, (meth) C 2 of (meth) acrylic acid such as hydroxyethyl acrylate-butyl ~ C 6 hydroxyalkyl ester; styrene,
Vinyl aromatic compounds such as α-methylstyrene and p-tert-butylstyrene; vinyl acetate, (meth) acrylonitrile, (meth) acrylamide, vinylpyrrolidone and the like, and these monomers may be used alone. Alternatively, two or more kinds can be used in combination. In particular, as the other monomer, styrene, α-methylstyrene, C 1 -C 6 alkyl-substituted styrene (for example, p
The use of vinyl aromatic compounds such as -tert-butyl styrene) may improve the accuracy of the image pattern formed,
It is suitable in terms of etching resistance and the like.

【0036】重合体(a)は、約3000〜約1000
00、特に約5000〜約30000の範囲内の数平均
分子量を有していることが好ましく、また、カルボキシ
ル基の含有量は、重合体1kgあたり一般に0.1〜1
0当量、特に0.5〜5.0当量の範囲内にあることが
望ましい。カルボキシル基の含有量が0.5当量/kg
より少ないと、活性光線照射前の加熱により形成される
膜の架橋度が十分でなく、また、アルカリ性現像液に対
する露光部の溶解性が低く現像性が低下する傾向があ
り、他方、10当量/kgを越えると、組成物の貯蔵安
定性が低下する傾向がある。
The polymer (a) is about 3000 to about 1000.
00, especially a number average molecular weight in the range of about 5,000 to about 30,000, and the content of the carboxyl group is generally 0.1 to 1 per 1 kg of the polymer.
It is desirable that the amount is within the range of 0 equivalent, particularly 0.5 to 5.0 equivalent. Carboxyl group content is 0.5 equivalent / kg
If it is less, the degree of cross-linking of the film formed by heating before actinic ray irradiation is not sufficient, and the solubility of the exposed portion in an alkaline developing solution is low and the developability tends to decrease, while 10 equivalent / If it exceeds kg, the storage stability of the composition tends to decrease.

【0037】また、重合体(a)は、そのガラス転移温
度(以下、このものを単に「Tg」と略すことがある)
が0℃以上、特に5〜70℃の範囲内にあることが好適
である。Tgが0℃未満であると、塗膜が粘着性を示
し、ゴミやホコリなどがつきやすくなり、取り扱い難く
なる傾向がある。
The polymer (a) has a glass transition temperature (hereinafter, this may be simply referred to as "Tg").
Is preferably 0 ° C. or higher, and particularly preferably in the range of 5 to 70 ° C. If the Tg is less than 0 ° C., the coating film becomes tacky, and dust and dirt are likely to adhere to it, which tends to make it difficult to handle.

【0038】ヒドロキシフェニル基を含有する重合体
(b):重合体(b)は一分子中に少なくとも1つのヒ
ドロキシフェニル基を含む重合体であり、例えば、1官
能性又は多官能性フェノール化合物、アルキルフェノー
ル化合物又はそれらの混合物と、フォルムアルデヒド、
アセトンなどのカルボニル化合物との縮合物;p−ヒド
ロキシスチレンのようなヒドロキシ基含有ビニル芳香族
化合物の単独重合体;該ヒドロキシル基含有ビニル芳香
族化合物と他の共重合可能な単量体との共合体等が挙げ
られる。
Polymer containing hydroxyphenyl groups
(B): The polymer (b) is a polymer containing at least one hydroxyphenyl group in one molecule, and includes, for example, a monofunctional or polyfunctional phenol compound, an alkylphenol compound or a mixture thereof, and formaldehyde,
Condensate with carbonyl compound such as acetone; Homopolymer of hydroxy group-containing vinyl aromatic compound such as p-hydroxystyrene; Copolymerization of the hydroxyl group-containing vinyl aromatic compound with other copolymerizable monomer Examples include coalescence.

【0039】上記1官能性又は多官能性フェノール化合
物としては、例えば、フェノール、o−クレゾール、m
−クレゾール、p−クレゾール、3,5−キシレノー
ル、2,6−キシレノール、2,4−キシレノール、カテ
コール、レゾルシン、ピロガロール、ビスフェノールA
などのベンゼン環上に1〜3個のヒドロキシル基を有す
る化合物が挙げられる。
Examples of the monofunctional or polyfunctional phenol compound include phenol, o-cresol, and m.
-Cresol, p-cresol, 3,5-xylenol, 2,6-xylenol, 2,4-xylenol, catechol, resorcin, pyrogallol, bisphenol A
And compounds having 1 to 3 hydroxyl groups on the benzene ring.

【0040】また、アルキルフェノール化合物として
は、例えば、p−イソプロピルフェノール、p−ter
t−ブチルフェノール、p−tert−アミルフェノー
ル、p−tert−オクチルフェノールなどのアルキル
部分の炭素数が1〜10、好ましくは1〜4のアルキル
フェノール化合物が挙げられる。
Examples of the alkylphenol compound include p-isopropylphenol and p-ter.
Examples thereof include alkylphenol compounds having 1 to 10, preferably 1 to 4 carbon atoms in the alkyl moiety such as t-butylphenol, p-tert-amylphenol, and p-tert-octylphenol.

【0041】これらの化合物とフォルムアルデヒド、ア
セトンなどのカルボニル化合物との縮合反応はそれ自体
既知の方法で行なうことができ、一般にアルカリ触媒で
縮合させると、縮合が進むにつれて不溶不融となるレゾ
ール型が得られ、酸触媒で縮合させると可溶可融のノボ
ラック型が得られる。
The condensation reaction of these compounds with a carbonyl compound such as formaldehyde or acetone can be carried out by a method known per se. Generally, when the condensation reaction is carried out with an alkali catalyst, it becomes insoluble and infusible as the condensation proceeds. And a soluble and fusible novolak type is obtained by condensation with an acid catalyst.

【0042】ノボラック型フェノール樹脂は、通常縮合
が進むにつれて分子量が増大するが、反応時間1〜3時
間で縮合させることにより得られる分子量が500〜2
000の範囲内のものが好適である。
The molecular weight of the novolac type phenol resin usually increases as the condensation proceeds, but the molecular weight obtained by condensing in the reaction time of 1 to 3 hours is 500 to 2
Those within the range of 000 are preferable.

【0043】また、ヒドロキシ基含有ビニル芳香族化合
物と共重合可能な他の単量体としては、前記カルボキシ
ル基含有単量体と共重合可能な他の単量体と同様の共重
合可能な他の単量体を用いることができる。
Further, as the other monomer copolymerizable with the hydroxy group-containing vinyl aromatic compound, the same copolymerizable other monomer as the above-mentioned other monomer copolymerizable with the carboxyl group-containing monomer can be used. Can be used.

【0044】かかるヒドロキシフェニル基含有重合体
(b)は一般に約500〜約1000000、特に約1
000〜約30000の範囲内の数平均分子量を有して
いることが好ましい。
Such hydroxyphenyl group-containing polymer (b) is generally about 500 to about 1,000,000, especially about 1
It is preferred to have a number average molecular weight in the range of 000 to about 30,000.

【0045】また、重合体(b)のヒドロキシフェニル
基の含有量は、重合体1kgあたり一般に1.0〜10
当量、特に2.0〜8.0当量の範囲内にあるのが好都
合である。ヒドロキシフェニル基の含有量が1.0当量
/kgより少ないと、活性光線照射前の加熱により形成
される膜の架橋度が十分でなくなる傾向があり、10当
量/kgを越えると、レジスト膜が脆くなりやすい。
The content of hydroxyphenyl group in the polymer (b) is generally 1.0 to 10 per 1 kg of the polymer.
It is expedient to be in the range of equivalents, especially 2.0 to 8.0 equivalents. When the content of hydroxyphenyl groups is less than 1.0 equivalent / kg, the degree of crosslinking of the film formed by heating before actinic ray irradiation tends to be insufficient, and when it exceeds 10 equivalents / kg, the resist film is formed. It easily becomes brittle.

【0046】重合体(b)も、重合体(a)と同様に、
そのTgが0℃以上、特に5〜70℃の範囲内にあるこ
とが好適である。Tgが0℃未満であると、塗膜が粘着
性を示し、ゴミやホコリなどがつきやすくなり、取り扱
い難くなる傾向がある。
The polymer (b) is also the same as the polymer (a).
It is preferable that the Tg is 0 ° C. or higher, particularly 5 to 70 ° C. If the Tg is less than 0 ° C., the coating film becomes tacky, and dust and dirt are likely to adhere to it, which tends to make it difficult to handle.

【0047】カルボキシル基及びヒドロキシフェニル基
を含有する重合体(c):重合体(c)は、一分子中に
少なくとも1つのカルボキシル基及びヒドロキシフェニ
ル基を含む被膜形成性の重合体であり、例えば、p−ヒ
ドロキシスチレンのようなヒドロキシスチレンと、カル
ボキシル基を含有する重合体不飽和単量体との共重合
体;ヒドロキシスチレン及び該カルボキシル基含有単量
体と他の共重合可能な単量体との共重合体等が挙げられ
る。
Carboxyl group and hydroxyphenyl group
Polymer (c) containing: The polymer (c) is a film-forming polymer containing at least one carboxyl group and hydroxyphenyl group in one molecule, and is, for example, a hydroxy group such as p-hydroxystyrene. Copolymers of styrene and a polymer unsaturated monomer containing a carboxyl group; examples thereof include hydroxystyrene and a copolymer of the carboxyl group-containing monomer and another copolymerizable monomer. .

【0048】上記カルボキシル基を含有する重合性不飽
和単量体としては、例えば、アクリル酸、メタクリル
酸、クロトン酸、イタコン酸等が挙げられ、また、上記
他の共重合可能な他の単量体としては、例えば、(メ
タ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、
(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチ
ル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸
オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、
(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸デシル
等の(メタ)アクリル酸のC1〜C12アルキルエステ
ル;(メタ)アクリル酸ヒドロキシエチル、(メタ)ア
クリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸
3−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸ヒドロキ
シブチル等の(メタ)アクリル酸のC2〜C6ヒドロキ
シアルキルエステル;スチレン、α−メチルスチレン、
p−tert−ブチルスチレン等のビニル芳香族化合
物;酢酸ビニル、(メタ)アクリロニトリル、(メタ)
アクリルアミド、ビニルピロリドン等が挙げられ、これ
ら単量体はそれぞれ単独で用いてもよく又は2種以上組
合わせて使用することができる。
Examples of the above-mentioned polymerizable unsaturated monomer containing a carboxyl group include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid, and the like. As the body, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate,
Propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate,
(Meth) acrylate, nonyl (meth) C 1 -C 12 alkyl esters of (meth) acrylic acid such as decyl acrylate; (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl, (meth) C2-C6 hydroxyalkyl ester of (meth) acrylic acid such as 3-hydroxypropyl acrylate and hydroxybutyl (meth) acrylate; styrene, α-methylstyrene,
Vinyl aromatic compounds such as p-tert-butylstyrene; vinyl acetate, (meth) acrylonitrile, (meth)
Examples thereof include acrylamide and vinylpyrrolidone. These monomers may be used alone or in combination of two or more kinds.

【0049】また、重合体(c)として、ヒドロキシ安
息香酸、没食子酸、レゾルシン酸などのフェノールカル
ボン酸類、又はこれらとフェノール、炭素数1〜18の
モノ−もしくはジ−アルキルフェノールもしくはナフト
ール類、レゾルシン、カテコール等から選ばれるフェノ
ール類の1種もしくは2種以上との混合物をホルムアル
デヒドと縮合させることにより得られる重合体を使用す
ることもできる。
Further, as the polymer (c), phenolcarboxylic acids such as hydroxybenzoic acid, gallic acid and resorcinic acid, or these, and phenol, mono- or di-alkylphenols having 1 to 18 carbon atoms or naphthols, resorcin, A polymer obtained by condensing a mixture of one or more phenols selected from catechol and the like with formaldehyde can also be used.

【0050】重合体(c)は、一般に、約500〜約1
00000、特に約1500〜約30000の範囲内の
数平均分子量を有していることが好ましい。
The polymer (c) is generally about 500 to about 1.
It is preferred to have a number average molecular weight in the range of 00000, especially about 1500 to about 30,000.

【0051】重合体(c)において、該重合体のカルボ
キシル基の含有量は、重合体1kgあたり一般に0.1
〜20当量、特に0.5〜5.0当量の範囲内にあり、
また該重合体のヒドロキシフェニル基は重合体1kgあ
たり少なくとも1.0当量、特に2.0〜8.0当量の
範囲内にあることが望ましい。
In the polymer (c), the content of carboxyl group in the polymer is generally 0.1 per 1 kg of the polymer.
To 20 equivalents, especially 0.5 to 5.0 equivalents,
The hydroxyphenyl group of the polymer is preferably at least 1.0 equivalent, and particularly preferably 2.0 to 8.0 equivalents per kg of the polymer.

【0052】重合体(c)のカルボキシル基の含有量
が、0.5当量/kgより少ないと、活性光線照射前の
加熱により形成される膜の架橋度が十分でなく、また、
アルカリ性現像液に対する露光部の溶解性が低く現像性
が低下する傾向があり、他方、10当量/kgを越える
と、組成物の貯蔵安定性が低下する傾向があるので好ま
しくない。
When the content of the carboxyl group of the polymer (c) is less than 0.5 equivalent / kg, the degree of crosslinking of the film formed by heating before actinic ray irradiation is not sufficient, and
The solubility of the exposed part in an alkaline developing solution is low and the developability tends to be low, while when it exceeds 10 equivalents / kg, the storage stability of the composition tends to be low, which is not preferable.

【0053】重合体(c)のヒドロキシフェニル基の含
有量が、1.0当量/kgより少ないと架橋時の架橋度
が十分でないので好ましくない。
When the content of the hydroxyphenyl group in the polymer (c) is less than 1.0 equivalent / kg, the degree of crosslinking at the time of crosslinking is not sufficient, which is not preferable.

【0054】また、重合体(c)は、Tgが0℃以上、
特に5〜70℃の範囲内にあることが好適である。Tg
が0℃未満であると、塗膜が粘着性を示し、ゴミやホコ
リなどがつきやすくなり、取り扱い難くなる傾向があ
る。
The polymer (c) has a Tg of 0 ° C. or higher,
It is particularly preferable that the temperature is within the range of 5 to 70 ° C. Tg
Is less than 0 ° C., the coating film exhibits tackiness, dust and dirt are likely to be attached, and handling tends to be difficult.

【0055】光酸発生剤化合物C:光酸発生剤化合物C
は、下記の活性エネルギー線の照射により分解して、前
記重合体Bとジビニルエーテル化合物Aとの間で形成さ
れる架橋構造を切断するのに十分な強度の酸を発生する
化合物であり、従来から公知のものを使用することがで
きる。
Photoacid generator compound C: Photoacid generator compound C
Is a compound which decomposes upon irradiation with the following active energy rays to generate an acid having a sufficient strength to cleave the crosslinked structure formed between the polymer B and the divinyl ether compound A, Known materials can be used.

【0056】光酸発生剤化合物Cとして用いられる化合
物及び混合物の例には、ジアゾニウム、ホスホニウム、
スルホニウム及びヨードニウム塩:ハロゲン化合物:有
機金属/有機ハロゲンの組み合わせ:強酸、例えばトル
エンスルホン酸のベンゾイン及び0−ニトロベンジルエ
ステル:並びに米国特許番号4371605に記載され
るN−ヒドロキシアミド及びN−ヒドロキシイミドスル
ホネート類が含まれる。アリールナフトキノンジアジド
−4−スルホネート類も含まれる。好適な光可溶化剤
は、ジアリールヨードニウムまたはトリアリールスルホ
ニウム塩である。
Examples of compounds and mixtures used as photoacid generator compound C include diazonium, phosphonium,
Sulfonium and Iodonium Salts: Halogen Compounds: Organometallic / Organohalogen Combinations: Strong Acids such as Benzoin and 0-Nitrobenzyl Esters of Toluenesulfonic Acid: and N-Hydroxyamides and N-Hydroxyimide Sulfonates as Described in US Pat. No. 4,371,605. Kind is included. Also included are aryl naphthoquinone diazide-4-sulfonates. Suitable photosolubilizers are diaryliodonium or triarylsulfonium salts.

【0057】これらは一般に、複合金属ハロゲン化物イ
オンの塩、例えばテトラフルオロボレート、ヘキサフル
オロアンチモネート、ヘキサフルオロアルセネートおよ
びへキサフルオロホスフェートなどの形態で存在してい
る。感光性を示す酸発生剤の他の有効な群には、正対イ
オンとして芳香族オニウム酸発生剤を有するアニオン基
が付加しているオリゴマー類およびポリマー類が含まれ
る。上記ポリマー類の例には、米国特許番号4,66
1,429のコラム9、1−68行およびコラム10、
1−14行に記述されているポリマー類が含まれる。化
学放射線の利用可能波長に対するスペクトル感度を調整
する目的で、このシステムに増感剤を添加するのが望ま
しい。この必要性はこの系の要求および使用する特定感
光性化合物に依存している。例えば、300nm未満の
波長にのみ応答するヨードニウムおよびスルホニウム塩
の場合、ベンゾフェノンおよびそれらの誘導体、多環状
芳香族炭化水素類、例えはペリレン、ピレンおよびアン
トラセン、並びにそれらの誘導体などを用いることで、
より長い波長に感光させることができる。ジアリ−ルヨ
−ドニウムおよびトリアリ−ルスルホニウム塩の分解も
また、ビス−(p−N,N−ジメチルアミノベンジリデン)
−アセトンで感光性が与えられ得る。3~4個の原子か
ら成る鎖長を有するアントラセンに結合したスルホニウ
ム塩は、有効な光可溶化剤である。MG.Tilleyの博士
論文、North Dakota State University, Fargo, ND(198
8)[Diss. Abstr. Lnt. B, 49, 8791(1989):Chem. Abst
r., 111, 39942u]に記述されている化合物は、好適な種
類の光可溶化剤である。他の好適な酸発生剤は、ATAS
S、即ちへキサフルオロアンチモン酸3‐(9‐アントラ
セニル)プロビルジフェニルスルホニウムである。この
化合物では、アントラセンとスルホニウム塩とが、3個
の炭素から成る鎖で結合している。
They are generally present in the form of salts of complex metal halide ions, such as tetrafluoroborate, hexafluoroantimonate, hexafluoroarsenate and hexafluorophosphate. Another useful group of photolabile acid generators includes oligomers and polymers to which anionic groups having an aromatic onium acid generator as the positive counterion are attached. Examples of the above polymers include US Pat.
1,429 columns 9, lines 1-68 and columns 10,
Included are the polymers described at lines 1-14. It is desirable to add a sensitizer to this system in order to adjust the spectral sensitivity to the available wavelengths of actinic radiation. This need depends on the requirements of the system and the particular photosensitive compound used. For example, for iodonium and sulfonium salts that respond only to wavelengths below 300 nm, benzophenone and its derivatives, polycyclic aromatic hydrocarbons such as perylene, pyrene and anthracene, and their derivatives can be used to
It can be exposed to longer wavelengths. Decomposition of diallyl iodonium and triaryl sulfonium salts is also described by bis- (p-N, N-dimethylaminobenzylidene)
-Acetone can be sensitized. Sulfonium salts linked to anthracene having a chain length of 3 to 4 atoms are effective photosolubilizers. MG. Tilley Ph.D. Thesis, North Dakota State University, Fargo, ND (198
8) [Diss. Abstr. Lnt. B, 49, 8791 (1989): Chem. Abst.
r., 111, 39942u] are suitable types of photosolubilizers. Other suitable acid generators are ATAS
S, ie 3- (9-anthracenyl) propyl diphenylsulfonium hexafluoroantimonate. In this compound, the anthracene and sulfonium salt are linked by a chain of 3 carbons.

【0058】ここで用いられてもよい光酸発生剤化合物
Cの追加的例は、ジフエニルヨードニウムトシレート、
ベンゾイントシレート、およびへキサフルオロアンチモ
ン酸トリアリールスルホニウムである。また、上記した
以外にも、例えば鉄−アレン錯体類、ルテニウムアレン
錯体類、シラノ−ル−金属キレート錯体類、トリアジン
化合物類、ジアジドナフトキノン化合物類、スルホン酸
エステル類、スルホン酸イミドエステル類、ハロゲン系
化合物類等を使用することができる。更に特開平7−1
46552号公報、特願平9−289218号に記載の
酸発生剤も使用することができる。
Additional examples of photoacid generator compound C which may be used herein are diphenyl iodonium tosylate,
Benzoin tosylate, and triarylsulfonium hexafluoroantimonate. In addition to the above, for example, iron-allene complexes, ruthenium allene complexes, silanol-metal chelate complexes, triazine compounds, diazidonaphthoquinone compounds, sulfonic acid esters, sulfonic acid imide esters, Halogen compounds and the like can be used. Furthermore, JP-A-7-1
The acid generators described in Japanese Patent No. 46552 and Japanese Patent Application No. 9-289218 can also be used.

【0059】本発明のフォトレジスト組成物は、上記し
た各成分を有機溶剤に分散もしくは溶解(着色剤に顔料
を用いた場合は顔料を微分散)させた有機溶剤系もしく
は水系のタイプとして使用することができる。
The photoresist composition of the present invention is used as an organic solvent-based or water-based type in which the above-mentioned components are dispersed or dissolved in an organic solvent (if a pigment is used as a coloring agent, the pigment is finely dispersed). be able to.

【0060】該フォトレジスト組成物の配合割合は、該
組成物の用途等に応じて広い範囲にたって変えることが
できるが、ジビニルエーテル化合物Aは、重合体B10
0重量部に対して約5〜150重量部、特に10〜10
0重量部の範囲内で使用することが好しい。光酸発生剤
化合物Cは、重合体Bとジビニルエーテル化合物Aの合
計量100重量部に対して、約0.1〜40重量部、特
に0.2〜20重量部の範囲内で用いるのが適当であ
る。
The blending ratio of the photoresist composition can be varied over a wide range depending on the use of the composition and the like, but the divinyl ether compound A is the polymer B10.
About 5 to 150 parts by weight, especially 10 to 10 parts by weight
It is preferable to use within the range of 0 parts by weight. The photoacid generator compound C is used in an amount of about 0.1 to 40 parts by weight, particularly 0.2 to 20 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total amount of the polymer B and the divinyl ether compound A. Appropriate.

【0061】本発明のフォトレジスト組成物には、必要
に応じて増感色素を配合してもよい。使用しうる増感色
素としては、例えば、フェノチアジン系、アントラセン
系、コロネン系、ベンズアントラセン系、ペリレン系、
ピレン系、メロシアニン系、ケトクマリン系等の色素が
挙げられる。
A sensitizing dye may be added to the photoresist composition of the present invention if necessary. Examples of sensitizing dyes that can be used include phenothiazine-based, anthracene-based, coronene-based, benzanthracene-based, perylene-based,
Examples include dyes of pyrene type, merocyanine type, ketocoumarin type, and the like.

【0062】これら増感色素の配合量は、重合体B10
0重量部に対して0.1〜10重量部、好ましくは0.
3〜5重量部の範囲内が適当である。
The blending amount of these sensitizing dyes is the same as that of polymer B10.
0.1 to 10 parts by weight, preferably 0.
A range of 3 to 5 parts by weight is suitable.

【0063】本発明のフォトレジスト組成物には、必要
に応じて着色剤を配合してもよく、使用しうる着色剤と
しては、例えばロイコ染料とハロゲン化合物の組み合わ
せがよくしられている。ロイコ染料としては例えば、ト
リス(4−ジメチルアミノ−フェニル)メタン塩酸塩
「ロイコクリスタルバイオレット」、ビス(4−ジメチ
ルアミノフェニル)フェニルメタン塩酸塩「ロイコマラ
カイトグリーン」等が挙げられる。一方、ハロゲン化合
物としては臭化アミル、臭化イソアミル、臭化イソブチ
レン、臭化エチレン、臭化ジフェニルメチル、臭化ベン
ザイル、臭化メチレン、トリブロモメチルフェニルスル
ホン、四臭化炭素、トリス(2,3−ジブロモプロピ
ル)ホスフェート、トリクロロアセトアミド、ヨウ化ア
ミル、ヨウ化イソブチル、1,1,1−トリクロロ−
2,2−ビス(P−クロロフェニル)エタン、ヘキサク
ロロエタン等が挙げられる。ここに示すもの以外の着色
剤を含有しても良い。
A colorant may be added to the photoresist composition of the present invention if necessary, and as the colorant which can be used, for example, a combination of a leuco dye and a halogen compound is often used. Examples of leuco dyes include tris (4-dimethylamino-phenyl) methane hydrochloride “leuco crystal violet”, bis (4-dimethylaminophenyl) phenylmethane hydrochloride “leuco malachite green” and the like. On the other hand, as the halogen compound, amyl bromide, isoamyl bromide, isobutylene bromide, ethylene bromide, diphenylmethyl bromide, benzayl bromide, methylene bromide, tribromomethylphenyl sulfone, carbon tetrabromide, tris (2, 3-dibromopropyl) phosphate, trichloroacetamide, amyl iodide, isobutyl iodide, 1,1,1-trichloro-
2,2-bis (P-chlorophenyl) ethane, hexachloroethane and the like can be mentioned. Coloring agents other than those shown here may be contained.

【0064】本発明のフォトレジスト組成物には、必要
に応じてレジスト膜に適当な可撓性、非粘着性等を付与
するために、フタル酸エステル等の可塑剤、ポリエステ
ル樹脂、アクリル樹脂等を添加してもよい。それらの添
加量は通常、ジビニルエーテル化合物A及び重合体Bの
合計量100重量部に対して、50重量部以下であるこ
とが好ましい。
In the photoresist composition of the present invention, a plasticizer such as phthalate ester, a polyester resin, an acrylic resin, etc. may be added in order to impart appropriate flexibility and non-adhesiveness to the resist film, if necessary. May be added. Usually, the addition amount thereof is preferably 50 parts by weight or less based on 100 parts by weight of the total amount of the divinyl ether compound A and the polymer B.

【0065】本発明のフォトレジスト組成物には、更に
必要に応じて、流動性調節剤を添加してもよい。
If necessary, a flowability modifier may be added to the photoresist composition of the present invention.

【0066】本発明のフォトレジスト組成物は、以上に
述べた各成分をそのまま又は必要に応じて溶剤中で混合
することにより調製することができる。その際に使用し
うる溶剤は組成物の各成分を溶解できるものであれば特
に制限はなく、例えば、アセトン、メチルエチルケト
ン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、イソ
フォロン等のケトン類;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸
ブチル等のエステル類;メタノール、エタノール、プロ
パノール等の炭素数1〜10の脂肪族アルコール類;ベ
ンジルアルコール等の芳香族基含有アルコール類;エチ
レングリコール、プロピレングリコール等のグリコール
類;これらグリコール類とメタノール、エタノール、ブ
タノール、ヘキサノール、オクタノール、ベンジルアル
コール、フェノール等とのモノもしくはジエーテル、又
は当該モノエーテルのエステル類等のグリコールエーテ
ル類;ジオキサン、テトラヒドロフラン等の環状エーテ
ル類;エチレンカーボネート、プロピレンカーボネート
等の環状カーボネート類;脂肪族及び芳香族炭化水素類
等を挙げることができる。これらの溶剤は必要に応じて
単独又は2種類以上を混合して用いることができる。
The photoresist composition of the present invention can be prepared by mixing the above-mentioned components as they are or in a solvent if necessary. The solvent that can be used in that case is not particularly limited as long as it can dissolve each component of the composition, and examples thereof include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, and isophorone; methyl acetate, ethyl acetate, acetic acid. Esters such as butyl; aliphatic alcohols having 1 to 10 carbon atoms such as methanol, ethanol, propanol; alcohols containing an aromatic group such as benzyl alcohol; glycols such as ethylene glycol and propylene glycol; these glycols and methanol , Glycol ethers such as monoether or diether with ethanol, butanol, hexanol, octanol, benzyl alcohol, phenol, etc., or esters of the monoether; cyclic ethers such as dioxane, tetrahydrofuran, etc. Ethylene carbonate, cyclic carbonates such as propylene carbonate, aliphatic and aromatic hydrocarbons, and the like. These solvents may be used alone or in combination of two or more, if necessary.

【0067】次に、本発明のパターン形成方法について
以下に述べる。
Next, the pattern forming method of the present invention will be described below.

【0068】パターン形成方法1:請求項3に記載のパ
ターン形成方法であって、上記の活性エネルギー線性組
成物を基板に塗布する工程、該基板を加熱する工程、活
性エネルギー線をパターンが形成できるように活性エネ
ルギー線を照射する工程、照射後加熱を行わないか、も
しくは140℃未満の条件にて加熱処理を行う工程、塩
基性現像液で現像する工程を順次行うことにより形成で
きる。
Pattern forming method 1: The pattern forming method according to claim 3, wherein the step of applying the active energy ray composition to a substrate, the step of heating the substrate, and the pattern of active energy rays can be formed. Thus, it can be formed by sequentially performing the step of irradiating with active energy rays, the step of performing no heating after irradiation, or the step of performing heat treatment at a temperature of less than 140 ° C., and the step of developing with a basic developer.

【0069】パターン形成方法2:請求項4に記載のパ
ターン形成方法であって、上記活性エネルギー線性組成
物を活性エネルギー線を透過しうる透明な支持フィルム
上に塗布し、乾燥して活性エネルギー線性組成物の被膜
層を形成せしめ活性エネルギー線性ドライフィルムレジ
ストをつくる工程、該ドライフィルムレジストの活性エ
ネルギー線性被膜層をレジストパターンを形成させる基
板に圧着する工程、該基板を加熱する工程、活性エネル
ギー線を支持フィルムを通して活性エネルギー線を照射
する工程、照射後加熱を行わないか、もしくは140℃
未満の条件にて加熱処理を行う工程を行い、次いで、該
支持フィルムを剥離し、塩基性現像液で現像する工程を
順次行うことにより形成できる。
Pattern formation method 2: The pattern formation method according to claim 4, wherein the active energy ray composition is applied onto a transparent support film which can transmit active energy rays and dried to obtain active energy ray characteristics. A step of forming a coating layer of the composition to form an active energy ray-type dry film resist, a step of pressing the active energy ray-type coating layer of the dry film resist to a substrate on which a resist pattern is formed, a step of heating the substrate, an active energy ray Of irradiating active energy rays through the support film, without heating after irradiation, or at 140 ° C
It can be formed by sequentially performing a step of performing a heat treatment under the condition of less than that, and then sequentially performing a step of peeling off the supporting film and developing with a basic developing solution.

【0070】パターン形成方法3:請求項5に記載のパ
ターン形成方法であって、上記の活性エネルギー線性組
成物を転写フィルム上に塗布し乾燥して活性エネルギー
線性被膜層を形成せしめ転写フィルムレジストをつくる
工程、該転写フィルムレジストの感光活性エネルギー線
性層を基板に圧着する工程、該基板を加熱する工程、加
熱後に転写フィルムを剥離する工程、目的とするパター
ンが形成されるように活性エネルギー線を照射する工
程、照射後加熱を行わないか、もしくは140℃未満の
条件にて加熱処理を行う工程、支持フィルムを剥離し、
塩基性現像液で現像する工程を順次行うことにより形成
できる。
Pattern forming method 3: The pattern forming method according to claim 5, wherein the active energy ray composition is applied onto a transfer film and dried to form an active energy ray coating layer to form a transfer film resist. A step of producing, a step of press-bonding the photosensitive active energy ray layer of the transfer film resist to a substrate, a step of heating the substrate, a step of peeling the transfer film after heating, and an active energy ray so that a desired pattern is formed. The step of irradiating, the step of performing no heating after irradiation, or the step of performing heat treatment under the condition of less than 140 ° C., peeling the support film,
It can be formed by sequentially performing the steps of developing with a basic developer.

【0071】上記したパターン形成方法1〜3に記載の
工程で使用されるものや方法について以下に記載する。
The materials and methods used in the steps of the above-mentioned pattern forming methods 1 to 3 will be described below.

【0072】活性エネルギー線性組成物が塗布される基
板としては、例えば、銅張り積層基板などが使用でき
る。
As the substrate to which the active energy ray-based composition is applied, for example, a copper-clad laminated substrate or the like can be used.

【0073】活性エネルギー線性組成物を基板に塗布す
る手段としては、例えば、ローラー、ロールコーター、
スピンコーター、カーテンロールコーター、スプレー、
静電塗装、浸漬塗装、シルク印刷、スピン塗装等の手段
により塗布することができる。
Means for applying the active energy ray composition to the substrate include, for example, a roller, a roll coater,
Spin coater, curtain roll coater, spray,
It can be applied by means of electrostatic coating, dip coating, silk printing, spin coating and the like.

【0074】塗布された基板を加熱する条件としては、
熱風乾燥炉にて60℃〜150℃で1分〜1時間、好ましくは
80℃〜120℃5分〜30分にて加熱し、塗膜形成を行うこ
とができる。
The conditions for heating the coated substrate are as follows:
In a hot air drying oven at 60 ℃ ~ 150 ℃ 1 minute ~ 1 hour, preferably
A coating film can be formed by heating at 80 ° C to 120 ° C for 5 minutes to 30 minutes.

【0075】活性エネルギー線をパターンが形成できる
ように活性エネルギー線を照射する光源としては、従来
から使用されているもの、例えば超高圧、高圧、中圧、
低圧の水銀灯、ケミカルランプ、カーボンアーク灯、キ
セノン灯、メタルハライド灯、蛍光灯、タングステン
灯、太陽光等の各光源により得られる光源を紫外カット
フィルターによりカットした可視領域の光線や、可視領
域に発振線を持つ各種レーザー等が使用できる。高出力
で安定なレーザー光源として、アルゴンレーザー、ある
いはYAGレーザーの第二高調波(532nm)が好ま
しい。
As a light source for irradiating an active energy ray so that a pattern can be formed with the active energy ray, a light source conventionally used, for example, ultrahigh pressure, high pressure, medium pressure,
Oscillates in the visible region or the visible region by cutting the light source obtained from each light source such as low-pressure mercury lamp, chemical lamp, carbon arc lamp, xenon lamp, metal halide lamp, fluorescent lamp, tungsten lamp, sunlight, etc. with an ultraviolet cut filter. Various lasers with lines can be used. As a high-power and stable laser light source, the second harmonic (532 nm) of an argon laser or a YAG laser is preferable.

【0076】塩基性現像液としては、液状現像処理は、
例えば、現像液を約10〜80℃、好ましくは約15〜
50℃の液温度で約10秒間〜60分間、好ましくは約3
0秒間〜30分間吹き付けや浸漬することにより被膜形
成用樹脂層にパターンを形成させることができる。
As the basic developing solution, the liquid developing treatment is
For example, the developing solution is about 10 to 80 ° C., preferably about 15 to
Liquid temperature of 50 ° C for about 10 seconds to 60 minutes, preferably about 3
A pattern can be formed on the resin layer for film formation by spraying or dipping for 0 seconds to 30 minutes.

【0077】該液状現像処理は、例えば、モノメチルア
ミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、モノエチル
アミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、モノイソ
プロピルアミン、ジイソプロピルアミン、トリイソプロ
ピルアミン、モノブチルアミン、ジブチルアミン、モノ
エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノー
ルアミン、ジメチルアミノエタノール、ジエチルアミノ
エタノール、アンモニア、苛性ソーダー、苛性カリ、メ
タ珪酸ソーダー、メタ珪酸カリ、炭酸ソーダー、テトラ
エチルアンモニウムヒドロキシド等の水性液が挙げられ
る。活性エネルギー線を透過しうる透明な支持フィルム
としては、ポリエチレンテレフタレート等が使用でき
る。
The liquid developing treatment is carried out, for example, by monomethylamine, dimethylamine, trimethylamine, monoethylamine, diethylamine, triethylamine, monoisopropylamine, diisopropylamine, triisopropylamine, monobutylamine, dibutylamine, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, triethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, triethanolamine. Examples thereof include aqueous solutions such as ethanolamine, dimethylaminoethanol, diethylaminoethanol, ammonia, caustic soda, caustic potash, sodium metasilicate, potassium metasilicate, sodium carbonate, and tetraethylammonium hydroxide. Polyethylene terephthalate or the like can be used as the transparent support film that can transmit active energy rays.

【0078】該ドライフィルムレジストの活性エネルギ
ー線性被膜層をレジストパターン形成させる基板に圧着
する方法としては、例えば、基板を事前に60℃〜10
0℃え加熱し、30〜150℃の温度で加圧しながら圧
着することができる。
A method for press-bonding the active energy ray coating layer of the dry film resist to a substrate on which a resist pattern is formed is, for example, 60 ° C. to 10 ° C. in advance.
It can be pressure-bonded by heating at 0 ° C. and applying pressure at a temperature of 30 to 150 ° C.

【0079】次いで、圧着された基板を加熱する条件と
しては、60℃以下の温度で加熱される方法を取る場合
もある。
Next, as a condition for heating the pressure-bonded substrate, a method of heating at a temperature of 60 ° C. or less may be adopted.

【0080】転写フィルムとしては、例えばポリエチレ
ンテレフタレートなどが挙げられる。
Examples of the transfer film include polyethylene terephthalate.

【0081】転写フィルムレジストの感光活性エネルギ
ー線性層を基板に圧着する方法としては、例えば、基板
を事前に60℃〜100℃え加熱し、30〜150℃の
温度で加圧しながら圧着することができる。
As a method for pressure-bonding the photosensitive active energy ray layer of the transfer film resist to the substrate, for example, the substrate is heated to 60 ° C. to 100 ° C. in advance and pressure-bonded at a temperature of 30 to 150 ° C. it can.

【0082】本発明の組成物は、公知の感光性材料、例
えば、塗料、インキ、接着剤、レジスト材、刷版材(平
板や凸版用製版材、オフセット印刷用PS板等)、情報
記録材料、レリーフ像作製材料等幅広い用途への使用が
可能である。本発明方法は、上記した工程を含むもので
あれば用途等特に制限なしに適用することができる。
The composition of the present invention is a known photosensitive material such as paint, ink, adhesive, resist material, printing plate material (plate making material for flat plates and relief printing plates, PS plate for offset printing, etc.), information recording material. It can be used in a wide range of applications such as relief image forming materials. The method of the present invention can be applied without any particular limitation such as use, as long as it includes the above steps.

【0083】該用途としては、例えば産業分野別には、
電気部品関係、照明関係、電気素子関係、半導体関係、
印刷関係、印刷回路関係、電子通信関係、電力関係等の
電気類;計測関係、光学関係、表示関係、音響関係、制
御関係、自動販売関係、信号関係、情報記録関係等の物
理類;無機化学類、有機化学関係、高分子化学関係、冶
金関係、繊維等の化学・冶金・繊維類;分離・混合関
係、金属加工関係、塑性加工関係、印刷関係、容器関
係、包装関係等の処理・輸送類;農水産関係、食品関
係、発酵関係、家庭用品関係、健康・娯楽関係等の生活
用品類;機械工学類などが挙げられる。
Examples of the use include, for example, by industrial field:
Electric parts, lighting, electric elements, semiconductors,
Electricity such as printing, printed circuit, electronic communication, electric power; measurement, optics, display, acoustics, control, vending, signal, information recording, etc .; inorganic chemistry , Organic chemistry, polymer chemistry, metallurgy, fiber chemistry / metallurgy / fibers; separation / mixing, metal working, plastic working, printing, container, packaging, etc. Classes: Agricultural and fisheries related products, food related products, fermentation related products, household products related products, health / entertainment related products, and mechanical engineering products.

【0084】上記した電気類としては、例えばブラック
マトリックス絶縁被膜形成方法、ビルドアップ法による
絶縁被膜形成方法、ソルダーレジスト絶縁被膜形成方
法、表示パネルの隔壁形成方法、表示パネルのブラック
ベルト形成方法、カラーフィルターの着色絶縁被膜形成
方法、表示パネル蛍光体、ホログラムパターン、CDマ
スタリング、コイル等;物理類としては、例えば光ファ
イバー加工、フロッピデスク、磁気テープ、磁気カー
ド、光学部品、電波吸収体等;化学・冶金・繊維類とし
ては、例えば無機、ガラス、セメント、セラミックの絶
縁体等;処理・輸送類としては、例えば印刷物、印刷原
版、回折格子、マーキング、バーコード、マスク、フィ
ルター、食刻、デフロスター、セメント加工、石材加
工、繊維加工、プラスチック加工、ラベル等;生活用品
類としては、例えば担体、化粧品、発酵工業等;機械工
学類としては、例えばマイクロマシーン部品等が挙げら
れる。
Examples of the above-mentioned electricity include a black matrix insulating coating forming method, a build-up insulating coating forming method, a solder resist insulating coating forming method, a display panel partition wall forming method, a display panel black belt forming method, and a color. A method for forming a colored insulating film of a filter, a display panel phosphor, a hologram pattern, a CD mastering, a coil, and the like; physical examples include optical fiber processing, a floppy disk, a magnetic tape, a magnetic card, an optical component, an electromagnetic wave absorber, and the like; Examples of metallurgy / fibers include inorganic, glass, cement, and ceramic insulators; examples of treatment / transportation include printed matter, printing original plates, diffraction gratings, markings, barcodes, masks, filters, etching, defrosters, Cement processing, stone processing, fiber processing, plastic Click processing, labels, etc., as the life outfits, such as carriers, cosmetic, fermentation industry such as; the mechanical engineering such, micromachine components, and the like, for example.

【0085】[0085]

【発明の効果】 本発明のメチレンジオキソラン化合物
又はその誘導体は、ポリカルボン酸樹脂及び/又はフェ
ノール化合物、光酸発生剤との配合物を基材に塗布し、
形成された被膜に活性エネルギー線を照射させて酸を発
生させ、次いで加熱によって回路パターンを形成するこ
とができるが、上記した加熱によって起こる反応でアセ
トアルデヒド等の副生成物(アウトガス)が発生しない
ので、露光機の汚れ、フォトマスクの汚れ、作業環境の
悪化等の問題が発生することがない。
The methylenedioxolane compound or derivative thereof of the present invention is obtained by applying a mixture of a polycarboxylic acid resin and / or a phenol compound and a photoacid generator to a substrate,
The formed film can be irradiated with active energy rays to generate an acid, and then a circuit pattern can be formed by heating, but since byproducts such as acetaldehyde (outgas) do not occur in the reaction caused by the above heating. There is no problem such as stains on the exposure device, stains on the photomask, and deterioration of working environment.

【0086】[0086]

【実施例】 本発明は下記した実施例に制限されるもの
ではない。また部及び%は夫々重量基準である。
EXAMPLES The present invention is not limited to the examples described below. Parts and% are based on weight.

【0087】カルボキシル基含有重合体の合成 アクリル酸7.8部、メチルメタクリレート50部、エ
チルアクリレート12.2部、フェノキシエチレングリ
コールアクリレート 30部、ターシャリブチルパーオ
キシ2−エチルヘキサノエート(重合開始剤)1部より
なる混合物を重合して得た。
Synthesis of Polymer Containing Carboxyl Group 7.8 parts of acrylic acid, 50 parts of methyl methacrylate, 12.2 parts of ethyl acrylate, 30 parts of phenoxyethylene glycol acrylate, tertiary butyl peroxy 2-ethylhexanoate (polymerization initiation It was obtained by polymerizing a mixture of 1 part of the agent.

【0088】ヒドロキシフェニル基含有重合体の合成 O−クレゾール1490部、30%フォルマリン114
5部、脱イオン水130部及び蓚酸6.5部をフラスコ
に入れ60分還流させた。次いで15%塩酸を13.5
部加え40分還流させた後、400部の約15℃脱イオ
ン水を加え内容物を約75℃に保ち樹脂を沈降させた。
ついで35%水酸化ナトリウム溶液を加え中和後水層を
除去し、更に同様な洗浄操作を2度繰り返した後、減圧
下に約120℃で乾燥してノボラックフェノール樹脂を
得た。
Synthesis of polymer containing hydroxyphenyl group 1490 parts of O-cresol, 114% of formalin 114
5 parts, 130 parts of deionized water and 6.5 parts of oxalic acid were placed in a flask and refluxed for 60 minutes. Then add 15% hydrochloric acid to 13.5
After adding 40 parts and refluxing for 40 minutes, 400 parts of about 15 ° C. deionized water was added to keep the content at about 75 ° C. to precipitate the resin.
Then, a 35% sodium hydroxide solution was added to neutralize, the aqueous layer was removed, and the same washing operation was repeated twice, followed by drying at about 120 ° C. under reduced pressure to obtain a novolac phenol resin.

【0089】カルボキシル基及びヒドロキシフェニル基
含有重合体の合成 O−ヒドロキシ安息香酸600部、O−クレゾール900
部、30%フォルマリン1145部、脱イオン水130
部及び蓚酸6.5部をフラスコに入れ60分還流させ
た。次いで15%塩酸を13.5部加え40分還流させ
た後、400部の約15℃脱イオン水を加え内容物を約
50℃に保ち樹脂を沈降させた。更に400部の脱イオ
ン水を加え50℃で樹脂を洗浄した後、水層を除去し、
更に同様な洗浄操作を3度繰り返した後、減圧下に約1
20℃乾燥してノボラックフェノール樹脂を得た。分
子量約650、カルボキシル基含有量2.8モル/kg
重合体、ヒドロキシルフェニル基含有量5.4モル/k
g重合体。
Carboxyl group and hydroxyphenyl group
Synthesis of polymer containing O-hydroxybenzoic acid 600 parts, O-cresol 900
Part, 30% formalin 1145 parts, deionized water 130
And 6.5 parts of oxalic acid were placed in a flask and refluxed for 60 minutes. Then, 13.5 parts of 15% hydrochloric acid was added and refluxed for 40 minutes, then 400 parts of deionized water of about 15 ° C. was added to keep the content at about 50 ° C. to precipitate the resin. After adding 400 parts of deionized water and washing the resin at 50 ° C., the water layer is removed,
Furthermore, after repeating the same washing operation three times, the pressure was reduced to about 1
It was dried at 20 ° C. to obtain a novolac phenol resin. Molecular weight about 650, carboxyl group content 2.8 mol / kg
Polymer, hydroxyl phenyl group content 5.4 mol / k
g polymer.

【0090】実施例1 重合体100部、4,4’−ジメチレン−[2,2’
−プロピレンビス(1,3−ジオキソラン)] (注1)
53mmol/重合体100g、光酸発生剤(ダイセルユー
シービー株式会社製UVAC1591以下同じ)2部の混合物を
シクロヘキサノンに溶解し、30重量%の溶液とした。
Example 1 100 parts of polymer, 4,4'-dimethylene- [2,2 '
-Propylenebis (1,3-dioxolane)] (Note 1)
A mixture of 53 mmol / 100 g of the polymer and 2 parts of a photo-acid generator (the same applies to UVAC 1591 manufactured by Daicel UCB Co., Ltd.) was dissolved in cyclohexanone to give a 30 wt% solution.

【0091】銅箔上に乾燥膜厚10μmになるようにバ
ーコーターにて塗布し100℃10分間乾燥し、カルボ
キシル基とジメチレンジオキソランの付加反応を行う。
It is coated on a copper foil with a bar coater so as to have a dry film thickness of 10 μm and dried at 100 ° C. for 10 minutes to carry out an addition reaction of a carboxyl group and dimethylenedioxolane.

【0092】この基板に365nmの紫外光をステップタ
ブレット(日立製21段)越しに照射し、室温10分放
置後25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。 (注1)
This substrate was irradiated with ultraviolet light of 365 nm through a step tablet (21 steps, manufactured by Hitachi), left at room temperature for 10 minutes, and then developed using a 0.75% sodium carbonate aqueous solution at 25 ° C. (Note 1)

【0093】[0093]

【化19】 [Chemical 19]

【0094】該化合物のH−NMR分析法で測定した
帰属を表1に示す。 表1
Table 1 shows the attributions of the compound measured by 1 H-NMR analysis. Table 1

【0095】[0095]

【表1】 [Table 1]

【0096】該化合物の赤外光分析法(IR)で測定し
た結果を表2に示す。 表2
Table 2 shows the results of the measurement of the compound by infrared spectroscopy (IR). Table 2

【0097】[0097]

【表2】 [Table 2]

【0098】実施例2 重合体100部、4,4’−ジメチレン−[2,2’
−プロピレンビス(1,3−ジオキソラン)] 53mm
ol/重合体100g、光酸発生剤2部の混合物をシクロヘ
キサノンに溶解し、30重量%の溶液とした。銅箔上に
乾燥膜厚10μmになるようにバーコーターにて塗布し
100℃10分間乾燥し、カルボキシル基とビニルエー
テルの付加反応を行う。この基板に365nmの紫外光を
ステップタブレット(日立製21段)越しに照射し、室
温10分放置後25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液
を用い現像した。
Example 2 100 parts of polymer, 4,4'-dimethylene- [2,2 '
-Propylene bis (1,3-dioxolane)] 53mm
A mixture of 100 g of ol / polymer and 2 parts of a photo-acid generator was dissolved in cyclohexanone to prepare a 30 wt% solution. It is coated on a copper foil with a bar coater to a dry film thickness of 10 μm and dried at 100 ° C. for 10 minutes to carry out an addition reaction of a carboxyl group and vinyl ether. This substrate was irradiated with ultraviolet light of 365 nm through a step tablet (21 steps, manufactured by Hitachi), left at room temperature for 10 minutes, and then developed using a 0.75% sodium carbonate aqueous solution at 25 ° C.

【0099】実施例3 重合体100部、4,4’−ジメチレン−[2,2’
−プロピレンビス(1,3−ジオキソラン)] 53mm
ol/重合体100g、光酸発生剤2部の混合物をシクロヘ
キサノンに溶解し、30重量%の溶液とした。銅箔上に
乾燥膜厚10μmになるようにバーコーターにて塗布し
100℃10分間乾燥し、カルボキシル基とビニルエー
テルの付加反応を行う。この基板に365nmの紫外光を
ステップタブレット(日立製21段)越しに照射し、室
温10分放置後25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液
を用い現像した。
Example 3 100 parts of polymer, 4,4'-dimethylene- [2,2 '
-Propylene bis (1,3-dioxolane)] 53mm
A mixture of 100 g of ol / polymer and 2 parts of a photo-acid generator was dissolved in cyclohexanone to prepare a 30 wt% solution. It is coated on a copper foil with a bar coater to a dry film thickness of 10 μm and dried at 100 ° C. for 10 minutes to carry out an addition reaction of a carboxyl group and vinyl ether. This substrate was irradiated with ultraviolet light of 365 nm through a step tablet (21 steps, manufactured by Hitachi), left at room temperature for 10 minutes, and then developed using a 0.75% sodium carbonate aqueous solution at 25 ° C.

【0100】実施例4 厚さ38μmの無処理ポリエチレンテレフタレートフィ
ルム上に、重合体100部、4,4’−ジメチレン−
[2,2’−プロピレンビス(1,3−ジオキソラン)]
53mmol/重合体100g、光酸発生化合物 2部の混
合物をシクロヘキサノンに溶解し、30重量%の溶液と
した。
Example 4 On an untreated polyethylene terephthalate film having a thickness of 38 μm, 100 parts of polymer, 4,4′-dimethylene-
[2,2'-Propylenebis (1,3-dioxolane)]
A mixture of 53 mmol / 100 g of the polymer and 2 parts of the photo-acid generating compound was dissolved in cyclohexanone to obtain a 30 wt% solution.

【0101】レジストを乾燥膜厚10μmになるように
ロールコーターで塗布した後、100℃で10分間乾燥
した。次いで厚さ20μmの無処理ポリプロピレンフィ
ルムをレジスト面に装着してドライフィルム型レジスト
とした。
The resist was applied by a roll coater to a dry film thickness of 10 μm, and then dried at 100 ° C. for 10 minutes. Then, a 20 μm thick untreated polypropylene film was attached to the resist surface to obtain a dry film type resist.

【0102】このドライフィルム型レジストを、厚さ1
00μmポリイミドフィルムに18μmの銅箔をラミネ
ートした基板に、ロール温度100℃のラミネーターを
用いて圧着した。 この基板を実施例1と全く同様にし
て露光後室温10分放置した後、支持フィルムを剥離
し、実施例1と全く同様にして光感度を測定した。
This dry film type resist was formed to a thickness of 1
A substrate obtained by laminating a copper foil of 18 μm on a polyimide film of 00 μm was pressure bonded using a laminator with a roll temperature of 100 ° C. This substrate was exposed in the same manner as in Example 1 and allowed to stand at room temperature for 10 minutes, then the supporting film was peeled off, and the photosensitivity was measured in the same manner as in Example 1.

【0103】実施例5 厚さ38μmの無処理ポリエチレンテレフタレートフィ
ルム上に、重合体100部、4,4’−ジメチレン−
[2,2’−プロピレンビス(1,3−ジオキソラン)]
53mmol/重合体100g、光酸発生化合物 2部の混
合物をシクロヘキサノンに溶解し、30重量%の溶液と
した。
Example 5 100 parts of polymer, 4,4'-dimethylene-on a non-treated polyethylene terephthalate film having a thickness of 38 μm.
[2,2'-Propylenebis (1,3-dioxolane)]
A mixture of 53 mmol / 100 g of the polymer and 2 parts of the photo-acid generating compound was dissolved in cyclohexanone to obtain a 30 wt% solution.

【0104】レジストを乾燥膜厚10μmになるように
ロールコーターで塗布した後、100℃で10分間乾
燥、転写フィルム型レジストとした。
The resist was applied by a roll coater to a dry film thickness of 10 μm, and dried at 100 ° C. for 10 minutes to obtain a transfer film type resist.

【0105】この転写フィルム型レジストを、厚さ10
0μmポリイミドフィルムに18μmの銅箔をラミネー
トした基板に、ロール温度100℃のラミネーターを用
いて圧着した。 支持フィルムを剥離し、この基板を実
施例1と全く同様にして露光後室温10分放置した後、
実施例1と全く同様にして光感度を測定した。
This transfer film type resist was formed to a thickness of 10
A laminator with a roll temperature of 100 ° C. was used for pressure bonding to a substrate obtained by laminating a 18 μm copper foil on a 0 μm polyimide film. The support film was peeled off, and the substrate was exposed in the same manner as in Example 1 and allowed to stand at room temperature for 10 minutes.
The photosensitivity was measured in exactly the same manner as in Example 1.

【0106】実施例6 実施例1と同配合での紫外光を照射後100℃10分加
熱し25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。
Example 6 After irradiation with ultraviolet light having the same composition as in Example 1 and heating at 100 ° C. for 10 minutes, development was performed using a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C.

【0107】実施例7 実施例2と同配合での紫外光を照射後100℃10分加
熱し25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。 実施例8 実施例3と同配合での紫外光を照射後100℃10分加
熱し25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。
Example 7 The same composition as in Example 2 was irradiated with ultraviolet light and heated at 100 ° C. for 10 minutes, followed by development with a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C. Example 8 After irradiation with ultraviolet light having the same composition as in Example 3, heating was conducted at 100 ° C. for 10 minutes, and development was performed using a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C.

【0108】実施例9 実施例4と同配合での紫外光を照射後100℃10分加
熱し25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。
Example 9 After irradiation with ultraviolet light having the same composition as in Example 4 and heating at 100 ° C. for 10 minutes, development was carried out using a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C.

【0109】実施例10 実施例5と同配合での紫外光を照射後100℃10分加
熱し25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像
した。
Example 10 The same composition as in Example 5 was irradiated with ultraviolet light, heated at 100 ° C. for 10 minutes, and developed using a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C.

【0110】性能評価: 仮乾燥後の指蝕乾燥性:上記実施例1〜10を塗布乾燥
後の塗膜表面の指蝕乾燥性を以下の基準で評価した。
○;全くべたつきのないもの、△;ほんのわずかにべた
つきのあるもの、×;べたつきのあるもの 感度:上記実施例1〜10を塗布乾燥後或いは基板へ圧
着後365nmの紫外光をステップタブレット(日立製2
1段)越しに照射し、実施例1〜5は室温放置10分後
25℃0.75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像し
た。実施例6〜10は100℃10分間加熱し、25℃0.
75%炭酸ナトリウム水溶液を用い現像し、評価基板を
作成した。
Performance evaluation: Drying property after finger-drying after finger-drying: Drying property against finger-sticking after coating and drying the above-mentioned Examples 1 to 10 was evaluated according to the following criteria.
○: No stickiness at all, △: Only slightly sticky, ×: Sticky sensitivity: After applying and drying the above Examples 1 to 10 or pressing on a substrate, an ultraviolet light of 365 nm was used as a step tablet (Hitachi). Made 2
(1 step), Examples 1 to 5 were left at room temperature for 10 minutes, and then developed using a 0.75% aqueous sodium carbonate solution at 25 ° C. Examples 6 to 10 were heated at 100 ° C. for 10 minutes and then at 25 ° C.
Development was performed using a 75% sodium carbonate aqueous solution to prepare an evaluation substrate.

【0111】エッチング耐性:前記のように作成した各
評価基板を塩化第二銅エッチング液にて目視による塗膜
の剥がれを以下の基準で評価した。○;全くはがれのな
いもの、△;ほんのわずかに剥がれのあるもの、×;剥
がれのあるもの 剥離性:前記のように作成した評価基板を50℃3%水
酸化ナトリウム水溶液に浸積し目視による塗膜の除去性
・剥離性を以下の基準で評価した。○;全く残渣のない
もの、△;ほんのわずかに残渣のあるもの、×;全面に
レジストが残っているもの 上記各試験の結果を表1に示す。表1の結果から明らか
なように本発明の感光性樹脂組成物から形成した塗膜は
感度・エッチング耐性に優れており、剥離性も良好であ
った。
Etching resistance: Each of the evaluation substrates prepared as described above was visually evaluated with a cupric chloride etching solution for peeling of the coating film according to the following criteria. ◯: No peeling, Δ: Slightly peeling, ×: Peeling peelability: The evaluation substrate prepared as described above was immersed in a 3% sodium hydroxide aqueous solution at 50 ° C. and visually observed. The removability and peelability of the coating film were evaluated according to the following criteria. ◯: No residue at all, Δ: Slightly residual residue, ×: Resist remained on the entire surface Table 1 shows the results of the above tests. As is clear from the results in Table 1, the coating film formed from the photosensitive resin composition of the present invention was excellent in sensitivity and etching resistance, and was also excellent in peelability.

【0112】表3Table 3

【0113】[0113]

【表3】 [Table 3]

【0114】表4Table 4

【0115】[0115]

【表4】 [Table 4]

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/38 501 G03F 7/38 501 H05K 3/06 H05K 3/06 J Fターム(参考) 2H025 AB01 AB15 AB16 AB17 AB20 AC01 AC08 AD03 BE00 CB10 CB13 CB14 CB17 CB29 CB43 CB45 CB55 CB60 CC20 FA01 FA03 FA12 FA17 2H096 AA01 AA25 AA26 AA27 AA30 BA11 BA20 DA01 EA02 EA04 FA01 GA08 JA02 JA03 5E339 AB02 BB02 BD06 BE13 CC01 CE16 CF15 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 identification code FI theme code (reference) G03F 7/38 501 G03F 7/38 501 H05K 3/06 H05K 3/06 J F term (reference) 2H025 AB01 AB15 AB16 AB17 AB20 AC01 AC08 AD03 BE00 CB10 CB13 CB14 CB17 CB29 CB43 CB45 CB55 CB60 CC20 FA01 FA03 FA12 FA17 2H096 AA01 AA25 AA26 AA27 AA30 BA11 BA20 DA01 EA02 EA02 EA02 CE03 5E06 BE13 BB06 CB16 CB06 CB02

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 式(1) 【化1】 及び式(2) 【化2】 及び式(3) 【化3】 及び式4 【化4】 (上記式(1)〜(4)において、R 、R 、R10
又はR18は同一もしくは異なって、炭素環状構造、芳
香族、へテロ環状構造を有してもよい炭素数1〜24個
の1価の炭化水素基を示し、R 〜R 、R11 〜R16
R20 〜R 、R30 〜R32 R34 〜R36
又はR38 〜R40 は同一もしくは異なって、炭素環
状構造、芳香族、へテロ環状構造を有してもよい1価の
炭素数1〜24個の炭化水素結合又は水素原子を示し、
R19 、R33 又はR37 は2価の炭素数1〜24個の
炭化水素基を示し、R 、R17 又はR29 は炭素数1
〜24個の炭化水素基を示す。)から選ばれる少なくと
も1種のメチレンジオキソラン化合物又はその誘導体。
1. Formula (1): And the formula (2) And the formula (3) And Equation 4 (In the above formulas (1) to (4), R 1 , R 9 , R 10
Or R 18 is the same or different and represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms, which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring or a heterocyclic structure, and R 2 to R 7 and R 11 ~ R 16
, R 20 ~R 2 8, R 30 ~R 32, R 34 ~R 36
Or R 38 to R 40 are the same or different and each represents a monovalent hydrocarbon bond having 1 to 24 carbon atoms or a hydrogen atom which may have a carbocyclic structure, an aromatic ring, or a heterocyclic structure;
R 19 , R 33 or R 37 represents a divalent hydrocarbon group having 1 to 24 carbon atoms, and R 8 , R 17 or R 29 has 1 carbon atom.
~ 24 hydrocarbon groups. At least one methylenedioxolane compound selected from the following) or a derivative thereof.
【請求項2】 請求項1に記載のメチレンジオキソラン
化合物又はその誘導体(A)、重合体1kgあたり0.
1〜10当量のカルボキシル基を含有し、そして300
0〜100000の範囲内である数平均分子量及び0℃
以上のガラス転移温度を有する重合体(a)、 重合体
1kgあたり少なくとも1〜10当量のヒドロキシフェ
ニル基を含有し、そして500〜100000の範囲内
である数平均分子量及び0℃以上のガラス転移温度を有
する重合体(b)及び重合体1kgあたり少なくとも
0.1〜20当量のヒドロキシフェニル基及びカルボキ
シル基を含有し、そして500〜100000の範囲内
である数平均分子量及び0℃以上のガラス転移温度を有
する重合体(c)から選ばれる少なくとも1種の重合体
(B)を必須成分として含有することを特徴とする活性
エネルギー線性組成物。
2. A methylenedioxolane compound or a derivative thereof (A) according to claim 1, and 0.1% per 1 kg of the polymer.
Contains 1 to 10 equivalents of carboxyl groups, and 300
Number average molecular weight in the range of 0 to 100,000 and 0 ° C
Polymer (a) having the above glass transition temperature, containing at least 1 to 10 equivalents of a hydroxyphenyl group per kg of the polymer, and having a number average molecular weight in the range of 500 to 100,000 and a glass transition temperature of 0 ° C. or higher. (B) having at least 0.1 to 20 equivalents of hydroxyphenyl group and carboxyl group per 1 kg of the polymer, and having a number average molecular weight in the range of 500 to 100,000 and a glass transition temperature of 0 ° C. or higher. An active energy ray composition comprising as an essential component at least one polymer (B) selected from the polymers (c) having
【請求項3】上記活性エネルギー線性組成物として、光
酸発生剤化合物(C)を含むことを特徴とする請求項2
に記載の活性エネルギー線性組成物。
3. The photoacid generator compound (C) is contained in the active energy ray composition.
The active energy ray-based composition as described in 1.
【請求項4】請求項2又は3に記載の活性エネルギー線
性組成物を基板に塗布する工程、該基板を加熱する工
程、活性エネルギー線をパターンが形成できるように活
性エネルギー線を照射する工程、照射後加熱を行わない
か、もしくは140℃未満の条件にて加熱処理を行う工
程、塩基性現像液で現像する工程を順次行うことを特徴
とするパターン形成方法。
4. A step of applying the active energy ray composition according to claim 2 or 3 to a substrate, a step of heating the substrate, a step of irradiating the active energy ray so that a pattern can be formed. A pattern forming method, characterized in that heating is not performed after irradiation, or a step of performing heat treatment under the condition of less than 140 ° C. and a step of developing with a basic developing solution are sequentially performed.
【請求項5】請求項2又は3に記載の活性エネルギー線
性組成物を活性エネルギー線を透過しうる透明な支持フ
ィルム上に塗布し、乾燥して活性エネルギー線性組成物
の被膜層を形成せしめ活性エネルギー線性ドライフィル
ムレジストをつくる工程、該ドライフィルムレジストの
活性エネルギー線性被膜層をレジストパターンを形成さ
せる基板に圧着する工程、該基板を加熱する工程、活性
エネルギー線を支持フィルムを通して活性エネルギー線
を照射する工程、該支持フィルムを剥離し、照射後加熱
を行わないか、もしくは140℃未満の条件にて加熱処
理を行う工程を行い、次いで、塩基性現像液で現像する
工程を順次行うことを特徴とするパターン形成方法。
5. The active energy ray-sensitive composition according to claim 2 or 3 is applied onto a transparent support film which can transmit active energy rays and dried to form a coating layer of the active energy ray composition. Step of making an energy ray dry film resist, step of pressing the active energy ray film layer of the dry film resist to a substrate on which a resist pattern is formed, step of heating the substrate, irradiation of active energy ray through supporting film The step of peeling the support film, performing no heating after irradiation, or performing a heat treatment at a temperature of less than 140 ° C., and then performing a step of developing with a basic developing solution are sequentially performed. And a pattern forming method.
【請求項6】請求項2又は3に記載の活性エネルギー線
性組成物を転写フィルム上に塗布し乾燥して活性エネル
ギー線性被膜層を形成せしめ転写フィルムレジストをつ
くる工程、該転写フィルムレジストの感光活性エネルギ
ー線性層を基板に圧着する工程、該基板を加熱する工
程、支持フィルムを剥離し、目的とするパターンが形成
されるように活性エネルギー線を照射する工程、照射後
加熱を行わないか、もしくは140℃未満の条件にて加
熱処理を行う工程、塩基性現像液で現像する工程を順次
行うことを特徴とするパターン形成方法。
6. A step of coating a transfer film with the active energy ray-sensitive composition according to claim 2 or 3, followed by drying to form an active energy ray-type coating layer to form a transfer film resist, and a photosensitive activity of the transfer film resist. A step of pressure-bonding the energy ray-sensitive layer to the substrate, a step of heating the substrate, a step of peeling the support film and irradiating with active energy rays so that a target pattern is formed, or no heating after irradiation, or A pattern forming method, which comprises sequentially performing a heat treatment step under a condition of less than 140 ° C. and a step of developing with a basic developing solution.
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