JP2003106814A - Inspection method and system for shadow mask and its program - Google Patents

Inspection method and system for shadow mask and its program

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JP2003106814A
JP2003106814A JP2001299032A JP2001299032A JP2003106814A JP 2003106814 A JP2003106814 A JP 2003106814A JP 2001299032 A JP2001299032 A JP 2001299032A JP 2001299032 A JP2001299032 A JP 2001299032A JP 2003106814 A JP2003106814 A JP 2003106814A
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shadow mask
inspection
coordinate
product
coordinate system
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JP2001299032A
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Seiji Yamada
清治 山田
Shinya Ihara
信哉 伊原
Hisashi Kuno
久 久野
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Toppan Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for improving the accuracy of inspection and confirmation and improving the efficiency of inspection process by exactly detecting defect part position not by a method of fixed corrected position but by putting on a moving stage when a product is put on an inspection table or an inspection/confirmation table. SOLUTION: In the inspection method, a marking hole and a reference hole are provided in a product, individual discrimination marks are given, the data of the marking hole are registered, the product is put on the inspection table, the reference hole is set as the origin, the position of the marking hole is measured and compared with the registered data, equation converting from inspection machine coordinates to product coordinates is produced and the detected defect position of pattern is converted to the product coordinates with the conversion equation and stored. In the defect part inspection/confirmation method, the product is put on the inspection/ confirmation table, the discrimination mark is input, the marking hole is measured and compared with the registered data, an equation converting from product coordinates to inspection machine coordinates is produced, the read out defect position is converted to the inspection machine coordinates, the defect part is output in image in a screen view and the defect part is inspected and confirmed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、シャドウマスク用
検査工程において、検出した不良部の位置データを正確
に保管及びそのデータ出力に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to accurate storage and data output of position data of a defective portion detected in a shadow mask inspection process.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にシャドウマスクは金属薄板を材料
とし、フォトエッチング法で形成される。シャドウマス
クは、所定の配列に従って多数の貫通孔11が形成され
た画像部と、画像部の外周取り巻く、プレス成形される
部位であるスカート部を有する。シャドウマスク7の検
査工程では、貫通孔11を通過した透過光もしくは、表
面反射光を利用して検査が行われる。例えば、貫通孔1
1が所定の孔径となっているか否かの検査は自動機械装
置を用いた自動検査が一般的に実施されている。
2. Description of the Related Art Generally, a shadow mask is made of a thin metal plate and is formed by a photoetching method. The shadow mask has an image portion in which a large number of through holes 11 are formed according to a predetermined arrangement, and a skirt portion surrounding the outer periphery of the image portion, which is a portion to be press-molded. In the inspection process of the shadow mask 7, the inspection is performed using the transmitted light that has passed through the through hole 11 or the surface reflected light. For example, through hole 1
As for the inspection as to whether 1 has a predetermined hole diameter, an automatic inspection using an automatic mechanical device is generally carried out.

【0003】その検査時に貫通孔の不良部8を検出した
場合、別の検査確認機10を用いて詳しく検査確認をす
る作業も実施されている。
When the defective portion 8 of the through hole is detected during the inspection, another inspection confirming machine 10 is used to perform detailed inspection confirmation.

【0004】ここで、検査機9もしくは検査確認機10
に付属する検査テーブル、検査確認テーブル21上に載
置した製品を自動検査もしくは検査確認する場合、テー
ブル21に載置した製品7の置き方によっては不良部の
位置が認識出来なくなる。例えばテーブル上に製品を平
面視で斜めに置いた場合、その傾き6等により不良部位
置データの精度に誤差が生じやすい傾向がある。即ち、
テーブル上の特定の位置に常に製品が置けない場合、不
良部を検出しても、製品を置いた位置がその都度異なる
為、製品上の正しい位置座標が得られなくなる。
Here, the inspection machine 9 or the inspection confirmation machine 10
When automatically inspecting or inspecting and confirming the products placed on the inspection table and the inspection confirmation table 21 attached to, the position of the defective part cannot be recognized depending on the way of placing the products 7 placed on the table 21. For example, when the product is placed on the table obliquely in a plan view, the inclination 6 or the like tends to cause an error in the accuracy of the defective portion position data. That is,
When the product cannot always be placed at a specific position on the table, even if a defective portion is detected, the position where the product is placed is different each time, and the correct position coordinates on the product cannot be obtained.

【0005】その対応策としては、図4の従来技術の斜
視側面図に示すように、検査、検査確認テーブル21に
備えた固定ピン12に製品に形成した固定ピン用孔を嵌
挿載置する方法がある。又、テーブル21にステージ機
構22備えたアライメント手段による補正等により、製
品置き方を微調整して修正する手順により対応する方法
も採用されている。
As a countermeasure, as shown in the perspective side view of the prior art of FIG. 4, a fixing pin hole formed in the product is fitted and mounted on the fixing pin 12 provided in the inspection and inspection confirmation table 21. There is a way. Further, there is also adopted a method of dealing with the procedure of finely adjusting and correcting the product placement method, such as correction by the alignment means provided on the table 21 with the stage mechanism 22.

【0006】しかし、上記の方法では、テーブル21に
載置した製品7には、固定ピンへの挿入、着脱時に無理
な力が製品に加わり、シャドウマスク用製品7が変形す
る不良が発生する。又、孔と固定ピン12の遊び精度
や、テーブル21に備えたアライメント部の精度不良に
より位置精度に狂いが生じ、正確な位置座標が得られな
い為に不良部の位置の確認が取れず、検査及び検査確認
の作業に支障をきたすという問題もある。
However, in the above method, the product 7 placed on the table 21 is subjected to an unreasonable force when it is inserted into or removed from the fixing pin, and the product 7 for shadow mask is deformed. In addition, the positional accuracy becomes incorrect due to the play accuracy between the hole and the fixing pin 12 and the accuracy of the alignment portion provided on the table 21, and the position of the defective portion cannot be confirmed because accurate position coordinates cannot be obtained. There is also a problem that it interferes with the work of inspection and inspection confirmation.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決する為になされたもので、その課題は、検査又は
検査確認テーブルに製品をラフに置いても、移載台に載
置したまま常に一定の位置座標値が得られ、検査精度向
上と検査工程の効率向上する方法を提供することであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems. The problem is that even if a product is roughly placed on an inspection or inspection confirmation table, it is placed on a transfer table. It is an object of the present invention to provide a method that can always obtain a constant position coordinate value while improving inspection accuracy and inspection process efficiency.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1に記載の発明に係る発明は、金属薄板に所定
の配列に従って多数の貫通孔が形成されたシャドウマス
クのパターン不良部を検査するシャドウマスク用検査方
法であって、(a)検査すべき各シャドウマスクに少な
くとも1対の対向端縁の同一個所に各シャドウマスクの
相対的座標軸(検査機座標系)を決定するための目印孔
を設ける工程と、(b)検査すべき各シャドウマスクに
予め固有の識別記号を付与してメモリ手段にエントリー
する工程と、(c)予め設定されているシャドウマスク
の基準孔を原点とした製品座標軸の目印孔の位置座標値
を基準位置座標値としてメモリ手段に格納する工程と、
(d)各シャドウマスクを検査テーブル上に1枚ずつ載
置する工程と、(e)前記シャドウマスクの基準孔を検
査機座標軸にあわせて、該基準孔の座標を原点とする工
程と、(f)前記シャドウマスクの対向端縁に形成され
た目印孔のそれぞれの検査機座標系の基準位置座標値を
前記固有の識別記号を付与して検出する工程と、(g)
該検出した目印孔の検査機座標の基準位置座標値を、前
記メモリーに格納した製品座標軸の目印孔の基準位置座
標値との比較演算方法を用いて、シャドウマスクの検査
座標軸から製品座標軸に算出する工程と、(h)前記シ
ャドウマスクの各貫通孔のパターン不良部を検査して、
該不良部の検査機座標の位置座標を検出する工程と、
(i)前記検出したシャドウマスクの検査機座標軸の位
置座標を、前記比較演算方法を用いて、製品座標系軸に
変換修正する工程と、(j)前記メモリ手段より、前記
シャドウマスクで検出された各貫通孔のパターン不良部
の製品座標軸の位置座標値を格納する工程とにより、シ
ャドウマスクに形成されたパターン不良部を検査するこ
とを特徴とするシャドウマスク用検査方法である。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to the first aspect of the invention is directed to a pattern defect portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement. An inspection method for a shadow mask to be inspected, comprising: (a) determining relative coordinate axes (inspection machine coordinate system) of each shadow mask at the same position of at least one pair of opposed edges of each shadow mask to be inspected. A step of providing a mark hole; (b) a step of giving a unique identification symbol to each shadow mask to be inspected in advance and entering it in the memory means; (c) a preset reference hole of the shadow mask as an origin Storing the position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis as a reference position coordinate value in the memory means,
(D) placing each shadow mask on the inspection table one by one, and (e) aligning the reference holes of the shadow mask with the inspection machine coordinate axes and setting the coordinates of the reference holes as the origin. f) a step of detecting the reference position coordinate value of the inspection machine coordinate system of each of the mark holes formed on the opposite end edges of the shadow mask by giving the unique identification mark, and (g)
The reference position coordinate value of the inspection machine coordinate of the detected mark hole is calculated from the inspection coordinate axis of the shadow mask to the product coordinate axis by using the comparison calculation method with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory. And (h) inspecting the pattern defective portion of each through hole of the shadow mask,
Detecting the position coordinates of the inspection machine coordinates of the defective portion,
(I) a step of converting the detected position coordinate of the inspection machine coordinate axis of the shadow mask into a product coordinate system axis by using the comparison calculation method; and (j) detecting the shadow mask by the memory means. And a step of storing the position coordinate value of the product coordinate axis of the pattern defective portion of each through hole, and the pattern defective portion formed on the shadow mask is inspected.

【0009】また、請求項2に記載の発明に係る発明
は、請求項1記載のシャドウマスク用検査方法で検出さ
れたパターン不良部の製品座標軸の位置座標値を用い
て、該不良部を検査確認する方法であって、(a)検査
確認するシャドウマスクに付与した固有の識別記号を入
力し、該シャドウマスクの検出されたパターン不良部の
製品座標軸の位置座標値を呼び出す工程と、(b)予め
設定されているシャドウマスクの基準孔を原点とした製
品座標軸の目印孔の位置座標値を基準位置座標値として
メモリ手段に格納する工程と、(c)各シャドウマスク
を検査確認テーブル上に1枚ずつ載置する工程と、
(d)前記シャドウマスクの基準孔を検査確認機座標軸
にあわせて、該基準孔の座標を原点とする工程と、
(e)前記シャドウマスクの対向端縁に形成された目印
孔のそれぞれ検査確認機座標の位置座標値を前記固有の
識別記号を付与して検出する工程と、(f)該検出した
目印孔の検査確認機座標値を、前記メモリーに格納した
座標製品座標軸の目印孔の基準位置座標値との比較演算
方法を用いて、シャドウマスクの製品座標軸から検査確
認機座標軸に算出する工程と、(g)前記メモリーより
呼び出したシャドウマスクのパターン不良部の製品座標
軸の位置座標値を前記比較演算方法を用いて、検査確認
機座標軸の位置座標値に変換し、該座標値をメモリーに
格納する工程と、(h)前記格納したシャドウマスクの
パターン不良部の検査確認機座標軸の位置座標値を用い
て前記パターン不良部を画面視野内に画像出力する工程
と、(i)画面視野内に画像出力した近傍の画面視野内
を移動し、または画面視野内の画像を拡大縮小する機能
によって検査確認する工程により、検出されたパターン
不良部を検査確認することを特徴とするシャドウマスク
用検査方法である。
In the invention according to claim 2, the defective portion is inspected by using the position coordinate value of the product coordinate axis of the pattern defective portion detected by the shadow mask inspection method according to the first aspect. (A) a step of: (a) inputting a unique identification symbol given to a shadow mask to be inspected and inspecting, and invoking a position coordinate value of a product coordinate axis of a detected pattern defect portion of the shadow mask; ) A step of storing the position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis with the reference hole of the preset shadow mask as the origin in the memory means as the reference position coordinate value, and (c) each shadow mask on the inspection confirmation table. The step of placing one by one,
(D) aligning the reference holes of the shadow mask with the coordinate axes of the inspection and confirmation machine, and using the coordinates of the reference holes as the origin;
(E) the step of detecting the position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinates of the mark holes formed on the opposite end edges of the shadow mask by giving the unique identification mark, and (f) the detected mark holes. Calculating the inspection confirmation machine coordinate value from the product coordinate axis of the shadow mask to the inspection confirmation machine coordinate axis by using a comparison calculation method with the reference position coordinate value of the mark hole of the coordinate product coordinate axis stored in the memory; ) Converting the position coordinate value of the product coordinate axis of the pattern defect portion of the shadow mask called from the memory into the position coordinate value of the inspection confirming machine coordinate axis using the comparison calculation method, and storing the coordinate value in the memory. (H) outputting the image of the defective pattern portion in the screen field of view using the stored position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinate axis of the defective pattern portion of the shadow mask; For shadow masks, characterized by inspecting and confirming the detected pattern defects by the process of inspecting and confirming by the function of moving the image in the vicinity of the screen field of view or scaling the image in the screen field of view. It is an inspection method.

【0010】また、請求項3に記載の発明に係る発明
は、金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通孔が形成
されたシャドウマスクのパターン不良部を検査する装置
であって、(a)検査すべき各シャドウマスクに少なく
とも1対の対向端縁の同一個所に各シャドウマスクの検
査機座標軸を決定するための目印孔を設ける手段と、
(b)検査すべき各シャドウマスクに予め固有の識別記
号を付与してメモリ手段にエントリーする手段と、
(c)予め設定されているシャドウマスクの基準孔を原
点とした製品座標軸の目印孔の位置座標値を基準位置座
標値としてメモリ手段に格納する手段と、(d)各シャ
ドウマスクを検査テーブル上に1枚ずつ載置する手段
と、(e)前記シャドウマスクの基準孔を検査機座標軸
にあわせて、該基準孔の座標を原点する手段と、(f)
前記シャドウマスクの対向端縁に形成された目印孔のそ
れぞれ検査機座標系の基準位置座標値を前記固有の識別
記号を付与して検出する手段と、(g)該検出した目印
孔の検査機座標系の基準位置座標値を、前記メモリーに
格納した製品座標軸の目印孔の基準位置座標値との比較
演算方法を用いて、シャドウマスクの検査座標軸から製
品座標軸に算出する手段と、(h)前記シャドウマスク
の各貫通孔のパターン不良部を検査して、該不良部の検
査機座標系の位置座標を検出する手段と、(i)前記検
出したシャドウマスクの検査機座標軸の位置座標を、前
記比較演算方法を用いて、製品座標軸に変換修正する手
段と、(j)前記メモリ手段より、前記シャドウマスク
で検出された各貫通孔のパターン不良部の製品座標軸の
位置座標値を格納する手段とにより、シャドウマスクに
形成されたパターン不良部を検査することを特徴とする
シャドウマスク検査装置である。
The invention according to claim 3 is an apparatus for inspecting a defective pattern portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement. Means for providing each shadow mask to be provided with a mark hole for determining the inspection machine coordinate axis of each shadow mask at the same position of at least one pair of opposed edges,
(B) a means for giving a unique identification symbol to each shadow mask to be inspected in advance and entering it in the memory means,
(C) A means for storing the position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis with the reference hole of the preset shadow mask as the origin in the memory means as the reference position coordinate value, and (d) each shadow mask on the inspection table. And (e) a means for placing one by one on the substrate, (e) a means for aligning the reference holes of the shadow mask with the coordinate axes of the inspection machine, and origins of the coordinates of the reference holes.
Means for detecting the reference position coordinate values of the inspection hole coordinate system of the mark holes formed on the opposite end edges of the shadow mask by giving the unique identification mark, and (g) the detected mark hole inspection machine Means for calculating the reference position coordinate value of the coordinate system from the inspection coordinate axis of the shadow mask to the product coordinate axis by using the comparison calculation method with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory; A means for inspecting a defective pattern portion of each through hole of the shadow mask to detect a position coordinate of the defective portion in an inspection machine coordinate system; and (i) a position coordinate of the detected inspection machine coordinate axis of the shadow mask, A means for converting and correcting into a product coordinate axis by using the comparison calculation method; and (j) storing the position coordinate value of the product coordinate axis of the defective pattern portion of each through hole detected by the shadow mask from the memory means. That by means a shadow mask inspection apparatus characterized by inspecting a pattern defect portion formed in the shadow mask.

【0011】また、請求項4に記載の発明に係る発明
は、請求項3記載のシャドウマスク用検査装置で検出さ
れたパターン不良部の製品座標軸の位置座標値を用い
て、該不良部を検査確認する装置であって、(a)検査
確認するシャドウマスクに付与した固有の識別記号を入
力し、該シャドウマスクの検出されたパターン不良部の
製品座標軸の位置座標値を呼び出す手段と、(b)予め
設定されているシャドウマスクの基準孔を原点とした製
品座標軸の目印孔の位置座標値を基準位置座標値として
メモリ手段に格納する手段と、(c)各シャドウマスク
を検査確認テーブル上に1枚ずつ載置する手段と、
(d)前記シャドウマスクの基準孔を検査確認機軸にあ
わせて、該基準孔の座標を原点する手段と、(e)前記
シャドウマスクの対向端縁に形成された目印孔のそれぞ
れ検査確認機座標の位置座標値を前記固有の識別記号を
付与して検出する手段と、(f)該検出した目印孔の検
査確認機座標の基準位置座標値を、前記メモリーに格納
した製品座標軸の目印孔の基準位置座標値との比較演算
方法を用いて、シャドウマスクの製品座標軸から検査確
認機座標軸に算出する手段と、(g)前記メモリーより
呼び出したシャドウマスクのパターン不良部の製品座標
軸の位置座標値を前記比較演算方法を用いて、検査確認
機座標軸の位置座標値に変換し、該座標値をメモリーに
格納する手段と、(h)前記格納したシャドウマスクの
パターン不良部の検査確認機座標軸の位置座標値を用い
て前記パターン不良部を画面視野内に画像出力する手段
と、(i)画面視野内に画像出力した近傍の画面視野内
を移動と、画面視野内の画像の拡大と、縮小する機能に
よって検査確認する手段により、シャドウマスクに形成
されたパターン不良部を検査確認することを特徴とする
シャドウマスク用検査装置である。
According to a fourth aspect of the present invention, the defective portion is inspected by using the position coordinate value of the product coordinate axis of the pattern defective portion detected by the shadow mask inspection apparatus according to the third aspect. An apparatus for confirming, (a) means for inputting a unique identification symbol given to a shadow mask to be inspected and confirming, and a position coordinate value of a product coordinate axis of a detected pattern defective portion of the shadow mask, (b) ) Means for storing in the memory means the position coordinate values of the mark holes of the product coordinate axis with the reference hole of the preset shadow mask as the origin, and (c) each shadow mask on the inspection confirmation table. Means for placing one by one,
(D) Means for aligning the reference hole of the shadow mask with the axis of the inspection and confirmation machine to origin the coordinates of the reference hole, and (e) Coordinates of the inspection and confirmation machine of the mark holes formed on the opposite edges of the shadow mask. Means for detecting the position coordinate value of the product by adding the unique identification symbol, and (f) the reference position coordinate value of the inspection and confirmation machine coordinates of the detected mark hole of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory. A means for calculating the product coordinate axis of the shadow mask from the product coordinate axis of the shadow mask to the coordinate axis of the inspection and confirmation machine by using the comparison calculation method with the reference position coordinate value; Is converted into position coordinate values of the inspection confirming machine coordinate axis by using the comparison calculation method, and the coordinate values are stored in a memory; and (h) the stored pattern defective portion of the shadow mask. A means for outputting the image of the pattern defect portion in the screen visual field by using the position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinate axes; and (i) moving the image in the screen visual field in the vicinity of the screen visual field and the image in the screen visual field. The inspection apparatus for a shadow mask is characterized by inspecting and confirming a defective pattern portion formed on the shadow mask by means of an inspection and confirmation function with the enlargement and reduction functions of.

【0012】また、請求項5に記載の発明に係る発明
は、金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通孔が形成
されたシャドウマスクのパターン不良部を検査するシャ
ドウマスクを検査するプログラムであって、(a)検査
すべき各シャドウマスクに少なくとも1対の対向端縁の
同一個所に各シャドウマスクの検査機座標軸を決定する
ための目印孔を設けるプログラムと、(b)検査すべき
各シャドウマスクに予め固有の識別記号を付与してメモ
リ手段にエントリーするプログラムと、(c)予め設定
されているシャドウマスクの基準孔を原点とした製品座
標軸の目印孔の位置座標値を基準位置座標値としてメモ
リ手段に格納するプログラムと、(d)各シャドウマス
クを検査テーブル上に1枚ずつ載置するプログラムと、
(e)前記シャドウマスクの基準孔を検査機座標軸にあ
わせて、該基準孔の座標を原点するプログラムと、
(f)前記シャドウマスクの対向端縁に形成された目印
孔のそれぞれ検査機座標の基準位置座標値を前記固有の
識別記号を付与して検出するプログラムと、(g)該検
出した目印孔の検査機座標の基準位置座標値を、前記メ
モリーに格納した製品座標軸の目印孔の基準位置座標値
との比較演算方法を用いて、シャドウマスクの検査座標
軸から製品座標軸に算出するプログラムと、(h)前記
シャドウマスクの各貫通孔のパターン不良部を検査し
て、該不良部の検査機座標の位置座標を検出するプログ
ラムと、(i)前記検出したシャドウマスクの検査機座
標軸の位置座標を、前記比較演算方法を用いて、製品座
標軸に変換修正するプログラムと、(j)前記メモリ手
段より、前記シャドウマスクで検出された各貫通孔のパ
ターン不良部の製品座標軸の位置座標値を格納する工程
とにより、シャドウマスクに形成されたパターン不良部
を検査することを特徴とするシャドウマスク用検査プロ
グラムである。
The invention according to claim 5 is a program for inspecting a shadow mask for inspecting a pattern defective portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement. , (A) a program for providing a mark hole for determining an inspection machine coordinate axis of each shadow mask at the same position of at least one pair of opposing edges on each shadow mask to be inspected, and (b) each shadow mask to be inspected And a program for entering a unique identification symbol in advance in the memory means, and (c) using the preset position of the reference hole of the shadow mask as the origin, the position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis as the reference position coordinate value. A program for storing in the memory means, (d) a program for placing each shadow mask on the inspection table one by one,
(E) A program for aligning the reference holes of the shadow mask with the coordinate axes of the inspection machine and setting the coordinates of the reference holes as the origin.
(F) A program for detecting the reference position coordinate values of the inspection machine coordinates of the mark holes formed on the opposite end edges of the shadow mask by giving the unique identification mark, and (g) the detected mark hole. A program for calculating the reference position coordinate value of the inspection machine coordinate from the inspection coordinate axis of the shadow mask to the product coordinate axis by using the comparison calculation method with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory. ) A program for inspecting the pattern defective portion of each through hole of the shadow mask to detect the position coordinate of the inspection machine coordinate of the defective portion, and (i) the position coordinate of the inspection machine coordinate axis of the detected shadow mask, A program for converting and correcting the product coordinate axis by using the comparison calculation method, and (j) a product of a pattern defective portion of each through hole detected by the shadow mask from the memory means. By the step of storing the position coordinates of the target axis, an inspection program for a shadow mask, characterized in that to inspect the defective pattern portion formed in the shadow mask.

【0013】また、請求項6に記載の発明に係る発明
は、請求項5記載のプログラムを用いて検出された不良
部を検査確認するプログラムであって、(a)検査確認
するシャドウマスクに付与した固有の識別記号を入力
し、該シャドウマスクの検出されたパターン不良部の製
品座標軸の位置座標値を呼び出すプログラムと、(b)
予め設定されているシャドウマスクの基準孔を原点とし
た製品座標軸の目印孔の位置座標値を基準位置座標値と
してメモリ手段に格納するプログラムと、(c)各シャ
ドウマスクを検査確認テーブル上に1枚ずつ載置するプ
ログラムと、(d)前記シャドウマスクの基準孔を検査
確認機軸にあわせて、該基準孔の座標を原点するプログ
ラムと、(e)前記シャドウマスクの対向端縁に形成さ
れた目印孔のそれぞれ検査確認機座標の位置座標値を前
記固有の識別記号を付与して検出しして検出するプログ
ラムと、(f)該検出した目印孔の検査確認機座標の基
準位置座標値を、前記メモリーに格納した製品座標軸の
目印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用いて、シ
ャドウマスクの製品座標軸から検査確認機座標軸に算出
するプログラムと、(g)前記メモリーより呼び出した
シャドウマスクのパターン不良部の製品座標軸の位置座
標値を前記比較演算方法を用いて、検査確認機座標軸の
位置座標値に変換し、該座標値をメモリーに格納するプ
ログラムと、(h)前記格納したシャドウマスクのパタ
ーン不良部の検査確認機座標軸の位置座標値を用いて前
記パターン不良部を画面視野内に画像出力するプログラ
ムと、(i)画面視野内に画像出力した近傍の画面視野
内を移動し、かつ画面視野内の画像を拡大縮小する機能
によって検査確認するプログラムにより、各シャドウマ
スクに形成されたパターン不良部を検査確認することを
特徴とするシャドウマスク用検査プログラムである。
The invention according to claim 6 is a program for inspecting and confirming a defective portion detected by using the program according to claim 5, which is (a) applied to a shadow mask for inspecting and confirming. (B) a program for inputting the unique identification code described above to call the position coordinate value of the product coordinate axis of the detected pattern defect portion of the shadow mask,
A program for storing in the memory means the position coordinate values of the mark holes of the product coordinate axis whose origin is the reference hole of the preset shadow mask, and (c) 1 for each shadow mask on the inspection confirmation table. A program for mounting the shadow masks one by one, (d) a program for aligning the reference holes of the shadow mask with the axis of the inspection and confirmation machine and setting the coordinates of the reference holes as the origin, and (e) formed on opposite edges of the shadow mask. A program for detecting and detecting the position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinates of the respective mark holes by adding the above-mentioned unique identification symbols to the detected coordinates, and (f) the reference position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinates of the detected mark holes. A program for calculating from the product coordinate axis of the shadow mask to the inspection confirmation machine coordinate axis by using the comparison calculation method with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory; (G) The position coordinate value of the product coordinate axis of the defective pattern of the shadow mask called from the memory is converted into the position coordinate value of the inspection confirming machine coordinate axis by using the comparison calculation method, and the coordinate value is stored in the memory. A program, (h) a program for outputting the image of the pattern defect portion in the screen visual field by using the stored position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinate axis of the pattern defect portion of the shadow mask, and (i) an image in the screen visual field A shadow mask characterized by inspecting and confirming a pattern defective portion formed in each shadow mask by a program for inspecting and checking by a function of moving in the screen field of view near the output and enlarging / reducing the image in the screen field of view. Inspection program.

【0014】また、請求項7に記載の発明に係る発明
は、請求項5、又は請求項6記載シャドウマスク用プロ
グラムを搭載することにより、検査機9又は検査確認機
10に付属する移載台21に載置した製品を自動検査す
る、又は自動検査確認をすることを特徴とするシャドウ
マスク用検査装置である。
The invention according to claim 7 is the transfer table attached to the inspection machine 9 or the inspection confirmation machine 10 by installing the shadow mask program according to claim 5 or 6. The inspection apparatus for a shadow mask is characterized by automatically inspecting a product placed on 21 or performing automatic inspection confirmation.

【0015】[0015]

【作用】従来の検査方法では、検査テーブル21上に載
置した製品の置き方によって、例えば傾き6等により位
置データ1の精度の誤差が生じやすい傾向がある。その
従来の技術の対応策としては、検査テーブル21に備え
た固定ピン12に固定ピン用孔を嵌挿して載置する方法
や、検査テーブルにステージ機構備えたアライメント手
段による補正等、製品の置き方を微調整することにより
対応する方法が採用されている。しかし、本発明の方法
によれば載置した製品の位置データを傾き等の補正値を
用いて自動計算方法により変換した位置データを出力し
て活用でき、位置精度の誤差を小さくできる。
In the conventional inspection method, an error in the accuracy of the position data 1 tends to occur due to the way the product placed on the inspection table 21 is placed, for example, the inclination 6. As a countermeasure for the conventional technique, a method of inserting the fixing pin hole into the fixing pin 12 provided on the inspection table 21 and placing the fixing pin 12 on the inspection table 21 and a correction by an alignment means provided with a stage mechanism on the inspection table are used for placing products. A corresponding method is adopted by finely adjusting the one. However, according to the method of the present invention, it is possible to output and utilize the position data obtained by converting the position data of the placed product by the automatic calculation method using the correction value such as the inclination, and reduce the error in the position accuracy.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明の実施形態
の一例を以下に詳細に説明する。図1は、本発明の一実
施形態の一例を示す斜視側面図である。なお、図1
(a)は、不良部の検出を行う検査装置であり、図1
(b)は、検査装置で検出された不良部を更に検査する
検査確認装置10である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An example of an embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective side view showing an example of an embodiment of the present invention. Note that FIG.
FIG. 1A is an inspection device for detecting a defective portion, and FIG.
(B) is an inspection confirmation device 10 for further inspecting a defective portion detected by the inspection device.

【0017】まず図1(a)の検査装置9に示すよう
に、装置を管理するシステム手段17をゆうする。シス
テム手段17はデータを格納し、データの入出力するデ
ータ格納部と、本発明のプログラムを収納するデスクメ
モリー部と、プロセッサ部と、オペレーションシステム
(OS)と、により構成されている。
First, as shown in the inspection device 9 of FIG. 1A, the system means 17 for managing the device is installed. The system means 17 is composed of a data storage unit for storing data and for inputting / outputting data, a desk memory unit for storing the program of the present invention, a processor unit, and an operating system (OS).

【0018】次いで、演算手段16は、不良部の位置デ
ータを補正演算するための、複数の数式処理プログラム
を主体に構成され、位置座標のデータを異なる座標系に
変換する自動変換業務を実行する。
Next, the calculation means 16 is mainly composed of a plurality of mathematical expression processing programs for correcting the position data of the defective portion, and executes an automatic conversion work for converting the position coordinate data into different coordinate systems. .

【0019】次いで、CCDカメラもしくはラインセン
サー19は、撮像する手段と、前記画像をビット画像に
変換する手段と、検出した不良部の位置データを自動測
定する手段と、縮小する、拡大する手段とをゆうする。
Next, the CCD camera or the line sensor 19 has means for taking an image, means for converting the image into a bit image, means for automatically measuring the position data of the detected defective portion, and means for reducing or enlarging. Ask.

【0020】ここで、被検査物の全面をスキャンニング
する手段としては、CCDカメラもしくラインセンサー
19を順次連続して被検査物上を動かす方法や、カメラ
を固定して、検査テーブル21を順次連続して動かす方
法があげられる。
Here, as means for scanning the entire surface of the object to be inspected, there is a method of moving a CCD camera or a line sensor 19 successively and continuously, or a method in which the camera is fixed and the inspection table 21 is fixed. One method is to move them in sequence.

【0021】次いで、図1(b)の検査確認装置におい
ては、装置を管理するシステム手段17を有する。シス
テム手段17はデータを格納し、データの入出力するデ
ータ格納部と、本発明のプログラムを収納するデスクメ
モリー部と、プロセッサ部と、オペレーションシステム
(OS)と、により構成されている。
Next, the inspection confirmation apparatus of FIG. 1B has system means 17 for managing the apparatus. The system means 17 is composed of a data storage unit for storing data and for inputting / outputting data, a desk memory unit for storing the program of the present invention, a processor unit, and an operating system (OS).

【0022】次いで、演算手段16は、不良部の位置デ
ータを補正演算するための、複数の数式処理プログラム
を主体に収納構成され、位置座標のデータを異なる座標
系に変換する自動変換業務を実行する。
Next, the calculation means 16 is mainly configured to store a plurality of mathematical expression processing programs for correcting and calculating the position data of the defective portion, and executes automatic conversion work for converting the position coordinate data into different coordinate systems. To do.

【0023】CCDカメラもしくはラインセンサー19
は、撮像する手段と、前記画像をビット画像に変換する
手段と、検出した不良部の位置データを自動測定する手
段と、縮小する、拡大する手段とを有する。
CCD camera or line sensor 19
Has an image pickup means, a means for converting the image into a bit image, a means for automatically measuring the position data of the detected defective portion, and a means for reducing or enlarging.

【0024】次に、前記検査装置9で検出した不良部の
貫通孔8を順次にCCDカメラもしくはラインセンサー
の画面視野内に自動誘導するXY駆動手段20を有す
る。不良部に画面視野を入れる手段としては、CCDカ
メラもしくはラインセンサー19を移動させる方法や、
カメラの位置を固定し、XY駆動手段20により検査確
認テーブル21を動かす方法がある。
Next, it has an XY drive means 20 for automatically guiding the through holes 8 of the defective portion detected by the inspection device 9 sequentially into the visual field of the screen of the CCD camera or the line sensor. As a means for putting the screen view in the defective portion, a method of moving the CCD camera or the line sensor 19,
There is a method of fixing the position of the camera and moving the inspection confirmation table 21 by the XY drive means 20.

【0025】次いで、図2(a)に示す平面図は正常な
位置データ2の例を示す。
Next, the plan view shown in FIG. 2A shows an example of normal position data 2.

【0026】ここでいう正常な位置データとは、検査機
の座標XY軸13と、検査テーブルに載置した製品の座
標xy軸14が完全に一致した状態を言うものである。
ここで製品には予め基準孔を形成しており、基準孔は製
品の座標xyの原点となるように形成している。また正
常な位置データ2においては、基準孔の座標値4と、検
査機の座標軸13の原点23と、検査テーブル21に載
置した製品の座標軸14の原点24とは一致している。
この場合は検査機により検出した不良部の位置データ1
は変換せずに、製品座標の位置データ2としてメモリー
エリアに格納する。
The normal position data as used herein means a state in which the coordinate XY axes 13 of the inspection machine and the coordinate xy axes 14 of the product placed on the inspection table completely match.
Here, a reference hole is previously formed in the product, and the reference hole is formed so as to be the origin of the coordinates xy of the product. Further, in the normal position data 2, the coordinate value 4 of the reference hole, the origin 23 of the coordinate axis 13 of the inspection machine, and the origin 24 of the coordinate axis 14 of the product placed on the inspection table 21 match.
In this case, the position data 1 of the defective part detected by the inspection machine
Is stored in the memory area as the position data 2 of the product coordinates without conversion.

【0027】図2(b)に示す平面図は位置データ1を
示す。
The plan view shown in FIG. 2B shows position data 1.

【0028】検査機の座標XY軸13と、検査テーブル
に載置した製品の座標xy軸14が不一致の状態を示し
ている。図1(a)と同じように、製品に予め形成した
基準孔の座標値4と、検査機の座標軸13の原点23
と、検査テーブルに載置した製品の座標軸14の原点2
4とは一致させている。この状態では、2つの座標軸は
座標軸の原点4,23,24、を中心に傾き6として数
式的に表現できる。この傾き6は検査テーブル21にシ
ャドウマスクを載置する際のシャドウマスク7の置き方
がばらつくことに起因する。この場合は検査機により検
出した不良部の位置データは検査XY軸系13の座標上
の位置データ1が記録され、本発明の演算手段16を用
いて、該位置データ1を検査テーブルに載置した製品の
座標軸14に変換させ、製品座標の位置データ2として
メモリーエリアに格納する。
The coordinate XY axes 13 of the inspection machine and the coordinate xy axes 14 of the products placed on the inspection table show a state of disagreement. Similar to FIG. 1A, the coordinate value 4 of the reference hole previously formed in the product and the origin 23 of the coordinate axis 13 of the inspection machine.
And the origin 2 of the coordinate axis 14 of the product placed on the inspection table.
It matches with 4. In this state, the two coordinate axes can be mathematically expressed as an inclination 6 centered on the origins 4, 23, 24 of the coordinate axes. The inclination 6 is caused by the variation in the placement of the shadow mask 7 when the shadow mask is placed on the inspection table 21. In this case, the position data 1 of the defective portion detected by the inspection machine is the position data 1 on the coordinates of the inspection XY axis system 13, and the position data 1 is placed on the inspection table by using the calculating means 16 of the present invention. The converted product coordinate axis 14 is stored in the memory area as the product coordinate position data 2.

【0029】図1(a)をもとに本発明の検査の方法を
説明する。
The inspection method of the present invention will be described with reference to FIG.

【0030】金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通
孔が形成されたシャドウマスクのパターン不良部を検査
するシャドウマスク用検査方法において、まず始めに、
連続する金属薄板の材料をシャドウマスクの製造工程に
投入する。次に、全工程の終了した製品は所定の寸法の
シート状の形状に断裁され、全数検査のために検査工程
に投入する。
In a shadow mask inspection method for inspecting a pattern defect portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement, first,
A material for a continuous thin metal plate is put into a shadow mask manufacturing process. Next, the product which has undergone all the processes is cut into a sheet-like shape having a predetermined size, and is put into the inspection process for 100% inspection.

【0031】ここで本発明のシャドウマスク7を検査す
る方法では、まず、(a)検査すべき各シャドウマスク
の少なくとも1対の対向端縁の同一個所に各シャドウマ
スクの検査機座標軸を決定するための目印孔を設けてい
る。目印孔は、シャドウマスクの製造工程後にパンチ等
を用いて設けてもよく、又は製造工程時に貫通孔の形成
と同時に形成することでもよい。なお、シャドウマスク
の外形線上に形成される凹凸部を目印孔としても構わな
い。
In the method for inspecting the shadow mask 7 of the present invention, first, (a) the inspector coordinate axis of each shadow mask is determined at the same position on at least one pair of opposed edges of each shadow mask to be inspected. There is a mark hole for this. The mark hole may be provided using a punch or the like after the shadow mask manufacturing process, or may be formed simultaneously with the formation of the through hole during the manufacturing process. The uneven portion formed on the outline of the shadow mask may be used as the mark hole.

【0032】次いで、(b)検査すべき各シャドウマス
クに予め固有の識別記号を付与してメモリ手段にエント
リーする工程を有する。当該工程では全ての製品に付与
する固有の番号を予め登録する。例えば、各製品の認識
記号を各製品に直接に印刷する等の方法による場合と、
又カセットの固有番号による管理方法もある。以降の工
程では、すべてのデータは前記の固有の認識記号をコー
ド番号としたデータにより一元管理する。
Then, (b) a step of giving a unique identification symbol to each shadow mask to be inspected in advance and entering it in the memory means is included. In this step, the unique numbers assigned to all products are registered in advance. For example, by the method of directly printing the recognition symbol of each product on each product,
There is also a management method using the unique number of the cassette. In the subsequent steps, all data are centrally managed by the data having the above-mentioned unique recognition symbol as a code number.

【0033】次いで、(c)予め設定されているシャド
ウマスクの基準孔を原点とした製品座標軸の目印孔の位
置座標値を基準位置座標値としてメモリ手段に格納する
工程である。当該工程では、基準孔の中心位置を座標原
点とした製品座標軸を絶対座標軸と呼称し、製品に配置
する各種パターンの配置座標値は絶対座標軸の位置座標
と規定した。べつに、検査機座標軸を相対座標軸と呼称
する。なお、基準孔もシャドウマスクの製造工程後にパ
ンチ等を用いて設けてもよく、又は製造工程時に貫通孔
の形成と同時に形成することであってもよい。又、その
位置は貫通孔が形成された画像部の外側の角部に設ける
のが望ましい、例えばスカート部であって画像部の外側
角部等が望ましい。
Then, (c) a step of storing the position coordinate values of the mark holes of the product coordinate axis with the preset reference hole of the shadow mask as the origin in the memory means as the reference position coordinate value. In the process, the product coordinate axis having the center position of the reference hole as the coordinate origin is referred to as an absolute coordinate axis, and the arrangement coordinate values of various patterns arranged on the product are defined as the position coordinates of the absolute coordinate axis. In general, the inspection machine coordinate axes are called relative coordinate axes. The reference hole may also be provided by using a punch or the like after the shadow mask manufacturing process, or may be formed simultaneously with the formation of the through hole during the manufacturing process. Further, the position is preferably provided at a corner portion outside the image portion where the through hole is formed, for example, a skirt portion and a corner portion outside the image portion is desirable.

【0034】次に、(d)各シャドウマスクを検査テー
ブル上に1枚ずつ載置する工程では、検査機9の検査テ
ーブル21上に、シート形状のシャドウマスク7の検査
表面をCCDカメラ19面に向けて、所定の位置に載置
する。
Next, in the step (d) of placing each shadow mask on the inspection table one by one, the inspection surface of the sheet-shaped shadow mask 7 is placed on the inspection table 21 of the inspection machine 9 with the CCD camera 19 surface. Place it in a predetermined position.

【0035】次いで、(e)前記シャドウマスクの基準
孔を検査機座標軸にあわせて、該基準孔の座標を原点す
る工程を有する。当該工程では、検査テーブル21に載
置した前記製品7に予め付与した基準孔の座標4を検査
機座標軸13の原点23に合わせる。例えば自動化の場
合は、基準孔4の形状、及びその寸法を予め登録し、該
基準孔を原点マークと規定し、該基準孔を原点マークと
自動識別すれば、自動的に位置を測定し、該位置を原点
とするプログラムを開発し自動化する等の対応ができ
る。
Next, there is a step (e) of aligning the reference holes of the shadow mask with the coordinate axes of the inspection machine and setting the coordinates of the reference holes as the origin. In this step, the coordinates 4 of the reference hole previously given to the product 7 placed on the inspection table 21 are aligned with the origin 23 of the inspection machine coordinate axis 13. For example, in the case of automation, if the shape of the reference hole 4 and its dimension are registered in advance, the reference hole is defined as an origin mark, and the reference hole is automatically identified as the origin mark, the position is automatically measured, It is possible to deal with the situation by developing and automating a program with the position as the origin.

【0036】次いで、(f)前記シャドウマスクの対向
端縁に形成された目印孔のそれぞれ検査機座標の位置座
標値を前記固有の識別記号を付与して検出する。当該工
程は、目印孔の位置を測定し、該実測位置データを識別
記号に合わせて格納する。
Next, (f) the position coordinate values of the inspection machine coordinates of the mark holes formed on the opposite edges of the shadow mask are detected by adding the unique identification mark. In this step, the position of the mark hole is measured, and the measured position data is stored according to the identification mark.

【0037】次に、(g)該検出した目印孔の検査機座
標の位置座標値を、前記メモリーに格納した製品座標軸
の目印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用いて、
シャドウマスクの検査座標軸から製品座標軸に算出す
る。当該工程は、基準孔を原点4、24、23に合わせ
たあとに、予め前記メモリーに格納した製品座標軸の目
印孔の基準位置座標値と、前記実測した目印孔1〜4の
各4点との位置座標値を比較して、両座標系の関係式を
作成する。前記製品の目印孔5a〜5dの位置の実測測
データと、登録されたな製品座標軸の位置データとのデ
ータのずれ(変動量)を計算式より算出し、該製品の傾
き値6をきめる。次に、前記の製品の傾き値6を用い
て、検査座標軸軸の実測位置データを製品座標軸の位置
データに比較変換する関係式を作成する。
Next, (g) the detected position coordinate value of the inspection hole coordinates of the mark hole is compared with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory,
Calculate from the inspection coordinate axis of the shadow mask to the product coordinate axis. In the step, after the reference holes are aligned with the origins 4, 24, 23, the reference position coordinate values of the mark holes of the product coordinate axis stored in the memory in advance, and the four measured mark holes 1 to 4 are measured. By comparing the position coordinate values of, the relational expressions of both coordinate systems are created. A data deviation (variation amount) between the actually measured data of the positions of the mark holes 5a to 5d of the product and the position data of the registered product coordinate axis is calculated by a calculation formula, and the inclination value 6 of the product is determined. Next, using the inclination value 6 of the product, a relational expression for comparing and converting the actually measured position data of the inspection coordinate axis to the position data of the product coordinate axis is created.

【0038】次いで、(h)前記シャドウマスクの各貫
通孔のパターン不良部を検査して、該不良部の検査機座
標の位置座標を検出する。当該工程は、検査テーブル2
1に載置した製品7の全面にスキャンニングを行い貫通
孔の不良部8を検出する。この検査による不良部8の検
出は、従来より行われている不良を検出する手法を用い
ても構わない。ちなみに貫通孔のパターンの良、不良の
判定は寸法による判断と正常な形状との差による判断と
による場合が一般に適用されている。次いで、検出され
た貫通孔の不良部の位置座標値はメモリー部に格納す
る。該位置座標値は検査機座標軸上の位置座標値であ
る。
Next, (h) the defective pattern portion of each through hole of the shadow mask is inspected to detect the position coordinates of the inspection machine coordinates of the defective portion. The process is the inspection table 2
The entire surface of the product 7 placed on the No. 1 is scanned to detect the defective portion 8 of the through hole. The detection of the defective portion 8 by this inspection may be performed by using a conventional method for detecting a defect. By the way, it is generally applied to judge whether the pattern of the through hole is good or not, by judging based on the size and the difference between the shape and the normal shape. Then, the detected position coordinate value of the defective portion of the through hole is stored in the memory unit. The position coordinate value is a position coordinate value on the inspection machine coordinate axis.

【0039】次いで、(i)前記検出したシャドウマス
クの検査機座標軸の位置座標を、前記比較演算方法を用
いて、製品座標軸に変換修正する。当該工程は、2つの
座標系変換式により、検査機座標軸上の位置座標値を製
品座標軸上の位置座標値に変換する。
Then, (i) the detected position coordinates of the inspection machine coordinate axis of the shadow mask are converted into the product coordinate axis and corrected by using the comparison calculation method. In this step, the position coordinate value on the inspection machine coordinate axis is converted into the position coordinate value on the product coordinate axis by two coordinate system conversion formulas.

【0040】次に、(j)前記メモリ手段より、前記シ
ャドウマスクで検出された各貫通孔のパターン不良部の
位置座標値を製品座標軸の位置座標値を格納する。当該
工程では、各シャドウマスクに形成されたパターン不良
部の検査座標軸の位置座標値から製品座標軸の位置座標
値に変換し格納する。
Next, (j) the position coordinate value of the defective pattern portion of each through hole detected by the shadow mask is stored from the memory means as the position coordinate value of the product coordinate axis. In this step, the position coordinate value of the inspection coordinate axis of the pattern defective portion formed on each shadow mask is converted into the position coordinate value of the product coordinate axis and stored.

【0041】以上(a)〜(j)の工程を実行すること
により、検査の結果を各シャドウマスクの固有番号ごと
に、貫通孔のパターン不良部の位置を製品座標軸の位置
座標値により格納して自動検査が完了する。又本発明を
用いた自動検査では不良部の検出を高精度に高能率に行
うことを可能とすることができる。
By performing the above steps (a) to (j), the inspection result is stored for each unique number of each shadow mask, and the position of the defective pattern portion of the through hole is stored by the position coordinate value of the product coordinate axis. The automatic inspection is completed. Further, in the automatic inspection using the present invention, it is possible to detect a defective portion with high accuracy and high efficiency.

【0042】次に、図1(b)を用いて本発明の検査確
認の方法を説明する。
Next, the inspection confirmation method of the present invention will be described with reference to FIG.

【0043】上述した検査方法で検出した不良部を検査
確認する方法について説明する。
A method of inspecting and confirming the defective portion detected by the above-described inspection method will be described.

【0044】まず、(a)検査確認するシャドウマスク
に付与した固有の識別記号を入力し、該シャドウマスク
の検出されたパターン不良部の製品座標軸の位置座標値
を呼び出す。
First, (a) the unique identification symbol given to the shadow mask to be inspected is input, and the position coordinate value of the product coordinate axis of the detected pattern defect portion of the shadow mask is called.

【0045】次いで、(b)予め設定されているシャド
ウマスクの基準孔を原点とした製品座標軸の目印孔の位
置座標値を基準位置座標値としてメモリ手段に格納する
工程は、検査確認テーブル21上に載置する前記製品7
に予め付与した基準孔4を原点24として、検査確認機
の座標系13の原点23にあわせる。
Then, (b) the step of storing the position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis having the reference hole of the preset shadow mask as the origin in the memory means as the reference position coordinate value is on the inspection confirmation table 21. Product 7 to be placed on
The reference hole 4 given in advance is set as the origin 24 and aligned with the origin 23 of the coordinate system 13 of the inspection and confirmation machine.

【0046】(c)各シャドウマスクを検査確認テーブ
ル上に1枚ずつ載置する工程は、前記検査終了したシャ
ドウマスク7を検査確認機10の検査確認テーブル21
上に、シャドウマスク7の表面をCCDカメラ19面に
向けて、所定の位置に載置する。
(C) In the step of placing each shadow mask on the inspection confirmation table one by one, the shadow mask 7 after the inspection is inspected by the inspection confirmation table 21 of the inspection confirming device 10.
The shadow mask 7 is placed at a predetermined position with the surface of the shadow mask 7 facing the CCD camera 19 surface.

【0047】(d)前記シャドウマスクの基準孔を検査
確認機座標軸にあわせて、該基準孔の座標を原点する。
(D) The reference hole of the shadow mask is aligned with the coordinate axis of the inspection and confirmation device, and the coordinates of the reference hole are set as the origin.

【0048】(e)前記シャドウマスクの対向端縁に形
成された目印孔のそれぞれ検査確認機座標の位置座標値
を前記固有の識別記号を付与して検出する。
(E) The position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinates of the mark holes formed on the opposite edges of the shadow mask are detected by adding the unique identification mark.

【0049】(f)該検出した目印孔の検査確認機座標
の基準位置座標値を、前記メモリーに格納した製品系座
標軸の目印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用い
て、シャドウマスクの製品座標軸から検査確認機座標軸
に算出する工程は、原点4、24,23に合わせたあと
に、予めメモリーに格納した製品座標軸の目印孔位置座
標値と、実測座標値とのデータのずれ(変動量)を計算
式より算出し、該製品の傾き値6をきめる。次に、前記
製品の傾き値6を用いて、格納する製品座標軸の位置座
標値を検査座標軸の位置座標値に変換して、該検査座標
軸の位置座標値を算出する。
(F) A shadow mask is calculated by comparing the detected reference position coordinate value of the inspection hole machine coordinate of the mark hole with the reference position coordinate value of the mark hole of the product coordinate axis stored in the memory. In the process of calculating from the product coordinate axis to the inspection confirmation machine coordinate axis, the deviation between the data of the mark hole position coordinate value of the product coordinate axis stored in the memory in advance and the actually measured coordinate value after adjusting to the origin 4, 24, 23 ( (Variation amount) is calculated from a calculation formula, and the inclination value 6 of the product is determined. Next, the position coordinate value of the product coordinate axis to be stored is converted into the position coordinate value of the inspection coordinate axis using the inclination value 6 of the product, and the position coordinate value of the inspection coordinate axis is calculated.

【0050】(g)前記メモリーより呼び出したシャド
ウマスクのパターン不良部の製品座標軸の位置座標値を
前記比較演算方法を用いて、検査確認機座標軸の位置座
標値に変換し、該座標値をメモリーに格納する。
(G) The position coordinate value of the product coordinate axis of the pattern defect portion of the shadow mask called from the memory is converted into the position coordinate value of the inspection confirming machine coordinate axis by using the comparison calculation method, and the coordinate value is stored in the memory. To store.

【0051】(h)前記格納したシャドウマスクのパタ
ーン不良部の検査確認機座標軸の位置座標値を用いて前
記パターン不良部を画面視野内に画像出力する工程と、
次に、検査確認テーブル21上に載置する製品の検出さ
れた貫通孔の不良部8を画面視野内に画像出力する。2
ヶ所以上の複数個の不良部がある場合は、順次画面視野
内に画像出力する。
(H) a step of outputting an image of the pattern defective portion in the visual field of the screen by using the stored position coordinate values of the inspection and confirmation machine coordinate axes of the pattern defective portion of the shadow mask,
Next, the defective portion 8 of the detected through hole of the product placed on the inspection confirmation table 21 is output as an image in the visual field of the screen. Two
When there are a plurality of defective portions at more than one place, the images are sequentially output within the visual field of the screen.

【0052】(i)画面視野内に画像出力した近傍の画
面視野内を移動と、画面視野内の画像の拡大と、縮小す
る機能によって検査確認する工程により、まず、検出す
る不良部の貫通孔8の中心位置に画面視野を移動し、次
に前記不良部の中央部を画面視野内に順次に画像を出力
する。次に、画像の拡大と、縮小する機能によって検査
確認する。
(I) Through the process of inspecting and confirming by the function of moving within the screen field of view near the image output in the screen field of view and enlarging and reducing the image within the screen field of view, first, the through hole of the defective portion to be detected is detected. The screen field of view is moved to the center position of 8, and then the central part of the defective portion is sequentially output within the screen field of view. Next, the inspection is confirmed by the function of enlarging and reducing the image.

【0053】以上の工程を実行することにより、検査機
により検出した貫通孔の不良部8を正確に短時間に確認
用画面に出力することが出来る。このため、確認用画面
より、当該不良原因が無視できるか否かを自動的に行え
る機構を付加すれば、自動検査確認を可能とすることが
できる。
By executing the above steps, the defective portion 8 of the through hole detected by the inspection machine can be accurately output to the confirmation screen in a short time. Therefore, if a mechanism for automatically determining whether or not the cause of the defect can be ignored is added to the confirmation screen, automatic inspection confirmation can be performed.

【0054】[0054]

【実施例】次に、本発明の具体的な実施例を図3(a)
を用いて説明する。
EXAMPLE Next, a specific example of the present invention is shown in FIG.
Will be explained.

【0055】<実施例1>検査テーブル21に載置した
シャドウマスク7の置き方のばらつきが大きい場合の平
面図である。
<Embodiment 1> FIG. 7 is a plan view showing a case where the placement of the shadow mask 7 placed on the inspection table 21 varies greatly.

【0056】まず、図1(a)に示すように、シャドウ
マスクを検査機のテーブル21上に、所定の位置にラフ
に載置した。
First, as shown in FIG. 1A, a shadow mask was roughly placed on a table 21 of an inspection machine at a predetermined position.

【0057】図3(a)は、テーブル上に置かれたシャ
ドウマスク7が平面視で斜めに傾いてテーブル上に置か
れた場合を示している。
FIG. 3 (a) shows a case where the shadow mask 7 placed on the table is placed on the table with a tilt in plan view.

【0058】次に各製品に付与する固有の識別記号を登
録する。固有の識別記号は一般的であるTEXTのデー
タ形式とし、すべてのデータは前記の固有の認識記号を
コード番号として一元管理する。なお、本実施例では固
有の認識記号は8桁の英文字と数字とした。
Next, the unique identification code given to each product is registered. The unique identification symbol is in a general TEXT data format, and all the data are centrally managed by using the unique identification symbol as a code number. In addition, in this embodiment, the unique recognition symbol is an 8-digit English character and a numeral.

【0059】次に、検査テーブル21に載置した前記製
品7に予め形成してある基準孔の座標4を原点24とし
て、検査機座標系13の原点23を原点24に合わせ
た。
Next, the coordinate 4 of the reference hole formed in advance on the product 7 placed on the inspection table 21 was used as the origin 24, and the origin 23 of the coordinate system 13 for the inspection machine was aligned with the origin 24.

【0060】又、目印孔5a〜5dの各4点を測定す
る。前記製品に予め形成する目印孔5a〜5dの位置の
実測の測定値データ1と、登録された製品座標軸の位置
データ2とのデータのずれ(変動量)を計算式より算出
する。
Further, each of four points of the mark holes 5a to 5d is measured. A data deviation (variation amount) between the actually measured value data 1 of the positions of the mark holes 5a to 5d formed in the product and the position data 2 of the registered product coordinate axis is calculated by a calculation formula.

【0061】目印孔5a変動量は2つの座標系の原点
4,23、24を中心に時計回りか、又は反時計回りの
回転のみの変動量となる。該製品の傾き値6は回転した
角度計算式で自動計算をした。次に、前記の製品の傾き
値6を用いて、検査座標軸の位置データから製品座標軸
位置データに変換する。
The change amount of the mark hole 5a is only a change amount clockwise or counterclockwise around the origins 4, 23 and 24 of the two coordinate systems. The tilt value 6 of the product was automatically calculated by the rotating angle calculation formula. Next, the inclination value 6 of the product is used to convert the position data of the inspection coordinate axis into the product coordinate axis position data.

【0062】次に、検査テーブル21に載置した製品の
全面をスキャンニングし、検査し、貫通孔の不良部8を
検出した。不良の検出方法は一般に採用されている方法
を用いた。
Next, the entire surface of the product placed on the inspection table 21 was scanned and inspected, and the defective portion 8 of the through hole was detected. A generally adopted method was used for the defect detection method.

【0063】ここで、前記製品検査において検出した貫
通孔8の不良部の位置データ1は座標原点から不良部中
心迄の距離を測定し、該測定値を位置データ1とした。
該距離を三角法(三角関数法)により計算して、製品座
標軸の位置データ2に変換して、製品座標軸の位置デー
タ2が得られた。
The position data 1 of the defective portion of the through hole 8 detected in the product inspection was measured by measuring the distance from the coordinate origin to the center of the defective portion, and the measured value was used as the position data 1.
The distance was calculated by the trigonometric method (trigonometric function method) and converted into the position data 2 of the product coordinate axis, and the position data 2 of the product coordinate axis was obtained.

【0064】次に、前記検査で検出された不良部を、固
有番号ごとに格納した製品座標軸の位置データ2を用い
て検査確認した。
Next, the defective portion detected in the above inspection was inspected and confirmed using the position data 2 of the product coordinate axis stored for each unique number.

【0065】すなわち、前記検査終了したシャドウマス
ク7を図1(b)に示すように、検査確認機の検査確認
テーブル21上の略所定の位置にラフに載置する。次
に、製品の固有の認識記号を入力し、該製品の貫通孔8
の不良部の製品座標軸の位置データ2を呼出した。
That is, as shown in FIG. 1B, the shadow mask 7 that has undergone the inspection is roughly placed at a substantially predetermined position on the inspection confirmation table 21 of the inspection confirming device. Next, enter the unique recognition symbol of the product and enter the through hole 8 of the product.
The position data 2 of the product coordinate axis of the defective part of 1 is called.

【0066】次に、検査確認テーブル21上に載置する
前記製品7に予め付与した基準孔の座標4を原点24と
して、検査確認機座標系13の原点23に原点24をあ
わせる。
Next, the coordinate 4 of the reference hole previously given to the product 7 placed on the inspection confirmation table 21 is set as the origin 24, and the origin 24 is aligned with the origin 23 of the inspection confirmation machine coordinate system 13.

【0067】又目印孔5a〜5dの各点を実測する。目
印孔5a〜5dの位置の実測値データ1と、前記メモリ
ーに格納した製品座標軸の位置データ2とのデータのず
れ(変動量)6を計算式より算出しする。目印孔5a変
動量は2つの座標系の原点4,23、24を中心に時計
回りか、又は反時計回りの回転のみの変動量となる。該
製品の傾き値6は回転した角度計算式で自動計算をし
た。次に、前記製品の傾き値6を用いて、格納する製品
座標軸の位置データ2を検査座標軸の位置データ1に変
換して、該検査座標軸の位置データ1を格納する。
Further, each point of the mark holes 5a to 5d is actually measured. A data deviation (variation amount) 6 between the measured value data 1 of the positions of the mark holes 5a to 5d and the position data 2 of the product coordinate axis stored in the memory is calculated by a calculation formula. The fluctuation amount of the mark hole 5a is a fluctuation amount of only clockwise or counterclockwise rotation around the origins 4, 23 and 24 of the two coordinate systems. The tilt value 6 of the product was automatically calculated by the rotating angle calculation formula. Next, using the inclination value 6 of the product, the position data 2 of the product coordinate axis to be stored is converted into the position data 1 of the inspection coordinate axis, and the position data 1 of the inspection coordinate axis is stored.

【0068】次に、検査確認テーブル21上に載置する
製品で、前記格納する位置データ1を用いて、検出され
た貫通孔の不良部8を画面視野内に画像出力する。2ヶ
所以上の複数個の不良部がある場合は、順次画面視野内
に画像出力する。
Next, in the product placed on the inspection confirmation table 21, the detected defective portion 8 of the through hole is image-outputted within the screen visual field by using the stored position data 1. If there are two or more defective parts, images are sequentially output within the visual field of the screen.

【0069】まず、検出する貫通孔不良部の8の中心位
置に画面視野を移動し不良部全体を一画面視野に出力可
能な倍率にして画面表示をした。次に前記不良部8の中
央部を画面視野内に移動して、不良部8全体を一画面視
野に出力可能な倍率にして画面表示をした。以降同じ手
順で順次に画像を出力した。次に、必要時には操作によ
り適宜に画像の拡大と、縮小する機能によって検査確認
した。不良部の確認作業ができた。
First, the screen visual field was moved to the center position of the defective through-hole portion 8 to be detected, and the entire defective portion was displayed on the screen at a magnification that allows output to one screen visual field. Next, the central portion of the defective portion 8 was moved into the screen visual field, and the entire defective portion 8 was displayed on the screen with a magnification that allows output to one screen visual field. After that, images were sequentially output by the same procedure. Next, when necessary, the inspection was confirmed by appropriately enlarging and reducing the image by the operation. I was able to confirm the defective part.

【0070】その結果、検査機により検出した貫通孔の
不良部8を正確に短時間に確認用画面に出力でき、自動
検査確認を可能とすることができた。
As a result, the defective portion 8 of the through hole detected by the inspection machine can be accurately output to the confirmation screen in a short time, and the automatic inspection confirmation can be performed.

【0071】[0071]

【発明の効果】本発明の方法により、検査(検査確認)
テーブル上(移載台上)にラフに製品を載置したままの
状態であっても、本発明のデータ変換法により、常に一
定の位置座標値が得られる。そのため検出された不良部
の位置を精度良く認識することが可能となる。又、本発
明の検査方法では、製品を固定ピンに挿入、着脱する必
要がなく無理な力が製品に掛からない。そのため、シャ
ドウマスク製品が変形する不良を発生せずに検査するこ
とが可能となる。すなわち、本発明を用いることで検査
精度向上と検査工程の効率向上が達成され、製品の変形
する不良の削減ができる。
According to the method of the present invention, inspection (inspection confirmation)
Even when the product is roughly placed on the table (on the transfer table), a constant position coordinate value can always be obtained by the data conversion method of the present invention. Therefore, it is possible to accurately recognize the detected position of the defective portion. In addition, in the inspection method of the present invention, it is not necessary to insert or remove the product into or from the fixing pin, so that no unreasonable force is applied to the product. Therefore, it is possible to inspect without causing a defect that the shadow mask product is deformed. That is, by using the present invention, improvement of inspection accuracy and improvement of efficiency of the inspection process can be achieved, and defects in which a product is deformed can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の検査装置の部分斜視断面図であり、
(a)は検査機、(b)検査確認機である。
FIG. 1 is a partial perspective sectional view of an inspection apparatus of the present invention,
(A) is an inspection machine, (b) is an inspection confirmation machine.

【図2】本発明の演算手段を説明する移載台に載置した
製品の部分平面図である。
FIG. 2 is a partial plan view of a product placed on a transfer table for explaining a calculation means of the present invention.

【図3】本発明の演算手段を説明するため、一実施例を
説明する移載台に載置した製品の部分平面図である。
FIG. 3 is a partial plan view of a product placed on a transfer table for explaining an embodiment of the present invention, for explaining an embodiment.

【図4】従来の方法を説明するために、一実施例を説明
する移載台に載置した製品の部分平面図であり、(a)
は斜視側面図であり、(b)は部分側断面図である。
FIG. 4 is a partial plan view of a product placed on a transfer table for explaining an example of a conventional method, FIG.
Is a perspective side view, and (b) is a partial side sectional view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…相対的座標軸(検査座標系)の座標値 2…絶対的座標軸(製品座標系)の座標値 3…(各製品に固有の)認識記号 4…基準孔 5a…目印孔1 5b…目印孔2 5c…目印孔3 5d…目印孔4 6…製品の傾き 7…シャドウマスク 8…貫通孔の不良部 9…(シャドウマスク用)検査機 10…(シャドウマスク用)検査確認機 11…貫通孔 12…固定ピン 13…検査機の(基準)座標系(検査確認機の基準座標
系) 14…(移載台に載置した)製品の座標系 15…貫通孔の集合した画像部 16…(比較)演算手段 17…システム手段 18…画面、入力キーボード 19…CCDカメラ及びラインセンサー 20…XY駆動手段 21…検査(検査確認)テーブル(移載台) 22…XYステージ 23…検査機の(相対的)座標軸系(検査確認機)の原
点 24…(ステージに載置した)製品の(絶対的)座標軸
系の原点
1 ... Coordinate value of relative coordinate axis (inspection coordinate system) 2 ... Coordinate value of absolute coordinate axis (product coordinate system) 3 ... Recognition symbol 4 (unique to each product) 4 ... Reference hole 5a ... Mark hole 15b ... Mark hole 2 5c ... Mark hole 3 5d ... Mark hole 4 6 ... Product inclination 7 ... Shadow mask 8 ... Through hole defective portion 9 ... (For shadow mask) Inspection machine 10 ... (For shadow mask) Inspection confirmation machine 11 ... Through hole 12 ... Fixing pin 13 ... (reference) coordinate system of the inspection machine (reference coordinate system of the inspection confirmation machine) 14 ... (Coordinate system of the product mounted on the transfer table) 15 ... Image part 16 in which through holes are assembled ... ( Comparison) Arithmetic means 17 ... System means 18 ... Screen, input keyboard 19 ... CCD camera and line sensor 20 ... XY drive means 21 ... Inspection (inspection confirmation) table (transfer table) 22 ... XY stage 23 ... (relative of inspection machine Source of coordinate axis system (inspection confirmation machine) 24 ... (was placed on the stage) of the product of (absolute) coordinate system origin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA03 AA20 AA51 BB27 CC00 DD19 FF04 JJ03 JJ26 PP12 QQ24 5B057 AA01 BA11 CD05 CH11 DA04 DA07 DA16    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2F065 AA03 AA20 AA51 BB27 CC00                       DD19 FF04 JJ03 JJ26 PP12                       QQ24                 5B057 AA01 BA11 CD05 CH11 DA04                       DA07 DA16

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通
孔が形成されたシャドウマスクのパターン不良部を検査
するシャドウマスク用検査方法であって、(a)検査す
べき各シャドウマスクに少なくとも1対の対向端縁の同
一個所に各シャドウマスクの相対的座標軸(検査機座標
系)を決定するための目印孔を設ける工程と、(b)検
査すべき各シャドウマスクに予め固有の識別記号を付与
してメモリ手段にエントリーする工程と、(c)予め設
定されているシャドウマスクの基準孔(基準パターン
4)を原点とした絶対的座標軸(製品座標系)の目印孔
の位置座標値を基準位置座標値としてメモリ手段に格納
する工程と、(d)各シャドウマスクを検査テーブル上
に1枚ずつ載置する工程と、(e)前記シャドウマスク
の基準孔を相対的座標軸(検査機座標系)にあわせて、
該基準孔の座標を原点とする工程と、(f)前記シャド
ウマスクの対向端縁に形成された目印孔のそれぞれ基準
位置座標値(検査機座標系)を前記固有の識別記号を付
与して検出する工程と、(g)該検出した目印孔の基準
位置座標値(検査機座標系)を、前記メモリーに格納し
た絶対的座標軸(製品座標系)の目印孔の基準位置座標
値との比較演算方法を用いて、シャドウマスクの相対的
座標軸(検査座標系)から絶対的座標軸(製品座標系)
に算出する工程と、(h)前記シャドウマスクの各貫通
孔のパターン不良部を検査して、該不良部の位置座標
(検査機座標系)を検出する工程と(i)前記検出した
シャドウマスクの相対的座標軸(検査機座標系)の位置
座標を、前記比較演算方法を用いて、絶対的座標軸(製
品座標系)に変換修正する工程と、(j)前記メモリ手
段より、前記シャドウマスクで検出された各貫通孔のパ
ターン不良部の絶対的座標軸(製品座標系)の位置座標
値を格納する工程とにより、シャドウマスクに形成され
たパターン不良部を検査することを特徴とするシャドウ
マスク用検査方法。
1. A shadow mask inspection method for inspecting a pattern defect portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement, wherein (a) at least 1 is provided for each shadow mask to be inspected. A step of providing a mark hole for determining a relative coordinate axis (inspection machine coordinate system) of each shadow mask at the same position of the opposite edges of the pair, and (b) a unique identification symbol is previously assigned to each shadow mask to be inspected. (C) The position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product coordinate system) with the preset reference hole (reference pattern 4) of the shadow mask as the origin is used as a reference. A step of storing the position coordinate values in a memory means; (d) a step of placing each shadow mask on the inspection table one by one; and (e) a relative position of the reference hole of the shadow mask. In accordance with the axis (inspection machine coordinate system),
A step of using the coordinates of the reference hole as an origin, and (f) assigning the respective reference position coordinate values (inspection machine coordinate system) of the mark holes formed on the opposite edges of the shadow mask to the unique identification mark. And (g) comparing the detected reference position coordinate value of the mark hole (inspection machine coordinate system) with the reference position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product coordinate system) stored in the memory. Using the calculation method, from the relative coordinate axes (inspection coordinate system) of the shadow mask to the absolute coordinate axes (product coordinate system)
And (h) inspecting the pattern defective portion of each through hole of the shadow mask to detect the position coordinates (inspection machine coordinate system) of the defective portion, and (i) the detected shadow mask Position coordinate of relative coordinate axis (inspection machine coordinate system) is converted into an absolute coordinate axis (product coordinate system) using the comparison calculation method, and (j) from the memory means, the shadow mask is used. A shadow mask characterized by inspecting a pattern defective portion formed in the shadow mask by a step of storing the position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the detected pattern defective portion of each through hole. Inspection method.
【請求項2】請求項1記載のシャドウマスク用検査方法
で検出されたパターン不良部の絶対的座標軸の位置座標
値を用いて、該不良部を検査確認する方法であって、
(a)検査確認するシャドウマスクに付与した固有の識
別記号を入力し、該シャドウマスクの検出されたパター
ン不良部の絶対的座標軸の位置座標値を呼び出す工程
と、(b)予め設定されているシャドウマスクの基準孔
(基準パターン4)を原点とした絶対的座標軸(製品系
座標)の目印孔の位置座標値を基準位置座標値としてメ
モリ手段に格納する工程と、(c)各シャドウマスクを
検査確認テーブル上に1枚ずつ載置する工程と、(d)
前記シャドウマスクの基準孔を相対的座標軸(検査確認
機系)にあわせて、該基準孔の座標を原点とする工程
と、(e)前記シャドウマスクの対向端縁に形成された
目印孔のそれぞれ位置座標値(検査確認機座標系)を前
記固有の識別記号を付与して検出する工程と、(f)該
検出した目印孔の基準位置座標値(検査確認機座標系)
を、前記メモリーに格納した絶対的座標軸(製品系座
標)の目印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用い
て、シャドウマスクの絶対的座標軸(製品座標系)から
相対的座標軸(検査確認機座標系)に算出する工程と、
(g)前記メモリーより呼び出したシャドウマスクのパ
ターン不良部の絶対的座標軸(製品座標系)の位置座標
値を前記比較演算方法を用いて、相対的座標軸(検査確
認機座標系)の位置座標値に変換し、該座標値をメモリ
ーに格納する工程と、(h)前記格納したシャドウマス
クのパターン不良部の相対的座標軸(検査確認機座標
系)の位置座標値を用いて前記パターン不良部を画面視
野内に画像出力する工程と、(i)画面視野内に画像出
力した近傍の画面視野内を移動し、又は、画面視野内の
画像を拡大縮小する機能によって検査確認する工程によ
り、検出されたパターン不良部を検査確認することを特
徴とするシャドウマスク用検査方法。
2. A method for inspecting and confirming a defective portion by using position coordinate values of absolute coordinate axes of the pattern defective portion detected by the shadow mask inspection method according to claim 1.
(A) A step of inputting a unique identification symbol given to a shadow mask to be inspected and calling, and a position coordinate value of an absolute coordinate axis of a detected pattern defect portion of the shadow mask, and (b) preset A step of storing the position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product system coordinate) with the reference hole (reference pattern 4) of the shadow mask as the origin in the memory means as the reference position coordinate value; A step of placing them one by one on the inspection confirmation table, and (d)
Aligning the reference hole of the shadow mask with a relative coordinate axis (inspection confirmation system) and setting the coordinates of the reference hole as an origin; and (e) each of the mark holes formed at the opposite end edges of the shadow mask. A step of detecting a position coordinate value (inspection confirmation machine coordinate system) by adding the unique identification symbol, and (f) a reference position coordinate value of the detected mark hole (inspection confirmation machine coordinate system)
By comparing the absolute coordinate axis (product system coordinate) stored in the memory with the reference position coordinate value of the mark hole, and using the relative operation method (inspection confirmation) from the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the shadow mask. The process of calculating in the machine coordinate system),
(G) The position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the pattern defect portion of the shadow mask called from the memory is calculated by using the above-mentioned comparison calculation method. And storing the coordinate values in a memory, and (h) using the stored position coordinate values of the relative coordinate axes (inspection confirmation machine coordinate system) of the pattern defective portions of the shadow mask to store the pattern defective portions. It is detected by the step of outputting an image in the screen field of view and the step of (i) moving in the screen field of view in the vicinity of the image output in the screen field of view, or performing a check by a function of enlarging or reducing the image in the screen field of view An inspection method for a shadow mask, characterized by inspecting and confirming a defective pattern portion.
【請求項3】金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通
孔が形成されたシャドウマスクのパターン不良部を検査
する装置であって、(a)検査すべき各シャドウマスク
に少なくとも1対の対向端縁の同一個所に各シャドウマ
スクの相対的座標軸(検査機座標系)を決定するための
目印孔を設ける手段と、(b)検査すべき各シャドウマ
スクに予め固有の識別記号を付与してメモリ手段にエン
トリーする手段と、(c)予め設定されているシャドウ
マスクの基準孔(基準パターン4)を原点とした絶対的
座標軸(製品座標系)の目印孔の位置座標値を基準位置
座標値としてメモリ手段に格納する手段と、(d)各シ
ャドウマスクを検査テーブル上に1枚ずつ載置する手段
と、(e)前記シャドウマスクの基準孔を相対的座標軸
(検査機座標系)にあわせて、該基準孔の座標を原点す
る手段と、(f)前記シャドウマスクの対向端縁に形成
された目印孔のそれぞれ基準位置座標値(検査機座標
系)を前記固有の識別記号を付与して検出する手段と、
(g)該検出した目印孔の基準位置座標値(検査機座標
系)を、前記メモリーに格納した絶対的座標軸(製品座
標系)の目印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用
いて、シャドウマスクの相対的(検査座標系)から絶対
的座標軸(製品座標系)に算出する手段と、(h)前記
シャドウマスクの各貫通孔のパターン不良部を検査し
て、該不良部の位置座標(検査機座標系)検出する手段
と、(i)前記検出したシャドウマスクの相対的座標軸
(検査機座標系)の位置座標を、前記比較演算方法を用
いて、絶対的座標軸(製品座標系)に変換修正する手段
と、(j)前記メモリ手段より、前記シャドウマスクで
検出された各貫通孔のパターン不良部の絶対的座標軸
(製品座標系)の位置座標値を格納する手段とにより、
シャドウマスクに形成されたパターン不良部を検査する
ことを特徴とするシャドウマスク検査装置。
3. An apparatus for inspecting a pattern defect portion of a shadow mask in which a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement, wherein (a) each shadow mask to be inspected has at least one pair of opposed ends. Means for providing a mark hole for determining the relative coordinate axis (inspection machine coordinate system) of each shadow mask at the same position on the edge, and (b) a memory in which each shadow mask to be inspected is given a unique identification symbol in advance. Means for entering the means, and (c) the position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product coordinate system) with the reference hole (reference pattern 4) of the preset shadow mask as the origin is used as the reference position coordinate value. Means for storing in the memory means, (d) means for placing each shadow mask on the inspection table one by one, and (e) relative coordinate axes for the reference holes of the shadow mask (inspection machine coordinate system). In addition, means for locating the coordinates of the reference hole and (f) the reference position coordinate values (inspection machine coordinate system) of the reference holes formed on the opposite edges of the shadow mask are given the unique identification symbols. And means to detect,
(G) The detected reference position coordinate value of the mark hole (inspection machine coordinate system) is compared with the reference position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product coordinate system) stored in the memory by using a comparison calculation method. A means for calculating an absolute coordinate axis (product coordinate system) from the relative (inspection coordinate system) of the shadow mask, and (h) a pattern defective portion of each through hole of the shadow mask is inspected, and the position of the defective portion Means for detecting coordinates (inspection machine coordinate system); and (i) absolute coordinate axes (product coordinate system) of the detected position coordinates of the relative coordinate axes (inspection machine coordinate system) of the shadow mask using the comparison calculation method. ), And (j) means for storing the position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the defective pattern portion of each through hole detected by the shadow mask from the memory means.
A shadow mask inspection apparatus, which inspects a defective pattern portion formed on a shadow mask.
【請求項4】請求項3記載のシャドウマスク用検査装置
で検出されたパターン不良部の絶対的座標軸の位置座標
値を用いて、該不良部を検査確認する装置であって、
(a)検査確認するシャドウマスクに付与した固有の識
別記号を入力し、該シャドウマスクの検出されたパター
ン不良部の絶対的座標軸の位置座標値を呼び出す手段
と、(b)予め設定されているシャドウマスクの基準孔
(基準パターン)を原点とした絶対的座標軸(製品系座
標)の目印孔の位置座標値を基準位置座標値としてメモ
リ手段に格納する手段と、(c)各シャドウマスクを検
査確認テーブル上に1枚ずつ載置する手段と、(d)前
記シャドウマスクの基準孔を相対的座標軸(検査確認機
系)にあわせて、該基準孔の座標を原点する手段と、
(e)前記シャドウマスクの対向端縁に形成された目印
孔のそれぞれ位置座標値(検査確認機座標系)を前記固
有の識別記号を付与し検出する手段と、(f)該検出し
た目印孔の基準位置座標値(検査確認機座標系)を、前
記メモリーに格納した絶対的座標軸(製品系座標)の目
印孔の基準位置座標値との比較演算方法を用いて、シャ
ドウマスクの絶対的座標軸(製品座標系)から相対的座
標軸(検査確認機座標系)に算出する手段と、(g)前
記メモリーより呼び出したシャドウマスクのパターン不
良部の絶対的座標軸(製品座標系)の位置座標値を前記
比較演算方法を用いて、相対的座標軸(検査確認機座標
系)の位置座標値に変換し、該座標値をメモリーに格納
する手段と、(h)前記格納したシャドウマスクのパタ
ーン不良部の相対的座標軸(検査確認機座標系)の位置
座標値を用いて前記パターン不良部を画面視野内に画像
出力する手段と、(i)画面視野内に画像出力した近傍
の画面視野内を移動し、かつ、画面視野内の画像を拡大
縮小する機能によって検査確認する手段により、シャド
ウマスクに形成されたパターン不良部を検査確認するこ
とを特徴とするシャドウマスク用検査装置。
4. An apparatus for inspecting and confirming a defective portion by using the position coordinate value of the absolute coordinate axis of the defective portion of the pattern detected by the inspection apparatus for a shadow mask according to claim 3.
(A) means for inputting a unique identification symbol given to a shadow mask to be inspected and checking, and calling the position coordinate value of the absolute coordinate axis of the detected pattern defect portion of the shadow mask, and (b) preset Means for storing in the memory means the position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product system coordinate) with the reference hole (reference pattern) of the shadow mask as the origin, and (c) inspecting each shadow mask A means for placing one by one on the confirmation table, and (d) means for aligning the reference holes of the shadow mask with relative coordinate axes (inspection confirmation machine system) and origin of the coordinates of the reference holes.
(E) a means for detecting the position coordinate values (inspection confirmation machine coordinate system) of the mark holes formed on the opposite edges of the shadow mask by giving the unique identification mark, and (f) the detected mark hole. The absolute coordinate axis of the shadow mask is calculated using the comparison calculation method of the reference position coordinate value (the inspection confirmation machine coordinate system) of the absolute coordinate axis (product system coordinate) stored in the memory with the reference position coordinate value of the mark hole. A means for calculating from the (product coordinate system) to a relative coordinate axis (inspection confirmation machine coordinate system), and (g) the position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the defective pattern of the shadow mask called from the memory. A means for converting the relative coordinate axes (inspection and confirmation machine coordinate system) into position coordinate values using the comparison calculation method, and storing the coordinate values in a memory; and (h) the pattern defect portion of the stored shadow mask. relative Means for outputting an image of the pattern defect portion in the screen visual field by using position coordinate values of coordinate axes (inspection confirmation machine coordinate system); and (i) moving in the screen visual field in the vicinity of the image output in the screen visual field, and An inspecting apparatus for a shadow mask, which inspects and confirms a pattern defective portion formed in the shadow mask by means of inspecting and confirming with a function of enlarging or reducing an image in a screen visual field.
【請求項5】金属薄板に所定の配列に従って多数の貫通
孔が形成されたシャドウマスクのパターン不良部を検査
するシャドウマスクを検査するプログラムであって、
(a)検査すべき各シャドウマスクに少なくとも1対の
対向端縁の同一個所に各シャドウマスクの相対的座標軸
(検査機座標系)を決定するための目印孔を設けるプロ
グラムと、(b)検査すべき各シャドウマスクに予め固
有の識別記号を付与してメモリ手段にエントリーするプ
ログラムと、(c)予め設定されているシャドウマスク
の基準孔(基準パターン4)を原点とした絶対的座標軸
(製品座標系)の目印孔の位置座標値を基準位置座標値
としてメモリ手段に格納するプログラムと、(d)各シ
ャドウマスクを検査テーブル上に1枚ずつ載置するプロ
グラムと、(e)前記シャドウマスクの基準孔を相対的
座標軸(検査機座標系)にあわせて、該基準孔の座標を
原点するプログラムと、(f)前記シャドウマスクの対
向端縁に形成された目印孔のそれぞれ基準位置座標値
(検査機座標系)を前記固有の識別記号を付与して検出
するプログラムと、(g)該検出した目印孔の基準位置
座標値(検査機座標系)を、前記メモリーに格納した絶
対的座標軸(製品座標系)の目印孔の基準位置座標値と
の比較演算方法を用いて、シャドウマスクの相対的座標
軸(検査座標系)から絶対的座標軸(製品座標系)に算
出するプログラムと、(h)前記シャドウマスクの各貫
通孔のパターン不良部を検査して、該不良部の位置座標
(検査機座標系)検出するプログラムと、(i)前記検
出したシャドウマスクの相対的座標軸(検査機座標系)
の位置座標を、前記比較演算方法を用いて、絶対的座標
軸(製品座標系)に変換修正するプログラムと、(j)
前記メモリ手段より、前記シャドウマスクで検出された
各貫通孔のパターン不良部の絶対的座標軸(製品座標
系)の位置座標値を格納する工程とにより、シャドウマ
スクに形成されたパターン不良部を検査することを特徴
とするシャドウマスク用検査プログラム。
5. A program for inspecting a shadow mask for inspecting a pattern defect portion of a shadow mask, wherein a large number of through holes are formed in a thin metal plate according to a predetermined arrangement.
(A) A program in which each shadow mask to be inspected is provided with a mark hole for determining a relative coordinate axis (inspection machine coordinate system) of each shadow mask at the same position of at least one pair of opposing edges, and (b) inspection A program for assigning a unique identification symbol to each shadow mask to be entered in advance in the memory means, and (c) an absolute coordinate axis (product which is a preset reference hole (reference pattern 4) of the shadow mask as an origin) (Coordinate system), a program for storing the position coordinate values of the mark holes in the memory means as reference position coordinate values, (d) a program for placing each shadow mask on the inspection table one by one, and (e) the shadow mask A program for setting the reference hole of (1) to the relative coordinate axis (inspection machine coordinate system) and setting the coordinates of the reference hole as the origin, and (f) the shadow mask is formed on the opposite edge of the shadow mask. A program for detecting the reference position coordinate value (inspection machine coordinate system) of each of the mark holes by applying the unique identification symbol, and (g) the detected reference position coordinate value of the mark hole (inspection machine coordinate system), The absolute coordinate axis (product coordinate system) is changed from the relative coordinate axis (inspection coordinate system) of the shadow mask by using a method of comparing the absolute coordinate axis (product coordinate system) stored in the memory with the reference position coordinate value of the mark hole. And (h) a program for inspecting a pattern defective portion of each through hole of the shadow mask to detect the position coordinates (inspection machine coordinate system) of the defective portion, and (i) the detected shadow mask Relative coordinate axes (inspection machine coordinate system)
A program for converting and correcting the position coordinates of the above into an absolute coordinate axis (product coordinate system) using the comparison calculation method, and (j)
The step of storing the position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the pattern defective portion of each through hole detected by the shadow mask from the memory means, and inspecting the pattern defective portion formed in the shadow mask. An inspection program for shadow masks, characterized by:
【請求項6】請求項5記載のシャドウマスク用検査プロ
グラムを用いて検出された不良部を検査確認するプログ
ラムであって、(a)検査確認するシャドウマスクに付
与した固有の識別記号を入力し、該シャドウマスクの検
出されたパターン不良部の絶対的座標軸の位置座標値を
呼び出すプログラムと、(b)予め設定されているシャ
ドウマスクの基準孔(基準パターン4)を原点とした絶
対的座標軸(製品系座標)の目印孔の位置座標値を基準
位置座標値としてメモリ手段に格納するプログラムと、
(c)各シャドウマスクを検査確認テーブル上に1枚ず
つ載置するプログラムと、(d)前記シャドウマスクの
基準孔を相対的座標軸(検査確認機系)にあわせて、該
基準孔の座標を原点するプログラムと、(e)前記シャ
ドウマスクの対向端縁に形成された目印孔のそれぞれ位
置座標値(検査確認機座標系)を前記固有の識別記号を
付与して検出するプログラムと、(f)該検出した目印
孔の基準位置座標値(検査確認機座標系)を、前記メモ
リーに格納した絶対的座標軸(製品系座標)の目印孔の
基準位置座標値との比較演算方法を用いて、シャドウマ
スクの絶対的座標軸(製品座標系)から相対的座標軸
(検査確認機座標系)に算出するプログラムと、(g)
前記メモリーより呼び出したシャドウマスクのパターン
不良部の絶対的座標軸(製品座標系)の位置座標値を前
記比較演算方法を用いて、相対的座標軸(検査確認機座
標系)の位置座標値に変換し、該座標値をメモリーに格
納するプログラムと、(h)前記格納したシャドウマス
クのパターン不良部の相対的座標軸(検査確認機座標
系)の位置座標値を用いて前記パターン不良部を画面視
野内に画像出力するプログラムと、(i)画面視野内に
画像出力した近傍の画面視野内を移動と、画面視野内の
画像の拡大と、縮小する機能によって検査確認するプロ
グラムにより、シャドウマスクに形成されたパターン不
良部を検査確認することを特徴とするシャドウマスク用
検査プログラム。
6. A program for inspecting and confirming a defective portion detected by using the shadow mask inspection program according to claim 5, wherein (a) a unique identification symbol given to the shadow mask to be inspected is inputted. , A program for calling the position coordinate values of the absolute coordinate axes of the detected pattern defect portion of the shadow mask, and (b) the absolute coordinate axis with the preset reference hole (reference pattern 4) of the shadow mask as the origin ( A program that stores the position coordinate value of the mark hole (product system coordinate) in the memory means as the reference position coordinate value;
(C) A program for placing each shadow mask on the inspection confirmation table one by one, and (d) Aligning the reference holes of the shadow mask with the relative coordinate axes (inspection confirmation system) to determine the coordinates of the reference holes. A program for origin, (e) a program for detecting each position coordinate value (inspection confirmation machine coordinate system) of the mark hole formed on the opposite end edge of the shadow mask by adding the unique identification mark, and (f) ) The reference position coordinate value of the detected mark hole (inspection confirmation machine coordinate system) is compared with the reference position coordinate value of the mark hole of the absolute coordinate axis (product system coordinate) stored in the memory, A program that calculates from the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the shadow mask to the relative coordinate axis (inspection confirmation machine coordinate system), (g)
The position coordinate value of the absolute coordinate axis (product coordinate system) of the defective pattern of the shadow mask called from the memory is converted into the position coordinate value of the relative coordinate axis (inspection confirmation machine coordinate system) by using the comparison calculation method. , A program for storing the coordinate values in a memory, and (h) using the stored position coordinate values of relative coordinate axes (inspection confirmation machine coordinate system) of the pattern defective portion of the shadow mask in the visual field of the screen. A shadow mask is formed by a program for outputting an image to (1) and a program for (i) moving within the screen field of view near the image output in the screen field of view, and enlarging and reducing the image in the field of view for inspection and confirmation. An inspection program for a shadow mask, characterized by inspecting and confirming a defective pattern portion.
【請求項7】請求項5、又は請求項6記載シャドウマス
ク用プログラムを搭載することにより、検査機又は検査
確認機に付属する検査テーブル、又は検査確認テーブル
に載置した製品を自動検査する、又は自動検査確認をす
ることを特徴とするシャドウマスク用検査装置。
7. An inspection table attached to an inspection machine or an inspection confirmation machine, or a product placed on the inspection confirmation table is automatically inspected by installing the shadow mask program according to claim 5 or 6, Alternatively, a shadow mask inspection device characterized by automatic inspection confirmation.
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CN114361374A (en) * 2021-12-31 2022-04-15 云谷(固安)科技有限公司 Mask plate repairing method and mask plate assembly
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