JP2003098308A - Optical parts - Google Patents

Optical parts

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JP2003098308A
JP2003098308A JP2001290990A JP2001290990A JP2003098308A JP 2003098308 A JP2003098308 A JP 2003098308A JP 2001290990 A JP2001290990 A JP 2001290990A JP 2001290990 A JP2001290990 A JP 2001290990A JP 2003098308 A JP2003098308 A JP 2003098308A
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JP
Japan
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film
silicon oxide
refractive index
substrate
adhesion
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Withdrawn
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JP2001290990A
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Japanese (ja)
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Atsushi Fujinawa
淳 藤縄
Junji Nakada
純司 中田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide optical parts using a plastic substrate, having a multilayer antireflection film deposited thereon and having high adhesion strength of the multilayer antireflection film and high antireflection property by the multilayer antireflection film as well as preferable durability. SOLUTION: The optical parts have a substrate made of an acrylic resin material, a thick silicon oxide film formed on the surface of the substrate, and a multilayer antireflection film formed on the silicon oxide film by alternately depositing at least each one layer of a low refractive index material layer and a high refractive index material layer.

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、レンズ等の光学部
品の技術分野に属し、詳しくは、密着力の強い多層反射
防止膜を有する、耐久性に優れた光学部品に関する。 【0002】 【従来の技術】レンズ等の光学部品の材料としては、従
来より、ガラスが利用されている。一方で、軽量で低コ
スト、さらには生産性に優れることから、近年では、ポ
リメチルメタアクリレート(PMMA)等からなる、プ
ラスチック製の光学部品も汎用されている。これらの光
学部品に広く要求される特性のひとつに、光反射防止性
が高いこと(低光反射性)があり、光学部品の表面に
は、(光)反射防止膜が形成される場合が多い。 【0003】光学部品の表面に形成される反射防止膜と
しては、フッ化マグネシウム(MgF2 )等の低屈折率
材料を用いて成膜される単層の膜が汎用されているが、
より光反射防止性が高い反射防止膜として、低屈折率材
料からなる層と高屈折率材料からなる層とを、交互に、
少なくとも一層ずつ形成してなる、多層反射防止膜(マ
ルチコート反射防止膜)が知られている。ところが、多
層反射防止膜を有するプラスチック製の光学部品は、基
板(すなわちプラスチック製の光学部品)と多層反射防
止膜との密着性が低く、すなわち、耐久性が不十分であ
るという問題点がある。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】多層反射防止膜は、一
般的に、真空蒸着等の気相成膜法で形成される。気相成
膜法では、基板加熱を行わなくても、基板の温度は上昇
し、基板が膨張する。特に、多層反射防止膜では、生産
性等を考慮して複数層の成膜を連続的に行い、かつ、高
屈折材料の成膜は高めのエネルギで行うのが通常である
ため、基板温度は高くなり、基板は、少なからず膨張す
る。従って、多層反射防止膜の成膜を終了した基板を大
気中に取り出すと、基板は急激に冷却されて、収縮す
る。 【0005】ところが、プラスチック製の基板、特に、
PMMAを代表とするアクリル系材料からなる基板と、
基板に成膜された多層反射防止膜とでは、熱膨張係数が
異なり、基板に成膜された多層反射防止膜の熱膨張係数
は、基板よりも小さい。そのため、成膜を終了して大気
中に取り出された際に、基板の収縮による変形に、多層
反射防止膜が追随することができず、多層反射防止膜が
ダメージを受け、かつ、大きな歪みを持ってしまう。そ
の結果、多層反射防止膜の密着力が低下し、しかも、密
着力は経時と共に、漸次、低下してしまい、これによ
り、多層反射防止膜を有する光学部品の耐久性が大幅に
低下してしまう。 【0006】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決することにあり、軽量、低コスト、生産性等に優れ
たプラスチックを基板とし、多層反射防止膜を形成して
なる光学部品であって、多層反射防止膜の密着力が高
く、多層反射防止膜による高い光反射防止性に加え、良
好な耐久性を有する光学部品を提供することにある。 【0007】 【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の光学部品は、アクリル系樹脂材料製の基板
と、この基板の表面に形成される膜厚の厚い酸化硅素膜
と、この酸化硅素膜の上に形成される、低屈折率材料か
らなる層および高屈折率材料からなる層を、交互に少な
くとも一層ずつ形成してなる多層反射防止膜とを有する
ことを特徴とする光学部品を提供する。 【0008】 【発明の実施の形態】以下、本発明の光学部品につい
て、添付の図面に示される好適実施例を基に、詳細に説
明する。 【0009】図1に、本発明の光学部品の一例の概念図
を示す。本発明の光学部品10は、基板となる光学部品
12(以下、基板12とする)と、この基板12の表面
に形成される酸化硅素膜14と、酸化硅素膜14の上に
形成される多層反射防止膜16(以下、反射防止膜16
とする)とから構成される。なお、図示例において、反
射防止膜16は、高屈折率材料からなる高屈折率層18
(18aおよび18b)と、低屈折率材料からなる低屈
折率層20(20aおよび20b)とを、交互に2層ず
つ積層してなる、4層構成を有する。 【0010】本発明において、基板12は、アクリル系
の樹脂材料で形成されるものであり、特に、PMMA
(ポリメチルメタアクリレート)製の物が好適に利用さ
れる。本発明において、基板12(すなわち、本発明の
光学部品10)には、これ以外に一切の限定はなく、公
知の光学部品が、各種利用可能である。具体的には、各
種のレンズ、各種のフィルタ、各種のスクリーン、高分
子フィルム、光学基板等が例示される。 【0011】本発明の光学部品10において、基板12
の表面には、酸化硅素膜14が形成される。光学部品1
0において、酸化硅素膜14は、基板12と反射防止膜
16との密着力を向上するための密着層として作用する
膜で、好ましくは、一酸化硅素(SiO)を成膜材料
(蒸発源)とする真空蒸着によって成膜される膜であ
る。また、本発明においては、この酸化硅素膜14は、
真空蒸着による成膜中に、成膜系内に酸素を導入するこ
とにより、膜に弾性を付与してなるものであるのが、よ
り好ましい。 【0012】前述のように、プラスチック製の基板、特
にPMMA等のアクリル系材料からなる基板に多層反射
防止膜を形成した際には、主として両者の熱膨張係数の
違いにより、成膜終了後に大気開放した際の冷却による
基板の大きな収縮/変形に、多層反射防止膜が追随する
ことができず、多層反射防止膜がダメージを受け、か
つ、歪みを持ってしまう。その結果、多層反射防止膜の
密着力が低下し、かつ、この密着力は、経時と共にさら
に低下するため、多層反射防止膜を有する光学部品は、
耐久性という点で要求される特性を満たしていない。 【0013】これに対し、本発明の光学部品10は、密
着層として作用する酸化硅素膜14を有し、かつ、その
膜厚を厚くすることにより、反射防止膜16と基板12
との十分な密着力を確保して、高い耐久性を有する光学
部品10を実現している。 【0014】SiOを成膜材料として真空蒸着によって
形成された酸化硅素膜は、プラスチック、特に、PMM
Aとの密着性に優れる。また、この酸化硅素膜は、基本
的に硬度が低い上に、真空蒸着による成膜中に、系内に
酸素を導入することにより、膜をポーラス(多孔性)に
でき、酸素の導入量に応じて、柔軟性を有する弾性を付
与することができる。しかも、成膜中の酸素導入によ
り、酸化硅素膜14の応力(薄膜の内部応力)も低減す
ることができる。 【0015】従って、このような酸化硅素膜14を有す
ることにより、反射防止膜16の成膜の際の膨張、およ
び、成膜後の冷却による収縮という、基板12の大きな
変形を、弾性を有する酸化硅素膜14で吸収して、この
変形による反射防止膜16のダメージおよび歪みを防ぐ
事ができる。また、酸化硅素膜14の応力を低減できる
ため、膜自身が基本的に有する歪みも少ない。そのた
め、成膜における基板12の変形による反射防止膜16
のダメージや歪みに起因する密着力の低下を防止して、
密着力が高い反射防止膜16を有する、耐久性に優れた
光学部品10を実現できる。 【0016】ここで、本発明者の検討によれば、酸化硅
素膜14による密着力の向上効果は、酸化硅素膜14の
膜厚が薄くては、十分に発揮することができず、ある程
度の厚さが必要であり、かつ、酸化硅素膜14の膜厚が
厚いほど、良好な密着性を実現できる。 【0017】図2に、基板12の表面に、成膜材料とし
てSiOを用いた酸化硅素膜を密着層として形成し、そ
の上に、反射防止膜16を形成してなる、図1に示され
る例と同様の構成を有する光学部品において、酸化硅素
膜の膜厚を各種に変更した際における、反射防止膜16
の密着力を示す。なお、反射防止膜16は、厚さ20n
mの高屈折率層18a、厚さ30nmの低屈折率層20
a、厚さ100nmの高屈折率層18b、および厚さ9
0nmの低屈率折層20bの4層からなるもので、高屈
折率層18は成膜材料としてZrO2 とTiO2 との混
合物(オプトロン社製 OH−5)を用い、低屈折率層
20は成膜材料としてSiO2 を用いて、それぞれ成膜
を行った。 【0018】成膜は、通常の真空蒸着装置に酸素の導入
手段を付加した装置で、真空蒸着によって行った。ま
た、酸化硅素膜の成膜は、成膜系内(真空チャンバ内)
を8×10-4Paまで排気した後に、系内に酸素を導入
することによって系内の圧力を7×10-2に調整し、こ
れを成膜圧力として行った。酸化硅素膜の膜厚は、予め
行った成膜のシュミレーションに基づいて、成膜時間で
制御した。図2で例示する各光学部品においては、この
酸化硅素膜の膜厚以外は、全く同様である。 【0019】反射防止膜16の密着力の評価は、セロハ
ンテープテストで行い、1回のセロハンテープテストで
膜剥離を生じた場合を密着力1、2〜3回のセロハンテ
ープテストで膜剥離を生じた場合を密着力2、4回のセ
ロハンテープテストでも膜剥離を生じなかった場合を密
着力3と評価し、また、密着力3のサンプルと密着力2
のサンプルが混在した場合を密着力2.5、密着力2の
サンプルと密着力1のサンプルが混在した場合を密着力
1.5と評価した。 【0020】図2に示されるように、SiOを成膜材料
として真空蒸着で成膜した酸化硅素膜(密着層)の膜厚
が厚いほど、反射防止膜16の密着性が高く、図示例に
おいては、この膜厚が300nm以上になると、密着力
の評価は最高の3となる。従って、酸化硅素膜14を有
し、かつ、その膜厚を厚くした本発明によれば、反射防
止膜16の密着力を向上して、耐久性に優れた光学部品
を実現できる。 【0021】前述のように、本発明の光学部品は、プラ
スチック製の基板12に反射防止膜16を形成してなる
光学部品において、基板12と反射防止膜16との間
に、基板12と良好な密着性を有し、かつ、厚い密着層
を有することにより、密着層による基板変形の吸収効果
を十分に発揮して、密着力の高い反射防止膜16を有す
る、耐久性に優れた光学部品10を実現したものであ
り、具体的には、基板12としてPMMA等のアクリル
系樹脂材料の基板を用い、密着層として酸化硅素膜14
を用いている。 【0022】ここで、本発明の光学部品10において、
酸化硅素膜14(密着層)の膜厚には、特に限定はな
く、光学部品10の用途、要求される耐久性や光学特
性、基板材料等に応じて、要求特性を満たす厚さを、適
宜、設定すればよい。 【0023】前述のように、基板12との密着性に加
え、真空蒸着による加熱/冷却に起因する基板12の変
形を吸収することにより、反射防止膜16と基板12と
の密着力を向上する酸化硅素膜14は、その効果を好適
に発現するためには、厚さを、ある程度、厚くする必要
がある。また、本発明者の検討によれば、密着性という
点では、基本的に、酸化硅素膜14は、厚いほど有利で
ある。なお、十分な反射防止膜16の密着力を確保する
ために必要な膜厚は、酸化硅素膜14(密着層)の特性
に応じて異なるのはもちろんであり、例えば、酸化硅素
膜14の弾性は、成膜中に酸素を導入したか否かや、酸
素の導入量によって変化するので、それぞれで、必要か
つ好適な膜厚は異なる。 【0024】一方で、光学部品10の用途や目的とする
耐久性によっては、必要とされる反射防止膜16の密着
力が異なる。例えば、図2に示される例であれば、光学
部品10の用途によっては、評価3の密着力は不要で、
評価2.5の密着力で十分な場合もあり、従って、必ず
しも、全ての場合において300nm以上の膜厚が必須
であるわけではない。 【0025】また、光学特性という点では、酸化硅素膜
14は、薄い方が有利である。さらに、酸化硅素膜14
の膜厚が厚くなるということは、成膜時間が長くなると
いうことであり、生産性の点で不利であり、さらに、加
熱されることによる基板12の温度上昇が大きくなり、
基板12のダメージが大きくなる。このような傾向は、
本発明のような多層膜(マルチコート)では、顕著であ
る。言い換えれば、本発明の光学部品10は、密着性と
いう点では、酸化硅素膜14は厚い方が有利であるもの
の、酸化硅素膜14の膜厚の上限は、要求される光学特
性や基板の耐熱性によって、必然的に決まって来る。 【0026】すなわち、本発明において、厚い酸化硅素
膜14(密着層)とは、光学部品10に要求される光学
特性、成膜時に受ける基板12のダメージ、生産性等を
考慮した上で、目的とする密着性を達成できる範囲の厚
さを有する酸化硅素膜14であって、基板12の材料、
反射防止膜16の形成材料や構成、光学部品10の用
途、要求される耐久性や光学特性等に応じて、適正な厚
さを、適宜、決定すればよい。一例として、図2に示さ
れる例の光学部品10であれば、酸化硅素膜14の厚さ
は、100nm〜800nmが好ましく、特に、300
nm〜600nmが好ましい。 【0027】本発明の光学部品10において、このよう
な密着層として作用する酸化硅素膜14の上には、(多
層)反射防止膜16が形成される。図示例において、反
射防止膜16は、高屈折率材料からなる高屈折率層18
と、低屈折率材料からなる低屈折率層20とを、交互に
2層ずつ積層してなる、4層構成を有する。 【0028】なお、本発明において、反射防止膜16
は、これに限定はされず、高屈折率層18と低屈折率層
20とを、交互に、少なくとも1層ずつ形成してなる、
公知の多層(マルチコート)の反射防止膜が各種利用可
能である。従って、その層構成には、特に限定はなく、
例えば、高屈折率層18と低屈折率層20とを1層ずつ
有する反射防止膜であってもよく、3層以上ずつの高屈
折率層18と低屈折率層20とを有する反射防止膜でも
よい。 【0029】また、高屈折率層18および低屈折率層2
0の形成材料にも、限定はなく、各種の多層反射防止膜
に利用されるものが、全て利用可能である。例えば、高
屈折率層18としては、ZrO2 を成膜材料とする層、
TiO2 を成膜材料とする層、前記OH−5のようなZ
rO2 とTiO2 の混合材料を成膜材料とする層、Y 2
3 を成膜材料とする層、CeO2 を成膜材料とする
層、Ta2 5 を成膜材料とする層、等が例示される。
また、低屈折率層20としては、SiO2 を成膜材料と
する層、MgF2 を成膜材料とする層、CaF2 を成膜
材料とする層、等が例示される。同様に、反射防止膜を
構成する各層の厚さにも特に限定はなく、形成材料、層
構成、要求される光学特性等に応じて、適宜、決定すれ
ばよい。 【0030】このような、本発明の光学部品10におい
て、酸化硅素膜14および反射防止膜16の成膜は、真
空蒸着等の公知の方法で行えばよい。また、前述のよう
に、好ましい態様として酸化硅素膜14をポーラスにす
る場合には、酸素を導入しつつ、真空蒸着を行えばよ
い。また、成膜は、抵抗加熱を利用しても、電子ビーム
加熱を利用してもよいが、酸化硅素膜14の成膜は、抵
抗加熱を利用して、比較的低速の成膜速度で、緩やかに
行うのが好ましい。また、加熱エネルギは、400A以
下とするのが好ましい。これにより、酸化硅素膜14
に、より好適な柔軟性を有する弾性を付与でき、さら
に、比較的、厚膜である酸化硅素膜14の成膜における
基板の温度上昇も低減できる。 【0031】ところで、真空蒸着による成膜では、成膜
材料の特性等に起因して、成膜中に成膜材料が突沸す
る、いわゆるスプラッシュ等が生じる場合があり、これ
に起因して、膜の性状の悪化等が発生し、得率が低下す
る。このような不都合を防止するため、突沸し易い成膜
材料を利用する場合には、成膜に先立ち、ハース内の成
膜材料を一度溶融する、いわゆる溶かし込みが行われ
る。特に、高屈折率層18の成膜材料は、溶かし込みが
必要な場合が多い。通常、溶かし込みは、成膜に先立っ
て行われるが、本発明者らの検討によれば、成膜材料の
溶かし込みを行うと、基板12に材料が付着してしま
い、これが密着層すなわち酸化硅素膜14の密着性低下
の一因となっている。従って、本発明の光学部品10を
製造する際には、酸化硅素膜14を成膜した後に、成膜
材料の溶かし込みを行うのが好ましい。 【0032】以上、本発明の光学部品について詳細に説
明したが、本発明は上述の例に限定はされず、本発明の
要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行
ってもよいのは、もちろんである。 【0033】 【実施例】以下、本発明の具体的実施例を挙げ、本発明
をより詳細に説明する。 【0034】[実施例]図3に模式的に示されるよう
な、市販されている真空蒸着装置50(以下、蒸着装置
50とする)に酸素導入手段を付加した装置を用いて、
図1に示される光学部品10を作成した。なお、この蒸
着装置50は、蒸発材料の加熱手段として、電子ビーム
による加熱を行う電子銃蒸発源28と、抵抗加熱による
加熱を行う抵抗加熱蒸発源30とを有する。 【0035】まず、蒸着装置50(真空チャンバ22)
内の回転ドーム24に、PMMA(三菱レイヨン社製、
VH001)製のレンズを基板12としてセットした。
なお、この回転ドーム24は、回転手段26によって所
定速度で回転される。次いで、酸化硅素膜14の成膜材
料として、SiOを抵抗加熱蒸発源30の所定位置(ハ
ース)にセットした。さらに、高屈折率層18の成膜材
料としてOH−5(ZrO2 とTiO2 の混合物 オプ
トロン社製)を、低屈折率層20の成膜材料としてSi
2 を、それぞれ、電子銃蒸発源28の所定位置(ハー
ス)にセットした。 【0036】真空チャンバ22(以下、チャンバ22と
する)を閉塞した後、排気を行い、チャンバ22内の圧
力が8×10-4Paとなった時点で、チャンバ内に酸素
を導入して圧力を0.05Paに調整し、次いで、シャ
ッタ32を開放して、抵抗加熱蒸発源30の抵抗加熱手
段を駆動して、SiOを充填したハースを加熱し、0.
05Paの成膜圧力で、厚さ約400nmの酸化硅素膜
14を成膜した。なお、抵抗加熱蒸発源30における抵
抗加熱手段は、6kWの抵抗加熱電極を有するものであ
り、350Aの電力を供給して、SiOを抵抗加熱し
て、成膜を行った。 【0037】酸化硅素膜14の成膜後、シャッタ32を
閉塞して、チャンバ22内の圧力が1×10-3Paとな
った時点で、電子銃蒸発源28において、250mAの
出力で電子銃を駆動して、OH−5を収容するハースに
電子ビームを照射、スキャニングして、OH−5の溶か
し込みを行った。溶かし込み終了後、溶かし込みによっ
て上昇したチャンバ22内の圧力が1×10-3Paとな
った時点で、シャッタ32を開放し、電子銃蒸発源28
において、電子銃の出力230mAでハース内のOH−
5に電子ビームを照射して、酸化硅素膜14の上に、厚
さ約20nmの高屈折率層18aを成膜した。なお、成
膜圧力は、8×10-3Paとした。 【0038】高屈折率層18の成膜終了後、成膜で上昇
したチャンバ22内の圧力が1×10-3Paとなった時
点で、電子銃蒸発源28において、ハースを切り換え、
電子銃の出力85mAでハース内のSiO2 に電子ビー
ムを照射して、高屈折率層18aの上に、厚さ約30n
mの低屈折率層20aを成膜した。なお、成膜圧力は、
1×10-3Paとした。 【0039】低屈折率層20aの成膜終了後、成膜で上
昇したチャンバ22内の圧力が1×10-3Paとなった
時点で、電子銃蒸発源28において、ハースを切り換
え、電子銃の出力230mAでハース内のOH−5に電
子ビームを照射して、低屈折率層20aの上に、厚さ約
100nmの高屈折率層18bを成膜した。なお、成膜
圧力は、8×10-3Paとした。 【0040】高屈折率層20の成膜終了後、成膜によっ
て上昇したチャンバ22内の圧力が1×10-3Paとな
った時点で、電子銃蒸発源28において、ハースを切り
換え、電子銃の出力85mAでハース内のSiO2 に電
子ビームを照射して、高屈折率層18bの上に、厚さ約
90nmの低屈折率層20bを成膜し、反射防止膜16
を有する本発明の光学部品10を作製した。なお、低屈
折率層20bの成膜圧力は、先と同様に、1×10-3
aとした。 【0041】酸化硅素膜14の成膜開始から反射防止膜
16(低屈折率層20b)の成膜終了まで、基板12の
温度は室温〜80℃の範囲であった。なお、酸素を導入
したのは、酸化硅素膜14の成膜時のみである。各膜厚
は、光学シュミレーションソフトウエアによる設計値を
用いて、希望の光学特性を得られるように設定したもの
である。また、各膜(層)の膜厚は、予め行った成膜の
シュミレーションに基づいて、成膜時間で制御した。 【0042】[比較例]酸化硅素膜14の膜厚を50n
mにした以外は、前記実施例1と全く同様にして、光学
部品を作製した。 【0043】このようにして得られた実施例の光学部品
10、および、比較例の光学部品について、反射防止膜
16の密着性を検査した。なお、光学的な特性は、両者
共に十分なものであった。密着試験は、作製した1バッ
チ(600個)の光学部品から30個を無作為に選択
し、その表面にセロハンテープ(ニチバン社製 No.
405)を強く貼り、膜面に対して垂直方向にテープを
瞬時に引き剥がした際の膜剥離を、目視で確認すること
で行った。 【0044】全ての光学部品において膜剥離が全く認め
れられなかったサンプルを○、一部が膜剥離した光学部
品が1つでも発生したサンプルを△、ほぼ完全に膜剥離
した光学部品が1つでも発生したサンプルを×と評価し
た。なお、同じ試験を10回繰り返した後でも、全ての
光学部品で全く膜剥離が認められなかったサンプルは、
特に、◎と評価した。その結果、本発明の光学部品10
の評価は◎、比較例の光学部品の評価は×であった。し
かも、比較例の光学部品では、30個のサンプル全てに
おいて、膜が全面剥離した。以上の結果より、本発明の
効果は明らかである。 【0045】 【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、基板に、高屈折率層と低屈折率層とを交互に形
成してなる多層反射防止膜を形成した光学部品におい
て、多層反射防止膜の密着力が高く、従って、耐久性に
優れた光学部品を実現することができる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [0001] BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical part such as a lens.
In detail, it belongs to the technical field of products, and more specifically, multilayer reflection with strong adhesion
The present invention relates to an optical component having a prevention film and excellent in durability. [0002] 2. Description of the Related Art As materials for optical components such as lenses,
Since then, glass has been used. On the other hand, lightweight and low cost
In recent years,
Made of limethyl methacrylate (PMMA), etc.
Plastic parts made of plastic are also widely used. These lights
One of the characteristics widely required for academic parts is anti-light reflection
Is high (low light reflectivity) on the surface of optical components
In many cases, a (light) antireflection film is formed. An antireflection film formed on the surface of an optical component;
As magnesium fluoride (MgF2) Etc.
Single-layer films formed using materials are widely used,
Low refractive index material as anti-reflection film with higher anti-reflection properties
Alternately, the layer made of the material and the layer made of the high refractive index material,
A multilayer antireflection film (ma
Lucticoat antireflection film) is known. However, many
Plastic optical parts with a layer antireflection coating
Plate (ie plastic optical component) and multilayer antireflection
Low adhesion to the film, i.e. insufficient durability
There is a problem that. [0004] SUMMARY OF THE INVENTION A multilayer antireflection film is one of
Generally, it is formed by a vapor phase film forming method such as vacuum deposition. Vapor phase
In the film method, the temperature of the substrate rises without heating the substrate.
Then, the substrate expands. Especially for multilayer anti-reflection coatings
In consideration of the properties, etc., multiple layers are continuously formed and high
Refractive materials are usually deposited with higher energy
As a result, the substrate temperature increases, and the substrate expands considerably.
The Therefore, a large substrate after the formation of the multilayer antireflection film is large.
When taken out into the air, the substrate is cooled rapidly and shrinks.
The However, plastic substrates, in particular,
A substrate made of an acrylic material typified by PMMA,
With the multilayer antireflection film formed on the substrate, the thermal expansion coefficient is
Unlikely, the coefficient of thermal expansion of the multilayer antireflection film deposited on the substrate
Is smaller than the substrate. Therefore, the film formation is completed and the atmosphere
Multilayer due to shrinkage of the substrate when taken out
The antireflection film cannot follow, and the multilayer antireflection film
It takes damage and has a large distortion. So
As a result, the adhesion of the multilayer antireflection film is reduced, and
The wearing force gradually decreases with time.
Greatly improves the durability of optical components with multilayer antireflection coatings.
It will decline. The object of the present invention is to overcome the problems of the prior art.
Excellent solution for light weight, low cost, productivity, etc.
A multilayer antireflection film is formed on a plastic substrate.
The optical component has a high adhesion strength to the multilayer antireflection film.
In addition to high anti-reflection properties due to the multilayer anti-reflection film,
An object of the present invention is to provide an optical component having favorable durability. [0007] To achieve the above object
The optical component of the present invention is a substrate made of an acrylic resin material.
And a thick silicon oxide film formed on the surface of this substrate
And a low refractive index material formed on this silicon oxide film.
Alternate layers and layers of high refractive index materials.
A multilayer antireflection film formed at least one layer at a time
An optical component is provided. [0008] BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Based on the preferred embodiment shown in the accompanying drawings,
Light up. FIG. 1 is a conceptual diagram of an example of the optical component of the present invention.
Indicates. The optical component 10 of the present invention is an optical component that becomes a substrate.
12 (hereinafter referred to as substrate 12) and the surface of this substrate 12
Formed on the silicon oxide film 14 and the silicon oxide film 14.
The formed multilayer antireflection film 16 (hereinafter referred to as the antireflection film 16).
And). In the illustrated example,
The anti-reflection film 16 includes a high refractive index layer 18 made of a high refractive index material.
(18a and 18b) and low flexure made of low refractive index material
The folding layers 20 (20a and 20b) are not alternately arranged in two layers.
A four-layer structure is formed by stacking two layers. In the present invention, the substrate 12 is made of acrylic.
In particular, PMMA
(Polymethylmethacrylate) is preferably used
It is. In the present invention, the substrate 12 (ie, the
There are no other limitations on the optical component 10),
Various known optical components are available. Specifically, each
Various lenses, various filters, various screens, height
Examples include child films and optical substrates. In the optical component 10 of the present invention, the substrate 12
A silicon oxide film 14 is formed on the surface. Optical component 1
0, the silicon oxide film 14 is formed of the substrate 12 and the antireflection film.
Acts as an adhesion layer to improve adhesion with 16
Film, preferably silicon monoxide (SiO) film forming material
(Evaporation source) is a film formed by vacuum evaporation
The In the present invention, this silicon oxide film 14 is
During film formation by vacuum deposition, oxygen is introduced into the film formation system.
The film is given elasticity by
More preferable. As described above, a plastic substrate, especially
Multi-layer reflection on a substrate made of acrylic material such as PMMA
When the protective film is formed, the thermal expansion coefficient of both
Due to differences, due to cooling when the atmosphere is opened after film formation
Multilayer antireflection coating follows large shrinkage / deformation of substrate
The multilayer anti-reflective coating is damaged,
It will have distortion. As a result, the multilayer antireflection film
The adhesion decreases and this adhesion increases with time.
Therefore, the optical component having a multilayer antireflection film is
It does not meet the required properties in terms of durability. On the other hand, the optical component 10 of the present invention is dense.
A silicon oxide film 14 acting as a deposition layer, and
By increasing the film thickness, the antireflection film 16 and the substrate 12 are increased.
High durability with sufficient adhesion with
The component 10 is realized. By vacuum deposition using SiO as a film forming material
The formed silicon oxide film is made of plastic, particularly PMM.
Excellent adhesion to A. This silicon oxide film is
In addition, the hardness is low, and during film formation by vacuum evaporation,
By introducing oxygen, the membrane becomes porous
It is possible to add elasticity with flexibility according to the amount of oxygen introduced.
Can be given. Moreover, by introducing oxygen during film formation.
As a result, the stress of the silicon oxide film 14 (internal stress of the thin film) is also reduced.
Can be. Accordingly, such a silicon oxide film 14 is provided.
Expansion of the antireflection film 16 during film formation, and
And the large shrinkage of the substrate 12 caused by the cooling after the film formation.
The deformation is absorbed by the elastic silicon oxide film 14 and this
Preventing damage and distortion of the antireflection film 16 due to deformation
I can do things. Moreover, the stress of the silicon oxide film 14 can be reduced.
For this reason, the film itself basically has little distortion. That
Therefore, the antireflection film 16 due to deformation of the substrate 12 during film formation.
To prevent a decrease in adhesion due to damage and distortion of
It has an antireflection film 16 with high adhesion, and has excellent durability.
The optical component 10 can be realized. Here, according to the study by the present inventor, oxidized soot
The effect of improving the adhesion by the base film 14 is that of the silicon oxide film 14.
If the film thickness is too thin, it cannot be fully used.
The thickness of the silicon oxide film 14 is required.
The thicker the film, the better the adhesion. FIG. 2 shows a film forming material on the surface of the substrate 12.
Then, a silicon oxide film using SiO is formed as an adhesion layer.
As shown in FIG. 1, an antireflection film 16 is formed thereon.
In an optical component having a configuration similar to that of
The antireflection film 16 when the film thickness is changed in various ways
This shows the adhesion strength. The antireflection film 16 has a thickness of 20n.
m high refractive index layer 18a, low refractive index layer 20 having a thickness of 30 nm
a, a high refractive index layer 18b having a thickness of 100 nm, and a thickness of 9
It consists of 4 layers of low refractive index folded layer 20b of 0 nm.
The curvature layer 18 is ZrO as a film forming material.2And TiO2Mixed with
Low refractive index layer using compound (OP-5 OH-5)
20 is SiO as a film forming material.2Each using film
Went. For film formation, oxygen is introduced into a normal vacuum evaporation system.
It was carried out by vacuum deposition in an apparatus with additional means. Ma
In addition, the silicon oxide film is deposited in the deposition system (in a vacuum chamber).
8 × 10-FourAfter exhausting to Pa, oxygen is introduced into the system
By doing so, the pressure in the system is 7 × 10-2Adjust this to
This was performed as a film forming pressure. The film thickness of the silicon oxide film is
Based on the film deposition simulation performed,
Controlled. In each optical component illustrated in FIG.
Except for the film thickness of the silicon oxide film, it is exactly the same. The evaluation of the adhesion strength of the antireflection film 16 is
In one tape test and one cellophane tape test
Cellophane with adhesive force of 1 to 2 times when film peeling occurs
When film peeling occurs in the loop test, the adhesive strength is 2 or 4 times.
If there is no film peeling even in the Rohan tape test,
Evaluated as adhesion 3 and sample with adhesion 3 and adhesion 2
When the sample of 2 is mixed, the adhesion strength is 2.5 and the adhesion strength is 2.
Adhesion when sample and sample with adhesion 1 are mixed
It was evaluated as 1.5. As shown in FIG. 2, SiO is used as a film forming material.
Film thickness of silicon oxide film (adhesion layer) formed by vacuum evaporation as
The thicker the film is, the higher the adhesion of the antireflection film 16 is.
In this case, when this film thickness is 300 nm or more, the adhesion force
The rating of 3 is the highest. Therefore, the silicon oxide film 14 is provided.
In addition, according to the present invention in which the film thickness is increased,
Optical component with improved durability by improving adhesion of stop film 16
Can be realized. As described above, the optical component of the present invention has a plastic plate.
An antireflection film 16 is formed on a stick substrate 12
In an optical component, between the substrate 12 and the antireflection film 16
Furthermore, the substrate 12 has good adhesion and a thick adhesion layer.
Absorbing effect of substrate deformation by adhesion layer
Has an anti-reflective film 16 with high adhesion and high adhesion
The optical component 10 having excellent durability is realized.
Specifically, acrylic such as PMMA is used as the substrate 12.
Silicon oxide film 14 as an adhesion layer using a base resin material substrate
Is used. Here, in the optical component 10 of the present invention,
There is no particular limitation on the thickness of the silicon oxide film 14 (adhesion layer).
In addition, the use of the optical component 10, required durability and optical characteristics
Thickness that meets the required characteristics
Just set. As described above, the adhesion to the substrate 12 is added.
The substrate 12 changes due to heating / cooling by vacuum deposition.
By absorbing the shape, the antireflection film 16 and the substrate 12
The silicon oxide film 14 that improves the adhesion of the material is suitable for its effect
It is necessary to increase the thickness to some extent in order to develop
There is. In addition, according to the study of the present inventor, it is called adhesion.
Basically, the thicker the silicon oxide film 14 is, the more advantageous it is.
is there. Note that sufficient adhesion of the antireflection film 16 is ensured.
The film thickness required for this is the characteristic of the silicon oxide film 14 (adhesion layer).
Of course, depending on the
The elasticity of the film 14 depends on whether oxygen is introduced during film formation,
Since it varies depending on the amount of element introduced, is it necessary for each?
The preferred film thickness is different. On the other hand, the purpose and purpose of the optical component 10 are as follows.
Depending on the durability, required adhesion of the antireflection film 16
The power is different. For example, in the example shown in FIG.
Depending on the application of the part 10, the adhesion force of the evaluation 3 is unnecessary,
In some cases, a contact strength of 2.5 is sufficient, so be sure
However, in all cases, a film thickness of 300 nm or more is essential.
Not that. Also, in terms of optical characteristics, a silicon oxide film
14 is advantageous to be thinner. Further, the silicon oxide film 14
When the film formation time becomes longer,
That is disadvantageous in terms of productivity, and
The temperature rise of the substrate 12 due to heating increases,
The damage to the substrate 12 is increased. Such a trend
In the multilayer film (multi-coat) as in the present invention, it is remarkable.
The In other words, the optical component 10 of the present invention has an adhesive property and
In this respect, it is advantageous that the silicon oxide film 14 is thicker.
The upper limit of the thickness of the silicon oxide film 14 is the required optical characteristics.
This is inevitably determined by the characteristics and heat resistance of the substrate. That is, in the present invention, thick silicon oxide
The film 14 (adhesion layer) is an optical component required for the optical component 10.
Characteristics, damage to the substrate 12 during film formation, productivity, etc.
Taking into account the thickness within the range where the desired adhesion can be achieved
A silicon oxide film 14 having a thickness, the material of the substrate 12;
Forming material and configuration of antireflection film 16, for optical component 10
Depending on the required durability and optical characteristics, etc.
What is necessary is just to determine suitably. An example is shown in FIG.
In the example of the optical component 10, the thickness of the silicon oxide film 14
Is preferably 100 nm to 800 nm, particularly 300 nm.
nm to 600 nm are preferable. In the optical component 10 of the present invention, such
On the silicon oxide film 14 acting as a good adhesion layer,
Layer) An antireflection film 16 is formed. In the example shown,
The anti-reflection film 16 includes a high refractive index layer 18 made of a high refractive index material.
And a low refractive index layer 20 made of a low refractive index material, alternately
It has a four-layer structure in which two layers are stacked. In the present invention, the antireflection film 16 is used.
The high refractive index layer 18 and the low refractive index layer are not limited to this.
20 and alternately forming at least one layer,
Various known multi-layer anti-reflection coatings can be used
Noh. Therefore, the layer structure is not particularly limited,
For example, the high refractive index layer 18 and the low refractive index layer 20 are formed one by one.
It may be an antireflective film, and it has a high bending resistance of 3 layers or more.
Even an antireflection film having the refractive index layer 18 and the low refractive index layer 20.
Good. Also, the high refractive index layer 18 and the low refractive index layer 2
There is no limitation on the forming material of 0, and various multilayer antireflection films
Anything that is used in the can be used. For example, high
As the refractive index layer 18, ZrO2A layer having a film-forming material as
TiO2A layer having a film-forming material as Z, such as OH-5
rO2And TiO2A layer having a mixed material of Y as a film forming material, Y 2
OThreeA layer using CeO as a film forming material, CeO2As a film-forming material
Layer, Ta2OFiveAnd the like, and the like.
The low refractive index layer 20 is made of SiO.2The film forming material and
Layer, MgF2A layer using CaF as a film-forming material, CaF2Film formation
Examples of such layers include materials. Similarly, the antireflection film
There is no particular limitation on the thickness of each layer to be formed.
Decide as appropriate according to configuration, required optical characteristics, etc.
That's fine. In such an optical component 10 of the present invention,
The silicon oxide film 14 and the antireflection film 16 are
What is necessary is just to perform by well-known methods, such as air evaporation. Also, as mentioned above
Further, as a preferred embodiment, the silicon oxide film 14 is made porous.
Vacuum evaporation while introducing oxygen.
Yes. In addition, even when resistance heating is used for film formation, an electron beam is used.
Although heating may be used, the film formation of the silicon oxide film 14 is
Uses anti-heating and slowly at a relatively low film formation rate
It is preferred to do so. The heating energy is 400A or higher.
It is preferable to use the following. As a result, the silicon oxide film 14
Can be imparted with elasticity having more suitable flexibility.
Furthermore, in the formation of a relatively thick silicon oxide film 14
The temperature rise of the substrate can also be reduced. By the way, in film formation by vacuum deposition, film formation is performed.
Due to the characteristics of the material, the deposition material bumps during deposition.
So-called splash may occur.
As a result, deterioration of the film properties, etc. occur and the yield decreases.
The In order to prevent such inconvenience, film formation that is easy to bump
When using materials, the process in the hearth must be performed prior to film formation.
The film material is melted once, so-called melting is performed.
The In particular, the film forming material of the high refractive index layer 18 is not melted.
Often necessary. Usually, melting is performed prior to film formation.
However, according to the study by the present inventors, the film forming material
If it melts, the material will adhere to the substrate 12.
This is a decrease in adhesion of the adhesion layer, that is, the silicon oxide film 14
It is one of the causes. Therefore, the optical component 10 of the present invention is
In manufacturing, after forming the silicon oxide film 14, the film is formed.
It is preferable to melt the material. The optical component of the present invention has been described in detail above.
As described above, the present invention is not limited to the above-described examples.
Various improvements and changes have been made without departing from the spirit of the invention.
Of course, you may. [0033] EXAMPLES Specific examples of the present invention will be given below.
Will be described in more detail. [Embodiment] As schematically shown in FIG.
Further, a commercially available vacuum deposition apparatus 50 (hereinafter referred to as a deposition apparatus).
50) using an apparatus to which oxygen introducing means is added,
The optical component 10 shown in FIG. 1 was created. This steam
The deposition apparatus 50 uses an electron beam as a heating means for the evaporation material.
An electron gun evaporation source 28 for heating by resistance, and resistance heating
And a resistance heating evaporation source 30 for heating. First, the vapor deposition apparatus 50 (vacuum chamber 22).
The inner rotating dome 24 has PMMA (Mitsubishi Rayon Co., Ltd.,
A lens made of VH001) was set as the substrate 12.
The rotating dome 24 is fixed by the rotating means 26.
It is rotated at a constant speed. Next, a film forming material for the silicon oxide film 14
As a material, SiO is a predetermined position of the resistance heating evaporation source 30 (ha
Set). Further, a film forming material for the high refractive index layer 18
OH-5 (ZrO2And TiO2Mixture of op
(Made by TRON) as a film forming material for the low refractive index layer 20
O2, Respectively, at predetermined positions of the electron gun evaporation source 28 (H
Set. Vacuum chamber 22 (hereinafter referred to as chamber 22)
Evacuate, and then evacuate the pressure in the chamber 22
Power 8 × 10-FourWhen Pa is reached, oxygen enters the chamber.
To adjust the pressure to 0.05 Pa, and then
The resistance heating hand of the resistance heating evaporation source 30 is opened.
Drive the stage to heat the hearth filled with SiO.
Silicon oxide film with a thickness of about 400 nm at a deposition pressure of 05 Pa
14 was deposited. The resistance in the resistance heating evaporation source 30 is
The anti-heating means has a 6 kW resistance heating electrode.
Then, 350A power is supplied to heat resistance of SiO.
Then, film formation was performed. After the silicon oxide film 14 is formed, the shutter 32 is
Occluded and the pressure in the chamber 22 is 1 × 10-3With Pa
At that time, in the electron gun evaporation source 28, 250 mA
Drive the electron gun with output to the hearth that houses OH-5
Irradiate and scan with electron beam to dissolve OH-5
I rubbed in. After the melting is finished,
The pressure in the chamber 22 that has been raised is 1 × 10-3With Pa
At that time, the shutter 32 is opened and the electron gun evaporation source 28 is opened.
In the hearth, OH−
5 is irradiated with an electron beam to form a thickness on the silicon oxide film 14.
A high refractive index layer 18a having a thickness of about 20 nm was formed. In addition,
The membrane pressure is 8 × 10-3Pa. After the film formation of the high refractive index layer 18, the film formation is increased.
The pressure in the chamber 22 is 1 × 10-3When it becomes Pa
At that point, the electron gun evaporation source 28 switches Haas,
SiO in the hearth with an electron gun output of 85 mA2To electronic bee
About 30 n thick on the high refractive index layer 18a.
An m low refractive index layer 20a was formed. The film formation pressure is
1 × 10-3Pa. After the film formation of the low refractive index layer 20a is completed, the film formation is completed.
Increased pressure in chamber 22 is 1 × 10-3Pa
At this point, Haas is switched in the electron gun evaporation source 28.
The power of the electron gun is 230 mA, and the OH-5 in the hearth is
A child beam is irradiated to form a thickness of about on the low refractive index layer 20a.
A 100 nm high refractive index layer 18b was formed. Film formation
Pressure is 8x10-3Pa. After the film formation of the high refractive index layer 20, the film formation is performed.
The pressure in the chamber 22 that has been raised is 1 × 10-3With Pa
At that point, in the electron gun evaporation source 28, Haas is turned off.
In exchange, SiO in the hearth with the output of the electron gun of 85 mA2To
Irradiate the child beam, on the high refractive index layer 18b, the thickness is about
A 90 nm low refractive index layer 20b is formed, and the antireflection film 16 is formed.
An optical component 10 of the present invention having the following was produced. Low bending
The film forming pressure of the refractive index layer 20b is 1 × 10 5 as before.-3P
a. Antireflection film from the start of film formation of silicon oxide film 14
16 (low refractive index layer 20b) until the film formation is completed.
The temperature ranged from room temperature to 80 ° C. Introduce oxygen
This is only performed when the silicon oxide film 14 is formed. Each film thickness
The design value by optical simulation software
Used to obtain desired optical characteristics
It is. In addition, the film thickness of each film (layer)
The film formation time was controlled based on the simulation. [Comparative Example] The film thickness of the silicon oxide film 14 is 50 n.
Except for m, the same as in Example 1, the optical
Parts were produced. The optical component of the example obtained in this way
10 and the optical component of the comparative example, antireflection film
16 adhesions were examined. The optical characteristics are both
Both were sufficient. The adhesion test was performed on one
30 randomly selected from 600 (600) optical components
The cellophane tape (Nichiban No. No.
405) is affixed strongly, and the tape is perpendicular to the film surface.
Visual confirmation of film peeling when peeled off instantaneously
I went there. No film peeling was observed in all optical parts.
O
△ sample that generated even one product, almost completely peeling
A sample with any single optical component generated was evaluated as x
It was. Even after repeating the same test 10 times, all
Samples with no delamination in optical parts
In particular, it was evaluated as ◎. As a result, the optical component 10 of the present invention.
The evaluation was ◎, and the evaluation of the optical component of the comparative example was ×. Shi
Moreover, in the optical part of the comparative example, all 30 samples
In this case, the entire film peeled off. From the above results, the present invention
The effect is obvious. [0045] As described above in detail, the present invention is applied.
According to this, the high refractive index layer and the low refractive index layer are alternately formed on the substrate.
In an optical component having a multilayer antireflection film formed
Therefore, the adhesion of the multilayer anti-reflection film is high, so it is durable.
Excellent optical components can be realized.

【図面の簡単な説明】 【図1】 本発明の光学部品の一例の概念図である。 【図2】 本発明の光学部品を説明するためのグラフで
ある。 【図3】 真空蒸着装置の一例の概念図である。 【符号の説明】 10 光学部品 12 基板 14 酸化硅素膜 16 (多層)反射防止膜 18 高屈折率層 20 低屈折率層 22 (真空)チャンバ 24 回転ドーム 26 回転手段 28 電子銃蒸発源 30 抵抗加熱蒸発源 32 シャッタ 50 真空蒸着装置
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a conceptual diagram of an example of an optical component of the present invention. FIG. 2 is a graph for explaining an optical component of the present invention. FIG. 3 is a conceptual diagram of an example of a vacuum deposition apparatus. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Optical component 12 Substrate 14 Silicon oxide film 16 (Multilayer) Antireflection film 18 High refractive index layer 20 Low refractive index layer 22 (Vacuum) Chamber 24 Rotating dome 26 Rotating means 28 Electron gun evaporation source 30 Resistance heating Evaporation source 32 Shutter 50 Vacuum evaporation system

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2K009 AA07 BB14 CC03 DD03 DD08 4K029 AA11 AA21 BA46 BA50 BB02 BC07 BD00    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 2K009 AA07 BB14 CC03 DD03 DD08                 4K029 AA11 AA21 BA46 BA50 BB02                       BC07 BD00

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】アクリル系樹脂材料製の基板と、この基板
の表面に形成される膜厚の厚い酸化硅素膜と、この酸化
硅素膜の上に形成される、低屈折率材料からなる層およ
び高屈折率材料からなる層を、交互に少なくとも一層ず
つ形成してなる多層反射防止膜とを有することを特徴と
する光学部品。
What is claimed is: 1. A substrate made of an acrylic resin material; a thick silicon oxide film formed on a surface of the substrate; and a low refractive index formed on the silicon oxide film. An optical component comprising: a multilayer antireflection film formed by alternately forming at least one layer made of a refractive index material and a layer made of a high refractive index material.
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