JP2003128920A - Curable liquid silicone composition and semiconductor device - Google Patents

Curable liquid silicone composition and semiconductor device

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JP2003128920A
JP2003128920A JP2001329858A JP2001329858A JP2003128920A JP 2003128920 A JP2003128920 A JP 2003128920A JP 2001329858 A JP2001329858 A JP 2001329858A JP 2001329858 A JP2001329858 A JP 2001329858A JP 2003128920 A JP2003128920 A JP 2003128920A
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silicone composition
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Kimio Yamakawa
君男 山川
Junji Nakanishi
淳二 中西
Katsutoshi Mine
勝利 峰
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Dow Corning Toray Silicone Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a curable liquid silicone composition that has good fluidity and impregnating properties by inhibiting the viscosity increase due to the thixotropy, even in the case that a large amount of silica fine particles are used in order to minimize the thermal expansion of the silicone cured products, and to provide semiconductor devices having excellent reliability by coating semiconductor elements with the composition. SOLUTION: The curable liquid silicone composition includes silica fine particles in which the content ratio of isolated silanol groups to the inner silanol groups is >=0.01 in the particles. The semiconductor devices are obtained by coating semiconductor elements with this composition.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は硬化性液状シリコー
ン組成物および半導体装置に関し、詳しくは、シリコー
ン硬化物の熱膨張率を小さくするために多量のシリカ微
粉末を含有しても、チクソ性による粘度の上昇が抑制さ
れ、良好な流動性や含浸性を有する硬化性液状シリコー
ン組成物、およびこの組成物により半導体素子を被覆し
てなる、優れた信頼性を有する半導体装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a curable liquid silicone composition and a semiconductor device. More specifically, even if a large amount of fine silica powder is contained in order to reduce the coefficient of thermal expansion of the cured silicone, the composition exhibits thixotropy. TECHNICAL FIELD The present invention relates to a curable liquid silicone composition having a suppressed increase in viscosity and having good fluidity and impregnation property, and a semiconductor device having excellent reliability obtained by coating a semiconductor element with this composition.

【0002】[0002]

【従来の技術】シリコーン硬化物の機械的強度を向上さ
せたり、熱膨張率を小さくするため多量のシリカ微粉末
を含有する硬化性液状シリコーン組成物、例えば、ケイ
素原子に結合したアルケニル基を有する液状オルガノポ
リシロキサン、ケイ素原子に結合した水素原子を有する
液状オルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化反応用金
属系触媒、およびシリカ微粉末からなるヒドロシリル化
反応硬化性液状シリコーン組成物は、加熱により耐熱性
や耐湿性に優れた低応力のシリコーン硬化物を形成する
ことから、電気・電子部品用の放熱性の接着剤、ポッテ
ィング剤、保護コーティング剤、特には、半導体素子の
保護コーティング剤やアンダーフィル剤として使用され
ている。
2. Description of the Related Art A curable liquid silicone composition containing a large amount of fine silica powder in order to improve the mechanical strength of a silicone cured product or to reduce the coefficient of thermal expansion, for example, having an alkenyl group bonded to a silicon atom. A hydrosilylation reaction-curable liquid silicone composition comprising a liquid organopolysiloxane, a liquid organopolysiloxane having a hydrogen atom bonded to a silicon atom, a metal catalyst for a hydrosilylation reaction, and a fine silica powder has heat resistance and moisture resistance when heated. Uses as a heat-dissipative adhesive, potting agent, protective coating agent for electrical and electronic parts, especially as a semiconductor element protective coating agent and underfill agent because it forms a low stress silicone cured product with excellent properties. Has been done.

【0003】近年、半導体チップの小型化や高機能化に
伴ない、ワイヤ配線間隔のピッチが狭くなったり、半導
体チップと基板の間隔が狭くなってきているが、シリカ
微粉末を多量に含有する硬化性液状シリコーン組成物
は、チクソ性により著しく粘度が上昇し、流動性や含浸
性が著しく低下するため、ワイヤ配線間やワイヤ配線下
への充填性が低下したり、半導体チップと基板の間への
含浸性が低下するという問題があった。そして、この組
成物の充填性や含浸性の低下により、この組成物により
半導体素子を被覆してなる半導体装置の信頼性が低下す
るという問題があった。
In recent years, with the miniaturization and high functionality of semiconductor chips, the pitch of wire wiring intervals has become narrower and the interval between semiconductor chips and substrates has become narrower, but a large amount of fine silica powder is contained. The curable liquid silicone composition has a significantly increased viscosity due to its thixotropy, and its fluidity and impregnability are significantly reduced, resulting in a decrease in the filling property between wire wirings or under the wire wiring, or between the semiconductor chip and the substrate. However, there was a problem that the impregnating property into the resin deteriorated. Then, there is a problem that the reliability of the semiconductor device obtained by coating the semiconductor element with this composition is lowered due to the decrease of the filling property and the impregnating property of this composition.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明者らは、上記の
課題について鋭意検討した結果、本発明に到達した。す
なわち、本発明の目的は、シリコーン硬化物の熱膨張率
を小さくするために多量のシリカ微粉末を含有しても、
チクソ性による粘度の上昇が抑制され、良好な流動性や
含浸性を有する硬化性液状シリコーン組成物、およびこ
の組成物により半導体素子を被覆してなる、優れた信頼
性を有する半導体装置を提供することにある。
The present inventors have arrived at the present invention as a result of extensive studies on the above problems. That is, the object of the present invention is to contain a large amount of silica fine powder in order to reduce the coefficient of thermal expansion of the silicone cured product,
Provided is a curable liquid silicone composition in which an increase in viscosity due to thixotropy is suppressed and which has good fluidity and impregnability, and a semiconductor device which is obtained by coating a semiconductor element with this composition and has excellent reliability. Especially.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の硬化性液状シリ
コーン組成物は、シリカ微粉末を含有する硬化性液状シ
リコーン組成物であって、該シリカ微粉末の内部シラノ
ール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比
が0.01以上であることを特徴とする。また、本発明
の半導体装置は、上記の硬化性液状シリコーン組成物に
より半導体素子が被覆されてなることを特徴とする。
The curable liquid silicone composition of the present invention is a curable liquid silicone composition containing a silica fine powder, wherein the isolated silanol is based on the content of internal silanol groups in the silica fine powder. The content ratio of the groups is 0.01 or more. A semiconductor device of the present invention is characterized in that a semiconductor element is coated with the curable liquid silicone composition.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】はじめに、本発明の硬化性液状シ
リコーン組成物を詳細に説明する。本組成物は、内部シ
ラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量
の比が0.01以上であり、好ましくは0.05以上であ
り、さらに好ましくは0.10以上であり、さらに好ま
しくは0.15以上であり、特に好ましくは0.20以上
であるシリカ微粉末を含有していることを特徴とする。
これは、内部シラノール基の含有量に対する孤立シラノ
ール基の含有量の比が上記の下限未満であるシリカ微粉
末を用いると、得られる硬化性液状シリコーン組成物の
チクソ性により粘度が上昇し、流動性や含浸性が著しく
低下するおそれがあるからである。また、内部シラノー
ル基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比の
上限は特に限定されないが、1.0以下であることが好
ましい。ここで、内部シラノール基とは、赤外線分光光
度計による赤外線吸収スペクトルにおいて、3650cm
-1付近に吸収ピークを示すシラノール基のことであり、
一方、孤立シラノール基とは、赤外線分光光度計による
赤外線吸収スペクトルにおいて、3745cm-1付近に吸
収ピークを示すシラノール基である。この内部シラノー
ル基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比
は、シリカ微粉末の製造時の焼成条件や表面処理等によ
り調整することができる。また、内部シラノール基の含
有量と孤立シラノール基の含有量の比は、赤外線吸光光
度計による赤外線吸収スペクトルにおいて、内部シラノ
ール基(3650cm-1)のピークの高さに対する孤立シ
ラノール基(3745cm-1)のピークの高さの比により
求めたり、あるいはこれらのピーク面積の比により求め
ることができる。また、このシリカ微粉末の粒径は限定
されないが、硬化性液状シリコーン組成物への充填性の
点から、その平均粒径が0.1〜20μmの範囲内であ
ることが好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION First, the curable liquid system of the present invention.
The recone composition will be described in detail. The composition has an internal
Content of isolated silanol groups relative to content of lanol groups
Is 0.01 or more, preferably 0.05 or more.
More preferably 0.10 or more, and more preferably
It is preferably 0.15 or more, particularly preferably 0.20 or more.
It is characterized by containing the silica fine powder which is.
This is the isolated silano relative to the content of internal silanol groups.
Silica fine powder having a ratio of the content of diol groups less than the above lower limit
When powder is used, the resulting curable liquid silicone composition
Viscosity increases due to thixotropy, and fluidity and impregnation are remarkable
This is because there is a risk that it will decrease. Also, the internal silano
The ratio of the content of isolated silanol groups to the content of
The upper limit is not particularly limited, but it is preferably 1.0 or less.
Good Here, the internal silanol group means infrared spectroscopic light.
Infrared absorption spectrum measured by a densitometer, 3650 cm
-1It is a silanol group showing an absorption peak in the vicinity,
On the other hand, an isolated silanol group is an infrared spectrophotometer
In infrared absorption spectrum, 3745 cm-1Suck near
It is a silanol group showing a collection peak. This internal silano
Ratio of the content of isolated silanol groups to the content of vinyl groups
Depends on the firing conditions and surface treatment during the production of the silica fine powder.
Can be adjusted. In addition, the inclusion of internal silanol groups
Infrared absorption
In the infrared absorption spectrum by a densitometer, internal silano
Base (3650 cm-1) Isolated peak height
Ranol group (3745 cm-1) Peak height ratio
Or by the ratio of these peak areas
You can Also, the particle size of this silica fine powder is limited
However, the filling property of the curable liquid silicone composition is not
From the point, the average particle size is within the range of 0.1 to 20 μm.
Preferably.

【0007】このようなシリカ微粉末としては、晶質シ
リカ微粉末、非晶質シリカ微粉末が例示され、その形状
としては、球状、不定形状が例示され、特に、非晶質の
球状シリカ微粉末であることが好ましい。このようなシ
リカ微粉末としては、フュームドシリカ微粉末、ヒュー
ズドシリカ微粉末、酸素を含む雰囲気内で金属ケイ素の
粉塵を爆燃させたシリカ微粉末が例示され、特に、酸素
を含む雰囲気内で金属ケイ素の粉塵を爆燃させたシリカ
微粉末であることが好ましい。また、このシリカ微粉末
の表面をオルガノハロシラン、オルガノアルコキシシラ
ン、オルガノシラザン等の有機ケイ素化合物、その他の
有機性化合物で処理したものを用いてもよい。
Examples of such silica fine powder include crystalline silica fine powder and amorphous silica fine powder, and examples of the shape thereof include spherical and irregular shapes. Particularly, amorphous spherical silica fine powder is used. It is preferably a powder. Examples of such silica fine powder include fumed silica fine powder, fused silica fine powder, and silica fine powder in which the dust of metal silicon is deflagrated in an atmosphere containing oxygen, and particularly in an atmosphere containing oxygen. It is preferable that the silica fine powder is made by detonating metallic silicon dust. Further, those obtained by treating the surface of the fine silica powder with an organosilicon compound such as organohalosilane, organoalkoxysilane, or organosilazane, or other organic compound may be used.

【0008】本組成物において、このシリカ微粉末の含
有量は限定されないが、本組成物の主成分であるオルガ
ノポリシロキサン100重量部に対して10〜500重
量部の範囲内であることが好ましく、特には、20〜5
00重量部の範囲内であることが好ましい。これは、シ
リカ微粉末の含有量が上記範囲の下限未満であると、得
られるシリコーン硬化物の機械的強度が低下したり、熱
膨張率が大きくなるおそれがあるからであり、一方、上
記範囲の上限を超えると、得られる硬化性シリコーン組
成物の流動性が乏しくなるからである。
The content of the fine silica powder in the composition is not limited, but is preferably in the range of 10 to 500 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the organopolysiloxane which is the main component of the composition. , Especially 20-5
It is preferably within the range of 00 parts by weight. This is because if the content of the silica fine powder is less than the lower limit of the above range, the mechanical strength of the obtained silicone cured product may be lowered, or the coefficient of thermal expansion may increase, while the above range is exceeded. If the upper limit of is exceeded, the fluidity of the resulting curable silicone composition will be poor.

【0009】このような本組成物の硬化機構は限定され
ず、ヒドロシリル化反応、縮合反応、有機過酸化物によ
るラジカル反応が例示され、特に、ヒドロシリル化反応
であることが好ましい。このヒドロシリル化反応硬化性
液状シリコーン組成物としては、 (A)ケイ素原子に結合したアルケニル基を一分子中に少なくとも2個有する液状 オルガノポリシロキサン 100重量部、 (B)ケイ素原子に結合した水素原子を一分子中に少なくとも2個有する液状オル ガノポリシロキサン 0.001〜100重量部、 (C)ヒドロシリル化反応用金属系触媒(本組成物に対して、本触媒中の金属原子 が重量単位で0.01〜1,000ppmとなる量)、 (D)内部シラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比が0.0 1以上であるシリカ微粉末 10〜500重量部 から少なくともなる硬化性液状シリコーン組成物が例示
される。
The curing mechanism of the present composition is not limited, and examples thereof include a hydrosilylation reaction, a condensation reaction, and a radical reaction with an organic peroxide, and a hydrosilylation reaction is particularly preferable. This hydrosilylation-curable liquid silicone composition includes (A) 100 parts by weight of a liquid organopolysiloxane having at least two alkenyl groups bonded to silicon atoms in one molecule, and (B) hydrogen atoms bonded to silicon atoms. Liquid organopolysiloxane having at least two in one molecule 0.001 to 100 parts by weight, (C) metal catalyst for hydrosilylation reaction (the metal atom in the catalyst is 0 in weight unit relative to the composition) 0.01 to 1,000 ppm), (D) Silica fine powder in which the ratio of the content of the isolated silanol groups to the content of the internal silanol groups is 0.01 or more Curable property of at least 10 to 500 parts by weight A liquid silicone composition is exemplified.

【0010】(A)成分の液状オルガノポリシロキサンは
上記組成物の主成分であり、ケイ素原子に結合したアル
ケニル基を一分子中に少なくとも2個有することを特徴
とする。(A)成分の分子構造としては、直鎖状、一部分
枝を有する直鎖状、分枝鎖状、環状、網状が例示され
る。また、(A)成分中のケイ素原子に結合したアルケニ
ル基の結合位置としては、分子鎖末端および/または分
子鎖側鎖が例示される。(A)成分中のアルケニル基以外
のケイ素原子に結合した基としては、メチル基、エチル
基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、
ヘプチル基等のアルキル基;フェニル基、トリル基、キ
シリル基、ナフチル基等のアリール基;ベンジル基、フ
ェネチル基等のアラルキル基;クロロメチル基、3−ク
ロロプロピル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基等
のハロゲン化アルキル基等の置換もしくは非置換の一価
炭化水素基が例示され、特に、メチル基、フェニル基で
あることが好ましい。(A)成分は25℃において液状で
あり、その粘度は限定されないが、10〜1,000,0
00mPa・sの範囲内であることが好ましく、特には、1
00〜50,000mPa・sの範囲内であることが好まし
い。これは25℃における粘度が上記範囲の下限未満で
あると、得られるシリコーン硬化物の物理的特性が低下
するおそれがあるからであり、一方、上記範囲の上限を
超えると、得られる硬化性シリコーン組成物の流動性が
低下するおそれがあるからである。
The liquid organopolysiloxane as the component (A) is the main component of the above composition and is characterized by having at least two alkenyl groups bonded to silicon atoms in one molecule. Examples of the molecular structure of the component (A) include linear, linear with some branches, branched, cyclic, and net-like. Further, the bonding position of the alkenyl group bonded to the silicon atom in the component (A) is exemplified by the molecular chain terminal and / or the molecular chain side chain. Examples of the group bonded to a silicon atom other than the alkenyl group in the component (A) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group,
Alkyl group such as heptyl group; aryl group such as phenyl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group; aralkyl group such as benzyl group, phenethyl group; chloromethyl group, 3-chloropropyl group, 3,3,3-tri Substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon groups such as halogenated alkyl groups such as fluoropropyl groups are exemplified, and methyl group and phenyl group are particularly preferable. The component (A) is liquid at 25 ° C., and its viscosity is not limited, but it is 10 to 1,000,0.
It is preferably in the range of 00 mPa · s, and particularly 1
It is preferably in the range of 00 to 50,000 mPa · s. This is because if the viscosity at 25 ° C. is less than the lower limit of the above range, the physical properties of the resulting silicone cured product may deteriorate, while if it exceeds the upper limit of the above range, the curable silicone obtained. This is because the fluidity of the composition may decrease.

【0011】(B)成分の液状オルガノポリシロキサンは
上記組成物の硬化剤であり、一分子中にケイ素原子に結
合した水素原子を少なくとも2個有することを特徴とす
る。この(B)成分の分子構造としては、直鎖状、一部分
枝を有する直鎖状、分枝鎖状、網状が例示される。この
水素原子の結合位置としては、分子鎖末端および/また
は分子鎖側鎖が例示される。また、(B)成分中の水素原
子以外のケイ素原子に結合した基としては、メチル基、
エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシ
ル基、ヘプチル基等のアルキル基;フェニル基、トリル
基、キシリル基、ナフチル基等のアリール基;ベンジル
基、フェネチル基等のアラルキル基;クロロメチル基、
3−クロロプロピル基、3,3,3−トリフルオロプロピ
ル基等のハロゲン化アルキル基等の置換もしくは非置換
の一価炭化水素基が例示され、特に、メチル基、フェニ
ル基であることが好ましい。(B)成分は25℃において
液状であり、その粘度は限定されないが、0.1〜1,0
00,000mPa・sの範囲内であることが好ましく、特に
は、1〜50,000mPa・sの範囲内であることが好まし
い。これは25℃における粘度が上記範囲の下限未満で
あると揮発しやすく、得られる硬化性シリコーン組成物
の組成が安定しにくいからであり、一方、上記範囲の上
限を超えると、得られる硬化性シリコーン組成物の流動
性が低下するおそれがあるからである。
The liquid organopolysiloxane as the component (B) is a curing agent for the above composition and is characterized by having at least two hydrogen atoms bonded to silicon atoms in one molecule. Examples of the molecular structure of this component (B) include linear, partially branched linear, branched, and network structures. Examples of the bonding position of the hydrogen atom include the molecular chain end and / or the molecular chain side chain. Further, as the group bonded to a silicon atom other than the hydrogen atom in the component (B), a methyl group,
Alkyl groups such as ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group; aryl groups such as phenyl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group; aralkyl groups such as benzyl group, phenethyl group; chloromethyl Base,
Substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon groups such as halogenated alkyl groups such as 3-chloropropyl group, 3,3,3-trifluoropropyl group and the like are exemplified, and particularly preferably methyl group and phenyl group. . The component (B) is liquid at 25 ° C., and its viscosity is not limited, but it is 0.1 to 1.0.
It is preferably in the range of 000,000 mPa · s, and particularly preferably in the range of 1 to 50,000 mPa · s. This is because if the viscosity at 25 ° C. is less than the lower limit of the above range, the composition is hard to volatilize and the composition of the resulting curable silicone composition is difficult to stabilize. This is because the fluidity of the silicone composition may decrease.

【0012】(B)成分の含有量は、(A)成分100重量
部に対して0.001〜100重量部の範囲である。こ
れは、(B)成分の含有量が上記範囲の下限未満である
と、得られるシリコーン組成物が充分に硬化しなくなる
おそれがあるからであり、一方、上記範囲の上限を超え
ると、得られるシリコーン硬化物の物理的特性が低下す
るおそれがあるからである。
The content of the component (B) is in the range of 0.001 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the component (A). This is because when the content of the component (B) is less than the lower limit of the above range, the obtained silicone composition may not be sufficiently cured, while when it exceeds the upper limit of the above range, it is obtained. This is because the physical properties of the cured silicone may deteriorate.

【0013】(C)成分のヒドロシリル化反応用金属系触
媒は、上記組成物のヒドロシリル化反応を促進するため
の触媒であり、白金系触媒、ロジウム系触媒、パラジウ
ム系触媒が例示され、特に、白金系触媒であることが好
ましい。この白金系触媒としては、白金微粉末、白金
黒、白金担持シリカ微粉末、白金担持活性炭、塩化白金
酸、塩化白金酸のアルコール溶液、白金のオレフィン錯
体、白金のアルケニルシロキサン錯体等の白金系化合物
が例示される。
The metal-based catalyst for hydrosilylation reaction of the component (C) is a catalyst for promoting the hydrosilylation reaction of the above composition, and examples thereof include platinum-based catalysts, rhodium-based catalysts and palladium-based catalysts. It is preferably a platinum-based catalyst. Examples of the platinum-based catalyst include platinum-based powder such as platinum fine powder, platinum black, platinum-supported silica fine powder, platinum-supported activated carbon, chloroplatinic acid, alcohol solution of chloroplatinic acid, olefin complex of platinum, alkenylsiloxane complex of platinum, and the like. Is exemplified.

【0014】(C)成分の含有量は、上記組成物に対し
て、この触媒中の金属原子が重量単位で0.01〜1,0
00ppmとなる範囲内の量である。これは、(C)成分の
含有量が上記範囲の下限未満であると、得られるシリコ
ーン組成物のヒドロシリル化反応が十分に進行しなくな
るおそれがあるからであり、一方、上記範囲の上限を超
えてもヒドロシリル化反応は著しく促進されるものでは
なく、むしろシリコーン硬化物に着色等の問題を生じる
おそれがあるからである。
The content of the component (C) is such that the metal atom in the catalyst is 0.01 to 1.0 by weight unit with respect to the above composition.
The amount is within the range of 00 ppm. This is because if the content of the component (C) is less than the lower limit of the above range, the hydrosilylation reaction of the obtained silicone composition may not proceed sufficiently, while the content of the component (C) exceeds the upper limit of the above range. However, this is because the hydrosilylation reaction is not significantly promoted, and rather the silicone cured product may cause problems such as coloring.

【0015】(D)成分のシリカ微粉末は上記組成物の特
徴をなす成分であり、内部シラノール基の含有量に対す
る孤立シラノール基の含有量の比が0.01以上であ
り、好ましくは0.05以上であり、さらに好ましくは
0.10以上であり、さらに好ましくは0.15以上であ
り、特に好ましくは0.20以上であることを特徴とす
る。これは、内部シラノール基の含有量に対する孤立シ
ラノール基の含有量の比が上記の下限未満であると、得
られる硬化性液状シリコーン組成物のチクソ性により粘
度が上昇し、流動性や含浸性が著しく低下するおそれが
あるからである。また、内部シラノール基の含有量に対
する孤立シラノール基の含有量の比の上限は特に限定さ
れないが、1.0以下であることが好ましい。ここで、
内部シラノール基とは、赤外線分光光度計による赤外線
吸収スペクトルにおいて、3650cm-1付近に吸収ピー
クを示すシラノール基のことであり、一方、孤立シラノ
ール基とは、赤外線分光光度計による赤外線吸収スペク
トルにおいて、3745cm-1付近に吸収ピークを示すシ
ラノール基である。この内部シラノール基の含有量に対
する孤立シラノール基の含有量の比は、(D)成分の製造
時の焼成条件や表面処理等により調整することができ
る。また、内部シラノール基の含有量と孤立シラノール
基の含有量の比は、赤外線吸光光度計による赤外線吸収
スペクトルにおいて、内部シラノール基(3650c
m-1)のピークの高さに対する孤立シラノール基(37
45cm-1)のピークの高さの比により求めたり、あるい
はこれらのピーク面積の比により求めることができる。
また、(D)成分の粒径は限定されないが、硬化性液状シ
リコーン組成物への充填性の点から、その平均粒径が
0.1〜20μmの範囲内であることが好ましい。この
ような(D)成分のシリカ微粉末としては、前記と同様の
微粉末が例示される。
The silica fine powder as the component (D) is a component characterizing the above composition, and the ratio of the content of the isolated silanol groups to the content of the internal silanol groups is 0.01 or more, preferably 0.00. It is characterized by being 05 or more, more preferably 0.10 or more, further preferably 0.15 or more, and particularly preferably 0.20 or more. This is, when the ratio of the content of the isolated silanol group to the content of the internal silanol group is less than the above lower limit, the viscosity increases due to the thixotropy of the resulting curable liquid silicone composition, and the fluidity and impregnability are This is because there is a risk of a significant decrease. The upper limit of the ratio of the content of isolated silanol groups to the content of internal silanol groups is not particularly limited, but is preferably 1.0 or less. here,
The internal silanol group is a silanol group showing an absorption peak near 3650 cm −1 in an infrared absorption spectrum by an infrared spectrophotometer, while the isolated silanol group is an infrared absorption spectrum by an infrared spectrophotometer, It is a silanol group showing an absorption peak near 3745 cm -1 . The ratio of the content of the isolated silanol groups to the content of the internal silanol groups can be adjusted by the firing conditions during the production of the component (D), the surface treatment and the like. In addition, the ratio of the content of the internal silanol group and the content of the isolated silanol group is determined by the internal silanol group (3650c
isolated silanol groups to the height of the peak of the m -1) (37
It can be determined by the ratio of the heights of the peaks of 45 cm −1 ) or the ratio of the areas of these peaks.
Although the particle size of the component (D) is not limited, the average particle size thereof is preferably in the range of 0.1 to 20 μm from the viewpoint of filling properties into the curable liquid silicone composition. Examples of the fine silica powder as the component (D) include the same fine powders as described above.

【0016】(D)成分の含有量は(A)成分100重量部
に対して10〜500重量部の範囲内であり、好ましく
は、20〜500重量部の範囲内である。これは、(D)
成分の含有量が上記範囲の下限未満であると、得られる
シリコーン硬化物の機械的強度が低下したり、熱膨張率
が大きくなるおそれがあるからであり、一方、上記範囲
の上限を超えると、得られる硬化性シリコーン組成物の
流動性が乏しくなるからである。
The content of the component (D) is in the range of 10 to 500 parts by weight, preferably in the range of 20 to 500 parts by weight, based on 100 parts by weight of the component (A). This is (D)
When the content of the component is less than the lower limit of the above range, the mechanical strength of the obtained silicone cured product may be lowered, or the coefficient of thermal expansion may increase, while when the upper limit of the above range is exceeded. This is because the resulting curable silicone composition has poor fluidity.

【0017】上記組成物は(A)成分〜(D)成分から少な
くともなるが、その他任意の成分として、このヒドロシ
リル化反応の速度を調節するために、3−メチル−1−
ブチン−3−オール、3,5−ジメチル−1−ヘキシン
−3−オール、フェニルブチノール等のアルキンアルコ
ール;3−メチル−3−ペンテン−1−イン、3,5−
ジメチル−3−ヘキセン−1−イン等のエンイン化合
物;1,3,5,7−テトラメチル−1,3,5,7−テトラ
ビニルシクロテトラシロキサン、1,3,5,7−テトラ
メチル−1,3,5,7−テトラヘキセニルシクロテトラ
シロキサン、ベンゾトリアゾール等の反応抑制剤を含有
してもよい。上記組成物において、この反応抑制剤の含
有量は限定されないが、(A)成分100重量部に対して
0.0001〜5重量部の範囲内であることが好まし
い。
The above-mentioned composition comprises at least components (A) to (D), but as an optional component, 3-methyl-1-
Alkyne alcohols such as butyn-3-ol, 3,5-dimethyl-1-hexyne-3-ol, phenylbutynol; 3-methyl-3-penten-1-yne, 3,5-
Enyne compounds such as dimethyl-3-hexene-1-yne; 1,3,5,7-tetramethyl-1,3,5,7-tetravinylcyclotetrasiloxane, 1,3,5,7-tetramethyl- A reaction inhibitor such as 1,3,5,7-tetrahexenylcyclotetrasiloxane or benzotriazole may be contained. In the above composition, the content of the reaction inhibitor is not limited, but it is preferably in the range of 0.0001 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the component (A).

【0018】また、上記組成物には、その接着性を向上
させるための接着性付与剤を含有していてもよい。この
接着性付与剤としては、ケイ素原子に結合したアルコキ
シ基を一分子中に少なくとも1個有する有機ケイ素化合
物であることが好ましい。このアルコキシ基としては、
メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、
メトキシエトキシ基が例示され、特に、メトキシ基であ
ることが好ましい。また、この有機ケイ素化合物のケイ
素原子に結合するアルコキシ基以外の基としては、メチ
ル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、
ヘキシル基、ヘプチル基等のアルキル基;ビニル基、ア
リル基、ブテニル基、ペンテニル基、ヘキセニル基等の
アルケニル基;フェニル基、トリル基、キシリル基、ナ
フチル基等のアリール基;ベンジル基、フェネチル基等
のアラルキル基;クロロメチル基、3−クロロプロピル
基、3,3,3−トリフルオロプロピル基等のハロゲン化
アルキル基等の置換もしくは非置換の一価炭化水素基;
3−グリシドキシプロピル基、4−グリシドキシブチル
基等のグリシドキシアルキル基;2−(3,4−エポキシ
シクロヘキシル)エチル基、3−(3,4−エポキシシク
ロヘキシル)プロピル基等のエポキシシクロヘキシルア
ルキル基;4−オキシラニルブチル基、8−オキシラニ
ルオクチル基等のオキシラニルアルキル基等のエポキシ
基含有一価有機基;3−メタクリロキシプロピル基等の
アクリル基含有一価有機基;水素原子が例示される。各
種の基材に対して良好な接着性を付与できることから、
この有機ケイ素化合物は一分子中に少なくとも1個のエ
ポキシ基含有一価有機基を有するものであることが好ま
しい。このような有機ケイ素化合物としては、シラン化
合物、シロキサン化合物が例示される。このシロキサン
化合物の分子構造としては、直鎖状、一部分枝を有する
直鎖状、分枝鎖状、環状、網状が例示され、特に、直鎖
状、分枝鎖状、網状であることが好ましい。このような
有機ケイ素化合物としては、3−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキ
シル)エチルトリメトキシシラン、3−メタクリロキシ
プロピルトリメトキシシラン等のシラン化合物;一分子
中にケイ素原子結合アルケニル基もしくはケイ素原子結
合水素原子、およびケイ素原子結合アルコキシ基をそれ
ぞれ少なくとも1個ずつ有するシロキサン化合物、ケイ
素原子結合アルコキシ基を少なくとも1個有するシラン
化合物またはシロキサン化合物と一分子中にケイ素原子
結合ヒドロキシ基とケイ素原子結合アルケニル基をそれ
ぞれ少なくとも1個ずつ有するシロキサン化合物との混
合物、式:
Further, the composition may contain an adhesiveness-imparting agent for improving its adhesiveness. The adhesiveness imparting agent is preferably an organosilicon compound having at least one alkoxy group bonded to a silicon atom in one molecule. As this alkoxy group,
Methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group,
A methoxyethoxy group is exemplified, and a methoxy group is particularly preferable. Further, as the groups other than the alkoxy group bonded to the silicon atom of the organosilicon compound, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group,
Alkyl group such as hexyl group, heptyl group; alkenyl group such as vinyl group, allyl group, butenyl group, pentenyl group, hexenyl group; aryl group such as phenyl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group; benzyl group, phenethyl group An aralkyl group such as; a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group such as a halogenated alkyl group such as a chloromethyl group, a 3-chloropropyl group, a 3,3,3-trifluoropropyl group;
Glycidoxyalkyl groups such as 3-glycidoxypropyl group and 4-glycidoxybutyl group; 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyl group, 3- (3,4-epoxycyclohexyl) propyl group and the like Epoxycyclohexylalkyl group; epoxy group-containing monovalent organic group such as oxiranylalkyl group such as 4-oxiranylbutyl group and 8-oxiranyloctyl group; acryl group-containing monovalent group such as 3-methacryloxypropyl group Organic group; a hydrogen atom is exemplified. Since it can give good adhesion to various base materials,
This organosilicon compound preferably has at least one epoxy group-containing monovalent organic group in one molecule. Examples of such organosilicon compounds include silane compounds and siloxane compounds. Examples of the molecular structure of the siloxane compound include linear, partially branched linear, branched, cyclic, and network structures, and particularly preferably linear, branched, and network structures. . Examples of such organosilicon compounds include silane compounds such as 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, and 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane; A siloxane compound having at least one silicon atom-bonded alkenyl group or silicon atom-bonded hydrogen atom and at least one silicon atom-bonded alkoxy group, a silane compound having at least one silicon atom-bonded alkoxy group, or a siloxane compound and silicon in one molecule. A mixture of a siloxane compound having at least one atom-bonded hydroxy group and at least one silicon-bonded alkenyl group, the formula:

【化1】 (式中、a、b、およびcは正数である。)で示される
シロキサン化合物、式:
[Chemical 1] (In the formula, a, b, and c are positive numbers), a siloxane compound represented by the formula:

【化2】 (式中、a、b、c、およびdは正数である。)で示さ
れるシロキサン化合物が例示される。この接着付与剤は
低粘度液状であることが好ましく、その粘度は限定され
ないが、25℃において1〜500mPa・sの範囲内であ
ることが好ましい。また、上記組成物において、この接
着付与剤の含有量は限定されないが、(A)成分100重
量部に対して0.01〜10重量部の範囲内であること
が好ましい。
[Chemical 2] (In the formula, a, b, c, and d are positive numbers.) Are exemplified by the siloxane compound. This adhesion-imparting agent is preferably a low-viscosity liquid, and its viscosity is not limited, but it is preferably in the range of 1 to 500 mPa · s at 25 ° C. In the above composition, the content of the adhesion-imparting agent is not limited, but it is preferably in the range of 0.01 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the component (A).

【0019】また、上記組成物には、その他任意の成分
として、本発明のシリカ微粉末以外のシリカ微粉末、ア
ルミナ粉末、窒化アルミニウム粉末、窒化ホウ素粉末等
の熱伝導性充填剤;銀粉、銅粉等の導電性充填剤;シリ
コーン樹脂、フッ素樹脂等の有機樹脂微粉末;その他、
染料、顔料、難燃剤、溶剤等を含有してもよい。
In the above composition, as other optional components, a thermally conductive filler such as silica fine powder other than the silica fine powder of the present invention, alumina powder, aluminum nitride powder, boron nitride powder; silver powder, copper Conductive filler such as powder; Organic resin fine powder such as silicone resin and fluororesin; Others
It may contain a dye, a pigment, a flame retardant, a solvent and the like.

【0020】上記組成物は(A)成分〜(D)成分、および
その他任意の成分を混合することにより調製することが
できるが、(D)成分を、予め(A)成分の全部または一部
と混合した後、これに他の成分を混合することが好まし
い。
The above-mentioned composition can be prepared by mixing the components (A) to (D), and any other components. The component (D) may be previously prepared in whole or part of the component (A). After mixing with, it is preferable to mix with other ingredients.

【0021】上記組成物は、室温もしくは加熱によりヒ
ドロシリル化反応してシリコーン硬化物を形成すること
ができる。このヒドロシリル化反応を迅速に行うことが
できることから、50〜250℃に加熱することが好ま
しく、特には、80〜200℃に加熱することが好まし
い。このようにして得られるシリコーン硬化物として
は、レジン状、ゴム状、ゲル状が例示され、特に、ゴム
状、ゲル状であることが好ましい。
The above composition can undergo a hydrosilylation reaction at room temperature or by heating to form a cured silicone product. Since this hydrosilylation reaction can be carried out rapidly, heating to 50 to 250 ° C. is preferable, and heating to 80 to 200 ° C. is particularly preferable. Examples of the silicone cured product thus obtained include resin, rubber and gel, and rubber and gel are particularly preferable.

【0022】本発明の硬化性液状シリコーン組成物は、
シリコーン硬化物の熱膨張率を小さくするために多量の
シリカ微粉末を含有しても、チクソ性による粘度の上昇
が抑制され、比較的粘度が低く、良好な流動性や含浸性
を有するので、電気・電子用の接着剤、ポッティング
剤、保護コーティング剤、アンダーフィル剤として使用
することができ、特に、半導体素子の保護コーティング
剤、半導体素子と基板との間のアンダーフィル剤として
好適である。
The curable liquid silicone composition of the present invention comprises
Even if a large amount of silica fine powder is contained in order to reduce the thermal expansion coefficient of the silicone cured product, the increase in viscosity due to thixotropy is suppressed, the viscosity is relatively low, and since it has good fluidity and impregnability, It can be used as an electric / electronic adhesive, potting agent, protective coating agent, and underfill agent, and is particularly suitable as a protective coating agent for semiconductor elements and an underfill agent between a semiconductor element and a substrate.

【0023】次に、本発明の半導体装置について詳細に
説明する。本発明の半導体装置は、上記の硬化性液状シ
リコーン組成物により半導体素子が被覆されてなること
を特徴とする。この半導体素子としては、ダイオード、
トランジスタ、サイリスタ、モノリシックIC、さらに
はハイブリッドIC中の半導体素子が例示される。この
ような半導体装置としては、ダイオード、トランジス
タ、サイリスタ、モノリシックIC、ハイブリッドI
C、LSI、VLSIが例示される。
Next, the semiconductor device of the present invention will be described in detail. The semiconductor device of the present invention is characterized in that a semiconductor element is coated with the curable liquid silicone composition. As this semiconductor element, a diode,
Examples include semiconductor elements in transistors, thyristors, monolithic ICs, and hybrid ICs. Such semiconductor devices include diodes, transistors, thyristors, monolithic ICs, hybrid I
Examples are C, LSI, and VLSI.

【0024】本発明の半導体装置の一例であるLSI
(断面図)を図1および図2に示した。図1の半導体装
置は、半導体素子1が回路基板2上に搭載されており、
この半導体素子1と外部リード5に接続した回路配線3
とが導電性のワイヤ4により電気的に接続されている。
また、この半導体素子1は、樹脂製の枠材7内に充填さ
れた硬化性液状シリコーン組成物の硬化物6で被覆され
ている。この回路基板2の材質としては、ポリイミド樹
脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ガラス繊維強化エ
ポキシ樹脂、ベークライト樹脂、フェノール樹脂等の有
機樹脂;アルミナ等のセラミックス;銅、アルミニウム
等の金属が例示される。また、回路配線3の材質として
は、金、銅、銀−パラジウムが例示される。また、導電
性のワイヤ4の材質としては、金、金合金、アルミニウ
ム、銅が例示される。この回路基板2には半導体素子1
の他に、抵抗、コンデンサー、コイル等の電子部品が搭
載されていてもよい。
LSI which is an example of the semiconductor device of the present invention
(Cross-sectional view) is shown in FIGS. 1 and 2. In the semiconductor device of FIG. 1, a semiconductor element 1 is mounted on a circuit board 2,
Circuit wiring 3 connected to the semiconductor element 1 and the external leads 5.
And are electrically connected by a conductive wire 4.
The semiconductor element 1 is covered with a cured product 6 of a curable liquid silicone composition filled in a resin frame material 7. Examples of the material of the circuit board 2 include organic resins such as polyimide resin, bismaleimide triazine resin, glass fiber reinforced epoxy resin, bakelite resin, and phenol resin; ceramics such as alumina; metals such as copper and aluminum. Further, examples of the material of the circuit wiring 3 include gold, copper, and silver-palladium. Examples of the material of the conductive wire 4 include gold, gold alloy, aluminum and copper. The semiconductor element 1 is mounted on the circuit board 2.
Besides, electronic components such as resistors, capacitors, and coils may be mounted.

【0025】この半導体装置を製造する方法としては、
半導体素子1を回路基板2上に搭載し、次いで、この半
導体素子1と回路配線3とを導電性のワイヤ4により電
気的に接続した後、この半導体素子1の周囲に枠材7を
置き、この中に硬化性液状シリコーン組成物を充填す
る。この硬化性液状シリコーン組成物を硬化させる方法
としては、50〜200℃に加熱する方法が例示され
る。
As a method of manufacturing this semiconductor device,
The semiconductor element 1 is mounted on the circuit board 2, then the semiconductor element 1 and the circuit wiring 3 are electrically connected by the conductive wire 4, and then the frame member 7 is placed around the semiconductor element 1. The curable liquid silicone composition is filled in this. An example of a method of curing the curable liquid silicone composition is a method of heating at 50 to 200 ° C.

【0026】一方、図2で示した半導体装置は、半導体
素子1が、表面に印刷により形成された回路配線3およ
び端部に外部リード5を有する回路基板2上に搭載され
ており、半導体素子1と回路配線3とを導電性のバンプ
8により電気的に接続されている。この導電性のバンプ
8の材質としては、金、金合金、アルミニウム、銀、銀
合金、ニッケルが例示される。また、この半導体素子1
と回路基板2の間には、アンダーフィル剤として用いら
れてた硬化性液状シリコーン組成物の硬化物が充填され
ている。
On the other hand, in the semiconductor device shown in FIG. 2, the semiconductor element 1 is mounted on the circuit board 2 having the circuit wiring 3 formed by printing on the surface and the external leads 5 at the ends, and the semiconductor element is mounted. 1 and the circuit wiring 3 are electrically connected by a conductive bump 8. Examples of the material of the conductive bump 8 include gold, gold alloy, aluminum, silver, silver alloy, and nickel. In addition, this semiconductor device 1
A cured product of the curable liquid silicone composition used as an underfill agent is filled between the and the circuit board 2.

【0027】この半導体装置を製造する方法としては、
半導体素子1を回路基板2上に搭載し、次いで、この半
導体素子1と回路配線3とを導電性のバンプ8により電
気的に接続した後、この半導体素子1と回路基板2の間
に硬化性液状シリコーン組成物を含浸して硬化させる。
この硬化性液状シリコーン組成物を硬化させる方法とし
ては、50〜200℃に加熱する方法が例示される。
As a method of manufacturing this semiconductor device,
The semiconductor element 1 is mounted on the circuit board 2, and then the semiconductor element 1 and the circuit wiring 3 are electrically connected by the conductive bumps 8. Then, the semiconductor element 1 and the circuit board 2 are hardened between the semiconductor element 1 and the circuit board 2. The liquid silicone composition is impregnated and cured.
An example of a method of curing the curable liquid silicone composition is a method of heating at 50 to 200 ° C.

【0028】[0028]

【実施例】本発明の硬化性液状シリコーン組成物および
半導体装置を実施例により詳細に説明する。なお、粘度
は25℃における値である。また、シリカ微粉末の内部
シラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有
量の比、硬化性液状シリコーン組成物の粘度、チクソ
性、およびシリコーン硬化物の熱膨張率を次のようにし
て測定した。また、半導体装置の信頼性を次のようにし
て評価した。
EXAMPLES The curable liquid silicone composition and semiconductor device of the present invention will be described in detail with reference to Examples. The viscosity is a value at 25 ° C. Further, the ratio of the content of isolated silanol groups to the content of internal silanol groups of the silica fine powder, the viscosity of the curable liquid silicone composition, the thixotropy, and the thermal expansion coefficient of the silicone cured product were measured as follows. . Further, the reliability of the semiconductor device was evaluated as follows.

【0029】[シリカ微粉末の内部シラノール基の含有
量に対する孤立シラノール基の含有量の比]赤外線吸光
光度計により、内部シラノール基(3650cm-1)の赤
外線吸収と孤立シラノール基(3745cm-1)の赤外線
吸収を測定して、各々の吸収ピークについてピークの高
さ(ベースラインからピークトップまでの赤外線吸収の
強さ)を求め、内部シラノール基のピークの高さに対す
る孤立シラノール基のピークの高さの比(赤外線吸収の
強度比)を求めた。
[Ratio of content of isolated silanol group to content of internal silanol group of fine silica powder] Infrared absorption of internal silanol group (3650 cm -1 ) and isolated silanol group (3745 cm -1 ) by infrared absorption spectrophotometer The peak height of each absorption peak (infrared absorption intensity from the baseline to the top of the peak) is determined by measuring the infrared absorption of, and the peak height of the isolated silanol group relative to the peak height of the internal silanol group is calculated. The ratio (the ratio of infrared absorption intensity) was calculated.

【0030】[硬化性液状シリコーン組成物の粘度、チ
クソ性]硬化性液状シリコーン組成物の粘度を、スピン
ドルを用いた回転式粘度計によりおいて、回転数30rp
mで測定した値で示した。また、回転数6rpmにおける粘
度も同様に測定して、硬化性液状シリコーン組成物のチ
クソ性を表わす指標として、回転数30rpmにおける粘
度に対する回転数6rpmにおける粘度の値を求めた。な
お、この値が大きいほどチクソ性が大きいことを示す。
[Viscosity of curable liquid silicone composition, thixotropy] The viscosity of the curable liquid silicone composition was measured with a rotary viscometer using a spindle, and the rotation speed was 30 rp.
It is shown by the value measured in m. Also, the viscosity at a rotation speed of 6 rpm was similarly measured, and the value of the viscosity at a rotation speed of 6 rpm with respect to the viscosity at a rotation speed of 30 rpm was determined as an index showing the thixotropy of the curable liquid silicone composition. The larger this value, the greater the thixotropy.

【0031】[シリコーン硬化物の熱膨張率]固体試料
用の熱膨張率計を用いて、シリコーン硬化物の25℃〜
200℃における熱膨張率を測定した。
[Coefficient of thermal expansion of cured silicone] Using a coefficient of thermal expansion for solid samples, the cured silicone of 25 ° C to
The coefficient of thermal expansion at 200 ° C. was measured.

【0032】[半導体装置の信頼性(その1)]図1で
示した半導体装置を次のようにして作成した。半導体素
子1を、表面に印刷により形成された回路配線3および
端部に外部リード5を有するガラス繊維強化エポキシ樹
脂製の回路基板2上に搭載した後、半導体素子1と回路
配線3とを金製のワイヤ4により電気的に接続した。次
に、この半導体素子1を樹脂製の枠材7で囲み、この中
に硬化性液状シリコーン組成物をディスペンサーにより
充填した後、150℃の熱風循環式オーブンにより加熱
して硬化させた。このようにして作成した20個の半導
体装置を−65℃で30分間、+150℃で30分間を
1サイクルとするサーマルサイクル試験を500サイク
ル行なった後、外部リード5間の導通試験をおこない、
導通不良率を求めた。
[Reliability of Semiconductor Device (Part 1)] The semiconductor device shown in FIG. 1 was manufactured as follows. After mounting the semiconductor element 1 on the circuit board 3 made of glass fiber reinforced epoxy resin having the circuit wiring 3 formed by printing on the surface and the external leads 5 at the ends, the semiconductor element 1 and the circuit wiring 3 are made of gold. It was electrically connected by a wire 4 made of. Next, the semiconductor element 1 was surrounded by a resin frame material 7, a curable liquid silicone composition was filled therein with a dispenser, and then heated in a hot air circulation oven at 150 ° C. to be cured. The 20 semiconductor devices thus prepared were subjected to a thermal cycle test of 500 cycles of −65 ° C. for 30 minutes and + 150 ° C. for 30 minutes as one cycle, and then a continuity test between the external leads 5 was performed.
The conduction failure rate was calculated.

【0033】[半導体装置の信頼性(その2)]図2で
示した半導体装置を次のようにして作成した。半導体素
子1を、表面に印刷により形成された回路配線3および
端部に外部リード5を有するガラス繊維強化エポキシ樹
脂製の回路基板2上に搭載した後、半導体素子1と回路
配線3とを金製のバンプ8により電気的に接続した。こ
の半導体素子1と回路基板2の間に硬化性液状シリコー
ン組成物をディスペンサーにより半導体素子1の一端か
ら含浸しさせた後、150℃の熱風循環式オーブンによ
り加熱して硬化させた。このようにして作成した20個
の半導体装置を121℃、100%RHの雰囲気で96
時間静置する高温高湿試験を行なった後、外部リード5
間の導通試験をおこない、導通不良率を求めた。
[Reliability of Semiconductor Device (Part 2)] The semiconductor device shown in FIG. 2 was prepared as follows. After mounting the semiconductor element 1 on the circuit board 3 made of glass fiber reinforced epoxy resin having the circuit wiring 3 formed by printing on the surface and the external leads 5 at the ends, the semiconductor element 1 and the circuit wiring 3 are made of gold. Electrical connection was made with bumps 8 made of. A curable liquid silicone composition was impregnated between the semiconductor element 1 and the circuit board 2 from one end of the semiconductor element 1 by a dispenser, and then heated in a hot air circulation oven at 150 ° C. to be cured. Twenty semiconductor devices thus prepared were subjected to 96 atmosphere in an atmosphere of 121 ° C. and 100% RH.
After conducting a high-temperature and high-humidity test in which the external lead 5
A continuity test was conducted between them to determine the continuity failure rate.

【0034】[実施例1]分子鎖両末端ジメチルビニル
シロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン65重量%と
(CH2=CH)(CH3)2SiO1/2単位と(CH3)3SiO
1/2単位とSiO4/2単位から構成されるオルガノポリシ
ロキサンレジン35重量%との混合物(粘度=6,00
0mPa・s;ケイ素原子に結合したビニル基の含有量=0.
80重量%)60重量部に、酸素を含む雰囲気で金属ケ
イ素の粉塵を爆燃させて調製した球状シリカ微粉末(内
部シラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含
有量の比=0.26;平均粒径=1.5μm)35重量部
を均一に混合してベースを調製した。
[Example 1] 65% by weight of dimethylpolysiloxane blocked with dimethylvinylsiloxy groups at both ends of the molecular chain
(CH 2 ═CH) (CH 3 ) 2 SiO 1/2 unit and (CH 3 ) 3 SiO
A mixture of 1/2 unit and 35% by weight of an organopolysiloxane resin composed of 2 units of SiO 4 (viscosity = 600
0 mPa · s; content of vinyl group bonded to silicon atom = 0.
80 wt%) 60 parts by weight of spherical silica fine powder prepared by detonating metallic silicon dust in an atmosphere containing oxygen (ratio of the content of isolated silanol groups to the content of internal silanol groups = 0.26; average (Particle size = 1.5 μm) 35 parts by weight were uniformly mixed to prepare a base.

【0035】次に、このベース全量に、粘度20mPa・s
の分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイド
ロジェンポリシロキサン(ケイ素原子に結合した水素原
子の含有量=0.75重量%)3.0重量部、白金の1,
3−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体(本組成物
において、この錯体中の白金金属が重量単位で5ppmと
なる量)、3−フェニル−1−ブチン−3−オール0.
01重量部、および粘度20mPa・sの式:
Next, a viscosity of 20 mPa.s is added to the total amount of this base.
Methyl hydrogen polysiloxane with trimethylsiloxy groups blocked at both ends of the molecular chain (content of hydrogen atoms bonded to silicon atoms = 0.75% by weight) 3.0 parts by weight, platinum 1,
3-divinyltetramethyldisiloxane complex (in the composition, the amount of platinum metal in the complex is 5 ppm by weight), 3-phenyl-1-butyn-3-ol.
Formula of 01 parts by weight and viscosity of 20 mPa · s:

【化3】 で示される接着性付与剤1.0重量部を均一に混合して
液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物の粘
度、チクソ性を示す値、シリコーンゴムの熱膨張率を表
1に示した。また、この組成物を用いて作成した半導体
装置の信頼性の結果を表1に示した。
[Chemical 3] The liquid silicone rubber composition was prepared by uniformly mixing 1.0 part by weight of the adhesion-imparting agent represented by Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0036】[比較例1]実施例1において、球状シリ
カ微粉末の代わりに酸素を含む雰囲気内で金属ケイ素の
粉塵を爆燃させることにより得られた球状シリカ微粉末
(内部シラノール基の含有量に対する孤立シラノール基
の含有量の比=0.005;平均粒径=1.5μm)を同
量用いた以外は実施例1と同様にして液状シリコーンゴ
ム組成物を調製した。この組成物の粘度、チクソ性を示
す値、シリコーンゴムの熱膨張率を表1に示した。ま
た、この組成物を用いて作成した半導体装置の信頼性の
結果を表1に示した。
Comparative Example 1 In Example 1, spherical silica fine powder obtained by detonating metallic silicon dust in an atmosphere containing oxygen instead of spherical silica fine powder (based on the content of internal silanol groups) A liquid silicone rubber composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that the ratio of the content of isolated silanol groups = 0.005; the average particle size = 1.5 μm) was used. Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0037】[比較例2]比較例1において、球状シリ
カ微粉末の含有量を27重量部とし、分子鎖両末端ジメ
チルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン65
重量%と(CH2=CH)(CH3)2SiO1/2単位と(CH3)
3SiO1/2単位とSiO4/2単位から構成されるオルガノ
ポリシロキサンレジン35重量%との混合物の含有量を
68重量部とした以外は比較例1と同様にして液状シリ
コーンゴム組成物を調製した。この組成物の粘度、チク
ソ性を示す値、シリコーンゴムの熱膨張率を表1に示し
た。また、この組成物を用いて作成した半導体装置の信
頼性の結果を表1に示した。
[Comparative Example 2] In Comparative Example 1, the content of the spherical silica fine powder was 27 parts by weight, and dimethylpolysiloxane 65 capped with dimethylvinylsiloxy groups at both molecular chain ends was used.
% By weight and (CH 2 = CH) (CH 3 ) 2 SiO 1/2 units and (CH 3 ).
A liquid silicone rubber composition was prepared in the same manner as in Comparative Example 1 except that the content of the mixture of 35% by weight of an organopolysiloxane resin composed of 3 SiO 1/2 units and SiO 4/2 units was 68 parts by weight. Prepared. Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0038】[実施例2]分子鎖両末端ジメチルビニル
シロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン65重量%と
(CH2=CH)(CH3)2SiO1/2単位と(CH3)3SiO
1/2単位とSiO4/2単位から構成されるオルガノポリシ
ロキサンレジン35重量%との混合物(粘度=6,00
0mPa・s;ケイ素原子に結合したビニル基の含有量=0.
80重量%)60重量部に、ゾル−ゲル法により合成
し、その後焼成して調製した球状シリカ微粉末(内部シ
ラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量
の比=0.45;平均粒径=2.0μm)35重量部を均
一に混合してベースを調製した。
[Example 2] 65% by weight of dimethylpolysiloxane blocked with dimethylvinylsiloxy groups at both ends of the molecular chain
(CH 2 ═CH) (CH 3 ) 2 SiO 1/2 unit and (CH 3 ) 3 SiO
A mixture of 1/2 unit and 35% by weight of an organopolysiloxane resin composed of 2 units of SiO 4 (viscosity = 600
0 mPa · s; content of vinyl group bonded to silicon atom = 0.
80 wt%) 60 parts by weight of spherical silica fine powder prepared by sol-gel method and then calcined (ratio of content of isolated silanol groups to content of internal silanol groups = 0.45; average particle size) A base was prepared by uniformly mixing 35 parts by weight (diameter = 2.0 μm).

【0039】次に、このベース全量に、粘度20mPa・s
の分子鎖両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイド
ロジェンポリシロキサン(ケイ素原子に結合した水素原
子の含有量=0.75重量%)3.0重量部、白金の1,
3−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体(本組成物
において、この錯体中の白金金属が重量単位で5ppmと
なる量)、3−フェニル−1−ブチン−3−オール0.
01重量部、および粘度20mPa・sの式:
Next, a viscosity of 20 mPa · s was added to the total amount of this base.
Methyl hydrogen polysiloxane with trimethylsiloxy groups blocked at both ends of the molecular chain (content of hydrogen atoms bonded to silicon atoms = 0.75% by weight) 3.0 parts by weight, platinum 1,
3-divinyltetramethyldisiloxane complex (in the composition, the amount of platinum metal in the complex is 5 ppm by weight), 3-phenyl-1-butyn-3-ol.
Formula of 01 parts by weight and viscosity of 20 mPa · s:

【化4】 で示される接着性付与剤1.0重量部を均一に混合して
液状シリコーンゴム組成物を調製した。この組成物の粘
度、チクソ性を示す値、シリコーンゴムの熱膨張率を表
1に示した。また、この組成物を用いて作成した半導体
装置の信頼性の結果を表1に示した。
[Chemical 4] The liquid silicone rubber composition was prepared by uniformly mixing 1.0 part by weight of the adhesion-imparting agent represented by Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0040】[比較例3]実施例2において、球状シリ
カ微粉末の代わりに、ゾル−ゲル法により合成し、焼成
した後、表面を3−グリシドキシプロピルトリメトキシ
シランで処理した球状シリカ微粉末(内部シラノール基
の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比=0.
001;平均粒径=2.0μm)を同量用いた以外は実
施例2と同様にして液状シリコーンゴム組成物を調製し
た。この組成物の粘度、チクソ性を示す値、シリコーン
ゴムの熱膨張率を表1に示した。また、この組成物を用
いて作成した半導体装置の信頼性の結果を表1に示し
た。
[Comparative Example 3] The spherical silica fine powder prepared in Example 2 was synthesized by the sol-gel method instead of the spherical silica fine powder, calcined, and the surface thereof was treated with 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane. Powder (ratio of the content of isolated silanol groups to the content of internal silanol groups = 0.
A liquid silicone rubber composition was prepared in the same manner as in Example 2 except that the same amount was used (001; average particle size = 2.0 μm). Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0041】[比較例4]比較例3において、球状シリ
カ微粉末の含有量を25重量部とし、分子鎖両末端ジメ
チルビニルシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン65
重量%と(CH2=CH)(CH3)2SiO1/2単位と(CH3)
3SiO1/2単位とSiO4/2単位から構成されるオルガノ
ポリシロキサンレジン35重量%との混合物の含有量を
70重量部とした以外は比較例3と同様にして液状シリ
コーンゴム組成物を調製した。この組成物の粘度、チク
ソ性を示す値、シリコーンゴムの熱膨張率を表1に示し
た。また、この組成物を用いて作成した半導体装置の信
頼性の結果を表1に示した。
[Comparative Example 4] In Comparative Example 3, the content of the spherical silica fine powder was set to 25 parts by weight, and dimethylpolysiloxane 65 capped with dimethylvinylsiloxy groups at both molecular chain ends was used.
% By weight and (CH 2 = CH) (CH 3 ) 2 SiO 1/2 units and (CH 3 ).
A liquid silicone rubber composition was prepared in the same manner as in Comparative Example 3 except that the content of the mixture of 35 wt% of organopolysiloxane resin composed of 3 SiO 1/2 units and SiO 4/2 units was 70 parts by weight. Prepared. Table 1 shows the viscosity of this composition, the value showing thixotropy, and the coefficient of thermal expansion of the silicone rubber. In addition, Table 1 shows the results of the reliability of the semiconductor device manufactured using this composition.

【0042】[0042]

【表1】 [Table 1]

【0043】[0043]

【発明の効果】本発明の硬化性液状シリコーン組成物
は、シリコーン硬化物の熱膨張率を小さくするために多
量のシリカ微粉末を含有しても、チクソ性による粘度の
上昇が抑制され、良好な流動性や含浸性を有するという
特徴がある。また、本発明の半導体装置は、このような
硬化性液状シリコーン組成物により半導体素子が被覆さ
れてなるので、優れた信頼性を有するという特徴があ
る。
EFFECTS OF THE INVENTION The curable liquid silicone composition of the present invention is good because it contains a large amount of fine silica powder to reduce the coefficient of thermal expansion of the cured silicone, but the viscosity increase due to thixotropy is suppressed. It is characterized by having excellent fluidity and impregnation. Further, the semiconductor device of the present invention is characterized by having excellent reliability because the semiconductor element is coated with such a curable liquid silicone composition.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一例である半導体装置の断面図であ
る。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a semiconductor device which is an example of the present invention.

【図2】 本発明の一例である半導体装置の断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a semiconductor device which is an example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体素子 2 回路基板 3 回路配線 4 ワイヤ 5 外部リード 6 硬化性液状シリコーン組成物の硬化物 7 枠材 8 バンプ 1 Semiconductor element 2 circuit board 3 circuit wiring 4 wires 5 External lead 6 Cured product of curable liquid silicone composition 7 Frame material 8 bumps

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 峰 勝利 千葉県市原市千種海岸2番2 東レ・ダウ コーニング・シリコーン株式会社研究開発 本部内 Fターム(参考) 4J002 CP041 CP141 DA117 DD077 DJ016 FD147 GQ05 4M109 AA01 BA03 CA02 CA05 CA06 DB07 EA10 EB13 EC04 EE20 GA02    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Mine victory             2-2 Chikusaigan, Ichihara-shi, Chiba Toray Dow             Corning Silicone Co., Ltd. R & D             In headquarters F-term (reference) 4J002 CP041 CP141 DA117 DD077                       DJ016 FD147 GQ05                 4M109 AA01 BA03 CA02 CA05 CA06                       DB07 EA10 EB13 EC04 EE20                       GA02

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 シリカ微粉末を含有する硬化性液状シリ
コーン組成物であって、該シリカ微粉末の内部シラノー
ル基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比が
0.01以上であることを特徴とする硬化性液状シリコ
ーン組成物。
1. A curable liquid silicone composition containing fine silica powder, wherein the ratio of the content of isolated silanol groups to the content of internal silanol groups of the fine silica powder is 0.01 or more. A characteristic curable liquid silicone composition.
【請求項2】 シリカ微粉末が平均粒径0.1〜20μ
mの球状シリカ微粉末であることを特徴とする、請求項
1記載の硬化性液状シリコーン組成物。
2. The silica fine powder has an average particle size of 0.1 to 20 μm.
The curable liquid silicone composition according to claim 1, which is a spherical silica fine powder of m.
【請求項3】 シリカ微粉末が酸素を含む雰囲気内で金
属ケイ素の粉塵を爆燃させた微粉末であることを特徴と
する、請求項1または2記載の硬化性液状シリコーン組
成物。
3. The curable liquid silicone composition according to claim 1, wherein the silica fine powder is a fine powder obtained by detonating metallic silicon dust in an atmosphere containing oxygen.
【請求項4】 硬化性液状シリコーン組成物において、
シリカ微粉末の含有量が主成分のオルガノポリシロキサ
ン100重量部に対して10〜500重量部であること
を特徴とする、請求項1記載の硬化性液状シリコーン組
成物。
4. A curable liquid silicone composition comprising:
The curable liquid silicone composition according to claim 1, wherein the content of the fine silica powder is 10 to 500 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the main component organopolysiloxane.
【請求項5】 硬化性液状シリコーン組成物がヒドロシ
リル化反応硬化性液状シリコーン組成物であることを特
徴とする、請求項1記載の硬化性液状シリコーン組成
物。
5. The curable liquid silicone composition according to claim 1, wherein the curable liquid silicone composition is a hydrosilylation reaction curable liquid silicone composition.
【請求項6】 ヒドロシリル化反応硬化性液状シリコー
ン組成物が、 (A)ケイ素原子に結合したアルケニル基を一分子中に少なくとも2個有する液状 オルガノポリシロキサン 100重量部、 (B)ケイ素原子に結合した水素原子を一分子中に少なくとも2個有する液状オル ガノポリシロキサン 0.001〜100重量部、 (C)ヒドロシリル化反応用金属系触媒(本組成物に対して、本触媒中の金属原子 が重量単位で0.01〜1,000ppmとなる量)、 および (D)内部シラノール基の含有量に対する孤立シラノール基の含有量の比が0.0 1以上であるシリカ微粉末 10〜500重量部 から少くなくともなることを特徴とする、請求項5記載
の硬化性液状シリコーン組成物。
6. A hydrosilylation-curable liquid silicone composition, wherein (A) 100 parts by weight of a liquid organopolysiloxane having at least two alkenyl groups bonded to silicon atoms in one molecule, (B) bonded to silicon atoms. Liquid organopolysiloxane having at least two hydrogen atoms in one molecule, 0.001 to 100 parts by weight, (C) metal catalyst for hydrosilylation reaction From 10 to 500 parts by weight of silica fine powder in which the ratio of the content of the isolated silanol group to the content of the internal silanol group is 0.01 or more (amount of 0.01 to 1,000 ppm in unit), and (D) the content of the internal silanol group. Curable liquid silicone composition according to claim 5, characterized in that it is at least at least one.
【請求項7】 (D)成分が予め(A)成分の全部または一
部に混合されていることを特徴とする、請求項6項記載
の硬化性液状シリコーン組成物。
7. The curable liquid silicone composition according to claim 6, wherein the component (D) is mixed in advance with all or part of the component (A).
【請求項8】 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の
硬化性液状シリコーン組成物により半導体素子が被覆さ
れてなることを特徴とする半導体装置。
8. A semiconductor device comprising a semiconductor element coated with the curable liquid silicone composition according to claim 1. Description:
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