JP2003228595A - Database and method for designing integrated circuit device - Google Patents

Database and method for designing integrated circuit device

Info

Publication number
JP2003228595A
JP2003228595A JP2002028690A JP2002028690A JP2003228595A JP 2003228595 A JP2003228595 A JP 2003228595A JP 2002028690 A JP2002028690 A JP 2002028690A JP 2002028690 A JP2002028690 A JP 2002028690A JP 2003228595 A JP2003228595 A JP 2003228595A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
design
database
rule
integrated circuit
implementation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2002028690A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiyuki Yokoyama
敏之 横山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2002028690A priority Critical patent/JP2003228595A/en
Publication of JP2003228595A publication Critical patent/JP2003228595A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance design efficiency by reusing a design database for an integrated circuit device accumulated with a design data effective for reuse, and the design data. <P>SOLUTION: Processing for quality authentication 5 is carried out in every step of a function designing step 1 and mount-facilitating design steps 2, 3. A quality authentication rule used in the each quality authentication 5 is generated from a design rule database 9 by processing in quality authentication rule generation 6. The design data (function design data 16) provided in the respective steps of the function designing step 1 and mount-facilitating design steps 2, 3, and informations and the like (design addition information 17) as to the processing of the quality authentication 5 in the steps are stored in the design database 8, in every finish of the respective steps. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路装置の設
計方法および集積回路装置の設計に利用するデータベー
スに関し、特に、再利用設計のための設計技術に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of designing an integrated circuit device and a database used for designing the integrated circuit device, and more particularly to a design technique for reuse design.

【0002】[0002]

【従来の技術】集積回路設計の効率化のため、既存設計
データの再利用がすすめられており、再利用設計のため
に、集積回路装置の設計データをフレキシブルに利用し
うるように、同一機能のモジュールを仕様・動作・レジ
スタトランスファレベルなどの各段階の実現方法毎に複
数の設計データとしてデータベースに格納し、設計階層
に応じた設計データを取り出し利用する設計手法が考案
されている。例えば、特開2000−123061号公
報に開示されたVCDB(バーチャルコアデータベー
ス)が知られている。また、データベースに格納する再
利用設計データの品質を検証する手段として、ソースコ
ードレベルの構文・制約チェック、ソースコードカバレ
ッジ算出などの手法が用いられていた。
2. Description of the Related Art Reuse of existing design data has been promoted in order to improve the efficiency of integrated circuit design, and the same function is provided so that design data of an integrated circuit device can be flexibly used for reusable design. A design method has been devised in which each module is stored in a database as a plurality of design data for each implementation method of each stage such as specification, operation, and register transfer level, and the design data according to the design hierarchy is extracted and used. For example, a VCDB (Virtual Core Database) disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-123061 is known. In addition, methods such as source code level syntax / constraint checking and source code coverage calculation have been used as means for verifying the quality of reuse design data stored in a database.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】近年、集積回路装置実
装のための設計を上流で行うことにより、開発効率を向
上させる必要が生じている。すなわち、動作、仕様、あ
るいはRTLなどの各レベルの機能設計データに、機能
だけでなく、実装容易性や実装時の性能などを制御する
ための記述を付加することが必要になっている。従っ
て、ひとつの機能設計データから、実装段階のテストや
消費電力、クロック供給に関する記述による派生が生じ
ることになる。各々の派生設計データの設計制約は必ず
しも同一でなく、また、利用側の要求仕様により選択す
べき実装設計も異なる。従来の再利用設計のためのデー
タベースでは、この実装設計による差分を扱えず、ま
た、機能設計データの品質検証手段も実装設計による制
約の違いを反映できないことから、適切な品質検証が行
われていないという問題がある。また、要求仕様に適合
しない設計データの再利用では、設計効率の向上効果が
期待できないという問題もある。
In recent years, it has become necessary to improve development efficiency by performing designing for mounting an integrated circuit device upstream. That is, it is necessary to add a description for controlling not only the function but also the ease of mounting and the performance at the time of mounting to the functional design data of each level such as the operation, the specification, or the RTL. Therefore, from one piece of functional design data, the derivation by the test at the mounting stage, the power consumption, and the description about the clock supply will occur. The design constraints of the derived design data are not necessarily the same, and the mounting design to be selected differs depending on the required specifications of the user side. Since the conventional database for reuse design cannot handle the differences due to this implementation design, and the quality verification means of the functional design data cannot reflect the differences in the constraints due to the implementation design, appropriate quality verification is performed. There is a problem that there is no. Further, there is a problem that the reuse of design data that does not conform to the required specifications cannot be expected to improve the design efficiency.

【0004】本発明は、これらの問題点に鑑み、再利用
に有効な設計データを蓄積した集積回路装置の設計デー
タベースと、再利用に有効な設計データを得ることによ
り設計効率を向上し得る集積回路装置の設計方法とを提
供することを目的とする。
In view of these problems, the present invention provides a design database of an integrated circuit device in which design data effective for reuse and a design database effective for reuse can be obtained to improve design efficiency. A method of designing a circuit device is provided.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明にかかる集積回路装置の設計データベース
は、集積回路装置の設計方法の実行により生成された設
計データを格納した、集積回路装置の設計データベース
であって、前記設計方法が、(a)求められる機能仕様
を実現するための設計データを生成する機能設計ステッ
プと、(b)前記機能設計ステップで生成された設計デ
ータまたは他の実装容易化設計ステップで生成された設
計データに対して、所定の目的を実現するための設計変
更を加える、一つあるいは複数の実装容易化設計ステッ
プとを含み、前記機能設計ステップおよび実装容易化設
計ステップの各々で生成された設計データを、設計ステ
ップ毎に格納したことを特徴とする。
In order to achieve the above-mentioned object, an integrated circuit device design database according to the present invention stores design data generated by execution of a design method for an integrated circuit device. A device design database, wherein the design method comprises (a) a functional design step of generating design data for realizing required functional specifications; and (b) design data generated in the functional design step or other The design data generated in the ease-of-implementation design step of (1) includes one or more ease-of-implementation design steps for changing the design to achieve a predetermined purpose. It is characterized in that the design data generated in each of the optimization design steps is stored for each design step.

【0006】この設計データベースは、集積回路装置の
設計方法における機能設計ステップおよび一つあるいは
複数の実装容易化設計ステップの各々で生成された設計
データを設計ステップ毎に格納したことにより、各設計
ステップにおける設計規約の違いが反映された設計デー
タを蓄積することができる。すなわち、この設計データ
ベースによれば、所望の設計規約に応じた設計データを
抽出して再利用させることができ、設計効率を向上させ
ることができる。
This design database stores the design data generated in each of the functional design step and one or more design facilitating design step in the design method of the integrated circuit device for each design step. It is possible to store design data that reflects the differences in the design rules in. That is, according to this design database, design data according to a desired design rule can be extracted and reused, and design efficiency can be improved.

【0007】また、前記の設計データベースは、前記設
計データと関連づけて、当該設計データに対して適用さ
れた品質認証処理に関する品質認証情報を格納したこと
が好ましい。これにより、前記設計データベースへ所望
の品質認証条件を与えることにより、その品質認証条件
に合致する設計データを抽出することが可能となり、設
計効率をさらに向上させることができる。
Further, it is preferable that the design database stores quality certification information relating to quality certification processing applied to the design data in association with the design data. Thus, by giving a desired quality certification condition to the design database, it becomes possible to extract design data that matches the quality certification condition, and it is possible to further improve design efficiency.

【0008】なお、この設計データベースに所望の品質
認証情報を与えることにより、当該品質認証情報に関連
づけられた設計データを前記設計データベースから抽出
するステップを含む設計方法によれば、所望の品質認証
条件を満たす設計データを再利用することができ、効率
の良い集積回路装置設計が可能となる。
According to the design method including the step of extracting the design data associated with the quality certification information from the design database by giving the desired quality certification information to the design database, the desired quality certification condition is satisfied. It is possible to reuse design data that satisfies the above condition, and it is possible to design an integrated circuit device with high efficiency.

【0009】また、前記の設計データベースは、前記設
計データと関連づけて、当該設計データを得るまでに行
われた一つあるいは複数の実装容易化設計ステップに関
する実装容易化設計履歴情報を格納したことが好まし
い。これにより、前記設計データベースへ所望の実装容
易化設計履歴条件を与えることにより、その条件に合致
する設計データを抽出することが可能となり、設計効率
をさらに向上させることができる。
Further, the design database stores, in association with the design data, easy-implementation design history information relating to one or a plurality of easy-implementation design steps performed until the design data is obtained. preferable. Thus, by providing a desired design history for facilitating mounting to the design database, it becomes possible to extract design data that matches the condition, and it is possible to further improve design efficiency.

【0010】なお、この設計データベースに所望の実装
容易化設計履歴情報を与えることにより、当該実装容易
化設計履歴情報に関連づけられた設計データを前記設計
データベースから抽出するステップを含む設計方法によ
れば、所望の実装容易化設計履歴条件を満たす設計デー
タを再利用することができ、効率の良い集積回路装置設
計が可能となる。
According to the design method, which includes a step of extracting the design data associated with the easy-implementation design history information from the design database by providing desired easy-implementation design history information to the design database. The design data satisfying the desired design history for facilitating mounting can be reused, and efficient integrated circuit device design can be performed.

【0011】また、上記の目的を達成するために、本発
明にかかる、集積回路装置の設計方法は、求められる機
能仕様を実現するための設計データを生成する機能設計
ステップと、前記機能設計ステップで生成された設計デ
ータまたは他の実装容易化設計ステップで生成された設
計データに対して、所定の目的を実現するための設計変
更を加える、一つあるいは複数の実装容易化設計ステッ
プとを含むと共に、前記機能設計ステップおよび実装容
易化設計ステップの各々が、(a)与えられた条件に従
って設計データを記述する機能記述処理と、(b)当該
設計ステップに応じた品質認証ルールを生成する品質認
証ルール生成処理と、(c)前記機能記述処理で得られ
た設計データが、前記品質認証ルール生成処理で生成さ
れた品質認証ルールを満たすか否かを判断する品質認証
処理とを含むことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method of designing an integrated circuit device according to the present invention includes a function designing step of generating design data for realizing required functional specifications, and the function designing step. Including one or a plurality of facilitating design steps for making a design change to realize a predetermined purpose with respect to the design data generated in (4) or the design data generated in other facilitating design steps. At the same time, each of the functional design step and the implementation facilitation design step (a) a function description process for describing design data according to given conditions, and (b) a quality for generating a quality certification rule according to the design step. The authentication rule generation process and (c) the design data obtained by the function description process are the quality certification rules generated by the quality certification rule generation process. Determining whether satisfy characterized in that it comprises a quality certification process.

【0012】この方法によれば、機能設計ステップおよ
び実装容易化設計ステップの各々のステップにおいて、
当該ステップに与えられた条件に応じた機能記述と品質
認証とを行い、ステップ毎に必要とされる品質を満たす
ことにより、集積回路装置の品質を向上させることがで
きる。
According to this method, in each of the functional design step and the implementation facilitation design step,
It is possible to improve the quality of the integrated circuit device by performing the function description and the quality certification according to the condition given to the step and satisfying the quality required for each step.

【0013】また、前記設計方法において、前記品質認
証ルール生成処理は、設計ルールデータベースから当該
設計ステップに応じた設計ルールを取得し、取得した設
計ルールに基づいて前記品質認証ルールを生成する処理
であって、前記設計ルールデータベースは、設計ルール
と、各設計ルールが適用される設計ステップまたは当該
設計ルールが適用されない設計ステップを表す設計ルー
ル適用情報とを関連づけて記憶したものであることが好
ましい。
In the design method, the quality certification rule generating process is a process of acquiring a design rule corresponding to the design step from a design rule database and generating the quality certification rule based on the acquired design rule. Therefore, it is preferable that the design rule database stores design rules and design rule application information indicating design steps to which each design rule is applied or design steps to which the design rule is not applied, in association with each other.

【0014】この方法によれば、設計ルールと、各々の
設計ルールがどの設計ステップに適用されるか(あるい
は適用されないか)を表す設計ルール適用情報とを関連
づけて記憶させた設計ルールデータベースを用いること
により、各設計ステップで必要な設計ルールを選択し、
選択した設計ルールに基づいて適切な品質認証ルールを
作成することが可能となる。これにより、各設計ステッ
プにおける品質認証精度が向上するという利点もある。
According to this method, a design rule database in which design rules and design rule application information indicating which design step each design rule is applied to (or not applied to) are stored in association with each other is used. By selecting the necessary design rules at each design step,
It is possible to create an appropriate quality certification rule based on the selected design rule. This also has the advantage of improving the quality certification accuracy in each design step.

【0015】さらに、前記設計方法において、前記機能
設計ステップおよび実装容易化設計ステップの各々にお
いて、当該設計ステップで生成された設計データを設計
データベースに格納することにより、各設計ステップに
おける設計規約の違いが反映された設計データを蓄積す
ることができる。すなわち、この設計データベースによ
れば、所望の設計規約に応じた設計データを抽出して再
利用させることができ、設計効率を向上させることがで
きる。
Further, in the designing method, in each of the functional designing step and the implementation facilitating designing step, the design data generated in the designing step is stored in a designing database, so that the designing rule in each designing step is different. It is possible to store design data that reflects the above. That is, according to this design database, design data according to a desired design rule can be extracted and reused, and design efficiency can be improved.

【0016】また、前記設計方法において、前記設計デ
ータと関連づけて、当該設計データに対して適用された
前記品質認証処理に関する品質認証情報を、前記設計デ
ータベースに格納することが好ましい。これにより、所
望の品質認証条件を与えることにより、その品質認証条
件に合致する設計データを抽出することが可能な設計デ
ータベースを実現でき、設計効率をさらに向上させるこ
とができる。
Further, in the design method, it is preferable that quality authentication information relating to the quality authentication processing applied to the design data is stored in the design database in association with the design data. Thus, by giving a desired quality certification condition, it is possible to realize a design database capable of extracting design data that matches the quality certification condition, and further improve the design efficiency.

【0017】また、前記の設計データベースは、前記設
計データと関連づけて、当該設計データを得るまでに行
われた一つあるいは複数の実装容易化設計ステップに関
する実装容易化設計履歴情報を格納したことが好まし
い。これにより、所望の実装容易化設計履歴条件を与え
ることにより、その条件に合致する設計データを抽出す
ることが可能な設計データベースを実現することがで
き、設計効率をさらに向上させることができる。
Further, the design database stores, in association with the design data, easy-implementation design history information relating to one or a plurality of easy-implementation design steps performed until the design data is obtained. preferable. Thus, by providing a desired design history for facilitating mounting, it is possible to realize a design database capable of extracting design data that matches the design history, and further improve the design efficiency.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態を図に従っ
て説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0019】図1は、本実施形態にかかる集積回路装置
の機能設計方法のフローを概念的に示す図である。図1
に示すように、本実施形態の機能設計方法は、機能設計
ステップ1と、複数の実装容易化設計ステップ(第一の
実装容易化設計ステップ2および第二の実装容易化設計
ステップ3)とを含む。
FIG. 1 is a diagram conceptually showing a flow of a method for designing a function of an integrated circuit device according to this embodiment. Figure 1
As shown in FIG. 4, the function designing method of the present embodiment includes a function designing step 1 and a plurality of mounting facilitation designing steps (first mounting facilitation designing step 2 and second mounting facilitation designing step 3). Including.

【0020】機能設計ステップ1は、集積回路装置にお
いて所望の仕様を実現するための機能を設計するステッ
プであり、機能記述4、品質認証5、および品質認証ル
ール生成6の3つの処理を含む。
The function designing step 1 is a step of designing a function for realizing a desired specification in the integrated circuit device, and includes three processes of a function description 4, a quality certification 5, and a quality certification rule generation 6.

【0021】第一の実装容易化設計ステップ2および第
二の実装容易化設計ステップ3は、機能設計ステップ1
で設計された構成に、実装時のテスタビリティや性能実
現のための機能を付加するステップであり、機能設計ス
テップ1と同様に、機能記述4、品質認証5、および品
質認証ルール生成6の3つの処理を含む。
The first easy implementation design step 2 and the second easy implementation design step 3 are the functional design step 1
This is a step for adding a function for testability and performance at the time of implementation to the configuration designed in 1. In the same way as the functional design step 1, the function description 4, the quality certification 5, and the quality certification rule generation 6 are included. Including one process.

【0022】なお、この実施形態では、上記二段階の実
装容易化設計ステップを有するものとしたが、どのよう
な目的または基準で実装容易化を行うかに応じて、実装
容易化設計ステップの種類および数は任意である。
Although this embodiment has the above-described two-steps of facilitation designing steps, the types of facilitation designing steps are determined according to the purpose or standard for facilitating the implementation. And the number is arbitrary.

【0023】図1に示した設計ステップ1〜3の機能記
述4は、集積回路装置に実装可能な機能(設計データ)
と、その設計データを検証するためのテストベンチと
を、レジスタトランスファレベル(RTL)のVeri
log−HDLなどの記述言語で記述する処理である。
なお、この機能記述4の処理は、人手で行っても良い
し、前段階の設計ステップによる設計データなどからE
DAツールで生成することによって行っても良い。
The functional description 4 of the design steps 1 to 3 shown in FIG. 1 is a function (design data) that can be implemented in an integrated circuit device.
And a test bench for verifying the design data of the register transfer level (RTL) Veri.
The process is described in a description language such as log-HDL.
The processing of this functional description 4 may be performed manually, or E processing may be performed from the design data in the design step of the previous stage.
It may be performed by generating with a DA tool.

【0024】また、設計ステップ1〜3の品質認証5
は、機能記述4によって記述された設計データの品質
を、品質認証ルール生成6(後述)の処理で生成された
品質認証ルールに従ってチェックする処理である。品質
認証5の処理は、機能記述の文法や構文のチェック、テ
ストベンチを用いてシミュレーションを行うことによる
期待値チェック、シミュレーション時に検証された機能
記述の比率を検証するソースコードカバレッジチェッ
ク、テストベンチに記述された仕様記述の正当性を確認
するモデルチェックなどを行う。品質認証5の結果が品
質認証ルール生成6で生成された品質認証ルールの基準
を満たさない場合は、機能記述4の処理に戻り、設計デ
ータを更新する。
In addition, quality certification 5 in design steps 1 to 5
Is a process of checking the quality of the design data described by the function description 4 according to the quality authentication rule generated by the process of the quality authentication rule generation 6 (described later). The process of quality certification 5 is to check the grammar and syntax of the functional description, check the expected value by performing simulation using the testbench, check the source code coverage that verifies the ratio of the functional description verified during the simulation, and testbench. Model check is performed to confirm the correctness of the written specifications. When the result of the quality certification 5 does not satisfy the criteria of the quality certification rule generated by the quality certification rule generation 6, the process returns to the function description 4 and the design data is updated.

【0025】設計ルールデータベース9には、設計ルー
ル10が登録されている。設計ルール10とは、例えば
図1に示すように、コーディングの文法規約、EDAツ
ールの制約、設計規則、品質目標値などである。また、
設計ルールデータベース9には、各設計ルールにどのよ
うな実装容易化設計が関連するか(あるいは関連しない
か)を表す情報(設計ルール適用情報)も登録されてい
る。設計ステップ1〜3の品質認証ルール生成6の処理
では、設計ルールデータベース9から設計ルール10を
選択することにより、各設計ステップの品質認証5で用
いる品質認証ルールを生成するが、この際、どの設計ル
ール10を選択するかを決定するために、前記の設計ル
ール適用情報が用いられる。
Design rules 10 are registered in the design rule database 9. The design rule 10 is, for example, as shown in FIG. 1, a grammatical rule for coding, constraints of an EDA tool, a design rule, a quality target value, and the like. Also,
The design rule database 9 also stores information (design rule application information) indicating what kind of easy-to-implement design is related (or not related) to each design rule. In the process of the quality authentication rule generation 6 of the design steps 1 to 3, the design rule 10 is selected from the design rule database 9 to generate the quality authentication rule used in the quality authentication 5 of each design step. The design rule application information is used to decide whether to select the design rule 10.

【0026】例えば、設計ルールとして、「端子名TC
LKは禁止」というルールが登録され、これに対応する
設計ルール適用情報として、この設計ルールがテスト容
易化を目的とした実装容易化設計(テスト容易化設計)
に適用されることを表す情報が登録されているものとす
る。この場合、設計ステップにおける実装容易化設計ス
テップとしてテスト容易化設計を行う場合、当該実装容
易化設計ステップの品質認証ルール生成6の処理におい
て、「テスト容易化設計に適用される」ことを条件とし
て設計ルールデータベース9から設計ルールを検索すれ
ば、前述の「端子名TCLKは禁止」という設計ルール
が抽出されるので、これに基づいて品質認証ルールを生
成することができる。
For example, as a design rule, "terminal name TC
A rule that "LK is prohibited" is registered, and as design rule application information corresponding to this rule, this design rule is designed to facilitate implementation (testability design).
It is assumed that the information indicating that it is applied to is registered. In this case, when performing the test facilitation design as the implementation facilitation design step in the design step, in the process of the quality certification rule generation 6 of the implementation facilitation design step, the condition is that "it is applied to the test facilitation design". When the design rule is retrieved from the design rule database 9, the above-mentioned design rule “terminal name TCLK is prohibited” is extracted, and the quality authentication rule can be generated based on this.

【0027】また、例えば、「非同期リセット禁止」と
いう設計ルールに対し、この設計ルールが前記テスト容
易化設計に適用され、低消費電力化を目的とした実装容
易化設計(低消費電力化設計)には適用されない旨を表
す設計ルール適用情報を設計ルールデータベース9に登
録しておけば、テスト容易化設計の品質認証ルール生成
6の処理において、この設計ルールに基づいて品質認証
ルールを生成することができる。一方、低消費電力化設
計の場合は、この設計ルール以外の設計ルールに基づい
て、品質認証ルールが生成される。
Further, for example, with respect to the design rule of "asynchronous reset prohibited", this design rule is applied to the test facilitation design, and an implementation facilitation design (low power consumption design) for the purpose of low power consumption. If the design rule application information indicating that it is not applied to the design rule database 9 is registered in the design rule database 9, in the process of the quality verification rule generation 6 of the design for testability, the quality verification rule is generated based on this design rule. You can On the other hand, in the case of low power consumption design, the quality authentication rule is generated based on a design rule other than this design rule.

【0028】本実施形態にかかる機能設計方法では、設
計ステップ1〜3の各段階の機能記述4の処理で得られ
た設計データとテストベンチ等は、各設計ステップを完
了する毎に、設計データベース8に機能設計データ16
として登録される。なお、この機能設計データ16の登
録の際に、機能設計データ16の設計付加情報17も、
設計データベース8に登録される。設計付加情報17と
は、その設計ステップで行われた品質認証5の処理に関
する情報(品質認証情報)や、実装容易化設計履歴情報
などを含む。なお、品質認証情報とは、具体的には、機
能設計ステップ名称とそのステップで適用した設計ルー
ル、各設計ルールに対する適否判定結果、適合度合いを
点数化などで指標化した品質指標値などを含む。また、
実装容易化設計履歴情報とは、当該機能設計データ16
を得るまでにどのような実装容易化設計を経由したかを
表す情報であり、実装容易化設計ステップ名称と、その
ステップで適用した実装容易化ツール名称や、実行スク
リプトに記載された設計規約などを含む。
In the functional design method according to the present embodiment, the design data and the test bench obtained by the processing of the functional description 4 at each stage of the design steps 1 to 3 are stored in the design database every time each design step is completed. Functional design data 16 in 8
Registered as. When the functional design data 16 is registered, the design additional information 17 of the functional design data 16 is also
It is registered in the design database 8. The additional design information 17 includes information on the processing of the quality certification 5 performed in the design step (quality certification information), design history information for facilitating mounting, and the like. Note that the quality certification information specifically includes a functional design step name, a design rule applied in that step, a suitability determination result for each design rule, a quality index value in which the degree of conformity is indexed by scoring, etc. . Also,
The implementation design history information is the functional design data 16
It is the information that shows what kind of implementation design has been done to obtain the implementation facilitation design step name, the implementation facilitation tool name applied at that step, the design rules described in the execution script, etc. including.

【0029】このように、機能設計ステップおよび実装
容易化設計ステップの全ての段階で、互いに異なる品質
認証ルールに基づいて品質認証を行い、一つの設計ステ
ップを完了する毎に、そのステップで得られた設計デー
タを設計データベース8に登録する点が、従来の設計方
法と異なる。また、設計データのみならず、設計付加情
報を併せて登録する点も、従来の設計方法と異なる。
As described above, quality certification is performed based on different quality certification rules at all stages of the functional design step and the design facilitation design step, and each time one design step is completed, the quality certification is obtained. The point that the designed data is registered in the design database 8 is different from the conventional design method. Further, not only the design data but also the design additional information is also registered, which is different from the conventional design method.

【0030】なお、設計データベース8は、同一の機能
のモジュールについて、複数の異なった設計ステップで
得られた設計データのすべてを、設計ステップ毎に分類
して格納する構造になっている。これにより、設計デー
タベース8に対して必要な機能と設計ステップとを指定
すれば、各設計ステップで品質認証済みの、適切な設計
データを得ることができる。従って、この設計データベ
ース8を用いれば、設計データの再利用により、集積回
路設計を容易に行うことが可能となる。
The design database 8 has a structure in which all the design data obtained by a plurality of different design steps for modules having the same function are classified and stored for each design step. Thus, by designating necessary functions and design steps to the design database 8, it is possible to obtain appropriate design data that has been quality-certified at each design step. Therefore, if the design database 8 is used, it is possible to easily design an integrated circuit by reusing the design data.

【0031】図2は、本発明の設計データベース8を、
VCDB(バーチャル・コア・データベース)11の構
成を利用して実施した例である。VCDB11では、一
つの機能の設計データは、一つのVC(バーチャル・コ
ア)クラスタ12として格納される。
FIG. 2 shows the design database 8 of the present invention.
In this example, the configuration of a VCDB (Virtual Core Database) 11 is used. In the VCDB 11, design data for one function is stored as one VC (virtual core) cluster 12.

【0032】なお、本発明におけるVCとは、IP(機
能ブロック)としばしば同義に使用されるバーチャルコ
ンポーネントとしての“VC”とは異なる概念であっ
て、1つのまとまったブロックで構成されるシステムL
SIの設計を対象としており、その中でも、再利用が可
能なハードウェア、ソフトウェアを含むデータを指すも
のとする。VCクラスタとは、VCの集合体を表す概念
である。また、VCDBとは、VCを利用した設計のた
めに用いられるデータベースを指す。
The VC in the present invention is a concept different from "VC" as a virtual component which is often used synonymously with IP (functional block), and is a system L composed of one integrated block.
It is intended for SI design, and refers to data that includes reusable hardware and software. The VC cluster is a concept that represents a collection of VCs. The VCDB refers to a database used for designing using VC.

【0033】各VCクラスタ12は、仕様VC13、動
作VC14、および複数のRTL−VC15(図2では
15a,15b,15c)からなる。仕様VC13は、
仕様で記述されるデータを格納するVCである。動作V
C14は、動作で記述されるデータを格納する。RTL
−VC15は、RTL(レジスタ・トランスファ・レベ
ル)で記述されるデータを格納するVCである。
Each VC cluster 12 comprises a specification VC 13, an operation VC 14, and a plurality of RTL-VCs 15 (15a, 15b, 15c in FIG. 2). Specifications VC13
It is a VC that stores the data described in the specifications. Action V
C14 stores the data described by the operation. RTL
-VC 15 is a VC that stores data described in RTL (register transfer level).

【0034】ここで、動作とは、1つの仕様に対してソ
フトウェア、ハードウェアの割り当てを定めたものであ
って、一般的には1つの仕様に対して複数の動作があ
る。RT(レジスタ・トランスファ)とは、動作に対し
てハードウェア的に実現できるものであって、一般的に
は一つの動作に対して、重視するパラメータの相違など
に応じた何種類かの実現方法がある。すなわち、1つの
仕様VCに対して複数の動作VCを、1つの動作VCに
対して複数のRTL−VCを、それぞれ階層的に有する
のが一般的であるが、図2では、簡略化のために、1つ
の仕様VC13に対応する1つの動作VC14と複数の
RTL−VC15を示した。ただし、仕様と動作とはい
ずれも機能的な概念を表すものともいえるので、その区
別が困難な場合もあり、その場合には、仕様および動作
を同じ階層(1つのVC)としたデータベースとしても
よい。
Here, the operation is defined as allocation of software and hardware for one specification, and generally, there are a plurality of operations for one specification. RT (register transfer) can be realized by hardware for an operation, and generally, for one operation, there are several kinds of realizing methods according to differences in important parameters. There is. That is, it is common to have a plurality of operation VCs for one specification VC and a plurality of RTL-VCs for one operation VC in a hierarchical manner, but in FIG. 1 shows one operation VC 14 and a plurality of RTL-VCs 15 corresponding to one specification VC 13. However, since it can be said that both the specification and the operation represent a functional concept, it may be difficult to distinguish them. In that case, the specification and the operation may be the same hierarchy (one VC). Good.

【0035】本実施形態の場合、RTL−VC15a
は、図1の機能設計ステップ1に関する機能設計データ
16および設計付加情報17を有し、RTL−VC15
bは、図1の第一の実装容易化設計ステップ2に関する
機能設計データおよび設計付加情報(図示省略)を有す
る。また、RTL−VC15cは、図1の第二の実装容
易化設計ステップ3に関する機能設計データおよび設計
付加情報(図示省略)を有する。
In the case of this embodiment, the RTL-VC 15a
Has the functional design data 16 and the additional design information 17 relating to the functional design step 1 of FIG.
b has functional design data and design additional information (not shown) regarding the first implementation facilitation design step 2 in FIG. Further, the RTL-VC 15c has functional design data and design additional information (not shown) regarding the second implementation facilitation design step 3 in FIG.

【0036】RTL−VC15a,15b,15cの各
々の機能設計データ16は、設計ステップ1〜3の各々
における設計データおよびテストベンチなどを含む。ま
た、設計付加情報17は、前述したように、設計ステッ
プ1〜3の各々における実装容易化設計履歴や品質認証
情報などを含む。すなわち、従来(特開2000−12
3061号公報のシステム)は、機能設計データを設計
データベースから選択するための情報として、面積、速
度、または消費電力などの性能指標パラメータを蓄積し
ていたが、本実施形態の場合、各機能設計データ16に
対応する設計付加情報17を設計データベース8(1
1)に蓄積する点で、上記従来のシステムとは異なる。
なお、図1等には図示しないが、上記従来のシステムで
用いる性能指標パラメータも併せて設計データベース8
(11)に蓄積し、性能指標パラメータによっても機能
設計データを選択可能な構成とすることもできる。
The functional design data 16 of each of the RTL-VCs 15a, 15b, 15c includes the design data and the test bench in each of the design steps 1 to 3. In addition, the design additional information 17 includes, as described above, the ease-of-mounting design history and the quality certification information in each of the design steps 1 to 3. That is, in the past (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-12
The system disclosed in Japanese Patent No. 3061) accumulates performance index parameters such as area, speed, or power consumption as information for selecting functional design data from a design database. Design additional information 17 corresponding to the data 16 is stored in the design database 8 (1
It is different from the above conventional system in that it is stored in 1).
Although not shown in FIG. 1 and the like, the performance index parameters used in the above conventional system are also included in the design database 8
It is also possible to have a configuration in which the functional design data is stored in (11) and the function design data can be selected according to the performance index parameter.

【0037】以上のように、従来は、設計データベース
から設計データを取り出した後に個別に実装容易化設計
を行う必要があったのに対して、本実施形態によれば、
実装容易化設計の各ステップの結果が設計データベース
8に蓄積されているので、実装容易化設計の結果を再利
用できる点が異なる。また、設計データベース8から取
り出した設計データに新たな実装容易化設計を行った場
合には、さらにその結果を設計データベース8に登録し
てもよい。このように、最も適した設計データを取り出
して再利用できることにより、利用側の設計工数が軽減
し、また不要な設計段階を適用していない無駄のない設
計データを利用できることにより、再利用設計の効率を
向上させることができる。
As described above, according to the present embodiment, it is conventionally necessary to individually carry out the design for facilitating mounting after taking out the design data from the design database.
Since the result of each step of the easy implementation design is stored in the design database 8, the difference is that the result of the easy implementation design can be reused. In addition, when a new design for facilitating implementation is performed on the design data extracted from the design database 8, the result may be registered in the design database 8. In this way, the most suitable design data can be retrieved and reused, reducing the design man-hours on the user side, and being able to use lean design data that does not apply unnecessary design stages. The efficiency can be improved.

【0038】次に、実装容易化設計とその品質認証の具
体例を示す。図3に、機能設計ステップの後に、テスト
容易化設計および低消費電力化設計の二段階の実装容易
化設計ステップを実施した場合に、これらの各ステップ
で得られる回路構成の一例を示す。図3において、回路
構成18は機能設計ステップ1により得られる構成、回
路構成19は第一の実装容易化設計ステップ2としての
テスト容易化設計により得られる構成、回路構成20は
第二の実装容易化設計ステップ3としての低消費電力テ
スト容易化設計により得られる構成である。
Next, a concrete example of the design for facilitating mounting and its quality certification will be shown. FIG. 3 shows an example of a circuit configuration obtained in each of these steps when a two-step implementation design step of testability design and low power consumption design is performed after the function design step. In FIG. 3, the circuit configuration 18 is a configuration obtained by the functional design step 1, the circuit configuration 19 is a configuration obtained by the test facilitation design as the first implementation facilitation design step 2, and the circuit configuration 20 is a second implementation easy. This is a configuration obtained by the low power consumption test facilitation design as the optimization design step 3.

【0039】回路構成18は、同期設計の一般規則であ
る、「クロック信号経路やリセット信号経路に論理ゲー
トを置かない」などの制約に基づく品質認証ルールで、
品質認証されたものである。
The circuit configuration 18 is a quality certification rule based on the general rule of synchronous design, which is based on constraints such as "no logic gate is placed in a clock signal path or a reset signal path".
It is quality certified.

【0040】回路構成19は、スキャンテストを前提と
したテスト容易化設計を行った結果であり、「スキャン
モード時にすべてのフリップフロップがスキャンクロッ
クで駆動され、かつ外部からリセットできる」ように構
成されている。この設計ステップでの品質認証ルールと
しては、「クロックラインにゲートが入らない」という
規則は適用されず、例えば、「テストモードがONの場
合に論理的にクロックが1系統である」という規則が適
用される。
The circuit configuration 19 is a result of the testability design based on the scan test, and is configured so that "in the scan mode, all the flip-flops are driven by the scan clock and can be reset from the outside". ing. As a quality certification rule in this design step, the rule that "the gate does not enter the clock line" is not applied. For example, the rule that "the clock is logically one system when the test mode is ON" Applied.

【0041】消費電力低減を目的とした実装容易化設計
(低消費電力化設計)を行って得られた回路構成20
は、クロック信号上に論理ゲートを置き、動作不要の時
はクロックの供給を止める制御を行う。この設計ステッ
プでの品質認証ルールでは、クロックが供給されていな
いブロックはシミュレーションに於いても実行されない
ためソースコードカバレッジの目標値は低く設定される
が、期待値比較は機能設計ステップと同一の基準が適用
される。
A circuit configuration 20 obtained by performing a design for facilitating mounting (design for reducing power consumption) for the purpose of reducing power consumption.
Puts a logic gate on the clock signal and controls the supply of the clock when the operation is unnecessary. According to the quality certification rule in this design step, the target value of the source code coverage is set low because the block to which the clock is not supplied is not executed even in the simulation, but the expected value comparison is the same as the function design step. Is applied.

【0042】以上の例で示すとおり、実装容易化設計に
よって品質認証の基準は大きく異なり、図1に示したよ
うに、各設計ステップ毎に、その設計ステップに適した
品質認証ルールを用いて品質認証を行うことにより、高
品質な集積回路設計データを得ることができる。
As shown in the above example, the quality certification standard varies greatly depending on the design for easy implementation, and as shown in FIG. 1, the quality certification rule suitable for the design step is used for each design step. By performing the authentication, high quality integrated circuit design data can be obtained.

【0043】[0043]

【発明の効果】本発明の設計方法によれば、実装容易化
設計に応じた設計データの品質認証と再利用を行うこと
により、品質の高い設計データを再利用でき集積回路装
置の開発効率と品質を向上できる。
According to the design method of the present invention, high-quality design data can be reused by performing quality verification and reuse of design data according to a design for facilitating mounting, and to improve the development efficiency of an integrated circuit device. The quality can be improved.

【0044】また本発明の設計データベースによれば、
実装容易化設計に応じた設計データの格納や利用ができ
フレキシブルな集積回路装置設計を行うことができる。
According to the design database of the present invention,
It is possible to store and use design data according to a design for facilitating mounting, and to perform flexible integrated circuit device design.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態にかかる集積回路装置の
設計フローの概念図
FIG. 1 is a conceptual diagram of a design flow of an integrated circuit device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の設計データベースの概念的構成例を
示す説明図
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a conceptual configuration example of a design database of the present invention.

【図3】 設計ステップ毎の回路構成の変遷を示す説明
FIG. 3 is an explanatory diagram showing changes in the circuit configuration for each design step.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 機能設計ステップ 2 第一の実装容易化設計ステップ 3 第二の実装容易化設計ステップ 4 機能記述 5 品質認証 6 品質認証ルール生成 7 実装設計ステップ 8 設計データベース 9 設計ルールデータベース 10 設計ルール 11 VCDB 12 VCクラスタ 13 仕様VC 14 動作VC 15 RTL−VC 16 機能設計データ 17 設計付加情報 18 機能設計による回路構成 19 テスト容易化設計による回路構成 20 低消費電力化設計による回路構成 1 Functional design step 2 First step for easy implementation design 3 Second implementation ease design step 4 Functional description 5 quality certification 6 Quality certification rule generation 7 Implementation design steps 8 design database 9 Design rule database 10 design rules 11 VCDB 12 VC cluster 13 Specifications VC 14 Working VC 15 RTL-VC 16 Functional design data 17 additional design information 18 Functional design circuit configuration 19 Circuit configuration by testability design 20 Circuit configuration by low power consumption design

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路装置の設計方法の実行により生
成された設計データを格納した、集積回路装置の設計デ
ータベースであって、 前記設計方法が、(a)求められる機能仕様を実現する
ための設計データを生成する機能設計ステップと、
(b)前記機能設計ステップで生成された設計データま
たは他の実装容易化設計ステップで生成された設計デー
タに対して、所定の目的を実現するための設計変更を加
える、一つあるいは複数の実装容易化設計ステップとを
含み、 前記機能設計ステップおよび実装容易化設計ステップの
各々で生成された設計データを設計ステップ毎に格納し
たことを特徴とする、集積回路装置の設計データベー
ス。
1. A design database of an integrated circuit device, which stores design data generated by execution of a method for designing an integrated circuit device, wherein the design method realizes (a) required functional specifications. A functional design step to generate design data,
(B) One or a plurality of implementations in which a design change for realizing a predetermined purpose is added to the design data generated in the functional design step or the design data generated in the other implementation facilitation design steps A design database of an integrated circuit device, comprising: an easy design step, wherein design data generated in each of the functional design step and the easy implementation design step is stored for each design step.
【請求項2】 前記設計データと関連づけて、当該設計
データに対して適用された品質認証処理に関する品質認
証情報を格納した、請求項1に記載の集積回路装置の設
計データベース。
2. The design database of an integrated circuit device according to claim 1, wherein quality authentication information relating to quality authentication processing applied to the design data is stored in association with the design data.
【請求項3】 前記設計データと関連づけて、当該設計
データを得るまでに行われた一つあるいは複数の実装容
易化設計ステップに関する実装容易化設計履歴情報を格
納した、請求項1または2に記載の集積回路装置の設計
データベース。
3. The implementation facilitation design history information relating to one or a plurality of implementation facilitation design steps performed until the design data is obtained is stored in association with the design data. Design database of integrated circuit devices.
【請求項4】 求められる機能仕様を実現するための設
計データを生成する機能設計ステップと、 前記機能設計ステップで生成された設計データまたは他
の実装容易化設計ステップで生成された設計データに対
して、所定の目的を実現するための設計変更を加える、
一つあるいは複数の実装容易化設計ステップとを含むと
共に、 前記機能設計ステップおよび実装容易化設計ステップの
各々が、(a)与えられた条件に従って設計データを記
述する機能記述処理と、(b)当該設計ステップに応じ
た品質認証ルールを生成する品質認証ルール生成処理
と、(c)前記機能記述処理で得られた設計データが、
前記品質認証ルール生成処理で生成された品質認証ルー
ルを満たすか否かを判断する品質認証処理とを含むこと
を特徴とする、集積回路装置の設計方法。
4. A functional design step of generating design data for realizing a required functional specification, and design data generated in the functional design step or other implementation facilitation design step. And make design changes to achieve the specified purpose,
One or a plurality of implementation facilitation design steps, each of the functional design step and the implementation facilitation design step (a) a functional description process for describing design data according to given conditions; and (b) The quality certification rule generation process for generating the quality certification rule according to the design step, and (c) the design data obtained by the function description process,
A method for designing an integrated circuit device, comprising: a quality authentication process for determining whether or not a quality authentication rule generated by the quality authentication rule generation process is satisfied.
【請求項5】 前記品質認証ルール生成処理は、設計ル
ールデータベースから当該設計ステップに応じた設計ル
ールを取得し、取得した設計ルールに基づいて前記品質
認証ルールを生成する処理であって、 前記設計ルールデータベースは、設計ルールと、各設計
ルールが適用される設計ステップまたは当該設計ルール
が適用されない設計ステップを表す設計ルール適用情報
とを関連づけて記憶したものである、請求項4に記載の
集積回路装置の設計方法。
5. The quality authentication rule generation process is a process of acquiring a design rule corresponding to the design step from a design rule database and generating the quality authentication rule based on the acquired design rule. The integrated circuit according to claim 4, wherein the rule database stores design rules in association with design rule application information representing design steps to which each design rule is applied or design steps to which the design rule is not applied. Equipment design method.
【請求項6】 前記機能設計ステップおよび実装容易化
設計ステップの各々において、当該設計ステップで生成
された設計データを設計データベースに格納する、請求
項4または5に記載の集積回路装置の設計方法。
6. The method of designing an integrated circuit device according to claim 4, wherein in each of the functional designing step and the implementation facilitating designing step, the design data generated in the designing step is stored in a design database.
【請求項7】 前記設計データと関連づけて、当該設計
データに対して適用された前記品質認証処理に関する品
質認証情報を、前記設計データベースに格納する、請求
項6に記載の集積回路装置の設計方法。
7. The method for designing an integrated circuit device according to claim 6, wherein quality authentication information relating to the quality authentication processing applied to the design data is stored in the design database in association with the design data. .
【請求項8】 前記設計データと関連づけて、当該設計
データを得るまでに行われた一つあるいは複数の実装容
易化設計ステップに関する実装容易化設計履歴情報を、
前記設計データベースに格納する、請求項6または7に
記載の集積回路装置の設計方法。
8. The ease-of-implementation design history information relating to one or a plurality of easy-to-implement design steps performed until the design data is obtained in association with the design data,
The method of designing an integrated circuit device according to claim 6, wherein the designing database is stored in the design database.
【請求項9】 請求項2に記載の集積回路装置の設計デ
ータベースに所望の品質認証情報を与えることにより、
当該品質認証情報に関連づけられた設計データを前記設
計データベースから抽出するステップを含むことを特徴
とする、集積回路装置の設計方法。
9. By providing desired quality certification information to the design database of the integrated circuit device according to claim 2,
A method for designing an integrated circuit device, comprising: extracting design data associated with the quality certification information from the design database.
【請求項10】 請求項3に記載の集積回路装置の設計
データベースに所望の実装容易化設計履歴情報を与える
ことにより、当該実装容易化設計履歴情報に関連づけら
れた設計データを前記設計データベースから抽出するス
テップを含むことを特徴とする、集積回路装置の設計方
法。
10. The design data associated with the ease-of-implementation design history information is extracted from the design database by providing desired ease-of-implementation design history information to the design database of the integrated circuit device according to claim 3. A method of designing an integrated circuit device, comprising:
JP2002028690A 2002-02-05 2002-02-05 Database and method for designing integrated circuit device Withdrawn JP2003228595A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002028690A JP2003228595A (en) 2002-02-05 2002-02-05 Database and method for designing integrated circuit device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002028690A JP2003228595A (en) 2002-02-05 2002-02-05 Database and method for designing integrated circuit device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003228595A true JP2003228595A (en) 2003-08-15

Family

ID=27749790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002028690A Withdrawn JP2003228595A (en) 2002-02-05 2002-02-05 Database and method for designing integrated circuit device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003228595A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104691269A (en) * 2013-12-06 2015-06-10 广州汽车集团股份有限公司 Method and system for designing stabilizer bar of automotive suspension

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104691269A (en) * 2013-12-06 2015-06-10 广州汽车集团股份有限公司 Method and system for designing stabilizer bar of automotive suspension
CN104691269B (en) * 2013-12-06 2017-04-19 广州汽车集团股份有限公司 Method and system for designing stabilizer bar of automotive suspension

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI746678B (en) Drc processing tool for early stage ic layout designs
CN101826124B (en) The System and method for of performance modeling of integrated circuit
US8079004B2 (en) Efficient exhaustive path-based static timing analysis using a fast estimation technique
CN109543212B (en) Function test method and device of programmable logic device and computer storage medium
US8495535B2 (en) Partitioning and scheduling uniform operator logic trees for hardware accelerators
JP2008511894A (en) Method and system for designing a structure level description of an electronic circuit
CN113569524B (en) Method for extracting clock tree based on comprehensive netlist in chip design and application
US6567959B2 (en) Method and device for verification of VLSI designs
US7996200B2 (en) Transaction-based system and method for abstraction of hardware designs
CN113343629B (en) Integrated circuit verification method, code generation method, system, device, and medium
JPH06274568A (en) Expansion method for hierarchical graphic data
US6834379B2 (en) Timing path detailer
JP2000242672A (en) Device and method for formal logic verification
US7949509B2 (en) Method and tool for generating simulation case for IC device
JP2003228595A (en) Database and method for designing integrated circuit device
CN114416460A (en) Method and simulation system for analyzing baseband performance
WO2006025412A1 (en) Logic verification method, logic module data, device data, and logic verification device
US7191412B1 (en) Method and apparatus for processing a circuit description for logic simulation
JP2000150659A (en) Method for designing layout of semiconductor integrated circuit device
US20120054700A1 (en) Netlist generating apparatus and method
JP2004355130A (en) Design method and apparatus of integrated circuit device
JP4587754B2 (en) Clock synthesis method, semiconductor device, and program
JPH0822485A (en) Logical equivalence verification method and device therefor
US9710579B1 (en) Using smart timing models for gate level timing simulation
JP2853649B2 (en) How to create a logic simulation model

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050405