JP2003011058A - Polishing device and polishing method and manufacturing method for optical part - Google Patents

Polishing device and polishing method and manufacturing method for optical part

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JP2003011058A
JP2003011058A JP2001198144A JP2001198144A JP2003011058A JP 2003011058 A JP2003011058 A JP 2003011058A JP 2001198144 A JP2001198144 A JP 2001198144A JP 2001198144 A JP2001198144 A JP 2001198144A JP 2003011058 A JP2003011058 A JP 2003011058A
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JP
Japan
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polishing
polishing tool
revolution
workpiece
tool
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Application number
JP2001198144A
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Japanese (ja)
Inventor
Kengo Yasui
健吾 安井
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polishing device, a polishing method, and a manufacturing method for an optical part capable of improving machining efficiency much more than a conventional method. SOLUTION: This polishing device has a rotary shaft for rotating a polishing tool by itself, a revolving shaft for revolving the polishing tool, and a mobile mechanism for changing a revolving radius of the polishing tool.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、研磨装置および研
磨方法および光学部品の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing apparatus, a polishing method, and an optical component manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、研磨加工では、加工面の凹凸形状
に合わせて、加工面上での研磨工具の滞留時間を制御す
ることで、加工面の形状誤差を所望の形状に修正し、ね
らい値まで収束させていく修正研磨加工が行われてい
る。そして、従来の修正研磨加工では、使用する研磨工
具のポリシャの外径の大きさにより、修正可能な形状成
分が決定される。
2. Description of the Related Art Conventionally, in polishing processing, by controlling the residence time of the polishing tool on the processed surface according to the uneven shape of the processed surface, the shape error of the processed surface is corrected to a desired shape. Corrective polishing is being performed to converge the values. In the conventional correction polishing process, the shape component that can be corrected is determined by the size of the outer diameter of the polisher of the polishing tool used.

【0003】すなわち、一般に、研磨工具のポリシャは
弾性体により形成されているため、図10の(a)に示
すように、ポリシャ1の外径D1が、修正対象となる加
工面の形状誤差成分の半波長λ/2より大きくなると、
ポリシャ1が加工面に倣って弾性変形し、突出部2の形
状を修正することが困難になる。従って、突出部2の形
状を修正するためには、図10の(b)に示すように、
ポリシャ1の外径が、修正対象となる加工面の形状誤差
成分の半波長λ/2より小さな研磨工具を使用して研磨
加工を行う必要がある。
That is, since the polisher of the polishing tool is generally formed of an elastic body, as shown in FIG. 10A, the outer diameter D1 of the polisher 1 is a shape error component of the machined surface to be corrected. When it becomes larger than half wavelength λ / 2 of
The polisher 1 is elastically deformed following the machined surface, making it difficult to correct the shape of the protrusion 2. Therefore, in order to correct the shape of the protruding portion 2, as shown in FIG.
It is necessary to perform polishing by using a polishing tool whose outer diameter is smaller than the half wavelength λ / 2 of the shape error component of the processing surface to be corrected.

【0004】そして、従来、このような制約から、以下
述べる(1)または(2)の修正研磨加工方式が行われ
ている。 (1)研磨加工を数段階に分け、各段階ごとに使用する
ポリシャの外径を順次小さくして、形状誤差成分を、低
周波数成分から高周波数成分へと順次修正していく方
式。
Due to such restrictions, conventionally, the modified polishing method (1) or (2) described below has been performed. (1) A method in which the polishing process is divided into several steps, and the outer diameter of the polisher used in each step is gradually reduced to sequentially correct the shape error component from the low frequency component to the high frequency component.

【0005】(2)最初から外径の小さいポリシャを用
い、低周波数成分と高周波数成分の形状誤差成分を同時
に修正していく方式。
(2) A method of correcting the shape error components of the low frequency component and the high frequency component at the same time by using a polisher having a small outer diameter from the beginning.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た(1)の方式では、形状誤差成分のうち修正可能なう
ねり成分が、ポリシャの外径により決まってしまうた
め、1回の加工において修正されないうねり成分が多く
なり、実質的な仕事率が低下するという問題があった。
However, in the above-mentioned method (1), the waviness component which can be corrected among the shape error components is determined by the outer diameter of the polisher, so that the waviness which is not corrected in one machining is required. There has been a problem that the amount of components increases and the actual work rate decreases.

【0007】また、(1)の方式では、形状誤差に対し
て、最も研磨加工効率が良くなるようなポリシャの外径
の選択に多大なノウハウがあるため、修正研磨加工時間
が作業者の能力により大きく異なり、生産時間が安定し
ないという問題があった。さらに、(1)の方式では、
ポリシャの交換に多大な時間が必要になるという問題が
あった。
Further, in the method (1), since there is a great deal of know-how in selecting the outer diameter of the polisher which gives the best polishing efficiency with respect to the shape error, the corrected polishing time is the ability of the operator. There was a problem that the production time was not stable because of the large difference. Furthermore, in the method of (1),
There was a problem that a lot of time was required to replace the polisher.

【0008】一方、(2)の方式では、(1)の方式に
比較して、実質的な仕事率は高くなるものの、仕事量が
小さくなるため、ねらい値まで形状を修正するのに、多
くの時間が必要になるという問題があった。本発明は、
かかる従来の問題を解決するためになされたもので、加
工能率を従来より大幅に向上することができる研磨装置
および研磨方法および光学部品の製造方法を提供するこ
とを目的とする。
On the other hand, in the method (2), although the work efficiency is higher than that in the method (1), the work amount becomes small, so that it is often necessary to correct the shape to an aimed value. There was a problem that time was needed. The present invention is
The present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a polishing apparatus, a polishing method, and an optical component manufacturing method capable of significantly improving the processing efficiency as compared with the conventional method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1の研磨装置は、
研磨工具を自転回転させる自転回転軸と、前記研磨工具
を公転回転させる公転回転軸と、前記研磨工具の公転半
径を変化させる移動機構とを有することを特徴とする。
請求項2の研磨装置は、請求項1記載の研磨装置におい
て、被加工物の測定から得られた形状誤差データに基づ
いて前記公転半径を研磨位置に対応して変化させるとと
もに、前記公転半径に応じて、前記研磨工具の送り速
度、前記研磨工具の自転回転数、前記研磨工具の公転回
転数、前記研磨工具の被加工物に対する押圧力の少なく
とも1つを変化させる制御手段を有することを特徴とす
る。
A polishing apparatus according to claim 1,
It is characterized by having a rotation rotating shaft for rotating the polishing tool about its own axis, a revolution rotating shaft for rotating around the polishing tool about the revolution, and a moving mechanism for changing the revolution radius of the polishing tool.
A polishing apparatus according to a second aspect is the polishing apparatus according to the first aspect, wherein the revolution radius is changed corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the work piece, and the revolution radius is changed to the revolution radius. Accordingly, it has a control means for changing at least one of the feed speed of the polishing tool, the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece. And

【0010】請求項3の研磨装置は、請求項2記載の研
磨装置において、前記制御手段は、前記形状誤差データ
から求められた被加工物のうねりの周波数に基づいて前
記公転半径を決定することを特徴とする。請求項4の研
磨方法は、研磨工具を自転および公転させながら被加工
物を研磨するとともに、被加工物の測定から得られた形
状誤差データに基づいて前記研磨工具の公転半径を研磨
位置に対応して変化させ、同時に、前記公転半径に応じ
て、前記研磨工具の送り速度、前記研磨工具の自転回転
数、前記研磨工具の公転回転数、前記研磨工具の被加工
物に対する押圧力の少なくとも1つを変化させて前記被
加工物を研磨することを特徴とする。
A polishing apparatus according to a third aspect is the polishing apparatus according to the second aspect, wherein the control means determines the revolution radius on the basis of the frequency of the waviness of the workpiece obtained from the shape error data. Is characterized by. The polishing method according to claim 4 polishes a workpiece while rotating and revolving the polishing tool, and the revolution radius of the polishing tool corresponds to a polishing position based on shape error data obtained from measurement of the workpiece. And at the same time, at least one of the feed rate of the polishing tool, the rotation speed of the polishing tool, the rotation speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece according to the revolution radius. It is characterized in that the workpiece is polished by changing one of the two.

【0011】請求項5の光学部品の製造方法は、請求項
4記載の研磨方法により被加工物を研磨し、光学部品を
製造することを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method for producing an optical component by polishing a workpiece by the polishing method according to the fourth aspect.

【0012】(作用)請求項1の研磨装置では、移動機
構により、研磨工具を自転回転させる自転回転軸と、研
磨工具を公転回転させる公転回転軸との間隔が変化さ
れ、これにより研磨工具の公転半径が変化される。
(Operation) In the polishing apparatus according to the first aspect of the present invention, the moving mechanism changes the distance between the rotation shaft for rotating the polishing tool to rotate and the rotation shaft for rotating the polishing tool to revolve. The revolution radius is changed.

【0013】請求項2の研磨装置では、制御手段によ
り、被加工物の測定から得られた形状誤差データに基づ
いて、公転半径が研磨位置に対応して変化される。そし
て、同時に、公転半径に応じて、研磨工具の送り速度、
研磨工具の自転回転数、研磨工具の公転回転数、研磨工
具の被加工物に対する押圧力の少なくとも1つが変化さ
れる。
In the polishing apparatus of the second aspect, the control means changes the revolution radius in correspondence with the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece. And at the same time, depending on the revolution radius, the feed rate of the polishing tool,
At least one of the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece is changed.

【0014】請求項3の研磨装置では、制御手段によ
り、形状誤差データから求められた被加工物のうねりの
周波数に基づいて公転半径が決定される。請求項4の研
磨方法では、被加工物の測定から得られた形状誤差デー
タに基づいて、公転半径が研磨位置に対応して変化され
る。そして、同時に、公転半径に応じて、研磨工具の送
り速度、研磨工具の自転回転数、研磨工具の公転回転
数、研磨工具の被加工物に対する押圧力の少なくとも1
つが変化される。
In the polishing apparatus of the third aspect, the control means determines the revolution radius based on the frequency of the waviness of the workpiece obtained from the shape error data. In the polishing method according to the fourth aspect, the revolution radius is changed corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece. At the same time, at least one of the feed rate of the polishing tool, the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece, depending on the radius of revolution.
One is changed.

【0015】請求項5の光学部品の製造方法では、請求
項4記載の研磨方法により被加工物が研磨され、レンズ
等の光学部品が製造される。
In the optical component manufacturing method of the fifth aspect, the workpiece is polished by the polishing method of the fourth aspect to manufacture an optical component such as a lens.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を用いて詳細
に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0017】図1は、本発明の研磨装置の一実施形態を
示しており、符号11は、ポリシャからなる研磨工具を
示している。この研磨工具11は、自転回転軸13を中
心にして自転回転可能とされている。研磨工具11の上
方には、公転回転部材15が配置され、この公転回転部
材15の一端には、研磨工具11を公転回転させる公転
回転軸17が配置されている。
FIG. 1 shows an embodiment of a polishing apparatus of the present invention, and reference numeral 11 denotes a polishing tool made of polisher. The polishing tool 11 is rotatable about a rotation axis 13 of rotation. A revolving rotary member 15 is arranged above the polishing tool 11, and a revolving rotary shaft 17 for revolving the polishing tool 11 is arranged at one end of the revolving rotary member 15.

【0018】この公転回転軸17は、自転回転軸13に
平行に形成されている。公転回転部材15の上面には、
研磨工具11の公転半径R、すなわち、自転回転軸13
と公転回転軸17との間隔を変化させる移動機構19が
配置されている。この実施形態では、移動機構19は、
自転回転軸13を公転回転軸17に近づく方向あるいは
反対の方向に移動して、研磨工具11の公転半径Rを変
化させる。
The revolution rotating shaft 17 is formed in parallel with the rotation rotating shaft 13. On the upper surface of the revolution member 15,
Revolution radius R of polishing tool 11, that is, rotation axis 13
A moving mechanism 19 that changes the distance between the revolving rotary shaft 17 and the orbiting rotary shaft 17 is arranged. In this embodiment, the moving mechanism 19 is
The rotation axis 13 is moved in the direction approaching the revolution axis 17 or in the opposite direction to change the revolution radius R of the polishing tool 11.

【0019】すなわち、公転回転部材15には、移動機
構19の移動の方向に沿って図示しない長穴が形成さ
れ、この長穴に自転回転軸13が挿通されている。自転
回転軸13は、図示しないベアリングにより、長穴に沿
って移動可能に公転回転部材15に支持されている。そ
して、移動機構19を駆動することにより、自転回転軸
13が長穴に沿って移動される。
That is, an elongated hole (not shown) is formed in the revolving rotary member 15 along the moving direction of the moving mechanism 19, and the rotation shaft 13 is inserted through the elongated hole. The rotation shaft 13 is supported by the revolving rotation member 15 by a bearing (not shown) so as to be movable along the elongated hole. Then, by driving the moving mechanism 19, the rotation shaft 13 is moved along the elongated hole.

【0020】移動機構19の上面には、自転回転軸13
を回転するための自転用モータ21が配置されている。
公転回転軸17の上面には、エアーシリンダ23を介し
て、公転回転軸17を回転するための公転用モータ25
が配置されている。なお、図1の(a)において、二点
鎖線は、研磨工具を公転回転軸17を中心にして回転し
た時の自転回転軸13を、図1の(b)の斜線は、研磨
工具の単位除去形状Kを示している。
On the upper surface of the moving mechanism 19, the rotation shaft 13
A rotation motor 21 for rotating the motor is arranged.
A revolution motor 25 for rotating the revolution rotating shaft 17 is provided on the upper surface of the revolution rotating shaft 17 via an air cylinder 23.
Are arranged. In FIG. 1A, the chain double-dashed line indicates the rotation shaft 13 when the polishing tool is rotated about the revolution rotation shaft 17, and the diagonal line in FIG. 1B indicates the unit of the polishing tool. The removal shape K is shown.

【0021】図1において符号27は、この実施形態の
研磨装置を制御する制御装置を示している。この制御装
置27は、被加工物の測定から得られた形状誤差データ
に基づいて公転半径Rを研磨位置に対応して変化させ、
同時に、公転半径Rに応じて、研磨工具11の送り速度
を変化させることにより最適な修正研磨加工を行う。
In FIG. 1, reference numeral 27 indicates a controller for controlling the polishing apparatus of this embodiment. The control device 27 changes the revolution radius R corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece,
At the same time, the optimum correction polishing process is performed by changing the feed rate of the polishing tool 11 according to the revolution radius R.

【0022】すなわち、本発明では、予め、自転回転軸
13と公転回転軸17の間隔である公転半径Rと、その
公転半径Rの研磨工具11を用いた際の単位除去形状K
の大きさDが求められ、図2に示すような相関図が求め
られる。単位除去形状Kの大きさDは、図1の(b)に
示すように、研磨時に、研磨工具11が加工面29に接
触する外径であり、被加工物に対する押圧力である研磨
荷重Pの大きさにより異なっている。
That is, in the present invention, the revolution radius R, which is the distance between the rotation shaft 13 and the revolution shaft 17, and the unit removal shape K when the polishing tool 11 having the revolution radius R is used in advance.
2 is obtained, and a correlation diagram as shown in FIG. 2 is obtained. As shown in FIG. 1B, the size D of the unit removal shape K is the outer diameter of the polishing tool 11 that contacts the processing surface 29 during polishing, and the polishing load P that is the pressing force against the workpiece. Depends on the size of.

【0023】すなわち、研磨荷重Pが大きくなると、研
磨工具11の弾性変形により、加工面に接触する外径が
大きくなる。なお、図2において、研磨荷重Pは、P4
<P3<P2<P1である。また、単位除去形状Kの深
さEと、加工時間との関係が求められ、図3に示すよう
な相関図が求められる。
That is, as the polishing load P increases, the elastic deformation of the polishing tool 11 increases the outer diameter in contact with the machined surface. In FIG. 2, the polishing load P is P4.
<P3 <P2 <P1. Further, the relationship between the depth E of the unit removal shape K and the processing time is obtained, and the correlation diagram as shown in FIG. 3 is obtained.

【0024】単位除去形状Kの深さEは、図1の(b)
に示すように、研磨時に、研磨工具11に除去される深
さEであり、一方、単位除去形状Kの大きさDが大きく
なると浅くなり、また、研磨荷重Pの大きさが大きくな
ると深くなる。従って、図3では、研磨荷重Pの大きさ
に応じて複数の相関図が作成される。また、各相関図
は、図2に示した単位除去形状Kの大きさa,b,c,
dに対応して作成される。
The depth E of the unit removal shape K is shown in FIG.
As shown in, the depth E is removed by the polishing tool 11 during polishing, while it becomes shallower as the size D of the unit removal shape K increases, and becomes deeper as the size P of polishing increases. . Therefore, in FIG. 3, a plurality of correlation diagrams are created according to the magnitude of the polishing load P. Further, each correlation diagram shows the sizes a, b, c, of the unit removal shape K shown in FIG.
It is created corresponding to d.

【0025】なお、図3では、研磨荷重が、P1,P
2,P3の時の相関図のみが示されている。次に、被加
工物の測定から得られた形状誤差データに基づいて、例
えば、図4にからで示す所望のうねりの周期帯毎に
フィルタ処理を行い、図5の(a)に示すように、被加
工物の加工面の各位置において、最も量的に支配してい
るうねりの周期帯が、からのどれに該当するかとい
う相関図が求められる。
In FIG. 3, the polishing loads are P1, P
Only the correlation diagram for 2 and P3 is shown. Next, on the basis of the shape error data obtained from the measurement of the workpiece, for example, the filtering process is performed for each desired undulation period band shown by in FIG. 4, and as shown in FIG. At each position of the processed surface of the work piece, a correlation diagram is obtained which corresponds to which of the periodic bands of the undulation that is most quantitatively controlled corresponds to.

【0026】また、図5の(b)に示すように、被加工
物の加工面の各位置における誤差量Gが求められる。な
お、この実施形態では、前加工面が回転運動の加工形態
により加工されているため、相関図が円環帯状の分布図
となる。また、隣接する円環帯の境界では、図6に斜線
で示すように、各円環帯の幅Wの1/3〜1/5を境界
として設定し、互いに隣接する円環帯で求められた加工
条件の中間的な条件で境界を加工する。
Further, as shown in FIG. 5 (b), the error amount G at each position on the machined surface of the workpiece is obtained. In addition, in this embodiment, since the pre-machined surface is machined by the machining mode of the rotary motion, the correlation diagram becomes a distribution diagram in an annular band shape. In addition, at the boundary between the adjacent annular zones, as shown by the diagonal lines in FIG. 6, 1/3 to 1/5 of the width W of each annular zone is set as the boundary, and the annular zones adjacent to each other are obtained. The boundary is machined under an intermediate condition of the machining conditions.

【0027】この様にして境界における加工条件をつな
ぎ合わせることにより連続的な形状になるような処理が
行われる。そして、この実施形態では、図7に太線で示
すように、被加工物を回転することなく、研磨工具11
を左右に移動することにより研磨加工が行われる。次
に、被加工物の加工時に、各研磨位置において、公転半
径Rおよび研磨工具11の滞留時間をどのくらいにすれ
ば良いかが、コンピュータにより算出される。
In this way, the processing for forming a continuous shape is performed by connecting the processing conditions at the boundary. Then, in this embodiment, as shown by a thick line in FIG. 7, the polishing tool 11 is rotated without rotating the workpiece.
The polishing process is performed by moving right and left. Next, at the time of processing the work piece, the computer calculates the revolution radius R and the residence time of the polishing tool 11 at each polishing position.

【0028】すなわち、先ず、図5の相関図の周期帯分
布情報に合わせて、各位置における公転半径Rが図2に
基づいて決定される。この際、図8に示すように、単位
除去形状Kの大きさDが、各位置で支配的なうねりの周
期TのT/2の大きさとなるように、図2から公転半径
Rが決定され、これにより、最も効率的な除去が可能に
なる。
That is, first, the revolution radius R at each position is determined based on FIG. 2 in accordance with the periodic band distribution information of the correlation diagram of FIG. At this time, as shown in FIG. 8, the revolution radius R is determined from FIG. 2 so that the size D of the unit removal shape K becomes the size of T / 2 of the undulation period T dominant at each position. , Which allows the most efficient removal.

【0029】次に、図5の(b)に示した被加工物の加
工面の各位置における誤差量Gの情報と、図3の相関図
とから、各位置における研磨工具11の加工時間が算出
される。
Next, from the information of the error amount G at each position of the processed surface of the workpiece shown in FIG. 5B and the correlation diagram of FIG. 3, the processing time of the polishing tool 11 at each position is shown. It is calculated.

【0030】そして、この加工時間(滞留時間)に基づ
いて、被加工物の加工面の各位置における研磨工具11
の送り速度が決定され、修正研磨加工用のNCプログラ
ムが作成され、このNCプログラムに基づいて研磨加工
が行われる。上述した研磨装置では、移動機構19によ
り研磨工具11の公転半径Rを変化させることにより、
研磨工具11を交換することなく、研磨工具11の外径
を変化したのと略同様の効果を得ることができる。
Then, based on this processing time (residence time), the polishing tool 11 at each position on the processing surface of the workpiece is processed.
Is determined, an NC program for correction polishing is created, and polishing is performed based on this NC program. In the above-mentioned polishing apparatus, by changing the revolution radius R of the polishing tool 11 by the moving mechanism 19,
It is possible to obtain substantially the same effect as changing the outer diameter of the polishing tool 11 without replacing the polishing tool 11.

【0031】従って、被加工物の形状誤差等に対応して
研磨工具11の公転半径Rを変化させることにより、加
工能率を従来より大幅に向上することができる。なお、
より具体的には、公転半径Rは、0から研磨工具11の
半径以下であり、公転半径Rが0の場合には、従来の研
磨工具11と同等の働きをする。また、公転半径Rが研
磨工具11の半径の場合には、従来の研磨工具11の2
倍径相当の働きをする。
Therefore, by changing the revolution radius R of the polishing tool 11 in accordance with the shape error of the workpiece, the working efficiency can be greatly improved as compared with the conventional case. In addition,
More specifically, the revolution radius R is 0 to the radius of the polishing tool 11 or less, and when the revolution radius R is 0, the same function as that of the conventional polishing tool 11 is achieved. Further, when the revolution radius R is the radius of the polishing tool 11, 2 of the conventional polishing tool 11 is used.
Works as double diameter.

【0032】そして、上述した研磨装置および研磨方法
では、制御装置27により、被加工物の測定から得られ
た形状誤差データに基づいて公転半径Rを研磨位置に対
応して変化し、同時に、公転半径Rに応じて、研磨工具
11の送り速度を変化させるようにしたので、作業者の
能力に大きく依存することなく加工能率をより大幅に向
上することができる。
In the above-described polishing apparatus and polishing method, the controller 27 changes the revolution radius R corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece, and at the same time, rotates the revolution. Since the feed rate of the polishing tool 11 is changed according to the radius R, the working efficiency can be significantly improved without largely depending on the ability of the operator.

【0033】また、上述した研磨装置では、形状誤差デ
ータから求められた被加工物のうねりの周波数に基づい
て公転半径Rを決定するようにしたので、うねりを効率
的に除去することができる。また、上述した研磨方法を
使用して、例えば、レンズ等の光学部材の研磨を行うこ
とにより、レンズ等の光学部品を高い精度で効率的に製
造することができる。
Further, in the above-mentioned polishing apparatus, since the revolution radius R is determined based on the frequency of the undulation of the work piece obtained from the shape error data, the undulation can be removed efficiently. Further, by using the above-described polishing method to polish an optical member such as a lens, an optical component such as a lens can be efficiently manufactured with high accuracy.

【0034】なお、上述した実施形態では、公転半径R
に応じて、研磨工具11の送り速度を変化させることに
より最適な修正研磨加工を行った例について説明した
が、本発明はかかる実施形態に限定されるものではな
く、公転半径Rに応じて、研磨工具11の自転回転数、
研磨工具11の公転回転数、あるいは、研磨工具11の
被加工物に対する押圧力を変化させることにより最適な
修正研磨加工を行うようにしても良い。
In the above embodiment, the revolution radius R
According to the above, an example in which the optimum correction polishing processing is performed by changing the feed rate of the polishing tool 11 has been described, but the present invention is not limited to such an embodiment, and according to the revolution radius R, The rotation speed of the polishing tool 11,
Optimal correction polishing may be performed by changing the revolution speed of the polishing tool 11 or the pressing force of the polishing tool 11 against the workpiece.

【0035】また、公転半径Rに応じて、研磨工具11
の送り速度、研磨工具11の自転回転数、研磨工具11
の公転回転数、研磨工具11の被加工物に対する押圧力
の少なくとも2つ以上を変化させることにより最適な修
正研磨加工を行うようにしても良い。
Further, according to the revolution radius R, the polishing tool 11
Feed rate, rotation speed of polishing tool 11, polishing tool 11
The optimum correction polishing may be performed by changing at least two of the revolution speed and the pressing force of the polishing tool 11 against the workpiece.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上述べたように、請求項1の研磨装置
では、移動機構により研磨工具の公転半径を変化させる
ことにより、研磨工具を交換することなく、研磨工具の
外径を変化したのと略同様の効果を得ることができる。
As described above, in the polishing apparatus according to the first aspect, the outer diameter of the polishing tool is changed without changing the polishing tool by changing the revolution radius of the polishing tool by the moving mechanism. It is possible to obtain substantially the same effect as.

【0037】従って、被加工物の形状誤差等に対応して
研磨工具の公転半径を変化させることにより、加工能率
を従来より大幅に向上することができる。請求項2の研
磨装置では、制御手段により、被加工物の測定から得ら
れた形状誤差データに基づいて公転半径を研磨位置に対
応して変化させ、同時に、公転半径に応じて、研磨工具
の送り速度、研磨工具の自転回転数、研磨工具の公転回
転数、研磨工具の被加工物に対する押圧力の少なくとも
1つを変化させるようにしたので、作業者の能力に大き
く依存することなく加工能率をより大幅に向上すること
ができる。
Therefore, by changing the revolution radius of the polishing tool in accordance with the shape error of the workpiece, the machining efficiency can be greatly improved as compared with the conventional case. In the polishing apparatus according to claim 2, the control means changes the revolution radius corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece, and at the same time, changes the radius of revolution of the polishing tool according to the revolution radius. Since at least one of the feed rate, the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece is changed, the processing efficiency does not largely depend on the ability of the operator. Can be improved significantly.

【0038】請求項3の研磨装置では、形状誤差データ
から求められた被加工物のうねりの周波数に基づいて公
転半径を決定するようにしたので、うねりを効率的に除
去することができる。請求項4の研磨方法では、被加工
物の測定から得られた形状誤差データに基づいて公転半
径を研磨位置に対応して変化させ、同時に、公転半径に
応じて、研磨工具の送り速度、研磨工具の自転回転数、
研磨工具の公転回転数、研磨工具の被加工物に対する押
圧力の少なくとも1つを変化させるようにしたので、作
業者の能力に大きく依存することなく加工能率をより大
幅に向上することができる。
According to the polishing apparatus of the third aspect, the revolution radius is determined based on the frequency of the undulation of the work piece obtained from the shape error data, so that the undulation can be efficiently removed. According to the polishing method of claim 4, the revolution radius is changed corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece, and at the same time, the feed rate of the polishing tool and the polishing are changed according to the revolution radius. Rotation speed of the tool,
Since at least one of the revolution speed of the polishing tool and the pressing force of the polishing tool with respect to the workpiece is changed, the processing efficiency can be significantly improved without largely depending on the ability of the operator.

【0039】請求項5の光学部品の製造方法では、レン
ズ等の光学部品を高い精度で効率的に製造することがで
きる。
In the method of manufacturing an optical component according to the fifth aspect, an optical component such as a lens can be efficiently manufactured with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の研磨装置の一実施形態を示す側面図で
ある。
FIG. 1 is a side view showing an embodiment of a polishing apparatus of the present invention.

【図2】図1の研磨装置の公転半径と単位除去形状の大
きさとの関係を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a relationship between a revolution radius of the polishing apparatus of FIG. 1 and a size of a unit removal shape.

【図3】単位除去形状の深さと加工時間との関係を示す
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a depth of a unit removal shape and a processing time.

【図4】被加工物の加工面の周期帯の区分を示す説明図
である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing divisions of a periodic band on a processed surface of a workpiece.

【図5】被加工物の加工面の周期帯の分布および誤差量
を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a distribution of a periodic band on a processed surface of a workpiece and an error amount.

【図6】円環帯の境界を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing a boundary of an annular zone.

【図7】図4に示す被加工物の加工面の研磨方法を示す
説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a method for polishing the processed surface of the workpiece shown in FIG.

【図8】図1の研磨装置の公転半径の設定方法を示す説
明図である。
8 is an explanatory diagram showing a method of setting a revolution radius of the polishing apparatus of FIG.

【図9】研磨工具の滞留時間の設定方法を示す説明図で
ある。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing a method of setting a residence time of a polishing tool.

【図10】研磨工具の径と波長との関係を示す説明図で
ある。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a relationship between a diameter of a polishing tool and a wavelength.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 研磨工具 13 自転回転軸 17 公転回転軸 19 移動機構 27 制御装置 R 公転半径 11 Polishing tool 13 rotation axis 17 revolution axis 19 Moving mechanism 27 Control device R revolution radius

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 研磨工具を自転回転させる自転回転軸
と、 前記研磨工具を公転回転させる公転回転軸と、 前記研磨工具の公転半径を変化させる移動機構と、 を有することを特徴とする研磨装置。
1. A polishing apparatus comprising: a rotation shaft for rotating a polishing tool around its axis; a revolution shaft for rotating around the polishing tool about an axis; and a moving mechanism for changing a revolution radius of the polishing tool. .
【請求項2】 請求項1記載の研磨装置において、 被加工物の測定から得られた形状誤差データに基づいて
前記公転半径を研磨位置に対応して変化させるととも
に、前記公転半径に応じて、前記研磨工具の送り速度、
前記研磨工具の自転回転数、前記研磨工具の公転回転
数、前記研磨工具の被加工物に対する押圧力の少なくと
も1つを変化させる制御手段を有することを特徴とする
研磨装置。
2. The polishing apparatus according to claim 1, wherein the revolution radius is changed corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the workpiece, and the revolution radius is changed according to the revolution radius. The feed rate of the polishing tool,
A polishing apparatus comprising: a control unit that changes at least one of the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece.
【請求項3】 請求項2記載の研磨装置において、 前記制御手段は、前記形状誤差データから求められた被
加工物のうねりの周波数に基づいて前記公転半径を決定
することを特徴とする研磨装置。
3. The polishing apparatus according to claim 2, wherein the control means determines the revolution radius based on the frequency of the waviness of the workpiece obtained from the shape error data. .
【請求項4】 研磨工具を自転および公転させながら被
加工物を研磨するとともに、被加工物の測定から得られ
た形状誤差データに基づいて前記研磨工具の公転半径を
研磨位置に対応して変化させ、同時に、前記公転半径に
応じて、前記研磨工具の送り速度、前記研磨工具の自転
回転数、前記研磨工具の公転回転数、前記研磨工具の被
加工物に対する押圧力の少なくとも1つを変化させて前
記被加工物を研磨することを特徴とする研磨方法。
4. The work piece is polished while rotating and revolving the polishing tool, and the revolution radius of the polishing tool is changed corresponding to the polishing position based on the shape error data obtained from the measurement of the work piece. At the same time, at least one of the feed rate of the polishing tool, the rotation speed of the polishing tool, the revolution speed of the polishing tool, and the pressing force of the polishing tool on the workpiece is changed according to the revolution radius. And a method of polishing the object to be processed.
【請求項5】 請求項4記載の研磨方法により被加工物
を研磨し、光学部品を製造することを特徴とする光学部
品の製造方法。
5. A method for manufacturing an optical component, which comprises polishing an object to be processed by the polishing method according to claim 4 to manufacture an optical component.
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