JP2003272179A - Method for adjusting photodetector attachment position of optical pickup device and its manufacturing method, device for adjusting photodetector attachment position, and optical pickup device - Google Patents

Method for adjusting photodetector attachment position of optical pickup device and its manufacturing method, device for adjusting photodetector attachment position, and optical pickup device

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JP2003272179A
JP2003272179A JP2002067462A JP2002067462A JP2003272179A JP 2003272179 A JP2003272179 A JP 2003272179A JP 2002067462 A JP2002067462 A JP 2002067462A JP 2002067462 A JP2002067462 A JP 2002067462A JP 2003272179 A JP2003272179 A JP 2003272179A
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adjusting
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さゆり 寺崎
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英明 横田
Mitsuru Kinouchi
充 木ノ内
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently adjust the attachment position of a photodetector in an optical pickup device having the photodetector wherein a plurality of photodetecting parts individually receiving each return light emitted from a plurality of light sources and reflected by an optical recording medium, are formed on a same substrate. <P>SOLUTION: The attachment position of the photodetector is vertically/horizontally adjusted so that an optical beam spot of the return light for DVD comes to almost the center of a photodetecting part 18b1 for DVD. The optical output balance of the light beam spot of a return light for CD is detected by a photodetecting part 18a1 for CD in the above state to obtain the tilt (θ) of the attachment direction of the photodetector with respect to each optical beam spot, then the attachment direction of the photodetector is rotated in the direction to correct the obtained tilt (θ). After that, the attachment position of the photodetector is vertically/horizontally adjusted again so that the optical beam spot of the return light for DVD comes to almost the center of the photodetecting part 18b1 for DVD. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばCDとDV
Dといった種類の異なる光記録媒体に対応して波長の異
なる光を射出する複数の光源を備えるとともに各光記録
媒体に対応して複数の受光部を備えた光ピックアップ装
置において、複数の受光部を同一基板上に形成した光検
出器の取付位置の調整を効率的に行えるようにした光ピ
ックアップ装置の調整方法および製造方法、調整装置お
よび光ピックアップ装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to, for example, a CD and a DV.
In an optical pickup device including a plurality of light sources that emit light having different wavelengths corresponding to different types of optical recording media such as D and a plurality of light receiving units corresponding to each optical recording medium, a plurality of light receiving units are provided. The present invention relates to an adjusting method and a manufacturing method of an optical pickup device, an adjusting device and an optical pickup device, which are capable of efficiently adjusting a mounting position of a photodetector formed on the same substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】特開2000−207766号公報に
は、波長の異なる複数の光源と、複数の光源から射出し
て光記録媒体で反射した各々の戻り光を個別に受光する
複数の受光部パターンを同一基板上に形成した光検出器
と、複数の光源から光検出器に至る光路を共有する光学
系とを備えた光ピックアップ装置およびそれを備えた光
記録再生装置が記載されている。
2. Description of the Related Art Japanese Patent Laid-Open No. 2000-207766 discloses a plurality of light sources having different wavelengths and a plurality of light receiving portion patterns for individually receiving respective return lights emitted from the plurality of light sources and reflected by an optical recording medium. An optical pickup device including a photodetector formed on the same substrate and an optical system sharing an optical path from a plurality of light sources to the photodetector, and an optical recording / reproducing device including the same are described.

【0003】上記公報には、複数の受光部パターンを同
一基板上に形成することで、各々の受光部パターンが高
精度な相対位置精度を有することにより、複数の光源か
ら射出された波長の異なる光が光記録媒体で反射された
各々の戻り光を受光部パターンに高精度に導くことが可
能となり、種類の異なる光記録媒体に対して高品質の再
生信号や記録信号を得ることが可能であることが記載さ
れている。また、上記公報には、複数の光源を同一の半
導体基板に構成すれば、光源の間隔を高精度で位置決め
することができることが記載されている。
In the above-mentioned publication, a plurality of light receiving part patterns are formed on the same substrate, and each light receiving part pattern has a highly accurate relative position accuracy, so that the wavelengths emitted from a plurality of light sources are different. It is possible to guide each return light reflected by the optical recording medium to the light receiving portion pattern with high accuracy, and it is possible to obtain a high quality reproduction signal or recording signal for different types of optical recording media. It is stated that there is. Further, the above-mentioned publication describes that if a plurality of light sources are formed on the same semiconductor substrate, the intervals between the light sources can be positioned with high accuracy.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような光ピックア
ップ装置は、例えばアルミダイキャスト製の光学ベース
(ハウジング:筺体)に、2波長半導体レーザ、光検出
器(ホトダイオード集積回路:PD−IC)および光学
系を構成する各種部材を取付けて製作される。この際
に、光源である2波長半導体レーザ、受光部である光検
出器および各種光学系部品の取付け位置を調整する必要
がある。
Such an optical pickup device includes, for example, an aluminum die cast optical base (housing: housing), a two-wavelength semiconductor laser, a photodetector (photodiode integrated circuit: PD-IC), and It is manufactured by attaching various members constituting an optical system. At this time, it is necessary to adjust the mounting positions of the two-wavelength semiconductor laser that is the light source, the photodetector that is the light receiving section, and various optical system parts.

【0005】特に、受光部である光検出器の取付けに際
しては、光検出器を載置した受光部取付板(光検出器取
付板)を光学ベースの受光部取付面に当接させた状態
で、各光記録媒体からの戻り光(読み出し光,反射光)
のスポットが各光記録媒体に対応した各受光部上に結像
するように受光部取付板の位置を調整し、位置調整が完
了した状態で、受光部取付板を例えば接着等によって光
学ベースに固定する。
Particularly, when mounting the photodetector which is the light receiving part, in a state where the light receiving part mounting plate on which the photodetector is mounted (photodetector mounting plate) is brought into contact with the light receiving part mounting surface of the optical base. , Return light from each optical recording medium (read light, reflected light)
The position of the light-receiving part mounting plate is adjusted so that the spot of is imaged on each light-receiving part corresponding to each optical recording medium, and when the position adjustment is completed, the light-receiving part mounting plate is attached to the optical base by, for example, bonding. Fix it.

【0006】ここで、2系統の受光部を同一基板上に形
成した光検出器の取付位置調整では、一方の受光部に一
方の光記録媒体からの戻り光が入射するように光検出器
の位置を調整しても、他方の受光部に他方の光記録媒体
からの戻り光が正しく入射しないことがある。
Here, in the adjustment of the mounting position of the photodetector in which the light receiving portions of the two systems are formed on the same substrate, one of the light receiving portions of the photodetector is made so that the return light from one optical recording medium enters the light receiving portion. Even if the position is adjusted, the return light from the other optical recording medium may not be properly incident on the other light receiving unit.

【0007】このため光検出器の取付位置を光軸と直交
するX及びYの2方向に調整するとともに光検出器の向
きを回転方向(θ方向)に調整する必要があり、光検出
器の取付位置に調整に手間がかかってしまう。そこで、
光検出器の取付方向のずれを検出してその向きを補正す
ることで、光検出器の取付位置の調整を効率的に行える
ようにすることが望まれている。
Therefore, it is necessary to adjust the mounting position of the photodetector in two directions, X and Y, which are orthogonal to the optical axis, and the direction of the photodetector in the rotation direction (θ direction). It takes time to adjust the mounting position. Therefore,
It is desired to detect the deviation of the mounting direction of the photodetector and correct the direction so that the mounting position of the photodetector can be adjusted efficiently.

【0008】本発明はこのような課題を解決するために
なされたもので、光検出器の取付位置の調整を効率的に
行えるようした光ピックアップ装置の光検出器取付位置
調整方法および製造方法、光検出器取付位置調整装置、
及び光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and is a method for adjusting a photodetector mounting position and a manufacturing method for an optical pickup device, which enables efficient adjustment of the mounting position of a photodetector. Photodetector mounting position adjustment device,
Another object of the present invention is to provide an optical pickup device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的は、波長の異な
る光を射出する複数の光源と、前記複数の光源から射出
された光の光記録媒体で反射された各々の戻り光を個別
に受光する複数の受光部を同一基板上に形成した光検出
器とを有する光ピックアップ装置の前記光検出器の取付
位置を調整する光ピックアップ装置の光検出器取付位置
調整方法であって、前記複数の受光部の各光出力バラン
スを検出して前記光検出器の回転方向の位置ずれを求
め、前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の
取付位置を補正することを特徴とする光ピックアップ装
置の光検出器取付位置調整方法によって達成される。
The above object is to separately receive a plurality of light sources that emit light of different wavelengths and return lights of the lights emitted from the plurality of light sources that are reflected by an optical recording medium. A method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device, the method comprising: adjusting a mounting position of the photodetector of an optical pickup device having a plurality of light receiving parts formed on the same substrate. An optical pickup characterized by detecting the respective light output balances of the light receiving section to obtain the positional deviation of the photodetector in the rotational direction, and correcting the mounting position of the photodetector based on the positional deviation in the rotational direction. This is achieved by the method for adjusting the photodetector mounting position of the device.

【0010】上記本発明の光ピックアップ装置の光検出
器取付位置調整方法において、前記複数の光源は同一基
板上に配置されていることを特徴とする。
In the method of adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device of the present invention, the plurality of light sources are arranged on the same substrate.

【0011】上記本発明の光ピックアップ装置の光検出
器取付位置調整方法において、前記複数の光源は2つで
あり、前記複数の受光部パターンは2つであることを特
徴とする。
In the photodetector mounting position adjusting method for the optical pickup device of the present invention, the plurality of light sources are two, and the plurality of light receiving part patterns are two.

【0012】上記本発明の光ピックアップ装置の光検出
器取付位置調整方法において、前記受光部の一方の光出
力バランスを検出して、前記戻り光の一方の光スポット
が前記一方の受光部の略中央で受光されるように前記光
検出器の取付位置を調整し、前記戻り光の他方の光スポ
ットを受光する他方の前記受光部の光出力バランスを検
出して前記光検出器の回転方向の位置ずれを求め、前記
回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の取付位置
を補正することを特徴とする。
In the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device according to the present invention, one light output balance of the light receiving portion is detected, and one light spot of the return light is substantially equal to the one light receiving portion. The mounting position of the photodetector is adjusted so that the light is received at the center, and the light output balance of the other light receiving unit that receives the other light spot of the return light is detected to detect the rotation direction of the photodetector. It is characterized in that the positional deviation is obtained and the mounting position of the photodetector is corrected based on the positional deviation in the rotation direction.

【0013】上記本発明の光ピックアップ装置の光検出
器取付位置調整方法において、前記戻り光の一方の光ス
ポットが前記受光部の一方の略中央で受光されるように
前記光検出器の取付位置を調整し、前記戻り光の他方の
光スポットが前記受光部の他方の略中央で受光されるよ
うに前記光検出器の取付位置を調整し、先の調整位置と
次の調整位置とに基づいて光検出器の回転方向の位置ず
れを求め、前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検
出器の取付位置を補正することを特徴とする。
In the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device of the present invention, the mounting position of the photodetector is such that one light spot of the return light is received at substantially the center of one of the light receiving portions. And adjusting the mounting position of the photodetector so that the other light spot of the return light is received at the other substantially center of the light receiving unit, and based on the previous adjustment position and the next adjustment position. A positional deviation of the photodetector in the rotation direction is obtained, and the mounting position of the photodetector is corrected based on the positional deviation in the rotation direction.

【0014】上記本発明の光ピックアップ装置の光検出
器取付位置調整方法において、前記戻り光の一方の光ス
ポットが前記受光部の一方で受光でき、かつ、前記戻り
光の他方の光スポットが前記受光部の他方で受光できる
ように前記光検出器の取付位置を調整し、前記一方の受
光部の光出力バランスと前記他方の受光部の光出力バラ
ンスとを検出して前記光検出器の回転方向の位置ずれを
求め、前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器
の取付位置を補正することを特徴とする。
In the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device according to the present invention, one light spot of the return light can be received by one of the light receiving portions, and the other light spot of the return light is by the above. Rotation of the photodetector by adjusting the mounting position of the photodetector so that the other photodetector can receive light, and detecting the optical output balance of the one photodetector and the optical output balance of the other photodetector. It is characterized in that the positional deviation in the direction is obtained, and the mounting position of the photodetector is corrected based on the positional deviation in the rotation direction.

【0015】また、上記目的は、波長の異なる光を射出
する複数の光源と、前記複数の光源から射出された光の
光記録媒体で反射された各々の戻り光を個別に受光する
複数の受光部を同一基板上に形成した光検出器とを有す
る光ピックアップ装置の製造方法であって、前記光検出
器の取付位置を調整する光検出器取付位置調整工程で、
上記本発明の光検出器取付位置調整方法を用いることを
特徴とする光ピックアップ装置の製造方法によって達成
される。
Further, the above object is to provide a plurality of light sources for emitting lights having different wavelengths and a plurality of light receiving devices for individually receiving the respective return lights of the lights emitted from the plurality of light sources reflected by the optical recording medium. A method of manufacturing an optical pickup device having a photodetector in which a portion is formed on the same substrate, wherein a photodetector mounting position adjusting step of adjusting a mounting position of the photodetector,
This is achieved by a method for manufacturing an optical pickup device, which is characterized by using the above-described photodetector mounting position adjusting method of the present invention.

【0016】また、上記目的は、波長の異なる光を射出
する複数の光源と、前記複数の光源から射出された光が
光記録媒体で反射された各々の戻り光を個別に受光する
複数の受光部を同一基板上に形成した光検出器とを有す
る光ピックアップ装置の前記光検出器の取付位置を調整
する光検出器取付位置調整装置であって、前記光検出器
が装着された光検出器取付板に係合する係合部と、前記
係合部の位置を移動させ、且つ前記係合部の向きを回転
させることで前記光検出器の取付位置を調整する取付位
置調整機構と、前記複数の受光部で受光された各光スポ
ットの各光出力バランスを検出して前記光検出器の回転
方向の位置ずれを求め、前記回転方向の位置ずれに基づ
いて前記取付位置調整機構を駆動して前記光検出器の取
付位置を補正する取付位置調整制御装置とを備えること
を特徴とする光ピックアップ装置の光検出器取付位置調
整装置によって達成される。
Further, the above object is to provide a plurality of light sources for emitting lights having different wavelengths and a plurality of light receiving devices for individually receiving the respective return lights reflected by the optical recording medium. A photodetector mounting position adjusting device for adjusting a mounting position of the photodetector of an optical pickup device having a photodetector having a portion formed on the same substrate, wherein the photodetector is mounted. An engagement portion that engages with the attachment plate; a attachment position adjustment mechanism that adjusts the attachment position of the photodetector by moving the position of the engagement portion and rotating the orientation of the engagement portion; The light output balances of the light spots received by the plurality of light receiving units are detected to obtain the positional deviation in the rotation direction of the photodetector, and the mounting position adjusting mechanism is driven based on the positional deviation in the rotation direction. To correct the mounting position of the photodetector It is achieved by an optical detector installation position adjusting apparatus for an optical pickup device characterized by comprising an urging position adjustment control unit.

【0017】さらに上記目的は、波長の異なる光を射出
する複数の光源と、前記複数の光源から射出された光が
光記録媒体で反射された各々の戻り光を個別に受光する
複数の受光部を同一基板上に形成した光検出器と、前記
光検出器の取付位置を調整する調整機構を備えた光検出
器取付板とを有することを特徴とする光ピックアップ装
置によって達成される。
Further, the above object is to provide a plurality of light sources for emitting lights having different wavelengths, and a plurality of light receiving portions for individually receiving the respective return lights reflected by the optical recording medium from the lights emitted from the plurality of light sources. And a photodetector mounting plate provided with an adjusting mechanism for adjusting the mounting position of the photodetector.

【0018】上記本発明の光ピックアップ装置におい
て、前記複数の光源は、同一基板上に配置されているこ
とを特徴とする。
In the optical pickup device of the present invention, the plurality of light sources are arranged on the same substrate.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態による光ピ
ックアップ装置の光検出器取付位置調整方法および製造
方法、光検出器取付位置調整装置、及び光ピックアップ
装置について図1乃至図12を用いて説明する。図1は
本実施の形態による光ピックアップ装置の模式構造図で
ある。本実施の形態による光ピックアップ装置10は、
CD−R等を含む各種のコンパクトディスク(CD)1
aおよび各種のデジタル・バーサタイル・ディスク(D
VD−ROM,DVD−RAM等)1bなど種類の異な
る光記録媒体に対応できるようになっている。光ピック
アップ装置10は、2波長半導体レーザ(レーザダイオ
ード:LD)11と、位相差板12と、2波長半導体レ
ーザ11側から順に配置された回折格子13a,13b
と、ビームスプリッタ14と、コリメータレンズ15
と、図示を省略した立ち上げミラーと、対物レンズ16
と、光検出器取付板17に取り付けられた光検出器(P
D−IC:フォトダイオード集積回路)18とを有して
いる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A photodetector mounting position adjusting method and manufacturing method for an optical pickup device, a photodetector mounting position adjusting device, and an optical pickup device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. Explain. FIG. 1 is a schematic structural diagram of the optical pickup device according to the present embodiment. The optical pickup device 10 according to the present embodiment is
Various compact discs (CD) including CD-R 1
a and various digital versatile discs (D
Vd-ROM, DVD-RAM, etc.) 1b and other types of optical recording media can be supported. The optical pickup device 10 includes a two-wavelength semiconductor laser (laser diode: LD) 11, a retardation plate 12, and diffraction gratings 13a and 13b sequentially arranged from the two-wavelength semiconductor laser 11 side.
, Beam splitter 14, collimator lens 15
And a raising mirror (not shown) and the objective lens 16
And a photodetector (P
D-IC: photodiode integrated circuit) 18.

【0020】2波長半導体レーザ11は、CD再生用の
波長785nmのレーザ光とDVD再生用の波長655
nmのレーザ光を出力する。この2波長半導体レーザ1
1の光出力は再生クラス(例えば5mW)である。この
2波長半導体レーザ11は、半導体基板(半導体レーザ
本体)を金属製等の筺体(ケース)に封止してあり、筺
体に設けられたレーザ窓部から各レーザ光を射出するよ
うになっている。不図示のバックモニタで2波長半導体
レーザ11の光出力量を検知し、2波長半導体レーザ1
1に供給する電力をフィードバック制御することで光出
力量を自動制御(APC:自動パワーコントロール)す
るようになっている。
The two-wavelength semiconductor laser 11 includes a laser beam having a wavelength of 785 nm for reproducing a CD and a wavelength 655 for reproducing a DVD.
The laser beam of nm is output. This dual wavelength semiconductor laser 1
The optical output of 1 is a reproduction class (for example, 5 mW). In this two-wavelength semiconductor laser 11, a semiconductor substrate (semiconductor laser body) is sealed in a housing (case) made of metal or the like, and each laser beam is emitted from a laser window portion provided in the housing. There is. A back monitor (not shown) detects the light output amount of the two-wavelength semiconductor laser 11 to detect the two-wavelength semiconductor laser 1
The amount of light output is automatically controlled (APC: automatic power control) by feedback-controlling the electric power supplied to unit 1.

【0021】図2は光源を構成する2波長半導体レーザ
11の概略構造を示す斜視図である。図2は半導体基板
を封止する筺体を除いて、半導体レーザの本体部のみを
示している。半導体レーザ11は、例えばガリウム砒素
(GaAs)半導体基板11a上に波長785nm用光
導波路(第1の光導波路)11bおよび波長655nm
用光導波路(第2の光導波路)11cが所定の間隔(例
えば110μm)で形成されており、各光導波路の端部
が各発光点11d,11eとなっている。第1の発光点
(CD用発光点)11dからは波長785nmのレーザ
光が射出され、第2の発光点(DVD用発光点)11e
からは波長655nmのレーザ光が射出される。符号L
Aは2つの光源の発光点の間隔である。半導体レーザ1
1はフォトリソグラフィ工程で製造されるため、間隔L
Aは高精度に形成され誤差が少ない。
FIG. 2 is a perspective view showing a schematic structure of a two-wavelength semiconductor laser 11 which constitutes a light source. FIG. 2 shows only the main body of the semiconductor laser, excluding the casing that seals the semiconductor substrate. The semiconductor laser 11 includes, for example, a gallium arsenide (GaAs) semiconductor substrate 11a, an optical waveguide (first optical waveguide) 11b for a wavelength of 785 nm, and a wavelength of 655 nm.
The optical waveguides (second optical waveguides) 11c are formed at a predetermined interval (for example, 110 μm), and the ends of the optical waveguides are the light emitting points 11d and 11e. Laser light having a wavelength of 785 nm is emitted from the first emission point (CD emission point) 11d, and the second emission point (DVD emission point) 11e.
Emits a laser beam having a wavelength of 655 nm. Code L
A is the distance between the light emitting points of the two light sources. Semiconductor laser 1
Since 1 is manufactured by the photolithography process, the interval L
A is formed with high precision and has few errors.

【0022】各発光点11d,11eから射出されたレ
ーザ光は不図示の筺体に形成されたレーザ窓から筺体外
部へ射出される。この2波長半導体レーザ11は、波長
655nm(DVD用)のレーザ光を自励発振モードで
発振させ、波長785nm(CD用)のレーザ光をゲイ
ンガイド型マルチモードで発振させる。なお、2波長半
導体レーザ11は、各波長のレーザ光をシングルモード
で発振させるものでもよい。
The laser light emitted from each of the light emitting points 11d and 11e is emitted to the outside of the housing through a laser window formed in the housing (not shown). The two-wavelength semiconductor laser 11 oscillates a laser beam with a wavelength of 655 nm (for DVD) in a self-excited oscillation mode and a laser beam with a wavelength of 785 nm (for CD) in a gain-guided multimode. The two-wavelength semiconductor laser 11 may be one that oscillates laser light of each wavelength in a single mode.

【0023】図1に示す位相差板12は1/4波長板で
あり、位相差板12により直線偏光の光ビームを円偏光
に変換する。一般にDVDの高速再生には円偏光が望ま
しいとされている。本実施の形態では、位相差板12と
して薄いガラス板の機能性フィルムを貼り付けたものを
用いている。位相差板12は、直線偏光の偏光面に対し
光学軸が45度傾くように設置する。
The phase difference plate 12 shown in FIG. 1 is a quarter-wave plate, and the phase difference plate 12 converts a linearly polarized light beam into circularly polarized light. Generally, circularly polarized light is desirable for high-speed DVD reproduction. In this embodiment, as the retardation plate 12, a thin glass plate having a functional film attached is used. The retardation plate 12 is installed so that its optical axis is inclined by 45 degrees with respect to the plane of polarization of linearly polarized light.

【0024】回折格子13aは、例えば半導体レーザ1
1側の面にDVD用の格子面が形成され、回折格子13
bは、ビームスプリッタ14側の面にCD用の格子面が
形成されている。回折格子13a,13bでの分割光量
比率は、DVD/CDともに例えば、1(+1次光):
6(0次光):1(−1次光)である。格子ピッチは、
例えばDVD側が21.2μm、CD側が31.0μm
である。DVD格子面はCD波長(785nm)では回
折しないように、また、CD格子面はDVD波長(65
5nm)では回折しないように波長選択性を持たせてい
る。この排他的な作用(波長選択性)は、通常の回折格
子よりも溝深さを深くするともに、格子間隔のデューテ
ィ比を0.5からずらした格子形状とすることで実現し
ている。
The diffraction grating 13a is, for example, the semiconductor laser 1
The grating surface for DVD is formed on the surface on the 1st side, and the diffraction grating 13
In b, a CD grating surface is formed on the surface on the beam splitter 14 side. The split light amount ratio in the diffraction gratings 13a and 13b is, for example, 1 (+ 1st order light) for both DVD and CD:
6 (0th order light): 1 (-1st order light). The grid pitch is
For example, 21.2 μm on the DVD side and 31.0 μm on the CD side
Is. The DVD grating surface should not diffract at the CD wavelength (785 nm), and the CD grating surface should be at the DVD wavelength (65 nm).
5 nm) has wavelength selectivity so as not to diffract. This exclusive action (wavelength selectivity) is realized by making the groove depth deeper than that of an ordinary diffraction grating and by adopting a grating shape in which the duty ratio of the grating interval is deviated from 0.5.

【0025】ビームスプリッタ14は、半導体レーザ1
1側からの光ビームを光記録媒体方向へ反射させ、ま
た、光記録媒体からの反射光を光検出器18側へ透過さ
せるハーフミラーの機能を有している。本実施の形態で
は、平板形状のビームスプリッタ板(BS板)を用いて
いる。
The beam splitter 14 is the semiconductor laser 1
It has the function of a half mirror that reflects the light beam from the first side toward the optical recording medium and transmits the reflected light from the optical recording medium toward the photodetector 18 side. In this embodiment, a flat beam splitter plate (BS plate) is used.

【0026】コリメータレンズ15は、光源である半導
体レーザ11からの発散光線束を平行光線束に変換して
対物レンズ16に導くとともに、対物レンズ16からの
平行光線束を集束光線束に変換して光検出器18へ導
く。本実施の形態では、プラスチック射出成型による両
面が非球面型のコリメータレンズを用いている。
The collimator lens 15 converts the bundle of divergent rays from the semiconductor laser 11 which is a light source into a bundle of parallel rays and guides it to the objective lens 16, and also converts the bundle of parallel rays from the objective lens 16 into a bundle of focused rays. It leads to the photodetector 18. In the present embodiment, a collimator lens whose both surfaces are aspherical and is formed by plastic injection molding is used.

【0027】図示を省略した立ち上げミラーは、コリメ
ータレンズ15からの平行光線束を対物レンズ16の方
向へ反射させ、また、対物レンズ16からの平行光線束
をコリメータレンズ15側へ反射させる。本実施の形態
では立ち上げミラーとして平面状のミラーを用いてい
る。折り曲げ角度(反射角度)は約90度である。
The raising mirror (not shown) reflects the parallel light flux from the collimator lens 15 toward the objective lens 16 and reflects the parallel light flux from the objective lens 16 toward the collimator lens 15 side. In this embodiment, a flat mirror is used as the rising mirror. The bending angle (reflection angle) is about 90 degrees.

【0028】図3は対物レンズの構造図であり、図3
(a)は正面図を示し、図3(b)は側面図を示してい
る。なお、図3(b)では各ディスク(光記録媒体)1
a,1bの側面も併せて示している。なお、図3(b)
において、符号Kaはコンパクトディスク(CD)の情
報記録面、符号KbはDVDの情報記録面である。符号
taはコンパクトディスク(CD)の厚さ(ta=1.
2mm)、符号tbはDVDの厚さ(tb=0.6m
m)である。
FIG. 3 is a structural diagram of the objective lens.
3A shows a front view, and FIG. 3B shows a side view. In FIG. 3B, each disc (optical recording medium) 1
Side surfaces of a and 1b are also shown together. Note that FIG. 3 (b)
In the above, reference numeral Ka is an information recording surface of a compact disc (CD), and reference numeral Kb is an information recording surface of a DVD. Reference numeral ta is the thickness of the compact disc (CD) (ta = 1.
2 mm), symbol tb is the thickness of the DVD (tb = 0.6 m
m).

【0029】本実施の形態による光ピックアップ装置1
0では、対物レンズ16として2重焦点回折型の対物レ
ンズを用いている。この対物レンズ(2重焦点回折対物
レンズ)16は、光学プラスチック材料を射出成型して
製作されている。図3(b)に示すように、対物レンズ
16は両面が非球面に形成されている。図3(a)に示
すように、曲率の大きいレンズ面(立ち上げミラー側、
すなわち光記録媒体とは反対側)には、断面が鋸歯状の
多数の同心円輪帯16cからなる回折格子が形成されて
いる。なお、当該回折格子に代えてホログラフィック回
折格子をレンズ面に形成してもよい。同心円輪帯16c
のレンズ面中心側領域はCD/DVD兼用領域16aで
あり、その外周側の領域はDVD専用領域16bであ
る。対物レンズ16はCD用(波長785nm)の光ビ
ームをCD1aの情報記録面Kaに集束させ、また、D
VD用(波長655nm)の光ビームをDVD1bの情
報記録面Kbに集束させる。
Optical pickup device 1 according to the present embodiment
In 0, a double focus diffraction type objective lens is used as the objective lens 16. This objective lens (double focus diffractive objective lens) 16 is manufactured by injection molding an optical plastic material. As shown in FIG. 3B, both surfaces of the objective lens 16 are formed as aspherical surfaces. As shown in FIG. 3A, a lens surface having a large curvature (on the rising mirror side,
That is, on the side opposite to the optical recording medium), a diffraction grating including a large number of concentric circular zones 16c having a sawtooth cross section is formed. A holographic diffraction grating may be formed on the lens surface instead of the diffraction grating. Concentric ring zone 16c
The area on the center side of the lens surface is a combined CD / DVD area 16a, and the area on the outer peripheral side thereof is an area 16b dedicated to DVD. The objective lens 16 focuses the light beam for CD (wavelength 785 nm) on the information recording surface Ka of the CD 1a, and D
A light beam for VD (wavelength 655 nm) is focused on the information recording surface Kb of the DVD 1b.

【0030】各ディスク(光記録媒体)1a,1bは、
情報記録面Ka,Kbをポリカーボネート等からなる保
護膜で保護している。保護膜の厚さ(ほぼ光記録媒体の
厚さに相当する)は光記録媒体の種類毎に異なる。保護
膜の厚さに依存して入射光の球面収差が変化するので、
光記録媒体の種類に応じて球面収差の量も異なる。そこ
で、2重焦点回折対物レンズ16を用いることで、光記
録媒体の種類による球面収差の相違を補正するようにし
ている。
Each disc (optical recording medium) 1a, 1b is
The information recording surfaces Ka and Kb are protected by a protective film made of polycarbonate or the like. The thickness of the protective film (corresponding to the thickness of the optical recording medium) varies depending on the type of the optical recording medium. Since the spherical aberration of incident light changes depending on the thickness of the protective film,
The amount of spherical aberration also differs depending on the type of optical recording medium. Therefore, the double focus diffraction objective lens 16 is used to correct the difference in spherical aberration due to the type of the optical recording medium.

【0031】なお、対物レンズ16は不図示のアクチュ
エータ組立(アクチュエータアッセンブリ)上にフォー
カス方向およびトラッキング方向(光記録媒体のラジア
ル方向)に移動自在に保持されている。そして、フォー
カスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御によって
対物レンズ16の位置が制御されて、光ビームのスポッ
トを光記録媒体上の読み取り点に追従させることができ
るようになっている。
The objective lens 16 is held on an actuator assembly (actuator assembly) (not shown) so as to be movable in the focus direction and the tracking direction (radial direction of the optical recording medium). Then, the position of the objective lens 16 is controlled by the focus servo control and the tracking servo control, and the spot of the light beam can be made to follow the reading point on the optical recording medium.

【0032】図1に示すように、2波長半導体レーザ1
1から射出された直線偏光の光ビーム(レーザ光)は、
位相差板12で偏光方向を変えられた後に順次回折格子
13a,bに入射し、トラッキング用の2つのサブビー
ム(+1次光,−1次光)とRF検出用及びフォーカシ
ング用のメインビーム(0次光)がビームスプリッタ1
4に入射する。ビームスプリッタ14に入射したメイン
ビームおよび各サブビームのそれぞれの約半分の光量の
光はビームスプリッタ14で反射して進行方向が90度
曲げられてコリメータレンズ15側へ射出する。コリメ
ータレンズ15に入射するメインビーム及び各サブビー
ムは発散光線束である。
As shown in FIG. 1, a two-wavelength semiconductor laser 1
The linearly polarized light beam (laser light) emitted from 1 is
After the polarization direction is changed by the phase difference plate 12, the light is sequentially incident on the diffraction gratings 13a and 13b, two sub-beams for tracking (+ 1st order light, -1st order light) and a main beam for RF detection and focusing (0 Next light) is beam splitter 1
It is incident on 4. The light beams of about half the amount of light of each of the main beam and each of the sub-beams that have entered the beam splitter 14 are reflected by the beam splitter 14, the traveling direction thereof is bent by 90 degrees, and emitted to the collimator lens 15 side. The main beam and each sub-beam incident on the collimator lens 15 are divergent ray bundles.

【0033】光検出器(PD−IC)18は、コンパク
トディスク1aからの反射光(CD用)の受光部18a
と、DVD1bからの反射光(DVD用)の受光部18
bとを備えている。図中の符号LBは各受光部18a,
18bの間隔を示している。光検出器18は、メインビ
ームおよびサブビームをそれぞれ受光してメインビーム
およびサブビームのそれぞれに対応した電流信号に変換
する受光部(PD:フォトダイオード部またはフォトデ
ィテクト部)と、受光部で発生した電流信号を電圧信号
に変換して所定の演算を施して各種信号(再生信号(R
F信号)、フォーカス誤差信号(FES)、トラッキン
グ誤差信号等)を生成・出力する演算部(IC部)とを
有している。本実施の形態では、受光部および演算部
(IC部)をモノリシックICで構成し、このモノリシ
ックICを例えば14ピンのCOB(チップ・オン・ボ
ード)パッケージに封入している。
The photodetector (PD-IC) 18 is a light receiving portion 18a for reflected light (for CD) from the compact disc 1a.
And a light receiving section 18 for reflected light (for DVD) from the DVD 1b
and b. Reference numeral LB in the drawing denotes each light receiving portion 18a,
The interval of 18b is shown. The photodetector 18 receives a main beam and a sub beam, respectively, and converts them into current signals corresponding to the main beam and the sub beam, respectively, and a current generated in the light receiving unit (PD: photodiode part or photo detect part). Various signals (reproduced signal (R
F signal), focus error signal (FES), tracking error signal, and the like). In the present embodiment, the light receiving section and the arithmetic section (IC section) are constituted by a monolithic IC, and this monolithic IC is enclosed in, for example, a 14-pin COB (chip on board) package.

【0034】図4は光検出器の受光部の受光素子パター
ン構成を示している。図4中の符号LBは、CD用受光
部18aの中心点とDVD用受光部18bの中心点との
間隔である。CD用受光部18aは、メインビーム受光
素子パターン部18a1と、第1のサブビーム受光素子
パターン部18a2と、第2のサブビーム受光素子パタ
ーン部18a3とを備える。メインビーム受光素子パタ
ーン部18a1は、田の字状に4分割された4個のメイ
ンビーム受光素子パターンA,B,C,Dを有してい
る。
FIG. 4 shows a light receiving element pattern configuration of the light receiving portion of the photodetector. Reference numeral LB in FIG. 4 indicates the distance between the center point of the CD light receiving portion 18a and the center point of the DVD light receiving portion 18b. The CD light receiving portion 18a includes a main beam light receiving element pattern portion 18a1, a first sub beam light receiving element pattern portion 18a2, and a second sub beam light receiving element pattern portion 18a3. The main beam light receiving element pattern portion 18a1 has four main beam light receiving element patterns A, B, C and D divided into four in a square shape.

【0035】CD用受光部18aの第1のサブビーム受
光素子パターン部18a2は、図示の上下方向に2分割
された各サブビーム受光素子パターンE1,E2を有し
ている。メインビーム受光素子パターン部18a1に近
い側のサブビーム受光素子パターンE1は、遠い側のサ
ブビーム受光素子パターンE2よりも面積が広く設定さ
れている。この第1のサブビーム受光素子パターン部1
8a2は、メインビーム受光素子パターン部18a1に
対して図示左方向に少しずらして配置されている。
The first sub-beam light-receiving element pattern portion 18a2 of the CD light-receiving portion 18a has sub-beam light-receiving element patterns E1 and E2 which are vertically divided into two parts. The area of the sub beam light receiving element pattern E1 on the side closer to the main beam light receiving element pattern portion 18a1 is set larger than that of the sub beam light receiving element pattern E2 on the far side. This first sub-beam light receiving element pattern portion 1
8a2 is arranged to be slightly displaced to the left in the drawing with respect to the main beam light receiving element pattern portion 18a1.

【0036】CD用受光部18aの第2のサブビーム受
光素子パターン部18a3は、図示の上下方向に2分割
された各サブビーム受光素子パターンF1,F2を有し
ている。メインビーム受光素子パターン部18a1に近
い側のサブビーム受光素子パターンF2は、遠い側のサ
ブビーム受光素子パターンF2よりも面積が広く設定さ
れている。この第2のサブビーム受光素子パターン部1
8a3は、メインビーム受光素子パターン部18a1に
対して図示右方向に少しずらして配置されている。な
お、本実施の形態では、各受光素子パターン部内におけ
る各受光素子パターンの分割間隔はそれぞれ4μm程度
としている。
The second sub-beam light-receiving element pattern portion 18a3 of the CD light-receiving portion 18a has sub-beam light-receiving element patterns F1 and F2 which are vertically divided into two. The sub beam light receiving element pattern F2 on the side closer to the main beam light receiving element pattern portion 18a1 has a larger area than the sub beam light receiving element pattern F2 on the far side. This second sub-beam receiving element pattern portion 1
8a3 is arranged slightly offset to the right in the figure with respect to the main beam light receiving element pattern portion 18a1. In the present embodiment, the division interval of each light receiving element pattern in each light receiving element pattern portion is about 4 μm.

【0037】DVD用受光部18bは、メインビーム受
光素子パターン部18b1と、第1のサブビーム受光素
子パターン部18b2と、第2のサブビーム受光素子パ
ターン部18b3とを備える。メインビーム受光素子パ
ターン部18b1は、田の字状に4分割された4個のメ
インビーム受光素子パターンa,b,c,dを有してい
る。
The DVD light receiving portion 18b includes a main beam light receiving element pattern portion 18b1, a first sub beam light receiving element pattern portion 18b2, and a second sub beam light receiving element pattern portion 18b3. The main beam light receiving element pattern portion 18b1 has four main beam light receiving element patterns a, b, c, d which are divided into four in a square shape.

【0038】DVD用受光部18bの第1のサブビーム
受光素子パターン部18b2は、田の字状に4分割され
た4個のサブビーム受光素子パターンe1,e2,e
3,e4を有している。この第1のサブビーム受光素子
パターン部18b2は、メインビーム受光素子パターン
部18b1に対して図示左方向に少しずらして配置され
ている。第2のサブビーム受光素子パターン部18b3
は、田の字状に4分割された4個のサブビーム受光素子
パターンf1,f2,f3,f4を有している。この第
2のサブビーム受光素子パターン部18b3は、メイン
ビーム受光素子パターン部18b1に対して図示右方向
に少しずらして配置されている。なお、本実施の形態で
は、各受光素子パターン部内における各受光素子パター
ンの分割間隔はそれぞれ4μm程度としている。
The first sub-beam light-receiving element pattern portion 18b2 of the DVD light-receiving portion 18b has four sub-beam light-receiving element patterns e1, e2, e which are divided into four in a square shape.
3 and e4. The first sub-beam light-receiving element pattern portion 18b2 is arranged slightly offset to the left in the figure with respect to the main beam light-receiving element pattern portion 18b1. Second sub-beam light receiving element pattern portion 18b3
Has four sub-beam light receiving element patterns f1, f2, f3, f4 divided into four in the shape of a square. The second sub-beam light-receiving element pattern portion 18b3 is arranged slightly offset to the right in the figure with respect to the main beam light-receiving element pattern portion 18b1. In the present embodiment, the division interval of each light receiving element pattern in each light receiving element pattern portion is about 4 μm.

【0039】さらに、DVD用受光部18bのメインビ
ーム受光素子パターン部18b1は、CD用受光部18
a1のメインビーム受光素子パターン部18a1に対し
て図中下方向に少しずらして配置されている。
Further, the main beam light receiving element pattern portion 18b1 of the DVD light receiving portion 18b is the CD light receiving portion 18b.
The main beam light receiving element pattern portion 18a1 of a1 is arranged so as to be slightly shifted downward in the drawing.

【0040】図5は光検出器(PD−IC)18の動作
様式の説明図である。図5は光記録媒体(ディスク)の
種類(DVD−ROM,DVD−RAM,CD−ROM
およびCD−RWの3区分)と、再生に使用する受光素
子と、フォーカス誤差検出方法およびトラッキング誤差
検出方法との関係を表形式に示したものである。なお、
図5では光ビームスポットを表わす丸印を付けることで
再生に使用する受光素子を示している。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the operation mode of the photodetector (PD-IC) 18. FIG. 5 shows types of optical recording media (discs) (DVD-ROM, DVD-RAM, CD-ROM).
And the three categories of CD-RW), the light receiving element used for reproduction, and the focus error detection method and the tracking error detection method. In addition,
In FIG. 5, the light receiving elements used for reproduction are indicated by adding circles representing the light beam spots.

【0041】DVD−ROMを再生する場合は、DVD
用受光部のメインビーム受光素子パターンa,b,c,
dのみを使用する。フォーカス誤差検出(FES)は非
点収差法を用いて行う。各受光素子パターンa,b,
c,dの出力をそれぞれVa,Vb,Vc,Vdとする
と、非点収差法によるフォーカス誤差検出出力FESは
次式で示される。 FES=(Va+Vc)−(Vb+Vd)
When reproducing a DVD-ROM, a DVD
Main beam receiving element patterns a, b, c,
Only d is used. Focus error detection (FES) is performed using the astigmatism method. Each light receiving element pattern a, b,
If the outputs of c and d are Va, Vb, Vc, and Vd, respectively, the focus error detection output FES by the astigmatism method is expressed by the following equation. FES = (Va + Vc)-(Vb + Vd)

【0042】DVD−ROMの再生に際してトラッキン
グ誤差検出(RES)は位相差法を用いて行う。位相差
法は、トラックずれが生じるとピットによる振幅変調に
加えて位相変調も検出できることを利用してトラッキン
グ誤差を検出する。なお、DVD−ROMのみを再生す
る場合は、サブビームが不要であるので回折格子13
a,13bは不要である。
In reproducing the DVD-ROM, the tracking error detection (RES) is performed by using the phase difference method. The phase difference method detects a tracking error by utilizing that the phase modulation can be detected in addition to the amplitude modulation by the pit when the track shift occurs. If only the DVD-ROM is reproduced, the sub-beam is not necessary, so the diffraction grating 13
a and 13b are unnecessary.

【0043】DVD−RAMを再生する場合は、DVD
用受光部の全ての受光素子パターンを使用する。フォー
カス誤差検出(FES)は差動非点収差法を用いて行
う。DVD−RAMはディスク面に形成されたランドと
グルーブが等幅であり、通常の非点収差法では溝横断ノ
イズが発生する。この溝横断ノイズはメインビームとサ
ブビームで逆位相となるので、メインビームによる検出
出力とサブビームによる検出出力を加算することで溝横
断ノイズを除去することができる。そこで、メインビー
ムとサブビームの双方を用いて非点収差検出を行う。各
受光素子パターンa〜d,e1〜e4,f1〜f4の出
力をそれぞれVa〜Vd,Ve1〜Ve4,Vf1〜V
f4とすると、差動非点収差法(DAD)によるフォー
カス誤差検出出力DAD−FESは次式で示される。な
お、次式において、kは係数である。 DAD−FES={(Va+Vc)−(Vb+Vd)}
+k{(Vf1+Vf3+Ve1+Ve3)−(Vf2
+Vf4+Ve2+Ve4)}
When reproducing a DVD-RAM, a DVD
Use all the light receiving element patterns of the light receiving section. Focus error detection (FES) is performed using the differential astigmatism method. In the DVD-RAM, the land and the groove formed on the disk surface have the same width, and a groove crossing noise is generated in the normal astigmatism method. Since this groove crossing noise has the opposite phase between the main beam and the sub beam, the groove crossing noise can be removed by adding the detection output by the main beam and the detection output by the sub beam. Therefore, astigmatism detection is performed using both the main beam and the sub beam. The outputs of the respective light receiving element patterns a to d, e1 to e4, f1 to f4 are respectively Va to Vd, Ve1 to Ve4 and Vf1 to V.
If f4, the focus error detection output DAD-FES by the differential astigmatism method (DAD) is expressed by the following equation. In the following equation, k is a coefficient. DAD-FES = {(Va + Vc)-(Vb + Vd)}
+ K {(Vf1 + Vf3 + Ve1 + Ve3)-(Vf2
+ Vf4 + Ve2 + Ve4)}

【0044】DVD−RAMの再生に際してトラッキン
グ誤差(RES)の検出は差動プッシュプル法を用いて
行う。DVD−RAMはランド−グルーブ構造であるた
め3ビーム法を適用できない。また、DVD−RAMは
千鳥状のエンボスピットによって記録されたアドレス情
報(CAPA)を再生するためにプッシュプル出力が必
要である。一方、単純プッシュプル法は、メインビーム
のみでトラッキング誤差を検出するため調整が簡単であ
るがラジアルシフト特性が悪い。差動プッシュプル法
(DPP)は、メインビームのプッシュプル出力とサブ
ビームのプッシュプル出力とがラジアルシフトにオフセ
ットを生じた場合でも、サブビームのプッシュプル出力
波形を上下反転させて同相の2信号を加算することで、
ラジアルシフト特性が改善された良好なトラッキング誤
差出力を得るものである。なお、この差動プッシュプル
法では、各サブビームがメインビームに対してそれぞれ
1トラック周期の1/2周期ずれていることが前提条件
となる。
The tracking error (RES) is detected by the differential push-pull method when reproducing the DVD-RAM. Since the DVD-RAM has a land-groove structure, the 3-beam method cannot be applied. Further, the DVD-RAM requires push-pull output in order to reproduce the address information (CAPA) recorded by the zigzag embossed pits. On the other hand, the simple push-pull method is easy to adjust because the tracking error is detected only by the main beam, but the radial shift characteristic is poor. The differential push-pull method (DPP) vertically inverts the sub-beam push-pull output waveform to generate two in-phase signals even when the main-beam push-pull output and the sub-beam push-pull output cause an offset in the radial shift. By adding,
A good tracking error output with an improved radial shift characteristic is obtained. In this differential push-pull method, it is a precondition that each sub-beam is deviated from the main beam by 1/2 cycle of one track cycle.

【0045】CD−ROMおよびCD−RWを再生する
場合は、CD用受光部の各受光素子パターンA,B,
C,D,E1,E2,F1,F2を使用する。フォーカ
ス誤差検出(FES)は非点収差法を用いて行う。各受
光素子パターンA,B,C,Dの出力をそれぞれVA,
VB,VC,VDとすると、非点収差法によるフォーカ
ス誤差検出出力FESは次式で示される。 FES=(VA+VC)−(VB+VD)
When reproducing a CD-ROM and a CD-RW, the light receiving element patterns A, B, and
C, D, E1, E2, F1 and F2 are used. Focus error detection (FES) is performed using the astigmatism method. The output of each light receiving element pattern A, B, C, D is VA,
Assuming VB, VC, and VD, the focus error detection output FES by the astigmatism method is expressed by the following equation. FES = (VA + VC)-(VB + VD)

【0046】CD−ROMおよびCD−RWの再生に際
してトラッキング誤差検出(RES)は3ビーム法を用
いて行う。この3ビーム法はCD(コンパクトディス
ク)のトラッキング検出法として広く用いられている。
各サブビームはメイントラックに対してそれぞれトラッ
クピッチの1/4ピッチ分ずつずれて配置される。各受
光素子パターンE1,E2,F1,F2の出力をそれぞ
れVE1,VE2,VF1,VF2とすると、3ビーム
法によるトラッキング誤差検出出力(RES)は次式で
示される。 FES=(VE1+VE2)−(VF1+VF2)
Tracking error detection (RES) at the time of reproducing the CD-ROM and the CD-RW is performed by using the three-beam method. The three-beam method is widely used as a CD (compact disc) tracking detection method.
The sub-beams are arranged so as to be offset from the main track by 1/4 pitch of the track pitch. Assuming that the outputs of the respective light receiving element patterns E1, E2, F1, F2 are VE1, VE2, VF1, VF2, the tracking error detection output (RES) by the 3-beam method is expressed by the following equation. FES = (VE1 + VE2)-(VF1 + VF2)

【0047】なお、3ビーム法では、第1のサブビーム
の受光素子パターン部を各サブビーム受光素子パターン
E1,E2に2分割しなくてもよく、同様に第2のサブ
ビームの受光素子パターン部を各サブビーム受光素子パ
ターンF1,F2に2分割しなくてもよい。
In the three-beam method, the light receiving element pattern portion of the first sub-beam does not have to be divided into two sub-beam light receiving element patterns E1 and E2. The sub beam light receiving element patterns F1 and F2 may not be divided into two.

【0048】コリメータレンズ15はビームスプリッタ
14側から入射した光ビーム(発散光線束)を平行光線
束に変換する。コリメータレンズ15から射出した光ビ
ーム(平行光線束)は図示を省略した立ち上げミラーに
よって光ビームの進行方向が光記録媒体(各ディスク1
a,1b)のディスク面(記録面)にほぼ直交する方向
へ変更されて、対物レンズ16に入射し、対物レンズ1
6で集束光線束となって各光記録媒体1a,1bの情報
記録面にスポット光として照射される。
The collimator lens 15 converts the light beam (divergent ray bundle) incident from the beam splitter 14 side into a parallel ray bundle. The light beam (parallel light flux) emitted from the collimator lens 15 is directed to the optical recording medium (each disc 1 by a raising mirror not shown).
a, 1b) is changed to a direction substantially orthogonal to the disc surface (recording surface) and is incident on the objective lens 16,
At 6, the light beam becomes a focused light beam, and the information recording surface of each of the optical recording media 1a and 1b is irradiated as spot light.

【0049】各ディスク(光記録媒体)1a,1bで反
射された反射光は、対物レンズ16、不図示の立ち上げ
ミラー、コリメータレンズ15の順でビームスプリッタ
14に至り、約半分の光量の光がビームスプリッタ14
を透過する。ビームスプリッタ14を透過した光は光検
出器18へ至り、光検出器18で電気信号へ変換され
る。
The reflected light reflected by each disk (optical recording medium) 1a, 1b reaches the beam splitter 14 in the order of the objective lens 16, the raising mirror (not shown), and the collimator lens 15, and the amount of light is about half. Is the beam splitter 14
Through. The light transmitted through the beam splitter 14 reaches the photodetector 18, and is converted into an electric signal by the photodetector 18.

【0050】図6は本実施の形態による他の光ピックア
ップ装置の模式構造図である。図6に示す光ピックアッ
プ装置20は、2波長半導体レーザ21から射出された
光ビームの光軸を、対物レンズ26から光検出器28に
至る反射光の光軸に直交する方向に対して所定の角度傾
けることで、光ピックアップ装置20の幅方向(反射光
側の光学系の光軸に直交する方向)の寸法を小さくし
て、光ピックアップ装置20のさらなる小型化を図った
ものである。
FIG. 6 is a schematic structural diagram of another optical pickup device according to the present embodiment. The optical pickup device 20 shown in FIG. 6 has a predetermined optical axis of the light beam emitted from the two-wavelength semiconductor laser 21 in a direction orthogonal to the optical axis of the reflected light from the objective lens 26 to the photodetector 28. By tilting the angle, the size of the optical pickup device 20 in the width direction (direction orthogonal to the optical axis of the optical system on the reflected light side) is reduced, and the optical pickup device 20 is further downsized.

【0051】この光ピックアップ装置20の構成および
作用は図1に示した光ピックアップ装置10と基本的に
同じである。なお図6では、2波長半導体レーザ21か
ら射出されたレーザ光が位相差板22で反射してレーザ
21に戻ることを防止するために位相差板22を傾けて
配置した例を示している。符号21aはレーザ光が射出
するレーザ窓である。符号LAは第1の発光点21dと
第2の発光点21eとの間隔である。符号LBは各受光
部の間隔である。
The structure and operation of the optical pickup device 20 are basically the same as those of the optical pickup device 10 shown in FIG. Note that FIG. 6 shows an example in which the phase difference plate 22 is tilted to prevent the laser light emitted from the two-wavelength semiconductor laser 21 from being reflected by the phase difference plate 22 and returning to the laser 21. Reference numeral 21a is a laser window through which laser light is emitted. Reference numeral LA is the interval between the first light emitting point 21d and the second light emitting point 21e. Reference numeral LB is an interval between the respective light receiving units.

【0052】この光ピックアップ装置20では、ビーム
スプリッタ24として平行平板形状の基材を用いてい
る。ビームスプリッタ24の一方の面(2波長半導体レ
ーザ21側の面)24aにはハーフミラー膜が形成され
ている。また、ビームスプリッタ板24の他方の面(光
検出器28側の面)24bには有害光反射防止膜が形成
されている。
In this optical pickup device 20, a parallel plate-shaped base material is used as the beam splitter 24. A half mirror film is formed on one surface (the surface on the side of the two-wavelength semiconductor laser 21) 24a of the beam splitter 24. Further, a harmful light antireflection film is formed on the other surface (surface on the photodetector 28 side) 24b of the beam splitter plate 24.

【0053】2波長半導体レーザ21から射出された光
ビームは、位相差板22、回折格子23a,23bを介
してビームスプリッタ24の一方の面24aに入射し、
一部がビームスプリッタ24で反射する。ビームスプリ
ッタ板24で反射した光ビームは、コリメータレンズ2
5で平行光線束に変換され、立ち上げミラー(不図示)
によって紙面垂直方向に折り曲げられ、対物レンズ(2
重焦点回折型対物レンズ)26で集束されて不図示の光
記録媒体の情報記録面に光スポットとして照射される。
The light beam emitted from the two-wavelength semiconductor laser 21 is incident on one surface 24a of the beam splitter 24 through the phase difference plate 22 and the diffraction gratings 23a and 23b.
A part is reflected by the beam splitter 24. The light beam reflected by the beam splitter plate 24 is reflected by the collimator lens 2
It is converted into a parallel ray bundle by 5 and a rising mirror (not shown)
It is bent by the objective lens (2
It is focused by a double-focus diffractive objective lens) 26 and is irradiated as an optical spot on an information recording surface of an optical recording medium (not shown).

【0054】不図示の光記録媒体で反射された反射光ビ
ームは、対物レンズ26、立ち上げミラー(不図示)、
コリメータレンズ25を経由してビームスプリッタ24
に至り、一部がビームスプリッタ24を透過する。ビー
ムスプリッタ24を透過した反射光ビームは、光検出器
28の各受光部28a,28bに入射し、各受光部28
a,28bによって反射光ビーム強度が検出される。
The reflected light beam reflected by the optical recording medium (not shown), the objective lens 26, the raising mirror (not shown),
Beam splitter 24 via collimator lens 25
And part of the light passes through the beam splitter 24. The reflected light beam that has passed through the beam splitter 24 is incident on the light receiving portions 28a and 28b of the photodetector 28, and
The reflected light beam intensity is detected by a and 28b.

【0055】図1および図6に示した光ピックアップ装
置10,20は、不図示の光学ベース(ハウジング:筺
体)に、光源である2波長半導体レーザ11,21と、
位相差板12,22と、回折格子13a,13b,23
a,23bと、ビームスプリッタ14,24と、コリメ
ータレンズ15,25と、図示を省略した立ち上げミラ
ーと、対物レンズ16,26と、光検出器取付板17,
27に取り付けられた光検出器18,28とを取付けて
製造される。
The optical pickup devices 10 and 20 shown in FIG. 1 and FIG. 6 have a two-wavelength semiconductor lasers 11 and 21 as a light source on an optical base (housing: housing) (not shown).
Retardation plates 12, 22 and diffraction gratings 13a, 13b, 23
a, 23b, beam splitters 14, 24, collimator lenses 15, 25, a rising mirror (not shown), objective lenses 16, 26, photodetector mounting plate 17,
It is manufactured by attaching the photodetectors 18 and 28 attached to 27.

【0056】図7は光検出器の取付位置の調整方法の一
例を示す斜視図、図8は光検出器の取付部の構造の一例
を示す図であり、図8(a)は平面図、図8(b)は側
面図、図8(c)は光検出器取付板に対する光検出器の
取付構造を示す図、図9は本実施の形態による光検出器
取付位置調整装置のブロック構成図である。
FIG. 7 is a perspective view showing an example of a method for adjusting the mounting position of the photodetector, FIG. 8 is a view showing an example of the structure of the mounting portion of the photodetector, and FIG. 8A is a plan view. 8B is a side view, FIG. 8C is a diagram showing a mounting structure of the photodetector on the photodetector mounting plate, and FIG. 9 is a block configuration diagram of the photodetector mounting position adjusting device according to the present embodiment. Is.

【0057】図8(c)に示すように、光検出器18が
実装された基板(COB基板)41にフレキシブル配線
板(FPC)42を接続した光検出器組立が光検出器取
付板17に取り付けられている。光検出器18の各端子
(不図示)はCOB基板41の各端子(不図示)に電気
的にそれぞれ接続されている。そして、COB基板41
の各端子(不図示)とフレキシブル配線板42に設けら
れた各端子(不図示)とが電気的にそれぞれ接続されて
いる。これにより、光検出器18の各受光素子パターン
部の光検出出力信号がフレキシブル配線板42を介して
外部に取り出される。
As shown in FIG. 8C, the photodetector assembly in which the flexible wiring board (FPC) 42 is connected to the substrate (COB substrate) 41 on which the photodetector 18 is mounted is attached to the photodetector mounting plate 17. It is installed. Each terminal (not shown) of the photodetector 18 is electrically connected to each terminal (not shown) of the COB substrate 41. Then, the COB substrate 41
Of each terminal (not shown) and each terminal (not shown) provided on the flexible wiring board 42 are electrically connected. As a result, the photodetection output signal of each light receiving element pattern portion of the photodetector 18 is extracted to the outside via the flexible wiring board 42.

【0058】図8(b)に示すように、光検出器取付板
17には少なくとも2箇所に孔17a,17bが設けら
れている。本実施の形態では、第1の孔17aを各受光
部18a,18bの中心位置(設計上の中心位置)に対
応する位置に形成し、第2の孔17bを光検出器取付板
17の隅部に形成している。なお、各孔17a,17b
は光検出器取付板17を貫通するいわゆる透孔ではな
く、穴状の溝であってもよい。さらに、孔の代替として
凸部を設けるようにしてもよい。また、孔または凸部を
1箇所に設け、光検出器取付板17の側辺部に例えばU
字状やV字状の切欠部を設けるようにしてもよい。な
お、本実施の形態では、第1の孔17aを各受光部18
a,18bの中心位置に設けたが、必ずしも各受光部1
8a,18bの中心位置に設ける必要はない。孔,溝,
切欠部等の代わりに切り起こし部を設けるようにしても
よい。
As shown in FIG. 8B, the photodetector mounting plate 17 is provided with holes 17a and 17b at at least two positions. In the present embodiment, the first hole 17a is formed at a position corresponding to the center position (designed center position) of each of the light receiving portions 18a and 18b, and the second hole 17b is formed at the corner of the photodetector mounting plate 17. Formed on the part. In addition, each hole 17a, 17b
May be a hole-shaped groove instead of a so-called through hole penetrating the photodetector mounting plate 17. Further, a convex portion may be provided instead of the hole. Further, a hole or a convex portion is provided at one place, and for example, U is provided on the side of the photodetector mounting plate 17.
You may make it provide a V-shaped notch part. In addition, in the present embodiment, the first hole 17a is formed in each light receiving portion 18a.
Although it is provided at the center position of a and 18b, it is not always necessary for each light receiving unit 1
It is not necessary to provide it in the central position of 8a, 18b. Hole, groove,
A cut-and-raised portion may be provided instead of the cutout portion or the like.

【0059】図8(a)に示すように、光検出器18を
装着した光検出器取付板17の左右両端側を光学ベース
(ハウジング:筺体)の各取付部19L,19Rの側端
面に当接させた状態で、光検出器取付板17の位置を調
整することで光検出器18の取付位置を調整する。そし
て、取付位置の調整が完了した後に、本実施の形態で
は、光検出器取付板17の左右の側端面と各取付部19
L,19Rの側端面と各当接部に接着剤を塗布して光検
出器取付板17を固定する。
As shown in FIG. 8A, the left and right ends of the photodetector mounting plate 17 on which the photodetector 18 is mounted are brought into contact with the side end surfaces of the mounting portions 19L and 19R of the optical base (housing: housing). In the contact state, the mounting position of the photodetector 18 is adjusted by adjusting the position of the photodetector mounting plate 17. Then, after the adjustment of the mounting position is completed, in the present embodiment, the left and right side end surfaces of the photodetector mounting plate 17 and the respective mounting portions 19 are mounted.
The photodetector mounting plate 17 is fixed by applying an adhesive to the side end surfaces of L and 19R and each contact portion.

【0060】図7に示すように、光検出器18の取付位
置の調整は、光検出器取付板17に形成された各孔17
a,17bに係合する各係合ピン31,31を有する位
置調整治具32を用いて行う。具体的には、各係合ピン
31,31の先端を各孔17a,17bに挿入し、各係
合ピン31,31を介して光検出器取付板17を各取付
部19L,19Rの側端面に当接させた状態で、位置調
整治具32をX方向(図示の左右方向)、Y方向(図示
の上下方向)に移動させ、さらに、位置調整治具32を
θ方向(光検出器を回転させる方向)に回転させること
で、光検出器18の取付位置を調整する。
As shown in FIG. 7, the mounting position of the photodetector 18 is adjusted by adjusting the holes 17 formed in the photodetector mounting plate 17.
This is performed by using the position adjusting jig 32 having the engaging pins 31, 31 that engage with a and 17b. Specifically, the tip ends of the engagement pins 31, 31 are inserted into the holes 17a, 17b, and the photodetector attachment plate 17 is attached to the side end surfaces of the attachment portions 19L, 19R via the engagement pins 31, 31. Position adjustment jig 32 is moved in the X direction (left and right direction in the drawing) and Y direction (up and down direction in the drawing), and the position adjustment jig 32 is further moved in the θ direction (light detector The mounting position of the photodetector 18 is adjusted by rotating the photodetector 18 in the rotating direction.

【0061】図9に示すように光検出器取付位置調整装
置30は、光検出器取付板17との係合部となる各係合
ピン31,31を所定の位置に備えた取付位置調整治具
32と、この取付位置調整治具32の移動・回転を行う
取付位置調整機構33と、取付位置調整制御装置39と
を有している。
As shown in FIG. 9, the photodetector mounting position adjusting device 30 has a mounting position adjusting jig provided with respective engaging pins 31, 31 which are engaging parts with the photodetector mounting plate 17 at predetermined positions. It has a tool 32, a mounting position adjusting mechanism 33 for moving and rotating the mounting position adjusting jig 32, and a mounting position adjusting control device 39.

【0062】取付位置調整機構33は、取付位置調整治
具32を回転駆動させる回転駆動機構34と、この回転
駆動機構34が取り付けられた3軸移動テーブル35
と、3軸移動テーブル35を水平方向(左右方向:X方
向)へ移動させる水平方向駆動機構36と、3軸移動テ
ーブル35を垂直方向(上下方向:Y方向)へ駆動する
垂直方向駆動機構37と、3軸移動テーブル35を前後
方向(Z方向)へ移動させる前後方向駆動機構38とを
備える。3軸移動テーブル35を前方向に移動させるこ
とで、取付位置調整治具32の先端側に取り付けた各係
合ピン31,31を光検出器取付板17の光検出器18
の取付位置および向きを調整するための機構である各孔
17a,17bに係合させることができる。また、3軸
移動テーブル35を後方向に移動させることで、光検出
器取付板17との係合を解除することができる。
The mounting position adjusting mechanism 33 includes a rotation driving mechanism 34 for rotating the mounting position adjusting jig 32, and a triaxial moving table 35 to which the rotation driving mechanism 34 is mounted.
And a horizontal drive mechanism 36 for moving the triaxial moving table 35 in the horizontal direction (horizontal direction: X direction) and a vertical driving mechanism 37 for driving the triaxial moving table 35 in the vertical direction (vertical direction: Y direction). And a longitudinal drive mechanism 38 for moving the triaxial movement table 35 in the longitudinal direction (Z direction). By moving the three-axis moving table 35 in the forward direction, the engaging pins 31, 31 attached to the tip end side of the attachment position adjusting jig 32 are attached to the photodetector 18 of the photodetector attaching plate 17.
Can be engaged with the holes 17a and 17b, which are a mechanism for adjusting the mounting position and direction of the. Further, by moving the triaxial moving table 35 backward, the engagement with the photodetector mounting plate 17 can be released.

【0063】回転駆動機構34は、ステッピングモータ
と減速ギア機構(共に不図示)等を備える。この回転駆
動機構34は、ステッピングモータを数ステップ乃至数
10ステップ駆動することで、取付位置調整治具32を
1度回転させる。
The rotary drive mechanism 34 includes a stepping motor and a reduction gear mechanism (both not shown). The rotation driving mechanism 34 drives the stepping motor several steps to several tens steps to rotate the attachment position adjusting jig 32 once.

【0064】取付位置調整制御装置39は、光検出器1
8の各受光素子パターン部の各検出出力に基づいて各戻
り光に対する光検出器18の取付位置のずれ及び光検出
器18の取付方向のずれ(傾き)を求め、求めたずれ方
向やずれ量に基づいて各駆動機構34,36,37,3
8を介して位置調整治具32の位置および向き(回転方
向の向き)を調整することで、光検出器18の各受光部
18a,18bの略中心位置に各系統の戻り光の光スポ
ットがくるように自動調整する。
The mounting position adjustment control device 39 is used for the photodetector 1.
8, the deviation of the mounting position of the photodetector 18 and the deviation (tilt) of the mounting direction of the photodetector 18 with respect to each return light are obtained based on the respective detection outputs of the light receiving element pattern portions of 8, and the obtained deviation direction and deviation amount Based on each drive mechanism 34, 36, 37, 3
By adjusting the position and the direction (direction of the rotation direction) of the position adjusting jig 32 via 8, the light spot of the return light of each system is located at the substantially central position of each of the light receiving portions 18a and 18b of the photodetector 18. Automatically adjust to fit.

【0065】次に、光検出器18の取付位置のずれ及び
光検出器18の取付方向のずれ(傾き)を求める方法に
ついて説明する。図10は各戻り光の光ビームスポット
に対する光検出器の取付傾き(取付位置の回転方向の位
置ずれ)を検出する方法の一例を示す説明図である。光
検出器18の光軸に対する回転方向の位置ずれの検出に
は、各メインビーム受光素子パターン部18a1,18
b1を用いて行う。
Next, a method for obtaining the displacement of the mounting position of the photodetector 18 and the displacement (tilt) of the mounting direction of the photodetector 18 will be described. FIG. 10 is an explanatory diagram showing an example of a method for detecting the mounting inclination (positional deviation of the mounting position in the rotation direction) of the photodetector with respect to the light beam spot of each return light. To detect the positional deviation of the photodetector 18 in the rotational direction with respect to the optical axis, the main beam light receiving element pattern portions 18a1 and 18a
It is performed using b1.

【0066】まず、いずれか一方のメインビーム受光素
子パターン部の4つのメインビーム受光素子パターン
(ここではDVD用受光部18bのメインビーム受光素
子パターン部18b1の4つのメインビーム受光素子パ
ターンa,b,c,d)の光出力Ia,Ib,Ic,I
dの光出力バランスを検出して、DVD用戻り光の光ビ
ームスポットとメインビーム受光素子パターン部18b
1の中心位置とのずれを求める。
First, the four main beam light receiving element patterns of one of the main beam light receiving element pattern portions (here, the four main beam light receiving element patterns a and b of the main beam light receiving element pattern portion 18b1 of the DVD light receiving portion 18b). , C, d) optical outputs Ia, Ib, Ic, I
By detecting the light output balance of d, the light beam spot of the return light for DVD and the main beam light receiving element pattern portion 18b
The deviation from the center position of 1 is calculated.

【0067】具体的には、4分割されたメインビーム受
光素子パターンa,b,c,dの中の上側の2つのメイ
ンビーム受光素子パターンa,bの光出力の和(Ia+
Ib)と下側2つのメインビーム受光素子パターンc,
dの光出力の和(Ic+Id)との差{(Ia+Ib)
−(Ic+Id)}を求める。求めた差{(Ia+I
b)−(Ic+Id)}の極性および値から上下方向
(Y方向)のずれの方向およびずれ量を知ることができ
る。上記の差を求める代わりに、上側の2つのメインビ
ーム受光素子パターンa,bの光出力の和(Ia+I
b)と下側2つのメインビーム受光素子パターンc,d
の光出力の和(Ic+Id)との比を求めるようにして
もよい。比を求めた場合は、求めた比が1以上であるか
1以下であるかに基づいてずれの方向を知ることがで
き、求めた比の値に基づいてずれ量を知ることができ
る。
Specifically, the sum (Ia +) of the optical outputs of the upper two main beam light receiving element patterns a, b among the four main beam light receiving element patterns a, b, c, d.
Ib) and the two main beam receiving element patterns c on the lower side,
Difference between the optical output of d (Ic + Id) and {(Ia + Ib)
− (Ic + Id)} is calculated. Calculated difference {(Ia + I
The direction and amount of deviation in the vertical direction (Y direction) can be known from the polarity and value of b)-(Ic + Id)}. Instead of obtaining the above difference, the sum (Ia + I) of the optical outputs of the upper two main beam receiving element patterns a and b is used.
b) and the two main beam receiving element patterns c and d on the lower side
The ratio to the sum (Ic + Id) of the optical outputs of 1 may be obtained. When the ratio is obtained, the direction of the deviation can be known based on whether the obtained ratio is 1 or more or 1 or less, and the deviation amount can be known based on the value of the obtained ratio.

【0068】同様に、4分割されたメインビーム受光素
子パターンa,b,c,dの中の右側の2つのメインビ
ーム受光素子パターンb,cの光出力の和(Ib+I
c)と左側2つのメインビーム受光素子パターンa,d
の光出力の和(Ia+Id)との差{(Ib+Ic)−
(Ia+Id)}を求める。求めた差の{(Ib+I
c)−(Ia+Id)}の極性および値から左右方向
(X方向)のずれの方向およびずれ量を知ることができ
る。上記の差を求める代わりに、右側の2つのメインビ
ーム受光素子パターンa,bの光出力の和(Ib+I
c)と左側2つのメインビーム受光素子パターンc,d
の光出力の和(Ia+Id)との比を求めるようにして
もよい。比を求めた場合は、求めた比が1以上であるか
1以下であるかに基づいてずれの方向を知ることがで
き、求めた比の値に基づいてずれ量を知ることができ
る。
Similarly, the sum (Ib + I) of the optical outputs of the two main beam receiving element patterns b, c on the right side of the main beam receiving element patterns a, b, c, d divided into four.
c) and two main beam light receiving element patterns a and d on the left side
Difference ((Ib + Ic) − from the sum of optical outputs of (Ia + Id))
(Ia + Id)} is calculated. The calculated difference of {(Ib + I
The direction and amount of deviation in the left-right direction (X direction) can be known from the polarity and value of c)-(Ia + Id)}. Instead of obtaining the above difference, the sum (Ib + I) of the optical outputs of the two right side main beam receiving element patterns a and b is used.
c) and two main beam light receiving element patterns c and d on the left side
The ratio with the sum (Ia + Id) of the optical outputs of 1 may be obtained. When the ratio is obtained, the direction of the deviation can be known based on whether the obtained ratio is 1 or more or 1 or less, and the deviation amount can be known based on the value of the obtained ratio.

【0069】DVD用戻り光の光ビームスポットの結像
位置とメインビーム受光素子パターン部18b1の中心
位置とのずれが求まると、そのずれを補正するように光
検出器18の取付位置を左右方向(X方向)および上下
方向(Y方向)に調整する。これにより、図10におい
て仮想線で示したように、メインビーム受光素子パター
ン部18b1の中心位置からずれていたDVD用戻り光
の光ビームスポットは、実線で示すように光ビームスポ
ットの中心が4分割された各メインビーム受光素子パタ
ーンa,b,c,dの略中心位置にくる。
When the deviation between the image forming position of the light beam spot of the return light for DVD and the central position of the main beam light receiving element pattern portion 18b1 is found, the mounting position of the photodetector 18 is set in the left-right direction so as to correct the deviation. (X direction) and vertical direction (Y direction). As a result, as shown by the phantom line in FIG. 10, the optical beam spot of the return light for DVD which is displaced from the center position of the main beam light receiving element pattern portion 18b1 has a center of 4 as shown by the solid line. Each of the divided main beam light receiving element patterns a, b, c, d comes to a substantially central position.

【0070】次に、上記の光検出器18の取付位置の左
右方向(X方向)および上下方向(Y方向)の調整がな
された状態で、CD用受光部18aのメインビーム受光
素子パターン部18a1の4つのメインビーム受光素子
パターンA,B,C,Dの光出力のバランスを検出す
る。
Next, with the mounting position of the photodetector 18 adjusted in the horizontal direction (X direction) and the vertical direction (Y direction), the main beam light receiving element pattern portion 18a1 of the CD light receiving portion 18a is adjusted. Of the four main beam light receiving element patterns A, B, C and D are detected.

【0071】図10に示すように、CD用戻り光の光ビ
ームスポットが受光素子パターン部18a1の上方側に
ずれている場合は、上側の2つのメインビーム受光素子
パターンA,Bの光出力の和と下側の2つのメインビー
ム受光素子パターンC,Dの光出力の和との差{(IA
+IB)−(IC+ID)}は正の値となる。これによ
り、光検出器18の取付向きが右回転方向(時計回り方
向)にずれていることが分かる。
As shown in FIG. 10, when the light beam spot of the return light for CD is deviated to the upper side of the light receiving element pattern portion 18a1, the light output of the upper two main beam light receiving element patterns A and B is obtained. Difference between the sum and the sum of the optical outputs of the two main beam receiving element patterns C and D on the lower side {(IA
+ IB)-(IC + ID)} is a positive value. From this, it can be seen that the mounting direction of the photodetector 18 is deviated in the clockwise direction (clockwise direction).

【0072】ここで、光検出器18の取付角度のずれ量
と前記差{(IA+IB)−(IC+ID)}の値との
関係を予め求め、その関係を表わす式を登録しておくこ
とで、前記差{(IA+IB)−(IC+ID)}から
光検出器18の取付角度のずれ量(補正すべき角度)を
計算によって求めることができる。または、光検出器1
8の取付角度のずれ量と前記差{(IA+IB)−(I
C+ID)}の値との関係をテーブルとして例えば不揮
発性半導体メモリ等に格納しておけば、当該テーブルを
参照することで、前記差{(IA+IB)−(IC+I
D)}から光検出器18の取付角度のずれ量(補正すべ
き角度)を求めることができる。
Here, the relationship between the deviation amount of the mounting angle of the photodetector 18 and the value of the difference {(IA + IB)-(IC + ID)} is obtained in advance, and the expression expressing the relationship is registered. From the difference {(IA + IB)-(IC + ID)}, the shift amount of the mounting angle of the photodetector 18 (angle to be corrected) can be calculated. Or photo detector 1
8 and the difference {(IA + IB)-(I
If the relationship with the value of (C + ID)} is stored as a table in, for example, a nonvolatile semiconductor memory or the like, the difference {(IA + IB)-(IC + I
D)}, the amount of deviation of the mounting angle of the photodetector 18 (angle to be corrected) can be obtained.

【0073】なお、前記差{(IA+IB)−(IC+
ID)}の代わりに、上側の2つのメインビーム受光素
子パターンA,Bの光出力の和(IA+IB)と下側の
2つのメインビーム受光素子パターンC,Dの光出力の
和(IC+ID)との比{(IA+IB)/(IC+I
D)}に基づいて、光検出器18の取付向きずれ方向お
よびずれ量(ずれ角度)を求めるようにしてもよい。
The difference {(IA + IB)-(IC +
ID)}, instead of the sum of the optical outputs of the two main beam receiving element patterns A and B on the upper side (IA + IB) and the sum of the optical outputs of the two main beam receiving element patterns C and D on the lower side (IC + ID). Ratio of {(IA + IB) / (IC + I
D)}, the mounting direction deviation direction and deviation amount (deviation angle) of the photodetector 18 may be obtained.

【0074】光検出器18の取付向きのずれ方向および
ずれ量(ずれ角度)が求まると、そのずれ量を補正する
ように、光検出器18の取付向きを調整する。その後
に、いずれか一方のメインビーム受光素子パターン部の
4つのメインビーム受光素子パターン(ここではDVD
用受光部18bのメインビーム受光素子パターン部18
b1の4つのメインビーム受光素子パターンa,b,
c,d)の光出力Ia,Ib,Ic,Idのバランスを
検出し、DVD用戻り光の光ビームスポットがメインビ
ーム受光素子パターン部18b1の中心位置にくるよう
に、光検出器18の位置を左右方向(X方向)および上
下方向(Y方向)に調整する。これにより、DVD用戻
り光の光ビームスポットがメインビーム受光素子パター
ン部18b1の略中心位置にくるように、かつ、CD用
戻り光の光ビームスポットがメインビーム受光素子パタ
ーン部18a1の略中心位置にくるように調整される。
When the deviation direction and the deviation amount (deviation angle) of the mounting direction of the photodetector 18 are obtained, the mounting direction of the photodetector 18 is adjusted so as to correct the deviation amount. After that, the four main beam light receiving element patterns (here, DVD
Main beam light receiving element pattern portion 18 of the light receiving portion 18b for
4 main beam light receiving element patterns a, b, b1
The position of the photodetector 18 is detected so that the balance of the optical outputs Ia, Ib, Ic, and Id of (c, d) is detected, and the optical beam spot of the return light for DVD comes to the center position of the main beam light receiving element pattern portion 18b1. Is adjusted in the horizontal direction (X direction) and the vertical direction (Y direction). As a result, the light beam spot of the return light for DVD is located substantially at the center position of the main beam light receiving element pattern portion 18b1, and the light beam spot of the return light for CD is located at the substantially center position of the main beam light receiving element pattern portion 18a1. Is adjusted to come to.

【0075】なお、上記の光検出器の取付位置の調整
は、図9に示した光検出器取付位置調整装置30を用い
て、光ピックアップ装置10,20を不図示の光ピック
アップ装置装着治具に装着して行う。この際、試験用光
ディスクを用いて戻り光を発生させる。この試験用光デ
ィスクは、CD用の読取り光をCD用の情報記録面に対
応した位置で反射させてCD用の戻り光を発生させ、D
VD用の読取り光をDVD用の情報記録面に対応した位
置で反射させてDVD用の戻り光を発生させる。
The adjustment of the mounting position of the photodetector is performed by using the photodetector mounting position adjusting device 30 shown in FIG. 9 to attach the optical pickup devices 10 and 20 to an optical pickup device mounting jig (not shown). Attach it to At this time, return light is generated using a test optical disk. In this test optical disc, the reading light for CD is reflected at a position corresponding to the information recording surface for CD, and the returning light for CD is generated.
The reading light for VD is reflected at a position corresponding to the information recording surface for DVD to generate return light for DVD.

【0076】なお、図9に示した光検出器取付位置調整
装置30を用いずに、手動等で光検出器18の取付位置
の調整を行うようにしてもよい。この場合は、画像表示
装置の画面上に、各メインビーム受光素子パターン部1
8a1,18b1の形状を表示するとともに、各メイン
ビーム受光素子パターン部18a1,18b1の各光検
出出力Ia〜Id,IA〜IDに基づいて求めた各戻り
光の光ビームスポットの位置を表示させ、さらに、光検
出器18または光検出器取付板17を移動させる方向お
よび移動量ならびに回転方向および回転角度を表示させ
る。移動させる方向は画面上に矢印等で表示し、その矢
印の長さで移動量を表現するようにしてもよい。回転方
向も同様に矢印で表示し、その矢印長さや太さ等で回転
させる角度を表現するようにしてもよい。
It should be noted that the mounting position of the photodetector 18 may be manually adjusted without using the photodetector mounting position adjusting device 30 shown in FIG. In this case, each main beam light receiving element pattern portion 1 is displayed on the screen of the image display device.
While displaying the shape of 8a1, 18b1, the position of the light beam spot of each return light obtained based on each photodetection output Ia ~ Id, IA ~ ID of each main beam light receiving element pattern portion 18a1, 18b1 is displayed, Further, the direction and amount of movement of the photodetector 18 or the photodetector mounting plate 17, and the rotation direction and rotation angle are displayed. The moving direction may be displayed on the screen with an arrow or the like, and the length of the arrow may express the moving amount. Similarly, the rotation direction may be indicated by an arrow, and the angle of rotation may be expressed by the length or thickness of the arrow.

【0077】図10では、DVD用戻り光の光ビームス
ポットがDVD用受光部18bのメインビーム受光素子
パターン18b1の中心にくるように光検出器18の取
付位置を調整した後に、CD用受光部18aのメインビ
ーム受光素子パターン18a1の光出力バランスを検出
し、検出された光出力バランスに基づいて光検出器18
の取付傾きを検出してその傾きを補正する方法を示した
が、CD用戻り光の光ビームスポットがCD用受光部1
8aのメインビーム受光素子パターン18a1の中心に
くるように光検出器18の取付位置を調整した後に、D
VD用受光部18bのメインビーム受光素子パターン1
8b1の光出力バランスを検出し、検出された光出力バ
ランスに基づいて光検出器18の取付傾きを検出してそ
の傾きを補正するようにしてもよい。
In FIG. 10, after the mounting position of the photodetector 18 is adjusted so that the light beam spot of the return light for DVD is at the center of the main beam light receiving element pattern 18b1 of the light receiving portion 18b for DVD, the light receiving portion for CD is adjusted. The light output balance of the main beam light receiving element pattern 18a1 of 18a is detected, and the photodetector 18 is detected based on the detected light output balance.
The method for detecting the mounting tilt of the CD and correcting the tilt has been described, but the light beam spot of the return light for the CD is the light receiving portion 1 for the CD.
After adjusting the mounting position of the photodetector 18 so as to come to the center of the main beam light receiving element pattern 18a1 of 8a, D
Main beam light receiving element pattern 1 of VD light receiving portion 18b
The light output balance of 8b1 may be detected, the mounting inclination of the photodetector 18 may be detected based on the detected light output balance, and the inclination may be corrected.

【0078】図11は各戻り光の光ビームスポットに対
する光検出器の取付傾き(取付位置の回転方向の位置ず
れ)を検出する方法の他の例を示す説明図である。ま
ず、図11(a)に示すように、DVD用戻り光の光ビ
ームスポットがDVD用メインビーム受光素子パターン
部18b1の略中央にくるように光検出器18の位置を
調整する。なお、ここでは4分割されたメインビーム受
光素子パターンa,b,c,dの中の上側の2つのメイ
ンビーム受光素子パターンa,bの光出力の和(Ia+
Ib)と下側2つのメインビーム受光素子パターンc,
dの光出力の和(Ic+Id)との差{(Ia+Ib)
−(Ic+Id)}がゼロになるように上下方向(Y方
向)の取付位置が調整されれば、光ビームスポットの位
置が左右方向(X方向)にずれていてもよい。
FIG. 11 is an explanatory view showing another example of the method for detecting the mounting inclination (positional deviation of the mounting position in the rotational direction) of the photodetector with respect to the light beam spot of each return light. First, as shown in FIG. 11A, the position of the photodetector 18 is adjusted so that the light beam spot of the return light for DVD is substantially in the center of the main beam light receiving element pattern portion 18b1 for DVD. In addition, here, the sum (Ia +) of the optical outputs of the upper two main beam light receiving element patterns a, b among the four main beam light receiving element patterns a, b, c, d.
Ib) and the two main beam receiving element patterns c on the lower side,
Difference between the optical output of d (Ic + Id) and {(Ia + Ib)
If the mounting position in the vertical direction (Y direction) is adjusted so that − (Ic + Id)} becomes zero, the position of the light beam spot may be shifted in the horizontal direction (X direction).

【0079】次に、上記差{(Ia+Ib)−(Ic+
Id)}がゼロになるように上下方向(Y方向)の取付
位置が調整された状態で、CD用メインビーム受光素子
パターン部18a1の各光検出出力IA〜IDに基づい
て、CD用戻り光の光ビームスポットの位置を認識す
る。ここでは、CD用メインビーム受光素子パターン部
18a1の中心位置に対してCD用戻り光の光ビームス
ポットが上方向にずれているか下方向にずれているかを
検出するだけでよい。
Next, the difference {(Ia + Ib)-(Ic +
Id)} is adjusted to 0 in the vertical direction (Y direction), and the CD return light is detected based on the light detection outputs IA to ID of the CD main beam light receiving element pattern portion 18a1. Recognize the position of the light beam spot of. Here, it is only necessary to detect whether the light beam spot of the CD return light is shifted upward or downward with respect to the center position of the CD main beam light receiving element pattern portion 18a1.

【0080】次に、検出したずれ方向を補正する方向へ
光検出器18の取付位置を上または下方向(Y方向)へ
移動させる。ここでは、4分割されたメインビーム受光
素子パターンA,B,C,Dの中の上側の2つのメイン
ビーム受光素子パターンA,Bの光出力の和(IA+I
B)と下側2つのメインビーム受光素子パターンC,D
の光出力の和(IC+ID)との差{(IA+IB)−
(IC+ID)}がゼロになるまで、光検出器18の取
付位置をY方向へ移動する。そして、上記差{(IA+
IB)−(IC+ID)}がゼロとなるまでのY方向の
移動距離ΔYを求める。
Next, the mounting position of the photodetector 18 is moved upward or downward (Y direction) in the direction in which the detected deviation direction is corrected. Here, the sum of the optical outputs of the upper two main beam light receiving element patterns A and B among the four main beam light receiving element patterns A, B, C and D (IA + I)
B) and two main beam receiving element patterns C and D on the lower side
Difference of the optical output of (IC + ID) {(IA + IB)-
The mounting position of the photodetector 18 is moved in the Y direction until (IC + ID)} becomes zero. Then, the difference {(IA +
The moving distance ΔY in the Y direction until IB) − (IC + ID)} becomes zero is obtained.

【0081】図11(b)に示すように、Y方向の移動
距離ΔYが求まれば、各受光部18a,18b間の距離
LBとY方向の移動距離ΔYとの関係から光検出器18
の取付向きの傾きθが求まる(θ=tan(ΔY/L
B))。
As shown in FIG. 11B, when the moving distance ΔY in the Y direction is obtained, the photodetector 18 is calculated from the relationship between the distance LB between the light receiving portions 18a and 18b and the moving distance ΔY in the Y direction.
The inclination θ of the mounting direction of is determined (θ = tan (ΔY / L
B)).

【0082】そこで、求めた傾き角度θだけ光検出器1
8の取付向きを補正した後に、光検出器18の取付位置
を左右方向(X方向)および上下方向(Y方向)に調整
することで、各戻り光のビームスポットを各受光部18
a,18bの略中心位置にくるように調整することがで
きる。
Therefore, the photodetector 1 is moved by the obtained tilt angle θ.
After the mounting direction of 8 is corrected, the mounting position of the photodetector 18 is adjusted in the left-right direction (X direction) and the vertical direction (Y direction), so that the beam spot of each return light is received by each light receiving unit 18.
It can be adjusted so as to come to the approximate center position of a and 18b.

【0083】なお、求めた傾き角度θだけ光検出器18
の取付向きを補正した後に、前記Y方向の移動量ΔYの
1/2だけ光検出器18の取付位置を上下方向(Y方
向)に戻し、その状態でいずれか一方の受光部18a,
18bの光検出出力バランスを検出して光検出器18の
取付位置を左右方向(X方向)および上下方向(Y方
向)に調整するようにしてもよい。
It should be noted that the photodetector 18 is moved by the determined tilt angle θ.
After the mounting direction is corrected, the mounting position of the photodetector 18 is returned in the vertical direction (Y direction) by 1/2 of the movement amount ΔY in the Y direction, and in that state, one of the light receiving portions 18a,
It is also possible to detect the light detection output balance of 18b and adjust the mounting position of the photodetector 18 in the horizontal direction (X direction) and the vertical direction (Y direction).

【0084】図12は各戻り光の光ビームスポットに対
する光検出器の取付傾き(取付位置の回転方向の位置ず
れ)を検出する方法のさらに他の例を示す説明図であ
る。図12に示す第3の取付傾き検出方法は、DVD用
のメインビーム受光素子パターン部18b1の各メイン
ビーム受光素子a,b,c,dの光出力バランスとCD
用のメインビーム受光素子パターン部18a1の各メイ
ンビーム受光素子A,B,C,Dの光出力バランスとを
検出して、光検出器18の取付向きのずれ方向を求める
とともに、ずれ量(ずれ角度)を推定するようにしてい
る。なお、ずれ量(ずれ角度)の推定を行わずに、光検
出器18の取付向きのずれ方向のみを検出し、そのずれ
方向を補正する方向に光検出器18の取付向きを補正す
るようにしてもよい。
FIG. 12 is an explanatory view showing still another example of the method for detecting the mounting inclination (positional deviation of the mounting position in the rotational direction) of the photodetector with respect to the light beam spot of each return light. The third mounting inclination detecting method shown in FIG. 12 is the same as the optical output balance of the main beam receiving elements a, b, c, d of the main beam receiving element pattern portion 18b1 for DVD and the CD.
Of the main beam light receiving elements A, B, C, D of the main beam light receiving element pattern portion 18a1 for use for detecting the deviation direction of the mounting direction of the photodetector 18 and the deviation amount (deviation Angle) is estimated. It should be noted that only the deviation direction of the mounting direction of the photodetector 18 is detected without estimating the deviation amount (deviation angle), and the mounting direction of the photodetector 18 is corrected in the direction in which the deviation direction is corrected. May be.

【0085】そして、光検出器18の取付向きを補正し
た後に、例えばDVD用のメインビーム受光素子パター
ン部18b1の各メインビーム受光素子a,b,c,d
の光出力バランスを検出して、光検出器18の取付位置
を左右方向(X方向)および上下方向(Y方向)に調整
することで、各戻り光のビームスポットを各メインビー
ム受光素子パターン部18a1,18b1のそれぞれ略
中央に位置させることができる。
After correcting the mounting direction of the photodetector 18, for example, each main beam light receiving element a, b, c, d of the main beam light receiving element pattern portion 18b1 for DVD is used.
By detecting the light output balance and adjusting the mounting position of the photodetector 18 in the left-right direction (X direction) and the up-down direction (Y direction). Each of 18a1 and 18b1 can be located substantially at the center.

【0086】図10乃至図12に示したように、光検出
器18の取付向きのずれ(回転方向の位置ずれ)θを検
出し、または、取付向きのずれの方向を検出し、その取
付向きのずれ(回転方向の位置ずれ)を補正した後に、
光検出器18の取付位置を左右方向(X方向)および上
下方向(Y方向)に再度調整することで、各戻り光のビ
ームスポットを各メインビーム受光素子パターン部18
a1,18b1のそれぞれ略中央に位置させることがで
きる。これにより、光検出器18の取付位置の調整を短
時間で効率的に行うことができる。
As shown in FIGS. 10 to 12, the mounting direction deviation (positional deviation in the rotation direction) θ of the photodetector 18 is detected, or the mounting direction deviation direction is detected and the mounting direction is determined. After correcting the deviation (positional deviation in the rotation direction),
By adjusting the mounting position of the photodetector 18 again in the left-right direction (X direction) and the up-down direction (Y direction), the beam spots of the respective return lights are adjusted to the respective main beam light receiving element pattern portions 18
Each of a1 and 18b1 can be located substantially at the center. Thereby, the mounting position of the photodetector 18 can be adjusted efficiently in a short time.

【0087】また、光検出器取付板17にその取付向き
を調整するための治具に係合する孔部、溝部、凸部、切
欠部または切り起こし部等の取付向きを調整するための
機構を設けておくことで、取付向きの調整を容易に行う
ことができる。
Further, a mechanism for adjusting the mounting direction of the hole, groove, protrusion, notch or cut-and-raised part which is engaged with the jig for adjusting the mounting direction of the photodetector mounting plate 17. By providing, it is possible to easily adjust the mounting direction.

【0088】[0088]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、複
数の光源から射出され光記録媒体で反射された各々の戻
り光を個別に受光する複数の受光部パターンを同一基板
上に形成した光検出器を有する光ピックアップ装置にお
いて、光検出器の取付位置の調整を効率的に行うことが
できる。また、光検出器の取付位置の調整を自動化する
ことができる。
As described above, according to the present invention, a plurality of light receiving part patterns for individually receiving respective return lights emitted from a plurality of light sources and reflected by an optical recording medium are formed on the same substrate. In the optical pickup device having the photodetector, the mounting position of the photodetector can be efficiently adjusted. Further, the adjustment of the mounting position of the photodetector can be automated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置の模式構造図である。
FIG. 1 is a schematic structural diagram of an optical pickup device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる光源を構成する2波長半導体レーザ(レーザ
ダイオード)の概略構造を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a schematic structure of a two-wavelength semiconductor laser (laser diode) which constitutes a light source used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる対物レンズの構造図であり、図3(a)は正
面図、図3(b)は側面図である。
3A and 3B are structural views of an objective lens used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, FIG. 3A is a front view, and FIG. 3B is a side view.

【図4】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる光検出器の受光部の受光素子パターン構成を
示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a light receiving element pattern configuration of a light receiving portion of a photodetector used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる光検出器(PD−IC)の動作様式の説明図
である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of an operation mode of a photodetector (PD-IC) used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施の形態による他の光ピックアッ
プ装置の模式構造図である。
FIG. 6 is a schematic structural diagram of another optical pickup device according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる光検出器の取付位置の調整方法の一例を示す
斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing an example of a method for adjusting the mounting position of the photodetector used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施の形態による光ピックアップ装
置で用いる光検出器の取付部の構造の一例を示す図であ
り、図8(a)は平面図、図8(b)は側面図、図8
(c)は光検出器取付板に対する光検出器の取付構造を
示す図である。
8A and 8B are diagrams showing an example of the structure of the mounting portion of the photodetector used in the optical pickup device according to the embodiment of the present invention, FIG. 8A being a plan view and FIG. 8B being a side view. , Fig. 8
(C) is a figure which shows the attachment structure of the photodetector with respect to a photodetector attachment plate.

【図9】本発明の一実施の形態による光検出器取付位置
調整装置のブロック構成図である。
FIG. 9 is a block configuration diagram of a photodetector mounting position adjusting device according to an embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施の形態による光ピックアップ
装置の光検出器取付位置調整方法における各戻り光の光
ビームスポットに対する光検出器の取付傾き(取付位置
の回転方向の位置ずれ)を検出する方法の一例を示す説
明図である。
FIG. 10 Detects the mounting inclination (positional deviation of the mounting position in the rotational direction) of the photodetector with respect to the light beam spot of each return light in the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device according to the embodiment of the present invention. It is explanatory drawing which shows an example of the method of doing.

【図11】本発明の一実施の形態による光ピックアップ
装置の光検出器取付位置調整方法における各戻り光の光
ビームスポットに対する光検出器の取付傾き(取付位置
の回転方向の位置ずれ)を検出する方法の他の例を示す
説明図である。
FIG. 11 is a diagram for detecting a mounting inclination of the photodetector with respect to a light beam spot of each return light (a displacement of the mounting position in a rotation direction) in the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device according to the embodiment of the present invention. It is explanatory drawing which shows the other example of the method.

【図12】本発明の一実施の形態による光ピックアップ
装置の光検出器取付位置調整方法における各戻り光の光
ビームスポットに対する光検出器の取付傾き(取付位置
の回転方向の位置ずれ)を検出する方法のさらに他の例
を示す説明図である。
FIG. 12 Detects the mounting inclination (positional deviation of the mounting position in the rotational direction) of the photodetector with respect to the light beam spot of each return light in the method for adjusting the photodetector mounting position of the optical pickup device according to the embodiment of the present invention. It is explanatory drawing which shows the further another example of the method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a コンパクトディスク(CD) 1b デジタル・バーサタイル・ディスク(DVD) 10,20 光ピックアップ装置 11,21 2波長半導体レーザ(複数の光源) 11d,11e,21d,21e 発光点 12,22 位相差板 13a,13b,23a,23b 回折格子 14,24 ビームスプリッタ(ビームスプリッタ板) 15,25 コリメータレンズ 16,26 対物レンズ(2重焦点回折型対物レンズ) 17 光検出器取付板 17a,17b 孔(光検出器の取付向きを調整するた
めの機構) 18,28 光検出器(PD−IC) 18a,28a CD用受光部 18b,28b DVD用受光部 18a1,18b1 メインビーム受光素子パターン部 18a2,18a3,18b2,18b3 サブビーム
受光素子パターン部 41 COB基板 42 フレキシブル配線板 LA 発光点の間隔 LB 受光部の間隔 X 水平方向(左右方向) Y 垂直方向(上下方向) Z 前後方向(光検出器の光軸方向) ΔY Y方向(上下方向)の移動距離 θ 光検出器の取付向きのずれ角度および光検出器の光
軸に対する回転方向
1a Compact disc (CD) 1b Digital versatile disc (DVD) 10,20 Optical pickup device 11,21 Two-wavelength semiconductor laser (plural light sources) 11d, 11e, 21d, 21e Light emitting point 12, 22 Phase difference plate 13a, 13b, 23a, 23b Diffraction grating 14, 24 Beam splitter (beam splitter plate) 15, 25 Collimator lens 16, 26 Objective lens (double focus diffraction type objective lens) 17 Photodetector mounting plate 17a, 17b Hole (photodetector 18, 28 Photodetector (PD-IC) 18a, 28a CD light receiving portion 18b, 28b DVD light receiving portion 18a1, 18b1 Main beam light receiving element pattern portion 18a2, 18a3, 18b2 18b3 Sub-beam light receiving element pattern portion 41 COB substrate 42 Flexible wiring board LA Distance between light emitting points LB Distance between light receiving parts X Horizontal direction (horizontal direction) Y Vertical direction (vertical direction) Z Front-back direction (optical axis direction of photodetector) ΔY Y-direction (vertical direction) movement distance θ Deviation angle of mounting direction of photodetector and rotation direction of photodetector with respect to optical axis

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木ノ内 充 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 Fターム(参考) 5D117 AA02 CC07 HH01 HH10 KK01 KK14 5D119 AA38 BA01 BB01 BB04 EC45 EC47 FA08 KA04 KA42 NA06 5D789 AA38 BA01 BB01 BB04 EC45 EC47 FA08 KA04 KA42 NA06   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Mitsuru Kinouchi             1-13-1, Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo             -In DC Inc. F term (reference) 5D117 AA02 CC07 HH01 HH10 KK01                       KK14                 5D119 AA38 BA01 BB01 BB04 EC45                       EC47 FA08 KA04 KA42 NA06                 5D789 AA38 BA01 BB01 BB04 EC45                       EC47 FA08 KA04 KA42 NA06

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】波長の異なる光を射出する複数の光源と、
前記複数の光源から射出された光の光記録媒体で反射さ
れた各々の戻り光を個別に受光する複数の受光部を同一
基板上に形成した光検出器とを有する光ピックアップ装
置の前記光検出器の取付位置を調整する光検出器取付位
置調整方法であって、 前記複数の受光部の各光出力バランスを検出して前記光
検出器の回転方向の位置ずれを求め、 前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の取付
位置を補正することを特徴とする光ピックアップ装置の
光検出器取付位置調整方法。
1. A plurality of light sources that emit light having different wavelengths,
The optical detection of an optical pickup device having a photodetector having a plurality of light receiving portions for individually receiving the respective return lights of the light emitted from the plurality of light sources reflected by the optical recording medium. A method for adjusting a photodetector mounting position for adjusting the mounting position of a photodetector, wherein a positional deviation in the rotational direction of the photodetector is obtained by detecting each optical output balance of the plurality of light receiving units, and the position in the rotational direction is determined. A method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device, which comprises correcting the mounting position of the photodetector based on the shift.
【請求項2】請求項1記載の光ピックアップ装置の光検
出器取付位置調整方法において、 前記複数の光源は同一基板上に配置されていることを特
徴とする光ピックアップ装置の光検出器取付位置調整方
法。
2. A photodetector mounting position adjusting method for an optical pickup device according to claim 1, wherein the plurality of light sources are arranged on the same substrate. Adjustment method.
【請求項3】請求項1又は2に記載の光ピックアップ装
置の光検出器取付位置調整方法において、 前記複数の光源は2つであり、前記複数の受光部は2つ
であることを特徴とする光ピックアップ装置の光検出器
取付位置調整方法。
3. The method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device according to claim 1, wherein the plurality of light sources are two, and the plurality of light receiving sections are two. Method for adjusting photodetector mounting position of optical pickup device.
【請求項4】請求項3記載の光ピックアップ装置の光検
出器取付位置調整方法において、 前記受光部の一方の光出力バランスを検出して、前記戻
り光の一方の光スポットが前記一方の受光部の略中央で
受光されるように前記光検出器の取付位置を調整し、 前記戻り光の他方の光スポットを受光する他方の前記受
光部の光出力バランスを検出して前記光検出器の回転方
向の位置ずれを求め、 前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の取付
位置を補正することを特徴とする光ピックアップ装置の
光検出器取付位置調整方法。
4. The method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device according to claim 3, wherein one light output balance of the light receiving section is detected, and one light spot of the return light is received by the one light receiving section. Of the photodetector by adjusting the mounting position of the photodetector so that the light is received substantially at the center of the section, and detecting the light output balance of the other light receiving section that receives the other light spot of the return light. A method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device, which comprises obtaining a positional deviation in a rotational direction and correcting the mounting position of the photodetector based on the positional deviation in the rotational direction.
【請求項5】請求項3記載の光ピックアップ装置の光検
出器取付位置調整方法において、 前記戻り光の一方の光スポットが前記受光部の一方の略
中央で受光されるように前記光検出器の取付位置を調整
し、 前記戻り光の他方の光スポットが前記受光部の他方の略
中央で受光されるように前記光検出器の取付位置を調整
し、 先の調整位置と次の調整位置とに基づいて光検出器の回
転方向の位置ずれを求め、 前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の取付
位置を補正することを特徴とする光ピックアップ装置の
光検出器取付位置調整方法。
5. A method of adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device according to claim 3, wherein the one light spot of the return light is received substantially at the center of one of the light receiving portions. The mounting position of the photodetector is adjusted so that the other light spot of the return light is received at the substantially center of the other of the light receiving unit, and the previous adjustment position and the next adjustment position. The positional deviation of the photodetector in the rotation direction is obtained based on the above, and the mounting position of the photodetector is corrected based on the positional deviation in the rotation direction. Method.
【請求項6】請求項3記載の光ピックアップ装置の光検
出器取付位置調整方法において、 前記戻り光の一方の光スポットが前記受光部の一方で受
光でき、かつ、前記戻り光の他方の光スポットが前記受
光部の他方で受光できるように前記光検出器の取付位置
を調整し、 前記一方の受光部の光出力バランスと前記他方の受光部
の光出力バランスとを検出して前記光検出器の回転方向
の位置ずれを求め、 前記回転方向の位置ずれに基づいて前記光検出器の取付
位置を補正することを特徴とする光ピックアップ装置の
光検出器取付位置調整方法。
6. The method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device according to claim 3, wherein one light spot of the return light can receive one of the light receiving portions and the other light of the return light. The photodetection is performed by adjusting the mounting position of the photodetector so that the spot can be received by the other of the light receiving units, and detecting the light output balance of the one light receiving unit and the light output balance of the other light receiving unit. A method for adjusting a photodetector mounting position of an optical pickup device, comprising: obtaining a positional deviation in a rotational direction of a container, and correcting the mounting position of the photodetector based on the positional deviation in the rotational direction.
【請求項7】波長の異なる光を射出する複数の光源と、
前記複数の光源から射出された光の光記録媒体で反射さ
れた各々の戻り光を個別に受光する複数の受光部を同一
基板上に形成した光検出器とを有する光ピックアップ装
置の製造方法であって、 前記光検出器の取付位置を調整する光検出器取付位置調
整工程で、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光検
出器取付位置調整方法を用いることを特徴とする光ピッ
クアップ装置の製造方法。
7. A plurality of light sources that emit light of different wavelengths,
A method for manufacturing an optical pickup device, comprising: a photodetector having a plurality of light receiving portions formed on the same substrate for individually receiving respective return lights of light emitted from the plurality of light sources and reflected by an optical recording medium. A photodetector mounting position adjusting method according to any one of claims 1 to 6 is used in a photodetector mounting position adjusting step for adjusting a mounting position of the photodetector. Manufacturing method of pickup device.
【請求項8】波長の異なる光を射出する複数の光源と、
前記複数の光源から射出された光が光記録媒体で反射さ
れた各々の戻り光を個別に受光する複数の受光部を同一
基板上に形成した光検出器とを有する光ピックアップ装
置の前記光検出器の取付位置を調整する光検出器取付位
置調整装置であって、 前記光検出器が装着された光検出器取付板に係合する係
合部と、 前記係合部の位置を移動させ、且つ前記係合部の向きを
回転させることで前記光検出器の取付位置を調整する取
付位置調整機構と、 前記複数の受光部で受光された各光スポットの各光出力
バランスを検出して前記光検出器の回転方向の位置ずれ
を求め、前記回転方向の位置ずれに基づいて前記取付位
置調整機構を駆動して前記光検出器の取付位置を補正す
る取付位置調整制御装置とを備えることを特徴とする光
ピックアップ装置の光検出器取付位置調整装置。
8. A plurality of light sources for emitting light having different wavelengths,
The photodetection of an optical pickup device having a photodetector having a plurality of light receiving portions formed on the same substrate for individually receiving the respective return lights of the light emitted from the plurality of light sources reflected by an optical recording medium. A photodetector mounting position adjusting device for adjusting a mounting position of a vessel, wherein an engaging portion that engages a photodetector mounting plate on which the photodetector is mounted, and a position of the engaging portion are moved, And a mounting position adjusting mechanism for adjusting the mounting position of the photodetector by rotating the direction of the engaging portion, and detecting the respective light output balances of the respective light spots received by the plurality of light receiving portions, And a mounting position adjustment control device for determining the displacement of the photodetector in the rotation direction and driving the mounting position adjustment mechanism based on the displacement of the rotation direction to correct the mounting position of the photodetector. Characteristic of optical pickup device Detector installation position adjusting device.
【請求項9】波長の異なる光を射出する複数の光源と、 前記複数の光源から射出された光が光記録媒体で反射さ
れた各々の戻り光を個別に受光する複数の受光部を同一
基板上に形成した光検出器と、 前記光検出器の取付位置を調整する調整機構を備えた光
検出器取付板とを有することを特徴とする光ピックアッ
プ装置。
9. The same substrate includes a plurality of light sources for emitting lights having different wavelengths and a plurality of light receiving portions for individually receiving the respective return lights of the lights emitted from the plurality of light sources reflected by an optical recording medium. An optical pickup device, comprising: a photodetector formed above; and a photodetector mounting plate having an adjusting mechanism for adjusting a mounting position of the photodetector.
【請求項10】請求項9記載の光ピックアップ装置にお
いて、 前記複数の光源は、同一基板上に配置されていることを
特徴とする光ピックアップ装置。
10. The optical pickup device according to claim 9, wherein the plurality of light sources are arranged on the same substrate.
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CN102122514A (en) * 2010-01-08 2011-07-13 三洋电机株式会社 Light emitting device, optical pickup apparatus and method for manufacturing the same
WO2013094244A1 (en) * 2011-12-19 2013-06-27 シャープ株式会社 Method and apparatus for adjusting optical pickup module

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7190660B2 (en) 2002-03-18 2007-03-13 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of manufacturing optical pickup device and optical pickup device
CN102122514A (en) * 2010-01-08 2011-07-13 三洋电机株式会社 Light emitting device, optical pickup apparatus and method for manufacturing the same
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