JP2003045175A - Method of generating initializing signal - Google Patents

Method of generating initializing signal

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JP2003045175A JP2002210061A JP2002210061A JP2003045175A JP 2003045175 A JP2003045175 A JP 2003045175A JP 2002210061 A JP2002210061 A JP 2002210061A JP 2002210061 A JP2002210061 A JP 2002210061A JP 2003045175 A JP2003045175 A JP 2003045175A
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initialization
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Il-Man Bae
Jae-Hoon Kim
金載勲
Jae-Hyeong Lee
李在▲ひょん▼
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of generating an initializing signal, by which layout area occupied by an initializing circuit and power consumption of the circuit at the time of power-up can be reduced. SOLUTION: The method of generating the initializing signal, that prevents the unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device caused by applying an external power source, is provided with (a) a step where a pre-charge instruction pre-charging all banks of the semiconductor memory is received, (b) a step where the initializing signal is activated to a first level in accordance with the received pre-charge instruction, (c) a step where a refresh-instruction for refreshing the semiconductor memory is received after the pre-charge instruction is received, (d) a step where a mode setting instruction setting an operation mode of the semiconductor memory is received after the refresh-instruction is received, and (e) a step where the initializing signal is non-activated to a second level in accordance with the received mode setting instruction.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体メモリ装置に
係り、特に半導体メモリ装置のパワー・アップによる内
部回路の不安定な動作を防ぐための初期化信号の発生方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a method of generating an initialization signal for preventing unstable operation of an internal circuit due to power-up of the semiconductor memory device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体メモリ装置を使用するために外部
電源を印加することをパワー・アップという。半導体メ
モリ装置には、パワー・アップ動作時に半導体メモリ装
置の回路内部の不安定な動作を防ぐために初期化回路が
設けられている。ここで、不安定な動作とは、外部から
印加される外部電源が完全に安定していないために、デ
ータの論理ハイまたは論理ローに対する回路的判断がパ
ワー・アップ動作区間では難しいということを意味す
る。従って、パワー・アップ区間で一時的な論理ハイ値
から論理ロー値に落ちる初期化信号を用いて、回路内部
を論理ハイや論理ローの一定の安定的なレベルにラッチ
させることによって内部回路の不安定な動作を防止す
る。
2. Description of the Related Art Applying an external power source to use a semiconductor memory device is called power-up. The semiconductor memory device is provided with an initialization circuit in order to prevent an unstable operation inside the circuit of the semiconductor memory device during a power-up operation. Here, the unstable operation means that it is difficult to make a circuit decision on the logic high or the logic low of the data during the power-up operation period because the external power source applied from the outside is not completely stable. To do. Therefore, during the power-up period, by using an initialization signal that temporarily drops from a logic high value to a logic low value, the internal circuit is latched at a constant stable level of logic high or logic low. Prevent stable operation.

【0003】図1はパワー・アップ瞬間の内部回路の不
安定な動作を防止する初期化回路を示す図面である。
FIG. 1 is a diagram showing an initialization circuit for preventing an unstable operation of an internal circuit at the moment of power-up.

【0004】初期化回路100は、PMOSトランジス
タMP1、キャパシタ300、抵抗R1及びインバータ
I11,I12,I13を具備する。
The initialization circuit 100 comprises a PMOS transistor MP1, a capacitor 300, a resistor R1 and inverters I11, I12 and I13.

【0005】初期化回路100の動作を説明する。外部
から外部電源EVCが印加されて外部電源EVCの電圧
レベルが上昇すると、初期化回路100の出力信号の初
期化信号VCCHBは、外部電源EVCの電圧レベルの
上昇につれて上昇する。外部電源EVCが一定電圧以上
になれば、第1ノードN11が論理ハイレベルと認識で
きる適正な電圧にセットされる。初期化信号VCCHB
は、第1ノードN11が論理ハイレベルと認識される瞬
間からインバータI11,I12,I13によって論理
ローレベルとして出力される。従って、初期化信号VC
CHBは、一種のパルス信号のような様子を示し、この
ようなパルス信号形態の初期化信号VCCHBは、パワ
ー・アップの瞬間に半導体メモリ装置の内部回路が不安
定な動作をすることを防ぐための信号として使われる。
The operation of the initialization circuit 100 will be described. When the external power supply EVC is applied from the outside and the voltage level of the external power supply EVC rises, the initialization signal VCCHB of the output signal of the initialization circuit 100 rises as the voltage level of the external power supply EVC rises. When the external power supply EVC becomes a certain voltage or more, the first node N11 is set to an appropriate voltage that can be recognized as a logic high level. Initialization signal VCCHB
Is output as a logic low level by the inverters I11, I12, I13 from the moment when the first node N11 is recognized as a logic high level. Therefore, the initialization signal VC
CHB shows a kind of pulse signal, and the initialization signal VCCHB in the form of such a pulse signal prevents the internal circuit of the semiconductor memory device from performing an unstable operation at the moment of power-up. Used as a signal of.

【0006】図2は、初期化信号を使用して内部回路を
初期化させる回路の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a circuit for initializing an internal circuit using an initialization signal.

【0007】この回路では、パワー・アップ時に入力信
号INは入力されず、したがって第1ノードN21は不
安定な状態になる。この時、初期化信号VCCHBが論
理ハイレベルとして入力されると、インバータI21に
よってPMOSトランジスタMP2をターンオンさせ、
第1ノードN21は論理ハイレベルにラッチされて初期
化される。従って、出力信号OUTの変動が防止され
る。初期化信号VCCHBが論理ローレベルに遷移され
るとPMOSトランジスタMP2はターンオフされ、第
1ノードN21は論理ハイレベルにラッチされた状態で
維持される。このように初期化信号VCCHBは、半導
体メモリ装置の内部回路のノードをパワー・アップの瞬
間に一定の論理レベルにセットする機能をする。
In this circuit, the input signal IN is not input at the time of power up, so that the first node N21 becomes unstable. At this time, when the initialization signal VCCHB is input as a logic high level, the inverter I21 turns on the PMOS transistor MP2,
The first node N21 is latched to a logic high level and initialized. Therefore, the fluctuation of the output signal OUT is prevented. When the initialization signal VCCHB is transited to the logic low level, the PMOS transistor MP2 is turned off and the first node N21 is maintained in the state of being latched to the logic high level. Thus, the initialization signal VCCHB functions to set the node of the internal circuit of the semiconductor memory device to a constant logic level at the moment of power up.

【0008】しかしながら、初期化回路100は一般的
に大きいレイアウトを占めて、初期化信号VCCHBの
発生後においてもデバイスが動作する間に相応の電力を
消耗するという問題がある。また、印加される外部電源
EVCの電圧レベルが低くなるにつれて初期化信号VC
CHBもそのレベルが低くなって内部回路の不安定な動
作を防ぐための信号として機能し難いという問題があ
る。
However, there is a problem that the initialization circuit 100 generally occupies a large layout and consumes a certain amount of power while the device is operating even after the initialization signal VCCHB is generated. Further, as the voltage level of the applied external power supply EVC decreases, the initialization signal VC
CHB also has a problem that its level becomes low and it is difficult to function as a signal for preventing unstable operation of the internal circuit.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】本発明は前記問題点を
解決するために案出されたものであって、本発明の目的
は、初期化回路が占めるレイアウト面積と電力消耗とを
減らせる初期化信号の発生方法を提供することである。
The present invention has been devised to solve the above problems, and an object of the present invention is to reduce the layout area occupied by the initialization circuit and the power consumption. It is to provide a method of generating a signal for activation.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】前記技術的課題を達成す
るための本発明の第1の観点による初期化信号の発生方
法は、外部電源の印加による半導体メモリ装置の内部回
路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信号の発生方
法において、(a)前記半導体メモリ装置の全てのバン
クをプリチャージするプリチャージ命令を受信する段階
と、(b)前記受信されたプリチャージ命令に応じて前
記初期化信号を第1レベルに活性化する段階と、(c)
前記プリチャージ命令を受信した後、前記半導体メモリ
装置をリフレッシュするためのリフレッシュ命令を受信
する段階と、(d)前記リフレッシュ命令を受信した
後、前記半導体メモリ装置の動作モードを設定するモー
ド設定命令を受信する段階と、(e)前記受信されたモ
ード設定命令に応じて前記初期化信号を第2レベルに非
活性化する段階とを具備することを特徴とする。
A method of generating an initialization signal according to a first aspect of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is to provide an unstable initial state of an internal circuit of a semiconductor memory device by applying an external power source. A method of generating an initialization signal for preventing operation, comprising: (a) receiving a precharge command for precharging all banks of the semiconductor memory device; and (b) depending on the received precharge command. Activating the initialization signal to a first level, (c)
Receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the precharge command, and (d) a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device after receiving the refresh command. And (e) deactivating the initialization signal to a second level according to the received mode setting command.

【0011】前記技術的課題を達成するための本発明の
第2の観点による初期化信号の発生方法は、外部電源の
印加による半導体メモリ装置の内部回路の不安定な初期
動作を防ぐための初期化信号の発生方法において、
(a)前記半導体メモリ装置の全てのバンクをプリチャ
ージするプリチャージ命令を受信する段階と、(b)前
記受信されたプリチャージ命令に応じて自動パルスを発
生して前記初期化信号として使用する段階とを具備する
ことを特徴とする。
A method of generating an initialization signal according to a second aspect of the present invention for attaining the above-mentioned technical object is an initializing method for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source. In the method of generating the digitized signal,
(A) receiving a precharge command for precharging all banks of the semiconductor memory device, and (b) generating an automatic pulse according to the received precharge command and using it as the initialization signal. And a step.

【0012】前記技術的課題を達成するための本発明の
第3の観点による初期化信号の発生方法は、外部電源の
印加による半導体メモリ装置の内部回路の不安定な初期
動作を防ぐための初期化信号の発生方法において、
(a)前記半導体メモリ装置の動作モードを設定するモ
ード設定命令を受信する段階と、(b)前記受信された
モード設定命令に応じて自動パルスを発生して前記初期
化信号として使用する段階とを具備することを特徴とす
る。
A method of generating an initialization signal according to a third aspect of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is to prevent an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source. In the method of generating the signal
(A) receiving a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device, and (b) generating an automatic pulse according to the received mode setting command and using it as the initialization signal. It is characterized by including.

【0013】前記技術的課題を達成するための本発明の
第4の観点による初期化信号の発生方法は、外部電源の
印加による半導体メモリ装置の内部回路の不安定な初期
動作を防ぐための初期化回路を具備し、前記半導体メモ
リ装置の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期
化信号の発生方法において、(a)前記外部電源に応じ
て前記初期化回路が予備初期化信号を発生する段階と、
(b)前記半導体メモリ装置の動作モードを設定するモ
ード設定命令を受信する段階と、(c)前記予備初期化
信号及び前記受信されたモード設定命令に応じて自動パ
ルスを発生して前記初期化信号として使用する段階とを
具備することを特徴とする。
A method of generating an initialization signal according to a fourth aspect of the present invention for attaining the above-mentioned technical object is an initializing method for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source. A method of generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of the semiconductor memory device, comprising: (a) the initialization circuit generating a preliminary initialization signal according to the external power supply; The stages that occur,
(B) receiving a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device, and (c) generating the automatic pulse according to the preliminary initialization signal and the received mode setting command to perform the initialization. And a step of using as a signal.

【0014】前記初期化信号の発生方法は、(d)前記
発された初期化信号に応じて前記初期化回路をターンオ
フさせる段階をさらに具備できる。
The method of generating the initialization signal may further include the step of (d) turning off the initialization circuit according to the issued initialization signal.

【0015】前記技術的課題を達成するための本発明の
第5の観点による初期化回路のターンオフ方法は、外部
電源の印加による半導体メモリ装置の内部回路の不安定
な初期動作を防ぐための初期化信号を発生する初期化回
路をターンオフさせる方法において、(a)前記外部電
源に応じて前記初期化回路が初期化信号を発する段階
と、(b)前記半導体メモリ装置の全てのバンクをプリ
チャージするプリチャージ命令を受信する段階と、
(c)前記プリチャージ命令に応じて前記初期化回路を
ターンオフさせる段階とを具備することを特徴とする。
A method of turning off an initialization circuit according to a fifth aspect of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is to prevent an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source. In a method of turning off an initialization circuit that generates an initialization signal, (a) the initialization circuit issues an initialization signal in response to the external power supply, and (b) precharges all banks of the semiconductor memory device. Receiving a precharge command to
(C) turning off the initialization circuit in response to the precharge command.

【0016】前記技術的課題を達成するための本発明の
第6の観点による初期化回路をターンオフ方法は、外部
電源の印加による半導体メモリ装置の内部回路の不安定
な初期動作を防ぐための初期化信号を発生する初期化回
路をターンオフさせる方法において、(a)前記外部電
源に応じて前記初期化回路が初期化信号を発生する段階
と、(b)前記半導体メモリ装置の動作モードを設定す
るモード設定命令を受信する段階と、(c)前記モード
設定命令に応じて前記初期化回路をターンオフさせる段
階とを具備することを特徴とする。
A method of turning off an initialization circuit according to a sixth aspect of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is to prevent an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source. In a method of turning off an initialization circuit that generates an initialization signal, (a) a step of generating the initialization signal by the initialization circuit according to the external power supply; and (b) setting an operation mode of the semiconductor memory device. The method comprises: receiving a mode setting command; and (c) turning off the initialization circuit according to the mode setting command.

【0017】前記技術的課題を達成するための本発明の
第7実施例による半導体メモリ装置の内部回路を初期化
させる初期化信号の発生方法は、(a)前記内部回路を
初期化するためのモード設定命令を受信する段階と、
(b)前記受信されたモード設定命令に応じて制御信号
を発生し、前記制御信号を前記初期化信号として使用す
る段階とを具備することを特徴とする。
A method of generating an initialization signal for initializing an internal circuit of a semiconductor memory device according to a seventh embodiment of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is as follows: (a) The internal circuit is initialized. Receiving a mode setting command,
(B) generating a control signal according to the received mode setting command and using the control signal as the initialization signal.

【0018】前記モード設定命令は、例えば、外部ピン
を通じて前記半導体メモリ装置へ印加される信号であ
る。前記モード設定命令は、例えば、同期式DRAMで
はMRSであり、非同期式DRAMではではWCBRで
ある。
The mode setting command is, for example, a signal applied to the semiconductor memory device through an external pin. The mode setting command is, for example, MRS in the synchronous DRAM and WCBR in the asynchronous DRAM.

【0019】前記技術的課題を達成するための本発明の
第8の観点による半導体メモリ装置の内部回路を初期化
させる初期化信号発生方法は、(a)前記半導体メモリ
装置をプリチャージするプリチャージ命令を受信する段
階と、(b)前記プリチャージ命令を受信した後、前記
内部回路を初期化するためのモード設定命令を受信する
段階と、(c)前記受信されたモード設定命令に応じて制
御信号を発生し、前記制御信号を前記初期化信号として
使用する段階とを具備することを特徴とする。
An initialization signal generating method for initializing an internal circuit of a semiconductor memory device according to an eighth aspect of the present invention for achieving the above-mentioned technical object is (a) precharge for precharging the semiconductor memory device. Receiving a command, (b) receiving a mode setting command for initializing the internal circuit after receiving the precharge command, and (c) responding to the received mode setting command. Generating a control signal and using the control signal as the initialization signal.

【0020】前記モード設定命令は、例えば、外部ピン
を通じて前記半導体メモリ装置へ印加される信号であ
る。また、前記モード設定命令は、例えば、同期式DR
AMではMRSであり、非同期式DRAMではWCBR
である。
The mode setting command is, for example, a signal applied to the semiconductor memory device through an external pin. The mode setting command is, for example, a synchronous DR.
AM is MRS, asynchronous DRAM is WCBR
Is.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明とその動作上の利点及び本
発明の実施により達成される目的を充分理解するために
は本発明の望ましい実施形態を示す添付図面及びそれら
の図面に記載された内容を参照しなければならない。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS In order to fully understand the present invention and its operational advantages and objectives achieved by the practice of the present invention, there is shown in the accompanying drawings which show preferred embodiments of the invention and in those drawings. Must refer to content.

【0022】以下、添付した図面に基づいて本発明を詳
しく説明する。図面に示された同じ参照符号は同じ構成
要素を意味する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference symbols in the drawings denote like elements.

【0023】外部電源EVCが印加されると半導体メモ
リ装置は全てのバンクをプリチャージするプリチャージ
命令、リフレッシュ命令及びモード設定命令を順次的に
受信する。これらの命令は半導体メモリ装置へ外部電源
が印加されるのと同時に発され、半導体メモリ装置はこ
れらの命令を受信した後に実際に動作するための命令を
受信して動作する。本発明の第1実施形態は、このよう
に外部電源EVCの印加時において、初期に発される命
令を用いて初期化回路から初期化信号を発する方法に関
したものである。
When the external power supply EVC is applied, the semiconductor memory device sequentially receives a precharge command for precharging all banks, a refresh command, and a mode setting command. These commands are issued at the same time when the external power is applied to the semiconductor memory device, and the semiconductor memory device operates by receiving the commands for actually operating after receiving these commands. The first embodiment of the present invention relates to a method of issuing an initialization signal from an initialization circuit using an instruction issued initially when the external power supply EVC is applied.

【0024】以下、図3を参照して本発明の第1実施形
態による初期化信号の発生方法300を詳細に説明す
る。
Hereinafter, a method 300 of generating an initialization signal according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.

【0025】半導体メモリ装置へ外部電源が印加された
後、半導体メモリ装置は、その全てのバンクをプリチャ
ージするプリチャージ命令を受信する(310段階)。
プリチャージ命令が印加されるとプリチャージのための
信号が生成されてプリチャージ動作が実行される。しか
し、半導体メモリ装置は、このような動作とは別個に受
信されたプリチャージ命令に応じて初期化信号を第1レ
ベルに活性化する(320段階)。これは、プリチャー
ジ命令の印加に応答して、半導体メモリ装置の内部から
一つのフラグ、すなわちパルス状の信号が発せられるよ
うに回路を構成することによって具現できる。ここで、
第1レベルは、論理ハイレベル又は論理ローレベルとす
ることができる。
After the external power is applied to the semiconductor memory device, the semiconductor memory device receives a precharge command to precharge all the banks (step 310).
When the precharge command is applied, a signal for precharge is generated and the precharge operation is executed. However, the semiconductor memory device activates the initialization signal to the first level according to the precharge command received separately from the operation (step 320). This can be realized by configuring the circuit so that one flag, that is, a pulsed signal is emitted from the inside of the semiconductor memory device in response to the application of the precharge command. here,
The first level can be a logic high level or a logic low level.

【0026】プリチャージ命令を受信した後、半導体メ
モリ装置は、該半導体メモリ装置をリフレッシュするた
めのリフレッシュ命令を受信する(330段階)。リフ
レッシュ命令に応じて半導体メモリ装置は数回にわたっ
てリフレッシュされる。リフレッシュ命令を受信した
後、半導体メモリ装置は、該半導体メモリ装置の動作モ
ードを設定するモード設定命令を受信する(340)。
モード設定命令は、半導体メモリ装置の動作モードを設
定する命令であって、例えば、同期式DRAM(Synchro
nous DRAM)ではMRS(Mode Register Set)であり、
非同期式DRAM(Asynchronous DRAM)ではWCBR(W
rite CAS Before RAS)である。
After receiving the precharge command, the semiconductor memory device receives a refresh command for refreshing the semiconductor memory device (step 330). The semiconductor memory device is refreshed several times according to the refresh command. After receiving the refresh command, the semiconductor memory device receives a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device (340).
The mode setting command is a command for setting the operation mode of the semiconductor memory device, and is, for example, a synchronous DRAM (Synchro
Nous DRAM) is MRS (Mode Register Set),
For asynchronous DRAM, WCBR (W
rite CAS Before RAS).

【0027】モード設定命令を受信した後に、半導体メ
モリ装置は、他の命令を受信して、その命令に応じた動
作を実行するようになる。次に、半導体メモリ装置は、
受信されたモード設定命令に応じて初期化信号を第2レ
ベルに非活性化する(350段階)。ここで、第2レベ
ルは、第1レベルが論理ハイレベルであれば論理ローレ
ベルになり、第1レベルが論理ローレベルであれば論理
ハイレベルになる。第1レベルと第2レベルによって初
期化信号は一つのパルス信号形態を維持するようにな
り、これは初期化回路から発せられる初期化信号の役割
をすることになる。したがって、初期化回路を除去して
初期化回路が占めるレイアウト面積を減らし、初期化回
路の電力消耗を減らしつつもパワー・アップ時に不安定
に動作する内部回路を命令により発せられる初期化信号
によって初期化することができる。
After receiving the mode setting command, the semiconductor memory device receives another command and performs an operation according to the command. Next, the semiconductor memory device is
The initialization signal is deactivated to the second level according to the received mode setting command (step 350). Here, the second level becomes a logic low level if the first level is a logic high level, and becomes a logic high level if the first level is a logic low level. According to the first and second levels, the initialization signal maintains a single pulse signal form, which serves as an initialization signal emitted from the initialization circuit. Therefore, the initialization circuit is removed to reduce the layout area occupied by the initialization circuit, and the internal circuit that operates unstable at power-up is reduced by the initialization signal issued by the instruction while reducing the power consumption of the initialization circuit. Can be converted.

【0028】図4を参照して本発明の第2実施形態によ
る初期化信号の発生方法400を説明する。本発明の第
2実施形態は、プリチャージ命令に応じて一つのパルス
を発するという点において本発明の第1実施形態と異な
る。すなわち、外部電源が半導体メモリ装置へ印加され
た後、半導体メモリ装置は、の全てのバンクをプリチャ
ージするプリチャージ命令を受信する(410段階)。
プリチャージ命令を受信した後、半導体メモリ装置は、
順次的にリフレッシュ命令及びモード設定命令を受信す
る。しかし、これら命令の受信ではなく、半導体メモリ
装置は、受信されたプリチャージ命令に応じて自動パル
スを発して初期化信号として用いる(420段階)。こ
れは、プリチャージ命令に応じてパルス信号を発する自
動パルス発生器を半導体メモリ装置の内部に設けること
によって具現できる。自動パルス発生器から発せられた
パルス信号は、初期化回路から発せられる初期化信号の
役割をする。したがって、第1実施形態と同様の効果を
奏し得る。
A method 400 of generating an initialization signal according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The second embodiment of the present invention differs from the first embodiment of the present invention in that one pulse is issued in response to a precharge command. That is, after the external power is applied to the semiconductor memory device, the semiconductor memory device receives a precharge command to precharge all banks (step 410).
After receiving the precharge command, the semiconductor memory device
The refresh command and the mode setting command are sequentially received. However, instead of receiving these commands, the semiconductor memory device emits an automatic pulse according to the received precharge command and uses it as an initialization signal (step 420). This can be implemented by providing an automatic pulse generator that generates a pulse signal in response to a precharge command inside the semiconductor memory device. The pulse signal emitted from the automatic pulse generator serves as an initialization signal emitted from the initialization circuit. Therefore, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.

【0029】図5を参照して本発明の第3実施形態によ
る初期化信号の発生方法500を説明する。本発明の第
3実施形態は、モード設定命令に応じて一つのパルスを
発するという点において本発明の第1実施形態及び第2
実施形態と異なる。すなわち、外部電源が半導体メモリ
装置へ印加された後、半導体メモリ装置の動作モードを
設定するモード設定命令を受信する(510段階)。そ
して、半導体メモリ装置は、受信されたモード設定命令
に応じて自動パルスを発して初期化信号として用いる
(520段階)。これは、モード設定命令に応じてパル
ス信号を発生する自動パルス発生器を半導体メモリ装置
の内部に設けることによって具現できる。ここで、モー
ド設定命令は、例えば、第1実施形態と同様に、同期式
DRAMではMRSとし、非同期式DRAMではWCB
Rとすることができる。自動パルス発生器から発せられ
たパルス信号は、初期化回路から発せられる初期化信号
の役割をする。したがって、第1実施形態及び第2実施
形態と同様の効果を奏し得る。
A method 500 of generating an initialization signal according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The third embodiment of the present invention is that the first embodiment and the second embodiment of the present invention are that a single pulse is issued in response to a mode setting command.
Different from the embodiment. That is, after the external power is applied to the semiconductor memory device, a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device is received (step 510). Then, the semiconductor memory device emits an automatic pulse according to the received mode setting command and uses it as an initialization signal (step 520). This can be implemented by providing an automatic pulse generator that generates a pulse signal according to a mode setting command inside the semiconductor memory device. Here, the mode setting command is, for example, MRS in the synchronous DRAM and WCB in the asynchronous DRAM, as in the first embodiment.
It can be R. The pulse signal emitted from the automatic pulse generator serves as an initialization signal emitted from the initialization circuit. Therefore, the same effect as that of the first and second embodiments can be obtained.

【0030】本発明の第3実施形態による初期化信号の
発生方法500は、510段階の前段階に半導体メモリ
装置の全てのバンクをプリチャージするプリチャージ命
令を受信する段階、及び前記プリチャージ命令を受信し
た後、前記半導体メモリ装置をリフレッシュするための
リフレッシュ命令を受信する段階をさらに含んでもよ
い。
The initialization signal generating method 500 according to the third embodiment of the present invention includes a step of receiving a precharge command for precharging all banks of the semiconductor memory device before the step 510, and the precharge command. The method may further include receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the.

【0031】図6を参照して本発明の第4実施形態によ
る初期化信号の発生方法600を説明する。本発明の第
4実施形態は、半導体メモリ装置の内部回路の不安定な
初期動作を防ぐための初期化回路を具備するという点で
本発明の第1、第2及び第3実施形態と区別される。
A method 600 of generating an initialization signal according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The fourth embodiment of the present invention is distinguished from the first, second and third embodiments of the present invention in that it has an initialization circuit for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device. It

【0032】すなわち、外部電源に応じて初期化回路が
予備初期化信号を発生する(610段階)。予備初期化
信号は、図1の初期化回路100から出力される信号V
CCHBと同じ信号として内部回路を初期化させる役割
をする。
That is, the initialization circuit generates a preliminary initialization signal according to the external power source (step 610). The preliminary initialization signal is the signal V output from the initialization circuit 100 of FIG.
It serves to initialize the internal circuit with the same signal as CCHB.

【0033】半導体メモリ装置がモード設定命令を受信
する(620段階)。そして、半導体メモリ装置は、予
備初期化信号及び受信されたモード設定命令に応じて自
動パルスを発して初期化信号として用いる(630段
階)。これは、予備初期化信号及びモード設定命令に応
じてパルス信号を発する自動パルス発生器を半導体メモ
リ装置の内部に備えることによって具現できる。最近、
電源電圧レベルが低くなるにつれて予備初期化信号の電
圧レベルも低くなっている。したがって、外部電源の印
加時、予備初期化信号だけで内部回路を初期化させるこ
とより、予備初期化信号とモード設定命令に応じてパル
ス信号を発して初期化信号として使用すれば内部回路を
より確実に初期化させることができる。ここで、モード
設定命令は、例えば、第1実施例と同様に、同期式DR
AMではMRSとし、非同期式DRAMではWCBRと
することができる。本発明の第4実施形態による初期化
信号の発生方法は、発せられた初期化信号に応じて初期
化回路をターンオフさせる段階をさらに具備することも
できる。したがって、パワー・アップ後にも初期化回路
に一定の直流電流が流れて電力消費を低減することがで
きる。
The semiconductor memory device receives a mode setting command (step 620). Then, the semiconductor memory device emits an automatic pulse according to the preliminary initialization signal and the received mode setting command and uses it as an initialization signal (step 630). This can be implemented by providing an automatic pulse generator, which generates a pulse signal according to a preliminary initialization signal and a mode setting command, inside the semiconductor memory device. Recently,
As the power supply voltage level decreases, the voltage level of the preliminary initialization signal also decreases. Therefore, when the external power supply is applied, the internal circuit is initialized only by the preliminary initialization signal, and if the pulse signal is issued according to the preliminary initialization signal and the mode setting command and is used as the initialization signal, the internal circuit is further improved. It can be surely initialized. Here, the mode setting command is, for example, the synchronous DR as in the first embodiment.
It can be MRS for AM and WCBR for asynchronous DRAM. The method of generating the initialization signal according to the fourth embodiment of the present invention may further include the step of turning off the initialization circuit according to the issued initialization signal. Therefore, a constant DC current flows through the initialization circuit even after power-up, and power consumption can be reduced.

【0034】本発明の第4実施形態による初期化信号の
発生方法600は、610段階と620段階の間に、前
記半導体メモリ装置の全てのバンクをプリチャージする
プリチャージ命令を受信する段階、及び前記プリチャー
ジ命令を受信した後、前記半導体メモリ装置をリフレッ
シュするためのリフレッシュ命令を受信する段階をさら
に具備することもできる。
The method 600 of generating an initialization signal according to the fourth embodiment of the present invention includes receiving a precharge command for precharging all banks of the semiconductor memory device between steps 610 and 620, and The method may further include receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the precharge command.

【0035】図7を参照して本発明の第5実施形態によ
る初期化回路のターンオフ方法700を説明する。外部
電源が半導体メモリ装置で印加された後、外部電源に応
じて初期化回路が初期化信号を発生する(710段
階)。初期化信号は、図1の初期化回路100から出力
される信号VCCHBと同じ信号として内部回路を初期
化させる役割をする。半導体メモリ装置は、その全ての
バンクをプリチャージするプリチャージ命令を受信する
(720段階)。そして、プリチャージ命令を受信した
後、半導体メモリ装置は、順次的にリフレッシュ命令及
びモード設定命令を受信する。しかし、これら命令の受
信ではなく、半導体メモリ装置は、受信されたプリチャ
ージ命令に応じて初期化回路をターンオフさせる(73
0段階)。これは、プリチャージ命令に応じて初期化回
路をターンオフさせ得る回路を構成することによって具
現できる。よって、パワー・アップ後においても初期化
回路に一定の直流電流が流れることによる電力消費を低
減できる。
A method 700 of turning off an initialization circuit according to a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. After the external power is applied to the semiconductor memory device, the initialization circuit generates an initialization signal according to the external power (step 710). The initialization signal serves to initialize the internal circuit as the same signal as the signal VCCHB output from the initialization circuit 100 of FIG. The semiconductor memory device receives a precharge command to precharge all the banks (step 720). Then, after receiving the precharge command, the semiconductor memory device sequentially receives the refresh command and the mode setting command. However, instead of receiving these commands, the semiconductor memory device turns off the initialization circuit according to the received precharge command (73).
0 stage). This can be implemented by configuring a circuit that can turn off the initialization circuit according to the precharge command. Therefore, it is possible to reduce power consumption due to a constant direct current flowing through the initialization circuit even after power-up.

【0036】図8を参照して本発明の第6実施形態によ
る初期化回路のターンオフ方法800を説明する。外部
電源に応じて初期化回路が初期化信号を発生する(81
0段階)。初期化信号は、図1の初期化回路100から
出力される信号VCCHBと同じ信号として内部回路を
初期化させる役割をする。半導体メモリ装置がモード設
定命令を受信する(820段階)。そして、半導体メモ
リ装置は受信されたモード設定命令に応じて初期化回路
をターンオフさせる(830段階)。これは、モード設
定命令に応じて初期化回路をターンオフさせ得る回路を
構成することによって具現できる。よって、パワー・ア
ップ後にも初期化回路に一定の直流電流が流れることに
よる電力消費を低減できる。ここで、モード設定命令
は、例えば、第1実施形態と同様に、同期式DRAMで
はMRSとし、非同期式DRAMではWCBRとするこ
とができる。
A method 800 of turning off an initialization circuit according to a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The initialization circuit generates an initialization signal according to the external power supply (81
0 stage). The initialization signal serves to initialize the internal circuit as the same signal as the signal VCCHB output from the initialization circuit 100 of FIG. The semiconductor memory device receives a mode setting command (step 820). Then, the semiconductor memory device turns off the initialization circuit according to the received mode setting command (step 830). This can be implemented by configuring a circuit that can turn off the initialization circuit according to the mode setting command. Therefore, it is possible to reduce power consumption due to a constant DC current flowing through the initialization circuit even after power-up. Here, the mode setting instruction can be, for example, MRS in the synchronous DRAM and WCBR in the asynchronous DRAM, as in the first embodiment.

【0037】本発明の第6実施形態による初期化回路の
ターンオフ方法800は、前記810段階と前記820
段階の間に、前記半導体メモリ装置の全てのバンクをプ
リチャージするプリチャージ命令を受信する段階、及び
前記プリチャージ命令を受信した後、前記半導体メモリ
装置をリフレッシュするリフレッシュ命令を受信する段
階をさらに具備することもできる。
The initialization circuit turn-off method 800 according to the sixth embodiment of the present invention includes steps 810 and 820.
During the steps, a step of receiving a precharge command to precharge all banks of the semiconductor memory device, and a step of receiving a refresh command to refresh the semiconductor memory device after receiving the precharge command are further included. It can also be equipped.

【0038】図9は、本発明の第7実施形態による初期
化信号の発生方法を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flow chart showing a method of generating an initialization signal according to the seventh embodiment of the present invention.

【0039】図9を参照すれば、本発明の第7実施形態
による初期化信号の発生方法900では、半導体メモリ
装置は、まず、半導体メモリ装置の内部回路を初期化す
るためのモード設定命令を受信する(910段階)。そ
して、半導体メモリ装置は、前記受信されたモード設定
命令に応じて制御信号を発生し、前記制御信号を前記初
期化信号として使用する(920段階)。
Referring to FIG. 9, in a method 900 of generating an initialization signal according to a seventh embodiment of the present invention, the semiconductor memory device first issues a mode setting command for initializing an internal circuit of the semiconductor memory device. Receive (step 910). Then, the semiconductor memory device generates a control signal according to the received mode setting command and uses the control signal as the initialization signal (step 920).

【0040】第1乃至第6実施形態は、半導体メモリ装
置のパワー・アップ動作時に内部回路の不安定な動作を
初期化する方法に関するものである。すなわち、一般的
な初期化回路は、半導体メモリ装置のパワー・アップ動
作時に内部回路を初期化することが可能であるが、パワ
ー・オン状態で半導体メモリ装置の動作中に半導体メモ
リ装置を初期化できない。第7実施形態は、半導体メモ
リ装置の動作中に半導体メモリ装置を初期化する方法に
関するものである。
The first to sixth embodiments relate to a method of initializing an unstable operation of the internal circuit at the power-up operation of the semiconductor memory device. That is, the general initialization circuit can initialize the internal circuit at the power-up operation of the semiconductor memory device, but the semiconductor memory device is initialized during the operation of the semiconductor memory device in the power-on state. Can not. The seventh embodiment relates to a method of initializing a semiconductor memory device during operation of the semiconductor memory device.

【0041】図9の第7実施形態による初期化信号の発
生方法900は、まず、半導体メモリ装置の内部回路を
初期化するためのモード設定命令を受信する(910段
階)。ここで、モード設定命令は、例えば、同期式DR
AMではMRSとし、非同期式DRAMではWCBRと
することができる。
In the initialization signal generation method 900 according to the seventh embodiment of FIG. 9, first, a mode setting command for initializing the internal circuit of the semiconductor memory device is received (step 910). Here, the mode setting command is, for example, a synchronous DR.
It can be MRS for AM and WCBR for asynchronous DRAM.

【0042】半導体メモリ装置の動作中に半導体メモリ
装置を初期化する必要がある場合、初期化信号を発生す
るためのMRSを新たに設定する。MRSは、既存のも
のではなく、初期化信号を発生させるために新たに設定
されたMRSである。
When it is necessary to initialize the semiconductor memory device during the operation of the semiconductor memory device, the MRS for generating the initialization signal is newly set. The MRS is not the existing MRS but newly set to generate the initialization signal.

【0043】半導体メモリ装置は、受信されたモード設
定命令に応じて制御信号を発生し、前記制御信号を前記
初期化信号として使用する(920段階)。半導体メモ
リ装置を初期化するためのMRSが発せられると、MR
Sに応じて制御信号が発せられる。制御信号は、パルス
信号形態を有する信号である。一般的な初期化回路から
発せられる初期化信号はパルス状を有するため、制御信
号をパルス信号の形態にすることによって制御信号を初
期化信号として使用できる。
The semiconductor memory device generates a control signal according to the received mode setting command and uses the control signal as the initialization signal (step 920). When the MRS for initializing the semiconductor memory device is issued, the MR
A control signal is issued according to S. The control signal is a signal having a pulse signal form. Since the initialization signal emitted from a general initialization circuit has a pulse shape, the control signal can be used as the initialization signal by forming the control signal in the form of a pulse signal.

【0044】モード設定命令は、外部ピンを通じて前記
半導体メモリ装置へ印加される信号でありうる。すなわ
ち、半導体メモリ装置の動作中に半導体メモリ装置を初
期化する信号を印加できる別のピンをチップに装着し、
半導体メモリ装置を初期化する必要がある場合、このピ
ンを通じて信号を印加することができる。
The mode setting command may be a signal applied to the semiconductor memory device through an external pin. That is, another pin capable of applying a signal for initializing the semiconductor memory device during operation of the semiconductor memory device is mounted on the chip,
A signal can be applied through this pin if the semiconductor memory device needs to be initialized.

【0045】ここで、別のピンを用いて半導体メモリ装
置を初期化する場合には、モード設定命令は、MRSで
はなく、パルス状の信号である。
Here, when the semiconductor memory device is initialized by using another pin, the mode setting command is not a MRS but a pulse signal.

【0046】図11を参照して図9の第7実施形態によ
る初期化信号の発生方法900をより具体的に説明す
る。
The initialization signal generation method 900 according to the seventh embodiment of FIG. 9 will be described in more detail with reference to FIG.

【0047】図11は、図9の初期化信号の発生方法を
説明するブロック図である。図12は、図11の初期化
信号及び制御信号の波形を示す波形図である。初期化回
路100は、初期化信号VCCHBを発生する図1に示
された従来の初期化回路である。初期化回路100の内
部構成によって初期化信号VCCHBがハイレベルの場
合に内部回路1020が初期化でき、または初期化信号
VCCHBがローレベルの場合に内部回路1020を初
期化することもできる。
FIG. 11 is a block diagram illustrating a method of generating the initialization signal of FIG. FIG. 12 is a waveform diagram showing waveforms of the initialization signal and the control signal of FIG. Initialization circuit 100 is the conventional initialization circuit shown in FIG. 1 that generates initialization signal VCCHB. Depending on the internal configuration of the initialization circuit 100, the internal circuit 1020 can be initialized when the initialization signal VCCHB is at the high level, or the internal circuit 1020 can be initialized when the initialization signal VCCHB is at the low level.

【0048】ここでは、説明の便宜上、初期化信号VC
CHBがハイレベルの場合に内部回路1020が初期化
され、ローレベルであれば初期化信号VCCHBは内部
回路1020に影響を及ばないことにする。
Here, for convenience of explanation, the initialization signal VC is set.
The internal circuit 1020 is initialized when CHB is at a high level, and the initialization signal VCCHB does not affect the internal circuit 1020 when it is at a low level.

【0049】パワー・アップ動作時には外部電源の電圧
レベルが上昇し、初期化回路100の出力信号の初期化
信号VCCHBは外部電源の電圧レベルに伴って上昇
し、一定の電圧レベルに達するとローレベルとして発せ
られる。これは図12の(a)に示されている。
During the power-up operation, the voltage level of the external power supply rises, the initialization signal VCCCHB of the output signal of the initialization circuit 100 rises with the voltage level of the external power supply, and when it reaches a certain voltage level, it becomes low level. Is issued as. This is shown in FIG. 12 (a).

【0050】この時、制御信号CTRLSは、ローレベ
ルとして設定されている状態である。パワー・アップ動
作時には制御信号CTRLSはローレベルであり、初期
化信号VCCHBはハイレバルであるため、論理和手段
1010により初期化制御信号VCCHB_Aはハイレ
バルとして発せられる。すると、内部回路1020は初
期化制御信号VCCHB_Aにより初期化される。
At this time, the control signal CTRLS is set to the low level. Since the control signal CTRLS is at the low level and the initialization signal VCCHB is at the high level during the power-up operation, the OR control means 1010 outputs the initialization control signal VCCHB_A as the high level. Then, the internal circuit 1020 is initialized by the initialization control signal VCCHB_A.

【0051】初期化信号VCCHBがローレベルに遷移
されると初期化制御信号VCCH_Aもローレベルにな
る。初期化制御信号VCCHB_Aがローレベルの場
合、内部回路1020は初期化信号VCCHBの影響を
受けない。
When the initialization signal VCCHB changes to low level, the initialization control signal VCCH_A also changes to low level. When the initialization control signal VCCHB_A is at low level, the internal circuit 1020 is not affected by the initialization signal VCCHB.

【0052】半導体メモリ装置の動作中に半導体メモリ
装置を初期化する必要がある場合、まずモード設定信号
が発せられる。モード設定信号は、前述されたように、
例えばMRSまたはWCBRとすることができる。モー
ド設定命令が発せられると、モード設定命令に応じて制
御信号CTRLSが発せられる。制御信号CTRLSは
パルス状の信号である。
When it is necessary to initialize the semiconductor memory device during operation of the semiconductor memory device, a mode setting signal is first issued. The mode setting signal is, as described above,
It can be, for example, MRS or WCBR. When the mode setting command is issued, control signal CTRLS is issued in response to the mode setting command. The control signal CTRLS is a pulse signal.

【0053】したがって、制御信号CTRLSの立上り
エッジで初期化制御信号VCCHB_Aは論理和手段1
010によってハイレバルに遷移され、内部回路102
0は初期化される。制御信号CTRLSの立下りエッジ
で初期化制御信号VCCHB_Aはローレベルに遷移さ
れる。
Therefore, at the rising edge of the control signal CTRLS, the initialization control signal VCCHB_A is ORed 1
The internal circuit 102 is switched to high level by 010.
0 is initialized. At the falling edge of the control signal CTRLS, the initialization control signal VCCHB_A is changed to low level.

【0054】制御信号CTRLSと初期化制御信号VC
CHB_Aの動作波形が図12の(b)及び(c)に示
されている。
Control signal CTRLS and initialization control signal VC
The operation waveforms of CHB_A are shown in (b) and (c) of FIG.

【0055】図11において、初期化回路100を省い
て制御信号CTRLSを直接内部回路1020へ印加し
て内部回路1020を初期化する回路構成も考えられ
る。このような回路の動作も前述したモード設定命令や
制御信号CTRLSの動作は同一なのでその詳細な説明
は省略する。
In FIG. 11, it is also possible to omit the initialization circuit 100 and directly apply the control signal CTRLS to the internal circuit 1020 to initialize the internal circuit 1020. The operation of such a circuit is the same as the operation of the mode setting command and the control signal CTRLS described above, and thus detailed description thereof will be omitted.

【0056】図10は、本発明の第8実施形態による初
期化信号の発生方法を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flow chart showing a method of generating an initialization signal according to the eighth embodiment of the present invention.

【0057】図10を参照すれば、本発明の第8実施形
態による初期化信号の発生方法950では、半導体メモ
リ装置は、まず、半導体メモリ装置をプリチャージする
プリチャージ命令を受信する(960段階)。前記プリ
チャージ命令を受信した後、半導体メモリ装置は、内部
回路を初期化するためのモード設定命令を受信する(9
70段階)。そして、前記受信されたモード設定命令に
応じて制御信号を発生し、前記制御信号を前記初期化信
号として使用する(980段階)。
Referring to FIG. 10, in the method of generating an initialization signal 950 according to the eighth embodiment of the present invention, the semiconductor memory device first receives a precharge command for precharging the semiconductor memory device (step 960). ). After receiving the precharge command, the semiconductor memory device receives a mode setting command for initializing the internal circuit (9).
70 steps). Then, a control signal is generated according to the received mode setting command, and the control signal is used as the initialization signal (step 980).

【0058】プリチャージ命令は、半導体メモリ装置の
パワー・アップ動作時に発せられた後、半導体メモリ装
置の動作中にも発せられる。パワーがターンオンされた
直後に発せられるプリチャージ命令を除いて、プリチャ
ージ命令の発生は、半導体メモリ装置が書込や読出動作
中であることを表わす。
The precharge command is issued during the power-up operation of the semiconductor memory device and then during the operation of the semiconductor memory device. Except for the precharge command issued immediately after power is turned on, the generation of the precharge command indicates that the semiconductor memory device is in a write or read operation.

【0059】したがって、第8実施形態による初期化信
号の発生方法950は、半導体メモリ装置の動作中のプ
リチャージ命令を認識した後、前記第7実施形態の初期
化信号の発生方法900と同じ動作によって初期化信号
を発生する。図8の実施形態の初期化信号発生方法95
0は、プリチャージ信号により半導体メモリ装置の動作
状態を判断すること以外は、図7の実施形態の初期化信
号の発生方法900と同一なのでその詳細な説明は省略
する。
Therefore, the initialization signal generating method 950 according to the eighth embodiment operates in the same manner as the initialization signal generating method 900 according to the seventh embodiment after recognizing a precharge command during operation of the semiconductor memory device. Generates an initialization signal. Initialization signal generation method 95 of the embodiment of FIG.
0 is the same as the initialization signal generation method 900 of the embodiment of FIG. 7 except that the operation state of the semiconductor memory device is determined by the precharge signal, and thus detailed description thereof will be omitted.

【0060】以上、図面を参照しながら最適の実施形態
が開示された。ここで特定の用語が使われたが、これは
単に本発明を具体例を通して説明する目的において使わ
れたものであり、意味限定や特許請求の範囲に記載され
た本発明の範囲を制限するために使われたものではな
い。したがって、当業者ならば、これより多様な変形及
び均等な他の実施形態の採用が可能である。従って、本
発明の真の技術的保護範囲は特許請求の範囲に基づいて
決定されるべきである。
The optimum embodiment has been disclosed above with reference to the drawings. Although specific terms have been used herein, they are merely used to describe the present invention through specific examples, and are intended to limit the meaning and scope of the present invention as set forth in the claims. It was not used for. Therefore, those skilled in the art can adopt various modifications and equivalent other embodiments. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined based on the appended claims.

【0061】[0061]

【発明の効果】前述したように、本発明に係る初期化信
号の発生方法によれば、初期化回路が占めるレイアウト
面積とパワー・アップ時の該回路の電力消耗を削減する
ことができる。
As described above, according to the initialization signal generating method of the present invention, the layout area occupied by the initialization circuit and the power consumption of the circuit at power-up can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】パワー・アップの瞬間の内部回路の不安定な動
作を防ぐ初期化回路を示す図面である。
FIG. 1 is a diagram showing an initialization circuit for preventing unstable operation of an internal circuit at the moment of power-up.

【図2】初期化信号を用いて内部回路を初期化させる回
路の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a circuit that initializes an internal circuit using an initialization signal.

【図3】本発明の第1実施形態による初期化信号の発生
方法を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to the first exemplary embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2実施形態による初期化信号の発生
方法を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to a second exemplary embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施形態による初期化信号の発生
方法を示すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to a third exemplary embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4実施形態による初期化信号の発生
方法を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to a fourth exemplary embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第5実施形態による初期化信号のター
ンオフ方法を示すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart illustrating a method of turning off an initialization signal according to a fifth exemplary embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第6実施形態による初期化信号のター
ンオフ方法を示すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart illustrating a method of turning off an initialization signal according to a sixth exemplary embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第7実施形態による初期化信号の発生
方法を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to a seventh exemplary embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第8実施形態による初期化信号の発
生方法を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart illustrating a method of generating an initialization signal according to an eighth exemplary embodiment of the present invention.

【図11】図9の初期化信号の発生方法を説明するブロ
ック図である。
11 is a block diagram illustrating a method of generating the initialization signal of FIG.

【図12】図11の初期化信号及び制御信号の波形を示
す波形図である。
FIG. 12 is a waveform diagram showing waveforms of the initialization signal and the control signal of FIG. 11.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 李在▲ひょん▼ 大韓民国京畿道城南市盆唐区九美洞222番 地ムジガエマウル建栄アパート1002棟603 号 Fターム(参考) 5M024 AA01 AA51 BB30 BB32 GG12 HH09 HH11 PP02 PP03 PP10   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Lee             222 Kumi-dong, Bundang-gu, Seongnam-si, Gyeonggi-do, Republic of Korea             Local Mujigaemaul Kenei apartment 1002 603             issue F term (reference) 5M024 AA01 AA51 BB30 BB32 GG12                       HH09 HH11 PP02 PP03 PP10

Claims (27)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部電源の印加による半導体メモリ装置
の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信号
の発生方法において、(a)前記半導体メモリ装置をプ
リチャージするプリチャージ命令を受信する段階と、
(b)前記受信されたプリチャージ命令に応じて前記初
期化信号を第1レベルに活性化する段階と、(c)前記
プリチャージ命令を受信した後、前記半導体メモリ装置
をリフレッシュするためのリフレッシュ命令を受信する
段階と、(d)前記リフレッシュ命令を受信した後、前
記半導体メモリ装置の動作モードを設定するモード設定
命令を受信する段階と、(e)前記受信されたモード設
定命令に応じて前記初期化信号を第2レベルに非活性化
する段階とを具備することを特徴とする初期化信号の発
生方法。
1. A method of generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source, comprising: (a) receiving a precharge command for precharging the semiconductor memory device. Stage
(B) activating the initialization signal to a first level according to the received precharge command, and (c) refreshing the semiconductor memory device after refreshing the precharge command. Receiving a command, (d) receiving a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device after receiving the refresh command, and (e) responding to the received mode setting command. A step of deactivating the initialization signal to a second level.
【請求項2】 前記モード設定命令は、同期式DRAM
ではMRS(Mode Register Set)であることを特徴とす
る請求項1に記載の初期化信号の発生方法。
2. The mode setting command is a synchronous DRAM.
2. The method of generating an initialization signal according to claim 1, wherein is an MRS (Mode Register Set).
【請求項3】 前記モード設定命令は、非同期式DRA
MではWCBR(Write Column Address Strobe Before
Row Address Strobe)であることを特徴とする請求項1
に記載の初期化信号の発生方法。
3. The mode setting command is an asynchronous DRA.
In M, WCBR (Write Column Address Strobe Before)
Row Address Strobe).
The method for generating the initialization signal described in.
【請求項4】 外部電源の印加による半導体メモリ装置
の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信号
の発生方法において、(a)前記半導体メモリ装置をプ
リチャージするプリチャージ命令を受信する段階と、
(b)前記受信されたプリチャージ命令に応じて自動パ
ルスを発生して前記初期化信号として使用する段階とを
具備することを特徴とする初期化信号の発生方法。
4. A method of generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source, comprising: (a) receiving a precharge command for precharging the semiconductor memory device. Stage
(B) generating an automatic pulse according to the received precharge command and using the pulse as the initialization signal.
【請求項5】 外部電源の印加による半導体メモリ装置
の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信号
の発生方法において、(a)前記半導体メモリ装置の動
作モードを設定するモード設定命令を受信する段階と、
(b)前記受信されたモード設定命令に応じて自動パル
スを発生して前記初期化信号として使用する段階とを具
備することを特徴とする初期化信号発生方法。
5. A method for generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source, comprising: (a) a mode setting instruction for setting an operation mode of the semiconductor memory device. And the stage of receiving
(B) generating an automatic pulse according to the received mode setting command and using the pulse as the initialization signal.
【請求項6】 前記モード設定命令は、同期式DRAM
ではMRSであることを特徴とする請求項5に記載の初
期化信号の発生方法。
6. The mode setting command is a synchronous DRAM.
6. The method for generating an initialization signal according to claim 5, wherein is an MRS.
【請求項7】 前記モード設定命令は、非同期式DRA
MではWCBRであることを特徴とする請求項5に記載
の初期化信号の発生方法。
7. The mode setting command is an asynchronous DRA.
The method for generating an initialization signal according to claim 5, wherein M is WCBR.
【請求項8】 前記初期化信号の発生方法は、前記
(a)段階の前に、(a1)前記半導体メモリ装置をプ
リチャージするプリチャージ命令を受信する段階と、
(a2)前記プリチャージ命令を受信した後、前記半導
体メモリ装置をリフレッシュするためのリフレッシュ命
令を受信する段階とをさらに具備することを特徴とする
請求項5に記載の初期化信号の発生方法。
8. The method of generating the initialization signal comprises: (a1) receiving a precharge command for precharging the semiconductor memory device before the step (a);
The method according to claim 5, further comprising: (a2) receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the precharge command.
【請求項9】 外部電源の印加による半導体メモリ装置
の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化回路
を用いて、前記半導体メモリ装置の内部回路の不安定な
初期動作を防ぐための初期化信号の発生方法において、
(a)前記外部電源に応じて前記初期化回路が予備初期
化信号を発生する段階と、(b)前記半導体メモリ装置
の動作モードを設定するモード設定命令を受信する段階
と、(c)前記予備初期化信号及び前記受信されたモー
ド設定命令に応じて自動パルスを発生して前記初期化信
号として使用する段階とを具備することを特徴とする初
期化信号の発生方法。
9. An initialization circuit for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to the application of an external power source to prevent an unstable initial operation of an internal circuit of the semiconductor memory device. In the method of generating the initialization signal,
(A) the initialization circuit generates a preliminary initialization signal in response to the external power supply; (b) receives a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device; and (c) the above. Generating an automatic pulse according to the received initialization command and the received mode setting command and using the pulse as the initialization signal.
【請求項10】 前記モード設定命令は、同期式DRA
MではMRSであることを特徴とする請求項9に記載の
内部ノード初期化信号の発生方法。
10. The mode setting command is a synchronous DRA.
The method for generating an internal node initialization signal according to claim 9, wherein M is MRS.
【請求項11】 前記モード設定命令は、非同期式DR
AMではWCBRであることを特徴とする請求項9に記
載の内部ノード初期化信号の発生方法。
11. The mode setting command is an asynchronous DR.
The method for generating an internal node initialization signal according to claim 9, wherein the AM is WCBR.
【請求項12】 前記初期化信号の発生方法は、(d)
前記発された初期化信号に応じて前記初期化回路をター
ンオフさせる段階をさらに具備することを特徴とする請
求項9に記載の内部ノード初期化信号の発生方法。
12. The method of generating the initialization signal is (d)
The method of claim 9, further comprising turning off the initialization circuit according to the issued initialization signal.
【請求項13】 前記初期化信号の発生方法は、前記
(a)段階と前記(b)段階との間に、(b1)前記半
導体メモリ装置をプリチャージするプリチャージ命令を
受信する段階と、(b2)前記プリチャージ命令を受信
した後、前記半導体メモリ装置をリフレッシュするため
のリフレッシュ命令を受信する段階とをさらに具備する
ことを特徴とする請求項9に記載の初期化信号の発生方
法。
13. The method of generating the initialization signal comprises: (b1) receiving a precharge command for precharging the semiconductor memory device between steps (a) and (b). 10. The method of generating an initialization signal according to claim 9, further comprising the step of: (b2) receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the precharge command.
【請求項14】 前記初期化信号の発生方法は、前記
(c)段階後に、(d)前記発された初期化信号に応じ
て前記初期化回路をターンオフさせる段階をさらに具備
することを特徴とする請求項13に記載の内部ノード初
期化信号の発生方法。
14. The method of generating the initialization signal further comprises, after the step (c), a step (d) of turning off the initialization circuit according to the issued initialization signal. 14. The method of generating an internal node initialization signal according to claim 13.
【請求項15】 外部電源の印加による半導体メモリ装
置の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信
号を発生する初期化回路をターンオフさせる方法におい
て、(a)前記外部電源に応じて前記初期化回路が初期
化信号を発生する段階と、(b)前記半導体メモリ装置
をプリチャージするプリチャージ命令を受信する段階
と、(c)前記プリチャージ命令に応じて前記初期化回
路をターンオフさせる段階とを具備することを特徴とす
る初期化回路のターンオフ方法。
15. A method of turning off an initialization circuit for generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device by application of an external power source, comprising: (a) responding to the external power source. The initialization circuit generates an initialization signal, (b) receives a precharge command for precharging the semiconductor memory device, and (c) turns off the initialization circuit in response to the precharge command. And a turn-off method for an initialization circuit.
【請求項16】 外部電源の印加による半導体メモリ装
置の内部回路の不安定な初期動作を防ぐための初期化信
号を発生する初期化回路をターンオフさせる方法におい
て、(a)前記外部電源に応じて前記初期化回路が初期
化信号を発生する段階と、(b)前記半導体メモリ装置
の動作モードを設定するモード設定命令を受信する段階
と、(c)前記モード設定命令に応じて前記初期化回路
をターンオフさせる段階とを具備することを特徴とする
初期化回路のターンオフ方法。
16. A method of turning off an initialization circuit for generating an initialization signal for preventing an unstable initial operation of an internal circuit of a semiconductor memory device due to application of an external power source, comprising: (a) responding to the external power source; The initialization circuit generates an initialization signal, (b) receives a mode setting command for setting an operation mode of the semiconductor memory device, and (c) the initialization circuit according to the mode setting command. And a turn-off step of turning off the initialization circuit.
【請求項17】 前記モード設定命令は、同期式DRA
MではMRSであることを特徴とする請求項16に記載
の内部ロード初期化信号の発生方法。
17. The mode setting command is a synchronous DRA.
The method for generating an internal load initialization signal according to claim 16, wherein M is MRS.
【請求項18】 前記モード設定命令は、非同期式DR
AMではWCBRであることを特徴とする請求項16に
記載の内部ノード初期化信号の発生方法。
18. The mode setting command is an asynchronous DR.
17. The method of generating an internal node initialization signal according to claim 16, wherein the AM is WCBR.
【請求項19】 前記初期化信号の発生方法は、前記
(a)段階と前記(b)段階との間に、(b1)前記半
導体メモリ装置をプリチャージするプリチャージ命令を
受信する段階と、(b2)前記プリチャージ命令を受信
した後、前記半導体メモリ装置をリフレッシュするため
のリフレッシュ命令を受信する段階とをさらに具備する
ことを特徴とする請求項16に記載の初期化信号の発生
方法。
19. The method of generating an initialization signal comprises: (b1) receiving a precharge command for precharging the semiconductor memory device between the steps (a) and (b). The method according to claim 16, further comprising: (b2) receiving a refresh command for refreshing the semiconductor memory device after receiving the precharge command.
【請求項20】 半導体メモリ装置の内部回路を初期化
させる初期化信号の発生方法において、(a)前記内部
回路を初期化するためのモード設定命令を受信する段階
と、(b)前記受信されたモード設定命令に応じて制御
信号を発生し、前記制御信号を前記初期化信号として使
用する段階とを具備することを特徴とする初期化信号の
発生方法。
20. A method of generating an initialization signal for initializing an internal circuit of a semiconductor memory device, comprising: (a) receiving a mode setting command for initializing the internal circuit; and (b) receiving the mode setting command. Generating a control signal according to the mode setting command and using the control signal as the initialization signal.
【請求項21】 前記モード設定命令は、外部ピンを通
じて前記半導体メモリ装置へ印加される信号であること
を特徴とする請求項20に記載の初期化信号の発生方
法。
21. The method of claim 20, wherein the mode setting command is a signal applied to the semiconductor memory device through an external pin.
【請求項22】 前記モード設定命令は、同期式DRA
MではMRSであることを特徴とする請求項20に記載
の初期化信号の発生方法。
22. The mode setting command is a synchronous DRA.
21. The method for generating an initialization signal according to claim 20, wherein M is MRS.
【請求項23】 前記モード設定命令は、非同期式DR
AMではWCBRであることを特徴とする請求項20に
記載の初期化信号の発生方法。
23. The mode setting command is an asynchronous DR.
21. The method of generating an initialization signal according to claim 20, wherein the AM is WCBR.
【請求項24】 半導体メモリ装置の内部回路を初期化
させる初期化信号の発生方法において、(a)前記半導
体メモリ装置をプリチャージするプリチャージ命令を受
信する段階と、(b)前記プリチャージ命令を受信した
後、前記内部回路を初期化するためのモード設定命令を
受信する段階と、(c)前記受信されたモード設定命令
に応じて制御信号を発生し、前記制御信号を前記初期化
信号として使用する段階とを具備することを特徴とする
初期化信号の発生方法。
24. A method of generating an initialization signal for initializing an internal circuit of a semiconductor memory device, comprising: (a) receiving a precharge command to precharge the semiconductor memory device; and (b) the precharge command. Receiving a mode setting command for initializing the internal circuit after receiving, and (c) generating a control signal according to the received mode setting command and setting the control signal to the initialization signal. The method for generating an initialization signal, comprising:
【請求項25】 前記モード設定命令は、外部ピンを通
じて前記半導体メモリ装置へ印加される信号であること
を特徴とする請求項24に記載の初期化信号の発生方
法。
25. The method of claim 24, wherein the mode setting command is a signal applied to the semiconductor memory device through an external pin.
【請求項26】前記モード設定命令は、同期式DRAM
ではMRSであることを特徴とする請求項24に記載の
初期化信号の発生方法。
26. The mode setting command is a synchronous DRAM.
25. The method of generating an initialization signal according to claim 24, wherein is MRS.
【請求項27】 前記モード設定命令は、非同期式DR
AMではWCBRであることを特徴とする請求項24に
記載の初期化信号の発生方法。
27. The mode setting command is an asynchronous DR.
25. The method of generating an initialization signal according to claim 24, wherein the AM is WCBR.
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