JP2003083885A - 大気汚染物質測定装置 - Google Patents
大気汚染物質測定装置Info
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- JP2003083885A JP2003083885A JP2001273304A JP2001273304A JP2003083885A JP 2003083885 A JP2003083885 A JP 2003083885A JP 2001273304 A JP2001273304 A JP 2001273304A JP 2001273304 A JP2001273304 A JP 2001273304A JP 2003083885 A JP2003083885 A JP 2003083885A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は大気中に存在する汚染物質を測定する
ための簡便な測定装置を提供することを目的とする。 【解決手段】広帯域スペクトルを有する白色光源と、そ
の断続する光源からの大気中を伝播した光を集光するた
めの集光光学装置と、該集光光学装置からの被測定光を
分析するための分光器から成ることを特徴とする。さら
に、前記光源からの測定点を複数個所設けたことを特徴
とする。また、広帯域スペクトルを有する白色光源が高
い建造物上に設置された断続する光源であり、集光光学
装置は遠方の点光源を観測するための望遠鏡であること
を特徴とする。
ための簡便な測定装置を提供することを目的とする。 【解決手段】広帯域スペクトルを有する白色光源と、そ
の断続する光源からの大気中を伝播した光を集光するた
めの集光光学装置と、該集光光学装置からの被測定光を
分析するための分光器から成ることを特徴とする。さら
に、前記光源からの測定点を複数個所設けたことを特徴
とする。また、広帯域スペクトルを有する白色光源が高
い建造物上に設置された断続する光源であり、集光光学
装置は遠方の点光源を観測するための望遠鏡であること
を特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は大気中に存在する汚
染物質などの測定装置に関する。
染物質などの測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、大気中に含まれる例えばＣＯ（一
酸化炭素）やＣＯ2（二酸化炭素）やＮＯX（窒素酸化
物）などの汚染物質を測定する方法として、レーザ光源
を用いて行なう方法がある。その方法は例えば、パルス
レーザ光を大気中に発射し、大気中に存在するエアロゾ
ル（浮遊粒子状物質）や分子による後方散乱光を測定す
るライダーなどの方法がある。これらは、大気中に含ま
れる物質が持つ吸収波長において、該吸収波長のレーザ
光を照射すると光が吸収されることを利用して、測定対
象物質の吸収波長と吸収しない波長の２波長のライダー
信号の比から測定対象物質の濃度計測を行なう。
酸化炭素）やＣＯ2（二酸化炭素）やＮＯX（窒素酸化
物）などの汚染物質を測定する方法として、レーザ光源
を用いて行なう方法がある。その方法は例えば、パルス
レーザ光を大気中に発射し、大気中に存在するエアロゾ
ル（浮遊粒子状物質）や分子による後方散乱光を測定す
るライダーなどの方法がある。これらは、大気中に含ま
れる物質が持つ吸収波長において、該吸収波長のレーザ
光を照射すると光が吸収されることを利用して、測定対
象物質の吸収波長と吸収しない波長の２波長のライダー
信号の比から測定対象物質の濃度計測を行なう。
【０００３】また、遠方から比較的広帯域の波長を有す
光を伝播させて、検出器として光電子増倍管を用いて大
気中に存在する測定対象物質の濃度計測を行なう方法が
ある。
光を伝播させて、検出器として光電子増倍管を用いて大
気中に存在する測定対象物質の濃度計測を行なう方法が
ある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来技術は、測定対象物質の吸収波長と吸収しない波長の
２波長のライダー信号を用いて計測を行なう場合、２つ
のレーザ光を同時に照射しなければならない。さらに、
複数の測定対象物に対して測定を行なう場合はその各測
定対象物の吸収波長付近の発振波長を有するレーザ光源
をそれぞれ用いなければならず、装置の配置が複雑かつ
困難であり、さらにレーザ光源は非常に高価であるため
２つのレーザ光源を用意することはコスト的に問題があ
る。
来技術は、測定対象物質の吸収波長と吸収しない波長の
２波長のライダー信号を用いて計測を行なう場合、２つ
のレーザ光を同時に照射しなければならない。さらに、
複数の測定対象物に対して測定を行なう場合はその各測
定対象物の吸収波長付近の発振波長を有するレーザ光源
をそれぞれ用いなければならず、装置の配置が複雑かつ
困難であり、さらにレーザ光源は非常に高価であるため
２つのレーザ光源を用意することはコスト的に問題があ
る。
【０００５】また、１つのレーザ光源を用いて、測定対
象物質の吸収波長と吸収しない波長の２波長を発振する
計測光学系（例えばエタロンを利用して狭帯域で多波長
を得る光学系）を用いる計測法も考えられる。しかし、
このような方法ではレーザ光源が１つであるため、測定
可能な大気汚染物質に限りがある。さらに、これら２波
長を発振する計測光学系は防震台上などに組み立てなけ
ればならないなど維持・管理に非常に手間がかかるとい
う問題がある。
象物質の吸収波長と吸収しない波長の２波長を発振する
計測光学系（例えばエタロンを利用して狭帯域で多波長
を得る光学系）を用いる計測法も考えられる。しかし、
このような方法ではレーザ光源が１つであるため、測定
可能な大気汚染物質に限りがある。さらに、これら２波
長を発振する計測光学系は防震台上などに組み立てなけ
ればならないなど維持・管理に非常に手間がかかるとい
う問題がある。
【０００６】さらに、遠方から比較的広帯域の波長を有
す光を伝播させる場合、光をコリメートさせて伝播する
ため、測定個所が変わるたびに光学系を構成しなければ
ならず、複数個所における広範囲な測定においては非常
に手間がかかる。さらに、検出器として光電子増倍管を
用いる場合、分光器の波長掃引が必要となり計測が煩雑
であり、時間がかかるという問題がある。
す光を伝播させる場合、光をコリメートさせて伝播する
ため、測定個所が変わるたびに光学系を構成しなければ
ならず、複数個所における広範囲な測定においては非常
に手間がかかる。さらに、検出器として光電子増倍管を
用いる場合、分光器の波長掃引が必要となり計測が煩雑
であり、時間がかかるという問題がある。
【０００７】また、レーザ光源を用いる場合やコリメー
トした光を用いる場合においては通常アイセーフティへ
の考慮が必要なため、検出装置を設置する場所は一本の
光路上に限定される。このため広い地域における大気汚
染の測定が困難である。
トした光を用いる場合においては通常アイセーフティへ
の考慮が必要なため、検出装置を設置する場所は一本の
光路上に限定される。このため広い地域における大気汚
染の測定が困難である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は広帯域
スペクトルを有する白色光源と、その断続する光源から
の大気中を伝播した光を集光するための集光光学装置
と、該集光光学装置からの被測定光を分析するための分
光器から成ることを特徴とし、さらに前記光源からの測
定点を複数個所設けたことを特徴とする。
スペクトルを有する白色光源と、その断続する光源から
の大気中を伝播した光を集光するための集光光学装置
と、該集光光学装置からの被測定光を分析するための分
光器から成ることを特徴とし、さらに前記光源からの測
定点を複数個所設けたことを特徴とする。
【０００９】また、広帯域スペクトルを有する白色光源
が高い建造物上に設置された断続する光源であり、集光
光学装置は遠方の点光源を観測するための望遠鏡であ
り、分光器はＣＣＤアレイ型光学センサを有することを
特徴とする。
が高い建造物上に設置された断続する光源であり、集光
光学装置は遠方の点光源を観測するための望遠鏡であ
り、分光器はＣＣＤアレイ型光学センサを有することを
特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】第1の実施の形態例
図１は本発明の実施の形態例の大気汚染物質測定の説明
図である。以下、図面を用いて説明する。１は塔や煙突
などの高い建造物上に設置され、航空機などの衝突防止
の目印等の目的で利用されている白色光源である。通常
この白色光源には広い波長領域を持つＸｅランプ（キセ
ノンランプ）が用いられており、一定の間隔で点滅して
いる。
図である。以下、図面を用いて説明する。１は塔や煙突
などの高い建造物上に設置され、航空機などの衝突防止
の目印等の目的で利用されている白色光源である。通常
この白色光源には広い波長領域を持つＸｅランプ（キセ
ノンランプ）が用いられており、一定の間隔で点滅して
いる。
【００１１】２は上記白色光源１から大気中を伝播する
被測定光を集光するための集光光学装置としての望遠鏡
である。３はＣＣＤアレイ型光学センサを有する通常の
分光器であり、上記望遠鏡２で集光した被測定光を分析
するためのものであり、コンピュータなどの解析手段４
で測定対象物の濃度を求め、必要に応じてモニタ表示を
する。
被測定光を集光するための集光光学装置としての望遠鏡
である。３はＣＣＤアレイ型光学センサを有する通常の
分光器であり、上記望遠鏡２で集光した被測定光を分析
するためのものであり、コンピュータなどの解析手段４
で測定対象物の濃度を求め、必要に応じてモニタ表示を
する。
【００１２】次に本発明の実施の手順について説明す
る。建造物上に設置されている白色光源１を遠方（数百
メートルから数十キロメートル）の測定点にて望遠鏡２
で集光し、その白色光源１の像を形成する。この像の位
置に分光器３を置き測定する。なお、この測定に際し、
白色光源１の発光時間（例えば１．５ｓに０．５ｍｓ間
発光）に対し、分光器３のＣＣＤの繰り返しレートを合
わせて多数のデータを取得するようにすることが望まし
い。分光器３の直前に白色光源１の像が形成されるた
め、白色光源が発光したか否かはスペクトル強度により
容易に判別することができる。
る。建造物上に設置されている白色光源１を遠方（数百
メートルから数十キロメートル）の測定点にて望遠鏡２
で集光し、その白色光源１の像を形成する。この像の位
置に分光器３を置き測定する。なお、この測定に際し、
白色光源１の発光時間（例えば１．５ｓに０．５ｍｓ間
発光）に対し、分光器３のＣＣＤの繰り返しレートを合
わせて多数のデータを取得するようにすることが望まし
い。分光器３の直前に白色光源１の像が形成されるた
め、白色光源が発光したか否かはスペクトル強度により
容易に判別することができる。
【００１３】図２は本発明によるスペクトル特性を示す
説明図である。図２中（ａ）は白色光源発光があるとき
に得られるスペクトルであり、これは白色光源１の発光
（ＩREF）と太陽光の散乱光などの背景光（ＩBG）を含
んでいる。図２（ｂ）は白色光源１の発光がないときに
得られるスペクトルであり、太陽光の散乱光などの背景
光（ＩBG）である。この背景光（ＩBG）による影響を除
去するため、白色光源１の発光がある場合（ＩBG+
ＩREF）と白色光源１の発光がない場合（ＩBG）のそれ
ぞれのスペクトルについて適当な回数の加算平均を行な
う。
説明図である。図２中（ａ）は白色光源発光があるとき
に得られるスペクトルであり、これは白色光源１の発光
（ＩREF）と太陽光の散乱光などの背景光（ＩBG）を含
んでいる。図２（ｂ）は白色光源１の発光がないときに
得られるスペクトルであり、太陽光の散乱光などの背景
光（ＩBG）である。この背景光（ＩBG）による影響を除
去するため、白色光源１の発光がある場合（ＩBG+
ＩREF）と白色光源１の発光がない場合（ＩBG）のそれ
ぞれのスペクトルについて適当な回数の加算平均を行な
う。
【００１４】この両者の差をとることにより、図２
（ｃ）に示す背景光を除去した白色光源１の発光のスペ
クトル（ＩREF）を得ることができる。そして、解析手
段４であらかじめ測定した白色光源１の光源であるＸｅ
ランプのスペクトル（Ｉ0）を用いて、以下に示すＬａ
ｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則により測定対象物の濃度を
測定する。
（ｃ）に示す背景光を除去した白色光源１の発光のスペ
クトル（ＩREF）を得ることができる。そして、解析手
段４であらかじめ測定した白色光源１の光源であるＸｅ
ランプのスペクトル（Ｉ0）を用いて、以下に示すＬａ
ｍｂｅｒｔ−Ｂｅｅｒの法則により測定対象物の濃度を
測定する。
【００１５】
【数式１】
【００１６】但し、Ｎは単位体積あたりの気体分子数、
σは吸収断面積、Ｌは白色光源１と望遠鏡２の距離を示
す。解析は測定対象の汚染気体のスペクトルが特有の変
動を示す領域を用い、上記式中のｌｎ（Ｉ0／ＩREF）
を、実験室であらかじめ測定された吸収断面積σと比較
してスペクトルマッチングを行なうことにより、測定対
象物の解析を行なう。例えばＮＯ2を測定対象物とする
場合には、４３０ｎｍから４５０ｎｍの範囲が適当であ
る(図２(ｃ)中のＡの領域)。
σは吸収断面積、Ｌは白色光源１と望遠鏡２の距離を示
す。解析は測定対象の汚染気体のスペクトルが特有の変
動を示す領域を用い、上記式中のｌｎ（Ｉ0／ＩREF）
を、実験室であらかじめ測定された吸収断面積σと比較
してスペクトルマッチングを行なうことにより、測定対
象物の解析を行なう。例えばＮＯ2を測定対象物とする
場合には、４３０ｎｍから４５０ｎｍの範囲が適当であ
る(図２(ｃ)中のＡの領域)。
【００１７】図３にＮＯ2のスペクトルマッチングの解
析例図を示す。図中実線は測定により得られたｌｎ（Ｉ
0／ＩREF）であり、破線は実験室であらかじめ測定され
たＮＯ2の吸収断面積である。このようにして計測され
る濃度は光源である高い建造物上に設置された白色光源
から比較的長い距離の平均値であり、通常地上の一点も
しくは数点のみで行なわれる局所的な測定と比べて、よ
り広範な測定が可能である。また、特定の波長領域を有
すレーザ光源と異なり、白色光源は広いスペクトル領域
を持つため、Ｏ 3（オゾン）、ＳＯ2（二酸化硫黄）、Ｈ
2Ｏ（水蒸気）など様々な物質の測定を同時に行なうこ
とが可能になる。また、建造物に設置された既存の光源
を用いるため従来のレーザ光源を用意する場合に比べて
測定が非常に容易かつ装置が安価である。
析例図を示す。図中実線は測定により得られたｌｎ（Ｉ
0／ＩREF）であり、破線は実験室であらかじめ測定され
たＮＯ2の吸収断面積である。このようにして計測され
る濃度は光源である高い建造物上に設置された白色光源
から比較的長い距離の平均値であり、通常地上の一点も
しくは数点のみで行なわれる局所的な測定と比べて、よ
り広範な測定が可能である。また、特定の波長領域を有
すレーザ光源と異なり、白色光源は広いスペクトル領域
を持つため、Ｏ 3（オゾン）、ＳＯ2（二酸化硫黄）、Ｈ
2Ｏ（水蒸気）など様々な物質の測定を同時に行なうこ
とが可能になる。また、建造物に設置された既存の光源
を用いるため従来のレーザ光源を用意する場合に比べて
測定が非常に容易かつ装置が安価である。
【００１８】第２の実施の形態例
図４に第２の実施の形態例の概略図を示す。図４ (ａ)
に示す如く、白色光源１の周辺地域で多数の測定点Ｐに
おいて測定を行なう。これにより、白色光源１の周辺地
域の大気汚染物質の分布状況がわかる。
に示す如く、白色光源１の周辺地域で多数の測定点Ｐに
おいて測定を行なう。これにより、白色光源１の周辺地
域の大気汚染物質の分布状況がわかる。
【００１９】さらに、図４（ｂ）に示す如く、測定装置
を車両上などのように移動可能に設置して、白色光源１
から徐々に離れ、（または徐々に近づき）測定を行な
う。白色光源１から一直線上に測定点Ｐを多数設けて定
量的に測定を行い、隣り合う測定点での定量測定結果の
差を計算することでその一直線上における汚染物質の分
布がわかる。さらに、これを白色光源１の周囲で複数回
行い、その結果白色光源１を中心とした領域の２次元の
大気汚染分布図を得ることができる。
を車両上などのように移動可能に設置して、白色光源１
から徐々に離れ、（または徐々に近づき）測定を行な
う。白色光源１から一直線上に測定点Ｐを多数設けて定
量的に測定を行い、隣り合う測定点での定量測定結果の
差を計算することでその一直線上における汚染物質の分
布がわかる。さらに、これを白色光源１の周囲で複数回
行い、その結果白色光源１を中心とした領域の２次元の
大気汚染分布図を得ることができる。
【００２０】第３の実施の形態例
図５に第３の実施の形態例を示す。図５に示す如く、ト
ンネル内やある一定区間の道路の一端に白色光源１を設
置し、他端で望遠鏡２を設置して測定する。トンネルや
道路が曲折している場合には反射鏡などを用いて白色光
源１からの光を反射させて望遠鏡２に集光させる。これ
により、トンネル内、ある一定区間の道路、工場内など
の大気汚染の測定が可能になる。
ンネル内やある一定区間の道路の一端に白色光源１を設
置し、他端で望遠鏡２を設置して測定する。トンネルや
道路が曲折している場合には反射鏡などを用いて白色光
源１からの光を反射させて望遠鏡２に集光させる。これ
により、トンネル内、ある一定区間の道路、工場内など
の大気汚染の測定が可能になる。
【００２１】なお、上記各実施の形態例においてはＸｅ
ランプを光源として説明したが、広帯域スペクトルを有
し、大気中で数十メートルから数十キロメートルの伝播
が可能で、かつ適当な時間間隔で断続する光源であれば
よく、Ｘｅランプに限定されない。
ランプを光源として説明したが、広帯域スペクトルを有
し、大気中で数十メートルから数十キロメートルの伝播
が可能で、かつ適当な時間間隔で断続する光源であれば
よく、Ｘｅランプに限定されない。
【００２２】
【発明の効果】以上説明した本発明の第１の実施の形態
例によれば、塔や煙突などの高い建造物上に設置された
既存の白色光源を用いるため、従来のレーザ光源を用意
する場合に比べて非常に測定が容易かつ装置が安価であ
る。また、通常地上の一点もしくは数点のみで行なわれ
る局所的な測定と比べて、数十キロメートルの広範な測
定が容易になる。
例によれば、塔や煙突などの高い建造物上に設置された
既存の白色光源を用いるため、従来のレーザ光源を用意
する場合に比べて非常に測定が容易かつ装置が安価であ
る。また、通常地上の一点もしくは数点のみで行なわれ
る局所的な測定と比べて、数十キロメートルの広範な測
定が容易になる。
【００２３】また、特定の狭い波長領域で発振するレー
ザ光源と異なり、白色光源(広スペクトル)を用い、ＣＣ
Ｄアレイ型光学センサを有する通常の分光器を用いるた
め、Ｏ3（オゾン）、ＳＯ2（二酸化硫黄）、Ｈ2Ｏ（水
蒸気）など様々な物質の測定を同時に行なうことが可能
になるという効果がある。また、レーザ光やコリメート
された光と異なりアイセーフティの問題がなくなるた
め、検出装置を設置する場所は一本の光路上に限定され
ず、このため複数の光路を用いて同時に大気汚染物質を
計測することが可能になるという効果がある。
ザ光源と異なり、白色光源(広スペクトル)を用い、ＣＣ
Ｄアレイ型光学センサを有する通常の分光器を用いるた
め、Ｏ3（オゾン）、ＳＯ2（二酸化硫黄）、Ｈ2Ｏ（水
蒸気）など様々な物質の測定を同時に行なうことが可能
になるという効果がある。また、レーザ光やコリメート
された光と異なりアイセーフティの問題がなくなるた
め、検出装置を設置する場所は一本の光路上に限定され
ず、このため複数の光路を用いて同時に大気汚染物質を
計測することが可能になるという効果がある。
【００２４】また、集光光学装置として市販の望遠鏡を
用い、分光器として市販の小型のものを用いることがで
き、構造が簡単で維持管理も簡単になるという効果があ
る。本発明の第２の実施の形態例によれば、測定装置を
簡単な構造で構成したため装置の移動を容易に行なえる
ので、白色光源の周辺地域を複数個所の測定を行なうこ
とにより、白色光源の設置された建造物を中心とした領
域の２次元の大気汚染分布図を得ることが可能になる。
用い、分光器として市販の小型のものを用いることがで
き、構造が簡単で維持管理も簡単になるという効果があ
る。本発明の第２の実施の形態例によれば、測定装置を
簡単な構造で構成したため装置の移動を容易に行なえる
ので、白色光源の周辺地域を複数個所の測定を行なうこ
とにより、白色光源の設置された建造物を中心とした領
域の２次元の大気汚染分布図を得ることが可能になる。
【００２５】本発明の第３の実施の形態例によれば、ト
ンネル内、ある一定区間の道路、工場内などの一端に白
色光源を設置し、他端で簡単な構造で構成した測定装置
により測定を行なうことにより交通量の多い幹線道路や
トンネルなどの局所的な大気汚染物質の測定が可能にな
る。
ンネル内、ある一定区間の道路、工場内などの一端に白
色光源を設置し、他端で簡単な構造で構成した測定装置
により測定を行なうことにより交通量の多い幹線道路や
トンネルなどの局所的な大気汚染物質の測定が可能にな
る。
【図１】本発明の実施の形態を示す説明図
【図２】本発明によるスペクトル特性を示す説明図
【図３】ＮＯ2のスペクトルマッチングの解析例図
【図４】第２の実施の形態を示す概略図
【図５】第３の実施の形態を示す説明図
１ 白色光源
２ 望遠鏡
３ 分光器
４ 解析手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 久世 宏明
東京都文京区本郷２−30−８−904
(72)発明者 竹内 延夫
東京都世田谷区羽根木１−29−18
(72)発明者 吉田 大作
東京都千代田区二番町８−３京都電子工業
株式会社内
Ｆターム(参考） 2G059 AA01 BB02 CC05 CC06 CC08
CC09 EE01 EE12 FF01 GG07
HH02 JJ01 JJ30 KK04 MM03
NN01
Claims (5)
- 【請求項１】 広帯域スペクトルを有する白色光源と、
その断続する光源からの大気中を伝播した光を集光する
ための集光光学装置と、該集光光学装置からの被測定光
を分析するための分光器から成ることを特徴とする大気
汚染物質測定装置。 - 【請求項２】 広帯域スペクトルを有する白色光源と、
その断続する光源からの大気中を伝播した光を集光する
ための集光光学装置と、該集光光学装置からの被測定光
を分析するための分光器から成り、前記光源からの測定
点を複数個所設けたことを特徴とする大気汚染物質測定
装置。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２において、広帯
域スペクトルを有する白色光源が高い建造物上に設置さ
れた断続する光源であることを特徴とする大気汚染物質
測定装置。 - 【請求項４】 請求項１または請求項２または請求項３
において、集光光学装置は遠方の点光源を観測するため
の望遠鏡であることを特徴とする大気汚染物質測定装
置。 - 【請求項５】 請求項１または請求項２または請求項３
または請求項４において、分光器はＣＣＤアレイ型光学
センサを有することを特徴とする大気汚染物質測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001273304A JP2003083885A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 大気汚染物質測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001273304A JP2003083885A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 大気汚染物質測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003083885A true JP2003083885A (ja) | 2003-03-19 |
Family
ID=19098536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001273304A Pending JP2003083885A (ja) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | 大気汚染物質測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003083885A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101109699B (zh) * | 2007-07-28 | 2010-09-15 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 大气成分垂直分布探测的多轴差分吸收光谱方法与装置 |
| CN101907563A (zh) * | 2010-07-21 | 2010-12-08 | 宇星科技发展(深圳)有限公司 | 基于紫外发光二极管的二氧化硫分析仪及分析方法 |
-
2001
- 2001-09-10 JP JP2001273304A patent/JP2003083885A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101109699B (zh) * | 2007-07-28 | 2010-09-15 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 | 大气成分垂直分布探测的多轴差分吸收光谱方法与装置 |
| CN101907563A (zh) * | 2010-07-21 | 2010-12-08 | 宇星科技发展(深圳)有限公司 | 基于紫外发光二极管的二氧化硫分析仪及分析方法 |
| CN101907563B (zh) * | 2010-07-21 | 2012-06-27 | 宇星科技发展(深圳)有限公司 | 基于紫外发光二极管的二氧化硫分析仪及分析方法 |
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