JP2003258404A - Method of manufacturing electronic device - Google Patents

Method of manufacturing electronic device

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JP2003258404A
JP2003258404A JP2002058225A JP2002058225A JP2003258404A JP 2003258404 A JP2003258404 A JP 2003258404A JP 2002058225 A JP2002058225 A JP 2002058225A JP 2002058225 A JP2002058225 A JP 2002058225A JP 2003258404 A JP2003258404 A JP 2003258404A
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JP
Japan
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pattern
printed
board
circuit board
printed circuit
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Application number
JP2002058225A
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Japanese (ja)
Inventor
Makoto Oshima
誠 大島
Masaaki Kondo
雅明 近藤
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that component control is troublesome in a method of manufacturing an electronic device. <P>SOLUTION: This manufacturing method comprises a measuring process 33 of measuring electrical properties of a reference pattern 31 formed on a printed board 21 which has a regulating pattern 27 having a correlation with the reference pattern 31, a regulating process 34 of regulating the regulating pattern 27 on the basis of a measurement result obtained in the measuring process 33 after the measuring process 33 is carried out, and a mounting process 38 of mounting an electronic component 23 on the printed board 21 after the regulating process 24 is finished. By this setup, the control of components can be easily carried out in the manufacture of the electronic device. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、主に高周波で使用
する電子装置の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing an electronic device mainly used at high frequencies.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下、従来の電子装置の製造方法につい
て説明する。従来の電子装置の製造方法は図10に示す
様なものであった。すなわち、調整用パターンを有する
プリント基板1aをエッチングするエッチング工程2
と、このエッチング工程2の後にエッチングされたプリ
ント基板1に電子部品3を装着する装着工程4と、この
装着工程4の後に電気特性を測定する測定工程5と、こ
の測定工程5の後に前記測定工程5での測定結果に基づ
いて前記調整用パターンを調整する調整工程6とを有す
るものであった。そして、この調整工程6の後に保管7
をしていた。
2. Description of the Related Art A conventional method of manufacturing an electronic device will be described below. A conventional method of manufacturing an electronic device is as shown in FIG. That is, the etching step 2 for etching the printed circuit board 1a having the adjustment pattern.
And a mounting step 4 for mounting the electronic component 3 on the printed circuit board 1 etched after the etching step 2, a measuring step 5 for measuring electrical characteristics after the mounting step 4, and the measuring step after the measuring step 5. The adjustment step 6 of adjusting the adjustment pattern based on the measurement result of step 5. Then, after this adjusting step 6, the storage 7
I was doing

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の工程では、プリント基板1に電子部品3を装
着する装着工程4の後に調整工程6とを有するものであ
るため、プリント基板1のエッチングの状態により、そ
のインダクタのインダクタンスの値が大きく変動し、そ
の調整が困難であった。
However, in such a conventional process, since the adjustment process 6 is provided after the mounting process 4 for mounting the electronic component 3 on the printed circuit board 1, the etching of the printed circuit board 1 is performed. Depending on the state, the inductance value of the inductor fluctuates greatly, and its adjustment is difficult.

【0004】そこで、この課題を解決するためにインダ
クタに接続される電子部品3の定数を変えて対応しなけ
ればならなかった。このことにより、プリント基板1と
電子部品3の数が多くなり、その管理が大変であった。
以下その理由を詳細に説明する。
Therefore, in order to solve this problem, it was necessary to change the constant of the electronic component 3 connected to the inductor to deal with the problem. As a result, the numbers of the printed circuit boards 1 and the electronic components 3 are increased, and the management thereof is difficult.
The reason will be described in detail below.

【0005】ここで用いるプリント基板1は、図11に
示すように親プリント基板8内に子プリント基板9が複
数個連結して設けられていた。そしてこの子プリント基
板9に電子部品3を装着して電子装置としての発振装置
を製造していた。
The printed circuit board 1 used here is provided with a plurality of child printed circuit boards 9 connected in a parent printed circuit board 8 as shown in FIG. Then, the electronic component 3 is mounted on the child printed board 9 to manufacture an oscillation device as an electronic device.

【0006】この発振装置は、たとえば図12に示すよ
うになっていた。すなわち、プリントパターンで形成さ
れたインダクタ10とコンデンサ11を含む共振回路1
2と、この共振回路12に接続された発振回路13とで
形成されている。ここでインダクタ10は、子プリント
基板9の内層に設けられた固定のインダクタ14と、子
プリント基板9内の表面に設けられた調整用のインダク
タ15との直列接続回路で形成されており、固定インダ
クタ14のインダクタンス値は調整用インダクタ15の
インダクタンス値に比べて充分に大きいものである。ま
た、コンデンサ11は、固定のコンデンサ11aとバリ
キャップダイオード11bの直列接続回路で形成されて
いる。そしてこの発振装置はインダクタ10のインダク
タンスとコンデンサ11で発振周波数が略決定されるも
のである。
This oscillator has a structure as shown in FIG. 12, for example. That is, the resonance circuit 1 including the inductor 10 and the capacitor 11 formed by the printed pattern
2 and an oscillation circuit 13 connected to the resonance circuit 12. Here, the inductor 10 is formed by a series connection circuit of a fixed inductor 14 provided on the inner layer of the child printed board 9 and an adjusting inductor 15 provided on the surface of the child printed board 9, and is fixed. The inductance value of the inductor 14 is sufficiently larger than the inductance value of the adjusting inductor 15. Further, the capacitor 11 is formed by a series connection circuit of a fixed capacitor 11a and a varicap diode 11b. In this oscillator, the oscillation frequency is substantially determined by the inductance of the inductor 10 and the capacitor 11.

【0007】またこのインダクタ10の詳細を図13に
示す。図13においてインダクタ10は細線パターンで
形成されたインダクタ14と太線で形成されるインダク
タ15とで構成されている。そして太線パターンで形成
されるインダクタ15をレーザで切断16することによ
りインダクタ15の調整をしている。そしてこのインダ
クタ15のインダクタンスを調整することにより前記発
振装置の発振周波数を調整するものであった。
The details of the inductor 10 are shown in FIG. In FIG. 13, the inductor 10 is composed of an inductor 14 formed by a thin line pattern and an inductor 15 formed by a thick line. Then, the inductor 15 formed by the thick line pattern is cut 16 with a laser to adjust the inductor 15. Then, the oscillation frequency of the oscillator is adjusted by adjusting the inductance of the inductor 15.

【0008】従来の構成では、細線パターンのインダク
タ14のパターンの幅14Aが0.2mm程度であり、
これに対しパターンのエッチング精度は±20μmであ
った。細線パターンのインダクタ14のパターンの幅1
4Aとパターンのエッチング精度の間には約10倍あり
エッチング精度の影響は少なかった。しかし最近の小型
化に伴い細線パターンのインダクタ14のパターンの幅
14Aは0.1mm程度にする必要が生じてきた。
In the conventional structure, the width 14A of the pattern of the thin wire pattern inductor 14 is about 0.2 mm,
On the other hand, the pattern etching accuracy was ± 20 μm. The width of the pattern of the thin wire pattern inductor 14 1
There was about 10 times between 4A and the pattern etching accuracy, and the effect of the etching accuracy was small. However, with the recent miniaturization, it has become necessary to set the pattern width 14A of the thin wire pattern inductor 14 to about 0.1 mm.

【0009】このためエッチング精度との関係が約5倍
となり発振周波数への影響が大きく、無視できないもの
になってきた。そのためコンデンサ11の値が同一では
調整用インダクタ15のみによる補正はできない場合が
生じてきた。
For this reason, the relationship with the etching accuracy is increased by a factor of 5, and the influence on the oscillation frequency is large, which cannot be ignored. Therefore, when the value of the capacitor 11 is the same, it may not be possible to make a correction only by the adjustment inductor 15.

【0010】そこで、インダクタ14を形成するパター
ン幅のばらつきの程度によって、プリント基板1を複数
のランクに選別し、そのランクに応じたコンデンサ11
の値を夫々決定する必要があった。そのため、コンデン
サ11の種類やプリント基板1の種類が増加して、その
部品管理が大変であった。
Therefore, the printed circuit board 1 is selected into a plurality of ranks according to the degree of variation in the pattern width forming the inductor 14, and the capacitors 11 corresponding to the ranks are selected.
It was necessary to determine the value of each. Therefore, the types of the capacitors 11 and the types of the printed circuit boards 1 are increased, and it is difficult to manage the parts.

【0011】そこで本発明は、この問題を解決するため
のものであり、部品管理の容易な電子装置の製造方法を
提供することを目的としたものである。
Therefore, the present invention is intended to solve this problem, and it is an object of the present invention to provide a method of manufacturing an electronic device in which component management is easy.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の電子装置の製造方法は、調整用パターンを有
するとともに、この調整用パターンと相関関係を有する
基準パターンを有するプリント基板に対して、前記基準
パターンの電気特性を測定する測定工程と、この測定工
程の後に前記測定工程での測定結果に基づいて前記調整
用パターンを調整する調整工程と、この調整工程の後に
前記プリント基板に電子部品を装着する装着工程とを有
するものである。
In order to achieve this object, a method of manufacturing an electronic device according to the present invention is directed to a printed circuit board having an adjustment pattern and a reference pattern having a correlation with the adjustment pattern. A measurement step of measuring the electrical characteristics of the reference pattern, an adjustment step of adjusting the adjustment pattern based on the measurement result of the measurement step after the measurement step, and the printed circuit board after the adjustment step. And a mounting step of mounting an electronic component.

【0013】これにより、電子装置の製造方法において
部品管理が容易となる。
This facilitates component management in the electronic device manufacturing method.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、調整用パターンを有するとともに、この調整用パタ
ーンと相関関係を有する基準パターンを有するプリント
基板に対して、前記基準パターンの電気特性を測定する
測定工程と、この測定工程の後に前記測定工程での測定
結果に基づいて前記調整用パターンを調整する調整工程
と、この調整工程の後に前記プリント基板に電子部品を
装着する装着工程とを有する電子装置の製造方法であ
り、たとえ、プリント基板のエッチング時に生成された
パターンの電気特性がばらついたとしても、電子部品を
実装する前にプリント基板の調整パターンを調整して電
気特性を略同一にすることができるので、装着する電子
部品の定数は一種類で良いことになる。従って、電子装
置の製造における部品管理が容易となる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention relates to a printed circuit board having an adjustment pattern and a reference pattern having a correlation with the adjustment pattern. A measuring step of measuring the characteristic, an adjusting step of adjusting the adjusting pattern based on the measurement result in the measuring step after the measuring step, and a mounting step of mounting an electronic component on the printed circuit board after the adjusting step. Even if the electrical characteristics of the pattern generated at the time of etching the printed circuit board are varied, it is possible to adjust the electrical characteristic by adjusting the adjustment pattern of the printed circuit board before mounting the electronic component. Since they can be made substantially the same, the number of electronic components to be mounted may be one. Therefore, it becomes easy to manage the parts in the manufacture of the electronic device.

【0015】また、効率的な生産が可能となる。更に、
管理費用も低減できる。
Further, efficient production becomes possible. Furthermore,
Management costs can also be reduced.

【0016】請求項2に記載の発明は、調整工程におい
て、表面に電子部品が装着される回路パターンと、裏面
に設けられたアースパターンと、前記表面と前記裏面と
の間の内層に設けられた調整用パターンとを有するプリ
ント基板を用いて、前記プリント基板の裏面側からレー
ザトリミングすることにより、前記調整用パターンを調
整する請求項1に記載の電子装置の製造方法であり、プ
リント基板の裏面側からトリミングするので、表面のパ
ターンを傷めることはなく、表面のパターン設計が自由
にできる。また、小型化にも貢献する。
According to a second aspect of the present invention, in the adjusting step, a circuit pattern on the front surface of which electronic components are mounted, a ground pattern provided on the back surface, and an inner layer between the front surface and the back surface are provided. The method for manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein the adjustment pattern is adjusted by laser trimming from the back surface side of the printed board using a printed board having the adjustment pattern. Since the trimming is performed from the back surface side, the front surface pattern can be freely designed without damaging the front surface pattern. It also contributes to miniaturization.

【0017】請求項3に記載の発明は、調整工程におい
て、プリント基板として、調整用パターンと表面との間
に前記調整用パターンに対応して保護用パターンが設け
られたプリント基板を用いて調整する請求項2に記載の
電子装置の製造方法であり、保護用パターンを有してい
るので、更に、表面のパターンに対する安全性が増す。
According to a third aspect of the present invention, in the adjustment step, adjustment is performed by using a printed circuit board having a protective pattern provided between the adjustment pattern and the surface in a manner corresponding to the adjustment pattern as the printed circuit board. The method of manufacturing an electronic device according to claim 2, further comprising a protective pattern, the safety of the surface pattern is further increased.

【0018】請求項4に記載の発明は、調整工程におい
て、プリント基板として、調整用パターンはプリント基
板の内層と表面とに分割して設けられるとともにその間
をスルーホールで接続したプリント基板を用いて調整す
る請求項2に記載の電子装置の製造方法であり、プリン
ト基板の表面でも調整をすることができる。従って、部
品装着後の調整に便利である。
According to a fourth aspect of the present invention, in the adjusting step, as the printed circuit board, the adjustment pattern is provided by being divided into an inner layer and a surface of the printed circuit board, and the printed circuit board is connected by through holes. The method for manufacturing an electronic device according to claim 2, wherein the adjustment is performed, and the adjustment can be performed on the surface of the printed circuit board. Therefore, it is convenient for adjustment after mounting the components.

【0019】請求項5に記載の発明は、測定工程におい
て、プリント基板として、調整用パターンを含む高周波
回路を有する子プリント基板と、この子プリント基板が
複数個連結して一体成形された親プリント基板と、この
親プリント基板内であって、前記子プリント基板の不形
成部に前記子プリント基板に形成された前記調整用パタ
ーンのインダクタンスの値と相関関係を有する基準パタ
ーンが設けられたプリント基板を用いて、前記基準パタ
ーンの抵抗値をディジタル抵抗測定器で測定する請求項
1に記載の電子装置の製造方法であり、複数個の子プリ
ント基板の調整を基準パターンで代表して測定すること
ができるので、測定工程の効率化を図ることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the measuring step, as a printed board, a child printed board having a high-frequency circuit including an adjustment pattern, and a plurality of the child printed boards are integrally formed to form a parent print. A substrate and a printed circuit board in the parent printed circuit board, in which a reference pattern having a correlation with an inductance value of the adjustment pattern formed on the child printed circuit board is provided in a non-formed portion of the child printed circuit board. The method of manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein the resistance value of the reference pattern is measured by using a digital resistance measuring instrument, wherein the adjustment of a plurality of child printed circuit boards is representatively measured by the reference pattern. Therefore, the efficiency of the measurement process can be improved.

【0020】請求項6に記載の発明は、測定工程におい
て、プリント基板の基準パターンのインダクタンスの値
は、子プリント基板に形成されたインダクタンスの値よ
りも大きい値のプリント基板を用いて測定する請求項5
に記載の電子装置の製造方法であり、基準パターンのイ
ンダクタンスは子プリント基板のインダクタンスより大
きいので、測定工程における測定誤差が少なくなり、誤
差の少ない測定が容易にできる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the measuring step, the value of the inductance of the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a value larger than the value of the inductance formed on the child printed circuit board. Item 5
In the method for manufacturing an electronic device described in (1), since the inductance of the reference pattern is larger than the inductance of the child printed circuit board, the measurement error in the measurement process is reduced, and the measurement with less error can be easily performed.

【0021】請求項7に記載の発明は、測定工程におい
て、プリント基板の基準パターンはジグザグ形状とした
プリント基板を用いて測定する請求項6に記載の電子装
置の製造方法であり、基準パターンをジグザグ形状にす
ることにより、小さな面積で大きなインダクタンスを確
保することができ、結果として、測定工程における測定
誤差が少なくなり、誤差の少ない測定が容易にできる。
The invention according to claim 7 is the method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein in the measuring step, the reference pattern of the printed board is measured using a printed board having a zigzag shape. With the zigzag shape, a large inductance can be secured in a small area, and as a result, the measurement error in the measurement process is reduced, and the measurement with less error can be facilitated.

【0022】請求項8に記載の発明は、測定工程におい
て、親プリント基板の異なる位置に基準パターンを複数
個設けたプリント基板を用いて測定する請求項5に記載
の電子装置の製造方法であり、異なる位置に基準パター
ンを設けているので、夫々の基準パターンの近傍の子プ
リント基板のインダクタンスを測定工程でより正確に測
定することができる。これは親プリント基板内に連結さ
れた子プリント基板の位置の違いによるエッチングのば
らつきを測定し、夫々の子プリント基板に対して最も適
した調整をすることができる。
The invention according to claim 8 is the method of manufacturing an electronic device according to claim 5, wherein in the measuring step, the measurement is performed using a printed circuit board having a plurality of reference patterns provided at different positions of the parent printed circuit board. Since the reference patterns are provided at different positions, it is possible to more accurately measure the inductance of the child printed circuit board in the vicinity of each reference pattern in the measurement process. This measures the etching variation due to the difference in the position of the child printed circuit boards connected in the parent printed circuit board, and can make the most suitable adjustment for each child printed circuit board.

【0023】請求項9に記載の発明は、測定工程におい
て、プリント基板の基準パターンの両端には接触用ラン
ドを設けたプリント基板を用いて測定する請求項6に記
載の電子装置の製造方法であり、測定工程における測定
装置との接触が容易に且つ確実にできる。
The invention according to claim 9 is the method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein in the measuring step, the measurement is performed using a printed board having contact lands at both ends of a reference pattern of the printed board. Therefore, it is possible to easily and surely make contact with the measuring device in the measuring process.

【0024】請求項10に記載の発明は、測定工程にお
いて、プリント基板として、調整用パターンを含む高周
波回路を有する子プリント基板と、この子プリント基板
が複数個連結して一体成形された親プリント基板と、こ
の親プリント基板内であって、前記子プリント基板の不
形成部に前記子プリント基板に形成された前記調整用パ
ターンのインダクタンスの値と相関関係を有する基準パ
ターンが設けられたプリント基板を用いて、前記基準パ
ターンに接続された発振回路を親プリント基板外に設
け、この発振回路の発振周波数をディジタル周波数カウ
ンタで測定する請求項1に記載の電子装置の製造方法で
あり、この発振回路の発振周波数をディジタル周波数カ
ウンタで容易に測定することができ、実際の使用時に合
致した測定値を得ることができる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the measuring step, as a printed board, a child printed board having a high-frequency circuit including an adjustment pattern and a parent print integrally formed by connecting a plurality of the child printed boards. A substrate and a printed circuit board in the parent printed circuit board, in which a reference pattern having a correlation with an inductance value of the adjustment pattern formed on the child printed circuit board is provided in a non-formed portion of the child printed circuit board. The method for manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein an oscillation circuit connected to the reference pattern is provided outside the parent printed circuit board by using, and the oscillation frequency of the oscillation circuit is measured by a digital frequency counter. The oscillation frequency of the circuit can be easily measured with a digital frequency counter, and the measured value that matches the actual use can be obtained. Door can be.

【0025】請求項11に記載の発明は、測定工程にお
いて、プリント基板の基準パターンのインダクタンスの
値は、子プリント基板に形成されたインダクタンスの値
よりも大きい値のプリント基板を用いて測定する請求項
10に記載の電子装置の製造方法であり、基準パターン
のインダクタンスは子プリント基板のインダクタンスよ
り大きいので、測定工程における測定誤差が少なくな
り、誤差の少ない測定が容易にできる。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the measuring step, the value of the inductance of the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a value larger than the value of the inductance formed on the child printed circuit board. In the method of manufacturing an electronic device according to item 10, since the inductance of the reference pattern is larger than the inductance of the child printed circuit board, the measurement error in the measurement process is reduced, and the measurement with less error can be easily performed.

【0026】請求項12に記載の発明は、測定工程にお
いて、プリント基板の基準パターンはジグザグ形状とし
たプリント基板を用いて測定する請求項11に記載の電
子装置の製造方法であり、基準パターンをジグザグ形状
にすることにより、小さな面積で大きなインダクタンス
を確保することができ、結果として、測定工程における
測定誤差が少なくなり、誤差の少ない測定が容易にでき
る。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the measuring step, the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a zigzag shape. With the zigzag shape, a large inductance can be secured in a small area, and as a result, the measurement error in the measurement process is reduced, and the measurement with less error can be facilitated.

【0027】請求項13に記載の発明は、測定工程にお
いて、親プリント基板の異なる位置に基準パターンを複
数個設けたプリント基板を用いて測定する請求項10に
記載の電子装置の製造方法であり、異なる位置に基準パ
ターンを設けているので、夫々の基準パターンの近傍の
子プリント基板のインダクタンスを測定工程でより正確
に測定することができる。これは親プリント基板内に連
結された子プリント基板の位置の違いによるエッチング
のばらつきを測定し、夫々の子プリント基板に最も適し
た調整をすることができる。
The invention according to claim 13 is the method of manufacturing an electronic device according to claim 10, wherein in the measuring step, the measurement is performed using a printed circuit board having a plurality of reference patterns provided at different positions on the parent printed circuit board. Since the reference patterns are provided at different positions, it is possible to more accurately measure the inductance of the child printed circuit board in the vicinity of each reference pattern in the measurement process. This measures the variation in etching due to the difference in the position of the child printed circuit boards connected in the parent printed circuit board, and makes the most suitable adjustment for each child printed circuit board.

【0028】請求項14に記載の発明は、測定工程にお
いて、プリント基板の基準パターンの両端には接触用ラ
ンドを設けたプリント基板を用いて測定する請求項11
に記載の電子装置の製造方法であり、測定工程における
測定装置との接触が容易に且つ確実にできる。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the measuring step, the measurement is performed using a printed circuit board having contact lands at both ends of the reference pattern of the printed circuit board.
In the method for manufacturing an electronic device described in, it is possible to easily and surely make contact with the measuring device in the measuring step.

【0029】(実施の形態1)以下、図面に従って本発
明の実施の形態1を説明する。図1は本発明の実施の形
態1における電子装置の製造方法のフローチャートであ
る。図1において、21aはプリント基板であり、この
プリント基板21aはエッチング工程22で銅箔がエッ
チングされてプリント基板21になる。
(Embodiment 1) Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart of a method for manufacturing an electronic device according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, 21a is a printed board, and the printed board 21a becomes a printed board 21 by etching a copper foil in an etching step 22.

【0030】このプリント基板21は図2に示すような
構造になっている。すなわち、電子装置を形成するプリ
ント基板21は4層基板となっている。第1層目を形成
する表面22には、電子部品23が装着される回路パタ
ーン24が設けられている。4層目の裏面25はアース
パターン26となっている。そして、3層目には調整用
パターン27が設けられ、この調整用パターン27はス
ルーホール28を介して表面22に導出されてパターン
29に接続されている。
The printed board 21 has a structure as shown in FIG. That is, the printed board 21 forming the electronic device is a four-layer board. A circuit pattern 24 on which an electronic component 23 is mounted is provided on the surface 22 forming the first layer. The back surface 25 of the fourth layer is an earth pattern 26. The adjustment pattern 27 is provided on the third layer, and the adjustment pattern 27 is led out to the surface 22 through the through hole 28 and connected to the pattern 29.

【0031】30は2層目に設けられた保護用パターン
であり、調整用パターン27に対応して設けられてい
る。また、31は調整用パターン27と相関関係を有す
る基準パターンである。
Reference numeral 30 is a protection pattern provided on the second layer, which is provided corresponding to the adjustment pattern 27. Reference numeral 31 is a reference pattern having a correlation with the adjustment pattern 27.

【0032】このようにエッチングされたプリント基板
21は、次に測定工程33で調整用パターン27と相関
関係を有する基準パターン31の電気特性を測定する。
なお、この電気特性の測定には、基準パターン31の電
気抵抗の測定をする方法と、発振回路を用いて実動作さ
せることにより、その発振周波数を測定する方法があ
り、これについては実施の形態5と6で述べる。
The printed board 21 thus etched is then subjected to a measuring step 33 to measure the electrical characteristics of the reference pattern 31 having a correlation with the adjusting pattern 27.
The measurement of the electrical characteristics includes a method of measuring the electric resistance of the reference pattern 31 and a method of measuring the oscillation frequency of the reference pattern 31 by actually operating the oscillation circuit. This will be described in 5 and 6.

【0033】測定工程33で測定された測定結果に基づ
いて、次の調整工程34で調整用パターン27の調整
(加工)をする。この調整工程34はプリント基板21
の裏面25側からレーザ光線でトリミングして行う。こ
のレーザトリミングは図3に示すように、梯子状(他に
も種々の形状が考えられる。)に形成された調整用パタ
ーン27の調整部(図3における縦方向)27aの一部
を切断35して行う。なお、29は、スルーホール28
で表面22に導出されたパターンであり、このパターン
29を補助調整パターンとして用いることもできる。す
なわち、このパターン29の一部をレーザトリミングで
切断36をして微調整することもできる。
Based on the measurement result measured in the measuring step 33, the adjusting pattern 27 is adjusted (processed) in the next adjusting step 34. The adjustment process 34 is performed on the printed circuit board 21.
Trimming with a laser beam is performed from the back surface 25 side. In this laser trimming, as shown in FIG. 3, a part of the adjustment portion (vertical direction in FIG. 3) 27a of the adjustment pattern 27 formed in a ladder shape (various other shapes are conceivable) is cut 35. Then do. In addition, 29 is a through hole 28
The pattern 29 is derived on the front surface 22 in this manner, and this pattern 29 can also be used as an auxiliary adjustment pattern. That is, a part of the pattern 29 can be cut 36 by laser trimming and finely adjusted.

【0034】この調整工程34においては、プリント基
板21の裏面25側からレーザトリミングを行うので表
面22に形成された回路パターン24を傷めることはな
い。従って、回路パターン24をトリミングを気にする
ことなく引き回すことができ、小型化に貢献することが
できる。また、調整用パターン27と表面22との間に
は保護用のパターン30があるので、表面22の回路パ
ターン24を更に確実にレーザトリミングから保護する
ことができる。また、裏面25全体にアースパターン2
6が敷設されているので、外部との遮蔽ができる。な
お、パターン29を設けているので表面22側から調整
することもできる。
In this adjusting step 34, since the laser trimming is performed from the back surface 25 side of the printed board 21, the circuit pattern 24 formed on the front surface 22 is not damaged. Therefore, the circuit pattern 24 can be routed without worrying about trimming, which contributes to downsizing. Further, since the protection pattern 30 is provided between the adjustment pattern 27 and the surface 22, the circuit pattern 24 on the surface 22 can be more reliably protected from laser trimming. Also, the ground pattern 2 is formed on the entire back surface 25.
Since 6 is laid, it can be shielded from the outside. Since the pattern 29 is provided, it can be adjusted from the front surface 22 side.

【0035】このように調整工程34で調整用パターン
27を調整することにより、略一定した電気特性を有す
るプリント基板21を得ることができる。
By adjusting the adjusting pattern 27 in the adjusting step 34 in this manner, the printed circuit board 21 having substantially constant electric characteristics can be obtained.

【0036】この調整工程34の後、電子部品23を装
着する装着工程38となる。このとき、調整工程34に
より略一定の値に調整用パターン27は調整されている
ので、使用する電子部品37の定数は一種類で良く部品
管理は容易となる。また、製造工程も簡単になり生産効
率が向上する。更に管理費用も低減される。
After the adjusting step 34, a mounting step 38 for mounting the electronic component 23 is performed. At this time, since the adjusting pattern 27 is adjusted to a substantially constant value by the adjusting step 34, the number of constants of the electronic parts 37 to be used may be one and the parts management becomes easy. Further, the manufacturing process is simplified and the production efficiency is improved. Furthermore, management costs are also reduced.

【0037】なお、本実施の形態1における電気回路に
は従来例(図12)で示したような発振回路を用いてい
る。すなわち、従来例に対応させると調整用パターン2
7としてインダクタ10が対応し、電子部品23として
コンデンサ11が対応している。
The oscillation circuit shown in the conventional example (FIG. 12) is used as the electric circuit in the first embodiment. That is, the adjustment pattern 2 corresponds to the conventional example.
The inductor 10 corresponds to 7 and the capacitor 11 corresponds to the electronic component 23.

【0038】このようにして、電子部品23が装着され
たプリント基板21は次の工程で保管39される。
In this way, the printed circuit board 21 on which the electronic component 23 is mounted is stored 39 in the next step.

【0039】(実施の形態2)次に、実施の形態2で
は、一つのプリント基板に多数の子プリント基板が含ま
れたプリント基板における基準パターンについて説明す
る。図4は本発明の実施の形態2を説明するためのプリ
ント基板50の平面図である。このプリント基板50も
実施の形態1で説明したプリント基板21と同様の基準
パターンと調整用パターンを有するものであり、実施の
形態1と同様の製造工程を有する。
(Second Embodiment) Next, in a second embodiment, a reference pattern in a printed circuit board in which one printed circuit board includes a large number of child printed circuit boards will be described. FIG. 4 is a plan view of a printed circuit board 50 for explaining the second embodiment of the present invention. This printed circuit board 50 also has the same reference pattern and adjustment pattern as the printed circuit board 21 described in the first embodiment, and has the same manufacturing process as in the first embodiment.

【0040】図4において、51は親プリント基板であ
り、この親プリント基板51には子プリント基板52が
複数個設けられている。本実施の形態においては、この
子プリント基板52は横に9個、縦に12個設けてあ
り、一つの親プリント基板51から108個の子プリン
ト基板52を得ることができる。
In FIG. 4, reference numeral 51 denotes a parent printed board, and a plurality of child printed boards 52 are provided on the parent printed board 51. In the present embodiment, nine child printed circuit boards 52 are provided horizontally and twelve vertically, and 108 child printed circuit boards 52 can be obtained from one parent printed circuit board 51.

【0041】53はこの親プリント基板51に電気部品
を実装する時使用する孔である。またこの子プリント基
板52内には従来の技術の項で説明したような共振回路
12や調整用パターンとしてのインダクタ10が形成さ
れている。また54は基準パターンであり親プリント基
板51上の側面近傍であって子プリント基板52の不形
成部に設けられている。基準パターン54のインダクタ
ンスは子プリント基板52の発振器の発振周波数にもよ
るがインダクタ10のインダクタンスと比べて数倍から
数十倍あり本発明により測定誤差を少なくかつ容易にイ
ンダクタ10のインダクタンスを間接的に測定できる。
Reference numeral 53 is a hole used when mounting an electric component on the parent printed board 51. Further, in the child printed board 52, the resonance circuit 12 and the inductor 10 as an adjustment pattern as described in the section of the prior art are formed. Reference numeral 54 is a reference pattern, which is provided in the vicinity of the side surface of the parent printed board 51 and in the non-formed portion of the child printed board 52. Although the inductance of the reference pattern 54 depends on the oscillation frequency of the oscillator of the slave printed board 52, it is several times to several tens of times that of the inductor 10. Therefore, the measurement of the inductance of the inductor 10 can be made indirect indirectly by reducing the measurement error according to the present invention. Can be measured.

【0042】(実施の形態3)基準パターン54は図4
では親プリント基板51内に1箇所設けているが図6に
示すように4箇所に設けても良い。そうする事により、
親プリント基板51a上に設けた基準パターン54と対
向した面に設けた基準パターン54a、あるいは基準パ
ターン54と隣接する面に設けられた基準パターン54
b、基準パターン54cを設けることにより子プリント
基板52a内のインダクタンスをより正確に把握する事
が可能となる。
(Embodiment 3) The reference pattern 54 is shown in FIG.
Although it is provided at one place in the parent printed board 51, it may be provided at four places as shown in FIG. By doing so,
The reference pattern 54a provided on the surface facing the reference pattern 54 provided on the parent printed board 51a, or the reference pattern 54 provided on the surface adjacent to the reference pattern 54.
By providing the reference pattern 54c and the reference pattern 54c, the inductance in the child printed board 52a can be more accurately grasped.

【0043】この基準パターン54は、図5に示すよう
にジグザグ形状をしており、その両端には接触用ランド
55を設けている。このことにより、この接触用ランド
55を他の外部機器と容易に接続することができ、その
インダクタンスの値を正確に測定することができる。ま
た、その形状はジグザグ形状なので少ない面積で大きな
インダクタンスの値を得ることができる。本実施の形態
においてはその長さを5cmにしており、パターンの幅
は、子プリント基板52aに形成された調整用パターン
としてのインダクタのパターン幅と等しくしている。
The reference pattern 54 has a zigzag shape as shown in FIG. 5, and contact lands 55 are provided at both ends thereof. As a result, this contact land 55 can be easily connected to another external device, and the value of its inductance can be accurately measured. Further, since the shape is zigzag, a large inductance value can be obtained with a small area. In the present embodiment, the length is set to 5 cm, and the width of the pattern is made equal to the pattern width of the inductor as the adjustment pattern formed on the child printed board 52a.

【0044】(実施の形態4)図7は多層基板60を用
いた例であり、この場合には親プリント基板の内層であ
って、子プリント基板の不形成部に基準パターン61を
設け、スルーホール62で多層基板60の上面に導出し
て接触用ランド63を設けている。このことにより、基
板の小型化を図ることができる。また、第1層目に部品
実装用ランドや基板分割のための認識用パターンを形成
することができる。
(Embodiment 4) FIG. 7 shows an example in which a multilayer substrate 60 is used. In this case, a reference pattern 61 is provided in the inner layer of the parent printed board and in the non-formed portion of the child printed board. Contact holes 63 are provided on the upper surface of the multilayer substrate 60 through the holes 62. As a result, the size of the substrate can be reduced. Further, a component mounting land and a recognition pattern for dividing the substrate can be formed on the first layer.

【0045】(実施の形態5)以下、実施の形態5と6
で、基準パターン54の電気特性を測定する測定工程に
ついて述べる。図8は、親プリント基板51の接触用ラ
ンド55にディジタル抵抗計56を接続し、このディジ
タル抵抗計56で基準パターン54の抵抗値を読むこと
により、間接的に子プリント基板52に形成されたイン
ダクタンスの値を知ることができる。
(Fifth Embodiment) Hereinafter, fifth and sixth embodiments will be described.
Now, the measurement process for measuring the electrical characteristics of the reference pattern 54 will be described. In FIG. 8, a digital resistance meter 56 is connected to the contact land 55 of the parent printed board 51, and the resistance value of the reference pattern 54 is read by the digital resistance meter 56 to indirectly form on the child printed board 52. You can know the value of the inductance.

【0046】このようにして、基準パターン54を測定
することにより、子プリント基板52内の調整用パター
ンのインダクタンスを間接的に測定することができる。
この場合、親プリント基板51の基準パターン54を代
表して一回測っておくことにより、同一エッチングされ
た子プリント基板52の調整パターンに対応することが
できる。
By measuring the reference pattern 54 in this manner, the inductance of the adjustment pattern in the subsidiary printed board 52 can be indirectly measured.
In this case, the reference pattern 54 of the parent printed board 51 is representatively measured once, so that the adjustment pattern of the same printed daughter board 52 can be dealt with.

【0047】(実施の形態6)実施の形態6において、
実施の形態5との相違は、実動作にあった測定をしてい
ることである。すなわち、実施の形態6において、図9
は親プリント基板51の接触用ランド55に発振回路5
7を接続し、この発振回路57の出力に周波数カウンタ
58を接続したものである。このように、基準パターン
54のインダクタンスの値を一度発振回路57で周波数
に変換するため、間接的に子プリント基板52のインダ
クタンスから得られる発振周波数を間接的に知ることが
できる。
(Sixth Embodiment) In the sixth embodiment,
The difference from the fifth embodiment is that the measurement is performed according to the actual operation. That is, in the sixth embodiment, FIG.
Is the oscillator circuit 5 on the contact land 55 of the parent printed board 51.
7 is connected, and a frequency counter 58 is connected to the output of the oscillation circuit 57. In this way, the value of the inductance of the reference pattern 54 is once converted into a frequency by the oscillation circuit 57, so that the oscillation frequency obtained from the inductance of the child printed circuit board 52 can be indirectly known.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、調整用パ
ターンを有するとともに、この調整用パターンと相関関
係を有する基準パターンを有するプリント基板に対し
て、前記基準パターンの電気特性を測定する測定工程
と、この測定工程の後に前記測定工程での測定結果に基
づいて前記調整用パターンを調整する調整工程と、この
調整工程の後に前記プリント基板に電子部品を装着する
装着工程とを有する電子装置の製造方法であり、たと
え、プリント基板のエッチング時に生成されたパターン
の電気特性がばらついたとしても、電子部品を実装する
前にプリント基板の調整パターンを調整して電気特性を
略同一にすることができるので、装着する電子部品の定
数は一種類で良いことになる。従って、電子装置の製造
における部品管理が容易となる。
As described above, according to the present invention, the electrical characteristics of the reference pattern are measured with respect to the printed circuit board having the adjustment pattern and the reference pattern having a correlation with the adjustment pattern. An electronic device including a measurement step, an adjustment step of adjusting the adjustment pattern based on the measurement result in the measurement step after the measurement step, and a mounting step of mounting an electronic component on the printed circuit board after the adjustment step. This is a method of manufacturing a device, and even if the electrical characteristics of the pattern generated during etching of the printed board vary, the adjustment pattern of the printed board is adjusted before mounting the electronic parts so that the electrical characteristics are substantially the same. Therefore, the number of electronic components to be mounted may be one. Therefore, it becomes easy to manage the parts in the manufacture of the electronic device.

【0049】また、効率的な生産が可能となる。更に、
管理費用も低減できる。
In addition, efficient production becomes possible. Furthermore,
Management costs can also be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態1における電子装置の製造
方法のフローチャート
FIG. 1 is a flowchart of a method for manufacturing an electronic device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同、電子装置の製造に用いるプリント基板の断
面図
FIG. 2 is a sectional view of a printed circuit board used for manufacturing the electronic device.

【図3】同、プリント基板内に設けられた基準パターン
の平面図
FIG. 3 is a plan view of a reference pattern provided in the printed circuit board.

【図4】本発明の実施の形態2で使用するプリント基板
の平面図
FIG. 4 is a plan view of a printed circuit board used in the second embodiment of the present invention.

【図5】同、プリント基板内に設けられた基準パターン
の平面図
FIG. 5 is a plan view of a reference pattern provided in the printed circuit board.

【図6】本発明の実施の形態3で使用するプリント基板
の平面図
FIG. 6 is a plan view of a printed circuit board used in a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の形態4で使用するプリント基板
の要部断面図
FIG. 7 is a cross-sectional view of essential parts of a printed circuit board used in Embodiment 4 of the present invention.

【図8】本発明の実施の形態5で使用するプリント基板
の測定装置の接続図
FIG. 8 is a connection diagram of a printed circuit board measuring device used in a fifth embodiment of the present invention.

【図9】本発明の実施の形態6で使用するプリント基板
の測定装置の接続図
FIG. 9 is a connection diagram of a printed circuit board measuring device used in a sixth embodiment of the present invention.

【図10】従来の電子装置の製造方法のフローチャートFIG. 10 is a flowchart of a conventional method for manufacturing an electronic device.

【図11】従来の製造方法で使用するプリント基板の平
面図
FIG. 11 is a plan view of a printed circuit board used in a conventional manufacturing method.

【図12】従来のプリント基板に形成された発振回路の
回路図
FIG. 12 is a circuit diagram of an oscillator circuit formed on a conventional printed circuit board.

【図13】同、発振回路を形成する調整パターンとして
のインダクタンスの平面図
FIG. 13 is a plan view of an inductance as an adjustment pattern forming the oscillation circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 プリント基板 23 電子部品 27 調整用パターン 31 基準パターン 33 測定工程 34 調整工程 38 装着工程 56 ディジタル抵抗計 57 発振回路 58 周波数カウンタ 21 Printed circuit board 23 Electronic components 27 adjustment patterns 31 Reference pattern 33 measurement process 34 Adjustment process 38 Installation process 56 Digital resistance meter 57 Oscillation circuit 58 frequency counter

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/46 H05K 3/46 Q W X Fターム(参考) 4E351 AA01 BB01 BB05 BB09 BB33 FF06 FF09 FF14 FF18 FF28 GG06 GG07 5E317 AA02 AA24 BB02 BB12 GG11 GG16 5E338 AA03 CC01 CC07 CD13 CD14 CD32 EE11 EE31 5E346 AA12 AA15 AA32 AA43 AA51 BB02 BB15 BB16 CC08 FF01 FF45 GG32 GG34 GG36 HH06 HH31 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H05K 3/46 H05K 3/46 Q W X F term (reference) 4E351 AA01 BB01 BB05 BB09 BB33 FF06 FF09 FF14 FF18 FF28 GG06 GG07 5E317 AA02 AA24 BB02 BB12 GG11 GG16 5E338 AA03 CC01 CC07 CD13 CD14 CD32 EE11 EE31 5E346 AA12 AA15 AA32 AA43 AA51 BB02 BB15 BB16 CC08 FF01 FF45 GG32 GG34 GG31 HH06 HH06

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 調整用パターンを有するとともに、この
調整用パターンと相関関係を有する基準パターンを有す
るプリント基板に対して、前記基準パターンの電気特性
を測定する測定工程と、この測定工程の後に前記測定工
程での測定結果に基づいて前記調整用パターンを調整す
る調整工程と、この調整工程の後に前記プリント基板に
電子部品を装着する装着工程とを有する電子装置の製造
方法。
1. A measuring step of measuring an electric characteristic of the reference pattern on a printed circuit board having an adjusting pattern and a reference pattern having a correlation with the adjusting pattern, and the measuring step after the measuring step. A method of manufacturing an electronic device, comprising: an adjusting step of adjusting the adjusting pattern based on a measurement result in the measuring step; and a mounting step of mounting an electronic component on the printed circuit board after the adjusting step.
【請求項2】 調整工程において、表面に電子部品が装
着される回路パターンと、裏面に設けられたアースパタ
ーンと、前記表面と前記裏面との間の内層に設けられた
調整用パターンとを有するプリント基板を用いて、前記
プリント基板の裏面側からレーザトリミングすることに
より、前記調整用パターンを調整する請求項1に記載の
電子装置の製造方法。
2. The adjusting step has a circuit pattern on the front surface of which electronic components are mounted, a ground pattern provided on the back surface, and an adjustment pattern provided on an inner layer between the front surface and the back surface. The method of manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein the adjustment pattern is adjusted by performing laser trimming from the back surface side of the printed board using the printed board.
【請求項3】 調整工程において、プリント基板とし
て、調整用パターンと表面との間に前記調整用パターン
に対応して保護用パターンが設けられたプリント基板を
用いて調整する請求項2に記載の電子装置の製造方法。
3. The adjustment step according to claim 2, wherein the adjustment is performed by using a printed board having a protection pattern provided between the adjustment pattern and the surface in correspondence with the adjustment pattern as the printed board. Electronic device manufacturing method.
【請求項4】 調整工程において、プリント基板とし
て、調整用パターンはプリント基板の内層と表面とに分
割して設けられるとともにその間をスルーホールで接続
したプリント基板を用いて調整する請求項2に記載の電
子装置の製造方法。
4. The adjusting step according to claim 2, wherein the adjustment pattern is provided as a printed board by being divided into an inner layer and a front surface of the printed board, and the printed board is connected with through holes between the adjustment patterns. Electronic device manufacturing method.
【請求項5】 測定工程において、プリント基板とし
て、調整用パターンを含む高周波回路を有する子プリン
ト基板と、この子プリント基板が複数個連結して一体成
形された親プリント基板と、この親プリント基板内であ
って、前記子プリント基板の不形成部に前記子プリント
基板に形成された前記調整用パターンのインダクタンス
の値と相関関係を有する基準パターンが設けられたプリ
ント基板を用いて、前記基準パターンの抵抗値をディジ
タル抵抗測定器で測定する請求項1に記載の電子装置の
製造方法。
5. In the measuring step, as a printed board, a child printed board having a high-frequency circuit including an adjustment pattern, a parent printed board integrally formed by connecting a plurality of the child printed boards, and the parent printed board. Of the reference pattern using a printed circuit board in which a reference pattern having a correlation with the value of the inductance of the adjustment pattern formed on the child printed circuit board is provided in the non-formed portion of the child printed circuit board. The method for manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein the resistance value of the device is measured by a digital resistance measuring device.
【請求項6】 測定工程において、プリント基板の基準
パターンのインダクタンスの値は、子プリント基板に形
成されたインダクタンスの値よりも大きい値のプリント
基板を用いて測定する請求項5に記載の電子装置の製造
方法。
6. The electronic device according to claim 5, wherein in the measuring step, the value of the inductance of the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a value larger than the value of the inductance formed on the child printed circuit board. Manufacturing method.
【請求項7】 測定工程において、プリント基板の基準
パターンはジグザグ形状としたプリント基板を用いて測
定する請求項6に記載の電子装置の製造方法。
7. The method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein in the measuring step, the reference pattern of the printed board is measured using a printed board having a zigzag shape.
【請求項8】 測定工程において、親プリント基板の異
なる位置に基準パターンを複数個設けたプリント基板を
用いて測定する請求項5に記載の電子装置の製造方法。
8. The method of manufacturing an electronic device according to claim 5, wherein in the measuring step, the measurement is performed using a printed board having a plurality of reference patterns provided at different positions on the parent printed board.
【請求項9】 測定工程において、プリント基板の基準
パターンの両端には接触用ランドを設けたプリント基板
を用いて測定する請求項6に記載の電子装置の製造方
法。
9. The method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein in the measuring step, the printed board is provided with contact lands at both ends of the reference pattern of the printed board.
【請求項10】 測定工程において、プリント基板とし
て、調整用パターンを含む高周波回路を有する子プリン
ト基板と、この子プリント基板が複数個連結して一体成
形された親プリント基板と、この親プリント基板内であ
って、前記子プリント基板の不形成部に前記子プリント
基板に形成された前記調整用パターンのインダクタンス
の値と相関関係を有する基準パターンが設けられたプリ
ント基板を用いて、前記基準パターンに接続された発振
回路を親プリント基板外に設け、この発振回路の発振周
波数をディジタル周波数カウンタで測定する請求項1に
記載の電子装置の製造方法。
10. In the measuring step, as a printed board, a child printed board having a high-frequency circuit including an adjustment pattern, a parent printed board integrally formed by connecting a plurality of the child printed boards, and this parent printed board. Of the reference pattern using a printed circuit board in which a reference pattern having a correlation with the value of the inductance of the adjustment pattern formed on the child printed circuit board is provided in the non-formed portion of the child printed circuit board. 2. The method of manufacturing an electronic device according to claim 1, wherein the oscillation circuit connected to is provided outside the main printed board, and the oscillation frequency of the oscillation circuit is measured by a digital frequency counter.
【請求項11】 測定工程において、プリント基板の基
準パターンのインダクタンスの値は、子プリント基板に
形成されたインダクタンスの値よりも大きい値のプリン
ト基板を用いて測定する請求項10に記載の電子装置の
製造方法。
11. The electronic device according to claim 10, wherein in the measuring step, the value of the inductance of the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a value larger than the value of the inductance formed on the child printed circuit board. Manufacturing method.
【請求項12】 測定工程において、プリント基板の基
準パターンはジグザグ形状としたプリント基板を用いて
測定する請求項11に記載の電子装置の製造方法。
12. The method of manufacturing an electronic device according to claim 11, wherein in the measuring step, the reference pattern of the printed circuit board is measured using a printed circuit board having a zigzag shape.
【請求項13】 測定工程において、親プリント基板の
異なる位置に基準パターンを複数個設けたプリント基板
を用いて測定する請求項10に記載の電子装置の製造方
法。
13. The method of manufacturing an electronic device according to claim 10, wherein in the measuring step, the measurement is performed using a printed board having a plurality of reference patterns provided at different positions on the parent printed board.
【請求項14】 測定工程において、プリント基板の基
準パターンの両端には接触用ランドを設けたプリント基
板を用いて測定する請求項11に記載の電子装置の製造
方法。
14. The method of manufacturing an electronic device according to claim 11, wherein in the measuring step, the printed board is provided with contact lands at both ends of the reference pattern of the printed board.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011191185A (en) * 2010-03-15 2011-09-29 Mitsubishi Electric Corp Inspection apparatus and manufacturing method of electronic apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009081306A (en) * 2007-09-26 2009-04-16 Tdk Corp High-frequency electronic component
JP2011191185A (en) * 2010-03-15 2011-09-29 Mitsubishi Electric Corp Inspection apparatus and manufacturing method of electronic apparatus

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