JP2003272253A - Manufacturing method of stamper - Google Patents
Manufacturing method of stamperInfo
- Publication number
- JP2003272253A JP2003272253A JP2002079042A JP2002079042A JP2003272253A JP 2003272253 A JP2003272253 A JP 2003272253A JP 2002079042 A JP2002079042 A JP 2002079042A JP 2002079042 A JP2002079042 A JP 2002079042A JP 2003272253 A JP2003272253 A JP 2003272253A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stamper
- substrate
- photoresist
- mask
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 106
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 22
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 13
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 8
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 3
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N n'-hydroxy-2-propan-2-ylsulfonylethanimidamide Chemical compound CC(C)S(=O)(=O)CC(N)=NO LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KERTUBUCQCSNJU-UHFFFAOYSA-L nickel(2+);disulfamate Chemical compound [Ni+2].NS([O-])(=O)=O.NS([O-])(=O)=O KERTUBUCQCSNJU-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000010076 replication Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はスタンパの製造方法
に係り、特に光情報記録媒体の製造に適したスタンパの
製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a stamper manufacturing method, and more particularly to a stamper manufacturing method suitable for manufacturing an optical information recording medium.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、大容量高密度の光情報記録媒体の
実用化が進んでいる。再生専用媒体ではコンパクトディ
スク(CD)、レーザディスク(LD)等を中心として
広く普及している。CDフォーマットをベースとしたC
D−ROMなどではMPEGなどの画像圧縮技術を適用
してCDl枚に略1時間の動画像を記録したビデオCD
なども普及しつつある。なかでもCD−ROMはコンピ
ューターやゲームのアプリケーションソフトの配給を中
心として急速な拡がりを見せている。2. Description of the Related Art In recent years, large-capacity and high-density optical information recording media have been put into practical use. In read-only media, compact discs (CDs), laser discs (LDs) and the like are widely used. C based on CD format
In a D-ROM or the like, a video CD in which an image compression technique such as MPEG is applied to record a moving image of about 1 hour on one CD.
And so on. Among them, CD-ROMs are rapidly expanding, centering on the distribution of computer and game application software.
【0003】また、CDの音楽データ、LDの高品質の
画像データ、CD−ROMのコンピュータデータを包括
し、更に再生専用ディスクと記録メディアを統合した次
世代のマルチメディアとしての光ディスクが提案され、
1996年8月にはDVD(Digital Versatile Disc)
として規格化された。このDVDは大容量マルチメディ
アとして期待されている。Further, an optical disc as a next-generation multimedia is proposed which includes music data of CD, high-quality image data of LD, computer data of CD-ROM, and further integrates a read-only disc and a recording medium.
DVD (Digital Versatile Disc) in August 1996
Was standardized as. This DVD is expected as a large capacity multimedia.
【0004】図4は、これら光ディスクの従来の製造方
法を示す図である。まず、ガラス基板201の表面にフ
ォトレジスト103を塗布し(工程a)、前記フォトレ
ジスト103に集光ビームを照射し所定パターンに露光
し、露光部分106を形成する(工程b)。次いでガラ
ス基板201をアルカリ現像液に浸漬して前記露光部分
106を除去し、情報マスク202を形成する(工程
c)。次いで情報マスク202の表面にスパック法など
により導電体の電極を薄膜で形成し、更にめっき(電気
鋳造)によりNiなどの金属を析出させてスタンパ10
9を形成する(工程d)。次いで前記スタンパ109を
用いて射出成形あるいは2P(フォトポリメリゼーショ
ン)法により複製基板110を成形する(工程e)。次
いでこの複製基板110に反射膜111及び保護層11
2をコーティングして光ディスクが完成する(工程
f)。FIG. 4 is a diagram showing a conventional manufacturing method of these optical disks. First, the photoresist 103 is applied to the surface of the glass substrate 201 (step a), and the photoresist 103 is irradiated with a focused beam to expose a predetermined pattern to form an exposed portion 106 (step b). Next, the glass substrate 201 is dipped in an alkali developing solution to remove the exposed portion 106, and an information mask 202 is formed (step c). Next, an electrode of a conductor is formed as a thin film on the surface of the information mask 202 by a spatch method or the like, and a metal such as Ni is deposited by plating (electroforming) to stamper 10.
9 is formed (step d). Then, the stamper 109 is used to mold the duplicate substrate 110 by injection molding or the 2P (photopolymerization) method (step e). Then, a reflective film 111 and a protective layer 11 are formed on the duplicate substrate 110.
2 is coated to complete the optical disc (step f).
【0005】この製造法では、工程dのめっき工程に時
間がかかる。スタンパ109を製造するためのめっき工
程は、例えば、工程cにおいて作製したガラス原盤をス
ルフアミン酸電解液中浸漬し、電気分解法にてNi膜を
ガラス原盤表面に析出させてスタンパ109とするが、
スタンパ109として必要な厚さ(約0.3mm)の析
出膜を形成するためには、2〜3時間、場合によっては
それ以上時間を要し、光ディスク製造工程の障害になっ
ている。またスタンパ109内部には応力が発生し、こ
の応力に基づく剥離、あるいは電解液の管理等の種々の
問題がある。In this manufacturing method, the plating step of step d takes time. In the plating process for manufacturing the stamper 109, for example, the glass master manufactured in the step c is immersed in a sulfamic acid electrolytic solution, and a Ni film is deposited on the surface of the glass master by electrolysis to form the stamper 109.
It takes 2 to 3 hours, and in some cases, more time to form a deposited film having a required thickness (about 0.3 mm) as the stamper 109, which is an obstacle to the optical disk manufacturing process. Further, stress is generated inside the stamper 109, and there are various problems such as peeling due to this stress and management of the electrolytic solution.
【0006】また、特開昭63−50937号公報、あ
るいは特開平4−205936号公報には、予め用意し
た金属基板上に情報パターンが形成されたフォトレジス
トのマスクを形成し、更に該マスクを利用してイオンミ
リングや反応性イオンエッチングを施してマスク以外の
部分をエッチング除去して、基板上に凹凸の情報パター
ンを形成してスタンパとする方法が示されている。Further, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-50937 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-205936, a photoresist mask having an information pattern is formed on a metal substrate prepared in advance, and the mask is further formed. A method is disclosed in which ion milling or reactive ion etching is performed to remove a portion other than the mask by etching to form an uneven information pattern on the substrate to form a stamper.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】前記特開昭63−50
937号公報、あるいは特開平4−205936号公報
に示す製造方法によればめっき工程に伴う問題点は回避
することができる。DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
According to the manufacturing method disclosed in Japanese Patent No. 937 or Japanese Patent Laid-Open No. 4-205936, it is possible to avoid problems associated with the plating process.
【0008】しかしながら、前記特開昭63−5093
7号公報に開示されている光情報記録媒体のスタンパの
製造方法は、研磨された金属基板上に情報パターンが形
成されたフォトレジストのマスクを形成し、イオンミリ
ングあるいは反応性イオンエッチング等によりマスク以
外の部分をエッチング除去し、凹凸の情報パターンを金
属基板上に形成してスタンパを作製する方法である。However, the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 63-5093
The method of manufacturing a stamper for an optical information recording medium disclosed in Japanese Patent Laid-Open Publication No. 7-27, is such that a mask of a photoresist having an information pattern is formed on a polished metal substrate and the mask is formed by ion milling or reactive ion etching. It is a method of forming a stamper by etching away parts other than the above and forming an uneven information pattern on the metal substrate.
【0009】スタンパに適した厚さ(0.3mm)の金
属基板はたわみや反りが発生しやすく、フォトレジスト
のカッティングに必要な20μmの平坦性を出すことが
困難である。A metal substrate having a thickness (0.3 mm) suitable for a stamper is likely to be bent or warped, and it is difficult to obtain the flatness of 20 μm required for cutting the photoresist.
【0010】一方、特開平4−205936公報には、
金属基板としてめっきで作製した鏡面基板(スタンパ基
板)を用い、該基板を支持基板に接着することにより平
坦性を確保することが示されている。しかし、基板を支
持基板に接着剤で貼り付けてしまうと射出成型機の金型
に取り付けができなくなる。このためこの公報では、更
にもう一層のめっき膜を剥離層を介して貼り合わせ、第
1のめっき層と第2のめっき層間で剥離を行うとしてい
る。しかしこの方法は工程が複雑化し現実的ではない。On the other hand, Japanese Patent Laid-Open No. 4-205936 discloses that
It has been shown that a mirror-finished substrate (stamper substrate) produced by plating is used as a metal substrate, and the flatness is secured by adhering the substrate to a supporting substrate. However, if the substrate is attached to the supporting substrate with an adhesive, it cannot be attached to the mold of the injection molding machine. For this reason, in this publication, a further layer of plating film is bonded via a peeling layer, and peeling is performed between the first plating layer and the second plating layer. However, this method is not realistic because the process is complicated.
【0011】本発明は、これらの問題点に鑑みてなされ
たもので、スタンパ基板の平坦性を高く維持することで
き、且つその製造が容易なスタンパの製造方法を提供す
る。The present invention has been made in view of these problems, and provides a stamper manufacturing method capable of maintaining high flatness of a stamper substrate and easy to manufacture.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を採用した。The present invention adopts the following means in order to solve the above problems.
【0013】スタンパ基板の表面にフォトレジストを塗
布する工程と、前記フォトレジストを塗布したスタンパ
基板の裏面に支持基板を真空吸着により取り付ける工程
と、前記フォトレジストを露光、現像して情報マスクを
形成する工程と、前記情報マスクで被覆されない部分を
エッチング除去して前記スタンパ基板の表面に情報パタ
ーンを形成する工程と、前記情報マスクを除去する工程
とを備える。A step of applying a photoresist to the surface of the stamper substrate, a step of attaching a supporting substrate to the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist by vacuum suction, and an exposure and development of the photoresist to form an information mask. And a step of forming an information pattern on the surface of the stamper substrate by etching away a portion not covered with the information mask, and a step of removing the information mask.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施形態
にかかるスタンパの製造方法を説明する図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a stamper manufacturing method according to an embodiment of the present invention.
【0015】まず、工程aにおいて、スタンパ基板10
2を用意し、スタンパ基板102上にフォトレジスト1
03を塗布する。First, in step a, the stamper substrate 10
2 and prepare a photoresist 1 on the stamper substrate 102.
03 is applied.
【0016】スタンパ基板102はNiの外にAlなど
の金属、あるいはこれらを含む合金で構成することもで
きる。また、スタンパ基板103は圧延などにより作製
した金属プレートを高精度に研磨加工してして作製する
ことができる。なお、スタンパ基板102をスルファミ
ン酸ニッケル浴中で電解めっき法により作製することも
できるが、この場合は前述のように処理に時間を要する
ことになる。The stamper substrate 102 may be made of a metal such as Al or an alloy containing these in addition to Ni. Further, the stamper substrate 103 can be produced by highly accurately polishing a metal plate produced by rolling or the like. Note that the stamper substrate 102 can be manufactured by electrolytic plating in a nickel sulfamate bath, but in this case, the processing requires time as described above.
【0017】これらのスタンパ基板102に要求される
厚みは0.1〜0.5mm(一般的には0.3mm程
度)である。この0.3mmという値は、射出成形の際
に成形装置の金型とのマッチング及び熱履歴に伴う寿命
から導かれる。すなわち、スタンパ基板102が0.1
mmよりも薄いと加工が難しく、射出成形に耐えうる強
度を保つことができない。また、0.5mmより厚いと
スタンパ基板102の裏面と金型とのマッチングが悪く
なり、成形する樹脂への熱の伝わり方が不均一となり、
良好な成形ができない。成形中には70〜200℃の間
でスタンパ基板の温度が変わるため、スタンパ基板10
2が厚いと歪みによるクラックが生じやすくなる。従っ
て、これらの事項を考慮するとスタンパ基板102の厚
さは0.3mm程度が好ましい。The thickness required for these stamper substrates 102 is 0.1 to 0.5 mm (generally about 0.3 mm). This value of 0.3 mm is derived from the matching with the mold of the molding apparatus during injection molding and the service life associated with heat history. That is, the stamper substrate 102 is 0.1
If it is thinner than mm, it is difficult to process and it is impossible to maintain the strength that can withstand injection molding. If it is thicker than 0.5 mm, the matching between the back surface of the stamper substrate 102 and the mold becomes poor, and the heat transfer to the resin to be molded becomes uneven,
Good molding is not possible. Since the temperature of the stamper substrate changes between 70 and 200 ° C. during molding, the stamper substrate 10
If 2 is thick, cracks are likely to occur due to strain. Therefore, considering these matters, the thickness of the stamper substrate 102 is preferably about 0.3 mm.
【0018】また、スタンパ基板102の硬度は150
〜300Hv程度が好ましい。これより柔らかいとスタ
ンパとしての寿命が短くなり、複製基板を大量に作製で
きなくなる。また、これより硬いと金型に損傷を与えて
しまう。The hardness of the stamper substrate 102 is 150.
It is preferably about 300 Hv. If it is softer than this, the life of the stamper will be shortened, and a large number of duplicate substrates cannot be manufactured. If it is harder than this, it will damage the mold.
【0019】工程bにおいて、支持基板101によりス
タンパ基板102を支持する。これによりスタンパ基板
102の撓みや反りを抑制してスタンパ基板102の平
坦度を確保することができる。スタンパ基板102の平
坦度は20μm程度以上(寸法では小)が必要である。
これは露光を行うカッティングマシンのフォーカスサー
ボの可動範囲が50〜l00μmm程度であるためであ
る。しかしながら、その厚みが0.3mm程度のスタン
パ基板はそれ単体ではこの平坦度を保つことは不可能で
ある。このため、前記スタンパ基板102を支持基板1
01に固定して支持する支持方法を採用する。この支持
方法では、前記スタンパ基板102を支持基板101に
固定する方法として真空減圧を利用する。すなわち前記
支持基板101及び該支持基板101に固定したスタン
パ基板を透明樹脂フィルム104で密封し、該透明樹脂
フィルム104内を減圧する。透明樹脂フィルム104
の厚さは0.03mm〜0.6mm、平坦性は10μm
以上で、且つ厚さむらは20μm程度に仕上げられてい
ることが望ましい。フィルムの材質は、例えばポリカー
ボネートなどが好ましい。In step b, the stamper substrate 102 is supported by the support substrate 101. As a result, the stamper substrate 102 can be prevented from bending and warping, and the flatness of the stamper substrate 102 can be secured. The flatness of the stamper substrate 102 needs to be about 20 μm or more (small in size).
This is because the movable range of the focus servo of the cutting machine for exposure is about 50 to 100 μmm. However, a stamper substrate having a thickness of about 0.3 mm cannot maintain this flatness by itself. Therefore, the stamper substrate 102 is attached to the support substrate 1
A supporting method of fixing and supporting at 01 is adopted. In this supporting method, vacuum decompression is used as a method of fixing the stamper substrate 102 to the supporting substrate 101. That is, the support substrate 101 and the stamper substrate fixed to the support substrate 101 are sealed with a transparent resin film 104, and the inside of the transparent resin film 104 is depressurized. Transparent resin film 104
Has a thickness of 0.03 mm to 0.6 mm and a flatness of 10 μm
Above, it is desirable that the unevenness in thickness is finished to about 20 μm. The material of the film is preferably polycarbonate, for example.
【0020】工程cにおいて、レーザビーム等の集光ビ
ーム105を照射して前記フォトレジスト103を露光
し、露光部106を形成する。フォトレジスト103の
露光に用いる通常のカッティングマシンは、表面カッテ
ィングを行うため非常に高いNAの対物レンズを用い
る。対物レンズのワーキングディスタンス(対物レンズ
と基板の距離)は0.2〜0.3mm程度と短い。この
ため、本実施形態のように対物レンズとこの集光ビーム
105により露光されるフォトレジスト103との間に
透明樹脂フィルム104を間挿する場合には、前記通常
のカッティングを行うことができない。このため、例え
ば対物レンズのNAを保ったままで、焦点距離と開口を
大きくしワーキングディスタンスを大きくとらなければ
ならない。また対物レンズはフィルムの屈折率と厚さに
合わせて設計することが必要である。露光に使用する光
の波長は解像度や使用するフォトレジストによって異な
るが、300〜800nm程度の波長範囲の光(例えば
Arイオンレーザの457nmあるいはKrイオンレー
ザの351nm)を使用する。In step c, the photoresist 103 is exposed by irradiating a focused beam 105 such as a laser beam to form an exposed portion 106. A normal cutting machine used for exposing the photoresist 103 uses an objective lens having a very high NA for performing surface cutting. The working distance of the objective lens (distance between the objective lens and the substrate) is as short as about 0.2 to 0.3 mm. Therefore, when the transparent resin film 104 is inserted between the objective lens and the photoresist 103 exposed by the focused beam 105 as in the present embodiment, the normal cutting cannot be performed. Therefore, it is necessary to increase the working distance by increasing the focal length and the aperture while maintaining the NA of the objective lens. The objective lens must be designed according to the refractive index and thickness of the film. The wavelength of the light used for exposure depends on the resolution and the photoresist used, but light in the wavelength range of about 300 to 800 nm (for example, 457 nm for Ar ion laser or 351 nm for Kr ion laser) is used.
【0021】工程dにおいて、スタンパ基板102を透
明樹脂フィルム104から取り出し、フォトレジスト1
03を現像し、情報マスク107を形成する。現像はア
ルカリ現象液によるウェット現像で行うことができる。
ウェット現像は、例えば所定の濃度に調整されたアルカ
リ現像液中にスタンパ基板102を浸漬したり、あるい
はスピンナにより現像液をフォトレジスト103表面に
供給することにより行うことができる。なお、前記フォ
トレジスト103には、露光部分が現像により可溶化す
るポジ型、及び未露光部分が現像により可溶化するネガ
型が知られているが本実施形態ではネガ型を用いる。In step d, the stamper substrate 102 is taken out from the transparent resin film 104, and the photoresist 1
03 is developed to form the information mask 107. The development can be performed by wet development with an alkaline solution.
The wet development can be performed, for example, by immersing the stamper substrate 102 in an alkali developing solution adjusted to a predetermined concentration, or by supplying the developing solution to the surface of the photoresist 103 with a spinner. As the photoresist 103, a positive type in which an exposed portion is solubilized by development and a negative type in which an unexposed portion is solubilized by development are known, but a negative type is used in this embodiment.
【0022】工程eにおいて、前記情報マスク107の
マスク以外の部分(スタンパ基板表面のマスクが形成さ
れていない部分)に、例えばドライエッチングを施し凹
凸の情報パターンをスタンパ基板102の表面に形成す
る。ドライエッチングの方法としては、イオンビーム1
08で物理的にエッチングを行うイオンミリング、ある
いは腐食性のガスを用いた反応性イオンエッチング等が
あるが、使用するスタンパ基板、マスク部材等により適
切な方法を選択すればよい。In step e, a portion of the information mask 107 other than the mask (a portion of the stamper substrate surface where the mask is not formed) is subjected to, for example, dry etching to form an uneven information pattern on the stamper substrate 102 surface. Ion beam 1 is used for dry etching.
There are ion milling for physically etching at 08, reactive ion etching using a corrosive gas, etc., but an appropriate method may be selected depending on the stamper substrate, mask member, etc. used.
【0023】工程fにおいて、前記スタンパ基板102
に形成されているフォトレジスト(情報マスク107)
を、例えば有機溶剤中に浸漬する方法、あるいはオゾン
アッシャ等の方法により除去する。これによりスタンパ
109は完成する。In step f, the stamper substrate 102
Photoresist (information mask 107) formed on
Is removed by, for example, a method of immersing it in an organic solvent or a method of ozone asher or the like. As a result, the stamper 109 is completed.
【0024】工程gにおいて、作製したスタンパ109
を用い、例えば射出成形またはフォトポリメリゼーショ
ン法などの方法により、プラスチックの複製基板(レプ
リカ基板)110を作製する。In step g, the stamper 109 produced
Using, the plastic replication substrate (replica substrate) 110 is manufactured by a method such as injection molding or photopolymerization.
【0025】工程hにおいて、複製基板110に反射膜
111,及び保護膜112を形成すると光ディスクが完
成する。In step h, the optical disk is completed by forming the reflective film 111 and the protective film 112 on the duplicate substrate 110.
【0026】図2は、前記スタンパ基板102を支持基
板101に固定する方法(図1の工程bに相当)の他の
実施例を説明する図である。図において、101aは支
持基板、104aは透明樹脂フィルムであり、前記支持
基板101aは透明樹脂フィルム104aと一体化して
いる。従って前記支持基板101aは透明樹脂フィルム
104aとにより構成される密封容器内を減圧すること
により、前記スタンパ基板102を支持基板101aに
固定することができる。FIG. 2 is a view for explaining another embodiment of the method for fixing the stamper substrate 102 to the supporting substrate 101 (corresponding to step b in FIG. 1). In the figure, 101a is a support substrate, 104a is a transparent resin film, and the support substrate 101a is integrated with the transparent resin film 104a. Therefore, the support substrate 101a can be fixed to the support substrate 101a by depressurizing the inside of the hermetic container formed of the transparent resin film 104a.
【0027】図3は、前記スタンパ基板102を支持基
板101に固定する方法(図1の工程b及び工程cに相
当)の他の実施例を説明する図である。図において、1
01bは支持基板、104bは透明樹脂フィルムであ
り、前記支持基板101bは透明樹脂フィルム104b
と一体化している。従って前記支持基板101bは透明
樹脂フィルム104bとにより構成される密封容器内を
減圧することにより、前記スタンパ基板102のフォト
レジスト塗布面を支持基板101bに固定することがで
きる。FIG. 3 is a view for explaining another embodiment of the method for fixing the stamper substrate 102 to the supporting substrate 101 (corresponding to step b and step c in FIG. 1). In the figure, 1
01b is a supporting substrate, 104b is a transparent resin film, and the supporting substrate 101b is a transparent resin film 104b.
It is integrated with. Therefore, the support substrate 101b can fix the photoresist-coated surface of the stamper substrate 102 to the support substrate 101b by depressurizing the inside of the hermetic container formed of the transparent resin film 104b.
【0028】支持基板101bとしてガラス基板等の透
明基板を用いることにより、支持基板101bを介して
集光ビーム105を照射して前記フォトレジスト103
を露光することができる。By using a transparent substrate such as a glass substrate as the supporting substrate 101b, the focused beam 105 is irradiated through the supporting substrate 101b to allow the photoresist 103 to be irradiated.
Can be exposed.
【0029】以上説明したように本実施形態によれば、
平坦性がよく、カッティングの時のフォーカスエラーが
少なく、更に信号欠陥が少ない高品質の光情報記録媒体
製作用のスタンパを効率良く提供することができる。As described above, according to this embodiment,
It is possible to efficiently provide a stamper for producing a high-quality optical information recording medium, which has good flatness, has few focus errors during cutting, and has few signal defects.
【0030】[0030]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
タンパ基板の平坦性を高く維持することでき、且つその
製造が容易なスタンパの製造方法を提供することができ
る。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a stamper manufacturing method capable of maintaining a high flatness of a stamper substrate and easily manufacturing the stamper.
【図1】本発明の実施形態にかかるスタンパの製造方法
を説明する図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a stamper manufacturing method according to an embodiment of the present invention.
【図2】スタンパ基板を支持基板に固定する方法の他の
例を説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating another example of a method of fixing a stamper substrate to a support substrate.
【図3】スタンパ基板を支持基板に固定する方法の更に
他の例を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating still another example of the method of fixing the stamper substrate to the supporting substrate.
【図4】従来の光ディスクの製造方法を説明する図であ
る。FIG. 4 is a diagram illustrating a conventional optical disc manufacturing method.
101 支持基板 102 スタンパ基板 103 フォトレジスト 104 透明樹脂フィルム 105 集光ビーム 106 露光部 107 マスク 108 イオンビーム 109 スタンパ 110 プラスチック基板 111 反射膜 112 保護膜 101 support substrate 102 stamper board 103 photoresist 104 transparent resin film 105 Focused beam 106 exposure unit 107 mask 108 ion beam 109 stamper 110 plastic substrate 111 Reflective film 112 Protective film
Claims (4)
塗布する工程と、 前記フォトレジストを塗布したスタンパ基板の裏面に支
持基板を真空吸着により取り付ける工程と、 前記フォトレジストを露光、現像して情報マスクを形成
する工程と、 前記情報マスクで被覆されない部分をエッチング除去し
て前記スタンパ基板の表面に情報パターンを形成する工
程と、 前記情報マスクを除去する工程とを備えることを特徴と
するスタンパの製造方法。1. A step of applying a photoresist to the surface of a stamper substrate, a step of attaching a support substrate to the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist by vacuum suction, and an information mask by exposing and developing the photoresist. And a step of forming an information pattern on the surface of the stamper substrate by etching away a portion not covered with the information mask, and a step of removing the information mask. Method.
持基板を真空吸着により取り付ける工程は、前記フォト
レジストを塗布したスタンパ基板の裏面に支持基板を添
える工程と、前記支持基板を添えたスタンパ基板を透明
フィルム容器内に収容して該透明フィルム容器内を減圧
する工程を含むことを特徴とするスタンパの製造方法。2. The step of attaching a support substrate to the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist by vacuum suction according to claim 1, wherein the step of attaching the support substrate to the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist is performed. And a step of accommodating the stamper substrate provided with the support substrate in a transparent film container and depressurizing the inside of the transparent film container.
持基板を真空吸着により取り付ける工程は、前記フォト
レジストを塗布したスタンパ基板の裏面に透明フイルム
と一体化して真空容器を構成する支持基板を添える工程
と、前記真空容器内を減圧する工程を含むことを特徴と
するスタンパの製造方法。3. The step of attaching a support substrate to the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist by vacuum suction according to claim 1, wherein the back surface of the stamper substrate coated with the photoresist is integrated with a transparent film. A method of manufacturing a stamper, comprising: a step of attaching a support substrate that constitutes a vacuum container; and a step of depressurizing the inside of the vacuum container.
塗布する工程と、 前記フォトレジストを塗布したスタンパ基板の表面にフ
イルムと一体化して真空容器を構成する透明支持基板を
添える工程と、 前記真空容器内を減圧して前記スタンパ基板に前記透明
支持基板を真空吸着により取り付ける工程と、 前記フォトレジストを露光、現像して情報マスクを形成
する工程と、 前記情報マスクで被覆されない部分をエッチング除去し
て前記スタンパ基板の表面に情報パターンを形成する工
程と、 前記情報マスクを除去する工程とを備えることを特徴と
するスタンパの製造方法。4. A step of applying a photoresist to the surface of a stamper substrate, a step of attaching a transparent support substrate which is integrated with a film and constitutes a vacuum container to the surface of the stamper substrate coated with the photoresist, and the vacuum container. Depressurizing the inside to attach the transparent support substrate to the stamper substrate by vacuum adsorption, exposing and developing the photoresist to form an information mask, and etching away a portion not covered by the information mask. A method of manufacturing a stamper, comprising: a step of forming an information pattern on the surface of the stamper substrate; and a step of removing the information mask.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002079042A JP2003272253A (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | Manufacturing method of stamper |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002079042A JP2003272253A (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | Manufacturing method of stamper |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003272253A true JP2003272253A (en) | 2003-09-26 |
Family
ID=29206212
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002079042A Pending JP2003272253A (en) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | Manufacturing method of stamper |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003272253A (en) |
-
2002
- 2002-03-20 JP JP2002079042A patent/JP2003272253A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20050151283A1 (en) | Method and apparatus for making a stamper for patterning CDs and DVDs | |
US6814897B2 (en) | Method for manufacturing a molding tool used for substrate molding | |
JP3104699B1 (en) | Manufacturing method of molded substrate with fine grooves | |
US6207247B1 (en) | Method for manufacturing a molding tool used for sustrate molding | |
JPH11501434A (en) | Method for manufacturing a stamper for a data storage optical disk | |
WO1986006198A1 (en) | Process for fabricating optical recording disk | |
JPH04205936A (en) | Formed medium for transfer and production thereof | |
JP2000280255A (en) | Production of master disk | |
JP2003272253A (en) | Manufacturing method of stamper | |
JP4366193B2 (en) | Stamper master manufacturing method and stamper manufacturing method | |
US6214528B1 (en) | Method of forming mother for use in optical disc | |
JP2004136692A (en) | Method of manufacturing in bulk the third shaping die of metal, method of manufacturing resin substrate, and resin substrate | |
JP2001338445A (en) | Methods for manufacturing stamper and optical recording medium, and supporting plate | |
JP2003272254A (en) | Method of manufacturing stamper | |
JP2693585B2 (en) | Stamper manufacturing method | |
JPH05234153A (en) | Molding die of optical disk and its production | |
JPH11350181A (en) | Production of stamper | |
JPH11333884A (en) | Manufacture of stamper | |
JPH0855370A (en) | Production of optical disk and stamper, metal mold, and optical disk | |
JPH0250329A (en) | Production of stamper for optical disk | |
JP2001325753A (en) | Method for manufacturing stamper and method for manufacturing optical recording medium | |
JPH06231492A (en) | Production of stamper for optical disk | |
JP2008135101A (en) | Method of manufacturing stamper for optical information recording medium | |
JPH11286021A (en) | Stamper for optical disk | |
JP2001220692A (en) | Method for manufacturing stamper and method for manufacturing optical recording medium |