JP2003215251A

JP2003215251A - 陽電子寿命測定方法及び装置

Info

Publication number: JP2003215251A
Application number: JP2002011921A
Authority: JP
Inventors: Haruo Saito; 晴雄斎藤; Toshio Hyodo; 俊夫兵頭; Akinobu Nakajo; 晃伸中條
Original assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date: 2002-01-21
Filing date: 2002-01-21
Publication date: 2003-07-30
Anticipated expiration: 2022-01-21
Also published as: JP3903112B2

Abstract

(57)【要約】【課題】陽電子寿命測定装置の時間分解能を向上し
て、時間測定の精度を向上すると共に、単位時間当たり
の計数率を向上して、測定時間を短縮可能とする。【解決手段】陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ
線を検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デ
ジタル化した波形信号を処理して、時間分解能２００ｐ
ｓ以下で時間スペクトルを得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、陽電子寿命測定方
法及び装置に係り、特に、時間分解能を向上して、時間
測定の精度を向上するとともに、単位時間当たりの計数
率を高めて、測定時間を短縮することが可能な、超高分
解能の陽電子寿命測定方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】陽電子の寿命を測定する従来の測定装置
は、例えば図１に示す如く、²²Ｎａ陽電子源１０Ａを試
料（例えばアニ−ルした銅の板）１０Ｂで挟んだ測定試
料１０（図２参照）の両側に対向配置された、陽電子源
１０Ａからの１．２７５ＭｅＶの核γ線を捕らえて光に
変換する発生側シンチレータ１２、及び、試料１０Ｂ中
で消滅した陽電子の出す、０．５１１ＭｅＶの陽電子消
滅γ線を捕らえて光に変換する消滅側シンチレータ２２
と、前記シンチレータ１２、２２で発生した光をそれぞ
れ電気信号に変換するための、発生側及び消滅側の光電
子増倍管（ＰＭＴ）１４、２４と、毎回ピーク値Ｐや波
形（半値幅Ｗ）が変化する前記ＰＭＴ１４、２４からの
波形信号（図３参照）から、陽電子の発生時点又は消滅
時点を示すタイミング信号を取出すための、アナログの
コンスタント・フラクション・デファレンシャル・デス
クリミネータ（ＣＦＤ）１６、２６と、消滅側ＣＦＤ２
６の出力を、所定時間（例えば１０ｎｓ）だけ確実に遅
らせて、装置の時間分解能のばらつきがあっても、発生
側ＣＦＤ１６の出力との時間差を確実に測定できるよう
にするための遅延回路（Ｄｅｌａｙ）２８と、前記発生
側ＣＦＤ１６から出力されるスタート信号と前記遅延回
路２８から出力されるストップ信号により、図４に示す
ような寿命スペクトルのヒストグラム（時間スペクトル
と称する）を作り出すための時間差波高変換器（ＴＡ
Ｃ）３０及びマルチ・チャンネル・アナライザ（ＭＣ
Ａ）３２又は時間／デジタルコンバータ（ＴＤＣ）とを
備えている。

【０００３】前記測定試料１０中の陽電子源１０Ａは、
図２に示す如く、陽電子ｅ⁺を出すと同時に１．２７５
ＭｅＶの核γ線を出すため、これを発生側シンチレータ
１２で光に変換して、ＰＭＴ１４で電気信号に変換する
ことで、陽電子の生まれた時間が分かる。

【０００４】一方、消滅側シンチレータ２２で、試料１
０Ｂ中で消滅した陽電子の出す０．５１１ＭｅＶの陽電
子消滅γ線を光に変換して、ＰＮＴ２４で電気信号に変
換することで、陽電子の消滅した時間が分かる。

【０００５】従って、発生側シンチレータ１２によって
得られる信号からスタート信号を得、消滅側シンチレー
タ２２から得られる信号によりストップ信号を得て、Ｔ
ＡＣ３０でその時間差（例えば５０ｎｓ以内）を測定す
ることにより、陽電子の寿命が測定できる。

【０００６】陽電子は多数生成しているため、図４に示
すような寿命スペクトルのヒストグラムを出すことによ
って、平均的な寿命を測定することができる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来は、
時間分解能の半値幅が、最も良い場合で２００ｐｓ程度
であり、十分な時間分解能を得ることができなかった。
更に、単位時間当たりの計数率が低く、測定時間がかか
るという問題点も有していた。

【０００８】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたもので、時間分解能を向上して、時間測定の
精度を向上すると共に、単位時間当たりの計数率を高め
て、測定時間を短縮可能とすることを課題とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、陽電子の発生
や消滅に伴って出されるγ線を検出し、該検出した波形
信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を処理
して、時間分解能２００ｐｓ以下で時間スペクトルを得
るようにして、前記課題を解決したものである。

【００１０】又、陽電子の発生及び消滅に伴って出され
るγ線を、複数のγ線検出手段でそれぞれ独立に検出
し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化
した波形信号を処理して、時間分解能２００ｐｓ以下で
時間スペクトルを得るようにして、同じく前記課題を解
決したものである。

【００１１】又、陽電子の発生及び消滅に伴って出され
るγ線を、複数のγ線検出手段で共に検出し、該検出し
た波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号
を陽電子の発生時と消滅時で判別処理して、時間分解能
２００ｐｓ以下で時間スペクトルを得るようにして、同
じく前記課題を解決したものである。

【００１２】又、前記デジタル化した波形信号を平滑化
した後、そのピーク値を求め、該ピーク値に対して所定
割合となったタイミングを、陽電子の発生時点や消滅時
点とするようにしたものである。

【００１３】本発明は、又、陽電子寿命測定装置におい
て、陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ線を検出す
るγ線検出手段と、該検出した波形信号をデジタル化す
るデジタル化手段と、該デジタル化した波形信号を処理
して、時間分解能２００ｐｓ以下で時間スペクトルを得
る波形解析手段とを備えることにより、前記課題を解決
したものである。

【００１４】又、前記波形解析手段が、前記デジタル化
した波形信号を平滑化する平滑化手段と、そのピーク値
を求めるピーク値検出手段と、該ピーク値に対して所定
割合となったタイミングを、陽電子の発生時点や消滅時
点とするタイミング検出手段とを含むようにしたもので
ある。

【００１５】又、前記γ線検出手段を複数設け、陽電子
の発生及び消滅に伴って出されるγ線を、それぞれ独立
に検出するようにしたものである。

【００１６】又、前記γ線検出手段を複数設け、陽電子
の発生及び消滅に伴って出されるγ線を、共に検出する
ようにしたものである。

【００１７】又、２つの前記γ線検出手段を、試料を挟
んで対向する位置に設けたものである。

【００１８】あるいは、３つの前記γ線検出手段を、試
料を中心に略Ｔ字状に配置したものである。

【００１９】又、４つの前記γ線検出手段を、試料を中
心に略十字状に配置したものである。

【００２０】又、前記複数のγ線検出手段の出力が全て
所定時間内に発生した時にのみ、検出した波形信号を前
記デジタル化手段に取込むための一致検出手段を、更に
備えることにより、メモリ容量を節約できるようにした
ものである。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施形態を詳細に説明する。

【００２２】まず、陽電子の入射と同時に出る²²Ｎａか
らの核γ線（１．２７５ＭｅＶ）（スタート信号に用い
る）と、１本の陽電子消滅γ線（０．５１１ＭｅＶ）
（ストップ信号に用いる）を捕らえるようにした第１乃
至第４実施形態について説明する。

【００２３】本発明の第１実施形態は、図５に示す如
く、従来と同様に測定試料１０の両側に配置した、発生
側シンチレータ（例えばＢaＦ₂）１２で発生した光を検
出する発生側ＰＭＴ１４及び消滅側シンチレータ（例え
ばＢaＦ₂）２２で発生した光を検出する消滅側ＰＭＴ２
４の出力を、共に、高速のデジタルオシロスコープ４０
又はデジタイザ（ＡＤＣ）４２、４４を用いてデジタル
化し、データを例えばパーソナルコンピュータ（ＰＣ）
４６に転送して、波形処理をソフトウェアで行うことに
より、図４に示したような時間スペクトルを得るように
したものである。

【００２４】前記測定試料１０は、図２に示した如く、
ラジオアイソトープ（ＲＩ）の²²Ｎａ陽電子源の１０Ａ
が、測定対象の試料１０Ｂではさまれ、線源一試料部に
設置される。

【００２５】前記ＰＭＴの一方１４が、陽電子源１０Ａ
からの核γ線（１．２７５ＭｅＶ）を捕らえ、他方２４
が、陽電子消滅γ線（０．５１１ＭｅＶ）を捕らえる。

【００２６】前記ＰＭＴ１４、２４の出力波形は、毎回
ピーク値や形が異なり、例えば所定波形の当て嵌めによ
って発生時点や消滅時点のタイミング信号を得るのが困
難である。そこで、本実施形態では、ＰＣ４６で波形を
解析する際に、図６に示す如く、まずステップ１００
で、フィルタをかけて平滑化する。フィルタとしては、
例えばフィルタをかける前の波形をＸ（ｉ）、フィルタ
をかけた後の波形をＸ´（ｉ）とすると、次式を用い
て、例えば４点（Ｘ（ｉ）、Ｘ（ｉ＋１）、Ｘ（ｉ＋
２）、Ｘ（ｉ＋３））の合計で鈍らせて平滑化すること
ができる。

【００２７】Ｘ´（ｉ）＝Ｘ（ｉ）＋Ｘ（ｉ＋１）＋Ｘ（ｉ＋２）＋Ｘ（ｉ＋３） …（１）

【００２８】次いで、ステップ１０２で、図７に示す如
く、フィルタをかけた後の波形のピーク値（波高値）Ｐ
を求める。

【００２９】次いで、ステップ１０４で、フィルタ後の
波形が、ピーク値Ｐに対する所定割合、例えば２５％の
閾値Ｔを横切る時間をもって、γ線の到達時間（即ち陽
電子の発生時点又は消滅時点）とする。

【００３０】次いでステップ１１６で、発生側ＰＭＴ１
４と消滅側ＰＭＴ２４のタイミングの差から、陽電子の
入射から消滅までの時間を得ることができる。

【００３１】従って上記を繰り返し、ステップ１０８で
時間のヒストグラムを作ると、図４に示したような陽電
子消滅寿命スペクトルが得られる。

【００３２】なお（１）式においては、４点の係数が全
て１とされ、各点が同じ重み付けとされていたが、例え
ば重み付け係数を１：２：２：１として、中央の２点の
重みを高めることも可能である。又、点の数も４点に限
定されず、３点以下あるいは５点以上で平滑化すること
も可能である。

【００３３】本実施形態においては、図１に示した従来
例と同様に、一方のＰＭＴ１２で発生側γ線（１．２７
５ＭｅＶ）を捕らえてスタート信号を得、他方のＰＭＴ
２４で消滅側γ線（０．５１１ＭｅＶ）を捕らえてスト
ップ信号を得るようにしていたので、ＰＣ４６の処理が
比較的簡単である。

【００３４】なお、本発明の第２実施形態では、２本の
ＰＭＴ１４、２４で、１．２７５ＭｅＶのγ線と０．５
１１ＭｅＶのγ線を共に捕らえて、後で、ＰＣ４６にお
ける波形解析の際に、スタートとストップを判別するよ
うにしている。

【００３５】このようにすれば、第１実施形態に比べて
計数率が２倍に向上し、測定速度も２倍に向上する。

【００３６】これに対して従来は、アナログのＣＦＤ１
６、２６を用いていたため、ＣＦＤ１６が１．２７５Ｍ
ｅＶのγ線、ＣＦＤ２６が０．５１１ＭｅＶのγ線を捕
らえるよう、測定に先だって、あらかじめ設定しておく
必要があり、設定と逆にＣＦＤ１６に０．５１１ＭｅＶ
のγ線、ＣＦＤ２６に１．２７５ＭｅＶのγ線が入った
場合は検出できなかった。

【００３７】次に、本発明の第３実施形態を詳細に説明
する。

【００３８】本実施形態は、図８に示す如く、ＰＭＴを
１４（ＰＭＴ１とする）、２４（ＰＭＴ２とする）、５
４（ＰＭＴ３とする）の３本用いて略Ｔ字状に配置する
と共に、各ＰＭＴ１４、２４、５４の出力に、例えばＦ
ＥＴのボルテージフォロァ６０、６２、６４をＦＥＴプ
ローブとして設け、該ボルテージフォロァ６０、６２、
６４の出力をデスクリミネータ（ｄｉｓｃ）６６、６
８、７０を介して一致検出回路７２に入力し、該一致検
出回路７２でトリプルコインシデンスがとれた時だけ、
デジタルオシロスコープ４０にトリガをかけて、各ＰＭ
Ｔ１４、２４、５４の出力が取込まれるようにしたもの
である。

【００３９】図において、５２は、ＰＭＴ５４の入側に
設けられたシンチレータ（例えばＢａＦ₂）である。

【００４０】本実施形態においては、ボルテージフォロ
ァ（ＦＥＴプローブ）６０、６２、６４及び一致検出回
路７２を用いて、ＦＥＴプローブの信号をデスクリミテ
ータと一致検出回路に入れることで、ＰＭＴ１−３が、
核γ線と陽電子消滅γ線の両方を全てほぼ同時（例えば
５０ｎｓ以内）に捕らえた場合にのみデジタルオシロス
コープ４０にトリガ信号を入力して、ＰＭＴ１−３の波
形データを取込み、ＰＣ４６に転送するようにしている
ので、デジタルオシロスコープ４０の負担を軽減するこ
とができる。なお、デジタルオシロスコープ４０の容量
が大容量化された場合には、ボルテージフォロァや一致
検出回路を省略して、全データを全てデジタルオシロス
コープ４０に取込むようにすることも可能である。

【００４１】本実施形態においては、ＰＭＴ１４、２
４、５４が３本とも１．２７５ＭｅＶのγ線（スタート
信号）と０．５１１ＭｅＶのγ線（ストップ信号）を捕
らえて、後でＰＣ４６における波形解析の際に、スター
トとストップを判別している。

【００４２】ここで、使用可能なスタートとストップの
組合せは、ＰＭＴ１（スタート）−ＰＭＴ２（ストップ）ＰＭＴ２（スタート）−ＰＭＴ１（ストップ）ＰＭＴ１（スタート）−ＰＭＴ３（ストップ）ＰＭＴ３（スタート）−ＰＭＴ１（ストップ）の４通りであるため、計数率は第１実施形態に比べて２
×２＝４倍に向上する。なお、ＰＭＴ２とＰＭＴ３の組
合せは、１．２７５ＭｅＶのγ線と、０．５１１ＭｅＶ
のγ線の両方が、シンチレータに入る可能性があるた
め、使用できない。

【００４３】次に、本発明の第３実施形態を詳細に説明
する。

【００４４】本実施形態は、図９に示す如く、ＰＭＴを
１４、２４、５４、８４（ＰＭＴ４とする）の４本用い
て略十字形状に配置すると共に、４本共、１．２７５Ｍ
ｅＶのγ線（スタート信号）と、０．５１１ＭｅＶのγ
線（ストップ信号）を検出し、後で波形解析の際に、ス
タートとストップを判別するようにしたものである。

【００４５】図において、８２は、ＰＭＴ８４の入側に
設けられたシンチレータ（例えばＢａＦ₂）である。

【００４６】本実施形態によれば、計数率が４×２＝８
倍に向上する（４×３倍にならない理由は、第３実施形
態のところで説明したとおりである。）。

【００４７】なお、ＰＭＴの数や役割分担は前記実施形
態に限定されず、ＰＭＴを３−４本使い、３−４本のう
ちの１−３本が１．２７５ＭｅＶのγ線（スタート信
号）、３−４本のうちの残りの３−１本が０．５１１Ｍ
ｅＶのγ線（ストップ信号）を捕らえるようにすること
もできる。

【００４８】次に、陽電子の入射と同時に出る²²Ｎａか
らの核γ線（１．２７５ＭｅＶ）と、２本の陽電子消滅
γ線（０．５１１ＭｅＶ）を捕らえるようにした、第５
乃至第７実施形態について説明する。

【００４９】本発明の第５実施形態は、図１０に示すよ
うに、３本のＰＭＴ１４、２４、５４を用い、ＰＭＴ１
が１．２７５ＭｅＶのγ線（スタート信号）、ＰＭＴ２
とＰＭＴ３が、それぞれ０．５１１ＭｅＶのγ線（スト
ップ信号）を捉えるようにしたものである。

【００５０】この場合には、１つのイベントに対して、
時間を２つ測定してから平均することができるため、時
間分解能が向上する。

【００５１】なお、ＰＭＴの数は３本に限定されず、例
えば図１１に示す第６実施形態のようにＰＭＴを４本用
い、ＰＭＴ１とＰＭＴ４が１．２７５ＭｅＶのγ線（ス
タート信号）、ＰＭＴ２とＰＭＴ３が、それぞれ０．５
１１ＭｅＶのγ線（ストップ信号）を捕らえるようにす
ることもできる。

【００５２】この場合には、第５実施形態に比べ、計数
率が２倍に向上する。

【００５３】又、本発明の第７実施形態では、第６実施
形態と同様の図１１に示すような構成において、ＰＭＴ
１−４が１．２７５ＭｅＶのγ線（スタート信号）と、
０．５１１ＭｅＶのγ線（ストップ信号）の両方を捕ら
えるようにしている。

【００５４】この場合には、第５実施形態に比べ、計数
率が４倍に向上する。

【００５５】なお、前記実施形態においては、いずれ
も、陽電子を放出する放射性同位元素（ＲＩ）を陽電子
源として直接利用していたが、陽電子源の種類は、これ
に限定されない。又、本発明の適用対象もＲＩを直接利
用するものに限定されず、ＲＩから放出する陽電子をビ
ーム化（低速陽電子ビーム）して利用する場合にも用い
ることができる。この場合、陽電子の入射と同時に出る
ＲＩからの各γ線（１．２７５ＭｅＶ）から得るスター
ト信号を人工的に作り出す必要がある。通常、ＲＦ空洞
共振器（特開平５−７４５９３参照）やインダクション
システム（例えば特開平１１−２８１７９３参照）等を
利用して、陽電子ビームに速度変調をかけることで低速
陽電子ビームを短パルス化している。そこで、短パルス
化する際のタイミング信号を、前記実施形態のスタート
信号に利用するＰＭＴと置き換えることで、同様な効果
（時間分解能向上や計数率の向上）が期待できる。

【００５６】

【発明の効果】本発明によれば、従来は時間分解能の半
値幅が最も良い場合で２００ｐｓであったのが、第１実
施形態のように、ＣＦＤ、ＴＡＣ、ＭＣＡをデジタルオ
シロスコープに置き換え、適切な波形処理を行なうこと
により、ＰＭＴが２本でも１５０ｐｓ以下にすることが
できた。更に、ＰＭＴを３本以上用いて、陽電子消滅γ
線を２本共捉えることで、時間分解能を１２０ｐｓ以下
に向上することができた。

【００５７】又、計数率に関しても、ＰＭＴを２本使う
従来の方法と比べて、例えば８倍に向上することができ
た。即ち、γ線を２本捕らえる場合には、ＰＭＴを４本
使用することで、従来に比べ、測定効率が８倍に向上す
る。又、γ線を３本捕らえる場合には、ＰＭＴを４本使
用することで、３本のＰＭＴを使用する時より、測定効
率が４倍に向上する。

【００５８】更にＳＮ比も向上することができた。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の陽電子寿命測定装置の一例の構成を示す
ブロック図

【図２】測定試料の例を示す断面図

【図３】光電子増倍管からの波形信号の例を示す線図

【図４】陽電子消滅寿命スペクトルの例を示す線図

【図５】本発明の第１実施形態の構成を示すブロック図

【図６】第１実施形態における処理手順を示す流れ図

【図７】波形信号の例を示す線図

【図８】本発明の第３実施形態の構成を示すブロック図

【図９】同じく第４実施形態の要部構成を示すブロック
図

【図１０】同じく第５実施形態の要部構成を示すブロッ
ク図

【図１１】同じく第６実施形態の要部構成を示すブロッ
ク図

【符号の説明】

１０…測定試料１０Ａ…陽電子源１０Ｂ…試料１２、２２、５２、８２…シンチレータ１４、２４、５４、８４…光電子増倍管（ＰＭＴ）４０…デジタルオシロスコープ４２、４４…デジタイザ（ＡＤＣ）４６…パーソナルコンピュータ（ＰＣ）６０、６２、６４…ボルテージフォロァ６６、６８、７０…デスクリミネータ（ｄｉｓｃ）７２…一致検出回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者斎藤晴雄東京都品川区東品川２−５−６−905 (72)発明者兵頭俊夫東京都八王子市別所１−32−６−108 (72)発明者中條晃伸東京都西東京市谷戸町二丁目１番１号住友重機械工業株式会社田無製造所内Ｆターム(参考） 2G088 EE29 FF07 FF20 GG09 JJ01 KK02 KK05 KK15 KK24 KK29 LL18

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ線
を検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を処理して、時間分解能２０
０ｐｓ以下で時間スペクトルを得ることを特徴とする陽
電子寿命測定方法。
【請求項２】陽電子の発生及び消滅に伴って出されるγ
線を、複数のγ線検出手段でそれぞれ独立に検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を処理して、時間分解能２０
０ｐｓ以下で時間スペクトルを得ることを特徴とする陽
電子寿命測定方法。
【請求項３】陽電子の発生及び消滅に伴って出されるγ
線を、複数のγ線検出手段で共に検出し、該検出した波形信号をデジタル化し、該デジタル化した波形信号を陽電子の発生時と消滅時で
判別処理して、時間分解能２００ｐｓ以下で時間スペク
トルを得ることを特徴とする陽電子寿命測定方法。
【請求項４】前記デジタル化した波形信号を平滑化した
後、そのピーク値を求め、該ピーク値に対して所定割合
となったタイミングを、陽電子の発生時点や消滅時点と
することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載
の陽電子寿命測定方法。
【請求項５】陽電子の発生や消滅に伴って出されるγ線
を検出するγ線検出手段と、該検出した波形信号をデジタル化するデジタル化手段
と、該デジタル化した波形信号を処理して、時間分解能
２００ｐｓ以下で時間スペクトルを得る波形解析手段
と、を備えたことを特徴とする陽電子寿命測定装置。
【請求項６】前記波形解析手段が、前記デジタル化した波形信号を平
滑化する平滑化手段と、そのピーク値を求めるピーク値
検出手段と、該ピーク値に対して所定割合となったタイミングを、陽
電子の発生時点や消滅時点とするタイミング検出手段
と、を含むことを特徴とする請求項５に記載の陽電子寿命測
定装置。
【請求項７】前記γ線検出手段が複数設けられ、陽電子
の発生及び消滅に伴って出されるγ線を、それぞれ独立
に検出するようにされていることを特徴とする請求項５
又は６に記載の陽電子寿命測定装置。
【請求項８】前記γ線検出手段が複数設けられ、陽電子
の発生及び消滅に伴って出されるγ線を、共に検出する
ようにされていることを特徴とする請求項５又は６に記
載の陽電子寿命測定装置。
【請求項９】２つの前記γ線検出手段が、試料を挟んで
対向する位置に設けられていることを特徴とする請求項
７又は８に記載の陽電子寿命測定装置。
【請求項１０】３つの前記γ線検出手段が、試料を中心
に略Ｔ字状に配置されていることを特徴とする請求項８
に記載の陽電子寿命測定装置。
【請求項１１】４つの前記γ線検出手段が、試料を中心
に略十字状に配置されていることを特徴とする請求項８
に記載の陽電子寿命測定装置。
【請求項１２】前記複数のγ線検出手段の出力が全て所
定時間内に発生した時にのみ、検出した波形信号を前記
デジタル化手段に取込むための一致検出手段を、更に備
えたことを特徴とする請求項８乃至１１のいずれかに記
載の陽電子寿命測定装置。