JP2003091453A - Memory controller - Google Patents

Memory controller

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JP2003091453A
JP2003091453A JP2001282177A JP2001282177A JP2003091453A JP 2003091453 A JP2003091453 A JP 2003091453A JP 2001282177 A JP2001282177 A JP 2001282177A JP 2001282177 A JP2001282177 A JP 2001282177A JP 2003091453 A JP2003091453 A JP 2003091453A
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JP
Japan
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data
pdl
memory
value
dqs
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JP2001282177A
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Japanese (ja)
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Tadayoshi Miyahara
忠義 宮原
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a memory controller capable of preventing deterioration of performance by executing processing prior to self-refresh transition and during no access in a fixed period. SOLUTION: As for DDR-SDRAM 1, 2, and 3, a DQS being a signal necessary for data control, data bus MDQ, and signal necessary for access control are connected to a memory control part 10. With respect to a memory system for executing the reading/writing of data by using the DDR-SDRAM as storage means, PDL whose delay is adjustable according to access from a CPU is mounted on this memory controller so that the DQS being a data strobe signal can be delayed. With respect to the memory system, a prescribed specific value is written in a specific address, and the values read in the same address are compared while the value of the PDL is changed. Thus, a readable region can be recognized. Thus, read data can be latched in a valid region by setting the optimal delay time in the PDL.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、メモリ制御装置に
関し、特にメモリを制御する半導体集積回路として構成
されるメモリ制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory control device, and more particularly to a memory control device configured as a semiconductor integrated circuit for controlling a memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、メモリ制御装置は、一般的に、D
DR−SDRAMを用いて構成される。このDDR−S
DRAMは、リード時、CLK同期で出力されるデータ
ラッチ用信号DQSによりリードデータを取り込むが、
リードデータの有効領域内でラッチできるよう、メモリ
制御装置内でDQSを遅延させなければならない。その
遅延時間をCPUにてレジスタ設定し、その値に基づい
てDQSを遅延させるPDL(Programmable Delay)を
用いるのは公知の技術である。
2. Description of the Related Art Conventionally, memory control devices are generally D
It is configured using a DR-SDRAM. This DDR-S
At the time of reading, the DRAM takes in the read data by the data latch signal DQS output in synchronization with CLK.
DQS must be delayed in the memory controller so that it can be latched in the valid area of the read data. It is a known technique to register the delay time in the CPU and use PDL (Programmable Delay) for delaying DQS based on the value.

【0003】また、温度や湿度等の環境が経時的に変化
すると、データやDQSの負荷容量が変動し、あらかじ
めPDL(Programmable Deley)に設定していた遅延時
間では、遅延させたDQSに対するデータの有効領域か
ら外れ、正しい値をラッチできなくなることが生じてし
まう。また、省エネルギー対応として本体を動作させな
い時は、メモリシステムをセルフリフレッシュモードに
移行することは、今では広く一般的に行われている。
Further, when the environment such as temperature and humidity changes with time, the load capacity of data and DQS fluctuates, and at the delay time preset in PDL (Programmable Deley), the data of delayed DQS is changed. It may be out of the valid area and the correct value may not be latched. In addition, when the main body is not operated in order to save energy, it is now widely and commonly performed to shift the memory system to the self-refresh mode.

【0004】本発明と技術分野の類似する先願発明例1
として、特開平11−25029号公報の「メモリサブ
システム」がある。本先願発明例1では、データ入力回
路のクロックを遅延させ、円滑にデータを取り込むこと
を目的としている。さらに、円滑にデータを取り込むた
めにDQSを遅延させ、その遅延をレジスタ設定にて可
変にできる技術を開示している。
Prior invention example 1 similar in technical field to the present invention
As an example, there is a "memory subsystem" in Japanese Patent Laid-Open No. 11-25029. The first invention of the prior application aims at delaying the clock of the data input circuit and smoothly fetching the data. Further, a technique is disclosed in which DQS is delayed in order to smoothly capture data and the delay can be made variable by register setting.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、最適遅延時間はDQSの負荷容量を推測
して、これに応じた値を設定するのであるが、メモリシ
ステム構成変化や環境変化等に応じて負荷容量が変動す
る。このため、あらかじめ設定しておいた遅延時間で
は、遅延させたDQSに対するデータの有効領域からは
ずれ、正しい値をラッチできなくなるということが生じ
てしまう。
However, in the above-mentioned prior art, the optimum delay time is set by estimating the load capacity of the DQS and setting a value according to the load capacity. The load capacity fluctuates accordingly. For this reason, the preset delay time deviates from the effective area of the delayed DQS data, and a correct value cannot be latched.

【0006】また、温度や湿度等の環境が経時的に変化
すると、データやDQSの負荷容量が変動し、あらかじ
めPDL(Programmable Deley)に設定していた遅延時
間では、遅延させたDQSに対するデータの有効領域か
らはずれ、正しい値をラッチできなくなるということが
生じてしまう。
Further, when the environment such as temperature and humidity changes with time, the load capacity of data and DQS fluctuates, and at the delay time preset in PDL (Programmable Deley), the data of delayed DQS is changed. It may be out of the effective area and the correct value may not be latched.

【0007】本発明は、セルフリフレッシュ移行前及
び、一定期間アクセスがない時に実施して、パフォーマ
ンス低下を回避するメモリ制御装置を提供することを目
的とする。
It is an object of the present invention to provide a memory control device which is implemented before a self-refresh transition and when there is no access for a certain period of time to avoid performance degradation.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、請求項1記載の発明は、DDR−SDRAMへの
データの読み書きを行うメモリシステムにおけるメモリ
制御装置であって、データストローブ信号であるDQS
を遅延させるため、CPUからのアクセスによりディレ
イ調整可能なPDL(Programmable Display)を搭載し、
メモリシステムに対して所定の値を特定のアドレスに書
き込み、PDLの値を変更しながら上記アドレスへ読み
込み、当該アドレスに書き込まれた所定の値と読み込ま
れた値とを比較することにより、読み込み可能範囲を認
識することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is a memory control device in a memory system for reading and writing data from and to a DDR-SDRAM, which is a data strobe signal. DQS
In order to delay the delay, a PDL (Programmable Display) with adjustable delay by access from the CPU is installed,
It is possible to read by writing a predetermined value to a specific address in the memory system, reading to the above address while changing the value of PDL, and comparing the predetermined value written at the address with the read value. It is characterized by recognizing the range.

【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、メモリシステムのセルフリフレッシュ移行
前に、読み込み可能範囲の認識を実行することを特徴と
する。
According to a second aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the readable range is recognized before the self-refreshing of the memory system.

【0010】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、メモリアクセスが所定時間ない場合、読み
込み可能範囲の認識を実行することを特徴とする。
A third aspect of the invention is characterized in that, in the first aspect of the invention, when the memory is not accessed for a predetermined time, the readable range is recognized.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
によるメモリ制御装置の実施の形態を詳細に説明する。
図1から図4を参照すると、本発明のメモリ制御装置の
一実施形態が示されている。以下、この発明の実施例に
基づいて具体的に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, an embodiment of a memory control device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
Referring to FIGS. 1 to 4, there is shown one embodiment of the memory control device of the present invention. Hereinafter, specific description will be given based on embodiments of the present invention.

【0012】図1は、本発明のメモリ制御部とメモリシ
ステムとの接続図である。図1に示すように、DDR−
SDRAM1、2、3は、データ制御に必要な信号であ
るDQSと、データバスMDQ及びアクセス制御に必要
な信号とを授受するため、メモリ制御部10と接続され
ている。
FIG. 1 is a connection diagram of a memory control unit and a memory system according to the present invention. As shown in FIG. 1, DDR-
The SDRAMs 1, 2, and 3 are connected to the memory control unit 10 in order to exchange DQS, which is a signal required for data control, and signals required for the data bus MDQ and access control.

【0013】図2に、PDLの等価回路及びデータラッ
チ回路の構成を示す。DDR−SDRAMは、クロック
に同期してDQSおよびDQMを発するので、メモリ制
御部10内でDQSをDQMの読み込み可能範囲内に遅
延させ、DQSの立ち下がりもしくは立ち上がりでDQ
Mをラッチする。DQSの遅延時間は、PDLに対して
レジスタ設定により選択できる。
FIG. 2 shows the configuration of an equivalent circuit of PDL and a data latch circuit. Since the DDR-SDRAM emits DQS and DQM in synchronization with the clock, the DQS is delayed within the readable range of the DQM in the memory control unit 10 and the DQ falls or rises.
Latch M. The delay time of DQS can be selected by register setting for PDL.

【0014】図3は、本発明の第1の動作例を示す制御
フローチャートである。まず、本制御は、省エネルギー
モード移行時に開始される(ステップS1)。DDR−
SDRAMの特定のアドレスAに特定のデータBを書き
込む(ステップS2)。
FIG. 3 is a control flowchart showing a first operation example of the present invention. First, this control is started when shifting to the energy saving mode (step S1). DDR-
The specific data B is written to the specific address A of the SDRAM (step S2).

【0015】次に、10degree間隔でアドレスAの値を
読み込んでデータBと比較し、10degree単位での読み
込み可能範囲を認識する(ステップS3)。
Next, the value of the address A is read at 10 degree intervals and compared with the data B to recognize the readable range in 10 degree units (step S3).

【0016】ステップS3において認識した読み込み可
能範囲のMinまたはMax付近に対し、5degree間隔
でアドレスAの値を読み込んでデータBと比較し、5de
gree単位での読み込み可能範囲を認識する(ステップS
4)。
At the vicinity of Min or Max in the readable range recognized in step S3, the value of address A is read at 5 degree intervals and compared with data B, and 5de
Recognize the readable range in gree units (step S
4).

【0017】ステップS4において認識した読み込み可
能範囲のMinまたはMax付近に対し、1degree間隔
でアドレスAの値を読み込んでデータBと比較し、1de
gree単位での読み込み可能範囲を認識する(ステップS
5)。
In the vicinity of Min or Max in the readable range recognized in step S4, the value of address A is read at 1 degree intervals and compared with data B, and 1de
Recognize the readable range in gree units (step S
5).

【0018】ステップS5において認識したデータ有効
領域(読み込み可能範囲)の中間値をPDLに設定した
後(ステップS6)、メモリシステムに対し、セルフリ
フレッシュを実施する(ステップS7)。
After setting the intermediate value of the data valid area (readable range) recognized in step S5 to PDL (step S6), self-refreshing is performed on the memory system (step S7).

【0019】図4は、本発明の第2の動作例を示す制御
フローチャートである。まず、メモリ制御装置から一定
期間メモリアクセスが実施されないと、CPUに対して
割り込み等によりこれを通知する(ステップS11)。
本フローチャートは、一定期間メモリアクセスがない時
に開始される。
FIG. 4 is a control flowchart showing a second operation example of the present invention. First, if memory access is not performed from the memory control device for a certain period, the CPU is notified of this by an interrupt or the like (step S11).
This flowchart is started when there is no memory access for a certain period.

【0020】DDR−SDRAの特定のアドレスAに特
定のデータBを書き込む(ステップS12)。
The specific data B is written to the specific address A of DDR-SDRA (step S12).

【0021】次に、10degree間隔でアドレスAの値を
読み込んでデータBと比較し、10degree単位での読み
込み可能範囲を認識する(ステップS13)。
Next, the value of the address A is read at 10 degree intervals and compared with the data B to recognize the readable range in 10 degree units (step S13).

【0022】ステップS13において認識した読み込み
可能範囲のMinまたはMax付近に対し、5degree間
隔でアドレスAの値を読み込んでデータBと比較し、5
degree単位での読み込み可能範囲を認識する(ステップ
S14)。
The value of address A is read at an interval of 5 degrees with respect to the vicinity of Min or Max in the readable range recognized in step S13, and the value is compared with data B.
The readable range in units of degree is recognized (step S14).

【0023】ステップS14において認識した読み込み
可能範囲のMinまたはMax付近に対し、1degree間
隔でアドレスAの値を読み込んでデータBと比較し、1
degree単位での読み込み可能範囲を認識する(ステップ
S15)。
In the vicinity of Min or Max in the readable range recognized in step S14, the value of address A is read at 1 degree intervals and compared with data B.
The readable range in units of degree is recognized (step S15).

【0024】ステップS15において認識したデータ有
効領域(読み込み可能範囲)の中間値をPDLに設定す
る(ステップS16)。
The intermediate value of the data valid area (readable range) recognized in step S15 is set in PDL (step S16).

【0025】本発明の第1の動作例において、作用効果
温度や湿度等の環境が経時的に変化することにより、デ
ータやDQSの負荷容量が変動しても、省エネルギーモ
ード移行ごとに最適遅延時間を認識する。これにより、
最適遅延時間をPDLに設定すれば、有効領域内でリー
ドデータをラッチすることができる。また、最適遅延時
間を認識するための負荷は省エネルギーモード移行前に
かかるので、動作時におけるパフォーマンス低下はな
い。
In the first operation example of the present invention, even if the data or the load capacity of the DQS changes due to changes in the environment such as the effect temperature and humidity over time, the optimum delay time is changed every energy saving mode transition. Recognize. This allows
If the optimum delay time is set to PDL, read data can be latched in the effective area. Further, since the load for recognizing the optimum delay time is applied before shifting to the energy saving mode, there is no performance deterioration during operation.

【0026】また、本発明の第2の動作例において、作
用効果温度や湿度等の環境が経時的に変化して、データ
やDQSの負荷容量が変動しても、一定期間アクセスが
ない時に最適遅延時間を認識する。これにより、最適遅
延時間をPDL(Programmable Deley)に設定すれば、
有効領域内でリードデータをラッチすることができる。
また、最適遅延時間を認識するための負荷はメモリアク
セスがない時にかかるので、動作時におけるパフォーマ
ンス低下はない。
Also, in the second operation example of the present invention, it is most suitable when there is no access for a certain period even if the environment such as the effect temperature and humidity changes with time and the load capacity of data and DQS changes. Recognize the delay time. As a result, if the optimum delay time is set to PDL (Programmable Deley),
Read data can be latched in the valid area.
Also, since the load for recognizing the optimum delay time is applied when there is no memory access, there is no performance degradation during operation.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、請求項
1記載の発明によれば、メモリシステムに対して所定の
値を特定アドレスに書き込み、PDLの値を変更しなが
ら同じアドレスへ読み込み、それぞれの値を比較する。
このことにより、読み込み可能範囲を認識している。
As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, a predetermined value is written to a specific address in the memory system, the PDL value is changed and read to the same address. Compare each value.
By this, the readable range is recognized.

【0028】また、前もって書き込んでいたアドレスに
対し、PDLの値を変えながらリードアクセスし、正し
い値が読めたかどうかでPDLに設定する最適遅延時間
を認識できる。これより、最適遅延時間をPDLに設定
すれば、有効領域内でリードデータをラッチすることが
できる。
The optimum delay time to be set in the PDL can be recognized depending on whether or not the correct value can be read by performing read access to the previously written address while changing the value of the PDL. Therefore, if the optimum delay time is set to PDL, the read data can be latched in the effective area.

【0029】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明において、セルフリフレッシュ移行前に読み込
み可能範囲の認識を行い、その度ごとに最適遅延時間を
認識する。これにより、最適遅延時間をPDL(Progra
mmable Deley)に設定すれば、有効領域内でリードデー
タをラッチすることができ、さらに、認識処理をセルフ
リフレッシュ移行前に行うので、本体は動作していない
ため、動作時のパフォーマンス低下を防止することがで
きる。
According to the invention of claim 2, in the invention of claim 1, the readable range is recognized before the transition to self-refresh, and the optimum delay time is recognized each time. As a result, the optimum delay time is set to PDL (Progra
(mmable Deley), read data can be latched in the effective area, and since recognition processing is performed before the transition to self-refresh, the main unit is not operating, preventing performance degradation during operation. be able to.

【0030】請求項3記載の発明によれば、請求項1記
載の発明において、一定期間メモリアクセスがない場合
に読み込み可能範囲の認識を行い、その度ごとに最適遅
延時間を認識する。これにより、最適遅延時間をPDL
に設定すれば、有効領域内でリードデータをラッチする
ことができ、さらに、認識処理をメモリアクセスがない
時に実施するため、本体は動作していない時であるので
動作時のパフォーマンス低下を防止することができる。
According to the invention of claim 3, in the invention of claim 1, the readable range is recognized when there is no memory access for a certain period, and the optimum delay time is recognized each time. As a result, the optimum delay time is set to PDL.
If set to, read data can be latched in the effective area, and since recognition processing is executed when there is no memory access, the main unit is not operating, preventing performance degradation during operation. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施形態であるメモリ制御部とDDR
−SDRAMとの接続状態を示す構成図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a memory control unit and a DDR according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a configuration diagram showing a connection state with an SDRAM.

【図2】PDLの等価回路及びデータラッチ回路の構成
図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a PDL equivalent circuit and a data latch circuit.

【図3】本発明の第1の動作例を示す制御フローチャー
トである。
FIG. 3 is a control flowchart showing a first operation example of the present invention.

【図4】本発明の第2の動作例を示す制御フローチャー
トである。
FIG. 4 is a control flowchart showing a second operation example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、2、3 DDR−SDRAM 10 メモリ制御部 1, 2, 3 DDR-SDRAM 10 Memory controller

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 DDR−SDRAMへのデータの読み書
きを行うメモリシステムにおけるメモリ制御装置であっ
て、 データストローブ信号であるDQSを遅延させるため、
CPUからのアクセスによりディレイ調整可能なPDL
(Programmable Display)を搭載し、 前記メモリシステムに対して所定の値を特定のアドレス
に書き込み、 前記PDLの値を変更しながら前記アドレスへ読み込
み、 前記アドレスに書き込まれた所定の値と読み込まれた値
とを比較することにより、読み込み可能範囲を認識する
ことを特徴とするメモリ制御装置。
1. A memory controller in a memory system for reading / writing data from / to DDR-SDRAM, wherein DQS, which is a data strobe signal, is delayed.
PDL with adjustable delay by access from CPU
(Programmable Display) is mounted, a predetermined value is written to a specific address for the memory system, the PDL value is changed and read to the address, and the predetermined value written to the address is read. A memory control device characterized by recognizing a readable range by comparing with a value.
【請求項2】 前記メモリシステムのセルフリフレッシ
ュ移行前に、前記読み込み可能範囲の認識を実行するこ
とを特徴とする請求項1記載のメモリ制御装置。
2. The memory control device according to claim 1, wherein recognition of the readable range is executed before transition to self-refresh of the memory system.
【請求項3】 メモリアクセスが所定時間ない場合、前
記読み込み可能範囲の認識を実行することを特徴とする
請求項1記載のメモリ制御装置。
3. The memory control device according to claim 1, wherein when the memory is not accessed for a predetermined time, the readable range is recognized.
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