JP2003241371A - Photosensitive resin composition and method for producing the same - Google Patents

Photosensitive resin composition and method for producing the same

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JP2003241371A
JP2003241371A JP2002039384A JP2002039384A JP2003241371A JP 2003241371 A JP2003241371 A JP 2003241371A JP 2002039384 A JP2002039384 A JP 2002039384A JP 2002039384 A JP2002039384 A JP 2002039384A JP 2003241371 A JP2003241371 A JP 2003241371A
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group
aromatic
organic group
skeleton
resin composition
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JP2002039384A
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Yasuhiro Hojo
泰広 北條
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Kyocera Chemical Corp
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Kyocera Chemical Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive resin composition comprising a polyimide precursor which lowers the coefficient of thermal expansion in imidation, developable with an aqueous alkali solution and having sharp negative pattern forming ability. <P>SOLUTION: The photosensitive resin composition comprises (A) a polyimide precursor of formula (1) (where R<SP>1</SP>and R<SP>2</SP>are each an aromatic organic group; R<SP>3</SP>and R<SP>4</SP>are each an aromatic organic group; R<SP>5</SP>and R<SP>6</SP>are each an organic group having an ethylenically unsaturated bond; and R<SP>7</SP>and R<SP>8</SP>are each an organic group having an α,β-unsaturated bond), (B) a dehydration condensing agent for production of the polyimide precursor, (C) a photosensitive agent to an actinic ray and (D) a solvent. A method for producing the photosensitive resin composition is provided. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体デバイス等
の製造において電気、電子絶縁材料として用いられるポ
リイミド系の感光性樹脂組成物およびその製造方法に関
するものであり、詳しくは、この感光性樹脂組成物は、
ICやLSI等の半導体素子上に成膜される絶縁保護膜
であって、かつ微細パターンの加工が必要とされる分野
に適用される。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polyimide-based photosensitive resin composition used as an electrical / electronic insulating material in the production of semiconductor devices and the like and a method for producing the same. Thing
It is an insulating protective film formed on a semiconductor element such as an IC or an LSI, and is applied to a field in which fine pattern processing is required.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ポリイミド樹脂は、その高い耐熱
性、耐薬品性、電気絶縁性、低誘電率等によって、半導
体を含む電気、電子分野への展開がなされており、半導
体デバイスの分野では、IC、LSI、超LSIのチッ
プの層間絶縁膜や表面保護膜として利用されている。し
かし、従来のポリイミド膜パターン形成方法では、ポリ
イミド前駆体をウェーハ上に塗布・乾燥した後、フォト
レジストを用いてパターン蝕刻加工を行う必要があるた
めコストが増加し、また、ポリイミドのエッチングでは
環境有害物質であるヒドラジン溶液をポリイミドエッチ
ング液として使用しなくてはならなかった。
2. Description of the Related Art In recent years, polyimide resins have been developed into electric and electronic fields including semiconductors due to their high heat resistance, chemical resistance, electric insulation, low dielectric constant, etc. , IC, LSI, VLSI are used as interlayer insulating films and surface protection films for chips. However, in the conventional polyimide film pattern forming method, after the polyimide precursor is applied and dried on the wafer, it is necessary to perform pattern etching processing using a photoresist, resulting in an increase in cost. A hydrazine solution, which is a harmful substance, had to be used as a polyimide etching solution.

【0003】このため、ポリイミド前駆体に感光基を導
入し、ポリイミド自体のパターン形成を可能にする試み
が材料メーカー各社で行われており、いくつかの製品分
野において実用段階にきている。しかし、現在実用化さ
れている感光性ポリイミドは、感光基をイオン結合でポ
リイミド前駆体に導入しているものと、エステル結合を
介して導入しているものに大別できるが、前者ではパタ
ーニングプロセスにおいて使用される紫外線に対して感
度が低く(溶解度差が低く)、また工程内で樹脂の溶解
性が低下するためプロセスマージンが低い。また後者で
は、製造段階で複雑な工程が必要とするうえに実用に耐
え得る十分な分子量のものが得られない。更にこれらの
樹脂は、ネガ型のパターン形成方式を採用しているが、
パターン形成の際には有機溶剤によって現像しなくては
ならず、環境保全の観点から重大な問題となっている。
For this reason, material manufacturers have made attempts to introduce a photosensitive group into a polyimide precursor to enable pattern formation of the polyimide itself, and it has come to a practical stage in some product fields. However, the photosensitive polyimides currently in practical use can be roughly classified into those in which a photosensitive group is introduced into a polyimide precursor by an ionic bond and those in which a photosensitive group is introduced through an ester bond. The sensitivity to ultraviolet rays used in (1) is low (the difference in solubility is low), and the solubility of the resin decreases in the process, resulting in a low process margin. In the latter case, on the other hand, a complicated process is required in the production stage and a polymer having a molecular weight sufficient for practical use cannot be obtained. Furthermore, these resins use a negative pattern formation method,
In pattern formation, development must be performed with an organic solvent, which is a serious problem from the viewpoint of environmental protection.

【0004】また、近年みられるウェーハの大型化に伴
い、ポリイミドの熱硬化収縮の影響でウェーハの反りが
素子の破壊や、後工程におけるチップと封止材との剥離
による信頼性低下の要因となり、ポリイミドの熱膨張率
の低下が望まれている。
Further, with the recent increase in the size of wafers, the warp of the wafer due to the thermal shrinkage of polyimide causes the destruction of the element and the reduction of reliability due to the separation of the chip and the sealing material in the subsequent process. It is desired to reduce the coefficient of thermal expansion of polyimide.

【0005】これらの問題からパターン形成の際にアル
カリ水溶液が利用でき、この現像液に非膨潤で高解像度
化が可能なネガ型感光性をもつとともに、イミド化の際
の熱膨張率を低下させたポリイミド前駆体が強く要求さ
れている。
Due to these problems, an aqueous alkaline solution can be used for pattern formation, and the developer has a negative-type photosensitivity that does not swell and enables high resolution, and also lowers the coefficient of thermal expansion during imidization. There is a strong demand for polyimide precursors.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前述
した従来の欠点を解消し、アルカリ水溶液にて現像が可
能なネガ型パターン形成能を有し、低熱膨張率のポリイ
ミド前駆体による感光性樹脂組成物と、このポリイミド
前駆体を安定して製造する方法を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of the prior art, to provide a negative-type patterning material capable of developing with an aqueous alkaline solution, and to use a polyimide precursor having a low coefficient of thermal expansion. PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stable resin composition and a method for stably producing this polyimide precursor.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の目的
を達成しようと鋭意研究を進めた結果、後述の熱架橋性
の末端官能基を導入した樹脂組成物と、その製造方法を
採用することによって、上記目的を達成できることを見
いだし、本発明を完成したものである。
Means for Solving the Problems As a result of intensive research aimed at achieving the above object, the present inventor has adopted a resin composition having a thermally crosslinkable terminal functional group described below and a method for producing the same. It was found that the above-mentioned object can be achieved by doing so, and the present invention has been completed.

【0008】即ち、本発明の感光性樹脂組成物は、
(A)次の一般式で示されるポリイミド前躯体、
That is, the photosensitive resin composition of the present invention is
(A) a polyimide precursor represented by the following general formula,

【化3】 (但し、式中、R1 、R2 は、4価の芳香族基、複数の
芳香族環が単結合された4価の有機基、又は複数の芳香
族環が−O−、−CO−、−SO2 −または−CH2
で結合された4価の有機基であり、R3 、R4 は、2価
の芳香族基、複数の芳香族環が単結合された2価の有機
基、又は複数の芳香族環が−O−、−CO−、−SO2
−または−CH2 −で結合された2価の芳香族基であ
り、R5 、R 6 は、1以上のエチレン性不飽和結合を有
する1価の有機基であり、R7 、R8は、αβ不飽和結
合を有する有機基であり、そしてm、nは1以上の整数
である) (B)上記ポリイミド前躯体を製造するにあたり用いる
脱水縮合剤、(C)活性光線に対する感度を向上させる
ために用いる感光剤および(D)溶剤からなることを特
徴とする。
[Chemical 3] (However, in the formula, R1, R2Is a tetravalent aromatic group, a plurality of
A tetravalent organic group with a single aromatic ring bond, or multiple aromatic groups
The group ring is -O-, -CO-, -SO2-Or-CH2
Is a tetravalent organic group bonded by3, RFourIs divalent
Aromatic group, divalent organic compound in which multiple aromatic rings are single-bonded
A group or a plurality of aromatic rings is -O-, -CO-, -SO2
-Or-CH2A divalent aromatic group bonded by-
RFive, R 6Has one or more ethylenically unsaturated bonds
R is a monovalent organic group7, R8Is the αβ unsaturated
Is an organic group having a bond, and m and n are integers of 1 or more.
Is) (B) Used in manufacturing the above polyimide precursor
Dehydrating and condensing agent, (C) improve sensitivity to actinic rays
It consists of a photosensitizer and (D) solvent used for
To collect.

【0009】また本発明の感光性樹脂組成物の製造方法
は、 (1)化3の一般式中に示されるR1 及びR2 の骨格を
もつ酸二無水物とR5 及びR6 の骨格をもつ化合物との
エステル化反応工程、 (2)脱水縮合剤の添加のもとで、(1)のエステル化
反応物と式化3中のR3及びR4 の骨格をもつジアミン
化合物との重縮合反応工程、 (3)(2)の重縮合反応物と化3の一般式中に示され
るR1 及びR2 の骨格をもつ酸二無水物との反応 (4)化3の一般式中に示されるR7 及びR8 の骨格を
もつ酸無水物との反応 (5)重縮合反応したポリイミド前躯体の精製工程およ
び (6)感光剤を含むポリイミド前駆体溶液の調製工程を
含むことを特徴とする。
Further, the method for producing the photosensitive resin composition of the present invention comprises (1) an acid dianhydride having a skeleton of R 1 and R 2 represented by the general formula of Chemical formula 3 and a skeleton of R 5 and R 6 . An esterification reaction step with a compound having (2) a diamine compound having a skeleton of R 3 and R 4 in Formula 3 under the addition of a dehydration condensation agent Polycondensation reaction step (3) Reaction of polycondensation reaction product of (2) with acid dianhydride having skeleton of R 1 and R 2 shown in the general formula of Chemical formula (4) General formula of chemical formula 3 Reaction with an acid anhydride having a skeleton of R 7 and R 8 shown therein (5) a step of purifying a polyimide precursor subjected to polycondensation reaction, and (6) a step of preparing a polyimide precursor solution containing a photosensitizer Is characterized by.

【0010】以下、本発明を詳細に説明する。The present invention will be described in detail below.

【0011】まず、本発明の感光性樹脂組成物の製造方
法を、(1)〜(6)の工程順に説明し、同時に本発明
の感光性樹脂組成物の(A)〜(D)成分を説明する。
First, the method for producing the photosensitive resin composition of the present invention will be described in the order of steps (1) to (6), and at the same time, the components (A) to (D) of the photosensitive resin composition of the present invention will be described. explain.

【0012】(1)化3の式中におけるR1 、R2 骨格
をもつ酸二無水物とR5 、R6 骨格をもつ化合物とのエ
ステル化反応工程 本発明におけるポリイミド前躯体のR1 、R2 骨格をも
つ酸成分としては、例えば、ピロメリット酸、3,
3′,4,4′−ビフェニルテトラカルボン酸、2,
3,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸、3,
3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、
4,4′−オキシジフタル酸、3,3′,4,4′−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸、2,2−ビス
(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸、
1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸、1,
4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,
3,4−シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,3,
4−ブタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロ
ペンタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロヘ
キサンテトラカルボン酸、3,3′,4,4′−ビシク
ロヘキシルテトラカルボン酸、2,3,5−トリカルボ
キシシクロペンチル酢酸、3,4−ジカルボキシ−1,
2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1−コハク酸等
とその無水物が挙げられ、これらは単独又は混合して使
用することかができる。
(1) Esterification reaction step of the acid dianhydride having R 1 and R 2 skeletons in the formula of Chemical formula 3 and the compound having R 5 and R 6 skeletons R 1 of the polyimide precursor of the present invention, Examples of the acid component having an R 2 skeleton include pyromellitic acid, 3,
3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid, 2,
3,3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic acid, 3,
3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid,
4,4'-oxydiphthalic acid, 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane, 2,3,6,7- Naphthalene tetracarboxylic acid,
1,2,5,6-naphthalene tetracarboxylic acid, 1,
4,5,8-naphthalene tetracarboxylic acid, 1,2,
3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,3
4-butanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclopentanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, 3,3 ', 4,4'-bicyclohexyltetracarboxylic acid, 2,3,5-tricarboxycyclopentyl acetic acid, 3,4-dicarboxy-1,
Examples thereof include 2,3,4-tetrahydronaphthalene-1-succinic acid and anhydrides thereof, and these can be used alone or in combination.

【0013】上記R1 、R2 骨格となる酸成分にエステ
ル結合で導入するR5 、R6 骨格をもつ化合物として
は、例えば、ペンタエリスリトールトリアクリレート、
ペンタエリスリトールトリメタクリレート、ペンタエリ
スリトールアクリレートジメタクリレート、ペンタエリ
スリトールジアクリレートメタクリレート、グリセロー
ルジアクリレート、グリセロールジメタクリレート、グ
リセロールアクリレートメタクリレート、1,3−ジア
クリロイルエチル−5−ヒドロキシエチルイソシアヌレ
ート、エチレングリコール変性ペンタトリエリスリトー
ルトリアクリレート、プロピレングリコール変性ペンタ
トリエリスリトールトリアクリレート、トリメチロール
プロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメ
タクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2
−ヒドロキシエチルメタクリレート、グリシジルアクリ
レート、グリシジルメタクリレート、2−ヒドロキシプ
ロピルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルメタクリ
レート、2−ヒドロキシブチルアクリレート、2−ヒド
ロキシブチルメタクリレート等が挙げられ、これらは単
独又は2種以上混合して使用することができる。また、
これらは上記酸成分に対して1.5〜3.0倍モル、好
ましくは2.0〜2.5倍モルの範囲で使用することが
できる。
Examples of the compound having an R 5 or R 6 skeleton to be introduced into the acid component serving as the R 1 or R 2 skeleton by an ester bond include, for example, pentaerythritol triacrylate,
Pentaerythritol trimethacrylate, pentaerythritol acrylate dimethacrylate, pentaerythritol diacrylate methacrylate, glycerol diacrylate, glycerol dimethacrylate, glycerol acrylate methacrylate, 1,3-diacryloylethyl-5-hydroxyethyl isocyanurate, ethylene glycol modified pentatrierythritol Triacrylate, propylene glycol-modified pentatrierythritol triacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2
-Hydroxyethyl methacrylate, glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, 2-hydroxybutyl acrylate, 2-hydroxybutyl methacrylate and the like are used, and these are used alone or in combination of two or more. can do. Also,
These can be used in a range of 1.5 to 3.0 times, preferably 2.0 to 2.5 times the mol of the above acid component.

【0014】上記R1 、R2 骨格をもつ酸成分と上記R
5 、R6 骨格をもつ化合物のエステル化反応は、例えば
1 、R2 骨格をもつ酸二無水物とR5 、R6 骨格をも
つアルコールにて、反応溶媒としてはポリイミド前駆体
合成に良好な非プロトン性極性溶媒、例えばN−メチル
−2−ピロリドン等を用い、反応を円滑に行うための塩
基性触媒、例えばトリエチルアミン、ピリジン、トリエ
タノールアミン等の存在下、常温で行うのが好ましい。
この塩基性触媒は上記酸成分に対して1.5〜3.0倍
モル、好ましくは2.0〜2.5倍モルの範囲で使用す
ることができる。
An acid component having the above R 1 and R 2 skeletons and the above R
The esterification reaction of the compound having the R 5 and R 6 skeletons is performed, for example, by using an acid dianhydride having the R 1 and R 2 skeletons and an alcohol having the R 5 and R 6 skeletons, and a reaction solvent good for synthesizing a polyimide precursor. It is preferable to carry out the reaction at room temperature in the presence of a basic aprotic polar solvent such as N-methyl-2-pyrrolidone or the like and a basic catalyst such as triethylamine, pyridine or triethanolamine to facilitate the reaction.
This basic catalyst can be used in a range of 1.5 to 3.0 times, preferably 2.0 to 2.5 times the mol of the above acid component.

【0015】(2)上記エステル化合物と前述の化3の
式中のR3 、R4 骨格からなるジアミン化合物との重縮
合反応工程 本発明に用いるR3 、R4 骨格となるジアミン化合物と
しては、例えば、m−フェニレンジアミン、p−フェニ
レンジアミン、2,4−ジアミノトルエン、2,5−ジ
アミノトルエン、2,6−ジアミノトルエン、3,5−
ジアミノトルエン、1−メトキシ−2,4−ジアミノベ
ンゼン、1,4−ジアミノ−2−メトキシ−5−メチル
ベンゼン、1,3−ジアミノ−4,6−ジメチルベンゼ
ン、1,2−ジアミノナフタレン、1,4−ジアミノナ
フタレン、1,5−ジアミノナフタレン、1,6−ジア
ミノナフタレン、1,7−ジアミノナフタレン、1,8
−ジアミノナフタレン、2,3−ジアミノナフタレン、
2,6−ジアミノナフタレン、1,4−ジアミノ−2−
メチルナフタレン、1,5−ジアミノ−2−メチルナフ
タレン、1,3−ジアミノ−2−フェニルナフタレン、
2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、1,1
−ビス(4−アミノフェニル)エタン、4,4′−ジア
ミノジフェニルメタン、3,3′−ジメチル−4,4′
−ジアミノジフェニルメタン、3,3′,5,5′−テ
トラメチル−4,4′−ジアミノジフェニルメタン、
3,3′−ジメチル−5,5′−ジエチル−4,4′−
ジアミノジフェニルメタン、3,3′,5,5′−テト
ラエチル−4,4′−ジアミノジフェニルメタン、4,
4′−メチレンビス(シクロヘキシルアミン)、4,
4′−メチレンビス(3,3−ジメチル−シクロヘキシ
ルアミン)、2,4′−ジアミノジフェニルスルフィ
ド、4,4′−ジアミノジフェニルスルフィド、3,
3′−ジアミノジフェニルスルフォン、4,4′−ジア
ミノジフェニルスルフォン、4,4′−ジアミノベンズ
アニリド、3,3′−ジアミノジフェニルエーテル、
3,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジ
アミノジフェニルエーテル、ビス(4−アミノフェニ
ル)ジエチルシラン、ビス(4−アミノフェニル)ジフ
ェニルシラン、ビス(4−アミノフェニル)−N−メチ
ルアミン、ビス(4−アミノフェニル)−N−フェニル
アミン、3,3′−ジアミノベンゾフェノン、4,4′
−ジアミノベンゾフェノン、2,6−ジアミノピリジ
ン、3,5−ジアミノピリジン、4,4′−ジアミノビ
フェニル、3,3′−ジアミノビフェニル、3,3′−
ジメチル−4,4′−ジアミノビフェニル、3,3′−
ジメトキシ−4,4′−ジアミノビフェニル、3,3′
−ジヒドロキシ−4,4′−ジアミノビフェニル、o−
トルイジンスルフォン、4,4′−ビス(4−アミノフ
ェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(4−アミ
ノフェノキシ)フェニル]プロパン、ビス[4−(4−
アミノフェノキシ)フェニル]エーテル、ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォン、ビス
[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルフォ
ン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、9,
10−ビス(4−アミノフェニル)アントラセン、9,
9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、2,2−
ビス(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、
2,2−ビス(3−アミノフェニル)ヘキサフルオロプ
ロパン、1,1−ビス(4−アミノフェニル)−1−フ
ェニル−2,2,2−トリフルオロエタン、2,2−ビ
ス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフル
オロプロパン、2,2−ビス(3−アミノ−4−メチル
フェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4
−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロ
プロパン等が挙げられ、これらは単独又は2種以上混合
して使用することができる。また、これらの化合物はR
1 、R2 骨格となる酸二無水物に対して1〜5倍モルで
使用するのが好ましいが、使用目的や最終粘度、分子量
に合わせて2〜3倍モルの範囲で使用することができ
る。
(2) Polycondensation reaction step of the above ester compound and the diamine compound having the R 3 and R 4 skeletons in the above formula 3 As the diamine compound having the R 3 and R 4 skeletons used in the present invention, , For example, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 2,4-diaminotoluene, 2,5-diaminotoluene, 2,6-diaminotoluene, 3,5-
Diaminotoluene, 1-methoxy-2,4-diaminobenzene, 1,4-diamino-2-methoxy-5-methylbenzene, 1,3-diamino-4,6-dimethylbenzene, 1,2-diaminonaphthalene, 1 , 4-diaminonaphthalene, 1,5-diaminonaphthalene, 1,6-diaminonaphthalene, 1,7-diaminonaphthalene, 1,8
-Diaminonaphthalene, 2,3-diaminonaphthalene,
2,6-diaminonaphthalene, 1,4-diamino-2-
Methylnaphthalene, 1,5-diamino-2-methylnaphthalene, 1,3-diamino-2-phenylnaphthalene,
2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 1,1
-Bis (4-aminophenyl) ethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-dimethyl-4,4 '
-Diaminodiphenylmethane, 3,3 ', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane,
3,3'-dimethyl-5,5'-diethyl-4,4'-
Diaminodiphenylmethane, 3,3 ', 5,5'-tetraethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,
4'-methylenebis (cyclohexylamine), 4,
4'-methylenebis (3,3-dimethyl-cyclohexylamine), 2,4'-diaminodiphenyl sulfide, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,
3'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminobenzanilide, 3,3'-diaminodiphenyl ether,
3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl ether, bis (4-aminophenyl) diethylsilane, bis (4-aminophenyl) diphenylsilane, bis (4-aminophenyl) -N-methylamine, bis (4-Aminophenyl) -N-phenylamine, 3,3'-diaminobenzophenone, 4,4 '
-Diaminobenzophenone, 2,6-diaminopyridine, 3,5-diaminopyridine, 4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-diaminobiphenyl, 3,3'-
Dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-
Dimethoxy-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3 '
-Dihydroxy-4,4'-diaminobiphenyl, o-
Toluidine sulfone, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, bis [4- (4-
Aminophenoxy) phenyl] ether, bis [4-
(4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene,
1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 9,
10-bis (4-aminophenyl) anthracene, 9,
9-bis (4-aminophenyl) fluorene, 2,2-
Bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane,
2,2-bis (3-aminophenyl) hexafluoropropane, 1,1-bis (4-aminophenyl) -1-phenyl-2,2,2-trifluoroethane, 2,2-bis (3-amino) -4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (3-amino-4-methylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis [4
-(4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane and the like can be mentioned, and these can be used alone or in combination of two or more kinds. In addition, these compounds are R
1 , 1 to 5 times the molar amount of the acid dianhydride as the R 2 skeleton is preferably used, but it can be used in the range of 2 to 3 times the molar amount depending on the purpose of use, final viscosity and molecular weight. .

【0016】次に本発明における、上記エステル化合物
とジアミン成分の重縮合反応に使用する脱水縮合剤につ
いて説明する。
Next, the dehydration condensing agent used in the polycondensation reaction of the above ester compound and diamine component in the present invention will be explained.

【0017】上記(1)エステル化反応物の酸成分とジ
アミン成分とを重縮合法によって反応させる場合、通常
は、酸クロライドを用いて行われるが、半導体デバイス
を含む電気、電子分野においては、遊離したクロルイオ
ンが製品信頼性不良の原因となるため、酸クロライド法
による重合を行う場合には、重縮合後に純水にて十分洗
浄する必要がある。また、他の重縮合法として脱水縮合
剤であるDCC(ジシクロヘキシルカルボジイミド)等
のカルボジイミド誘導体を用いることが可能であるが、
副反応の併発、ポリイミド前駆体のゲル化、毒性
等の問題があり、さらには副生成物として発生するウレ
アの完全な除去が困難である。そのため、反応系を冷却
したり、脱水縮合剤を数回に分けて添加したり、酸成分
とジアミン成分のモルバランスを崩すなどして使用しな
くてはならない。また、他の方法として近年、本発明者
らが特許申請をしている脱水縮合剤としてジフェニル
(2,3−ジヒドロ−2−チオキソ−3−ベンゾオキサ
ゾール)ホスホナートおよびその誘導体、ジフェニル
(2,3−ジヒドロ−2−チオキソ−3−ベンゾチアゾ
ール)ホスホナートおよびその誘導体による重縮合法が
挙げられ、この方法では、穏和な条件で安定した製造が
可能であるため、高い解像度をもち、かつ高膜特性を有
するポリイミド前駆体を得ることができる。これらは単
独又は2種以上混合して使用することができる。これら
の添加量は、上記エステル化合物に対して1〜3倍モル
の範囲で、好ましくは2〜2.5倍モルの範囲で使用す
ることができる。
When the acid component and the diamine component of the above (1) esterification reaction product are reacted by a polycondensation method, it is usually carried out using an acid chloride, but in the electric and electronic fields including a semiconductor device, Since the released chlorine ion causes poor product reliability, it is necessary to sufficiently wash with pure water after polycondensation when carrying out the polymerization by the acid chloride method. As another polycondensation method, it is possible to use a carbodiimide derivative such as DCC (dicyclohexylcarbodiimide) which is a dehydration condensation agent.
There are problems such as side reactions occurring simultaneously, gelation of the polyimide precursor, and toxicity, and it is difficult to completely remove urea generated as a by-product. Therefore, the reaction system must be cooled, the dehydration condensing agent must be added in several batches, or the molar balance between the acid component and the diamine component must be disrupted before use. In addition, as another method, diphenyl (2,3-dihydro-2-thioxo-3-benzoxazole) phosphonate and its derivative, diphenyl (2,3 -Dihydro-2-thioxo-3-benzothiazole) phosphonate and a derivative thereof, a polycondensation method can be mentioned. Since this method enables stable production under mild conditions, it has high resolution and high film properties. It is possible to obtain a polyimide precursor having These may be used alone or in combination of two or more. These can be used in an amount of 1 to 3 times, preferably 2 to 2.5 times the molar amount of the above ester compound.

【0018】本発明に用いるポリイミド前躯体の重縮合
反応の溶媒としては、例えば、N−メチルピロリドン、
N,N′−ジメチルアセトアミド、N,N′−ジメチル
ホルムアミド等の非プロトン性極性溶剤や、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、γ−ブチロラクトン等が用
いられ、これらは単独又は2種以上混合して使用するこ
とができる。
As the solvent for the polycondensation reaction of the polyimide precursor used in the present invention, for example, N-methylpyrrolidone,
An aprotic polar solvent such as N, N'-dimethylacetamide or N, N'-dimethylformamide, cyclohexanone, cyclopentanone, γ-butyrolactone or the like is used, and these are used alone or in combination of two or more. be able to.

【0019】(3)(2)の重縮合反応物と化3の繰返
し単位中に示されるR1 、R2 骨格をもつ酸二無水物と
の反応 本発明におけるポリイミド前躯体のR1 、R2 骨格をも
つ酸成分としては、例えば、ピロメリット酸、3,
3′,4,4′−ビフェニルテトラカルボン酸、2,
3,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸、3,
3′,4,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、
4,4′−オキシジフタル酸、3,3′,4,4′−ジ
フェニルスルホンテトラカルボン酸、2,2−ビス
(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パン、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸、
1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸、1,
4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,
3,4−シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,3,
4−ブタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロ
ペンタンテトラカルボン酸、1,2,4,5−シクロヘ
キサンテトラカルボン酸、3,3′,4,4′−ビシク
ロヘキシルテトラカルボン酸、2,3,5−トリカルボ
キシシクロペンチル酢酸、3,4−ジカルボキシ−1,
2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1−コハク酸等
とその無水物が挙げられ、これらは単独又は混合して使
用することかができる。また、これらの化合物は、
3 、R4 骨格となるジアミン成分に対して、(1)と
(3)で用いるR1 、R2 骨格をもつ酸二無水物が0.
9〜1倍モルになるよう使用するのが好ましい。
[0019] (3) R 1, the polyimide precursor in the reaction the present invention with R 1, an acid dianhydride having R 2 skeleton represented in the repeating units of the polycondensation reaction and of 3 (2) R Examples of the acid component having two skeletons include pyromellitic acid, 3,
3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid, 2,
3,3 ', 4'-biphenyltetracarboxylic acid, 3,
3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid,
4,4'-oxydiphthalic acid, 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane, 2,3,6,7- Naphthalene tetracarboxylic acid,
1,2,5,6-naphthalene tetracarboxylic acid, 1,
4,5,8-naphthalene tetracarboxylic acid, 1,2,
3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,3
4-butanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclopentanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, 3,3 ', 4,4'-bicyclohexyltetracarboxylic acid, 2,3,5-tricarboxycyclopentyl acetic acid, 3,4-dicarboxy-1,
Examples thereof include 2,3,4-tetrahydronaphthalene-1-succinic acid and anhydrides thereof, and these can be used alone or in combination. In addition, these compounds are
With respect to the diamine component serving as the R 3 and R 4 skeletons, the acid dianhydride having the R 1 and R 2 skeletons used in (1) and (3) is 0.
It is preferable to use it so that the molar ratio is 9 to 1 times.

【0020】(4)化3の繰返し単位中に示される
7 、R8 骨格をもつ酸無水物との反応 R7 、R8 骨格をもつ酸無水物としては、例えば、アリ
ルナジック酸無水物、メチルナジック酸無水物、1−シ
クロペンテン−1,2−酸無水物、1,2,5,6−テ
トラヒドロキシフタル酸無水物、3,4,5,6−テト
ラヒドロキシフタル酸無水物、クロトン酸無水物、メタ
クリル酸無水物、アリルナジック酸無水物、メチルナジ
ック酸無水物、アルケニルナジック酸無水物、マレイン
酸無水物等が用いられ、これらは単独又は2種以上混合
して使用することができる。また、これらの化合物は、
1 、R2 骨格をもつ酸二無水物に対してが0.01〜
0.1倍モルの範囲で好ましくは0.03〜0.05倍
モルの範囲になるよう使用することができる。
(4) Reaction with an acid anhydride having an R 7 or R 8 skeleton shown in the repeating unit of Chemical formula 3 Examples of the acid anhydride having an R 7 or R 8 skeleton include allyl nadic acid anhydride. , Methyl nadic acid anhydride, 1-cyclopentene-1,2-anhydride, 1,2,5,6-tetrahydroxyphthalic anhydride, 3,4,5,6-tetrahydroxyphthalic anhydride, croton An acid anhydride, a methacrylic acid anhydride, an allyl nadic acid anhydride, a methyl nadic acid anhydride, an alkenyl nadic acid anhydride, a maleic acid anhydride, etc. are used, and these may be used alone or in combination of two or more. it can. In addition, these compounds are
0.01 to dianhydride having R 1 and R 2 skeleton
It can be used in a 0.1-fold molar range, preferably in a 0.03-0.05-fold molar range.

【0021】(5)重縮合反応したポリイミド前躯体の
精製工程 得られたスラリー状高分子をメタノール、エタノール、
イソプロピルアルコール、水等の貧溶剤中で攪拌、洗浄
した後、析出した物を減圧乾燥して前述した化3で示さ
れる樹脂骨格をもつ化合物が得られる。
(5) Step of Purifying Polycondensation Precursor of Polyimide Precursor The obtained slurry polymer is methanol, ethanol,
After stirring and washing in a poor solvent such as isopropyl alcohol or water, the deposited product is dried under reduced pressure to obtain the compound having the resin skeleton represented by the above chemical formula 3.

【0022】(6)光重合開始剤、増感剤、保存安定
剤、感光剤を含む溶剤の調製工程 さらに本発明においては、感度、解像度の向上を目的と
するために光反応開始剤や増感剤、感光剤を含む溶剤な
どを添加してもよい。
(6) Process for preparing a solvent containing a photopolymerization initiator, a sensitizer, a storage stabilizer, and a photosensitizer. Further, in the present invention, a photoreaction initiator or a photoinitiator is added for the purpose of improving sensitivity and resolution. A solvent containing a sensitizer or a photosensitizer may be added.

【0023】光反応開始剤としては、例えば、ベンゾフ
ェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、4−ベンゾイ
ル−4′−メチルジフェニルケトン、ジベンジルケト
ン、2,2′−ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロ
キシ−2−メチルプロピオフェノン等のアセトフェノン
誘導体、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケト
ン、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−
イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサント
ン、ベンジル、ベンジルジメチルケタール、ベンゾイ
ン、ベンゾインメチルエーテル、2,6′−ジ(4′−
ジアジドベンザル)−4−エチルシクロヘキサノン、
2,6′−ジ(4′−ジアジドベンザル)−4−ブチル
シクロヘキサノン、2,6′−ジ(4′−ジアジドベン
ザル)−4−(t−ブチル)シクロヘキサノン等のアジ
ド化合物、1−フェニル−1,2−ブタジオン−2−
(o−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−
プロパンジオン−2−(o−メトキシカルボニル)オキ
シム、1,3−ジフェニル−プロパントリオン−2−
(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−
3−エトキシ−プロパントリオン−2−(o−ベンゾイ
ル)オキシム等のオキシム類、N−フェニルグリシン、
N−(p−エチル)フェニルグリシン、N−(p−メチ
ル)フェニルグリシン等のグリシン誘導体等が挙げら
れ、これらは単独又は2種以上混合して使用することが
できる。これらの添加量は、上記組成物100重量部に
対して0.1〜10重量部が好ましい。
Examples of the photoreaction initiator include benzophenone, methyl o-benzoylbenzoate, 4-benzoyl-4'-methyldiphenylketone, dibenzylketone, 2,2'-diethoxyacetophenone and 2-hydroxy-2. -Acetophenone derivatives such as methylpropiophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-
Isopropyl thioxanthone, diethyl thioxanthone, benzyl, benzyl dimethyl ketal, benzoin, benzoin methyl ether, 2,6'-di (4'-
Diazidobenzal) -4-ethylcyclohexanone,
Azide compounds such as 2,6′-di (4′-diazidobenzal) -4-butylcyclohexanone and 2,6′-di (4′-diazidobenzal) -4- (t-butyl) cyclohexanone, 1-phenyl-1, 2-butadion-2-
(O-Methoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-
Propanedion-2- (o-methoxycarbonyl) oxime, 1,3-diphenyl-propanetrione-2-
(O-Ethoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-
Oximes such as 3-ethoxy-propanetrione-2- (o-benzoyl) oxime, N-phenylglycine,
Examples thereof include glycine derivatives such as N- (p-ethyl) phenylglycine and N- (p-methyl) phenylglycine, and these may be used alone or in combination of two or more. The addition amount of these is preferably 0.1 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the composition.

【0024】また、本発明に使用される光反応開始剤
は、紫外線中のi線(365nm)、g線(436n
m)において効率よく反応性ラジカルを発生させるもの
であれば上記化合物に限定されるものではない。
The photoreaction initiator used in the present invention is an i ray (365 nm) or g ray (436n) in ultraviolet rays.
The compound is not limited to the above compounds as long as it can efficiently generate a reactive radical in m).

【0025】本発明に使用される増感剤としては、例え
ば、ミヒラーズケトン、4,4′−ビス(ジエチルアミ
ノベンゾフェノン)、2,5−ビス(ジエチルアミノベ
ンザル)シクロペンタノン、2,6−ビス(4′−ジエ
チルアミノベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス
(4′−ジメチルアミノベンザル)−4−メチルシクロ
ヘキサノン、2,6−ビス(4′−ジエチルアミノベン
ザル)−4−メチルシクロヘキサノン、4,4′−ビス
(ジエチルアミノ)カルコン、4,4′−ビス(ジメチ
ルアミノ)カルコン、p−ジメチルアミノシンナミリデ
ンインダノン、p−ジメチルアミノベンジリデンインダ
ノン、2−(p−ジメチルアミノフェニルビフェニレ
ン)−ベンゾチアゾール、2−(p−ジメチルアミノフ
ェニルビニレン)−ベンゾチアゾール、1,3−ビス
(4′−ジメチルアミノベンザル)アセトン、3,3′
−カルボニル−ビス(7−ジエチルアミノクマリン)、
3−アセチル−7−ジメチルアミノクマリン、3−エト
キシカルボニル−7−ジメチルアミノクマリン、3−ベ
ンジロキシカルボニル−7−ジメチルアミノクマリン、
3−メトキシカルボニル−7−ジエチルアミノクマリ
ン、3−エトキシカルボニル−7−ジエチルアミノクマ
リン、N−フェニル−N′−エタノールアミン、N−フ
ェニルエタノールアミン、N−P−トリルジエタノール
アミン、N−フェニルメタノールアミン、4−モルホニ
ノベンゾフェノンジメチルアミノ安息香酸イソアミル、
2−メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベ
ンゾオキサゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、
1−フェニル−5−メルカプト−1H−テトラゾール等
が挙げられ、これらは単独又は2種以上混合して使用す
ることができる。その添加量は、上記樹脂組成物100
重量部に対して0.1〜10重量部が好ましい。また、
これらの増感剤は、使用する波長ににあわせて、更には
要求感度に合わせて利用することで各波長における解像
度を向上させることができる。
As the sensitizer used in the present invention, for example, Michler's ketone, 4,4'-bis (diethylaminobenzophenone), 2,5-bis (diethylaminobenzal) cyclopentanone, 2,6-bis ( 4'-diethylaminobenzal) cyclohexanone, 2,6-bis (4'-dimethylaminobenzal) -4-methylcyclohexanone, 2,6-bis (4'-diethylaminobenzal) -4-methylcyclohexanone, 4, 4'-bis (diethylamino) chalcone, 4,4'-bis (dimethylamino) chalcone, p-dimethylaminocinnamylideneindanone, p-dimethylaminobenzylideneindanone, 2- (p-dimethylaminophenylbiphenylene)- Benzothiazole, 2- (p-dimethylaminophenylvinylene)- Nzochiazoru, 1,3-bis (4'-dimethylamino benzal) acetone, 3,3 '
-Carbonyl-bis (7-diethylaminocoumarin),
3-acetyl-7-dimethylaminocoumarin, 3-ethoxycarbonyl-7-dimethylaminocoumarin, 3-benzyloxycarbonyl-7-dimethylaminocoumarin,
3-methoxycarbonyl-7-diethylaminocoumarin, 3-ethoxycarbonyl-7-diethylaminocoumarin, N-phenyl-N'-ethanolamine, N-phenylethanolamine, NP-tolyldiethanolamine, N-phenylmethanolamine, 4 -Morphoninobenzophenone dimethylaminoisoamyl benzoate,
2-mercaptobenzimidazole, 2-mercaptobenzoxazole, 2-mercaptobenzothiazole,
1-Phenyl-5-mercapto-1H-tetrazole and the like can be mentioned, and these can be used alone or in combination of two or more kinds. The amount of addition is 100
0.1 to 10 parts by weight is preferable with respect to parts by weight. Also,
By using these sensitizers according to the wavelength to be used and further according to the required sensitivity, the resolution at each wavelength can be improved.

【0026】樹脂の保存安定性を向上させるための重合
禁止剤としては、例えば、ヒドロキノン、メチルヒドロ
キノン、ブチルキノン等のヒドロキノン誘導体を使用す
ることができる。これらの化合物は単独又は2種以上混
合して使用することができる。その添加量は、上記樹脂
組成物100重量部に対して0.1〜10重量部が好ま
しい。
As the polymerization inhibitor for improving the storage stability of the resin, hydroquinone derivatives such as hydroquinone, methylhydroquinone and butylquinone can be used. These compounds can be used alone or in combination of two or more. The addition amount is preferably 0.1 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the resin composition.

【0027】また、本発明によって得られる樹脂組成物
は、溶剤に溶解した性状で使用されるが、溶解に使用さ
れる溶剤としては、例えば、N−メチルピロリドン、
N,N′−ジメチルアセトアミド、N,N′−ジメチル
ホルムアミド等の非プロトン性極性溶剤や、シクロヘキ
サノン、シクロペンタノン、ジエチレングリコールジエ
チルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテ
ル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、γ−ブチロ
ラクトン等が挙げられ、これらは単独又は2種以上混合
して使用することができる。
The resin composition obtained by the present invention is used in the form of being dissolved in a solvent. Examples of the solvent used for the dissolution include N-methylpyrrolidone,
Aprotic polar solvents such as N, N'-dimethylacetamide, N, N'-dimethylformamide, cyclohexanone, cyclopentanone, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dibutyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, Examples thereof include butyl lactate and γ-butyrolactone, which can be used alone or in combination of two or more.

【0028】次に、本発明の樹脂組成物の使用方法につ
いて説明する。
Next, a method of using the resin composition of the present invention will be described.

【0029】半導体デバイスへの適用を考える場合、ま
ず、この樹脂組成物を対象とするウェーハ上にスピンコ
ーターを用いてコーティングし、次に80〜120℃で
塗膜を乾燥させる。得られた塗膜上にパターンが描画さ
れているマスクを透過させて365nm、436nmと
いった活性紫外線を照射する。次に、80〜120℃で
再度加熱処理を行う。次に、この塗膜をアルカリ水溶
液、例えば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナ
トリウム、炭酸カリウム、アンモニア等の無機アルカリ
水溶液やエチルアミン、n−プロピルアミン等の一級ア
ミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の二
級アミン、トリエチルアミン、メチルジメチルアミン等
の三級アミン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノ
ールアミン等のアルコールアミン、テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロ
キシド等の四級アミンの水溶液を使用して活性光線未照
射部のみを溶解現像し、純水によってリンス洗浄する。
現像方式としては、スプレー、パドル、浸漬、超音波等
の方式が考えられる。これによって、対象とするウェー
ハ上には所望するネガ型パターンを得ることができる。
さらに、この塗膜を熱処理させることによってこの樹脂
組成物をイミド化し、膜特性に優れるポリイミド膜のネ
ガ型パターンを形成することができる。
When considering application to a semiconductor device, first, the resin composition is coated on a target wafer using a spin coater, and then the coating film is dried at 80 to 120 ° C. A mask having a pattern drawn on the obtained coating film is transmitted to irradiate active ultraviolet rays of 365 nm and 436 nm. Next, heat treatment is performed again at 80 to 120 ° C. Next, this coating film is treated with an alkaline aqueous solution, for example, an inorganic alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate or ammonia, a primary amine such as ethylamine or n-propylamine, diethylamine or di-n-propyl. Use secondary amines such as amines, tertiary amines such as triethylamine and methyldimethylamine, alcohol amines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, and aqueous solutions of quaternary amines such as tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide. Then, only the portion not irradiated with actinic rays is dissolved and developed, and rinsed with pure water.
As a developing method, a method such as spraying, paddle, dipping, and ultrasonic wave can be considered. As a result, a desired negative pattern can be obtained on the target wafer.
Furthermore, by heat-treating this coating film, this resin composition can be imidized to form a negative pattern of a polyimide film having excellent film characteristics.

【0030】[0030]

【作用】即ち、本発明における最大の特徴は、以下のネ
ガ型パターン形成方法と、末端不飽和結合を熱架橋反応
させ熱膨張係数を低下させるメカニズムを発見したこと
による。本樹脂組成物は、上記使用方法において、基材
上にスピンコート乾燥工程を行い、次いでこの塗膜に紫
外線等の活性光線を照射することによって活性光線照射
部にてラジカル発生剤が反応し、ラジカルが発生する。
このラジカルは、R5 またはR6 骨格を有する化合物
が、化学的に反応して架橋構造を形成する。次工程で加
熱することによりR5 、R6 骨格を有する化合物の反応
が促進される。このポリマーはカルボキシル基を有して
いるため、アルカリ水溶液に対して高い溶解性をもって
いるが、R5 、R6 骨格を有する化合物が架橋構造を形
成することによりアルカリ水溶液に対して不溶化となる
ため、この結果、紫外線等の活性光線を照射した部分の
みが不溶化し溶解せず、未照射部はアルカリ水溶液に溶
解性を示すこととなる。この高いコントラストのため
に、本発明における感光性樹脂組成物は、高解像度で寸
法制御性のよいネガ型パターンを形成することが可能と
なった。また、パターン形成後の熱硬化反応において、
末端不飽和結合を有することで高い結晶性を得られるこ
とから、熱膨張率を低下させることが可能となった。
In other words, the greatest feature of the present invention is due to the fact that the following negative pattern forming method and the mechanism of lowering the thermal expansion coefficient by thermal crosslinking reaction of terminal unsaturated bonds are discovered. The present resin composition, in the above-mentioned method of use, is subjected to a spin coating drying step on a substrate, and then a radical generator is reacted in an active ray irradiation part by irradiating this coating film with an active ray such as an ultraviolet ray, Radicals are generated.
A compound having an R 5 or R 6 skeleton chemically reacts with this radical to form a crosslinked structure. By heating in the next step, the reaction of the compound having the R 5 and R 6 skeletons is promoted. Since this polymer has a carboxyl group, it has a high solubility in an alkaline aqueous solution, but since the compound having the R 5 and R 6 skeletons forms a crosslinked structure, it becomes insoluble in the alkaline aqueous solution. As a result, only the portion irradiated with an actinic ray such as ultraviolet rays becomes insoluble and does not dissolve, and the unirradiated portion exhibits solubility in an alkaline aqueous solution. Due to this high contrast, the photosensitive resin composition of the present invention can form a negative pattern having high resolution and good dimensional controllability. In the thermosetting reaction after pattern formation,
High crystallinity can be obtained by having a terminal unsaturated bond, so that the coefficient of thermal expansion can be reduced.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】以下、本発明を実施例に基づいて
具体的に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be specifically described below based on Examples.

【0032】実施例1 窒素導入管を備えた反応フラスコに、ベンゾフェノンテ
トラカルボン酸二無水物0.6molと、2LのN−メ
チル−2−ピロリドンと、2−ヒドロキシエチルメタク
リレート1.3molとを加えて攪拌し、続けて1.3
molのトリエチルアミンを30分間で滴下する。この
状態で3時間放置した。次にメタフェニレンジアミンを
1mol加えて30分攪拌後、2.1molのジフェニ
ル(2,3−ジヒドロ−2−チオキソ−3−ベンゾオキ
サゾール)ホスホナートを5回に分けて添加し、その状
態で5時間縮合反応する。次にベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸二無水物を0.35mol加えて2時間攪拌
し、メチルナジック酸無水物を0.1mol加えて2時
間攪拌する。この反応液を大量のメタノール中に投入し
て再沈殿させ、得られたスラリー状の混合物へ更に大量
のメタノールを投入して洗浄し、得られた固形樹脂を真
空乾燥機によって12時間乾燥する。さらに乾燥した固
形樹脂30gと、N−フェニルグリシン0.5gを70
gのN−メチル−2−ピロリドンに溶解させ、得られた
溶液を1μm濾過してサンプル1とした。
Example 1 A reaction flask equipped with a nitrogen inlet tube was charged with 0.6 mol of benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2 L of N-methyl-2-pyrrolidone and 1.3 mol of 2-hydroxyethyl methacrylate. And stir for 1.3
Mol triethylamine is added dropwise over 30 minutes. This state was left for 3 hours. Next, 1 mol of metaphenylenediamine was added and stirred for 30 minutes, and then 2.1 mol of diphenyl (2,3-dihydro-2-thioxo-3-benzoxazole) phosphonate was added in 5 batches, and in that state for 5 hours. Conduct a condensation reaction. Next, 0.35 mol of benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride is added and stirred for 2 hours, and 0.1 mol of methyl nadic acid anhydride is added and stirred for 2 hours. The reaction solution is poured into a large amount of methanol for reprecipitation, and a large amount of methanol is further added to the obtained slurry mixture for washing, and the obtained solid resin is dried by a vacuum dryer for 12 hours. 30 g of dried solid resin and 0.5 g of N-phenylglycine are added to 70 g.
It was dissolved in g of N-methyl-2-pyrrolidone, and the resulting solution was filtered by 1 μm to obtain Sample 1.

【0033】このサンプル1をスピンコーターを用いて
6インチシリコンウェーハ上にコートし、ベーク板にて
90℃で3分間加熱乾燥することによって膜厚10μm
の塗膜を得た。この塗膜を365nmのみを透過させる
フィルターを使用した紫外線露光機によって300mj
/cm2 のエネルギーでテストパターンを照射し、続け
てベーク板にて90℃で1分間加熱し、さらに2.38
%のTMAH(テトラメチルアンモニウムハイドライ
ド)水溶液にて1分間のパドル現像を行った。この操作
によって塗膜の紫外線照射部以外を溶解させたネガ型レ
リーフパターンを得ることができた。得られたパターン
を光学顕微鏡によって観察したところ、5.0μmまで
のパターンがシャープに形成されていることが確認でき
た。
A 6-inch silicon wafer was coated with this sample 1 by using a spin coater, and dried by heating on a baking plate at 90 ° C. for 3 minutes to give a film thickness of 10 μm.
A coating film of This coating film was exposed to 300 mj by an ultraviolet exposure machine using a filter that transmits only 365 nm.
Irradiating the test pattern with energy of / cm 2 , followed by heating at 90 ° C. for 1 minute on a baking plate, and then 2.38.
% TMAH (tetramethylammonium hydride) aqueous solution for 1 minute of paddle development. By this operation, it was possible to obtain a negative relief pattern in which the coating film other than the ultraviolet irradiation portion was dissolved. When the obtained pattern was observed with an optical microscope, it was confirmed that a pattern of up to 5.0 μm was sharply formed.

【0034】さらに、このパターンを150℃で1時
間、次いで250℃で1時間、さらに350℃で1時間
の加熱処理を行い、塗膜のイミド化を完結させた。この
イミドパターンは、シリコンウェーハ上に強固に密着し
ており、パターンに樹脂クラックや剥離は観察されなか
った。
Further, this pattern was subjected to a heat treatment at 150 ° C. for 1 hour, then at 250 ° C. for 1 hour, and further at 350 ° C. for 1 hour to complete imidization of the coating film. This imide pattern was firmly adhered to the silicon wafer, and no resin crack or peeling was observed in the pattern.

【0035】また、得られたサンプル1をフィルム状に
加工し、熱膨張係数を測定した結果は、40ppmとな
り、従来品と比べ低い値が得られた。
Further, the sample 1 obtained was processed into a film and the coefficient of thermal expansion was measured, and the result was 40 ppm, which was lower than that of the conventional product.

【0036】実施例2 窒素導入管を備えた反応フラスコに、ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物0.8molと、2LのN−メチル
−2−ピロリドンと、2−ヒドロキシエチルメタクリレ
ート1.7molとを加えて攪拌し、続けて1.7mo
lのトリエチルアミンを30分間で滴下する。この状態
で3時間放置した。次に、パラフェニレンジアミンを1
mol加えて30分間攪拌後、2.1molのジフェニ
ル(2,3−ジヒドロ−2−チオキソ−3−ベンゾオキ
サゾール)ホスホナートを5回に分けて添加し、その状
態で5時間縮合反応させる。次に、ビフェニルテトラカ
ルボン酸二無水物を0.18mol加えて2時間攪拌
し、次にアリルナジック酸無水物を0.05mol加え
て2時間攪拌する。この反応液を大量のメタノール中に
投入して再沈殿させ、得られたスラリー状の混合物へ更
に大量のメタノールを投入して洗浄し、得られた固形樹
脂を真空乾燥機によって12時間乾燥する。さらに乾燥
した固形樹脂30gと、N−フェニルグリシン0.5g
を70gのN−メチル−2−ピロリドンに溶解させ、得
られた溶液を1μm濾過してサンプル2とした。
Example 2 To a reaction flask equipped with a nitrogen introducing tube, 0.8 mol of biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2 L of N-methyl-2-pyrrolidone and 1.7 mol of 2-hydroxyethyl methacrylate were added. And stir, then continue 1.7mo
1 of triethylamine is added dropwise over 30 minutes. This state was left for 3 hours. Next, 1 part of paraphenylenediamine
After adding mol and stirring for 30 minutes, 2.1 mol of diphenyl (2,3-dihydro-2-thioxo-3-benzoxazole) phosphonate is added in 5 batches and the condensation reaction is carried out for 5 hours in that state. Next, 0.18 mol of biphenyltetracarboxylic dianhydride is added and stirred for 2 hours, and then 0.05 mol of allyl nadic acid anhydride is added and stirred for 2 hours. The reaction solution is poured into a large amount of methanol for reprecipitation, and a large amount of methanol is further added to the obtained slurry mixture for washing, and the obtained solid resin is dried by a vacuum dryer for 12 hours. 30 g of dried solid resin and 0.5 g of N-phenylglycine
Was dissolved in 70 g of N-methyl-2-pyrrolidone, and the resulting solution was filtered by 1 μm to obtain Sample 2.

【0037】このサンプル2をスピンコーターを用いて
6インチシリコンウェーハ上にコートし、ベーク板にて
85℃で3分間加熱乾燥することによって膜厚10μm
の塗膜を得た。この塗膜を365nmのみを透過させる
フィルターを使用した紫外線露光機によって300mj
/cm2 のエネルギーでテストパターンを照射し、続け
てベーク板にて85℃で1分間加熱し、さらに2.38
%のTMAH(テトラメチルアンモニウムハイドライ
ド)水溶液にて90秒間のパドル現像を行った。この操
作によって塗膜の紫外線照射部以外を溶解させたネガ型
レリーフパターンを得ることができた。得られたパター
ンを光学顕微鏡によって観察したところ、5.0μmま
でのパターンがシャープに形成されていることが確認で
きた。
A 6-inch silicon wafer was coated with this sample 2 by using a spin coater, and dried by heating on a baking plate at 85 ° C. for 3 minutes to give a film thickness of 10 μm.
A coating film of This coating film was exposed to 300 mj by an ultraviolet exposure machine using a filter that transmits only 365 nm.
Irradiating the test pattern with energy of / cm 2 , followed by heating at 85 ° C. for 1 minute on a baking plate, and then 2.38.
% TMAH (tetramethylammonium hydride) aqueous solution for 90 seconds of paddle development. By this operation, it was possible to obtain a negative relief pattern in which the coating film other than the ultraviolet irradiation portion was dissolved. When the obtained pattern was observed with an optical microscope, it was confirmed that a pattern of up to 5.0 μm was sharply formed.

【0038】さらに、このパターンを150℃で1時
間、次いで250℃で1時間、さらに350℃で1時間
の加熱処理を行い、塗膜のイミド化を完結させた。この
イミドパターンは、シリコンウェーハ上に強固に密着し
ており、パターンに樹脂クラックや剥離は観察されなか
った。
Further, this pattern was subjected to a heat treatment at 150 ° C. for 1 hour, then at 250 ° C. for 1 hour, and further at 350 ° C. for 1 hour to complete imidization of the coating film. This imide pattern was firmly adhered to the silicon wafer, and no resin crack or peeling was observed in the pattern.

【0039】また、得られたサンプル2をフィルム状に
加工し、熱膨張係数を測定した結果は、40ppmとな
り、従来品と比べ低い値が得られた。
The sample 2 obtained was processed into a film and the coefficient of thermal expansion was measured to be 40 ppm, which was lower than that of the conventional product.

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明は、ネガ型のパターン形成能をも
つ感光性ポリイミド前駆体であり、パターン形成に関し
てはアルカリ性水溶液を使用することが可能である。こ
のため、得られるパターンの現像液に対する膨潤が少な
く、極めてシャープな高解像度パターンを得ることがで
きるだけでなく、これまで大量に発生していた有機溶剤
の産業廃棄物をも全廃することができる。また、最終的
に得られるポリイミド塗膜は、熱膨張率が低く、耐熱性
や耐薬品性に優れているため、通常使用されている半導
体デバイス保護膜と同等に使用することが可能となっ
た。本発明は、感光性樹脂組成物に使用される樹脂骨格
そのものと、その製造方法に関するものであるが、これ
らは全く新規の発想に基くものであり、他に類のない非
常に優れた発明であることが容易に理解できる。
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is a photosensitive polyimide precursor having a negative pattern forming ability, and an alkaline aqueous solution can be used for pattern formation. Therefore, not only the obtained pattern has less swelling in a developing solution and an extremely sharp high-resolution pattern can be obtained, but also industrial wastes of organic solvents, which have been generated in large quantities up to now, can be completely abolished. In addition, since the finally obtained polyimide coating film has a low coefficient of thermal expansion and is excellent in heat resistance and chemical resistance, it can be used in the same manner as a semiconductor device protective film that is normally used. . The present invention relates to the resin skeleton itself used in the photosensitive resin composition and a method for producing the same, but these are based on a completely new idea, and are extremely excellent inventions that are unique to others. It's easy to understand.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502R Fターム(参考) 2H025 AA01 AA10 AA14 AB16 AC01 AD01 BC13 BC69 BC85 BJ10 CA00 CC03 CC20 FA17 2H096 AA25 BA06 EA02 GA08 LA30 4J002 CM041 ED028 EE037 EE038 EH038 EH158 EL068 EN117 EP018 EQ037 ES017 EU028 EV117 EW126 FD156 FD157 GP03 4J043 PA04 PA08 PA19 PB02 PC085 QB31 RA35 SA06 SA42 SA43 SA44 SA72 SB01 TA12 TA14 TA21 TA22 TA72 TB03 UA012 UA022 UA032 UA041 UA042 UA052 UA121 UA122 UA131 UA132 UA221 UA251 UA261 UA262 UA361 UA672 UB011 UB021 UB051 UB061 UB062 UB121 UB122 UB151 UB152 UB241 UB281 UB301 UB302 UB311 UB401 UB402 VA011 VA012 VA021 VA022 VA031 VA041 VA051 VA061 VA062 VA081 VA092 XA16 XA19 XB07 XB19 YA07 ZA12 ZA35 ZB22 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) H01L 21/027 H01L 21/30 502R F term (reference) 2H025 AA01 AA10 AA14 AB16 AC01 AD01 BC13 BC69 BC85 BJ10 CA00 CC03 CC20 FA17 2H096 AA25 BA06 EA02 GA08 LA30 4J002 CM041 ED028 EE037 EE038 EH038 EH158 EL068 EN117 EP018 EQ037 ES017 EU028 EV117 EW126 FD156 FD157 GP03 4J043 UA04 PA08 PA02 TA21 TA21 TA02 TA02 SA21 SA21 SA21 SA42 SA21 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA43 SA42 SA42 SA43 SA42 SA43 SA42 SA42 SA42 SA42 SA43 SA42 SA42 SA42 SA42 SA42 SA43 SA42 SA42 SA43 SA42 SA42 SA42 SA42 SA43 SA42 SA42 SA01 UA042 UA052 UA121 UA122 UA131 UA132 UA221 UA251 UA261 UA262 UA361 UA672 UB011 UB021 UB051 UB061 UB062 UB121 UB122 UB151 UB152 UB241 UB281 UB301 UB302 UB311 UB401 UB402 VA011 VA012 VA021 VA022 VA031 VA041 VA051 VA061 VA062 VA081 VA092 XA16 XA19 XB07 XB19 YA07 ZA12 ZA35 ZB22

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (A)次の一般式で示されるポリイミド
前躯体、 【化1】 (但し、式中、R1 、R2 は、4価の芳香族基、複数の
芳香族環が単結合された4価の有機基、又は複数の芳香
族環が−O−、−CO−、−SO2 −または−CH2
で結合された4価の有機基であり、R3 、R4 は、2価
の芳香族基、複数の芳香族環が単結合された2価の有機
基、又は複数の芳香族環が−O−、−CO−、−SO2
−または−CH2 −で結合された2価の芳香族基であ
り、R5 、R 6 は、1以上のエチレン性不飽和結合を有
する1価の有機基であり、R7 、R8は、αβ不飽和結
合を有する有機基であり、そしてm、nは1以上の整数
である) (B)上記ポリイミド前躯体を製造するにあたり用いる
脱水縮合剤、 (C)活性光線に対する感度を向上させるために用いる
感光剤および (D)溶剤 からなることを特徴とする感光性樹脂組成物。
1. A polyimide represented by the following general formula:
Precursor, [Chemical 1] (However, in the formula, R1, R2Is a tetravalent aromatic group, a plurality of
A tetravalent organic group with a single aromatic ring bond, or multiple aromatic groups
The group ring is -O-, -CO-, -SO2-Or-CH2
Is a tetravalent organic group bonded by3, RFourIs divalent
Aromatic group, divalent organic compound in which multiple aromatic rings are single-bonded
A group or a plurality of aromatic rings is -O-, -CO-, -SO2
-Or-CH2A divalent aromatic group bonded by-
RFive, R 6Has one or more ethylenically unsaturated bonds
R is a monovalent organic group7, R8Is the αβ unsaturated
Is an organic group having a bond, and m and n are integers of 1 or more.
Is) (B) Used in manufacturing the above polyimide precursor
Dehydration condensing agent, (C) Used to improve sensitivity to actinic rays
Photosensitizer and (D) Solvent A photosensitive resin composition comprising:
【請求項2】 (1)下記一般式中に示されるR1 及び
2 の骨格をもつ酸二無水物とR5 及びR6 の骨格をも
つ化合物とのエステル化反応工程、 【化2】 (但し、式中、R1 、R2 は、4価の芳香族基、複数の
芳香族環が単結合された4価の有機基、又は複数の芳香
族環が−O−、−CO−、−SO2 −または−CH2
で結合された4価の有機基であり、R3 、R4 は、2価
の芳香族基、複数の芳香族環が単結合された2価の有機
基、又は複数の芳香族環が−O−、−CO−、−SO2
−または−CH2 −で結合された2価の芳香族基であ
り、R5 、R 6 は、1以上のエチレン性不飽和結合を有
する1価の有機基であり、R7 、R8は、αβ不飽和結
合を有する有機基であり、そしてm、nは1以上の整数
である) (2)脱水縮合剤の添加のもとで、(1)のエステル化
反応物と式化2中のR3及びR4 の骨格をもつジアミン
化合物との重縮合反応工程、 (3)(2)の重縮合反応物と化2の一般式中に示され
るR1 及びR2 の骨格をもつ酸二無水物との反応 (4)化2の一般式中に示されるR7 及びR8 の骨格を
もつ酸無水物との反応 (5)重縮合反応したポリイミド前躯体の精製工程およ
び (6)感光剤を含むポリイミド前駆体溶液の調製工程 を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物の製造方法。
2. (1) R represented by the following general formula1as well as
R2Dianhydride having the skeleton of R and RFiveAnd R6The skeleton of
Esterification reaction step with one compound, [Chemical 2] (However, in the formula, R1, R2Is a tetravalent aromatic group, a plurality of
A tetravalent organic group with a single aromatic ring bond, or multiple aromatic groups
The group ring is -O-, -CO-, -SO2-Or-CH2
Is a tetravalent organic group bonded by3, RFourIs divalent
Aromatic group, divalent organic compound in which multiple aromatic rings are single-bonded
A group or a plurality of aromatic rings is -O-, -CO-, -SO2
-Or-CH2A divalent aromatic group bonded by-
RFive, R 6Has one or more ethylenically unsaturated bonds
R is a monovalent organic group7, R8Is the αβ unsaturated
Is an organic group having a bond, and m and n are integers of 1 or more.
Is) (2) Esterification of (1) under the addition of dehydration condensing agent
Reactants and R in Formula 23And RFourDiamine with skeleton
Polycondensation reaction step with a compound, (3) Polycondensation reaction product of (2) and chemical formula 2
R1And R2With acid dianhydrides having a skeleton (4) R shown in the general formula of Chemical formula 27And R8The skeleton of
Reaction with acid anhydride (5) Purification process of the polycondensed polyimide precursor and
And (6) Step of preparing polyimide precursor solution containing photosensitizer A method for producing a photosensitive resin composition, comprising:
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005321650A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
JP2005321648A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
JP2005326579A (en) * 2004-05-13 2005-11-24 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
JP2006282880A (en) * 2005-03-31 2006-10-19 Dainippon Printing Co Ltd Photosensitive resin composition and article

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005321650A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
JP2005321648A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
JP2005326579A (en) * 2004-05-13 2005-11-24 Toyobo Co Ltd Negative photosensitive polyimide precursor composition
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