JP2003017519A - Resin sealing apparatus for semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Resin sealing apparatus for semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device

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JP2003017519A
JP2003017519A JP2001200844A JP2001200844A JP2003017519A JP 2003017519 A JP2003017519 A JP 2003017519A JP 2001200844 A JP2001200844 A JP 2001200844A JP 2001200844 A JP2001200844 A JP 2001200844A JP 2003017519 A JP2003017519 A JP 2003017519A
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JP
Japan
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cavity
resin
semiconductor device
upper mold
resin sealing
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Application number
JP2001200844A
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Japanese (ja)
Inventor
Toru Ueno
透 上野
Hiromichi Yamada
弘道 山田
Tetsuya Hirose
哲也 広瀬
Katsuaki Madarame
克明 斑目
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Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a means by which accumulated error of components in a resin sealing apparatus for a semiconductor device can be reduced or excluded and adjustments to the thickness of inserts and positions or the like can be make unnecessary. SOLUTION: In an upper mold D1 of the resigning seal apparatus, holes 4 to be located in both sides of an upper mold cavity 1 are formed at cavity inserts 3, and a first and a second upper mold side surface cavity peaces 6, 8 are inserted into these holes 4. Then the cavity is formed by the cavity insert 3 of the upper mold D1 and both upper mold side surface cavity peaces 6, 8, and the cavity insert of a lower mold and lower die side surface cavity peaces. As a result, the accumulated error of components constituting the resin sealing apparatus is reduced and thus adjustments to the thickness of inserts and positions or the like become unnecessary.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の樹脂
封止装置と半導体装置の製造方法とに関するものであ
る。より詳しくは、リードフレームに搭載され、かつボ
ンディングワイヤー等により接続されている半導体素子
をモールド樹脂によって封止する際に用いられる半導体
樹脂封止用モールド金型に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin sealing device for a semiconductor device and a method for manufacturing the semiconductor device. More specifically, the present invention relates to a semiconductor resin sealing mold die used when sealing a semiconductor element mounted on a lead frame and connected by a bonding wire or the like with a molding resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、半導体装置においては、リード
フレームに半導体素子が搭載され、この半導体素子にボ
ンディングワイヤ、リード等の各種配線が接続されてい
る。そして、かかる半導体装置には、半導体素子ないし
はこれに接続された配線を保護するために、樹脂封止が
施される。かかる半導体装置の樹脂封止装置としては、
例えば特開平6−238672号公報、特開平3−77
335号公報あるいは特開平5−15961号公報にも
開示されているように、モールド金型ないしは樹脂封止
用金型を用いたものが広く用いられている。
2. Description of the Related Art Generally, in a semiconductor device, a semiconductor element is mounted on a lead frame, and various wirings such as bonding wires and leads are connected to the semiconductor element. The semiconductor device is resin-sealed in order to protect the semiconductor element or the wiring connected to the semiconductor element. As a resin sealing device for such a semiconductor device,
For example, JP-A-6-238672 and JP-A-3-77
As disclosed in Japanese Patent No. 335 or Japanese Patent Laid-Open No. 5-15961, a mold using a mold or a resin-sealing mold is widely used.

【0003】具体的には、このような樹脂封止装置とし
て、例えば、トランスファ成形プレスに装着された上下
2つの型板を型締めした後、プランジャによってトラン
スファポット内のレジンタブレットをキャビティ内に圧
送し、成形を行うようにしたものが知られている。この
種の樹脂封止装置は、一般に、一方のパッケージを形成
するキャビティを有する上側型板と、上側型板の下方に
進退自在に設けられた他方のパッケージを形成するキャ
ビティを有する下側型板と、両型板内に各々収納され各
キャビティの内部に進退するエジェクターピンを有する
突き出し機構とを備えている。なお、上側型板の中央部
には、タブレット加圧用のプランジャが進退するトラン
スファポットが設けられる。
Specifically, as such a resin sealing device, for example, after clamping two upper and lower mold plates mounted on a transfer molding press, a resin tablet in a transfer pot is pressure fed into a cavity by a plunger. However, it is known that molding is performed. This type of resin sealing device generally includes an upper mold plate having a cavity for forming one package and a lower mold plate having a cavity for forming the other package provided below the upper mold plate so as to be movable back and forth. And a ejecting mechanism having ejector pins housed in both mold plates and advancing and retracting inside each cavity. In addition, a transfer pot in which a plunger for pressing the tablet advances and retracts is provided at the center of the upper template.

【0004】図7は、従来のこの種の樹脂封止装置に装
着されるモールド金型の縦断面図である。また、図8
は、図7に示すモールド金型の上型の下面平面図であ
る。図7及び図8に示すように、モールド金型は、上型
Dと下型Lとで構成されている。ここで、上型Dには、
上型キャビティ1を有する上型キャビティインサート1
7と、ゲート5を有する上型側面キャビティインサート
18と、エアベント7を有する上型側面キャビティイン
サート19と、ランナ2を有するランナインサート20
と、カル21を有する上型リテーナ22とが設けられて
いる。なお、上型リテーナ22は、上記各インサート1
7〜20を保持している。
FIG. 7 is a vertical cross-sectional view of a molding die mounted on a conventional resin sealing device of this type. Also, FIG.
FIG. 8 is a bottom plan view of the upper die of the molding die shown in FIG. 7. As shown in FIGS. 7 and 8, the molding die is composed of an upper die D and a lower die L. Here, in the upper mold D,
Upper mold cavity insert 1 having upper mold cavity 1
7, an upper mold side surface cavity insert 18 having a gate 5, an upper mold side surface cavity insert 19 having an air vent 7, and a runner insert 20 having a runner 2.
And an upper retainer 22 having a cull 21. It should be noted that the upper die retainer 22 corresponds to each of the inserts 1 described above.
Holds 7 to 20.

【0005】他方、下型Lには、下型キャビティ26を
有する下型キャビティインサート27と、下型側面キャ
ビティインサート28と、エアベント(図示せず)を有
する下型側面キャビティインサート29とが設けられて
いる。上型Dと下型Lの間に配置されたリードフレーム
23には、ダイパットフレーム25を介して、半導体素
子24が搭載されている。なお、半導体素子24にはリ
ード30が接続されている。
On the other hand, the lower mold L is provided with a lower mold cavity insert 27 having a lower mold cavity 26, a lower mold lateral cavity insert 28, and a lower mold lateral cavity insert 29 having an air vent (not shown). ing. A semiconductor element 24 is mounted on a lead frame 23 arranged between the upper die D and the lower die L via a die pad frame 25. A lead 30 is connected to the semiconductor element 24.

【0006】次に、モールド金型の動作を説明する。ま
ず、リード30が露出する方のフレーム面23aが上向
きとなり、ダイパット25が露出する方のフレーム面2
3bが下向きとなるようにして、上型Dと下型Lとの間
にリードフレーム23が挟み込まれる。このとき、リー
ドフレーム23は、ある部分では上型キャビティインサ
ート17と下型キャビティインサート27との間に挟ま
れ、別の部分では上型側面キャビティインサート18
(凸形状)と下側側面キャビティインサート28(凹形
状)との間に挟まれ、さらに別の部分では上型側面キャ
ビティインサート19(凸形状)と下側側面キャビティ
インサート29(凹形状)との間に挟まれる。この後、
上型キャビティ1と下型キャビティ26とにモールド樹
脂が注入され、半導体素子24ないしはリード30が樹
脂封止され、パッケージが形成される。
Next, the operation of the molding die will be described. First, the frame surface 23a on which the leads 30 are exposed faces upward, and the frame surface 2 on which the die pad 25 is exposed.
The lead frame 23 is sandwiched between the upper die D and the lower die L so that the surface 3b faces downward. At this time, the lead frame 23 is sandwiched between the upper die cavity insert 17 and the lower die cavity insert 27 in a certain portion, and the upper die side cavity insert 18 in another portion.
It is sandwiched between the (convex shape) and the lower side surface cavity insert 28 (concave shape), and in another portion, the upper mold side surface cavity insert 19 (convex shape) and the lower side surface cavity insert 29 (concave shape). Sandwiched between. After this,
Mold resin is injected into the upper mold cavity 1 and the lower mold cavity 26, and the semiconductor element 24 or the leads 30 are resin-sealed to form a package.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の樹
脂封止装置のモールド金型では、加工精度上の要請によ
り、キャビティ1、26の側壁をなすインサートは、凹
状又は凸状の各インサート18、19、28、29に分
割された構成とされている。このため、モールド金型の
組立時に、各インサート18、19、28、29の厚み
加工精度の誤差が累積され、所定の金型性能(例えば、
キャビティとフレームとのずれ、上型キャビティと下型
キャビティのずれ等)を満足することが困難であるとい
った問題がある。
As described above, in the molding die of the conventional resin sealing device, the inserts forming the side walls of the cavities 1 and 26 are concave or convex due to the requirement of processing accuracy. It is divided into 18, 19, 28, and 29. Therefore, when assembling the molding die, the errors in the thickness machining accuracy of the inserts 18, 19, 28, and 29 are accumulated, and the predetermined die performance (for example,
There is a problem that it is difficult to satisfy the deviation between the cavity and the frame and the deviation between the upper mold cavity and the lower mold cavity.

【0008】また、近年における半導体装置のリードフ
レームのパッケージレイアウトは、より多くのパッケー
ジを効率よく製造するために多列化が進んでいる。この
ため、樹脂封止装置のインサートの分割数が非常に多く
なる。このようにインサートの分割数が増加する結果、
金型性能を満足させるために、金型組立時にキャビティ
中心等を測定してインサートの厚み調整を行うことが必
要となる。このため、金型組立完了までに要する時間が
長くなり、モールド金型の製作コストの上昇あるいは長
納期化につながるといった問題がある。
Further, in recent years, the package layout of the lead frame of the semiconductor device has been multi-rowed in order to efficiently manufacture more packages. For this reason, the number of divisions of the insert of the resin sealing device becomes very large. As a result of increasing the number of insert divisions,
In order to satisfy the mold performance, it is necessary to measure the center of the cavity and adjust the thickness of the insert when assembling the mold. Therefore, there is a problem that it takes a long time to complete the mold assembly, which leads to an increase in the manufacturing cost of the mold and a longer delivery time.

【0009】さらに、金型の清掃、部品交換等により分
解・再組立の際にインサートの組込み位置を間違える
と、製品不良が生じる場合がある。したがって、インサ
ートの位置や厚みの管理作業が必要となる。また、イン
サートの交換部品を保有する場合、保有数はインサート
の数に比例して多くなる。このため、金型の製作、管理
等に要するトータルコストの上昇につながるといった問
題がある。
Further, if the insertion position of the insert is wrong at the time of disassembling and reassembling due to cleaning of the mold, replacement of parts, etc., product defects may occur. Therefore, it is necessary to manage the position and thickness of the insert. Further, when the replacement parts of the insert are held, the number of holding parts increases in proportion to the number of inserts. For this reason, there is a problem that the total cost required for manufacturing and managing the mold is increased.

【0010】本発明は、上記従来の問題を解決するため
になされたものであって、半導体装置の樹脂封止装置に
おける部品の累積誤差(累積公差)を低減ないしは排除
することができ、インサートの厚さ、位置等の調整を不
要とすることができ、モールド金型の高精度化、コスト
低減等を達成することができる手段を提供することを目
的、ないしは解決すべき課題とする。
The present invention has been made to solve the above conventional problems, and can reduce or eliminate the cumulative error (cumulative tolerance) of parts in a resin sealing device for a semiconductor device, and It is an object or an object to be solved to provide means capable of eliminating the need for adjustment of thickness, position, etc., and achieving high precision of a molding die, cost reduction, and the like.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
になされた本発明は、半導体装置の樹脂封止装置におい
て、キャビティインサートに穴加工、溝加工を施し、こ
の穴部ないしは溝加工部に、凹形状又は凸形状の側面キ
ャビティピース、キャビティインサート等を組み込むこ
とを基本的特徴とする。これにより、この樹脂封止装置
においては、部品の厚み調整が不要となり、部品の位
置、厚み等の管理を行うことなく、インサートを金型に
組み込むことができる。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention, which has been made to solve the above-mentioned problems, provides a cavity encapsulation and groove processing for a cavity insert in a resin sealing device for a semiconductor device. The basic feature is to incorporate a concave or convex side surface cavity piece, a cavity insert, and the like. As a result, in this resin sealing device, it is not necessary to adjust the thickness of the component, and the insert can be incorporated in the mold without managing the position and thickness of the component.

【0012】具体的には、本発明の第1の態様にかかる
半導体装置の樹脂封止装置は、(i)上型と下型とによ
って形成されるキャビティに、半導体素子を搭載してい
るリードフレームを収容し、キャビティ内に樹脂を充填
(注入)して半導体素子を樹脂で封止するようになって
いる半導体装置の樹脂封止装置において、(ii)上型及
び下型にそれぞれキャビティインサートが設けられてい
て、各キャビティインサートにおいて各キャビティ毎に
それぞれ、キャビティの両側部に位置する穴部が形成さ
れ、(iii)上型及び下型に対してそれぞれ、穴部に挿
入されてキャビティの両側壁をなすキャビティピースが
設けられていて、上型のキャビティピースと下型のキャ
ビティピースとは、互いに、(それぞれのキャビティイ
ンサートに対して)一方が凹状となり他方が凸状となる
ような形状に形成され、(iv)上型のキャビティインサ
ート及びキャビティピースと、下型のキャビティインサ
ート及びキャビティピースとで上記キャビティを形成す
るようになっていることを特徴とするものである。
Specifically, in a resin sealing device for a semiconductor device according to a first aspect of the present invention, (i) a lead having a semiconductor element mounted in a cavity formed by an upper die and a lower die. A resin encapsulation device for a semiconductor device in which a frame is housed and a semiconductor element is encapsulated with resin by filling (injecting) resin into a cavity, and (ii) a cavity insert in each of an upper mold and a lower mold. Is provided, and in each of the cavity inserts, a hole located on each side of the cavity is formed for each cavity, and (iii) is inserted into the hole for each of the upper mold and the lower mold and Cavity pieces forming both side walls are provided, and the upper mold cavity piece and the lower mold cavity piece are mutually (for each cavity insert). One has a concave shape and the other has a convex shape, and (iv) the cavity is formed by the upper mold cavity insert and cavity piece and the lower mold cavity insert and cavity piece. It is characterized by that.

【0013】本発明の第2の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1の態様にかかる樹脂封止装置にお
いて、穴部が、各キャビティ毎ではなく、複数のキャビ
ティにまたがって(わたって)形成され、該穴部に挿入
されたキャビティピースが該複数のキャビティの側壁を
なすように形成されていることを特徴とするものであ
る。
A resin sealing device for a semiconductor device according to a second aspect of the present invention is the resin sealing device according to the first aspect, in which the hole portion extends over a plurality of cavities instead of each cavity ( And a cavity piece inserted into the hole is formed so as to form a side wall of the plurality of cavities.

【0014】本発明の第3の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1の態様にかかる樹脂封止装置にお
いて、各キャビティインサートにそれぞれ、穴部に代え
て、複数の(一列全部の)キャビティにまたがって伸
び、該複数のキャビティの側壁をなすキャビティピース
が挿入される溝加工部が形成されていることを特徴とす
るものである。
A resin encapsulation device for a semiconductor device according to a third aspect of the present invention is the resin encapsulation device according to the first aspect, wherein each cavity insert is replaced with a plurality of (all in one row) instead of holes. (1) A grooved portion is formed which extends over the cavities and into which the cavity pieces forming the side walls of the plurality of cavities are inserted.

【0015】本発明の第4の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1〜第3の態様のいずれか1つにか
かる樹脂封止装置において、上型のキャビティインサー
ト及びキャビティピースと、下型のキャビティインサー
ト及びキャビティピースとでリードフレームの上下面を
挟持しつつ、半導体素子を樹脂で封止することを特徴と
するものである。
A resin sealing device for a semiconductor device according to a fourth aspect of the present invention is the resin sealing device according to any one of the first to third aspects, in which the upper mold cavity insert and the cavity piece are provided. The semiconductor element is sealed with resin while sandwiching the upper and lower surfaces of the lead frame with the lower mold cavity insert and the cavity piece.

【0016】本発明の第5の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1〜第4の態様のいずれか1つにか
かる樹脂封止装置において、キャビティピースと穴部と
がそれぞれ同一傾斜度の傾斜面を備えていて、キャビテ
ィピースがその傾斜面を穴部の傾斜面に当接させること
により、穴部内で位置決めないしは固定される(組み込
まれる)ことを特徴とするものである。
A resin sealing device for a semiconductor device according to a fifth aspect of the present invention is the resin sealing device according to any one of the first to fourth aspects, wherein the cavity piece and the hole are the same. The cavity piece is provided with an inclined surface, and the cavity piece is positioned or fixed (assembled) in the hole portion by bringing the inclined surface into contact with the inclined surface of the hole portion.

【0017】本発明の第6の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1〜第5の態様のいずれか1つにか
かる樹脂封止装置において、キャビティを挟んで対抗す
る2つのキャビティピースの一方に、樹脂をキャビティ
に導入するゲートが設けられていることを特徴とするも
のである。
A resin encapsulation device for a semiconductor device according to a sixth aspect of the present invention is the resin encapsulation device according to any one of the first to fifth aspects, wherein two cavities sandwiching the cavity are opposed to each other. One of the pieces is provided with a gate for introducing the resin into the cavity.

【0018】本発明の第7の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第6の態様にかかる樹脂封止装置にお
いて、ゲートが設けられたキャビティピースと、キャビ
ティを挟んで対向するキャビティピース(他方のキャビ
ティピース)に、エアベントが設けられていることを特
徴とするものである。
A resin sealing device for a semiconductor device according to a seventh aspect of the present invention is the resin sealing device according to the sixth aspect, wherein the cavity piece facing the cavity piece provided with the gate is sandwiched between the cavity piece and the cavity piece. An air vent is provided in (the other cavity piece).

【0019】本発明の第8の態様にかかる半導体装置の
樹脂封止装置は、第1〜第7の態様のいずれか1つにか
かる樹脂封止装置において、ゲートがランナを介してト
ランスァポットに接続されていて、トランスファポット
からキャビティに樹脂が供給されるようになっているこ
とを特徴とするものである。
A resin encapsulation device for a semiconductor device according to an eighth aspect of the present invention is the resin encapsulation device according to any one of the first to seventh aspects, wherein the gate is a transpot via a runner. And the resin is supplied from the transfer pot to the cavity.

【0020】本発明にかかる半導体装置の製造方法は、
本発明の第1〜第8の態様のいずれか1つにかかる樹脂
封止装置を用いてリードフレームに搭載されている半導
体素子を樹脂で封止し、パッケージ化された半導体装置
を製造することを特徴とするものである。
A method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention is
Manufacturing a packaged semiconductor device by sealing a semiconductor element mounted on a lead frame with a resin using the resin sealing device according to any one of the first to eighth aspects of the present invention. It is characterized by.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
的に説明する。 実施の形態1.まず、本発明の実施の形態1を図面に基
づいて説明する。図1は、本発明の実施の形態1にかか
る、半導体装置の樹脂封止装置(半導体樹脂封止用モー
ルド金型)を構成する上型の下面平面図である。図2
は、図1に示す上型の要部の斜視図である。なお、図示
していないが、この樹脂封止装置は、上型と下型とで構
成されている(図7参照)。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be specifically described below. Embodiment 1. First, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a bottom plan view of an upper mold forming a resin sealing device (semiconductor resin sealing mold die) of a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. Figure 2
[Fig. 2] is a perspective view of a main part of the upper mold shown in Fig. 1. Although not shown, this resin sealing device is composed of an upper mold and a lower mold (see FIG. 7).

【0022】図1及び図2に示すように、半導体装置の
樹脂封止装置の上型D1には、1列に並ぶ3つの上型キ
ャビティ1とキャビティ配列方向に伸びるランナ2とを
備えたキャビティインサート3が設けられている。な
お、図示していないが、キャビティインサート3には、
このように配置された上型キャビティ3の列及びランナ
2が、複数組、キャビティ配列方向と垂直な方向(図1
中では左右方向)に並んで設けられている(図7参
照)。また、この上型D1には、図7及び図8に示す従
来のモールド金型の上型Dと同様に、カル21を有する
上型リテーナ22が設けられている。そして、キャビテ
ィインサート3は、上型リテーナ22によって保持され
ている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the upper mold D1 of the resin sealing device for a semiconductor device has a cavity provided with three upper mold cavities 1 arranged in a line and a runner 2 extending in the cavity arrangement direction. An insert 3 is provided. Although not shown, the cavity insert 3 has
A plurality of rows of the upper mold cavities 3 and the runners 2 arranged in this way are arranged in a direction perpendicular to the cavity arrangement direction (see FIG.
They are provided side by side in the horizontal direction (see FIG. 7). Further, the upper die D1 is provided with an upper die retainer 22 having a cull 21, similarly to the upper die D of the conventional molding die shown in FIGS. 7 and 8. The cavity insert 3 is held by the upper die retainer 22.

【0023】キャビティインサート3には、各上型キャ
ビティ1毎に、穴加工により、上型キャビティ1の両側
部に位置する2つの穴部4が設けられている。ここで、
ランナ2側(図1中では右側)の側部に位置する穴部4
には、ゲート5を備えた第1上型側面キャビティピース
6が挿入されている。他方、ランナ2とは反対側(図1
中では左側)の側部に位置する穴部4には、エアベント
7を備えた第2上型側面キャビティピース8が挿入され
ている。ここで、ゲート5は、樹脂をキャビティに導入
するために設けられている。また、エアベント7はキャ
ビティに樹脂を充填ないしは注入する際にキャビティ内
のエアを外部に排出するために設けられている。なお、
ゲート5は、ランナ2を介してトランスァポット(図示
せず)に接続されている。
The cavity insert 3 is provided with two holes 4 located on both sides of the upper mold cavity 1 by drilling for each upper mold cavity 1. here,
Hole 4 located on the side of the runner 2 (right side in FIG. 1)
A first upper mold side surface cavity piece 6 having a gate 5 is inserted in the. On the other hand, the side opposite to the runner 2 (see FIG.
A second upper mold side surface cavity piece 8 having an air vent 7 is inserted into the hole portion 4 located on the left side). Here, the gate 5 is provided for introducing the resin into the cavity. Further, the air vent 7 is provided for discharging the air in the cavity to the outside when filling or injecting the resin into the cavity. In addition,
The gate 5 is connected to a transpot (not shown) via the runner 2.

【0024】かくして、キャビティインサート3と第1
上型側面キャビティピース6と第2上型側面キャビティ
ピース8とによって、上型キャビティ1が形成される。
このとき、両上型側面キャビティピース6、8は上型キ
ャビティ1の両側壁をなす。なお、両上型側面キャビテ
ィピース6、8は、それぞれ、キャビティインサート3
の広がり面からやや突出して凸状となっている。
Thus, the cavity insert 3 and the first
The upper die side surface cavity piece 6 and the second upper die side surface cavity piece 8 form the upper die cavity 1.
At this time, the upper mold side surface cavity pieces 6 and 8 form both side walls of the upper mold cavity 1. The upper mold side surface cavity pieces 6 and 8 are respectively the cavity insert 3
It has a convex shape that slightly protrudes from the spreading surface of.

【0025】また、図2から明らかなとおり、第1上型
側面キャビティピース6と第2上型側面キャビティピー
ス8とには、それぞれ、傾斜面6a、8a(傾斜部)が
形成されている。他方、穴部4には、上記傾斜面6a、
8aと同一の傾斜度(傾斜角)の傾斜面4aが形成され
ている。ここで、各上型側面キャビティピース6、8
は、それぞれ、その傾斜面6a、8aを、対応する穴部
4の傾斜面4aに当接させることにより、穴部4内で位
置決めないしは固定されている。
As is clear from FIG. 2, the first upper mold side surface cavity piece 6 and the second upper mold side surface cavity piece 8 are formed with inclined surfaces 6a and 8a (inclined portions), respectively. On the other hand, in the hole portion 4, the inclined surface 6a,
An inclined surface 4a having the same inclination degree (inclination angle) as 8a is formed. Here, each upper mold side surface cavity piece 6, 8
Are positioned or fixed in the hole portion 4 by bringing the inclined surfaces 6a and 8a into contact with the corresponding inclined surface 4a of the hole portion 4, respectively.

【0026】また、図示していないが、この樹脂封止装
置の下型も、図1及び図2に示す上型D1と同様の構造
を有している。ただし、下型の場合は、2つの下型側面
キャビティピースは、それぞれ、キャビティインサート
の広がり面からややへこんで凹状となっている。つま
り、両上型側面キャビティピース6、8と両下型側面キ
ャビティピースとは、前者が凸状となり後者が凹状とな
るような形状に形成され、これにより、上型D1と下型
とが組み付けられたときに、両上型側面キャビティピー
ス6、8と両下型側面キャビティピースとが、嵌合ない
しは係合するようになっている。
Although not shown, the lower mold of this resin sealing device also has the same structure as the upper mold D1 shown in FIGS. However, in the case of the lower mold, each of the two lower mold side surface cavity pieces is slightly concave from the expanding surface of the cavity insert and has a concave shape. That is, the upper mold side surface cavity pieces 6 and 8 and the lower mold side surface cavity pieces are formed in a shape such that the former is convex and the latter is concave, whereby the upper mold D1 and the lower mold are assembled. When the upper mold side surface cavity pieces 6 and 8 are engaged, the lower mold side surface cavity pieces 6 and 8 are fitted or engaged with each other.

【0027】そして、リードフレーム23(図7参照)
に搭載された半導体素子24ないしはリード30(図7
参照)を樹脂で封止する際には、上型D1と下型とでリ
ードフレーム23を挟み込む。具体的には、上型D1と
下型とによって形成されるキャビティ内に半導体素子2
4ないしはリード30が収容されるように、かつ上型D
1のキャビティインサート3及び両上型側面キャビティ
ピース6、8と、下型のキャビティインサート及び両下
型側面キャビティピースとでリードフレーム23の上面
23a及び下面23bを挟持するように、上型D1と下
型とを組み付ける。
The lead frame 23 (see FIG. 7)
The semiconductor element 24 or the lead 30 mounted on the
(See FIG. 2) is sealed with resin, the lead frame 23 is sandwiched between the upper mold D1 and the lower mold. Specifically, the semiconductor element 2 is placed in the cavity formed by the upper mold D1 and the lower mold.
4 or the lead 30 is accommodated and the upper die D
The upper die 23 and the upper die side cavity pieces 6 and 8 and the lower die cavity insert and the lower die side cavity pieces sandwich the upper surface 23a and the lower surface 23b of the lead frame 23 with the upper die D1. Assemble with the lower mold.

【0028】この後、トランスファポット(図示せず)
から、ランナ2とゲート5とを介して、上型キャビティ
1と下型キャビティとにモールド樹脂が注入され、半導
体素子24ないしはリード30が樹脂封止され、半導体
装置のパッケージが形成される。
After this, a transfer pot (not shown)
Then, the mold resin is injected into the upper mold cavity 1 and the lower mold cavity through the runner 2 and the gate 5, and the semiconductor element 24 or the lead 30 is resin-sealed to form a semiconductor device package.

【0029】この実施の形態1にかかる樹脂封止装置に
よれば、該樹脂封止装置を構成する部品の累積誤差(累
積公差)を低減ないしは排除することができる。また、
インサートの厚さ、位置等の調整が不要となる。これに
より、金型の高精度化、組み立て時間の短縮、コスト低
減等を達成することができる。
According to the resin sealing device according to the first embodiment, the cumulative error (cumulative tolerance) of the parts constituting the resin sealing device can be reduced or eliminated. Also,
There is no need to adjust the thickness and position of the insert. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like.

【0030】実施の形態2.以下、図3及び図4を参照
しつつ、本発明の実施の形態2を説明する。しかしなが
ら、実施の形態2にかかる半導体装置の樹脂封止装置
は、図1及び図2に示す実施の形態1と多くの共通点を
有するので、説明の重複を避けるため、実施の形態1と
共通の構成要素には図1及び図2の場合と同一の参照番
号を付してその説明を省略し、以下では主として実施の
形態1と異なる点を説明する。
Embodiment 2. The second embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 3 and 4. However, the resin sealing device for a semiconductor device according to the second embodiment has many common points with the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2, and therefore, in order to avoid duplication of description, it is common with the first embodiment. The same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Below, mainly the points different from the first embodiment will be described.

【0031】図3は、本発明の実施の形態2にかかる、
半導体装置の樹脂封止装置(半導体樹脂封止用モールド
金型)を構成する上型の下面平面図である。図4は、図
3に示す上型の斜視図である。なお、図示していない
が、この樹脂封止装置は、上型と下型とで構成されてい
る。図3及び図4に示すように、実施の形態2では、実
施の形態1における各キャビティ毎の穴部4(図1、図
2参照)は設けられず、これに代えて、1列に並んだ3
つの上型キャビティ1にまたがって(わたって)、また
がり穴部10が形成されている。
FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a bottom plan view of an upper mold forming a resin sealing device (semiconductor resin sealing mold die) of a semiconductor device. FIG. 4 is a perspective view of the upper mold shown in FIG. Although not shown, this resin sealing device is composed of an upper mold and a lower mold. As shown in FIGS. 3 and 4, in the second embodiment, the holes 4 (see FIGS. 1 and 2) for each cavity in the first embodiment are not provided, and instead of this, the holes 4 are arranged in one row. 3
A straddle hole portion 10 is formed so as to straddle (cross) one upper mold cavity 1.

【0032】そして、ランナ2側のまたがり穴部10に
は、3つの上型キャビティ1に共通の第1上型側面キャ
ビティピース11が挿入されている。この第1上型側面
キャビティピース11の、3つの上型キャビティ1に対
応する位置には、それぞれゲート5が設けられている。
他方、ランナ2と反対側のまたがり穴部10には、3つ
の上型キャビティ1に共通の1つの第2上型側面キャビ
ティピース12が挿入されている。この第2上型側面キ
ャビティピース12の、3つの上型キャビティ1に対応
する位置には、それぞれエアベント7が設けられてい
る。なお、またがり穴部10と両上型側面キャビティピ
ース11、12とには、実施の形態1と同様に、それぞ
れ傾斜面10aと傾斜面11a、12aとが設けられて
いる。その他の点については、実施の形態1と同様であ
る。
The first upper mold side surface cavity piece 11 common to the three upper mold cavities 1 is inserted into the straddle hole portion 10 on the runner 2 side. Gates 5 are provided on the first upper mold side surface cavity piece 11 at positions corresponding to the three upper mold cavities 1, respectively.
On the other hand, one second upper mold side surface cavity piece 12 common to the three upper mold cavities 1 is inserted into the straddle hole portion 10 on the opposite side of the runner 2. Air vents 7 are provided at positions corresponding to the three upper mold cavities 1 on the second upper mold side surface cavity piece 12, respectively. It should be noted that the straddle hole portion 10 and the upper mold side surface cavity pieces 11 and 12 are provided with inclined surfaces 10a and inclined surfaces 11a and 12a, respectively, as in the first embodiment. The other points are similar to those of the first embodiment.

【0033】かくして、実施の形態2にかかる樹脂封止
装置においても、実施の形態1の場合と同様に、該樹脂
封止装置を構成する部品の累積誤差(累積公差)を低減
ないしは排除することができる。また、インサートの厚
さ、位置等の調整が不要となる。これにより、金型の高
精度化、組み立て時間の短縮、コスト低減等を達成する
ことができる。さらに、3つの上型キャビティに対して
1組(2つ)のまたがり穴部10及び上型側面キャビテ
ィピース11、12を設けるだけですむので、部品点数
が少なくなり、金型の高精度化効果、組み立て時間の短
縮効果、コスト低減効果等をより高めることができる。
Thus, also in the resin sealing device according to the second embodiment, as in the case of the first embodiment, the cumulative error (cumulative tolerance) of the parts constituting the resin sealing device is reduced or eliminated. You can Further, it is not necessary to adjust the thickness and position of the insert. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like. Further, since it is only necessary to provide one set (two) of the straddling hole 10 and the upper mold side surface cavity pieces 11 and 12 for the three upper mold cavities, the number of parts is reduced, and the precision of the mold is improved. The effect of shortening the assembly time and the effect of reducing the cost can be further enhanced.

【0034】実施の形態3.以下、図5及び図6を参照
しつつ、本発明の実施の形態3を説明する。しかしなが
ら、実施の形態3にかかる半導体装置の樹脂封止装置
は、図1及び図2に示す実施の形態1と多くの共通点を
有するので、説明の重複を避けるため、実施の形態1と
共通の構成要素には図1及び図2の場合と同一の参照番
号を付してその説明を省略し、以下では主として実施の
形態1と異なる点を説明する。
Embodiment 3. The third embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 5 and 6. However, the resin sealing device for a semiconductor device according to the third embodiment has many common points with the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2, and therefore, in order to avoid duplication of description, it is common with the first embodiment. The same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Below, mainly the points different from the first embodiment will be described.

【0035】図5は、本発明の実施の形態3にかかる、
半導体装置の樹脂封止装置(半導体樹脂封止用モールド
金型)を構成する上型の下面平面図である。図6は、図
5に示す上型の斜視図である。なお、図示していない
が、この樹脂封止装置は、上型と下型とで構成されてい
る。図5及び図6に示すように、実施の形態3では、実
施の形態1における各キャビティ毎の穴部4(図1、図
2参照)は設けられず、これに代えて、1列に並んだ3
つの上型キャビティ1にまたがって、1つの溝加工部1
4(溝部)が形成されている。
FIG. 5 shows the third embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a bottom plan view of an upper mold forming a resin sealing device (semiconductor resin sealing mold die) of a semiconductor device. FIG. 6 is a perspective view of the upper mold shown in FIG. Although not shown, this resin sealing device is composed of an upper mold and a lower mold. As shown in FIGS. 5 and 6, in the third embodiment, the holes 4 (see FIGS. 1 and 2) for each cavity in the first embodiment are not provided, and instead of this, the holes 4 are arranged in one row. 3
One grooved part 1 straddling one upper mold cavity 1
4 (groove portion) is formed.

【0036】そして、ランナ2側の溝加工部14には、
3つの上型キャビティ1に共通の第1上型側面キャビテ
ィピース15が挿入されている。この第1上型側面キャ
ビティピース15の、3つの上型キャビティ1に対応す
る位置には、それぞれゲート5が設けられている。他
方、ランナ2と反対側の溝加工部14には、3つの上型
キャビティ1に共通の第2上型側面キャビティピース1
6が挿入されている。この第2上型側面キャビティピー
ス16の、3つの上型キャビティ1に対応する位置に
は、それぞれエアベント7が設けられている。なお、溝
加工部14と両上型側面キャビティピース15、16と
には、実施の形態1と同様に、それぞれ傾斜面14aと
傾斜面15a、16aとが設けられている。その他の点
については、実施の形態1と同様である。
In the grooved portion 14 on the runner 2 side,
A common first upper mold side surface cavity piece 15 is inserted into the three upper mold cavities 1. Gates 5 are provided on the first upper mold side surface cavity piece 15 at positions corresponding to the three upper mold cavities 1, respectively. On the other hand, in the grooved portion 14 on the side opposite to the runner 2, the second upper mold side surface cavity piece 1 common to the three upper mold cavities 1 is formed.
6 has been inserted. Air vents 7 are provided at positions corresponding to the three upper mold cavities 1 of the second upper mold side surface cavity piece 16. The grooved portion 14 and the upper mold side surface cavity pieces 15 and 16 are provided with inclined surfaces 14a and 15a and 16a, respectively, as in the first embodiment. The other points are similar to those of the first embodiment.

【0037】かくして、実施の形態3にかかる樹脂封止
装置においても、実施の形態1の場合と同様に、該樹脂
封止装置を構成する部品の累積誤差(累積公差)を低減
ないしは排除することができる。また、インサートの厚
さ、位置等の調整が不要となる。これにより、金型の高
精度化、組み立て時間の短縮、コスト低減等を達成する
ことができる。さらに、3つの上型キャビティに対して
1組(2つ)の溝加工部14及び上型側面キャビティピ
ース15、16を設けるだけですむので、部品点数が少
なくなり、金型の高精度化効果、組み立て時間の短縮効
果、コスト低減効果等をより高めることができる。ま
た、溝加工は穴加工に比べて加工が容易であるので、上
型及び下型の製作が容易となる。
Thus, also in the resin sealing device according to the third embodiment, as in the case of the first embodiment, the cumulative error (cumulative tolerance) of the parts constituting the resin sealing device is reduced or eliminated. You can Further, it is not necessary to adjust the thickness and position of the insert. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like. Further, since it is only necessary to provide one set (two) of grooved portions 14 and upper die side surface cavity pieces 15 and 16 for the three upper die cavities, the number of parts is reduced, and the effect of improving the precision of the die is obtained. The effect of shortening the assembly time and the effect of reducing the cost can be further enhanced. Further, since the groove processing is easier than the hole processing, the upper mold and the lower mold can be easily manufactured.

【0038】なお、実施の形態1〜3のいずれにおいて
も、上型側面キャビティピースを凸形状とし、下型側面
キャビティピースを凹形状としているが、リードフレー
ムあるいはパッケージの仕様により、上型側面キャビテ
ィピースを凹形状とし、下型側面キャビティピースを凸
形状としてもよい。この場合も、実施の形態1〜3の場
合と同様の作用・効果を奏する。また、上型及び下型の
いずれか一方に、例えば図7に示すような従来の上型又
は下型を用いてもよい。
In each of the first to third embodiments, the upper mold side surface cavity piece has a convex shape and the lower mold side surface cavity piece has a concave shape. However, depending on the specifications of the lead frame or the package, the upper mold side surface cavity piece may be formed. The piece may have a concave shape and the lower mold side surface cavity piece may have a convex shape. Also in this case, the same operation and effect as those in the first to third embodiments are achieved. Further, a conventional upper mold or lower mold as shown in FIG. 7, for example, may be used for either the upper mold or the lower mold.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明の第1の態様にかかる樹脂封止装
置によれば、上型及び下型において、各キャビティイン
サートに、キャビティの両側部に位置する穴部が形成さ
れ、この穴部にキャビティピースが挿入され、上型のキ
ャビティインサート及びキャビティピースと、下型のキ
ャビティインサート及びキャビティピースとでキャビテ
ィが形成される。このため、樹脂封止装置を構成する部
品の累積誤差を低減ないしは排除することができる。ま
た、インサートの厚さ、位置等の調整が不要となる。こ
れにより、金型の高精度化、組み立て時間の短縮、コス
ト低減等を達成することができる。
According to the resin sealing device of the first aspect of the present invention, in each of the upper mold and the lower mold, the cavity inserts are formed with holes located on both sides of the cavity. The cavity piece is inserted into the cavity mold, and the cavity insert and the cavity piece of the upper mold and the cavity insert and the cavity piece of the lower mold form a cavity. Therefore, it is possible to reduce or eliminate the cumulative error of the components forming the resin sealing device. Further, it is not necessary to adjust the thickness and position of the insert. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like.

【0040】本発明の第2の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、第1の態様にかかる樹脂封止装置と同様に、
樹脂封止装置を構成する部品の累積誤差を低減ないしは
排除することができ、かつインサートの厚さ、位置等の
調整が不要となる。これにより、金型の高精度化、組み
立て時間の短縮、コスト低減等を達成することができ
る。さらに、複数のキャビティに対して1組(2つ)の
穴部及び側面キャビティピースを設けるだけですむの
で、部品点数が少なくなり、金型の高精度化効果、組み
立て時間の短縮効果、コスト低減効果等をより高めるこ
とができる。
According to the resin sealing device of the second aspect of the present invention, like the resin sealing device of the first aspect,
Cumulative errors of the components that make up the resin sealing device can be reduced or eliminated, and the thickness and position of the insert need not be adjusted. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like. Furthermore, since it is only necessary to provide one set (two) of holes and side cavity pieces for multiple cavities, the number of parts is reduced, the precision of the mold is improved, the assembly time is shortened, and the cost is reduced. The effect and the like can be further enhanced.

【0041】本発明の第3の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、第1の態様にかかる樹脂封止装置と同様に、
樹脂封止装置を構成する部品の累積誤差を低減ないしは
排除することができ、インサートの厚さ、位置等の調整
が不要となる。これにより、金型の高精度化、組み立て
時間の短縮、コスト低減等を達成することができる。さ
らに、複数のキャビティに対して1組(2つ)の溝加工
部及び側面キャビティピースを設けるだけですむので、
部品点数が少なくなり、金型の高精度化効果、組み立て
時間の短縮効果、コスト低減効果等をより高めることが
できる。また、溝加工は穴加工に比べて加工が容易であ
るので、上型及び下型の製作が容易となる。
According to the resin sealing device of the third aspect of the present invention, like the resin sealing device of the first aspect,
Cumulative errors of the components that make up the resin sealing device can be reduced or eliminated, and adjustment of the thickness and position of the insert becomes unnecessary. As a result, it is possible to achieve high precision of the mold, reduction of assembly time, reduction of cost, and the like. Furthermore, since it is only necessary to provide one set (two) of grooved parts and side cavity pieces for multiple cavities,
The number of parts is reduced, and the effect of improving the precision of the mold, the effect of shortening the assembly time, the effect of reducing the cost, etc. can be further enhanced. Further, since the groove processing is easier than the hole processing, the upper mold and the lower mold can be easily manufactured.

【0042】本発明の第4の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、基本的には、第1〜第3の態様のいずれか1
つにかかる樹脂封止装置と同様の作用・効果が得られ
る。さらに、リードフレームの上下面を挟持しつつ半導
体素子を樹脂で封止するので、リードフレームの所定の
位置に、正確に樹脂封止を行うことができる。
According to the resin sealing device of the fourth aspect of the present invention, basically any one of the first to third aspects is used.
The same action and effect as the resin sealing device according to the third aspect can be obtained. Further, since the semiconductor element is sealed with resin while sandwiching the upper and lower surfaces of the lead frame, it is possible to accurately perform resin sealing at a predetermined position of the lead frame.

【0043】本発明の第5の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、基本的には、第1〜第4の態様のいずれか1
つにかかる樹脂封止装置と同様の作用・効果が得られ
る。さらに、キャビティピースがその傾斜面を穴部の傾
斜面に当接させることにより穴部内で位置決めされの
で、キャビティピースを正確に位置決めすることがで
き、累積誤差をより低減することができる。
According to the resin sealing device of the fifth aspect of the present invention, basically any one of the first to fourth aspects is used.
The same action and effect as the resin sealing device according to the third aspect can be obtained. Furthermore, since the cavity piece is positioned in the hole by bringing its inclined surface into contact with the inclined surface of the hole, the cavity piece can be accurately positioned and the cumulative error can be further reduced.

【0044】本発明の第6の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、基本的には、第1〜第5の態様のいずれか1
つにかかる樹脂封止装置と同様の作用・効果が得られ
る。さらに、一方のキャビティピースにゲートが設けら
れているので、キャビティへの樹脂の注入が容易であ
る。
According to the resin sealing device of the sixth aspect of the present invention, basically any one of the first to fifth aspects is used.
The same action and effect as the resin sealing device according to the third aspect can be obtained. Furthermore, since the gate is provided on one of the cavity pieces, it is easy to inject the resin into the cavity.

【0045】本発明の第7の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、基本的には、第6の態様にかかる樹脂封止装
置と同様の作用・効果が得られる。さらに、ゲートが設
けられていない方のキャビティピースにエアベントが設
けられているので、キャビティへの樹脂の注入時に、キ
ャビティ内のエアを容易に外部に排出することができ
る。
According to the resin sealing device of the seventh aspect of the present invention, basically, the same operation and effect as those of the resin sealing device of the sixth aspect can be obtained. Further, since the air vent is provided in the cavity piece that is not provided with the gate, the air in the cavity can be easily discharged to the outside when the resin is injected into the cavity.

【0046】本発明の第8の態様にかかる樹脂封止装置
によれば、基本的には、第1〜第7の態様のいずれか1
つにかかる樹脂封止装置と同様の作用・効果が得られ
る。さらに、トランスファポットから、ランナとゲート
とを介して、キャビティに樹脂を供給することができる
ので、樹脂の供給が円滑化される。
According to the resin sealing device of the eighth aspect of the present invention, basically any one of the first to seventh aspects is used.
The same action and effect as the resin sealing device according to the third aspect can be obtained. Further, since the resin can be supplied from the transfer pot to the cavity via the runner and the gate, the resin can be supplied smoothly.

【0047】本発明にかかる半導体装置の製造方法によ
れば、第1〜第8の態様のいずれか1つにかかる樹脂封
止装置を用いているので、金型の高精度化、組み立て時
間の短縮、コスト低減等を達成しつつ半導体素子を樹脂
で封止して、パッケージ化された半導体装置を製造する
ことができる。
According to the method of manufacturing a semiconductor device of the present invention, since the resin sealing device according to any one of the first to eighth aspects is used, the precision of the mold is improved and the assembly time is improved. It is possible to manufacture a packaged semiconductor device by encapsulating a semiconductor element with a resin while achieving shortening and cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1にかかる樹脂封止装置
の上型の構成を示す下面平面図である。
FIG. 1 is a bottom plan view showing the configuration of an upper die of a resin sealing device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示す上型の要部の構成を示す斜視図で
ある。
FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a main part of the upper mold shown in FIG.

【図3】 本発明の実施の形態2にかかる樹脂封止装置
の上型の構成を示す下面平面図である。
FIG. 3 is a bottom plan view showing the configuration of the upper die of the resin sealing device according to the second embodiment of the present invention.

【図4】 図3に示す上型の要部の構成を示す斜視図で
ある。
FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a main part of the upper mold shown in FIG.

【図5】 本発明の実施の形態3にかかる樹脂封止装置
の上型の構成を示す下面平面図である。
FIG. 5 is a bottom plan view showing the configuration of the upper die of the resin sealing device according to the third embodiment of the present invention.

【図6】 図5に示す上型の要部の構成を示す斜視図で
ある。
FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a main part of the upper mold shown in FIG.

【図7】 従来の半導体装置の樹脂封止用モールド金型
の構成を示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing the configuration of a conventional resin-molding mold die for a semiconductor device.

【図8】 図7に示す従来の樹脂封止用モールド金型を
構成する上型の下面平面図である。
FIG. 8 is a bottom plan view of an upper mold forming the conventional resin-molding mold shown in FIG. 7.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

D 上型、 D1 上型、 D2 上型、 D3 上
型、 L 下型、 1上型キャビティ、 2 ランナ、
3 上型のキャビティインサート、 4 穴部、 4
a 傾斜面、 5ゲート、 6 第1上型側面キャビテ
ィピース、 6a 傾斜面、 7 エアベント、 8
第2上型側面キャビティピース、 8a傾斜面、 9
上型のキャビティインサート、 10 またがり穴部、
10a 傾斜面、 11 第1上型側面キャビティピ
ース、 11a 傾斜面、 12 第2上型側面キャビ
ティピース、 12a 傾斜面、 13 上型のキャビ
ティインサート、 14 溝加工部、 14a 傾斜
面、 15 第1上型側面キャビティピース、 15a
傾斜面、 16 第2上型側面キャビティピース、
16a 傾斜面、 17 上型キャビティインサート、
18 上型側面キャビティインサート、 19 上型
側面キャビティインサート、 20 ランナインサー
ト、 21 カル、 22 上型リテーナ、 23 リ
ードフレーム、23a 上面、 23b 下面、 24
半導体素子、 25 ダイパットフレーム、 26
下型キャビティ、 27 下型キャビティインサート、
28下型側面キャビティインサート、 29 下型側
面キャビティインサート、30 リード。
D upper mold, D1 upper mold, D2 upper mold, D3 upper mold, L lower mold, 1 upper mold cavity, 2 runner,
3 Upper mold cavity insert, 4 Hole, 4
a inclined surface, 5 gates, 6 first upper mold side surface cavity piece, 6a inclined surface, 7 air vent, 8
2nd upper mold side surface cavity piece, 8a inclined surface, 9
Upper mold cavity insert, 10 straddle hole,
10a inclined surface, 11 1st upper mold side surface cavity piece, 11a inclined surface, 12 2nd upper mold side surface cavity piece, 12a inclined surface, 13 upper mold cavity insert, 14 groove processing part, 14a inclined surface, 15 1st upper surface Mold side cavity piece, 15a
Inclined surface, 16 second upper mold side surface cavity piece,
16a inclined surface, 17 upper mold cavity insert,
18 Upper Mold Side Cavity Insert, 19 Upper Mold Side Cavity Insert, 20 Runner Insert, 21 Cull, 22 Upper Mold Retainer, 23 Lead Frame, 23a Upper Surface, 23b Lower Surface, 24
Semiconductor element, 25 die pad frame, 26
Lower mold cavity, 27 Lower mold cavity insert,
28 lower mold side surface cavity insert, 29 lower mold side surface cavity insert, 30 lead.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上野 透 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 山田 弘道 東京都千代田区大手町二丁目6番2号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 広瀬 哲也 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 斑目 克明 兵庫県伊丹市瑞原四丁目1番地 菱電セミ コンダクタシステムエンジニアリング株式 会社内 Fターム(参考) 4F202 AH37 CA12 CB01 CK12 CK43 5F061 AA01 BA01 CA21 DA01 DA03 DA05 DA06 DA08    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Toru Ueno             2-6-2 Otemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo             Ryoden Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Hiromichi Yamada             2-6-2 Otemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo             Ryoden Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Tetsuya Hirose             2-3 2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo             Inside Ryo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Katsuaki Makoto             Ryoden Semi, 4-chome, Mizuhara, Itami City, Hyogo Prefecture             Conductor system engineering stock             In the company F-term (reference) 4F202 AH37 CA12 CB01 CK12 CK43                 5F061 AA01 BA01 CA21 DA01 DA03                       DA05 DA06 DA08

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上型と下型とによって形成されるキャビ
ティに、半導体素子を搭載しているリードフレームを収
容し、キャビティ内に樹脂を充填して半導体素子を樹脂
で封止するようになっている半導体装置の樹脂封止装置
において、 上型及び下型にそれぞれキャビティインサートが設けら
れていて、各キャビティインサートにおいて各キャビテ
ィ毎にそれぞれ、キャビティの両側部に位置する穴部が
形成され、 上型及び下型に対してそれぞれ、上記穴部に挿入されて
キャビティの両側壁をなすキャビティピースが設けられ
ていて、上型のキャビティピースと下型のキャビティピ
ースとは、互いに、一方が凹状となり他方が凸状となる
ような形状に形成され、 上型のキャビティインサート及びキャビティピースと、
下型のキャビティインサート及びキャビティピースとで
上記キャビティを形成するようになっていることを特徴
とする半導体装置の樹脂封止装置。
1. A lead frame having a semiconductor element mounted therein is housed in a cavity formed by an upper die and a lower die, and a resin is filled in the cavity to seal the semiconductor element with the resin. In a resin sealing device for a semiconductor device, a cavity insert is provided in each of the upper die and the lower die, and holes are formed on both sides of the cavity for each cavity in each cavity insert. The mold and the lower mold are each provided with a cavity piece that is inserted into the above-mentioned hole and forms both side walls of the cavity, and one of the upper mold cavity piece and the lower mold cavity piece has a concave shape. The other is formed into a convex shape, and the upper mold cavity insert and cavity piece,
A resin encapsulation device for a semiconductor device, wherein the cavity is formed by a lower mold cavity insert and a cavity piece.
【請求項2】 上記穴部が複数のキャビティにまたがっ
て形成され、該穴部に挿入されたキャビティピースが該
複数のキャビティの側壁をなすように形成されているこ
とを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の樹脂封止
装置。
2. The hole is formed so as to straddle a plurality of cavities, and the cavity piece inserted into the hole is formed so as to form a side wall of the plurality of cavities. A resin encapsulation device for a semiconductor device according to item 1.
【請求項3】 各キャビティインサートにそれぞれ、上
記穴部に代えて、複数のキャビティにまたがって伸び、
該複数のキャビティの側壁をなす、キャビティピースが
挿入される溝加工部が形成されていることを特徴とする
請求項1に記載の半導体装置の樹脂封止装置。
3. Each of the cavity inserts extends over a plurality of cavities instead of the holes,
The resin encapsulation device for a semiconductor device according to claim 1, further comprising a grooved portion that is a sidewall of the plurality of cavities and into which a cavity piece is inserted.
【請求項4】 上型のキャビティインサート及びキャビ
ティピースと、下型のキャビティインサート及びキャビ
ティピースとでリードフレームの上下面を挟持しつつ、
半導体素子を樹脂で封止するようになっていることを特
徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の半導体装
置の樹脂封止装置。
4. The upper and lower surfaces of the lead frame are sandwiched between the upper mold cavity insert and the cavity piece and the lower mold cavity insert and the cavity piece,
The resin sealing device for a semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor element is sealed with a resin.
【請求項5】 キャビティピースと穴部とがそれぞれ同
一傾斜度の傾斜面を備えていて、キャビティピースがそ
の傾斜面を穴部の傾斜面に当接させることにより、穴部
内で位置決めされることを特徴とする請求項1〜4のい
ずれか1つに記載の半導体装置の樹脂封止装置。
5. The cavity piece and the hole portion each have an inclined surface with the same inclination, and the cavity piece is positioned in the hole portion by bringing the inclined surface into contact with the inclined surface of the hole portion. The resin sealing device for a semiconductor device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that:
【請求項6】 キャビティを挟んで対抗する2つのキャ
ビティピースの一方に、樹脂をキャビティに導入するゲ
ートが設けられていることを特徴とする請求項1〜5の
いずれか1つに記載の半導体装置の樹脂封止装置。
6. The semiconductor according to claim 1, wherein a gate for introducing a resin into the cavity is provided on one of the two cavity pieces that oppose each other with the cavity sandwiched therebetween. Equipment resin sealing device.
【請求項7】 上記ゲートが設けられたキャビティピー
スと、キャビティを挟んで対向するキャビティピース
に、エアベントが設けられていることを特徴とする請求
項6に記載の半導体装置の樹脂封止装置。
7. The resin encapsulation device for a semiconductor device according to claim 6, wherein an air vent is provided in the cavity piece provided with the gate and facing the cavity piece with the cavity interposed therebetween.
【請求項8】 上記ゲートがランナを介してトランスァ
ポットに接続されていて、トランスファポットからキャ
ビティに樹脂が供給されるようになっていることを特徴
とする請求項1〜7のいずれか1つに記載の半導体装置
の樹脂封止装置。
8. The resin according to claim 1, wherein the gate is connected to a transfer pot via a runner so that resin is supplied from the transfer pot to the cavity. 7. A resin sealing device for a semiconductor device according to claim 3.
【請求項9】 請求項1〜8のいずれか1つに記載の半
導体装置の樹脂封止装置を用いてリードフレームに搭載
されている半導体素子を樹脂で封止し、パッケージ化さ
れた半導体装置を製造することを特徴とする半導体装置
の製造方法。
9. A semiconductor device packaged by using the resin sealing device for a semiconductor device according to claim 1 to seal a semiconductor element mounted on a lead frame with a resin. A method of manufacturing a semiconductor device, comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004247827A (en) * 2003-02-12 2004-09-02 Kyocera Corp Portable telephone

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