JP2003218966A - Demodulation circuit - Google Patents

Demodulation circuit

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JP2003218966A
JP2003218966A JP2002018912A JP2002018912A JP2003218966A JP 2003218966 A JP2003218966 A JP 2003218966A JP 2002018912 A JP2002018912 A JP 2002018912A JP 2002018912 A JP2002018912 A JP 2002018912A JP 2003218966 A JP2003218966 A JP 2003218966A
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佳子 鈴木
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謙之 土井
Takeyuki Suzuki
健之 鈴木
Atsuhisa Nishimura
篤久 西村
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a demodulation circuit with a simple configuration. <P>SOLUTION: The demodulation circuit characterized in that it includes: a control terminal to which an amplitude modulation signal of a binary digital signal is applied; a first terminal to be controlled for outputting a demodulated digital signal; and a second terminal to be controlled connected to a reference level, wherein the first and second terminals to be controlled configure a terminal pair to be controlled between which are switched by a signal given to the control terminal; a semiconductor switching element, wherein a switching delay time has a characteristic of a length unable to track a change in an amplitude modulation carrier signal, a turn-on delay time in the switching delay time has a characteristic of shorter than a turn-off delay time, switching is attained at a prescribed bias voltage; and a resistive element for interconnecting the first terminal to be controlled and a part having a potential with respect to the reference potential. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、振幅変調信号の復
調回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a demodulation circuit for an amplitude modulation signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】振幅変調方式は、ディジタル通信におけ
る信号変調方式の1つである。この方式は、搬送波信号
の振幅を信号振幅により変化させるものである。図7
(a)に示す2値のディジタル信号Sdを振幅変調する
と、「1」を表すディジタル信号Sd1と「0」を表す
ディジタル信号Sd0は、図7(b)のように、それぞ
れ搬送波信号の有無により表わされる振幅変調信号Sm
1とSm0となる。
2. Description of the Related Art The amplitude modulation method is one of signal modulation methods in digital communication. In this method, the amplitude of the carrier signal is changed according to the signal amplitude. Figure 7
When the binary digital signal Sd shown in (a) is amplitude-modulated, the digital signal Sd1 representing "1" and the digital signal Sd0 representing "0" are respectively determined by the presence or absence of a carrier signal as shown in FIG. 7B. Represented amplitude modulation signal Sm
1 and Sm0.

【0003】この振幅変調信号Smの復調は、一般的に
図8に示すような、入力端子5→フィルタ回路7→増幅
回路8→復調回路9→比較回路10→出力端子5の手順
で行われる。まず、フィルタ回路7は、入力端子5に入
力された振幅変調信号Smの不要なノイズ成分を除去す
る。その後、増幅回路8は、振幅変調信号Smの振幅を
増幅する。そして、復調回路9は、増幅された振幅変調
信号Smから2値のディジタル信号Sdを取り出す。さ
らに、比較回路は10、取り出された2値のディジタル
信号Sdのノイズ除去や電圧レベル調整を行うことによ
り、2値のディジタル信号Sdの波形整形を行い、出力
端子6により、信号出力を行う。
The demodulation of the amplitude modulation signal Sm is generally performed in the order of input terminal 5 → filter circuit 7 → amplification circuit 8 → demodulation circuit 9 → comparison circuit 10 → output terminal 5 as shown in FIG. . First, the filter circuit 7 removes unnecessary noise components of the amplitude modulation signal Sm input to the input terminal 5. Then, the amplifier circuit 8 amplifies the amplitude of the amplitude modulation signal Sm. Then, the demodulation circuit 9 extracts the binary digital signal Sd from the amplified amplitude modulation signal Sm. Further, the comparator circuit 10 shapes the waveform of the binary digital signal Sd by removing noise and adjusting the voltage level of the extracted binary digital signal Sd, and outputs the signal from the output terminal 6.

【0004】この復調回路9には、図9に示すダイオー
ド復調回路や、図10に示すピークホールド回路を用い
られている。
As the demodulation circuit 9, the diode demodulation circuit shown in FIG. 9 and the peak hold circuit shown in FIG. 10 are used.

【0005】図9のダイオード復調回路は、ダイオード
Dと抵抗RとコンデンサC1により構成される。この回
路は、入力端子5に入力された振幅変調信号Smをダイ
オードDに入力することにより、ダイオードDの順方向
信号のみを通過させ、コンデンサC1が充放電を繰り返
すことにより、ディジタル信号Sdを出力端子6に取り
出すものである。
The diode demodulation circuit of FIG. 9 comprises a diode D, a resistor R and a capacitor C1. This circuit inputs the amplitude modulation signal Sm input to the input terminal 5 to the diode D, passes only the forward signal of the diode D, and the capacitor C1 repeatedly charges and discharges to output the digital signal Sd. It is taken out to the terminal 6.

【0006】一方、図10のピークホールド回路は、図
9のダイオード復調回路の構成に加え、2個のオペアン
プ(U1AとU1B)を用いることにより構成される。
この回路は、オペアンプを用いることにより、ダイオー
ドDの順方向電圧降下を補って、精度よく復調動作を行
えるようにしている。
On the other hand, the peak hold circuit of FIG. 10 is constructed by using two operational amplifiers (U1A and U1B) in addition to the configuration of the diode demodulation circuit of FIG.
By using an operational amplifier, this circuit compensates for the forward voltage drop of the diode D and enables accurate demodulation operation.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9の
ダイオード復調回路は、簡易な構成であるが、ダイオー
ドDの順方向電圧降下が生じるため、振幅が数百mV程
度の小振幅信号の復調には不向きである。
However, although the diode demodulation circuit of FIG. 9 has a simple structure, the forward voltage drop of the diode D occurs, so that it is possible to demodulate a small amplitude signal having an amplitude of about several hundred mV. Is not suitable for.

【0008】一方、図10のピークホールド回路は、オ
ペアンプを用いてダイオードDの順方向電圧降下を補う
ので、小振幅信号の復調も行えるが、回路部品にオペア
ンプを用いるため、復調回路が高価になる。さらに、振
幅変調の搬送波周波数が高くなると、スルーレートが高
く、高帯域のオペアンプが必要となるため、復調回路は
高価になる。
On the other hand, in the peak hold circuit of FIG. 10, an operational amplifier is used to compensate for the forward voltage drop of the diode D, so that a small amplitude signal can be demodulated. However, since the operational amplifier is used as a circuit component, the demodulation circuit becomes expensive. Become. Further, when the carrier frequency of the amplitude modulation becomes high, the slew rate becomes high, and a high-bandwidth operational amplifier is required, so that the demodulation circuit becomes expensive.

【0009】本発明は、上記事由に鑑みてなしたもの
で、その目的とするところは、簡易な構成で復調動作を
行う復調回路を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a demodulation circuit which performs a demodulation operation with a simple structure.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
振幅変調回路により振幅変調された2値のディジタル信
号の振幅変調信号が入力される制御端子と、復調された
ディジタル信号を出力する第1の被制御端子と、基準電
位に接続される第2の被制御端子とを有し、前記第1の
被制御端子と前記第2の被制御端子は、制御端子へ入力
される信号により端子間が開閉される被制御端子対を構
成し、ターンオン遅延時間とターンオフ遅延時間からな
るスイッチング遅延時間は、振幅変調の搬送波信号の変
化に追従しない長さの特性を有し、前記スイッチング遅
延時間のうち、ターンオン遅延時間がターンオフ遅延時
間よりも短い特性を有し、所定のバイアス電圧が与えら
れてスイッチング動作が可能となっている半導体スイッ
チング素子と、前記第1の被制御端子と、前記基準電位
に対して電位差を有する部分とを接続する抵抗素子と、
を有する復調回路であることを特徴としている。
The invention according to claim 1 is
A control terminal to which the amplitude modulation signal of the binary digital signal amplitude-modulated by the amplitude modulation circuit is input, a first controlled terminal to output the demodulated digital signal, and a second control terminal connected to the reference potential. A controlled terminal, and the first controlled terminal and the second controlled terminal constitute a controlled terminal pair whose terminals are opened and closed by a signal input to the control terminal, and have a turn-on delay time. And a turn-off delay time, the switching delay time has a characteristic of a length that does not follow the change of the carrier signal of the amplitude modulation, and the switching delay time has a characteristic that the turn-on delay time is shorter than the turn-off delay time. , A semiconductor switching element which is given a predetermined bias voltage and is capable of switching operation, the first controlled terminal, and a potential difference with respect to the reference potential. A resistive element for connecting the portion,
It is characterized by being a demodulation circuit having.

【0011】請求項2に係る発明は、請求項1に記載の
構成において、前記半導体スイッチング素子の第1の被
制御端子は、信号反転手段を有することを特徴としてい
る。
According to a second aspect of the present invention, in the structure according to the first aspect, the first controlled terminal of the semiconductor switching element has a signal inverting means.

【0012】請求項3に係る発明は、請求項1乃至2に
記載の構成において、前記半導体スイッチング素子の入
力部に、前記半導体スイッチング素子の制御端子は、前
記半導体スイッチング素子の温度特性を補償する温度補
償手段を有することを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, in the structure according to the first or second aspect, the input terminal of the semiconductor switching element and the control terminal of the semiconductor switching element compensate the temperature characteristic of the semiconductor switching element. It is characterized by having a temperature compensation means.

【0013】請求項4に係る発明は、請求項3記載の構
成において、前記温度補償手段は、制御端子と、第1の
被制御端子と、前記基準電位に接続される第2の被制御
端子とを有し、該制御端子と該第1の被制御端子は短絡
され、前記半導体スイッチング素子と類似の温度特性を
有する半導体スイッチング素子と、該半導体スイッチン
グ素子の第1の被制御端子と前記基準電位に対して電位
差を有する部分とを接続する第1の抵抗素子と、前記半
導体スイッチング素子の制御端子と該半導体スイッチン
グ素子の第1の被制御端子とを接続する第2の抵抗素子
と、を有することを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the structure according to the third aspect, the temperature compensating means includes a control terminal, a first controlled terminal, and a second controlled terminal connected to the reference potential. A semiconductor switching element having a temperature characteristic similar to that of the semiconductor switching element, the control terminal and the first controlled terminal being short-circuited, the first controlled terminal of the semiconductor switching element and the reference A first resistance element that connects a portion having a potential difference with respect to the potential and a second resistance element that connects the control terminal of the semiconductor switching element and the first controlled terminal of the semiconductor switching element. It is characterized by having.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)次に、本発明
の第1の実施形態を図1に基づいて説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (First Embodiment) Next, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0015】半導体スイッチング素子1(例えばNチャ
ネル金属酸化物電界効果トランジスタ)は、その制御端
子であるゲート端子1aは復調回路の入力端子5に、第
1の被制御端子であるドレイン端子1bは復調回路の出
力端子6に、第2の被制御端子であるソース端子1cは
基準電位のグラウンドに接続されている。
In the semiconductor switching device 1 (for example, N-channel metal oxide field effect transistor), the gate terminal 1a which is the control terminal thereof is the input terminal 5 of the demodulation circuit, and the drain terminal 1b which is the first controlled terminal is the demodulation circuit. The source terminal 1c, which is the second controlled terminal, is connected to the output terminal 6 of the circuit and the ground of the reference potential.

【0016】この半導体スイッチング素子1は、振幅変
調の搬送波信号の変化に追従しない長さのスイッチング
遅延時間を有し、スイッチング遅延時間のうちターンオ
ン遅延時間がターンオフ遅延時間よりも短い特性を有し
ている。また、半導体スイッチング素子1は、ゲート−
ソース間に所定のバイアス電圧Vbを与えられ、動作可
能状態となっている。
The semiconductor switching device 1 has a switching delay time of a length that does not follow a change in the carrier signal of amplitude modulation, and has a characteristic that the turn-on delay time is shorter than the turn-off delay time in the switching delay time. There is. Further, the semiconductor switching element 1 has a gate-
A predetermined bias voltage Vb is applied between the sources to enable the operation.

【0017】抵抗素子2は、直流電圧端子Vと半導体ス
イッチング素子1のドレイン端子1bを接続している。
つまり、第1の実施形態は、ソース接地スイッチング回
路を構成している。ここで、半導体スイッチング素子1
のゲート−ソース間電圧VGSと復調回路の出力電圧V
OUTとの関係は、図2の曲線Cswのようなスイッチ
ング特性を有しており、ゲート−ソース間に与えるバイ
アス電圧Vbにより、動作点Pが定められている。
The resistance element 2 connects the DC voltage terminal V and the drain terminal 1b of the semiconductor switching element 1.
That is, the first embodiment constitutes a source-grounded switching circuit. Here, the semiconductor switching element 1
Between the gate-source voltage VGS and the output voltage V of the demodulation circuit
The relationship with OUT has a switching characteristic as shown by the curve Csw in FIG. 2, and the operating point P is defined by the bias voltage Vb applied between the gate and the source.

【0018】次に、復調回路の動作を図3に基づいて説
明する。ここでは、半導体スイッチング素子1のスイッ
チング遅延時間を約1.2μs、ターンオン遅延時間を
約0.2μs、ターンオフ遅延時間を約1.0μsとす
る。
Next, the operation of the demodulation circuit will be described with reference to FIG. Here, the switching delay time of the semiconductor switching element 1 is about 1.2 μs, the turn-on delay time is about 0.2 μs, and the turn-off delay time is about 1.0 μs.

【0019】まず、「0」を表す振幅変調信号Sm0が
入力端子5に入力されたとき、出力電圧Soは、So0
に示すように直流電圧端子Vの電圧VCCから、ゲート
−ソース間のバイアス電圧Vbにより定まるドレイン電
流と抵抗素子2により発生する電圧降下を差し引いた電
圧となる。
First, when the amplitude modulation signal Sm0 representing "0" is input to the input terminal 5, the output voltage So becomes So0.
As shown in, the voltage is a voltage obtained by subtracting the drain current determined by the bias voltage Vb between the gate and the source and the voltage drop generated by the resistance element 2 from the voltage VCC of the DC voltage terminal V.

【0020】一方、「1」を表す振幅変調信号Sm1が
入力されたとき、搬送波周波数が低く(例えば、10k
Hz程度)、半導体スイッチング素子1のスイッチング
遅延時間が振幅変調信号Smの搬送波信号の変化に追従
する範囲であるときには、出力信号Soは、図3(a)
のSo1のようになる。つまり、入力信号が正方向に変
化しているときに半導体スイッチング素子1はオンで、
出力信号Soが略ゼロとなり、入力信号が負方向に変化
しているときには、半導体スイッチング素子1はオフ
で、出力信号Soは直流電圧端子Vの電圧VCCに近づ
く。これは、スイッチング回路の動作である。
On the other hand, when the amplitude modulation signal Sm1 representing "1" is input, the carrier frequency is low (for example, 10k).
3) and the switching delay time of the semiconductor switching element 1 is in a range that follows the change of the carrier signal of the amplitude modulation signal Sm, the output signal So is as shown in FIG.
It becomes like So1. That is, when the input signal is changing in the positive direction, the semiconductor switching element 1 is on,
When the output signal So becomes substantially zero and the input signal changes in the negative direction, the semiconductor switching element 1 is off, and the output signal So approaches the voltage VCC of the DC voltage terminal V. This is the operation of the switching circuit.

【0021】しかし、搬送波周波数が高くなり(例え
ば、100kHz程度)、半導体スイッチング素子1の
スイッチング遅延時間が振幅変調信号Smの搬送波信号
の変化に追従できる範囲を越えると、振幅変調信号Sm
の搬送波信号の周期と比較してスイッチング遅延時間が
無視できなくなる。つまり、搬送波信号の変化の途中で
オン,オフが切りかわる現象が生じるため、十分なスイ
ッチングが行われず、出力信号Soの振幅は制限されて
小さくなる。
However, when the carrier frequency becomes high (for example, about 100 kHz) and the switching delay time of the semiconductor switching element 1 exceeds the range in which the change of the carrier signal of the amplitude modulation signal Sm can be followed, the amplitude modulation signal Sm.
The switching delay time becomes non-negligible compared with the period of the carrier signal. That is, since a phenomenon of switching between ON and OFF occurs during the change of the carrier signal, sufficient switching is not performed, and the amplitude of the output signal So is limited and becomes small.

【0022】また、半導体スイッチング素子1のターン
オン遅延時間は、ターンオフ遅延時間よりも短いため、
半導体スイッチング素子は、オンからオフよりもオフか
らオンになりやすい。言いかえると、出力信号において
直流電圧端子の電圧VCC側への変化よりも基準電位側
への変化の方が速いので、出力信号Soの振幅中心は基
準電位側へ移動する。つまり、図3(b)のSo1よう
に、振幅が小さくなり、振幅の中心は基準電位側へ移動
する。
Since the turn-on delay time of the semiconductor switching device 1 is shorter than the turn-off delay time,
The semiconductor switching element is more likely to turn on from off than on to off. In other words, in the output signal, the change to the reference potential side is faster than the change to the voltage VCC side of the DC voltage terminal, so the amplitude center of the output signal So moves to the reference potential side. That is, the amplitude becomes small and the center of the amplitude moves to the reference potential side as in So1 in FIG.

【0023】そして、搬送波周波数がさらに高くなると
(例えば、1MHz程度)、スイッチング遅延時間の影
響が大きくなるため、出力信号Soの振幅は非常に小さ
くなり、振幅の中心電圧は略ゼロとなる。結局、復調回
路からの出力信号Soは、図3(c)のSo1に示すよ
うになる。
When the carrier frequency further increases (for example, about 1 MHz), the influence of the switching delay time increases, so that the amplitude of the output signal So becomes extremely small and the center voltage of the amplitude becomes substantially zero. Eventually, the output signal So from the demodulation circuit becomes as shown by So1 in FIG.

【0024】図3(c)の出力信号Soをみると、入力
信号が「1」を表すディジタル信号Sd1のときに低電
位、「0」を表すディジタル信号Sd0のときに高電位
となっており、復調回路は、2値のディジタル信号の振
幅変調信号Smから、2値のディジタル信号を取り出し
ていることがわかる。
Looking at the output signal So of FIG. 3 (c), when the input signal is the digital signal Sd1 representing "1", the potential is low, and when it is the digital signal Sd0 representing "0", the potential is high. It can be seen that the demodulation circuit extracts the binary digital signal from the amplitude modulation signal Sm of the binary digital signal.

【0025】このように、第1の実施形態においては、
ターンオン遅延時間がターンオフ遅延時間よりも短い半
導体スイッチング素子1を用いたスイッチング回路を用
いるので、オペアンプを用いることなく、小振幅の振幅
変調信号を取り扱うことができ、安価な復調回路を構成
することができる。
As described above, in the first embodiment,
Since the switching circuit using the semiconductor switching element 1 whose turn-on delay time is shorter than the turn-off delay time is used, it is possible to handle an amplitude modulation signal of a small amplitude without using an operational amplifier, and to construct an inexpensive demodulation circuit. it can.

【0026】なお、この復調回路により取り出される信
号は、元のディジタル信号に対して反転しているが、復
調回路の後段に接続される比較器10における波形整形
の際に信号の反転を行うか、信号処理系で「1」を
「0」、「0」を「1」に読み変えることなどにより、
不都合なく利用することができる。
Although the signal extracted by this demodulation circuit is inverted with respect to the original digital signal, whether the signal is inverted at the time of waveform shaping in the comparator 10 connected to the subsequent stage of the demodulation circuit. , By changing "1" to "0" and "0" to "1" in the signal processing system,
It can be used without inconvenience.

【0027】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態を図4に基づいて説明する。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0028】このものは、第1の実施形態の構成で半導
体スイッチング素子1の第1の被制御端子であるドレイ
ン端子1bと復調回路の出力端子6との間に信号反転手
段(例えばインバータ)を設けたものであり、その他の
構成は第1の実施形態と同じ構成である。
This device has a signal inverting means (eg, an inverter) between the drain terminal 1b which is the first controlled terminal of the semiconductor switching element 1 and the output terminal 6 of the demodulation circuit in the configuration of the first embodiment. The other components are the same as those of the first embodiment.

【0029】第1の実施形態の説明で述べたように、復
調回路により取り出されるディジタル信号は、元のディ
ジタル信号と比較して反転するときがあるが、信号反転
手段3を設けることにより、反転信号を元に戻し、変調
時のディジタル信号をそのまま出力できるようにしたも
のである。
As described in the description of the first embodiment, the digital signal taken out by the demodulation circuit may be inverted as compared with the original digital signal, but by providing the signal inversion means 3, the inversion is performed. The signal is restored and the digital signal at the time of modulation can be output as it is.

【0030】このことにより、後処理で信号反転の影響
を考える必要のない汎用的な復調回路を構成することが
できる。
This makes it possible to construct a general-purpose demodulation circuit that does not need to consider the influence of signal inversion in post-processing.

【0031】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態を図5に基づいて説明する。
(Third Embodiment) Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0032】このものは、第1の実施形態の構成に、半
導体スイッチング素子1の温度特性を補償する温度補償
手段4を設け、入力端子に入力信号の直流電圧をカット
するコンデンサCを設けたものである。
In this configuration, the temperature compensating means 4 for compensating the temperature characteristic of the semiconductor switching element 1 is provided in the configuration of the first embodiment, and the capacitor C for cutting the DC voltage of the input signal is provided at the input terminal. Is.

【0033】温度補償手段4は、半導体スイッチング素
子4aと、第1の抵抗素子4bと、第2の抵抗素子4c
により構成されている。
The temperature compensating means 4 includes a semiconductor switching element 4a, a first resistance element 4b, and a second resistance element 4c.
It is composed by.

【0034】この半導体スイッチング素子4aは、半導
体スイッチング素子1と同種のもの(例えばNチャネル
金属酸化膜電界効果トランジスタ)であり、制御端子で
あるゲート端子4aaと、第1の被制御端子であるドレ
イン端子4abとは短絡されており、第2の被制御端子
であるソース端子4acは基準電位であるグラウンドに
接続されている。また、半導体スイッチング素子4a
は、半導体スイッチング素子1と同一パッケージ内に収
められたものなどを選択することにより、類似の温度特
性を有している。この半導体スイッチング素子4aと半
導体スイッチング素子1は、同一パッケージ内にある
か、放熱板などにより接続されるなどで、ほぼ同一の温
度となるように設置されている。
This semiconductor switching element 4a is of the same kind as the semiconductor switching element 1 (for example, an N-channel metal oxide film field effect transistor), and has a gate terminal 4aa which is a control terminal and a drain which is a first controlled terminal. The terminal 4ab is short-circuited, and the source terminal 4ac that is the second controlled terminal is connected to the ground that is the reference potential. In addition, the semiconductor switching element 4a
Has a similar temperature characteristic by selecting a device housed in the same package as the semiconductor switching device 1. The semiconductor switching element 4a and the semiconductor switching element 1 are installed in the same package or are connected to each other by a heat radiating plate or the like so as to have substantially the same temperature.

【0035】第1の抵抗素子4bは、半導体スイッチン
グ素子4aの第1の被制御端子であるドレイン端子4a
bと直流電圧端子Vとを接続している。
The first resistance element 4b is the drain terminal 4a which is the first controlled terminal of the semiconductor switching element 4a.
b is connected to the DC voltage terminal V.

【0036】第2の抵抗素子4cは、半導体スイッチン
グ素子4aの第1の被制御端子であるドレイン端子4a
bと半導体スイッチング素子1の制御端子であるゲート
1aを接続している。
The second resistance element 4c is the drain terminal 4a which is the first controlled terminal of the semiconductor switching element 4a.
b and the gate 1a which is the control terminal of the semiconductor switching element 1 are connected.

【0037】次に、この復調回路の動作について説明す
る。
Next, the operation of this demodulation circuit will be described.

【0038】まず、温度補償手段4に直流電圧端子の電
圧VCCが与えられると、半導体スイッチング素子4a
のドレイン電流IDは、直流電圧端子Vの電圧VCC、
第1の抵抗素子4bの抵抗値R2、ドレイン−ソース間
電圧VDSを用いて、ID=(VCC−VDS)/R2
となる。一方、ゲートとドレインが短絡されているた
め、ドレイン−ソース間電圧VDSとゲート−ソース間
電圧VGSは、VDS=VGSとなる。つまり、ドレイ
ン電流IDはID=(VCC−VGS)/R2となる。
また、半導体スイッチング素子4aは、半導体スイッチ
ング素子の特性として、図6の曲線CdのようなID−
VGS特性を持っているので、図6に示す2つの特性の
交点が動作点P1となる。このとき、ドレイン−ソース
間電圧はゲート−ソース間電圧と等しいので、半導体ス
イッチング素子4aのオン電圧となっている。このドレ
イン−ソース間電圧は、第1の抵抗素子4bの抵抗値R
2を変化させることにより調整が可能で、抵抗値R2を
大きくするにつれてドレイン−ソース間電圧は小さくな
る。
First, when the voltage VCC at the DC voltage terminal is applied to the temperature compensating means 4, the semiconductor switching element 4a.
Drain current ID of the DC voltage terminal V of the voltage VCC,
Using the resistance value R2 of the first resistance element 4b and the drain-source voltage VDS, ID = (VCC-VDS) / R2
Becomes On the other hand, since the gate and the drain are short-circuited, the drain-source voltage VDS and the gate-source voltage VGS are VDS = VGS. That is, the drain current ID is ID = (VCC-VGS) / R2.
Further, the semiconductor switching element 4a has a characteristic of the semiconductor switching element such that ID- as shown by a curve Cd in FIG.
Since it has the VGS characteristic, the intersection of the two characteristics shown in FIG. 6 becomes the operating point P1. At this time, since the drain-source voltage is equal to the gate-source voltage, the semiconductor switching element 4a has an on-voltage. This drain-source voltage is the resistance value R of the first resistance element 4b.
Adjustment can be performed by changing 2 and the drain-source voltage decreases as the resistance value R2 increases.

【0039】一方、半導体スイッチング素子1と半導体
スイッチング素子4aとは同種のもので、類似の温度特
性を有するものであるから、半導体スイッチング素子4
aのドレイン−ソース間電圧は半導体スイッチング素子
1のオン電圧付近となる。よって、温度補償手段4は、
常に半導体スイッチング素子1のオン電圧付近の電圧
を、抵抗素子4cを介して半導体スイッチング素子1に
バイアス電圧として与えるように動作する。
On the other hand, since the semiconductor switching element 1 and the semiconductor switching element 4a are of the same kind and have similar temperature characteristics, the semiconductor switching element 4
The drain-source voltage of a is near the ON voltage of the semiconductor switching element 1. Therefore, the temperature compensation means 4
The semiconductor switching device 1 operates so that a voltage near the ON voltage of the semiconductor switching device 1 is always applied to the semiconductor switching device 1 as a bias voltage via the resistance device 4c.

【0040】また、半導体スイッチング素子1と抵抗素
子2による振幅変調信号の復調動作は、第1の実施形態
で説明した動作と同様である。しかし、半導体スイッチ
ング素子1の発熱や周囲温度の上昇により、半導体スイ
ッチング素子1の温度が上昇したとき、ゲート−ソース
間電圧に対するドレイン電流が増加し、抵抗素子2での
電圧降下が大きくなるため出力電圧が低下する。つま
り、半導体スイッチング素子1の温度により出力電圧が
変動してしまい、温度変化が大きな環境下では不安定な
回路となる。
The demodulation operation of the amplitude modulation signal by the semiconductor switching element 1 and the resistance element 2 is the same as the operation described in the first embodiment. However, when the temperature of the semiconductor switching element 1 rises due to the heat generation of the semiconductor switching element 1 or the rise of the ambient temperature, the drain current with respect to the gate-source voltage increases and the voltage drop in the resistance element 2 increases, so that the output The voltage drops. That is, the output voltage fluctuates depending on the temperature of the semiconductor switching element 1, and the circuit becomes unstable in an environment where the temperature changes greatly.

【0041】ところが、半導体スイッチング素子4a
は、半導体スイッチング素子1と同一パッケージ内にあ
るか、放熱板などで接続されるなどして、半導体スイッ
チング素子1とほぼ同じ温度になっており、半導体スイ
ッチング素子1の温度上昇につれて半導体スイッチング
素子4aの温度も上昇する。
However, the semiconductor switching element 4a
Are in the same package as the semiconductor switching element 1 or are connected to each other by a heat sink or the like, and have almost the same temperature as the semiconductor switching element 1. As the temperature of the semiconductor switching element 1 rises, the semiconductor switching element 4a Temperature also rises.

【0042】よって、半導体スイッチング素子4aのI
D−VGS特性は、図6の曲線Cdから曲線Cdtのよ
うに変化する。また、半導体スイッチング素子4aは、
半導体スイッチング素子1と類似の温度特性を有してい
るので、ID−VGS特性の変化の割合は、半導体スイ
ッチング素子1の特性の変化とほぼ同じである。
Therefore, the I of the semiconductor switching element 4a is
The D-VGS characteristic changes from the curve Cd in FIG. 6 to a curve Cdt. Further, the semiconductor switching element 4a is
Since the semiconductor switching element 1 has similar temperature characteristics, the rate of change in the ID-VGS characteristics is almost the same as the change in characteristics of the semiconductor switching element 1.

【0043】この特性の変化により、半導体スイッチン
グ素子4aの動作点がP2に変化するため、半導体スイ
ッチング素子4aのドレイン−ソース間電圧は低下す
る。よって、半導体スイッチング素子1のバイアス電圧
は低下し、半導体スイッチング素子1のドレイン電流を
低減させるため、出力電圧は低下する。つまり、温度補
償手段4は、温度上昇による半導体スイッチング素子1
のドレイン電流の増加を打ち消すように、半導体スイッ
チング素子1のバイアス電圧を変化させる。また、逆に
温度が低下したときには上述とは逆の現象が生じるた
め、温度補償手段4は、ドレイン電流の減少を打ち消す
ように、半導体スイッチング素子1のバイアス電圧を変
化させる。つまり、温度補償手段4は、温度変化に自動
的に追従する温度補償回路として動作する。
Due to this change in characteristics, the operating point of the semiconductor switching element 4a changes to P2, and the drain-source voltage of the semiconductor switching element 4a decreases. Therefore, the bias voltage of the semiconductor switching element 1 is reduced and the drain current of the semiconductor switching element 1 is reduced, so that the output voltage is reduced. In other words, the temperature compensating means 4 uses the semiconductor switching element 1 due to temperature rise
The bias voltage of the semiconductor switching element 1 is changed so as to cancel the increase in the drain current of the semiconductor switching element 1. On the contrary, when the temperature decreases, a phenomenon opposite to the above occurs, and therefore the temperature compensating means 4 changes the bias voltage of the semiconductor switching element 1 so as to cancel the decrease in the drain current. That is, the temperature compensating means 4 operates as a temperature compensating circuit that automatically follows a temperature change.

【0044】このように、第3の実施形態においては、
復調動作に用いる半導体スイッチング素子1と類似した
温度特性を有する半導体スイッチング素子4aを有して
温度補償手段4を構成するので、半導体スイッチング素
子1の温度変化が生じたときにも自動的に温度補償を
し、安定した動作を行う復調回路を構成することができ
る。
As described above, in the third embodiment,
Since the temperature compensating means 4 is configured by including the semiconductor switching element 4a having a temperature characteristic similar to that of the semiconductor switching element 1 used for the demodulation operation, the temperature compensation is automatically performed even when the temperature of the semiconductor switching element 1 changes. Therefore, a demodulation circuit that performs stable operation can be configured.

【0045】なお、半導体スイッチング素子は、Nチャ
ネル金属酸化皮膜電界効果トランジスタだけでなく、そ
の他の電界効果トランジスタやバイポーラトランジスタ
を用いていることも可能である。
The semiconductor switching element may use not only the N-channel metal oxide film field effect transistor but also other field effect transistors and bipolar transistors.

【0046】また、スイッチング遅延時間と搬送波周波
数について、数値を挙げて説明しているが、それらの数
値は、発明の趣旨を逸脱しない範囲で変更することが可
能である。
Although the switching delay time and the carrier frequency have been described by using numerical values, these numerical values can be changed without departing from the spirit of the invention.

【0047】[0047]

【発明の効果】請求項1の発明によれば、振幅変調回路
により振幅変調された2値のディジタル信号の振幅変調
信号が入力される制御端子と、復調されたディジタル信
号を出力する第1の被制御端子と、基準電位に接続され
る第2の被制御端子とを有し、前記第1の被制御端子と
前記第2の被制御端子は、制御端子へ入力される信号に
より端子間が開閉される被制御端子対を構成し、ターン
オン遅延時間とターンオフ遅延時間からなるスイッチン
グ遅延時間は、振幅変調の搬送波信号の変化に追従しな
い長さの特性を有し、前記スイッチング遅延時間のう
ち、ターンオン遅延時間がターンオフ遅延時間よりも短
い特性を有し、所定のバイアス電圧が与えられてスイッ
チング動作が可能となっている半導体スイッチング素子
と、前記第1の被制御端子と、前記基準電位に対して電
位差を有する部分とを接続する抵抗素子と、を有するの
で、オペアンプを用いることなく、小振幅の振幅変調信
号を取り扱うことができる復調回路を構成できるという
効果を奏する。よって、簡易な構成で復調動作を行う復
調回路を提供することができる。
According to the invention of claim 1, a control terminal to which an amplitude modulation signal of a binary digital signal amplitude-modulated by the amplitude modulation circuit is inputted, and a first demodulated digital signal is outputted. It has a controlled terminal and a second controlled terminal connected to a reference potential, and the first controlled terminal and the second controlled terminal are connected between terminals by a signal input to the control terminal. A switching delay time, which constitutes a controlled terminal pair to be opened and closed, and which is composed of a turn-on delay time and a turn-off delay time, has a characteristic of a length that does not follow a change in a carrier signal of amplitude modulation, and among the switching delay times, A semiconductor switching device having a characteristic that a turn-on delay time is shorter than a turn-off delay time, and a predetermined bias voltage is applied to enable a switching operation; and the first controlled device. Since it has a terminal and a resistance element that connects a portion having a potential difference with respect to the reference potential, it is possible to configure a demodulation circuit capable of handling an amplitude modulation signal of a small amplitude without using an operational amplifier. Play. Therefore, it is possible to provide a demodulation circuit that performs a demodulation operation with a simple configuration.

【0048】請求項2の発明によれば、前記半導体スイ
ッチング素子の第1の被制御端子は、信号反転手段を有
するので、後処理で信号反転の影響を考える必要のない
汎用的な復調回路を構成できるという効果を奏する。
According to the second aspect of the present invention, the first controlled terminal of the semiconductor switching element has the signal inverting means. Therefore, a general-purpose demodulation circuit which does not need to consider the influence of the signal inversion in the post-processing is provided. The effect is that it can be configured.

【0049】請求項3の発明によれば、前記半導体スイ
ッチング素子の制御端子は、前記半導体スイッチング素
子の温度特性を補償する温度補償手段を有するので、半
導体スイッチング素子の温度変化が生じたときにも安定
した動作を行う、復調回路を構成できるという効果を奏
する。
According to the invention of claim 3, since the control terminal of the semiconductor switching element has a temperature compensating means for compensating the temperature characteristic of the semiconductor switching element, even when the temperature of the semiconductor switching element changes. It is possible to construct a demodulation circuit that performs stable operation.

【0050】請求項4の発明によれば、前記温度補償手
段は、制御端子と、第1の被制御端子と、前記基準電位
に接続される第2の被制御端子とを有し、該制御端子と
該第1の被制御端子は短絡され、前記半導体スイッチン
グ素子と類似の温度特性を有する半導体スイッチング素
子と、該半導体スイッチング素子の第1の被制御端子と
前記基準電位に対して電位差を有する部分とを接続する
第1の抵抗素子と、前記半導体スイッチング素子の制御
端子と該半導体スイッチング素子の第1の被制御端子と
を接続する第2の抵抗素子と、を有するので、半導体ス
イッチング素子の温度変化が生じたときにも自動的に温
度補償をして安定した動作を行う、復調回路を構成でき
るという効果を奏する。
According to the invention of claim 4, the temperature compensating means has a control terminal, a first controlled terminal, and a second controlled terminal connected to the reference potential. The terminal and the first controlled terminal are short-circuited, and a semiconductor switching element having temperature characteristics similar to those of the semiconductor switching element, and a potential difference between the first controlled terminal of the semiconductor switching element and the reference potential. Since the first resistance element for connecting to the portion and the second resistance element for connecting the control terminal of the semiconductor switching element and the first controlled terminal of the semiconductor switching element are included, Even if a temperature change occurs, it is possible to configure a demodulation circuit that automatically performs temperature compensation and performs stable operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施形態における復調回路の回路図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram of a demodulation circuit according to a first embodiment.

【図2】第1の実施形態における復調回路のスイッチン
グ特性図である。
FIG. 2 is a switching characteristic diagram of the demodulation circuit according to the first embodiment.

【図3】第1の実施形態における復調回路の入出力波形
を示す波形図であり、振幅変調の搬送波周波数が、
(a)は低周波、(b)、(c)は高周波であるものを
示している。
FIG. 3 is a waveform diagram showing an input / output waveform of the demodulation circuit in the first embodiment, in which a carrier frequency of amplitude modulation is
(A) shows a low frequency and (b) and (c) show a high frequency.

【図4】第2の実施形態における復調回路の回路図であ
る。
FIG. 4 is a circuit diagram of a demodulation circuit according to a second embodiment.

【図5】第3の実施形態における復調回路の回路図であ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram of a demodulation circuit according to a third embodiment.

【図6】第3の実施形態における温度補償手段の半導体
スイッチング素子の動作点を示す特性図である。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing operating points of a semiconductor switching element of the temperature compensating means in the third embodiment.

【図7】2値のディジタル信号の振幅変調を示す説明図
で、(a)は2値のディジタル信号の波形図、(b)は
その振幅変調信号の波形図である。
7A and 7B are explanatory diagrams showing amplitude modulation of a binary digital signal, FIG. 7A is a waveform diagram of a binary digital signal, and FIG. 7B is a waveform diagram of the amplitude modulated signal.

【図8】復調処理の手順を示す接続図である。FIG. 8 is a connection diagram illustrating a procedure of demodulation processing.

【図9】ダイオード復調回路を示す回路図である。FIG. 9 is a circuit diagram showing a diode demodulation circuit.

【図10】ピークホールド回路を示す回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram showing a peak hold circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体スイッチング素子 1a 制御端子 1b 第1の被制御端子 1c 第2の被制御端子 2 抵抗素子 3 信号反転手段 4 温度補償手段 4a 半導体スイッチング素子 4aa 制御端子 4ab 第1の被制御端子 4ac 第2の被制御端子 4b 第1の抵抗素子 4c 第2の抵抗素子 5 入力端子 6 出力端子 V 直流電圧端子 Sd ディジタル信号 Sm 振幅変調信号 So 出力信号 1 Semiconductor switching element 1a Control terminal 1b First controlled terminal 1c Second controlled terminal 2 resistance element 3 Signal inversion means 4 Temperature compensation means 4a Semiconductor switching element 4aa control terminal 4ab first controlled terminal 4ac Second controlled terminal 4b First resistance element 4c Second resistance element 5 input terminals 6 output terminals V DC voltage terminal Sd digital signal Sm amplitude modulation signal So output signal

フロントページの続き (72)発明者 鈴木 健之 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 西村 篤久 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 5K004 AA03 DF04 DG02 Continued front page    (72) Inventor Takeyuki Suzuki             1048, Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric Works Co., Ltd.             Inside the company (72) Inventor Atsuhisa Nishimura             1048, Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric Works Co., Ltd.             Inside the company F-term (reference) 5K004 AA03 DF04 DG02

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 振幅変調回路により振幅変調された2値
のディジタル信号の振幅変調信号が入力される制御端子
と、復調されたディジタル信号を出力する第1の被制御
端子と、基準電位に接続される第2の被制御端子とを有
し、前記第1の被制御端子と前記第2の被制御端子は、
制御端子へ入力される信号により端子間が開閉される被
制御端子対を構成し、ターンオン遅延時間とターンオフ
遅延時間からなるスイッチング遅延時間は、振幅変調の
搬送波信号の変化に追従しない長さの特性を有し、前記
スイッチング遅延時間のうち、ターンオン遅延時間がタ
ーンオフ遅延時間よりも短い特性を有し、所定のバイア
ス電圧が与えられてスイッチング動作が可能となってい
る半導体スイッチング素子と、 前記第1の被制御端子と、前記基準電位に対して電位差
を有する部分とを接続する抵抗素子と、 を有することを特徴とする復調回路。
1. A control terminal to which an amplitude modulation signal of a binary digital signal amplitude-modulated by an amplitude modulation circuit is input, a first controlled terminal for outputting a demodulated digital signal, and a reference potential. And a second controlled terminal, wherein the first controlled terminal and the second controlled terminal are
A controlled terminal pair that opens and closes between terminals according to the signal input to the control terminal, and the switching delay time consisting of turn-on delay time and turn-off delay time is a characteristic of a length that does not follow changes in the carrier signal of amplitude modulation. A semiconductor switching element having a characteristic that a turn-on delay time is shorter than a turn-off delay time among the switching delay times, and a predetermined bias voltage is applied to enable a switching operation; 2. A demodulation circuit, comprising: a controlled element that connects the controlled terminal to a portion having a potential difference with respect to the reference potential.
【請求項2】 前記半導体スイッチング素子の第1の被
制御端子は、信号反転手段を有することを特徴とする請
求項1記載の復調回路。
2. The demodulation circuit according to claim 1, wherein the first controlled terminal of the semiconductor switching element has a signal inverting means.
【請求項3】 前記半導体スイッチング素子の制御端子
は、前記半導体スイッチング素子の温度特性を補償する
温度補償手段を有することを特徴とする請求項1乃至2
記載の復調回路。
3. The control terminal of the semiconductor switching element has a temperature compensating means for compensating the temperature characteristic of the semiconductor switching element.
The described demodulation circuit.
【請求項4】 前記温度補償手段は、制御端子と、第1
の被制御端子と、前記基準電位に接続される第2の被制
御端子とを有し、該制御端子と該第1の被制御端子は短
絡され、前記半導体スイッチング素子と類似の温度特性
を有する半導体スイッチング素子と、 該半導体スイッチング素子の第1の被制御端子と前記基
準電位に対して電位差を有する部分とを接続する第1の
抵抗素子と、 前記半導体スイッチング素子の制御端子と該半導体スイ
ッチング素子の第1の被制御端子とを接続する第2の抵
抗素子と、 を有することを特徴とする請求項3記載の復調回路。
4. The temperature compensating means includes a control terminal and a first terminal.
Controlled terminal and a second controlled terminal connected to the reference potential, the control terminal and the first controlled terminal are short-circuited, and have temperature characteristics similar to those of the semiconductor switching element. A semiconductor switching element, a first resistance element connecting a first controlled terminal of the semiconductor switching element and a portion having a potential difference with respect to the reference potential, a control terminal of the semiconductor switching element, and the semiconductor switching element 4. The demodulation circuit according to claim 3, further comprising: a second resistance element connected to the first controlled terminal of.
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