JP2003133589A - GaN BASED SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DIODE - Google Patents

GaN BASED SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DIODE

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JP2003133589A
JP2003133589A JP2001324858A JP2001324858A JP2003133589A JP 2003133589 A JP2003133589 A JP 2003133589A JP 2001324858 A JP2001324858 A JP 2001324858A JP 2001324858 A JP2001324858 A JP 2001324858A JP 2003133589 A JP2003133589 A JP 2003133589A
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Japan
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electrode
subdivided
light
gan
light emitting
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JP2001324858A
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Japanese (ja)
Inventor
Takashi Tsunekawa
高志 常川
Kazuyuki Tadatomo
一行 只友
Hiroaki Okagawa
広明 岡川
Yoichiro Ouchi
洋一郎 大内
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Mitsubishi Cable Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Cable Industries Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a GaN based LED provided with an upper electrode capable of passing more light to the outside than a conventional upper electrode. SOLUTION: The upper electrode P2 is subdivided and formed so as to be provided with light transmissivity. At a subdivided part P22, the electrode is subdivided so as to present a net shape or a branched shape and turned to a part spread on the top surface 4a of an element structure and the top surface is exposed between the subdivided electrodes. As for the degree of subdivision, when the division is performed in a matrix shape with a square whose one side is 50 μm as a constitution unit, an electrode part and an exposed part are similarly present within each constituting unit and it is preferable that the ratio of an area of the electrode part occupying in each constitution unit is 30%-80%.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、GaN系半導体発
光ダイオード(以下、「GaN系LED」ともいう)に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a GaN-based semiconductor light emitting diode (hereinafter, also referred to as "GaN-based LED").

【0002】[0002]

【従来の技術】GaN系LEDは、GaN系半導体から
なる発光層を少なくとも有し、該発光層の組成によって
は青色〜紫外域に至る短波長の光をも発することが可能
な発光ダイオードである。ここでいうGaN系半導体と
は、InXGaYAlZN(0≦X≦1、0≦Y≦1、0
≦Z≦1、X+Y+Z=1)で示される化合物半導体で
ある。
2. Description of the Related Art A GaN-based LED is a light-emitting diode having at least a light-emitting layer made of a GaN-based semiconductor and capable of emitting light having a short wavelength ranging from blue to ultraviolet depending on the composition of the light-emitting layer. . The GaN-based semiconductor here means In X Ga Y Al Z N (0 ≦ X ≦ 1, 0 ≦ Y ≦ 1, 0
≦ Z ≦ 1, X + Y + Z = 1).

【0003】GaN系LEDの簡単な素子構造として
は、図4(b)に示すように、結晶基板21上に、Ga
N系結晶層(n型GaNコンタクト層22、In1-x
xN(0<x≦1)発光層23、p型GaNコンタク
ト層24)が順次結晶成長によって積み重ねられ、これ
に下部電極(通常はn型電極)25、上部電極(通常は
p型電極)26が設けられた構造が例示される。ここで
は、結晶基板を下にして実装がされ、光が上方に出て行
くとして説明する。
As a simple element structure of a GaN-based LED, as shown in FIG.
N-based crystal layer (n-type GaN contact layer 22, In 1-x G
An a x N (0 <x ≦ 1) light emitting layer 23 and a p-type GaN contact layer 24 are sequentially stacked by crystal growth, and a lower electrode (usually an n-type electrode) 25 and an upper electrode (usually a p-type electrode) are stacked thereon. ) 26 is provided as an example. Here, it is assumed that the crystal substrate is mounted so that the light is emitted upward.

【0004】上部電極26は、積層構造の最上面に設け
られ、発光層23の上方に位置するために、発光層から
上方へ発せられた光にとっては障害物となる。特に、G
aN系材料の場合、電流拡散がし難く、電極直下でしか
発光しないため、上部電極が発光の障害物になるという
問題は、他の材料系のLEDより顕著である。また、上
部電極の面積が小さ過ぎると、発光エリアが縮小し輝度
が低くなる。
Since the upper electrode 26 is provided on the uppermost surface of the laminated structure and is located above the light emitting layer 23, it becomes an obstacle to the light emitted upward from the light emitting layer. In particular, G
In the case of an aN-based material, current diffusion is difficult and light is emitted only directly under the electrode, so that the problem that the upper electrode becomes an obstacle for light emission is more remarkable than that of LEDs of other material systems. Further, if the area of the upper electrode is too small, the light emitting area is reduced and the brightness is lowered.

【0005】これらの問題に対応し得る上部電極の態様
として、図4(a)に示すように、積層構造の最上面全
体を覆うように透明電極26aを設ける態様が知られて
いる。この態様は、発光層に対して広範囲に電流を供給
し発光させ、透明電極によって、光を遮ることなく外界
へ出そうとするものである。
As a mode of the upper electrode which can cope with these problems, a mode is known in which a transparent electrode 26a is provided so as to cover the entire top surface of the laminated structure as shown in FIG. 4 (a). In this mode, an electric current is supplied to the light emitting layer in a wide range to cause light to be emitted, and the transparent electrode tries to output the light to the outside without blocking it.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者等が上記従来の上部電極の態様を検討したところ、い
ずれも電流密度や上部電極を通過し得る光の量に関して
は最適化が考慮されておらず、さらなる改善の余地があ
ることがわかった。
However, when the inventors of the present invention examined the above-mentioned conventional upper electrode mode, optimization was considered in both cases regarding the current density and the amount of light that can pass through the upper electrode. No, there was room for further improvement.

【0007】本発明の課題は、上記問題を解決し、従来
の上部電極よりも、光をより多く外界へ通過させ得る上
部電極を備えたGaN系LEDを提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a GaN-based LED having an upper electrode which allows more light to pass to the outside than the conventional upper electrode.

【0008】本発明は以下の特徴を有するものである。 (1)GaN系半導体からなる発光層を含む積層構造を
有する発光ダイオードであって、前記積層構造の最上面
には、当該発光ダイオードに設けられるp型、n型の両
電極のうちの一方が上部電極として設けられており、該
上部電極は細分化部分を有し、該細分化部分は、電極が
網状または分岐状を呈するように細分化されて前記最上
面に広がる部分であって、細分化された電極間には該最
上面が露出しており、該細分化部分の電極が、発光層か
ら発せられた光に対して透光性を有するように形成され
ていることを特徴とするGaN系半導体発光ダイオー
ド。
The present invention has the following features. (1) A light emitting diode having a laminated structure including a light emitting layer made of a GaN-based semiconductor, wherein one of both p-type and n-type electrodes provided on the light emitting diode is provided on the uppermost surface of the laminated structure. The upper electrode is provided as an upper electrode, and the upper electrode has a subdivided portion, and the subdivided portion is a portion that is subdivided and spreads on the uppermost surface so that the electrode has a mesh shape or a branched shape. The uppermost surface is exposed between the patterned electrodes, and the electrode of the subdivided portion is formed to have a light-transmitting property with respect to light emitted from the light-emitting layer. GaN-based semiconductor light emitting diode.

【0009】(2)電極部分と、最上面の露出部分とか
らなる細分化部分の面積が、最上面全体の30%〜80
%を占有しており、該細分化部分は、これを最上面に沿
って一辺50μmの正方形を構成単位として行列状に区
分したとき、各構成単位同士が互いに同様の比率にて電
極部分と露出部分を有するように、かつ、各構成単位に
占める電極部分の面積の割合が20%〜80%であるよ
うに、細分化された電極を有するものである、上記
(1)記載のGaN系半導体発光ダイオード。
(2) The area of the subdivided portion consisting of the electrode portion and the exposed portion of the uppermost surface is 30% to 80% of the entire uppermost surface.
%, The subdivided portion is exposed in the same proportion as the electrode portion and the electrode portion when the subdivided portions are divided into a matrix along the uppermost surface with a square having a side of 50 μm as the constitutional unit. The GaN-based semiconductor according to (1) above, which has subdivided electrodes so as to have a portion and the area ratio of the electrode portion to each constituent unit is 20% to 80%. Light emitting diode.

【0010】(3)上記構成単位同士が、互いに同様の
配置パターンにて電極部分と露出部分とを有するもので
ある、上記(2)記載のGaN系半導体発光ダイオー
ド。
(3) The GaN-based semiconductor light-emitting diode according to the above (2), wherein the constituent units have an electrode portion and an exposed portion in the same arrangement pattern as each other.

【0011】(4)細分化部分が、幅1μm〜10μm
の帯状の電極部分と、幅1μm〜40μmの帯状に露出
した最上面とが交互に配置された部分を有するものであ
る、上記(1)〜(3)のいずれかに記載のGaN系半
導体発光ダイオード。
(4) The subdivided portion has a width of 1 μm to 10 μm
The GaN-based semiconductor light emission according to any one of (1) to (3) above, which has a portion in which strip-shaped electrode portions of 1) and strip-shaped exposed uppermost surfaces having a width of 1 μm to 40 μm are alternately arranged. diode.

【0012】(5)発光層から発せられた光に対する上
記細分化部分の電極の透光性が、20%〜80%の透過
率である、上記(1)記載のGaN系半導体発光ダイオ
ード。
(5) The GaN-based semiconductor light-emitting diode as described in (1) above, wherein the electrode of the subdivided portion has a light transmittance of 20% to 80% with respect to the light emitted from the light emitting layer.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、簡単な素子構造を例として
挙げ、本発明を具体的に説明する。以下の説明では、上
部電極をp型電極とし、絶縁性の基板を用いた構造(両
電極が共に上面側に設けられる構造)について説明する
が、素子構造はこれらに限定されず、伝導型の上下は逆
であってもよく、また、SiC基板やGaN基板など導
電性を有する結晶基板を用いた、どのような素子構造で
あってもよい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be specifically described below by taking a simple device structure as an example. In the following description, a structure in which the upper electrode is a p-type electrode and an insulating substrate is used (a structure in which both electrodes are provided on the upper surface side) will be described, but the element structure is not limited to these, and a conductive type The top and bottom may be reversed, and any element structure using a crystal substrate having conductivity such as a SiC substrate or a GaN substrate may be used.

【0014】本発明によるGaN系LEDは、図1
(b)に示すように、GaN系半導体からなる発光層を
含むべく、サファイア基板1上に、AlaGa1-aN(0
≦a≦1)低温成長バッファ層1bを介して、n型Al
bGa1-bN(0<b≦1)コンタクト層2、In1-x
xN(0<x≦1)発光層3、p型AlcGa1-c
(0<c≦1)コンタクト層4が順次結晶成長によって
積み重ねられて積層構造となっている。該積層構造は局
所的に除去されて、n型AlbGa1-bNコンタクト層2
が一部露出しており、その露出部分に下部電極(n型電
極)P1が形成され、積層構造の最上面4aには上部電
極(p型電極)P2が設けられている。
The GaN-based LED according to the present invention is shown in FIG.
As shown in (b), Al a Ga 1 -a N (0) is formed on the sapphire substrate 1 so as to include a light emitting layer made of a GaN-based semiconductor.
≦ a ≦ 1) n-type Al via the low temperature growth buffer layer 1b
b Ga 1-b N (0 <b ≦ 1) contact layer 2, In 1-x G
a x N (0 <x ≦ 1) light emitting layer 3, p-type Al c Ga 1-c N
(0 <c ≦ 1) The contact layers 4 are sequentially stacked by crystal growth to form a laminated structure. The laminated structure is locally removed to form the n-type Al b Ga 1-b N contact layer 2
Is partially exposed, a lower electrode (n-type electrode) P1 is formed on the exposed portion, and an upper electrode (p-type electrode) P2 is provided on the uppermost surface 4a of the laminated structure.

【0015】上部電極6は、図1(a)に示すように、
外部と接続するためのボンディング用端子P21と、そ
こから最上面全体に広がる細分化部分P22とを有す
る。細分化部分P22では、電極が網状または分岐状を
呈するように細分化されて、最上面4a全体に広がって
おり、電極材料が最上面を覆っている電極部分(図1
(a)では、P23やP25)と、その間に最上面が露
出している露出部分P24とが、互いに隣り合って組み
合わされた配置パターンとなっている。そして、該電極
部分P23、P25は、発光層から発せられた光に対し
て透光性を有するよう形成されている。上記構成とする
ことによって、最上面を透明電極でべったりと覆う態様
と比べて、同じ電力の投入であっても、より高い出力の
光を取り出すことができる。
The upper electrode 6 is, as shown in FIG.
It has a bonding terminal P21 for connecting to the outside and a subdivided portion P22 extending from there to the entire uppermost surface. In the subdivided portion P22, the electrode is subdivided so as to have a mesh shape or a branched shape and spreads over the entire uppermost surface 4a, and the electrode portion where the electrode material covers the uppermost surface (FIG. 1).
In (a), P23 and P25) and the exposed portion P24 with the uppermost surface exposed therebetween are arranged adjacent to each other in an arrangement pattern. The electrode portions P23 and P25 are formed to have a light-transmitting property with respect to the light emitted from the light emitting layer. With the above structure, compared to the case where the uppermost surface is covered with the transparent electrode, the light of higher output can be extracted even when the same electric power is applied.

【0016】上記したように、GaN系LEDでは、G
aAs系などの他の材料系のLEDとは異なり、上部電
極から発光層に向かう電流は拡散し難い。そのために、
発光層では上部電極材料が存在する部分の直下に対応す
る部分が集中的に発光する。透明電極でべったりと覆わ
れている態様では、発光層全面が発光可能であるが、そ
の反面、高い電流密度が得られず、また、透明電極の透
過率が100%でないために、発光層から上方に向かう
光を十分に外界に出すことはできない。
As described above, in the GaN-based LED, G
Unlike LEDs made of other materials such as aAs, it is difficult for the current flowing from the upper electrode to the light emitting layer to diffuse. for that reason,
In the light emitting layer, a portion corresponding to immediately below the portion where the upper electrode material is present emits light intensively. In the mode where the transparent electrode is covered with the light-emitting layer, the entire surface of the light-emitting layer can emit light, but on the other hand, a high current density cannot be obtained, and the transmittance of the transparent electrode is not 100%. It is not possible to emit enough upward light to the outside world.

【0017】一方、上部電極の態様の1つとして、電極
材料を櫛形を呈するパターンに形成した、所謂「クシ形
電極」がある。クシ形電極は、従来では、もっぱら受光
素子の分野において受光対象光を素子内に入射させるた
めに用いられており、電極部分は不透明である。そのよ
うな不透明なクシ形電極をGaN系発光素子に単に応用
した場合、上記したように電流が微量しか拡散しないと
いうGaN系材料特有の性質のために、電極のほぼ直下
でしか発光せず、電極部分が上方に向かう発光を遮ると
いう問題が生じる。
On the other hand, one of the modes of the upper electrode is a so-called "comb-shaped electrode" in which the electrode material is formed in a comb-shaped pattern. Conventionally, the comb-shaped electrode has been used exclusively in the field of light-receiving elements to cause light to be received to enter the element, and the electrode portion is opaque. When such an opaque comb-shaped electrode is simply applied to a GaN-based light-emitting device, it emits light only just under the electrode due to the unique property of the GaN-based material that only a small amount of current diffuses as described above. There arises a problem that the electrode portion blocks light emitted upward.

【0018】これに対して本発明では上部電極をクシ形
電極のように細分化した電極パターンとし、さらに、そ
の細分化した電極自体に光透過性を持たせている。これ
によって、先ず、電極直下において集中的に強い発光を
生じさせながらも、図1(b)に示すように、発光部分
から直上に向かう光L2は、電極を透過し外界に出て行
くことができ、ロス分が減少する。次に、たとえ微量で
あっても電流が拡散するために、発光部分は、くし型電
極の直下のみならず、該直下部分から微小だけ周囲にハ
ミ出している。該ハミ出し部分は、個々には微小である
が、電極パターンがくし型を呈するように細長く延伸さ
れたパターンであるために、パターン全体でのハミ出し
部分の総計は、発光強度の増加に寄与し得る量となる。
即ち、くし型電極と同じ面積の電極を1箇所に集中させ
た場合と比べて、発光する部分の総面積が広いというメ
リットが得られる。これらの作用効果によって、従来の
電極と比べて、同じ電力の投入であっても、より高い出
力の光を取り出すことができるのである。
On the other hand, in the present invention, the upper electrode is made into a subdivided electrode pattern like a comb-shaped electrode, and the subdivided electrode itself is provided with light transmittance. As a result, first, as shown in FIG. 1B, the light L2 traveling directly upward from the light emitting portion can pass through the electrode and go out to the outside while generating intense light emission directly under the electrode. Yes, the loss is reduced. Next, since the current diffuses even if the amount is very small, the light emitting portion is not only directly below the comb-shaped electrode, but is slightly protruded from the portion directly below the comb-shaped electrode to the surroundings. Although each of the protruding portions is minute, since the electrode pattern is a pattern elongated and elongated so as to exhibit a comb shape, the total amount of the protruding portions in the entire pattern contributes to an increase in emission intensity. You will get the amount.
That is, compared with the case where the electrodes having the same area as the comb-shaped electrode are concentrated in one place, there is an advantage that the total area of the light emitting portion is large. Due to these actions and effects, it is possible to extract light with a higher output than the conventional electrode even when the same electric power is applied.

【0019】最上面には、ボンディング用端子が占有す
る領域と、細分化部分(電極部分+露出部分)の領域の
ほかに、図1(a)に示すように、最上面の外周縁に、
微小幅の加工シロ4bが露出部分として存在する場合が
ある。以下の説明では、これらボンディング用端子の領
域や、外周縁の加工シロを除いた、細分化部分だけの領
域について説明する。
On the uppermost surface, in addition to the area occupied by the bonding terminals and the area of the subdivided portion (electrode portion + exposed portion), as shown in FIG. 1A, on the outer peripheral edge of the uppermost surface,
There is a case where the processing width 4b having a minute width is present as an exposed portion. In the following description, the area of these bonding terminals and the area of only the subdivided portion excluding the processing white on the outer peripheral edge will be described.

【0020】細分化部分の電極パターンは、電極が網状
または分岐状を呈するように最上面に広がっており、電
極部分と露出部分とが隣り合い組み合わされた状態であ
ればよく、パターンは、規則的、不規則的、またはこれ
らが混在するものが挙げられ、露出部分のパターンは、
直線的、曲線的、ドット状などとなる。
The electrode pattern of the subdivided portion may be in a state in which the electrode is spread on the uppermost surface so as to have a mesh shape or a branched shape, and the electrode portion and the exposed portion are adjacently combined with each other. , Irregular, or a mixture of these.
It can be linear, curved, or dot-shaped.

【0021】代表的な電極パターンを次に例示する。た
だし、上記のとおり電極パターンは無数に存在し、これ
ら例示に限定されるものではない。図1(a)の例はク
シ形パターンであって、クシの背の部分P25を幹線と
して、そこから帯状の電極P23が分岐しストライプ状
となっている。図2(a)の例は格子状パターンであっ
て、電極が網状を呈している。図2(b)の例は、円形
ドット状の露出部分が最密状に配列されたパターンであ
って、電極に着目すれば一種の網状パターンである。こ
れら網状パターンでは、露出部分の形状は自由であっ
て、任意の四角形、楕円、異形等であってもよく、露出
部分の向きや配列パターンは規則的であってもランダム
であってもよい。図2(c)、図3(a)の例は、帯状
の電極部分と帯状の露出部分とが、交互に組み合わされ
たパターンであり、クシ形パターンの一種とも、網状パ
ターンの一種とも言える。図2(c)では、直線的な帯
状電極が屈折して組み合わされ、図3(a)では、帯状
電極が同心円状に並んでいる。図3(b)の例は、細分
化された電極が規則性無しに迷路のように分岐するパタ
ーンである。これら種々のパターンは、自由に組み合せ
てよく、例えば、クシ形のような規則的な分岐パターン
から、不規則な毛細パターンが分岐する態様であっても
よい。
A typical electrode pattern is illustrated below. However, there are numerous electrode patterns as described above, and the present invention is not limited to these examples. The example of FIG. 1A is a comb-shaped pattern in which a strip-shaped electrode P23 branches off from the comb back portion P25 as a trunk line to form a stripe shape. The example of FIG. 2A is a grid pattern, and the electrodes have a mesh shape. The example of FIG. 2B is a pattern in which the exposed portions in the form of circular dots are arranged in a close-packed manner, and is a kind of mesh pattern when attention is paid to the electrodes. In these mesh patterns, the shape of the exposed portion is arbitrary and may be any quadrangle, ellipse, irregular shape, etc., and the orientation and array pattern of the exposed portion may be regular or random. The examples of FIGS. 2C and 3A are patterns in which strip-shaped electrode portions and strip-shaped exposed portions are alternately combined, and can be said to be a kind of comb-shaped pattern or a kind of mesh-shaped pattern. In FIG. 2C, linear strip electrodes are bent and combined, and in FIG. 3A, the strip electrodes are arranged concentrically. The example of FIG. 3B is a pattern in which the subdivided electrodes branch like a maze without regularity. These various patterns may be freely combined, and for example, an irregular capillary pattern may be branched from a regular branch pattern such as a comb shape.

【0022】上部電極の細分化部分は、電極部分とそれ
に挟まれた露出部分とを合わせて最上面の30%〜80
%、より好ましくは40%〜70%を占有するように形
成することが好ましい。これは、細分化部分が一箇所に
塊状に集中するような態様ではなく、より広く分散すべ
きことを限定するものである。
The subdivided portion of the upper electrode is 30% to 80% of the uppermost surface including the electrode portion and the exposed portion sandwiched by the electrode portion.
%, More preferably 40% to 70%. This is not a mode in which the subdivided portions are concentrated in one place in a lump shape, but restricts that they should be dispersed more widely.

【0023】発光層での発光の強弱には、電流密度が大
きく関係する。電流密度が低いとキャリアが非発光成分
にトラップされる割合が高くなり、発光強度は弱くな
る。電流密度を上げていくと非発光成分にトラップされ
る割合が小さくなり、また、ある値からトラップ分が飽
和するので発光強度は強くなる。電流密度は、細分化さ
れた電極部分の各部の面積を小さくすること(例えば、
クシ形パターンでは、電極の帯幅を狭くすること)で上
昇する。電流密度が上がれば、内部量子効率が上がり出
力は向上する。ただし、無制限に電極面積を小さくする
だけでは、十分な発光に必要な印加電圧の上昇や、電流
密度を上げることでの熱緩和による非輻射遷移割合の増
加、即ち、出力の低下が考えられる。この点から、電極
部分の面積とそのピッチは重要である。
The current density is greatly related to the intensity of light emission in the light emitting layer. When the current density is low, the ratio of carriers trapped in the non-emissive component is high, and the emission intensity is low. As the current density is increased, the rate of trapping in the non-emissive component becomes smaller, and the trapped amount is saturated from a certain value, so that the emission intensity becomes stronger. The current density is to reduce the area of each part of the subdivided electrode part (for example,
In the comb-shaped pattern, it is increased by narrowing the electrode band width. If the current density increases, the internal quantum efficiency increases and the output improves. However, if the electrode area is simply reduced without limitation, increase in applied voltage required for sufficient light emission and increase in non-radiative transition ratio due to thermal relaxation by increasing current density, that is, decrease in output can be considered. From this point, the area of the electrode portion and its pitch are important.

【0024】一方、電極を細分化しかつ透明電極として
形成しても、透明電極は発光層からの光を100%通過
させ得るわけではないから、電極部分では光のロスが生
じる。また電極が大面積であると、その中心直下で発光
した光が最寄の露出部分から外界に出て行くには、直上
方向から大きな角度を成して斜めに上昇しなければなら
ず、最上面と外界との界面で素子内部に反射する光の量
が増加し、これがロスとなる。この点からも、電極部分
の面積とそのピッチは重要である。
On the other hand, even if the electrode is subdivided and formed as a transparent electrode, the transparent electrode cannot pass 100% of the light from the light emitting layer, so that light loss occurs at the electrode portion. In addition, if the electrode has a large area, in order for the light emitted directly under the center of the electrode to go out from the nearest exposed portion to the outside, it has to rise obliquely at a large angle from the direction directly above. At the interface between the upper surface and the outside world, the amount of light reflected inside the element increases, which causes a loss. From this point as well, the area of the electrode portion and its pitch are important.

【0025】よって、内部量子効率をより高め、かつ、
発生した光をよりロス無きように外界に取り出すべく、
本発明では、細分化部分における電極の細分化の程度
を、以下に説明するとおりさらに限定することを推奨す
る。これによって、本発明の目的はより高度に達成され
る。
Therefore, the internal quantum efficiency is further increased, and
In order to take out the generated light to the outside world without loss,
In the present invention, it is recommended that the degree of subdivision of the electrode in the subdivided portion be further limited as described below. Thereby, the object of the invention is achieved to a higher degree.

【0026】上記電極の細分化の程度は、仮に細分化部
分を一辺50μmの正方形を構成単位とする行列状に区
分したとしても、該構成単位をどの位置に当てはめて
も、各構成単位内には常に電極部分と露出部分とが同様
の割合で存在するように、電極が細分化されていること
が好ましい。前記構成単位の正方形の一辺は、2μm〜
12μmであることがより好ましい。さらに電極を微細
に細分化した態様では、構成単位を一辺2μm〜4μm
の正方形として区分し、この区分を、細分化部分の任意
の位置に当てはめても、常にその中に電極部分と露出部
分とが存在するように細分化した態様とすることが好ま
しい。
The degree of subdivision of the electrode is such that, even if the subdivided portion is divided into a matrix having a square having a side of 50 μm as a constitutional unit, no matter which position the constitutional unit is applied to, the constitutional unit is divided into each constitutional unit. It is preferable that the electrode is subdivided so that the electrode portion and the exposed portion always exist in the same ratio. One side of the square of the structural unit is from 2 μm to
It is more preferably 12 μm. Further, in an embodiment in which the electrodes are finely subdivided, the constitutional unit is 2 μm to 4 μm on each side.
It is preferable that the section is divided into squares so that the electrode section and the exposed section are always present in the section even if the section is applied to any position of the section.

【0027】また、上記した各構成単位に占める電極部
分の面積の好ましい割合は20%〜80%であり、より
好ましくは20%〜60%、特に好ましい割合は40%
〜60%である。
Further, a preferable ratio of the area of the electrode portion in each of the above structural units is 20% to 80%, more preferably 20% to 60%, and a particularly preferable ratio is 40%.
~ 60%.

【0028】これらの細分化の規定によって、内部量子
効率は最適化され、かつ、電極直下で発光した光は、よ
り直上方向に近い角度で露出部分から外界に出て行くこ
とが可能となり、最上面と外気との界面での素子内部へ
の反射が抑制される。また、透明電極に当たった光も多
くはこれを通過し外界に出て行くので、外部から見た当
該GaN系LEDは、同じ電力量の投入に対して、従来
品よりも強い発光を示すものとなる。
By defining these subdivisions, the internal quantum efficiency is optimized, and the light emitted directly under the electrode can go out from the exposed portion to the outside world at an angle closer to the direct upward direction. The reflection inside the element at the interface between the upper surface and the outside air is suppressed. Also, most of the light that hits the transparent electrode passes through this and goes out to the outside world, so the GaN-based LED seen from the outside emits stronger light than the conventional product when the same amount of power is applied. Becomes

【0029】行列状への区分に際しては、細分化部分の
外周部分に、正方形とならない半端な区画が生じてもよ
い。また、図1(a)に示すクシ形パターンのように、
一様に細分化されたストライプ部分に加えて幹線部分P
25のような特異部分が存在する場合には、一様に細分
化された部分だけについて行列状への区分の規定を当て
はめるものとする。
In the case of division into a matrix, a semi-partition that does not become a square may occur in the outer peripheral portion of the subdivided portion. In addition, like the comb-shaped pattern shown in FIG.
In addition to the stripes that are uniformly subdivided, the main line P
When a unique portion such as 25 exists, the definition of the matrix division is applied only to the uniformly subdivided portion.

【0030】細分化部分を行列状に区分したとき、各構
成単位内には、電極部分と露出部分とが、各構成単位同
士で同様に存在すればよく、同一である必要はない。こ
れは、図3(b)のような不規則なパターンでは、各構
成単位毎に、電極部分と露出部分との比率は特定の幅で
変動する場合もあるからである。また、図2(b)のよ
うな最密状の電極パターンに対しては、繰り返されるパ
ターンの基本形状は正三角形や正六角形であるから、同
図に太い実線で示すように、正方形の区分の仕方を、
〔完全な正方行列状〕から〔最密状のパターンに従った
行列状〕へとずらせて規定すればよい。また、細分化部
分は、互いに異なる単位面積に細分化された部分を組み
合せて構成してもよい。
When the subdivided portions are divided into a matrix, it is sufficient that the electrode portion and the exposed portion are the same in each constituent unit in each constituent unit, and they need not be the same. This is because, in the irregular pattern as shown in FIG. 3B, the ratio of the electrode portion to the exposed portion may vary within a specific width for each structural unit. Further, for the densest electrode pattern as shown in FIG. 2B, since the basic shape of the repeated pattern is an equilateral triangle or a regular hexagon, as shown by a thick solid line in FIG. How to
It may be specified by shifting from [perfect square matrix] to [matrix according to the close-packed pattern]. Further, the subdivided portion may be formed by combining subdivided portions having different unit areas.

【0031】図1(a)に示すクシ形パターンや、図2
(a)に示す格子状パターンでは、電極部分と露出部分
とが規則的に組み合されてなる規則的部分を含んでい
る。例えば、クシ形パターンでは、クシの歯の部分は、
帯状の電極部分P23と、帯状の露出部分P24とが規
則的に交互に配置されストライプ状となっている。これ
らの規則的部分を行列状に区分すると、正方形の各構成
単位内には、電極部分と露出部分とが同じ配置パターン
にて存在する。このような規則的部分を有する細分化パ
ターンは、より多くの露出部(光取り出し部)を設ける
のに最適な構造であるために好ましく、なかでも、クシ
形パターンが特に好ましい。
The comb-shaped pattern shown in FIG.
The grid pattern shown in (a) includes a regular portion formed by regularly combining the electrode portion and the exposed portion. For example, in a comb pattern, the tooth part of the comb is
The strip-shaped electrode portions P23 and the strip-shaped exposed portions P24 are regularly and alternately arranged to form a stripe shape. When these regular parts are divided into a matrix, the electrode parts and the exposed parts are present in the same arrangement pattern in each square structural unit. The subdivided pattern having such regular portions is preferable because it has an optimal structure for providing more exposed portions (light extraction portions), and among them, the comb-shaped pattern is particularly preferable.

【0032】上記の細分化の規定によれば、クシ形パタ
ーンや図2(c)、図3(a)のパターンのように、帯
状の電極部分と、帯状の露出部分とが規則的に交互に配
置されストライプ状となっているパターンは、帯状の電
極部分の幅が1μm〜10μm、帯状の露出部分の幅が
1μm〜40μmであるようなストライプが好ましい。
この場合、構成単位の正方形の一辺は最小2(電極幅1
+露出幅1)μm、最大50(=電極幅10+露出幅4
0)μm程度となる。これらの幅から、構成単位に占め
る電極部分の面積の割合が20%〜80%となるように
数値を選択することが好ましい。より好ましい範囲とし
ては、帯状の電極部分の幅1μm〜8μm、帯状の露出
部分の幅1μm〜20μmのストライプ(正方形の一辺
は2μm〜28μm)とし、構成単位に占める電極部分
の面積の割合を30%〜60%とすることが挙げられ、
さらに最も好ましい範囲としては、帯状の電極部分の幅
2μm〜4μm、帯状の露出部分の幅4μm〜8μmの
ストライプ(正方形の一辺は6μm〜12μm)とし、
構成単位に占める電極部分の面積の割合を40%〜60
%とすることが挙げられる。
According to the above-mentioned regulation of subdivision, strip-shaped electrode portions and strip-shaped exposed portions are regularly alternated like a comb-shaped pattern or the patterns shown in FIGS. 2 (c) and 3 (a). The striped pattern is preferably a stripe in which the width of the strip-shaped electrode portion is 1 μm to 10 μm and the width of the strip-shaped exposed portion is 1 μm to 40 μm.
In this case, one side of the square of the structural unit is at least 2 (electrode width 1
+ Exposure width 1) μm, maximum 50 (= electrode width 10 + exposure width 4
0) μm. From these widths, it is preferable to select a numerical value such that the ratio of the area of the electrode portion in the constitutional unit is 20% to 80%. A more preferable range is a stripe having a strip-shaped electrode portion having a width of 1 μm to 8 μm and a strip-shaped exposed portion having a width of 1 μm to 20 μm (squares each side is 2 μm to 28 μm), and the ratio of the area of the electrode portion to the constitutional unit is 30. % To 60%, and
The most preferable range is a stripe having a strip-shaped electrode portion having a width of 2 μm to 4 μm and a strip-shaped exposed portion having a width of 4 μm to 8 μm (a square has a side of 6 μm to 12 μm).
The ratio of the area of the electrode portion to the structural unit is 40% to 60
It may be set to%.

【0033】上記したように、細分化部分の電極は、発
光層から発せられた光に対して透光性を有するように形
成される。発光層から発せられる光は、発光層に用いる
GaN系半導体の組成によって異なり、およそ350n
m〜550nm程度の光となる。電極の透光性は、これ
らの波長の光が30%〜60%の透過率であることが好
ましい。
As described above, the electrode of the subdivided portion is formed so as to have a light-transmitting property with respect to the light emitted from the light emitting layer. The light emitted from the light emitting layer depends on the composition of the GaN-based semiconductor used for the light emitting layer and is approximately 350 n.
The light is about m to 550 nm. The translucency of the electrode is preferably such that light of these wavelengths has a transmittance of 30% to 60%.

【0034】上記透光性を有する電極は、公知の透明電
極の形成技術を用いて形成してよい。例えば、材料とし
てAl、Niを用い、厚さをそれぞれ10nm、1nm
とする2層構造の態様などが挙げられる。
The transparent electrode may be formed by a known transparent electrode forming technique. For example, Al and Ni are used as materials, and the thickness is 10 nm and 1 nm, respectively.
And a mode of a two-layer structure.

【0035】図1の例では、GaN系結晶層による積層
構造は、(n型コンタクト層、活性層、p型コンタクト
層)の3層構造であるが、発光層を多重の量子井戸構造
や量子ドット構造とするなど、種々の素子構造としてよ
い。また、結晶基板として、SiC基板やGaN基板な
ど導電性を有するものを用いて、下部電極の位置を変更
してもよい。その他、当該GaN系LEDにおける上部
電極以外の各部については、例えば、国際公開公報WO
99/30373に記載の素子構造やGaN系結晶の製
造方法など、公知のGaN系LEDに用いられている構
造および製造方法、GaN系半導体のための結晶成長方
法、転位密度低減のための手法などを参照してよい。
In the example of FIG. 1, the laminated structure of GaN-based crystal layers is a three-layer structure of (n-type contact layer, active layer, p-type contact layer), but the light emitting layer has multiple quantum well structures and quantum well structures. Various element structures such as a dot structure may be used. The position of the lower electrode may be changed by using a conductive substrate such as a SiC substrate or a GaN substrate as the crystal substrate. Other parts of the GaN-based LED other than the upper electrode are described, for example, in International Publication WO
Structures and manufacturing methods used for publicly known GaN-based LEDs, such as the element structure described in 99/30373 and the manufacturing method for GaN-based crystals, a crystal growth method for GaN-based semiconductors, a method for reducing dislocation density, etc. May be referred to.

【0036】[0036]

【実施例】本発明によるGaN系LEDの一例として、
図1に示す素子構造(細分化部分はクシ型パターン)を
有するものを実施例品として製作し、従来品と比較し
た。本発明による実施例品については、クシ形パターン
の細分化の仕様を段階的に変更し、本発明が推奨する範
囲内のもの、および範囲外のものを製作した。また、従
来品については、クシ形パターンの不透明電極を有する
もの、全面を均一に覆う透明電極を有するものを製作し
た。実施例品と比較例品とは、上部電極の構造以外は全
て同様である。
EXAMPLES As an example of a GaN-based LED according to the present invention,
A device having the element structure shown in FIG. 1 (the comb-shaped pattern in the subdivided portion) was manufactured as an example product and compared with the conventional product. Regarding the example products according to the present invention, the specifications for subdividing the comb-shaped pattern were changed stepwise, and those within the range recommended by the present invention and those outside the range were manufactured. As for the conventional products, one having an opaque electrode having a comb-shaped pattern and one having a transparent electrode uniformly covering the entire surface were manufactured. The example product and the comparative example product are all the same except for the structure of the upper electrode.

【0037】〔実施例品の製作〕図1(b)に素子構造
を示すように、結晶基板1としてC面サファイア基板を
用いた。該基板をMOCVD装置内に配置し、水素雰囲
気下で1100℃まで昇温し、サーマルエッチングを行
った。その後窒素雰囲気に切り替え、温度を500℃ま
で下げ、原料ガスとしてトリメチルガリウム(TM
G)、NH3を流し、GaN低温成長バッファー層1b
を成長させた。
[Production of Example Product] As shown in FIG. 1B, a C-plane sapphire substrate was used as the crystal substrate 1. The substrate was placed in a MOCVD apparatus, heated to 1100 ° C. in a hydrogen atmosphere, and subjected to thermal etching. After that, the atmosphere is switched to nitrogen, the temperature is lowered to 500 ° C., and trimethylgallium (TM) is used as a source gas.
G), NH 3 is flowed, and GaN low temperature growth buffer layer 1b
Has grown up.

【0038】次に、温度を1000℃に昇温し、原料と
してTMG、NH3、ドーパントとしてシランを流し、
厚さ3μmのn型GaN層2を成長させた。次に、原料
としてTMG、トリメチルインジウム(TMI)、NH
3を流し、前記層2上に、厚さ0.1μmのInGaN
活性層(発光層)3を成長させた。次に、原料としてT
MG、NH3、ドーパントとしてビスシクロペンタジエ
ニルマグネシウム(Cp2Mg)を流し、厚さ0.15
μmのp型GaN層4を成長させた。その後雰囲気ガス
を窒素に切り換え室温まで徐冷し、積層構造体を得た。
Next, the temperature is raised to 1000 ° C., TMG and NH 3 as raw materials, and silane as a dopant are flown,
An n-type GaN layer 2 having a thickness of 3 μm was grown. Next, TMG, trimethylindium (TMI), NH as raw materials
3 is poured onto the layer 2 to form an InGaN layer having a thickness of 0.1 μm.
The active layer (light emitting layer) 3 was grown. Next, as a raw material, T
MG, NH 3 , and biscyclopentadienyl magnesium (Cp 2 Mg) as a dopant are flown to obtain a thickness of 0.15.
A μm p-type GaN layer 4 was grown. Then, the atmosphere gas was switched to nitrogen and gradually cooled to room temperature to obtain a laminated structure.

【0039】得られた積層構造体に対し、部分的にドラ
イエッチングを施し、p型GaN層4とInGaN活性
層3を一部除去し、n型GaN層2を露出させ、材料T
i、Alからなるn型オーミック電極P1を形成した。
The obtained laminated structure is partially dry-etched to partially remove the p-type GaN layer 4 and the InGaN active layer 3 to expose the n-type GaN layer 2 and to remove the material T.
An n-type ohmic electrode P1 made of i and Al was formed.

【0040】次に、積層構造体の最上面に、レジスト塗
布、プリベーク(ベーキング)、露光(転写)、現像、
蒸着、リフトオフの加工手順によって、図1(a)に概
略的に示すようなクシ形パターンを有する透明電極を形
成した。
Next, on the uppermost surface of the laminated structure, resist coating, pre-baking (baking), exposure (transfer), development,
A transparent electrode having a comb-shaped pattern as schematically shown in FIG. 1A was formed by a processing procedure of vapor deposition and lift-off.

【0041】該電極の材料構成は、下層(材料Ni、厚
さ1.0nm)、上層(材料Au、厚さ10.0nm)
の2層構造の光透過性電極である。この光透過性は、I
nGaN発光層から発せられる460nm波長光を50
%透過させ得るものであった。細分化部分であるクシ形
パターンのストライプ部分(クシの歯も部分)の寸法仕
様は、電極の幅が2.0μm、電極間の露出部分の幅が
8.0μmである。
The material composition of the electrode is as follows: lower layer (material Ni, thickness 1.0 nm), upper layer (material Au, thickness 10.0 nm)
2 is a light-transmitting electrode having a two-layer structure. This light transmittance is I
50 nm wavelength light emitted from the nGaN light emitting layer is emitted.
% Could be permeated. The dimensional specifications of the striped portion of the comb-shaped pattern (the tooth of the comb), which is the subdivided portion, are such that the width of the electrode is 2.0 μm and the width of the exposed portion between the electrodes is 8.0 μm.

【0042】上記プロセスによって素子構造を完成させ
た後、350mm×350mmの1チップへと分断し、
本発明によるGaN系LEDとした。1チップ状態での
最上面の総面積は約0.12mm2であり、ボンディン
グ用端子の領域、外周縁の加工シロを除いた、細分化部
分の面積は、約0.06mm 2であった。
The device structure is completed by the above process.
After cutting, it is cut into 1 chip of 350mm × 350mm,
The GaN-based LED according to the present invention is used. In one chip state
The total area of the top surface is about 0.12mm2And bondin
Area of terminal for cutting, subdivided part excluding processing white on outer periphery
The area of the minute is about 0.06mm 2Met.

【0043】上記LEDチップを、To−18ステム台
にマウントし、出力を測定したところ、波長460n
m、20mAで、12mWであり、従来の全面透明電極
とした発光素子の平均的な出力と比べて、同じ電流での
出力が25%向上していることがわかった。
The above LED chip was mounted on a To-18 stem base and the output was measured. The wavelength was 460n.
It was 12 mW at m, 20 mA, and it was found that the output at the same current was improved by 25% as compared with the average output of the conventional light-emitting device using a fully transparent electrode.

【0044】[0044]

【発明の効果】上記説明のとおり、上部電極を細分化し
かつ透明とすることによって、従来の上部電極よりも、
内部量子効率を高め、かつ光をより多く最上面から外界
へ通過させ得るGaN系LEDを提供することが可能と
なった。また、当該GaN系LEDのなかでも、上部電
極の細分化の程度を限定することによって、内部量子効
率と最上面における光の通過量とが最適化された。
As described above, by subdividing the upper electrode and making it transparent, the upper electrode is
It has become possible to provide a GaN-based LED capable of increasing internal quantum efficiency and allowing more light to pass from the uppermost surface to the outside world. Further, among the GaN-based LEDs, the internal quantum efficiency and the amount of light passing through the uppermost surface were optimized by limiting the degree of subdivision of the upper electrode.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるGaN系LEDの構造の一例を示
す模式図である。領域を区別するために電極にのみハッ
チングを施している。図1(a)は素子を側方から見た
図、図1(b)は、図1(a)の素子を上方から見た図
である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of the structure of a GaN-based LED according to the present invention. Only the electrodes are hatched to distinguish the regions. 1A is a side view of the element, and FIG. 1B is a top view of the element of FIG. 1A.

【図2】本発明における、細分化部分の電極パターンの
一例を示す図である。図ではパターンの一部分だけを示
している。
FIG. 2 is a diagram showing an example of an electrode pattern of a subdivided portion in the present invention. In the figure, only a part of the pattern is shown.

【図3】本発明における、細分化部分の電極パターンの
他の例を示す図である。図2と同様、図ではパターンの
一部分だけを示している。
FIG. 3 is a diagram showing another example of an electrode pattern of a subdivided portion in the present invention. Similar to FIG. 2, the figure shows only a part of the pattern.

【図4】従来のGaN系LEDの構造の一例を示す模式
図である。図4(a)は素子を側方から見た図、図4
(b)は、図4(a)の素子を上方から見た図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of the structure of a conventional GaN-based LED. 4 (a) is a side view of the device, FIG.
4B is a view of the element of FIG. 4A as viewed from above.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 結晶基板 2 n型のGaN系結晶層 3 GaN系結晶からなる発光層 4 p型のGaN系結晶層 4a 積層構造の最上面 P1 下部電極 P2 上部電極 P22 細分化部分 1 Crystal substrate 2 n-type GaN-based crystal layer 3 Light-emitting layer made of GaN-based crystal 4 p-type GaN-based crystal layer 4a Top surface of laminated structure P1 lower electrode P2 upper electrode P22 subdivision part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡川 広明 兵庫県伊丹市池尻4丁目3番地 三菱電線 工業株式会社伊丹製作所内 (72)発明者 大内 洋一郎 兵庫県伊丹市池尻4丁目3番地 三菱電線 工業株式会社伊丹製作所内 Fターム(参考) 5F041 AA03 AA04 CA40 CA65 CA82 CA88 CA93    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Hiroaki Okakawa             4-3 Ikejiri, Itami City, Hyogo Prefecture Mitsubishi Electric Cable             Industrial Co., Ltd. Itami Works (72) Inventor Yoichiro Ouchi             4-3 Ikejiri, Itami City, Hyogo Prefecture Mitsubishi Electric Cable             Industrial Co., Ltd. Itami Works F-term (reference) 5F041 AA03 AA04 CA40 CA65 CA82                       CA88 CA93

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 GaN系半導体からなる発光層を含む積
層構造を有する発光ダイオードであって、 前記積層構造の最上面には、当該発光ダイオードに設け
られるp型、n型の両電極のうちの一方が上部電極とし
て設けられており、 該上部電極は細分化部分を有し、該細分化部分は、電極
が網状または分岐状を呈するように細分化されて前記最
上面に広がる部分であって、細分化された電極間には該
最上面が露出しており、該細分化部分の電極が、発光層
から発せられた光に対して透光性を有するように形成さ
れていることを特徴とするGaN系半導体発光ダイオー
ド。
1. A light emitting diode having a laminated structure including a light emitting layer made of a GaN-based semiconductor, wherein the uppermost surface of the laminated structure is one of p-type and n-type electrodes provided in the light emitting diode. One of the electrodes is provided as an upper electrode, and the upper electrode has a subdivided portion, and the subdivided portion is a portion that is subdivided into a net-like or branched shape and spreads on the uppermost surface. The uppermost surface is exposed between the subdivided electrodes, and the electrodes of the subdivided portions are formed to have a light-transmitting property with respect to light emitted from the light emitting layer. And a GaN-based semiconductor light emitting diode.
【請求項2】 電極部分と、最上面の露出部分とからな
る細分化部分の面積が、最上面全体の30%〜80%を
占有しており、 該細分化部分は、これを最上面に沿って一辺50μmの
正方形を構成単位として行列状に区分したとき、各構成
単位同士が互いに同様の比率にて電極部分と露出部分を
有するように、かつ、各構成単位に占める電極部分の面
積の割合が20%〜80%であるように、細分化された
電極を有するものである、請求項1記載のGaN系半導
体発光ダイオード。
2. The area of the subdivided portion consisting of the electrode portion and the exposed portion of the uppermost surface occupies 30% to 80% of the entire uppermost surface, and the subdivided portion has this as the uppermost surface. Along the way, when a square having a side of 50 μm is divided into a matrix as a constituent unit, each constituent unit has an electrode portion and an exposed portion at the same ratio, and the area of the electrode portion occupying each constituent unit is The GaN-based semiconductor light-emitting diode according to claim 1, which has a subdivided electrode so that the ratio is 20% to 80%.
【請求項3】 上記構成単位同士が、互いに同様の配置
パターンにて電極部分と露出部分とを有するものであ
る、請求項2記載のGaN系半導体発光ダイオード。
3. The GaN-based semiconductor light-emitting diode according to claim 2, wherein the constituent units have an electrode portion and an exposed portion in the same arrangement pattern as each other.
【請求項4】 細分化部分が、幅1μm〜10μmの帯
状の電極部分と、幅1μm〜40μmの帯状に露出した
最上面とが交互に配置された部分を有するものである、
請求項1〜3のいずれかに記載のGaN系半導体発光ダ
イオード。
4. The subdivided portion has a portion in which strip-shaped electrode portions having a width of 1 μm to 10 μm and strip-shaped exposed top surfaces having a width of 1 μm to 40 μm are alternately arranged.
The GaN-based semiconductor light-emitting diode according to claim 1.
【請求項5】 発光層から発せられた光に対する上記細
分化部分の電極の透光性が、20%〜80%の透過率で
ある、請求項1記載のGaN系半導体発光ダイオード。
5. The GaN-based semiconductor light-emitting diode according to claim 1, wherein the translucency of the electrode of the subdivided portion with respect to the light emitted from the light emitting layer has a transmittance of 20% to 80%.
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005123501A (en) * 2003-10-20 2005-05-12 Toyoda Gosei Co Ltd Semiconductor light emitting element
WO2005074046A1 (en) * 2004-01-30 2005-08-11 Showa Denko K.K Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device
WO2006082687A1 (en) * 2005-02-07 2006-08-10 Mitsubishi Cable Industries, Ltd. GaN LIGHT EMITTING DIODE AND LIGHT EMITTING DEVICE
JP2006253240A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Mitsubishi Cable Ind Ltd GaN LIGHT EMITTING DIODE AND LIGHT EMITTING DEVICE
WO2006128446A1 (en) * 2005-06-02 2006-12-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting diode chip comprising a contact structure
JP2008047906A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Radiation emission element
JP2008047871A (en) * 2006-07-18 2008-02-28 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor light emitting diode
WO2010000225A1 (en) * 2008-06-30 2010-01-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Electroluminescent device and method for producing an electroluminescent device
JP2011254096A (en) * 2011-08-05 2011-12-15 Mitsubishi Chemicals Corp Gan-based light-emitting diode and light-emitting device
JP2012033953A (en) * 2011-10-07 2012-02-16 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and method for manufacturing the same
JP2012508971A (en) * 2008-11-14 2012-04-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Light emitting device and method for manufacturing the device
US8368092B2 (en) 2004-01-26 2013-02-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Thin film LED comprising a current-dispersing structure
US8415708B2 (en) 2004-02-18 2013-04-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Nitride based semiconductor light-emitting device
JP2017204640A (en) * 2016-05-11 2017-11-16 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005123501A (en) * 2003-10-20 2005-05-12 Toyoda Gosei Co Ltd Semiconductor light emitting element
US8368092B2 (en) 2004-01-26 2013-02-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Thin film LED comprising a current-dispersing structure
WO2005074046A1 (en) * 2004-01-30 2005-08-11 Showa Denko K.K Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device
US8415708B2 (en) 2004-02-18 2013-04-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Nitride based semiconductor light-emitting device
WO2006082687A1 (en) * 2005-02-07 2006-08-10 Mitsubishi Cable Industries, Ltd. GaN LIGHT EMITTING DIODE AND LIGHT EMITTING DEVICE
JP2006253240A (en) * 2005-03-08 2006-09-21 Mitsubishi Cable Ind Ltd GaN LIGHT EMITTING DIODE AND LIGHT EMITTING DEVICE
US8581279B2 (en) 2005-06-02 2013-11-12 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting diode chip comprising a contact structure
WO2006128446A1 (en) * 2005-06-02 2006-12-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting diode chip comprising a contact structure
KR101249418B1 (en) 2005-06-02 2013-04-03 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하 Light-emitting diode chip comprising a contact structure
JP2008543068A (en) * 2005-06-02 2008-11-27 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Light emitting diode chip having contact structure
JP2008047871A (en) * 2006-07-18 2008-02-28 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor light emitting diode
US8581295B2 (en) 2006-07-18 2013-11-12 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor light-emitting diode
JP2008047906A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Radiation emission element
WO2010000225A1 (en) * 2008-06-30 2010-01-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Electroluminescent device and method for producing an electroluminescent device
US8217566B2 (en) 2008-06-30 2012-07-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Electroluminescent device and method for producing an electroluminescent device
JP2012508971A (en) * 2008-11-14 2012-04-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング Light emitting device and method for manufacturing the device
JP2011254096A (en) * 2011-08-05 2011-12-15 Mitsubishi Chemicals Corp Gan-based light-emitting diode and light-emitting device
JP2012033953A (en) * 2011-10-07 2012-02-16 Stanley Electric Co Ltd Light emitting device and method for manufacturing the same
JP2017204640A (en) * 2016-05-11 2017-11-16 晶元光電股▲ふん▼有限公司Epistar Corporation Light-emitting device and method for manufacturing the same

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