JP2003065937A - Particle size distribution measuring instrument - Google Patents

Particle size distribution measuring instrument

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JP2003065937A
JP2003065937A JP2001249919A JP2001249919A JP2003065937A JP 2003065937 A JP2003065937 A JP 2003065937A JP 2001249919 A JP2001249919 A JP 2001249919A JP 2001249919 A JP2001249919 A JP 2001249919A JP 2003065937 A JP2003065937 A JP 2003065937A
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JP
Japan
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sample
particle size
size distribution
distribution measuring
hopper
Prior art date
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Application number
JP2001249919A
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Japanese (ja)
Inventor
Tadahiro Hayashi
忠裕 林
Yoshimichi Masuda
吉通 増田
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Nikkiso Co Ltd
Original Assignee
Nikkiso Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle size distribution measuring instrument that is provided with a mechanism of successively supplying a plurality of kinds of samples to a particle size distribution measuring area and can automatically continuously measure the particle size distributions and the particle shape data of the samples. SOLUTION: This particle size distribution measuring instrument has a hopper 4 which has a sample throw-in hole and can supply stored samples; a sample throwing-in means 3 which selects one sample container 5 out of a plurality of sample containers 5, transports the selected container 5 to the vicinity of the throw-in port, and throws the sample contained in the container 5 into the hopper 4 through the throw-in port; and a transporting means 6 which supplies the sample supplied from the hopper 4 to the particle size distribution measuring area by transporting the sample. This measuring instrument also has a throwing-in control means 2 which controls the throwing-in means 3, a transportation control means 2 which controls the transporting means 6, and particle size distribution measuring means 2, 7, an 8 which measure the particle size distribution of the sample supplied to the measuring area.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、粉体工業分野等
において各種粉体試料等の粒度分布や粒子形状データを
測定する粒度分布測定装置に関し、詳しくは、複数種類
の試料を順次測定領域に供給して自動的に粒度分布や粒
子形状データを測定することのできる粒度分布測定装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a particle size distribution measuring device for measuring the particle size distribution and particle shape data of various powder samples in the field of powder industry and the like. The present invention relates to a particle size distribution measuring device capable of supplying and automatically measuring particle size distribution and particle shape data.

【0002】[0002]

【従来の技術】粉体工業分野においては、粉体製品の開
発時や製造時の性状や品質を確認する手段として、粒度
分析計によって粉体試料の粒度(粒度分布)を測定する
方法が広く利用されている。この粒度分布測定には、落
下する試料粒子群をCCDカメラ等により撮影して画像
解析と統計的手法から粒度分布測定を行う画像解析方式
や、粉体試料にレーザ光等の平行光線を照射し、粒子に
よって回折、散乱された光のパターンを測定・解析する
ことによって粒度分布を算出するレーザ散乱・回折方式
等がある。
2. Description of the Related Art In the powder industry, a method of measuring the particle size (particle size distribution) of a powder sample with a particle size analyzer is widely used as a means for confirming the properties and quality of a powder product during development and production. It's being used. For this particle size distribution measurement, an image analysis method in which a falling sample particle group is photographed by a CCD camera or the like to measure the particle size distribution by image analysis and a statistical method, or a powder sample is irradiated with parallel light rays such as laser light There is a laser scattering / diffraction method in which a particle size distribution is calculated by measuring / analyzing a pattern of light diffracted and scattered by particles.

【0003】複数の種類の粉体試料を測定する場合、作
業者が試料供給用のホッパに試料を投入して測定を行
い、測定が終了したら別の試料をホッパに投入して測定
を行う。このような作業を全ての試料について繰り返
す。また、1種類の試料の測定が終了してから、別の試
料をホッパに投入する前に、ホッパや試料搬送路に付着
している試料を完全に除去しなければならない。この除
去作業を忘れたり、不完全であったりすると、異なる試
料の混入が発生してしまい、測定結果に誤差を生じてし
まう。
When a plurality of types of powder samples are measured, an operator puts the sample into a hopper for supplying the sample to perform the measurement, and when the measurement is completed, another sample is put into the hopper to perform the measurement. This operation is repeated for all the samples. Further, after the measurement of one type of sample is completed and before another sample is loaded into the hopper, the sample attached to the hopper and the sample transport path must be completely removed. If this removal operation is forgotten or is incomplete, different samples will be mixed in and an error will occur in the measurement result.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の粒
度分布測定装置では、複数の種類の粉体試料を測定する
際の作業が人手によるものであり、煩雑かつ長時間を要
するものであった。例えば、測定試料をホッパに投入す
る際には、試料がホッパ外に飛散しないように注意する
必要がある。試料をホッパ外に飛散させた場合は、完全
に除去しなければならない。また、測定試料を切り換え
る際の、測定済みの試料を除去する作業も煩雑かつ時間
がかかる作業であり、また、この除去作業の有無や良否
が測定結果にも大きな影響を与えるものであった。
As described above, in the conventional particle size distribution measuring apparatus, the work for measuring a plurality of types of powder samples is manual, which is complicated and requires a long time. It was For example, when introducing the measurement sample into the hopper, it is necessary to take care not to scatter the sample outside the hopper. If the sample is scattered outside the hopper, it must be completely removed. Further, the work of removing the measured sample at the time of switching the measurement sample is also a complicated and time-consuming work, and the presence or absence of this removal work and the quality thereof have a great influence on the measurement result.

【0005】そこで、本発明は、複数種類の試料を順次
測定領域に供給する機構を備え、複数種類の試料の粒度
分布や粒子形状データを自動的に連続して測定すること
のできる粒度分布測定装置を提供することを目的とす
る。
Therefore, the present invention is equipped with a mechanism for sequentially supplying a plurality of types of samples to a measurement region, and is capable of automatically and continuously measuring the particle size distribution and particle shape data of a plurality of types of samples. The purpose is to provide a device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の粒度分布測定装置は、試料投入口を備え、
内部に貯留した試料を供給可能なホッパと、複数の試料
容器から1つの試料容器を選択して前記試料投入口の近
傍に搬送し、当該試料容器内の試料を前記試料投入口か
ら前記ホッパ内に投入する試料投入手段と、前記ホッパ
から供給された前記試料を搬送して粒度分布の測定領域
に供給する搬送手段と、前記試料投入手段を制御する投
入制御手段と、前記搬送手段を制御する搬送制御手段
と、前記測定領域にある前記試料の粒度分布を測定する
粒度分布測定手段とを有するものである。
In order to achieve the above object, the particle size distribution measuring apparatus of the present invention comprises a sample charging port,
A hopper capable of supplying the sample stored therein and one sample container from a plurality of sample containers are selected and transported to the vicinity of the sample input port, and the sample in the sample container is transferred from the sample input port into the hopper. Sample feeding means for feeding the sample, a transporting means for transporting the sample supplied from the hopper to the measurement area of the particle size distribution, a loading control means for controlling the sample loading means, and a controlling the transporting means. It has a conveyance control means and a particle size distribution measuring means for measuring the particle size distribution of the sample in the measurement area.

【0007】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記試料投入手段は、前記試料容器を把持する把持部
と、前記把持部を直交する3方向に移動させる移動部
と、前記把持部を水平方向の回転軸線の回りに回転させ
る回転部とを有するものであることが好ましい。
In the above particle size distribution measuring device,
The sample loading means has a gripping part for gripping the sample container, a moving part for moving the gripping part in three directions orthogonal to each other, and a rotating part for rotating the gripping part around a horizontal rotation axis. It is preferably one.

【0008】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記投入制御手段は、前記試料投入手段の前記移動部お
よび前記回転部の駆動制御を同時に行い、前記試料容器
内の前記試料を可能な限り低位置から前記試料投入口に
投入するように制御を行うものであることが好ましい。
Further, in the above particle size distribution measuring device,
The loading control means simultaneously controls the driving of the moving part and the rotating part of the sample loading means, and controls the loading of the sample in the sample container from the lowest position to the sample loading port. It is preferable to do it.

【0009】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記ホッパは、上下方向に移動可能に設けられており、
前記搬送制御手段は、前記搬送手段の駆動制御と前記ホ
ッパの上下方向の位置制御により、前記測定領域への前
記試料の供給量を制御するものであることが好ましい。
In the above particle size distribution measuring device,
The hopper is provided so as to be movable in the vertical direction,
It is preferable that the transfer control means controls the supply amount of the sample to the measurement region by controlling the drive of the transfer means and the vertical position control of the hopper.

【0010】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記搬送制御手段は、1つの種類の試料の測定が終了し
た時に前記搬送手段の搬送能力を増大させて、前記搬送
手段に残留する試料を強制的に排出するものであること
が好ましい。
In the above particle size distribution measuring device,
It is preferable that the transport control means increases the transport capability of the transport means when the measurement of one type of sample is completed and forcibly discharges the sample remaining in the transport means.

【0011】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記粒度分布測定手段は、前記測定領域にある前記試料
の画像データを画像センサによって検出し、当該画像デ
ータにより前記試料の粒度分布を測定するものであるこ
とが好ましい。
In the above particle size distribution measuring device,
It is preferable that the particle size distribution measuring means detects the image data of the sample in the measurement region by an image sensor and measures the particle size distribution of the sample by the image data.

【0012】また、上記の粒度分布測定装置において、
前記搬送制御手段は、前記画像センサによって検出した
画像データにより、前記測定領域への前記試料の供給量
を制御するものであることが好ましい。
Further, in the above particle size distribution measuring device,
It is preferable that the transport control unit controls the supply amount of the sample to the measurement region based on the image data detected by the image sensor.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。図1は、本発明の粒度分布測定装
置1の構成を示す概略図である。粒度分布測定装置1
は、測定装置本体10とコンピュータ2とからなるもの
である。コンピュータ2は、測定に関わる種々のデータ
処理や、測定装置本体10の各部の制御を行うものであ
る。コンピュータ2としては、汎用の個人用コンピュー
タ(いわゆるパソコン)等が使用できる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of a particle size distribution measuring device 1 of the present invention. Particle size distribution measuring device 1
Is composed of the measuring device body 10 and the computer 2. The computer 2 performs various data processing related to measurement and controls each part of the measuring device body 10. As the computer 2, a general-purpose personal computer (so-called personal computer) or the like can be used.

【0014】このコンピュータ2には、文字および図形
を表示する表示部21、操作者がデータを入力するため
の入力部22、文字および図形を印字するプリンタ23
が接続されている。なお、表示部21としてはCRT、
液晶ディスプレイ、EL表示パネル等が使用でき、入力
部22としてはキーボード、マウス、タブレット等が使
用できる。
The computer 2 has a display section 21 for displaying characters and figures, an input section 22 for an operator to input data, and a printer 23 for printing characters and figures.
Are connected. The display unit 21 is a CRT,
A liquid crystal display, an EL display panel or the like can be used, and a keyboard, mouse, tablet or the like can be used as the input unit 22.

【0015】また、コンピュータ2には、CCDカメラ
7からの画像信号が画像処理ボード24を介して入力さ
れる。CCDカメラ7のレンズ71は、撮影する粒子か
らレンズ71までの距離が変化しても像の大きさが変わ
らないテレセントリックレンズ等が好ましい。画像処理
ボード24は、画像撮影時の画像データを保持し、粒子
画像の輪郭線抽出やその他の種々の画像処理を行うもの
である。コンピュータ2は、この画像処理された画像信
号をさらにデータ処理して画像解析方式による試料の粒
度や粒子形状の分析を行う。
The image signal from the CCD camera 7 is input to the computer 2 via the image processing board 24. The lens 71 of the CCD camera 7 is preferably a telecentric lens or the like in which the image size does not change even if the distance from the particles to be photographed to the lens 71 changes. The image processing board 24 holds image data at the time of image capturing and performs contour line extraction of particle images and various other image processing. The computer 2 further processes the image-processed image signal to analyze the particle size and particle shape of the sample by an image analysis method.

【0016】すなわち、各粒子ごとの粒径を算出し、そ
の粒径データから粒子の体積を計算し、さらに所定の粒
径区分ごとの粒子量を計算して、これらの結果から粒度
分布を算出する。また、粒子画像から粒子の長径と短径
との比等の粒子形状に関する種々のパラメータを算出す
ることができる。算出した粒度分布や種々のパラメータ
は、表示部21に表示したりプリンタ23によって印刷
することができる。
That is, the particle size of each particle is calculated, the volume of the particle is calculated from the particle size data, the amount of particles in each predetermined particle size category is calculated, and the particle size distribution is calculated from these results. To do. In addition, various parameters relating to the particle shape, such as the ratio of the major axis to the minor axis of the particle, can be calculated from the particle image. The calculated particle size distribution and various parameters can be displayed on the display unit 21 or printed by the printer 23.

【0017】光源8は、CCDカメラ7に対して試料5
1を挟んで対向する位置に置かれている。CCDカメラ
7は、測定領域72において透過光により試料粒子を投
影像として画像撮影を行う。ここでは、光源8を透過光
型のものとしたが、光源を試料51に対してCCDカメ
ラ7と同じ側に置き、反射光により画像撮影を行うよう
にしてもよい。また、光源8からの発光は、定常光、ス
トロボ光のいずれでも撮影可能である。なお、この光源
8は、光源用電源81をコンピュータ2によって制御す
ることにより、オン・オフや発光量を制御することがで
きる。
The light source 8 is the sample 5 with respect to the CCD camera 7.
It is placed at a position opposite to each other with 1 in between. The CCD camera 7 captures an image in the measurement area 72 by using transmitted light as a projection image of sample particles. Here, the light source 8 is of a transmitted light type, but the light source may be placed on the same side as the CCD camera 7 with respect to the sample 51, and image pickup may be performed by reflected light. Further, the light emitted from the light source 8 can be photographed with either stationary light or strobe light. The light source 8 can be turned on / off and the amount of light emission can be controlled by controlling the light source power source 81 by the computer 2.

【0018】粒度分布の測定を行う試料51は、ホッパ
4から振動フィーダ6に供給され、加振装置61によっ
て振動を付与された振動フィーダ6によりその左端部ま
で搬送される。振動フィーダ6の左端部に到達した試料
51は、振動フィーダ6の左端部から測定領域72に向
かって落下移動する。落下移動としては、自由落下によ
る落下移動でもよいし、空気流等の外部力を付加した落
下移動であってもよい。測定領域72の試料51に対し
ては、CCDカメラ7によって画像撮影が行われ、この
画像信号により前述のように画像解析方式の粒度分析が
行われる。
The sample 51 for measuring the particle size distribution is supplied from the hopper 4 to the vibrating feeder 6, and is conveyed to the left end of the vibrating feeder 6 which is vibrated by the vibrating device 61. The sample 51 reaching the left end of the vibrating feeder 6 drops and moves from the left end of the vibrating feeder 6 toward the measurement area 72. The drop movement may be a drop movement by free fall or a drop movement to which an external force such as an air flow is added. An image of the sample 51 in the measurement area 72 is photographed by the CCD camera 7, and the image signal is subjected to the grain analysis of the image analysis method as described above.

【0019】加振装置61が発生する振動の周波数や振
幅は、コンピュータ2によって制御可能である。また、
ホッパ4は、上下位置調整機構42によって上下方向の
位置を調整することができる。このホッパ4の上下位置
もコンピュータ2によって制御可能である。したがっ
て、加振装置61の制御によって振動フィーダ6の搬送
能力の調整が可能であり、ホッパ4の上下位置の制御に
よってホッパ4からの試料供給量を調整することができ
る。
The frequency and amplitude of the vibration generated by the vibrating device 61 can be controlled by the computer 2. Also,
The hopper 4 can adjust the vertical position by the vertical position adjusting mechanism 42. The vertical position of the hopper 4 can also be controlled by the computer 2. Therefore, the conveyance capability of the vibration feeder 6 can be adjusted by controlling the vibrating device 61, and the sample supply amount from the hopper 4 can be adjusted by controlling the vertical position of the hopper 4.

【0020】これにより、振動フィーダ6から測定領域
72への試料供給量が最適値となるようにコンピュータ
2によって制御を行うことができる。これには、測定領
域72の撮影画像から試料濃度等を自動的に求め、測定
領域72での試料濃度が最適値となるように振動フィー
ダ6の搬送能力およびホッパ4の上下位置を制御すれば
よい。このようにすれば、試料濃度を検出するためのセ
ンサ等を別途設けることなく、試料濃度を最適値に保つ
ように制御を行うことができる。
Thus, the computer 2 can control so that the sample supply amount from the vibration feeder 6 to the measurement area 72 becomes an optimum value. To do this, the sample concentration and the like are automatically obtained from the photographed image of the measurement region 72, and the conveyance capacity of the vibration feeder 6 and the vertical position of the hopper 4 are controlled so that the sample concentration in the measurement region 72 becomes the optimum value. Good. By doing so, it is possible to perform control so as to maintain the sample concentration at an optimum value without separately providing a sensor or the like for detecting the sample concentration.

【0021】粒度分布等を測定された試料51は、測定
済容器9上に落下して蓄積される。測定済容器9内の測
定済試料は、適宜の期間経過後に搬出・廃棄等の処理が
なされる。なお、測定済容器9の代わりにベルトコンベ
ア等を設け、測定済試料を自動的に測定装置本体10外
に搬出するようにしてもよい。
The sample 51 whose particle size distribution has been measured falls on the measured container 9 and is accumulated. The measured sample in the measured container 9 is processed such as carried out and discarded after an appropriate period. A belt conveyor or the like may be provided in place of the measured container 9 to automatically carry out the measured sample to the outside of the measuring device body 10.

【0022】測定装置本体10の上部には、試料自動供
給のための試料投入装置3が設けられている。この測定
装置本体10の上部領域は、測定の行われる下部領域と
は仕切板11で完全に仕切られている。図2は、測定装
置本体10の上部領域を上から見た平面図である。次
に、図1および図2を参照して、試料投入装置3の構成
を説明する。
On the upper part of the measuring device body 10, a sample loading device 3 for automatically supplying a sample is provided. The upper region of the measuring device body 10 is completely separated from the lower region where the measurement is performed by a partition plate 11. FIG. 2 is a plan view of the upper region of the measuring device body 10 as seen from above. Next, the configuration of the sample introduction device 3 will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

【0023】仕切板11上には、それぞれ異なる試料を
入れた複数の試料容器5が載置されている。試料投入装
置3は、これらの複数の試料容器5から1つの試料容器
5を選択して把持し、ホッパ4の位置まで搬送して、試
料容器5内の試料をホッパ4内に投入することができ
る。ホッパ4の上面は、試料投入口41として開放され
ている。このように、複数の試料容器5内の異なる種類
の試料を次々に試料投入口41に投入することによっ
て、複数種類の試料の測定を自動的に連続して行うこと
ができる。図1、図2に示す例では、8種類の試料の測
定を連続して行うことができる。なお、試料投入装置3
はコンピュータ2によって制御されている。
On the partition plate 11, a plurality of sample containers 5 each containing a different sample are placed. The sample loading device 3 may select one sample container 5 from the plurality of sample containers 5 and hold it, convey it to the position of the hopper 4, and load the sample in the sample container 5 into the hopper 4. it can. The upper surface of the hopper 4 is open as a sample inlet 41. In this way, by sequentially loading different types of samples in the plurality of sample containers 5 into the sample loading port 41, it is possible to automatically and continuously measure multiple types of samples. In the example shown in FIGS. 1 and 2, eight kinds of samples can be continuously measured. The sample injection device 3
Are controlled by the computer 2.

【0024】仕切板11上には、図1、図2における左
右方向であるX軸方向にガイドレール31,31が設け
られている。ガイドレール31上にはX軸移動体32が
X軸方向に移動可能に設けられている。X軸移動体32
上には柱状ガイド部材33が鉛直方向に立設されてい
る。そして、柱状ガイド部材33には、鉛直方向すなわ
ちY軸方向に移動可能にY軸移動体34が設けられてい
る。Y軸移動体34には、前後方向すなわちZ軸方向に
移動可能にZ軸移動体35が設けられている。
Guide rails 31 and 31 are provided on the partition plate 11 in the X-axis direction, which is the left-right direction in FIGS. An X-axis moving body 32 is provided on the guide rail 31 so as to be movable in the X-axis direction. X-axis moving body 32
A columnar guide member 33 is erected on the top in the vertical direction. The columnar guide member 33 is provided with a Y-axis moving body 34 that is movable in the vertical direction, that is, the Y-axis direction. The Y-axis moving body 34 is provided with a Z-axis moving body 35 that is movable in the front-rear direction, that is, the Z-axis direction.

【0025】そして、Z軸移動体35に隣接して把持部
36が設けられている。把持部36には2本のフィンガ
ー37が開閉可能に設けられており、フィンガー37を
駆動して試料容器5を把持することができる。また、把
持部36は、X軸と平行な回転軸の回りに回動させるこ
とができ、この回転軸の回りの任意の角度位置に回動お
よび停止させることができる。この把持部36の回動方
向の制御をθ軸制御と呼ぶことにする。すなわち、把持
部36は、直交する3軸方向であるX,Y,Z軸方向に
移動制御可能であり、かつ、X軸と平行な回転軸まわり
のθ軸方向に回動制御可能である。
A grip portion 36 is provided adjacent to the Z-axis moving body 35. The grip portion 36 is provided with two fingers 37 that can be opened and closed, and the fingers 37 can be driven to grip the sample container 5. Further, the grip portion 36 can be rotated around a rotation axis parallel to the X axis, and can be rotated and stopped at an arbitrary angular position around this rotation axis. The control of the rotation direction of the grip 36 will be referred to as θ-axis control. That is, the gripper 36 can be moved and controlled in the X, Y, and Z axis directions that are the three orthogonal axis directions, and can also be rotationally controlled in the θ axis direction about the rotation axis parallel to the X axis.

【0026】なお、把持部36のX,Y,Z軸方向の移
動機構およびθ軸方向の回動機構は、図示しないモータ
や送りネジ機構等により構成されている。例えば、Z軸
移動体35内には、把持部36を回動させるためのモー
タが設けられている。これらの、把持部36のX,Y,
Z軸方向の移動機構、θ軸方向の回動機構、フィンガー
37の開閉駆動機構は、全てコンピュータ2によって制
御されている。
The moving mechanism in the X-, Y-, and Z-axis directions and the turning mechanism in the θ-axis direction of the grip portion 36 are composed of a motor, a feed screw mechanism, and the like, which are not shown. For example, a motor for rotating the grip 36 is provided in the Z-axis moving body 35. These X, Y of the gripper 36,
The movement mechanism in the Z-axis direction, the rotation mechanism in the θ-axis direction, and the opening / closing drive mechanism of the fingers 37 are all controlled by the computer 2.

【0027】次に、この粒度分布測定装置1の動作を説
明する。まず、測定したい粉体試料を入れた複数の試料
容器5を仕切板11上の所定位置に載置する。そして、
コンピュータ2から連続測定の指示を行うと、指定した
順序で試料投入装置3が試料容器5を把持してホッパ4
の位置まで搬送し、試料容器5内の試料を試料投入口4
1に投入する。試料を投入した後の空の試料容器5は、
元の載置位置に戻す。なお、試料投入装置3が把持する
際の試料容器5の位置は、図示しないテレビカメラ等に
よる画像から判定することができる。
Next, the operation of the particle size distribution measuring device 1 will be described. First, a plurality of sample containers 5 containing powder samples to be measured are placed at predetermined positions on the partition plate 11. And
When the continuous measurement is instructed from the computer 2, the sample loading device 3 holds the sample container 5 in the specified order and holds the hopper 4
The sample in the sample container 5 is transported to the position
Throw in 1. The empty sample container 5 after the sample is loaded is
Return to the original mounting position. The position of the sample container 5 when gripped by the sample loading device 3 can be determined from an image obtained by a television camera or the like (not shown).

【0028】また、試料投入時にはホッパ4が最も下方
の位置、すなわち、ホッパ4の最下部が振動フィーダ6
の搬送面に接触する位置まで下降されている。この状態
では、ホッパ4に粉体試料を投入しても、粉体試料が振
動フィーダ6の搬送面に広がることはない。試料投入装
置3による試料の投入が終了すれば、ホッパ4を所定位
置まで上昇させ、振動フィーダ6を駆動して投入された
試料51を測定領域72に供給する。そして、CCDカ
メラ7によって試料51の画像撮影が行われ、この画像
信号により前述のような粒度分布等の測定が行われる。
また、測定中は、測定領域72での試料濃度が最適値と
なるように振動フィーダ6の搬送能力およびホッパ4の
上下位置が制御される。
When the sample is loaded, the hopper 4 is at the lowest position, that is, the lowest part of the hopper 4 is at the vibration feeder 6.
Has been lowered to a position where it comes into contact with the transport surface of. In this state, even if the powder sample is put into the hopper 4, the powder sample does not spread on the conveying surface of the vibrating feeder 6. When the sample loading by the sample loading device 3 is completed, the hopper 4 is raised to a predetermined position, the vibration feeder 6 is driven, and the loaded sample 51 is supplied to the measurement area 72. Then, an image of the sample 51 is taken by the CCD camera 7, and the particle size distribution and the like as described above are measured by this image signal.
Further, during the measurement, the carrying capacity of the vibrating feeder 6 and the vertical position of the hopper 4 are controlled so that the sample concentration in the measurement area 72 becomes an optimum value.

【0029】1つの試料の測定が終了すると、図示しな
い空気噴出器からホッパ4の壁面に向けて空気を噴出さ
せて残留試料を強制的に排出するとともに、振動フィー
ダ6の搬送能力を最大値付近まで増大させて搬送面に残
留する試料を強制的に排出する。このように、測定終了
時に各部に残留する試料を強制的に排出して除去するこ
とにより、測定済の試料が次の試料に混入して測定結果
に誤差を生じてしまうことがなくなる。
When the measurement of one sample is completed, air is ejected from the air ejector (not shown) toward the wall surface of the hopper 4 to forcibly discharge the residual sample, and the conveyance capacity of the vibration feeder 6 is close to the maximum value. The sample remaining on the transport surface is forcibly discharged. In this way, by forcibly discharging and removing the sample remaining in each part at the end of the measurement, it is possible to prevent the measured sample from mixing with the next sample and causing an error in the measurement result.

【0030】残留試料の除去が終了すれば、試料投入装
置3は次の試料容器5を把持してホッパ4の位置まで搬
送し、次の試料を試料投入口41に投入する。そして、
次の試料の粒度分布等の測定を行う。このように、予め
決められた順序で試料容器5内の試料をホッパ4に投入
して連続的に粒度分布等の測定を行うことができる。全
ての試料容器5内の試料の測定が終了すれば、残留試料
の除去を行ってから一連の連続測定動作を完了する。な
お、図示しないテレビカメラ等による試料容器5の画像
を表示部21に表示することにより、測定作業の進行状
況を確認することができる。
When the removal of the residual sample is completed, the sample loading device 3 holds the next sample container 5 and conveys it to the position of the hopper 4, and loads the next sample into the sample loading port 41. And
Measure the particle size distribution of the next sample. In this way, the samples in the sample container 5 can be put into the hopper 4 in a predetermined order to continuously measure the particle size distribution and the like. When the measurement of the samples in all the sample containers 5 is completed, the residual sample is removed and then a series of continuous measurement operations is completed. The progress of the measurement work can be confirmed by displaying an image of the sample container 5 on the display unit 21 by a television camera (not shown) or the like.

【0031】図3は、試料投入装置3の試料投入動作の
詳細を示す図である。試料投入装置3は把持部36に把
持した試料容器5を、ホッパ4の試料投入口41の近傍
位置まで搬送し、次に把持部36をθ軸方向に回動させ
て試料容器5を傾斜させ試料を試料投入口41に投入す
る。その際、試料容器5を試料投入口41の上方の離れ
た位置で傾斜させると、試料容器5内の試料の一部が試
料投入口41外に落下して散乱してしまうおそれがあ
る。
FIG. 3 is a diagram showing details of the sample loading operation of the sample loading device 3. The sample loading device 3 conveys the sample container 5 gripped by the grip portion 36 to a position near the sample input port 41 of the hopper 4, and then the grip portion 36 is rotated in the θ-axis direction to incline the sample container 5. A sample is loaded into the sample loading port 41. At that time, if the sample container 5 is tilted at a distant position above the sample input port 41, part of the sample in the sample container 5 may fall outside the sample input port 41 and be scattered.

【0032】このような、試料の試料投入口41外への
散乱を防止するために、本発明における試料投入装置3
は、試料容器5がホッパ4に接触しない範囲で、できる
だけ試料容器5を低い位置に保ちながら試料容器5を傾
斜させて試料を投入する。また、試料の投入位置を試料
投入口41の中心軸線Cにできるだけ近づけるようにす
る。
In order to prevent such scattering of the sample to the outside of the sample inlet 41, the sample inlet 3 of the present invention is used.
In the case where the sample container 5 does not come into contact with the hopper 4, the sample container 5 is tilted and the sample is loaded while keeping the sample container 5 as low as possible. Further, the sample loading position is made as close as possible to the central axis C of the sample loading port 41.

【0033】試料容器5を傾斜させて試料の投入を開始
するときには、図3に示すように、試料容器5がホッパ
4に接触せず、投入される試料が試料投入口41外に散
乱しない範囲で、試料容器5を最も低い位置に位置させ
る。それから、符号5a,5b,5c,5dに示すよう
に、試料容器の回動角度を順次増加させて試料を投入す
る。このとき、把持部36のθ軸方向の回動に同期させ
て、把持部36をY軸方向およびZ軸方向に移動させ、
試料容器5をできるだけ低い位置に保つとともに、試料
の投入位置を試料投入口41の中心軸線C近傍に保つよ
うにする。
When the sample container 5 is tilted to start the sample loading, as shown in FIG. 3, the sample container 5 does not come into contact with the hopper 4, and the sample loaded is not scattered outside the sample loading port 41. Then, the sample container 5 is located at the lowest position. Then, as indicated by reference numerals 5a, 5b, 5c, and 5d, the sample is loaded while gradually increasing the rotation angle of the sample container. At this time, the gripper 36 is moved in the Y-axis direction and the Z-axis direction in synchronization with the rotation of the gripper 36 in the θ-axis direction,
The sample container 5 is kept as low as possible, and the sample input position is kept near the central axis C of the sample input port 41.

【0034】このように、試料投入時に把持部36のθ
軸方向の回動とY軸方向およびZ軸方向の移動とを同時
制御することにより、試料容器5を試料投入口41に近
いできるだけ低い位置に保ちながら、試料投入口41の
中心近傍に試料を投入することが可能となる。これによ
り、試料が試料投入口41の外に落下して散乱してしま
うことを防止することができる。
As described above, when the sample is loaded, the θ of the grip portion 36 is
By simultaneously controlling the rotation in the axial direction and the movement in the Y-axis direction and the Z-axis direction, while keeping the sample container 5 as close to the sample inlet 41 as possible as low as possible, the sample is placed near the center of the sample inlet 41. It becomes possible to throw in. Thereby, it is possible to prevent the sample from falling out of the sample inlet 41 and being scattered.

【0035】以上のように、試料投入装置によって、予
め決められた順序で試料容器内の試料をホッパに投入し
て連続的に粒度分布等の測定を行うことができる。試料
のホッパへの投入動作は、試料の散乱が最も少なくなる
ようにプログラムしておくことができるため、作業者の
熟練度等に影響されずに、正確な測定を自動的に行うこ
とができる。また、測定終了後の残留試料の除去動作も
自動的に行われるので、異なる試料の混入による測定結
果の誤差も防止できる。
As described above, the sample introduction device allows the samples in the sample container to be introduced into the hopper in a predetermined order to continuously measure the particle size distribution and the like. Since the loading operation of the sample into the hopper can be programmed to minimize the scattering of the sample, accurate measurement can be automatically performed without being affected by the skill level of the operator. . Further, since the residual sample removing operation after the measurement is automatically performed, it is possible to prevent an error in the measurement result due to the mixing of different samples.

【0036】なお、以上の実施の形態においては、画像
解析方式での画像センサとしてCCDカメラ(エリアセ
ンサ)を使用しているが、MOS型のエリアセンサでも
よいし、ラインセンサ型の撮影装置を使用することもで
きる。ラインセンサを使用する場合は、試料粒子の落下
移動に応じた1次元画像を連続的に繰り返し取得するこ
とにより、粒子の全体の2次元画像を得ることができ
る。また、CCDカメラ等の画像センサを1つだけでな
く複数設けるようにすることができる。
In the above embodiments, a CCD camera (area sensor) is used as an image sensor in the image analysis method, but a MOS type area sensor or a line sensor type photographing device may be used. It can also be used. When a line sensor is used, a two-dimensional image of the entire particle can be obtained by continuously and repeatedly acquiring a one-dimensional image corresponding to the falling movement of sample particles. Further, not only one image sensor such as a CCD camera but also a plurality of image sensors can be provided.

【0037】さらに、粒度分布測定手段としては、以上
の実施の形態に示したような画像解析方式のものに限ら
ず、公知のレーザ散乱・回折方式やその他のものを使用
するようにしてもよい。また、コンピュータ、表示装
置、プリンタ等は1台だけ設置しているが、複数台設置
するようにしてもよい。また、試料投入装置および振動
フィーダの制御を同一の制御手段(コンピュータ2)に
よって行っているが、これらの制御を別々の制御手段に
よって行うようにしてもよい。
Further, the particle size distribution measuring means is not limited to the image analysis method shown in the above-mentioned embodiment, but a known laser scattering / diffraction method or other means may be used. . Further, although only one computer, display device, printer and the like are installed, a plurality of devices may be installed. Further, although the sample introduction device and the vibration feeder are controlled by the same control means (computer 2), these controls may be performed by different control means.

【0038】また、搬送手段としては、振動フィーダの
他にもベルトコンベア等の任意の搬送装置を使用するこ
とができる。さらに、ホッパや搬送面に残留した試料を
除去する際に、イオナイザ等を併用して静電気を除去
し、残留試料を除去しやすくすることも有効である。
Further, as the conveying means, any conveying device such as a belt conveyor can be used in addition to the vibrating feeder. Further, when removing the sample remaining on the hopper or the transport surface, it is also effective to use an ionizer or the like together to remove static electricity to facilitate removal of the residual sample.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下のような効果を奏する。
Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects.

【0040】試料投入手段によって複数種類の試料を順
次ホッパに投入して粒度分布等の測定を行うようにした
ので、複数種類の試料の測定を連続して自動的に行うこ
とができる。このため、複数種類の試料の測定に人手を
要することがなくなり、測定そのものも短時間で終了さ
せることができる。
Since a plurality of kinds of samples are sequentially charged into the hopper by the sample charging means to measure the particle size distribution and the like, it is possible to continuously and automatically measure the plurality of kinds of samples. Therefore, no labor is required for measuring a plurality of types of samples, and the measurement itself can be completed in a short time.

【0041】試料投入手段が、試料容器を把持する把持
部と、把持部を直交する3方向に移動させる移動部と、
把持部を水平方向の回転軸線の回りに回転させる回転部
とを有しているので、把持部の動きの自由度が大きく、
広範囲の形状の試料容器に対応することができる。
The sample loading means includes a gripping part for gripping the sample container, and a moving part for moving the gripping part in three orthogonal directions.
Since the grip has a rotating part that rotates the grip about a horizontal rotation axis, the grip has a large degree of freedom of movement,
A wide range of sample containers can be accommodated.

【0042】投入制御手段が移動部および回転部の駆動
制御を同時に行い、試料容器内の試料を可能な限り低位
置から試料投入口に投入するように制御を行うものであ
るため、試料の散乱を最小限にして異種試料の混入の可
能性を減少させ、測定精度を向上させることができる。
Since the loading control means controls the driving of the moving part and the rotating part at the same time so as to load the sample in the sample container from the lowest position to the sample loading port, scattering of the sample is performed. Can be minimized to reduce the possibility of mixing different kinds of samples and improve the measurement accuracy.

【0043】ホッパの上下方向の位置制御と搬送制御手
段の駆動制御とにより測定領域への試料の供給量を制御
するようにしたので、測定領域での試料濃度を最適値に
保つことができ、測定精度を向上させることができる。
Since the supply amount of the sample to the measurement region is controlled by the vertical position control of the hopper and the drive control of the transport control means, the sample concentration in the measurement region can be maintained at the optimum value. The measurement accuracy can be improved.

【0044】搬送制御手段が、測定終了時に搬送手段の
搬送能力を増大させて残留する試料を強制的に排出する
ようにしたので、異なる試料の混入による測定誤差の発
生を防止することができる。
Since the transport control means increases the transport capacity of the transport means at the end of the measurement to forcibly discharge the remaining sample, it is possible to prevent the occurrence of a measurement error due to mixing of different samples.

【0045】粒度分布測定手段を画像解析方式のものと
したので、試料の粒度分布だけでなく試料粒子の形状を
計測することができる。このため、粒子の長径と短径と
の比等の形状に関するパラメータを算出することがで
き、また、粒度分布から算出する種々の指数等を正確に
求めることも可能となる。
Since the particle size distribution measuring means is of the image analysis type, not only the particle size distribution of the sample but also the shape of the sample particles can be measured. Therefore, it is possible to calculate parameters relating to the shape, such as the ratio of the major axis to the minor axis of the particles, and it is also possible to accurately obtain various indexes and the like calculated from the particle size distribution.

【0046】搬送制御手段が、画像センサによって検出
した画像データにより測定領域への試料の供給量を制御
するようにしたので、試料濃度を検出するための特別な
検出手段を設置することなく、測定領域での試料濃度を
最適値に保つことができ、測定精度を向上させることが
できる。
Since the transport control means controls the supply amount of the sample to the measurement area based on the image data detected by the image sensor, the measurement can be performed without installing a special detection means for detecting the sample concentration. The sample concentration in the region can be maintained at the optimum value, and the measurement accuracy can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本発明の粒度分布測定装置の構成を示
す概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a particle size distribution measuring device of the present invention.

【図2】図2は、測定装置本体の上部領域を上から見た
平面図である。
FIG. 2 is a plan view of the upper region of the measuring device body as seen from above.

【図3】図3は、試料投入装置の試料投入動作の詳細を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing details of a sample loading operation of the sample loading device.

【符号の説明】 1…粒度分布測定装置 2…コンピュータ 3…試料投入装置 4…ホッパ 5…試料容器 6…振動フィーダ 7…CCDカメラ 8…光源 9…測定済容器 10…測定装置本体 11…仕切板 21…表示部 22…入力部 23…プリンタ 24…画像処理ボード 31…ガイドレール 32…X軸移動体 33…柱状ガイド部材 34…Y軸移動体 35…Z軸移動体 36…把持部 37…フィンガー 41…試料投入口 42…上下位置調整機構 51…試料 61…加振装置 71…レンズ 72…測定領域 81…光源用電源[Explanation of symbols] 1. Particle size distribution measuring device 2 ... Computer 3 ... Sample loading device 4 ... Hopper 5 ... Sample container 6 ... Vibration feeder 7 ... CCD camera 8 ... Light source 9 ... Measured container 10 ... Measuring device body 11 ... Partition board 21 ... Display 22 ... Input section 23 ... Printer 24 ... Image processing board 31 ... Guide rail 32 ... X-axis moving body 33 ... Columnar guide member 34 ... Y-axis moving body 35 ... Z-axis moving body 36 ... Grip 37 ... Finger 41 ... Sample inlet 42 ... Vertical position adjustment mechanism 51 ... Sample 61 ... Excitation device 71 ... Lens 72 ... Measuring area 81 ... Power source for light source

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】試料投入口(41)を備え、内部に貯留し
た試料(51)を供給可能なホッパ(4)と、 複数の試料容器(5)から1つの試料容器(5)を選択
して前記試料投入口(41)の近傍に搬送し、当該試料
容器(5)内の試料(51)を前記試料投入口(41)
から前記ホッパ(4)内に投入する試料投入手段(3)
と、 前記ホッパ(4)から供給された前記試料(51)を搬
送して粒度分布の測定領域(72)に供給する搬送手段
(6)と、 前記試料投入手段(3)を制御する投入制御手段(2)
と、 前記搬送手段(6)を制御する搬送制御手段(2)と、 前記測定領域(72)にある前記試料(51)の粒度分
布を測定する粒度分布測定手段(2,7,8,24)と
を有する粒度分布測定装置。
1. A hopper (4) having a sample inlet (41) capable of supplying a sample (51) stored therein, and one sample container (5) selected from a plurality of sample containers (5). The sample (51) in the sample container (5), and the sample (51) in the sample container (5) is conveyed to the vicinity of the sample input port (41).
Sample loading means (3) for loading the above into the hopper (4)
And a feeding means (6) for feeding the sample (51) fed from the hopper (4) and feeding it to the measurement region (72) of particle size distribution, and a loading control for controlling the sample loading means (3). Means (2)
A transport control means (2) for controlling the transport means (6), and a particle size distribution measurement means (2, 7, 8, 24) for measuring the particle size distribution of the sample (51) in the measurement area (72). ) And a particle size distribution measuring device having.
【請求項2】請求項1に記載した粒度分布測定装置であ
って、 前記試料投入手段(3)は、 前記試料容器(5)を把持する把持部(36)と、 前記把持部(36)を直交する3方向に移動させる移動
部(31〜34)と、 前記把持部(36)を水平方向の回転軸線の回りに回転
させる回転部(35)とを有するものである粒度分布測
定装置。
2. The particle size distribution measuring apparatus according to claim 1, wherein the sample introducing means (3) includes a gripping part (36) for gripping the sample container (5), and the gripping part (36). A particle size distribution measuring apparatus comprising: a moving part (31 to 34) for moving in three directions orthogonal to each other, and a rotating part (35) for rotating the gripping part (36) around a rotation axis in the horizontal direction.
【請求項3】請求項2に記載した粒度分布測定装置であ
って、 前記投入制御手段(2)は、前記試料投入手段(3)の
前記移動部(31〜34)および前記回転部(35)の
駆動制御を同時に行い、前記試料容器(5)内の前記試
料(51)を可能な限り低位置から前記試料投入口(4
1)に投入するように制御を行うものである粒度分布測
定装置。
3. The particle size distribution measuring apparatus according to claim 2, wherein the feeding control means (2) comprises the moving portion (31 to 34) and the rotating portion (35) of the sample feeding means (3). ) Are simultaneously controlled to move the sample (51) in the sample container (5) from the lowest position to the sample inlet (4).
A particle size distribution measuring device for controlling so as to be put into 1).
【請求項4】請求項1〜3のいずれか1項に記載した粒
度分布測定装置であって、 前記ホッパ(4)は、上下方向に移動可能に設けられて
おり、 前記搬送制御手段(2)は、前記搬送手段(6)の駆動
制御と前記ホッパ(4)の上下方向の位置制御により、
前記測定領域(72)への前記試料(51)の供給量を
制御するものである粒度分布測定装置。
4. The particle size distribution measuring apparatus according to claim 1, wherein the hopper (4) is provided so as to be vertically movable, and the transfer control means (2) is provided. ) By the drive control of the transfer means (6) and the vertical position control of the hopper (4),
A particle size distribution measuring device for controlling the supply amount of the sample (51) to the measurement region (72).
【請求項5】請求項1〜4のいずれか1項に記載した粒
度分布測定装置であって、 前記搬送制御手段(2)は、1つの種類の試料の測定が
終了した時に前記搬送手段(6)の搬送能力を増大させ
て、前記搬送手段(6)に残留する試料を強制的に排出
するものである粒度分布測定装置。
5. The particle size distribution measuring apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the transport control means (2) comprises the transport means (when the measurement of one type of sample is completed. A particle size distribution measuring apparatus for increasing the carrying capacity of 6) and forcibly discharging the sample remaining in the carrying means (6).
【請求項6】請求項1〜5のいずれか1項に記載した粒
度分布測定装置であって、 前記粒度分布測定手段(2,7,8,24)は、前記測
定領域(72)にある前記試料(51)の画像データを
画像センサ(7)によって検出し、当該画像データによ
り前記試料(51)の粒度分布を測定するものである粒
度分布測定装置。
6. The particle size distribution measuring device according to claim 1, wherein the particle size distribution measuring means (2, 7, 8, 24) is in the measuring area (72). A particle size distribution measuring device for detecting image data of the sample (51) by an image sensor (7) and measuring a particle size distribution of the sample (51) by the image data.
【請求項7】請求項6に記載した粒度分布測定装置であ
って、 前記搬送制御手段(2)は、前記画像センサ(7)によ
って検出した画像データにより、前記測定領域(72)
への前記試料(51)の供給量を制御するものである粒
度分布測定装置。
7. The particle size distribution measuring apparatus according to claim 6, wherein the conveyance control means (2) uses the image data detected by the image sensor (7) to measure the measurement area (72).
A particle size distribution measuring device for controlling the supply amount of the sample (51) to the sample.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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