JP2003215190A - Short-circuit detector - Google Patents

Short-circuit detector

Info

Publication number
JP2003215190A
JP2003215190A JP2002300551A JP2002300551A JP2003215190A JP 2003215190 A JP2003215190 A JP 2003215190A JP 2002300551 A JP2002300551 A JP 2002300551A JP 2002300551 A JP2002300551 A JP 2002300551A JP 2003215190 A JP2003215190 A JP 2003215190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
short
voltage
measurement position
plate electrode
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002300551A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Kobayashi
健二 小林
Shiro Akiyama
史郎 秋山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Hioki EE Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp, Hioki EE Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2002300551A priority Critical patent/JP2003215190A/en
Publication of JP2003215190A publication Critical patent/JP2003215190A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/30Hydrogen technology
    • Y02E60/50Fuel cells

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To surely detect a plurality of short-circuited portions. <P>SOLUTION: This short-circuit detector 1 for detecting the position of a short-circuited portion between a pair of plate electrodes EL1, EL2 arranged mutually opposedly is provided with a current supplying part 2 for supplying a current between a prescribed portion A in the one plate electrode EL1 out of the paired plate electrodes EL1, EL2 and a prescribed portion B of the other plate electrode EL2, a voltage measuring part 3 for measuring respective potential differences between a plurality of measuring points specified on the one plate electrode EL1 matrix-pattern-likely and the one reference point A specified on the one plate electrode EL1, and an arithmetic and control part 5 for calculating respective potential gradients between the each measuring point and the other measuring points adjacent along vertical and lateral directions, based on the measured respective potential differences, and for detecting the measuring point of the minimum potential point, based on the calculated potential gradients. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、対向して配置され
た一対の平板電極間のショート箇所の位置を検出するシ
ョート検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a short-circuit detecting device for detecting the position of a short-circuit portion between a pair of flat plate electrodes arranged so as to face each other.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、燃料電池では、平板状の電極
(以下、「平板電極」ともいう)が電解質膜ELFを挟
んで対向配置されている。この場合、対向配置された平
板電極同士は、電気的に絶縁された状態に維持されてい
る必要がある。このため、燃料電池の製造時には、ま
ず、平板電極相互間のショート箇所の存否を検査し、シ
ョート箇所が存在したときにはショート箇所の位置(以
下、「ショート位置」ともいう)を検出(特定)して修
理を行っている。このショート箇所の存否自体を検査す
る際には、従来、一般的に、DCタイプの抵抗計(テス
ター)を使用して平板電極相互間の抵抗を測定し、測定
した抵抗値が所定値(しきい値)以上であれば、ショー
トしていないと判別している。また、このショート位置
検出の際には、従来、図16に示すショート位置検出装
置51が一般的に使用されている。
2. Description of the Related Art For example, in a fuel cell, flat electrodes (hereinafter, also referred to as "flat electrodes") are arranged to face each other with an electrolyte membrane ELF interposed therebetween. In this case, the flat plate electrodes arranged facing each other need to be maintained in an electrically insulated state. Therefore, at the time of manufacturing a fuel cell, first, the presence or absence of a short-circuited portion between the flat plate electrodes is inspected, and when the short-circuited portion is present, the position of the short-circuited portion (hereinafter, also referred to as “short-circuited position”) is detected (specified). Repairs. When inspecting the presence / absence of this short-circuited portion, conventionally, the resistance between the flat plate electrodes is generally measured using a DC type ohmmeter (tester), and the measured resistance value is a predetermined value. If it is above the threshold value, it is determined that there is no short circuit. Further, at the time of detecting the short-circuited position, the short-circuited position detecting device 51 shown in FIG. 16 is generally used conventionally.

【0003】このショート位置検出装置51は、同図に
示すように、電流供給部2、電圧測定部53、駆動機構
54、演算制御部55および表示部6を備えている。こ
の場合、電流供給部2は、一対の平板電極EL1,EL
2のうちの一方の平板電極EL1における部位Aと他方
の平板電極EL2における部位Bとの間に定電流を供給
する。本例では、各平板電極EL1,EL2は一例とし
て同じ大きさの長方形にそれぞれ形成され、定電流が供
給される各点(以下、「電流供給点」ともいう)A,B
は各平板電極EL1,EL2における対向する一つの隅
部にそれぞれ設定されている。電圧測定部53は、平板
電極EL1における電流供給点Aと、プローブ(電圧検
出端子)7との接触部位間の電位差を測定して、電圧デ
ータDvとして出力する。駆動機構54は、プローブ7
を支持するためのアーム54aを備え、プローブ7を平
板電極EL1の上方で3次元的に移動させると共にプロ
ーブ7を平板電極EL1の任意の位置に接触可能に構成
されている。演算制御部55は、電流供給部2、電圧測
定部53および駆動機構54を制御すると共に、電圧測
定部53から出力された電圧データDvに基づいて各平
板電極EL1,EL2間のショート位置を検出する。表
示部6は、演算制御部55によって検出されたショート
位置に関する情報を表示する。
As shown in FIG. 1, the short-circuit position detecting device 51 includes a current supply section 2, a voltage measuring section 53, a drive mechanism 54, an arithmetic control section 55 and a display section 6. In this case, the current supply unit 2 includes a pair of plate electrodes EL1, EL
A constant current is supplied between a portion A of one plate electrode EL1 of the two and a portion B of the other plate electrode EL2. In this example, the flat plate electrodes EL1 and EL2 are each formed in a rectangle of the same size as an example, and each point to which a constant current is supplied (hereinafter, also referred to as “current supply point”) A and B.
Are respectively set at one facing corner of each plate electrode EL1, EL2. The voltage measuring unit 53 measures the potential difference between the contact point between the current supply point A on the plate electrode EL1 and the probe (voltage detection terminal) 7 and outputs it as voltage data Dv. The drive mechanism 54 includes the probe 7
An arm 54a for supporting the probe 7 is provided so that the probe 7 can be moved three-dimensionally above the plate electrode EL1 and the probe 7 can be brought into contact with any position of the plate electrode EL1. The arithmetic control unit 55 controls the current supply unit 2, the voltage measurement unit 53, and the drive mechanism 54, and detects the short position between the flat plate electrodes EL1 and EL2 based on the voltage data Dv output from the voltage measurement unit 53. To do. The display unit 6 displays information on the short-circuit position detected by the arithmetic control unit 55.

【0004】このショート位置検出装置51では、一対
の平板電極EL1,EL2間のショート位置を検出する
際に、まず、演算制御部55が、電流供給部2を作動さ
せて、一方の平板電極EL1の電流供給点Aと他方の平
板電極EL2の電流供給点Bとの間に直流定電流を連続
的に供給する。この場合、ショート箇所が存在するとき
には、定電流は、電流供給点Aから入力されて、ショー
ト位置を介して電流供給点Bから出力される。演算制御
部55は、駆動機構54を制御してプローブ7を移動さ
せ、予め決められた平板電極EL1上の各測定位置にプ
ローブ7を順次接触させる。また、演算制御部55は、
プローブ7を測定位置に接触させる毎に電圧測定部53
を制御して、電流供給点Aと各測定位置との間の電位差
(電流供給点Aを基準とした測定位置の電位)を測定す
る。この際に、電圧測定部53は、各測定位置における
電位差を電圧データDvとして出力する。また、演算制
御部55は、電圧測定部53から出力される電圧データ
Dvを取り込み、取り込んだ電圧データDvをその測定
位置の位置データと関連付けして内部メモリに順次記憶
する。次いで、演算制御部55は、すべての測定位置に
対する電位差測定を終了した時点で、取り込んだ電圧デ
ータDvの中で最も大きな電位差の測定位置を検出す
る。この場合、電流供給点Aから平板電極EL1に供給
された電流はショート位置のみから流れ出すために、そ
のショート位置での電圧降下が最も大きくなる結果、電
流供給点Aに対する電位差はショート位置において最も
大きくなる。したがって、演算制御部55は、検出した
最も大きな電位差の測定位置を特定する。続いて、演算
制御部55は、特定した測定位置の位置情報をショート
位置の位置情報として表示部56に表示させ、このショ
ート位置検出動作を終了する。
In the short-circuit position detecting device 51, when detecting the short-circuit position between the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2, the arithmetic control unit 55 first activates the current supply unit 2 to make one flat plate electrode EL1. A DC constant current is continuously supplied between the current supply point A of the above and the current supply point B of the other plate electrode EL2. In this case, when there is a short-circuited portion, the constant current is input from the current supply point A and output from the current supply point B via the short-circuited position. The arithmetic control unit 55 controls the drive mechanism 54 to move the probe 7 and sequentially bring the probe 7 into contact with each predetermined measurement position on the plate electrode EL1. Further, the arithmetic control unit 55
Each time the probe 7 is brought into contact with the measurement position, the voltage measuring unit 53
Is controlled to measure the potential difference between the current supply point A and each measurement position (potential at the measurement position with reference to the current supply point A). At this time, the voltage measurement unit 53 outputs the potential difference at each measurement position as voltage data Dv. Further, the arithmetic control unit 55 takes in the voltage data Dv output from the voltage measurement unit 53, associates the taken-in voltage data Dv with the position data of the measurement position, and sequentially stores it in the internal memory. Next, the arithmetic control unit 55 detects the measurement position of the largest potential difference in the captured voltage data Dv when the measurement of the potential difference for all the measurement positions is completed. In this case, since the current supplied from the current supply point A to the flat plate electrode EL1 flows out only from the short position, the voltage drop at the short position becomes the largest, so that the potential difference with respect to the current supply point A becomes the largest at the short position. Become. Therefore, the arithmetic control unit 55 specifies the measurement position of the detected largest potential difference. Subsequently, the arithmetic control unit 55 causes the display unit 56 to display the position information of the specified measurement position as the position information of the short position, and ends the short position detection operation.

【0005】[0005]

【特許文献1】特開昭63−117277号公報(第1
頁)
[Patent Document 1] Japanese Patent Laid-Open No. 63-117277 (first
page)

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述したシ
ョート検査には、以下の問題点がある。すなわち、この
ショート検査に用いられているショート位置検出装置5
1では、一対の平板電極EL1,EL2間に2カ所以上
のショート箇所が存在する場合、最も電位差が大きい測
定位置の近傍に1つのショート箇所があることを検出す
ることができるものの、他のショート位置を同時に検出
するのが困難となる。したがって、平板電極EL1,E
L2間に2カ所以上のショート箇所が存在し、そのすべ
てを検出するためには、1つのショート位置を検出した
際にそのショート箇所を修理して、その後に同様にして
他のショート位置を検出する必要がある。このため、検
出処理が煩雑で長時間を要する結果、従来のショート位
置検出装置51には、ショート検査全体として検査時間
を長時間化させているという問題点がある。また、この
ショート検査では、ショート位置の検出に先立ってショ
ート箇所の存否自体を検査する際に、DCタイプの抵抗
計(テスター)を使用して平板電極相互間の抵抗値を測
定している。この場合、一対の平板電極によってキャパ
シタンスが構成されるため、抵抗計から供給される電流
によって平板電極間の電圧が上昇し続ける結果、見かけ
上の抵抗値も上がり続けて抵抗値の測定を完了するまで
に長時間を要することとなる。したがって、ショート箇
所の存否の検査、ひいてはショート検査全体に要する時
間に長時間を要するという問題がある。この問題はショ
ート箇所の存在しない良品において特に顕著に現れる
が、ショート箇所の存在する不良品であっても、ショー
ト箇所以外の部位によってキャパシタンスが構成されて
いるため、良品程ではないにしても、やはり抵抗値が安
定するまでに時間を要するため、同様の問題が生じる。
However, the above-mentioned short circuit inspection has the following problems. That is, the short position detecting device 5 used for this short inspection
In No. 1, when there are two or more short points between the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2, it is possible to detect that there is one short point in the vicinity of the measurement position where the potential difference is the largest, but other shorts. It is difficult to detect the position at the same time. Therefore, the plate electrodes EL1, E
There are two or more short points between L2. In order to detect all of them, when one short position is detected, the short point is repaired and then other short positions are detected in the same manner. There is a need to. Therefore, as a result of the detection process being complicated and requiring a long time, the conventional short position detection device 51 has a problem that the inspection time is extended as a whole for the short inspection. Further, in this short-circuit inspection, when the existence or nonexistence of the short-circuited portion is inspected prior to the detection of the short-circuited position, the resistance value between the plate electrodes is measured using a DC type resistance meter (tester). In this case, since a capacitance is formed by a pair of flat plate electrodes, the voltage supplied between the flat plate electrodes continues to rise due to the current supplied from the ohmmeter, and as a result, the apparent resistance value also rises and the measurement of the resistance value is completed. It will take a long time to get there. Therefore, there is a problem in that it takes a long time to inspect the existence of a short-circuited portion, and eventually the entire short-circuit inspection. This problem is particularly prominent in non-defective products that do not have short-circuited parts, but even in the case of defective products that have short-circuited parts, the capacitance is composed of parts other than short-circuited parts, so even if it is not as good as good products, Since it takes time to stabilize the resistance value, the same problem occurs.

【0007】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、複数のショート箇所が存在したとしても各
ショート位置を確実に検出し得るショート検出装置を提
供することを主目的とする。また、本発明は、複数のシ
ョート箇所が存在したとしても各ショート位置を短時間
で検出し得るショート検出装置を提供することを他の目
的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and a main object of the present invention is to provide a short-circuit detecting device capable of surely detecting each short-circuit position even if there are a plurality of short-circuit positions. Another object of the present invention is to provide a short-circuit detection device that can detect each short-circuit position in a short time even if there are a plurality of short-circuited positions.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項1記載のショート検出装置は、対向して配置された
一対の平板電極間におけるショート箇所の位置を検出す
るショート検出装置であって、前記一対の平板電極のう
ちの一方の平板電極における所定の部位と他方の平板電
極における所定の部位との間に電流を供給する電流供給
部と、所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定さ
れた複数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定され
た一つの基準点との間の各電位差をそれぞれ測定する電
圧測定部と、前記各測定位置と所定の方向に沿って隣接
する他の測定位置との間の各電圧勾配を前記測定された
各電位差に基づいて算出すると共に当該算出した各電圧
勾配に基づいて電圧極小点となる前記測定位置を検出す
る検出部とを備えている。
In order to achieve the above object, a short-circuit detecting device according to claim 1 is a short-circuit detecting device for detecting the position of a short-circuited portion between a pair of flat plate electrodes arranged facing each other. , A current supply unit that supplies a current between a predetermined portion of one plate electrode of the pair of flat plate electrodes and a predetermined portion of the other plate electrode, and on the one plate electrode in a predetermined pattern. A voltage measuring unit that measures each potential difference between a plurality of defined measurement positions and one reference point defined on the one flat plate electrode, and is adjacent to each measurement position along a predetermined direction. And a detection unit that calculates each voltage gradient with another measurement position based on each of the measured potential differences and detects the measurement position that is the voltage minimum point based on each calculated voltage gradient. There.

【0009】請求項2記載のショート検出装置は、請求
項1記載のショート検出装置において、前記検出部は、
前記各測定位置の前記電位差と前記所定の方向に沿って
当該各測定位置に隣接する他の測定位置の電位差との間
の各差分を対応する相互間距離で除算することによって
当該各測定位置と当該他の測定位置との間の前記各電圧
勾配を算出し、当該電圧勾配の極性が反転し、かつ当該
差分が所定値以上となる前記測定位置を前記電圧極小点
として検出する。
A short-circuit detecting device according to a second aspect is the short-circuit detecting device according to the first aspect, wherein the detection section is
With each measurement position by dividing each difference between the potential difference of each measurement position and the potential difference of another measurement position adjacent to each measurement position along the predetermined direction by the corresponding mutual distance. Each of the voltage gradients with respect to the other measurement position is calculated, and the measurement position at which the polarity of the voltage gradient is reversed and the difference is equal to or more than a predetermined value is detected as the voltage minimum point.

【0010】請求項3記載のショート検出装置は、請求
項1または2記載のショート検出装置において、前記複
数の測定位置に対応して配置されると共に前記一方の平
板電極に接触可能な複数の電圧検出端子を備え、前記電
圧測定部は、前記複数の電圧検出端子を介してそれぞれ
入力された電圧に基づいて前記各電位差を測定する。
A short-circuit detecting device according to a third aspect of the present invention is the short-circuit detecting device according to the first or second aspect, in which a plurality of voltages arranged corresponding to the plurality of measurement positions and capable of contacting the one plate electrode are provided. The voltage measuring unit includes a detection terminal, and measures the potential differences based on the voltages respectively input via the plurality of voltage detection terminals.

【0011】請求項4記載のショート検出装置は、請求
項1から3のいずれかに記載のショート検出装置におい
て、前記一方の平板電極および前記他方の平板電極のう
ちの少なくとも一方における前記電流を供給する前記所
定の部位を他の部位に変更可能に構成されている。
A short-circuit detection device according to a fourth aspect is the short-circuit detection device according to any one of the first to third aspects, wherein the current is supplied to at least one of the one plate electrode and the other plate electrode. It is configured such that the predetermined part to be changed to another part.

【0012】請求項5記載のショート検査装置は、請求
項1から4のいずれかに記載のショート検出装置におい
て、前記電圧測定部は、前記一方の平板電極における所
定の部位と前記他方の平板電極における所定の部位との
間の電極間電位差を測定し、前記検出部は、前記電圧極
小点となる測定位置の検出に先立ち、前記電流供給部に
よる前記電流の供給開始から所定時間内に前記電極間電
位差が予め設定された制限電圧に達するか否かを検出
し、かつ達したときには前記一対の平板電極間に前記シ
ョート箇所が存在しないと判別すると共に達しないとき
には前記一対の平板電極間に前記ショート箇所が存在す
ると判別する予備検査を実行する。
A short circuit inspection apparatus according to a fifth aspect is the short circuit detection apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the voltage measuring section has a predetermined portion of the one plate electrode and the other plate electrode. In the predetermined portion, the detection unit, the detection unit, prior to detection of the measurement position that is the voltage minimum point, the electrode within a predetermined time from the start of the current supply by the current supply unit It is detected whether or not the inter-potential difference reaches a preset limiting voltage, and when it reaches, it is determined that the short-circuited portion does not exist between the pair of flat plate electrodes, and when it does not reach, the short circuit between the pair of flat plate electrodes is performed. Perform a preliminary inspection to determine that there is a short-circuited part.

【0013】請求項6記載のショート検査装置は、請求
項5記載のショート検出装置において、前記検出部は、
前記予備検査において前記ショート箇所が存在すると判
別したときに、前記複数の測定位置の内の任意の一つと
前記基準点との間の電位差の増加率を算出すると共に当
該増加率を予め設定された基準範囲と比較し、当該増加
率が当該基準範囲内であると判別したときに、前記電圧
極小点となる測定位置の検出を行う。
A short-circuit inspection device according to a sixth aspect is the short-circuit detection device according to the fifth aspect, wherein the detection section is
When it is determined in the preliminary inspection that the short-circuited portion is present, the increase rate of the potential difference between any one of the plurality of measurement positions and the reference point is calculated and the increase rate is preset. When it is determined that the increase rate is within the reference range by comparing with the reference range, the measurement position serving as the voltage minimum point is detected.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係るショート検出装置の実施の形態について説明す
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a short detection device according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0015】最初に、図1,2を参照して、ショート検
出装置1の構成について説明する。なお、従来のショー
ト位置検出装置51と同一の構成については同一の符号
を付して、重複する説明を省略する。
First, the configuration of the short-circuit detecting device 1 will be described with reference to FIGS. The same components as those of the conventional short position detecting device 51 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0016】このショート検出装置1は、図1に示すよ
うに、電流供給部2、電圧測定部3、駆動機構4、演算
制御部(検出部)5、表示部6、複数のプローブ(電圧
検出端子)7,7・・、および支持板8を備え、一対の
平板電極EL1,EL2間におけるショート箇所の存否
を判別すると共に、ショート箇所が存在するときには、
そのショート位置を検出(特定)可能に構成されてい
る。本実施の形態では、各平板電極EL1,EL2は一
例として同じ大きさの長方形にそれぞれ形成されている
ものとする。また、平板電極EL1,EL2間に介在す
る電解質膜ELFは、燃料電池内に実際に配置された状
態では導電性を有するが、ショート位置検出対象体の状
態では、乾燥して絶縁性を有している。
As shown in FIG. 1, the short-circuit detection device 1 includes a current supply unit 2, a voltage measurement unit 3, a drive mechanism 4, an arithmetic control unit (detection unit) 5, a display unit 6, a plurality of probes (voltage detection units). , And the support plate 8 to determine whether or not there is a short circuit between the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2, and when there is a short circuit,
The short-circuited position can be detected (specified). In the present embodiment, it is assumed that the flat plate electrodes EL1 and EL2 are each formed in a rectangular shape having the same size. Further, the electrolyte membrane ELF interposed between the flat plate electrodes EL1 and EL2 has conductivity when it is actually arranged in the fuel cell, but has dry insulation when it is the state of the short position detection target. ing.

【0017】電流供給部2は、演算制御部5の制御下
で、電解質膜ELFを挟んで対向配置される一対の平板
電極EL1,EL2のうちの一方の平板電極EL1にお
ける所定の部位(電流供給点)Aと他方の平板電極EL
2における所定の部位(電流供給点)Bとの間に直流定
電流を供給する。本実施の形態では、各電流供給点A,
Bは各平板電極EL1,EL2における対向する一つの
隅部にそれぞれ設定されている。また、電流供給部2に
よって生成される直流定電流は、図13に示すように、
一対の平板電極EL1,EL2間にショート箇所が存在
しないとき(良品のとき)には所定時間Tr以内に出力
電圧Vcが制限電圧Vrに達し、一対の平板電極EL
1,EL2間にショート箇所が存在するとき(不具合品
のとき)には全てのショート検査が終了するまでに出力
電圧Vcが制限電圧Vrに達しない値に予め設定されて
いる。また、電流供給部2は、演算制御部5の制御下
で、定電流動作と定電圧動作とを切り替える機能を備え
ている。
Under the control of the arithmetic control unit 5, the current supply unit 2 is a predetermined portion (current supply) of one flat plate electrode EL1 of the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2 facing each other across the electrolyte membrane ELF. Point) A and the other plate electrode EL
A constant DC current is supplied to a predetermined portion (current supply point) B in FIG. In the present embodiment, each current supply point A,
B is set at one of the facing corners of each plate electrode EL1, EL2. Further, the direct current constant generated by the current supply unit 2 is, as shown in FIG.
When there is no short-circuited portion between the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2 (good product), the output voltage Vc reaches the limit voltage Vr within a predetermined time Tr, and the pair of flat plate electrodes EL
When there is a short-circuited portion between 1 and EL2 (in the case of a defective product), the output voltage Vc is preset to a value that does not reach the limit voltage Vr by the end of all the short-circuit inspections. Further, the current supply unit 2 has a function of switching between a constant current operation and a constant voltage operation under the control of the arithmetic control unit 5.

【0018】電圧測定部3は、平板電極EL1における
所定の部位(一例として電流供給点A)および他方の平
板電極EL2における所定の部位(一例として電流供給
点B)間の電位差(電極間電位差)Vcを測定して電圧
データDvcとして出力する。また、電圧測定部3は、
平板電極EL1における基準点(一例として電流供給点
A)および各プローブ7をそれぞれ接触させた各部位間
の各電位差をそれぞれ測定して、電圧データDvとして
出力する。この場合、プローブ7を接触させる測定位置
MPは、図2に示すように、本発明における所定のパタ
ーンの一例として30mm×40mmの大きさのマトリ
ックスにおける各交点位置に対応させて平板電極EL1
上に合計121個(MP(i,j):i=1,2,3,
・・・,9,a,b、j=1,2,3,・・・,9,
a,b)規定されている。これに対応して、これらの交
点位置の数と同数のプローブ7が、各交点位置に対応す
るように同一平面上にマトリックス状に並設され、この
状態で、平板電極EL1と平行に配置された支持板8に
取り付けられている。
The voltage measuring unit 3 has a potential difference (inter-electrode potential difference) between a predetermined portion of the plate electrode EL1 (current supply point A as an example) and a predetermined portion of the other plate electrode EL2 (current supply point B as an example). Vc is measured and output as voltage data Dvc. In addition, the voltage measuring unit 3
Each potential difference between the reference point (current supply point A as an example) of the plate electrode EL1 and each portion where each probe 7 is brought into contact is measured and output as voltage data Dv. In this case, as shown in FIG. 2, the measurement position MP with which the probe 7 is brought into contact is a flat plate electrode EL1 corresponding to each intersection point position in a matrix of 30 mm × 40 mm as an example of a predetermined pattern in the present invention.
121 pieces in total (MP (i, j): i = 1, 2, 3,
..., 9, a, b, j = 1, 2, 3, ..., 9,
a, b) Specified. Correspondingly, as many probes 7 as the number of these intersection positions are arranged side by side in a matrix on the same plane so as to correspond to the respective intersection positions, and in this state, they are arranged in parallel with the plate electrode EL1. Attached to the support plate 8.

【0019】駆動機構4は、複数のプローブ7が取り付
けられた支持板8を支持するためのアーム4aを備え、
アーム4aを上下動させて支持板8を平板電極EL1に
対して接離動させることにより、全プローブ7を平板電
極EL1上の対応する測定位置MPに同時に接触させ
る。この場合、各プローブ7は、図14に示すように、
ガイド筒体7a、ガイド筒体7a内にその長手方向(同
図中の上下方向)に沿って摺動自在に収納された接触子
7b、およびガイド筒体7a内に配設されたバネ(一例
としてコイルスプリング)7cで構成されている。ま
た、平板電極EL2側には、複数のダミープローブ9が
各プローブ7に対向してそれぞれ配置されている。ここ
で、各々の頂部が同一平面上に位置するように各ダミー
プローブ9を配置することにより、一対の平板電極EL
1,EL2は、複数のプローブ7と複数のダミープロー
ブ9とによって軽く挟むようにして保持される。したが
って、この構成によれば、一対の平板電極EL1,EL
2を撓みの少ない状態で保持しつつ、全プローブ7を平
板電極EL1上の対応する測定位置MPにほぼ同じ圧力
でしかも同時に接触させることができる。また、複数の
ダミープローブ9に代えて、十分な平面性を確保した平
板上に一対の平板電極EL1,EL2を載置して、複数
のプローブ7を平板電極EL1上の対応する測定位置M
Pに軽く接触させる構成を採用することもできる。この
構成であったとしても、複数のダミープローブ9を使用
する構成と同様にして、一対の平板電極EL1,EL2
を撓みの少ない状態で保持しつつ、全プローブ7を測定
位置MPに同時に接触させることができる。
The drive mechanism 4 includes an arm 4a for supporting a support plate 8 to which a plurality of probes 7 are attached,
By moving the arm 4a up and down to bring the support plate 8 into and out of contact with the plate electrode EL1, all the probes 7 are simultaneously brought into contact with the corresponding measurement positions MP on the plate electrode EL1. In this case, each probe 7 is, as shown in FIG.
A guide cylinder 7a, a contactor 7b slidably accommodated in the guide cylinder 7a along its longitudinal direction (vertical direction in the figure), and a spring arranged in the guide cylinder 7a (one example And a coil spring) 7c. Further, a plurality of dummy probes 9 are arranged facing the respective probes 7 on the plate electrode EL2 side. Here, by arranging the dummy probes 9 so that their tops are located on the same plane, a pair of flat plate electrodes EL
1 and EL2 are held by being lightly sandwiched by a plurality of probes 7 and a plurality of dummy probes 9. Therefore, according to this configuration, the pair of plate electrodes EL1, EL
All probes 7 can be brought into contact with corresponding measurement positions MP on the flat plate electrode EL1 at substantially the same pressure and at the same time while holding 2 in a state in which the deflection is small. Further, instead of the plurality of dummy probes 9, a pair of plate electrodes EL1 and EL2 are placed on a plate having sufficient flatness, and the plurality of probes 7 are arranged at corresponding measurement positions M on the plate electrode EL1.
It is also possible to adopt a configuration in which P is lightly contacted. Even with this configuration, the pair of plate electrodes EL1 and EL2 are similar to the configuration using a plurality of dummy probes 9.
It is possible to bring all the probes 7 into contact with the measurement position MP at the same time while holding the probe in a state in which there is little bending.

【0020】演算制御部5は、電流供給部2、電圧測定
部3および駆動機構4を制御する。また、演算制御部5
は、電流供給部2による直流定電流の供給開始からの経
過時間Tを計測する機能を備えている。また、演算制御
部5は、電圧測定部3によって出力された電圧データD
vcと予め設定された制限電圧Vrとを比較すると共に
経過時間Tと予め設定された所定時間Trとを比較し
て、経過時間Tが所定時間Trに達する以前に電位差V
cが制限電圧Vrに達したか否かを検出することによ
り、各平板電極EL1,EL2間のショート箇所の存否
を判別する機能を備えている。この場合、制限電圧Vr
は平板電極EL1,EL2間に位置する電解質膜ELF
の耐圧未満(一例として約1.6V)になるように設定
され、演算制御部5は、電位差Vcが制限電圧Vrに達
したことを検出した際に、電流供給部2を制御してその
動作を定電流動作から定電圧動作に切り替えて、過電圧
による電解質膜ELFの損傷を防止する。また、演算制
御部5は、電圧測定部3から出力された電圧データDv
に基づいて各平板電極EL1,EL2間のショート位置
を検出する機能を備えている。なお、制限電圧Vrおよ
び所定時間Trは、演算制御部5の内部メモリ(図示せ
ず)内に予め記憶されている。表示部6は、演算制御部
5によるショート箇所の存否の判別結果と、演算制御部
5によって検出されたショート位置に関する情報(数と
位置等)とを表示する。
The arithmetic control unit 5 controls the current supply unit 2, the voltage measurement unit 3 and the drive mechanism 4. In addition, the arithmetic control unit 5
Has a function of measuring an elapsed time T from the start of the supply of the constant DC current by the current supply unit 2. In addition, the arithmetic control unit 5 controls the voltage data D output by the voltage measuring unit 3.
vc is compared with a preset limit voltage Vr, and the elapsed time T is compared with a preset predetermined time Tr so that the potential difference V before the elapsed time T reaches the predetermined time Tr.
It has a function of determining whether or not there is a short-circuited portion between the flat plate electrodes EL1 and EL2 by detecting whether or not c has reached the limit voltage Vr. In this case, the limit voltage Vr
Is an electrolyte membrane ELF located between the plate electrodes EL1 and EL2
Is set to be less than the withstand voltage (about 1.6 V as an example), and when the arithmetic control unit 5 detects that the potential difference Vc reaches the limit voltage Vr, the arithmetic control unit 5 controls the current supply unit 2 to operate the same. Is switched from a constant current operation to a constant voltage operation to prevent damage to the electrolyte membrane ELF due to overvoltage. In addition, the arithmetic control unit 5 controls the voltage data Dv output from the voltage measuring unit 3.
It has a function of detecting a short-circuited position between the flat plate electrodes EL1 and EL2 based on. The limit voltage Vr and the predetermined time Tr are stored in advance in the internal memory (not shown) of the arithmetic control unit 5. The display unit 6 displays the determination result of the presence or absence of the short-circuited portion by the arithmetic control unit 5 and the information (number, position, etc.) regarding the short-circuited position detected by the arithmetic control unit 5.

【0021】次に、ショート検出装置1による一対の平
板電極EL1,EL2間のショート検出処理について図
3,15を参照して説明する。なお、一例として図2に
おいて黒印で表示された測定位置MP(3,9)および
測定位置MP(6,6)の2点において平板電極EL
1,EL2同士がショートしているものとして、この2
つの測定位置MPを検出する動作を説明する。
Next, a short circuit detection process between the pair of plate electrodes EL1 and EL2 by the short circuit detection device 1 will be described with reference to FIGS. As an example, the flat plate electrode EL is provided at two points, that is, a measurement position MP (3,9) and a measurement position MP (6,6) indicated by black marks in FIG.
Assuming that EL1 and EL2 are shorted together, this 2
The operation of detecting one measurement position MP will be described.

【0022】まず、電解質膜ELFを挟んで対向配置さ
れた一対の平板電極EL1,EL2を複数のダミープロ
ーブ9上に載置する。次いで、演算制御部5は、駆動機
構4を制御することにより、支持板8に取り付けた各プ
ローブ7を対応する平板電極EL1上の各測定位置MP
に接触させる(ステップ61)。この際に、各プローブ
7の各バネ7cが弾性変形することにより、各接触子7
bの平板電極EL1に対する接触圧が過度にならないよ
うに制御される。その後、演算制御部5は、図外の放電
回路を作動させることにより、平板電極EL1,EL2
に充電されている電荷を放電させた後(ステップ6
2)、電流供給部2を定電流動作させて、平板電極EL
1の電流供給点Aと平板電極EL2の電流供給点Bとの
間に対する直流定電流の連続的供給を開始させる(ステ
ップ63)。また、同時に、演算制御部5は、直流定電
流の供給開始からの経過時間Tの計測を開始すると共
に、電圧測定部3に対して電流供給点Aと電流供給点B
との間の電位差Vcの測定を開始させる。
First, a pair of flat plate electrodes EL1 and EL2, which are opposed to each other with the electrolyte membrane ELF sandwiched therebetween, are placed on a plurality of dummy probes 9. Next, the arithmetic control unit 5 controls the drive mechanism 4 to cause each probe 7 attached to the support plate 8 to be measured at each measurement position MP on the corresponding flat plate electrode EL1.
(Step 61). At this time, each spring 7c of each probe 7 is elastically deformed, so that each contact 7
The contact pressure of b with respect to the plate electrode EL1 is controlled so as not to become excessive. After that, the arithmetic control unit 5 operates the discharge circuit (not shown) to cause the plate electrodes EL1 and EL2 to operate.
After discharging the electric charge charged in the
2), the current supply unit 2 is operated at a constant current so that the plate electrode EL
The continuous supply of the constant DC current between the current supply point A of No. 1 and the current supply point B of the plate electrode EL2 is started (step 63). At the same time, the arithmetic control unit 5 starts measuring the elapsed time T from the start of the supply of the DC constant current, and at the same time, supplies the current supply point A and the current supply point B to the voltage measurement unit 3.
The measurement of the potential difference Vc between and is started.

【0023】その後、演算制御部5は、測定した電位差
Vcが予め設定された制限電圧Vrに達したか否かを検
出する処理(ステップ64)と、経過時間Tが予め設定
された所定時間Trに達したか否かを検出する処理(ス
テップ65)とを繰り返し実行する(予備検査)。この
場合、平板電極EL1,EL2間にショート箇所が存在
しないとき(良品のとき)には、図13に示す波形Gの
ように、経過時間Tが所定時間Trに達する以前に出力
電圧Vcが制限電圧Vrに達する。この際には、演算制
御部5は、電流供給部2を定電流動作から定電圧動作に
切り替えると共に、表示部6に例えば「ショート箇所な
し」と表示させて(ステップ66)、ステップ69に移
行する。一方、平板電極EL1,EL2間にショート箇
所が存在するとき(不具合品のとき)には、図13に示
す波形Fのように、出力電圧Vcが制限電圧Vrに達す
る以前に経過時間Tが所定時間Trに達する。これは、
ショート箇所が存在する場合、電流供給部2から供給さ
れる直流定電流の一部がショート箇所を流れるため、シ
ョート箇所が存在しない良品と比較して、平板電極EL
1,EL2間のキャパシタンス成分を充電する電流量が
減少する結果、電位差Vcが遅れて上昇するためであ
る。したがって、ショート箇所が存在する場合、つま
り、ステップ65において経過時間Tが所定時間Trに
達した(または経過した)場合、演算制御部5は、ステ
ップ65からステップ67に処理を移行する。次いで、
演算制御部5は、電圧測定部3に対して電流供給点Aと
予め決められた任意の一つの測定位置MPとの間の電位
差の測定を開始させると共に、この測定された電位差の
増加率Rvを算出する算出処理(ステップ67)と、算
出した増加率Rvが所定の基準範囲(Rv≦Rhi)内
か否かを判別する判別処理(ステップ68)とを、増加
率Rvが基準範囲(Rv≦Rhi)内に含まれるまで繰
り返す。この場合、上記した予め決められた一つの測定
位置MPとしては、電流供給点Aからある程度離れた測
定位置MPが好ましく、例えば、電流供給点Aに対して
対角の位置にあるMP(b,b)、または電流供給点A
とMP(b,b)との中間に位置(MP(6,6))等
が好ましい(図2参照)。また、上限増加率Rhiとし
て、例えば0.1%/秒に設定されている。これによ
り、演算制御部5は、電流供給部2によって直流定電流
が平板電極EL1,EL2間に供給され、かつ電流供給
点Aと予め決められた一つの測定位置MPとの間の電位
差が安定して増加するタイミング(平板電極EL1内に
流れる電流が安定して増加するタイミング)を検出す
る。
Thereafter, the arithmetic control unit 5 detects whether or not the measured potential difference Vc has reached a preset limit voltage Vr (step 64), and the elapsed time T is a preset time Tr. The process (step 65) of detecting whether or not has reached is repeatedly executed (preliminary inspection). In this case, when there is no short-circuited portion between the flat plate electrodes EL1 and EL2 (good product), the output voltage Vc is limited before the elapsed time T reaches the predetermined time Tr, as shown by the waveform G in FIG. The voltage Vr is reached. At this time, the arithmetic control unit 5 switches the current supply unit 2 from the constant current operation to the constant voltage operation, and also causes the display unit 6 to display, for example, "no short circuit" (step 66), and proceeds to step 69. To do. On the other hand, when there is a short-circuited portion between the plate electrodes EL1 and EL2 (in the case of a defective product), the elapsed time T is predetermined before the output voltage Vc reaches the limit voltage Vr, as shown by the waveform F shown in FIG. Reach time Tr. this is,
When there is a short-circuited portion, part of the DC constant current supplied from the current supply unit 2 flows through the short-circuited portion, so that the flat plate electrode EL is better than a non-defective product in which the short-circuited portion does not exist.
This is because the potential difference Vc increases with a delay as a result of the decrease in the amount of current that charges the capacitance component between EL1 and EL2. Therefore, when there is a short-circuited portion, that is, when the elapsed time T reaches (or has passed) the predetermined time Tr in step 65, the arithmetic control unit 5 shifts the processing from step 65 to step 67. Then
The arithmetic control unit 5 causes the voltage measuring unit 3 to start measuring the potential difference between the current supply point A and any one predetermined measurement position MP, and at the same time, increases the measured potential difference Rv. The calculation processing (step 67) for calculating the increase rate Rv and the determination processing (step 68) for determining whether or not the calculated increase rate Rv are within a predetermined reference range (Rv ≦ Rhi). Repeat until included within ≦ Rhi). In this case, as the above-mentioned one predetermined measurement position MP, a measurement position MP which is distant from the current supply point A to some extent is preferable. For example, MP (b, b), or current supply point A
A position (MP (6,6)) or the like is preferable in the middle between and (MP (b, b)) (see FIG. 2). The upper limit increase rate Rhi is set to 0.1% / second, for example. As a result, the arithmetic control unit 5 supplies a constant DC current between the flat plate electrodes EL1 and EL2 by the current supply unit 2 and stabilizes the potential difference between the current supply point A and one predetermined measurement position MP. Then, the timing (the timing at which the current flowing in the plate electrode EL1 stably increases) is detected.

【0024】次いで、ステップ68において増加率Rv
が基準範囲内に含まれる判別したときには、演算制御部
5は、図3に示すショート位置検出処理を実行する(ス
テップ30)。具体的には、演算制御部5は、電圧測定
部3をスキャニング動作させる。この場合、電圧測定部
3は、各プローブ7を順次スキャニングして基準点と各
測定位置MPとの間の電位差をこの基準点の電位を基準
として測定し、測定した各測定位置MPの電位差を電圧
データDvとして演算制御部5に出力する(ステップ3
1)。演算制御部5は、この電圧データDvを順次取り
込み、取り込んだ電圧データDvをその測定位置MPの
位置に関連付けて内部メモリに順次記憶する。一例とし
て、図4に示すように、測定位置MP(i,j)に対応
した行列形式で内部メモリに電圧データDvを記憶す
る。なお、図4の電圧データDvの各値はμVを単位と
する。
Next, at step 68, the rate of increase Rv
When it is determined that is included in the reference range, the arithmetic control unit 5 executes the short position detection process shown in FIG. 3 (step 30). Specifically, the arithmetic control unit 5 causes the voltage measuring unit 3 to perform a scanning operation. In this case, the voltage measuring unit 3 sequentially scans each probe 7 to measure the potential difference between the reference point and each measurement position MP with reference to the potential at this reference point, and measures the measured potential difference at each measurement position MP. The voltage data Dv is output to the arithmetic control unit 5 (step 3).
1). The arithmetic control unit 5 sequentially captures the voltage data Dv, and sequentially stores the captured voltage data Dv in the internal memory in association with the measurement position MP. As an example, as shown in FIG. 4, the voltage data Dv is stored in the internal memory in a matrix format corresponding to the measurement position MP (i, j). Each value of the voltage data Dv in FIG. 4 is in μV.

【0025】演算制御部5は、すべての測定位置MPに
対する電圧データDvの取り込みを完了した後に、すべ
ての電圧データDvのうちの最大値(絶対値が最大とな
る値)を検索し、図5に示すように、検索した最大値を
−100とする規格化を各電圧データDvに対して実施
して規格化データDsを求める。次いで、規格化データ
Dsも電圧データDvと同様にして、測定位置MP
(i,j)に対応した行列形式で内部メモリに記憶す
る。具体的には、図4の例では、測定位置MP(3,
9)の電位差(−207)が最大値のため、この値(−
207)を値(−100)とする規格化を各電圧データ
Dvに対して実施する。
After completing the acquisition of the voltage data Dv for all the measurement positions MP, the arithmetic and control unit 5 searches for the maximum value (the value having the maximum absolute value) of all the voltage data Dv, and FIG. As shown in, the standardized data Ds is obtained by performing standardization on the retrieved maximum value of −100 for each voltage data Dv. Then, the normalized data Ds is also measured in the same manner as the voltage data Dv, and the measurement position MP
The data is stored in the internal memory in the matrix format corresponding to (i, j). Specifically, in the example of FIG. 4, the measurement position MP (3,
Since the potential difference (-207) of 9) is the maximum value, this value (-207)
207) is used as a value (-100) for normalization for each voltage data Dv.

【0026】次に、演算制御部5は、所定の方向に沿っ
て隣接する測定位置MP,MP同士の規格化データDs
と相互間の距離Lとに基づき、隣接する測定位置MP,
MP同士間の電圧勾配Vsを算出する(ステップ3
2)。一例として、演算制御部5は、まず、図2におけ
る左右方向に沿って隣接する測定位置MP,MP同士間
の電圧勾配Vs1を算出する。具体的には、演算制御部
5は、測定位置MP(i,j+1)の規格化データDs
から左隣の測定位置MP(i,j)の規格化データDs
を減算し、この減算値を距離L(左右方向は0.4c
m)で除算して電圧勾配Vs1を求め、図6に示す行列
形式で内部メモリに記憶する。この場合、図6におい
て、i=1、j=(1−2)で特定される電圧勾配Vs
1は、測定位置MP(1,1)と測定位置MP(1,
2)との間の電圧勾配を表す。同様にして、演算制御部
5は、図2における上下方向に沿って隣接する測定位置
MP,MP同士間の電圧勾配Vs2を算出する。具体的
には、演算制御部5は、測定位置MP(i+1,j)の
規格化データDsから下隣の測定位置MP(i,j)の
規格化データDsを減算し、この減算値を距離L(上下
方向は0.3cm)で除算して電圧勾配Vs2を求め、
図7に示す行列形式で内部メモリに記憶する。この場
合、図7において、i=(1−2)、j=1で特定され
る電圧勾配Vs2は、測定位置MP(1,1)と測定位
置MP(2,1)との間の電圧勾配を表す。
Next, the arithmetic and control unit 5 standardizes data Ds between the adjacent measurement positions MP and MP along the predetermined direction.
And the distance L between them, the adjacent measurement positions MP,
The voltage gradient Vs between MPs is calculated (step 3
2). As an example, the calculation control unit 5 first calculates the voltage gradient Vs1 between the measurement positions MP and MP that are adjacent to each other along the left-right direction in FIG. Specifically, the arithmetic and control unit 5 uses the standardized data Ds of the measurement position MP (i, j + 1).
To the left of the measurement position MP (i, j) standardized data Ds
Is subtracted, and the subtracted value is the distance L (0.4c in the left-right direction).
m) to obtain the voltage gradient Vs1 and store it in the internal memory in the matrix form shown in FIG. In this case, in FIG. 6, the voltage gradient Vs specified by i = 1 and j = (1-2)
1 is the measurement position MP (1,1) and the measurement position MP (1,1)
2) represents the voltage gradient between and. Similarly, the arithmetic and control unit 5 calculates the voltage gradient Vs2 between the adjacent measurement positions MP and MP along the vertical direction in FIG. Specifically, the arithmetic and control unit 5 subtracts the standardized data Ds of the lower adjacent measurement position MP (i, j) from the standardized data Ds of the measurement position MP (i + 1, j), and the subtracted value is the distance. Divide by L (0.3 cm in the vertical direction) to obtain the voltage gradient Vs2,
The data is stored in the internal memory in the matrix format shown in FIG. In this case, in FIG. 7, the voltage gradient Vs2 specified by i = (1-2) and j = 1 is the voltage gradient between the measurement position MP (1,1) and the measurement position MP (2,1). Represents

【0027】次いで、演算制御部5は、図6,7に示す
各電圧勾配Vs1,Vs2に基づき、電圧極小点となる
測定位置MP(ショート位置)を検出する(ステップ3
3)。具体的には、演算制御部5は、図6における各行
に対して左方向から右方向に電圧勾配Vs1を順次検索
して、電圧勾配Vs1の極性が反転する測定位置MP
(電圧極小点となる測定位置MP)を検出する。この場
合、電流供給点Aに供給する直流電圧が正電圧のときに
は、マイナス極性からプラス極性に転じる測定位置MP
を検出し、直流電圧が負電圧のときには、プラス極性か
らマイナス極性に転じる測定位置MPを検出する。この
ため、この例では、マイナス極性からプラス極性に転じ
る測定位置MPを検出する。したがって、3行目(i=
3)におけるj=(8−9)での電圧勾配Vs1が値
(−21)で、次のj=(9−a)での電圧勾配Vs1
が値(12)となるため、演算制御部5は、電圧極小点
として測定位置MP(3,9)を検出し、この測定位置
MP(3,9)をショート位置の候補とする。また、6
行目(i=6)におけるj=(5−6)での電圧勾配V
s1が値(−35)で、次のj=(6−7)での電圧勾
配Vs1が値(17)となるため、演算制御部5は、電
圧極小点として測定位置MP(6,6)を検出し、この
測定位置MP(6,6)をショート位置の候補とする。
Next, the arithmetic control unit 5 detects the measurement position MP (short position) which is the minimum voltage point based on the voltage gradients Vs1 and Vs2 shown in FIGS. 6 and 7 (step 3).
3). Specifically, the arithmetic and control unit 5 sequentially searches the voltage gradient Vs1 from the left direction to the right direction for each row in FIG. 6, and the measurement position MP at which the polarity of the voltage gradient Vs1 is reversed.
(Measurement position MP which is the minimum voltage point) is detected. In this case, when the DC voltage supplied to the current supply point A is a positive voltage, the measurement position MP that changes from the negative polarity to the positive polarity
When the DC voltage is a negative voltage, the measurement position MP at which the positive polarity changes to the negative polarity is detected. Therefore, in this example, the measurement position MP at which the negative polarity changes to the positive polarity is detected. Therefore, the third line (i =
The voltage gradient Vs1 at j = (8-9) in 3) is the value (-21), and the voltage gradient Vs1 at the next j = (9-a).
Becomes a value (12), the arithmetic control unit 5 detects the measurement position MP (3, 9) as the voltage minimum point and sets this measurement position MP (3, 9) as a short-circuit position candidate. Also, 6
Voltage gradient V at j = (5-6) in row (i = 6)
Since s1 is the value (−35) and the voltage gradient Vs1 at the next j = (6−7) is the value (17), the calculation control unit 5 sets the measurement position MP (6,6) as the voltage minimum point. Is detected, and this measurement position MP (6, 6) is set as a candidate for the short position.

【0028】演算制御部5は、同様にして図7における
各列に対しても下方向から上方向に電圧勾配Vs2を順
次検索して、電圧勾配Vs2がマイナス極性からプラス
極性に転じる測定位置MP(電圧極小点となる測定位置
MP)を検出する。この場合、6列目(j=6)におけ
るi=(5−6)での電圧勾配Vs2が値(−32)
で、次のi=(6−7)での電圧勾配Vs2が値(2
7)となるため、演算制御部5は、電圧極小点として測
定位置MP(6,6)を検出し、この測定位置MP
(6,6)をショート位置の候補とする。また、9列目
(j=9)におけるi=(2−3)での電圧勾配Vs2
が値(−18)で、次のi=(3−4)での電圧勾配V
s2が値(18)となるため、測定位置MP(3,9)
をショート位置の候補とする。なお、電圧極小点を検出
する際には、2つの電圧勾配Vsの差分が所定値(例え
ば、規格化した基準値(100)に対して10%の値
(この例では値10))以上となることを条件として検
出することにより、電位差測定時のノイズに影響されに
くくなる結果、ショート位置を正確に検出することがで
きる。演算制御部5は、異なる2方向(互いに直交する
左右方向および上下方向)に沿った電圧極小点(ショー
ト位置)の検出結果を比較して、測定位置MP(6,
6)と測定位置MP(3,9)とが共にショート位置と
して検出されているため、この2つの測定位置MPを最
終的なショート位置として特定する。次いで、演算制御
部5は、特定(検出)した電圧極小点となる測定位置M
Pに関する情報(位置や数の情報)を表示部6に表示さ
せ(ステップ34)、ショート位置の検出処理を終了す
る。なお、測定位置の分解能の関係上、電圧極小点とな
る測定位置MPそのものがショート位置となるとは限ら
ないが、少なくとも電圧極小点となる測定位置MPがす
べての測定位置MPの中で実際のショート位置に最も近
接している。したがって、所定の測定位置MPをショー
ト位置と特定することにより、実質的に、この測定位置
MPの極く近傍に存在する実際のショート位置が特定さ
れる。
Similarly, the arithmetic control unit 5 sequentially searches the voltage gradient Vs2 from the lower direction to the upper direction for each column in FIG. 7, and the measurement position MP at which the voltage gradient Vs2 changes from the negative polarity to the positive polarity. (Measurement position MP which is the minimum voltage point) is detected. In this case, the voltage gradient Vs2 at i = (5-6) in the sixth column (j = 6) has a value (-32).
Then, the voltage gradient Vs2 at the next i = (6−7) is the value (2
7), the arithmetic control unit 5 detects the measurement position MP (6, 6) as the minimum voltage point, and the measurement position MP (6, 6) is detected.
(6, 6) is a candidate for the short position. Further, the voltage gradient Vs2 at i = (2-3) in the ninth column (j = 9)
Is the value (-18), and the voltage gradient V at the next i = (3-4)
Since s2 becomes the value (18), the measurement position MP (3,9)
Is a candidate for the short position. When detecting the minimum voltage point, the difference between the two voltage gradients Vs is equal to or more than a predetermined value (for example, 10% of the standardized reference value (100) (value 10 in this example)). By detecting the above condition as a condition, it becomes difficult to be affected by noise at the time of measuring the potential difference, and as a result, the short-circuited position can be accurately detected. The arithmetic control unit 5 compares the detection results of the voltage minimum points (short positions) along two different directions (a left-right direction and a vertical direction which are orthogonal to each other) and compares the measurement positions MP (6, 6).
Since 6) and the measurement position MP (3, 9) are both detected as short positions, these two measurement positions MP are specified as final short positions. Next, the arithmetic control unit 5 determines the measurement position M as the specified (detected) minimum voltage point.
Information (position and number information) about P is displayed on the display unit 6 (step 34), and the short position detection process is terminated. Note that, due to the resolution of the measurement position, the measurement position MP itself, which is the minimum voltage point, is not always the short position, but at least the measurement position MP, which is the minimum voltage point, is an actual short circuit among all the measurement positions MP. Closest to the position. Therefore, by specifying the predetermined measurement position MP as the short-circuit position, the actual short-circuit position existing in the immediate vicinity of the measurement position MP is substantially specified.

【0029】ステップ30におけるショート位置検出処
理を終了した際、またはステップ66の表示処理を終了
した際には、演算制御部5は、図外の放電回路を作動さ
せることにより、平板電極EL1,EL2に充電された
電荷を放電させる(ステップ69)。最後に、演算制御
部5は、駆動機構4を制御することにより、各プローブ
7を平板電極EL1から離間させる(ステップ70)。
これにより、ショート検査が完了する。
When the short position detecting process in step 30 is completed or the display process in step 66 is completed, the arithmetic control unit 5 operates the discharge circuit (not shown) to cause the plate electrodes EL1 and EL2 to operate. The electric charge charged in is discharged (step 69). Finally, the arithmetic control unit 5 controls the drive mechanism 4 to separate each probe 7 from the plate electrode EL1 (step 70).
This completes the short circuit inspection.

【0030】このように、このショート検出装置1によ
れば、演算制御部5が、電流供給部2による直流定電流
の供給開始時点から所定時間Tr内に電位差Vcが予め
設定した制限電圧Vrに達したか否かを検出することで
平板電極EL1,EL2間のショート箇所の存否を判別
する予備検査をショート位置検出処理に先立って実行
し、ショート箇所が存在するものに対してのみ処理に時
間を要するショート位置検出処理を実行することによ
り、ショート箇所の存在しないものに対するショート位
置検出処理を省くことができる結果、ショート検出処理
全体に要する時間を十分に短縮することができる。さら
に、上記の予備検査においてショート箇所が存在すると
判別したときに電流供給点Aと予め決められた任意の一
つの測定位置MPとの間の電位差の増加率Rvを算出
し、かつ増加率Rvが基準範囲(Rv≦Rhi)内と判
別したときに演算制御部5がショート位置検出処理を行
うことにより、電流供給部2によって供給される直流定
電流が定常状態に維持されている(平板電極EL1内に
流れる電流が安定して増加する)タイミングでショート
位置検出処理を行うことができる。したがって、ショー
ト位置を安定して検出することができる。
As described above, according to the short-circuit detecting device 1, the arithmetic control unit 5 sets the potential difference Vc to the preset limit voltage Vr within the predetermined time Tr from the start of the supply of the DC constant current by the current supply unit 2. A preliminary inspection for determining whether or not there is a short-circuited portion between the flat plate electrodes EL1 and EL2 by detecting whether or not it has been reached is executed prior to the short-circuiting position detection processing, and the processing is performed only for those where the short-circuited portion exists. By executing the short position detection process that requires the short position detection process for a short-circuited portion that does not exist, the time required for the entire short detection process can be sufficiently shortened. Further, when it is determined in the above preliminary inspection that there is a short-circuited portion, the increase rate Rv of the potential difference between the current supply point A and any one predetermined measurement position MP is calculated, and the increase rate Rv is calculated. When it is determined that the current value is within the reference range (Rv ≦ Rhi), the arithmetic control unit 5 performs the short position detection process, so that the DC constant current supplied by the current supply unit 2 is maintained in a steady state (flat plate electrode EL1). The short-circuit position detection process can be performed at the timing when the current flowing therein stably increases. Therefore, the short-circuited position can be detected stably.

【0031】また、このショート検出装置1によれば、
複数の測定位置MPと基準点との各電位差から算出した
隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vsに基
づいて電圧極小点となる測定位置MPを求め、この求め
た測定位置MPをショート位置として特定することによ
り、平板電極EL1,EL2間に複数のショート箇所が
存在するときであっても、その複数のショート位置を確
実かつ同時に検出することができる。また、互いに異な
る2方向に沿った電圧勾配Vs1,Vs2に基づき、両
方向において電圧極小点となる測定位置MPを最終的な
ショート位置として特定することにより、ショート位置
の検出精度を高めることができる。また、複数のプロー
ブ7を対応する各測定位置MPに同時にそれぞれ接触さ
せる構成を採用したことにより、1本のプローブ7を測
定位置MPに順次移動させる構成と比較して、すべての
測定位置MPにおける電位差の測定に要する時間を大幅
に短縮することができる。
Further, according to the short-circuit detecting device 1,
Based on the voltage gradient Vs between the adjacent measurement positions MP, MP calculated from the respective potential differences between the plurality of measurement positions MP and the reference point, the measurement position MP that is the voltage minimum point is obtained, and the obtained measurement position MP is short-circuited. By specifying the positions, even when there are a plurality of short-circuited positions between the flat plate electrodes EL1 and EL2, the plurality of short-circuited positions can be detected reliably and simultaneously. Further, the detection accuracy of the short-circuited position can be enhanced by specifying the measurement position MP, which is the voltage minimum point in both directions, as the final short-circuited position based on the voltage gradients Vs1 and Vs2 along the two different directions. In addition, by adopting a configuration in which a plurality of probes 7 are brought into contact with respective corresponding measurement positions MP at the same time, as compared with a configuration in which one probe 7 is sequentially moved to the measurement positions MP, at all measurement positions MP. The time required to measure the potential difference can be significantly reduced.

【0032】また、図8に示すように、平板電極EL
1,EL2間に存在する複数(一例として3個、MP
(3,3)、MP(6,6)、MP(a,a))のショ
ート箇所が、電流供給点Aを通過する同一仮想直線上
(または同一仮想直線の近傍)に存在することもある。
このような配置で複数のショート箇所が存在するときに
は、前述した検出処理では、確実にショート位置を検出
できないおそれもある。つまり、上記の検出処理と同様
にしてショート位置を検出する場合、まず、図9に示す
ように各測定位置MPの電圧データDvを取得した後
に、図10に示すように各測定位置MPの規格化データ
Dsを算出し、さらに図11および図12に示すように
隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs1,
Vs2を算出し、算出した電圧勾配Vs1,Vs2に基
づいて電圧極小点となる測定位置MPを検出する。この
際に、電流供給点Aから離れるに従って各測定位置M
P,MP相互間の電位差の差分が小さくなり、特に電流
供給点Aから最も離れたMP(a,a)近傍ではこの差
分が非常に小さくなる。この結果、MP(a,a)を電
圧極小点として検出することが困難となり、ショート位
置検出の確実化が困難となる。
Further, as shown in FIG.
1, a plurality existing between EL2 (3 as an example, MP,
A short circuit location of (3,3), MP (6,6), MP (a, a) may exist on the same virtual straight line (or in the vicinity of the same virtual straight line) passing through the current supply point A. .
When there are a plurality of short-circuited locations in such an arrangement, the detection processing described above may not be able to reliably detect the short-circuited location. That is, when the short-circuit position is detected in the same manner as in the above detection process, first, the voltage data Dv of each measurement position MP is obtained as shown in FIG. 9, and then the standard of each measurement position MP is obtained as shown in FIG. The converted data Ds is calculated, and further, as shown in FIG. 11 and FIG.
Vs2 is calculated, and the measurement position MP serving as the voltage minimum point is detected based on the calculated voltage gradients Vs1 and Vs2. At this time, each measurement position M increases with increasing distance from the current supply point A.
The difference in the potential difference between P and MP becomes small, and particularly in the vicinity of MP (a, a) farthest from the current supply point A, this difference becomes very small. As a result, it becomes difficult to detect MP (a, a) as the minimum voltage point, and it becomes difficult to reliably detect the short-circuit position.

【0033】このような場合、平板電極EL1に対する
電流供給点Aの位置を変更して(例えば2回目は、図8
における点Cを電流供給点とする)、前述したステップ
31〜ステップ35を繰り返すことにより電圧勾配Vs
1,Vs2を再度算出し、先に算出した電圧勾配Vs
1,Vs2と合わせて2種類の電圧勾配Vs1,Vs2
に基づいてショート位置を検出する。このように、平板
電極EL1に対する電流供給点の位置を変更して電圧勾
配Vs1,Vs2を再度算出することにより、一回目の
測定の際には電流供給点Aから遠く離れていて確実に検
出するのが困難なショート箇所が存在する場合であって
も、二回目の測定の際には電流供給点(この例では点
C)からの距離が短くなる結果、このショート位置を確
実に検出することができる。したがって、電流供給点A
の位置を変更してショート検出処理を少なくとも2回行
うことにより、平板電極EL1,EL2間に様々な配置
で存在する複数のショート箇所の位置を一層精度良く検
出することができる。
In such a case, the position of the current supply point A with respect to the plate electrode EL1 is changed (for example, the second time is shown in FIG.
The point C in FIG. 2 is set as a current supply point), and the voltage gradient Vs is obtained by repeating Step 31 to Step 35 described above.
1, Vs2 is calculated again, and the previously calculated voltage gradient Vs is calculated.
1, Vs2 and two types of voltage gradients Vs1 and Vs2
The short position is detected based on. In this way, by changing the position of the current supply point with respect to the plate electrode EL1 and recalculating the voltage gradients Vs1 and Vs2, it is possible to reliably detect the voltage gradients that are far from the current supply point A during the first measurement. Even if there is a short-circuit point that is difficult to determine, the distance from the current supply point (point C in this example) becomes short during the second measurement, so that this short-circuit position can be detected reliably. You can Therefore, the current supply point A
By changing the position and performing the short circuit detection process at least twice, it is possible to detect the positions of a plurality of short circuits existing in various arrangements between the flat plate electrodes EL1 and EL2 with higher accuracy.

【0034】なお、本発明は、上記の実施の形態に示し
た構成に限定されず、適宜変更することが可能である。
例えば、ショート検出装置1では、複数の測定位置MP
に対応してプローブ7を複数配置した構成を採用した
が、1本のプローブ7を順次各測定位置MPに接触させ
て各測定位置MPにおける電位差を測定する構成を採用
することもできる。この場合には、ショート位置を特定
するまでの時間が長くなるものの、ショート検出装置1
の構成を簡略化することができ、装置コストを低減する
ことができる。また、ショート検出装置1では、左右、
上下の2方向に沿った電圧勾配Vs1,Vs2に基づい
て電圧極小点を検出して、ショート位置を特定している
が、斜め方向に沿った電圧勾配に基づいて電圧極小点を
検出して、ショート位置を特定する方法を採用すること
もできる。また、左右、上下の2方向の電圧勾配Vs
1,Vs2に加えて斜め方向の電圧勾配に基づいてショ
ート位置を検出する構成を採用することもできる。この
構成によれば、ショート位置の検出精度をより一層高め
ることができる。
The present invention is not limited to the configurations shown in the above embodiments, and can be modified as appropriate.
For example, in the short detection device 1, a plurality of measurement positions MP
Although a configuration in which a plurality of probes 7 are arranged corresponding to the above is adopted, it is also possible to adopt a configuration in which one probe 7 is sequentially brought into contact with each measurement position MP to measure the potential difference at each measurement position MP. In this case, although it takes a long time to identify the short-circuit position, the short-circuit detection device 1
The configuration can be simplified, and the device cost can be reduced. Further, in the short-circuit detection device 1, right and left,
Although the voltage minimum point is detected based on the voltage gradients Vs1 and Vs2 along the two upper and lower directions to identify the short-circuit position, the voltage minimum point is detected based on the voltage gradient along the diagonal direction. A method of identifying the short-circuit position can also be adopted. In addition, the voltage gradient Vs in the two directions of left and right and up and down
It is also possible to employ a configuration in which the short-circuit position is detected based on the voltage gradient in the diagonal direction in addition to 1, Vs2. With this configuration, the accuracy of detecting the short-circuited position can be further improved.

【0035】また、ショート検出装置1では、異なる2
方向に沿った電圧勾配Vs1,Vs2に基づいてショー
ト位置を検出する構成を採用して検出精度を高めている
が、検出精度よりも検出速度を優先する場合、一方向に
沿った電圧勾配Vsにのみ基づいてショート位置を検出
することもできる。また、ショート検出装置1では、電
圧測定部3によって測定された電圧データDvを規格化
した規格化データDsに基づいて電圧勾配Vs1,Vs
2を算出する構成を採用したが、この規格化処理を省い
て、電圧データDvから電圧勾配Vs1,Vs2を直接
的に算出する構成を採用することもできる。この場合、
本発明における「電圧勾配の極性が反転し、かつ当該差
分が所定値以上となる」のうちの「所定値」として、例
えば、電圧勾配の最大値(絶対値)に対して10%程度
の値を規定する。
Further, in the short-circuit detecting device 1, different 2
Although the detection accuracy is improved by adopting a configuration that detects the short-circuit position based on the voltage gradients Vs1 and Vs2 along the direction, when the detection speed is prioritized over the detection accuracy, the voltage gradient Vs along the one direction is set. It is also possible to detect the short-circuited position based only on. In the short detection device 1, the voltage gradients Vs1 and Vs are based on the standardized data Ds obtained by standardizing the voltage data Dv measured by the voltage measuring unit 3.
Although the configuration for calculating 2 is adopted, a configuration for directly calculating the voltage gradients Vs1 and Vs2 from the voltage data Dv by omitting the standardization process may be adopted. in this case,
As the “predetermined value” of “the polarity of the voltage gradient is reversed and the difference becomes a predetermined value or more” in the present invention, for example, a value of about 10% with respect to the maximum value (absolute value) of the voltage gradient. Stipulate.

【0036】また、ショート検出装置1では、プローブ
7を接触させる複数の測定位置MP,MP・・を図2に
示すようにマトリックス状のパターンで平板電極EL1
上に複数規定しているが、正三角形、正方形、平行四辺
形および正六角形などの多角形を隣接して配置し、各多
角形の頂点に各測定位置MPを対応させることで、規則
性を有するパターン上に各測定位置MPを配置すること
もできる。また、ショート検出装置1では、電圧測定部
3による電圧データDvの測定時における基準点を平板
電極EL1における電流供給点Aに設定する構成を採用
したが、この基準点を電流供給点Aとは異なる任意の点
に設定することもできる。また、燃料電池における平板
電極間のショート位置の検出を例に挙げて説明したが、
本発明は他の分野における一対の平板電極間のショート
位置検出にも有効に適用することができる。また、上記
したショート検出処理のステップ61において、電流供
給部2を作動させた状態で、各プローブ7を平板電極E
L1に接触させる構成を採用することもできるが、この
構成では、平板電極EL1,EL2間に電荷が蓄えられ
た状態において各プローブ7から平板電極EL1,EL
2間に圧力が加わって局所的に平板電極EL1,EL2
間の距離が狭まることがある。したがって、局所的に電
位が上昇するおそれがある。また、プローブ7を平板電
極EL1から離間させるときも同様である。したがっ
て、上記の本実施の形態のように、平板電極EL1,E
L2間に電荷が蓄えられていない状態においてプローブ
7の接触および離間を行うのが好ましい。
Further, in the short-circuit detection device 1, a plurality of measurement positions MP, MP, ... At which the probe 7 is brought into contact with the flat plate electrode EL1 are arranged in a matrix pattern as shown in FIG.
Although a plurality of polygons such as regular triangles, squares, parallelograms and regular hexagons are arranged adjacent to each other and each measurement position MP is associated with the apex of each polygon, regularity is defined. Each measurement position MP can also be arranged on the pattern. Further, the short-circuit detection device 1 adopts a configuration in which the reference point when the voltage measurement unit 3 measures the voltage data Dv is set to the current supply point A in the flat plate electrode EL1, but this reference point is referred to as the current supply point A. It can also be set at different arbitrary points. Further, the detection of the short position between the flat plate electrodes in the fuel cell has been described as an example,
The present invention can be effectively applied to detection of a short position between a pair of flat plate electrodes in other fields. Further, in step 61 of the above-mentioned short circuit detection processing, each probe 7 is connected to the plate electrode E while the current supply unit 2 is activated.
Although it is possible to adopt a configuration in which L1 is brought into contact with this configuration, in this configuration, each probe 7 is connected to the plate electrodes EL1, EL in a state where electric charges are stored between the plate electrodes EL1, EL2.
Pressure is applied between the two to locally plate electrodes EL1, EL2
The distance between them may decrease. Therefore, the potential may locally increase. The same applies when the probe 7 is separated from the plate electrode EL1. Therefore, as in this embodiment, the plate electrodes EL1, E
It is preferable to contact and separate the probe 7 in a state where no charge is stored between L2.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように、本発明に係るショート検
出装置によれば、検出部が各測定位置と所定の方向に沿
って隣接する他の測定位置との間の各電圧勾配を算出す
ると共に算出した各電圧勾配に基づいて電圧極小点とな
る測定位置を検出することにより、電圧極小点となる測
定位置をショート位置と判別することができるため、一
対の平板電極間に複数のショート箇所が存在したとして
も、これらの各ショート位置を確実かつ同時に検出する
ことができる。
As described above, according to the short-circuit detection device of the present invention, the detection unit calculates each voltage gradient between each measurement position and another measurement position adjacent along the predetermined direction. By detecting the measurement position that becomes the voltage minimum point based on each voltage gradient calculated with, it is possible to distinguish the measurement position that becomes the voltage minimum point from the short position, so there are multiple short points between a pair of flat plate electrodes. Even if there is, it is possible to detect each of these short-circuit positions reliably and simultaneously.

【0038】また、本発明に係るショート検出装置によ
れば、算出した電圧勾配の極性が反転して、かつ差分が
所定値以上となる測定位置を電圧極小点として検出する
ことにより、電位差測定時のノイズに影響されにくくな
る結果、ショート位置を正確に検出することができる。
Further, according to the short-circuit detection device of the present invention, the potential at the time of measuring the potential difference is detected by detecting the measurement position at which the polarity of the calculated voltage gradient is reversed and the difference becomes the predetermined value or more as the voltage minimum point. As a result, the short-circuit position can be accurately detected as a result of being less susceptible to the noise of.

【0039】また、本発明に係るショート検出装置によ
れば、電圧測定部が複数の電圧検出端子を介してそれぞ
れ入力された電圧に基づいて各電位差を測定することに
より、すべての測定位置の電位差測定に要する時間を大
幅に短縮することができる結果、複数のショート箇所を
短時間で検出することができる。
Further, according to the short-circuit detecting device of the present invention, the voltage measuring section measures each potential difference based on the voltages respectively inputted through the plurality of voltage detecting terminals, so that the potential difference at all the measuring positions is measured. As a result of being able to greatly reduce the time required for measurement, it is possible to detect a plurality of short-circuited points in a short time.

【0040】また、本発明に係るショート検出装置によ
れば、一方の平板電極および他方の平板電極のうちの少
なくとも一方における電流を供給する部位を変更可能に
構成したことにより、複数のショート箇所が一直線状に
並んだとしても、これらのショート位置を精度よく検出
することができる。
Further, according to the short-circuit detecting device of the present invention, since at least one of the plate electrode on one side and the plate electrode on the other side is configured to be able to change the portion for supplying the current, a plurality of short-circuit points can be formed. Even if they are arranged in a straight line, these short-circuited positions can be accurately detected.

【0041】また、本発明に係るショート検出装置によ
れば、一方の平板電極における所定の部位と他方の平板
電極における所定の部位との間の電極間電位差を電圧測
定部が測定し、電圧極小点となる測定位置の検出に先立
ち、電流供給部による電流の供給開始から所定時間内に
電極間電位差が予め設定された制限電圧に達するか否か
を検出し、かつ達したときには一対の平板電極間にショ
ート箇所が存在しないと判別すると共に達しないときに
は一対の平板電極間にショート箇所が存在すると判別す
る予備検査を検出部が実行することにより、ショート箇
所の存在しないものに対するショート位置検出処理を省
くことができる結果、ショート検出処理全体に要する時
間を十分に短縮することができる。
Further, according to the short-circuit detecting device of the present invention, the voltage measuring unit measures the inter-electrode potential difference between the predetermined portion of one plate electrode and the predetermined portion of the other plate electrode, and the voltage minimum Prior to the detection of the measurement position as the point, it is detected whether or not the potential difference between the electrodes reaches a preset limiting voltage within a predetermined time from the start of the current supply by the current supply unit, and when it reaches, a pair of flat plate electrodes The detection unit performs a preliminary inspection that determines that there is no short-circuited area between them and that it does not reach when there is no short-circuited area. As a result, the time required for the entire short-circuit detection process can be shortened sufficiently.

【0042】また、本発明に係るショート検出装置によ
れば、検出部が、予備検査においてショート箇所が存在
すると判別したときに、複数の測定位置の内の任意の一
つと基準点との間の電位差の増加率を算出すると共に増
加率を予め設定された基準範囲と比較し、増加率が基準
範囲内であると判別したときに、電圧極小点となる測定
位置の検出を行うことにより、一方の平板電極内に流れ
る電流が安定して増加するという電流の定常供給状態に
おいてショート位置検出処理を行うことができる結果、
ショート位置を安定して検出することができる。
Further, according to the short-circuit detection device of the present invention, when the detection unit determines that the short-circuited portion exists in the preliminary inspection, the short-circuited detection device detects the short-circuited portion between any one of the plurality of measurement positions and the reference point. By calculating the rate of increase of the potential difference and comparing the rate of increase with a preset reference range, and when determining that the rate of increase is within the reference range, by detecting the measurement position that is the voltage minimum point, As a result of being able to perform the short position detection process in the steady supply state of the current that the current flowing in the flat plate electrode of steadily increases,
The short-circuited position can be detected stably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るショート検出装置1
の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a short circuit detection device 1 according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram showing the configuration of FIG.

【図2】複数のプローブ7が取り付けられた状態の支持
板8の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a support plate 8 with a plurality of probes 7 attached.

【図3】ショート検出装置1におけるショート位置検出
処理を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a short position detection process in the short detection device 1.

【図4】図2に示す配置でショート箇所が存在する状態
において、ショート検出装置1によって測定された各測
定位置MPにおける電圧データDvを示すデータ図であ
る。
4 is a data diagram showing voltage data Dv at each measurement position MP measured by the short-circuit detection device 1 in a state where a short-circuit portion exists in the arrangement shown in FIG.

【図5】演算制御部5によって算出した各測定位置MP
における規格化データDsを示すデータ図である。
FIG. 5: Each measurement position MP calculated by the arithmetic control unit 5
6 is a data diagram showing standardized data Ds in FIG.

【図6】図2における左右方向に沿って隣接する測定位
置MP,MP同士間の電圧勾配Vs1を図5に示す規格
化データDsに基づいて算出したデータ図である。
6 is a data diagram in which a voltage gradient Vs1 between adjacent measurement positions MP and MP in the left-right direction in FIG. 2 is calculated based on the standardized data Ds shown in FIG.

【図7】図2における上下方向に沿って隣接する測定位
置MP,MP同士間の電圧勾配Vs2を図5に示す規格
化データDsに基づいて算出したデータ図である。
7 is a data diagram in which a voltage gradient Vs2 between adjacent measurement positions MP and MP in the vertical direction in FIG. 2 is calculated based on the normalized data Ds shown in FIG.

【図8】図2に示す配置とは異なる配置で平板電極EL
1,EL2間に存在するショート箇所の位置を示す平板
電極EL1,EL2の平面図である。
FIG. 8 shows a flat plate electrode EL in an arrangement different from that shown in FIG.
3 is a plan view of the flat plate electrodes EL1 and EL2 showing the positions of short-circuited portions existing between 1 and EL2. FIG.

【図9】図8に示す配置でショート箇所が存在する状態
において、ショート検出装置1によって測定された各測
定位置MPにおける電圧データDvを示すデータ図であ
る。
9 is a data diagram showing voltage data Dv at each measurement position MP measured by the short circuit detection device 1 in a state where a short circuit portion exists in the arrangement shown in FIG.

【図10】演算制御部5によって算出した各測定位置M
Pでの規格化データDsを示すデータ図である。
FIG. 10: Each measurement position M calculated by the arithmetic and control unit 5.
It is a data figure which shows the standardization data Ds in P.

【図11】図8における左右方向に沿って隣接する測定
位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs1を図10に示す
規格化データDsに基づいて算出したデータ図である。
11 is a data diagram in which a voltage gradient Vs1 between adjacent measurement positions MP and MP in the left-right direction in FIG. 8 is calculated based on the standardized data Ds shown in FIG.

【図12】図8における上下方向に沿って隣接する測定
位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs2を図10に示す
規格化データDsに基づいて算出したデータ図である。
12 is a data diagram in which a voltage gradient Vs2 between adjacent measurement positions MP and MP in the vertical direction in FIG. 8 is calculated based on the standardized data Ds shown in FIG.

【図13】ショート箇所が存在しないときの平板電極E
L1,EL2間の電位差Vcの波形G、およびショート
箇所が存在するときの平板電極EL1,EL2間の電位
差Vcの波形Fを示す説明図である。
FIG. 13: Plate electrode E when there is no short-circuited portion
It is explanatory drawing which shows the waveform G of the electric potential difference Vc between L1 and EL2, and the waveform F of the electric potential difference Vc between flat plate electrodes EL1 and EL2 when a short circuit part exists.

【図14】プローブ7およびダミープローブ9による一
対の平板電極EL1,EL2の保持構造を説明するため
の断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view for explaining a holding structure of a pair of flat plate electrodes EL1, EL2 by a probe 7 and a dummy probe 9.

【図15】ショート検出装置1におけるショート検出処
理を示すフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart showing a short circuit detection process in the short circuit detection device 1.

【図16】従来のショート位置検出装置51の構成を説
明するためのブロック図である。
FIG. 16 is a block diagram for explaining the configuration of a conventional short position detection device 51.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ショート検出装置 2 電流供給部 3 電圧測定部 4 駆動機構 5 演算制御部 6 表示部 7 プローブ Ds 規格化データ Dv,Dvc 電圧データ EL1,EL2 平板電極 Vc 電位差 1 Short detection device 2 Current supply section 3 Voltage measurement section 4 drive mechanism 5 Operation control section 6 Display 7 probe Ds standardized data Dv, Dvc voltage data EL1, EL2 flat plate electrode Vc potential difference

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 史郎 愛知県豊田市トヨタ町1番地 トヨタ自動 車株式会社内 Fターム(参考) 2G014 AA03 AB59 AB61 AC18 5H027 AA00 KK54    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Shiro Akiyama             1 Toyota Town, Toyota City, Aichi Prefecture Toyota Auto             Car Co., Ltd. F term (reference) 2G014 AA03 AB59 AB61 AC18                 5H027 AA00 KK54

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 対向して配置された一対の平板電極間に
おけるショート箇所の位置を検出するショート検出装置
であって、 前記一対の平板電極のうちの一方の平板電極における所
定の部位と他方の平板電極における所定の部位との間に
電流を供給する電流供給部と、 所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定された複
数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定された一つ
の基準点との間の各電位差をそれぞれ測定する電圧測定
部と、 前記各測定位置と所定の方向に沿って隣接する他の測定
位置との間の各電圧勾配を前記測定された各電位差に基
づいて算出すると共に当該算出した各電圧勾配に基づい
て電圧極小点となる前記測定位置を検出する検出部とを
備えているショート検出装置。
1. A short-circuit detection device for detecting the position of a short-circuited portion between a pair of flat plate electrodes arranged to face each other, wherein a predetermined portion of one flat plate electrode and a predetermined portion of the other flat plate electrode A current supply unit that supplies a current between a predetermined portion of the plate electrode, a plurality of measurement positions defined on the one plate electrode in a predetermined pattern, and one measurement position defined on the one plate electrode. A voltage measuring unit that measures each potential difference between the reference point and each, based on the measured potential difference each voltage gradient between the measurement position and another measurement position adjacent along a predetermined direction. The short-circuit detection device, which includes: a detection unit that calculates the above-described voltage gradient and detects the measurement position that is the voltage minimum point based on each calculated voltage gradient.
【請求項2】 前記検出部は、前記各測定位置の前記電
位差と前記所定の方向に沿って当該各測定位置に隣接す
る他の測定位置の電位差との間の各差分を対応する相互
間距離で除算することによって当該各測定位置と当該他
の測定位置との間の前記各電圧勾配を算出し、当該電圧
勾配の極性が反転し、かつ当該差分が所定値以上となる
前記測定位置を前記電圧極小点として検出する請求項1
記載のショート検出装置。
2. The mutual distance corresponding to each difference between the potential difference at each measurement position and the potential difference at another measurement position adjacent to each measurement position along the predetermined direction. By calculating each voltage gradient between each measurement position and the other measurement position by dividing by, the polarity of the voltage gradient is reversed, and the measurement position where the difference is a predetermined value or more The detection is performed as a minimum voltage point.
Short circuit detection device described.
【請求項3】 前記複数の測定位置に対応して配置され
ると共に前記一方の平板電極に接触可能な複数の電圧検
出端子を備え、前記電圧測定部は、前記複数の電圧検出
端子を介してそれぞれ入力された電圧に基づいて前記各
電位差を測定する請求項1または2記載のショート検出
装置。
3. A plurality of voltage detection terminals arranged corresponding to the plurality of measurement positions and capable of contacting the one plate electrode are provided, and the voltage measurement unit is provided with the plurality of voltage detection terminals via the plurality of voltage detection terminals. The short-circuit detection device according to claim 1 or 2, wherein each of the potential differences is measured based on the input voltage.
【請求項4】 前記一方の平板電極および前記他方の平
板電極のうちの少なくとも一方における前記電流を供給
する前記所定の部位を他の部位に変更可能に構成されて
いる請求項1から3のいずれかに記載のショート検出装
置。
4. The method according to claim 1, wherein the predetermined portion for supplying the current in at least one of the one plate electrode and the other plate electrode can be changed to another part. The short-circuit detection device described in Crab.
【請求項5】 前記電圧測定部は、前記一方の平板電極
における所定の部位と前記他方の平板電極における所定
の部位との間の電極間電位差を測定し、前記検出部は、
前記電圧極小点となる測定位置の検出に先立ち、前記電
流供給部による前記電流の供給開始から所定時間内に前
記電極間電位差が予め設定された制限電圧に達するか否
かを検出し、かつ達したときには前記一対の平板電極間
に前記ショート箇所が存在しないと判別すると共に達し
ないときには前記一対の平板電極間に前記ショート箇所
が存在すると判別する予備検査を実行する請求項1から
4のいずれかに記載のショート検出装置。
5. The voltage measuring unit measures an inter-electrode potential difference between a predetermined portion of the one plate electrode and a predetermined portion of the other plate electrode, and the detection unit is
Prior to the detection of the measurement position serving as the voltage minimum point, it is detected whether or not the inter-electrode potential difference reaches a preset limit voltage within a predetermined time from the start of supply of the current by the current supply unit, and 5. A pre-inspection is performed to determine that the short-circuited portion does not exist between the pair of flat plate electrodes, and to determine that the short-circuited portion exists between the pair of flat plate electrodes when the pair of flat plate electrodes does not reach. The short-circuit detection device described in.
【請求項6】 前記検出部は、前記予備検査において前
記ショート箇所が存在すると判別したときに、前記複数
の測定位置の内の任意の一つと前記基準点との間の電位
差の増加率を算出すると共に当該増加率を予め設定され
た基準範囲と比較し、当該増加率が当該基準範囲内であ
ると判別したときに、前記電圧極小点となる測定位置の
検出を行う請求項5記載のショート検出装置。
6. The detection unit calculates an increase rate of a potential difference between any one of the plurality of measurement positions and the reference point when it is determined that the short-circuited portion exists in the preliminary inspection. At the same time, the increase rate is compared with a preset reference range, and when it is determined that the increase rate is within the reference range, the measurement position serving as the voltage minimum point is detected. Detection device.
JP2002300551A 2001-11-16 2002-10-15 Short-circuit detector Pending JP2003215190A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002300551A JP2003215190A (en) 2001-11-16 2002-10-15 Short-circuit detector

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001-351098 2001-11-16
JP2001351098 2001-11-16
JP2002300551A JP2003215190A (en) 2001-11-16 2002-10-15 Short-circuit detector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003215190A true JP2003215190A (en) 2003-07-30

Family

ID=27667275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002300551A Pending JP2003215190A (en) 2001-11-16 2002-10-15 Short-circuit detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003215190A (en)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005302498A (en) * 2004-04-09 2005-10-27 Espec Corp Apparatus and method for measuring fuel cell current distribution
JP2006250547A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
JP2006250548A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
JP2006250546A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
EP1713140A1 (en) * 2005-04-12 2006-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Process for the detection of a reactant undersupply in one fuel cell of a fuel cell stack and a fuel cell system with such a fuel cell stack
JP2006337073A (en) * 2005-05-31 2006-12-14 Advantest Corp Testing apparatus and device manufacturing method
JP2007027022A (en) * 2005-07-21 2007-02-01 Espec Corp Device for measuring electromotive force distribution in fuel cell, and method for measuring electromotive force distribution in fuel cell
JP2007265674A (en) * 2006-03-27 2007-10-11 Espec Corp Fuel cell local generating performance measuring device and fuel cell local generating performance measuring method
JP2007280643A (en) * 2006-04-03 2007-10-25 Denso Corp Current measuring device
JP2007311204A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Fuel cell current distribution measurement device, stacked fuel cell current distribution measurement device, and fuel cell current distribution measurement method
JP2007311203A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Cell electromotive current distribution measurement device, and cell electromotive current distribution measurement method
CN100464455C (en) * 2004-04-07 2009-02-25 上海神力科技有限公司 Guiding polar plate of fuel battery with voltage monitoring and detecting slot
JP2009264919A (en) * 2008-04-25 2009-11-12 Hioki Ee Corp Short-circuit position detector
CN101881791A (en) * 2009-04-30 2010-11-10 日置电机株式会社 Voltage detection device
JP2012027004A (en) * 2010-06-25 2012-02-09 Nippon Soken Inc Inspection device and inspection method
WO2013035149A1 (en) * 2011-09-05 2013-03-14 株式会社日本マイクロニクス Apparatus and method for evaluating sheet-like battery
JP2013234893A (en) * 2012-05-08 2013-11-21 Nidec-Read Corp Insulation inspection method and insulation inspection device
CN104237620A (en) * 2009-04-30 2014-12-24 日置电机株式会社 Voltage detection device
EP2782183A4 (en) * 2011-11-14 2015-09-23 Nihon Micronics Kk Repair device for sheet-shaped battery
KR101796608B1 (en) 2014-07-31 2017-11-10 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Testing Device and Testing Method for Sheet-Shaped Cell
JP2019102169A (en) * 2017-11-29 2019-06-24 トヨタ自動車株式会社 Evaluation method for power storage device, manufacturing method of power storage device, and test system

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100464455C (en) * 2004-04-07 2009-02-25 上海神力科技有限公司 Guiding polar plate of fuel battery with voltage monitoring and detecting slot
EP1755188A1 (en) * 2004-04-09 2007-02-21 Espec Corp. Fuel cell current distribution measuring equipment and fuel cell current distribution measuring method
WO2005101557A1 (en) * 2004-04-09 2005-10-27 Espec Corp. Fuel cell current distribution measuring equipment and fuel cell current distribution measuring method
JP2005302498A (en) * 2004-04-09 2005-10-27 Espec Corp Apparatus and method for measuring fuel cell current distribution
EP1755188A4 (en) * 2004-04-09 2009-08-12 Espec Corp Fuel cell current distribution measuring equipment and fuel cell current distribution measuring method
JP4568623B2 (en) * 2005-03-08 2010-10-27 日置電機株式会社 Short detection device
JP2006250548A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
JP2006250547A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
JP2006250546A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Hioki Ee Corp Short circuit detector
EP1713140A1 (en) * 2005-04-12 2006-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Process for the detection of a reactant undersupply in one fuel cell of a fuel cell stack and a fuel cell system with such a fuel cell stack
JP2006337073A (en) * 2005-05-31 2006-12-14 Advantest Corp Testing apparatus and device manufacturing method
JP2007027022A (en) * 2005-07-21 2007-02-01 Espec Corp Device for measuring electromotive force distribution in fuel cell, and method for measuring electromotive force distribution in fuel cell
JP2007265674A (en) * 2006-03-27 2007-10-11 Espec Corp Fuel cell local generating performance measuring device and fuel cell local generating performance measuring method
JP2007280643A (en) * 2006-04-03 2007-10-25 Denso Corp Current measuring device
JP2007311203A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Cell electromotive current distribution measurement device, and cell electromotive current distribution measurement method
JP2007311204A (en) * 2006-05-18 2007-11-29 Espec Corp Fuel cell current distribution measurement device, stacked fuel cell current distribution measurement device, and fuel cell current distribution measurement method
JP2009264919A (en) * 2008-04-25 2009-11-12 Hioki Ee Corp Short-circuit position detector
CN104237620A (en) * 2009-04-30 2014-12-24 日置电机株式会社 Voltage detection device
CN101881791A (en) * 2009-04-30 2010-11-10 日置电机株式会社 Voltage detection device
CN101881791B (en) * 2009-04-30 2015-08-05 日置电机株式会社 Voltage check device
JP2012027004A (en) * 2010-06-25 2012-02-09 Nippon Soken Inc Inspection device and inspection method
KR101685461B1 (en) 2011-09-05 2016-12-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Apparatus and Method for Evaluating Sheet-like Battery
US10036780B2 (en) 2011-09-05 2018-07-31 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Evaluation apparatus and evaluation method of sheet type cell
KR20140044921A (en) * 2011-09-05 2014-04-15 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Apparatus and method for evaluating sheet-like battery
JPWO2013035149A1 (en) * 2011-09-05 2015-03-23 株式会社日本マイクロニクス Sheet battery evaluation device and evaluation method
CN103858271A (en) * 2011-09-05 2014-06-11 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 Apparatus and method for evaluating sheet-like battery
WO2013035149A1 (en) * 2011-09-05 2013-03-14 株式会社日本マイクロニクス Apparatus and method for evaluating sheet-like battery
EP2782183A4 (en) * 2011-11-14 2015-09-23 Nihon Micronics Kk Repair device for sheet-shaped battery
US9799927B2 (en) 2011-11-14 2017-10-24 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Repair apparatus of sheet type cell
JP2013234893A (en) * 2012-05-08 2013-11-21 Nidec-Read Corp Insulation inspection method and insulation inspection device
KR101796608B1 (en) 2014-07-31 2017-11-10 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Testing Device and Testing Method for Sheet-Shaped Cell
JP2019102169A (en) * 2017-11-29 2019-06-24 トヨタ自動車株式会社 Evaluation method for power storage device, manufacturing method of power storage device, and test system
JP2021044246A (en) * 2017-11-29 2021-03-18 トヨタ自動車株式会社 Evaluation method for power storage device, manufacturing method of power storage device, and test system
JP2021185587A (en) * 2017-11-29 2021-12-09 トヨタ自動車株式会社 Evaluation method of lithium ion battery, manufacturing method of lithium ion battery and testing system
JP7111235B2 (en) 2017-11-29 2022-08-02 トヨタ自動車株式会社 Lithium-ion battery evaluation method, lithium-ion battery manufacturing method, and test system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003215190A (en) Short-circuit detector
KR100799161B1 (en) Non-contact type single side probe and inspection apparatus and method for open/short test of pattern electrodes used thereof
TWI396852B (en) Touch panel inspection equipment
US6703849B2 (en) Inspection apparatus, inspection method and inspection unit therefor
KR102640756B1 (en) Welding state detection method and welding state detection device
JP4450143B2 (en) Circuit pattern inspection apparatus, circuit pattern inspection method, and recording medium
TWI474012B (en) Detecting device of conductive pattern and detecting method
US20150084643A1 (en) Insulation inspection method and insulation inspection apparatus
US6842026B2 (en) Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board
KR101112696B1 (en) Circuit board inspection method
KR20100028275A (en) Apparatus and method for inspecting electrode lines of falt panel display
TWI436078B (en) Inspection method and inspection apparatus for circuit substrate
JP4987862B2 (en) Method for inspecting a large non-component printed circuit board using a finger tester
WO2005010600A1 (en) Inspection equipment and inspection method of liquid crystal display panel
JP4568623B2 (en) Short detection device
JP4842549B2 (en) Short detection device
JP2006250546A (en) Short circuit detector
WO2014174852A1 (en) Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
TW200537112A (en) Circuit pattern testing apparatus and circuit pattern testing method
KR101430040B1 (en) Insulation inspection device and insulation inspection method
JPS643071Y2 (en)
JP5425502B2 (en) Circuit board inspection equipment
JP5420303B2 (en) Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method
KR101489369B1 (en) Bump film and probe block tester
JP4349811B2 (en) Inspection method and inspection device for monitor line for laminated battery

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051011

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071113

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080111

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080624

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081028