JP2003156393A - Method and instrument for measuring deformation luminous intensity - Google Patents

Method and instrument for measuring deformation luminous intensity

Info

Publication number
JP2003156393A
JP2003156393A JP2001354543A JP2001354543A JP2003156393A JP 2003156393 A JP2003156393 A JP 2003156393A JP 2001354543 A JP2001354543 A JP 2001354543A JP 2001354543 A JP2001354543 A JP 2001354543A JP 2003156393 A JP2003156393 A JP 2003156393A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
angle
light
incident
light receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001354543A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuhiro Yamaguchi
郁博 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Priority to JP2001354543A priority Critical patent/JP2003156393A/en
Publication of JP2003156393A publication Critical patent/JP2003156393A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a deformation luminous intensity measuring instrument that can measure deformation luminous intensities in three-dimensional directions, by fixing either the incident angles or light-receiving angles to a certain fixed angles. SOLUTION: A light-receiving unit 37 is rotated about a normal line (vertical axis) to the surface of a sample 24 by means of a pulse motor 31 and, in addition, is rotated in the forward and backward directions about around a prescribed horizontal axis in Fig. 1 by means of a pulse motor 34. A light source unit 29 is rotated in the forward and backward directions about the prescribed horizontal axis in Fig. 1 by means of a pulse motor 26. Rotation of the light source unit 29 about the vertical axis is substituted, by the rotation of the sample 24 about the normal line to the surface of the sample 24 by means of a pulse motor 22. Since the light source unit 29 and the light-receiving unit 37 are thus rotated and controlled separately, and as a result, this measuring instrument can measure the deformation luminous intensity by fixing either the incident angle or light-receiving angle to the certain fixed angle.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は変角光度測定方法
およびその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a goniophotometric measuring method and apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えばパールマイカ塗装やラスタータイ
ルでは、見る方向や光入射方向が変わると、色が変化し
て見える。このような物体の品質管理等のために、3次
元対応の変角光度測定装置を用いて、見る方向や光入射
方向の違いで変化する色を測定することが行われてい
る。
2. Description of the Related Art For example, in pearl mica coating or raster tile, the color appears to change when the viewing direction or the light incident direction changes. For such quality control of an object, a three-dimensional variable angle photometric device is used to measure a color that changes depending on a viewing direction or a light incident direction.

【0003】図10は従来のこのような変角光度測定装
置の一例の一部の平面図を示し、図11はその正面図を
示したものである。この変角光度測定装置は、試料台
1、光源ユニット2、受光ユニット3等を備えている。
試料台1は水平軸11(図12参照)を中心に、図10
において、紙面の垂直位置から水平面方向に回転可能に
構成され、その試料載置面には試料4が載置されてい
る。この場合、水平軸11に固定された試料台1は図示
しない試料台用パルスモータの駆動によって回転され
る。また、試料台1の試料載置面に載置された試料4の
表面つまり試料面12(図12参照)は、試料台1の回
転中心である水平軸11と交差するようになっている。
FIG. 10 is a plan view showing a part of an example of a conventional variable angle photometric device, and FIG. 11 is a front view thereof. This goniophotometric device includes a sample table 1, a light source unit 2, a light receiving unit 3, and the like.
The sample table 1 has a horizontal axis 11 (see FIG. 12) as a center, and FIG.
In the above, the sample 4 is mounted on the sample mounting surface so as to be rotatable in the horizontal plane direction from the vertical position on the paper surface. In this case, the sample stage 1 fixed to the horizontal shaft 11 is rotated by driving a sample stage pulse motor (not shown). The surface of the sample 4 mounted on the sample mounting surface of the sample table 1, that is, the sample surface 12 (see FIG. 12) intersects the horizontal axis 11 which is the rotation center of the sample table 1.

【0004】光源ユニット2は、試料台1の回転中心で
ある水平軸11を含む水平面13(図12参照)上にお
いて水平軸11の長さ方向中心部を中心とする第1の円
軌道5上に回転可能に配置されている。この場合、光源
ユニット2は図示しない光源ユニット用パルスモータの
駆動によって回転される。また、光源ユニット2から試
料4に向かって発せられた入射光線6は当該水平面13
を通る。
The light source unit 2 is on a first circular orbit 5 centered on the center of the horizontal axis 11 in the longitudinal direction on a horizontal plane 13 (see FIG. 12) including the horizontal axis 11 which is the center of rotation of the sample table 1. It is rotatably arranged. In this case, the light source unit 2 is rotated by driving a light source unit pulse motor (not shown). Further, the incident light beam 6 emitted from the light source unit 2 toward the sample 4 is the horizontal plane 13 concerned.
Pass through.

【0005】受光ユニット3は、試料台1の回転中心で
ある水平軸11を含む水平面13上において水平軸11
の長さ方向中心部を中心とする第2の円軌道7上に回転
可能に配置されている。この場合、受光ユニット3は図
示しない受光ユニット用パルスモータの駆動によって回
転される。また、試料4で反射されて受光ユニット3に
向かう受光光線8は当該水平面13を通る。
The light receiving unit 3 has a horizontal axis 11 on a horizontal plane 13 including the horizontal axis 11 which is the center of rotation of the sample table 1.
Is rotatably arranged on the second circular orbit 7 centered on the center portion in the longitudinal direction. In this case, the light receiving unit 3 is rotated by driving a pulse motor for the light receiving unit (not shown). The received light ray 8 reflected by the sample 4 and traveling toward the light receiving unit 3 passes through the horizontal plane 13.

【0006】ここで、図12に示すように、試料面12
が水平軸11を含む鉛直面14に対して反時計方向に角
度δ傾斜しているとする。そして、試料面12の法線
(以下、試料面法線という。)15と水平軸11を含む
水平面13(後述するδ=0°のときの試料面法線1
6)とのなす角を試料傾斜角(あおり角)δという。
Here, as shown in FIG.
Is inclined counterclockwise by an angle δ with respect to a vertical plane 14 including the horizontal axis 11. Then, a normal line 15 of the sample surface 12 (hereinafter referred to as a sample surface normal line) and a horizontal plane 13 including the horizontal axis 11 (sample surface normal line 1 when δ = 0 ° described later).
The angle formed by 6) is called the sample inclination angle (orbiting angle) δ.

【0007】また、試料面法線15と入射光線(入射光
軸)6とのなす角を入射角iという。試料面法線15と
受光光線(受光光軸)8とのなす角を受光角rという。
試料傾斜角δ=0°のときの試料面12(つまり鉛直面
14)の試料面法線16と入射光線6とのなす角を機械
的入射角i0という。試料傾斜角δ=0°のときの試料
面法線16と受光光線8とのなす角を機械的受光角r0
という。
The angle formed by the sample surface normal 15 and the incident light beam (incident optical axis) 6 is called the incident angle i. The angle formed by the sample surface normal 15 and the received light beam (reception optical axis) 8 is referred to as the light reception angle r.
The angle formed by the sample surface normal 16 of the sample surface 12 (that is, the vertical surface 14) and the incident light ray 6 when the sample inclination angle δ = 0 ° is called the mechanical incident angle i0. The angle formed by the sample surface normal 16 and the received light beam 8 when the sample tilt angle δ = 0 ° is defined as the mechanical light receiving angle r0.
Say.

【0008】そして、この変角光度測定装置における3
次元対応とは、試料面法線15が入射光線6と受光光線
8とを含む平面つまり水平面13上にないような入射受
光条件下での測定に対応することである。なお、この変
角光度測定装置では、2次元対応での測定を行うことも
できる。2次元対応での測定とは、試料傾斜角δ=0°
であって、そのときの試料面法線16が入射光線6と受
光光線8とを含む平面つまり水平面13上にあるような
入射受光条件下での測定のことである。
[0008] And, in this variable angle photometric device 3
The dimensional correspondence means that the measurement is performed under the incident light receiving condition such that the sample surface normal 15 is not on the plane including the incident light ray 6 and the received light ray 8, that is, the horizontal plane 13. It should be noted that this goniophotometer can also perform two-dimensional measurement. Two-dimensional measurement means sample tilt angle δ = 0 °
In this case, the measurement is performed under the incident / light receiving condition such that the sample surface normal 16 at that time is on the plane including the incident light ray 6 and the received light ray 8, that is, the horizontal plane 13.

【0009】次に、この変角光度測定装置を用いて、試
料4の見る方向の違いで変化する反射率特性を3次元対
応で測定する場合について説明する。まず、試料台1を
試料台用パルスモータの駆動により所望の試料傾斜角δ
に応じた位置に固定する。また、固定光源ユニット2を
光源ユニット用パルスモータの駆動により所望の機械的
入射角i0に応じた位置に固定する。そして、光源ユニ
ット2から発せられた入射光線6を試料4の試料面12
に対して入射角iで入射させる。
Next, a description will be given of a case where the reflectance characteristic which changes depending on the viewing direction of the sample 4 is measured three-dimensionally by using this goniophotometer. First, the sample stage 1 is driven to a desired sample tilt angle δ by driving the sample stage pulse motor.
Fix in the position according to. Further, the fixed light source unit 2 is fixed at a position corresponding to a desired mechanical incident angle i0 by driving the light source unit pulse motor. Then, the incident light beam 6 emitted from the light source unit 2 is applied to the sample surface 12 of the sample 4.
With an incident angle i.

【0010】次に、受光ユニット3を受光ユニット用パ
ルスモータの駆動により所望の角度範囲内においてある
角度ずつ回転させる。すると、受光ユニット3は、第2
の円軌道8上を所望の角度範囲内においてある角度ずつ
回転し、受光角rが変角する。そして、受光ユニット3
は、その各回転位置において試料4の試料面12で反射
された受光光線8を受光する。これにより、試料傾斜角
δにおける試料4の見る方向の違いで変化する反射率特
性が、全波長または波長毎に3次元対応で測定される。
Next, the light receiving unit 3 is rotated by a certain angle within a desired angle range by driving the pulse motor for the light receiving unit. Then, the light receiving unit 3 is
The circular orbit 8 is rotated by a certain angle within a desired angle range, and the light receiving angle r changes. And the light receiving unit 3
Receives the received light beam 8 reflected by the sample surface 12 of the sample 4 at each rotation position thereof. As a result, the reflectance characteristics that change depending on the viewing direction of the sample 4 at the sample tilt angle δ are measured at all wavelengths or in three-dimensional correspondence for each wavelength.

【0011】次に、試料4に対する光入射方向の違いで
変化する反射率特性を3次元対応で測定する場合につい
て説明する。まず、試料台1を試料台用パルスモータの
駆動により所望の試料傾斜角δに応じた位置に固定す
る。また、受光ユニット3を受光ユニット用パルスモー
タの駆動により所望の機械的受光角r0に応じた位置に
固定する。
Next, a case will be described in which the reflectance characteristics, which change depending on the direction of light incident on the sample 4, are measured in three dimensions. First, the sample stage 1 is fixed to a position corresponding to a desired sample inclination angle δ by driving a sample stage pulse motor. Further, the light receiving unit 3 is fixed at a position corresponding to a desired mechanical light receiving angle r0 by driving the light receiving unit pulse motor.

【0012】次に、光源ユニット2を発光させながら光
源ユニット用パルスモータの駆動により所望の角度範囲
内においてある角度ずつ回転させる。すると、光源ユニ
ット2は、第1の円軌道6上を所望の角度範囲内におい
てある角度ずつ回転し、入射角iが変角する。そして、
受光ユニット3は、光源ユニット2の各回転位置におい
て試料4の試料面12で反射された受光光線8を受光す
る。これにより、試料傾斜角δにおける試料4に対する
光入射方向の違いで変化する反射率特性が3次元対応で
測定される。
Next, while the light source unit 2 is emitting light, the light source unit pulse motor is driven to rotate the light source unit 2 by a certain angle within a desired angle range. Then, the light source unit 2 rotates on the first circular orbit 6 by a certain angle within a desired angle range, and the incident angle i changes. And
The light receiving unit 3 receives the received light beam 8 reflected by the sample surface 12 of the sample 4 at each rotation position of the light source unit 2. As a result, the reflectance characteristics that change due to the difference in the light incident direction on the sample 4 at the sample inclination angle δ are measured in a three-dimensional manner.

【0013】ところで、例えば反射型の液晶表示パネル
の視野角特性の評価では、図7に示すように、入射光線
30aの液晶表示パネル24の表示面に対する入射方向
をある一定の方向に固定し、液晶表示パネル24の表示
面の法線41を中心とする第1の逆円錐体42の外周傾
斜面に沿う方向に反射される受光光線38aの受光角を
変角する必要がある。
By the way, in the evaluation of the viewing angle characteristics of a reflection type liquid crystal display panel, for example, as shown in FIG. 7, the incident direction of the incident light ray 30a with respect to the display surface of the liquid crystal display panel 24 is fixed to a certain direction. It is necessary to change the light receiving angle of the received light beam 38a reflected in the direction along the outer peripheral inclined surface of the first inverted cone 42 centered on the normal 41 of the display surface of the liquid crystal display panel 24.

【0014】また、反射型の液晶表示パネルの光環境適
応特性(光源が様々な位置にあるときの反射特性)の評
価では、図8に示すように、受光光線38aの受光方向
をある一定の方向に固定し、液晶表示パネル24の表示
面の法線41を中心とする第2の逆円錐体43の外周傾
斜面に沿う方向から入射される入射光線30aの入射角
を変角する必要がある。
Further, in the evaluation of the light environment adaptation characteristics (reflection characteristics when the light source is at various positions) of the reflection type liquid crystal display panel, as shown in FIG. 8, the light receiving direction of the received light beam 38a is fixed. The angle of incidence of the incident light ray 30a incident from the direction along the outer peripheral inclined surface of the second inverted cone 43 centered on the normal 41 of the display surface of the liquid crystal display panel 24 needs to be changed. is there.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の変角光度測定装置では、試料傾斜角δを変化させる
と、入射角iおよび受光角rが共に変化するため、反射
型の液晶表示パネルに対する上記のような評価を行うこ
とができないという問題があった。この発明の課題は、
少なくとも入射角と受光角のいずれか一方をある一定の
角に固定して変角光度を測定することができるようにす
ることである。
However, in the above-mentioned conventional variable angle photometric device, when the sample tilt angle δ is changed, both the incident angle i and the light receiving angle r are changed. There is a problem that the above evaluation cannot be performed. The subject of this invention is
At least one of the incident angle and the light receiving angle is fixed to a certain angle so that the variable angle luminous intensity can be measured.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、試料の試料面法線を含む平面上において光源ユニッ
トの前記試料に対する入射極角または受光ユニットの前
記試料に対する受光極角を所定角度に設定するステップ
と、前記試料の試料面法線に垂直な平面上において前記
光源ユニット前記試料に対する入射方位角および前記受
光ユニットの前記試料に対する受光方位角をそれぞれ所
定角度に設定するステップとを含み、前記光源ユニット
と前記受光ユニットのいずれか一方を前記試料の試料面
法線に垂直な平面上において該試料面法線を中心とする
第1の円軌道上を回転させ、あるいは前記試料の試料面
法線を含む平面上において前記試料を中心とする第2の
円軌道上を回転させ、所定の回転位置において、前記光
源ユニットから発せられた入射光線が前記試料で反射さ
れ、その反射光からなる受光光線が前記受光ユニットで
受光されることを特徴とするものである。請求項2に記
載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記光源
ユニットと前記受光ユニットとのうちの他方を前記試料
の試料面法線に垂直な平面上において該試料面法線を中
心とする第3の円軌道上のある位置に固定することを特
徴とするものである。請求項3に記載の発明は、請求項
2に記載の発明において、前記光源ユニットを前記第3
の円軌道上のある位置に固定し、前記受光ユニットを前
記第1の円軌道上を回転させることを特徴とするもので
ある。請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の発明
において、前記受光ユニットを1回転させることを特徴
とするものである。請求項5に記載の発明は、請求項2
に記載の発明において、前記受光ユニットを前記第3の
円軌道上のある位置に固定し、前記光源ユニットを前記
第1の円軌道上を回転させることを特徴とするものであ
る。請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の発明に
おいて、前記光源ユニットを1回転させることを特徴と
するものである。請求項7に記載の発明は、請求項1に
記載の発明において、前記入射光線の入射極角θiおよ
び入射方位角φiと前記受光光線の受光極角θrおよび
受光方位角φrとのうちのいずれか1つだけを変角し、
残りの3つを固定することを特徴とするものである。請
求項8に記載の発明は、請求項1に記載の発明におい
て、前記入射光線の入射極角θiおよび入射方位角φi
と前記受光光線の受光極角θrおよび受光方位角φrと
のうちのいずれか1つまたは2つを固定し、残りの少な
くとも1つを変角することを特徴とするものである。請
求項9に記載の発明は、請求項1に記載の発明におい
て、前記試料をその試料面法線を中心にある角度ずつ回
転させ、前記入射光線の入射方位角φiと前記受光光線
入射方位角φrとをその差を一定に保ちながら変角する
ことを特徴とするものである。請求項10に記載の発明
は、試料が載置される試料台と、前記試料に向けて入射
光線を発する光源ユニッと、前記試料で反射された反射
光からなる受光光線を受光する受光ユニットとを備えた
変角光度測定装置であって、前記光源ユニットの入射光
線の入射極角θiと入射方位角φiおよび前記受光ユニ
ットの受光光線の受光極角θrと受光方位角φrをそれ
ぞれ別々に制御する手段を備えていることを特徴とする
ものである。請求項11に記載の発明は、請求項10に
記載の発明において、前記入射極角θiを制御する手段
は前記光源ユニットを前記試料の試料面の延長面上にお
いて前記試料の試料面法線に垂直な軸を中心に回転させ
る手段であり、前記入射方位角φiを制御する手段は前
記試料台を前記試料の試料面法線を中心に回転させる手
段であり、前記受光極角θrを制御する手段は前記受光
ユニットを前記試料の試料面の延長面上において前記試
料の試料面法線に垂直な軸を中心に回転させる手段であ
り、前記受光方位角φrを制御する手段は前記受光ユニ
ットを前記試料の試料面法線に垂直な平面上において該
試料面法線を中心に回転させる手段であることを特徴と
するものである。請求項12に記載の発明は、請求項1
0に記載の発明において、前記入射極角θiを制御する
手段は前記光源ユニットを前記試料の試料面の延長面上
において前記試料の試料面法線に垂直な軸を中心に回転
させる手段であり、前記入射方位角φiを制御する手段
は前記光源ユニットを前記試料の試料面法線に垂直な平
面上において該試料面法線を中心に回転させる手段であ
り、前記受光極角θrを制御する手段は前記受光ユニッ
トを前記試料の試料面の延長面上において前記試料の試
料面法線に垂直な軸を中心に回転させる手段であり、前
記受光方位角φrを制御する手段は前記試料台を前記試
料の試料面法線を中心に回転させる手段であることを特
徴とするものである。請求項13に記載の発明は、請求
項10に記載の発明において、前記入射極角θiを制御
する手段は前記光源ユニットを前記試料の試料面の延長
面上において前記試料の試料面法線に垂直な軸を中心に
回転させる手段であり、前記入射方位角φiを制御する
手段は前記光源ユニットを前記試料の試料面法線に垂直
な平面上において該試料面法線を中心に回転させる手段
であり、前記受光極角θrを制御する手段は前記受光ユ
ニットを前記試料の試料面の延長面上において前記試料
の試料面法線に垂直な軸を中心に回転させる手段であ
り、前記受光方位角φrを制御する手段は前記受光ユニ
ットを前記試料の試料面法線に垂直な平面上において該
試料面法線を中心に回転させる手段であることを特徴と
するものである。そして、この発明によれば、光源ユニ
ットの試料に対する入射極角と受光ユニットの試料に対
する受光極角とをそれぞれ別々に制御して異ならせるこ
とにより、光源ユニットと受光ユニットのいずれか一方
を試料に対してある位置に固定し、他方を試料を中心に
ある角度ずつ回転させることが可能となり、従って少な
くとも入射角と受光角のいずれか一方をある一定の角に
固定して変角光度を測定することができる。
According to a first aspect of the present invention, the incident polar angle of the light source unit with respect to the sample or the light receiving polar angle of the light receiving unit with respect to the sample is predetermined on a plane including the sample surface normal of the sample. An angle and a step of setting an incident azimuth angle to the light source unit the sample and a light receiving azimuth angle to the sample of the light receiving unit on a plane perpendicular to a sample plane normal of the sample, respectively. Including either the light source unit or the light receiving unit on a plane perpendicular to the sample plane normal line of the sample on a first circular orbit centered on the sample plane normal line, or Emit from the light source unit at a predetermined rotation position by rotating on a second circular orbit centered on the sample on a plane including the sample surface normal. The incident light is reflected by the sample, it is characterized in that the receiving light rays consisting of the reflected light is received by the light receiving unit. According to a second aspect of the present invention, in the invention according to the first aspect, the other of the light source unit and the light receiving unit is set on the plane perpendicular to the sample plane normal line of the sample, It is characterized in that it is fixed at a certain position on the third circular orbit around the center. According to a third aspect of the invention, in the invention of the second aspect, the light source unit is the third
It is fixed at a certain position on the circular orbit, and the light receiving unit is rotated on the first circular orbit. According to a fourth aspect of the invention, in the third aspect of the invention, the light receiving unit is rotated once. The invention described in claim 5 is the invention according to claim 2.
In the invention described in (4), the light receiving unit is fixed at a certain position on the third circular orbit, and the light source unit is rotated on the first circular orbit. According to a sixth aspect of the invention, in the invention according to the fifth aspect, the light source unit is rotated once. According to a seventh aspect of the present invention, in the invention according to the first aspect, any one of an incident polar angle θi and an incident azimuth angle φi of the incident light ray and a light receiving polar angle θr and a light receiving azimuth angle φr of the received light ray. Bend only one or
It is characterized by fixing the remaining three. The invention described in claim 8 is the same as the invention described in claim 1, wherein the incident polar angle θi and the incident azimuth angle φi of the incident light ray are included.
And one or two of the light receiving polar angle θr and the light receiving azimuth angle φr of the received light beam are fixed, and at least the remaining one is changed. According to a ninth aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the sample is rotated by a certain angle about the sample surface normal, and the incident azimuth angle φi of the incident light beam and the incident azimuth angle of the received light beam are It is characterized in that it changes the angle of φr while keeping the difference constant. According to a tenth aspect of the present invention, a sample table on which a sample is placed, a light source unit that emits an incident light beam toward the sample, and a light receiving unit that receives a received light beam that is a reflected light beam reflected by the sample. A variable angle photometric device comprising: a light source unit, wherein an incident polar angle θi of an incident light beam and an incident azimuth angle φi, and a light receiving polar angle θr and a light receiving azimuth angle φr of a received light beam of the light receiving unit are separately controlled. It is characterized in that it is provided with a means for doing. According to an eleventh aspect of the present invention, in the invention according to the tenth aspect, the means for controlling the incident polar angle θi is arranged such that the light source unit is aligned with a sample surface normal line of the sample on an extension surface of the sample surface of the sample. A means for rotating about a vertical axis, a means for controlling the incident azimuth angle φi is a means for rotating the sample stage about a sample surface normal of the sample, and controls the light receiving polar angle θr. The means is a means for rotating the light receiving unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the sample surface normal of the sample, and the means for controlling the light receiving azimuth angle φr is the light receiving unit. It is characterized in that it is means for rotating about the sample surface normal on a plane perpendicular to the sample surface normal of the sample. The invention described in claim 12 is claim 1
In the invention described in 0, the means for controlling the incident polar angle θi is means for rotating the light source unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to a normal to the sample surface of the sample. The means for controlling the incident azimuth angle φi is means for rotating the light source unit about a sample surface normal on a plane perpendicular to the sample surface normal of the sample, and controls the light receiving polar angle θr. The means is means for rotating the light receiving unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the sample surface normal of the sample, and the means for controlling the light receiving azimuth angle φr is It is a means for rotating the sample about the normal to the sample surface. According to a thirteenth aspect of the present invention, in the tenth aspect of the present invention, the means for controlling the incident polar angle θi sets the light source unit on the extension surface of the sample surface of the sample to the sample surface normal line of the sample. Means for rotating about a vertical axis, and means for controlling the incident azimuth angle φi is means for rotating the light source unit on a plane perpendicular to the sample plane normal line of the sample about the sample plane normal line. The means for controlling the light-receiving polar angle θr is means for rotating the light-receiving unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the normal to the sample surface of the sample. The means for controlling the angle φr is a means for rotating the light-receiving unit on a plane perpendicular to the sample surface normal of the sample about the sample surface normal. According to the present invention, the incident polar angle of the light source unit with respect to the sample and the light receiving polar angle of the light receiving unit with respect to the sample are separately controlled to be different from each other, so that either one of the light source unit and the light receiving unit is used as the sample. It is possible to fix the other position and rotate the other by a certain angle around the sample. Therefore, at least one of the incident angle and the light receiving angle is fixed to a certain angle to measure the variable angle luminous intensity. be able to.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】図1はこの発明の一実施形態とし
ての変角光度測定装置の要部の正面図を示し、図2はそ
の平面図を示したものである。この変角光度測定装置
は、図1において左右方向に延びて固定配置されたベー
ス板21を備えている。ベース板21の図1の右端部上
面には第1の入射角制御用パルスモータ22を介した試
料台23が配置されている。試料台23の上面には試料
24が載置されている。第1の入射角制御用パルスモー
タ22の中心軸は試料24の試料面法線の延長線上に配
置されている。
1 is a front view of a main part of a variable angle photometric device as one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view thereof. This goniophotometric device includes a base plate 21 that extends in the left-right direction in FIG. 1 and is fixedly arranged. On the upper surface of the right end portion of the base plate 21 in FIG. 1, a sample table 23 is arranged via a first incident angle controlling pulse motor 22. A sample 24 is placed on the upper surface of the sample table 23. The central axis of the first incident angle controlling pulse motor 22 is arranged on an extension of the normal to the sample surface of the sample 24.

【0018】ベース板21の図1の左端部には固定支柱
25の下端部が取り付けられている。固定支柱25の上
端部の試料台23と対向する側の面には第2の入射角制
御用パルスモータ26を介して可動支柱27の下端部が
取り付けられている。第2の入射角制御用パルスモータ
26の中心軸は、試料24の試料面の延長面上において
試料24の試料面法線に垂直となるように配置されてい
る。
The lower end of the fixed support column 25 is attached to the left end of the base plate 21 in FIG. The lower end of the movable support 27 is attached to the surface of the upper end of the fixed support 25 facing the sample table 23 via the second incident angle controlling pulse motor 26. The central axis of the second incident angle controlling pulse motor 26 is arranged so as to be perpendicular to the normal to the sample surface of the sample 24 on the extension surface of the sample surface of the sample 24.

【0019】可動支柱27の上端部には、水平で図1の
右方向に延びる固定アーム28の基端部が取り付けられ
ている。固定アーム28の先端部には光源ユニット29
が取り付けられている。光源ユニット29のランプ(図
示せず)の下面側の発光中心点30は、第2の入射角制
御用パルスモータ26が初期状態にあり、可動支柱27
が図1において前後方向に回転せずに鉛直な初期位置に
位置するとき、試料24の試料面法線の延長線上に位置
している。
A base end of a fixed arm 28 extending horizontally to the right in FIG. 1 is attached to the upper end of the movable column 27. A light source unit 29 is provided at the tip of the fixed arm 28.
Is attached. At the light emission center point 30 on the lower surface side of the lamp (not shown) of the light source unit 29, the second incident angle controlling pulse motor 26 is in the initial state, and the movable support 27
1 is located on the extension of the normal to the sample surface of the sample 24 when it is located at the vertical initial position without rotating in the front-back direction.

【0020】ベース板21の一端部下面には、第1の受
光角制御用パルスモータ31を介して、水平で図1の右
方向に延びる可動アーム32の基端部が取り付けられて
いる。第1の受光角制御用パルスモータ31の中心軸は
試料24の試料面法線の延長線上に配置されている。
A base end of a movable arm 32 extending horizontally to the right in FIG. 1 is attached to the lower surface of one end of the base plate 21 via a first light-receiving angle controlling pulse motor 31. The central axis of the first pulse motor 31 for controlling the light receiving angle is arranged on an extension of the normal to the sample surface of the sample 24.

【0021】可動アーム32の先端部には固定支柱33
の下端部が取り付けられている。固定支柱33の上端部
の試料台23と対向する側の面には、第2の受光角制御
用パルスモータ34を介して、可動支柱35の下端部が
取り付けられている。第2の受光角制御用パルスモータ
34の中心軸は、試料24の試料面の延長面上において
試料24の試料面法線に垂直となるように配置されてい
る。
At the tip of the movable arm 32, a fixed column 33 is attached.
The lower end of is attached. The lower end of the movable support column 35 is attached to the surface of the upper end of the fixed support column 33 on the side facing the sample table 23 via the second light-receiving-angle controlling pulse motor 34. The central axis of the second pulse motor 34 for controlling the light receiving angle is arranged so as to be perpendicular to the normal to the sample surface of the sample 24 on the extension surface of the sample surface of the sample 24.

【0022】可動支柱35の上端部には、水平で図1の
左方向に延びる上側の固定アーム36の基端部が取り付
けられている。固定アーム36の先端部には受光ユニッ
ト37が取り付けられている。受光ユニット37のダイ
オードアレイ(図示せず)の下面側の受光中心点38
は、第1および第2の受光角制御用パルスモータ31、
34が初期状態にあり、可動アーム32が図2において
時計方向および反時計方向に回転せずに右方向に延びる
初期位置に位置し、且つ、可動支柱35が図1において
前後方向に回転せずに鉛直な初期位置に位置するとき、
試料24の試料面法線の延長線上に位置している。
A base end of an upper fixed arm 36 that extends horizontally to the left in FIG. 1 is attached to the upper end of the movable column 35. A light receiving unit 37 is attached to the tip of the fixed arm 36. Light receiving center point 38 on the lower surface side of the diode array (not shown) of the light receiving unit 37
Is a pulse motor 31 for controlling the first and second light receiving angles,
34 is in the initial state, the movable arm 32 is located at the initial position extending in the right direction without rotating clockwise and counterclockwise in FIG. 2, and the movable column 35 does not rotate in the front-back direction in FIG. When located in the vertical initial position,
It is located on the extension of the normal to the sample surface of the sample 24.

【0023】なお、受光ユニット37系と光源ユニット
29系とは、それぞれ後述するように回転移動しても、
互いに衝突しないようになっている。すなわち、可動ア
ーム32、可動支柱35および固定アーム36は、それ
ぞれ対応する、ベース板21、可動支柱27および固定
アーム28よりも短くなっている。
Incidentally, even if the light receiving unit 37 system and the light source unit 29 system are rotationally moved respectively as described later,
They do not collide with each other. That is, the movable arm 32, the movable column 35, and the fixed arm 36 are shorter than the corresponding base plate 21, movable column 27, and fixed arm 28, respectively.

【0024】ここで、この変角光度測定装置の構成の要
点について説明する。受光ユニット37は、第1の受光
角制御用パルスモータ31の駆動により、試料24の試
料面法線(鉛直軸)を中心に回転され、且つ、第2の受
光角制御用パルスモータ34の駆動により、所定の水平
軸を中心に図1において前後方向に回転される。
Here, the essential points of the configuration of the goniophotometer will be described. The light-receiving unit 37 is rotated about the sample surface normal (vertical axis) of the sample 24 by driving the first light-receiving-angle controlling pulse motor 31, and the second light-receiving-angle controlling pulse motor 34 is driven. Thus, it is rotated in the front-back direction in FIG. 1 about a predetermined horizontal axis.

【0025】光源ユニット29は、第1の入射角制御用
パルスモータ26の駆動により、所定の水平軸を中心に
図1において前後方向に回転される。光源ユニット29
の鉛直軸を中心とする回転は、第2の入射角制御用パル
スモータ22の駆動により、試料24がその試料面法線
を中心に回転することにより、代行される。
The light source unit 29 is rotated in the front-rear direction in FIG. 1 about a predetermined horizontal axis by driving the first incident angle control pulse motor 26. Light source unit 29
The rotation about the vertical axis is performed by driving the second incident angle controlling pulse motor 22 so that the sample 24 rotates about the normal to the sample surface.

【0026】このように、受光ユニット37および光源
ユニット29を共に実質的に水平軸と鉛直軸の2軸を中
心に回転可能としているのは、3次元対応での測定に対
応するためである。
As described above, both the light receiving unit 37 and the light source unit 29 are substantially rotatable about the two axes of the horizontal axis and the vertical axis in order to correspond to the measurement in three dimensions.

【0027】次に、この変角光度測定装置の2次元対応
での測定動作について説明する。図1および図2に示す
状態では、試料面法線は、光源ユニット29から試料2
4に向かって発せられた入射光線30aおよび試料24
で反射されて受光ユニット37に受光される受光光線3
8aを含む平面上にあり、2次元対応での測定可能状態
にある。
Next, a two-dimensional measurement operation of this variable angle photometric device will be described. In the state shown in FIGS. 1 and 2, the sample surface normal is from the light source unit 29 to the sample 2
4 and the incident ray 30a emitted toward the sample 24
Receiving light beam 3 reflected by and received by the light receiving unit 37
It is on a plane including 8a and is in a measurable state in a two-dimensional correspondence.

【0028】そこで、入射角を固定する場合には、ま
ず、光源ユニット29を第2の入射角制御用パルスモー
タ26の駆動により図1において前方または後方に回転
させて所望の回転位置に固定する。そして、光源ユニッ
ト29から発せられた入射光線30aを試料24の試料
面に一定の方向から入射させる。
In order to fix the incident angle, first, the light source unit 29 is rotated forward or backward in FIG. 1 by driving the second incident angle controlling pulse motor 26 to fix it at a desired rotational position. . Then, the incident light beam 30 a emitted from the light source unit 29 is made incident on the sample surface of the sample 24 from a fixed direction.

【0029】次に、受光ユニット37を第2の受光角制
御用パルスモータ34の駆動により図1の前後方向の所
望の角度範囲内においてある角度ずつ回転させ、受光角
を変角する。すると、受光ユニット3は、その各回転位
置において試料24の上面で反射された受光光線38a
を受光する。これにより、試料24の見る方向の違いで
変化する反射率、屈折率、透過率等の光学特性が、全波
長または波長毎に2次元対応で測定される。
Next, the light receiving unit 37 is rotated by a certain angle within the desired angle range in the front-rear direction of FIG. 1 by driving the second light receiving angle controlling pulse motor 34 to change the light receiving angle. Then, the light receiving unit 3 receives the received light beam 38a reflected by the upper surface of the sample 24 at each rotational position.
To receive. As a result, optical characteristics such as reflectance, refractive index, and transmittance that change depending on the viewing direction of the sample 24 are measured at all wavelengths or two-dimensionally for each wavelength.

【0030】次に、受光角を固定する場合には、まず、
受光ユニット37を第2の受光角制御用パルスモータ3
4の駆動により図1において前方または後方に回転させ
て所望の回転位置に固定する。
Next, when fixing the light receiving angle, first,
The light receiving unit 37 is replaced with the second light receiving angle controlling pulse motor 3
4 is rotated forward or backward in FIG. 1 to be fixed at a desired rotational position.

【0031】次に、光源ユニット37を発光させながら
第2の入射角制御用パルスモータ26の駆動により図1
の前後方向の所望の角度範囲内においてある角度ずつ回
転させ、入射角を変角する。すると、受光ユニット37
は、光源ユニット29の各回転位置において試料24の
試料面で反射された受光光線38aを受光する。これに
より、試料4に対する光入射方向の違いで変化する反射
率、屈折率、透過率等の光学特性が、全波長または波長
毎に2次元対応で測定される。
Next, the second incident angle controlling pulse motor 26 is driven while the light source unit 37 is emitting light, as shown in FIG.
The angle of incidence is changed by rotating it by a certain angle within a desired angle range in the front-back direction. Then, the light receiving unit 37
Receives the received light beam 38a reflected by the sample surface of the sample 24 at each rotation position of the light source unit 29. As a result, optical characteristics such as reflectance, refractive index, and transmittance that change depending on the direction of light incident on the sample 4 are measured at all wavelengths or two-dimensionally for each wavelength.

【0032】次に、この変角光度測定装置の3次元対応
での測定動作ついて説明する。まず、受光ユニット37
を第1の受光角制御用パルスモータ31の駆動により例
えば図2において反時計方向に90°回転させる。この
状態を図3および図4に示す。次に、受光ユニット37
を第2の受光角制御用パルスモータ34の駆動により例
えば図4において時計方向にある角度回転させる。この
状態を図5および図6に示す。
Next, the measuring operation of the variable angle photometric device in three dimensions will be described. First, the light receiving unit 37
Is rotated 90 ° counterclockwise in FIG. 2, for example, by driving the first light receiving angle controlling pulse motor 31. This state is shown in FIGS. 3 and 4. Next, the light receiving unit 37
Is rotated by a certain angle, for example, clockwise in FIG. 4 by driving the second light receiving angle controlling pulse motor 34. This state is shown in FIGS.

【0033】次に、光源ユニット29を第2の入射角制
御用パルスモータ26の駆動により図5において前方ま
たは後方に回転させて所望の回転位置に固定する。この
状態では、試料面法線は、光源ユニット29から試料2
4に向かって発せられた入射光線30aおよび試料24
で反射されて受光ユニット37に受光される受光光線3
8aを含む平面上になく、3次元対応での測定可能状態
となる。
Next, the light source unit 29 is rotated forward or backward in FIG. 5 by driving the second incident angle controlling pulse motor 26, and is fixed at a desired rotational position. In this state, the normal to the sample surface is from the light source unit 29 to the sample 2
4 and the incident ray 30a emitted toward the sample 24
Receiving light beam 3 reflected by and received by the light receiving unit 37
It is not on the plane including 8a and is in a measurable state in three-dimensional correspondence.

【0034】そこで、入射角を固定する場合には、ま
ず、図7に示すように、所望の位置に固定された光源ユ
ニット29から発せられた入射光線30aを試料24の
試料面に一定の方向から入射させる。次に、受光ユニッ
ト37を第1の受光角制御用パルスモータ31の駆動に
より図6において時計方向または反時計方向にある角度
ずつ1回転させ、受光角を変角する。
Therefore, when fixing the incident angle, first, as shown in FIG. 7, the incident light beam 30a emitted from the light source unit 29 fixed at a desired position is directed in a fixed direction on the sample surface of the sample 24. Incident from. Next, the light receiving unit 37 is rotated by one angle in the clockwise direction or the counterclockwise direction in FIG. 6 by driving the first light receiving angle controlling pulse motor 31 to change the light receiving angle.

【0035】この場合、図7に示すように、受光ユニッ
ト37(の受光中心点38)は試料24の法線41を中
心とする第1の逆円錐体42の底面の外周円上をいずれ
かの方向にある角度ずつ1回転する。そして、受光ユニ
ット37は、その各回転位置において試料24の試料面
で反射された受光光線38aを受光する。これにより、
試料24の見る方向の違いで変化する反射率、屈折率、
透過率等の光学特性が、全波長または波長毎に3次元対
応で測定される。
In this case, as shown in FIG. 7, the light receiving unit 37 (the light receiving center point 38 thereof) is located on any one of the outer circumference circles of the bottom surface of the first inverted cone 42 centered on the normal line 41 of the sample 24. Rotate once every angle in the direction of. Then, the light receiving unit 37 receives the received light beam 38a reflected by the sample surface of the sample 24 at each rotation position. This allows
The reflectance, the refractive index, which changes depending on the viewing direction of the sample 24,
Optical characteristics such as transmittance are measured at all wavelengths or for each wavelength in a three-dimensional manner.

【0036】次に、受光角を固定する場合には、光源ユ
ニット37を発光させた状態で、試料24を第1の入射
角制御用パルスモータ22の駆動により図6において時
計方向または反時計方向にある角度ずつ1回転させる。
このことを換言すれば、図8に示すように、試料24を
固定したとすると、光源ユニット37(の発光中心点3
0)は試料24の法線41を中心とする第2の逆円錐体
43の底面の外周円上をいずれかの方向にある角度ずつ
1回転し、入射角を変角する。そして、所望の位置に固
定された受光ユニット37は、光源ユニット29の各回
転位置において試料24の試料面で反射された受光光線
38aを受光する。これにより、試料4に対する光入射
方向の違いで変化する反射率、屈折率、透過率等の光学
特性が、全波長または波長毎に3次元対応で測定され
る。
Next, when the light receiving angle is fixed, the sample 24 is driven in the clockwise or counterclockwise direction in FIG. 6 by driving the first incident angle controlling pulse motor 22 while the light source unit 37 is emitting light. Rotate one angle at a time.
In other words, if the sample 24 is fixed as shown in FIG.
In 0), the incident angle is changed by rotating the outer circumference circle of the bottom surface of the second inverted cone 43 centered on the normal line 41 of the sample 24 by one angle in any direction. Then, the light receiving unit 37 fixed at a desired position receives the received light beam 38a reflected by the sample surface of the sample 24 at each rotation position of the light source unit 29. As a result, optical characteristics such as reflectance, refractive index, and transmittance that change depending on the difference in the direction of light incident on the sample 4 are measured at all wavelengths or three-dimensionally for each wavelength.

【0037】ところで、試料24が反射型の液晶表示パ
ネルである場合には、図7に示す3次元対応の測定で
は、入射光線30aの液晶表示パネル24の表示面に対
する入射方向をある一定の方向に固定し、液晶表示パネ
ル24の表示面の法線41を中心とする第1の逆円錐体
42の外周傾斜面に沿う方向に反射される受光光線38
aの受光角を変角することができる。従って、反射型の
液晶表示パネル24の視野角特性の評価を行うことがで
きる。
By the way, when the sample 24 is a reflection type liquid crystal display panel, in the three-dimensional correspondence measurement shown in FIG. 7, the incident direction of the incident light ray 30a with respect to the display surface of the liquid crystal display panel 24 is a certain direction. The received light beam 38 that is fixed to and is reflected in a direction along the outer peripheral inclined surface of the first inverted cone 42 centered on the normal line 41 of the display surface of the liquid crystal display panel 24.
The light receiving angle of a can be changed. Therefore, the viewing angle characteristics of the reflective liquid crystal display panel 24 can be evaluated.

【0038】また、図8に示す3次元対応の測定では、
受光光線38aの受光方向をある一定の方向に固定し、
液晶表示パネル24の表示面の法線41を中心とする第
2の逆円錐体43の外周傾斜面に沿う方向から入射され
る入射光線30aの入射角を変角することができる。従
って、反射型の液晶表示パネル24の光環境適応特性
(光源が様々な位置にあるときの反射特性)の評価を行
うことができる。
In the three-dimensional correspondence measurement shown in FIG.
Fix the light receiving direction of the received light beam 38a in a certain direction,
The incident angle of the incident light ray 30a incident from the direction along the outer peripheral inclined surface of the second inverted cone 43 centering on the normal line 41 of the display surface of the liquid crystal display panel 24 can be changed. Therefore, it is possible to evaluate the light environment adaptation characteristics (reflection characteristics when the light source is located at various positions) of the reflective liquid crystal display panel 24.

【0039】なお、上記実施形態では、受光ユニット3
7はパルスモータ31の鉛直軸とパルスモータ34の水
平軸との2軸を中心に回転可能としている。一方、光源
ユニット29はパルスモータ26の水平軸の1軸のみを
中心に回転可能としているが、その鉛直軸を中心とする
回転は、試料24をパルスモータ22の鉛直軸を中心に
回転させることにより、代行している。
In the above embodiment, the light receiving unit 3
Reference numeral 7 is rotatable about two axes, a vertical axis of the pulse motor 31 and a horizontal axis of the pulse motor 34. On the other hand, the light source unit 29 is rotatable about only one horizontal axis of the pulse motor 26, but the rotation around the vertical axis is performed by rotating the sample 24 around the vertical axis of the pulse motor 22. Is acting on your behalf.

【0040】しかし、上記実施形態に限定されることな
く、例えば、図1において、試料台23下におけるベー
ス板21の配置位置と可動アーム32の配置位置とを逆
とし、すなわち、可動アーム32上にパルスモータ22
を介して試料台23を配置し、可動アーム32下にパル
スモータ31を介してベース板21を配置してもよい。
このようにした場合には、光源ユニット29は2軸を中
心に回転可能となり、受光ユニット37は1軸を中心に
回転可能となるが、受光ユニット37のもう1つの軸を
中心とする回転は、試料24をパルスモータ22の鉛直
軸を中心に回転させることにより、代行される。
However, without being limited to the above embodiment, for example, in FIG. 1, the arrangement position of the base plate 21 under the sample table 23 and the arrangement position of the movable arm 32 are reversed, that is, on the movable arm 32. Pulse motor 22
It is also possible to dispose the sample stand 23 via the base plate 21 and the base plate 21 below the movable arm 32 via the pulse motor 31.
In this case, the light source unit 29 can rotate about two axes and the light receiving unit 37 can rotate about one axis, but the light receiving unit 37 cannot rotate about the other axis. , The sample 24 is rotated by rotating the sample 24 around the vertical axis of the pulse motor 22.

【0041】また、図1において、試料台23を固定
し、ベース板21をパルスモータ22によって回転可能
とし、可動アーム32をパルスモータ31によって回転
可能としてもよい。このようにした場合には、光源ユニ
ット29は2軸を中心に回転可能となり、受光ユニット
37も2軸を中心に回転可能となる。
Further, in FIG. 1, the sample table 23 may be fixed, the base plate 21 may be rotatable by the pulse motor 22, and the movable arm 32 may be rotatable by the pulse motor 31. In this case, the light source unit 29 can rotate about two axes, and the light receiving unit 37 can also rotate about two axes.

【0042】ここで、試料24の試料面が水平であると
きの入射角および受光角について、液晶表示パネルの技
術分野で慣用されている角度座標系を使って説明する。
図9(A)、(B)に示すように、液晶表示パネル24
の表示面において、3時方向をX軸とし、12時方向を
Y軸とし、法線上方向をZ軸とする。
Here, the incident angle and the light receiving angle when the sample surface of the sample 24 is horizontal will be described using an angular coordinate system commonly used in the technical field of liquid crystal display panels.
As shown in FIGS. 9A and 9B, the liquid crystal display panel 24
On the display surface, the 3 o'clock direction is the X axis, the 12 o'clock direction is the Y axis, and the normal direction is the Z axis.

【0043】入射角および受光角はそれぞれ2種類の角
(極角θ、方位角φ)で表され、すなわち、Z軸との間
の極角θと、X軸から反時計方向への方位角φとで表さ
れる。この場合、入射角は添字iを用いて入射極角θ
i、入射方位角φiで表され、受光角は添字rを用いて
受光極角θr、受光方位角φrで表される。また、極角
θおよび方位角φの概念上の変域はそれぞれ0°≦θ≦
90°、0°≦φ≦360°である。
The incident angle and the light receiving angle are respectively represented by two kinds of angles (polar angle θ and azimuth angle φ), that is, the polar angle θ with the Z axis and the azimuth angle from the X axis to the counterclockwise direction. It is represented by φ and. In this case, the incident angle is represented by the incident polar angle θ using the subscript i.
i, the incident azimuth angle φi, and the light receiving angle is represented by the light receiving polar angle θr and the light receiving azimuth angle φr using the subscript r. Further, the conceptual variation of the polar angle θ and the azimuth angle φ is 0 ° ≦ θ ≦
90 ° and 0 ° ≦ φ ≦ 360 °.

【0044】そして、上記実施形態において、入射極角
θiの制御は、第2の入射角制御用パルスモータ26の
駆動により、可動支柱27および固定アーム28と共に
光源ユニット29が図1において前後方向に回転するこ
とにより行われる。入射方位角φiの制御は、第1の入
射角制御用パルスモータ22の駆動により、試料台23
と共に試料24が図2において時計方向または反時計方
向に回転することにより行われる。
In the above-described embodiment, the incident polar angle θi is controlled by driving the second incident angle control pulse motor 26 so that the light source unit 29 moves forward and backward in FIG. 1 together with the movable column 27 and the fixed arm 28. It is performed by rotating. The incident azimuth angle φi is controlled by driving the first incident angle control pulse motor 22.
At the same time, the sample 24 is rotated clockwise or counterclockwise in FIG.

【0045】受光極角θrの制御は、第2の受光角制御
用パルスモータ34の駆動により、可動支柱35および
固定アーム36と共に受光ユニット37が図1において
前後方向に回転することにより行われる。受光方位角φ
rの制御は、第1の受光角制御用パルスモータ31の駆
動により、可動アーム32、固定支柱33、第2の受光
角制御用パルスモータ34、可動支柱35および固定ア
ーム36と共に受光ユニット37が図2において時計方
向または反時計方向に回転することにより行われる。
The light-receiving polar angle θr is controlled by driving the second light-receiving angle controlling pulse motor 34 to rotate the light-receiving unit 37 together with the movable column 35 and the fixed arm 36 in the front-back direction in FIG. Light receiving azimuth φ
The control of r is performed by driving the first light receiving angle control pulse motor 31 so that the movable arm 32, the fixed support column 33, the second light receiving angle control pulse motor 34, the movable support column 35, and the fixed arm 36 are moved by the light receiving unit 37. It is performed by rotating clockwise or counterclockwise in FIG.

【0046】ところで、上記実施形態の変角光度測定装
置では、上記説明と重複する点もあるが、6つの変角モ
ードでの使用が可能である。第1の変角モードは、上記
4つの角度座標のうちの入射極角θrだけを変角して、
残りの3つの角(θi、φi、φr)を固定にする変角
モードである。
By the way, the goniophotometer of the above-mentioned embodiment can be used in six goniomodes, although there are some points that overlap with the above description. The first angle changing mode changes the angle of incidence polar angle θr among the above four angle coordinates,
This is a bending mode in which the remaining three angles (θi, φi, φr) are fixed.

【0047】この第1の変角モードの一例として、入射
極角θi=20°、入射方位角φi=90°、受光方位
角φr=270°として、受光極角θrを変角すると、
反射型の液晶表示パネルの視角特性の上下断面の評価を
行うことができる。この場合の受光極角θrの変角可能
範囲は10°〜77°である。
As an example of the first angle changing mode, when the incident polar angle θi = 20 °, the incident azimuth angle φi = 90 °, and the light receiving azimuth angle φr = 270 °, the light receiving polar angle θr is changed.
It is possible to evaluate the vertical cross section of the viewing angle characteristics of the reflective liquid crystal display panel. In this case, the variable range of the light receiving polar angle θr is 10 ° to 77 °.

【0048】また、上記第1の変角モードの他の例とし
て、入射極角θi=20°、入射方位角φi=90°、
受光方位角φr=0°として、受光極角θrを変角する
と、反射型の液晶表示パネルの視角特性の左右断面の評
価を行うことができる。この場合の受光極角θrの変角
可能範囲は10°〜77°である。
As another example of the first variable angle mode, the incident polar angle θi = 20 °, the incident azimuth angle φi = 90 °,
When the light receiving azimuth angle φr = 0 ° and the light receiving polar angle θr is changed, the left and right cross-sections of the viewing angle characteristics of the reflective liquid crystal display panel can be evaluated. In this case, the variable range of the light receiving polar angle θr is 10 ° to 77 °.

【0049】次に、第2の変角モードは、上記4つの角
度座標のうちの受光方位角φrだけを変角して、残りの
3つの角(θi、φi、θr)を固定にする変角モード
である。一例として、入射極角θi=20°、入射方位
角φi=90°、受光極角θr=45°として、受光方
位角φrを変角すると、反射型の液晶表示パネルの視野
角特性の逆円錐状断面の評価を行うことができる。この
場合の受光方位角φrの変角可能範囲は0°〜73°お
よび107°〜360°である。
Next, in the second variable angle mode, only the light receiving azimuth angle φr of the above four angular coordinates is changed, and the remaining three angles (θi, φi, θr) are fixed. It is a corner mode. As an example, when the incident light polar angle θi = 20 °, the incident azimuth angle φi = 90 °, the light receiving polar angle θr = 45 °, and the light receiving azimuth angle φr is changed, the inverse cone of the viewing angle characteristic of the reflective liquid crystal display panel is obtained. The cross section can be evaluated. In this case, the variable range of the light receiving azimuth angle φr is 0 ° to 73 ° and 107 ° to 360 °.

【0050】次に、第3の変角モードは、上記4つの角
度座標のうちの入射方位角φiだけを変角して、残りの
3つの角(θi、θr、φr)を固定にする変角モード
である。一例として、入射極角θi=20°、受光極角
θr=45°(入射方位角φrは定義されない。)とし
て、入射方位角φiを変角すると、JEITA EIA
J ED−2523「反射型液晶表示モジュール測定方
法」で規定された、全方位(リング)平行光照射方式
(構成B)をシミュレートすることができる。この場合
の入射方位角φiの変角可能範囲は0°〜360°であ
る。
Next, in the third variable angle mode, only the incident azimuth angle φi of the above four angular coordinates is changed and the remaining three angles (θi, θr, φr) are fixed. It is a corner mode. As an example, when the incident azimuth angle φi is changed with the incident polar angle θi = 20 ° and the light receiving polar angle θr = 45 ° (the incident azimuth angle φr is not defined), JEITA EIA
It is possible to simulate the omnidirectional (ring) parallel light irradiation method (configuration B) specified in JED-2523 “Reflective Liquid Crystal Display Module Measuring Method”. In this case, the variation range of the incident azimuth angle φi is 0 ° to 360 °.

【0051】次に、第4の変角モードは、上記4つの角
(θi、θr、φi、φr)の設定を任意に行うことが
できる変角モードである。この第4の変角モードの第1
の例として、受光極角θr=0°(受光方位角φrは定
義されない。)として、入射極角θiおよび入射方位角
φiを2次元的に変角すると、JEITA EIAJE
D−2523「反射型液晶表示モジュール測定方法」で
規定された、部分拡散照射方式(構成C)をシミュレー
トすることができる。この場合の入射極角θiの変角可
能範囲は0°〜45°、入射方位角φiの変角可能範囲
は0°〜360°である。
The fourth variable angle mode is a variable angle mode in which the above four angles (θi, θr, φi, φr) can be arbitrarily set. The first of this fourth bending mode
As an example, if the incident polar angle θi and the incident azimuth angle φi are two-dimensionally changed with the light receiving polar angle θr = 0 ° (the light receiving azimuth angle φr is not defined), JEITA EIAJE
It is possible to simulate the partial diffusion irradiation method (configuration C) defined in D-2523 “Measuring method for reflective liquid crystal display module”. In this case, the variable range of the incident polar angle θi is 0 ° to 45 °, and the variable range of the incident azimuth angle φi is 0 ° to 360 °.

【0052】上記第4の変角モードの第2の例として、
受光極角θr=0°(受光方位角φrは定義されな
い。)として、入射極角θiおよび入射方位角φiを2
次元的に変角すると、JEITA EIAJ ED−2
523「反射型液晶表示モジュール測定方法」で規定さ
れた、部分拡散照射方式(構成D)をシミュレートする
ことができる。この場合の入射極角θiの変角可能範囲
は0°〜77°、入射方位角φiの変角可能範囲は0°
〜360°である。
As a second example of the fourth variable angle mode,
With the light receiving polar angle θr = 0 ° (the light receiving azimuth angle φr is not defined), the incident polar angle θi and the incident azimuth angle φi are 2
If you change the dimension, JEITA EIAJ ED-2
It is possible to simulate the partial diffusion irradiation method (configuration D) defined in 523 “Measurement method for reflective liquid crystal display module”. In this case, the variable range of the incident polar angle θi is 0 ° to 77 °, and the variable range of the incident azimuth angle φi is 0 °.
˜360 °.

【0053】上記第4の変角モードの第3の例として、
受光極角θr=2°受光方位角φr=270°として、
入射極角θiおよび入射方位角φiを2次元的に変角す
ると、任意光環境での測定値(輝度、色度)をシミュレ
ートすることができる。この場合の入射極角θiの変角
可能範囲は0°〜77°、入射方位角φiの変角可能範
囲は0°〜253°および287°〜360°である。
As a third example of the fourth bending mode,
The light receiving polar angle θr = 2 ° and the light receiving azimuth angle φr = 270 °,
When the incident polar angle θi and the incident azimuth angle φi are two-dimensionally changed, measured values (luminance, chromaticity) in an arbitrary light environment can be simulated. In this case, the changeable range of the incident polar angle θi is 0 ° to 77 °, and the changeable range of the incident azimuth angle φi is 0 ° to 253 ° and 287 ° to 360 °.

【0054】次に、第5の変角モードは、上記4つの角
度座標のうちの入射極角θiだけを変角して、残りの3
つの角(θr、φi、φr)を固定にする変角モードで
ある。第6の変角モードは、試料24を試料面法線を中
心に回転させ、入射方位角φiと受光方位角φrとの差
を一定に保ちながら変角する変角モードである。
Next, in the fifth angle changing mode, only the incident polar angle θi of the above four angle coordinates is changed and the remaining three angles are set.
This is a variable angle mode in which one angle (θr, φi, φr) is fixed. The sixth angle changing mode is a angle changing mode in which the sample 24 is rotated about the normal to the sample surface and the angle is changed while keeping the difference between the incident azimuth angle φi and the light receiving azimuth angle φr constant.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、光源ユニットの試料に対する入射極角と受光ユニッ
トの試料に対する受光極角とをそれぞれ別々に制御して
異ならせることにより、光源ユニットと受光ユニットの
いずれか一方を試料に対してある位置に固定し、他方を
試料を中心にある角度ずつ回転させることが可能とな
り、従って少なくとも入射角と受光角のいずれか一方を
ある一定の角に固定して変角光度を測定することができ
る。
As described above, according to the present invention, the incident light polar angle of the light source unit with respect to the sample and the light receiving polar angle of the light receiving unit with respect to the sample are separately controlled to be different from each other. It is possible to fix one of the light receiving units at a certain position with respect to the sample and rotate the other at a certain angle around the sample, so at least one of the incident angle and the light receiving angle is set to a certain angle. It can be fixed and the goniophotometric value can be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施形態としての変角光度測定装
置の要部の正面図。
FIG. 1 is a front view of a main part of a variable angle photometric device as an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す変角光度測定装置の平面図。FIG. 2 is a plan view of the goniophotometer shown in FIG.

【図3】図1に示す変角光度測定装置の受光ユニット系
を水平面において所定の方向に90°回転させた状態の
正面図。
FIG. 3 is a front view showing a state in which the light receiving unit system of the goniophotometer shown in FIG. 1 is rotated 90 ° in a predetermined direction on a horizontal plane.

【図4】図3に示す変角光度測定装置の平面図。4 is a plan view of the goniophotometer shown in FIG.

【図5】図3に示す変角光度測定装置の受光ユニット系
の一部を鉛直面において所定の方向にある角度回転させ
た状態の正面図。
5 is a front view of a state in which a part of the light receiving unit system of the goniophotometric device shown in FIG. 3 is rotated by a certain angle in a vertical plane.

【図6】図5に示す変角光度測定装置の平面図。FIG. 6 is a plan view of the goniophotometer shown in FIG.

【図7】図5および図6に示す変角光度測定装置で光源
ユニットをある位置に固定して受光角を変角する場合を
説明するために示す斜視図。
7 is a perspective view shown for explaining a case where the light source unit is fixed at a certain position and the light receiving angle is changed in the variable angle photometric device shown in FIGS. 5 and 6. FIG.

【図8】図5および図6に示す変角光度測定装置で受光
ユニットをある位置に固定して入射角を変角する場合を
説明するために示す斜視図。
8 is a perspective view shown for explaining a case where a light receiving unit is fixed at a certain position to change an incident angle in the variable angle photometric device shown in FIGS. 5 and 6. FIG.

【図9】(A)、(B)はそれぞれ液晶表示パネルの技
術分野で慣用されている角度座標系を説明するために示
す図。
9A and 9B are views shown for explaining an angular coordinate system which is commonly used in the technical field of liquid crystal display panels.

【図10】従来の変角光度測定装置の一例の一部の平面
図。
FIG. 10 is a plan view of a part of an example of a conventional goniophotometer.

【図11】図10に示す変角光度測定装置の正面図。FIG. 11 is a front view of the goniophotometer shown in FIG.

【図12】図10および図11に示す変角光度測定装置
における試料傾斜角等の用語を説明するために示す斜視
図。
FIG. 12 is a perspective view shown for explaining terms such as a sample inclination angle in the variable angle photometric device shown in FIGS. 10 and 11.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

22 第1の入射角制御用パルスモータ 23 試料台 24 試料 26 第2の入射角制御用パルスモータ 29 光源ユニット 31 第1の受光角制御用パルスモータ 34 第2の受光角制御用パルスモータ 37 受光ユニット 22 First Pulse Motor for Incident Angle Control 23 sample table 24 samples 26 Second Pulse Motor for Incident Angle Control 29 Light source unit 31 First Pulse Angle Controlling Motor 34 Second Light-Reception-Angle Control Pulse Motor 37 Light receiving unit

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試料の試料面法線を含む平面上において
光源ユニットの前記試料に対する入射極角または受光ユ
ニットの前記試料に対する受光極角を所定角度に設定す
るステップと、前記試料の試料面法線に垂直な平面上に
おいて前記光源ユニット前記試料に対する入射方位角お
よび前記受光ユニットの前記試料に対する受光方位角を
それぞれ所定角度に設定するステップとを含み、前記光
源ユニットと前記受光ユニットのいずれか一方を前記試
料の試料面法線に垂直な平面上において該試料面法線を
中心とする第1の円軌道上を回転させ、あるいは前記試
料の試料面法線を含む平面上において前記試料を中心と
する第2の円軌道上を回転させ、所定の回転位置におい
て、前記光源ユニットから発せられた入射光線が前記試
料で反射され、その反射光からなる受光光線が前記受光
ユニットで受光されることを特徴とする変角光度測定方
法。
1. A step of setting an incident polar angle of a light source unit with respect to the sample or a light receiving polar angle of the light receiving unit with respect to the sample on a plane including a sample surface normal of the sample, and a sample plane method of the sample. A step of setting an incident azimuth angle of the light source unit to the sample and a light receiving azimuth angle of the light receiving unit to the sample on a plane perpendicular to a line, respectively, one of the light source unit and the light receiving unit. On a plane perpendicular to the sample plane normal of the sample on a first circular orbit centered on the sample plane normal, or centering the sample on a plane containing the sample plane normal of the sample And rotating on a second circular orbit, and at a predetermined rotation position, the incident light beam emitted from the light source unit is reflected by the sample, A variable-angle light intensity measuring method, wherein a light-receiving light beam including reflected light is received by the light-receiving unit.
【請求項2】 請求項1に記載の発明において、前記光
源ユニットと前記受光ユニットとのうちの他方を前記試
料の試料面法線に垂直な平面上において該試料面法線を
中心とする第3の円軌道上のある位置に固定することを
特徴とする変角光度測定方法。
2. The invention according to claim 1, wherein the other of the light source unit and the light receiving unit is centered on the sample surface normal line on a plane perpendicular to the sample surface normal line of the sample. A method for measuring goniophotometry, which is characterized in that it is fixed at a certain position on the circular orbit 3 of FIG.
【請求項3】 請求項2に記載の発明において、前記光
源ユニットを前記第3の円軌道上のある位置に固定し、
前記受光ユニットを前記第1の円軌道上を回転させるこ
とを特徴とする変角光度測定方法。
3. The invention according to claim 2, wherein the light source unit is fixed at a certain position on the third circular orbit,
A goniophotometric measuring method, characterized in that the light receiving unit is rotated on the first circular orbit.
【請求項4】 請求項3に記載の発明において、前記受
光ユニットを1回転させることを特徴とする変角光度測
定方法。
4. The variable-angle photometric method according to claim 3, wherein the light receiving unit is rotated once.
【請求項5】 請求項2に記載の発明において、前記受
光ユニットを前記第3の円軌道上のある位置に固定し、
前記光源ユニットを前記第1の円軌道上を回転させるこ
とを特徴とする変角光度測定方法。
5. The invention according to claim 2, wherein the light receiving unit is fixed at a position on the third circular orbit,
A variable angle photometric method characterized in that the light source unit is rotated on the first circular orbit.
【請求項6】 請求項5に記載の発明において、前記光
源ユニットを1回転させることを特徴とする変角光度測
定方法。
6. The variable angle photometric method according to claim 5, wherein the light source unit is rotated once.
【請求項7】 請求項1に記載の発明において、前記入
射光線の入射極角θiおよび入射方位角φiと前記受光
光線の受光極角θrおよび受光方位角φrとのうちのい
ずれか1つだけを変角し、残りの3つを固定することを
特徴とする変角光度測定方法。
7. The invention according to claim 1, wherein only one of an incident polar angle θi and an incident azimuth angle φi of the incident light ray and a light receiving polar angle θr and a light receiving azimuth angle φr of the received light ray. And the other three are fixed.
【請求項8】 請求項1に記載の発明において、前記入
射光線の入射極角θiおよび入射方位角φiと前記受光
光線の受光極角θrおよび受光方位角φrとのうちのい
ずれか1つまたは2つを固定し、残りの少なくとも1つ
を変角することを特徴とする変角光度測定方法。
8. The invention according to claim 1, wherein any one of an incident polar angle θi and an incident azimuth angle φi of the incident light beam and a light receiving polar angle θr and a light receiving azimuth angle φr of the received light beam, or A method for measuring goniophotometry, characterized in that two are fixed and at least one of the remaining is gonio.
【請求項9】 請求項1に記載の発明において、前記試
料をその試料面法線を中心にある角度ずつ回転させ、前
記入射光線の入射方位角φiと前記受光光線入射方位角
φrとをその差を一定に保ちながら変角することを特徴
とする変角光度測定方法。
9. The invention according to claim 1, wherein the sample is rotated by a certain angle about the sample surface normal, and the incident azimuth angle φi of the incident light beam and the incident azimuth angle φr of the received light beam are A gonio-photometric method characterized by diverting while maintaining a constant difference.
【請求項10】 試料が載置される試料台と、前記試料
に向けて入射光線を発する光源ユニッと、前記試料で反
射された反射光からなる受光光線を受光する受光ユニッ
トとを備えた変角光度測定装置であって、前記光源ユニ
ットの入射光線の入射極角θiと入射方位角φiおよび
前記受光ユニットの受光光線の受光極角θrと受光方位
角φrをそれぞれ別々に制御する手段を備えていること
を特徴とする変角光度測定装置。
10. A modification comprising: a sample table on which a sample is placed; a light source unit that emits an incident light beam toward the sample; and a light receiving unit that receives a received light beam composed of reflected light reflected by the sample. An angular luminosity measuring device, comprising means for separately controlling an incident polar angle θi and an incident azimuth angle φi of an incident light beam of the light source unit, and a light receiving polar angle θr and a light receiving azimuth angle φr of a received light beam of the light receiving unit. A variable angle photometric device characterized in that
【請求項11】 請求項10に記載の発明において、前
記入射極角θiを制御する手段は前記光源ユニットを前
記試料の試料面の延長面上において前記試料の試料面法
線に垂直な軸を中心に回転させる手段であり、前記入射
方位角φiを制御する手段は前記試料台を前記試料の試
料面法線を中心に回転させる手段であり、前記受光極角
θrを制御する手段は前記受光ユニットを前記試料の試
料面の延長面上において前記試料の試料面法線に垂直な
軸を中心に回転させる手段であり、前記受光方位角φr
を制御する手段は前記受光ユニットを前記試料の試料面
法線に垂直な平面上において該試料面法線を中心に回転
させる手段であることを特徴とする変角光度測定装置。
11. The invention according to claim 10, wherein the means for controlling the incident polar angle θi has the axis of the light source unit on the extension surface of the sample surface of the sample, the axis being perpendicular to the normal to the sample surface of the sample. A means for rotating the sample stage, a means for controlling the incident azimuth angle φi, a means for rotating the sample stage about a sample surface normal of the sample, and a means for controlling the light receiving polar angle θr. A unit for rotating the unit on an extension of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the normal to the sample surface of the sample, the light receiving azimuth angle φr
The means for controlling the light receiving unit is means for rotating the light receiving unit on a plane perpendicular to the sample surface normal line of the sample about the sample surface normal line, as a center.
【請求項12】 請求項10に記載の発明において、前
記入射極角θiを制御する手段は前記光源ユニットを前
記試料の試料面の延長面上において前記試料の試料面法
線に垂直な軸を中心に回転させる手段であり、前記入射
方位角φiを制御する手段は前記光源ユニットを前記試
料の試料面法線に垂直な平面上において該試料面法線を
中心に回転させる手段であり、前記受光極角θrを制御
する手段は前記受光ユニットを前記試料の試料面の延長
面上において前記試料の試料面法線に垂直な軸を中心に
回転させる手段であり、前記受光方位角φrを制御する
手段は前記試料台を前記試料の試料面法線を中心に回転
させる手段であることを特徴とする変角光度測定装置。
12. The invention according to claim 10, wherein the means for controlling the incident polar angle θi has an axis perpendicular to the sample surface normal of the sample on the extension surface of the sample surface of the light source unit. A means for rotating the light source unit on a plane perpendicular to the normal to the sample surface of the sample, and a means for controlling the incident azimuth angle φi. The means for controlling the light-receiving polar angle θr is a means for rotating the light-receiving unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the normal to the sample surface of the sample, and controls the light-receiving azimuth angle φr. The means for rotating is a means for rotating the sample stage around the sample surface normal of the sample as a center.
【請求項13】 請求項10に記載の発明において、前
記入射極角θiを制御する手段は前記光源ユニットを前
記試料の試料面の延長面上において前記試料の試料面法
線に垂直な軸を中心に回転させる手段であり、前記入射
方位角φiを制御する手段は前記光源ユニットを前記試
料の試料面法線に垂直な平面上において該試料面法線を
中心に回転させる手段であり、前記受光極角θrを制御
する手段は前記受光ユニットを前記試料の試料面の延長
面上において前記試料の試料面法線に垂直な軸を中心に
回転させる手段であり、前記受光方位角φrを制御する
手段は前記受光ユニットを前記試料の試料面法線に垂直
な平面上において該試料面法線を中心に回転させる手段
であることを特徴とする変角光度測定装置。
13. The invention according to claim 10, wherein the means for controlling the incident polar angle θi is arranged such that the light source unit has an axis perpendicular to the sample surface normal line of the sample on an extension surface of the sample surface of the sample. A means for rotating the light source unit on a plane perpendicular to the normal to the sample surface of the sample, and a means for controlling the incident azimuth angle φi. The means for controlling the light-receiving polar angle θr is a means for rotating the light-receiving unit on an extension surface of the sample surface of the sample about an axis perpendicular to the normal to the sample surface of the sample, and controls the light-receiving azimuth angle φr. The means for rotating the light receiving unit is a means for rotating the light receiving unit on a plane perpendicular to the normal to the sample surface of the sample about the normal to the sample surface as a center.
JP2001354543A 2001-11-20 2001-11-20 Method and instrument for measuring deformation luminous intensity Pending JP2003156393A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001354543A JP2003156393A (en) 2001-11-20 2001-11-20 Method and instrument for measuring deformation luminous intensity

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001354543A JP2003156393A (en) 2001-11-20 2001-11-20 Method and instrument for measuring deformation luminous intensity

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003156393A true JP2003156393A (en) 2003-05-30

Family

ID=19166389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001354543A Pending JP2003156393A (en) 2001-11-20 2001-11-20 Method and instrument for measuring deformation luminous intensity

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003156393A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006047310A (en) * 2004-07-30 2006-02-16 Patent Treuhand Ges Elektr Gluehlamp Mbh Goniophotometer
JP2008164628A (en) * 2004-07-28 2008-07-17 Byk Gardner Gmbh Device for goniometric examination of optical property of surface
JP2011505567A (en) * 2007-12-07 2011-02-24 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア Methods and apparatus for modeling and simulating the optical properties of special effect paints and determining the illumination and measurement geometry of spectrocolorimeters

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008164628A (en) * 2004-07-28 2008-07-17 Byk Gardner Gmbh Device for goniometric examination of optical property of surface
JP2006047310A (en) * 2004-07-30 2006-02-16 Patent Treuhand Ges Elektr Gluehlamp Mbh Goniophotometer
JP2011505567A (en) * 2007-12-07 2011-02-24 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア Methods and apparatus for modeling and simulating the optical properties of special effect paints and determining the illumination and measurement geometry of spectrocolorimeters

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106104204B (en) Distance measuring instrument with scanning function
US6539638B1 (en) Line projecting device
US20050105076A1 (en) Three-dimensional location measurement sensor
CA2467624A1 (en) Procedure and appliance for touch-free examinations of objects, especially regarding their surface character
US20060001760A1 (en) Apparatus and method for object shape detection
WO1995014247A1 (en) Three-dimensional display techniques, devices, systems and methods of presenting data in a volumetric format
JP4832187B2 (en) High-speed polarizing device, high-speed birefringence measuring device using the same, and stereoscopic image display device
RU2007108944A (en) VISUAL DISPLAY DEVICE
KR20200143049A (en) Lidar optical apparatus
JP2003156393A (en) Method and instrument for measuring deformation luminous intensity
KR20020044574A (en) Device for measuring spatial distribution of the spectral emission of an object
WO2017130944A1 (en) Optical scanner
JPS581120A (en) Telecentric beam generator and measurement of dimensions and position of object
JP5120597B2 (en) Color measuring device
JP2005121386A5 (en)
JP4293484B2 (en) Light reflector for surveying instrument
JPH07227342A (en) Light display device
US7040031B2 (en) Level device
JP2003247888A (en) Luminous intensity distribution measuring apparatus
KR20220013689A (en) Lens shape measuring device using multiple retroreflective materials with different luminance and measurement method thereof
JP2572120Y2 (en) Tilt measuring device
JP3683964B2 (en) Laser surveying equipment
JP2009042590A (en) Optical axis adjustment device and automatic optical axis adjustment system
CA2364810C (en) Line projecting device
JP2800580B2 (en) Full-calibration system for visible and infrared radiometers

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040525

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040608

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040803

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040907

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041108

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20041117

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20050210