JP2003075118A - Scanning laser microscope - Google Patents

Scanning laser microscope

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JP2003075118A
JP2003075118A JP2001265789A JP2001265789A JP2003075118A JP 2003075118 A JP2003075118 A JP 2003075118A JP 2001265789 A JP2001265789 A JP 2001265789A JP 2001265789 A JP2001265789 A JP 2001265789A JP 2003075118 A JP2003075118 A JP 2003075118A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
detector
scanning
output
objective lens
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2001265789A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirohisa Fujimoto
洋久 藤本
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scanning laser microscope capable of taking a three- dimensional image of a sample at high speed, and measuring the height of the sample highly accurately. SOLUTION: This microscope has a laser beam source 1, a light deflector 5 for scanning a laser beam on a sample 8, an objective lens 7 for condensing light onto the sample 8, a detector 11 for detecting the intensity of light from the sample 8, image acquisition means 13, 14 for acquiring an image based on the output of the detector 11, an image display means (not shown in Fig.), a stage 12 capable of adjusting the relative position between the sample 8 and the objective lens 7, a threshold setting part 15 for dividing an output value detectable by the detector 11 into plural regions, a determination part 16 for determining whether the output detected by the detector 11 exceeds the threshold or not, and a moving quantity setting driving part 17 for setting the moving quantity of the moving mechanism 12 corresponding to the result acquired by the determination part 16 and driving the moving mechanism 12 as much as the set moving quantity.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、試料の高さを観察
及び測定可能な走査型レーザ顕微鏡に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a scanning laser microscope capable of observing and measuring the height of a sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、試料の高さを観察する装置とし
て、走査型レーザ顕微鏡が用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a scanning laser microscope has been used as an apparatus for observing the height of a sample.

【0003】図5は従来の一般的な走査型レーザ顕微鏡
の概略構成図である。従来の一般的な走査型レーザ顕微
鏡は、レーザ光源1と、レーザ光源1から出射したレー
ザ光を試料8上に走査する走査手段である光偏向器5
と、光偏向器5を経て試料8に向かうレーザ光を試料8
上に集光する対物レンズ7と、試料8で反射した光の強
度を検出する検出器11と、検出器11で検出された出
力に基づいて画像を形成する画像形成手段としてA/D
変換器13及び最高出力演算部14とを備えて構成され
ている。なお、図中、11、12はレンズ系、6は瞳リレ
ーレンズ系、9は結像レンズ、10はピンホール、12
はステージである。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a conventional general scanning laser microscope. The conventional general scanning laser microscope includes a laser light source 1 and an optical deflector 5 which is a scanning means for scanning the laser light emitted from the laser light source 1 onto a sample 8.
And a laser beam directed to the sample 8 via the optical deflector 5
A / D as an image forming means for forming an image on the basis of the output detected by the detector 11 and the detector 11 for detecting the intensity of the light reflected by the sample 8
The converter 13 and the maximum output calculator 14 are provided. In the figure, 1 1, 1 2 lens system, 6 pupil relay lens system, an imaging lens 9, the pinhole 10, 12
Is the stage.

【0004】そして本従来例の走査型レーザ顕微鏡で
は、等価的に点光源と考えられるレーザ光源1から出射
したレーザ光は、レンズ系11,12を介してビーム径が
変えられてビームスプリッタ4に入射し、ビームスプリ
ッタ4で反射して光偏向器5に入射し、光偏向器5で試
料8上の所定走査位置に向うように偏向させられる。光
偏向器5で偏向させられたレーザ光は瞳リレーレンズ系
6を経て対物レンズ7の瞳位置に入射し、さらに対物レ
ンズ7を介して集光されてステージ12上に載置された
試料8を照射する。試料8で反射した光は、ビームスプ
リッタ4から試料8に向かう経路とは逆向きの経路をた
どった後に、ビームスプリッタ4を透過し、更に結像レ
ンズ9を介してピンホール10位置に結像する。
In the conventional scanning laser microscope, the laser light emitted from the laser light source 1, which is considered to be equivalent to a point light source, has its beam diameter changed through the lens systems 1 1 and 1 2 and the beam splitter. 4 and is reflected by the beam splitter 4 to enter the optical deflector 5 and is deflected by the optical deflector 5 so as to be directed to a predetermined scanning position on the sample 8. The laser beam deflected by the optical deflector 5 enters the pupil position of the objective lens 7 through the pupil relay lens system 6, is further condensed through the objective lens 7, and is mounted on the stage 12 on the sample 8 Irradiate. The light reflected by the sample 8 follows a path opposite to the path from the beam splitter 4 toward the sample 8, then passes through the beam splitter 4, and is further imaged at the position of the pinhole 10 via the imaging lens 9. To do.

【0005】この結像面は、通常の光学顕微鏡において
像を観察する面である。結像面の位置に設けられたピン
ホール10により試料8の像を形成しない不要な光が除
去され、通常の光学顕微鏡に比べて、フレアのない、高
解像の画像を得ることが可能となる。ピンホール10を
通過した光は、その後方に設けられた検出器11で検出
される。検出器11で検出された出力は、A/D変換器
13を介して演算可能な信号に変換される。最高出力演
算部14では、検出器11で検出された出力が最高出力
値のときに、所定の情報を記憶する処理が行われるが、
この処理については後述する。そして、光偏向器5から
射出する光線の角度を変化させることで、試料8上を1
次元(図においては横方向)に走査した画像が得られ
る。形成された画像は、図示を省略したモニタ等の表示
装置に出力される。
This image plane is a plane on which an image is observed with a normal optical microscope. Unnecessary light that does not form an image of the sample 8 is removed by the pinhole 10 provided at the position of the image plane, and it is possible to obtain a high-resolution image without flare as compared with an ordinary optical microscope. Become. The light passing through the pinhole 10 is detected by a detector 11 provided behind it. The output detected by the detector 11 is converted into a computable signal via the A / D converter 13. The maximum output calculation unit 14 performs a process of storing predetermined information when the output detected by the detector 11 is the maximum output value.
This process will be described later. Then, by changing the angle of the light beam emitted from the light deflector 5, the sample 8 is moved to 1
An image obtained by scanning in the dimension (horizontal direction in the drawing) is obtained. The formed image is output to a display device such as a monitor (not shown).

【0006】なお、図5では1次元で走査することが可
能な構成を示しているが、図5の構成に加えて、光偏向
器5及び瞳リレーレンズ系6と同様の構成の光偏向器及
び瞳リレーレンズ系を紙面と直交する方向に配置すれ
ば、試料8の2次元画像を得ることができる。
Although FIG. 5 shows a structure capable of one-dimensional scanning, in addition to the structure shown in FIG. 5, an optical deflector having the same structure as the optical deflector 5 and the pupil relay lens system 6 is provided. A two-dimensional image of the sample 8 can be obtained by arranging the pupil relay lens system in the direction orthogonal to the paper surface.

【0007】ここで、試料8の画像を形成する過程につ
いて説明する。レーザ走査型顕微鏡では、試料8に焦点
が合った場合に検出器11からの出力値が最高値とな
る。そこで、試料8と対物レンズ7との相対的位置を、
ステージ12の上下移動により所定量Z方向(矢印方
向)に移動させる。そして、移動ごとに試料8からの反
射光を検出器11で検出する。検出器11で検出された
出力は、A/D変換器13を介して最高出力演算部に入
力される。最高出力演算部14は複数の記憶部を備えて
おり、このうち第1の記憶部には、光偏向器の走査に同
期して試料上の各位置での検出器11からの出力が一時
的に保存される。この第1の記憶部に記憶されたデータ
は、第2の記憶部に記憶されたデータと比較され、大き
い方のデータが第2の記憶部に記憶される。この処理
は、ステージ12を移動するごとに行われる。したがっ
て、ステージを移動するごとに第1の記憶部のデータが
更新され、第2の記憶部には最も値の大きなデータが記
憶されていくことになる。また、第3の記憶部には、第
2の記憶部のデータが最も大きな値になるまでにステー
ジが移動した量が記憶される。この結果、第2の記憶部
には、試料各点において焦点が合ったときの画像のデー
タが記憶され、第3の記憶部には試料各点の高さデータ
が記憶されることになる。そして、この第3の記憶部の
データを用いれば高さ測定が可能になる。
Now, the process of forming an image of the sample 8 will be described. In the laser scanning microscope, the output value from the detector 11 becomes the maximum value when the sample 8 is in focus. Therefore, the relative position between the sample 8 and the objective lens 7 is
By moving the stage 12 up and down, it is moved in the Z direction (arrow direction) by a predetermined amount. Then, the reflected light from the sample 8 is detected by the detector 11 every movement. The output detected by the detector 11 is input to the maximum output calculator via the A / D converter 13. The maximum output calculation unit 14 includes a plurality of storage units. Among them, the first storage unit temporarily stores the output from the detector 11 at each position on the sample in synchronization with the scanning of the optical deflector. Stored in. The data stored in the first storage unit is compared with the data stored in the second storage unit, and the larger data is stored in the second storage unit. This process is performed every time the stage 12 is moved. Therefore, the data in the first storage unit is updated every time the stage is moved, and the data having the largest value is stored in the second storage unit. Further, the third storage unit stores the amount of movement of the stage until the data in the second storage unit reaches the maximum value. As a result, the data of the image when the sample is focused at each point is stored in the second storage section, and the height data of each sample point is stored in the third storage section. The height can be measured by using the data in the third storage unit.

【0008】しかしながら、試料8を高精度に計測した
り試料8に細部についての観察を行うためには、試料8
と対物レンズ7の相対的位置を微小に変化させる必要が
あり、そのためにステージ12を微小なステップで移動
させなければならない。このため、特に表面の段差が大
きな試料について鮮明な画像を得るためにかなりの時間
がかかってしまう。また、顕微鏡装置の経時的な変化、
例えば、熱膨張などによる部品のずれが影響して、測定
再現性を劣化させる可能性がある。
However, in order to measure the sample 8 with high accuracy and to observe the details of the sample 8, the sample 8 should be used.
It is necessary to slightly change the relative position of the objective lens 7 and the objective lens 7, and therefore the stage 12 must be moved in minute steps. For this reason, it takes a considerable amount of time to obtain a clear image, especially for a sample having a large surface step. Also, changes in the microscope device over time,
For example, the misalignment of parts due to thermal expansion may affect the measurement reproducibility.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、上
記問題点に鑑みてなされたものであり、試料の三次元画
像を高速に取り込むことが可能で、且つ、試料の高さを
高精度に測定可能な、走査型レーザ顕微鏡を提供する。
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to capture a three-dimensional image of a sample at a high speed and to accurately measure the height of the sample. Provided is a scanning laser microscope capable of measuring.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段及び作用】前記目的を達成
するため、本第1の発明の走査型レーザ顕微鏡は、レー
ザ光源と、前記レーザ光源から出射したレーザ光で試料
上を走査する走査手段と、前記走査手段を経て前記試料
に向かうレーザ光を前記試料上に集光する対物レンズ
と、前記試料で反射した光の強度を検出する検出器と、
前記検出器で検出された出力が最高出力値となったとき
の前記試料の高さ情報に基づいて前記試料の画像を形成
する画像形成手段と、前記画像形成手段で形成された画
像を表示する表示装置と、前記試料と前記対物レンズと
の相対的位置を調整可能な移動機構と、前記検出器で検
出された出力に基づいて前記移動機構の移動量を設定
し、設定した移動量で前記移動機構を駆動する移動量設
定駆動手段とを有することを特徴とする。
To achieve the above object, the scanning laser microscope according to the first aspect of the present invention comprises a laser light source and a scanning means for scanning a sample with the laser light emitted from the laser light source. An objective lens that collects laser light directed to the sample through the scanning means onto the sample; and a detector that detects the intensity of light reflected by the sample.
Image forming means for forming an image of the sample based on height information of the sample when the output detected by the detector reaches the maximum output value, and an image formed by the image forming means are displayed. A display device, a moving mechanism capable of adjusting the relative position of the sample and the objective lens, and a moving amount of the moving mechanism is set based on an output detected by the detector, and the moving amount is set by the set moving amount. And a movement amount setting drive means for driving the movement mechanism.

【0011】また、本第1の発明は、前記移動量設定駆
動手段が、前記検出器で検出可能な出力値を複数の領域
に分割するためのしきい値を設定するためのしきい値設
定部と、該検出器で検出されたときの出力が前記しきい
値設定部で設定されたしきい値を超えたか否かを判定す
る判定部と、前記判定部で得られた判定結果に応じて前
記移動機構の移動量を設定し、設定した移動量で前記移
動機構を駆動する移動量設定駆動部とからなるのが好ま
しい。
In the first aspect of the invention, the movement amount setting drive means sets a threshold value for setting a threshold value for dividing the output value detectable by the detector into a plurality of areas. A determination unit that determines whether an output when detected by the detector exceeds a threshold value set by the threshold value setting unit, and a determination result obtained by the determination unit. And a moving amount setting drive unit that drives the moving mechanism with the set moving amount.

【0012】また、本第2の発明による走査型レーザ顕
微鏡は、レーザ光源と、前記レーザ光源から出射したレ
ーザ光で試料上を走査する走査手段と、前記走査手段を
経て前記試料に向かうレーザ光を前記試料上に集光する
対物レンズと、前記対物レンズの倍率を検出する対物レ
ンズ倍率検出部と、前記試料で反射した光の強度を検出
する検出器と、前記検出器で検出された出力が最高出力
値となったときの前記試料の高さ情報に基づいて前記試
料の画像を形成する画像形成手段と、前記画像形成手段
で形成された画像を表示する表示装置と、前記試料と前
記対物レンズとの相対的位置を調整可能な移動機構と、
前記検出器で検出された出力と前記対物レンズ倍率検出
部で検出された倍率とに基づいて前記移動機構の移動量
を設定し、設定した移動量で前記移動機構を駆動する移
動量設定駆動手段とを有することを特徴とする。
The scanning laser microscope according to the second aspect of the present invention includes a laser light source, a scanning means for scanning the sample with the laser light emitted from the laser light source, and a laser light directed to the sample via the scanning means. An objective lens that collects light on the sample, an objective lens magnification detection unit that detects the magnification of the objective lens, a detector that detects the intensity of light reflected by the sample, and an output detected by the detector. The image forming means for forming an image of the sample based on the height information of the sample when the maximum output value, a display device for displaying the image formed by the image forming means, the sample and the A moving mechanism that can adjust the relative position with the objective lens,
A movement amount setting drive unit that sets the movement amount of the movement mechanism based on the output detected by the detector and the magnification detected by the objective lens magnification detection unit, and drives the movement mechanism with the set movement amount. And having.

【0013】また、本第2の発明は、前記移動量設定駆
動手段が、前記検出器で検出可能な出力値を複数の領域
に分割するためのしきい値を設定するしきい値設定部
と、該検出器で検出されたときの出力が前記しきい値で
設定されたしきい値を超えたか否かを判定する判定部
と、前記判定部で得られた結果及び前記対物レンズ倍率
判定部で得られた倍率とに基づいて前記移動機構の移動
量を設定し、設定した移動量で前記移動機構を駆動する
移動量設定駆動部とからなるのが好ましい。
In the second aspect of the present invention, the movement amount setting drive means sets a threshold value for setting a threshold value for dividing the output value detectable by the detector into a plurality of areas. A determination unit that determines whether or not the output when detected by the detector exceeds a threshold value set by the threshold value, a result obtained by the determination unit, and the objective lens magnification determination unit The moving amount of the moving mechanism is preferably set on the basis of the magnification obtained in step 1, and the moving amount setting drive unit drives the moving mechanism with the set moving amount.

【0014】このように構成された本第1及び第2の発
明によれば、検出器からの出力に応じて対物レンズと試
料との相対的位置を変化させるための移動量(ステッ
プ)が設定され、その移動量に連動して対物レンズと試
料との相対的位置が調整されるため、高速に三次元画像
化が可能となる。本第2の発明によれば、移動量(ステ
ップ)の設定の際に対物レンズの倍率が加味されるの
で、より効率の良い相対的位置の調整が可能となる。
According to the first and second aspects of the invention thus constituted, the movement amount (step) for changing the relative position between the objective lens and the sample is set according to the output from the detector. Since the relative position between the objective lens and the sample is adjusted in association with the movement amount, high-speed three-dimensional imaging becomes possible. According to the second aspect of the present invention, since the magnification of the objective lens is taken into consideration when setting the movement amount (step), it is possible to adjust the relative position more efficiently.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】第1実施例 図1は本発明の走査型レーザ顕微鏡の第1実施例を示す
概略構成図である。本実施例の走査型レーザ顕微鏡は、
本第1の発明に対応するものであり、図5に示した従来
の走査型レーザ顕微鏡の構成に加えて、比較器16とし
きい値設定部15とZ駆動部17とを備えて構成されて
いる。その他の基本的構成は図5に示した従来の走査型
レーザ顕微鏡と同様である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION First Embodiment FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a scanning laser microscope of the present invention. The scanning laser microscope of this embodiment is
The present invention corresponds to the first aspect of the present invention, and is configured to include a comparator 16, a threshold value setting unit 15, and a Z driving unit 17 in addition to the configuration of the conventional scanning laser microscope shown in FIG. There is. Other basic configurations are the same as those of the conventional scanning laser microscope shown in FIG.

【0016】しきい値設定部15は、検出器11で検出
可能な出力値を複数の領域に分割するためのしきい値を
設定するように構成されている。比較器16は、検出器
11で検出されたときの出力がしきい値設定部15で設
定されたしきい値を超えたか否かを判定するように構成
されている。Z駆動部17は、比較器16で得られた判
定結果に応じてステージ12の移動量を設定し、設定し
た移動量でステージ12を駆動するように構成されてい
る。なお、図に示されているように、Z駆動部17と最
高出力演算部14は接続されており、ステージ12の移
動量を最高出力演算部14に出力するようになってい
る。
The threshold value setting unit 15 is configured to set a threshold value for dividing the output value detectable by the detector 11 into a plurality of areas. The comparator 16 is configured to determine whether the output when detected by the detector 11 exceeds the threshold value set by the threshold value setting unit 15. The Z drive unit 17 is configured to set the movement amount of the stage 12 according to the determination result obtained by the comparator 16 and drive the stage 12 with the set movement amount. As shown in the figure, the Z drive unit 17 and the maximum output calculation unit 14 are connected to each other, and the movement amount of the stage 12 is output to the maximum output calculation unit 14.

【0017】そして、本実施例の走査型レーザ顕微鏡で
は、等価的に点光源と考えられるレーザ光源1から出射
したレーザ光は、レンズ系11,12を介してビーム径が
変えられてビームスプリッタ4に入射し、ビームスプリ
ッタ4で反射して光偏向器5に入射し、光偏向器5で試
料8上の所定走査位置に向うように偏向させられる。光
偏向器5で偏向させられたレーザ光は瞳リレーレンズ系
6を経て対物レンズ7の瞳位置に入射し、さらに対物レ
ンズ7を介して集光されてステージ12上に載置された
試料8を照射する。試料8で反射した光は、ビームスプ
リッタ4から試料8に向かう経路とは逆向きの経路をた
どった後に、ビームスプリッタ4を透過し、更に結像レ
ンズ9を介してピンホール10位置に結像し、その後方
に設けられた検出器11を介して強度が検出される。
In the scanning laser microscope of this embodiment, the laser light emitted from the laser light source 1, which is considered to be equivalent to a point light source, has its beam diameter changed through the lens systems 1 1 and 1 2. The light enters the splitter 4, is reflected by the beam splitter 4, enters the optical deflector 5, and is deflected by the optical deflector 5 so as to be directed to a predetermined scanning position on the sample 8. The laser beam deflected by the optical deflector 5 enters the pupil position of the objective lens 7 through the pupil relay lens system 6, is further condensed through the objective lens 7, and is mounted on the stage 12 on the sample 8 Irradiate. The light reflected by the sample 8 follows a path opposite to the path from the beam splitter 4 toward the sample 8, then passes through the beam splitter 4, and is further imaged at the position of the pinhole 10 via the imaging lens 9. Then, the intensity is detected via the detector 11 provided behind it.

【0018】検出器11で検出された出力は、A/D変
換器13を介して演算可能な信号に変換され、最高出力
演算部14を介して画像情報化され、図示省略したモニ
タ等の表示装置に画像として出力される。そして、光偏
向器5から射出する光線の角度を変化させることで、試
料8上を1次元(図においては横方向)に走査した画像
が得られる。なお、本実施例においても1次元走査する
顕微鏡として説明したが、さらに光偏向器5及び瞳リレ
ーレンズ系6と同様の構成の光偏向器及び瞳リレーレン
ズ系を紙面と直交する方向に配置すれば、試料8の2次
元画像を得ることができる。
The output detected by the detector 11 is converted into a signal that can be calculated by the A / D converter 13 and converted into image information by the maximum output calculator 14, which is displayed on a monitor (not shown). It is output to the device as an image. Then, by changing the angle of the light beam emitted from the optical deflector 5, an image obtained by one-dimensionally scanning (horizontal direction in the drawing) on the sample 8 can be obtained. Although the present embodiment has been described as a one-dimensional scanning microscope, an optical deflector and a pupil relay lens system having the same configuration as the optical deflector 5 and the pupil relay lens system 6 may be arranged in a direction orthogonal to the plane of the drawing. Thus, a two-dimensional image of the sample 8 can be obtained.

【0019】ここで、対物レンズ7と試料8との相対的
位置と、検出器11で検出される出力との関係を図2の
グラフに示す。図2の横軸は試料8と対物レンズ7との
相対的な距離である。対物レンズが高倍率の波形と低倍
率の波形とではピークの鋭さが異なるが、いずれの倍率
においても出力Vが最大になるのはごく狭い範囲であ
る。上述のように、試料の高さデータを取得する原理
は、出力Vが最大になることを利用するものである。よ
って、出力Vが最大になるまでは細かくステージを移動
させる必要はない。そこで、本実施例では、予め、しき
い値設定部15においてしきい値Vthを設定してお
く。これにより、検出器11で検出可能な出力値が複数
の領域に分割されることになる。そして、検出器11で
の出力をA/D変換器13を介して演算可能な信号に変
換し、比較器16において、しきい値設定部15で設定
したしきい値と比較する。検出器11を介した出力値が
しきい値以下のときには、Z駆動部17を介してステー
ジ12をZ方向へ移動させる単位量(ステップ)を粗動
量に設定してステージ12を粗動制御し、しきい値を超
えたときには、Z駆動部17を介してZ方向へ移動させ
る量(ステップ)を微動量に設定変更してステージ12
を微動制御するようにする。
Here, the relationship between the relative position of the objective lens 7 and the sample 8 and the output detected by the detector 11 is shown in the graph of FIG. The horizontal axis of FIG. 2 is the relative distance between the sample 8 and the objective lens 7. Although the sharpness of the peak is different between the high-magnification waveform and the low-magnification waveform of the objective lens, the output V becomes maximum at any magnification in a very narrow range. As described above, the principle of acquiring the height data of the sample utilizes that the output V becomes maximum. Therefore, it is not necessary to move the stage finely until the output V becomes maximum. Therefore, in the present embodiment, the threshold value setting unit 15 sets the threshold value Vth in advance. As a result, the output value detectable by the detector 11 is divided into a plurality of areas. Then, the output from the detector 11 is converted into a signal that can be calculated via the A / D converter 13, and the comparator 16 compares it with the threshold value set by the threshold value setting unit 15. When the output value from the detector 11 is equal to or less than the threshold value, the unit amount (step) for moving the stage 12 in the Z direction via the Z drive unit 17 is set to the coarse movement amount to control the coarse movement of the stage 12. When the threshold value is exceeded, the amount of movement (step) in the Z direction via the Z drive unit 17 is changed to the fine movement amount, and the stage 12 is moved.
To control the fine movement.

【0020】このような検出器11の出力に基づくステ
ージ12の駆動量の判断は、偏向器5を介した試料8上
の各走査位置で行う。すなわち、光偏向器5による走査
開始から走査終了までの間、検出器11から出力される
信号(A/D変換器13からの出力信号)としきい値V
thとを比較し、出力信号が常にしきい値Vthを下回
る場合は次のステージの移動量を大きくし、しきい値V
thを上回る出力信号が発生した場合は次のステージの
移動量を小さくする。これにより、本実施例の顕微鏡で
図3に示すような段差を有する試料8を走査する場合に
は、比較的平坦な面を有する部分A及びBの高さ位置近
傍の所定範囲においてのみ微動量のステップ駆動でステ
ージ12がZ方向に移動し、その他の画像の結像に寄与
しない高さの範囲では粗動量のステップ駆動でステージ
12がZ方向に移動する。そのため、最高出力時のZ座
標を効率良くかつ迅速に検出(取得)することができ
る。この結果、高速且つ高精度に三次元像を得ることが
できる。なお、このしきい値Vthを複数設け、しきい
値以下の場合の粗動量としきい値を超えた場合における
微動量を各しきい値ごとに異ならせてZ駆動部17に設
定すると、より高速且つ高精度に三次元像を得ることが
可能となる。
The determination of the driving amount of the stage 12 based on the output of the detector 11 is made at each scanning position on the sample 8 via the deflector 5. That is, the signal output from the detector 11 (the output signal from the A / D converter 13) and the threshold value V from the start of scanning to the end of scanning by the optical deflector 5.
If the output signal is always lower than the threshold value Vth, the moving amount of the next stage is increased to increase the threshold value Vth.
When an output signal exceeding th is generated, the moving amount of the next stage is reduced. As a result, when the sample 8 having a step as shown in FIG. 3 is scanned by the microscope of this embodiment, the amount of fine movement is only in a predetermined range near the height position of the portions A and B having relatively flat surfaces. The stage 12 moves in the Z direction by the step driving of the above, and the stage 12 moves in the Z direction by the step driving of the coarse movement amount in the range of the height that does not contribute to the image formation of other images. Therefore, the Z coordinate at the time of maximum output can be detected (acquired) efficiently and quickly. As a result, a three-dimensional image can be obtained at high speed and with high accuracy. If a plurality of threshold values Vth are provided and the amount of coarse movement when the threshold value is less than or equal to the threshold value and the amount of fine movement when the threshold value is exceeded are set to the Z drive unit 17 differently for each threshold value, higher speed is achieved. In addition, it becomes possible to obtain a three-dimensional image with high accuracy.

【0021】なお、しきい値を設定する方法としては、
試料8の種類に応じて変更可能にしてもよい。また、暗
部に対して、ある一定のしきい値が設定されるようにし
てもよく、様々な方法が考えられる。
As a method of setting the threshold value,
It may be changeable depending on the type of the sample 8. Further, a certain threshold value may be set for the dark part, and various methods are possible.

【0022】なお、上記のような各走査位置の出力信号
としきい値Vthとを1対1で比較する処理だと、任意
の走査位置でしきい値Vthを超えるノイズが発生した
場合、本来は次のステージの移動量を大きくしなければ
ならないにもかかわらず、次のステージの移動量を小さ
くする指示がZ駆動部17に出力されてしまう。これを
回避するには、しきい値Vthを大きめに設定すれば良
いが、次に述べる方法もある。それは、光偏向器5によ
る走査開始から走査終了までの間に検出器11から出力
される信号についてその平均を計算する処理を設け、こ
の平均値としきい値Vthとを比較する方法である。こ
れにより、任意の走査位置でしきい値Vthを超えるノ
イズが発生したとしても、平均値はしきい値Vthを下
回ることになるので、次のステージの移動量を小さくす
る指示は出力されない。ただし、この平均値としきい値
Vthとを比較する方法で図3に示すような試料を測定
する場合、以下の点に注意しなければならない。すなわ
ち、A面が合焦位置に近づいている場合、A面からの反
射光による出力信号はしきい値Vthを上回る。ところ
が、B面は合焦位置から離れているので、B面からの反
射光による出力信号はしきい値Vthをはるかに下回
る。そのため、A面からの反射光による出力信号とB面
からの反射光による出力信号の平均が、しきい値Vth
を下回る可能性がある。このため、本来は次のステージ
の移動量を小さくしなければならないにもかかわらず、
次のステージの移動量を大きくする指示がZ駆動部17
に出力されてしまう。そこでこのような場合は、しきい
値Vthをやや低めに設定するなどの工夫が必要にな
る。
In the process of comparing the output signal at each scanning position with the threshold value Vth on a one-to-one basis, when noise exceeding the threshold value Vth occurs at an arbitrary scanning position, originally, Although the amount of movement of the next stage must be increased, an instruction to reduce the amount of movement of the next stage is output to the Z drive unit 17. To avoid this, the threshold value Vth may be set to a large value, but there is also a method described below. It is a method of providing a process of calculating an average of signals output from the detector 11 from the start of scanning by the optical deflector 5 to the end of scanning, and comparing the average value with a threshold value Vth. As a result, even if noise that exceeds the threshold value Vth occurs at any scanning position, the average value will fall below the threshold value Vth, so an instruction to reduce the movement amount of the next stage is not output. However, when measuring the sample as shown in FIG. 3 by the method of comparing the average value and the threshold value Vth, the following points must be noted. That is, when the surface A is approaching the in-focus position, the output signal due to the reflected light from the surface A exceeds the threshold value Vth. However, since the surface B is far from the in-focus position, the output signal due to the reflected light from the surface B is far below the threshold value Vth. Therefore, the average of the output signal of the reflected light from the A surface and the output signal of the reflected light from the B surface is the threshold value Vth.
May fall below. Therefore, although the movement amount of the next stage should be reduced originally,
The Z drive unit 17 gives an instruction to increase the movement amount of the next stage.
Will be output to. Therefore, in such a case, it is necessary to take measures such as setting the threshold value Vth slightly lower.

【0023】第2実施例 図4は本発明の走査型レーザ顕微鏡の第2実施例を示す
概略構成図である。本実施例の走査型レーザ顕微鏡は、
本第2の発明に対応するものであり、図1に示した第1
実施例の走査型レーザ顕微鏡の構成に加えて、対物レン
ズ7位置近傍に対物レンズの倍率を検出する倍率センサ
19が設けられ、倍率センサ19で得られた情報がZ駆
動部17に送られるようになっており、Z駆動部17に
おけるステージ12の駆動制御方法が第1実施例と異な
っている。その他の基本的構成は図1に示した第1実施
例の走査型レーザ顕微鏡とほぼ同様である。
Second Embodiment FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the scanning laser microscope of the present invention. The scanning laser microscope of this embodiment is
This corresponds to the second aspect of the present invention, and corresponds to the first aspect shown in FIG.
In addition to the configuration of the scanning laser microscope of the embodiment, a magnification sensor 19 for detecting the magnification of the objective lens is provided near the position of the objective lens 7, and the information obtained by the magnification sensor 19 is sent to the Z drive unit 17. The drive control method for the stage 12 in the Z drive unit 17 is different from that in the first embodiment. The other basic structure is almost the same as that of the scanning laser microscope of the first embodiment shown in FIG.

【0024】そして、本実施例の構成では、等価的に点
光源と考えられるレーザ光源1から出射したレーザ光
は、レンズ系11,12を介してビーム径が変えられてビ
ームスプリッタ4に入射し、ビームスプリッタ4で反射
して光偏向器5に入射し、光偏向器5で試料8上の所定
走査位置に向うように偏向させられる。光偏向器5で偏
向させられたレーザ光は瞳リレーレンズ系6を経て対物
レンズ7の瞳位置に入射する。
In the structure of this embodiment, the laser light emitted from the laser light source 1, which is considered to be equivalent to a point light source, has its beam diameter changed through the lens systems 1 1 and 1 2 and is directed to the beam splitter 4. The light enters, is reflected by the beam splitter 4, enters the light deflector 5, and is deflected by the light deflector 5 so as to be directed to a predetermined scanning position on the sample 8. The laser light deflected by the optical deflector 5 enters the pupil position of the objective lens 7 through the pupil relay lens system 6.

【0025】なお、本実施例の顕微鏡においては、図示
しないレボルバに倍率の異なる対物レンズ7が複数セッ
トされており、図示しない倍率変更機構例えば、回転や
スライドにより対物レンズ7の倍率を切り換えることが
できるようになっている。そして、図示しない倍率変更
機構により対物レンズ7の倍率が切り換えられたときに
は、センサー19が切り換えられた対物レンズの倍率を
検出する。
In the microscope of this embodiment, a plurality of objective lenses 7 having different magnifications are set on a revolver (not shown), and a magnification changing mechanism (not shown), such as rotation or slide, can switch the magnification of the objective lens 7. You can do it. Then, when the magnification of the objective lens 7 is switched by a magnification changing mechanism (not shown), the sensor 19 detects the magnification of the switched objective lens.

【0026】対物レンズ7を経たレーザ光はステージ1
2上に載置された試料8を照射する。試料8で反射した
光は、ビームスプリッタ4から試料8に向かう経路とは
逆向きの経路をたどった後に、ビームスプリッタ4を透
過し、更に結像レンズ9を介してピンホール10位置に
結像し、その後方に設けられた検出器11を介して強度
が検出される。
The laser light passed through the objective lens 7 is the stage 1
The sample 8 placed on the surface 2 is irradiated. The light reflected by the sample 8 follows a path opposite to the path from the beam splitter 4 toward the sample 8, then passes through the beam splitter 4, and is further imaged at the position of the pinhole 10 via the imaging lens 9. Then, the intensity is detected via the detector 11 provided behind it.

【0027】検出器11で検出された出力は、A/D変
換器13を介して演算可能な信号に変換され、最高出力
演算部14を介して画像情報化され、図示省略したモニ
タ等の表示装置に画像として出力される。そして、光偏
向器5から射出する光線の角度を変化させることで、試
料8上を1次元(図においては横方向)に走査した画像
が得られる。なお、本実施例においても1次元走査する
顕微鏡として説明したが、さらに光偏光器5及び瞳リレ
ーレンズ系6と同様の構成の光偏向器及び瞳リレーレン
ズ系を紙面と直交する方向に配置すれば、試料8の2次
元画像を得ることができる。
The output detected by the detector 11 is converted into a signal that can be calculated by the A / D converter 13, converted into image information by the maximum output calculator 14, and displayed on a monitor (not shown). It is output to the device as an image. Then, by changing the angle of the light beam emitted from the optical deflector 5, an image obtained by one-dimensionally scanning (horizontal direction in the drawing) on the sample 8 can be obtained. Although the present embodiment has been described as a one-dimensional scanning microscope, an optical deflector and a pupil relay lens system having the same configuration as the optical deflector 5 and the pupil relay lens system 6 may be arranged in a direction orthogonal to the plane of the drawing. Thus, a two-dimensional image of the sample 8 can be obtained.

【0028】そして本実施例では、第1実施例と同様
に、予め、しきい値設定部15においてしきい値Vth
を設定しておく。これにより、検出器11で検出可能な
出力値が複数の領域に分割される。そして、検出器11
での出力をA/D変換器13を介して演算可能な信号に
変換し、比較器16において、しきい値設定部15で設
定したしきい値と比較する。検出器11を介した出力値
がしきい値以下のときは、Z駆動部17を介してステー
ジ12をZ方向へ移動させる単位量(ステップ)を粗動
量に設定してステージ12を粗動制御し、しきい値を超
えたときには、Z駆動部17を介してZ方向へ移動させ
る量(ステップ)を微動量に設定変更してステージ12
を微動制御するようにする。さらに、本実施例では、検
出器11を介した出力値としきい値との比較に加えて、
倍率センサ19より得られた倍率に応じた粗動量及び微
動量を加味してZ駆動部17の駆動量を設定する。
Then, in this embodiment, as in the first embodiment, the threshold value Vth is set in advance in the threshold value setting section 15.
Is set. As a result, the output value detectable by the detector 11 is divided into a plurality of areas. And the detector 11
The output at 1 is converted into a signal that can be calculated through the A / D converter 13, and the comparator 16 compares it with the threshold value set by the threshold value setting unit 15. When the output value from the detector 11 is less than or equal to the threshold value, the unit amount (step) for moving the stage 12 in the Z direction via the Z drive unit 17 is set to the coarse movement amount to control the coarse movement of the stage 12. When the threshold value is exceeded, the amount of movement (step) in the Z direction via the Z drive unit 17 is changed to the fine movement amount, and the stage 12 is moved.
To control the fine movement. Furthermore, in this embodiment, in addition to the comparison between the output value via the detector 11 and the threshold value,
The drive amount of the Z drive unit 17 is set in consideration of the coarse movement amount and the fine movement amount according to the magnification obtained from the magnification sensor 19.

【0029】図2に示した点線の波形は、対物レンズ7
が低倍率のときの波形を示し、実線の波形は、高倍率の
ときの波形を示している。図2に示すように、波形は高
倍率になるほど急峻となり、低倍率になるほど緩やかに
なる。すなわち高倍率の対物レンズほどより微動駆動が
必要となり、低倍率の対物レンズほどより粗動駆動で足
りることがわかる。そこで、本実施例では、上述のよう
に、倍率に応じて適した移動量(ステップ)をも考慮し
てZ駆動部17の駆動量を調整するようにしている。
The waveform of the dotted line shown in FIG.
Shows the waveform when the magnification is low, and the solid line waveform shows the waveform when the magnification is high. As shown in FIG. 2, the waveform becomes steeper as the magnification becomes higher, and becomes gentler as the magnification becomes lower. That is, it can be seen that the higher the magnification of the objective lens, the finer the movement is required, and the lower the magnification of the objective lens is, the more the coarse movement is required. Therefore, in the present embodiment, as described above, the drive amount of the Z drive unit 17 is adjusted in consideration of the movement amount (step) suitable for the magnification.

【0030】このような検出器11の出力に基づくステ
ージ12の駆動量の判断は、偏向器5を介した試料8上
の各走査位置で行う。これにより、本実施例の顕微鏡で
図3に示すような段差を有する試料8を走査する場合に
は、比較的平坦な面を有する部分A及びBの高さ位置近
傍領域においてのみ対物レンズ7の倍率に適した微動量
のステップ駆動でステージ12がZ方向に移動し、その
他の画像の結像に寄与しない高さ位置の領域では対物レ
ンズ7の倍率に適した粗動量のステップ駆動でステージ
12がZ方向に移動し、しかもその移動量には対物レン
ズの倍率に応じた移動量も考慮されているため、最高出
力演算部14で最高出力時のZ座標をより効率良くかつ
迅速に記憶することができ、より高速且つ高精度に三次
元像を得ることができる。なお、本実施例においても、
このしきい値Vthを複数設け、しきい値以下の場合の
粗動量としきい値を超えた場合における微動量を各しき
い値ごとに異ならせて設定しておき、倍率センサ19よ
り得られた倍率に応じた粗動量及び微動量を加味してZ
駆動部17の駆動量を設定すると、より一層高速且つ高
精度に三次元像を得ることが可能となる。
The determination of the drive amount of the stage 12 based on the output of the detector 11 is performed at each scanning position on the sample 8 via the deflector 5. As a result, when the sample 8 having a step as shown in FIG. 3 is scanned by the microscope of the present embodiment, the objective lens 7 can be moved only in the regions near the height positions of the portions A and B having relatively flat surfaces. The stage 12 moves in the Z direction by the step movement of the fine movement amount suitable for the magnification, and the stage 12 is moved by the step drive of the coarse movement amount suitable for the magnification of the objective lens 7 in the region of the height position which does not contribute to the image formation of other images. Moves in the Z direction, and the moving amount corresponding to the magnification of the objective lens is also taken into consideration in the moving amount, so that the Z coordinate at the maximum output is stored more efficiently and quickly in the maximum output calculating unit 14. It is possible to obtain a three-dimensional image at higher speed and with higher accuracy. Note that, also in this embodiment,
A plurality of threshold values Vth are provided, and the coarse movement amount when the threshold value is less than or equal to the threshold value and the fine movement amount when the threshold value is exceeded are set to be different for each threshold value. Z taking into account the amount of coarse movement and the amount of fine movement according to the magnification
By setting the drive amount of the drive unit 17, it becomes possible to obtain a three-dimensional image at higher speed and with higher accuracy.

【0031】以上説明したように、本発明の走査型レー
ザ顕微鏡は、特許請求の範囲に記載された特徴の他に下
記に示すような特徴も備えている。
As described above, the scanning laser microscope of the present invention has the following features in addition to the features described in the claims.

【0032】(1)前記移動量設定駆動手段が、前記検
出器で検出可能な出力値を複数の領域に分割するための
しきい値を設定するしきい値設定部と、該検出器で検出
されたときの出力が前記しきい値で設定されたしきい値
を超えたか否かを判定する判定部と、前記判定部で得ら
れた結果及び前記対物レンズ倍率判定部で得られた倍率
とに基づいて前記移動機構の移動量を設定し、設定した
移動量で前記移動機構を駆動する移動量設定駆動部とか
らなることを特徴とする請求項3に記載の走査型レーザ
顕微鏡。
(1) The movement amount setting drive means sets a threshold value for dividing the output value detectable by the detector into a plurality of regions, and the detector detects the threshold value. And a determination unit that determines whether or not the output when the output exceeds the threshold value set by the threshold value, and the result obtained by the determination unit and the magnification obtained by the objective lens magnification determination unit. 4. The scanning laser microscope according to claim 3, further comprising: a movement amount setting drive unit that sets the movement amount of the movement mechanism based on the above, and drives the movement mechanism with the set movement amount.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上、本発明の走査型レーザ顕微鏡によ
れば、画像表示に必要な高さ部分のみ微動駆動させ、そ
の他の部分について粗動駆動させるようにしたので、高
速に三次元画像を取り込むことが可能であり、且つ高精
度な測定が可能となる。
As described above, according to the scanning laser microscope of the present invention, only the height portion required for image display is finely driven and the other portions are coarsely driven. It is possible to capture the data, and it is possible to perform highly accurate measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の走査型レーザ顕微鏡の第1実施例を示
す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a scanning laser microscope of the present invention.

【図2】対物レンズと試料との相対的位置と検出器で検
出される出力との関係を示すグラフである。
FIG. 2 is a graph showing the relationship between the relative position of the objective lens and the sample and the output detected by the detector.

【図3】本発明の各実施例において段差を有する試料を
走査する場合における粗動範囲と微動範囲を示す説明図
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a coarse movement range and a fine movement range when scanning a sample having a step in each example of the present invention.

【図4】本発明の走査型レーザ顕微鏡の第2実施例を示
す概略構成図である。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing a second embodiment of the scanning laser microscope of the present invention.

【図5】従来の一般的な走査型レーザ顕微鏡の概略構成
図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a conventional general scanning laser microscope.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光源 4 ビームスプリッタ 5 光偏向器 6 瞳リレーレンズ系 7 対物レンズ 8 試料 9 結像レンズ 10 ピンホール 11 検出器 12 ステージ 13 A/D変換器 14 最高出力演算部 15 しきい値設定部 16 比較器 17 Z駆動部 19 倍率センサ 11,12 レンズ1 Laser Light Source 4 Beam Splitter 5 Optical Deflector 6 Pupil Relay Lens System 7 Objective Lens 8 Sample 9 Imaging Lens 10 Pinhole 11 Detector 12 Stage 13 A / D Converter 14 Maximum Output Calculation Section 15 Threshold Setting Section 16 Comparator 17 Z drive unit 19 Magnification sensor 1 1 , 1 2 lens

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA24 AA51 AA53 DD06 FF04 GG04 HH04 LL10 LL30 LL32 LL46 MM02 MM03 MM11 PP12 PP24 QQ03 QQ08 QQ24 QQ25 QQ29 QQ31 SS02 2H052 AA08 AB05 AC04 AC15 AC34 AD19 AD20 AD33 AF03 AF06 AF13 AF14 AF25    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 2F065 AA24 AA51 AA53 DD06 FF04                       GG04 HH04 LL10 LL30 LL32                       LL46 MM02 MM03 MM11 PP12                       PP24 QQ03 QQ08 QQ24 QQ25                       QQ29 QQ31 SS02                 2H052 AA08 AB05 AC04 AC15 AC34                       AD19 AD20 AD33 AF03 AF06                       AF13 AF14 AF25

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光源と、 前記レーザ光源から出射したレーザ光で試料上を走査す
る走査手段と、 前記走査手段を経て前記試料に向かうレーザ光を前記試
料上に集光する対物レンズと、 前記試料で反射した光の強度を検出する検出器と、 前記検出器で検出された出力が最高出力値となったとき
の前記試料の高さ情報に基づいて前記試料の画像を形成
する画像形成手段と、 前記画像形成手段で形成された画像を表示する表示装置
と、 前記試料と前記対物レンズとの相対的位置を調整可能な
移動機構と、 前記検出器で検出された出力に基づいて前記移動機構の
移動量を設定し、設定した移動量で前記移動機構を駆動
する移動量設定駆動手段とを有することを特徴とする走
査型レーザ顕微鏡。
1. A laser light source, a scanning means for scanning a sample with laser light emitted from the laser light source, and an objective lens for condensing laser light directed to the sample via the scanning means onto the sample. A detector that detects the intensity of light reflected by the sample, and image formation that forms an image of the sample based on height information of the sample when the output detected by the detector reaches a maximum output value. Means, a display device for displaying the image formed by the image forming means, a moving mechanism capable of adjusting the relative position of the sample and the objective lens, and the moving device based on the output detected by the detector. A scanning laser microscope, comprising: a moving amount setting drive means for setting a moving amount of the moving mechanism and driving the moving mechanism with the set moving amount.
【請求項2】 前記移動量設定駆動手段が、前記検出器
で検出可能な出力値を複数の領域に分割するためのしき
い値を設定するためのしきい値設定部と、 該検出器で検出されたときの出力が前記しきい値設定部
で設定されたしきい値を超えたか否かを判定する判定部
と、 前記判定部で得られた判定結果に応じて前記移動機構の
移動量を設定し、設定した移動量で前記移動機構を駆動
する移動量設定駆動部とからなることを特徴とする請求
項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。
2. A threshold value setting unit for setting the threshold value for dividing the output value detectable by the detector into a plurality of areas by the movement amount setting drive means, and the detector. A determination unit that determines whether the output when detected exceeds the threshold value set by the threshold value setting unit, and the movement amount of the moving mechanism according to the determination result obtained by the determination unit. 2. The scanning laser microscope according to claim 1, further comprising: a movement amount setting drive unit configured to set the movement amount and drive the movement mechanism with the set movement amount.
【請求項3】 レーザ光源と、 前記レーザ光源から出射したレーザ光で試料上を走査す
る走査手段と、 前記走査手段を経て前記試料に向かうレーザ光を前記試
料上に集光する対物レンズと、 前記対物レンズの倍率を検出する対物レンズ倍率検出部
と、 前記試料で反射した光の強度を検出する検出器と、 前記検出器で検出された出力が最高出力値となったとき
の前記試料の高さ情報に基づいて前記試料の画像を形成
する画像形成手段と、 前記画像形成手段で形成された画像を表示する表示装置
と、 前記試料と前記対物レンズとの相対的位置を調整可能な
移動機構と、 前記検出器で検出された出力と前記対物レンズ倍率検出
部で検出された倍率とに基づいて前記移動機構の移動量
を設定し、設定した移動量で前記移動機構を駆動する移
動量設定駆動手段とを有することを特徴とする走査型レ
ーザ顕微鏡。
3. A laser light source, a scanning means for scanning the sample with the laser light emitted from the laser light source, and an objective lens for condensing the laser light directed to the sample via the scanning means onto the sample. An objective lens magnification detection unit that detects the magnification of the objective lens, a detector that detects the intensity of the light reflected by the sample, and an output of the sample when the output detected by the detector reaches the maximum output value. An image forming unit that forms an image of the sample based on height information, a display device that displays the image formed by the image forming unit, and a movable unit that can adjust the relative position of the sample and the objective lens. Mechanism, the amount of movement of the moving mechanism based on the output detected by the detector and the magnification detected by the objective lens magnification detector, and the amount of movement that drives the moving mechanism at the set amount of movement. Setting Scanning laser microscope characterized by having a drive means.
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