JP2003110055A - Surface-packaging-type semiconductor package - Google Patents

Surface-packaging-type semiconductor package

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JP2003110055A
JP2003110055A JP2001300979A JP2001300979A JP2003110055A JP 2003110055 A JP2003110055 A JP 2003110055A JP 2001300979 A JP2001300979 A JP 2001300979A JP 2001300979 A JP2001300979 A JP 2001300979A JP 2003110055 A JP2003110055 A JP 2003110055A
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JP
Japan
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terminal
semiconductor package
external
external terminals
terminals
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JP2001300979A
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Japanese (ja)
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Masayuki Suzuki
雅之 鈴木
Nobuo Tashiro
伸夫 田代
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Mitsumi Electric Co Ltd
Original Assignee
Mitsumi Electric Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily recognize the installation direction to a packaging substrate and the terminal number of each external terminal. SOLUTION: A bump 16 used as an external terminal formed in a semiconductor package 10 is formed by an asymmetric pattern where the direction of the package 10 is fixed uniquely. Concretely speaking, for example, a dummy terminal 17 is formed near a specific external terminal (a first terminal 16a), thus easily recognizing that the terminal that is positioned near the dummy terminal 17 is the first terminal 16a, and at the same time easily mounting the package to a packaging substrate with a proper direction.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップの大
きさと略同等な大きさであり、前記半導体チップと電気
的に接続された複数の外部端子が形成されてなるチップ
サイズパッケージに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chip size package having a size substantially equal to that of a semiconductor chip and having a plurality of external terminals electrically connected to the semiconductor chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、例えば携帯型電話機や各種の
PDA(Personal Digital Assistant)機器などの電子
機器には、半導体装置が搭載されている。近年、半導体
装置は、電子機器の小型軽量化に対応するために、より
一層の小型化・薄型化及び軽量化を図り、実装効率を向
上させることが求められている。
2. Description of the Related Art Conventionally, semiconductor devices have been mounted in electronic devices such as mobile phones and various PDA (Personal Digital Assistant) devices. 2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor devices have been required to be further miniaturized, thinned, and lightened to improve mounting efficiency in order to cope with the reduction in size and weight of electronic devices.

【0003】このような半導体装置としては、外部端子
を2次元的に配置することにより実装効率が向上されて
なる、いわゆる表面実装型半導体パッケージが提供され
ている。
As such a semiconductor device, there is provided a so-called surface mount type semiconductor package in which mounting efficiency is improved by arranging external terminals two-dimensionally.

【0004】表面実装型半導体パッケージは、セラミッ
ク材料や樹脂材料によって形成された配線基板の一方主
面に半導体素子が形成されてなり、配線基板の他方主面
に、半導体素子の入出力端子や回路パターンに対してス
ルーホール接続された多数個の外部端子が形成されてな
る。このような表面実装型半導体パッケージは、半導体
チップと略々同等のサイズでパッケージを形成すること
ができることから、チップサイズパッケージ(CSP:
Chip Size Package)とも称されており、従来構造のパ
ッケージと比較して大幅に実装効率を向上することが可
能とされている。
The surface-mount type semiconductor package has a semiconductor element formed on one main surface of a wiring board made of a ceramic material or a resin material, and the other main surface of the wiring board has input / output terminals and circuits of the semiconductor element. A large number of external terminals connected to the pattern through holes are formed. Since such a surface mount semiconductor package can be formed in a size substantially equal to that of a semiconductor chip, a chip size package (CSP:
Chip Size Package) is also called, it is possible to significantly improve the mounting efficiency compared to the package of the conventional structure.

【0005】なお、チップサイズパッケージとしては、
半導体素子を実装した配線基板の底面に、外部端子を構
成する多数個のピン端子を格子(グリッド)状に配設さ
れてなるPGA(Pin Grid Array)半導体パッケージ
や、グリッド状に配設される外部端子が半田ボールによ
って形成されたBGA(Ball Grid Array)半導体パッ
ケージなどがある。また、チップサイズパッケージとし
ては、配線基板を使用せず半導体チップに外部取出し電
極部を形成し、その面を樹脂封止して形成されたウエハ
レベルCSPなどがある。
As a chip size package,
A PGA (Pin Grid Array) semiconductor package in which a large number of pin terminals forming external terminals are arranged in a grid pattern on the bottom surface of a wiring board on which semiconductor elements are mounted, or arranged in a grid pattern. There is a BGA (Ball Grid Array) semiconductor package in which external terminals are formed by solder balls. As the chip size package, there is a wafer level CSP formed by forming an external extraction electrode portion on a semiconductor chip without using a wiring substrate and sealing the surface with a resin.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、表面実装型
半導体パッケージは、上述したように半導体チップと同
等のサイズで形成されており、近年ますます小型化が進
められていることから、例えば縦横それぞれ1.0m
m、0.5mm程度の非常に微小な大きさで形成されて
いる。
By the way, the surface mount type semiconductor package is formed in the same size as the semiconductor chip as described above, and since the size of the semiconductor chip has been reduced more and more in recent years, for example, in each of the vertical and horizontal directions. 1.0 m
It is formed in a very small size of about m and 0.5 mm.

【0007】このため、この表面実装型半導体パッケー
ジには、例えば電子機器の実装基板に対して取り付ける
向きや各外部端子の端子番号などを示す文字や記号など
(以下、マーキングと称する。)を印刷などにより記載
することが甚だ困難である。しかしながら、このような
マーキングを記載しない場合には、実装基板に対して誤
った向きで取り付けてしまう虞が生じ、これによりパッ
ケージや内部の半導体素子を破損したり、ひいては実装
する電子機器が正常に動作しなくなってしまうなどの問
題が生じてしまう。
Therefore, for example, characters or symbols (hereinafter referred to as markings) indicating the direction of attachment to a mounting board of an electronic device or the terminal number of each external terminal are printed on the surface-mounting type semiconductor package. It is very difficult to describe due to such reasons. However, if such a marking is not described, it may be attached to the mounting substrate in the wrong direction, which may damage the package or the semiconductor element inside, or the electronic device to be mounted may not operate normally. Problems such as not working will occur.

【0008】そこで本発明は、上述した従来の実情に鑑
みてなされたものであり、文字や記号の記載が困難な程
度に小さなサイズで形成された場合であっても、実装基
板に対して取り付ける向きや各外部端子の端子番号を容
易に判別することが可能な表面実装型半導体パッケージ
を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional circumstances, and is attached to a mounting substrate even when it is formed in a small size where it is difficult to describe characters and symbols. An object of the present invention is to provide a surface-mount type semiconductor package capable of easily identifying the orientation and the terminal number of each external terminal.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明に係る表面実装型
半導体パッケージは、半導体チップの大きさと略同等な
大きさであり、前記半導体チップと電気的に接続された
複数の外部端子が形成されてなる表面実装型半導体パッ
ケージにおいて、前記外部端子は全体として、当該パッ
ケージの向きが一意的に定まる非対称な配置パターンで
形成されていることを特徴とするものである。
A surface mount semiconductor package according to the present invention has a size substantially equal to the size of a semiconductor chip, and has a plurality of external terminals electrically connected to the semiconductor chip. In the surface mount type semiconductor package formed as described above, the external terminals as a whole are formed in an asymmetrical arrangement pattern in which the orientation of the package is uniquely determined.

【0010】以上のように構成された本発明に係る表面
実装型半導体パッケージは、パッケージの向きが一意的
に定まる非対称な配置パターンで外部端子が形成されて
いることから、文字や記号の記載が困難な程度に小さな
サイズで形成された場合であっても、外部端子を読み取
ることによって、実装基板に対して取り付ける向きや各
外部端子の端子番号を容易に判別することが可能とな
る。
In the surface mount semiconductor package according to the present invention configured as described above, the external terminals are formed in an asymmetrical layout pattern in which the orientation of the package is uniquely determined. Even if it is formed in a size that is difficult to read, by reading the external terminals, it is possible to easily discriminate the mounting direction on the mounting board and the terminal number of each external terminal.

【0011】なお、上述した非対称な配置パターンを実
現する具体的な手法としては、例えば、所定の外部端子
の近傍位置にダミー端子を形成したり、所定の外部端子
を他の外部端子とは異なる端子径で形成したり、所定の
外部端子を所定の基準端子位置からずれた位置に形成す
ることなどを挙げることができる。また、例えば、前記
外部端子の形成面にダミー端子を形成し、前記外部端子
と前記ダミー端子とによって、所定の文字パターンを形
成することにより、前記外部端子が全体として非対称な
配置パターンとされているとしてもよい。
As a concrete method for realizing the above-mentioned asymmetrical layout pattern, for example, a dummy terminal is formed in the vicinity of a predetermined external terminal, or a predetermined external terminal is different from other external terminals. It may be formed with a terminal diameter, or a predetermined external terminal may be formed at a position deviated from a predetermined reference terminal position. Further, for example, a dummy terminal is formed on the surface on which the external terminal is formed, and a predetermined character pattern is formed by the external terminal and the dummy terminal, whereby the external terminal has an asymmetrical arrangement pattern as a whole. It may be present.

【0012】さらに、前記外部端子は、当該パッケージ
を実装する実装基板上に形成された電極端子の配置パタ
ーンに対応した配置パターンで形成され、前記実装基板
に対して所定の向きで実装した場合にのみ全ての外部端
子が前記電極端子に接続されることが望ましい。これに
より、本発明に係る表面実装型半導体パッケージを実装
基板に取り付けた際に、万が一謝った向きで取り付けた
場合であっても、外部端子と実装基板の電極端子とが導
通しないことから、この表面実装型半導体パッケージに
形成された半導体素子や実装基板上に配設された他の各
種素子が破損してしまうことを防止することができる。
Further, the external terminals are formed in a layout pattern corresponding to the layout pattern of the electrode terminals formed on the mounting board on which the package is mounted, and when mounted in a predetermined direction on the mounting board. It is desirable that only all the external terminals are connected to the electrode terminals. Accordingly, when the surface mount semiconductor package according to the present invention is mounted on the mounting board, even if the surface mounting type semiconductor package is mounted in the wrong orientation, the external terminals and the electrode terminals of the mounting board are not electrically connected. It is possible to prevent the semiconductor element formed in the surface mount type semiconductor package and various other elements arranged on the mounting board from being damaged.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。以下では、図
1に示すような半導体パッケージ10に本発明を適用し
た場合について説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Hereinafter, a case where the present invention is applied to the semiconductor package 10 as shown in FIG. 1 will be described.

【0014】半導体パッケージ10は、図1に示すよう
に、シリコン基板11の一主面上に半導体素子や回路パ
ターンなどが形成されており、これら半導体素子や回路
パターンが形成された側に絶縁層としてのポリイミド層
12が形成されている。また、ポリイミド層12上に
は、シリコン基板11上に形成された半導体素子の入出
力端子や回路パターンにスルーホール接続された導電層
としての再配線層13が形成されており、この再配線層
13上に導電性材料により形成されたポスト電極14が
形成されている。そして、シリコン基板11における半
導体素子や回路パターンが形成された側で、ポリイミド
層12、再配線層13、及びポスト電極14が樹脂材料
により形成された封止部材15によって充填されてい
る。
As shown in FIG. 1, the semiconductor package 10 has semiconductor elements, circuit patterns, etc. formed on one main surface of a silicon substrate 11, and an insulating layer is formed on the side on which these semiconductor elements, circuit patterns are formed. Is formed as a polyimide layer 12. A rewiring layer 13 is formed on the polyimide layer 12 as a conductive layer that is through-hole connected to the input / output terminals of the semiconductor element formed on the silicon substrate 11 and the circuit pattern. A post electrode 14 made of a conductive material is formed on the surface 13. The polyimide layer 12, the rewiring layer 13, and the post electrode 14 are filled with a sealing member 15 made of a resin material on the side of the silicon substrate 11 on which the semiconductor element and the circuit pattern are formed.

【0015】ここで、再配線層13は、シリコン基板1
1上に形成された半導体素子の入出力端子や回路パター
ンと、所定の位置に形成されるポスト電極14とを電気
的に接続するために備えられるものである。また、ポス
ト電極14の端面は、封止部材15と略々同一面を構成
しており、この封止部材15から外方に臨んでいる。
Here, the redistribution layer 13 is the silicon substrate 1
It is provided to electrically connect the input / output terminals and the circuit pattern of the semiconductor element formed on the first electrode to the post electrode 14 formed at a predetermined position. Further, the end surface of the post electrode 14 constitutes substantially the same surface as the sealing member 15, and faces the outside from the sealing member 15.

【0016】また、半導体パッケージ10は、ポスト電
極14上に、外部端子としてのバンプ16が形成されて
いる。すなわち、図1に示す半導体パッケージ10は、
配線基板を使用せず、シリコン基板11上に形成された
半導体素子と再配線層13,ポスト電極14を介して電
気的に接続された外部端子がバンプ16によって形成さ
れており、いわゆるウエハレベルCSPとして構成され
ている。
In the semiconductor package 10, bumps 16 as external terminals are formed on the post electrodes 14. That is, the semiconductor package 10 shown in FIG.
External terminals electrically connected to the semiconductor elements formed on the silicon substrate 11 via the rewiring layer 13 and the post electrodes 14 are formed by the bumps 16 without using a wiring substrate, and so-called wafer level CSP is used. Is configured as.

【0017】以上のように構成された半導体パッケージ
10は、図1に示すように、実装基板20上に形成され
た回路パターン21にバンプ16が載置された状態で半
田22によってバンプ16と回路パターン21とが接合
して、電気的に導通することとなる。
In the semiconductor package 10 configured as described above, as shown in FIG. 1, the bumps 16 and the circuit are formed by the solder 22 with the bumps 16 placed on the circuit patterns 21 formed on the mounting substrate 20. The pattern 21 is joined and electrically connected.

【0018】つぎに、半導体パッケージ10における外
部端子の配置パターンについて説明する。半導体パッケ
ージ10においては、外部端子としてのバンプ16が、
パッケージの向きが一意的に定まる非対称な配置パター
ンで形成されている。これにより、文字や記号の記載が
困難な程度に小さなサイズで形成された場合であって
も、外部端子を読み取ることによって、実装基板に対し
て取り付ける向きや各外部端子の端子番号を容易に判別
することが可能とされている。
Next, the layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10 will be described. In the semiconductor package 10, the bumps 16 as external terminals are
The package is formed in an asymmetrical layout pattern in which the orientation of the package is uniquely determined. This makes it easy to determine the orientation to attach to the mounting board and the terminal number of each external terminal by reading the external terminals, even if they are formed in a small size that makes it difficult to write characters and symbols. It is possible to do.

【0019】ここで、半導体パッケージ10における外
部端子の非対称な配置パターンとしては、様々な構成と
することが考えられるが、以下では、配置パターンの具
体的な一例について、図示しながら順に説明することと
する。なお、以下では、半導体パッケージ10における
外部端子が、図2に示すような配置パターンを基本形と
して形成されている場合を想定する。すなわち、半導体
パッケージ10においては、図2に示すように、外部端
子としてのバンプ16が第1の端子16a、第2の端子
16b、第3の端子16c、及び第4の端子16dの合
計4つ配設されている場合を想定する。
Here, the asymmetrical layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10 may have various configurations. In the following, a specific example of the layout pattern will be sequentially described with reference to the drawings. And In the following, it is assumed that the external terminals in the semiconductor package 10 are formed with the arrangement pattern as shown in FIG. 2 as a basic shape. That is, in the semiconductor package 10, as shown in FIG. 2, the bumps 16 as external terminals have a total of four bumps, namely the first terminal 16a, the second terminal 16b, the third terminal 16c, and the fourth terminal 16d. Assume that they are installed.

【0020】ただし、半導体パッケージ10において
は、外部端子の数について特に限定されるものではな
く、任意の数であってもよい。また、図2は、半導体パ
ッケージ10を底面側、すなわちバンプ16が形成され
た側からみた平面図である。
However, in the semiconductor package 10, the number of external terminals is not particularly limited and may be any number. 2 is a plan view of the semiconductor package 10 as seen from the bottom surface side, that is, the side where the bumps 16 are formed.

【0021】半導体パッケージ10における外部端子の
配置パターンの第1の例としては、図3に示すように、
所定の外部端子(例えば第1の端子16a)の近傍位置
に、半導体素子などに対して電気的に接続されていない
ダミー端子17を形成する場合を挙げることができる。
As a first example of the layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10, as shown in FIG.
An example is a case where a dummy terminal 17 that is not electrically connected to a semiconductor element or the like is formed in the vicinity of a predetermined external terminal (for example, the first terminal 16a).

【0022】これにより、外部端子の配置パターンを非
対称とすることができるとともに、ダミー端子17の近
傍に位置する端子が第1の端子16aであると判別でき
る。したがって、外部端子の配置パターンを読み取るこ
とによって、実装基板に対して取り付ける向きや各外部
端子の端子番号を容易に判別することができる。
As a result, the arrangement pattern of the external terminals can be made asymmetric, and the terminal located in the vicinity of the dummy terminal 17 can be determined to be the first terminal 16a. Therefore, by reading the arrangement pattern of the external terminals, it is possible to easily determine the mounting direction on the mounting board and the terminal number of each external terminal.

【0023】また、半導体パッケージ10における外部
端子の配置パターンの第2の例としては、図4に示すよ
うに、所定の外部端子(例えば第1の端子16a)を、
他の外部端子(例えば第2乃至第4の端子16b〜16
d)とは異なる端子径で形成する場合を挙げることがで
きる。なお、図4においては、第1の端子16aの端子
径を他の外部端子よりも大とした場合を図示している
が、この第1の端子16aを他の外部端子よりも小なる
端子径で形成してもよい。
As a second example of the layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10, as shown in FIG. 4, a predetermined external terminal (for example, the first terminal 16a) is used.
Other external terminals (for example, second to fourth terminals 16b to 16)
The case where the terminal diameter is different from that in d) can be mentioned. Although FIG. 4 illustrates a case where the terminal diameter of the first terminal 16a is larger than the other external terminals, the first terminal 16a has a smaller terminal diameter than the other external terminals. You may form with.

【0024】これにより、外部端子の配置パターンを非
対称とすることができるとともに、端子径の異なる第1
の端子16aを他の外部端子から容易に判別することが
できる。したがって、外部端子の配置パターンを読み取
ることによって、実装基板に対して取り付ける向きや各
外部端子の端子番号を容易に判別することができる。
As a result, the arrangement pattern of the external terminals can be made asymmetric, and the first terminals having different terminal diameters can be used.
The terminal 16a can be easily distinguished from other external terminals. Therefore, by reading the arrangement pattern of the external terminals, it is possible to easily determine the mounting direction on the mounting board and the terminal number of each external terminal.

【0025】また、半導体パッケージ10における外部
端子の配置パターンの第3の例としては、図5(a)に
示すように、所定の外部端子(例えば第3の端子16
d)を、図2に示すような基本端子パターンにおける基
準端子位置からずれた位置に形成する場合を挙げること
ができる。
As a third example of the layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10, as shown in FIG. 5A, a predetermined external terminal (for example, the third terminal 16) is used.
There may be mentioned a case where d) is formed at a position deviated from the reference terminal position in the basic terminal pattern as shown in FIG.

【0026】これにより、外部端子の配置パターンを非
対称とすることができるとともに、ずれた位置に形成さ
れた第3の端子16dを他の外部端子から容易に判別す
ることができる。したがって、外部端子の配置パターン
を読み取ることによって、実装基板に対して取り付ける
向きや各外部端子の端子番号を容易に判別することがで
きる。
As a result, the arrangement pattern of the external terminals can be made asymmetric, and the third terminal 16d formed at the displaced position can be easily distinguished from the other external terminals. Therefore, by reading the arrangement pattern of the external terminals, it is possible to easily determine the mounting direction on the mounting board and the terminal number of each external terminal.

【0027】このとき、半導体パッケージ10を取り付
ける実装基板20には、図5(b)に示すように、図5
(a)に示す外部端子の配置パターンに対応したパター
ンで電極端子22が形成されていることが望ましい。こ
れにより、半導体パッケージ10を正しい向きに実装基
板に取り付けた場合には、図6(a)に示すように全て
の外部端子と実装基板20の電極端子22とを接続する
ことができ、図6(b)及び図6(c)に示すように、
この半導体パッケージ10を90°方向又は180°方
向に回転させた状態で実装基板に取り付けた場合には、
外部端子と実装基板20の電極端子22との全てが導通
しないようにすることができる。
At this time, as shown in FIG. 5B, the mounting substrate 20 to which the semiconductor package 10 is attached is mounted as shown in FIG.
It is desirable that the electrode terminals 22 are formed in a pattern corresponding to the arrangement pattern of the external terminals shown in (a). As a result, when the semiconductor package 10 is mounted on the mounting substrate in the correct direction, all the external terminals can be connected to the electrode terminals 22 of the mounting substrate 20 as shown in FIG. As shown in (b) and FIG. 6 (c),
When the semiconductor package 10 is mounted on the mounting board in a state of being rotated in the direction of 90 ° or 180 °,
It is possible to prevent all the external terminals and the electrode terminals 22 of the mounting substrate 20 from being electrically connected.

【0028】これにより、半導体パッケージ10が誤っ
た向きで実装基板20に取り付けられた場合であって
も、パッケージ内部の半導体素子が破損したり、実装基
板20上に配設された他の半導体素子などに悪影響を及
ぼしてしまうことを防止することができる。
As a result, even when the semiconductor package 10 is mounted on the mounting substrate 20 in the wrong orientation, the semiconductor element inside the package is damaged or another semiconductor element mounted on the mounting substrate 20 is damaged. It is possible to prevent such a situation from being adversely affected.

【0029】また、半導体パッケージ10における外部
端子の配置パターンの第4の例としては、図7に示すよ
うに、外部端子の形成面にダミー端子17を形成し、第
1乃至第4の端子16a〜16dとダミー端子17とに
よって、所定の文字パターンを形成してもよい。なお、
図7においては、この半導体パッケージ10が例えば
「ミツミ電機株式会社」製であることを示すアルファベ
ットの「M」を示すパターンを外部端子とダミー端子1
7とによって構成している。
As a fourth example of the layout pattern of the external terminals in the semiconductor package 10, as shown in FIG. 7, dummy terminals 17 are formed on the external terminal forming surface and the first to fourth terminals 16a are formed. A predetermined character pattern may be formed by ˜16d and the dummy terminal 17. In addition,
In FIG. 7, a pattern indicating the letter “M” indicating that this semiconductor package 10 is manufactured by “Mitsumi Electric Co., Ltd.” is provided with external terminals and dummy terminals 1.
It is composed of 7 and.

【0030】これにより、外部端子の配置パターンを非
対称とすることができるとともに、外部端子が形成され
た面の文字パターンを確認することによって、この半導
体パッケージ10の向きや、各外部端子の端子番号など
を容易に判別することができる。尚、本実施の半導体パ
ッケージ10は、ウエハレベルCSPにおいて説明した
が、他のCSPについても、実施例第1乃至4によって
同等な効果を得ることができる。
As a result, the arrangement pattern of the external terminals can be made asymmetric, and the orientation of the semiconductor package 10 and the terminal number of each external terminal can be confirmed by checking the character pattern on the surface on which the external terminals are formed. It is possible to easily distinguish such as. Although the semiconductor package 10 of the present embodiment has been described as the wafer level CSP, the same effects can be obtained by the first to fourth embodiments with respect to other CSPs.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明に係る表面実装型半導体パッケー
ジは、外部端子の配置パターンと製品情報とが対応付け
されていることから、外部端子の配置パターンを読み取
ることによって、当該製品に関わる情報を知ることがで
きる。
In the surface mount type semiconductor package according to the present invention, the layout pattern of the external terminals and the product information are associated with each other. Therefore, by reading the layout pattern of the external terminals, the information related to the product can be obtained. I can know.

【0032】したがって、文字や記号の記載が困難な程
度に小さなサイズで形成されている場合であっても、製
造会社名、製造ライン番号、製造日、製品名、あるいは
製品番号などの製品情報を確実に知ることができ、製品
の品質管理を向上させるとともに、電子機器などへの取
付時などに誤って取り付けてしまうことなどを確実に防
止することができる。
Therefore, even if the characters or symbols are formed in a small size that is difficult to describe, the product information such as the manufacturer name, the manufacturing line number, the manufacturing date, the product name, or the product number is displayed. It is possible to surely know the information, improve the quality control of the product, and surely prevent accidental attachment at the time of attachment to an electronic device or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態として示す半導体パッケー
ジの概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a semiconductor package shown as an embodiment of the present invention.

【図2】同半導体パッケージの底面側に形成される外部
端子の基本配置パターンを示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic view showing a basic arrangement pattern of external terminals formed on the bottom surface side of the same semiconductor package.

【図3】本発明を適用した第1の例としての外部端子の
配置パターンを示す図であり、所定の外部端子の近傍位
置にダミー端子を配設した場合を示す模式図である。
FIG. 3 is a diagram showing an arrangement pattern of external terminals as a first example to which the present invention is applied, and is a schematic diagram showing a case where dummy terminals are arranged in the vicinity of predetermined external terminals.

【図4】本発明を適用した第2の例としての外部端子の
配置パターンを示す図であり、所定の外部端子を他の外
部端子とは異なる端子径で形成した場合を示す模式図で
ある。
FIG. 4 is a diagram showing an arrangement pattern of external terminals as a second example to which the present invention is applied, and is a schematic diagram showing a case where a predetermined external terminal is formed with a terminal diameter different from that of other external terminals. .

【図5】本発明を適用した第3の例としての外部端子の
配置パターンを示す図であり、所定の外部端子を基準端
子位置からずれた位置に形成した場合を示す模式図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing an arrangement pattern of external terminals as a third example to which the present invention is applied, and is a schematic diagram showing a case where a predetermined external terminal is formed at a position displaced from a reference terminal position.

【図6】図5に示す配置パターンで外部端子を形成した
場合に、この半導体パッケージを実装基板に対して正し
い向きと誤った向きで取り付けたときの電気的な接続状
態を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing an electrical connection state when this semiconductor package is attached to a mounting substrate in a correct orientation and an incorrect orientation when external terminals are formed in the arrangement pattern shown in FIG. .

【図7】本発明を適用した第4の例としての外部端子の
配置パターンを示す図であり、外部端子の形成面に配設
したダミー端子によって所定の文字パターン(図中にお
いては「M」の字形パターン)を形成した場合を示す模
式図である。
FIG. 7 is a diagram showing an arrangement pattern of external terminals as a fourth example to which the present invention is applied, in which a predetermined character pattern (“M” in the figure) is formed by dummy terminals arranged on a surface on which external terminals are formed. FIG. 6 is a schematic diagram showing a case where a letter-shaped pattern) is formed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 半導体パッケージ 11 シリコン基板 12 ポリイミド層 13 再配線層 14 ポスト電極 15 封止部材 16 バンプ(外部端子) 17 ダミー端子 20 実装基板 10 Semiconductor package 11 Silicon substrate 12 Polyimide layer 13 Rewiring layer 14 Post electrode 15 Sealing member 16 bumps (external terminals) 17 dummy terminals 20 mounting board

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップの大きさと略同等な大きさ
であり、前記半導体チップと電気的に接続された複数の
外部端子が形成されてなる表面実装型半導体パッケージ
において、 前記外部端子は全体として、当該パッケージの向きが一
意的に定まる非対称な配置パターンで形成されているこ
とを特徴とする表面実装型半導体パッケージ。
1. A surface mount semiconductor package having a plurality of external terminals that are substantially the same size as a semiconductor chip and that are electrically connected to the semiconductor chip. A surface mount semiconductor package, wherein the package is formed in an asymmetrical arrangement pattern in which the orientation of the package is uniquely determined.
【請求項2】 所定の外部端子の近傍位置にダミー端子
が形成されていることにより、前記外部端子が全体とし
て非対称な配置パターンとされていることを特徴とする
請求項1記載の表面実装型半導体パッケージ。
2. The surface mounting type according to claim 1, wherein the dummy terminal is formed in the vicinity of a predetermined external terminal, so that the external terminal has an asymmetrical arrangement pattern as a whole. Semiconductor package.
【請求項3】 所定の外部端子が他の外部端子とは異な
る端子径で形成されていることにより、前記外部端子が
全体として非対称な配置パターンとされていること を特徴とする請求項1記載の表面実装型半導体パッケー
ジ。
3. The predetermined external terminal is formed with a terminal diameter different from that of the other external terminals, so that the external terminals have an asymmetrical arrangement pattern as a whole. Surface mount semiconductor package.
【請求項4】 所定の外部端子が、所定の基準端子位置
からずれた位置に形成されていることにより、前記外部
端子が全体として非対称な配置パターンとされているこ
とを特徴とする請求項1記載の表面実装型半導体パッケ
ージ。
4. The predetermined external terminal is formed at a position deviated from a predetermined reference terminal position, so that the external terminal has an asymmetrical arrangement pattern as a whole. The surface mount semiconductor package described.
【請求項5】 前記外部端子は、当該パッケージを実装
する実装基板上に形成された電極端子の配置パターンに
対応した配置パターンで形成され、 前記実装基板に対して所定の向きで実装した場合にのみ
全ての外部端子が前記電極端子に接続されることを特徴
とする請求項4記載の表面実装型半導体パッケージ。
5. The external terminals are formed in a layout pattern corresponding to a layout pattern of electrode terminals formed on a mounting board on which the package is mounted, and when mounted in a predetermined direction on the mounting board. 5. The surface mount semiconductor package according to claim 4, wherein only all the external terminals are connected to the electrode terminals.
【請求項6】 前記外部端子の形成面にダミー端子が形
成され、 前記外部端子と前記ダミー端子とによって、所定の文字
パターンが形成されていることにより、前記外部端子が
全体として非対称な配置パターンとされていることを特
徴とする請求項1記載の表面実装型半導体パッケージ。
6. A layout pattern in which a dummy terminal is formed on a surface on which the external terminal is formed, and a predetermined character pattern is formed by the external terminal and the dummy terminal, so that the external terminal is asymmetrically arranged as a whole. The surface mount semiconductor package according to claim 1, wherein
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011151424A (en) * 2011-05-09 2011-08-04 Sony Corp Multi-beam type semiconductor light-emitting element
WO2012017507A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 パナソニック株式会社 Circuit board and method for manufacturing same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012017507A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 パナソニック株式会社 Circuit board and method for manufacturing same
CN102959699A (en) * 2010-08-06 2013-03-06 松下电器产业株式会社 Circuit board and method for manufacturing same
US9198284B2 (en) 2010-08-06 2015-11-24 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Circuit board and method for manufacturing same
JP2011151424A (en) * 2011-05-09 2011-08-04 Sony Corp Multi-beam type semiconductor light-emitting element

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