JP2003173895A - X-ray tube control method and x-ray fluoroscopic inspection device - Google Patents

X-ray tube control method and x-ray fluoroscopic inspection device

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JP2003173895A
JP2003173895A JP2001370293A JP2001370293A JP2003173895A JP 2003173895 A JP2003173895 A JP 2003173895A JP 2001370293 A JP2001370293 A JP 2001370293A JP 2001370293 A JP2001370293 A JP 2001370293A JP 2003173895 A JP2003173895 A JP 2003173895A
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JP
Japan
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ray
tube
voltage
current
transmission image
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001370293A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Tatsuyuki Yoshihara
達行 吉原
祥司 ▲ツル▼
Shoji Tsuru
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray tube control method and an X-ray fluoroscopic inspection device obtaining an optimum transmission image by feeding back the transmission image of a specimen and automatically setting an X-ray condition. <P>SOLUTION: The X-ray fluoroscopic inspection device, having an X-ray tube and an X-ray detector detecting the X-ray transmitted through the specimen, forming a transmission image of the specimen depending on the transmission data obtained from the X-ray detector, is composed of an X-ray control part controlling voltage and current of the X-ray tube, an optimum condition estimation means estimating an optimum condition of either the voltage or the current of the X-ray tube which makes the lightness of prescribed two parts on the transmission image T1, T2 turn into aimed values T1aim, T2aim, and a setting means automatically setting the voltage and the current of the X-ray tube by repeatedly feeding the voltage and the current of the X-ray tube back to the X-ray control part according to the above optimum condition. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、X線を用いて被
検体の透過像を得て、被検体の検査を行うX線透視検査
装置に係り、さらには最適透過像を得るに適したX線管
制御方法およびX線透視検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray fluoroscopic inspection apparatus for inspecting a subject by obtaining a transmission image of the subject using X-rays, and further, an X-ray suitable for obtaining an optimum transmission image. The present invention relates to a method of controlling a radio tube and an X-ray fluoroscopic inspection apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、例えば小型電子部品等を高分解能
で検査するためのX線透視検査装置が市場に提供されて
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, an X-ray fluoroscopic inspection apparatus for inspecting, for example, a small electronic component with high resolution has been provided on the market.

【0003】このようなX線透視検査装置では、X線管
の管電圧Vと管電流Iを手動で変更でき、得られた被検
体の透過像を観察しながら、当該被検体にあわせた設定
を行なって最適画像を得るようにしている。
In such an X-ray fluoroscopic inspection apparatus, the tube voltage V and the tube current I of the X-ray tube can be manually changed, and the setting can be made according to the subject while observing the obtained transmission image of the subject. To obtain the optimum image.

【0004】具体的には、管電圧を変えた場合、X線フ
ォトンの1つ1つのエネルギEが大きくなるとともにフ
ォトン数Nが増大し、管電流を変えた場合には、X線フ
ォトンの1つ1つのエネルギEは変わらずフォトン数N
が増大する。
Specifically, when the tube voltage is changed, the energy E of each X-ray photon is increased and the number N of photons is increased, and when the tube current is changed, 1 of the X-ray photons is changed. Each energy E remains unchanged and the number of photons N
Will increase.

【0005】また検出器は2次元の分解能でX線を検出
するが、各検出素子の出力は各素子が受けるX線エネル
ギ総量(E×N)に比例する。そしてこの各検出素子の
出力に応じて、適宜閾値を設けて明暗を割り当てること
で透過像が作られる。他方、X線の透過能力はX線フォ
トンの1つ1つのエネルギEが高くなるほど大きくな
る。
The detector detects X-rays with a two-dimensional resolution, and the output of each detection element is proportional to the total amount of X-ray energy (E × N) received by each element. Then, a transmission image is formed by appropriately setting a threshold value and assigning lightness and darkness according to the output of each detection element. On the other hand, the X-ray transmission capability increases as the energy E of each X-ray photon increases.

【0006】また、管電圧Vと管電流Iを手動で変更す
る場合、まず被検体を透過できる管電圧V(すなわちX
線フォトンの1つ1つのエネルギE)を選ぶが、エネル
ギEが高すぎると画像のコントラストが低下して最良画
像とならない。そこで、管電圧Vを下げ、管電流Iを増
やして出力を補う。しかしながら、管電圧Vを下げすぎ
るとコントラストが大きすぎ白飛びや黒つぶれ画像とな
ってしまう。
When manually changing the tube voltage V and the tube current I, the tube voltage V (that is, X
The energy E) of each line photon is selected, but if the energy E is too high, the contrast of the image is reduced and the best image is not obtained. Therefore, the tube voltage V is lowered and the tube current I is increased to supplement the output. However, if the tube voltage V is lowered too much, the contrast becomes too large, resulting in an overexposed or blackened image.

【0007】このように、従来のX線条件設定は、被検
体の交換や観察視野変更の度に、手動で管電圧Vと管電
流Iを交互に設定しながら、調整するため非常に面倒
で、また得られる画像品質は操作者の技量に依存してし
まうおそれが多分にあった。
As described above, the conventional X-ray condition setting is very troublesome because the tube voltage V and the tube current I are manually set alternately every time the subject is exchanged or the observation visual field is changed. Moreover, there is a possibility that the obtained image quality will depend on the skill of the operator.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は前記に鑑みて
なされたもので、その目的とするところは被検体の透過
像をフィードバックして自動的にX線条件設定を行な
い、最適透過像を得るX線管制御方法およびX線透視検
査装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to feed back a transmission image of a subject and automatically set X-ray conditions to obtain an optimum transmission image. An object of the present invention is to provide an X-ray tube control method and an X-ray fluoroscopic inspection apparatus to be obtained.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明のうちで請求項1記載の発明は、X線管
と、このX線管の管電圧と管電流とを制御するX線制御
部と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器を有
し、このX線検出器で得られた被検体の透過データから
被検体の透過像を作成するX線透視検査装置におけるX
線管制御方法であって、前記透過像上における2つの部
分の明るさが、それぞれ予め定めた目標値になるよう
な、少なくとも管電圧と管電流のいずれかの最適条件を
推定し、この推定された最適条件に従って管電圧および
管電流を前記X線制御部に繰り返しフィードバックして
管電圧と管電流とを自動設定することを要旨とする。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 of the present invention controls an X-ray tube and a tube voltage and a tube current of the X-ray tube. An X-ray fluoroscope having an X-ray controller and an X-ray detector for detecting X-rays transmitted through the subject, and creating a transmission image of the subject from transmission data of the subject obtained by the X-ray detector. X in inspection equipment
A method for controlling a tube, comprising estimating an optimum condition of at least one of a tube voltage and a tube current such that the brightness of the two parts on the transmission image reaches a predetermined target value, and the estimation is performed. The gist of the present invention is that the tube voltage and the tube current are repeatedly fed back to the X-ray control unit according to the optimized conditions, and the tube voltage and the tube current are automatically set.

【0010】請求項1記載の本発明では、被検体の透過
像をフィードバックして自動的にX線条件設定を行な
い、最適透過像を得ることができる。さらにフィードバ
ックの1ループにおける管電圧と管電流の修正値が最適
推定で求められるので収束を早くすることができる。
According to the first aspect of the present invention, the transmission image of the subject is fed back to automatically set the X-ray condition, and the optimum transmission image can be obtained. Further, since the correction values of the tube voltage and the tube current in one loop of feedback are obtained by the optimal estimation, the convergence can be speeded up.

【0011】また、本発明のうちで請求項2記載の発明
は、X線管と、被検体を透過したX線を検出するX線検
出器とを有し、このX線検出器で得られた被検体の透過
データから被検体の透過像を作成するX線透視検査装置
であって、前記X線管の管電圧と管電流を制御するX線
制御部と、前記透過像上における所定の2つの部分の明
るさT1,T2が、それぞれ予め定めた目標値T1ai
m,T2aimになるような、少なくとも管電圧と管電
流のいずれかの最適条件を推定する最適条件推定手段
と、この推定された最適条件に従って管電圧と管電流を
前記X線制御部に繰り返しフィードバックして管電圧と
管電流とを自動設定する設定手段とを有することを要旨
とする。
The invention according to claim 2 of the present invention has an X-ray tube and an X-ray detector for detecting X-rays transmitted through an object, and is obtained by this X-ray detector. An X-ray fluoroscopic inspection apparatus for creating a transmission image of a subject from the transmission data of the subject, comprising: an X-ray control unit for controlling a tube voltage and a tube current of the X-ray tube; and a predetermined unit on the transmission image. The brightness T1 and T2 of the two parts are respectively set to predetermined target values T1ai.
m, T2aim, an optimum condition estimating means for estimating at least one of the optimum conditions of the tube voltage and the tube current, and the tube voltage and the tube current are repeatedly fed back to the X-ray controller according to the estimated optimum conditions. The gist is to have setting means for automatically setting the tube voltage and the tube current.

【0012】請求項2記載の本発明では、被検体の透過
像をフィードバックして自動的にX線条件設定を行な
い、最適透過像を得ることができる。さらにフィードバ
ックの1ループにおける管電圧と管電流の修正値が最適
推定で求められるので収束を早くすることができる。
According to the second aspect of the present invention, the transmission image of the subject is fed back to automatically set the X-ray condition, and the optimum transmission image can be obtained. Further, since the correction values of the tube voltage and the tube current in one loop of feedback are obtained by the optimal estimation, the convergence can be speeded up.

【0013】また、本発明のうちで請求項3記載の発明
は、X線管と、このX線管の管電圧と管電流とを制御す
るX線制御部と、被検体を透過したX線を検出するX線
検出器を有し、このX線検出器で得られた被検体の透過
データから被検体の透過像を作成するX線透視検査装置
におけるX線管制御方法であって、前記透過像上におけ
る1つの部分の明るさが予め定めた目標値になり且つ許
容される最大の管電流となる管電圧の最適条件を推定
し、この推定された管電圧と管電流を前記X線制御部に
繰り返しフィードバックして管電圧と管電流を自動設定
することを要旨とする。
According to the third aspect of the present invention, the X-ray tube, the X-ray control unit for controlling the tube voltage and the tube current of the X-ray tube, and the X-ray transmitted through the subject. A method for controlling an X-ray tube in an X-ray fluoroscopic inspection apparatus, comprising: an X-ray detector for detecting an object, and creating a transmission image of the object from transmission data of the object obtained by the X-ray detector, The optimum condition of the tube voltage at which the brightness of one portion on the transmission image becomes a predetermined target value and the maximum allowable tube current is estimated, and the estimated tube voltage and tube current are used as the X-rays. The gist is to automatically set the tube voltage and the tube current by repeatedly feeding back to the control unit.

【0014】請求項3記載の本発明では、被検体の透過
像をフィードバックして自動的にX線条件設定を行な
い、最適透過像を得ることができる。さらにフィードバ
ックの1ループにおける管電圧と管電流の修正値が最適
推定で求められるので収束を早くすることができる。
According to the third aspect of the present invention, the transmission image of the subject is fed back to automatically set the X-ray condition, and the optimum transmission image can be obtained. Further, since the correction values of the tube voltage and the tube current in one loop of feedback are obtained by the optimal estimation, the convergence can be speeded up.

【0015】さらに、本発明のうちで請求項4記載の発
明は、X線管と、被検体を透過したX線を検出するX線
検出器とを有し、このX線検出器で得られた被検体の透
過データから被検体の透過像を作成するX線透視検査装
置であって、前記X線管の管電圧と管電流を制御するX
線制御部と、前記透過像上におけるの1つの部分の明る
さT1が予め定めた目標値T1aimになり且つ許容さ
れる最大の管電流となる管電圧の最適条件を推定する最
適条件推定手段と、推定された管電圧と管電流を前記X
線制御部に繰り返しフィードバックして管電圧と管電流
を自動設定する設定手段とを有することを要旨とする。
Furthermore, the invention according to claim 4 of the present invention has an X-ray tube and an X-ray detector for detecting X-rays transmitted through an object, and is obtained by this X-ray detector. An X-ray fluoroscopic inspection apparatus for creating a transmission image of a subject from the transmission data of the subject, wherein X controls the tube voltage and tube current of the X-ray tube.
A line controller, and an optimum condition estimating means for estimating an optimum condition of the tube voltage at which the brightness T1 of one portion on the transmission image becomes a predetermined target value T1aim and the maximum tube current is allowed. , Estimated tube voltage and tube current are
The gist is to have a setting means for automatically setting the tube voltage and the tube current by repeatedly feeding back to the line control section.

【0016】請求項4記載の本発明では、被検体の透過
像をフィードバックして自動的にX線条件設定を行な
い、最適透過像を得ることができる。さらにフィードバ
ックの1ループにおける管電圧と管電流の修正値が最適
推定で求められるので収束を早くすることができる。
According to the fourth aspect of the present invention, the transmission image of the subject is fed back to automatically set the X-ray condition, and the optimum transmission image can be obtained. Further, since the correction values of the tube voltage and the tube current in one loop of feedback are obtained by the optimal estimation, the convergence can be speeded up.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明のX線管制御方法が適用され
たX線透視検査装置の一実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an X-ray fluoroscopic inspection apparatus to which the X-ray tube control method of the present invention is applied.

【0019】図1に示すシステム構成自体は、ハードウ
ェア的には、従来の装置とほぼ同じである。本実施例の
X線管1は発生するX線の焦点Fが数ないし数十μmの
マイクロフォーカスX線管を用いる。また検出器には被
検体を透過したX線像を光学画像に変換するX線I.
I.(Image Intensifier;像増強
管)3と、このX線I.I.3で得られる光学画像を撮
像するためのテレビカメラ4を用いる。
The system configuration itself shown in FIG. 1 is almost the same as the conventional device in terms of hardware. The X-ray tube 1 of this embodiment uses a microfocus X-ray tube having a focal point F of generated X-rays of several to several tens of μm. In addition, the detector includes an X-ray I.V. that converts an X-ray image transmitted through the subject into an optical image.
I. (Image Intensifier) 3 and the X-ray I.D. I. The television camera 4 for capturing the optical image obtained in 3 is used.

【0020】被検体5は試料テーブル6に載置されX線
ビーム2内でX軸方向・Y軸方向に位置決めされXY機
構7で撮影(観察)視野を変更される。さらにX線管1
は図示してない昇降機構で昇降されこれにより撮影倍率
が変更可能に構成される。
The subject 5 is placed on the sample table 6 and positioned in the X-axis and Y-axis directions within the X-ray beam 2, and the XY mechanism 7 changes the field of photography (observation). X-ray tube 1
Is moved up and down by an elevating mechanism (not shown) so that the photographing magnification can be changed.

【0021】パソコン8はテレビカメラ4からの被検体
の透過像を取り込み、この画像を最適とするX線管1の
管電圧V、管電流Iを最適条件推定プログラムにより推
定し、さらにこの推定値をX線制御部9に送出する。X
線制御部9は、この推定値から、高圧発生部10を通じ
てX線管1の管電圧V、管電流Iを推定値に合わせる。
これがフィードバックの1ループとなる。実際には推定
誤差があるのでこれを繰り返すことで高速に最適値に合
わせることができる。この最適V,Iの推定はパソコン
8の図示しないメモリに搭載されるソフトウェアによっ
て行なわれる。
The personal computer 8 takes in a transmission image of the subject from the television camera 4, estimates the tube voltage V and the tube current I of the X-ray tube 1 that optimize this image by an optimum condition estimation program, and further estimates these estimated values. To the X-ray controller 9. X
The line controller 9 adjusts the tube voltage V and the tube current I of the X-ray tube 1 to the estimated values through the high voltage generator 10 based on the estimated values.
This is one loop of feedback. Actually, there is an estimation error, so by repeating this, it is possible to quickly adjust to the optimum value. The estimation of the optimum V and I is performed by software installed in a memory (not shown) of the personal computer 8.

【0022】なお、管電圧Vと管電流IにはX線制御部
9により制限された範囲がある。これはX線管1のター
ゲットの熱制限や高圧発生部の容量などで決められたも
のである。この範囲内で最適制御としての制限範囲を別
に設定することもできる。
The tube voltage V and the tube current I have a range limited by the X-ray controller 9. This is determined by the heat limitation of the target of the X-ray tube 1 and the capacity of the high-pressure generating section. It is also possible to separately set a limit range for optimum control within this range.

【0023】例えば、マイクロフォーカスX線管の場
合、電流をとりすぎると焦点が大きくなる場合があるの
で管電流を小さ目に制限する。
For example, in the case of a microfocus X-ray tube, if the current is too large, the focus may become large, so the tube current is limited to a small value.

【0024】次に本実施の形態の作用について説明す
る。
Next, the operation of this embodiment will be described.

【0025】ここでは、本実施形態におけるパソコン8
内の最適条件(V,I)の推定機能について説明する。
Here, the personal computer 8 in this embodiment is used.
The estimation function of the optimum condition (V, I) will be described.

【0026】図2にX線条件自動設定のモードを示す。
図中、縦軸に画像のリニアスケールでの明るさB、すな
わち検出器の出力に比例した値を示し、横軸にモード
1,2,〜,6を示す。明るさBは0から飽和値Bsa
t(255)までとり、Bobs.l(80)からBo
bs.h(180)までが観察に適した値である。この
ような操作環境で、X線透視検査装置の操作者はモード
を一つ選択する。モードは、 モード1:全部観察 モード2:暗部観察(飽和不許可) モード3:指定部1点観察(飽和不許可) モード4:指定部2点間観察(飽和許可) モード5:明部観察 モード6:指定部1点観察(飽和許可) の6モードがある。
FIG. 2 shows the X-ray condition automatic setting mode.
In the figure, the vertical axis represents the brightness B of the image on the linear scale, that is, a value proportional to the output of the detector, and the horizontal axes represent modes 1, 2, to 6 ,. The brightness B is 0 to the saturation value Bsa
t (255), Bobs. l (80) to Bo
bs. Values up to h (180) are suitable for observation. In such an operating environment, the operator of the fluoroscopic examination apparatus selects one mode. The modes are: Mode 1: All observation Mode 2: Dark part observation (saturation not allowed) Mode 3: Specified part 1 point observation (saturation not allowed) Mode 4: Specified part 2 point observation (saturation allowed) Mode 5: Bright part observation Mode 6: There are 6 modes of 1 point observation (saturation permission) of the designated area.

【0027】モード1では、一番明るい部分B1、一番
暗い部分B2がそれぞれBobs.hとBobs.lに
合うようにV,Iが制御される。ここでB1,B2は予
め定めた(碁盤目状の)区画ごとに平均した最大と最小
である。ここでは(V,Iの制限に懸らなければ)全て
の部分が観察に適した明るさになる。
In the mode 1, the brightest portion B1 and the darkest portion B2 are Bobs. h and Bobs. V and I are controlled to match l. Here, B1 and B2 are the maximum and minimum averaged for each of the predetermined (grid-like) sections. Here, all parts (unless the restrictions of V and I are imposed) have the brightness suitable for observation.

【0028】モード2では、明部B1が飽和手前のBh
に、暗部B2がBobs.lに合うように制御され、飽
和させない条件で暗部観察に良い条件になる。
In mode 2, the bright portion B1 is Bh before saturation.
In the dark area B2, Bobs. It is controlled so as to meet l, and it is a good condition for observing dark areas under the condition that it is not saturated.

【0029】モード3では、明部B1が飽和手前のBh
に、操作者が関心領域をROI指定した1点(実際は小
領域の平均)の明るさB3がBobs.lに合うように
制御され、飽和させない条件で指定部観察に良い条件に
なる。
In mode 3, the bright area B1 is Bh before saturation.
In addition, the brightness B3 of one point (actually, the average of the small areas) in which the operator designates the ROI as the ROI is Bobs. It is controlled so as to meet l, and it is a good condition for observing the designated part under the condition that it is not saturated.

【0030】モード4では、操作者がROI指定した2
点の明るさB3,B4がそれぞれBobs.hとBob
s.lに合うように制御され、指定部2点間の観察に良
い条件になる。
In mode 4, the operator designates the ROI as 2
The brightness of points B3 and B4 is Bobs. h and Bob
s. It is controlled so as to meet l, which is a good condition for observation between two points on the designated portion.

【0031】モード5では、明部B1がBobs.hに
合い、できるだけ管電圧Vを小さく、管電流Iを大きく
するように制御され、明部のコントラストがよくノイズ
の少ない条件となる。
In mode 5, the bright portion B1 is Bobs. The tube voltage V is controlled to be as small as possible and the tube current I is set to be as large as possible so that the contrast in the bright portion is good and the noise is small.

【0032】モード6では操作者がROI指定した1点
の明るさB1がBobs.hとBobs.lの中間のB
obsに合い、できるだけ管電圧Vを小さく、管電流I
を大きくするように制御され、指定部のコントラストが
よくノイズの少ない条件となる。
In mode 6, the brightness B1 at one point designated by the operator as the ROI is Bobs. h and Bobs. B in the middle of l
tube voltage V as small as possible and tube current I
Is controlled so as to be large, so that the contrast of the designated portion is good and there is little noise.

【0033】以下の説明では対数変換した明るさTを用
いる。
In the following description, the logarithmically converted brightness T is used.

【0034】 T=Log(B) …(1) モード1乃至モード4は基本的には同じ最適推定処理で
あり、2つの部分の明るさT1,T2をそれぞれ予め定
めた目的値T1aim,T2aimに合わせる制御であ
り、「2点間最適化」の制御と言うことができる。後述
するように、T1,T2をそれぞれT1aim,T2a
imに合わせる条件からV,Iが一意に決る。これが、
最適V,Iの推定値である。
T = Log (B) (1) Modes 1 to 4 are basically the same optimal estimation process, and the brightness T1 and T2 of the two parts are respectively set to predetermined target values T1aim and T2aim. It is a matching control and can be said to be "two-point optimization" control. As will be described later, T1 and T2 are replaced by T1aim and T2a, respectively.
V and I are uniquely determined from the condition that matches with im. This is,
It is an estimated value of optimum V and I.

【0035】モード5,6は基本的に同じ最適推定処理
であり、1つの部分の明るさT1を予め定めた目的値T
1aimに合わせ、且つできるだけ管電圧Iを大きく、
管電圧Vを小さくする制御で「1点最適化」の制御と言
うことができる。X線フォトンの1つ1つのエネルギ
E、フォトン数Nとすると、画像の明るさBはE×Nに
比例する。E×Nが同じならなるべくエネルギEを小さ
く、フォトン数Nを大きくしたほうがフォトンノイズが
少なくなるので、できるだけ管電流Iを大きく管電圧V
を小さくする。
The modes 5 and 6 are basically the same optimum estimation process, and the brightness T1 of one portion is set to a predetermined target value T1.
Adjust to 1 aim and increase the tube voltage I as much as possible,
The control for reducing the tube voltage V can be called "one-point optimization" control. When the energy E of each X-ray photon is N and the number of photons N, the image brightness B is proportional to E × N. If E × N is the same, the photon noise is reduced by decreasing the energy E and increasing the photon number N as much as possible. Therefore, the tube current I is increased as much as possible and the tube voltage V is increased.
To reduce.

【0036】<「2点間最適化」の制御>図3に本実施
形態におけるV,I制御のフローチャートを、図4に検
出器出力と制御ループとの関係を、図5に管電流・管電
圧と制御ループとの関係を示す。
<Control of “Optimization between Two Points”> FIG. 3 is a flow chart of V and I control in the present embodiment, FIG. 4 is a relation between detector output and control loop, and FIG. 5 is tube current / tube. 3 shows the relationship between voltage and control loop.

【0037】まず、「2点間最適化」の制御を説明す
る。
First, the control of "optimization between two points" will be described.

【0038】以下、対数変換したV,Iを用いる。Hereinafter, logarithmically converted V and I will be used.

【0039】 X=Log(V/V0) …(2) Y=Log(I/I0) …(3) 図4及び図5に示すように、XY面上でAを前回位置、
Bを今回位置、Cを次回位置とする。各点のXY位置を
それぞれサフィックスA,B,Cをつけて表す。各位置
A,B,Cでの2つの部分の明るさT1,T2をそれぞ
れサフィックスA,B,Cをつけて表す。
X = Log (V / V0) (2) Y = Log (I / I0) (3) As shown in FIGS. 4 and 5, A is the previous position on the XY plane,
Let B be the current position and C be the next position. The XY position of each point is represented by suffixes A, B, and C, respectively. The brightnesses T1, T2 of the two parts at the respective positions A, B, C are represented by suffixes A, B, C, respectively.

【0040】以下、各ステップを説明する。Each step will be described below.

【0041】S11:XB ,YB の初期設定をする。S11: Initialize X B and Y B.

【0042】S13:自動終了の入力がなされたとき
(YES)に終了し、それ以外(NO)はステップS1
5に進む。
S13: The process ends when the automatic end is input (YES), otherwise (NO) the step S1.
Go to 5.

【0043】S15:管電圧V、管電流IをそれぞれX
B ,YB に変更する。
S15: Tube voltage V and tube current I are respectively X
Change to B , Y B.

【0044】S17:管電圧V、管電流Iがそれぞれ収
束してから透過像を収集する。
S17: The transmission image is collected after the tube voltage V and the tube current I have converged.

【0045】S19:2つの部分の平均明るさT1B
T2B を計算する。
S19: Average brightness T1 B of the two parts,
Calculate T2 B.

【0046】S21:前回値(XA ,YA ,T1A ,T
A )と今回値(XB ,YB ,T1 B ,T2B )より2
つの部分の平均透過長t1,t2を推定する。
S21: Previous value (XA, YA, T1A, T
TwoA) And the current value (XB, YB, T1 B, T2B) From 2
Estimate the average transmission lengths t1 and t2 of the two parts.

【0047】S23:今回値(XB ,YB ,T1B ,T
B )とt1,t2より次回値(X C ,YC )を推定す
る。
S23: Current value (XB, YB, T1B, T
TwoB) And t1 and t2, the next value (X C, YC)
It

【0048】S25:前回値(XA ,YA ,T1A ,T
A )を今回値(XB ,YB ,T1 B ,T2B )で置き
換え、今回値(XB ,YB )を次回値(XC ,YC )で
置き換えた後に、ステップS13に戻る。
S25: Previous value (XA, YA, T1A, T
TwoA) Is the current value (XB, YB, T1 B, T2B) Put
Instead, the current value (XB, YB) Is the next value (XC, YC)so
After the replacement, the process returns to step S13.

【0049】すなわち、最適条件推定部を構成するステ
ップS21,S23で最適の管電圧V、管電流Iを推定
し、ステップS15でX線管1の管電圧V、管電流Iを
推定値に合わせる。実際には推定誤差があるのでこれを
繰り返すことで高速に最適値に合わせることができる。
That is, the optimum tube voltage V and the tube current I are estimated in steps S21 and S23 which constitute the optimum condition estimating unit, and the tube voltage V and the tube current I of the X-ray tube 1 are adjusted to the estimated values in step S15. . Actually, there is an estimation error, so by repeating this, it is possible to quickly adjust to the optimum value.

【0050】最適条件推定部を説明する前に当該処理手
順で用いる基本式を説明する。まず、リニアスケールで
の明るさBのV,I依存性は概略下式で現される。
Before describing the optimum condition estimation unit, the basic formula used in the processing procedure will be described. First, the V and I dependence of the brightness B on the linear scale is roughly expressed by the following equation.

【0051】[0051]

【数1】 B=B0・I/I0・(V/V0)ke・exp(−μ(V)・t) …(4) ここでμは吸収係数、tは透過長、keは2〜2.5の
定数である。これを対数変換して式(1),(2),
(3)を用いると、
## EQU1 ## B = B0.I / I0. (V / V0) ke.exp (-. Mu. (V) .t) (4) where .mu. Is an absorption coefficient, t is a transmission length, and ke is 2 to 2. It is a constant of 0.5. This is logarithmically transformed to formulas (1), (2),
Using (3),

【数2】 T=T0+Y+ke・X−μ(X)・t …(5) となる。μ(X)は物質によって異なるが平均的な値を
実験式で近似して用いる。これを基本式として、透過長
tを推定する下式が導ける。
[Equation 2] T = T0 + Y + ke · X−μ (X) · t (5) Although μ (X) varies depending on the substance, an average value is used by approximation with an empirical formula. With this as a basic equation, the following equation for estimating the transmission length t can be derived.

【0052】[0052]

【数3】 t=(ΔY−ΔT+ke・ΔX)/Δμ …(6) ここで、各ΔはX,Yを変化させたときの各変化量であ
る。
## EQU00003 ## t = (. DELTA.Y-.DELTA.T + ke.DELTA.X) /. DELTA..mu. (6) where each .DELTA. Is the amount of change when X and Y are changed.

【0053】図6は最適条件推定部の詳細を示す図であ
る。ステップS21Aでは式(6)に従って平均透過長
t1と平均透過長t2を推定する。ここで細かい記載は
しないが、前回値のXA と今回値のXB の差が小さすぎ
る場合は誤差が大きくなるのでt1とt2は計算せず前
回値を用いる。ステップS23Aで次回値(XC
C )を推定する。T1,T2をT1aim,T2ai
mに合わせる条件でXC ,YC が一意に解け下式で求め
られる。
FIG. 6 is a diagram showing details of the optimum condition estimating unit.
It In step S21A, the average transmission length is calculated according to equation (6).
Estimate t1 and average transmission length t2. The detailed description here
No, but the previous value of XAAnd the current value of XBDifference is too small
Error will be large, so t1 and t2 are not calculated.
Uses the round value. In step S23A, the next value (XC
Y C) Is estimated. Replace T1 and T2 with T1aim and T2ai
X under the condition of adjusting to mC, YCUniquely solve for
To be

【0054】[0054]

【数4】 または[Equation 4] Or

【数5】 YC =YB +T2aim−T2B −ke・(XC −XB )+(μ−μ(XB ))・t2 …(9′) となる。ここで関数X(μ)はμ(X)の逆関数で予め
定めておける。
Equation 5] Y C = Y B + T2aim- T2 B -ke · (X C -X B) + (μ-μ (X B)) becomes · t2 ... (9 '). Here, the function X (μ) can be predetermined as an inverse function of μ (X).

【0055】図7、図8は最適条件推定の説明図であ
る。この図を参照して、基本式(5)から式(7)〜
(9′)の導出の概略を説明する。ここで、Bは今回位
置、Cは次回位置である。点BからT1aim−T1 B
だけ上昇した点B1ではT1はT1aimに一致する。
点BからT2aim−T2B だけ上昇(−値は下降)し
た点B2ではT2はT2aimに一致する。点B1を通
ってT1が一定になる曲線1は、基本式(5)から出発
して、 T=T0+Y+ke・X−μ(X)・t …(5) Y=T−T0−ke・X+μ(X)・t …(21) 曲線1の式は
FIG. 7 and FIG. 8 are explanatory views of the optimum condition estimation.
It With reference to this figure, basic equation (5) to equation (7)-
The outline of the derivation of (9 ') will be described. Where B is this time
Position C is the next position. From point B to T1aim-T1 B
At the point B1 which has risen only by 1, T1 coincides with T1aim.
From point B to T2aim-T2BIncrease (-value decreases)
At point B2, T2 coincides with T2aim. Through point B1
Curve 1 where T1 is constant starts from basic equation (5)
do it,     T = T0 + Y + ke · X−μ (X) · t (5)     Y = T−T0−ke · X + μ (X) · t (21) The formula for curve 1 is

【数6】 Y=T1aim−T0−ke・X+μ(X)・t1 …(22) B点では[Equation 6]     Y = T1aim-T0-ke * X + [mu] (X) * t1 (22) At point B

【数7】 YB =T1B −T0−ke・XB +μ(XB )・t1 …(23) 式(22)と(23)の差分を求めて、T0を消去する
と、曲線1の式は、
[Equation 7] Y B = T1 B −T0−ke · X B + μ (X B ) · t1 (23) When the difference between equations (22) and (23) is calculated and T0 is deleted, the equation of curve 1 is obtained. Is

【数8】 Y=YB +T1aim−T1B −ke・(X−XB )+(μ(X)−μ(XB ))・t1 …(10) で現される。Equation 8] is revealed by Y = Y B + T1aim-T1 B -ke · (X-X B) + (μ (X) -μ (X B)) · t1 ... (10).

【0056】また、点B2を通ってT2が一定になる曲
線2については、
For curve 2 where T2 is constant through point B2,

【数9】 Y=T2aim−T0−ke・X+μ(X)・t2 …(24) B点では[Equation 9]     Y = T2aim-T0-ke * X + [mu] (X) * t2 (24) At point B

【数10】 YB =T2B −T0−ke・XB +μ(XB )・t2 …(25) 式(24)と(25)との差分を求めて、T0を消去する
と、曲線2の式は、
Equation 10] and obtains a difference Y B = T2 B -T0-ke · X B + μ (X B) · t2 ... (25) equation (24) and (25), clearing the T0, the curve 2 ceremony,

【数11】 Y=YB +T2aim−T2B −ke・(X−XB )+(μ(X)−μ(XB ))・t2 …(11) で現される。式(23)と(25)の差分より、Equation 11] is revealed by Y = Y B + T2aim-T2 B -ke · (X-X B) + (μ (X) -μ (X B)) · t2 ... (11). From the difference between equations (23) and (25),

【数12】 (t2−t1)=(T1B −T2B )/μ(XB ) …(12) が導ける。式(10)から式(11)を引き、式(1
2)を用いてt1,t2を消去してμ(X)について解
くと式(7)が求まる。更に式(8)で次回値のX C
求めて式(10),(11)のXに代入して式(9),
(9′)を求めることができる。
[Equation 12]     (T2-t1) = (T1B-T2B) / Μ (XB)… (12) Can lead. Equation (11) is subtracted from Equation (10) to obtain Equation (1
2) is used to eliminate t1 and t2 and solve for μ (X)
Equation (7) is obtained. Further, in the formula (8), the next value X CTo
Obtained and substituted for X in equations (10) and (11), equation (9),
(9 ') can be obtained.

【0057】すなわち、以下による。That is, it is as follows.

【0058】ここで交点Cの座標を求める。Here, the coordinates of the intersection C are obtained.

【0059】[0059]

【数13】 式(23)と(25)との差分より[Equation 13] From the difference between equations (23) and (25)

【数14】 T1B −T2B −μ(XB )・(t2−t1)=0 (t2−t1)=(T1B −T2B )/μ(XB ) …(12)[Equation 14] T1 B −T2 B −μ (X B ) · (t2 −t1) = 0 (t2 −t1) = (T1 B −T2 B ) / μ (X B ) ... (12)

【0060】[0060]

【数15】 (7)式でμを求める(μ=μ(X))。[Equation 15] Μ is calculated by the equation (7) (μ = μ (X)).

【0061】つぎに XC =X(μ) …(8) でXC を求め、μとXC を式(10)又は(11)に代入し
てYC を求める。
Next, X C is obtained by X C = X (μ) (8), and μ and X C are substituted into the equation (10) or (11) to obtain Y C.

【0062】[0062]

【数16】 YC =YB +T1aim−T1B −ke・(XC −XB )+(μ−μ(XB ))・t1 …(9) YC =YB +T2aim−T2B −ke・(XC −XB )+(μ−μ(XB ))・t2 …(9´) なお、図6に示した推定計算は概略で、次回位置Cが電
流電圧の制限範囲を超えた場合などは省略してある。例
えば、図7及び図8で点Cが電流上限あるいは電圧下限
を超える場合、曲線1に沿った限界点C1あるいは曲線
2に沿った限界点C2を選択する。
Equation 16] Y C = Y B + T1aim- T1 B -ke · (X C -X B) + (μ-μ (X B)) · t1 ... (9) Y C = Y B + T2aim-T2 B -ke · (X C -X B) + (μ-μ (X B)) · t2 ... (9') in estimation calculation schematically shown in FIG. 6, the next position C exceeds the limits of the current-voltage Cases are omitted. For example, when the point C exceeds the current upper limit or the voltage lower limit in FIGS. 7 and 8, the limit point C1 along the curve 1 or the limit point C2 along the curve 2 is selected.

【0063】点B1と点B2の高さが逆転するケースで
は点Cは点Bの右下にでき、点Cが電流下限あるいは電
圧上限を超える場合がでてくるが同様に点C1あるいは
点C2を選択する。具体的には例えばモード2の場合、
電圧下降方向の場合、C2を、電圧上昇方向の場合、C
1を選択する。
In the case where the heights of the points B1 and B2 are reversed, the point C can be located at the lower right of the point B, and the point C may exceed the current lower limit or the voltage upper limit, but similarly the point C1 or the point C2. Select. Specifically, for example, in the case of mode 2,
If the voltage is decreasing, C2 is used. If the voltage is increasing, C2 is used.
Select 1.

【0064】<「1点最適化」の制御>次に「1点最適
化」の制御について、説明する。
<Control of "One-Point Optimization"> Next, the control of "one-point optimization" will be described.

【0065】V,I制御のフローチャート全体は図3と
同様であるが、T2B ,t2,T2 A は計算不要であ
る。
The entire flow chart of V and I control is shown in FIG.
Similar, but T2B, T2, T2 AIs calculation-free
It

【0066】図9は最適条件推定部である。ステップS
21Bでは「2点間最適化」と同様に式(6)に従って
t1を推定する。ステップS23Bで次回値(XC ,Y
C )を推定する。XをXB から始め、下方に微少ステッ
プで変えながら式(10)でYを計算し、電圧、電流制
限の限界点を求めXC ,YC とする。式(10)は前述
したようにT1をT1aimに保ってV,Iが変化する
曲線1(図8参照)であるので、T1を目的値T1ai
mに合わせ、且つできるだけ管電流Iを大きく、管電圧
Vを小さくする最適推定がなされる。
FIG. 9 shows an optimum condition estimating unit. Step S
In 21B, t1 is estimated according to the equation (6) as in “optimization between two points”. In step S23B, the next value (X C , Y
Estimate C ). X is started from X B and Y is calculated by the equation (10) while changing downward in minute steps, and the limit points of the voltage and current limits are obtained and set as X C and Y C. Since the expression (10) is the curve 1 (see FIG. 8) in which V1 changes while keeping T1 at T1aim as described above, T1 is set to the target value T1ai.
Optimal estimation is performed so that the tube current I is as large as possible and the tube voltage V is as small as possible.

【0067】次に本実施の形態における効果について説
明する。
Next, the effect of this embodiment will be described.

【0068】第一の形態によれば、被検体の透過像をフ
ィードバックして自動的にX線条件設定を行ない、最適
透過像を得ることができる。さらにフィードバックの1
ループにおけるV,Iの修正値が最適推定で求められる
ので収束を早くすることができる。
According to the first embodiment, it is possible to feed back the transmission image of the subject and automatically set the X-ray condition to obtain the optimum transmission image. Further feedback 1
Since the corrected values of V and I in the loop are obtained by the optimum estimation, the convergence can be speeded up.

【0069】図1に示すような構成のX線透視検査装置
では、通常は透過像を処理するパソコン8と独自のCP
Uで動作しているX線制御部9との通信時間と、X線制
御部9からのX線管制御の応答時間が長いためフィード
バックの1ループの時間が短くできない。このような場
合であっても、本実施形態によれば、1回の修正が1回
でほぼ最適値に合わせるような修正であるので高速で収
束できる。
In the X-ray fluoroscopic inspection apparatus having the configuration as shown in FIG. 1, a personal computer 8 which normally processes a transmission image and a unique CP are used.
Since the communication time with the X-ray control unit 9 operating in U and the response time of the X-ray tube control from the X-ray control unit 9 are long, one feedback loop time cannot be shortened. Even in such a case, according to the present embodiment, the correction can be made at a high speed so that the correction can be made to match the optimum value at one time.

【0070】その結果、操作者の技量に依存せずに簡便
に最適透過像が得られ、また観察視野変更や像倍率変更
に追従してリアルタイムに最適透過像が得られる。また
モード変更でさまざまなケースに対応できる。
As a result, the optimum transmission image can be easily obtained without depending on the skill of the operator, and the optimum transmission image can be obtained in real time by changing the observation field of view or the image magnification. In addition, it can support various cases by changing the mode.

【0071】次に本実施形態の変形例について説明す
る。
Next, a modification of this embodiment will be described.

【0072】明るさT1,T2は予め定めた区画を平均
して、あるいはROI指定した部分を平均して求める最
も単純な方法を記載しているが、これに限られるもので
はない。例えば色々な画像処理を行なって決めることが
可能である。例えば全体あるいはROI内の明るさのヒ
ストグラムをとり、ヒストグラム面積の80%位置をT
1、20%位置をT2として「2点間最適化」の制御を
行なってもよいし、50%位置をT1として「1点最適
化」の制御を行なってもよい。画像処理で注目部分を推
定してこの部分を平均してT1を求めることも考えられ
る。
Although the brightness T1 and T2 are described as the simplest method of averaging predetermined sections or averaging the ROI-designated portions, the present invention is not limited to this. For example, it is possible to decide by performing various image processing. For example, a histogram of the brightness of the whole or ROI is taken, and the 80% position of the histogram area is T
The "two-point optimization" control may be performed with the 1 and 20% positions as T2, and the "one-point optimization" control may be performed with the 50% position as T1. It is also conceivable to estimate a portion of interest by image processing and average this portion to obtain T1.

【0073】このようなX線管制御は本願発明によるX
線管制御プログラムにより実現され、該プログラムは記
録媒体に記録して提供されるため、該記録媒体を利用し
て、そのX線管制御プログラムの流通性を高めることが
できる。
Such X-ray tube control is performed by the X according to the present invention.
Since the X-ray tube control program is realized by the X-ray tube control program and the program is recorded in a recording medium and provided, the distribution of the X-ray tube control program can be enhanced by using the recording medium.

【0074】尚、上記の実施形態ではX線透視検査装置
に適用した場合を例にとって説明したが、本発明はこれ
に限定されること無く、X線の曝射により得られる画像
を利用する任意の装置に適用することができる。
In the above embodiment, the case where the invention is applied to the X-ray fluoroscopic inspection apparatus has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and any image utilizing an X-ray exposure can be used. Can be applied to the device.

【0075】[0075]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば被
検体の透過像から得られた管電圧/管電流をフィードバ
ックして自動的にX線条件設定を行なうようにしたの
で、容易にかつ迅速に最適透過像を得ることのできるX
線管制御方法およびX線透視検査装置を提供することが
できる。
As described above, according to the present invention, since the tube voltage / tube current obtained from the transmission image of the subject is fed back to automatically set the X-ray condition, it is easy to perform. X that can quickly and optimally obtain an optimum transmission image
An X-ray fluoroscopic inspection apparatus and a control method of a X-ray tube can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るX線透過検査装置の一実施形態の
概略のシステム構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic system configuration of an embodiment of an X-ray transmission inspection apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示したX線透過検査装置におけるX線条
件自動設定のモードを示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing a mode of X-ray condition automatic setting in the X-ray transmission inspection apparatus shown in FIG.

【図3】V,I制御の流れを概略的に示すフローチャー
トである。
FIG. 3 is a flowchart schematically showing the flow of V and I control.

【図4】検出器出力と制御ループとの関係を示した図で
ある。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between a detector output and a control loop.

【図5】管電流・管電圧と制御ループとの関係を示した
図である。
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a tube current / tube voltage and a control loop.

【図6】最適条件推定部(2点間最適化)における処理
の流れを概略的に示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart schematically showing the flow of processing in an optimum condition estimation unit (optimization between two points).

【図7】最適条件推定(2点間最適化)を説明するため
の図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining optimal condition estimation (optimization between two points).

【図8】最適条件推定(2点間最適化)を説明するため
の図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining optimal condition estimation (optimization between two points).

【図9】最適条件推定部(1点最適化)における処理の
流れを概略的に示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart schematically showing the flow of processing in an optimum condition estimation unit (one-point optimization).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 X線管 2 X線ビーム 3 X線I.I 4 テレビカメラ 5 被検体 6 試料テーブル 7 XY機構 8 パソコン 9 X線制御部 10 高圧発生部 F 焦点 1 X-ray tube 2 X-ray beam 3 X-ray I.D. I 4 TV camera 5 subject 6 sample table 7 XY mechanism 8 PC 9 X-ray controller 10 High voltage generator F focus

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G21K 5/02 G21K 5/02 X (72)発明者 吉原 達行 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝アイティー・コントロールシステム株式 会社内 (72)発明者 ▲ツル▼ 祥司 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝アイティー・コントロールシステム株式 会社内 Fターム(参考) 2G001 AA01 BA11 CA01 GA09 GA11 HA13 JA02 JA20 LA11 2H013 AB10 4C092 AA00 AB02 AB04 AC08 AC16 CC03 CD02 CD03 CF02 CF07 CF08 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI theme code (reference) G21K 5/02 G21K 5/02 X (72) Inventor Tatsuyuki Yoshihara 2-24 Harumicho, Fuchu-shi, Tokyo No. 1 TOSHIBA IT Control System Co., Ltd. (72) Inventor ▲ Tsuru ▼ Shoji No. 1 2-24 Harumicho, Fuchu-shi, Tokyo TOSHIBA IT Control System Co., Ltd. F-term (reference) 2G001 AA01 BA11 CA01 GA09 GA11 HA13 JA02 JA20 LA11 2H013 AB10 4C092 AA00 AB02 AB04 AC08 AC16 CC03 CD02 CD03 CF02 CF07 CF08

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線管と、このX線管の管電圧と管電流
とを制御するX線制御部と、被検体を透過したX線を検
出するX線検出器を有し、このX線検出器で得られた被
検体の透過データから被検体の透過像を作成するX線透
視検査装置におけるX線管制御方法であって、 前記透過像上における2つの部分の明るさが、それぞれ
予め定めた目標値になるような、少なくとも管電圧と管
電流のいずれかの最適条件を推定し、 この推定された最適条件に従って管電圧および管電流を
前記X線制御部に繰り返しフィードバックして管電圧と
管電流とを自動設定することを特徴とするX線管制御方
法。
1. An X-ray tube, an X-ray controller for controlling a tube voltage and a tube current of the X-ray tube, and an X-ray detector for detecting an X-ray transmitted through an object. An X-ray tube control method in an X-ray fluoroscopic inspection apparatus that creates a transmission image of a subject from transmission data of the subject obtained by a line detector, wherein the brightness of two parts on the transmission image is An optimum condition of at least one of the tube voltage and the tube current is estimated so that the target value becomes a predetermined value, and the tube voltage and the tube current are repeatedly fed back to the X-ray controller according to the estimated optimum condition. An X-ray tube control method characterized by automatically setting a voltage and a tube current.
【請求項2】 X線管と、被検体を透過したX線を検出
するX線検出器とを有し、このX線検出器で得られた被
検体の透過データから被検体の透過像を作成するX線透
視検査装置であって、 前記X線管の管電圧と管電流を制御するX線制御部と、 前記透過像上における所定の2つの部分の明るさT1,
T2が、それぞれ予め定めた目標値T1aim,T2a
imになるような、少なくとも管電圧と管電流のいずれ
かの最適条件を推定する最適条件推定手段と、 この推定された最適条件に従って管電圧と管電流を前記
X線制御部に繰り返しフィードバックして管電圧と管電
流とを自動設定する設定手段とを有することを特徴とす
るX線透視検査装置。
2. An X-ray tube and an X-ray detector for detecting X-rays transmitted through the subject, and a transmission image of the subject is obtained from transmission data of the subject obtained by the X-ray detector. An X-ray fluoroscopic inspection apparatus to be created, comprising: an X-ray control unit for controlling a tube voltage and a tube current of the X-ray tube; and brightness T1, of predetermined two parts on the transmission image.
T2 is a predetermined target value T1aim, T2a, respectively.
an optimum condition estimating means for estimating at least one of the optimum conditions of the tube voltage and the tube current so as to be im, and the tube voltage and the tube current are repeatedly fed back to the X-ray control unit in accordance with the estimated optimum conditions. An X-ray fluoroscopic inspection apparatus having a setting means for automatically setting a tube voltage and a tube current.
【請求項3】 X線管と、このX線管の管電圧と管電流
とを制御するX線制御部と、被検体を透過したX線を検
出するX線検出器を有し、このX線検出器で得られた被
検体の透過データから被検体の透過像を作成するX線透
視検査装置におけるX線管制御方法であって、 前記透過像上における1つの部分の明るさが予め定めた
目標値になり且つ許容される最大の管電流となる管電圧
の最適条件を推定し、 この推定された管電圧と管電流を前記X線制御部に繰り
返しフィードバックして管電圧と管電流を自動設定する
ことを特徴とするX線管制御方法。
3. An X-ray tube, an X-ray controller for controlling a tube voltage and a tube current of the X-ray tube, and an X-ray detector for detecting an X-ray transmitted through an object. A method for controlling an X-ray tube in an X-ray fluoroscopic inspection apparatus that creates a transmission image of a subject from transmission data of the subject obtained by a line detector, wherein the brightness of one portion on the transmission image is predetermined. The optimum condition of the tube voltage that becomes the target value and the maximum allowable tube current is estimated, and the estimated tube voltage and tube current are repeatedly fed back to the X-ray controller to obtain the tube voltage and tube current. An X-ray tube control method characterized by automatic setting.
【請求項4】 X線管と、被検体を透過したX線を検出
するX線検出器とを有し、このX線検出器で得られた被
検体の透過データから被検体の透過像を作成するX線透
視検査装置であって、 前記X線管の管電圧と管電流を制御するX線制御部と、 前記透過像上におけるの1つの部分の明るさT1が予め
定めた目標値T1aimになり且つ許容される最大の管
電流となる管電圧の最適条件を推定する最適条件推定手
段と、 推定された管電圧と管電流を前記X線制御部に繰り返し
フィードバックして管電圧と管電流を自動設定する設定
手段とを有することを特徴とするX線透視検査装置。
4. An X-ray tube and an X-ray detector for detecting X-rays transmitted through the subject, and a transmission image of the subject is obtained from transmission data of the subject obtained by the X-ray detector. An X-ray fluoroscopic inspection apparatus to be created, comprising: an X-ray control unit for controlling a tube voltage and a tube current of the X-ray tube; and a target value T1aim for which a brightness T1 of one portion on the transmission image is predetermined. And an optimum condition estimating means for estimating the optimum condition of the tube voltage that is the maximum allowable tube current, and the estimated tube voltage and tube current are repeatedly fed back to the X-ray control unit to make the tube voltage and the tube current. And a setting means for automatically setting the X-ray fluoroscopic inspection apparatus.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006105861A (en) * 2004-10-07 2006-04-20 Toshiba It & Control Systems Corp X-ray inspection apparatus and tube voltage/tube current regulation method therefor
JP2006242935A (en) * 2005-02-04 2006-09-14 Toshiba It & Control Systems Corp X-ray inspection device
KR20200018201A (en) 2018-08-10 2020-02-19 도시바 아이티 앤 콘트롤 시스템 가부시키가이샤 X-ray imaging apparatus

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